JP2003257072A

JP2003257072A - 光ディスク装置

Info

Publication number: JP2003257072A
Application number: JP2002059910A
Authority: JP
Inventors: Kenji Kondo; 健二近藤; Shinichi Yamada; 真一山田; Katsuya Watanabe; 克也渡邊; Kenji Fujiune; 健司藤畝; Yuichi Kuze; 雄一久世
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 2002-03-06
Filing date: 2002-03-06
Publication date: 2003-09-12

Abstract

(57)【要約】（修正有）【課題】光ディスクの種類に応じて透過率を変化させ
ることで、光源の出力パワーを量子化雑音が十分低くな
る高パワーにしつつ、照射パワーを記録層の劣化やデー
タの消去が起きない低パワーでの再生ができ、さらに透
過率変化を専用のセンサを用いることなく検出できる光
ディスク装置を提供する。【解決手段】本発明の光ディスク装置は、光源１０１
と、前記光源１０１と照射パワー検出手段の間に配置さ
れた光ビームの透過率を可変できる光学素子１０２を有
し、透過率を光ディスク１０８の種類に応じて変化させ
ることで良好な再生状態を実現する。さらに光源制御信
号の出力の変化を検出することにより、透過率変化を検
出できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ビームを利用し
て光ディスクに信号を記録し、または光ディスクに記録
された信号を再生する光ディスク装置に関するものであ
り、特に再生時に低雑音で良好な状態を実現するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】近年、ディジタルバーサタイルディスク
（以降、ＤＶＤと称す）は、大容量のディジタル情報が
記録可能な高密度光ディスクとして注目されている。し
かし情報の大容量化に伴い、より高密度の光ディスクの
実現が求められている。ここで、ＤＶＤよりも高密度な
記録を達成するには、記録層上にＤＶＤよりも小さなマ
ークを記録する必要があり、その為には光源の波長を短
く、対物レンズの開口数（以降、ＮＡと称す）を大きく
することが必要となる。例えば、ＤＶＤでは光源に波長
６６０ｎｍのレーザを用い、対物レンズにＮＡ０．６の
レンズを用いているが、光源として波長４０５ｎｍの青
色レーザを用い、ＮＡ０．８５の対物レンズを用いるこ
とで、ＤＶＤの約５倍の記録容量が達成できる。さら
に、近年の青色レーザの高出力化により、１層の記録層
を持ついわゆる１層ディスクよりもさらに高い記録容量
を得るために、複数の記録層を持つ多層ディスクの開発
も行われている。例えば、２層の記録層を持つディスク
が実現されれば、記憶容量はＤＶＤの約１０倍になる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の高密度
光ディスク装置においては、再生時の各種ストレスマー
ジンがＤＶＤに比べ厳しいため、光源である青色レーザ
の量子化雑音が問題となる。この量子化雑音は、光源で
ある半導体レーザの特性上、出力レーザパワーを高くす
ると低く抑えられるが、出力レーザパワーを高くする
と、記録層へ収束照射されるレーザのパワー（以降、照
射パワーと称す）は増大し、記録層の劣化やデータの消
去を引き起こす。

【０００４】本発明は上記課題を解決するためになされ
たもので、照射パワーを低く抑えることで記録層の劣化
やデータの消去を防止すると同時に、出力パワーを高く
して半導体レーザの量子化雑音を抑えることが可能とな
るため、本発明の光ディスク装置を用いることで低雑音
で良好な再生状態を実現できる。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明の光ディスク装置
は、光ビームを発生する光源と、前記光源により光ディ
スクに照射される光ビームのパワーを検出する照射パワ
ー検出手段と、前記照射パワー検出手段の出力が所定の
値になるように前記光源を駆動する光ビームパワー制御
手段と、前記光源から光ディスクに到達する間で光ビー
ムのパワーを減衰あるいは増幅させることができるパワ
ー増減手段と、前記パワー増減手段で光ビームのパワー
が増減したことを検出する増減検出手段とを備えたこと
を特徴とする。

【０００６】本発明の光ディスク装置は、パワー増減手
段は、透過率を可変できる透過光量変化手段と、前記透
過光量変化手段の透過率を変化させる透過光量制御手段
を備え、増減検出手段は、前記透過光量変化手段の透過
率が変化したことを検出する透過率変化検出手段を備え
たことを特徴とする。

【０００７】本発明の光ディスク装置は、透過率変化検
出手段は、照射パワー検出手段による検出結果と、光ビ
ームパワー制御手段による光源の駆動値を比較して透過
率変化を検出するように構成したことを特徴とする。

【０００８】本発明の光ディスク装置は、光ディスクに
記録されたデータの再生信号のジッタを検出する再生ジ
ッタ検出手段を備え、透過率変化検出手段は、再生ジッ
タ検出手段により検出される再生ジッタ値の変化により
透過率変化を検出するように構成したことを特徴とす
る。

【０００９】本発明の光ディスク装置は、透過光量制御
手段により透過光量変化手段の透過率を変えた際に、透
過率変化検出手段により透過率に変化がないと判断され
た場合、透過光量制御手段により再び透過率を変化させ
るように構成したことを特徴とする。

【００１０】本発明の光ディスク装置は、光ディスクの
情報面に収束照射された光ビームの焦点と情報面のずれ
を検出するフォーカスエラー検出手段と、光ディスクの
情報面に収束照射された光ビームと情報面のトラックの
ずれを検出するトラッキングエラー検出手段とを備え、
透過光量変化手段の透過率を変える際に、前記フォーカ
スエラー検出手段および、または、前記トラッキングエ
ラー検出手段の出力信号のオフセットを変化させるよう
に構成したことを特徴とする。

【００１１】本発明の光ディスク装置は、前記フォーカ
スエラー検出手段および、または、トラッキングエラー
検出手段の出力信号のオフセットを、光源の駆動値の変
化に応じて、連続的に変化させるように構成したことを
特徴とする。

【００１２】本発明の光ディスク装置は、収束して照射
された光ビームの焦点を光ディスクの情報面に位置する
ように制御するフォーカス制御手段と、収束して照射さ
れた光ビームを光ディスクのトラック上に位置するよう
に制御するトラッキング制御手段とを備え、透過光量制
御手段は前記フォーカス制御手段、または、前記フォー
カス制御手段および前記トラッキング制御手段を動作さ
せた状態で透過光量変化手段の透過率を変えるように構
成したことを特徴とする。

【００１３】本発明の光ディスク装置は、透過光量制御
手段は、透過率を、段階的に、または連続的に変化させ
るようにしたことを特徴とする。

【００１４】本発明の光ディスク装置は、光ビームを発
生する光源と、前記光源により光ディスクに照射される
光ビームのパワーを検出する照射パワー検出手段と、前
記照射パワー検出手段の出力が所定の値になるように前
記光源を駆動する光ビームパワー制御手段と、前記光源
から光ディスクに到達する間で光ビームのパワーを減衰
あるいは増幅させることができるパワー増減手段と、前
記パワー増減手段で光ビームのパワーが増減したことを
検出する増減検出手段と、光ディスクからの反射光に基
づいてディスクに記録された情報の再生信号のジッタを
検出する再生ジッタ検出手段とを備え、前記再生ジッタ
検出手段の出力に基づいて、前記パワー増減手段を制御
することを特徴とする。

【００１５】本発明の光ディスク装置は、パワー増減手
段は、透過率を可変できる透過光量変化手段と、前記透
過光量変化手段の透過率を変化させる透過光量制御手段
を備え、増減検出手段は、前記透過光量変化手段の透過
率が変化したことを、照射パワー検出手段による検出結
果と、光ビームパワー制御手段による光源の駆動値を比
較して検出するように構成し、透過光量変化手段は、前
記再生ジッタ検出手段の出力に基づいて、前記透過率を
変化させることを特徴とする。

