JP2004053399A - Exciting type contact sensor, and manufacturing method therefor - Google Patents

Exciting type contact sensor, and manufacturing method therefor Download PDF

Info

Publication number
JP2004053399A
JP2004053399A JP2002210788A JP2002210788A JP2004053399A JP 2004053399 A JP2004053399 A JP 2004053399A JP 2002210788 A JP2002210788 A JP 2002210788A JP 2002210788 A JP2002210788 A JP 2002210788A JP 2004053399 A JP2004053399 A JP 2004053399A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stylus
vibration
contact sensor
type contact
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002210788A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kunitoshi Nishimura
西村 国俊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp, Mitsutoyo Kiko Co Ltd filed Critical Mitutoyo Corp
Priority to JP2002210788A priority Critical patent/JP2004053399A/en
Publication of JP2004053399A publication Critical patent/JP2004053399A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To simplify structure to eliminate complicated assembling work, and to reduce a cost thereby. <P>SOLUTION: This exciting type contact sensor 1 is provided with a sensor main body 10, a piezoelectric material film 20, and an electrode film 3. The sensor main body 10 is constituted of a stylus holder 11, a stylus 12 and a contact part 13, and the members are constituted integrally of one sheet of metal member or the like. The structure of the contact sensor 1 is simplified thereby, and the complicated assembling work is eliminated to reduce the cost. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば、三次元測定機などによって被測定物の微細な表面形状を測定する場合に用いられる加振型接触センサに関する。
【0002】
【背景技術】
従来より、精密機械加工または半導体製造分野での研究、開発および生産現場での検査において、被測定物の形状や寸法の測定を行う測定機として、三次元測定機、表面形状測定機や***測定機等が知られている。この場合、被測定物における微細形状の座標検出や位置検出を行うために、これら測定機には、被測定物との接触を検出する加振型接触センサが用いられる。
【0003】
例えば、特開2002−39737号には、***測定機に用いられる加振型接触センサが開示されている。図8は、この加振型接触センサの概略構成を示す図である。図8において、1は加振型接触センサであり、この加振型接触センサ1は、スタイラスホルダ11と、スタイラス12と、圧電素子40とを備えて構成されている。
【0004】
スタイラスホルダ11は、図示しない三次元測定機等の移動軸に取り付けるための固定部11Aと、この固定部11Aから平行に延びた一対の腕部11Bと、これら腕部11Bと略直交して一対の腕部11Bの先端側を結合する結合部11Cとを備えている。この結合部11Cには、長手方向に沿って長孔11Eが形成され、これにより、長孔11Eの外周付近に細い棒状の平行な一対の圧電素子支持部14が形成される。また、これら圧電素子支持部14には、スタイラス12の軸方向へ沿う溝部14Aが切り欠いて形成されている。
【0005】
スタイラス12は、略柱状に形成され、その先端側には被測定物と接触する接触部13が設けられている。この接触部13としては、ガラス球が接着等の手段によりスタイラス12の先端に固定されたものである。
圧電素子40は、バルク状に形成され、スタイラス12を軸方向に共振状態で加振するとともに、接触部13と被測定物との接触に際して生じるスタイラス12の共振状態の変化を検出する。このため、一方の端面には、加振用電極31と検出用電極32とが分割して形成されている。
【0006】
以上のような加振型接触センサ1を製造する際には、スタイラス12の先端に接触部13としてのガラス球を接着固定する。そして、スタイラスホルダ11の圧電素子支持部14に形成された溝部14Aに沿うように、スタイラス12を接着固定し、さらに、この溝部14Aを跨いだ状態で圧電素子40を圧電素子支持部14に接着固定する。
このため、この加振型接触センサ1は、外乱振動に対して頑強であり、微弱な接触によるスタイラス12の共振状態の変化を検出し、高感度の検出が可能となる。
【0007】
また、特開2000−65716号には、微細形状測定機に用いられる加振型接触センサが開示されている。図9は、この加振型接触センサの概略構成を示す図である。図9に示すように、加振型接触センサ1では、スタイラスホルダ11とスタイラス12とは、チタンからなる一枚の板状体から一体的に構成される。また、スタイラス12の先端部分には、被測定物と接触する接触部13としてのダイヤモンドチップが接着固定されている。
【0008】
そして、このスタイラス12の表裏面の一部に水熱合成法により圧電素子である圧電材料膜20を形成するとともに、この圧電材料膜20上に加振用電極31および検出用電極(図示省略)を設けている。このため、図8で説明した加振型接触センサ1と比較して、バルク状の圧電素子40を用いずに、水熱合成法により圧電材料膜20を一括して作成できるので、安価に製造することが可能となる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図8に示す加振型接触センサでは、スタイラスホルダ、スタイラス、および、接触部が別体で構成されており、これら部材を一体化するために複数の接着部分が必要となる。このため、加振型接触センサを製造する際に、組み立てが困難となり、低廉化を図ることが出来ない、という問題がある。
【0010】
また、図9に示す加振型接触センサでは、スタイラスホルダとスタイラスとが一体に構成され、さらに圧電素子であるPZT膜を水熱合成法により複数の加振型接触センサに対して一括して作成できるので、この点では安価に製造することが可能となる。しかしながら、人手によりスタイラスの先端部分に接触部としてのダイヤモンドチップを接着固定しているため、煩雑な作業が生じ、低廉化が困難となる、という問題がある。
【0011】
本発明の目的は、構造を簡素化して煩雑な組立て作業を省略し、低廉化を図ることが出来る加振型接触センサを提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の発明は、スタイラスホルダと、このスタイラスホルダに略中央部で支持され、軸方向に略対称構造をなす略柱状のスタイラスと、前記スタイラスの先端部に設けられ被測定物と接触する接触部と、このスタイラスを前記支持点近傍を振動の節として、軸方向に共振状態で振動させる加振手段と、前記接触部および前記被測定物の接触に際して生ずる前記スタイラスの共振状態の変化から当該接触を検出するための検出手段とを備えた加振型接触センタにおいて、前記スタイラスホルダ、前記スタイラス、および、前記接触部が一体で構成していることを特徴とするものである。
【0013】
本発明によれば、スタイラスホルダ、スタイラス、および、接触部が一体で構成されているので、スタイラスホルダ、スタイラス、および、接触部の組立て作業が不要となる。したがって、加振型接触センサの構造が簡素化し、製造する際に、煩雑な組立て作業を省略し、安価に製造することが可能となる。
また、スタイラスホルダおよびスタイラスが一体に構成され、振動の節において、スタイラスがスタイラスホルダに支持される構造となっているので、外乱振動に対する安定性が向上して共振特性および検出感度が向上する。
【0014】
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の加振型接触センサにおいて、前記接触部は、先端が前記スタイラスの軸方向に先鋭化されていることを特徴とする。
このような構成では、接触部の先端部がスタイラスの軸方向に先鋭化されているので、スタイラスとは別体として針状の部材を設ける必要がなく、煩雑な組立て作業を省略し、さらなる製造コストの削減を図れる。また、種々の測定機に対応して、高分解能測定を実現できる。
【0015】
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の加振型接触センサにおいて、前記接触部は、先端がダイヤモンド薄膜で被覆されていることを特徴とする。
このような構成では、接触部の先端部がダイヤモンド薄膜で被覆されているので、接触部の先端部は、高硬度になり、例えば、AFM(Atomic Force Microscopy)等による表面形状の測定に用いる場合に、接触部と被測定物との間での磨耗を回避できる。したがって、スタイラスの劣化を防止し、加振型接触センサの長寿命化を促進する。接触部が先鋭化されている場合に、特に接触部の強度補強に有効である。
【0016】
