JP2003249470A - 気泡を含有するcmp用研磨パッド - Google Patents
気泡を含有するcmp用研磨パッドInfo
- Publication number
- JP2003249470A JP2003249470A JP2002047643A JP2002047643A JP2003249470A JP 2003249470 A JP2003249470 A JP 2003249470A JP 2002047643 A JP2002047643 A JP 2002047643A JP 2002047643 A JP2002047643 A JP 2002047643A JP 2003249470 A JP2003249470 A JP 2003249470A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polishing pad
- resin
- cmp
- polishing
- bubbles
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005498 polishing Methods 0.000 title claims abstract description 122
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 37
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 37
- -1 cyclic olefin Chemical class 0.000 claims abstract description 23
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 22
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims abstract description 13
- JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N olefin Natural products CCCCCCCC=C JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 15
- HECLRDQVFMWTQS-RGOKHQFPSA-N 1755-01-7 Chemical compound C1[C@H]2[C@@H]3CC=C[C@@H]3[C@@H]1C=C2 HECLRDQVFMWTQS-RGOKHQFPSA-N 0.000 claims description 13
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 claims description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 8
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims description 8
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims description 7
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims description 7
- 238000005187 foaming Methods 0.000 claims description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 6
- 238000005649 metathesis reaction Methods 0.000 abstract description 13
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 2
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 45
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 45
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 33
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 18
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 15
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 239000012190 activator Substances 0.000 description 14
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 14
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 14
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 12
- 239000000047 product Substances 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 239000002685 polymerization catalyst Substances 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 7
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 7
- 150000003658 tungsten compounds Chemical class 0.000 description 7
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 6
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 6
- 229920006037 cross link polymer Polymers 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 5
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 5
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 5
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 5
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 5
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000002879 Lewis base Substances 0.000 description 4
- YRKCREAYFQTBPV-UHFFFAOYSA-N acetylacetone Chemical compound CC(=O)CC(C)=O YRKCREAYFQTBPV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000003963 antioxidant agent Substances 0.000 description 4
- CETPSERCERDGAM-UHFFFAOYSA-N ceric oxide Chemical compound O=[Ce]=O CETPSERCERDGAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910000422 cerium(IV) oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000007527 lewis bases Chemical class 0.000 description 4
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 4
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 4
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 4
- 239000005060 rubber Substances 0.000 description 4
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 4
- OJOWICOBYCXEKR-KRXBUXKQSA-N (5e)-5-ethylidenebicyclo[2.2.1]hept-2-ene Chemical compound C1C2C(=C/C)/CC1C=C2 OJOWICOBYCXEKR-KRXBUXKQSA-N 0.000 description 3
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000005907 alkyl ester group Chemical group 0.000 description 3