【００１６】本発明の光ディスク装置は、透過光量制御
手段は、再生ジッタ検出手段の出力値が所定の値を下回
るまで透過光量変化手段の透過率を下げるように構成し
たことを特徴とする。

【００１７】本発明の光ディスク装置は、透過光量変化
手段の透過率の最小値は、光源の駆動値のレベルが光源
の定格値以下となるように設定されていることを特徴と
する。

【００１８】本発明の光ディスク装置は、透過光量変化
手段の透過率が、設定された最小値になった際に、再生
ジッタ検出手段の出力値が所定の値を下回っていない場
合、再生動作を止めるように構成したことを特徴とす
る。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて図面を参照しながら説明する。

【００２０】（実施の形態１）図１は実施の形態１にお
ける光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図
１において、光源１０１はＧａＮ系の青色発光の半導体
レーザ素子で、光ディスク１０８の記録層に対し、記録
再生用のコヒーレント光を出力する光源であり、光源駆
動部１１５からの信号により所定の光量の光ビームを出
力する。光ビーム減衰光学素子１０２は、光学フィルタ
であり、光学素子駆動部１１６からの信号によって機械
的に出し入れされる光学素子である。偏光ビームスプリ
ッタ１０３は、光源１０１から出射される直線偏光を１
００％透過し、光源１０１から出射される直線偏光と直
交する方向の直線偏光を１００％反射する光学素子であ
る。

【００２１】コリメータレンズ１０４は、光源１０１か
ら出射された発散光を平行光に変換するレンズである。
１／４波長板１０５は、透過する光の偏光を円偏光から
直線偏光に、もしくは直線偏光から円偏光に変換する光
学素子である。ハーフミラー１０６は、入射する光を反
射および透過する光学素子であり、光ビームの９０％を
反射し、１０％を透過する。対物レンズ１０７は、光デ
ィスク１０８の記録層に光ビームを集光するレンズであ
る。

【００２２】第１の集光レンズ１０９は、ハーフミラー
１０６を透過した光ビームを第１のディテクタ１１０に
集光するレンズである。第２の集光レンズ１１１は、光
ディスク１０８で反射された光ビームを第２のディテク
タ１１２に集光するレンズである。第１、第２のディテ
クタ１１０、１１２は、受光した光を電気信号に変換す
る素子である。反射率検出部１１３は、第２のディテク
タからの全出力信号に基づいて光ディスクの判別をする
要素である。マイクロコンピュータ（以降、マイコンと
称す）１１４は、光ディスク装置を制御する要素であ
る。

【００２３】フォーカスエラー信号（以降、ＦＥ信号と
称す）生成部１１７は、光ディスク１０８上に収束照射
された光ビームの収束状態を示すＦＥ信号を生成する回
路である。フォーカスアクチュエータ１１８は、対物レ
ンズ１０７を透過する光ビームの光軸方向に移動させる
要素である。フォーカス駆動部１１９は、フォーカス制
御部１２０から出力されるフォーカス制御信号に基づい
てフォーカスアクチュエータ駆動信号を出力する回路で
ある。フォーカス制御部１２０は、ＦＥ信号生成部１１
７から出力されるエラー信号に基づき、フォーカス制御
信号を出力する回路である。

【００２４】トラッキングエラー信号（以降、ＴＥ信号
と称す）生成部１２１は、光ディスク１０８上に収束照
射された光ビームの照射位置を示すＴＥ信号を生成する
回路である。トラッキングアクチュエータ１２２は、対
物レンズ１０７を光ディスク１０８の径方向に移動させ
る要素である。トラッキング駆動部１２３は、トラッキ
ング制御部１２４から出力されるトラッキング制御信号
に基づいてトラッキングアクチュエータ駆動信号を出力
する回路である。トラッキング制御部１２４は、ＴＥ信
号生成部１２１から出力されるエラー信号に基づき、ト
ラッキング制御信号を出力する回路である。再生ジッタ
検出部１２５は、再生信号のジッタを検出する要素であ
る。

【００２５】また、照射パワー検出手段は、第１のディ
テクタ１１０であり、光ビームパワー制御手段は、第１
のディテクタ１１０とマイコン１１４と光源駆動部１１
５より構成されており、透過光量変化手段は、光ビーム
減衰光学素子１０２で構成されており、透過光量制御手
段は、マイコン１１４と光学素子駆動部１１６で構成さ
れており、再生ジッタ検出手段は、再生ジッタ検出部１
２５であり、フォーカスエラー検出手段は、ＦＥ信号生
成部１１７であり、トラッキングエラー検出手段は、Ｔ
Ｅ信号生成部１２１であり、フォーカス制御手段は、Ｆ
Ｅ信号生成部１１７とフォーカスアクチュエータ１１８
とフォーカス駆動部１１９とフォーカス制御部１２０で
構成されており、トラッキング制御手段は、ＴＥ信号生
成部１２１とトラッキングアクチュエータ１２２とトラ
ッキング駆動部１２３とトラッキング制御部１２４で構
成されている。

【００２６】以上のように構成された光ディスク装置の
動作について、図１を用いて説明する。光源１０１から
出射された直線偏光は、光ビーム減衰光学素子１０２に
入射する。光ディスク１０８が１層ディスクである場
合、光学素子駆動部１１６からの信号により、光ビーム
減衰光学素子１０２は、機械的に光路中に挿入され、光
量が約半分となった光ビームが透過する。一方、光ディ
スク１０８が２層ディスクである場合、光ビーム減衰光
学素子１０２は機械的に光路中から出され、光ビームは
光量を下げることなく透過する。光ビーム減衰光学素子
１０２を透過した光ビームは、偏光ビームスプリッタ１
０３に入射される。

【００２７】また、偏光ビームスプリッタ１０３を透過
した光ビームはコリメータレンズ１０４に入射され、コ
リメータレンズ１０４によって平行光にされる。コリメ
ータレンズ１０４を透過した光ビームは、１／４波長板
１０５で円偏光にされ、ハーフミラー１０６で約９０％
の光量の光ビームが反射され、約１０％の光量の光ビー
ムがハーフミラー１０６を透過する。ハーフミラー１０
６で反射された光ビームは、対物レンズ１０７に入射さ
れ、光ディスク１０８上に収束照射される。ハーフミラ
ー１０６を透過した光ビームは、第１の集光レンズ１０
９に入射され、第１のディテクタ１１０に入射される。
第１のディテクタ１１０に入射された光ビームは電気信
号に変換される。従って、第１のディテクタ１１０の出
力は、光源１０１から出射された光ビームの光量をモニ
タする電気信号となる。マイコン１１４は、第１のディ
テクタ１１０の出力に基づいて光源１０１が所定の光量
を出力するように光量制御信号を出力する。マイコン１
１４から出力された光量制御信号は光源駆動部１１５に
入力され、光源１０１は所定の光量を出力するよう制御
される。

【００２８】次に、光ディスク１０８から反射された光
ビームは、対物レンズ１０７を透過し、ハーフミラー１
０６で反射され、１／４波長板１０５を透過し、光源１
０１から出射される光ビームとは直交する直線偏光にさ
れ、コリメータレンズ１０４を透過し、偏光ビームスプ
リッタ１０３により反射される。偏光ビームスプリッタ
１０３で反射された光ビームは、第２の集光レンズ１１
１により集光され、第２のディテクタ１１２に入射され
る。第２のディテクタ１１２に入射された光ビームは電
気信号に変換され、反射率検出部１１３とＦＥ信号生成
部１１７とＴＥ信号生成部１２１と再生ジッタ検出部１
２５に出力される。

