JP2003344798A - レーザ走査装置 - Google Patents
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- G06K7/10—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 レーザダイオードの発光立ち上がり遅延に伴
う描画品質の低下を防止したレーザ走査装置を提供す
る。 【解決手段】 レーザダイオードLDに電力を供給して
当該レーザダイオードを発光させ、当該レーザダイオー
ドから出射されるレーザ光を感光体に露光走査して描画
を行うレーザ走査装置において、レーザダイオードLD
の発光初期にのみ当該レーザダイオードに印加する電力
を増加する回路部200を備える。レーザダイオードL
Dに駆動電流を供給開始する所定の時間だけ、本来の駆
動電圧Vapcに補正電圧Vxを加算した駆動電圧Vd
とし、これにより駆動電流Idを増大することで、レー
ザダイオードLDの発光に際しての立ち上がり遅延によ
る総露光量の低下を補償して描画パターンの濃度及びエ
ッジ部の描画品質を改善する。
う描画品質の低下を防止したレーザ走査装置を提供す
る。 【解決手段】 レーザダイオードLDに電力を供給して
当該レーザダイオードを発光させ、当該レーザダイオー
ドから出射されるレーザ光を感光体に露光走査して描画
を行うレーザ走査装置において、レーザダイオードLD
の発光初期にのみ当該レーザダイオードに印加する電力
を増加する回路部200を備える。レーザダイオードL
Dに駆動電流を供給開始する所定の時間だけ、本来の駆
動電圧Vapcに補正電圧Vxを加算した駆動電圧Vd
とし、これにより駆動電流Idを増大することで、レー
ザダイオードLDの発光に際しての立ち上がり遅延によ
る総露光量の低下を補償して描画パターンの濃度及びエ
ッジ部の描画品質を改善する。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はレーザ走査装置に関
し、特にレーザ光による描画の立ち上がり遅延による描
画品質の低下を改善したレーザ走査装置に関するもので
ある。
し、特にレーザ光による描画の立ち上がり遅延による描
画品質の低下を改善したレーザ走査装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】レーザ光を利用して描画を行うレーザ走
査装置は、レーザダイオードから出射されるレーザ光
(レーザビーム)を感光面に投射するとともに、描画す
るパターンに対応してレーザダイオードの発光をオン・
オフ制御しながら走査することで感光面に潜像を形成し
ている。また、個々のレーザダイオードの発光特性の違
いによる描画濃度の標準化を図るために、レーザダイオ
ードに供給する駆動電流を制御してレーザダイオードの
発光出力をフィードバック制御する自動出力制御(AP
C)回路が用いられる。
査装置は、レーザダイオードから出射されるレーザ光
(レーザビーム)を感光面に投射するとともに、描画す
るパターンに対応してレーザダイオードの発光をオン・
オフ制御しながら走査することで感光面に潜像を形成し
ている。また、個々のレーザダイオードの発光特性の違
いによる描画濃度の標準化を図るために、レーザダイオ
ードに供給する駆動電流を制御してレーザダイオードの
発光出力をフィードバック制御する自動出力制御(AP
C)回路が用いられる。
【0003】近年、この種のレーザ走査装置において、
描画スピードの高速化、描画品質の向上が重要項目とな
っている。特に、描画スピードの高速化に伴い、描画パ
ターンに対応してオン・オフされるレーザダイオードの
立ち上がり特性が問題になっている。すなわち、図9
(a),(b)はレーザダイオードに供給される駆動電
流と、当該駆動電流によって発光されるレーザダイオー
ドの発光出力の波形図である。通常のレーザダイオード
では、駆動電流の供給を開始した直後の立ち上がり時に
発光動作の遅れによって発光出力特性の立ち上がりが傾
斜するという、いわゆる立ち上がり遅延txが生じる。
そのため、この立ち上がり遅延によって総露光量(発光
出力を時間軸で積分した全発光量)が低下されることに
なり、描画されるパターンについてみると、感光面に形
成される潜像に付着するトナー量が低減してパターン濃
度不足が生じるとともに、描画開始側のパターン端での
エッジ部が鮮明でなくなることになる。
描画スピードの高速化、描画品質の向上が重要項目とな
っている。特に、描画スピードの高速化に伴い、描画パ
ターンに対応してオン・オフされるレーザダイオードの
立ち上がり特性が問題になっている。すなわち、図9
(a),(b)はレーザダイオードに供給される駆動電
流と、当該駆動電流によって発光されるレーザダイオー
ドの発光出力の波形図である。通常のレーザダイオード
では、駆動電流の供給を開始した直後の立ち上がり時に
発光動作の遅れによって発光出力特性の立ち上がりが傾
斜するという、いわゆる立ち上がり遅延txが生じる。
そのため、この立ち上がり遅延によって総露光量(発光
出力を時間軸で積分した全発光量)が低下されることに
なり、描画されるパターンについてみると、感光面に形
成される潜像に付着するトナー量が低減してパターン濃
度不足が生じるとともに、描画開始側のパターン端での
エッジ部が鮮明でなくなることになる。
【0004】このような、レーザダイオードの発光開始
時の立ち上がり遅延を改善するために、図9(c)に示
すように、レーザダイオードに供給する駆動電流のレベ
ルを同図に斜線領域で示すように増大させる技術が提案
されている。この技術はレーザダイオード立ち上がり遅
延に伴う総露光量の低下に対応して予めレーザダイオー
ドの駆動電流のレベルを増大させて発光出力レベルを増
大させるものである。これによれば、立ち上がり遅延に
伴う総露光量を補償して前述の問題であるパターン濃度
不足は適当な露光時間の走査であれば補正することが可
能になる。
時の立ち上がり遅延を改善するために、図9(c)に示
すように、レーザダイオードに供給する駆動電流のレベ
ルを同図に斜線領域で示すように増大させる技術が提案
されている。この技術はレーザダイオード立ち上がり遅
延に伴う総露光量の低下に対応して予めレーザダイオー
ドの駆動電流のレベルを増大させて発光出力レベルを増
大させるものである。これによれば、立ち上がり遅延に
伴う総露光量を補償して前述の問題であるパターン濃度
不足は適当な露光時間の走査であれば補正することが可
能になる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに単純にレーザダイオードの駆動電流のレベルを増大
する技術では、図9(d1)に示すように、レーザダイ
オードの発光が走査方向の長さ、すなわち露光時間が所
定以上に長くなる場合には、レベルの増大による総露光
量の増大分(同図の斜線領域)が著しいものになり、そ
の増大分が立ち上がり遅延による低下分を上回り、結
局、総露光量が過度になり、描画パターンが濃くなりす
ぎ、またトナー消費が増大する原因となる。逆に、図9
(d2)に示すように、レーザダイオードの露光時間が
短い場合には、レベルの増大によって総露光量を増大し
ても(同図の斜線領域)立ち上がり遅延による低下分を
補償することができない場合がある。すなわち、レーザ
ビームの露光時間が短い描画パターンの場合と長い描画
パターンの場合とで最高濃度が相違してしまい濃度ムラ
が生じる要因になる。そのため、この従来技術において
はレーザダイオードの発光時間に対応してレベルの増大
分を調整することが考えられているが、描画パターンの