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 3
- JFDZBHWFFUWGJE-UHFFFAOYSA-N benzonitrile Chemical compound N#CC1=CC=CC=C1 JFDZBHWFFUWGJE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000000806 elastomer Substances 0.000 description 3
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 3
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 3
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DKGAVHZHDRPRBM-UHFFFAOYSA-N Tert-Butanol Chemical compound CC(C)(C)O DKGAVHZHDRPRBM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 230000003078 antioxidant effect Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000002738 chelating agent Substances 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N chlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=CC=C1 MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 2
- 238000007334 copolymerization reaction Methods 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- SBZXBUIDTXKZTM-UHFFFAOYSA-N diglyme Chemical compound COCCOCCOC SBZXBUIDTXKZTM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MTZQAGJQAFMTAQ-UHFFFAOYSA-N ethyl benzoate Chemical compound CCOC(=O)C1=CC=CC=C1 MTZQAGJQAFMTAQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 2
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 2
- AGQPHHBPENBBIO-UHFFFAOYSA-M iodo(dioctyl)alumane Chemical compound [I-].CCCCCCCC[Al+]CCCCCCCC AGQPHHBPENBBIO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 2
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 description 2
- JFNLZVQOOSMTJK-KNVOCYPGSA-N norbornene Chemical compound C1[C@@H]2CC[C@H]1C=C2 JFNLZVQOOSMTJK-KNVOCYPGSA-N 0.000 description 2
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 2
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 2
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 description 2
- 229920005749 polyurethane resin Polymers 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000010107 reaction injection moulding Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 2
- 230000003685 thermal hair damage Effects 0.000 description 2
- LFXVBWRMVZPLFK-UHFFFAOYSA-N trioctylalumane Chemical compound CCCCCCCC[Al](CCCCCCCC)CCCCCCCC LFXVBWRMVZPLFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KPGXUAIFQMJJFB-UHFFFAOYSA-H tungsten hexachloride Chemical compound Cl[W](Cl)(Cl)(Cl)(Cl)Cl KPGXUAIFQMJJFB-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 2
- DURPTKYDGMDSBL-UHFFFAOYSA-N 1-butoxybutane Chemical compound CCCCOCCCC DURPTKYDGMDSBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VSKJLJHPAFKHBX-UHFFFAOYSA-N 2-methylbuta-1,3-diene;styrene Chemical compound CC(=C)C=C.C=CC1=CC=CC=C1.C=CC1=CC=CC=C1 VSKJLJHPAFKHBX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JURLNXPXCMWCHE-UHFFFAOYSA-N 3-ethylidenebicyclo[2.2.1]heptane Chemical compound C1CC2C(=CC)CC1C2 JURLNXPXCMWCHE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JGLIHSMBVDZMSA-UHFFFAOYSA-N 5-(cyclohexen-1-yl)bicyclo[2.2.1]hept-2-ene Chemical compound C1=CC2CC1CC2C1=CCCCC1 JGLIHSMBVDZMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OWETXGRKCLKMMD-UHFFFAOYSA-N 5-(phenoxymethyl)bicyclo[2.2.1]hept-2-ene Chemical compound C1C(C=C2)CC2C1COC1=CC=CC=C1 OWETXGRKCLKMMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PSCJIEZOAFAQRM-UHFFFAOYSA-N 5-chlorobicyclo[2.2.1]hept-2-ene Chemical compound C1C2C(Cl)CC1C=C2 PSCJIEZOAFAQRM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WDJHALXBUFZDSR-UHFFFAOYSA-N Acetoacetic acid Natural products CC(=O)CC(O)=O WDJHALXBUFZDSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NLZUEZXRPGMBCV-UHFFFAOYSA-N Butylhydroxytoluene Chemical compound CC1=CC(C(C)(C)C)=C(O)C(C(C)(C)C)=C1 NLZUEZXRPGMBCV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AWCQWNRKKJKTGK-UHFFFAOYSA-N C(=O)=C1C(C2C=CC1C2)C Chemical compound C(=O)=C1C(C2C=CC1C2)C AWCQWNRKKJKTGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ROQVLEJBZBDIMF-UHFFFAOYSA-N C.C=CC(C)(C)C=1C(=C(C=C(C=CC(=O)O)C1)C(C)(C)C)O.C=CC(C)(C)C=1C(=C(C=C(C=CC(=O)O)C1)C(C)(C)C)O.C=CC(C)(C)C=1C(=C(C=C(C=CC(=O)O)C1)C(C)(C)C)O.C=CC(C)(C)C=1C(=C(C=C(C=CC(=O)O)C1)C(C)(C)C)O Chemical compound