請求項4に記載の発明は、スタイラスホルダと、このスタイラスホルダに略中央部で支持され、軸方向に略対称構造をなす略柱状のスタイラスと、前記スタイラスの先端部に設けられ被測定物と接触する接触部と、前記スタイラスを前記支持点近傍を振動の節として、軸方向に共振状態で振動させる加振手段と、前記接触部および前記被測定物の接触に際して生ずる前記スタイラスの共振状態の変化から当該接触を検出するための検出手段とを備えた加振型接触センサの製造方法において、1枚の金属部材から、前記スタイラスホルダ、前記スタイラス、および、前記接触部を一体加工し、前記接触部の先端を先鋭化加工し、前記スタイラスの表面に圧電材料膜および電極膜を積層して前記加振手段および前記検出手段を形成することを特徴とするものである。
本発明によれば、人手による煩雑な組立て作業が省略されるので、加振型接触センサの量産化が可能となり、低廉化を図ることが出来る。
特に微小な接触部が一体化できて、人手を介する必要がないことから、接触部の形状制度の高いセンサが容易に製造できる。
【0017】
請求項5に記載の発明は、請求項4に記載の加振型接触センサの製造方法において、前記先鋭化加工は、エッチング処理により実施することを特徴とする。
本発明によれば、簡素な構造を有する装置で、接触部の先端部分の先鋭化加工を容易に実施できる。また、複数の部材に対して一括大量に先鋭化加工を実施することができるので、接触部形状ばらつきの少ない高品位センサが製造可能となり、且つ、低廉化を図ることができる。
【0018】
請求項6に記載の発明は、請求項4または請求項5に記載の加振型接触センサの製造方法において、前記接触部の先端にダイヤモンド薄膜を被覆することを特徴とする。
本発明によれば、接触部の先端にダイヤモンド薄膜を被覆するので、請求項3と同様の作用効果を享受する。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
図1は、本発明に係る加振型接触センサの概略構成図である。
図1において、1は加振型接触センサであり、この加振型接触センサ1は、センサ本体10と、圧電材料膜20と、電極膜30とを備えて構成されている。
【0020】
センサ本体10は、1枚のステンレス等の金属からなる板状体で構成される。このセンサ本体10は、スタイラスホルダ11と、スタイラス12と、接触部13とを備えている。
スタイラスホルダ11は、図示しない微細形状測定機等の移動軸に取り付けるための固定部11Aと、この固定部11Aから平行に延びた一対の腕部11Bと、これら腕部11Bと略直交して一対の腕部11Bの先端側を結合する結合部11Cとを備えている。この結合部11Cには、腕部11Bと略直交して、平行に延びる一対のスタイラス支持部11Dが形成されている。そして、この一対のスタイラス支持部11Dでスタイラス12が支持される構成となっている。
【0021】
スタイラス12は、断面略四角柱状に形成され、略中央部において、スタイラス支持部11Dにより支持されている。このスタイラス12は、電極膜30から適当な周波数の電圧が印加されることにより、軸方向に共振周波数で共振振動する。この共振振動は、スタイラス12の軸方向の略中央部分を節とし、両端を腹とするモードの振動である。すなわち、共振振動の節は、スタイラス支持部11Dによる支持点の近傍に位置する。なお、このスタイラス12の基端部12Aには、必要に応じて図示しないカウンタバランスが設けられる。このカウンタバランスは、振動の節が略中央部から外れないように機能するものであり、予めシミュレーション等により、スタイラス12の長さが調整されていれば、基端部12Aにカウンタバランスを設ける必要はない。
【0022】
接触部13は、スタイラス12の先端部12Bに形成され、被測定物と接触する部分である。この接触部13は、スタイラス12の軸方向に先鋭化し、さらに、ダイヤモンド薄膜が被覆されている。このような構成により、例えば、AFM等の微細形状測定機に用いた場合に、高分解能測定を実現するとともに、接触部13の硬度を高め、磨耗や欠損などによる加振型接触センサ1の劣化を防止することが可能となる。
【0023】
以上のようなセンサ本体10の構成において、スタイラスホルダ11とスタイラス12とは、共振振動の軸を中心として板状体の面方向に略軸対称構造とされている。このため、外乱振動に対する安定性が向上する。
【0024】
圧電材料膜20は、例えば、酸化亜鉛、または、PZT膜等を採用することができる。この圧電材料膜20は、スタイラス12の略中央部分に形成され、電極膜30から印加される電圧に応じて歪むものである。
【0025】
電極膜30は、図示しない加振回路または検出回路等と電気信号(電圧)を授受するものである。具体的に、この電極膜30は、金蒸着等により形成されるものであり、圧電材料膜20の上面に形成される加振用電極31および検出用電極32と、加振型接触センサ1を接地電位とするアース電極33と、図示しない加振回路と検出回路、加振用電極31と検出用電極32のそれぞれを電気的に接続して中継する中継用電極34とを備えて構成されている。
【0026】
加振用電極31は、外部の加振回路により出力され、中継用電極34にて中継された所定の周波数の電圧をスタイラス12との間に印加し、圧電材料膜20に電界を作用させて歪ませる。また、検出用電極32は、スタイラス12との間にある圧電材料膜20に生じる電圧の変化を検出し、中継用電極34を介して、外部の検出回路に検出信号を出力する。
【0027】
アース電極33は、スタイラスホルダ11の固定部11A上に形成され、センサ本体10を通して圧電材料膜20の裏面と電気的に接続している。また、このアース電極33は、図示しない微細形状測定機等の移動軸にスタイラスホルダ11の固定部11Aが取り付けられた際に、外部の接地電位と接続し、センサ本体10の電位を外部の接地電位と同電位とする。このため、加振用電極31、検出用電極32、および、中継用電極34のシールド効果を高め、外部からの電磁輻射によるこれら電極への影響を回避し、外部の加振回路および検出回路との電気信号(電圧)の授受を安定に実施できる。なお、このアース電極33と外部の接地電位とをリード線等で接続するように構成してもよい。
【0028】
中継用電極34は、スタイラスホルダ11の上面に形成され、加振回路と加振用電極31とを中継する加振用中継配線34Aと、検出回路と検出用電極32とを中継する検出用中継配線34Bとを備えている。このため、スタイラスホルダ11の一部を絶縁処理し、加振用中継配線34Aと検出用中継配線34Bとが電気的に導通しないように構成している。
【0029】
この中継用電極34は、図示しない微細形状測定機等の移動軸にスタイラスホルダ11の固定部11Aが取り付けられた際に、外部の加振回路および検出回路と電気的に接続するように構成している。そして、これら外部の加振回路および検出回路と電気信号(電圧)の授受を行い、スタイラスホルダ11の一方の腕部11Bに沿って結合部11Cまで延びるように中継する。
【0030】
なお、この中継用電極34と外部の加振回路および検出回路とをリード線等で接続するように構成してもよい。また、この中継用電極34は、図1に示すような構成に限らない。例えば、加振用中継配線34Aおよび検出用中継配線34Bとをスタイラスホルダ11のそれぞれの腕部11Bに沿って別々に配線してもよく、その他の配線によって構成してもよい。
【0031】
また、上述した加振用電極31および検出用電極32と中継用電極34とは、それぞれ金線により電気的に接続している。
なお、本発明に係る加振手段は、上述した加振用電極31と圧電材料膜20とに相当し、本発明に係る検出手段は、上述した検出用電極32と圧電材料膜20とに相当する。
【0032】
以上のような構成において、外部の加振回路から所定周波数の電圧が出力されると、中継用電極34を介して、加振用電極31からこの所定周波数の電圧がスタイラス12との間に印加される。そして、スタイラス12が軸方向に共振周波数で共振振動する。このスタイラス12の振動は、直接、圧電材料膜20に伝播し、この圧電材料膜20もスタイラス12と同周波数で振動する。この振動状態は、検出用電極32にて検出し、検出信号を中継用電極34を介して外部の検出回路に出力することで振動状態の変化を検出可能となっている。
【0033】
次に、本発明に係る加振型接触センサ1を製造する方法について、図2ないし5を参照して説明する。
図2は、本発明に係る加振型接触センサ1の製造方法を説明するフローチャートである。
【0034】
先ず、1枚のステンレス等の金属の板材から、図3に示すように、センサ本体10の形状加工を実施する(ステップS1)。このような形状加工は、エッチング、または、ワイヤカット等の放電加工により実施できる。この際、スタイラス12は、軸方向に略対称構造となり、かつ、その略中央部分がスタイラス支持部11Dにより支持されるように加工する。ここで、板材の厚さは、0.05〜0.3mm程度であることが好ましい。
【0035】
ステップS1の後、スタイラス12の先端部12B(図3)の先鋭化を実施する(ステップS2)。例えば、このスタイラス12の先端部12Bの先鋭化を実施する一例として、特開2000−35395号にプローブの先鋭化方法が開示されている。図4は、本発明に係る加振型接触センサ1をこの先鋭化方法に適用した具体例を示す図である。
【0036】
図4において、100は、先鋭化装置であり、この先鋭化装置100は、ステンレス等の金属に対するエッチング液111および非エッチング液112を含む容器110と、装置全体を支持する支持具120と、容器110の液面に対して垂直方向に移動可能である粗動機構130と、この粗動機構130に固定され、容器110の液面に対して垂直方向に微動する微動機構140と、この微動機構140に固定され、センサ本体10を固定する固定具150とを備えて構成されている。
ここで、非エッチング液112は、エッチング液111よりも比重が小さく、エッチング液111とは混合しない。このため、エッチング液111および非エッチング液112の少なくとも2液層となる。
【0037】
この先鋭化装置100を用いて、スタイラス12の先端部12Bの先鋭化をする際、センサ本体10をスタイラス12が下方に位置し、スタイラス12の先端部12Bが液面に対して垂直になるように固定具150に固定する。そして、粗動機構130を移動することで、スタイラス12の先端部12Bを容器110内に浸漬する。ここで、エッチング液111に浸漬したスタイラス12の先端部12Bは、エッチングが進行する。そして、このエッチングの進行に伴って、エッチング液111と非エッチング液112の界面におけるメニスカスが移動することで、先端部12Bがスタイラス12の軸方向に先鋭化される。また、微動機構140によって、センサ本体10をエッチング中に微動することで、先端部12Bのテーパ形状を任意に形成することができる。
【0038】
