JP2004210421A - 製造システム、並びに処理装置の操作方法 - Google Patents

製造システム、並びに処理装置の操作方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2004210421A
JP2004210421A JP2002378734A JP2002378734A JP2004210421A JP 2004210421 A JP2004210421 A JP 2004210421A JP 2002378734 A JP2002378734 A JP 2002378734A JP 2002378734 A JP2002378734 A JP 2002378734A JP 2004210421 A JP2004210421 A JP 2004210421A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
container
supplier
manufacturing system
consumer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2002378734A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004210421A5 (ja
Inventor
Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
Noriyuki Matsuda
憲之 松田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd filed Critical Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority to JP2002378734A priority Critical patent/JP2004210421A/ja
Priority to US10/740,417 priority patent/US7842205B2/en
Publication of JP2004210421A publication Critical patent/JP2004210421A/ja
Publication of JP2004210421A5 publication Critical patent/JP2004210421A5/ja
Priority to US12/952,933 priority patent/US9111974B2/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735Closed carriers
    • H01L21/67396Closed carriers characterised by the presence of antistatic elements
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06QINFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G06Q10/00Administration; Management
    • G06Q10/08Logistics, e.g. warehousing, loading or distribution; Inventory or stock management
    • G06Q10/083Shipping
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06QINFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G06Q10/00Administration; Management
    • G06Q10/08Logistics, e.g. warehousing, loading or distribution; Inventory or stock management
    • G06Q10/083Shipping
    • G06Q10/0837Return transactions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67276Production flow monitoring, e.g. for increasing throughput

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Business, Economics & Management (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Economics (AREA)
  • Tourism & Hospitality (AREA)
  • General Business, Economics & Management (AREA)
  • Human Resources & Organizations (AREA)
  • Marketing (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Strategic Management (AREA)
  • Development Economics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Entrepreneurship & Innovation (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Accounting & Taxation (AREA)
  • Finance (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)