C.C=CC(C)(C)C=1C(=C(C=C(C=CC(=O)O)C1)C(C)(C)C)O.C=CC(C)(C)C=1C(=C(C=C(C=CC(=O)O)C1)C(C)(C)C)O.C=CC(C)(C)C=1C(=C(C=C(C=CC(=O)O)C1)C(C)(C)C)O.C=CC(C)(C)C=1C(=C(C=C(C=CC(=O)O)C1)C(C)(C)C)O ROQVLEJBZBDIMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KNOVZEUMNAFMCY-UHFFFAOYSA-N C12CCC(C=C1)C2.C21CCC(C=C2)C1.C=C Chemical compound C12CCC(C=C1)C2.C21CCC(C=C2)C1.C=C KNOVZEUMNAFMCY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002943 EPDM rubber Polymers 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UTGQNNCQYDRXCH-UHFFFAOYSA-N N,N'-diphenyl-1,4-phenylenediamine Chemical compound C=1C=C(NC=2C=CC=CC=2)C=CC=1NC1=CC=CC=C1 UTGQNNCQYDRXCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000459 Nitrile rubber Polymers 0.000 description 1
- IGFHQQFPSIBGKE-UHFFFAOYSA-N Nonylphenol Natural products CCCCCCCCCC1=CC=C(O)C=C1 IGFHQQFPSIBGKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005062 Polybutadiene Substances 0.000 description 1
- 239000012327 Ruthenium complex Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001297 Zn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- XVEUJTIZHZIHJM-UHFFFAOYSA-N a828782 Chemical compound CCOC(N)=O.CCOC(N)=O XVEUJTIZHZIHJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003929 acidic solution Substances 0.000 description 1
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 1
- 125000005234 alkyl aluminium group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BMAXQTDMWYDIJX-UHFFFAOYSA-N bicyclo[2.2.1]hept-2-ene-5-carbonitrile Chemical compound C1C2C(C#N)CC1C=C2 BMAXQTDMWYDIJX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FACXGONDLDSNOE-UHFFFAOYSA-N buta-1,3-diene;styrene Chemical compound C=CC=C.C=CC1=CC=CC=C1.C=CC1=CC=CC=C1 FACXGONDLDSNOE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920005549 butyl rubber Polymers 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 238000010538 cationic polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- BWKCCRPHMILRGD-UHFFFAOYSA-N chloro hypochlorite;tungsten Chemical compound [W].ClOCl BWKCCRPHMILRGD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 1
- 125000004093 cyano group Chemical group *C#N 0.000 description 1
- 229920005565 cyclic polymer Polymers 0.000 description 1
- 150000001925 cycloalkenes Chemical group 0.000 description 1
- NOSWQDCFTDHNCM-UHFFFAOYSA-N cyclopenta-1,3-diene;1-methylcyclopenta-1,3-diene Chemical compound C1C=CC=C1.CC1=CC=CC1 NOSWQDCFTDHNCM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YNLAOSYQHBDIKW-UHFFFAOYSA-M diethylaluminium chloride Chemical compound CC[Al](Cl)CC YNLAOSYQHBDIKW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- CQYBWJYIKCZXCN-UHFFFAOYSA-N diethylaluminum Chemical compound CC[Al]CC CQYBWJYIKCZXCN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000539 dimer Substances 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000005323 electroforming Methods 0.000 description 1
- 238000000635 electron micrograph Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 125000004185 ester group Chemical group 0.000 description 1
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 1
- 125000001033 ether group Chemical group 0.000 description 1
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 1
- RIZMRRKBZQXFOY-UHFFFAOYSA-N ethion Chemical compound CCOP(=S)(OCC)SCSP(=S)(OCC)OCC RIZMRRKBZQXFOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000003063 flame retardant Substances 0.000 description 1
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 1
- 238000010097 foam moulding Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- 125000005843 halogen group Chemical class 0.000 description 1
- 239000003779 heat-resistant material Substances 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N hydrogen chloride Substances Cl.Cl IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000041 hydrogen chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000005462 imide group Chemical class 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 239000012442 inert solvent Substances 0.000 description 1
- 239000012948 isocyanate Substances 0.000 description 1
- 150000002513 isocyanates Chemical group 0.000 description 1
