JP2003316599A - 集積回路 - Google Patents

集積回路

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JP2003316599A JP2003020435A JP2003020435A JP2003316599A JP 2003316599 A JP2003316599 A JP 2003316599A JP 2003020435 A JP2003020435 A JP 2003020435A JP 2003020435 A JP2003020435 A JP 2003020435A JP 2003316599 A JP2003316599 A JP 2003316599A
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和丈 松本
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 自身で誤動作を検出する機能を有する信頼性
の高い集積回路の実現を課題とする。 【解決手段】 集積回路内に同一処理動作を行う複数の
回路(A)11および回路(B)12と、この複数の回
路の処理結果の一致、不一致を判定するEXORゲート
13とを設け、このEXORゲート13出力が不一致の
“1”となったとき、回路(A)11または回路(B)
12のいづれかに処理誤りが発生したことを検出して対
応を行うことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、集積回路に関し、
特に冗長性を持たせることによって動作の信頼性を向上
した集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】すべての装置やシステムにとって長時間
に亙って誤りなく安定に動作することが望ましいことは
言うまでもでもないが、とくに人工衛星搭載機器や原子
炉装置などのように容易に近付けない場所や修理や復旧
に手間が掛かる場所に設けられた装置やシステム、医療
機器や航空機搭載機器などのようにその誤動作が重大な
結果や大きな損害を引き起こしかねない装置やシステム
にとってはその信頼性は重要な意味を持っている。例え
ば、人工衛星や高高度航空機などに搭載された機器では
宇宙線中性子の影響などが避けられない。この宇宙線に
よる影響で、「人工衛星搭載機器」、「航空機搭載機
器」の誤作動が発生する。この影響を受けながらも安定
に動作して信頼性を保つことは重要な課題である。
【0003】システム的には、予備の回路や予備の装置
を設けてシステムを二重化して冗長性を持たせておき、
誤動作や事故、故障等の発生時に切り替えるという対処
方法が、従来から信頼性を確保するために採られてきて
いる。
【0004】一方、装置やシステムの信頼性には、それ
を構成する個々の要素の信頼性がかかわってくることは
いうまでもなく、個々の要素の信頼性を向上すること
が、装置やシステム全体の信頼性を向上して、誤動作や
事故、故障の発生頻度を削減するためにも重要である。
【0005】電子回路の構成要素の一つである集積回路
においては、従来はその信頼性の向上を工程の管理と検
査方法の高精度化、集積回路の封止手段の改良、封止材
料の最適化によって図ってきた。しかし、このような方
法による信頼性の向上には一定の限界がある。また、雑
音などの外来の要因による誤動作は集積回路自身の品質
を向上しても防止することができないという問題があ
る。その上、素子自身に多重化による冗長性を持たせて
その信頼性を向上させるという考え方は、従来の集積回
路には採られていなかった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述のごとく、装置や
システムの信頼性を向上するためには、個々の要素の信
頼性の向上が欠かせない。集積回路においては、従来は
その信頼性を向上を工程の管理と検査方法の高精度化、
集積回路の封止手段の改良、封止材料の最適化によって
図ってきた。しかし、このような方法には限界があり、
雑音などの外来の要因による誤動作には対応することが
できないという問題があった。
【0007】本発明は、集積回路の回路構成に冗長性を
持たせることで、比較的簡単にこの問題を解決し、自身
で誤動作を検出する機能および誤りを訂正する機能を持
たせて信頼性を高めた集積回路の実現を課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を達成するた
め、請求項1の発明は、集積回路において、同一処理動
作を行う複数のデータ処理手段と、この複数のデータ処
理手段のそれぞれの処理結果の間の一致、不一致を判定
する判定手段とを具備し、この判定手段での処理結果間