Abstract

【課題】新規搬送容器を用いて基板(特にTFT基板)を移載することなく処理装置に直接セット出来る製造システムを提供する。また、容器を効率よく使用し、異なる大きさの基板搬送を1つの容器で実現する。
【解決手段】静電対策が施された搬送容器12に基板供給者18で基板11を直接収納し、搬送後に基板需要者19で容器12を処理装置に直接セットする製造システムとすることで、TFT基板11を含む基板11の搬送を実現する。さらに移載作業がなくなる為、基板11へのパーティクル汚染やTFT基板11の静電破壊の防止を実現するものである。また、容器12の基板保持部を搬送する基板11の大きさに応じて交換し、1つの容器12でいろいろな大きさの基板11を搬送出来る製造システムとしてもよい。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、基板に処理を行うための製造システムに関する。特に、本発明は表示装置製造の為の製造システムに関する。また、本発明は処理装置の操作方法に関し、その操作方法によって形成される表示装置も本発明の一つである。加えて、基板搬送容器の再利用に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の基板搬送方法は、TFT基板の搬送を考慮したものではなく、主に素ガラス等の搬送を目的としたものであった(例えば、特許文献1及び2参照。)。現在、素ガラス基板の搬送には主に衝撃吸収性能が高く、かつ安価な発泡スチロール製の収納容器や、再利用しやすいプラスチック製容器(静電対策は施されていない)に基板を収納して搬送する方法、また、紙で基板を包み、その上から梱包材(ダンボールなどの衝撃吸収材)で梱包して搬送する方法などが一般的に用いられている。
しかしながら、これらの方法では一定の大きさの素ガラスや、膜付きガラスは運べても静電気や汚染、キズ等に弱いTFT基板などを搬送することは出来ず、また、2種類以上の大きさの基板を搬送する際にはそれぞれの大きさに合わせた容器を用意する必要があった。
【0003】
前記容器に収納されて搬送された素ガラス基板は前室で人手若しくは移載装置により清浄室環境内(以下クリーンルーム)対応容器に移載され、エアシャワー室を通してクリーンルームに搬入される。搬送容器がクリーンルーム対応(プラスチックなどの密閉型容器など)の場合、容器のクリーニング処理が行なわれた後クリーンルームに搬送容器ごと搬入される。
クリーンルームに搬入された基板は、人手若しくは移載装置にてクリーンルーム内搬送容器に移載され、更に前記クリーンルーム内搬送容器から処理装置に移載される。クリーンルーム対応型の搬送容器の場合、搬送容器から直接処理装置用カセットに基板が移載されることもある。
しかしながら、これらの方法では工程に合わせてそれぞれ別の容器を用意する必要があり、更に移載工程が必要なことからコストが高くなり、スループットが低下してしまうという問題があった。また、移載の際に発生する静電気、パーティクルによる基板の汚染や、TFT素子の静電破壊、作業者の移載ミスによる基板破壊などが指摘されていた。
【0004】
【特許文献 1】
特開平10‐264970号公報
【特許文献 2】
特開2002‐225949号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
以上のようにTFT基板を搬送する為にはTFT基板の運搬技術の確立が必要となる。さらに基板収納から処理装置ローダ部へのセットまでに行なわれる移載工程を削減し、基板の移載の際に発生する静電気や基板移載の際に基板に付着するパーティクル汚染などを防止する必要がある。 そこで、本発明では上記問題点を解決し、さらに基板移載の人件費や自動化コストの削減、移載ミスや静電破壊、移載による基板の汚染やキズによるロットの歩留まりの低下対応、スループットの向上、異なるサイズ、種類の基板の運搬、保管の効率化といった事柄を容易に実現出来る製造方法およびシステムを提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、基板を収納、搬送する容器として従来の容器、代表的には静電対策が施されておらず、かつ搬送のみの視点から設計されている為、クリーンルーム内搬送用容器や処理装置用基板収納容器等に移載が必要な発泡スチロール製容器やプラスチック製容器等を使用せず、静電対策が施され、処理装置に直接セット出来る搬送容器に基板を直接収納する事で搬送、洗浄などの工程で他の容器への移載作業を必要としない一貫工程の製造システムとし、基板移載による静電破壊、基板汚染、スループットの低下を防止し、さらに今まで一般的でなかったTFT基板の搬送及び異なるサイズの基板搬送を同じ容器で実現するものである。また、未使用の基板を保管する際、基板を保管専用容器に収納する必要はなく、搬送容器に収納したまま保管すればよい。本発明により、さまざまな処理装置においても専用容器に基板を移し替えることなく直接搬送容器をセットする事が可能となる。さらに容器内の基板ホルダを交換することにより、異なるサイズの基板を搬送する事が出来る。
【0007】
上記搬送容器に基板を直接収納する作業は、処理装置を使用する基板需用者が基板を作製、または販売している基板供給者に依頼することが望ましい。本発明では基板需用者と、基板供給者とを連携させることによって、極めて効率的な搬送形態を実現し、その搬送形態を用いてさらに効率的な製造システムを提供する。本発明のシステムによって、複数の基板を1つの容器で搬送し、処理装置にセットすることで無駄が少なく、環境に優しいプロセスとすることができる。また、基板供給者で直接容器に基板を収納することによって、必要な量だけを販売し、比較的高価なガラス基板やTFT基板等を効率よく使用することができる。即ち、従来のように不必要な基板の在庫過剰や不足が生じることをなくすことができる。さらに従来の方法では不可能であったTFT基板の搬送が可能となる。
【0008】
さらに、本発明のシステムにより運搬容器からクリーンルーム内運搬容器或いは装置対応容器に基板を移しかえる作業を無くす事が出来る。この移しかえの作業をなくすことによって、移しかえる際の作業者のミスによる基板破壊や傷の発生を抑えることが出来、移し替えの際の静電気発生を回避できることからTFT基板素子の静電破壊やTFT基板を含む基板のパーティクル汚染を無くす事が出来る。加えて、基板需用者が基板を製造装置対応容器に移しかえる作業などをなくすことによって、予め基板供給者で基板が収納された容器を基板需用者で処理装置内に設置するだけの簡単な作業としてスループットを向上させる。
【0009】
本発明により、全自動化してスループットを向上させる製造システムを実現するとともに、基板へのダメージを避けることが可能な一貫したクローズドシステムを実現することが可能となる。
【0010】
また、いくら清浄な状態で、不良の無いTFT基板等を基板供給者で提供されても、基板需用者で従来の移しかえの作業を行うかぎり、TFT基板素子の静電破壊や基板のパーティクル汚染の恐れが存在し、TFT基板の性能や基板の清浄な状態を維持することができず、性能、品質維持に限界があった。本発明により基板供給者と基板需用者が連携してパーティクル混入及び静電気発生の低減に努めることによって、基板供給者で得られる極めて高い性能のTFT基板素子や高品質の基板状態を維持し、そのまま性能、品質を落とすことなく基板需用者で製造を行うことができる。
【0011】
本明細書で開示する発明の構成は、図1にその概要を示すように、基板供給者にて、容器内に基板を収納して密閉する第1段階と、前記基板供給者にて前記容器を基板需用者に搬送する第2段階と、前記基板需用者にて、処理装置内に前記容器を導入し、前記容器の中から前記基板を取り出して配置する第3段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内で前記基板に処理を行う第4段階と、を有することを特徴とする製造システムである。
【0012】
また、上記構成において、前記基板需用者で前記容器を用意する場合、前記基板需用者が前記容器を作製する必要は特になく、外注してもよいことはいうまでもない。また、前記基板供給者で前記容器を用意する場合にも、前記基板需用者が前記容器を作成する必要は特になく、外注してもよい。前記処理装置に設置する前記容器を作製する作業は、前記容器を用意する前記基板供給者若しくは前記基板需用者が前記処理装置を前記基板需用者に提供した装置業者に依頼することが望ましい。本発明では前記装置業者と、前記基板需用者と、前記基板供給者とを連携させることによって、TFT基板を含め、様々な基板の搬送を実現し、その前記基板を用いて信頼性の高い表示装置を完成させる製造システムを提供する。
【0013】
本明細書で開示する他の発明の構成は、図2にその概要を示すように、容器供給者から容器を基板供給者に搬送する第1段階と、前記基板供給者にて、前記容器内に基板を収納し、さらに前記基板を収納した前記容器を密閉する第2段階と、前記基板供給者にて前記容器を基板需用者に搬送する第3段階と、前記基板需用者にて、処理装置内に前記容器を導入し、前記容器の中から前記基板を取り出して配置する第4段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内で前記基板に処理を行う第5段階と、を有することを特徴とする製造システムである。
【0014】