- 239000004611 light stabiliser Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- RMAZRAQKPTXZNL-UHFFFAOYSA-N methyl bicyclo[2.2.1]hept-2-ene-5-carboxylate Chemical compound C1C2C(C(=O)OC)CC1C=C2 RMAZRAQKPTXZNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003607 modifier Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002825 nitriles Chemical class 0.000 description 1
- 239000002736 nonionic surfactant Substances 0.000 description 1
- SNQQPOLDUKLAAF-UHFFFAOYSA-N nonylphenol Chemical compound CCCCCCCCCC1=CC=CC=C1O SNQQPOLDUKLAAF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SJYNFBVQFBRSIB-UHFFFAOYSA-N norbornadiene Chemical compound C1=CC2C=CC1C2 SJYNFBVQFBRSIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003518 norbornenyl group Chemical group C12(C=CC(CC1)C2)* 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 125000005010 perfluoroalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920002857 polybutadiene Polymers 0.000 description 1
- 229920001195 polyisoprene Polymers 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 125000002924 primary amino group Chemical group [H]N([H])* 0.000 description 1
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 1
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 description 1
- 229910052702 rhenium Inorganic materials 0.000 description 1
- WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N rhenium atom Chemical compound [Re] WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007142 ring opening reaction Methods 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 229920000468 styrene butadiene styrene block copolymer Polymers 0.000 description 1
- 229920001059 synthetic polymer Polymers 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- AFCAKJKUYFLYFK-UHFFFAOYSA-N tetrabutyltin Chemical compound CCCC[Sn](CCCC)(CCCC)CCCC AFCAKJKUYFLYFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007751 thermal spraying Methods 0.000 description 1
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 description 1
- 229920002803 thermoplastic polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004416 thermosoftening plastic Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Manufacture Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
- Molding Of Porous Articles (AREA)
- Polyoxymethylene Polymers And Polymers With Carbon-To-Carbon Bonds (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
欠点を解決し、吸水性が小さく、適度な硬さを有し、か
つ耐久性が良好なCMP用研磨パッド及びその製造方法を
提供することにある。 【解決手段】 メタセシス重合性環状オレフィンからな
り、かつ熱変形温度が90〜130℃である樹脂により
成形されたCMP用研磨パッドであって、該研磨パッド
は、その断面から測定した平均直径が50μ以下であり
実質的に独立の気泡を含有し、かつ気泡の面密度が1E
+4個/cm2以上であるCMP用研磨パッド。
Description
ス基板の表面を研磨したり、該基板上に設けられて素
子、配線の段差を無くすための平坦化処理のCMP研磨
パッドに関する。
や高密度化が進み、それに使用される基板を高精度に研
磨する必要がある。又、更に進んで基板状に形成した素
子や配線の凹凸を研磨する事で平坦化し多層構成のデバ
イスを作成する事が生産に適用されている。この様な超
平坦化を行う研磨法として化学的機械的研磨法(以下C
MPと略す)が開発されて利用されている。CMP用研
磨パッドとしては表面がポリウレタン製の不織布タイプ
や発泡タイプのパッドが使用されている。しかしなが
ら、ポリウレタン樹脂は柔らかく研磨パッドとしての耐
久性が低いことと、柔らかいために被研磨物の表面の凹
凸を全面に研磨した時に本来なら研磨が必要な凸部のみ
を削る以外に同時に凹部まで削り、なかなか凹凸が解消
出来ない問題がある。
使用されるが多くの場合研磨剤として酸化物微粒子を含
む水溶液が用いられるのでナイロン樹脂が吸水して、そ
の結果パッドが変形し、被研磨物表面を逆に傷つけるこ
とがあるという問題が生じている。
研磨パッドに使用することが特開平9-11119号公報に記
載されている。この公報に記載された具体的な例は、ポ
リカーボネート樹脂よりなる研磨パッドである。ポリカ
ーボネート樹脂はその吸水率が約0.3重量%であり比較
的に吸水し易い。その為に研磨剤含有水スラリーの使用
時において、パッドの変形による被研磨物表面への傷発
生の問題が生じている。
とは特開昭64-58475号公報に記載されるように従来から
実用化されており、不織布にポリウレタンを含浸させた
多孔質ウレタンタイプやポリウレタン溶液を湿式法で成
型した発泡ポリウレタンタイプが利用されている。いず
れも表面に気泡孔を具備させた構造で、被研磨物の保持
性に優れ、供給する研磨スラリーを保持させるにも好適
であるが、硬さの点で柔らかく、使用時に圧縮変形が生
じ、研磨によって得られる被研磨物の製品表面の平坦性
に劣り、研磨パッドの寿命も短いと言う欠点があった。
上述したような従来の欠点を解決し、吸水性が小さく、
適度な硬さを有し、かつ耐久性が良好なCMP用研磨パ
ッド及びその製造方法を提供することにある。
の目的を解決するために鋭意研究を進めた結果、ジシク
ロペンタジエン系の2つの成分、すなわち触媒を含んだ
モノマーAを含有するモノマーA液と活性化剤を含んだ
モノマーB含有するモノマーB液を用いて発泡成形する
ことにより得られる熱変形温度が高い樹脂を用い、かか
る樹脂中に存在する多数の気泡の大きさ、密度を制御す
ることにより、本発明を完成するに至ったものである。
る。 1. メタセシス重合性環状オレフィンからなり、かつ
熱変形温度が90〜130℃である樹脂により成形され
たCMP用研磨パッドであって、該研磨パッドは、その
断面から測定した平均直径が50μ以下である実質的に
独立の気泡を含有し、かつ気泡の面密度が1E+4個/
cm2以上であるCMP用研磨パッド。 2. 上記メタセシス重合性環状オレフィンが主として
ジシクロペンタジエンである、上記のCMP用研磨パッ
ド。 3. 上記樹脂は、圧縮弾性率が980〜1960MP
aであり、かつ吸水率が0.01〜0.2重量%である
上記のCMP用研磨パッド。 4. 上記樹脂は、界面活性剤を0.01〜1重量%含
有している上記のCMP用研磨パッド。 5. 上記樹脂は、水に対する接触角が50度以下であ
る上記のCMP用研磨パッド。 6. 上記研磨パッドは、平板状の形態を有しかつその
表面に0.5〜4mmの深さ、0.4〜4mmの幅、及
び0.6〜3.5mmのピッチを有する上記のCMP用
研磨パッド。 7. 一方の面に上記研磨パッドより柔らかいクッショ
ン層を介してパッド取り付け冶具に固定されている上記