【００２９】ＦＥ信号生成部１１７は、第２のディテク
タ１１２からの信号に基づいて、例えば非点収差法によ
り光ディスク１０８上に収束照射された光ビームの収束
状態を示すＦＥ信号を生成し、フォーカス制御部１２０
へ出力する。フォーカス制御部１２０に入力されたＦＥ
信号は、例えばディジタルシグナルプロセッサ（以降、
ＤＳＰと称す）によるディジタルフィルタで構成された
位相補償回路、低域補償回路を通過して、フォーカス駆
動信号としてフォーカス駆動部１１９へ出力される。フ
ォーカス駆動部１１９に入力されたフォーカス駆動信号
は、増幅されてフォーカスアクチュエータ１１８に出力
される。従って、光ディスク１０８上に収束照射された
光ビームの収束状態が常に所定の収束状態になるよう
に、対物レンズ１０７の位置がレンズの光軸方向に制御
される。

【００３０】またＴＥ信号生成部１２１は、第２のディ
テクタ１１２からの信号に基づいて、例えばプッシュプ
ル法により光ビームの照射位置を示すＴＥ信号を生成
し、トラッキング制御部１２４へ出力する。トラッキン
グ制御部１２４に入力されたＴＥ信号は、例えばＤＳＰ
によるディジタルフィルタで構成された位相補償回路、
低域補償回路を通過して、トラッキング駆動信号として
トラッキング駆動部１２３へ出力される。トラッキング
駆動部１２３に入力されたトラッキング駆動信号は、増
幅されてトラッキングアクチュエータ１２２に出力され
る。従って、光ディスク１０８上に収束照射された光ビ
ームが光ディスク１０８上の所望のトラックに照射され
るように、対物レンズ１０７の位置が光ディスク１０８
の径方向に制御される。

【００３１】また再生ジッタ検出部１２５は、第２のデ
ィテクタ１１２からの信号に基づいて、再生信号のジッ
タを検出し、マイコン１１４に出力する。また反射率検
出部１１３は、第２のディテクタ１１２からの全出力信
号に基づいて、光ディスク１０８の種類を判別し、判別
の結果に応じた信号をマイコン１１４に出力する。マイ
コン１１４は、反射率検出部１１３から出力された信号
に基づいて、光ディスク１０８が１層ディスクであるか
２層ディスクであるかを判別し、光学素子駆動部１１６
に光学素子駆動信号を出力する。なお、判別方法につい
ては後で詳細を述べる。光学素子駆動部１１６に入力さ
れた光学素子駆動信号は、増幅されて、光ビーム減衰光
学素子１０２を光路から機械的に出し入れをする。

【００３２】ここで、マイコン１１４による光ディスク
１０８の判別方法について説明する。まず、光ディスク
１０８の種類、即ち１層ディスクと２層ディスクについ
て図２を用いて説明する。図２は、１層ディスクと２層
ディスクの構造を示した模式図である。図２に示すよう
に、１層ディスクは１層の記録層を持つ光ディスクであ
り、２層ディスクは、対物レンズに近い第１の記録層
（以降、Ｌ０層と称す）と、Ｌ０層に比べ対物レンズか
ら遠い第２の記録層（以降、Ｌ１層と称す）、即ち２層
の記録層を持つ光ディスクである。２層ディスクのＬ１
層は、Ｌ０層を透過した光ビームでデータの記録再生が
行われる。

【００３３】本実施の形態においては、１層ディスクで
は再生時の照射パワー（以降、再生パワーと称す）を
０．４ｍＷ、記録時の照射パワー（以降、記録パワーと
称す）を６ｍＷとし、２層ディスクでは再生パワーを
０．８ｍＷ、記録パワーを１２ｍＷと設定した。１層デ
ィスクに対して２層ディスクの再生および記録パワーが
２倍となっているのは、２層ディスクの記録層のうちＬ
０層の透過率を約５０％と設定したためである。

【００３４】次に、マイコン１１４により光ディスク１
０８が１層ディスクであるか２層ディスクであるか判別
する方法について説明する。予めマイコン１１４によ
り、光源１０１の出力パワーは１．２ｍＷに制御され、
光ビーム減衰光学素子１０２は光路中から出されている
とする。この設定の場合、対物レンズ１０７における照
射パワーは約０．３ｍＷであり、これは光ディスク１０
８が１層ディスクであった場合の再生許容照射パワーは
０．４ｍＷ以下となるので、光ディスク１０８が１層デ
ィスクもしくは２層ディスクであっても記録層の劣化や
データの消去を引き起こすことはない。

【００３５】以上の設定の元で、前記したように収束照
射される光ビームを光ディスク１０８のトラックに追従
させ、光ディスク１０８からの反射光を第２のディテク
タ１１２で受光する。前記したように第２のディテクタ
１１２では入射された光ビームを電気信号に変換し、反
射率検出部１１３に信号を出力する。反射率検出部１１
３では、第２のディテクタ１１２からの全出力信号出力
電圧と、予め設定された基準電圧とをコンパレータ（図
示せず）で比較することで光ディスク１０８の種類に対
応した信号をマイコン１１４に出力する。

【００３６】ここで基準電圧は、光ディスク１０８が１
層ディスクであった場合の反射光で得られる第２のディ
テクタ１１２の信号出力電圧と、光ディスク１０８が２
層ディスクであった場合に得られる信号出力電圧の中間
値に設定されている。従って、第２のディテクタ１１２
からの信号出力電圧と基準電圧をコンパレータで比較す
ることで、光ディスク１０８が１層ディスクの場合はハ
イレベルの信号出力が得られ、光ディスク１０８が２層
ディスクの場合はロウレベルの信号出力が得られる。つ
まりマイコン１１４は、反射率検出部１１３から出力さ
れた信号がハイレベルかロウレベルであるかを判断する
ことで、光ディスク１０８が１層ディスクであるか２層
ディスクであるかを判別できる。

【００３７】以上のような構成にすることで、光ディス
ク１０８が１層ディスクであるか２層ディスクであるか
の判別の後、１層ディスクである場合にのみ光ビーム減
衰光学素子１０２を光路中に挿入して光源からの透過率
を約半分に低減することができる。従って、１層ディス
ク、２層ディスク共に、再生時は光源の出力パワーを量
子化雑音が十分低くなる高パワーにしつつ、照射パワー
を記録層の劣化やデータの消去が起きない低パワーにす
ることができる。

【００３８】さらに、１層ディスクの記録時は、光源の
出力パワーは量子化雑音が十分低くなる高パワーに設定
されているので、２層ディスクの場合と同様に光ビーム
減衰光学素子１０２を光路中から出すことで、量子化雑
音が低い状態で記録が可能となる。

【００３９】ところで以上で説明した光ビーム減衰光学
素子１０２の切り替えにおいて、光ビーム減衰光学素子
１０２の出し入れは、アクチュエータ（図示せず）を用
いて光路に対する光ビーム減衰光学素子１０２の位置を
変えることで実現できる。この場合、利用するアクチュ
エータの感度が温度変化や経時変化等により想定した感
度より低くなると、マイコン１１４から出力される光学
素子駆動信号によって光ビーム減衰光学素子１０２は想
定した位置にまで達しない。これは、切り替え動作を行
ったにも関わらず光ビーム減衰光学素子１０２の切り替
えがなされてないことを意味しており、確実な切り替え
動作が求められることは言うまでもない。従って、光ビ
ーム減衰光学素子１０２の切り替え動作が完了したかど
うかを判断する必要がある。

【００４０】光ビーム減衰光学素子１０２の切り替えが
完了した状態とは、透過率が所定の値になった状態であ
るので、光ビーム減衰光学素子１０２の切り替えによる
透過率の変化を検出できれば切り替え動作の完了したか
どうか判断できる。従って以下では、本発明の透過率変
化検出手段による透過率変化検出方法について、図３を
用いて説明する。