また、上記処理装置に設置する前記容器を作製する作業は、前記基板供給者が用意してもよいし、前記基板需用者が用意してもよい。
【0015】
本明細書で開示する他の発明の構成は、図3にその概要を示すように、基板需用者から容器を基板供給者に搬送する第1段階と、前記基板供給者にて、前記容器内に基板を収納し、さらに前記基板を収納した前記容器を密閉する第2段階と、前記基板供給者にて前記容器を前記基板需用者に搬送する第3段階と、前記基板需用者にて、処理装置内に前記容器を導入し、前記容器から前記基板を取り出して配置する第4段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内で前記基板に処理を行う第5段階と、を有することを特徴とする製造システムである。
【0016】
また、前記容器に収納された前記基板全部は使用されず、前記容器に使用されなかったTFT基板等の前記基板が残ってしまったとき、この前記容器をそのまま保管容器として使用し、製造に必要になったときにすぐに使用できる製造システムとしてもよい。
【0017】
本明細書で開示する他の発明の構成は、図4にその概要を示すように、容器供給者から容器を基板供給者に搬送する第1段階と、前記基板供給者にて、前記容器内に基板を収納し、さらに前記基板を収納した前記容器を密閉する第2段階と、前記基板供給者にて前記容器を前記基板需用者に搬送する第3段階と、前記基板需用者にて、処理装置内に前記容器を導入し、前記容器から前記基板を取り出して配置する第4段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内で前記基板に処理を行う第5段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内から前記容器を取り出し、前記基板供給者に前記容器を搬送する第6段階と、前記基板供給者にて前記容器内に前記基板を収納して前記容器を再利用する第7段階と、を有する事を特徴とする製造システムである。
【0018】
また、上記各構成において、前記基板は、清浄室環境内で前記容器に収納され、外気に触れることなく前記処理装置に配置されることを特徴としている。外気にふれることにより、前記基板にパーティクルが付着することを防止するとともに静電気の発生を防止する。本発明において前記基板がTFT基板の場合、イオナイザー装置などの除電装置による除電雰囲気中で収納される事が好ましい。さらに本発明においては、前記処理装置に設置する予定の前記容器に前記基板を直接収納させて搬送するため、可能な限り前記基板及び前記容器への汚染を防ぐことが好ましい。もし、前記基板にパーティクルの付着や静電気の発生によるTFT素子の静電破壊が発生して、前記処理装置に設置されると前記処理装置及び清浄室環境を汚染し、若しくは前記基板自身の不良が発生してしまう恐れがある。
【0019】
また、上記各構成において、前記処理装置は、前記基板に様々な処理を行う1つ以上の処理室を有し、前記容器から前記基板を取りだすロード部を有していることを特徴としている。例えば、洗浄装置、分断装置、UVクリーナー、蒸着装置、CVD装置、スパッタ装置など、ほぼ全ての処理装置に対応可能である。具体的には、前記容器に収納されている前記基板を処理室に導入し、所望の位置に設置して処理を行えばよい。また、これらの動作を全てロボットで行い、自動化することもできることは言うまでもない。また、前記容器を真空引き可能なチャンバー式の前記ロード部にセットし、前記ロード部を真空引きして真空中で前記容器から前記基板を取りだしてもよい。
【0020】
また、上記各構成において、前記容器は特に限定されないが、前記基板への静電気によるダメージを防ぎ、比較的軽く、安価に製造する為、プラスチックに導電性物質をコーティングしたものや、導電性プラスチック等を用いることが好ましい。また、前記プラスチックに導電性物質をコーティングしたものや、前記導電性プラスチックの代わりに金属製としてもよい。また、前記容器は取り付けられた蓋により密閉可能な容器である。
【0021】
また、上記各構成において、前記容器は特に限定されないが、遮光性を有する容器であることが好ましい。
【0022】
また、上記各構成において、前記基板を収納する前に、前記基板供給者で前記容器のクリーニングを行うことが好ましい。
【0023】
また、上記各構成において、前記容器は特に限定されないが、前記容器内部の基板保持部(以下、基板ホルダという)を交換可能にして、前記基板の大きさに応じた交換可能な基板ホルダを用意することで一つの容器でさまざまな大きさの前記基板を搬送でき,費用を節約することができる。
【0024】
また、上記各構成において、前記容器を密封、搬送する際には前記容器への汚染を防ぐ為、清浄なビニール等の梱包材で前記容器を梱包することが望ましい。
【0025】
本明細書で開示する他の発明の構成は、図5にその概要を示すように、容器供給者から容器を基板供給者に搬送する第1段階と、前記基板供給者にて、前記容器の基板保持部を収納する基板の大きさに応じて交換する第2段階と、前記基板保持部を交換した前記容器に前記基板を収納する第3段階と、前記基板供給者にて前記容器を前記基板需用者に搬送する第4段階と、前記基板需用者にて、処理装置内に前記基板を導入する第5段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内で前記基板に処理行う第6段階と、を有する事を特徴とする製造システムである。
【0026】
また、上記構成において、同じ大きさの前記基板を搬送するのであれば、前記容器基板保持部の交換は必要なく、状況に応じた効率的な対応が可能となる。
【0027】
また、上記各構成において、前記容器は基板保持部を有する箱(カセット)であり、かつ、前記容器は取り付けられた蓋により密閉可能なカセットであることを特徴としている。また、上記各構成において、前記容器は特に限定されないが、前記基板への静電気によるダメージを防ぎ、比較的軽く、安価に製造する為、プラスチックに導電性物質をコーティングしたものや、導電性プラスチック等を用いることが好ましい。また、前記プラスチックに導電性物質をコーティングしたものや、前記導電性プラスチックの代わりに金属製としてもよい。
【0028】
また、上記各構成において、前記処理装置は、図8にその一例を示したように、ロ−ド部を有する処理装置であることを特徴としている。
【0029】
なお、本明細書中において、カセットとは前記容器である。
【0030】
また、代表的な例として、図7に基板洗浄装置のロード部に設置した様子を簡略に示した。基板洗浄装置は、ロード部、アンロード部、基板洗浄部を含んで構成されている。基板ホルダは、基板を保持する保持部(図示しない)を備えており、ロード部、アンロード部には搬送ロボットを備えている。また、洗浄装置は1つ以上の洗浄部を有する。
【0031】
また、上記構成において、前記基板は、素ガラス、TFT基板、対向基板、プラスチック基板カラーフィルターを有する対向基板等であることを特徴としている。
【0032】
また、本発明は、洗浄装置などの処理装置に基板を搬送、セットする例が主であるが、製造された表示装置の搬送、保管にも適用することが可能である。すなわち、前記基板、前記表示装置のどちらも保持できる大きさのホルダを容器にセットし、製造された表示装置を前記容器に収納すればよい。
【0033】
本明細書で開示する他の発明の構成は、図6にその概要を示すように、装置業者から容器を基板供給者に搬送する第1段階と、前記基板供給者にて、前記容器の基板保持部を収納する基板の大きさに応じて交換する第2段階と、前記基板保持部を交換した前記容器に前記基板を収納する第3段階と、前記基板供給者にて前記容器を前記基板需用者に搬送する第4段階と、前記基板需用者にて、処理装置内に前記基板を導入する第5段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内で前記基板に処理行う第6段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内から前記容器を取り出し、前記基板供給者に前記容器を搬送し、前記基板供給者にて再び前記容器の前記基板保持部を前記基板の大きさに応じて選択、交換し、前記容器内に前記基板を収納する第7段階と、を有することを特徴とする製造システムである。
【0034】
【発明の実施の形態】
本発明の実施形態について、以下に図面を参照して詳細に説明する。
【0035】
(実施の形態1)
図1に本発明の製造システムの説明図を示す。図1において、11は基板であり、12は容器(基板カセット)である。また、18は、基板供給者であり、素ガラス、TFT基板、対向基板、プラスチック基板等を生産している製造者であり、19は処理装置を有する基板需用者であり、表示装置の製造者(代表的には生産工場)である。
【0036】
本発明の製造システムの流れを以下に説明する。まず、基板需用者19から基板供給者18に発注10を行う。基板供給者18は発注10に従って、容器を用意する。そして、基板供給者が清浄室環境内で静電気とパーティクル(金属微粒子や粉塵など)の付着に十分注意を払いながら容器12に基板11を収納する。その後、基板供給者18が清浄室環境内で容器の内部または外部に余分な不純物が付着しないようにビニール等の梱包材で容器12を梱包することが好ましい。梱包する際には、清浄室環境内で作業することが好ましい。なお、基板を収納する前に容器12および梱包材をクリーニングしておくことが好ましい。