の不一致判定により前記複数のデータ処理手段のいづれ
かで発生した処理誤りを検出することを特徴とする。
【0009】また、請求項2の発明は、前記複数のデー
タ処理手段相互間で同一処理動作を処理時刻をずらして
行わせるために入力データおよび/またはクロックを遅
延させる第1の遅延手段と、前記複数のデータ処理手段
の処理結果データを前記判定手段に同時に入力させるた
めに遅延させる第2の遅延手段とを設けた。
【0010】請求項3の発明は、集積回路において、同
一処理動作を行う複数のデータ処理手段と、この複数の
データ処理手段のそれぞれの処理結果の多数決をとる多
数決手段とを具備し、この多数決手段での多数決処理に
より前記複数のデータ処理手段のいづれかで発生した処
理誤りを修復することを特徴とする。
【0011】さらに、請求項4の発明は、前記複数のデ
ータ処理手段相互間で同一処理動作を処理時刻をずらし
て行わせるために入力データおよび/またはクロックを
遅延させる第1の遅延手段と、前記複数のデータ処理手
段の処理結果データを前記多数決手段に同時に入力させ
るために遅延させる第2の遅延手段とを設ける。
【0012】このようにすることにより、集積回路に冗
長性を持たせることで、複数のデータ処理回路のいづれ
かで発生した処理誤りの検出が可能になり、再処理を行
わせてデータ処理の信頼性を大幅に向上した集積回路を
実現することができる。また、複数のデータ処理回路の
いづれかで発生した処理誤りを多数決論理にしたがって
自動的に修復して、データ処理の信頼性を大幅に向上し
た集積回路を実現することができる。また、演算時刻を
ずらすことで、外部雑音に影響され難い構成を実現する
ことができ、この面でも信頼性を向上することができ
る。
【0013】さらに、この冗長回路は外見上は1つの集
積回路であるので使用上違和感がなく、意識しないで使
用することができると言う利点も有している。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明にかかる集積回路を
添付図面を参照にして詳細に説明する。
【0015】図1は、本発明の集積回路の実施の形態の
基本回路のブロック図である。本実施の形態では、信頼
性を向上したい回路を同一IC内部に複数配置し、同一
の動作をさせ、これらの結果を判定し、結果が一致した
場合のみ次の動作に移るようにして信頼性の向上を図っ
ている。
【0016】図1において、回路(A)11および回路
(B)12は同一の動作を行う同じ処理回路である。処
理回路は、演算回路、記憶回路、バッファ回路などどの
ようなものであっても良く、あるいはマイコンなどでも
差支えなく、とくに限定されない。この回路(A)11
および回路(B)12には同一の入力信号14が入力さ
れている。回路(A)11および回路(B)12のそれ
ぞれの出力(A)15および出力(B)16は2入力E
XOR(排他的論理和)ゲート13に入力され、EXO
Rゲート13の出力は判定用出力17とされる。EXO
Rゲート13の出力は入力端子の値が一致しているとき
には“0”、入力端子の値が異なっているときには
“1”となる。
【0017】したがって、回路(A)11および回路
(B)12が同一の入力信号14に対して同一の値を出
力した判定用出力17の値が“0”のときのみ、次の動
作に移るようにして、判定用出力17の値が“1”のと
きは回路(A)11および回路(B)12に改めて演算
を繰り返すようにさせる。
【0018】これにより、回路(A)11および回路
(B)12が共に誤らない限りは正しい結果が期待でき
る。回路(A)11と回路(B)12の誤りの確率をそ
れぞれ1/nとすると、この回路(A)11および回路
(B)12からなる2回路冗長回路の判定が誤る確率p
1は、検出された誤りが完全に正しく訂正されるものと
すれば、
【0019】 p1=(1/n)2 (1) となり、信頼性が大きく向上することになる。
【0020】しかし、この回路では、外部からの雑音の
影響が回路(A)11および回路(B)12に共通に働
いた場合に両回路が同時に誤って判定ではこの誤りを見
逃してしまうというおそれがある。
【0021】このような問題には、複数の回路の演算動
作を時間的にずらして行うようにすることで対処するこ
とができる。このような雑音対処を行った本発明の集積
回路の第2の実施の形態の構成を図2のブロック図に示
す。また、図3にこの集積回路の各部の波形を示す。図
3においては、回路(A)21、回路(B)22および
EXORゲート23における演算処理の遅れは無視でき
るものとした。
【0022】図2において、回路(A)21および回路
(B)22は、図1の場合と同様に同一の処理動作を行
う同じ回路で、処理内容はとくに限定されないが、ここ
