JP4819479B2 - 撮像装置及び画像データの補正方法 - Google Patents

Description

本発明は撮像装置及び画像データの補正方法に関し、例えば画像処理を行うために用いて好適な技術に関する。

現在、固体メモリ素子を有するメモリカードを記録媒体とし、ＣＣＤ、ＣＭＯＳ等の固体撮像素子で撮像した静止画像や動画像を記録・再生する電子カメラ等の撮像装置が既に市販されている。

前記ＣＣＤ、ＣＭＯＳ等の固体撮像素子を用いて撮像すると、撮像素子で発生する暗電流ノイズや撮像素子固有の微小なキズによる画質劣化に対し、欠陥画素を補正し、撮影した画像データを補正して高品位な画像を得ることができる。

特に、暗電流ノイズは電荷蓄積時間及び撮像素子の温度上昇に従って増大するので、長時間の露光や高温下での露光を行う場合は、大きな画質改善効果を得ることができ、電子カメラの使用者にとって欠陥画素補正は有益な機能となっている。

この画素欠陥補正は、通常は以下のように行われる。まず、撮像素子の欠陥画素を予め検出し、その欠陥画素に関する種々のデータをＲＯＭ（リード・オンリー・メモリ）等に記憶しておく。

このように、欠陥画素の位置等をＲＯＭに予め記憶した状態で、撮像装置を使用する際には、前記撮像素子からＡ／Ｄコンバータ等を介して供給された各画像データのうち、前記ＲＯＭに記憶された欠陥画素の位置データに対応した位置の画素（すなわち欠陥画素）の近傍の画素データを用いて前記欠陥画素を補正する。

これにより、撮像素子によって得られた映像信号のうち、特異なレベルの信号を出力する画素（すなわち欠陥画素）を含む画像データ（欠陥画像データ）は補正され、良好な再生画像を得ることができるようになる（例えば、特許文献１参照）。

特開２００３−３３３４３５号公報

欠陥画素には、前述したような撮像素子の温度と蓄積時間で発生する、いわゆる暗電流が原因で１画素の出力レベルが高くなるものの他に、撮像素子のデバイス内の配線リークや電子のインパクトイオン化などが原因で起こる微小発光等で周辺画素の出力レベルに影響を与えるものがあることが近年わかってきた。

図９は、蓄積時間が長くなるに従って、欠陥画素が広がっていることを示す図である。図９（ａ）のように４秒の蓄積時間では１画素の欠陥であったが、図９（ｂ）のように１０秒、図９（ｃ）のように２０秒、図９（ｄ）のように４０秒と蓄積時間が長くなると、１秒の蓄積時間で生じた欠陥画素を中心に時間が長くなるにつれて広がっていくのがわかる。最近は撮像素子のノイズ抑制技術が進歩したことにより、長時間蓄積での画質向上が今までにも増して望まれている。

しかしながら、前記従来の技術では、予め検出されている欠陥画素のアドレス情報に対応する画素に対して欠陥画素補正行うため、蓄積時間が長くなることによって欠陥画素の範囲が広がることは想定されておらず、蓄積時間が長くなると補正誤差が発生してしまうという問題点があった。

前述した蓄積時間が長くなることによって欠陥画素の範囲が広がることにより補正誤差が発生するような問題点に対応するために、欠陥画素補正の範囲を広げることが考えられる。しかしながら、必要以上に欠陥画素補正の範囲を広げてしまうと、欠陥画素補正処理の効率が低下し、ＣＰＵやその他に回路に大きな負担がかかってしまい、装置の大型化及び製造コストがアップしてしまうという問題点があった。

本発明は前述の問題点にかんがみ、蓄積時間の相違に起因する補正誤差が生じない欠陥画素補正を行うことができるようにするとともに、欠陥画素補正を必要最小限の範囲で行うことができるようにすることを目的としている。

本発明の撮像装置は、複数の画素から構成される撮像素子と、前記撮像素子の欠陥画素のアドレス情報を記憶しておく記憶手段と、前記アドレス情報に対応する画素を中心として設定した補正範囲の画素から出力される信号を補正する欠陥画素補正手段と、前記撮像素子の蓄積時間が長くなるほど前記補正範囲を広げるとともに、前記撮像素子の蓄積時間が所定時間以上である場合、または前記補正範囲が所定範囲に達した場合に前記補正範囲を固定するように制御する制御手段と、を有することを特徴とする。
また、本発明の撮像装置の他の特徴とするところは、複数の画素から構成される撮像素子と、前記撮像素子の欠陥画素のアドレス情報を記憶しておく記憶手段と、前記アドレス情報に対応する画素を中心として設定した補正範囲の画素から出力される信号を補正する欠陥画素補正手段と、シャッタ速度が遅くなるほど前記補正範囲を広げるとともに、前記シャッタ速度が所定速度以上である場合、または前記補正範囲が所定範囲に達した場合に前記補正範囲を固定するように制御する制御手段と、を有することである。
また、本発明の撮像装置のその他の特徴とするところは、複数の画素から構成される撮像素子と、前記撮像素子の欠陥画素のアドレス情報を記憶しておく記憶手段と、前記アドレス情報に対応する画素を中心として設定した補正範囲の画素から出力される信号を補正する欠陥画素補正手段と、撮影条件に応じて前記補正範囲の設定を変えるとともに、前記補正範囲が所定範囲を超えた場合に前記撮像素子の蓄積時間と同一時間だけ暗時に蓄積を行い、前記暗時に蓄積された撮像素子の出力で減算処理を行うように制御する制御手段と、を有することである。

本発明の画像データの補正方法は、複数の画素から構成される撮像素子の欠陥画素のアドレス情報を記憶手段から読み出す工程と、前記アドレス情報に対応する画素を中心として設定した補正範囲の画素から出力される信号を補正する欠陥画素補正工程と、前記撮像素子の蓄積時間が長くなるほど前記補正範囲を広げるとともに、前記撮像素子の蓄積時間が所定時間以上である場合、または前記補正範囲が所定範囲に達した場合に前記補正範囲を固定するように制御する制御工程と、を有することを特徴とする。
また、本発明の画像データの補正方法の他の特徴とするところは、複数の画素から構成される撮像素子の欠陥画素のアドレス情報を記憶手段から読み出す工程と、前記アドレス情報に対応する画素を中心として設定した補正範囲の画素から出力される信号を補正する欠陥画素補正工程と、シャッタ速度が遅くなるほど前記補正範囲を広げるとともに、前記シャッタ速度が所定速度以上である場合、または前記補正範囲が所定範囲に達した場合に前記補正範囲を固定するように制御する制御工程と、を有することである。
また、本発明の画像データの補正方法のその他の特徴とするところは、複数の画素から構成される撮像素子の欠陥画素のアドレス情報を記憶手段から読み出す工程と、前記アドレス情報に対応する画素を中心として設定した補正範囲の画素から出力される信号を補正する欠陥画素補正工程と、撮影条件に応じて前記補正範囲の設定を変えるとともに、前記補正範囲が所定範囲を超えた場合に前記撮像素子の蓄積時間と同一時間だけ暗時に蓄積を行い、前記暗時に蓄積された撮像素子の出力で減算処理を行うように制御する制御工程と、を有することである。

本発明によれば、記憶手段に記憶された撮像素子の欠陥画素のアドレス情報をもとに、欠陥画素補正を行う範囲を蓄積時間が長くなるほど広げたり、シャッタ速度が遅くなるほど広げたりするとともに、蓄積時間が所定時間以上の場合やシャッタ速度が所定速度以上の場合、または補正範囲が所定範囲に達した場合に補正範囲を固定するようにしたので、長時間蓄積でのキズ補正誤差が生じない補正を行うことができるとともに、シャッタ速度や蓄積時間に合った必要最小限の欠陥画素補正を行うようにすることができる。これにより、装置の大型化や製造コストをアップさせることなく、蓄積時間の相違に起因する画質低下を良好に防ぐことができる。