【0037】
本発明において、容器12は、後に処理装置へのセットを行う際、そのままロード部に設置されるものである。また、梱包材は容器を清浄室環境内に搬入する前に除去することが好ましい。
【0038】
次いで、第1の容器12が基板供給者18から基板需用者19に搬送17する。
【0039】
次いで、前室にて容器の梱包材を取り外し、清浄室環境内(クリーンルーム)に容器を導入する。処理装置まで運搬した後、処理装置ロード部14に容器の蓋を外して直接容器をセットする。セット後は処理装置のロボットアーム13により容器12から基板11を取り出し、装置処理室15に基板を収納することができる。
【0040】
次いで、処理室15にて洗浄などの基板処理16が行なわれる。
【0041】
こうして、基板は一度も移載されることなく処理装置内に導入され、基板供給者で基板11を収納した段階での状態を維持したまま、洗浄、基板処理などの製造が行えることを可能とする。また、基板供給者で第1の容器12に直接基板11を収納することによって、必要な量だけを基板需用者に提供し、高価なTFT基板の在庫を貯めることなく効率よく使用することができる。
【0042】
従来において基板貯蔵専用容器を無くす事が出来、さらに、上記製造システムにより
システムにより運搬容器からクリーンルーム内運搬容器或いは装置対応容器に移しかえる作業をなくすことができる。この移しかえの作業をなくすことによって、移しかえる際の作業者のミスによる基板破壊や傷の発生を抑えることが出来、移し替えの際の静電気発生を回避できることからTFT基板素子の静電破壊やパーティクル汚染を無くす事が出来る。加えて、基板需用者が基板を処理装置対応容器に移しかえる作業などをなくすことによって、予め基板供給者で基板が収納された容器を基板需用者で処理装置内に設置する簡単な作業だけとしてスループットを向上させる。
【0043】
本発明により、全自動化してスループットを向上させる製造システムを実現するとともに、基板へのダメージを避けることが可能な一貫したクローズドシステムを実現することが可能となる。
【0044】
(実施の形態2)
実施の形態1では、二者の連携で、効率的に基板を搬送する例を示したが、ここでは、三者の連携で効率的に基板を搬送する例を示す。
【0045】
図2に本発明の製造システムの説明図を示す。図2において、22は容器であり、21は基板である。また、23は搬送ロボットであり、24はロード部、25は処理装置処理部、26は処理基板である。また、27は、容器供給者であり、搬送容器を製造している製造者である。28は、基板供給者であり、TFT基板や素ガラス基板などの基板を生産している製造者(代表的にはガラス基板供給者、TFT基板供給者など)である。29は処理装置を有する基板需用者であり、表示装置の製造者(代表的には生産工場)である。
【0046】
本発明の製造システムの流れを以下に説明する。まず、基板需用者29から基板供給者28に発注32を行う。基板供給者28は発注32を受け、容器供給者27に発注33を行う。ここで、容器供給者27は、容器22がロード部に配置できる処理装置を製造し、その処理装置を基板需用者29に搬入した業者であってもよい。発注33に従って、容器供給者27は、容器22を作製する。作製した段階で容器22をクリーニングしておくことが好ましい。
【0047】
容器22は、後に処理を行う際、そのまま装置ローダ部に設置されるものである。また、容器22は頑丈な遮光性を有し、基板への衝撃をやわらげる緩衝材を有し、さらに静電防止能力を有する容器とすることが好ましい。その後、装置業者27が清浄室環境内で第1の容器の内部にパーティクルが付着しないように密閉し、清浄な梱包材で容器22を梱包することが好ましい。
【0048】
次いで、容器22が梱包材に梱包されたままの状態で、装置業者27から基板供給者28に搬送30する。
【0049】
次いで、基板供給者が清浄室環境内でパーティクルの混入と静電破壊に十分注意を払いながら容器22に基板21を収納する。その後、基板供給者28が清浄室環境内で容器22の内部にパーティクルが付着しないように容器22を密閉し、容器22の外部にパーティクルが付着しないように清浄な梱包材で容器22を梱包することが好ましい。密閉する際には、容器の内部は、清浄空気または不活性ガスで充填することが好ましい。なお、基板21を収納する前に容器22を再度、クリーニングしておくことが好ましい。
【0050】
次いで、容器22が梱包材に梱包されたままの状態で、基板供給者28から基板需用者29に搬送31する。
【0051】
次いで、前室にて容器の梱包材を取り外し、清浄室環境内(クリーンルーム)に容器を導入する。処理装置まで運搬した後、処理装置ロード部14に容器の蓋を外して直接容器をセットする。セット後は処理装置のロボットアーム23により容器22から基板21を取り出し、装置処理室25に基板を収納することができる。
【0052】
次いで、処理室25にて洗浄などの基板処理26が行なわれる
【0053】
こうして、基板は一度も移載されることなく処理装置内に導入され、基板供給者で基板21を収納した段階での状態を維持したまま、洗浄、基板処理などの製造工程が行えることを可能とする。また、基板供給者で容器22に直接基板21を収納することによって、必要な量だけを基板需用者に提供し、高価なTFT基板の在庫を貯めることなく効率よく使用することができる。
【0054】
従来において基板貯蔵専用容器を無くす事が出来、さらに、上記製造システムにより
システムにより運搬容器からクリーンルーム内運搬容器或いは装置対応容器に移しかえる作業をなくすことができる。この移しかえの作業をなくすことによって、移しかえる際の作業者のミスによる基板破壊や傷の発生を抑えることが出来、移し替えの際の静電気発生を回避できることからTFT基板素子の静電破壊やTFT基板を含む基板のパーティクル汚染を無くす事が出来る。加えて、基板需用者が基板を処理装置対応容器に移しかえる作業などをなくすことによって、予め基板供給者で基板が収納された容器を基板需用者で処理装置内に設置する簡単な作業だけとしてスループットを向上させる
【0055】
本発明により、全自動化してスループットを向上させる製造システムを実現するとともに、基板へのダメージを避けることが可能な一貫したクローズドシステムを実現することが可能となる。
【0056】
また、ここでは基板需用者29が基板供給者28に発注32した例を示したが、基板供給者29が容器供給者27に発注してもよい。
【0057】
(実施の形態3)
ここでは、実施の形態1と異なり、基板供給者が容器を用意する例を示す。
【0058】
図3に本発明の製造システムの説明図を示す。図3において、42は使用済みの容器であり、容器を大気から隔離して汚染から防ぐための梱包材で梱包される。また、41は基板である。また、43は搬送ロボットであり、44は処理装置ロード部、45は処理装置処理部、46は処理基板である。また、47は、基板供給者であり、TFT基板や素ガラス基板などの基板を生産している製造者(代表的にはガラス基板供給者、TFT基板供給者など)である。48は処理装置を有する基板需用者であり、表示装置の製造者(代表的には生産工場)である。
【0059】
まず、基板需用者49が容器42を用意、または作製する。作製した段階で容器42をクリーニングしておくことが好ましい。
【0060】
次いで、容器42を基板需用者48から基板供給者47に搬送40する。容器の内部または外部に余分なパーティクルが付着しないように容器42を密封した後,清浄な梱包材で梱包されたままの状態で搬送40することが好ましい。この搬送40は、発注も兼ねており、搬送を受け取った基板供給者47は、送られてきた容器の個数に合わせて清浄室環境内でパーティクルの混入と基板の静電破壊に十分注意を払いながら容器42に収納する。その後、基板供給者47が清浄室環境内で容器42の内部を汚染しないように容器22を密封し、外部に余分なパーティクルが付着しないように清浄な梱包材で容器42を梱包することが好ましい。密閉する際には、容器42の内部は、清浄空気または不活性ガスで充填することが好ましい。なお、基板41を収納する前に容器42を再度、クリーニングしておくことが好ましい。
【0061】
次いで、容器42が梱包材に梱包されたままの状態で、基板供給者47から基板需用者48に搬送49する。
【0062】
次いで、前室にて容器の梱包材を取り外し、清浄室環境内(クリーンルーム)に容器を導入する。処理装置まで運搬した後、処理装置ロード部44に容器の蓋を外して直接容器をセットする。セット後は処理装置ロード部のロボットアーム43により容器42から基板41を取り出し、装置処理室45に基板を収納することができる。
【0063】
次いで、処理室45にて洗浄などの基板処理46が行なわれる
【0064】
こうして、基板は一度も移載されることなく処理装置内に導入され、基板供給者で基板21を収納した段階での状態を維持したまま、洗浄、基板処理などの製造工程が行えることを可能とする。また、基板供給者で容器22に直接基板21を収納することによって、必要な量だけを基板需用者に提供し、高価なTFT基板の在庫を貯めることなく効率よく使用することができる。
【0065】
(実施の形態4)
ここでは、実施の形態2と一部異なる例を示す。なお、異なる箇所以外は、実施の形態2と同一であるので同一の符号を用いる。
【0066】