のCMP用研磨パッド。 8. メタセシス重合性環状オレフィンの2つの化学成
分を反応の生じないように2つの密閉容器にそれぞれ用
意し、各密閉容器内に成分と反応しない発泡性ガスを導
入して、密閉容器内のそれぞれの成分に飽和溶解させた
後、これら2成分を混合し、金型内で射出反応させて製
造される樹脂により成形された上記のCMP用研磨パッ
ドの製造方法。
する。
脂は、メタセシス重合性環状オレフィンの開環重合体に
よる架橋重合体である。
しては、メタセシス重合性シクロアルケン基を分子中に
1〜2個含有するものが使用される。好ましくはノルボ
ルネン骨格を分子中に少なくとも1つ有する化合物であ
る。これらの具体例としては、ジシクロペンタジエン、
トリシクロペンタジエン、シクロペンタジエン−メチル
シクロペンタジエン共二量体、5−エチリデンノルボル
ネン、ノルボルネン、ノルボルナジエン、5−シクロヘ
キセニルノルボルネン、1,4,5,8−ジメタノ−
1,4,4a,5,6,7,8,8a−オクタヒドロナ
フタレン、1,4−メタノ−1,4,4a,5,6,
7,8,8a−オクタヒドロナフタレン、6−エチリデ
ン−1,4,5,8−ジメタノ−1,4,4a,5,
6,7,8,8a−オクタヒドロナフタレン、6−エチ
リデン−1,4−メタノ−1,4,4a,5,6,7,
8,8a,−オクタヒドロナフタレン、1,4,5,8
−ジメタノ−1,4,4a,5,8,8a−ヘキサヒド
ロナフタレン、エチレンビス(5−ノルボルネン)など
を挙げることができ、これらの混合物も使用することが
できる。特にジシクロペンタジエンまたはそれを50モ
ル%以上、好ましくは70モル%以上含む混合物が好適
に用いられる。
種元素を含有する極性基を有するメタセシス重合性環状
オレフィンを共重合モノマーとして用いることができ
る。かかる共重合モノマーも、ノルボルネン構造単位を
有するものが好ましく且つ極性基としてはエステル基、
エーテル基、シアノ基、N−置換イミド基、ハロゲン基
などが好ましい。かかる共重合モノマーの具体例として
は、5−メトキシカルボニルノルボルネン、5−(2−
エチルヘキシロキン)カルボニル−5−メチルノルボル
ネン、5−フェニロキシメチルノルボルネン、5−シア
ノノルボルネン、6−シアノ−1,4,5,8−ジメタ
ノ−1,4,4a,5,6,7,8,8a−オクタヒド
ロナフタレン,N−ブチルナディック酸イミド、5−ク
ロルノルボルネンなどを挙げることができる。
状オレフィンをメタセシス重合させて得られた架橋重合
体である。かかるメタセシス重合に使用される触媒は、
それ自体知られた触媒を使用することができる。例えば
ルテニウム−錯体触媒をメタセシス重合触媒として使用
することができ、また後述するような触媒成分と活性化
剤成分との組合せによるメタセシス重合触媒を使用する
こともできる。一般には、メタセシス重合触媒として触
媒成分と活性化剤成分とを組み合わせたメタセシス触媒
系を使用するのが実質的に優れている。次にこのメタセ
シス触媒系を使用する環状オレフィンの環状重合体の製
造方法について詳述する。
方のモノマー液A(溶液A)には、メタセシス重合触媒
系の触媒成分を含有させ、他方のモノマー液B(溶液
B)にはメタセシス重合触媒系の活性化剤成分を含有さ
せ、重合および成形に際して、この両溶液を混合させる
方法である。
は、メタセシス重合触媒系の触媒成分が含有されてい
る。かかる触媒成分としては、タングステン、レニウ
ム、タンタル、モリブデンなどの金属のハライドなどの
塩類が用いられるが、特にタングステン化合物が好まし
い。かかるタングステン化合物としては、タングステン
ヘキサハライド、タングステンオキシハライドなどが好
ましく、より具体的にはタングステンヘキサクロライ
ド、タングステンオキシクロライドなどが好ましい。ま
た、有機アンモニウムタングステン酸塩なども用いるこ
とができる。かかるタングステン化合物は、直接モノマ
ーに添加すると、直ちにカチオン重合を開始することが
分かっており好ましくない。従って、かかるタングステ
ン化合物は不活性溶媒、例えばベンゼン、トルエン、ク
ロロベンゼンなどに予め懸濁し、少量のアルコール系化
合物および/またはフェノール系化合物を添加すること
によって可溶化させて使用するのが好ましい。さらに上
述した如き、好ましくない重合を予防するためにタング
ステン化合物1モルに対し、約1〜5モルのルイス塩基
またはキレート化剤を添加することが好ましい。かかる
添加剤としてはアセチルアセトン、アセト酢酸アルキル
エステル類、テトラヒドロフラン、ベンゾニトリルなど
を挙げることができる。極性モノマーを用いる場合に
は、前述の如く、そのものがルイス塩基である場合があ
り、上記の如き化合物を特に加えなくてもその作用を有
している場合もある。前述の如くして、触媒成分を含む
モノマー液A(溶液A)は、実質上充分な安定性を有す
ることになる。
タセシス重合触媒系の活性化剤成分が含有されている。
この活性化剤成分は、周期律表第I〜第III族の金属
のアルキル化物を中心とする有機金属化合物、特にテト
ラアルキル錫、アルキルアルミニウム化合物、アルキル
アルミニウムハライド化合物が好ましく、具体的には塩
化ジエチルアルミニウム、ジ塩化エチルアルミニウム、
トリオクチルアルミニウム、ジオクチルアルミニウムア
イオダイド、テトラブチル錫などを挙げることができ
る。これら活性化剤成分としての有機金属化合物をモノ
マーに溶解することにより、モノマー液B(溶液B)が
形成される。
発泡性ガスを添加した前記溶液Aおよび溶液Bを混合
し、金型内に注入することによって、目的とする架橋重
合体の成形物を得ることができる。しかし、上記組成の
ままでは、重合反応が非常に速く開始されるので、成形
金型に十分流れ込まない間に硬化が起こることもあり問
題となる場合もある。このような場合には活性調節剤を
用いることが好ましい。かかる調節剤としてはルイス塩
基類が一般に用いられ、なかんずく、エーテル類、エス
テル類、ニトリル類などが用いられる。具体例としては
安息香酸エチル、ブチルエーテル、ジグライムなどを挙
げることができる。かかる調節剤は一般的に、有機金属
化合物の活性化剤の成分の溶液(溶液B)の側に添加し
て用いられる。前述と同様にルイス塩基を有するモノマ
ーを使用する場合には、それに調節剤の役目を兼ねさせ
ることができる。
触媒成分としてタングステン化合物を用いる場合は、上
記原料モノマーに対するタングステン化合物の比率は、
モル基準で約1,000対1〜15,000対1、好ま
しくは2,000対1の付近であり、また、活性化剤成
分はアルキルアルミニウム類を用いる場合には、上記原
料モノマーに対するアルミニウム化合物の比率は、モル
基準で約100対1〜10,000対1、好ましくは2
00対1〜1,000対1の付近が用いられる。さらに
上述した如きキレート化剤や調節剤については、実験に
よって上記触媒系の使用量に応じて、適宜調節して用い
ることができる。
物には、実用に当たってその特性を改良または維持する
ために更にその目的に応じた各種添加剤を配合すること
ができる。かかる添加剤としては、充填剤、顔料、酸化
防止剤、光安定剤、難燃剤、高分子改良剤などがある。
このような添加剤は、本発明の架橋重合体が成形されて
後は添加することが不可能であるから添加する場合には
予め前述した原料溶液に添加しておく必要がある。
には、界面活性剤を0.01〜1重量%含有させることが出
来る。界面活性剤を樹脂中に含有させることにより研磨
パッドの使用により被研磨物質の研磨傷や欠陥を発生し
がたくなり、又研磨パッドの耐久性が向上する利点が得
られるだけでなく、樹脂中に均一な気泡を作成すること
に効果がある。樹脂中に含有せしめる界面活性剤として
はアニオンタイプ、カチオンタイプ、両性タイプ、ノニオ
ンタイプのいずれのタイプでも使用可能であるが、溶液
A,Bに予め添加しておく場合は触媒あるいは活性化剤
と反応しないものを選択すべきである。一般にはノニオ
ンタイプの界面活性剤が好ましい。また、化学構造とし
ては表面張力を下げるに著しい効果があるフッ素系界面
活性剤やシリコン系界面活性剤が好ましく、特にフッ素
系ノニオンタイプの界面活性剤が好ましい。
フッ素化アルキルエステル、パーフルオロアルキルエチ
レンオキシド付加物、パーフルオロアルキルアミンオキ
シド、パーフルオロアルキル含有アオリゴマ-などが挙
げられる。この中でフッ素化アルキルエステル、パーフ
ルオロアルキルエチレンオキシド付加物などが好適に用
いられる。
は、前記溶液Aおよび溶液Bのいずれかまたは両方に前
もって添加しておく方法を挙げることができるが、その
場合、その液中の反応性の強い触媒成分、活性化剤成分
と実用上差支えある程度には反応せず、且つ重合を阻害
しないものでなくてはならない。どうしても、その反応
が避け得ないものが共存しても、重合を実質的に阻害し
ないものあるいは短時間には阻害しないものの場合は、
モノマーと混合して、溶液A、溶液B以外の第三液を調
製し、重合直前に混合使用することもできる。また、重
合触媒または活性化剤を第三液とし、これを含まない溶
液Aまたは溶液Bに上記添加物を添加する方法も考えら
れる。さらに、固体の充填剤の場合であって、両成分が
混合されて、重合反応を開始する直前あるいは重合しな
がら、その空隙を充分に埋め得る形状の物については、
成形金型内に充填しておくことも可能である。また、本
発明による成形物は、酸化防止剤を添加しておくことが
好ましく、そのため、フェノール系またはアミノ系の酸
化防止剤を予め溶液中に加えておくことが望ましい。こ