ステップS2において、スタイラス12の先端部12Bを先鋭化した後、この先端部12Bにダイヤモンド薄膜を被覆する(ステップS3)。例えば、ダイヤモンド薄膜の被覆を実施する一例として、特開平3−65594号に有機溶液からダイヤモンド薄膜を合成する方法が開示されている。
【0039】
すなわち、有機溶剤として、エタノール、アセトン、ベンゼン、トリクロロエチレン、または、酢酸メチール等を用いる。そして、この有機溶剤内にスタイラス12の先端部12Bを浸漬する。ここで、有機溶剤をその沸点近くまで加熱し、スタイラス12に負の高電圧を加えるとともに、スタイラス12に単位体積当たりmA/cm2程度の電流を流して、ダイヤモンド薄膜を先端部12Bに形成する。
以上のステップS2およびS3において、スタイラス12の先端部12Bにおける先鋭化およびダイヤモンド薄膜の被覆を実施することにより、接触部13が形成されることになる。
【0040】
ステップS3の後、スタイラス12の略中央部分に圧電材料膜20を形成する(ステップS4)。ここでは、圧電材料膜20の形成方法の一例として、ゾルゲル法を説明する。
【0041】
図5は、圧電材料膜20の形成方法を説明する図である。
先ず、図5(A)に示すように、特定の形状のパターンが施された撥水性のマスク200をセンサ本体10の上面に載置する。この際、マスク200のパターンが、センサ本体10におけるスタイラス12の略中央部分に位置するように載置する。そして、このマスク200の上方から、圧電材料のゲル膜20Aを載置する。
【0042】
この後、図5(B)に示すように、ゲル膜20Aを室温で乾燥させて圧電材料膜20とする。そして、図5(C)に示すように、マスク200をセンサ本体10から除去すると、マスク200のパターンと同一形状の圧電材料膜20がスタイラス12の略中央部分に形成される。
【0043】
ステップS4の後、センサ本体10上に電極膜30を形成する(ステップS5)。具体的に、抵抗加熱真空蒸着法、電子ビーム真空蒸着法、スパッタリング法等の成膜法により、ステップS4において、スタイラス12の略中心部分に形成された圧電材料膜20上に、金蒸着を実施して加振用電極31および検出用電極32を形成する。
【0044】
また、スタイラスホルダ11の固定部11A、腕部11B、および、結合部11Cの所定位置に酸化処理等の絶縁処理を施した後、加振用電極31および検出用電極32と同様な手法により、スタイラスホルダ11の固定部11A、腕部11B、および、結合部11Cにわたって、中継用電極34を形成する。この中継用電極34としては、外部の加振回路と加振用電極31、外部の検出回路と検出回路を中継するために、加振用電極31および検出用電極32に対応して、加振用中継配線34Aおよび検出用中継配線34Bをそれぞれ形成する。
【0045】
さらに、スタイラスホルダ11の固定部11Aに、上記と同様な手法により、アース電極33を形成する。
但し、この場合は、絶縁処理を施さず、アース電極33が固定部11Aと導通するように形成する。
以上の加振用電極31、検出用電極32、中継用電極34、および、アース電極33は、同一手法を用いて形成することができるため、順序をおって形成することなく、一度の処理で形成することができる。
【0046】
最後に、ステップS5において形成された加振用電極31と加振用中継配線34A、検出用電極32と検出用中継配線34Bをそれぞれ金線35で接続する、いわゆるワイヤボンディングを実施する(ステップS6)。
以上のような工程により、加振型接触センサ1が製造される。
【0047】
上述のような本実施形態によれば、次のような効果がある。
(1)加振型接触センサ1のセンサ本体10は、1枚のステンレス等の金属からなる板状体で構成され、このセンサ本体10は、スタイラスホルダ11、スタイラス12、および、接触部13を備えていることにより、加振型接触センサ1の構造が簡素化し、製造する際に、これら各部材を組み立てる煩雑な作業を省略し、安価に精度良く製造することができる。
【0048】
(2)加振型接触センサ1では、圧電素子として圧電材料膜20が形成されていることにより、加振型接触センサ1の小型化を促進する。また、この圧電材料膜20の形成方法では、多数の加振型接触センサ1に一括大量に形成することができるので、加振型接触センサ1をさらに安価に品質ばらつき少なく製造することができる。
【0049】
(3)スタイラスホルダ11およびスタイラス12が一体に構成し、振動の節において、スタイラス12がスタイラスホルダ11のスタイラス支持部11Dに支持される構造となっていることにより、外乱振動に対する安定性が向上して共振特性および検出感度を向上させることができる。
【0050】
(4)接触部13の先端部分がスタイラス12の軸方向に先鋭化されているので、スタイラス12と別体として針状の部材を設ける必要がなく、不要な部材を省略することで、煩雑な組立て作業を省略し、さらに、加振型接触センサ1を安価に精度良く製造することができる。
【0051】
(5)接触部13は、先端がダイヤモンド薄膜で被覆されていることにより、接触部13の先鋭化された先端部の強度を補強することができる。したがって、例えば、AFM等による表面形状の測定に用いる場合でも、接触部13と被測定物との間での磨耗や欠損を回避することができる。このことにより、スタイラス12の劣化を防止し、加振型接触センサ1の長寿命化を図ることができる。
【0052】
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、本実施形態における加振型接触センサ1の製造方法において、スタイラス12の先端部分の先鋭化は、エッチングによる形成方法を説明したが、これに限らない。すなわち、機械加工、放電加工、または、その他の加工方法によりスタイラス12の先端部分の先鋭化を実現してもよい。
【0053】
また、スタイラス12の先端部分におけるダイヤモンド薄膜の形成を、有機溶剤を用いた液相により形成する方法を説明したが、これに限らない。例えば、特開平5−330986号に開示されるマイクロ波によって生成されるプラズマを利用したスパッタリング法を採用できる。また、ダイヤモンド薄膜の製造方法として一般的に実施される熱フィラメントを用いた化学気相成長(CVD)法、プラズマCVD法、あるいは、マイクロ波プラズマを利用したCVD法等も採用できる。
【0054】
また、ゾルゲル法による圧電材料膜20の形成方法を説明したが、これに限らない。例えば、スクリーン印刷法、または、水熱合成法を採用できる。また、0.1μm程度のセラミック微粒子をエアロゾル化して、ノズルから高速のジェットとして吹き付けて成膜するガスデポジション法も採用できる。
【0055】
前記実施形態では、加振用電極31および検出用電極32と中継用電極34とをワイヤボンディングで接続する構成を説明したが、これに限らない。例えば、この電極膜30をスタイラス支持部11D上にも形成するように構成することで、ワイヤボンディングは不要となる。しかしながら、この場合、電極膜30の形成を実施しやすくするためにスタイラス支持部11Dの幅を広くすると、スタイラス12の共振振動を拘束するおそれがある。
【0056】
前記実施形態では、センサ本体10は、ステンレス等の金属からなる板状体とする構成を説明したが、これに限らない。例えば、シリコン材料を基板としてもよい。この場合、純粋のシリコンは導電性が悪いので、表面導電性を向上する処理を施せばよい。
【0057】
前記実施形態では、スタイラス12の中央部分をスタイラスホルダ11の結合部11Cから延びる4つのスタイラス支持部11Dで支持する構成を説明したが、これに限らない。例えば、図6に示すように、スタイラスホルダ11の結合部11Cから延びるにしたがって、幅が細くなる2つのスタイラス支持部11Dで支持するように構成してもよい。
【0058】
また、センサ本体10を軸対称に構成せずに、図7に示すように、固定部11Aの一方の端部からのみ腕部11Bを延ばした片持ち梁構造としてもよい。
具体的に、図7(A)では、この腕部11Bの先端側に位置する結合部11Cから腕部11Bと略直交する平行な一対のスタイラス支持部11Dによりスタイラス12を支持している。
【0059】
また、図7(B)は、図7(A)を変形したものであり、結合部11Cから腕部11Bに略直交して延びるにしたがって、幅が細くなるスタイラス支持部11Dによりスタイラス12を支持している。
さらに、図7(C)は、図7(B)を変形したものであり、スタイラスホルダ11によるスタイラス12の支持を安定にするために、スタイラス12の略中央部分の幅を広く形成し、この略中央部分とスタイラスホルダ11とを接続している。
【0060】
前記実施形態では、接触部13は、先鋭化され、一様に断面積が小さくなる形状を説明したが、これに限らない。用いられる測定機の測定対象に応じて、この接触部13のテーパ形状を任意に形成してもよい。このようにすることで、接触部13と被測定物とが接触した際のスタイラス12の振動の変化がより顕著となり、接触部13と被測定物との接触をより高感度に検出できる。
さらに、接触部13を先鋭化せず、例えば、図10に示されるような、先端部が球状13A,13B、その他の形状13C、あるいは、スタイラス12に対して片側突起13Dを備える形状であっても良い。
【0061】
【発明の効果】
本発明によれば、加振型接触センサの構造を簡素化して煩雑な組立て作業を省略し、低廉化を図ることができる
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る加振型接触センサの概要構成図である。
【図2】本発明に係る加振型接触センサの製造方法を説明するフローチャートである。
【図3】本発明に係る加振型接触センサの製造方法を説明する図である。
【図4】本発明に係る加振型接触センサの製造方法を説明する図である。
【図5】本発明に係る加振型接触センサの製造方法を説明する図である。
【図6】本発明の変形例を示す拡大斜視図である。
【図7】本発明の変形例を示す拡大斜視図である。
【図8】従来例を示す図である。
【図9】従来例を示す図である。
【図10】従来の接触部形状を示す図である。
【符号の説明】
1 加振型接触センサ
11 スタイラスホルダ
12 スタイラス
13 接触部
31 加振用電極(加振手段)
32 検出用電極(検出手段)
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a vibration-type contact sensor used for measuring a fine surface shape of an object to be measured by, for example, a coordinate measuring machine.