露光時間の相違に追従してレベルを適切に調整すること
は、描画の高速化、高品質化が求められている現在のレ
ーザ走査装置に適用することは極めて困難であり、実現
は不可能に近いものとなっている。
うに単純にレーザダイオードの駆動電流のレベルを増大
する技術では、図9(d1)に示すように、レーザダイ
オードの発光が走査方向の長さ、すなわち露光時間が所
定以上に長くなる場合には、レベルの増大による総露光
量の増大分(同図の斜線領域)が著しいものになり、そ
の増大分が立ち上がり遅延による低下分を上回り、結
局、総露光量が過度になり、描画パターンが濃くなりす
ぎ、またトナー消費が増大する原因となる。逆に、図9
(d2)に示すように、レーザダイオードの露光時間が
短い場合には、レベルの増大によって総露光量を増大し
ても(同図の斜線領域)立ち上がり遅延による低下分を
補償することができない場合がある。すなわち、レーザ
ビームの露光時間が短い描画パターンの場合と長い描画
パターンの場合とで最高濃度が相違してしまい濃度ムラ
が生じる要因になる。そのため、この従来技術において
はレーザダイオードの発光時間に対応してレベルの増大
分を調整することが考えられているが、描画パターンの
露光時間の相違に追従してレベルを適切に調整すること
は、描画の高速化、高品質化が求められている現在のレ
ーザ走査装置に適用することは極めて困難であり、実現
は不可能に近いものとなっている。
【0006】本発明の目的は、描画の立ち上がり遅延に
伴う描画品質の低下を防止したレーザ走査装置を提供す
るものである。
伴う描画品質の低下を防止したレーザ走査装置を提供す
るものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のレーザ走査装置
は、レーザダイオードに電力を供給して当該レーザダイ
オードを発光させ、当該レーザダイオードから出射され
るレーザ光を感光体に露光走査して描画を行うレーザ走
査装置において、前記レーザダイオードの発光初期にの
み当該レーザダイオードに供給する電流を増加する制御
手段を備えることを特徴としている。なお、ここで発光
初期とは、レーザダイオードがデータに基づいて発光す
るときのレーザ発光立上がり所定時間のときである。
は、レーザダイオードに電力を供給して当該レーザダイ
オードを発光させ、当該レーザダイオードから出射され
るレーザ光を感光体に露光走査して描画を行うレーザ走
査装置において、前記レーザダイオードの発光初期にの
み当該レーザダイオードに供給する電流を増加する制御
手段を備えることを特徴としている。なお、ここで発光
初期とは、レーザダイオードがデータに基づいて発光す
るときのレーザ発光立上がり所定時間のときである。
【0008】例えば、制御手段は、レーザダイオードを
発光させるための駆動電圧を生成する手段と、駆動電圧
をレーザダイオードの駆動電流に変換する手段と、所定
の補正電圧を生成する手段と、駆動電流をレーザダイオ
ードに供給する初期に駆動電圧に前記補正電圧を加算す
る手段とを備える構成とする。ここで、補正電圧を生成
する手段は、駆動電圧の1/X(Xは正の数)を補正電
圧として生成する減衰手段で構成する。さらに、補正電
圧を加算する手段は、レーザダイオードに駆動電流を供
給する時点から予め設定した所定時間の間、駆動電圧に
補正電圧を加算する構成とする。この場合、駆動電圧は
前記レーザダイオードで発光したレーザ光をモニタして
当該駆動電圧を自動制御する自動出力制御(APC)回
路で制御されるAPC電圧であることが好ましい。
発光させるための駆動電圧を生成する手段と、駆動電圧
をレーザダイオードの駆動電流に変換する手段と、所定
の補正電圧を生成する手段と、駆動電流をレーザダイオ
ードに供給する初期に駆動電圧に前記補正電圧を加算す
る手段とを備える構成とする。ここで、補正電圧を生成
する手段は、駆動電圧の1/X(Xは正の数)を補正電
圧として生成する減衰手段で構成する。さらに、補正電
圧を加算する手段は、レーザダイオードに駆動電流を供
給する時点から予め設定した所定時間の間、駆動電圧に
補正電圧を加算する構成とする。この場合、駆動電圧は
前記レーザダイオードで発光したレーザ光をモニタして
当該駆動電圧を自動制御する自動出力制御(APC)回
路で制御されるAPC電圧であることが好ましい。
【0009】また、本発明においては、制御手段は、レ
ーザダイオードの温度を検出する手段と、検出した温度
に対応して補正電圧を変化制御する可変減衰手段を備え
る構成としてもよい。
ーザダイオードの温度を検出する手段と、検出した温度
に対応して補正電圧を変化制御する可変減衰手段を備え
る構成としてもよい。
【0010】さらには、本発明においては、制御手段
は、レーザダイオードの温度を検出する手段と、検出し
た温度に対応してバイアス電圧を変化制御する手段と、
変化制御されるバイアス電圧を駆動電圧に加算する手段
を備える構成としてもよい。
は、レーザダイオードの温度を検出する手段と、検出し
た温度に対応してバイアス電圧を変化制御する手段と、
変化制御されるバイアス電圧を駆動電圧に加算する手段
を備える構成としてもよい。
【0011】本発明によれば、レーザダイオードの発光
初期、すなわちレーザダイオードに駆動電流を供給開始
する所定の時間だけ、本来の駆動電圧に補正電圧を加算
してレーザダイオードの駆動電流を増大することで、レ
ーザダイオードの発光に際しての立ち上がり遅延による
総露光量の低下を補償して描画パターンの濃度及びエッ
ジ部の描画品質を改善する一方で、露光時間の長短にか
かわらずほぼ均一な濃度での描画を実現し、高速化及び
描画品質にすぐれたレーザ走査装置を得ることが可能に
なる。
初期、すなわちレーザダイオードに駆動電流を供給開始
する所定の時間だけ、本来の駆動電圧に補正電圧を加算
してレーザダイオードの駆動電流を増大することで、レ
ーザダイオードの発光に際しての立ち上がり遅延による
総露光量の低下を補償して描画パターンの濃度及びエッ
ジ部の描画品質を改善する一方で、露光時間の長短にか
かわらずほぼ均一な濃度での描画を実現し、高速化及び
描画品質にすぐれたレーザ走査装置を得ることが可能に
なる。
【0012】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明が適用されるレーザ走
査装置の概略構成を示す斜視図である。レーザ走査装置
は走査ユニット機構部100と回路部200とで構成さ
れている。前記走査ユニット機構部100はレーザダイ
オードLDを備える光源部101と、前記光源部101
から出射されるレーザ光(レーザビーム)のビーム形状
を平行光束とするコリメータレンズ102、光束を整形
するためのシリンダレンズ等からなる整形レンズ103
と、レーザビームを偏向するポリゴンミラー104と、
偏向された各レーザビームを感光面において等速走査さ
せるためのfθレンズ光学系105と、レーザビームが
照射されて描画が行われる感光面を有する感光ドラム1
06が設けられる。前記レーザダイオードLDにはモニ
タ用フォトダイオードMPDが一体的に組み込まれてお
り、前記レーザダイオードLDで発光したレーザビーム
を受光してその受光出力を前記回路部200に出力する
ようになっている。また、前記ポリゴンミラー104で
偏向されるレーザビームを感光ドラム106への走査領
域外で受光して同期信号を得るための同期用フォトダイ
オードTPDが設けられている。
参照して説明する。図1は本発明が適用されるレーザ走
査装置の概略構成を示す斜視図である。レーザ走査装置
は走査ユニット機構部100と回路部200とで構成さ