れら酸化防止剤の具体例としては、2,6−ジ−t−ブ
チル−p−クレゾール、N,N'−ジフェニル−p−フ
ェニレンジアミン、テトラキス[メチレン(3,5−ジ
−t−ブチル−4−ヒドロキシシンナメート)]メタン
などが挙げられる。
をモノマー溶液状態の時に添加しておいて得ることがで
きる。かかる重合体添加剤としてはエラストマーが、成
形物の耐衝撃性を高めることおよび溶液の粘度を調節す
る上で効果がある。かかる目的に用いられるエラストマ
ーとしては、スチレン−ブタジエン−スチレントリブロ
ックゴム、スチレン−イソプレン−スチレントリブロッ
クゴム、ポリブタジエン、ポリイソプレン、ブチルゴ
ム、エチレンプロピレン−ジエンターポリマー、ニトリ
ルゴムなど広範なエラストマーを挙げることができる。
応射出成形(RIM成形)で製造されるジシクロペンタ
ジエン重合体の成形物から形成された研磨パッド中に比
較的均一な微細で実質的に独立な気泡を多数含有するこ
とである。これは、言い換えれば、互いの気泡間の連通
がほとんどなく独立の気泡が多数を占めるものである。
かかる微小な気泡は表面が開口するとその中に研磨スラ
リーを閉じ込めることで被研磨物との界面での研磨スラ
リーの保持力を向上するとともに、その微小な径の為に
研磨パッドの磨耗により常に新しい気泡が研磨面に供給
されることで研磨面の均一性を向上させたことを最大の
特徴とするものである。その為には、CMP用研磨パッ
ドの断面から測定した該気泡のサイズが50μm直径以
下である。好ましくは40μmより小さい。この結果、
サブミクロンルールで設計されている半導体等の素子、
配線面の平坦化の均一性が得られる。またCMP用研磨
パッドの断面における単位面積当たりの個数(面密度)
は1×104個/cm2以上が必要であり、より好ましく
は1.5X104個/cm2以上である。多数の微小な気
泡が均一に存在することで被研磨物と接触する気泡部分
が順次変化し、上記半導体表面加工に均一性が得られ
る。しかしながら、気泡が多すぎると、気泡同士が合体
し空洞が大きくなり連通することで、機械的強度を低下
させ、研磨パッドの歪の発生による研磨面に凹凸を発生
させる原因となる。さらに研磨スラリーが連通孔に閉じ
込められるために研磨パッドの目詰まりが生じやすく、
同一位置で高濃度の研磨スラリーによる研磨が生じ続け
るために凹凸が増幅される問題点が生じ極めて不都合で
ある。又、目詰まりが生じるとドレッシングと呼ばれる
再生処理が必要となり、工程が余分に必要でありコスト
アップの要因にもなっている。一方、本発明の研磨パッ
ドでは気泡が独立微小であり目詰まりが生じにくく、ド
レッシング工程を省力できる利点がある。
が(おおよそ70%以上の気泡は)独立した気泡である
為に気泡内に閉じ込められたスラリー量が極微量であ
り、且つ研磨パッド表面の磨耗による気泡の消滅ととも
にその研磨位置が変化して均一な平坦化に寄与する。該
気泡のサイズと個数は研磨パッドの断面を電子顕微鏡観
察して測定、計測する。具体的には、100倍〜200
倍の倍率で研磨パッドの断面の電子顕微鏡写真を撮影
し、その写真上の一定断面積中で観察されるセル径、セ
ル数を測定しその平均値で表す。
により全体の温度が上昇するので耐熱性がある材料が求
められる。熱変形温度としては90℃以上が必要であり
好ましくは90〜130℃である。被研磨物の温度が上
がりすぎると素子特性に熱による悪影響が出る恐れがあ
るので130℃以上では研磨パッドが変形し被研磨物へ
の影響を軽減することが好ましい。
度が要求される。本発明の研磨パッドの圧縮弾性率は9
80〜1980MPa(10000〜20000Kgf/cm2)が好ま
しい。圧縮弾性率が980MPaより小さいと凹凸表面
の凸部だけを研磨するのが難しく、又、研磨時の耐久性
が低い場合がある。
表面を傷つける恐れがあり、1980MPa以下が好ま
しい。
が用いられる。耐衝撃性はノッチ付アイゾッドの値で1
96〜588J/m(20〜60Kg・cm/cm)である。かか
る特性を有する材料は研磨に使用するときばかりでな
く、組み立てなどの取り扱い時にもなんら破損すること
なく使用できる。
るので研磨パッドにも適度な吸水性能が必要である。本
発明の樹脂の吸水率は、24時間25℃の水中に浸漬し
た重量変化によって求められるが、その吸水率は0.01〜
0.2重量%、さらに好ましくは0.03〜0.1重量%である。
かかる吸水率の樹脂は、水スラリーの研磨剤の使用にお
いて、形状もまた樹脂の特性もなんら変わることなく使
用できる。吸水率が大きすぎると研磨パッドの形状変化
を生じ平坦な加工が困難になる。又、全く吸水しないと
研磨面での温度上昇が発生しやすく被研磨物への熱的な
ダメージが生じやすい。さらに研磨スラリーの保持が弱
くなり研磨速度の変動を生じやすくなる。
を生じる為に酸性、あるいはアルカリ性の溶液として使
用される。本研磨剤溶液が研磨パッド上で均一に分散す
る為には研磨パッドの濡れ性が良好なことが好ましい。
濡れ性を規定する方法としては接触角の測定が一般的に
行われるが、本発明の研磨パッドはPH7の水溶液に対
する接触角は50度以下であり良好な濡れ性を示してい
る。
内蔵する樹脂を製造する方法を以下に説明する。前記原
料のモノマー液A及びモノマー液Bは、反応を生じさせ
ないように分けて、それぞれを密閉して収容できる第1
容器及び第2容器に収容しておく。そして、これら各モ
ノマー液が収容された第1容器及び第2容器に、ガス供
給手段から発泡性ガスを導入して、第1容器及び/又は
第2容器中にあるそれぞれのモノマー液に飽和させる。
この場合、導入するガスは通常、チッソガスか二酸化炭
素ガスが用いられる。好ましくは窒素ガスが使用され
る。
を飽和させるには、例えば、常温下において圧力のみを
加えて飽和させる場合、ガス供給手段に加圧装置を備
え、この加圧装置によりガスを第1容器及び第2容器内
に圧送すると共に、第1容器及び第2容器内を加圧し
て、例えば、約10時間で6MPa以上の圧力を加え
る、或いは、約3〜5時間で8MPa以上の圧力を加え
ることにより行う。なお、ジシクロペンタジエンの場合
は、重合反応を精度良く制御する観点からか、モノマー
液は20〜40℃程度の温度にコントロールされるのが
普通である。
で、これら第1容器及び第2容器に連通し前記2モノマ
ー液を混合する混合チャンバー(ミキシングヘッド)に
各モノマー液を送り、この混合チャンバーにおいて2液
を均一に混合する。各成分の輸送はポンプなどを用いて
行なわれる。そして、混合された2液は、金型に送られ
て、混合成分が化学反応を起こすとともに、制御された
金型内の圧力と温度から圧力及び/又は温度を急激に変
化させる。
よる圧力温度変化に加えて、外部からの制御による急激
な圧力及び/又は温度の変化により、予め2液中、又
は、片方のモノマー液中で飽和しているガスの混合成分
に対する溶解度が低下して、それを契機として、均一且
つ微小なセル径をもつ発泡合成重合体を製造できるので
ある。この場合、圧力、温度の何れを変化させてもよい
が、高圧によりガスを飽和させている場合は、圧力温度
制御手段として圧力調整弁を備えて、この圧力調整弁を
開いて金型内の圧力を急激に低下させるように制御する
のが好ましい。
るには、例えば、上記のように8〜6MPa以上の圧力で
飽和させている場合には、反応時の圧力として4〜2MP
a以下とするのが好ましい。また、前記圧力温度制御手
段を用いて、金型内の圧力及び/又は温度を適宜制御す
ることにより、樹脂中の気泡径や気泡数を調節でき、所
望の気泡径や気泡数をもつ架橋重合体を得ることができ
る。なお、モノマー液中のガス濃度を制御することで
も、樹脂中の気泡径や気泡数を調節できる。
曲状等の形状で用いられる。本発明の研磨パッドの表面
には研磨界面への微粒子含有スラリーを安定に供給、排
出するための溝が設けられる。この溝は樹脂成形物の少
なくとも一表面を削ることにより設けることもできる
が、本発明の樹脂は液状の混合液を金型内に注入し重合
と成形を同時に行うのであるから、金型表面にかかる形
状を設けておくことで容易に溝付の研磨パッドを作成す
ることが出来る。研磨パッドの溝の深さは0.5〜4m
m、溝の幅は0.4〜4mm、溝のピッチは0.6〜3mmが
望ましい。
しては、スチール、鋳造、あるいは鍛造のアルミニュー
ム、亜鉛合金などの鋳造や溶射、ニッケルや銅などの電
鋳または樹脂などが上げられる。又、金型の構造は成形
時に金型内に発生する圧力が数Kg/cm2と他の成形方法に
比べて極めて低いので簡単なもので十分である。その為
に本発明の研磨パッドのコストは他の熱可塑性、熱硬化
性樹脂パッドよりも安く作る事が出来る。
面(裏側)に、アルミニウム、ステンレス等の材料から
なるパッド取り付け用冶具に固定して使用することがで
きる。固定する際、該研磨パッドより柔らかい材料をク
ッション層として介すると、段差のある被研磨物との接
触が容易になるので好ましい。かかる材料としては、例
えば、発泡ウレタン樹脂等が挙げられる。
明する。もちろん本発明はこれに限定されるものではな
い。なお熱変形温度(HDT)はJIS-K720の試験法にのっ
とり3mm厚の試験片を1.81MPaの加重で測定した。
重量部を窒素気流中下で乾燥トルエン80重両部に添加
し、次いでt−ブタノール1.3重量部をトルエン1重
量部に溶解した溶液を加え1時間攪拌し、次いでノニル
フェノール18重量部およびトルエン14重量部よりな
る溶液を添加し5時間窒素気流中下攪拌した。さらにア
セチルアセトン14重量部を加えた。副生する塩化水素
ガスを追いだしながら窒素気流下に意図版攪拌を続け、