[0002]
[Background Art]
Conventionally, as a measuring machine that measures the shape and dimensions of the measured object in research, development and inspection at the production site in precision machining or semiconductor manufacturing field, it has been used as a three-dimensional measuring device, surface shape measuring device, small hole measuring device Machines and the like are known. In this case, in order to perform coordinate detection and position detection of the minute shape on the object to be measured, a vibratory contact sensor that detects contact with the object to be measured is used in these measuring machines.
[0003]
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-39737 discloses a vibration-type contact sensor used for a small hole measuring machine. FIG. 8 is a diagram showing a schematic configuration of the vibration-type contact sensor. In FIG. 8, reference numeral 1 denotes a vibration-type contact sensor, and the vibration-type contact sensor 1 includes a stylus holder 11, a stylus 12, and a piezoelectric element 40.
[0004]
The stylus holder 11 has a fixing portion 11A for attaching to a moving shaft of a coordinate measuring machine (not shown), a pair of arms 11B extending in parallel from the fixing portion 11A, and a pair of arms 11B substantially orthogonal to the arms 11B. And a coupling portion 11C for coupling the distal end side of the arm portion 11B. A long hole 11E is formed in the coupling portion 11C along the longitudinal direction, and thereby a pair of thin rod-shaped parallel piezoelectric element supporting portions 14 are formed near the outer periphery of the long hole 11E. The piezoelectric element supporting portions 14 are formed by cutting out grooves 14A along the axial direction of the stylus 12.
[0005]
The stylus 12 is formed in a substantially columnar shape, and has a contact portion 13 provided at the tip end thereof for contacting the object to be measured. As the contact portion 13, a glass ball is fixed to the tip of the stylus 12 by means such as bonding.
The piezoelectric element 40 is formed in a bulk shape, vibrates the stylus 12 in a resonance state in the axial direction, and detects a change in the resonance state of the stylus 12 caused when the contact portion 13 contacts the device under test. For this reason, the excitation electrode 31 and the detection electrode 32 are formed separately on one end surface.
[0006]
When manufacturing the vibration-type contact sensor 1 as described above, a glass ball as the contact portion 13 is bonded and fixed to the tip of the stylus 12. Then, the stylus 12 is bonded and fixed along the groove 14A formed in the piezoelectric element support portion 14 of the stylus holder 11, and the piezoelectric element 40 is bonded to the piezoelectric element support portion 14 while straddling the groove 14A. Fix it.
For this reason, the vibration-type contact sensor 1 is robust against disturbance vibration, detects a change in the resonance state of the stylus 12 due to a weak contact, and enables highly sensitive detection.
[0007]
Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-65716 discloses a vibration-type contact sensor used in a fine shape measuring instrument. FIG. 9 is a diagram showing a schematic configuration of the vibration-type contact sensor. As shown in FIG. 9, in the vibration-type contact sensor 1, the stylus holder 11 and the stylus 12 are integrally formed from a single plate-like body made of titanium. Further, a diamond tip as a contact portion 13 that comes into contact with an object to be measured is bonded and fixed to a tip portion of the stylus 12.
[0008]
Then, a piezoelectric material film 20 as a piezoelectric element is formed on a part of the front and back surfaces of the stylus 12 by a hydrothermal synthesis method, and a vibration electrode 31 and a detection electrode (not shown) are formed on the piezoelectric material film 20. Is provided. Therefore, as compared with the vibration-type contact sensor 1 described with reference to FIG. 8, the piezoelectric material film 20 can be collectively formed by the hydrothermal synthesis method without using the bulk-shaped piezoelectric element 40, so that the manufacturing can be performed at low cost. It is possible to do.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the vibration-type contact sensor shown in FIG. 8, the stylus holder, the stylus, and the contact portion are formed separately, and a plurality of adhesive parts are required to integrate these members. For this reason, when manufacturing a vibration-type contact sensor, there is a problem that assembling becomes difficult and cost reduction cannot be achieved.