図4に本発明の製造システムの説明図を示す。図4において、容器22は全ての基板を使用して空になった状態である。本実施の形態では、容器22を汚染することなく基板供給者28に回収50させ、容器22を再利用するシステムである。
【0067】
本発明の製造システムの流れは、実施の形態2と処理基板26を得るまで同一であるのでここでは省略する。
【0068】
処理基板26を得た後、使用済みの容器は無駄になる。
【0069】
そこで、本実施の形態では、図4に示すように、容器22を処理装置から取り出し、基板供給者28が回収50する。容器は、再度クリーニングをおこなって再利用することが望ましい。クリーニングする前にも出来るだけ容器がパーティクルなどで汚染されるのを防ぐことが望ましい。従って、取り出した後、清浄室環境内で密閉させることが望ましい。さらに、容器22の外部汚染を防ぐ為、容器22を清浄な梱包材で梱包して回収50することが好ましい。
【0070】
こうして、基板供給者容器42を回収することによって、資源の無駄を無くし、効率よく使用、または再利用することができる。
【0071】
また、本実施の形態は、実施の形態1乃至3のいずれか一と自由に組み合わせることができる。
【0072】
(実施の形態5)
本実施の形態では、異なる大きさの基板を搬送する方法を示す。
【0073】
図5において、62は容器である。また、60は容器内の基板ホルダである。また、61は基板である。また、63は搬送ロボットであり、64は処理装置のロード部、65は処理装置処理部、66は処理基板である。また、67は、基板供給者であり、TFT基板や素ガラス基板などの基板を生産している製造者(代表的にはガラス基板供給者、TFT基板供給者など)である。68は処理装置を有する基板需用者であり、表示装置の製造者(代表的には生産工場)である。
【0074】
本発明の製造システムの流れを以下に説明する。
【0075】
まず、基板供給者67で基板を製造する。ついで、基板供給者67で容器62内の基板ホルダ−を基板需用者に指定された基板61の大きさと種類に応じた基板ホルダ60に交換する。
【0076】
次いで、基板供給者67で基板需用者68に指定された容器62に基板61を収納する。なお、この容器62は、そのまま処理装置のロード部にセットすることができる容器、代表的には基板カセットなどである。
【0077】
次いで、基板61が収納された容器62を基板需用者68に搬送70して、処理装置ロード部64に設置する。
【0078】
次いで、ロード部の搬送ロボット63によって基板61を処理装置処理部65に搬送する。
【0079】
次いで、処理部65にて洗浄などの基板処理66が行なわれる
【0080】
こうして、基板供給者67で容器62の基板ホルダ60を用意することで、基板需用者68の注文に応じた基板61をたとえ基板61の大きさが変わっても、同じ容器62で搬送でき、容器62を効率よく使用することができる。
【0081】
また、本実施の形態は、実施の形態1乃至4のいずれか一と自由に組み合わせることができる。
【0082】
(実施の形態6)
ここでは、実施の形態5と一部異なる例を示す。なお、異なる箇所以外は、実施の形態5と同一であるので同一の符号を用いる。
【0083】
図6に本発明の製造システムの説明図を示す。
【0084】
図6において、容器62は全ての基板を使用して空になった状態である。本実施の形態では、容器62を汚染することなく基板供給者67に回収71させ、容器62を再利用するシステムである。
【0085】
本発明の製造システムの流れは、実施の形態5と処理基板66を得るまで同一であるのでここでは省略する。
【0086】
処理基板66を得た後、使用済みの容器は無駄になる。
【0087】
そこで、本実施の形態では、図6に示すように、全て基板を搬送して空になった容器62を処理装置から取り出し、基板供給者67が回収71する。
【0088】
次いで、容器61の基板ホルダ60を基板需用者68の注文する基板に応じて交換する。容器は、再度クリーニングをおこなって再利用することが望ましい。クリーニングする前にも出来るだけ容器がパーティクルなどで汚染されるのを防ぐことが望ましい。従って、取り出した後、清浄室環境内で密閉させることが望ましい。さらに、容器62の外部汚染を防ぐ為、容器62を清浄な梱包材で梱包して回収71することが好ましい。
【0089】
こうして、基板供給者67で容器62の基板ホルダ60を交換することで、基板需用者68の注文に応じた基板61を同じ容器62で搬送でき、容器62を効率よく使用、または再利用することができる。
【0090】
また、本実施の形態は、実施の形態1乃至5のいずれか一と自由に組み合わせることができる。
【0091】
以上の構成でなる本発明について、以下に示す実施例でもってさらに詳細な説明を行うこととする。
【0092】
【実施例】
[実施例1]
本実施例では、実施の形態1乃至7に示した容器の一例を図7に示す。
【0093】
図7は基板を収納した容器の断面図及び概観である。
【0094】
図7において、83は容器、代表的にはカセットであり、基板82が収納されている。この容器83は、容器蓋84で密閉できるようにする。容器83には取っ手81を設け、容器83を作業者が持ち運びし易い様にする。容器83には本体以外に基板ホルダ80と接合部89を設け、基板ホルダ80は容器本体から取り外し可能とし、基板82の大きさに応じて交換可能とする。また、基板ホルダ80は基板82への静電気の帯電を防ぐため、金属、導電性高分子などの導電性物質で形成されるか、プラスチック等の絶縁物質若しくは半導体物質で形成された表面に金属粉末、金属薄膜、導電性高分子、等の導電性物質でコーティング処理を行なう。
また、容器接合部89は容器蓋接合部86と容器接合部88及び密閉材87とからなり、容器蓋接合部86と容器接合部88をOリング87などで密閉するものである。
【0095】
容器は遮光性、耐衝撃性を実現する為、強化プラスチック、金属などを用いて製作され、さらに静電対策として、容器材質が導電性を持たない場合、表面に導電性物質のコーティングが施される。
【0096】
容器蓋84と容器83には、搬送の際、基板の動きを押さえ、かつ基板の帯電を防止し、さらに基板へのショックを吸収するため、導電性若しくは導電性物質がコーティングされた衝撃吸収材85を設ける。
【0097】
また、容器83の内部は不活性ガス(代表的には窒素)で充填するか、清浄室雰囲気で容器蓋84を密閉して清浄室雰囲気にする。
【0098】
この容器の蓋を外し、容器90を図8に示す処理装置(代表的として基板洗浄装置)ロード91部にセットする。容器内部の基板はロード部91の搬送ロボット92によって取り出され、処理部93へと送られる。処理された基板はアンロード部95の搬送ロボット94によってアンロード部95にセットされたカセットに収納される。搬送ロボット92に容器蓋を外す機能を付加することで、容器の蓋を外さずに処理装置に容器をセットし、ロボットで容器蓋を外すことも可能となる。
【0099】
本実施例は、実施の形態1乃至6のいずれか一と自由に組み合わせることが可能である。
【0100】
【発明の効果】
本発明のシステムによって、複数の基板を1つの容器で搬送し、処理装置にセットすることで無駄が少なく、環境に優しいプロセスとすることができる。また、基板供給者で直接容器に基板を収納することによって、必要な量だけを販売し、比較的高価なガラス基板やTFT基板等を効率よく使用することができる。即ち、従来のように不必要な基板の在庫過剰や不足が生じることをなくすことができる。さらに従来の方法では不可能であったTFT基板の搬送が可能となる。
【0101】
さらに、本発明のシステムにより運搬容器からクリーンルーム内運搬容器或いは装置対応容器に基板を移しかえる作業を無くす事が出来る。この移しかえの作業をなくすことによって、移しかえる際の作業者のミスによる基板破壊や傷の発生を抑えることが出来、移し替えの際の静電気発生を回避できることからTFT基板素子の静電破壊やTFT基板を含む基板のパーティクル汚染を無くす事が出来る。加えて、基板需用者が基板を製造装置対応容器に移しかえる作業などをなくすことによって、予め基板供給者で基板が収納された容器を基板需用者で処理装置内に設置するだけの簡単な作業としてスループットを向上させる。
【0102】
本発明により、全自動化してスループットを向上させる製造システムを実現するとともに、基板へのダメージを避けることが可能な一貫したクローズドシステムを実現することが可能となる。
【0103】
また、いくら清浄な状態で、不良の無いTFT基板等を基板供給者で提供されても、基板需用者で従来の移しかえの作業を行うかぎり、TFT基板素子の静電破壊や基板のパーティクル汚染の恐れが存在し、TFT基板の性能や基板の清浄な状態を維持することができず、性能、品質維持に限界があった。本発明により基板供給者と基板需用者が連携してパーティクル混入及び静電気発生の低減に努めることによって、基板供給者で得られる極めて高い性能のTFT基板素子や高品質の基板状態を維持し、そのまま性能、品質を落とすことなく基板需用者で製造を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態1を示す図である。
【図2】実施の形態2を示す図である。
【図3】実施の形態3を示す図である。
【図4】実施の形態4を示す図である。
【図5】実施の形態5を示す図である。
【図6】実施の形態6を示す図である。
【図7】実施例1を示す図である。
【図8】処理装置を示す図である。(実施例1)

