JP2005019384A - 電子部品用コンタクタ及びこれを用いた試験方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 コンタクタは、ICパッケージ22の端子に電気的に接続される。複数の接触電極30は、ICパッケージの端子22aに接触するよう構成される。複数のコンタクトピン23は、導電性を有するスプリング26を有し、接触電極30をICパッケージの端子に押圧するための押圧力を発生する。接触電極30はコンタクトピン23から分離可能であり、接触電極30のみを交換することができる。
【選択図】 図3
Description
図22に示す例では、第1の接触電極114は第1の接触電極保持部117に保持され、バネ電極116はバネ電極保持部118に保持され、第2の接触電極115は第2の接触電極保持部119に保持される。ここで、例えば、ICパッケージ112側の接触電極114に塵等が付着した場合などは、第1の接触電極保持部117をバネ電極保持部119から取り外して清掃することができる。あるいは、第1の接触電極保持部117を清浄なものと交換することもできる。第2の接触電極保持部についても同様である。
前記電子部品の端子に接触するよう構成された複数の接触電極と、
導電性を有する弾性体で形成され、前記接触電極を前記電子部品の端子に押圧するための押圧力を発生する複数の弾性電極と
を有し、
前記接触電極は、前記弾性電極から分離可能であることを特徴とするコンタクタ。
前記複数の接触電極の各々の接触部分は、前記電子部品の端子の形状に対応した形状であることを特徴とするコンタクタ。
前記複数の接触電極を保持する接触電極保持部は、前記複数の弾性電極を保持する弾性電極保持部から分離可能な別部品であることを特徴とするコンタクタ。
前記接触電極保持部は板状部材よりなり、前記接触電極の各々は該板状部材を貫通して設けられた開口の中に移動可能に支持されることを特徴とするコンタクタ。
前記接触電極保持部は、前記電子部品の位置決めを行う位置決め機構を有することを特徴とするコンタクタ。
前記位置決め機構は、前記電子部品の外形に基づいて前記電子部品を所定の位置に案内する機構であることを特徴とするコンタクタ。
前記接触電極保持部は、前記複数の接触電極が一体的に形成された単一の部材であることを特徴とするコンタクタ。
前記接触電極の一端は前記電子部品の端子の形状に対応した形状であり、反対端は平面状の電極に対応した前記の形状とは異種の形状であることを特徴とするコンタクタ。
前記接触電極保持部の開口内での前記接触電極の移動方向は、前記弾性電極が発生する押圧力の方向に対して傾斜可能であることを特徴とするコンタクタ。
前記接触電極保持部は前記電子部品に対向する第1の面と第1の面の反対側の第2の面とを有し、前記第1の面における開口間のピッチは、前記第2の面における開口のピッチとは異なることを特徴とするコンタクタ。
前記接触電極の各々は前記開口内で屈曲しており、前記弾性電極からの押圧力により弾性変形可能であることを特徴とするコンタクタ。
該コンタクタの弾性電極保持部上に接触電極保持部を搭載し、
前記電子部品の端子を該接触電極保持部の接触電極に対して押圧して前記弾性電極保持部の弾性電極を前記接触電極により押圧することにより、前記弾性電極を前記電子部品の端子と電気的に接続し、
前記弾性電極及び前記接触電極を介して前記試験回路と前記電子部品とを電気的に接続しながら、前記電子部品の試験を行う
ことを特徴とする試験方法。
一種類の電子部品を試験した後、前記接触電極保持部を異なる接触電極を有するものと交換し、
交換した接触電極保持部の接触電極を介して異なる種類の電子部品を前記弾性電極に電気的に接続し、
前記弾性電極及び前記異なる接触電極を介して前記異なる種類の電子部品を前記試験回路に電気的に接続しながら、前記異なる種類の電子部品の試験を行う
ことを特徴とする試験方法。
電子部品を試験した後、前記接触電極保持部を前記弾性電極保持部から分離し、
分離した前記接触電極保持部の接触電極をクリーニングし、
クリーニングした接触電極保持部を用いて試験を行う
ことを特徴とする試験方法。
一種類の電子部品を試験した後、前記接触電極保持部を上下反転し、
反転した接触電極保持部の接触電極を介して異なる種類の電子部品を前記弾性電極に電気的に接続し、
前記弾性電極及び前記接触電極を介して前記異なる種類の電子部品を前記試験回路に電気的に接続しながら、前記異なる種類の電子部品の試験を行う
ことを特徴とする試験方法。
(付記17) 回路基板を電子部品の端子に電気的に接続するように構成されたコンタクタであって、
前記電子部品の端子に接触するよう構成された第1の接触電極と、
前記回路基板の端子に接触するよう構成された第2の接触電極と、
前記第1の接触電極と前記第2の接触電極との間に配置された導電性を有する弾性体よりなる弾性電極と
を有し、
前記第1の接触電極及び前記第2の接触電極の少なくとも一方は、前記弾性電極から分離可能であることを特徴とするコンタクタ。
前記第1の接触電極を保持する第1の接触電極保持部と、前記第2の接触電極を保持する第2の接触電極保持部と、前記弾性電極を保持する弾性電極保持部とを更に有し、
前記第1の接触電極保持部及び前記第2の接触電極保持部の少なくとも一方は、前記弾性電極保持部から分離可能な別部品であることを特徴とするコンタクタ。
前記第1の接触電極及び前記第2の接触電極の少なくとも一方は、前記弾性電極が発生する押圧力の方向に対して傾斜可能であることを特徴とするコンタクタ。
前記第1の接触電極及び前記第2の接触電極の少なくとも一方は、前記弾性電極からの押圧力により弾性変形可能であることを特徴とするコンタクタ。