[0010]
In the vibration-type contact sensor shown in FIG. 9, the stylus holder and the stylus are integrally formed, and the PZT film, which is a piezoelectric element, is collectively applied to a plurality of vibration-type contact sensors by hydrothermal synthesis. Since it can be made, it can be manufactured at a low cost in this respect. However, since the diamond tip as the contact portion is manually fixed to the tip of the stylus by adhesive, there is a problem that a complicated operation occurs and it is difficult to reduce the cost.
[0011]
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a vibration-type contact sensor capable of simplifying the structure, eliminating complicated assembling work, and reducing the cost.
[0012]
[Means for Solving the Problems]
According to the first aspect of the present invention, there is provided a stylus holder, a substantially columnar stylus which is supported by the stylus holder at a substantially central portion and has a substantially symmetrical structure in the axial direction, and an object to be measured provided at a tip end of the stylus. A contact portion to be contacted, vibrating means for causing the stylus to vibrate in a resonance state in the axial direction with the vicinity of the support point as a node of vibration, and a resonance state of the stylus generated at the time of contact between the contact portion and the object to be measured. In a vibratory contact center provided with a detecting means for detecting the contact from a change, the stylus holder, the stylus, and the contact portion are integrally formed.
[0013]
According to the present invention, since the stylus holder, the stylus, and the contact portion are integrally formed, the work of assembling the stylus holder, the stylus, and the contact portion becomes unnecessary. Therefore, the structure of the vibration-type contact sensor is simplified, and a complicated assembling operation can be omitted when manufacturing the sensor, and the sensor can be manufactured at low cost.
Further, since the stylus holder and the stylus are integrally formed and the stylus is supported by the stylus holder at the node of vibration, stability against disturbance vibration is improved, and resonance characteristics and detection sensitivity are improved.
[0014]
According to a second aspect of the present invention, in the vibration-type contact sensor according to the first aspect, the tip of the contact portion is sharpened in the axial direction of the stylus.
In such a configuration, since the tip of the contact portion is sharpened in the axial direction of the stylus, there is no need to provide a needle-shaped member as a separate member from the stylus. Cost can be reduced. In addition, high-resolution measurement can be realized corresponding to various measuring instruments.
[0015]
According to a third aspect of the present invention, in the vibration-type contact sensor according to the first aspect, the tip of the contact portion is coated with a diamond thin film.
In such a configuration, since the tip of the contact portion is covered with the diamond thin film, the tip of the contact portion has high hardness. For example, when the contact portion is used for measuring a surface shape by AFM (Atomic Force Microscopy) or the like. In addition, wear between the contact portion and the object to be measured can be avoided. Therefore, the stylus is prevented from deteriorating, and the life of the vibrating contact sensor is prolonged. When the contact portion is sharpened, it is particularly effective for reinforcing the strength of the contact portion.
[0016]
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a stylus holder, a substantially columnar stylus which is supported by the stylus holder at a substantially central portion and has a substantially symmetrical structure in an axial direction, and an object to be measured provided at a tip end of the stylus. A contact portion to be contacted, vibrating means for causing the stylus to vibrate in a resonance state in an axial direction with the vicinity of the support point as a node of vibration, and a resonance state of the stylus generated upon contact between the contact portion and the object to be measured. In a method for manufacturing a vibration-type contact sensor including a detection unit for detecting the contact from a change, the stylus holder, the stylus, and the contact portion are integrally formed from one metal member, The tip of the contact portion is sharpened, and a piezoelectric material film and an electrode film are laminated on the surface of the stylus to form the vibration means and the detection means. It is intended to.
According to the present invention, since a complicated assembling operation by hand is omitted, mass production of the vibration-type contact sensor becomes possible, and the cost can be reduced.
Particularly, since a minute contact portion can be integrated and there is no need for manual intervention, a sensor having a high accuracy in the shape of the contact portion can be easily manufactured.
[0017]
According to a fifth aspect of the present invention, in the method of manufacturing a vibration-type contact sensor according to the fourth aspect, the sharpening is performed by etching.
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the sharpening process of the front-end | tip part of a contact part can be easily implemented with the apparatus which has a simple structure. In addition, since sharpening can be performed on a plurality of members at once in a large amount, a high-quality sensor with small variation in the shape of the contact portion can be manufactured, and the cost can be reduced.
[0018]
According to a sixth aspect of the present invention, in the manufacturing method of the vibration-type contact sensor according to the fourth or fifth aspect, a tip of the contact portion is coated with a diamond thin film.
According to the present invention, the distal end of the contact portion is covered with the diamond thin film, so that the same operation and effect as in claim 3 can be obtained.
[0019]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a vibration-type contact sensor according to the present invention.
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a vibration-type contact sensor, and the vibration-type contact sensor 1 includes a sensor main body 10, a piezoelectric material film 20, and an electrode film 30.
[0020]
The sensor main body 10 is formed of a single plate-shaped body made of metal such as stainless steel. The sensor main body 10 includes a stylus holder 11, a stylus 12, and a contact portion 13.
The stylus holder 11 includes a fixing portion 11A for attaching to a moving shaft of a not-shown fine shape measuring device, a pair of arms 11B extending in parallel from the fixing portion 11A, and a pair of arms 11B substantially orthogonal to the arms 11B. And a coupling portion 11C for coupling the distal end side of the arm portion 11B. A pair of stylus support portions 11D extending substantially parallel to and substantially perpendicular to the arm portions 11B is formed on the coupling portion 11C. The stylus 12 is supported by the pair of stylus supports 11D.
[0021]
The stylus 12 is formed in a substantially quadrangular prism shape in cross section, and is supported by a stylus support 11D at a substantially central portion. The stylus 12 resonates and vibrates in the axial direction at a resonance frequency when a voltage having an appropriate frequency is applied from the electrode film 30. This resonance vibration is a vibration of a mode in which a substantially central portion in the axial direction of the stylus 12 is a node and both ends are antinodes. That is, the node of the resonance vibration is located near the support point of the stylus support portion 11D. The base end 12A of the stylus 12 is provided with a counter balance (not shown) as necessary. This counter balance functions so that the node of vibration does not deviate from the substantially central portion. If the length of the stylus 12 is adjusted in advance by simulation or the like, it is necessary to provide a counter balance at the base end portion 12A. There is no.
[0022]
The contact portion 13 is a portion formed on the distal end portion 12B of the stylus 12 and is in contact with the object to be measured. The contact portion 13 is sharpened in the axial direction of the stylus 12, and is further coated with a diamond thin film. With such a configuration, for example, when used in a fine shape measuring device such as an AFM, high resolution measurement is realized, the hardness of the contact portion 13 is increased, and the deterioration of the vibration-type contact sensor 1 due to abrasion or loss is caused. Can be prevented.
[0023]
In the configuration of the sensor main body 10 as described above, the stylus holder 11 and the stylus 12 have a substantially axially symmetric structure with respect to the plane direction of the plate-like body about the axis of the resonance vibration. Therefore, stability against disturbance vibration is improved.
[0024]
As the piezoelectric material film 20, for example, a zinc oxide film, a PZT film, or the like can be adopted. The piezoelectric material film 20 is formed substantially at the center of the stylus 12 and is distorted according to the voltage applied from the electrode film 30.
[0025]
The electrode film 30 transmits and receives an electric signal (voltage) with a vibration circuit or a detection circuit (not shown). Specifically, the electrode film 30 is formed by gold deposition or the like, and the vibration electrode 31 and the detection electrode 32 formed on the upper surface of the piezoelectric material film 20 and the vibration contact sensor 1 are formed. A ground electrode 33 for setting a ground potential, a vibration circuit and a detection circuit (not shown), and a relay electrode 34 for electrically connecting and relaying each of the vibration electrode 31 and the detection electrode 32 are provided. I have.
[0026]
The excitation electrode 31 applies a voltage of a predetermined frequency, which is output by an external excitation circuit and is relayed by the relay electrode 34, to the stylus 12 to apply an electric field to the piezoelectric material film 20. Distort. Further, the detection electrode 32 detects a change in voltage generated in the piezoelectric material film 20 between the detection electrode 32 and the stylus 12 and outputs a detection signal to an external detection circuit via the relay electrode 34.