では仮に入力を反転して出力する動作を行っているもの
とする。この回路(A)21には図3の波形aのような
入力信号26(図3では連続数値0、1、0、0、1、
1、0、0、1、0、0…)が直接入力されている。回
路(B)22には入力信号26が図3の波形bのように
遅延回路24で時間tだけ遅らされて入力されている。
【0023】回路(A)21の出力である図3の波形c
は、入力信号26のインバート(図3では連続数値1、
0、1、1、0、0、1、1、0、1、1…)であり、
これが遅延回路25で時間tだけ遅らされて、図3の波
形dとなって出力(A)27として出力される。一方、
回路(B)22の出力は波形bのインバートで図3の波
形eとなって出力(B)28として出力される。そうし
て、出力(A)27と出力(B)28とは2入力EXO
Rゲート23に入力され、このEXORゲート23の出
力は判定用出力29とされる。
【0024】このとき、出力(A)27すなわち図3の
波形dと出力(B)28すなわち図3の波形eとは、一
方が出力側で他方が入力側で遅らせられているものの、
その遅延時間tが等しいため、誤りや雑音の影響がない
限り同一となり、EXORゲート23の出力である判定
用出力29は“0”となる。
【0025】ところで、回路(A)21および回路
(B)22に同時に同様な雑音の影響が発生した場合を
考える。この雑音によって、回路(A)21の出力であ
る図3の波形cと、回路(B)22の出力である図3の
波形eに、“×”で示したような雑音の影響が表れるも
のとする。これらの雑音の影響を持つ波形は、図3の波
形eが直ちにEXORゲート23に入力されるのに対し
て、図3の波形cは時間tだけ遅らされてEXORゲー
ト23に入力される。したがって、雑音の影響が同時に
EXORゲート23の入力に表れることがなくなり、図
3の波形fであるEXORゲート23の判定出力29に
一定の時間をおいて現れる。したがって判定出力29で
雑音の発生を判断することができ、判定出力29が
“0”の結果が一致した場合のみ次の動作に移り、結果
が不一致の場合は一致している所まで戻って演算を繰り
返すようにして信頼性の向上を図ることができる。
【0026】図1および図2に示す実施の形態では簡単
のため、各回路への入出力が1ビットとして示している
が、各回路への入出力が複数の並列ビットであって一致
判定が各ビットごとに行われる場合にもこの実施の形態
を用いることができることは言うまでもない。この場
合、全ビットの判定結果を一致、不一致の1ビット判定
で出力することもできる。
【0027】以上の実施の形態では、集積回路内で誤り
を判定し、誤り部分は演算を繰り返して修正するという
方法を採用した。しかし、演算の再現が困難な場合や短
時間に処理を終了しなければならない場合には繰り返し
演算の採用は好ましくない。このような問題は、複数の
回路の多数決判定を用いて回路自身に誤りを自動的に訂
正する機能を持たせることで解決することができる。
【0028】図4に、多数決判定による自動訂正機能を
有する本発明の集積回路の第3の実施の形態の回路ブロ
ック図を示す。
【0029】図4は、本発明をDRAM(Dynamic Rand
om Access Memory)のリフレッシュ回路に用いた例であ
る。
【0030】DRAM(A)41、DRAM(B)4
2、DRAM(C)43にはそれぞれ同一のデータが記
憶されていて、一定時間間隔でリフレッシュされている
ものとする。DRAM(A)41、DRAM(B)42
およびDRAM(C)43からのリードリフレッシュデ
ータ(図4のa、b、c)は、多数決回路40の3つの
入力、入力(A)52、入力(B)53および入力
(C)54に入力される。
【0031】多数決回路40は3入力EXORゲート4
4、3入力ANDゲート45、3入力NORゲート4
6、2入力ORゲート47、インバータ48、2入力A
NDゲート49、1入力反転型の2入力ANDゲート5
0および2入力ORゲート51から構成されている。2
入力ANDゲート49、1入力反転型の2入力ANDゲ
ート50および2入力ORゲート51の部分はいわゆる
マルチプレクサ回路であるが、インバータ48と2入力
ANDゲート50を2入力NORゲートに置き換えても
良い。
【0032】DRAM(A)41、DRAM(B)42
およびDRAM(C)43からのリードリフレッシュデ
ータa、b、cに対する多数決回路40の各部(図4の
d〜k)の真理値表を図5に示す。図5から明らかなよ
うに多数決回路出力55からは、リードリフレッシュデ
ータ(図4、図5のa、b、c)のうち多数側の値が出
力される。そうして、このデータはDRAM(A)4
1、DRAM(B)42およびDRAM(C)43にラ
イトリフレッシュデータとして入力される。これによ