Claims (26)

  1. 基板供給者にて、容器内に基板を収納して密閉する第1段階と、前記容器を基板需用者に搬送する第2段階と、前記基板需用者にて、処理装置内に前記容器を導入し、前記容器の中から前記基板を取り出して配置する第3段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内で前記基板に処理を行う第4段階と、を有することを特徴とする製造システム。
  2. 容器供給者から容器を基板供給者に搬送する第1段階と、前記基板供給者にて、前記容器内に基板を収納し、さらに前記基板を収納した前記容器を密閉する第2段階と、前記基板供給者にて前記容器を基板需用者に搬送する第3段階と、前記基板需用者にて、処理装置内に前記容器を導入し、前記容器の中から前記基板を取り出して配置する第4段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内で前記基板に処理を行う第5段階と、を有することを特徴とする製造システム。
  3. 基板需用者から容器を基板供給者に搬送する第1段階と、前記基板供給者にて、前記容器内に基板を収納し、さらに前記基板を収納した前記容器を密閉する第2段階と、前記基板供給者にて前記容器を前記基板需用者に搬送する第3段階と、前記基板需用者にて、処理装置内に前記容器を導入し、前記容器から前記基板を取り出して配置する第4段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内で前記基板に処理を行う第5段階と、を有することを特徴とする製造システム
  4. 容器供給者から容器を基板供給者に搬送する第1段階と、前記基板供給者にて、前記容器内に基板を収納し、さらに前記基板を収納した前記容器を密閉する第2段階と、前記基板供給者にて前記容器を前記基板需用者に搬送する第3段階と、前記基板需用者にて、処理装置内に前記容器を導入し、前記容器から前記基板を取り出して配置する第4段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内で前記基板に処理を行う第5段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内から前記容器を取り出し、前記基板供給者に前記容器を搬送する第6段階と、前記基板供給者にて前記容器内に前記基板を収納して前記容器を再利用する第7段階と、を有する事を特徴とする製造システム。
  5. 容器供給者から容器を基板供給者に搬送する第1段階と、前記基板供給者にて、前記容器の基板保持部を収納する基板の大きさに応じて交換する第2段階と、前記基板保持部を交換した前記容器に前記基板を収納する第3段階と、前記基板供給者にて前記容器を前記基板需用者に搬送する第4段階と、前記基板需用者にて、処理装置内に前記基板を導入する第5段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内で前記基板に処理行う第6段階と、を有する事を特徴とする製造システム。
  6. 容器供給者から容器を基板供給者に搬送する第1段階と、前記基板供給者にて、前記容器の基板保持部を収納する基板の大きさに応じて交換する第2段階と、前記基板保持部を交換した前記容器に前記基板を収納する第3段階と、前記基板供給者にて前記容器を前記基板需用者に搬送する第4段階と、前記基板需用者にて、処理装置内に前記基板を導入する第5段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内で前記基板に処理行う第6段階と、前記基板需用者にて前記処理装置内から前記容器を取り出し、前記基板供給者に前記容器を搬送し、前記基板供給者にて再び前記容器の前記基板保持部を前記基板の大きさに応じて選択、交換し、前記容器内に前記基板を収納する第7段階と、を有することを特徴とする製造システム。
  7. 請求項1乃至6のいずれか一において、前記処理装置は、一つまたは複数の処理室を有し、前記容器から前記基板を取りだすロード部と、処理の終わった前記基板を収納するアンロード部とを有していることを特徴とする製造システム。
  8. 請求項1乃至7のいずれか一において、前記容器はカセットであることを特徴とする製造システム。
  9. 請求項1乃至8のいずれか一において、前記容器は基板保持部を有し,前記基板の大きさ、種類に応じて交換可能であることを特徴とする製造システム。
  10. 請求項1乃至9のいずれか一において、前記容器は取り付けられた蓋により密閉可能であることを特徴とする製造システム。
  11. 請求項1乃至10のいずれか一において、前記容器は遮光性を有する容器であることを特徴とする製造システム。
  12. 請求項1乃至11のいずれか一において、前記容器は静電対策を施された容器であることを特徴とする製造システム。
  13. 請求項1乃至12のいずれか一において、前記容器は衝撃吸収材を有する事を特徴とする製造システム。
  14. 請求項1乃至13のいずれか一において、前記基板供給者で前記容器のクリーニングを行うことを特徴とする製造システム。
  15. 請求項4乃至6のいずれか一において、使用済みの前記容器を前記基板供給者で回収して再利用することを特徴とする製造システム。
  16. 請求項1乃至7のいずれか一において、前記処理装置は、基板洗浄装置であることを特徴とする製造システム。
  17. 請求項1乃至7のいずれか一において、前記処理装置は、少なくとも1つ以上の真空チャンバーを有する真空蒸着装置であることを特徴とする製造システム。
  18. 請求項1乃至7のいずれか一において、前記処理装置は、CVD(Chemical Vapor Deposition: 化学気相蒸着法)装置であることを特徴とする製造システム。
  19. 請求項1乃至7のいずれか一において、前記処理装置は、UV処理装置であることを特徴とする製造システム。
  20. 請求項1乃至7のいずれか一において、前記処理装置は、分断装置であることを特徴とする製造システム。
  21. 請求項1乃至7のいずれか一において、前記処理装置は、スパッタ装置であることを特徴とする製造システム。
  22. 請求項1乃至7のいずれか一において、前記処理装置は、炉であることを特徴とする製造システム。
  23. 請求項1乃至7のいずれか一において、前記処理装置は、レーザーマーキング装置であることを特徴とする製造システム。
  24. 請求項1乃至7のいずれか一において、前記処理装置は、光学顕微鏡を有する基板検査装置であることを特徴とする製造システム。
  25. 請求項1乃至9のいずれか一において、前記基板はTFT基板、対向基板、対向ザグリ基板、カラーフィルタ、素ガラス、プラスチック基板の少なくとも1種類を1枚以上含むことを特徴とする製造システム。
  26. 請求項1乃至25のいずれか一において、前記基板を収納し、密閉された前記容器の蓋を外して前記処理装置のロード部に前記容器を導入し、前記容器から前記基板を取り出して配置した後、前記処理装置の処理部にて基板に処理を行う事を特徴とする処理装置の操作方法。
JP2002378734A 2002-12-26 2002-12-26 製造システム、並びに処理装置の操作方法 Withdrawn JP2004210421A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002378734A JP2004210421A (ja) 2002-12-26 2002-12-26 製造システム、並びに処理装置の操作方法
US10/740,417 US7842205B2 (en) 2002-12-26 2003-12-22 Manufacturing method by treating substrate introduced into treatment apparatus from transfer container
US12/952,933 US9111974B2 (en) 2002-12-26 2010-11-23 Manufacturing method and method for operating treatment apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002378734A JP2004210421A (ja) 2002-12-26 2002-12-26 製造システム、並びに処理装置の操作方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004210421A true JP2004210421A (ja) 2004-07-29
JP2004210421A5 JP2004210421A5 (ja) 2006-02-09