[0027]
The ground electrode 33 is formed on the fixing portion 11 </ b> A of the stylus holder 11, and is electrically connected to the back surface of the piezoelectric material film 20 through the sensor main body 10. The ground electrode 33 is connected to an external ground potential when the fixed portion 11A of the stylus holder 11 is attached to a moving shaft of a not-shown fine shape measuring instrument or the like, and connects the potential of the sensor body 10 to the external ground. The potential is the same as the potential. For this reason, the shielding effect of the vibration electrode 31, the detection electrode 32, and the relay electrode 34 is enhanced, the influence of external electromagnetic radiation on these electrodes is avoided, and an external vibration circuit and a detection circuit are provided. The transmission and reception of the electric signal (voltage) can be performed stably. The ground electrode 33 and an external ground potential may be connected by a lead wire or the like.
[0028]
The relay electrode 34 is formed on the upper surface of the stylus holder 11 and relays a vibration relay wiring 34A that relays between the vibration circuit and the vibration electrode 31 and a detection relay that relays the detection circuit and the detection electrode 32. And a wiring 34B. For this reason, a part of the stylus holder 11 is insulated so that the vibration relay wiring 34A and the detection relay wiring 34B are not electrically connected.
[0029]
The relay electrode 34 is configured to be electrically connected to an external vibration circuit and a detection circuit when the fixed portion 11A of the stylus holder 11 is attached to a moving shaft of a not-shown fine shape measuring device or the like. ing. Then, an electric signal (voltage) is transmitted / received to / from the external vibration circuit and the detection circuit, and the signal is relayed so as to extend to the coupling portion 11C along one arm portion 11B of the stylus holder 11.
[0030]
The relay electrode 34 may be connected to an external vibration circuit and a detection circuit by a lead wire or the like. The relay electrode 34 is not limited to the configuration as shown in FIG. For example, the vibration relay wiring 34A and the detection relay wiring 34B may be separately wired along the respective arm portions 11B of the stylus holder 11, or may be constituted by other wirings.
[0031]
Further, the above-described excitation electrode 31 and detection electrode 32 and the relay electrode 34 are electrically connected to each other by gold wires.
The vibration means according to the present invention corresponds to the above-described vibration electrode 31 and the piezoelectric material film 20, and the detection means according to the present invention corresponds to the above-described detection electrode 32 and the piezoelectric material film 20. I do.
[0032]
In the above configuration, when a voltage of a predetermined frequency is output from an external vibration circuit, the voltage of the predetermined frequency is applied from the vibration electrode 31 to the stylus 12 via the relay electrode 34. Is done. Then, the stylus 12 resonates and vibrates at the resonance frequency in the axial direction. The vibration of the stylus 12 propagates directly to the piezoelectric material film 20, and the piezoelectric material film 20 also vibrates at the same frequency as the stylus 12. This vibration state is detected by the detection electrode 32, and a change in the vibration state can be detected by outputting a detection signal to an external detection circuit via the relay electrode 34.
[0033]
Next, a method of manufacturing the vibration-type contact sensor 1 according to the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 2 is a flowchart illustrating a method of manufacturing the vibration-type contact sensor 1 according to the present invention.
[0034]
First, as shown in FIG. 3, a shape processing of the sensor main body 10 is performed from one metal plate material such as stainless steel (Step S1). Such shape processing can be performed by etching or electric discharge machining such as wire cutting. At this time, the stylus 12 is processed so as to have a substantially symmetrical structure in the axial direction, and a substantially central portion thereof is supported by the stylus support portion 11D. Here, the thickness of the plate material is preferably about 0.05 to 0.3 mm.
[0035]
After step S1, the tip 12B of the stylus 12 (FIG. 3) is sharpened (step S2). For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-35395 discloses a method of sharpening a probe as an example of sharpening the tip portion 12B of the stylus 12. FIG. 4 is a diagram showing a specific example in which the vibration-type contact sensor 1 according to the present invention is applied to this sharpening method.
[0036]
In FIG. 4, reference numeral 100 denotes a sharpening device. The sharpening device 100 includes a container 110 containing an etchant 111 and a non-etchant 112 for a metal such as stainless steel, a support 120 for supporting the entire device, and a container. A coarse movement mechanism 130 movable in a direction perpendicular to the liquid surface of the container 110; a fine movement mechanism 140 fixed to the coarse movement mechanism 130 and finely moving in a direction perpendicular to the liquid surface of the container 110; 140 and a fixture 150 for fixing the sensor body 10.
Here, the non-etching liquid 112 has a lower specific gravity than the etching liquid 111 and does not mix with the etching liquid 111. Therefore, at least two liquid layers of the etching liquid 111 and the non-etching liquid 112 are formed.
[0037]
When sharpening the tip 12B of the stylus 12 using the sharpening device 100, the stylus 12 is positioned below the sensor body 10 so that the tip 12B of the stylus 12 is perpendicular to the liquid surface. To the fixture 150. Then, the distal end portion 12B of the stylus 12 is immersed in the container 110 by moving the coarse movement mechanism 130. Here, the tip portion 12B of the stylus 12 immersed in the etching liquid 111 is etched. Then, as the etching progresses, the meniscus at the interface between the etching liquid 111 and the non-etching liquid 112 moves, so that the tip 12B is sharpened in the axial direction of the stylus 12. Further, by finely moving the sensor body 10 during the etching by the fine movement mechanism 140, the tapered shape of the distal end portion 12B can be arbitrarily formed.
[0038]
In step S2, after the tip 12B of the stylus 12 is sharpened, the tip 12B is coated with a diamond thin film (step S3). For example, as an example of coating a diamond thin film, Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-65594 discloses a method of synthesizing a diamond thin film from an organic solution.
[0039]
That is, ethanol, acetone, benzene, trichloroethylene, methyl acetate, or the like is used as the organic solvent. Then, the tip 12B of the stylus 12 is immersed in the organic solvent. Here, the organic solvent is heated to near its boiling point, a negative high voltage is applied to the stylus 12, and a current of about mA / cm 2 per unit volume is applied to the stylus 12 to form a diamond thin film on the tip 12B.
In steps S2 and S3 described above, the contact portion 13 is formed by sharpening the tip portion 12B of the stylus 12 and coating the diamond thin film.
[0040]
After step S3, a piezoelectric material film 20 is formed at a substantially central portion of the stylus 12 (step S4). Here, a sol-gel method will be described as an example of a method for forming the piezoelectric material film 20.
[0041]
FIG. 5 is a diagram illustrating a method of forming the piezoelectric material film 20.
First, as shown in FIG. 5A, a water-repellent mask 200 on which a pattern having a specific shape is applied is placed on the upper surface of the sensor main body 10. At this time, the mask 200 is placed such that the pattern of the mask 200 is located substantially at the center of the stylus 12 in the sensor body 10. Then, a gel film 20A made of a piezoelectric material is placed from above the mask 200.
[0042]
Thereafter, as shown in FIG. 5B, the gel film 20A is dried at room temperature to form the piezoelectric material film 20. Then, as shown in FIG. 5C, when the mask 200 is removed from the sensor main body 10, a piezoelectric material film 20 having the same shape as the pattern of the mask 200 is formed at a substantially central portion of the stylus 12.
[0043]
After step S4, the electrode film 30 is formed on the sensor main body 10 (step S5). Specifically, in step S4, gold deposition is performed on the piezoelectric material film 20 formed substantially at the center of the stylus 12 by a film forming method such as a resistance heating vacuum deposition method, an electron beam vacuum deposition method, or a sputtering method. Thus, the excitation electrode 31 and the detection electrode 32 are formed.