（第１の実施の形態）
本発明の撮像装置、撮像方法、プログラム及び記憶媒体の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、本実施の形態の撮像装置は電子カメラに適用される。

図１は、本実施の形態における電子カメラの構成例を示すブロック図である。
図１において、１００は画像処理装置である。１２は撮像素子１４の露光量を制御する絞り機能を有したシャッタであり、１４は光学像を電気信号に変換する撮像素子である。

レンズユニット３００内の撮影レンズ３１０に入射した光線は、絞り３１２、外側レンズマウント３０６、内側レンズマウント１０６、第１のミラー１３０及びシャッタ１２を通じて一眼レフ方式により導かれた撮像素子１４上に光学像として結像する。

１６は撮像素子１４から出力されるアナログ信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器である。１８は撮像素子１４、Ａ／Ｄ変換器１６及びＤ／Ａ変換器２６にクロック信号や制御信号を供給するタイミング発生回路であり、メモリ制御回路２２及びシステム制御回路５０によって制御されている。

２０は画像処理回路であり、Ａ／Ｄ変換器１６から送られる画像データまたはメモリ制御回路２２から送られる画像データに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。画像処理回路２０は必要に応じて撮像した画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づき、システム制御回路５０が露光（シャッタ）制御部４０及び第１の測距制御部４２を制御するためのＴＴＬ（スルー・ザ・レンズ）方式のＡＦ（オートフォーカス）処理、ＡＥ（自動露出）処理及びＥＦ（フラッシュ調光）処理を行う。また、画像処理回路２０は、撮像した画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてＴＴＬ方式のＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理を行う。

なお、本実施の形態では、第１の測距制御部４２及び測光制御部４６を専用に備えているので、システム制御回路５０は、第１の測距制御部４２及び測光制御部４６を用いてＡＦ（オートフォーカス）処理、ＡＥ（自動露出）処理、ＥＦ（フラッシュ調光）処理の各処理を行い、画像処理回路２０を用いてＡＦ（オートフォーカス）処理、ＡＥ（自動露出）処理、ＥＦ（フラッシュ調光）処理の各処理を行わないように構成されていてもよい。

また、第１の測距制御部４２及び測光制御部４６を用いてＡＦ（オートフォーカス）処理、ＡＥ（自動露出）処理、ＥＦ（フラッシュ調光）処理の各処理を行い、さらに、画像処理回路２０を用いてＡＦ（オートフォーカス）処理、ＡＥ（自動露出）処理、ＥＦ（フラッシュ調光）処理の各処理を行うように構成されていてもよい。

２２はメモリ制御回路であり、Ａ／Ｄ変換器１６、タイミング発生回路１８、画像処理回路２０、画像表示メモリ２４、Ｄ／Ａ変換器２６、第１のメモリ３０及び圧縮・伸長回路３２を制御する。

Ａ／Ｄ変換器１６から送られる画像データは、画像処理回路２０及びメモリ制御回路２２を介して、または直接メモリ制御回路２２を介して画像表示メモリ２４または第１のメモリ３０に書き込まれる。

２４は画像表示メモリであり、２６はＤ／Ａ変換器である。２８はＴＦＴ方式のＬＣＤからなる画像表示部である。画像表示メモリ２４に書き込まれた表示用の画像データはＤ／Ａ変換器２６を介して画像表示部２８に表示される。撮像された画像データを画像表示部２８で逐次表示する場合は、電子ファインダ機能を実現することが可能である。

また、画像表示部２８はシステム制御回路５０の指示に従って表示のＯＮ／ＯＦＦを任意に行うことが可能であり、表示をＯＦＦにした場合は、画像処理装置１００の電力消費を大幅に低減することができる。

３０は撮影された静止画像や動画像を格納するための第１のメモリであり、所定枚数の静止画像や所定時間の動画像を格納するのに十分な記憶容量を有している。したがって、複数枚の静止画像を連続して撮影する連写撮影やパノラマ撮影の場合にも、高速かつ大量の画像書き込みを第１のメモリ３０に対して行うことが可能である。また、第１のメモリ３０はシステム制御回路５０の作業領域としても使用することが可能である。

３２は適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）などにより画像データを圧縮伸長する圧縮・伸長回路であり、第１のメモリ３０に格納された画像を読み出して圧縮処理または伸長処理を行い、処理を終えた画像データを第１のメモリ３０に書き込む。

４０は測光制御部４６から送られる測光情報に基づいて、絞り３１２を制御する絞り制御部３４０と連携しながらシャッタ１２を制御するシャッタ制御部である。４２はＡＦ（オートフォーカス）処理を行うための第１の測距制御部であり、レンズユニット３００内の撮影レンズ３１０に入射した光線を絞り３１２、外側レンズマウント３０６、内側レンズマウント１０６、第１のミラー１３０及び測距用サブミラー（図示せず）を介して一眼レフ方式で入射することにより、光学像として結像された画像の合焦状態を測定する。

４４は温度計であり、撮影環境における周囲温度を検出する。温度計が撮像素子（センサ）１４内にある場合は、センサの暗電流をより正確に予想することが可能となっている。

４６はＡＥ（自動露出）処理を行うための測光制御部であり、レンズユニット３００内の撮影レンズ３１０に入射した光線を、絞り３１２、外側レンズマウント３０６、内側レンズマウント１０６、第１のミラー１３０及び測光用サブミラー（図示せず）を介して一眼レフ方式で入射することにより、光学像として結像された画像の露出状態を測定する。

測光制御部４６はフラッシュ部４８と連携することにより、ＥＦ（フラッシュ調光）処理機能も有する。４８はフラッシュ部であり、ＡＦ補助光の投光機能及びフラッシュ調光機能を有する。

なお、前述したように、撮像素子１４によって撮像された画像データを用いて画像処理回路２０により演算された演算結果に基づき、システム制御回路５０が露光（シャッタ）制御部４０、絞り制御部３４０、第２の測距制御部３４２に対し、ビデオＴＴＬ方式を用いた露出制御及びＡＦ（オートフォーカス）制御を行うことが可能である。

また、第１の測距制御部４２による測定結果と、撮像素子１４によって撮像された画像データを画像処理回路２０によって演算した演算結果とを用いて、ＡＦ（オートフォーカス）制御を行うようにしてもよい。さらに、測光制御部４６による測定結果と、撮像素子１４によって撮像された画像データを画像処理回路２０によって演算した演算結果とを用いて露出制御を行うようにしてもよい。

５０は画像処理装置１００全体を制御するシステム制御回路であり、周知のＣＰＵなどを内蔵する。５２はシステム制御回路５０の動作用の定数、変数、プログラムなどを記憶する第２のメモリである。

５４はシステム制御回路５０でのプログラムの実行に応じて、文字、画像、音声などで動作状態やメッセージなどを表示する液晶表示装置、スピーカなどを有する表示部であり、画像処理装置１００の操作部７０近辺の視認し易い単数または複数箇所に設置されている。表示部５４は、ＬＣＤ、ＬＥＤ、発音素子などの組合せにより構成されている。また、表示部５４の一部の機能は光学ファインダ１０４内に設けられている。

表示部５４の表示内容のうち、ＬＣＤなどに表示するものとしては、シングルショット／連写撮影表示、セルフタイマ表示、圧縮率表示、記録画素数表示、記録枚数表示、残撮影可能枚数表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補正表示、フラッシュ表示、赤目緩和表示、マクロ撮影表示、ブザー設定表示、時計用電池残量表示、電池残量表示、エラー表示、複数桁の数字による情報表示、第１の記録媒体２００及び第２の記録媒体２１０の着脱状態表示、レンズユニット３００の着脱状態表示、通信Ｉ／Ｆ動作表示、日付・時刻表示、外部コンピュータとの接続状態を示す表示などがある。