前記第1の接触電極を保持する第1の接触電極保持部及び前記第2の接触電極を保持する第2の接触電極保持部の少なくとも一方を前記弾性電極を保持する弾性電極保持部に対して分離可能に搭載し、
前記電子部品の端子を前記第1の接触電極に対して押圧して、前記弾性電極を前記第1の接触電極により押圧し、その結果、前記弾性電極を前記第2の接触電極に押圧して、前記第2の接触電極を前記回路基板の端子に押圧することにより、前記電子部品の端子と前記回路基板の端子とを電気的に接続し、
前記電子部品の端子と前記回路基板の端子とを電気的に接続した状態で、前記電子部品の試験を行う
ことを特徴とする試験方法。
22,42 ICパッケージ
22a,42a 外部電極
23 コンタクトピン
24a,24b 電極
25,45 試験回路基板
25a 電子部品
25b コネクタ
26 コイルスプリング
30,30A,30B,30C、30D,30E 接触電極
43 バネ電極
44a,44b 電極端部
44c バネ部
52、52A,52B 接触電極保持部
53 弾性電極保持部
55 異物
56 ブラシ
62、72,82,92 接触電極保持部
62a,82a 案内部
63 傾斜面
64 孔
72 接触電極保持部
73 弾性電極保持部
83 開口
100,110,120 コンタクタ
102 ICチップ
102a,112a 外部電極
103,113,123 コンタクトピン
104 試験回路基板
114,124, 第1の接触電極
115,125 第2の接触電極
116,126 バネ電極
117,127 第1の接触電極保持部
118,128 第2の接触電極保持部
119,129 バネ電極保持部
Claims (10)
- 電子部品の端子に電気的に接続するように構成されたコンタクタであって、
前記電子部品の端子に接触するよう構成された複数の接触電極と、
導電性を有する弾性体で形成され、前記接触電極を前記電子部品の端子に押圧するための押圧力を発生する複数の弾性電極と
を有し、
前記接触電極は、前記弾性電極から分離可能であることを特徴とするコンタクタ。 - 請求項1に記載のコンタクタであって、
前記複数の接触電極を保持する接触電極保持部は、前記複数の弾性電極を保持する弾性電極保持部から分離可能な別部品であることを特徴とするコンタクタ。 - 請求項2に記載のコンタクタであって、
前記接触電極保持部の開口内での前記接触電極の移動方向は、前記弾性電極が発生する押圧力の方向に対して傾斜可能であることを特徴とするコンタクタ。 - 請求項1に記載のコンタクタであって、
前記接触電極の各々は前記開口内で屈曲しており、前記弾性電極からの押圧力により弾性変形可能であることを特徴とするコンタクタ。 - 外部端子を有する電子部品をコンタクタを介して試験回路に電気的に接続した状態で行う試験方法であって、
該コンタクタの弾性電極保持部上に接触電極保持部を搭載し、
前記電子部品の端子を該接触電極保持部の接触電極に対して押圧して前記弾性電極保持部の弾性電極を前記接触電極により押圧することにより、前記弾性電極を前記電子部品の端子と電気的に接続し、
前記弾性電極及び前記接触電極を介して前記試験回路と前記電子部品とを電気的に接続しながら、前記電子部品の試験を行う
ことを特徴とする試験方法。 - 回路基板を電子部品の端子に電気的に接続するように構成されたコンタクタであって、
前記電子部品の端子に接触するよう構成された第1の接触電極と、
前記回路基板の端子に接触するよう構成された第2の接触電極と、
前記第1の接触電極と前記第2の接触電極との間に配置された導電性を有する弾性体よりなる弾性電極と
を有し、
前記第1の接触電極及び前記第2の接触電極の少なくとも一方は、前記弾性電極から分離可能であることを特徴とするコンタクタ。 - 請求項6に記載のコンタクタであって、
前記第1の接触電極を保持する第1の接触電極保持部と、前記第2の接触電極を保持する第2の接触電極保持部と、前記弾性電極を保持する弾性電極保持部とを更に有し、
前記第1の接触電極保持部及び前記第2の接触電極保持部の少なくとも一方は、前記弾性電極保持部から分離可能な別部品であることを特徴とするコンタクタ。 - 請求項6に記載のコンタクタであって、
前記第1の接触電極及び前記第2の接触電極の少なくとも一方は、前記弾性電極が発生する押圧力の方向に対して傾斜可能であることを特徴とするコンタクタ。 - 請求項6に記載のコンタクタであって、
前記第1の接触電極及び前記第2の接触電極の少なくとも一方は、前記弾性電極からの押圧力により弾性変形可能であることを特徴とするコンタクタ。 - 電子部品の端子に接触するよう構成された第1の接触電極と、回路基板の端子に接触するよう構成された第2の接触電極と、前記第1の接触電極と前記第2の接触電極との間に配置された導電性を有する弾性体よりなる弾性電極とを有するコンタクタを介して前記電気部品を前記回路基板に電気的に接続した状態で行う試験方法であって、
前記第1の接触電極を保持する第1の接触電極保持部及び前記第2の接触電極を保持する第2の接触電極保持部の少なくとも一方を前記弾性電極を保持する弾性電極保持部に対して分離可能に搭載し、
前記電子部品の端子を前記第1の接触電極に対して押圧して、前記弾性電極を前記第1の接触電極により押圧し、その結果、前記弾性電極を前記第2の接触電極に押圧して、前記第2の接触電極を前記回路基板の端子に押圧することにより、前記電子部品の端子と前記回路基板の端子とを電気的に接続し、
前記電子部品の端子と前記回路基板の端子とを電気的に接続した状態で、前記電子部品の試験を行う
ことを特徴とする試験方法。
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