れている。前記走査ユニット機構部100はレーザダイ
オードLDを備える光源部101と、前記光源部101
から出射されるレーザ光(レーザビーム)のビーム形状
を平行光束とするコリメータレンズ102、光束を整形
するためのシリンダレンズ等からなる整形レンズ103
と、レーザビームを偏向するポリゴンミラー104と、
偏向された各レーザビームを感光面において等速走査さ
せるためのfθレンズ光学系105と、レーザビームが
照射されて描画が行われる感光面を有する感光ドラム1
06が設けられる。前記レーザダイオードLDにはモニ
タ用フォトダイオードMPDが一体的に組み込まれてお
り、前記レーザダイオードLDで発光したレーザビーム
を受光してその受光出力を前記回路部200に出力する
ようになっている。また、前記ポリゴンミラー104で
偏向されるレーザビームを感光ドラム106への走査領
域外で受光して同期信号を得るための同期用フォトダイ
オードTPDが設けられている。
【0013】前記回路部200は、詳細は後述するが、
描画する描画パターンの濃度に対応する描画信号VID
EOがコントローラ部300から入力され、この描画信
号VIDEOに対応して駆動電圧を制御し、この駆動電
圧を駆動電流に変換した上で前記レーザダイオードLD
に供給して発光させる。また、前記同期用フォトダイオ
ードTPDによってコントローラ部300において生成
される同期信号と密接な関係を有するAPCタイミング
信号ADJUSTが入力され、このAPCタイミング信
号ADJUSTによってレーザダイオードLDの特性や
その他の要因によっても描画パターンを所望の濃度で描
画することを可能にするために、前記モニタ用フォトダ
イオードMPDで受光した受光出力に基づいてレーザダ
イオードLDの発光出力を制御する自動出力制御、いわ
ゆるAPC制御を行うようになっている。
描画する描画パターンの濃度に対応する描画信号VID
EOがコントローラ部300から入力され、この描画信
号VIDEOに対応して駆動電圧を制御し、この駆動電
圧を駆動電流に変換した上で前記レーザダイオードLD
に供給して発光させる。また、前記同期用フォトダイオ
ードTPDによってコントローラ部300において生成
される同期信号と密接な関係を有するAPCタイミング
信号ADJUSTが入力され、このAPCタイミング信
号ADJUSTによってレーザダイオードLDの特性や
その他の要因によっても描画パターンを所望の濃度で描
画することを可能にするために、前記モニタ用フォトダ
イオードMPDで受光した受光出力に基づいてレーザダ
イオードLDの発光出力を制御する自動出力制御、いわ
ゆるAPC制御を行うようになっている。
【0014】このようなレーザ走査装置では、光源部1
01のレーザダイオードLDは回路部200に入力され
る描画信号VIDEOの描画パターンの濃度に対応した
光強度で発光してレーザビームLBを出射し、このレー
ザビームLBはコリメータレンズ102及び整形レンズ
103によってビーム形状が整形されて平行光束とさ
れ、高速回転動作されるポリゴンミラー104によって
反射されることで偏向される。偏向されたレーザビーム
はfθレンズ光学系105で等速状態で感光ドラム10
6の感光面に集光され、かつ走査される。なお、偏向さ
れたレーザ光の一部は同期用フォトダイオードTPDで
受光され、コントローラ部300はこの受光信号に基づ
いて同期信号を生成し、かつこの同期信号により前記ポ
リゴンミラー104の回転を制御してレーザビームの走
査の同期を取っているがここではその説明は省略する。
01のレーザダイオードLDは回路部200に入力され
る描画信号VIDEOの描画パターンの濃度に対応した
光強度で発光してレーザビームLBを出射し、このレー
ザビームLBはコリメータレンズ102及び整形レンズ
103によってビーム形状が整形されて平行光束とさ
れ、高速回転動作されるポリゴンミラー104によって
反射されることで偏向される。偏向されたレーザビーム
はfθレンズ光学系105で等速状態で感光ドラム10
6の感光面に集光され、かつ走査される。なお、偏向さ
れたレーザ光の一部は同期用フォトダイオードTPDで
受光され、コントローラ部300はこの受光信号に基づ
いて同期信号を生成し、かつこの同期信号により前記ポ
リゴンミラー104の回転を制御してレーザビームの走
査の同期を取っているがここではその説明は省略する。
【0015】図2は前記回路部200の第1の実施形態
の回路構成を示すブロック回路図である。前記回路部2
00は、レーザダイオードに印加する駆動電圧Vdを駆
動電流Idに変換するためのV/I回路201と、詳細
を後述するように描画の立ち上がり時の駆動電流のレベ
ルを増大させるための立ち上がり制御回路202と、前
記レーザダイオードLDで発光したレーザ光を受光した
モニタ用フォトダイオードMPDの受光電流Irを受光
電圧Vrに変換するI/V回路203と、変換された受
光電圧Vrを基準電圧Vrefと比較し、当該受光電圧
Vrと基準電圧Vrefとの差に基づいて前記レーザダ
イオードLDの発光出力が一定となるようなAPC電圧
Vapcを出力する比較回路204と、制御されたAP
C電圧VapcをAPCタイミング信号ADJUSTに
よりサンプル・ホールドして前記APC電圧Vapcを
駆動電圧として出力するサンプル・ホールド回路205
とを備えている。なお、前記APCタイミング信号AD
JUSTは前述のように前記同期用フォトダイオードT
PDでの受光に基づいて行われる同期制御によって生成
され、レーザビームによる描画を行うタイミング周期と
干渉しないタイミングでAPC制御を行なわせるもので
ある。
の回路構成を示すブロック回路図である。前記回路部2
00は、レーザダイオードに印加する駆動電圧Vdを駆
動電流Idに変換するためのV/I回路201と、詳細
を後述するように描画の立ち上がり時の駆動電流のレベ
ルを増大させるための立ち上がり制御回路202と、前
記レーザダイオードLDで発光したレーザ光を受光した
モニタ用フォトダイオードMPDの受光電流Irを受光
電圧Vrに変換するI/V回路203と、変換された受
光電圧Vrを基準電圧Vrefと比較し、当該受光電圧
Vrと基準電圧Vrefとの差に基づいて前記レーザダ
イオードLDの発光出力が一定となるようなAPC電圧
Vapcを出力する比較回路204と、制御されたAP
C電圧VapcをAPCタイミング信号ADJUSTに
よりサンプル・ホールドして前記APC電圧Vapcを
駆動電圧として出力するサンプル・ホールド回路205
とを備えている。なお、前記APCタイミング信号AD
JUSTは前述のように前記同期用フォトダイオードT
PDでの受光に基づいて行われる同期制御によって生成
され、レーザビームによる描画を行うタイミング周期と
干渉しないタイミングでAPC制御を行なわせるもので
ある。
【0016】前記立ち上がり制御回路202は、コント
ローラ部300から入力される描画信号VIDEOに基
づいて前記V/I回路201の入力をオン・オフする第
1スイッチ回路210と、前記サンプル・ホールド回路
205の出力のAPC電圧Vapcを所要の比率1/X
に減衰してこれを補正電圧Vxとする減衰回路211
と、前記APC電圧Vapcと補正電圧Vxとを加算す
る加算回路212と、前記加算回路212に入力する補
正電圧Vxをオン・オフする第2のスイッチ回路213
と、前記第2のスイッチ回路213を前記描画信号VI
DEOに基づいて所要の時間だけオン動作させるオン時
間設定回路214と、前記描画信号VIDEOに基づい
て前記第1のスイッチ回路210のオン動作時間を遅延
させる遅延回路215とを備えている。この遅延回路2