り、3個のDRAMの内のいづれかの出力に誤りがあっ
ても、多数決で多い側に修正されるので、回路の信頼性
は大きく向上することになる。多数決回路出力55とD
RAM(A)41、DRAM(B)42およびDRAM
(C)43の入力との間にタイミングを計るためにバッ
ファ回路などを挿入しても良い。ORゲート47の出力
(図5のg)は一致判定出力56として利用できる。こ
の場合、3回路データが一致したとき“1”を示す。
【0033】この回路の判定が誤る確率p2は、3個の
DRAMの出力の内の任意の2つ以上が誤まる確率であ
る。各DRAMの誤りの確率をそれぞれ1/nとする
と、この回路の判定が誤る確率p2は、図8に示した各
組合せ毎の確率の合計となり
【0034】 p2=(3n−2)n-3 (2) =(3n−2)n-2-1 となる。 ここで、1/n<1/2なので p2<1/n (3) となる。
【0035】多数決回路40は図4に示された例に限定
されるものではなく、リードリフレッシュデータa、
b、cに対して図5の多数決回路出力kが出力されるよ
うな回路であればどのようなものでも良い。この例はD
RAMのリフレッシュ回路について説明したが、図4の
DRAMを他の同一の処理回路に置き換え、多数決回路
出力を出力とすることで、この構成で信頼性の高いデー
タ処理回路を実現することができる。図4ではDRAM
の数を3個としたが、同一の処理回路の数は3個以上で
あればいくつでも差支えない。しかし、偶数の場合は同
数の決着となって多数決判断で迷うおそれがあるので、
奇数のほうが好ましい。
【0036】図6に、本発明の集積回路の第4の実施の
形態の回路ブロック図を示す。この実施の形態は第3の
実施の形態に第2の実施の形態でおこなったようなに雑
音対処を行ったものである。また、図7に、この集積回
路の各部の波形を示す。図7では分かりやすいようにク
ロック1以前のクロック、出力データ1以前の出力デー
タは記載しないようにした。
【0037】図6で回路(A)61、回路(B)62お
よび回路(C)63は、クロックに同期して入力データ
に所定の演算を行う同じ回路である。クロック遅延回路
64および65は、それぞれ、入力されるクロックを1
クロック周期遅らして出力する。また、入力データ遅延
回路66および67は、それぞれ、入力される入力デー
タを1クロック周期遅らして出力する。また、シフトレ
ジスタ68、69および70は、それぞれ、入力される
回路からの出力データを1クロック周期遅らして出力す
る。多数決回路71は図4の多数決回路40と同様のも
のである。
【0038】したがって、回路(B)62に入力される
クロック(図7のb)は、回路(A)61に入力される
クロック(図7のa)よりも、クロック遅延回路64に
よって1クロック周期遅らされる。また、図7には図示
しないが回路(B)62に入力される入力データも、回
路(A)61に入力される入力データよりも、入力デー
タ遅延回路66によって1クロック周期遅らされてい
る。
【0039】同様に、回路(C)63に入力されるクロ
ック(図7のc)は、回路(B)62に入力されるクロ
ック(図7のb)よりも、クロック遅延回路65によっ
て1クロック周期遅らされていて、回路(A)61に入
力されるクロックよりも、2クロック周期遅れているこ
とになる。回路(C)63に入力される入力データも、
回路(A)61に入力される入力データよりも、入力デ
ータ遅延回路66、67によって2クロック周期遅らさ
れている。
【0040】これにより、回路(B)62の出力データ
(図7のg)は回路(A)61の出力(図7のd)より
も1クロック周期遅れて出力され、回路(C)63の出
力データ(図7のj)は回路(A)61の出力(図7の
d)よりも2クロック周期遅れて出力されることにな
る。
【0041】その後、回路(A)61の出力データ(図
7のd)はシフトレジスタ68およびシフトレジスタ6
9によって2クロック周期分遅らされて多数決回路71
に入力され、回路(B)62の出力データ(図7のg)
はシフトレジスタ70によって1クロック周期分遅らさ
れて多数決回路71に入力される。このような処理によ
り、入力側のクロックと入力データの遅延と、出力側の
出力データの遅延とによって、3つの回路(A)61、
回路(B)62および回路(C)63からの出力が同期
されて多数決回路71に入力されることになる。
【0042】今、回路(A)61、回路(B)62およ
び回路(C)63が同時に外部雑音にさらされたとす
る。するとその影響は、例えば回路(A)61の出力波
形(図7のd)、回路(B)62の出力波形(図7の
g)および回路(C)63の出力波形(図7のj)にそ
れぞれ“×”で示したよう同時に発生する。
【0043】しかし、以降の遅延によって図7のf、
h、jのようになり、多数決回路71へはこの雑音の影