【００４１】図３は、光ビーム減衰光学素子１０２の切
り替え前後における、対物レンズ１０７における照射パ
ワーと光源１０１の出力パワーとマイコン１１４から出
力される光量制御信号出力の変化の様子を示した特性図
である。図３において、初めは光ビーム減衰光学素子１
０２は光路中から出されているとする。この時、例えば
光ビームパワー制御手段により、対物レンズ１０７にお
ける照射パワーが約０．３ｍＷに保たれているとする
と、光源１０１の出力パワーは約１．２ｍＷに制御され
ている。

【００４２】その後、時間Ｔｆにおいて透過率が５０％
の光ビーム減衰光学素子１０２が光路中に挿入されたと
する。時間Ｔｆで光ビーム減衰光学素子１０２を挿入
後、定常状態においては光ビームパワー制御手段により
照射パワーは変わらず約０．３ｍＷに保たれる。この
時、光源１０１の出力パワーは２倍の約２．４ｍＷに制
御される。光源１０１の出力パワーはマイコン１１４か
らの光量制御信号出力に対応しているため、マイコン１
１４から光源駆動部１１５に出力される光量制御信号出
力は、光ビーム減衰光学素子１０２を挿入前に比べ約２
倍になっている。

【００４３】以上のように、光ビームパワー制御手段に
より、透過率の変化に対応して光量制御信号出力が変化
するので、マイコン１１４により光量制御信号出力をモ
ニタすることで、透過率の変化を検出することが可能と
なる。

【００４４】以上は光量制御信号出力を用いて透過率の
変化を検出する方法であるが、再生ジッタ検出部１２５
で検出される再生ジッタを用いても、同様に透過率の変
化を検出できる。以下では、その検出方法について述べ
る。まず、再生ジッタと量子化ノイズについて図４を用
いて説明する。図４は、光ディスク１０８上に記録され
たマーク列と、それを再生することで検出される再生信
号と、再生信号をゼロクロス点で２値化することで得ら
れる２値化再生信号を示した波形図である。

【００４５】再生ジッタとは、記録されたマークのエッ
ジと２値化再生信号のエッジずれを表す値であり、再生
ジッタが低い程このずれは小さいため、良好な再生状態
であるといえる。図４（ａ）は理想的な状態を示してお
り、この場合再生ジッタはない。一方、図４（ｂ）は再
生信号にノイズが入り込んだ状態状態を示している。こ
の場合、ノイズによって再生信号が幅をもつため、その
２値化再生信号のエッジも幅をもち、これが再生ジッタ
となる。半導体レーザの量子化ノイズが存在する場合、
再生信号にノイズが入り込み（ｂ）の状態となるため、
量子化ノイズが大きい程再生ジッタは高くなる。以上の
ように、量子化ノイズと再生ジッタには関係がある。

【００４６】次に、再生ジッタを用いた透過率変化の検
出方法について述べる。図５は、光ビーム減衰光学素子
１０２の切り替え前後における、対物レンズ１０７にお
ける照射パワーと光源１０１の出力パワーと再生ジッタ
値の変化の様子を示した特性図である。図５において、
初めは光ビーム減衰光学素子１０２は光路中から出され
ているとする。この時、例えば光ビームパワー制御手段
により、対物レンズ１０７における照射パワーが約０．
３ｍＷに保たれているとすると、光源１０１の出力パワ
ーは約１．２ｍＷに制御されている。

【００４７】その後、時間Ｔｆにおいて透過率が５０％
の光ビーム減衰光学素子１０２が光路中に挿入されたと
する。時間Ｔｆで光ビーム減衰光学素子１０２を挿入
後、定常状態においては光ビームパワー制御手段により
照射パワーは変わらず約０．３ｍＷに保たれる。この
時、光源１０１の出力パワーは２倍の約２．４ｍＷに制
御される。ここで光源１０１である半導体レーザは、出
力パワーが上がると量子化雑音が減少するという雑音特
性があるため、光ビーム減衰光学素子１０２挿入前の再
生ジッタに比べ、出力パワーが約２倍に上昇した挿入後
の再生ジッタは低くなる。

【００４８】以上のように、透過率の変化に対して再生
ジッタは変化するので、再生ジッタ検出部１２５で検出
される再生ジッタをモニタすることで、透過率の変化を
検出することが可能となる。

【００４９】さらに前記した透過率変化検出方法を用い
て、光ビーム減衰光学素子１０２の切り替え完了の判断
をすることで、マイコン１１４から制御信号が出力さ
れ、制御信号が光学素子駆動部１１５を経て光ビーム減
衰光学素子１０２を切り替えようとしたにも関わらず、
実際には切り替えがなされていない場合において、光ビ
ーム減衰光学素子１０２を切り替える制御信号を再びマ
イコン１１４が出力するようにすれば、確実な光ビーム
減衰光学素子１０２の切り替え動作が可能となる。

【００５０】次に、光ビーム減衰光学素子１０２の構成
について図６を用いて詳細に説明する。図６は光ビーム
減衰光学素子１０２の構成とその動作による透過率変化
を示す模式図である。（ａ）は、一定の透過率をもつ光
ビーム減衰光学素子１０２を光路中に出し入れする構成
の模式図である。

【００５１】この場合、例えば光ビーム減衰光学素子１
０２の透過率を５０％とすると、透過率の切り替えは、
光ビーム減衰光学素子１０２を出し入れすることによ
り、２状態の切り替えが可能となる。即ち、光ビーム減
衰光学素子１０２を光路中から出した場合の透過率１０
０％の状態と、光ビーム減衰光学素子１０２を光路中に
挿入した場合の透過率５０％の２状態である。この構成
の場合、光ビーム減衰光学素子１０２を光路中から出し
入れする動作中において、光ビームの一部が光ビーム減
衰光学素子１０２により光量を５０％に減光され、他の
部分は減光されず１００％の光量となる状態が存在す
る。

【００５２】この様に光ビームの断面上のある方向に対
して光量のアンバランスが存在すると、対物レンズ１０
７から収束照射される光ビームの光ディスク１０８上に
おけるビームスポットは、前記したアンバランスの方向
に広がりを持つ光学的に劣化したビームポットになる。
この様なビームポットを持つ光ビームの反射光に基づく
ＦＥ信号、およびＴＥ信号は、劣化したビームスポット
の影響により正常の信号から変化したものとなる。例え
ばプッシュプル法によるＴＥ信号はその信号振幅が小さ
くなり、最悪の場合は信号振幅が０となる可能性があ
る。従って、前記したような光ビーム減衰光学素子１０
２による透過率のアンバランスは、フォーカス制御およ
びトラッキング動作に影響を及ぼすことが考えられる。

【００５３】しかし（ａ）の構成の場合において、前記
した透過率変化検出方法を用いた光ビーム減衰光学素子
１０２の切り替え完了の判断を利用することで、切り替
えに起因する制御信号への影響を回避することができ
る。即ち、（ａ）の構成の場合、前記した外乱による制
御への影響を避けるために、光ビーム減衰光学素子１０
２の切り替え開始に合わせてフォーカス制御手段による
フォーカス制御動作およびトラッキング制御手段による
トラッキング制御動作を中断し、光ビーム減衰光学素子
１０２の切り替え完了を検出した後に再び制御動作を再
開する。この様にして、光ビーム減衰光学素子１０２の
切り替えに起因する制御信号への影響を回避することが
できる。また一般に、トラッキング制御に比べフォーカ
ス制御は安定であるので、トラッキング制御のみ中断
し、光ビーム減衰光学素子１０２の切り替え完了を検出
した後に再び制御動作を再開することも可能である。