また、表示部５４に表示される表示内容のうち、光学ファインダ１０４内に表示するものとしては、合焦表示、撮影準備完了表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、フラッシュ充電完了表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補正表示、記録媒体書き込み動作表示などがある。

さらに、表示部５４に表示される表示内容のうち、ＬＥＤ等に表示するものとしては、例えば、合焦表示、撮影準備完了表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、フラッシュ充電完了表示、記録媒体書き込み動作表示、マクロ撮影設定通知表示、二次電池充電表示などがある。

また、表示部５４に表示される表示内容のうち、ランプ等に表示するものとしては、例えば、セルフタイマ通知ランプ等がある。このセルフタイマ通知ランプはＡＦ補助光と共用してもよい。

５６は後述するプログラムなどが格納された電気的に消去・記録可能な不揮発性メモリであり、この不揮発性メモリ５６にはＥＥＰＲＯＭなどが用いられる。この不揮発性メモリ５６には、各種パラメータやＩＳＯ（International Organization for Standardization）感度などの設定値、設定モード、及び欠陥画素の位置とレベルのデータが格納される。

この欠陥画素の位置とレベルのデータは、生産工程において、調整時または検査時に作成されて書き込まれる。この欠陥画素の位置とレベルのデータの作成方法としては、例えばダーク撮影を行って得られた画像の所定レベル以上の出力を持つ画素を抽出することによりデータとする方法等が考えられる。

６０、６２、６４、６６、６８及び７０はシステム制御回路５０の各種動作指示を入力するための操作材等であり、スイッチ、ダイヤル、タッチパネル、視線検知によるポインティング、音声認識装置などの単数または複数の組合せで構成されている。これら操作部材等の詳細を以下に示す。

６０はモードダイアルスイッチであり、自動撮影モード、プログラム撮影モード、シャッタ速度優先撮影モード、絞り優先撮影モード、マニュアル撮影モード、焦点深度優先（デプス）撮影モード、ポートレート撮影モード、風景撮影モード、接写撮影モード、スポーツ撮影モード、夜景撮影モード、パノラマ撮影モードなどの各機能撮影モードを切り替えて設定することが可能である。

６２は第１のシャッタスイッチ（ＳＷ１）であり、シャッタボタン（図示せず）の操作途中でＯＮとなり、ＡＦ（オートフォーカス）処理、ＡＥ（自動露出）処理、ＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理、ＥＦ（フラッシュ調光）処理などの動作開始を指示する。

６４は第２のシャッタスイッチ（ＳＷ２）であり、シャッタボタン（図示せず）の操作完了でＯＮとなる。この第２のシャッタスイッチ（ＳＷ２）６４は、撮像素子１４から読み出した信号をＡ／Ｄ変換器１６、メモリ制御回路２２を介して第１のメモリ３０に画像データを書き込む露光処理、画像処理回路２０やメモリ制御回路２２での演算を用いた現像処理、第１のメモリ３０から画像データを読み出し、圧縮・伸長回路３２で圧縮を行い、記録媒体２００、２１０に画像データを書き込む記録処理という一連の処理の動作開始を指示する。

６６は再生スイッチであり、撮影モード状態で撮影した画像を第１のメモリ３０または記録媒体２００、２１０から読み出して画像表示部２８に表示する再生動作の開始を指示する。

６８は単写／連写スイッチであり、第２のシャッタスイッチ６４を押した場合、１コマの撮影を行って待機状態とする単写モードと、第２のシャッタスイッチ６４を押している間、連続して撮影を行い続ける連写モードとを設定することが可能である。

６９はＩＳＯ感度設定スイッチであり、撮像素子１４または画像処理回路２０におけるゲインの設定を変更することによりＩＳＯ感度を設定することが可能である。

７０は各種ボタンやタッチパネルなどからなる操作部であり、メニューボタン、セットボタン、マクロボタン、マルチ画面再生改ページボタン、フラッシュ設定ボタン、単写／連写／セルフタイマ切替ボタン、メニュー移動＋（プラス）ボタン、メニュー移動−（マイナス）ボタン、再生画像移動＋（プラス）ボタン、再生画像−（マイナス）ボタン、撮影画質選択ボタン、露出補正ボタン、日付／時間設定ボタン、パノラマモード等の撮影及び再生を実行する際に各種機能の選択及び切り替えを設定する選択／切り替えボタン、パノラマモード等の撮影及び再生を実行する際に各種機能の決定及び実行を設定する決定／実行ボタン、画像表示部２８のＯＮ／ＯＦＦを設定する画像表示ＯＮ／ＯＦＦスイッチ、撮影直後に撮影した画像データを自動再生するクイックレビュー機能を設定するクイックレビューＯＮ／ＯＦＦスイッチ、ＪＰＥＧ圧縮の圧縮率を選択するため、または撮像素子１４の信号をそのままディジタル化して第１及び第２の記録媒体２００、２１０に記録するＣＣＤＲＡＷモードを選択するためのスイッチである圧縮モードスイッチ、再生モード、マルチ画面再生・消去モード、ＰＣ接続モード等の各機能モードを設定可能な再生スイッチ、第１のシャッタスイッチを押した際にオートフォーカス動作を開始し、一旦合焦した場合、その合焦状態を保ち続けるワンショットＡＦモードと第１のシャッタスイッチを押している間、連続してオートフォーカス動作を続けるサーボＡＦモードとを設定可能なＡＦモード設定スイッチなどがある。

また、前記プラスボタン及びマイナスボタンの各機能は、回転ダイアルスイッチを備えることによって、より軽快に数値や機能を選択することが可能となる。

７２は電源スイッチであり、画像処理装置１００の電源オン、電源オフの各モードを切り替え設定が可能である。また、画像処理装置１００に接続されたレンズユニット３００、外部ストロボ、第１及び第２の記録媒体２００、２１０等の各種付属装置の電源オン、電源オフの設定も合わせて切り替え設定が可能である。

８０は電源制御部であり、電池検出回路、ＤＣ−ＤＣコンバータ、通電するブロックを切り替えるスイッチ回路などから構成されており、電池の装着の有無、電池の種類、電池残量の検出を行い、その検出結果及びシステム制御回路５０の指示に基づいてＤＣ−ＤＣコンバータを制御し、必要な電圧を必要な期間、記録媒体２００、２１０を含む各部に供給する。

８２及び８４はそれぞれ第１の内側コネクタ及び第１の外側コネクタであり、８６はアルカリ電池やリチウム電池などの一次電池、ＮｉＣｄ電池、ＮｉＭＨ電池、Ｌｉ電池などの二次電池、ＡＣアダプタなどからなる電源部である。

９０はメモリカードやハードディスク等の第１の記録媒体２００との第１のインターフェースであり、９４はメモリカードやハードディスク等の第２の記録媒体２１０との第２のインターフェースである。

９２及び９６はメモリカードやハードディスクなどの第１及び第２の記録媒体２００、２１０との接続を行う第２の内側コネクタ及び第３の内側コネクタであり、９８は第２及び第３の内側コネクタ９２、９６に第１及び第２の記録媒体２００、２１０が装着されているか否かを検知する記録媒体着脱検知部である。

なお、本実施の形態では、記録媒体を取り付けるインターフェース及びコネクタが２系統装備されているが、記録媒体を取り付けるインターフェース及びコネクタは単数または任意の系統数だけ装備されていてもよい。また、異なる規格のインターフェース及びコネクタとして、ＰＣＭＣＩＡカードやＣＦ（コンパクトフラッシュ（登録商標））カードなどの規格に準拠したものを用いてもよい。

さらに、第１及び第２のインターフェース９０、９４、第２及び第３のコネクタ９２、９６をＰＣＭＣＩＡカードやＣＦ（コンパクトフラッシュ（登録商標））カードなどの規格に準拠したものを用いて構成した場合、ＬＡＮカード、モデムカード、ＵＳＢカード、ＩＥＥＥ１３９４カード、Ｐ１２８４カード、ＳＣＳＩカード、ＰＨＳなどの通信カードなどの各種通信カードを接続することより、他のコンピュータやプリンタなどの周辺機器との間で画像データや画像データに付属した管理情報を相互に転送することが可能である。