15は、前記加算回路212において前記APC電圧V
apcと補正電圧Vxとを加算して駆動電圧Vdとして
出力するのに必要とされる時間だけ第1のスイッチ回路
210をオン動作させる時間を遅延させるものである。
ローラ部300から入力される描画信号VIDEOに基
づいて前記V/I回路201の入力をオン・オフする第
1スイッチ回路210と、前記サンプル・ホールド回路
205の出力のAPC電圧Vapcを所要の比率1/X
に減衰してこれを補正電圧Vxとする減衰回路211
と、前記APC電圧Vapcと補正電圧Vxとを加算す
る加算回路212と、前記加算回路212に入力する補
正電圧Vxをオン・オフする第2のスイッチ回路213
と、前記第2のスイッチ回路213を前記描画信号VI
DEOに基づいて所要の時間だけオン動作させるオン時
間設定回路214と、前記描画信号VIDEOに基づい
て前記第1のスイッチ回路210のオン動作時間を遅延
させる遅延回路215とを備えている。この遅延回路2
15は、前記加算回路212において前記APC電圧V
apcと補正電圧Vxとを加算して駆動電圧Vdとして
出力するのに必要とされる時間だけ第1のスイッチ回路
210をオン動作させる時間を遅延させるものである。
【0017】以上の構成の回路部200を備えるレーザ
走査装置の動作について、図3のフローチャート及び図
4の波形図を参照して説明する。レーザダイオードLD
に駆動電流Idが供給されてレーザダイオードLDが発
光されると、図1に示した走査ユニット機構部100に
おいてレーザビームLBによる感光ドラム106への走
査が開始される。また、同時にモニタ用フォトダイオー
ドMPDはレーザダイオードLDから出射されるレーザ
光を受光し、その受光電流IrはI/V回路203によ
って受光電圧Vrに変換される。この受光電圧Vrは比
較回路204において基準電圧Vrefと比較され、比
較回路204からは前記レーザダイオードLDの発光出
力が一定となるようなAPC電圧Vapcが生成されて
出力される。このAPC電圧VapcはAPCタイミン
グ信号ADJUSTに基づいてレーザビームが感光ドラ
ム106の感光面を走査しないタイミング時にサンプル
・ホールド回路205においてサンプルされ、その後、
次のサンプル時までホールドされ、ここから本発明にか
かる立ち上がり制御がスタートされる(ステップS10
1)。このときサンプル・ホールドされたAPC電圧V
apcは図4(a)の通りである。
走査装置の動作について、図3のフローチャート及び図
4の波形図を参照して説明する。レーザダイオードLD
に駆動電流Idが供給されてレーザダイオードLDが発
光されると、図1に示した走査ユニット機構部100に
おいてレーザビームLBによる感光ドラム106への走
査が開始される。また、同時にモニタ用フォトダイオー
ドMPDはレーザダイオードLDから出射されるレーザ
光を受光し、その受光電流IrはI/V回路203によ
って受光電圧Vrに変換される。この受光電圧Vrは比
較回路204において基準電圧Vrefと比較され、比
較回路204からは前記レーザダイオードLDの発光出
力が一定となるようなAPC電圧Vapcが生成されて
出力される。このAPC電圧VapcはAPCタイミン
グ信号ADJUSTに基づいてレーザビームが感光ドラ
ム106の感光面を走査しないタイミング時にサンプル
・ホールド回路205においてサンプルされ、その後、
次のサンプル時までホールドされ、ここから本発明にか
かる立ち上がり制御がスタートされる(ステップS10
1)。このときサンプル・ホールドされたAPC電圧V
apcは図4(a)の通りである。
【0018】次いで、ホールドされたAPC電圧Vap
cは減衰回路211に入力され、この減衰回路211に
おいて1/X(Xは正の数)の電圧レベルに減衰された
補正電圧Vxが生成される(ステップS102)。すな
わち、図4(b)のように、Vx=Vapc/Xとな
る。
cは減衰回路211に入力され、この減衰回路211に
おいて1/X(Xは正の数)の電圧レベルに減衰された
補正電圧Vxが生成される(ステップS102)。すな
わち、図4(b)のように、Vx=Vapc/Xとな
る。
【0019】そして、図4(f)のように描画信号VI
DEOが入力され、レーザダイオードLDを発光させる
タイミングになると(ステップS103)、これを受け
て微小時間遅れでオン時間設定回路214が第2のスイ
ッチ回路213をオンさせる(ステップS104)。こ
のオン時間設定回路214は、予め使用するレーザダイ
オードの立ち上がり遅延に対応する時間だけオン信号を
継続して出力するように設定されているため、図4
(c)のように、発光初期を含む時間tsだけ第2のス
イッチ回路213をオンさせる。これを受けて加算回路
212では、図4(d)のように、APC電圧Vapc
と補正電圧Vxを加算し、これをレーザダイオードLD
の駆動電圧Vdとして第1のスイッチ回路210に出力
する(ステップS105)。したがって、この駆動電圧
Vdは図4(e)のように、オン時間設定回路214で
設定された時間tsだけ補正電圧VxとAPC電圧Va
pcを加算した電圧とされることになる。また、遅延回
路215では加算回路212での前述した加算を行って
駆動電圧Vdを出力するのに必要な時間tdだけ待って
オン信号を出力し、第1のスイッチ回路210をオン動
作させる(ステップS106)。したがって、図4
(e)のように、第1のスイッチ回路202からは必ず
APC電圧Vapcと補正電圧Vxが加算された電圧が
駆動電圧Vdとして出力され、V/I回路201に入力
される。そのため、レーザダイオードLDには、この駆
動電圧Vdに対応した駆動電流Idが供給されることに
なり、この結果、レーザダイオードLDの発光が開始さ
れ(ステップS106)、その発光出力は図4(g)の
ようになる。
DEOが入力され、レーザダイオードLDを発光させる
タイミングになると(ステップS103)、これを受け
て微小時間遅れでオン時間設定回路214が第2のスイ
ッチ回路213をオンさせる(ステップS104)。こ
のオン時間設定回路214は、予め使用するレーザダイ
オードの立ち上がり遅延に対応する時間だけオン信号を
継続して出力するように設定されているため、図4
(c)のように、発光初期を含む時間tsだけ第2のス
イッチ回路213をオンさせる。これを受けて加算回路
212では、図4(d)のように、APC電圧Vapc
と補正電圧Vxを加算し、これをレーザダイオードLD
の駆動電圧Vdとして第1のスイッチ回路210に出力
する(ステップS105)。したがって、この駆動電圧
Vdは図4(e)のように、オン時間設定回路214で
設定された時間tsだけ補正電圧VxとAPC電圧Va
pcを加算した電圧とされることになる。また、遅延回
路215では加算回路212での前述した加算を行って
駆動電圧Vdを出力するのに必要な時間tdだけ待って
オン信号を出力し、第1のスイッチ回路210をオン動
作させる(ステップS106)。したがって、図4
(e)のように、第1のスイッチ回路202からは必ず
APC電圧Vapcと補正電圧Vxが加算された電圧が
駆動電圧Vdとして出力され、V/I回路201に入力
される。そのため、レーザダイオードLDには、この駆
動電圧Vdに対応した駆動電流Idが供給されることに
なり、この結果、レーザダイオードLDの発光が開始さ
れ(ステップS106)、その発光出力は図4(g)の
ようになる。
【0020】すなわち、レーザダイオードLDの発光出
力特性は、駆動電流Idの供給に追従して立ち上がり遅
延が生じる傾斜された特性であるが、立ち上がり時の駆
動電流IdはAPC電圧Vapcに補正電圧Vxを上乗
せした電圧に対応する電流であるため、立ち上がった際
の発光出力はAPC電圧Vapcで制御される出力より
も補正電圧Vxが加算された分だけオーバシュートした
特性となる。そして、オン時間設定回路214でのオン
時間tsが経過した時点、すなわち補正電圧Vxが加算
されている時間が経過した時点で、オン時間設定回路2
14により第2のスイッチ回路213がオフ動作される
ため(ステップS107)、加算回路212には補正電
圧Vxが入力されなくなる。したがって、以降は加算回
路212の出力、すなわち駆動電圧VdはAPC電圧V
apcのみとなり(ステップS108)、レーザダイオ
ードLDの駆動電流IdはAPC電圧Vapcに対応す
る通常の駆動電流出力に制御される(ステップS10
8)。
力特性は、駆動電流Idの供給に追従して立ち上がり遅
延が生じる傾斜された特性であるが、立ち上がり時の駆
動電流IdはAPC電圧Vapcに補正電圧Vxを上乗
せした電圧に対応する電流であるため、立ち上がった際
の発光出力はAPC電圧Vapcで制御される出力より
も補正電圧Vxが加算された分だけオーバシュートした
特性となる。そして、オン時間設定回路214でのオン
時間tsが経過した時点、すなわち補正電圧Vxが加算
されている時間が経過した時点で、オン時間設定回路2
14により第2のスイッチ回路213がオフ動作される
ため(ステップS107)、加算回路212には補正電
圧Vxが入力されなくなる。したがって、以降は加算回
路212の出力、すなわち駆動電圧VdはAPC電圧V
apcのみとなり(ステップS108)、レーザダイオ
ードLDの駆動電流IdはAPC電圧Vapcに対応す
る通常の駆動電流出力に制御される(ステップS10
8)。
【0021】このように、レーザダイオードLDの発光
出力のオーバシュートした分を、立ち上がり遅延によっ
て生じる露光光量の減少分に対応したものとなるように
補正電圧Vx及び補正電圧を加算する時間tsを設定し
ておくことにより、描画されるパターンの描画開始部分
での濃度の低下が解消される。したがって、描画パター
ンの描画開始領域の描画濃度が低下することが回避さ
れ、尖鋭なエッジのパターンが描画できる。また、同時
に描画パターンの全体としての露光量が補正されるた
め、描画パターンの全体の濃度が増大するようなことも
なく、トナー消費の増大が防止される。
出力のオーバシュートした分を、立ち上がり遅延によっ
て生じる露光光量の減少分に対応したものとなるように
補正電圧Vx及び補正電圧を加算する時間tsを設定し
ておくことにより、描画されるパターンの描画開始部分
での濃度の低下が解消される。したがって、描画パター
ンの描画開始領域の描画濃度が低下することが回避さ
れ、尖鋭なエッジのパターンが描画できる。また、同時
に描画パターンの全体としての露光量が補正されるた
め、描画パターンの全体の濃度が増大するようなことも
なく、トナー消費の増大が防止される。
【0022】図5は本発明の第2の実施形態の回路部の
ブロック回路図である。図2の第1の実施形態と等価な
部分に同一符号を付してある。この回路部200Aで
は、立ち上がり制御回路202Aは、サンプル・ホール
ド回路205でホールドされたAPC電圧Vapcと後
述する補正電圧Vxとを加算する加算回路212と、前
記加算回路212に入力する補正電圧Vxをオン・オフ
する第2のスイッチ回路213と、前記第2のスイッチ
回路213を描画信号VIDEOに基づいて所要の時間
だけオン動作させるオン時間設定回路214と、前記描
画信号VIDEOに基づいて第1のスイッチ回路210
のオン動作時間を遅延させる遅延回路215とを備えて
いることは第1の実施形態と同じである。そして、前記
サンプル・ホールド回路205の出力のAPC電圧Va
pcを減衰してこれを補正電圧Vxとする減衰回路をこ
こでは可変減衰回路216として構成する一方で、新た
にレーザ走査装置の温度、特にレーザダイオードLDの
温度を検出する温度検出回路217を設け、この温度検
出回路217で検出した温度に基づいて前記可変減衰回
路216での減衰量を制御するように構成されている。
ここで、可変減衰回路216は、温度検出回路217で
の検出温度が高くなると減衰量を増大して、すなわち補
正電圧を得る際の比率1/Xを小さくし、換言すればX
の値を大きくする。また、検出温度が低くなると減衰量
を低減して比率1/Xを大きくし、換言すればXの値を
小さくしている。
ブロック回路図である。図2の第1の実施形態と等価な
部分に同一符号を付してある。この回路部200Aで
は、立ち上がり制御回路202Aは、サンプル・ホール
ド回路205でホールドされたAPC電圧Vapcと後
述する補正電圧Vxとを加算する加算回路212と、前
記加算回路212に入力する補正電圧Vxをオン・オフ
する第2のスイッチ回路213と、前記第2のスイッチ
回路213を描画信号VIDEOに基づいて所要の時間
だけオン動作させるオン時間設定回路214と、前記描
画信号VIDEOに基づいて第1のスイッチ回路210
のオン動作時間を遅延させる遅延回路215とを備えて
いることは第1の実施形態と同じである。そして、前記
サンプル・ホールド回路205の出力のAPC電圧Va
pcを減衰してこれを補正電圧Vxとする減衰回路をこ
こでは可変減衰回路216として構成する一方で、新た
にレーザ走査装置の温度、特にレーザダイオードLDの
温度を検出する温度検出回路217を設け、この温度検
出回路217で検出した温度に基づいて前記可変減衰回
路216での減衰量を制御するように構成されている。
ここで、可変減衰回路216は、温度検出回路217で
の検出温度が高くなると減衰量を増大して、すなわち補
正電圧を得る際の比率1/Xを小さくし、換言すればX
の値を大きくする。また、検出温度が低くなると減衰量
を低減して比率1/Xを大きくし、換言すればXの値を
小さくしている。
【0023】この実施形態の回路部200Aの動作は基
本的には第1の実施形態の回路部200と同じであり、
動作のタイミング波形図も図4に示した通りである。た
だし、可変減衰回路216の出力は、図4(b)に一点
鎖線で示すように、温度に応じてVx1のように変化さ
れるため、加算回路212で加算される補正電圧Vxが
変化され、結果として加算回路212の出力と第1のス
イッチ回路210の出力もそれぞれ図4(d),(e)
に一点鎖線で示すように変化される。ただし、レーザダ
イオードLDの立ち上がりに際してのオーバシュート時
の発光出力は図4(g)に示したように第1の実施形態
と同じになる。
本的には第1の実施形態の回路部200と同じであり、
動作のタイミング波形図も図4に示した通りである。た
だし、可変減衰回路216の出力は、図4(b)に一点
鎖線で示すように、温度に応じてVx1のように変化さ
れるため、加算回路212で加算される補正電圧Vxが
変化され、結果として加算回路212の出力と第1のス
イッチ回路210の出力もそれぞれ図4(d),(e)
に一点鎖線で示すように変化される。ただし、レーザダ
イオードLDの立ち上がりに際してのオーバシュート時
の発光出力は図4(g)に示したように第1の実施形態
と同じになる。
【0024】すなわち、レーザダイオードLDの種類に
よっては温度により立ち上がり時のオーバシュートの度
合いが大きく変わり、第1の実施形態で行った補正電圧
Vxによる発光出力への実効度合いが低減される場合が
ある。この場合でも、第2の実施形態によれば、予めこ
のオーバシュートの度合いを測定し、温度変化に対応し
て補正電圧Vxを相殺する方向、すなわち一般的なレー
ザダイオードでは温度が高くなるとオーバシュートの度
合いが大きくなるために、温度が高い場合には可変減衰
器の1/Xの値を小さくして補正電圧を減少させること
で、温度が高い場合でもオーバシュートの度合いを一定
に保持することができる。
よっては温度により立ち上がり時のオーバシュートの度
合いが大きく変わり、第1の実施形態で行った補正電圧
Vxによる発光出力への実効度合いが低減される場合が
ある。この場合でも、第2の実施形態によれば、予めこ
のオーバシュートの度合いを測定し、温度変化に対応し
て補正電圧Vxを相殺する方向、すなわち一般的なレー
ザダイオードでは温度が高くなるとオーバシュートの度
合いが大きくなるために、温度が高い場合には可変減衰
器の1/Xの値を小さくして補正電圧を減少させること
で、温度が高い場合でもオーバシュートの度合いを一定
に保持することができる。
【0025】図6は本発明の第3の実施形態の回路部2
00Bのブロック回路図であり、図5の第2の実施形態
をさらに改善したものである。なお、図5と等価な部分
に同一符号を付してある。ただし、本実施形態の説明
上、前記各実施形態の加算回路212と等価な加算回路
を第1の加算回路212と称することにする。この回路
部200Bでは、立ち上がり制御回路202Bの構成と
して、第2の実施形態の回路構成に加えて、温度検出回
路217で検出された検出温度に基づいてレーザダイオ
ードLDのバイアス基準電圧Vbを制御するバイアス基
準電圧回路218を新たに設けるとともに、サンプル・
ホールド回路205でホールドされたAPC電圧Vap
cから前記バイアス基準電圧回路218で制御されるバ
イアス基準電圧Vbを減算する減算回路219を設け、
この減算回路219の減算電圧Vdbに対して可変減衰
回路216での減衰を行って補正電圧Vxを生成するよ
うにしたものである。さらに、バイアス基準電圧回路2
18からのバイアス電圧Vbに、第1の加算回路212
でAPC電圧Vapcと補正電圧Vxを加算して得られ
る駆動電圧Vd1を加算して最終的な駆動電圧Vdを得
る第2の加算回路220を設けている。前記可変減衰回
路216の減衰比率を温度検出回路217の検出温度に
基づいて制御することは第2の実施形態と同じである。
前記バイアス基準電圧回路218は、温度検出回路21
7の検出温度が高い場合にはバイアス基準電圧Vbを昇
圧し、検出温度が低い場合にはバイアス基準電圧Vbを
降圧するように動作する。
00Bのブロック回路図であり、図5の第2の実施形態
をさらに改善したものである。なお、図5と等価な部分
に同一符号を付してある。ただし、本実施形態の説明
上、前記各実施形態の加算回路212と等価な加算回路
を第1の加算回路212と称することにする。この回路
部200Bでは、立ち上がり制御回路202Bの構成と
して、第2の実施形態の回路構成に加えて、温度検出回
路217で検出された検出温度に基づいてレーザダイオ
ードLDのバイアス基準電圧Vbを制御するバイアス基
準電圧回路218を新たに設けるとともに、サンプル・
ホールド回路205でホールドされたAPC電圧Vap
cから前記バイアス基準電圧回路218で制御されるバ
イアス基準電圧Vbを減算する減算回路219を設け、
この減算回路219の減算電圧Vdbに対して可変減衰
回路216での減衰を行って補正電圧Vxを生成するよ
うにしたものである。さらに、バイアス基準電圧回路2
18からのバイアス電圧Vbに、第1の加算回路212
でAPC電圧Vapcと補正電圧Vxを加算して得られ
る駆動電圧Vd1を加算して最終的な駆動電圧Vdを得
る第2の加算回路220を設けている。前記可変減衰回
路216の減衰比率を温度検出回路217の検出温度に
基づいて制御することは第2の実施形態と同じである。
前記バイアス基準電圧回路218は、温度検出回路21
7の検出温度が高い場合にはバイアス基準電圧Vbを昇
圧し、検出温度が低い場合にはバイアス基準電圧Vbを
降圧するように動作する。
【0026】この実施形態の回路部200Bの動作を図
7のタイミング波形図を参照して説明する。基本的には
第1及び第2の実施形態の動作と同じであるが、温度検
出回路217での検出温度に基づいてバイアス基準回路
218においてバイアス基準電圧Vbが生成される(図
7(b))。すなわち、一般的なレーザダイオードの順
方向電流−発光出力特性は図8に示す通りであり、温度
が高くなると順方向電流のしきい値がITH1 ,ITH2 ,
TTH3 のように増加する。したがって、バイアス基準回
路218では、検出温度に基づいてバイアス基準電圧V
bを当該しきい値ITH1 ,ITH2 ,TTH3 に対応した電
圧に制御する。そして、減算回路219において図7
(a)に示すAPC電圧Vapcから図7(b)のバイ
アス基準電圧Vbを減算することで、レーザダイオード
LDが発光する実効領域でのAPC電流Iapcに対応
したAPC電圧Vapcの電圧範囲が得られる。すなわ
ち、図8において、温度50℃のときには当該しきい値
ITH3 にバイアス基準電圧Vbを設定することで、AP
C電圧VapcからVbを減算してVdbを得ることが
でき、このVdbをレーザダイオードのしきい値電圧を
0にした場合と等価なAPC電圧、すなわち図7(c)
のような修正APC電圧Vdbとして得ることができ
る。
7のタイミング波形図を参照して説明する。基本的には
第1及び第2の実施形態の動作と同じであるが、温度検
出回路217での検出温度に基づいてバイアス基準回路
218においてバイアス基準電圧Vbが生成される(図
7(b))。すなわち、一般的なレーザダイオードの順
方向電流−発光出力特性は図8に示す通りであり、温度
が高くなると順方向電流のしきい値がITH1 ,ITH2 ,
TTH3 のように増加する。したがって、バイアス基準回
路218では、検出温度に基づいてバイアス基準電圧V
bを当該しきい値ITH1 ,ITH2 ,TTH3 に対応した電
圧に制御する。そして、減算回路219において図7
(a)に示すAPC電圧Vapcから図7(b)のバイ
アス基準電圧Vbを減算することで、レーザダイオード
LDが発光する実効領域でのAPC電流Iapcに対応
したAPC電圧Vapcの電圧範囲が得られる。すなわ
ち、図8において、温度50℃のときには当該しきい値
ITH3 にバイアス基準電圧Vbを設定することで、AP
C電圧VapcからVbを減算してVdbを得ることが
でき、このVdbをレーザダイオードのしきい値電圧を
0にした場合と等価なAPC電圧、すなわち図7(c)
のような修正APC電圧Vdbとして得ることができ
る。
【0027】したがって、この修正された修正APC電
圧Vdbに対して、第2の実施形態と同様に可変減衰回
路216において検出温度に基づく補正電圧Vxを生成
し(図7(d))、これを第1の加算回路212におい
て修正前のAPC電圧Vapcに加算して駆動電圧Vd
1を得る(図7(g))。しかる上で、得られた駆動電
圧Vd1に、第2の加算回路220においてバイアス基
準電圧Vbを加算することで、図7(g)に示すレーザ
ダイオードLDの温度変動に伴うしきい値を考慮した駆
動電圧Vdを得ることができる。これにより、レーザダ
イオードLDの発光出力は図7(j)の通りになる。
圧Vdbに対して、第2の実施形態と同様に可変減衰回
路216において検出温度に基づく補正電圧Vxを生成
し(図7(d))、これを第1の加算回路212におい
て修正前のAPC電圧Vapcに加算して駆動電圧Vd
1を得る(図7(g))。しかる上で、得られた駆動電
圧Vd1に、第2の加算回路220においてバイアス基
準電圧Vbを加算することで、図7(g)に示すレーザ
ダイオードLDの温度変動に伴うしきい値を考慮した駆
動電圧Vdを得ることができる。これにより、レーザダ
イオードLDの発光出力は図7(j)の通りになる。
【0028】この第3の実施形態では、レーザダイオー
ドLDのしきい値が温度に追従して変化した場合でも、
当該レーザダイオードLDの発光領域での駆動電圧(駆
動電流)−発光出力特性の実効領域に適正な補正電圧を
得ることができ、温度変化にかかわらず適正なオーバシ
ュートの効果を得ることができる。また、この実施形態
においても、第2の実施形態と同様に、レーザダイオー
ドの種類によっては温度により立ち上がり時のオーバシ
ュートの度合いが大きく変わる場合でも、オーバシュー
トの度合いを一定に保持することができる。
ドLDのしきい値が温度に追従して変化した場合でも、
当該レーザダイオードLDの発光領域での駆動電圧(駆
動電流)−発光出力特性の実効領域に適正な補正電圧を
得ることができ、温度変化にかかわらず適正なオーバシ
ュートの効果を得ることができる。また、この実施形態
においても、第2の実施形態と同様に、レーザダイオー
ドの種類によっては温度により立ち上がり時のオーバシ
ュートの度合いが大きく変わる場合でも、オーバシュー
トの度合いを一定に保持することができる。
【0029】ここで、第1ないし第3の実施形態では、
レーザダイオードの駆動電圧としてAPC電圧を用いる
レーザ走査装置に本発明を適用した例を示しているが、
APC電圧以外の駆動電圧、例えば描画信号に基づいて
一義的に駆動電圧を設定する方式のレーザ走査装置に適
用することも可能である。
レーザダイオードの駆動電圧としてAPC電圧を用いる
レーザ走査装置に本発明を適用した例を示しているが、
APC電圧以外の駆動電圧、例えば描画信号に基づいて
一義的に駆動電圧を設定する方式のレーザ走査装置に適
用することも可能である。
【0030】また、本発明にかかる補正電圧は、必ずし
も駆動電圧を減衰して得られるものではなく、駆動電圧
に対して所定比率の電圧を生成する回路として構成する
ようにしてもよい。
も駆動電圧を減衰して得られるものではなく、駆動電圧
に対して所定比率の電圧を生成する回路として構成する
ようにしてもよい。
【0031】さらに、駆動電圧と補正電圧とを加算する
加算手段での時間遅延が無視できるものであれば、前記
第1ないし第3の実施形態に設けていた遅延回路及び第
1のスイッチを省略することも可能である。
加算手段での時間遅延が無視できるものであれば、前記
第1ないし第3の実施形態に設けていた遅延回路及び第
1のスイッチを省略することも可能である。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、レーザダ
イオードの発光初期、すなわちレーザダイオードに駆動
電流を供給開始する所定の時間だけ、本来の駆動電圧に
補正電圧を加算してレーザダイオードの駆動電流を増大
することで、レーザダイオードの発光に際しての立ち上
がり遅延による総露光量の低下を補償して描画パターン
の濃度及びエッジ部の描画品質を改善する一方で、露光
時間の長短にかかわらずほぼ均一な濃度での描画を実現
し、高速化及び描画品質にすぐれたレーザ走査装置を得
ることが可能になる。
イオードの発光初期、すなわちレーザダイオードに駆動
電流を供給開始する所定の時間だけ、本来の駆動電圧に
補正電圧を加算してレーザダイオードの駆動電流を増大
することで、レーザダイオードの発光に際しての立ち上
がり遅延による総露光量の低下を補償して描画パターン
の濃度及びエッジ部の描画品質を改善する一方で、露光
時間の長短にかかわらずほぼ均一な濃度での描画を実現
し、高速化及び描画品質にすぐれたレーザ走査装置を得
ることが可能になる。
【図1】本発明のレーザ走査装置の概略構成の平面図で
ある。
ある。
【図2】本発明の第1の実施形態の回路部のブロック回
路図である。
路図である。
【図3】第1の実施形態の立ち上がり制御動作を説明す
るためのフローチャートである。
るためのフローチャートである。
【図4】第1の実施形態の立ち上がり動作を説明するた
めの波形図である。
めの波形図である。
【図5】本発明の第2の実施形態の回路部のブロック回
路図である。
路図である。
【図6】本発明の第3の実施形態の回路部のブロック回
路図である。
路図である。
【図7】第3の実施形態の立ち上がり動作を説明するた
めの波形図である。
めの波形図である。
【図8】レーザダイオードの発光出力の温度依存性を示
す図である。
す図である。
【図9】レーザダイオードの立ち上がり特性とその問題
点を説明するための波形図である。
点を説明するための波形図である。
LD レーザダイオード
MPD モニタ用フォトダイオード
TPD 同期用フォトダイオード
100 走査ユニット機構部
101 光源部(レーザダイオード,モニタ用フォトダ
イオード) 104 ポリゴンミラー 105 fθレンズ光学系 106 感光ドラム 200,200A,200B 回路部 201 V/I回路 202,202A,202B 立ち上がり制御回路 203 I/V回路 204 比較回路 205 サンプル・ホールド回路 210 第1のスイッチ 211 減衰回路 212 加算回路(第1の加算回路) 213 第2のスイッチ 214 オン時間設定回路 215 遅延回路 216 可変減衰回路 217 温度検出回路 218 バイアス基準電圧回路 219 減算回路 220 第2の加算回路 300 コントローラ部
イオード) 104 ポリゴンミラー 105 fθレンズ光学系 106 感光ドラム 200,200A,200B 回路部 201 V/I回路 202,202A,202B 立ち上がり制御回路 203 I/V回路 204 比較回路 205 サンプル・ホールド回路 210 第1のスイッチ 211 減衰回路 212 加算回路(第1の加算回路) 213 第2のスイッチ 214 オン時間設定回路 215 遅延回路 216 可変減衰回路 217 温度検出回路 218 バイアス基準電圧回路 219 減算回路 220 第2の加算回路 300 コントローラ部
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Fターム(参考) 2C362 AA12 AA53 AA61 CB72
2H045 CB42 CB61
5C051 AA02 CA07 DB22 DB24 DB30
DE03 DE04
5C072 AA03 DA02 DA04 HA02 HA09
HA13 HB01 VA05
Claims (8)
- 【請求項1】 レーザダイオードに電力を供給して当該
レーザダイオードを発光させ、当該レーザダイオードか
ら出射されるレーザ光を感光体に露光走査して描画を行
うレーザ走査装置において、前記レーザダイオードの発
光初期にのみ当該レーザダイオードに供給する電流を増
加する制御手段を備えることを特徴とするレーザ走査装
置。 - 【請求項2】 前記制御手段は、レーザダイオードを発
光させるための駆動電圧を生成する手段と、前記駆動電
圧をレーザダイオードの駆動電流に変換する手段と、所
定の補正電圧を生成する手段と、前記駆動電流を前記レ
ーザダイオードに供給する初期に前記駆動電圧に前記補
正電圧を加算する手段とを備えることを特徴とする請求
項1に記載のレーザ走査装置。 - 【請求項3】 前記補正電圧を生成する手段は、前記駆
動電圧の1/X(Xは正の数)を前記補正電圧として生
成する減衰手段であることを特徴とする請求項2に記載
のレーザ走査装置。 - 【請求項4】 前記補正電圧を加算する手段は、レーザ
ダイオードに前記駆動電流を供給する時点から予め設定
した所定時間の間、前記駆動電圧に前記補正電圧を加算
することを特徴とする請求項2又は3に記載のレーザ走
査装置。 - 【請求項5】 前記駆動電圧は前記レーザダイオードで
発光したレーザ光をモニタして当該駆動電圧を自動制御
する自動出力制御(APC)回路で制御されるAPC電
圧であることを特徴とする請求項2ないし4のいずれか
に記載のレーザ走査装置。 - 【請求項6】 前記制御手段は、前記レーザダイオード
の温度を検出する手段と、検出した温度に対応して前記
補正電圧を変化制御する可変減衰手段を備えることを特
徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載のレーザ走
査装置。 - 【請求項7】 前記制御手段は、前記レーザダイオード
の温度を検出する手段と、検出した温度に対応してバイ
アス電圧を変化制御する手段と、前記変化制御されるバ
イアス電圧を前記駆動電圧に加算する手段を備えること
を特徴とする請求項1ないし6のいずれかに記載のレー
ザ走査装置。 - 【請求項8】 前記制御手段は、外部から入力される描
画信号に対応して前記駆動電圧を出力するタイミングを
とる第1のタイミング手段と、前記補正電圧を加算する
手段での動作に必要とされる時間だけ前記第1のタイミ
ング手段の動作を遅延させる遅延手段と、前記描画信号
に対応して前記補正電圧を前記加算手段に入力させるタ
イミングをとる第2のタイミング手段を備えることを特
徴とする請求項1ないし7のいずれかに記載のレーザ走
査装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002151817A JP2003344798A (ja) | 2002-05-27 | 2002-05-27 | レーザ走査装置 |
US10/443,843 US7136404B2 (en) | 2002-05-27 | 2003-05-23 | Laser scanning device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002151817A JP2003344798A (ja) | 2002-05-27 | 2002-05-27 | レーザ走査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003344798A true JP2003344798A (ja) | 2003-12-03 |
Family
ID=29545385
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002151817A Withdrawn JP2003344798A (ja) | 2002-05-27 | 2002-05-27 | レーザ走査装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7136404B2 (ja) |
JP (1) | JP2003344798A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US8896648B2 (en) | 2010-03-16 | 2014-11-25 | Ricoh Company, Ltd. | Laser driving unit and image forming apparatus |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070216753A1 (en) * | 2006-03-15 | 2007-09-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Laser beam scanning apparatus, image forming apparatus, and laser beam scanning method |
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DE102006050937A1 (de) * | 2006-10-28 | 2008-05-08 | Leuze Electronic Gmbh & Co Kg | Optoelektronische Vorrichtung |
WO2009011085A1 (ja) * | 2007-07-18 | 2009-01-22 | Panasonic Corporation | レーザ光源の光出力制御装置 |
JP4582199B2 (ja) * | 2008-06-02 | 2010-11-17 | ブラザー工業株式会社 | 光出力装置およびその装置を備えた画像形成装置 |
JP5053204B2 (ja) * | 2008-08-08 | 2012-10-17 | 株式会社リコー | 半導体集積回路装置、半導体集積回路装置を用いた光走査装置及び戻り光識別方法並びに光走査装置を用いた画像形成装置 |
JP5709547B2 (ja) * | 2011-01-20 | 2015-04-30 | キヤノン株式会社 | 画像形成装置 |
US9560328B1 (en) * | 2015-10-06 | 2017-01-31 | Microvision, Inc. | Scanned beam projector pulsed laser control |
JP2020184014A (ja) * | 2019-05-08 | 2020-11-12 | 株式会社リコー | 光源装置、光走査装置、表示システムおよび移動体 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3315917B2 (ja) * | 1998-01-23 | 2002-08-19 | 旭光学工業株式会社 | 光走査装置 |
-
2002
- 2002-05-27 JP JP2002151817A patent/JP2003344798A/ja not_active Withdrawn
-
2003
- 2003-05-23 US US10/443,843 patent/US7136404B2/en not_active Expired - Fee Related
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US8907999B2 (en) | 2011-01-20 | 2014-12-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographic image forming apparatus |
JP2012240319A (ja) * | 2011-05-20 | 2012-12-10 | Ricoh Co Ltd | 光源駆動装置及び画像形成装置 |
JP2014124772A (ja) * | 2012-12-25 | 2014-07-07 | Ricoh Co Ltd | 光源駆動装置、光源駆動方法及び画像形成装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7136404B2 (en) | 2006-11-14 |
US20030219049A1 (en) | 2003-11-27 |
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|
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