[0044]
In addition, after performing insulation treatment such as oxidation treatment at predetermined positions of the fixing part 11A, the arm part 11B, and the coupling part 11C of the stylus holder 11, by the same method as the excitation electrode 31 and the detection electrode 32, The relay electrode 34 is formed over the fixing portion 11A, the arm portion 11B, and the connecting portion 11C of the stylus holder 11. The relay electrodes 34 correspond to the vibration electrodes 31 and the detection electrodes 32 in order to relay the external vibration circuit and the vibration electrodes 31 and the external detection circuit and the detection circuit. The relay wiring 34A for detection and the relay wiring 34B for detection are respectively formed.
[0045]
Further, the ground electrode 33 is formed on the fixing portion 11A of the stylus holder 11 by the same method as described above.
However, in this case, the ground electrode 33 is formed so as to be electrically connected to the fixing portion 11A without performing the insulation treatment.
Since the above-described excitation electrode 31, detection electrode 32, relay electrode 34, and ground electrode 33 can be formed by the same method, they can be formed in a single process without being formed in order. Can be formed.
[0046]
Finally, so-called wire bonding is performed in which the excitation electrode 31 and the excitation relay wiring 34A, and the detection electrode 32 and the detection relay wiring 34B formed in step S5 are connected by gold wires 35 (step S6). ).
Through the steps described above, the vibration-type contact sensor 1 is manufactured.
[0047]
According to the above-described embodiment, the following effects can be obtained.
(1) The sensor body 10 of the vibration-type contact sensor 1 is formed of a single plate-shaped body made of metal such as stainless steel. The sensor body 10 includes a stylus holder 11, a stylus 12, and a contact portion 13. By providing the sensor, the structure of the vibration-type contact sensor 1 is simplified, and when manufacturing, the complicated operation of assembling these members can be omitted, and the sensor can be manufactured accurately at low cost.
[0048]
(2) In the vibration-type contact sensor 1, the piezoelectric material film 20 is formed as a piezoelectric element, thereby promoting the miniaturization of the vibration-type contact sensor 1. In addition, according to the method of forming the piezoelectric material film 20, a large number of vibration-type contact sensors 1 can be collectively formed on a large number of vibration-type contact sensors 1, so that the vibration-type contact sensors 1 can be manufactured more inexpensively and with less variation in quality.
[0049]
(3) Since the stylus holder 11 and the stylus 12 are integrally formed and the stylus 12 is supported by the stylus support portion 11D of the stylus holder 11 at a node of vibration, stability against disturbance vibration is improved. As a result, the resonance characteristics and the detection sensitivity can be improved.
[0050]
(4) Since the tip portion of the contact portion 13 is sharpened in the axial direction of the stylus 12, there is no need to provide a needle-shaped member as a separate member from the stylus 12, and the unnecessary member is omitted, which is complicated. The assembly operation can be omitted, and the vibration-type contact sensor 1 can be manufactured accurately at low cost.
[0051]
(5) Since the tip of the contact portion 13 is coated with the diamond thin film, the strength of the sharpened tip portion of the contact portion 13 can be reinforced. Therefore, for example, even when the surface shape is measured by AFM or the like, wear and loss between the contact portion 13 and the object to be measured can be avoided. Thereby, the stylus 12 can be prevented from being deteriorated, and the life of the vibration-type contact sensor 1 can be extended.
[0052]
It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, but includes modifications and improvements as long as the object of the present invention can be achieved.
For example, in the method of manufacturing the vibration-type contact sensor 1 according to the present embodiment, the sharpening of the tip of the stylus 12 is described by a method of forming by etching, but is not limited thereto. That is, the tip of the stylus 12 may be sharpened by machining, electric discharge machining, or another machining method.
[0053]
Further, the method of forming the diamond thin film at the tip of the stylus 12 by a liquid phase using an organic solvent has been described, but the method is not limited to this. For example, a sputtering method using plasma generated by a microwave disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-330986 can be adopted. Further, as a method for producing a diamond thin film, a chemical vapor deposition (CVD) method using a hot filament, a plasma CVD method, a CVD method using microwave plasma, or the like, which is generally performed, can also be adopted.
[0054]
Further, the method of forming the piezoelectric material film 20 by the sol-gel method has been described, but the method is not limited to this. For example, a screen printing method or a hydrothermal synthesis method can be adopted. Alternatively, a gas deposition method in which ceramic fine particles of about 0.1 μm are formed into an aerosol and sprayed from a nozzle as a high-speed jet to form a film can be employed.
[0055]
In the above embodiment, the configuration in which the vibration electrode 31 and the detection electrode 32 are connected to the relay electrode 34 by wire bonding has been described, but the present invention is not limited to this. For example, by forming the electrode film 30 on the stylus support portion 11D, wire bonding becomes unnecessary. However, in this case, if the width of the stylus support portion 11D is increased in order to facilitate the formation of the electrode film 30, the resonance vibration of the stylus 12 may be restricted.
[0056]
In the above-described embodiment, the configuration in which the sensor main body 10 is a plate-shaped body made of metal such as stainless steel has been described, but is not limited thereto. For example, a silicon material may be used as the substrate. In this case, since pure silicon has poor conductivity, a treatment for improving surface conductivity may be performed.
[0057]
In the above-described embodiment, the configuration in which the central portion of the stylus 12 is supported by the four stylus support portions 11D extending from the coupling portion 11C of the stylus holder 11 has been described, but the configuration is not limited thereto. For example, as shown in FIG. 6, the stylus holder 11 may be configured to be supported by two stylus supporting portions 11D whose width becomes narrower as extending from the coupling portion 11C.
[0058]
Alternatively, the sensor main body 10 may not be configured to be axially symmetric, and may have a cantilever structure in which the arm portion 11B extends only from one end of the fixing portion 11A as shown in FIG.
Specifically, in FIG. 7 (A), the stylus 12 is supported by a pair of parallel stylus supports 11D that are substantially perpendicular to the arm 11B from the joint 11C located at the distal end side of the arm 11B.
[0059]
FIG. 7 (B) is a modification of FIG. 7 (A). The stylus 12 is supported by the stylus support portion 11D which becomes narrower as it extends from the connecting portion 11C substantially perpendicular to the arm portion 11B. are doing.
FIG. 7C is a modification of FIG. 7B. In order to stably support the stylus 12 by the stylus holder 11, the width of the substantially central portion of the stylus 12 is increased. The substantially central portion and the stylus holder 11 are connected.
[0060]
In the above-described embodiment, the shape of the contact portion 13 is sharpened and the cross-sectional area is uniformly reduced. However, the shape is not limited to this. The tapered shape of the contact portion 13 may be arbitrarily formed according to the measurement target of the measuring instrument used. By doing so, the change in the vibration of the stylus 12 when the contact portion 13 comes into contact with the device under test becomes more remarkable, and the contact between the contact portion 13 and the device under test can be detected with higher sensitivity.
Further, the contact portion 13 is not sharpened, and for example, as shown in FIG. 10, the tip portion has a spherical shape 13A, 13B, another shape 13C, or a shape having a one-sided projection 13D with respect to the stylus 12. Is also good.
[0061]
【The invention's effect】
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the structure of a vibration type contact sensor can be simplified, complicated assembly work can be omitted, and cost reduction can be achieved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a vibration-type contact sensor according to the present invention.
FIG. 2 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a vibration-type contact sensor according to the present invention.
FIG. 3 is a diagram illustrating a method of manufacturing a vibration-type contact sensor according to the present invention.
FIG. 4 is a diagram illustrating a method of manufacturing a vibration-type contact sensor according to the present invention.
FIG. 5 is a diagram illustrating a method of manufacturing the vibration-type contact sensor according to the present invention.
FIG. 6 is an enlarged perspective view showing a modification of the present invention.
FIG. 7 is an enlarged perspective view showing a modification of the present invention.
FIG. 8 is a diagram showing a conventional example.
FIG. 9 is a diagram showing a conventional example.
FIG. 10 is a diagram showing a conventional contact portion shape.
[Explanation of symbols]
1 Excitation type contact sensor
11 Stylus holder
12 stylus
13 Contact part
31 Excitation electrode (excitation means)
32 Detection electrode (detection means)

Claims (6)

スタイラスホルダと、
このスタイラスホルダに略中央部で支持され、軸方向に略対称構造をなす略柱状のスタイラスと、
前記スタイラスの先端部に設けられ被測定物と接触する接触部と、
前記スタイラスを前記支持点近傍を振動の節として、軸方向に共振状態で振動させる加振手段と、
前記接触部および前記被測定物の接触に際して生ずる前記スタイラスの共振状態の変化から当該接触を検出するための検出手段とを備えた加振型接触センサにおいて、
前記スタイラスホルダ、前記スタイラス、および、前記接触部が一体で構成されていることを特徴とする加振型接触センサ。
A stylus holder,
A substantially column-shaped stylus that is supported by the stylus holder at a substantially central portion and has a substantially symmetric structure in the axial direction;
A contact portion provided at the tip of the stylus and in contact with the object to be measured;
Vibration means for vibrating the stylus in the vicinity of the support point as a node of vibration, in a resonance state in the axial direction,
A vibration-type contact sensor comprising: a detecting unit for detecting the contact from a change in a resonance state of the stylus caused when the contact portion and the object to be measured come into contact with each other;
A vibration-type contact sensor, wherein the stylus holder, the stylus, and the contact portion are integrally formed.
請求項1に記載の加振型接触センサにおいて、
前記接触部は、先端が前記スタイラスの軸方向に先鋭化されていることを特徴とする加振型接触センサ。
The vibration-type contact sensor according to claim 1,
A vibrating contact sensor, wherein the contact portion has a tip sharpened in the axial direction of the stylus.
請求項1または請求項2に記載の加振型接触センサにおいて、
前記接触部は、先端がダイヤモンド薄膜で被覆されていることを特徴とする加振型接触センサ。
The vibration-type contact sensor according to claim 1 or 2,
A vibrating contact sensor, wherein the contact portion has a tip coated with a diamond thin film.
スタイラスホルダと、
このスタイラスホルダに略中央部で支持され、軸方向に略対称構造をなす略柱状のスタイラスと、
前記スタイラスの先端部に設けられ被測定物と接触する接触部と、
前記スタイラスを前記支持点近傍を振動の節として、軸方向に共振状態で振動させる加振手段と、
前記接触部および前記被測定物の接触に際して生ずる前記スタイラスの共振状態の変化から当該接触を検出するための検出手段とを備えた加振型接触センサの製造方法において、
1枚の金属部材から、前記スタイラスホルダ、前記スタイラス、および、前記接触部を一体加工し、
前記接触部の先端を先鋭化加工し、
前記スタイラスの表面に圧電材料膜および電極膜を積層して前記加振手段および前記検出手段を形成することを特徴とする加振型接触センサの製造方法。
A stylus holder,
A substantially column-shaped stylus that is supported by the stylus holder at a substantially central portion and has a substantially symmetric structure in the axial direction;
A contact portion provided at the tip of the stylus and in contact with the object to be measured;
Vibration means for vibrating the stylus in the vicinity of the support point as a node of vibration, in a resonance state in the axial direction,
A method of manufacturing a vibration-type contact sensor, comprising: a contact unit and a detection unit for detecting the contact from a change in a resonance state of the stylus generated when the object to be measured contacts the device.
From a single metal member, the stylus holder, the stylus, and the contact portion are integrally processed,
The tip of the contact portion is sharpened,
A method for manufacturing a vibration-type contact sensor, comprising: laminating a piezoelectric material film and an electrode film on the surface of the stylus to form the vibration means and the detection means.
請求項4に記載の加振型接触センサの製造方法において、
前記先鋭化加工は、エッチング処理により実施することを特徴とする加振型接触センサの製造方法。
The method for manufacturing a vibration-type contact sensor according to claim 4,
The method for manufacturing a vibration-type contact sensor, wherein the sharpening process is performed by an etching process.
請求項4または請求項5に記載の加振型接触センサの製造方法において、
前記接触部の先端にダイヤモンド薄膜を被覆することを特徴とする加振型接触センサの製造方法。
The manufacturing method of the vibration-type contact sensor according to claim 4 or 5,
A method for manufacturing a vibration-type contact sensor, wherein a tip of the contact portion is coated with a diamond thin film.
JP2002210788A 2002-07-19 2002-07-19 Exciting type contact sensor, and manufacturing method therefor Pending JP2004053399A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002210788A JP2004053399A (en) 2002-07-19 2002-07-19 Exciting type contact sensor, and manufacturing method therefor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002210788A JP2004053399A (en) 2002-07-19 2002-07-19 Exciting type contact sensor, and manufacturing method therefor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004053399A true JP2004053399A (en) 2004-02-19

Family

ID=31934201

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002210788A Pending JP2004053399A (en) 2002-07-19 2002-07-19 Exciting type contact sensor, and manufacturing method therefor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2004053399A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005090909A1 (en) * 2004-03-19 2005-09-29 Tokyo University Of Agriculture And Technology Tlo Co. Ltd. Film thickness measuring equipment and film thickness measuring method
JP2010107493A (en) * 2008-09-30 2010-05-13 Espec Corp Apparatus and method for measuring dew shape and distribution
JP2014085162A (en) * 2012-10-19 2014-05-12 Mitsutoyo Corp Double cone stylus, touch probe and method for calibrating double cone stylus
KR102105179B1 (en) * 2019-02-19 2020-04-28 한국과학기술원 Apparatus for enhancing sensitivity when sensing vibration and method for sensing vibration using the same

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005090909A1 (en) * 2004-03-19 2005-09-29 Tokyo University Of Agriculture And Technology Tlo Co. Ltd. Film thickness measuring equipment and film thickness measuring method
JP2010107493A (en) * 2008-09-30 2010-05-13 Espec Corp Apparatus and method for measuring dew shape and distribution
JP2014085162A (en) * 2012-10-19 2014-05-12 Mitsutoyo Corp Double cone stylus, touch probe and method for calibrating double cone stylus
KR102105179B1 (en) * 2019-02-19 2020-04-28 한국과학기술원 Apparatus for enhancing sensitivity when sensing vibration and method for sensing vibration using the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20060070442A1 (en) Vibration type gyroscope and method for manufacturing vibration type gyroscope
US8115367B2 (en) Piezoelectric actuator provided with a displacement meter, piezoelectric element, and positioning device
JP4381354B2 (en) Vibrator support structure and physical quantity measuring device
KR20100095560A (en) Microstructure inspecting device, and microstructure inspecting method
JP4222513B2 (en) Mass measuring apparatus and method
JPH09297148A (en) Probe for interatomic force microscope, its manufacture, and interatomic force microscope
JP2007108053A (en) Oscillator and measuring element for oscillation gyroscope
JP2004053399A (en) Exciting type contact sensor, and manufacturing method therefor
JP2010054310A (en) Cantilever, cantilever system, probe microscope and adsorption mass sensor
JP4600677B2 (en) Vibrating gyroscope
JPH1038916A (en) Probe device and electrically connecting method for minute region
JP4849284B2 (en) Measuring element for vibrating gyroscope
JP2008141307A (en) Piezoelectric vibrator, its manufacturing method, and physical quantity sensor
JP4070891B2 (en) Excitation contact sensor
JPH06258072A (en) Piezoelectric element thin film evaluating apparatus, interatomic force microscope
JP4785537B2 (en) Probe, scanning probe microscope, and probe manufacturing method
JP4931708B2 (en) Microscope probe and scanning probe microscope
JP2010249538A (en) Four-needle probe and resistivity measuring device using the same
JPH1183498A (en) Method for adjusting vibration of semiconductor oscillator
JP3986944B2 (en) Excitation sensor
JP2007155492A (en) Temperature measuring probe
JP2003194543A (en) Angular velocity sensor
JP4297251B2 (en) Rotational angular velocity measuring device
JP3800464B2 (en) Electromagnetically driven angular velocity sensor and manufacturing method thereof
JP2002188973A (en) Pressure sensor

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050401

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061226

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070508