響はそれぞれ異なった時刻に入力されるので、雑音で影
響された部分が多数決論理によって他の信号で修復さ
れ、多数決回路71の出力からは外部雑音の影響が除去
されることになる。
【0044】以上の説明では、クロック遅延回路64お
よび65、入力データ遅延回路66および67、シフト
レジスタ68、69および70での遅延をそれぞれ1ク
ロック周期としたが、これに限定されるものではなく、
雑音の持続時間よりも長い程度に任意の同じ遅れ時間を
選ぶことができる。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように本発明によると、集
積回路に冗長性を持たせたことで、複数のデータ処理回
路のいづれかで発生した処理誤りの検出が可能になり、
再処理を行わせてデータ処理の信頼性を大幅に向上した
集積回路を実現することができる。また、複数のデータ
処理回路のいづれかで発生した処理誤りを多数決論理に
したがって自動的に修復して、データ処理の信頼性を大
幅に向上した集積回路を実現することができる。さら
に、演算時刻をずらすことで、外部雑音に影響され難い
構成を実現することができ、この面でも信頼性を向上す
ることができる。また、この冗長回路は外見上は1つの
集積回路であるので使用上違和感がなく、意識しないで
使用することができるという利点も有している。したが
って、高信頼性が要求される用途で広範な利用が期待で
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の集積回路の基本回路のブロック図で
ある。
【図2】 本発明の集積回路の他の実施の形態のブロッ
ク図である。
【図3】 図2に示す集積回路の各部の波形図である。
【図4】 本発明の集積回路のさらに他の実施の形態の
ブロック図である。
【図5】 図4に示す集積回路の各部の真理値表であ
る。
【図6】 本発明の集積回路のさらに他の実施の形態の
ブロック図である。
【図7】 図6に示す集積回路の各部の波形図である。
【図8】 図4に示す集積回路の回路の判定が誤る組合
せと確率である。
【符号の説明】
11、21、61 回路(A) 12、22、62 回路(B) 13、23 EXORゲート 14、26 入力 15、27 出力(A) 16、28 出力(B) 17、29、56 判定出力 24、25 遅延回路 40、71 多数決回路 41 DRAM(A) 42 DRAM(B) 43 DRAM(C) 44 3入力EXORゲート 45 3入力ANDゲート 46 3入力NORゲート 47、51 ORゲート 48 インバータ 49 ANDゲート 50 1入力反転型ANDゲート 52、74 入力(A) 53、75 入力(B) 54、76 入力(C) 55、77 出力 63 回路(C) 64、65 クロック遅延回路 66、67 入力データ遅延回路 68、69、70 シフトレジスタ 72 入力データ 73 クロック

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 同一処理動作を行う複数のデータ処理手
    段と、 この複数のデータ処理手段のそれぞれの処理結果の間の
    一致、不一致を判定する判定手段とを具備し、 この判定手段での処理結果間の不一致判定により前記複
    数のデータ処理手段のいづれかで発生した処理誤りを検
    出することを特徴とする集積回路。
  2. 【請求項2】 前記複数のデータ処理手段相互間で同一
    処理動作を処理時刻をずらして行わせるために入力デー
    タおよび/またはクロックを遅延させる第1の遅延手段
    と、 前記複数のデータ処理手段の処理結果データを前記判定
    手段に同時に入力させるために遅延させる第2の遅延手
    段とを具備することを特徴とする請求項1に記載の集積
    回路。
  3. 【請求項3】 同一処理動作を行う複数のデータ処理手
    段と、 この複数のデータ処理手段のそれぞれの処理結果の多数
    決をとる多数決手段とを具備し、 この多数決手段での多数決処理により前記複数のデータ
    処理手段のいづれかで発生した処理誤りを修復すること
    を特徴とする集積回路。
  4. 【請求項4】 前記複数のデータ処理手段相互間で同一
    処理動作を処理時刻をずらして行わせるために入力デー
    タおよび/またはクロックを遅延させる第1の遅延手段
    と、 前記複数のデータ処理手段の処理結果データを前記多数
    決手段に同時に入力させるために遅延させる第2の遅延
    手段とを具備することを特徴とする請求項3に記載の集
    積回路。
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