Family

ID=32677446

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002378734A Withdrawn JP2004210421A (ja) 2002-12-26 2002-12-26 製造システム、並びに処理装置の操作方法

Country Status (2)

Country Link
US (2) US7842205B2 (ja)
JP (1) JP2004210421A (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8603288B2 (en) * 2008-01-18 2013-12-10 Rockwell Collins, Inc. Planarization treatment of pressure sensitive adhesive for rigid-to-rigid substrate lamination
KR100745362B1 (ko) * 2006-03-14 2007-08-02 세원셀론텍(주) 세포치료제 설비의 사용방법 및 이를 이용한 네트워크기반의 프랜차이즈 마켓 비즈니스 방법
US20090145802A1 (en) * 2007-12-11 2009-06-11 Apple Inc. Storage system for components incorporating a liquid-metal thermal interface
EP2243054A4 (en) 2008-01-18 2013-09-25 Rockwell Collins Inc SYSTEM AND METHOD FOR SUBSTRATE STRATIFICATION
US8486535B1 (en) 2010-05-24 2013-07-16 Rockwell Collins, Inc. Systems and methods for adherable and removable thin flexible glass
US9981460B1 (en) * 2014-05-06 2018-05-29 Rockwell Collins, Inc. Systems and methods for substrate lamination
US10928510B1 (en) 2014-09-10 2021-02-23 Rockwell Collins, Inc. System for and method of image processing for low visibility landing applications
KR102519797B1 (ko) * 2016-04-12 2023-04-10 삼성디스플레이 주식회사 증착 장치 및 증착 방법
US10228460B1 (en) 2016-05-26 2019-03-12 Rockwell Collins, Inc. Weather radar enabled low visibility operation system and method

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4532970A (en) * 1983-09-28 1985-08-06 Hewlett-Packard Company Particle-free dockable interface for integrated circuit processing
US4709834A (en) * 1987-02-02 1987-12-01 Empak Inc. Storage box
US4817795A (en) * 1988-03-04 1989-04-04 Fluoroware, Inc. Robotic accessible wafer shipper assembly
US5536128A (en) * 1988-10-21 1996-07-16 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for carrying a variety of products
DE4024973C2 (de) * 1990-08-07 1994-11-03 Ibm Anordnung zum Lagern, Transportieren und Einschleusen von Substraten
US5255783A (en) * 1991-12-20 1993-10-26 Fluoroware, Inc. Evacuated wafer container
JP3191392B2 (ja) * 1992-04-07 2001-07-23 神鋼電機株式会社 クリーンルーム用密閉式コンテナ
US5273159A (en) * 1992-05-26 1993-12-28 Empak, Inc. Wafer suspension box
JPH0689837A (ja) * 1992-09-08 1994-03-29 Fujitsu Ltd 基板処理装置
US5346518A (en) * 1993-03-23 1994-09-13 International Business Machines Corporation Vapor drain system
KR0135049B1 (ko) * 1994-05-31 1998-04-20 양승택 반도체 제조장비의 웨이퍼 장착 카세트
GB9419765D0 (en) * 1994-09-30 1994-11-16 Symons Richard D Storage of sensitive media
JPH08236605A (ja) * 1995-02-28 1996-09-13 Komatsu Electron Metals Co Ltd 半導体ウェハ収納ケース
JP3519212B2 (ja) * 1995-06-13 2004-04-12 高砂熱学工業株式会社 清浄な資材用保管庫
US5827118A (en) * 1996-08-28 1998-10-27 Seh America, Inc. Clean storage unit air flow system
JPH10264970A (ja) 1997-03-21 1998-10-06 Advanced Display:Kk 梱包箱
JPH1131740A (ja) 1997-05-14 1999-02-02 Komatsu Ltd 半導体ウェハ容器
JPH1140770A (ja) * 1997-07-18 1999-02-12 Nec Corp 半導体装置の製造方法および半導体製造装置
US6092981A (en) * 1999-03-11 2000-07-25 Applied Materials, Inc. Modular substrate cassette
JP2000289795A (ja) 1999-04-06 2000-10-17 Kakizaki Mamufacuturing Co Ltd 薄板収納・輸送容器
JP2001116529A (ja) * 1999-10-15 2001-04-27 Canon Inc 異物検査装置及びそれを用いたデバイスの製造方法
JP2001158499A (ja) 1999-11-30 2001-06-12 Shin Etsu Polymer Co Ltd 精密基板収納容器の構成部品及び精密基板収納容器の構成部品のリユース回数確認方法
JP3955724B2 (ja) * 2000-10-12 2007-08-08 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置の製造方法
JP2002225949A (ja) 2001-01-31 2002-08-14 Asahi Kasei Corp ガラス基板用緩衝材
JP4906018B2 (ja) * 2001-03-12 2012-03-28 株式会社半導体エネルギー研究所 成膜方法、発光装置の作製方法及び成膜装置
EP1388165B1 (en) * 2001-05-17 2007-03-07 Ebara Corporation Substrate transport container
JP4610188B2 (ja) 2001-07-23 2011-01-12 ミライアル株式会社 薄板支持容器用蓋体及び薄板支持容器並びに簡易着脱機構
TWI275319B (en) * 2002-02-05 2007-03-01 Semiconductor Energy Lab Manufacturing method and method of operating a manufacturing apparatus
US6892437B2 (en) * 2002-03-13 2005-05-17 Lg. Philips Lcd Co., Ltd. Apparatus and method for manufacturing liquid crystal display device
US6873515B2 (en) * 2002-04-17 2005-03-29 United Microelectronics Corp. Method for preventing electrostatic discharge in a clean room

Also Published As

Publication number Publication date
US20040130073A1 (en) 2004-07-08
US9111974B2 (en) 2015-08-18
US20110065259A1 (en) 2011-03-17
US7842205B2 (en) 2010-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9111974B2 (en) Manufacturing method and method for operating treatment apparatus
US10872796B2 (en) Semiconductor stocker systems and methods
US20180286726A1 (en) Humidity control in semiconductor systems
JP5398595B2 (ja) 基板収納装置
US20120214396A1 (en) Methods and apparatus for vertically orienting substrate processing tools in a clean space
US20060283770A1 (en) Transportation fixture and package for substrate rack
JP2008115441A (ja) 成膜マスク交換方法および成膜マスク交換システム
JP4370186B2 (ja) 薄膜太陽電池製造システム
JP2004303835A (ja) 基板保管装置
JP2005235916A (ja) 薄膜太陽電池製造システム
KR20020005940A (ko) 표면 열화를 방지하는 웨이퍼 패킹 방법
JP2000216221A (ja) 真空処理装置用の基板搬送方法
TW201703174A (zh) 半導體晶圓載具總成、門總成、基板容器與吸氣劑模組之組合及降低前開式容器內污染物濃度之方法
JP2000216211A (ja) 真空処理装置用の基板搬送システム
US20060037292A1 (en) Device having a function of adsorbing airborne molecular contamination
JP2000216219A (ja) 真空処理装置用基板搬送方法
JP2004311645A (ja) 吸着体収納ケース及び基板収納ケース
JP2000223550A (ja) 真空処理装置における基板の処理方法
JP2003133387A (ja) 真空処理装置
JP2000216220A (ja) 真空処理装置の基板搬送方法
JP2004207752A (ja) 真空処理装置及び基板の搬送処理方法
JP2002237508A (ja) 基板の真空処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051219

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081216

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20090126