１０４は光学ファインダであり、撮影レンズ３１０に入射した光線を、一眼レフ方式によって、絞り３１２、レンズマウント３０６、１０６、第１のミラー１３０、第２のミラー１３２を介して導き、光学像として結像させて表示することが可能である。これにより、画像表示部２８による電子ファインダ機能を使用することなく、光学ファインダ１０４だけを用いて撮影を行うことが可能である。また、光学ファインダ１０４内には、表示部５４の一部の機能、例えば、合焦表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補正表示などが設けられている。

１１０は通信部であり、ＲＳ２３２Ｃ、ＵＳＢ、ＩＥＥＥ１３９４、Ｐ１２８４、ＳＣＳＩ、モデム、ＬＡＮ、無線通信などの各種通信機能を有する。１１２は通信部１１０により画像処理装置１００を他の機器と接続するコネクタ、もしくは無線通信を行う場合のアンテナである。

１２０はレンズマウント１０６内で画像処理装置１００をレンズユニット３００と接続するための第３のインターフェースである。１２２は画像処理装置１００をレンズユニット３００と電気的に接続する第４の内側コネクタである。なお、本実施の形態においては、レンズマウント１０６及び／または第４の内側コネクタ１２２にレンズユニット３００が装着されているか否かを検知するレンズ着脱検知部（図示せず）を有している。

第４の内側コネクタ１２２は、画像処理装置１００とレンズユニット３００との間で制御信号、状態信号、データ信号などを伝え合うと共に、各種電圧の電流を供給する機能も備えている。また、第４の内側コネクタ１２２は電気通信だけでなく、光通信、音声通信などを伝達する構成としてもよい。

１３０、１３２はそれぞれ第１及び第２のミラーであり、撮影レンズ３１０に入射した光線を、一眼レフ方式によって光学ファインダ１０４に導く。第２のミラー１３２はクイックリターンミラーの構成にしてもハーフミラーの構成にしてもどちらでもよい。

２００はメモリカードやハードディスクなどの第１の記録媒体である。第１の記録媒体２００は、半導体メモリや磁気ディスクなどから構成される第１の記録部２０２、画像処理装置１００との第４のインターフェース２０４、及び画像処理装置１００との接続を行う第２の外側コネクタ２０６とを有している。

２１０は、第１の記録媒体２００と同様、メモリカードやハードディスク等の第２の記録媒体である。第２の記録媒体２１０は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される第２の記録部２１２、画像処理装置１００との第５のインターフェース２１４、及び画像処理装置１００との接続を行う第３の外側コネクタ２１６とを有している。

３００は交換レンズタイプのレンズユニットである。３０６はレンズユニット３００を画像処理装置１００と機械的に結合する外側レンズマウントである。外側レンズマウント３０６内には、レンズユニット３００を画像処理装置１００と電気的に接続する各種機能が含まれている。

３１０は撮影レンズであり、３１２は絞りである。３２０は外側レンズマウント３０６内でレンズユニット３００を画像処理装置１００と接続するための第６のインターフェースである。３２２はレンズユニット３００を画像処理装置１００と電気的に接続する第４の外側コネクタである。

第４の外側コネクタ３２２は画像処理装置１００とレンズユニット３００との間で制御信号、状態信号、データ信号などを伝え合うとともに、各種電流が供給され、または電流を供給する機能を備えている。また、第４の外側コネクタ３２２は電気信号だけでなく、光信号、音声信号などを伝達する構成としてもよい。

３４０は測光制御部４６からの測光情報に基づいて、シャッタ１２を制御するシャッタ制御部４０と連携しながら、絞り３１２を制御する絞り制御部である。３４２は撮影レンズ３１０のフォーカシングを制御する第２の測距制御部である。３４４は撮影レンズ３１０のズーミングを制御するズーム制御部である。

３５０はレンズユニット３００全体を制御するレンズシステム制御回路である。レンズシステム制御回路３５０は、動作用の定数、変数、プログラムなどを記憶するメモリやレンズユニット３００固有の番号などの識別情報、管理情報、開放絞り値や最小絞り値、焦点距離等の機能情報、現在や過去の各設定値などを保持する不揮発メモリの機能も備えている。

前記ブロック構成を有する電子カメラの動作について説明する。
図２、図３及び図４は、本実施の形態における画像処理装置１００の撮影動作処理手順の一例を示すフローチャートである。この処理プログラムは不揮発性メモリ５６などの記憶媒体に格納されており、第２のメモリ５２にロードされてシステム制御回路５０内のＣＰＵによって実行される。

図２において、電池交換などの電源投入がなされると、システム制御回路５０により、フラグや制御変数等を初期化し、画像処理装置１００の各部に対して必要な所定の初期設定を行う（ステップＳ１０１）。次に、システム制御部５０により、電源スイッチ７２の設定位置を判別し、電源スイッチ７２が電源ＯＦＦに設定されているか否かを判別する（ステップＳ１０２）。

この判別の結果、電源スイッチ７２が電源ＯＦＦに設定されている場合は、各表示部の表示を終了状態に変更し、フラグや制御変数などを含む必要なパラメータや設定値、設定モードを不揮発性メモリ５６に記録し、電源制御部８０により、画像表示部２８を含む画像処理装置１００各部の不要な電源を遮断する等の所定の終了処理（ステップＳ１０３）を行う。そして、全ての撮像動作処理を終了するか否かを判別する（ステップＳ１１０）。この判別の結果、全ての撮像動作処理を終了しない場合は、ステップＳ１０２の処理に戻る。一方、ステップＳ１１０の判別の結果、全ての撮像動作処理を終了する場合は、そのまま処理を終了する。

一方、ステップＳ１０２の判別の結果、電源スイッチ７２が電源ＯＮに設定されていた場合は、システム制御回路５０により、電源制御部８０で制御される電池などの電源の残容量や動作状況が画像処理装置１００の動作に問題があるか否かを判別する（ステップＳ１０４）。この判別の結果、問題があると判別した場合は、表示部５４に画像の表示や音声の出力により所定の警告（ステップＳ１０５）を行った後、ステップＳ１０２の処理に戻る。

一方、ステップＳ１０４の判別の結果、電源に問題がないと判別した場合は、システム制御回路５０により、モードダイアルスイッチ６０の設定位置を判断し、モードダイアルスイッチ６０が撮影モードに設定されているかその他のモードに設定されているかを判別する（ステップＳ１０６）。この判別の結果、モードダイアルスイッチ６０がその他のモードに設定されている場合は、システム制御回路５０により、選択されたモードに応じた処理を実行し（ステップＳ１０７）、実行後にステップＳ１０２の処理に戻る。

一方、ステップＳ１０６の判断の結果、モードダイアルスイッチ６０が撮影モードに設定されている場合は、第１及び第２の記録媒体２００、２１０が装着されているか否かの判断、第１及び第２の記録媒体２００、２１０に記録された画像データの管理情報の取得、第１及び第２の記録媒体２００、２１０の動作状態が画像処理装置１００の動作、特に第１及び第２の記録媒体２００、２１０に対する画像データの記録再生動作に問題があるか否かを判別する（ステップＳ１０８）。この判別の結果、問題があると判別した場合は、表示部５４に画像の表示や音声の出力により所定の警告（ステップＳ１０５）を行った後、ステップＳ１０２の処理に戻る。

一方、ステップＳ１０８の判別の結果、問題がないと判別した場合は、システム制御回路５０により、表示部５４を用いて画像や音声により画像処理装置１００の各種設定状態の表示を行う（ステップＳ１０９）。ここで、画像表示部２８の画像表示スイッチがＯＮである場合は画像表示部２８を用いて画像や音声により画像処理装置１００の各種設定状態を表示するようにしてもよい。

次に、図３において、第１のシャッタスイッチ６２（ＳＷ１）が押されているか否かを判別する（ステップＳ１１３）。この判別の結果、第１のシャッタスイッチ６２が押されていない場合は、ステップＳ１０２の処理に戻る。一方、ステップＳ１１３の判別の結果、第１のシャッタスイッチ６２が押されている場合は、システム制御回路５０により、測距処理を行って撮影レンズ３１０の焦点を被写体に合わせ、測光処理を行って絞り値及びシャッタ速度を決定する測距・測光処理を行う（ステップＳ１１４）。また、測光処理では、必要であればフラッシュの設定を行う。

次に、第２のシャッタスイッチ６４（ＳＷ２）が押されているか否かを判別する（ステップＳ１１５）。この判別の結果、第２のシャッタスイッチ６４が押されていない場合は、第１のシャッタスイッチ６２が離されたか否かを判別する（ステップＳ１１６）。この判別の結果、第１のシャッタスイッチ６２が離されていなければ、ステップＳ１１５の処理へ戻る。

一方、ステップＳ１１６の判別の結果、第１のシャッタスイッチ６２が離された場合は、ステップＳ１０２の処理に移行する。また、ステップＳ１１５の判別の結果、第２のシャッタスイッチ６４が押された場合は、ステップＳ１２６へ進む。

次に、図４において、システム制御回路５０により、撮影した画像データの記憶可能な画像記憶バッファ領域が第１のメモリ３０にあるか否かを判別する（ステップＳ１２６）。この判別の結果、第１のメモリ３０の画像記憶バッファ領域内に新たな画像データの記憶可能な領域がないと判別した場合は、表示部５４に画像の表示や音声の出力により所定の警告（ステップＳ１２７）を行った後、ステップＳ１０２の処理に戻る。

例えば、第１のメモリ３０の画像記憶バッファ領域内に記憶可能な最大枚数の連写撮影を行った直後であり、第１のメモリ３０から読み出して記録媒体２００、２１０に書き込むべき最初の画像がまだ記録媒体２００、２１０に未記録な状態であり、まだ１枚の空き領域も第１のメモリ３０の画像記憶バッファ領域上に確保できない状態である場合などである。

なお、撮影した画像データを圧縮処理してから第１のメモリ３０の画像記憶バッファ領域に記憶する場合は、圧縮した後の画像データ量が圧縮モードの設定に応じて異なることを考慮して、記憶可能な領域が第１のメモリ３０の画像記憶バッファ領域上にあるか否かをステップＳ１２６の処理で判断することになる。

一方、ステップＳ１２６で第１のメモリ３０に撮影した画像データの記憶可能な画像記憶バッファ領域があると判別した場合は、システム制御回路５０により、撮像して所定時間蓄積した撮像信号を撮像素子１４から読み出し、Ａ／Ｄ変換器１６、画像処理回路２０及びメモリ制御回路２２を介して、またはＡ／Ｄ変換器１６から直接、メモリ制御回路２２を介して、第１のメモリ３０の所定領域に撮影した画像データを書き込む撮影処理を実行する（ステップＳ１２８）。この撮影処理の詳細については、後述する。

ステップＳ１２８の撮影処理を終えると、システム制御回路５０により、その内部メモリまたはメモリ５２に記憶されているキズ補正テーブルのデータを使って欠陥画素補正を行う（ステップＳ１２９）。欠陥画素補正処理の詳細についても後述する。

次に、現像処理（ステップＳ１３０）に移行する。具体的には、システム制御回路５０により、第１のメモリ３０の所定領域に書き込まれた画像データの一部をメモリ制御回路２２を介して読み出して現像処理を行うために必要なＷＢ（ホワイトバランス）積分演算処理、ＯＢ（オプティカルブラック）積分演算処理を行い、演算結果をシステム制御回路５０の内部メモリまたはメモリ５２に記憶する。

そして、システム制御回路５０により、メモリ制御回路２２、必要に応じて画像処理回路２０を用いて、第１のメモリ３０の所定領域に書き込まれた撮影画像データを読み出し、システム制御回路５０の内部メモリまたはメモリ５２に記憶した演算結果を用いて、ＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理、ガンマ変換処理、色変換処理を含む各種現像処理を行う（ステップＳ１３０）。

次に、システム制御回路５０により、第１のメモリ３０の所定領域に書き込まれた画像データを読み出して、設定されたモードに応じた画像圧縮処理を圧縮・伸長回路３２により行い、第１のメモリ３０の画像記憶バッファ領域の空き画像部分に、撮影して一連の処理を終えた画像データの書き込みを行う（ステップＳ１３１）。

そして、システム制御回路５０により、第１のメモリ３０の画像記憶バッファ領域に記憶された画像データを読み出し、インターフェース９０、９４、コネクタ９２、９６を介して、メモリカードやコンパクトフラッシュ（登録商標）カード等の第１及び第２の記録媒体２００、２１０に読み出した画像データを書き込む記録処理を開始する（ステップＳ１３２）。

この記録開始処理は、第１のメモリ３０の画像記憶バッファ領域の空き画像部分に、撮影して一連の処理を終えた画像データの書き込みが新たに行われる度に、その画像データに対して実行される。

なお、第１及び第２の記録媒体２００、２１０に画像データの書き込みを行っている間、書き込み動作中であることを示すために、表示部５４に例えばＬＥＤを点滅させる等の記録媒体書き込み動作表示を行う。

次に、システム制御回路５０により、第１のシャッタスイッチ６２（ＳＷ１）が押されているか否かを判別する（ステップＳ１３３）。この判別の結果、第１のシャッタスイッチ６２が離された状態である場合は、ステップＳ１０２の処理へ戻る。

一方、ステップＳ１３３の判断の結果、第１のシャッタスイッチ６２が押された状態である場合は、単写が設定されているか否かを判別する（ステップＳ１３４）。この判別の結果、連写と判別したならば、ステップＳ１１５の処理へ戻り、次の撮影に移行する。また、ステップＳ１３４の判別の結果、単写と判別したならば、ステップＳ１３３の処理に戻り、第１のシャッタスイッチ６２が離されるまで現在の処理を繰り返す。以上により、撮影に関する一連の処理が終了する。

図５は、図３のステップＳ１１４における測距・測光処理手順の一例を示すフローチャートである。測距・測光処理では、システム制御回路５０と、絞り制御部３４０または第２の測距制御部３４２との間の各種信号のやり取りは、第３のインターフェース１２０、第４の内側コネクタ１２２、第４の外側コネクタ３２２、第６のインターフェース３２０及びレンズシステム制御回路３５０を介して行われる。

図５において、システム制御回路５０により、撮像素子１４、第１の測距制御部４２及び第２の測距制御部３４２を用いて、ＡＦ（オートフォーカス）処理を開始する（ステップＳ２０１）。

次に、システム制御回路５０により、撮影レンズ３１０に入射した光線を、絞り３１２、外側レンズマウント３０６、内側レンズマウント１０６、第１のミラー１３０、測距用サブミラー（図示せず）を介して、第１の測距制御部４２に入射させることにより、測距制御部３４２を用いて撮影レンズ３１０を駆動しながら、測距制御部４２を用いて合焦状態を検出するＡＦ制御を実行する（ステップＳ２０２）。

次に、光学像として結像された画像の合焦状態を判断する（ステップＳ２０３）。この判断の結果、合焦状態でないと判断した場合は、ステップＳ２０２へ戻る。

また、ステップＳ２０３の判断の結果、測距（ＡＦ）が合焦と判断した場合は、システム制御回路５０により、撮影画面内の複数の測距点の中から合焦した測距点を決定し、決定した測距点データとともに測距データ及び／または設定パラメータをシステム制御回路５０の内部メモリまたは第２のメモリ５２に記憶する（ステップＳ２０４）。

次に、システム制御回路５０により、測光制御部４６を用いてＡＥ（自動露出）処理を開始する（ステップＳ２０５）。そして、システム制御回路５０により、撮影レンズ３１０に入射した光線を、絞り３１２、外側レンズマウント３０６、内側レンズマウント１０６、第１のミラー１３０、第２のミラー１３２及び測光用レンズ（図示せず）を介して、測光制御部４６に入射させるように制御させることにより、光学像として結像された画像の露出状態を測定し、露光（シャッタ）制御部４０を用いて測光処理を行う（ステップＳ２０６）。

ステップＳ２０６の測光処理で検出した露出（ＡＥ）結果と、モードダイアルスイッチ６０によって設定された撮影モードとに応じて、システム制御回路５０では絞り値（Ａｖ値）及びシャッタ速度（Ｔｖ値）が決定される。ここで、決定されたシャッタ速度（Ｔｖ値）に応じて、システム制御回路５０は、撮像素子１４の電荷蓄積時間を決定する。

次に、露出（ＡＥ）が適正であるか否かを判断する（ステップＳ２０７）。この判断の結果、露出（ＡＥ）が適正でないと判断した場合は、ステップＳ２０６へ戻る。また、ステップＳ２０７の判断の結果、露出（ＡＥ）が適正であると判断した場合は、ステップＳ２０６の測光処理で得られた測定データから、システム制御回路５０により、フラッシュが必要であるか否かを判別する（ステップＳ２０８）。

この判別の結果、フラッシュが必要でない場合は、そのまま測距・測光処理は終了する。一方、ステップＳ２０８の判別の結果、フラッシュが必要である場合は、フラッシュフラグをセットし、充電が完了するまでフラッシュ部４８を充電する（ステップＳ２０９）。

次に、フラッシュ部４８の充電が完了したか否かを判断する（ステップＳ２１０）。この判断の結果、完了していなかったら、ステップＳ２０９へ戻り、充電が完了するまで繰り返す。また、ステップＳ２１０の判断の結果、充電が完了したならば、本処理を終了してメインの処理に復帰する。

図６は、図４のステップＳ１２８における撮影処理手順の一例を示すフローチャートである。この撮影処理では、システム制御回路５０と、絞り制御部３４０または第２の測距制御部３４２との間の各種信号のやり取りは、第３のインターフェース１２０、第４の内側コネクタ１２２、第４の外側コネクタ３２２、第６のインターフェース３２０及びレンズシステム制御回路３５０を介して行われる。

図６において、処理が開始されると、システム制御回路５０により、第１のミラー１３０をミラー駆動部（図示せず）によってミラーアップ位置に移動させる（ステップＳ３０１）。次に、システム制御回路５０の内部メモリまたは第２のメモリ５２に記憶された測光データに従って、絞り制御部３４０によって絞り３１２を所定の絞り値まで駆動する（ステップＳ３０２）。

次に、システム制御回路５０により、撮像素子１４の電荷クリア動作を行い（ステップＳ３０３）、撮像素子１４の電荷蓄積を開始する（ステップＳ３０４）。そして、シャッタ制御部４０からの制御によってシャッタ１２を開け（ステップＳ３０５）、撮像素子１４の露光を開始する（ステップＳ３０６）。

次に、フラッシュフラグによりフラッシュ部４８が必要であるか否かを判別する（ステップＳ３０７）。この判別の結果、必要である場合は、フラッシュ部４８を発光させて（ステップＳ３０８）、ステップＳ３０９へ進む。一方、ステップＳ３０７の判別の結果、必要でない場合は、ステップＳ３０９へジャンプする。

次に、システム制御回路５０により、測光データに従って撮像素子１４の露光が終了したか否かを判断する（ステップＳ３０９）。この判断の結果、露光が終了していなければ終了するまで待つ。また、ステップＳ３０９の判断の結果、露光が終了したならば、シャッタ制御部４０からの制御によってシャッタ１２を閉じ（ステップＳ３１０）、撮像素子１４の露光を終了する。

次に、システム制御回路５０により、絞り制御部３４０によって絞り３１２を開放の絞り値まで駆動し（ステップＳ３１１）、第１のミラー１３０をミラー駆動部（図示せず）によってミラーダウン位置に移動させる（ステップＳ３１２）。

そして、設定した電荷蓄積時間が経過したか否かを判別する（ステップＳ３１３）。この判断の結果、設定した電荷蓄積時間が経過していなければ経過するまで待つ。また、ステップＳ３１３の判別の結果、設定した電荷蓄積時間が経過した場合は、システム制御回路５０により、撮像素子１４の電荷蓄積を終了する（ステップＳ３１４）。

次に、撮像素子１４から電荷信号を読み出し、Ａ／Ｄ変換器１６、画像処理回路２０及びメモリ制御回路２２を介して、またはＡ／Ｄ変換器１６から直接、メモリ制御回路２２を介して第１のメモリ３０の所定領域に撮影画像データを書き込む（ステップＳ３１５）。そして、一連の処理を終了すると、本処理を終了してメインの処理に復帰する。

図７は、図４のステップＳ１２９におけるキズ補正処理手順の一例を示すフローチャートである。
図７において、まず画像処理装置１００のシステム制御回路５０により、キズ補正処理を行う際に使用するためのキズ補正データの読み出しを行う（ステップＳ４０１）。

この場合、キズ補正データは不揮発性メモリ５６またはシステム制御回路５０の内蔵メモリに保存されており、撮影後のキズ補正処理において実際に使用するキズ補正データを読み出す。ここで、キズ補正データは事前に検出された欠陥画素の種類別に応じて選択された欠陥画素のアドレスに関する情報を保持するデータである。

図８を用いて、前記キズ補正データ読み出しシーケンスについて詳細に説明する。
図８は、図７のステップＳ４０１におけるキズ補正のための補正データ読み出し処理手順の一例を示すフローチャートである。

撮像素子１４は、その出荷時に、所定の環境温度、所定の電荷蓄積時間に得られた画像データにより、各種のキズ画素（欠陥画素）が抽出される。具体的には、周辺画素のメディアン値（中央値）を基準にして設定された所定レベルの以上の出力がある画素を欠陥として検出する。これらのキズ画素は欠陥画素のアドレスが隣接して存在するか否かを検出し、Ｒ、Ｇ、Ｂごとに分離され、かつ種類別のテーブルに分けられる。そして、アドレス、キズレベルが記載された出荷時データをもとに、本画像処理装置１００内のメモリに格納するデータを成形する。この処理は画像処理装置１００の外部で行われる。

キズ画素の種類は、ゴミなどの付着により発生するもの、画素の感度が低いために発生するもの、暗電流の発生が多いために発生するもの、画素近傍回路のリークや微小な発光現象によって発生するもの、画素が光応答しないものなどいくつかの発生原因別に分類される。そして、環境温度やシャッタ速度などの使用条件別のキズ補正テーブルに分類される。本実施の形態では、シャッタ速度に依存しないキズのテーブルを１、シャッタ速度に依存してキズの大きさが変わるタイプのキズのテーブルを２としている。

図８のキズ補正データ読み出しシーケンスを、前述した説明に対応させてステップ順に説明すると、まず、システム制御回路５０、ＩＳＯ感度の設定値（例えば１００、２００、４００、８００）を確認する（ステップＳ５０１）。次に、シャッタ速度（Ｔｖ）を確認し（ステップＳ５０２）、キズ補正を行うテーブル設定情報（TABLE）に１を入れる（ステップＳ５０３）。

次に、シャッタ速度が１秒を超えるか否かを判断する。この判断の結果、１秒を超える場合は、キズ補正を行うTABLEに更に２を入れる（ステップ５０５）。また、ステップＳ５０４の判断の結果、１秒を超えない場合は、ステップＳ５０６へジャンプする。

次に、キズ補正データ読み出しを行う（ステップＳ５０６）。ステップＳ５０６ではテーブル設定情報（TABLE）に入力された設定値のテーブルの読み出しを行う。TABLEに１が入っていればキズ補正テーブル１のアドレス情報が読み出され、TABLEに１、２が入っていればキズ補正テーブル１と２のアドレス情報が読み出される。

次に、シャッタ速度が８秒を超えたか否かを判断する（ステップＳ５０７）。この判断の結果、シャッタ速度が８秒を超えない場合はキズ補正を行う大きさを設定するAREAに１を入れ（ステップＳ５０８）、そしてステップＳ５１４へ移行する。

一方、ステップＳ５０７の判断の結果、シャッタ速度が８秒を超えた場合はステップＳ５０９へ進み、シャッタ速度が１５秒を超えたか否かを判断する。この判断の結果、シャッタ速度が１５秒を超えない場合は、キズ補正を行う大きさを設定するAREAに２を入れ（ステップＳ５１０）、ステップＳ５１４へ移行する。

一方、ステップＳ５０９の判断の結果、シャッタ速度が１５秒を超えた場合はステップＳ５１１へ進み、シャッタ速度が３０秒を超えたか否かを判断する。この判断の結果、３０秒を超えない場合は、キズ補正を行う大きさを設定するAREAに３を入れ（ステップＳ５１２）、ステップＳ５１４へ移行する。

一方、ステップＳ５１１の判断の結果、シャッタ速度が３０秒を超えた場合はステップＳ５１３へ進み、キズ補正を行う大きさを設定するAREAに４を入れ（ステップＳ５１３）、ステップ５１４へ移行する。

ステップＳ５１４では、キズ補正テーブル（TABLE２）のキズアドレスに対してAREA別のキズ補正の大きさを設定し、キズ補正範囲設定を行う。その後、本処理を終了してメイン処理に復帰する。

ここで、ステップＳ５１４で行うキズ補正範囲設定について説明する。
AREA＝１の場合は、キズ補正テーブル２のキズアドレスに対応する画素を中心に１×１の画素の大きさで、キズ補正を行う範囲をキズ補正アドレスとして設定する。

AREA＝２の場合は、キズ補正テーブル２のキズアドレスに対応する画素を中心に３×３の画素の大きさで、キズ補正を行う範囲をキズ補正アドレスとして設定する。また、AREA＝３の場合は、同じくキズ補正テーブル２のキズアドレスに対応する画素を中心に５×５の大きさで、キズ補正を行う範囲をキズ補正アドレスとして設定する。さらに、AREA＝４の場合は、同じくキズ補正テーブル２のキズアドレスに対応する画素を中心に７×７の大きさで、キズ補正を行う範囲をキズ補正アドレスとして設定する。

図７の説明に戻ると、次に、システム制御回路５０により、使用するキズ補正データを指定する（ステップＳ４０２）。そして、撮像素子１４の白キズを補償するために、前記ステップＳ４０２で指定したキズ補正データに記載された白キズ画素のアドレスを示す情報を参照しながら、第１のメモリ３０の所定領域に書き込まれた撮影画像の対応する画素に対し、隣接する同色画素の撮影画像データを用いて点キズ補正処理を行う。

具体的にはまず、システム制御回路５０により、選択したキズ補正データの先頭から１画素分のキズアドレス情報と、ステップＳ５１４にて設定されたキズ補正アドレス情報とを読み出す（ステップＳ４０３）。このキズ補正アドレス情報を参照し、第１のメモリ３０に書き込まれた撮影画像における該当画素のアドレスを特定することが可能である。

次に、システム制御回路５０により、前記ステップＳ４０３でアドレスを特定した該当画素に隣接する同色画素の撮影画像データを読み出す（ステップＳ４０４）。次に、システム制御回路５０により、前記ステップＳ４０４で得られた隣接画素の値から、該当画素の補正量を算出する（ステップＳ４０５）。

続いて、システム制御回路５０により、前記ステップＳ４０５で算出した該当画素の補正量を、第１のメモリ３０における該当アドレスに書き込む（ステップＳ４０６）。これにより、該当画素の補正処理は完了する。

次に、システム制御回路５０により、指定したキズ補正データに記載されたキズ画素のキズ補正処理が全て完了したか否かを判断する（ステップＳ４０７）。この判断の結果、キズ画素の補正処理がいまだ完了していないと判断した場合は、前記ステップＳ４０３に戻り、キズ補正データに記載された次のキズアドレス情報を読み出し、前記と同様の処理を繰り返す。

一方、ステップＳ４０７の判断の結果、指定したキズ補正データに記載された全てのキズ補正処理が完了したと判断した場合は、システム制御回路５０は、次の補正すべきデータがあるか否かを判断する（ステップＳ４０８）。この判断の結果、次の補正すべきデータがあるならば、ステップＳ４０２へ戻り、次の補正すべきデータを指定し、前記と同様の処理を繰り返す。

一方、ステップＳ４０８の判断の結果、補正すべきデータがないならば、ステップＳ４０１で読み出された全てのキズ画素に対するキズ補正処理が全て終了し、キズ補正処理シーケンスを全て完了する。

図１０は、図９に示すキズをステップＳ５１４で設定されたキズ補正範囲設定に基づいてキズ補正を行い、キズ補正されている状態を示す図である。

以上説明したように本実施の形態によれば、蓄積時間によって欠陥の画素範囲が広がるようなキズが発生し、長時間蓄積でのキズ補正誤差が生じることによって画質が低下することを防ぎ、かつシャッタ速度や蓄積時間に合った必要最小限の欠陥画素補正が可能となった。

また、欠陥となるキズアドレスに対応する画素の単独での補正と、キズアドレスを中心とした所定範囲の画素のキズ補正を行う補正とを組み合わせたことによって、撮影条件に適応したキズ補正が可能となった。

（第２の実施の形態）
なお、第１の実施の形態では、シャッタ速度に応じてキズ補正を行う範囲の設定を変えているが、さらに温度に応じてキズ補正範囲の設定を変えても無論問題ない。

また、第１の実施の形態では、シャッタ速度が３０秒以上では同じキズ補正範囲を設定しているが、さらにシャッタ速度を伸ばし、キズ補正範囲を拡大しても問題ない。その際は、所定のシャッタ速度を超えた場合またはキズ補正範囲が所定範囲を超えた場合は、シャッタ速度と同一蓄積時間で遮光画像を撮影し、暗時の撮像素子出力で減算処理を実施しても勿論問題ない。

また、第１の実施の形態では、キズ補正範囲の設定が１×１、３×３、５×５、７×７の４段階となっているが、これに限るものではなく、キズ補正範囲の設定はこれに限定されるものではない。また、シャッタ速度や温度、ＩＳＯの分割を変え、キズ補正範囲の段階を増減しても勿論問題ない。

また、第１の実施の形態では、第１のミラー１３０をミラーアップ位置、ミラーダウン位置を移動して撮影動作を行う場合を示したが、第１のミラー１３０をハーフミラーの構成として、移動せずに撮影動作を行うようにしても勿論問題ない。

また、第１の実施の形態では、第１及び第２の記録媒体２００、２１０は、ＰＣＭＣＩＡカードやコンパクトフラッシュ（登録商標）等のメモリカード、ハードディスク等だけでなく、マイクロＤＡＴ、光磁気ディスク、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ等の光ディスク、ＤＶＤ等の相変化型光ディスク等で構成されていても勿論問題ない。さらには、第１及び第２の記録媒体２００、２１０がメモリカードとハードディスク等が一体となった複合媒体であっても勿論問題ない。この場合、複合媒体から一部が着脱自在な構成であっても勿論問題ない。

また、第１の実施の形態では、第１及び第２の記録媒体２００、２１０は画像処理装置１００と分離しており、任意に接続可能なものであるとしたが、いずれかまたは全ての記録媒体が画像処理装置１００に固定されたままであってもよい。また、画像処理装置１００に、第１及び第２の記録媒体２００、２１０が単数または複数の任意の個数接続可能な構成であっても勿論問題ない。

また、第１の実施の形態では、画像処理装置１００に第１及び第２の記録媒体２００、２１０を装着する構成として説明したが、記録媒体は単数または複数のいずれかの組み合わせの構成であっても勿論問題ない。

（本発明に係る他の実施の形態）
前述した本発明の実施の形態における撮像装置を構成する各手段、並びに撮像装置の制御方法の各ステップは、コンピュータのＲＡＭやＲＯＭなどに記憶されたプログラムが動作することによって実現できる。このプログラム及び前記プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体は本発明に含まれる。

また、本発明は、例えば、システム、装置、方法、プログラムもしくは記録媒体等としての実施の形態も可能であり、具体的には、複数の機器から構成されるシステムに適用してもよいし、また、一つの機器からなる装置に適用してもよい。

なお、本発明は、前述した実施の形態の機能を実現するソフトウェアのプログラム（実施の形態では図２〜８に示すフローチャートに対応したプログラム）を、システムまたは装置に直接、または遠隔から供給し、そのシステムまたは装置のコンピュータが前記供給されたプログラムコードを読み出して実行することによっても達成される場合を含む。

したがって、本発明の機能処理をコンピュータで実現するために、前記コンピュータにインストールされるプログラムコード自体も本発明を実現するものである。つまり、本発明は、本発明の機能処理を実現するためのコンピュータプログラム自体も含まれる。

その場合、プログラムの機能を有していれば、オブジェクトコード、インタプリタにより実行されるプログラム、ＯＳに供給するスクリプトデータ等の形態であってもよい。

プログラムを供給するための記録媒体としては、例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＭＯ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ、ＤＶＤ（ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ）などがある。

その他、プログラムの供給方法としては、クライアントコンピュータのブラウザを用いてインターネットのホームページに接続し、前記ホームページから本発明のコンピュータプログラムそのもの、もしくは圧縮され自動インストール機能を含むファイルをハードディスク等の記録媒体にダウンロードすることによっても供給できる。

また、本発明のプログラムを構成するプログラムコードを複数のファイルに分割し、それぞれのファイルを異なるホームページからダウンロードすることによっても実現可能である。つまり、本発明の機能処理をコンピュータで実現するためのプログラムファイルを複数のユーザに対してダウンロードさせるＷＷＷサーバも、本発明に含まれるものである。

また、本発明のプログラムを暗号化してＣＤ−ＲＯＭ等の記録媒体に格納してユーザに配布し、所定の条件をクリアしたユーザに対し、インターネットを介してホームページから暗号化を解く鍵情報をダウンロードさせ、その鍵情報を使用することにより暗号化されたプログラムを実行してコンピュータにインストールさせて実現することも可能である。

また、コンピュータが、読み出したプログラムを実行することによって、前述した実施の形態の機能が実現される他、そのプログラムの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳなどが、実際の処理の一部または全部を行い、その処理によっても前述した実施の形態の機能が実現され得る。

さらに、記録媒体から読み出されたプログラムが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれた後、そのプログラムの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によっても前述した実施の形態の機能が実現される。

本発明の実施の形態における電子カメラの構成例を示すブロック図である。 本発明の実施の形態における画像処理装置の撮影動作処理手順の一例を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態における画像処理装置の撮影動作処理手順の一例を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態における画像処理装置の撮影動作処理手順の一例を示すフローチャートである。 図３のステップＳ１１４における測距・測光処理手順の一例を示すフローチャートである。 図４のステップＳ１２８における撮影処理手順の一例を示すフローチャートである。 図４のステップＳ１２９におけるキズ補正処理手順の一例を示すフローチャートである。 図７のステップＳ４０１におけるキズ補正データ読み出し処理手順の一例を示すフローチャートである。 蓄積時間に応じて欠陥の画素範囲の広がりを示す図である。 図８のステップＳ５１４におけるキズ補正範囲の設定を示す図である。

符号の説明

１４ 撮像素子
４４ 温度計
５０ システム制御回路
５６ 不揮発性メモリ
６０ モードダイアルスイッチ
６２ 第１のシャッタスイッチ（ＳＷ１）
６４ 第２のシャッタスイッチ（ＳＷ２）
６９ ＩＳＯ感度設定スイッチ
１００ 画像処理装置

Claims (6)

1. 複数の画素から構成される撮像素子と、
   前記撮像素子の欠陥画素のアドレス情報を記憶しておく記憶手段と、
   前記アドレス情報に対応する画素を中心として設定した補正範囲の画素から出力される信号を補正する欠陥画素補正手段と、
   前記撮像素子の蓄積時間が長くなるほど前記補正範囲を広げるとともに、前記撮像素子の蓄積時間が所定時間以上である場合、または前記補正範囲が所定範囲に達した場合に前記補正範囲を固定するように制御する制御手段と、
   を有することを特徴とする撮像装置。
2. 複数の画素から構成される撮像素子と、
   前記撮像素子の欠陥画素のアドレス情報を記憶しておく記憶手段と、
   前記アドレス情報に対応する画素を中心として設定した補正範囲の画素から出力される信号を補正する欠陥画素補正手段と、
   シャッタ速度が遅くなるほど前記補正範囲を広げるとともに、前記シャッタ速度が所定速度以上である場合、または前記補正範囲が所定範囲に達した場合に前記補正範囲を固定するように制御する制御手段と、
   を有することを特徴とする撮像装置。
3. 複数の画素から構成される撮像素子と、
   前記撮像素子の欠陥画素のアドレス情報を記憶しておく記憶手段と、
   前記アドレス情報に対応する画素を中心として設定した補正範囲の画素から出力される信号を補正する欠陥画素補正手段と、
   撮影条件に応じて前記補正範囲の設定を変えるとともに、前記補正範囲が所定範囲を超えた場合に前記撮像素子の蓄積時間と同一時間だけ暗時に蓄積を行い、前記暗時に蓄積された撮像素子の出力で減算処理を行うように制御する制御手段と、
   を有することを特徴とする撮像装置。
4. 複数の画素から構成される撮像素子の欠陥画素のアドレス情報を記憶手段から読み出す工程と、
   前記アドレス情報に対応する画素を中心として設定した補正範囲の画素から出力される信号を補正する欠陥画素補正工程と、
   前記撮像素子の蓄積時間が長くなるほど前記補正範囲を広げるとともに、前記撮像素子の蓄積時間が所定時間以上である場合、または前記補正範囲が所定範囲に達した場合に前記補正範囲を固定するように制御する制御工程と、
   を有することを特徴とする画像データの補正方法。
5. 複数の画素から構成される撮像素子の欠陥画素のアドレス情報を記憶手段から読み出す工程と、
   前記アドレス情報に対応する画素を中心として設定した補正範囲の画素から出力される信号を補正する欠陥画素補正工程と、
   シャッタ速度が遅くなるほど前記補正範囲を広げるとともに、前記シャッタ速度が所定速度以上である場合、または前記補正範囲が所定範囲に達した場合に前記補正範囲を固定するように制御する制御工程と、
   を有することを特徴とする画像データの補正方法。
6. 複数の画素から構成される撮像素子の欠陥画素のアドレス情報を記憶手段から読み出す工程と、
   前記アドレス情報に対応する画素を中心として設定した補正範囲の画素から出力される信号を補正する欠陥画素補正工程と、
   撮影条件に応じて前記補正範囲の設定を変えるとともに、前記補正範囲が所定範囲を超えた場合に前記撮像素子の蓄積時間と同一時間だけ暗時に蓄積を行い、前記暗時に蓄積された撮像素子の出力で減算処理を行うように制御する制御工程と、
   を有することを特徴とする画像データの補正方法。

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