【００５４】一方（ｂ）は、複数の透過率をもつ光ビー
ム減衰光学素子１０２の位置を透過する光ビームに対し
て変化させる構成の模式図である。例えば、（ｂ）に示
すようにその位置に応じて１００％、７５％、５０％と
３値の透過率になるような構成を考える。この場合、光
ビーム減衰光学素子１０２を移動させることで透過率１
００％と５０％の切り替えをすると、切り替えの途中に
透過率７５％の状態が発生するため、光ビーム減衰光学
素子１０２の切り替え動作中における透過率の変化は段
階的となり、（ａ）の場合に比べて、光ビーム減衰光学
素子１０２による透過率のアンバランスの度合いは小さ
い。

【００５５】その為、このアンバランスに起因するＦＥ
信号およびＴＥ信号の変化は（ａ）に比べ小さくなる。
従って（ｂ）の構成の場合、光ビーム減衰光学素子１０
２の切り替えに起因する制御信号への影響は小さいと考
えられるため、フォーカス制御動作およびトラッキング
制御動作を中断させずに光ビーム減衰光学素子１０２の
切り替え動作を行うことが可能となる。これにより、光
ビーム減衰光学素子１０２の切り替えをフォーカス制御
動作およびトラッキング制御動作を中断することなく実
行できるため、１層ディスクの再生動作と記録動作の切
り替えを連続して行うことが可能となる。

【００５６】なお、本実施の形態において光ビーム減衰
光学素子１０２は、その位置に応じて３値の透過率を持
つとしたが、その値に限定されず、その位置に応じて複
数の段階的な透過率を持つよう構成されていればよい。

【００５７】次に、光ビーム減衰光学素子１０２の切り
替えに伴う光源１０１の出力パワー変化と、その変化に
応じたＦＥ信号およびＴＥ信号への付加電圧量の切り替
えについて説明する。図７は、光源１０１のレーザ発光
時の光ヘッド内部迷光によるエラー信号の零点ずれ（以
降、迷光オフセットと称す）とそれを打ち消す方法を示
した模式図である。

【００５８】図７に示すように、光源１０１のレーザ発
光前後でのエラー信号出力を比較するとその直流成分に
変化が見られる。この変化量Ｖｏｆｓは迷光オフセット
量と呼ばれており、光源１０１から出射された光ビーム
が、光ヘッド内部で反射して第２のディテクタ１１２に
入りこむ結果生じるもので、光ディスク１０８からの反
射光によるものではない。この様な迷光オフセットのあ
るエラー信号に基づいて制御を行うと、最適な制御状態
が実現できず再生ジッタは悪化する。

【００５９】従って、エラー信号にある迷光オフセット
をなくす必要があり、以下に説明する方法で迷光オフセ
ットをなくすことができる。即ち、迷光オフセット量Ｖ
ｏｆｓを起動時において検出し、検出された迷光オフセ
ット量を打ち消すような電圧−Ｖｏｆｓ（以降、迷光オ
フセットキャンセル電圧と称す）をエラー信号生成部に
おいてエラー信号に付加することで、迷光オフセットを
なくすことが可能である。

【００６０】しかし、この迷光オフセット量Ｖｏｆｓの
大部分は、光源１０１の発光パワー値に応じて変化する
ため、迷光オフセットをなくすためには、発光パワー値
の変化に応じて迷光オフセットキャンセル電圧−Ｖｏｆ
ｓを適切に切り替える必要がある。つまり、記録動作と
再生動作の切り替え時および１層ディスクである場合と
２層ディスクである場合の切り替え時に、迷光オフセッ
トキャンセル電圧−Ｖｏｆｓを切り替える必要があり、
それぞれ動作状態での迷光オフセット量Ｖｏｆｓは、光
ディスク装置起動時に検出し保存しておくものとする。

【００６１】なお、光ディスク装置起動時における各動
作状態における迷光オフセット量Ｖｏｆｓの検出方法に
ついては後で詳細を述べる。また、前記で対象とした記
録再生動作の切り替えおよび１層ディスクと２層ディス
クの切り替えは、光ビーム減衰光学素子１０２の切り替
えを伴うものである。従って、迷光オフセットキャンセ
ル電圧−Ｖｏｆｓを、光ビーム減衰光学素子１０２の切
り替え前後の状態に合わせて、保存された適切な電圧に
切り替えることで、エラー信号の迷光オフセットをなく
すことができる。

【００６２】ここで、光ディスク装置起動時における各
動作状態の迷光オフセット量の検出方法について説明す
る。まず起動時に、光ヘッドを光ディスク１０８の径方
向へ移動させる光ヘッド移動手段（図１には記載してい
ない）により、光ヘッドを光ディスク１０８よりも外周
に移動させ、光ディスクからの反射光がない状態にす
る。この状態で、光ビームパワー制御手段により照射パ
ワーを、例えば１層ディスクにおける再生パワーにす
る。この時の迷光オフセット量を測定することで、１層
ディスクの再生動作時における迷光オフセット量が求め
られる。同様にして１層ディスクの記録動作時、２層デ
ィスクの再生動作時、２層ディスクの記録動作時におけ
る迷光オフセット量を測定することで、各動作状態にお
ける迷光オフセット量を決定できる。以上に述べた起動
時における一連の迷光オフセット量検出を迷光オフセッ
ト学習と称す。

【００６３】この様な迷光オフセット学習結果を用いる
ことで、光ビーム減衰光学素子１０２の切り替え前後に
おいて光源１０１の発光パワーの変化の影響をなくした
ＦＥ信号およびＴＥ信号を得ることができるため、光ビ
ーム減衰光学素子１０２の切り替え前後の状態に応じた
最適なフォーカス制御およびトラッキング制御が可能と
なる。

【００６４】さらに光ビーム減衰光学素子１０２の切り
替え動作中は、マイコン１１４から光源駆動１１５へ出
力される光量制御信号出力をモニタし、その連続的な変
化に合わせて、迷光オフセットキャンセル電圧を光ビー
ム減衰光学素子１０２切り替え前の値から切り替え後の
値に連続的に変化させることで、光ビーム減衰光学素子
１０２の切り替え動作中においても、適切にエラー信号
の迷光オフセットをなくすことができる。なお、ここで
用いる光ビーム減衰光学素子１０２切り替え前後の迷光
オフセットキャンセル電圧値は、前記した迷光オフセッ
ト学習により予め検出されているものとする。

【００６５】従って、光ビーム減衰光学素子１０２の切
り替え動作中においても、光源１０１の発光パワーの変
化の影響をなくしたＦＥ信号およびＴＥ信号を得ること
ができるため、光ビーム減衰光学素子１０２の切り替え
動作中に最適なフォーカス制御およびトラッキング制御
が可能となる。

【００６６】なお、本実施の形態において透過光量変化
手段は、光ビーム減衰光学素子１０２を光学素子駆動部
１１５からの信号により光路中に機械的に出し入れする
ことで透過率を変化させる構成であるとしたが、光ビー
ム減衰光学素子１０２の代わりに液晶フィルタを用いて
光学素子駆動部１１５からの信号により液晶フィルタを
透過する光ビームの透過率を所定の透過率に変えるよう
にした構成でも前記した効果を得ることができる。

【００６７】以上説明したように、実施の形態１におい
ては、ディスクの種類に応じて光ビーム減衰光学素子１
０２を切り替えることで、光源の出力パワーを量子化雑
音が十分低くなる高パワーにしつつ、照射パワーを記録
層の劣化やデータの消去が起きない低パワーでの再生が
可能となるため、低雑音で良好な再生状態を実現でき
る。

【００６８】また透過光量変化手段である光ビーム減衰
光学素子１０２の透過率変化を、光量制御信号出力もし
くは再生ジッタをモニタすることで検出することが可能
であるため、検出に専用センサ等の追加要素を必要とし
ない。

【００６９】また起動時にフォーカス制御動作およびト
ラッキング制御動作を中断させることなく光ビーム減衰
光学素子１０２の切り替え動作を行えるため、再生動作
と記録動作の切り替え時に連続動作が可能である。

【００７０】さらに、光ビーム減衰光学素子１０２の切
り替え動作に合わせてＦＥ信号およびＴＥ信号の零点ず
れを適切になくすことができるため、光ビーム減衰光学
素子１０２の切り替え動作において最適なフォーカス制
御およびトラッキング制御が可能となる。

【００７１】（実施の形態２）図８は実施の形態２にお
ける光ディスク装置の構成を示すブロック図である。な
お、実施の形態１と同様の部分には同じ番号を付し、そ
の説明を省略する。実施の形態２における光ディスク装
置の動作について、図８を用いて説明する。

【００７２】光源１０１から出射された直線偏光は、光
ビーム減衰光学素子１０２に入射する。光ビーム減衰光
学素子１０２を透過した光ビームは、偏光ビームスプリ
ッタ１０３に入射される。また、偏光ビームスプリッタ
１０３を透過した光ビームはコリメータレンズ１０４に
入射され、コリメータレンズ１０４によって平行光にさ
れる。コリメータレンズ１０４を透過した光ビームは、
１／４波長板１０５で円偏光にされ、ハーフミラー１０
６で約９０％の光量の光ビームが反射され、約１０％の
光量の光ビームがハーフミラー１０６を透過する。ハー
フミラー１０６で反射された光ビームは、対物レンズ１
０７に入射され、光ディスク１０８上に収束照射され
る。

【００７３】ハーフミラー１０６を透過した光ビーム
は、第１の集光レンズ１０９に入射され、第１のディテ
クタ１１０に入射される。第１のディテクタ１１０に入
射された光ビームは電気信号に変換され、光源１０１か
ら出射された光ビームの光量をモニタする電気信号とな
り、マイコン１１４に入力されて光源１０１が所定の光
量を出力するように光量制御信号が出力される。マイコ
ン１１４から出力された光量制御信号は光源駆動部１１
５に入力され、光源１０１は所定の光量を出力するよう
制御される。

【００７４】次に、光ディスク１０８から反射された光
ビームは、対物レンズ１０７を透過し、ハーフミラー１
０６で反射され、１／４波長板１０５を透過し、光源１
０１から出射される光ビームとは直交する直線偏光にさ
れ、コリメータレンズ１０４を透過し、偏光ビームスプ
リッタ１０３により反射される。偏光ビームスプリッタ
１０３で反射された光ビームは、第２の集光レンズ１１
１により集光され、第２のディテクタ１１２に入射され
る。第２のディテクタ１１２に入射された光ビームは電
気信号に変換され、ＦＥ信号生成部１１７とＴＥ信号生
成部１２１と再生ジッタ検出部１２５に出力される。

【００７５】ＦＥ信号生成部１１７は、第２のディテク
タ１１２からの信号に基づいて、例えば非点収差法によ
り光ディスク１０８上に収束照射された光ビームの収束
状態を示すフォーカスエラー信号（ＦＥ信号）を生成
し、フォーカス制御部１２０へ出力する。フォーカス制
御部１２０に入力されたＦＥ信号は、例えばＤＳＰによ
るディジタルフィルタで構成された位相補償回路、低域
補償回路を通過して、フォーカス駆動信号としてフォー
カス駆動部１１９へ出力される。フォーカス駆動部１１
９に入力されたフォーカス駆動信号は、増幅されてフォ
ーカスアクチュエータ１１８を駆動することにより、光
ディスク１０８上に収束照射された光ビームの収束状態
が常に所定の収束状態になるように、対物レンズ１０７
の位置をレンズの光軸方向に制御する。

【００７６】またＴＥ信号生成部１２１は、第２のディ
テクタ１１２からの信号に基づいて、例えばプッシュプ
ル法により光ビームの照射位置を示すトラッキングエラ
ー信号（ＴＥ信号）を生成し、トラッキング制御部１２
４へ出力する。トラッキング制御部１２４に入力された
ＴＥ信号は、例えばＤＳＰによるディジタルフィルタで
構成された位相補償回路、低域補償回路を通過して、ト
ラッキング駆動信号としてトラッキング駆動部１２３へ
出力される。トラッキング駆動部１２３に入力されたフ
ォーカス駆動信号は、増幅されてトラッキングアクチュ
エータ１２２を駆動することにより、光ビームが光ディ
スク１０８上の所望のトラックに照射されるように対物
レンズ１０７の位置を制御する。また再生ジッタ検出部
１２５は、第２のディテクタ１１２からの信号に基づい
て、再生信号のジッタを検出し、マイコン１１４に出力
する。

【００７７】次に、実施の形態２における再生ジッタ検
出部１２５で検出される再生信号ジッタ値と光ビーム減
衰光学素子１０２の利用について詳細に述べる。光ディ
スク装置において再生信号のジッタは様々な要因から発
生するが、その要因の一つとして、光源１０１である半
導体レーザの量子化雑音が上げられる。従来の技術で述
べたように、この量子化雑音は半導体レーザの出力パワ
ーを上げると減少する特性がある。ここで光ビーム減衰
光学素子１０２は、実施の形態１で述べたような図６
（ｂ）の構成を用いることで、光ビーム透過位置に応じ
て段階的に透過率を変化させることができるものとす
る。または、光ビーム減衰光学素子１０２は、液晶フィ
ルタを用いて光学素子駆動部１１５からの信号により液
晶フィルタを透過する光ビームの透過率を所定の透過率
に変えるようにした構成を用いることで、連続的に透過
率を変化させることができるものとする。

【００７８】従って、マイコン１１４に入力された再生
信号ジッタ値が所定の値より高いと判断された場合、マ
イコン１１４は光学素子駆動部１１６に光学素子駆動信
号を出力して、光ビーム減衰光学素子１０２を駆動させ
て再生信号ジッタ値が高いと判断された状態よりも透過
率を下げることで、光ビームパワー制御手段の光ビーム
パワー制御により光源１０１の出力パワーが上がるた
め、光源１０１の量子化雑音は下がる。この様な光ビー
ム減衰光学素子１０２による透過率の減少を、マイコン
１１４に入力された再生ジッタ値が所定の値よりも低く
なるまで行うことで、照射パワーを記録層の劣化やデー
タの消去が起きない所定の所定のパワーにしつつ、半導
体レーザの量子化雑音を下げることが可能である。以上
の方法により、再生信号ジッタ値を所定の値にまで下げ
ることで、良好な再生状態が実現できる。

【００７９】次に、光ビーム減衰光学素子１０２による
透過率の変化範囲について説明する。光源１０１から
は、半導体素子にレーザ発振が開始される閾値以上の駆
動電流を流すことでレーザが出力される。そしてこのレ
ーザの出力パワーは半導体素子の駆動電流に比例する特
性を持つため、駆動電流値を上げることで出力パワーを
上げることができる。しかし、半導体素子の駆動電流が
一定値を越えると素子は破壊されるため、出力パワーが
素子が破壊される値よりも低くなるようにしなければな
らない。

【００８０】その為に、実施の形態２における光ビーム
減衰光学素子１０２による透過率の変化範囲には下限が
あるものとする。透過率に下限を設けることで、光ビー
ム制御手段により制御される光源１０１の出力パワー
は、ある一定の出力パワーを越えることはない。ここ
で、光ビーム減衰光学素子１０２による透過率の最小値
は、光源１０１の出力パワーがその上限である時に、光
ディスク１０８上における照射パワーが、必要とされる
所定の照射パワーとなるように設定された値である。

【００８１】以上のように、光ビーム減衰光学素子１０
２による透過率に最小値を設定することで、光源１０１
の出力パワーをある値に抑えることが可能となるため、
駆動電流過多による光源１０１の半導体レーザ素子の破
壊を防ぐことができる。さらに、実施の形態２におい
て、光ビーム減衰光学素子１０２による透過率を前記し
た最小値にまで下げたにも関わらず、再生信号ジッタ値
が所望の値にまで下がらなかった場合、光ディスク１０
８はこの光ディスク装置では再生できない不適切なディ
スクであると判断することができる。

【００８２】以上説明したように、実施の形態２におい
ては、再生信号ジッタ値が所定の値よりも高い場合に、
光ビーム減衰光学素子１０２による透過率を下げること
で再生信号ジッタ値を下げることが可能であるため、良
好な再生状態が実現できる。また、光ビーム減衰光学素
子１０２による透過率に最小値を設定することで、電流
過多による光源１０１の半導体レーザ素子の破壊を防ぐ
ことができる。

【００８３】

【発明の効果】本発明の光ディスク装置は、光ビームを
発生する光源と、前記光源により光ディスクに照射され
る光ビームのパワーを検出する照射パワー検出手段と、
前記照射パワー検出手段の出力が所定の値になるように
前記光源を駆動する光ビームパワー制御手段と、前記光
源から光ディスクに到達する間で光ビームのパワーを減
衰あるいは増幅させることができるパワー増減手段と、
前記パワー増減手段で光ビームのパワーが増減したこと
を検出する増減検出手段とを備えたので、ディスクの種
類に応じて、光源の出力パワーを量子化雑音が十分低く
なる高パワーにしつつ、照射パワーを記録層の劣化やデ
ータの消去が起きない低パワーでの再生が可能となるた
め、低雑音で良好な再生状態を実現できる。

【００８４】本発明の光ディスク装置は、パワー増減手
段は、透過率を可変できる透過光量変化手段と、前記透
過光量変化手段の透過率を変化させる透過光量制御手段
を備え、増減検出手段は、前記透過光量変化手段の透過
率が変化したことを検出する透過率変化検出手段を備え
たので、ディスクの種類に応じて光学素子により透過率
を変化させることで、光源の出力パワーを量子化雑音が
十分低くなる高パワーにしつつ、照射パワーを記録層の
劣化やデータの消去が起きない低パワーでの再生が可能
となるため、低雑音で良好な再生状態を実現できる。

【００８５】本発明の光ディスク装置は、透過率変化検
出手段は、照射パワー検出手段による検出結果と、光ビ
ームパワー制御手段による光源の駆動値を比較して透過
率変化を検出するように構成したので、センサ等の専用
検出要素を追加することなく透過率変化を検出できる。

【００８６】本発明の光ディスク装置は、光ディスクに
記録されたデータの再生信号のジッタを検出する再生ジ
ッタ検出手段を備え、透過率変化検出手段は、再生ジッ
タ検出手段により検出される再生ジッタ値の変化により
透過率変化を検出するように構成したので、センサ等の
専用検出要素を追加することなく透過率変化を検出でき
る。

【００８７】本発明の光ディスク装置は、透過光量制御
手段により透過光量変化手段の透過率を変えた際に、透
過率変化検出手段により透過率に変化がないと判断され
た場合、透過光量制御手段により再び透過率を変化させ
るように構成したので、確実な透過率変化を実現でき
る。

【００８８】本発明の光ディスク装置は、光ディスクの
情報面に収束照射された光ビームの焦点と情報面のずれ
を検出するフォーカスエラー検出手段と、光ディスクの
情報面に収束照射された光ビームと情報面のトラックの
ずれを検出するトラッキングエラー検出手段とを備え、
透過光量変化手段の透過率を変える際に、前記フォーカ
スエラー検出手段および、または、前記トラッキングエ
ラー検出手段の出力信号のオフセットを変化させるよう
に構成したので、透過率の変化の前後でＦＥ信号および
ＴＥ信号の零点ずれを適切になくすことができるため、
最適なフォーカス制御およびトラッキング制御が可能と
なる。

【００８９】本発明の光ディスク装置は、前記フォーカ
スエラー検出手段および、または、トラッキングエラー
検出手段の出力信号のオフセットを、光源の駆動値の変
化に応じて、連続的に変化させるように構成したので、
透過率が変化中においてＦＥ信号およびＴＥ信号の零点
ずれを適切になくすことができるため、最適なフォーカ
ス制御およびトラッキング制御が可能となる。

【００９０】本発明の光ディスク装置は、収束して照射
された光ビームの焦点を光ディスクの情報面に位置する
ように制御するフォーカス制御手段と、収束して照射さ
れた光ビームを光ディスクのトラック上に位置するよう
に制御するトラッキング制御手段とを備え、透過光量制
御手段は前記フォーカス制御手段、または、前記フォー
カス制御手段および前記トラッキング制御手段を動作さ
せた状態で透過光量変化手段の透過率を変えるように構
成したので、透過率の変化を伴う再生動作と記録動作の
切り替え時において、連続動作が可能である。

【００９１】本発明の光ディスク装置は、透過光量制御
手段は、透過率を、段階的に、または連続的に変化させ
るようにしたので、透過率の変化を伴う再生動作と記録
動作の切り替え時において、連続動作が可能である。

【００９２】本発明の光ディスク装置は、光ビームを発
生する光源と、前記光源により光ディスクに照射される
光ビームのパワーを検出する照射パワー検出手段と、前
記照射パワー検出手段の出力が所定の値になるように前
記光源を駆動する光ビームパワー制御手段と、前記光源
から光ディスクに到達する間で光ビームのパワーを減衰
あるいは増幅させることができるパワー増減手段と、前
記パワー増減手段で光ビームのパワーが増減したことを
検出する増減検出手段と、光ディスクからの反射光に基
づいてディスクに記録された情報の再生信号のジッタを
検出する再生ジッタ検出手段とを備え、前記再生ジッタ
検出手段の出力に基づいて、前記パワー増減手段を制御
するので、再生信号ジッタ値が所定の値よりも高い場合
に、光源の出力パワーを量子化雑音が十分低くなる高パ
ワーにすることで再生信号ジッタ値を下げることが可能
であるため、良好な再生状態が実現できる。

【００９３】本発明の光ディスク装置は、パワー増減手
段は、透過率を可変できる透過光量変化手段と、前記透
過光量変化手段の透過率を変化させる透過光量制御手段
を備え、増減検出手段は、前記透過光量変化手段の透過
率が変化したことを、照射パワー検出手段による検出結
果と、光ビームパワー制御手段による光源の駆動値を比
較して検出するように構成し、透過光量変化手段は、前
記再生ジッタ検出手段の出力に基づいて、前記透過率を
変化させるため、再生信号ジッタ値が所定の値よりも高
い場合に、光学素子を用いて透過率を変化させ光源の出
力パワーを量子化雑音が十分低くなる高パワーにするこ
とで再生信号ジッタ値を下げることが可能であるため、
良好な再生状態が実現できる。

【００９４】本発明の光ディスク装置は、透過光量制御
手段は、再生ジッタ検出手段の出力値が所定の値を下回
るまで透過光量変化手段の透過率を下げるように構成し
たので、透過率を下げても再生信号ジッタ値が所定の値
よりも高い場合に、さらに透過率を下げることで再生信
号ジッタ値を下げることが可能であるため、良好な再生
状態が実現できる。

【００９５】本発明の光ディスク装置は、透過光量変化
手段の透過率の最小値は、光源の駆動値のレベルが光源
の定格値以下となるように設定されているので、再生ジ
ッタ値を下げるために透過率を下げ続けた際に、電流過
多による光源の半導体レーザ素子の破壊を防ぐことがで
きる。

【００９６】本発明の光ディスク装置は、透過光量変化
手段の透過率が、設定された最小値になった際に、再生
ジッタ検出手段の出力値が所定の値を下回っていない場
合、再生動作を止めるように構成したので、再生しよう
としている光ディスクはこの光ディスク装置では再生で
きない不適切なディスクであると判断できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１の光ディスク装置のブロ
ック図

【図２】実施の形態１を説明するための１層ディスクと
２層ディスクの構造の違いを示した模式図

【図３】実施の形態１において光ビーム減衰光学素子の
切り替えタイミングが照射パワーと光量制御信号出力の
変化で検出できることを示した特性図

【図４】実施の形態１を説明するための再生信号に入り
込んだノイズによる再生ジッタの発生を示した波形図

【図５】実施の形態１において光ビーム減衰光学素子の
切り替えタイミングが再生ジッタの変化で検出できるこ
とを示した特性図

【図６】実施の形態１における光ビーム減衰光学素子の
構成とその動作による透過率変化を示す模式図

【図７】実施の形態１におけるエラー信号の迷光オフセ
ットとそれを打ち消す方法を示した模式図

【図８】本発明の実施の形態２の光ディスク装置のブロ
ック図

【符号の説明】

１０１光源１０２光ビーム減衰光学素子１０３偏光ビームスプリッタ１０４コリメータレンズ１０５１／４波長板１０６ハーフミラー１０７対物レンズ１０８光ディスク１０９第１の集光レンズ１１０第１のディテクタ１１１第２の集光レンズ１１２第２のディテクタ１１３反射率検出部１１４マイクロコンピュータ（マイコン）１１５光源駆動部１１６光学素子駆動部１１７フォーカスエラー信号（ＦＥ信号）生成部１１８フォーカスアクチュエータ１１９フォーカス駆動部１２０フォーカス制御部１２１トラッキングエラー信号（ＴＥ信号）生成部１２２トラッキングアクチュエータ１２３トラッキング駆動部１２４トラッキング制御部１２５再生ジッタ検出部

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号ＦＩテーマコート゛(参考）Ｇ１１Ｂ 7/125 Ｇ１１Ｂ 7/125 Ｃ (72)発明者渡邊克也大阪府門真市大字門真1006番地松下電器産業株式会社内 (72)発明者藤畝健司大阪府門真市大字門真1006番地松下電器産業株式会社内 (72)発明者久世雄一大阪府門真市大字門真1006番地松下電器産業株式会社内Ｆターム(参考） 5D090 AA01 CC04 CC16 EE11 FF08 HH01 LL08 5D118 AA14 BA01 BF02 CC12 CD02 CD03 DA40 5D119 AA12 AA34 AA43 BA01 DA05 JA58 5D789 AA12 AA34 AA43 BA01 DA05 JA58

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ビームを発生する光源と、前記光源に
より光ディスクに照射される光ビームのパワーを検出す
る照射パワー検出手段と、前記照射パワー検出手段の出
力が所定の値になるように前記光源を駆動する光ビーム
パワー制御手段と、前記光源から光ディスクに到達する間で光ビームのパワ
ーを減衰あるいは増幅させることができるパワー増減手
段と、前記パワー増減手段で光ビームのパワーが増減し
たことを検出する増減検出手段とを備えたことを特徴と
する光ディスク装置。
【請求項２】パワー増減手段は、透過率を可変できる
透過光量変化手段と、前記透過光量変化手段の透過率を
変化させる透過光量制御手段を備え、増減検出手段は、
前記透過光量変化手段の透過率が変化したことを検出す
る透過率変化検出手段を備えたことを特徴とする請求項
１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】透過率変化検出手段は、照射パワー検出
手段による検出結果と、光ビームパワー制御手段による
光源の駆動値を比較して透過率変化を検出するように構
成したことを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装
置。
【請求項４】光ディスクに記録されたデータの再生信
号のジッタを検出する再生ジッタ検出手段を備え、透過
率変化検出手段は、再生ジッタ検出手段により検出され
る再生ジッタ値の変化により透過率変化を検出するよう
に構成したことを特徴とする請求項２に記載の光ディス
ク装置。
【請求項５】透過光量制御手段により透過光量変化手
段の透過率を変えた際に、透過率変化検出手段により透
過率に変化がないと判断された場合、透過光量制御手段
により再び透過率を変化させるように構成したことを特
徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項６】光ディスクの情報面に収束照射された光
ビームの焦点と情報面のずれを検出するフォーカスエラ
ー検出手段と、光ディスクの情報面に収束照射された光
ビームと情報面のトラックのずれを検出するトラッキン
グエラー検出手段とを備え、透過光量変化手段の透過率
を変える際に、前記フォーカスエラー検出手段および、
または、前記トラッキングエラー検出手段の出力信号の
オフセットを変化させるように構成したことを特徴とす
る請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項７】前記フォーカスエラー検出手段および、
または、トラッキングエラー検出手段の出力信号のオフ
セットを、光源の駆動値の変化に応じて、連続的に変化
させるように構成したことを特徴とする請求項６に記載
の光ディスク装置。
【請求項８】収束して照射された光ビームの焦点を光
ディスクの情報面に位置するように制御するフォーカス
制御手段と、収束して照射された光ビームを光ディスク
のトラック上に位置するように制御するトラッキング制
御手段とを備え、透過光量制御手段は前記フォーカス制
御手段、または、前記フォーカス制御手段および前記ト
ラッキング制御手段を動作させた状態で透過光量変化手
段の透過率を変えるように構成したことを特徴とする請
求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項９】透過光量制御手段は、透過率を、段階的
に、または連続的に変化させるようにしたことを特徴と
する請求項８に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】光ビームを発生する光源と、前記光源
により光ディスクに照射される光ビームのパワーを検出
する照射パワー検出手段と、前記照射パワー検出手段の
出力が所定の値になるように前記光源を駆動する光ビー
ムパワー制御手段と、前記光源から光ディスクに到達する間で光ビームのパワ
ーを減衰あるいは増幅させることができるパワー増減手
段と、前記パワー増減手段で光ビームのパワーが増減し
たことを検出する増減検出手段と、光ディスクからの反射光に基づいてディスクに記録され
た情報の再生信号のジッタを検出する再生ジッタ検出手
段とを備え、前記再生ジッタ検出手段の出力に基づい
て、前記パワー増減手段を制御することを特徴とする光
ディスク装置。
【請求項１１】パワー増減手段は、透過率を可変でき
る透過光量変化手段と、前記透過光量変化手段の透過率
を変化させる透過光量制御手段を備え、増減検出手段
は、前記透過光量変化手段の透過率が変化したことを、
照射パワー検出手段による検出結果と、光ビームパワー
制御手段による光源の駆動値を比較して検出するように
構成し、透過光量変化手段は、前記再生ジッタ検出手段
の出力に基づいて、前記透過率を変化させることを特徴
とする請求項１０に記載の光ディスク装置。
【請求項１２】透過光量制御手段は、再生ジッタ検出
手段の出力値が所定の値を下回るまで透過光量変化手段
の透過率を下げるように構成したことを特徴とする請求
項１１に記載の光ディスク装置。
【請求項１３】透過光量変化手段の透過率の最小値
は、光源の駆動値のレベルが光源の定格値以下となるよ
うに設定されていることを特徴とする請求項１２に記載
の光ディスク装置。
【請求項１４】透過光量変化手段の透過率が、設定さ
れた最小値になった際に、再生ジッタ検出手段の出力値
が所定の値を下回っていない場合、再生動作を止めるよ
うに構成したことを特徴とする請求項１３に記載の光デ
ィスク装置。