重合用触媒溶液を調整した。
純度99.7重量%、以下同様)95重量部、精製エチ
リデンノルボノルネン(純度99.5重量%)5重量部
よりなるモノマー混合物に対し、エチレン含有70モル
%のエチレン−プロピレン−エチリデンノルボルネン共
重合ゴム3重量部および酸化安定剤としてエチル社製エ
タノックス702の2重量部を加えた溶液に上記重合用
触媒溶液をタングステン含有が0.01M/Lになるよ
うに加えて触媒成分を含有するモノマー液A(溶液A)
を調整した。
を0.2重量%添加し攪拌混合した。
ン(DCP)83重量部、精製エチリデンノルボルネン5
重量部よりなるモノマー混合物に対し、エチレン含有7
0モル%のエチレン−プロピレン−エチリデンノルボル
ネン共重合ゴム3重量部を溶解した溶液に、トリオクチ
ルアルミニウム85、ジオクチルアルミニウムアイオダ
イド15、ジグライム100のモル割合で混合調製した
重合用活性化剤混合液をアルミニウム含量が0.03M
/Lになる割合で添加し、活性化剤成分を含有するモノ
マー液B(溶液B)を調製した。
1.5mm、長さ500mmの板に長さ方向に深さ2m
m、幅1.5mmの溝が1.5mmピッチで多数ある構
造の成形物を成形する金型を鍛造アルミニュウム材で作
った。かかる金型を使用し、溝側(キャビ側)90℃、
板側(コア側)60℃に温調し、前記モノマー溶液Aと
モノマー溶液Bとを1:1の重量比で衝突混合し、該混
合液を金型内に注入した。内部に気泡を含有する発砲成
形体を得るために、予めチッソガスを13MPaで30℃
のA液,B液の両モノマー液に飽和させた。又、キャビ
ティ内圧を2.0MPaとして反応射出成形した。得ら
れた発泡成形体中の平均気泡サイズは25μm、気泡の
断面密度は2.2x104個/cm2だった。
体を成形し物性値を測定したところ、熱変形温度は10
5℃、圧縮弾性率は1372MPa(14000Kgf/cm2)、吸水
率0.04重量%、ノッチ付アイゾット372J/m(38Kg/cm/cm)
であった。又、表面硬度は100〜140を示し、セリア系ス
ラリーに対する接触角は32度であった。なお、表面硬度
はプラスチック用のロックウエル硬度計を用い、接触角
はセリア系スラリーの溶媒である水溶液で測定した。
らなるクッション剤を介してアルミニューム製の冶具に
取り付け、該研磨パッドを固定した研磨定盤を36rpmで
回転させ、一方被研磨物を取り付けた定盤も10rpmで回
転させた。セリア系ポリッシュ材を100ml/分で供給し
ながら研磨圧力0.04MPaで10数分間研磨を実施した。
被研磨物には半導体基板である4インチシリコンウエハ
ー上に0.25ミクロン幅、高さ1ミクロンのCu配線を0.3
mm間隔で形成し、さらにその上に酸化シリコン絶縁膜
を5ミクロンの厚さになるように形成した半導体基板を
用意した。3μの厚みを研磨後に表面上で2mmの長さ
の凹凸を表面段差計で測定し、平坦度(段差)を評価し
た。又顕微鏡で表面を観察しスクラッチ(傷)の有無を
調べた。さらに3日間連続して使用し、その研磨性能が
変化したかどうかを調べた。実施例1での結果では平坦
度は23nm、スクラッチは無く、3日後にも使用可能であ
った。結果を表1にまとめた。
用い、成形時の飽和時の窒素ガス圧力を20MPaにアッ
プして成形した。その結果気泡径、気泡数は増加したが
研磨パッドとしての特性は表1の如く優良であった。ま
た、研磨パッドの表面での接触角をPH7の水を用いて
測定した結果、表1の接触角測定欄に示した結果を示し
た。本発明の研磨パッドの接触角が50度以下であり、
比較例の研磨パッドの接触角より小さく濡れ性の良好で
ある。
用い、発泡が生じない条件で成形した。その結果13分研
磨後の段階では段差も小さく、スクラッチも無く優良で
あったが、その後の長時間の研磨では研磨界面の摩擦熱
のアップによると思われる熱ダメージが生じ、研磨パッ
ドの表面に歪が生じた。その為に3日後の状況では使用
不可の結果となり寿命の点で劣る事が明らかになった。
用い、成形時の飽和時ガス圧をアップすると同時に液温
を45℃に上昇させ、又キャビテイ内圧を0.5MPaとし
た。その結果、気泡径は大きくなり、且つ連通する気泡
が多くなった。研磨時には段差が68nmと大きくなり、一
部に浅いスクラッチが発生した。結果を表1に示す。
ト基末端ウレタンプレポリマーをA液とし、活性水素含
有化合物をB液とした2液反応式で発泡ウレタン樹脂の
研磨パッドを作成した。
ドを作成したが、その機械的強度は740MPaと小さ
い。又表面硬度も15と小さく、セリア系スラリーに対す
る接触角は80度であった。その結果面内で大きなうねり
が生じ、その凸部ではスクラッチも生じた。結果を表1
に示す。また実施例2と同様に、研磨パッドの表面での
接触角を測定したが、50度を越え濡れ性が不十分であ
る。
ノマー混合物として精製ジシクロペンタジエン32重量
部、精製エチリデンノルボルネン68重量部よりなるモ
ノマー混合物を用いた以外は実施例1の溶液Aと同じに
し、又溶液Bの調整においては、モノマー混合物として
精製ジシクロペンタジエン32重量部、精製エチリデン
ノルボルネン68重量部よりなるモノマー混合物を用い
た以外は実施例1のB液と同じにして成型した。
側(コア側)75℃に温調した以外は実施例1と同じ条
件で成型した。出来た研磨パッドの特性は別紙表の如く
熱変形温度が79℃と低くなった。前記半導体表面を研
磨した結果表面に微小なスクラッチが入る問題点が生じ
た。又連続使用すると研磨パッド表面に熱によると思わ
れる歪が発生し寿命の点も劣る事が明らかになった。
縮弾性率に優れたポリカーボネート樹脂を用いた。吸水
率が高いために面内で大きなうねりが生じ、初期の凹部
がますますくぼんで、うねりの拡大が見られた。結果を
表1に示す。また実施例2と同様に、研磨パッドの表面
での接触角を測定したが、50度を越え濡れ性が不十分
である。
よれば均一で耐久性に優れ、半導体表面等の微小な素
子、配線の平坦化に優れた特性を示すCMP用研磨パッ
ドが提供出来る。
Claims (8)
- 【請求項1】 メタセシス重合性環状オレフィンからな
り、かつ熱変形温度が90〜130℃である樹脂により
成形されたCMP用研磨パッドであって、該研磨パッド
は、その断面から測定した平均直径が50μ以下である
実質的に独立の気泡を含有し、かつ気泡の面密度が1E
+4個/cm2以上であるCMP用研磨パッド。 - 【請求項2】 上記メタセシス重合性環状オレフィンが
主としてジシクロペンタジエンである、請求項1記載の
CMP用研磨パッド。 - 【請求項3】 上記樹脂は、圧縮弾性率が980〜19
60MPaであり、かつ吸水率が0.01〜0.2重量
%である請求項1または2記載のCMP用研磨パッド。 - 【請求項4】 上記樹脂は、界面活性剤を0.01〜1
重量%含有している請求項1〜3のいずれかに記載のC
MP用研磨パッド。 - 【請求項5】 上記樹脂は、水に対する接触角が50度
以下である請求項1〜4のいずれかに記載のCMP用研
磨パッド。 - 【請求項6】 上記研磨パッドは、平板状の形態を有し
かつその表面に0.5〜4mmの深さ、0.4〜4mm
の幅、及び0.6〜3.5mmのピッチを有する請求項
1〜5のいずれかに記載のCMP用研磨パッド。 - 【請求項7】 一方の面に上記研磨パッドより柔らかい
クッション層を介してパッド取り付け冶具に固定されて
いる請求項1〜6のいずれかに記載のCMP用研磨パッ
ド。 - 【請求項8】 メタセシス重合性環状オレフィンの2つ
の化学成分を反応の生じないように2つの密閉容器にそ
れぞれ用意し、各密閉容器内に成分と反応しない発泡性
ガスを導入して、密閉容器内のそれぞれの成分に飽和溶
解させた後、これら2成分を混合し、金型内で射出反応
させて製造される樹脂により成形された請求項1記載の
CMP用研磨パッドの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002047643A JP4118572B2 (ja) | 2002-02-25 | 2002-02-25 | 気泡を含有するcmp用研磨パッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002047643A JP4118572B2 (ja) | 2002-02-25 | 2002-02-25 | 気泡を含有するcmp用研磨パッド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003249470A true JP2003249470A (ja) | 2003-09-05 |
JP4118572B2 JP4118572B2 (ja) | 2008-07-16 |
Family
ID=28660651
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002047643A Expired - Fee Related JP4118572B2 (ja) | 2002-02-25 | 2002-02-25 | 気泡を含有するcmp用研磨パッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4118572B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005169570A (ja) * | 2003-12-11 | 2005-06-30 | Toyo Tire & Rubber Co Ltd | 研磨パッドおよびその製造方法 |
JP2005177934A (ja) * | 2003-12-19 | 2005-07-07 | Toyo Tire & Rubber Co Ltd | Cmp用研磨パッド、及びそれを用いた研磨方法 |
JP2006080329A (ja) * | 2004-09-10 | 2006-03-23 | Disco Abrasive Syst Ltd | 化学的機械的研磨装置 |
JP2006159380A (ja) * | 2004-12-10 | 2006-06-22 | Toyo Tire & Rubber Co Ltd | 研磨パッドおよび半導体デバイスの製造方法 |
WO2007034980A1 (ja) * | 2005-09-22 | 2007-03-29 | Kuraray Co., Ltd. | 高分子材料、それから得られる発泡体及びこれらを用いた研磨パッド |
JP2007221055A (ja) * | 2006-02-20 | 2007-08-30 | Toyo Tire & Rubber Co Ltd | 研磨パッド |
JP2009274150A (ja) * | 2008-05-13 | 2009-11-26 | Kawamura Sangyo Kk | 被研磨物保持材用基材の製造方法及び被研磨物保持材用基材 |
JP2019198958A (ja) * | 2018-05-16 | 2019-11-21 | ジェイエイチ ローデス カンパニー, インコーポレイテッド | 多孔性ポリマー研磨剛毛およびそれらの製造方法 |
-
2002
- 2002-02-25 JP JP2002047643A patent/JP4118572B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005169570A (ja) * | 2003-12-11 | 2005-06-30 | Toyo Tire & Rubber Co Ltd | 研磨パッドおよびその製造方法 |
JP4606730B2 (ja) * | 2003-12-11 | 2011-01-05 | 東洋ゴム工業株式会社 | 研磨パッドおよびその製造方法 |
JP2005177934A (ja) * | 2003-12-19 | 2005-07-07 | Toyo Tire & Rubber Co Ltd | Cmp用研磨パッド、及びそれを用いた研磨方法 |
JP2006080329A (ja) * | 2004-09-10 | 2006-03-23 | Disco Abrasive Syst Ltd | 化学的機械的研磨装置 |
JP4688456B2 (ja) * | 2004-09-10 | 2011-05-25 | 株式会社ディスコ | 化学的機械的研磨装置 |
JP2006159380A (ja) * | 2004-12-10 | 2006-06-22 | Toyo Tire & Rubber Co Ltd | 研磨パッドおよび半導体デバイスの製造方法 |
JP4621014B2 (ja) * | 2004-12-10 | 2011-01-26 | 東洋ゴム工業株式会社 | 研磨パッドおよび半導体デバイスの製造方法 |
WO2007034980A1 (ja) * | 2005-09-22 | 2007-03-29 | Kuraray Co., Ltd. | 高分子材料、それから得られる発泡体及びこれらを用いた研磨パッド |
US9321142B2 (en) | 2005-09-22 | 2016-04-26 | Kuraray Co., Ltd. | Polymer material, foam obtained from same, and polishing pad using those |
JP2007221055A (ja) * | 2006-02-20 | 2007-08-30 | Toyo Tire & Rubber Co Ltd | 研磨パッド |
JP2009274150A (ja) * | 2008-05-13 | 2009-11-26 | Kawamura Sangyo Kk | 被研磨物保持材用基材の製造方法及び被研磨物保持材用基材 |
JP2019198958A (ja) * | 2018-05-16 | 2019-11-21 | ジェイエイチ ローデス カンパニー, インコーポレイテッド | 多孔性ポリマー研磨剛毛およびそれらの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4118572B2 (ja) | 2008-07-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6986705B2 (en) | Polishing pad and method of making same | |
KR100709392B1 (ko) | 액상의 비닐계 모노머가 상호침투 가교된 형태를 갖는폴리우레탄 연마 패드 | |
KR101186531B1 (ko) | 폴리우레탄 다공질체의 제조방법과 그 제조방법에 따른 폴리우레탄 다공질체 및 폴리우레탄 다공질체를 구비한 연마패드 | |
TWI404736B (zh) | Polishing pad and manufacturing method thereof | |
JP4897238B2 (ja) | 研磨パッド | |
JP5031236B2 (ja) | 研磨パッド | |
WO2006123559A1 (ja) | 研磨パッド | |
TW201615342A (zh) | 聚胺酯硏磨墊 | |
JP4118572B2 (ja) | 気泡を含有するcmp用研磨パッド | |
JP2010274362A (ja) | 発泡ポリウレタンの製造方法および研磨パッドの製造方法 | |
KR20200079884A (ko) | 연마패드용 조성물, 연마패드 및 이의 제조방법 | |
US20210069860A1 (en) | Compositions and Methods of Additive Manufacturing of Polishing Pads | |
JP5970636B2 (ja) | 研磨パッド | |
JP3624232B2 (ja) | 研磨パッド | |
JP2002086346A (ja) | 研磨パッド | |
JP5308637B2 (ja) | 研磨パッド | |
EP4056314A1 (en) | Polishing pad, method for producing the same and method of fabricating semiconductor device using the same | |
JP2006339573A (ja) | 研磨パッドおよび研磨装置 | |
CN116160353A (zh) | 抛光垫和利用该抛光垫的半导体器件的制造方法 | |
JP4701066B2 (ja) | ポリウレタンフォームおよびその製造方法 | |
CN112775823A (zh) | 抛光垫及其制造方法和利用其的半导体器件的制造方法 | |
JP2006206625A (ja) | ポリウレタンフォームの製造方法 | |
TWI817281B (zh) | 拋光墊用片材、拋光墊以及半導體器件的製造方法 | |
US20240157505A1 (en) | Polishing pad | |
US20230078023A1 (en) | Heterogeneous fluoropolymer mixture polishing pad |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041228 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20071217 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071225 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080219 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080401 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080423 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110502 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110502 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120502 Year of fee payment: 4 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120502 Year of fee payment: 4 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130502 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130502 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140502 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |