JP2003249044A - 磁気ディスクドライブシステム - Google Patents

磁気ディスクドライブシステム

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JP2003249044A JP2002044843A JP2002044843A JP2003249044A JP 2003249044 A JP2003249044 A JP 2003249044A JP 2002044843 A JP2002044843 A JP 2002044843A JP 2002044843 A JP2002044843 A JP 2002044843A JP 2003249044 A JP2003249044 A JP 2003249044A
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    • G11B5/5521Track change, selection or acquisition by displacement of the head across disk tracks
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    • G11B2220/20Disc-shaped record carriers

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  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
  • Digital Magnetic Recording (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、磁気ディスク上へのデータ書込み
又はデータ読込み時に、読込み又は書込み位置を補正
し、製造上の磁気ヘッド固有問題の影響を受けず、位置
補正を簡単にできる磁気ディスクドライブシステムを提
供する。 【解決手段】 書込みヘッドHwと読込みヘッドHrは、回
転する磁気ディスク上をディスク半径方向に移動でき、
距離を置いて並置される。所定書込み開始タイミングt
WGにおいて、書込みヘッドで測定用書込み情報を第1の
タイミングtWで特定セクタに書込み、次いで、読込み
ヘッドで該書込み情報を読み込み、書込み情報に含まれ
る所定位置情報を検出して第2のタイミングtDAを生成
する。第1のタイミングと第2のイミングとの間隔か
ら、第2のタイミングと書込み開始タイミングとの間隔
を減算し、磁気ヘッドのトラック方向のヘッド間隔を測
定する。該ヘッド間隔を磁気ヘッド動作の補正制御に利
用する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンピュータに接
続され、データについて書込み又は読込みを行うことが
できる磁気ディスクドライブシステムに関し、特に、書
込みヘッドと読込みヘッドとの間隔に対する製造誤差を
補正することにより、磁気ディスクへのデータ書込みの
タイミングを調整して、ディスクのフォーマット効率を
上げることができ、さらに、磁気ディスクからのデータ
読込みのヘッド位置を調整して、トラック密度を上げる
ことができる磁気ディスクドライブシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】磁気ディスクドライブシステムは、コン
ピュータにとってデータ処理上、必要不可欠なものであ
り、パソコンの普及により、ハードディスク・ドライブ
(HDD)として、データの記録と読出し再生に使用さ
れている。最近では、パソコン用だけでなく、AV機器
や車載機器などのように、応用範囲が広がってきてい
る。また、それらで扱われる情報も多種多様となり、し
かもそのデータ量も膨大なものとなる場合があり、磁気
ディスクドライブシステムへの記録容量の拡大が図られ
ている。
【0003】そこで、HDDとして用いられている従来
の磁気ディスク装置について、図23に、その概略シス
テムをブロック構成で示した。磁気ディスク装置1は、
大きく分けて2つの分からなり、ディスクエンクロージ
ャユニット2と、プリント基板ユニット3とで構成さ
れ、通常、この2部分が一体の筐体内に装備されてい
る。そして、磁気ディスク装置1は、パソコンなどの上
位システム(HOST)4に接続される構成になってい
る。
【0004】ディスクエンクロージャユニット2には、
磁気ディスク21、磁気ヘッド22、スピンドルモータ
(SPM)24、ボイスコイルモータ(VCM)25、
そして、ヘッドIC(HIC)26が含まれ、磁気ディ
スク21は、スピンドルモータ24によって一定方向に
高速回転される。また、磁気ヘッド22は、ボイスコイ
ルモータ25に取り付けられたヘッドアーム23の先端
に固定され、ボイスコイルモータ25が駆動されると、
磁気ディスク21上でトラック(又はシリンダ)と交叉
するディスク半径方向に移動し、回転する磁気ディスク
21上の所望トラック(又はシリンダ)を走査すること
ができる。
【0005】そこで、図24に、磁気ヘッド22の具体
的構成を示した。磁気ディスク装置に用いられる磁気ヘ
ッドには、書込みと読込みとを同じヘッドで行うタイプ
もあるが、ここでは、書込みと読込みとを別々のヘッド
で行う場合を示した。図24(a)に示されるように、
ヘッドアーム23の先端に取り付けられた磁気ヘッド2
2の先端部に、ヘッドユニットHが配置される。このヘ
ッドユニットHには、書込みヘッドHと読込みヘッド
とが含まれ、それらは、図24(b)に示されるよ
うな関係で配置され、ヘッドアーム23の先端におい
て、磁気ディスク21上のトラックの円周方向に並置さ
れて固定されている。なお、図示されていないが、磁気
ヘッド21を走査させないときに、磁気ヘッド21を磁
気ディスク21から離間させ保持しておくため、通常、
アームの先端を係合するランプ機構が備えられている。
【0006】ここで、最近の磁気ディスク装置に対する
容量の増加要求に伴い、磁気ヘッド21には、高ビット
密度に対応したMRヘッドが用いられことが多い。MR
ヘッドは一つのヘッドに読込みヘッドHとしてのリー
ドコアと書込みヘッドHとしてのライトコアを別に持
つことを特徴としており、リードコアには磁気抵抗素子
を、そして、ライトコアにはインダクティブ素子を用い
るのが一般的である。
【0007】図24(b)に示されるように、読込みヘ
ッドHは、トラック方向の厚みG を、そして、書込
みヘッドHは、その厚みGを有し、トラック方向で
見ると、それらのコア中心間距離Xだけ離れており、そ
れらのコア中心は、磁気ディスク21の半径方向に距離
Yだけずれて配置されている。
【0008】図25に、磁気ディスク21と磁気ヘッド
22との位置関係に着目して、その概要を示した。磁気
ディスク21は、スピンドルモータ24によって、SP
M中心で一方向に高速回転する。この高速回転する磁気
ディスク21上において磁気、ヘッド22が、ボイスコ
イルモータ25の駆動制御によって、シーク動作を行
う。ここで、データ書込みのためにシーク動作中の場合
には、磁気ヘッド22における書込みヘッドのライトコ
ア中心とVCM中心との距離B、そして、SPM中心と
VCM中心との距離Cは、それぞれ一定であるが、磁気
ヘッド22のライトコア中心と磁気ディスク21のSP
M中心との距離r、さらに、磁気ヘッド22のライトコ
ア中心と磁気ディスク21のSPM中心とによる線とア
ーム23の軸線とがなす角度θは、シーク動作に応じ
て変化する。
【0009】以上のように構成された磁気ディスク装置
1においては、読込みヘッドHと書込みヘッドH
が、別々に、しかも、互いに距離Xだけ離れて配置さ
れ、さらに、それらが距離Yだけずらされて、ヘッドユ
ニットH自体がヘッドアーム23に対してある角度を持
って取り付けられている。そのため、図26に示される
ように、ヘッドユニットH及びヘッドアーム23と、磁
気ディスク21上のトラックとの位置関係が変化し、読
込みヘッドHと書込みヘッドHとでオントラックの
タイミングが磁気ディスク21のトラック位置によって
異なったものとなる。
【0010】その変化の様子を、図26に概略的に示し
た。ヘッドアーム23が、ボイスコイルモータ25によ
って駆動され、VCM中心でロータリー式によって回転
される例を示した。図中の太線は、ヘッドユニットHを
表しており、その両端には、読込みヘッドHと書込み
ヘッドHが取り付けられているものとする。例えば、
中周トラック上にオントラックした場合には、ヘッドユ
ニットHにおける読込みヘッドHと書込みヘッドH
の中心を結ぶ線は、オントラックしたトラックの線分に
ほぼ一致し、それらのヘッド間距離Tは、図24
(b)に示した距離Gに相当したものとなる。また、
それよりも外周の、あるいは内周にあるトラックについ
てみると、読込みヘッドHと書込みヘッドHのそれ
ぞれが同じトラックに到達するタイミングがずれたもの
となる。そのため、例示した中周トラックの位置より外
周又は内周のトラックに各ヘッドをオントラックするに
は、ヘッドアーム23の回転駆動をトラック位置に合わ
せて調整することになる。
【0011】図23に示された磁気ディスク装置1の動
作を説明すると、読込みヘッドHrによって読み込まれ
た記録データは、ヘッドIC26に送られ、ヘッドIC
26は、この記録データを再生信号として増幅し出力す
る。また、ヘッドIC26に磁気ヘッド22への記録信
号が供給されると、ヘッドIC26は、磁気ヘッド22
に記録データを送り、磁気ディスク21上の所定トラッ
クの書込み位置に記録させる。
【0012】一方、プリント基板ユニット3には、MP
U31、ハードディスクコントローラ(HDC)32、
リード・ライトチャネル部(RDC)33、サーボコン
トローラ(SVC)34、フラッシュROM35、そし
てデータバッファメモリ(DBM)36が含まれ、これ
らが基板に取り付けられている。
【0013】MPU31は、ROM35に記憶されてい
るプログラムに従って動作し、磁気ディスク装置1のシ
ステム全体を制御しており、主に磁気ヘッド22のポジ
ショニング制御、インタフェース制御、各周辺LSIの
初期化や設定、ディフェクト管理などを行っている。
【0014】ハードディスクコントローラ32は、RA
Mを内蔵しており、誤り訂正、PLLクロック発生など
を含み、上位システム4との入出力を管理するインタフ
ェースとなっている。また、サーボコントローラ34
は、スピンドルモータ24とボイスコイルモータ25と
を駆動する動作をし、MPU31からの指令に従って、
スピンドルモータ24のためのドライバを、さらに、ボ
イスコイルモータ25のためのドライバをそれぞれ制御
する。
【0015】そして、リード・ライトチャネル部33
は、ハードディスクコントローラ32から供給される磁
気ディスク21への書込みデータを変調してヘッドIC
36に出力し、或いは、磁気ヘッド22によって磁気デ
ィスク21からの読み込まれたヘッドIC36の出力信
号からデータを検出してコード復調し、ハードディスク
コントローラ32に出力する。
【0016】磁気ディスク装置1は、以上のような構成
から成り立っており、データは、磁気ヘッド22がトレ
ースする磁気ディスク22上の同心円状のトラックに書
き込まれ、記録され、或いは、そのトラックをトレース
する磁気ヘッド22によって読み込まれ、再生される。
そのデータの書込みに対しては、磁気ヘッド22に備え
られた書込みヘッドHが、そして、データ読込みに対
しては、同じく読込みヘッドHがそれぞれ担当する。
【0017】ここで、データ書込み時の信号の流れを説
明する。上位システム4から、ある論理ブロックアドレ
スヘのデータ書込み命令とデータがハードディスクコン
トローラHDC33に転送される。HDC32は、論理
ブロックアドレスから、物理的アドレスである、トラッ
ク番号、ヘッド番号、セクタ番号を割り出し、書き込む
物理アドレス情報をMCU31に渡す。MCU31は、
ヘッドアーム23を駆動させるサーボコントローラSV
C34を制御して、磁気ヘッド22を目的のトラックに
移動させる。
【0018】また、MCU31は、プリアンプを制御す
る。そこで、複数装備された磁気ディスクに対応する複
数のヘッドから、対象ヘッドである物理ヘッドを選択す
る。一旦バッファメモリ36に蓄積されたデータは、H
DC32を介してRDC33に送られ、同時にHDC3
2は、目的のセクタのタイミングでライトゲート(W
G)を作成して、RDC33、及びプリアンプに送出す
る。RDC33は、磁気ディスク21に書き込むために
データを変調し、書込みデータとしてプリアンプに送
る。プリアンプは、HDC32が生成したライトゲート
を受けて、書込みモードになり、書込みデータに対応し
た書込み電流を書込みヘッドHwに流す。この一連の動
作によって磁気ディスク21への書込みが行われる。
【0019】次にデータ読込み時の信号の流れを説明す
る。上位システム4から、ある論理ブロックアドレスの
データ読込み命令がHDC32に転送される。HDC3
2は、書込み時と同様に、論理ブロックアドレスから物
理的アドレスを割り出し、読み込むべき物理アドレス情
報をMCU31に送出する。MCU31はSVC34を
制御して、磁気ヘッド22を目的のトラックに移動させ
る。HDC32は、目的のセクタに対し、リードゲート
(RG)を開く。磁気抵抗素子による読込みヘッドH
では、書込み時に磁気ディスク21に記録された磁束に
よって抵抗値が変化し、プリアンプは、この抵抗値変化
に基づく電圧変化を増幅して、RDC33に送信する。
RDC33は、このプリアンプより受け取った信号の波
形についてデータ復調し、HDC32に送出する。HD
C32から一旦バッフアメモリ36に溜め込まれたデー
タは、HDC32を介して上位システム4に転送され
る。
【0020】次に、図27を参照して、磁気ディスク2
1に記録される媒体情報の一例を示す。図示された媒体
情報は、磁気ディスク21のトラックに複数設けられた
セクタの一つに記録され、その媒体情報は、大きく分け
て、サーボ部とデータ部を含んでいる。磁気ディスク2
1上に同心円状に配置された複数のトラックに対して、
放射状の信号パターンでサーボ部データが複数配置され
ている。このサーボ部データを用いることによって、磁
気ディスク21の高精度なサーボ制御を行い、データの
高密度化を実現している。
【0021】ここで、サーボ部について説明する。サー
ボプリアンブル部SPは、サーボ信号を復調するための
準備区間であり、AGC回路がヘッド出力を一定にする
ために振幅を調整するものである。同時に、PLL回路
が信号波形とサーボデコード回路の位相を合わせるよう
調整を行う。また、シンクマーク部SMは、これ以降が
グレイコードGCであることを示す。そして、SMは、
位置決め動作、書込み動作、読込み動作等に対する基準
タイミングの役割を担っている。グレイコード部GC
は、トラック位置情報が記録されている。
【0022】さらに、ポジション部Pには、磁気ヘッド
22をトラックに位置決めするための振幅情報が含まれ
ており、バーストA、バーストB、バーストC、そして
バーストDの各データが記録されている。これらのバー
ストデータは、グレイコード部GCに続いて書き込まれ
るものであり、トラックに対する磁気ヘッド22の相対
位置情報を持っている。一般に、バーストデータは、こ
の4つの信号パターンからなり、これらの信号パターン
が、当該トラックと相隣にある2つのトラックに交互に
跨って順次配置されるように書き込まれている。当該ト
ラックを磁気ヘッド22で読み取った信号の振幅から、
当該トラックの中心と磁気ヘッド22の位置との相対的
な位置を計算でき、各バースト振幅の大小の組み合わせ
によってオントラックしたかどうかが判断され、磁気ヘ
ッド22の位置制御に使用される。
【0023】次に、データ部について説明する。データ
プリアンブル部DPは、サーボ部と同様に、磁気ヘッド
出力を読込み可能にするための準備区間であり、AGC
回路が磁気ヘッド出力を一定にするために振幅を調整す
る。また同時に、PLL回路が信号波形とデータ復調回
路の位相を合わせるように調整を行う。シンクバイト部
SB(以下、SBという)はこれ以降がデータであるこ
とを示すためのデータ開始位置情報である。AGC回路
が振幅調整を行い、同時にPLL回路が復調タイミング
の位相合わせを行う。最適な出力と位相合わせが終了し
た後、RDC33はSBウインドウ(以下、SBWとい
う)を開きSBを探す動作に入る。SBを見つけると、
RDC33は、それ以降をデータと認識して読込みデー
タの復調を行う。
【0024】データ部DAは、上位システム4から送信
されてきたデータが記録される。DAに続いて、データ
部の最後に、誤り訂正部ECCが配置され、誤り訂正を
行うための情報が記録されている。なお、サーボ部の前
端と、サーボ部とデータ部の間とに、それぞれ1つずつ
のパッド部である。これは、読込みヘッドHと書込み
ヘッドHとの距離誤差による書込み位置ズレのバラツ
キ分に対する余裕間隔である。なお、この例では、SB
部は、1箇所であるが、SBが複数存在するフオーマッ
トが使用される場合もある。
【0025】
【発明が解決しようとする課題】以上に説明してきたよ
うな磁気ディスク装置が、コンピュータ等のデータ記憶
装置として使われている。この磁気ディスク装置の磁気
ヘッドには、MRヘッドを用いていることは前述した。
このMRヘッドは、一つの磁気ヘッドに読込みヘッドコ
アと書込みヘッドコアを別に持つことによって、高ビッ
ト密度記録を実現している。
【0026】しかし、このMRヘッドに用いられる読込
みヘッドコアと書込みヘッドコア自体は、微細な素子で
あり、しかも、磁気ヘッドとして組み込まれるときに
は、図24(b)に示されるように、読込みヘッドコア
と書込みヘッドコアを別体で配置にされる。これらに起
因して、読込みヘッドコアと書込みヘッドコアの相対位
置に関し製造上のバラツキがある。具体的には、磁気ヘ
ッド毎に、読込みヘッドコアの中心と、書込みヘッドコ
アの中心距離に誤差が発生する。
【0027】また、一般的に磁気ディスク装置は、磁気
記録媒体、ヘッドキャリッジ部、共に回転機構を用いて
いるため、図27で説明したように、磁気ヘッドの位置
により、磁気ヘッドの軸線とトラックとの角度が変化
し、トラックに対して、読込みヘッドコアの中心と書込
みヘッドコアの中心のトラック方向に対する距離が変化
する。さらに、磁気ヘッド毎に書込みヘッドコアと読込
みヘッドコアとの距離がバラつくため、読込みヘッドコ
アで読み込みした位置決め情報に対して、実際に、磁気
ディスク上に書き込まれる位置は、磁気ヘッドによって
バラついてしまう。
【0028】従来では、設計目標距離、もしくは製造時
の平均距離から磁気ヘッドのバラツキを考慮しない固定
間隔を持たせ、その分で書込み時と読込み時のタイミン
グを変化させ、バラツキに対する余裕はフォーマット上
に余裕時間を持たせていた。
【0029】しかしながら、読込みヘッドコアで読み出
した位置決め情報に対して、あるタイミングで書き込む
場合、実際に磁気ディスク上に書き込まれる時には、書
込みヘッドコアと読込みヘッドコア間の距離のバラツキ
による影響で、磁気ヘッドによって書き込まれた位置に
ズレが発生する。
【0030】この書込み位置ズレが大きくなると、位置
決めサーボ情報を上書きして消してしまう現象が発生す
る。ここで、この上書き現象が発生しないようにするた
めには、フォーマットに十分な時間的余裕を持たせなけ
ればならない。このような対策を採用する場合には、そ
の時間的余裕の分だけ、フォーマット効率が悪化してし
まう。さらに、磁気ディスクが利用されている装置にお
いて、近年の転送速度の上昇、ビット密度の高密度化に
よって、書込みヘッドコアと読込みヘッドコアの距離誤
差の影響度が大きくなり、フォーマット効率の悪化が無
視できなくなってきた。
【0031】また、この磁気ヘッドでは、読込みヘッド
コアと書込みヘッドコアが別体であるために、製造のバ
ラツキにより、読込みヘッドコアの中心と、書込みヘッ
ドコアの中心にズレが発生することとなり、磁気ディス
ク、ヘッドキャリッジ部、共に回転機構を用いているた
め、磁気ヘッドの位置により、磁気ヘッドの軸線とトラ
ックの角度が変化し、トラックに対して、読込みヘッド
コアの中心と書込みヘッドコアの中心のズレ量が変化す
る。この現象のため、従来では、トラック位置を変化さ
せオフトラックマージンを測定し、各補正位置を直線で
結び、コアのズレ量を補正していた。
【0032】しかしながら、このような対策を行ってい
ても、近年、利用装置のトラック密度が高密度化され
て、直線補正でも補正しきれない。そのため、エラーレ
イトが下がるだけでなく、隣接するトラックの記録デー
タを消してしまう障害が発生する問題がある。また、直
線補正で誤差を小さくしようとすると、その測定点を増
やさねばならい。そうすると、測定点が増えた分、出荷
時のオフセットマージン測定に多大な時間を費やさねば
ならなくなり、大量生産に不向きとなってしまう。さら
に、測定点が増えることによって、補正値も多くなり、
補正値を格納するテーブル量も大きくなり、メモリを圧
迫するという問題点もある。
【0033】さらに、この磁気ヘッドは、トラックに対
する読込みヘッドコアの中心と書込みヘッドコアの中心
のズレ量が変化するため、トラック位置を変化させオフ
トラックマージシを測定し、磁気ヘッドコアのズレ量を
補正している。そこで、書込み時の位置決め精度を最も
良くするため、書込み時は読込みヘッドコアを目標トラ
ックのセンタに位置させて書き込むようにし、読込み時
には、ヘッドコアのズレ分をオフセットして書込み位置
に読込みヘッドコアを移動させる制御を行っている。
【0034】このズレ情報は、磁気ヘッド固有の値であ
るため、利用装置における磁気ディスクの特定セクタに
記憶しておくことが行われている。従来においては、そ
の特定セクタを読み込むまでは、設計目標もしくは製造
設計平均のズレ補正量を使用して、オフセット量を変更
しながら再読込みを行うことにより、特定セクタを探し
て読込み動作をしていた。
【0035】また、この磁気ヘッド固有のズレ量をフラ
ッシュROM等の不揮発性メモリに記録する場合もあ
り、その場合には、電源投入時に不揮発性メモリから情
報を読み出し、特定セクタの読込み時にオフセット量を
加えて読み込むようにしていた。しかし、近年、利用装
置のトラック密度を高密度化するために、書込みヘッド
コア自体の幅が小さくなり、トラック幅に対してズレ量
が大きくなってしまう。このような状況の中で、設計目
標もしくは製造平均を使用した初期値を使用して読込み
動作を行う場合、磁気ヘッド固有のズレ量が保存してあ
る特定セクタを探すまでに、数多くのオフセット再読込
み回数が必要となる。場合によっては、正常に読み込み
できないといった現象が発生してしまう。
【0036】また、不揮発性メモリに固有情報を記録す
る場合、電源投入時における特定セクタの読込み動作は
容易に可能となるが、不揮発性メモリを必ず実装しなけ
ればならないため、コストアップに繋がってしまう。さ
らに、この場合、不揮発性メモリが実装されているプリ
ント基板の交換が容易ではなくなるため、プリント基板
が壊れたときの修理作業が簡単に行えなくなり、修理工
程に多大な時間がかかってしまうという問題点がある。
【0037】そこで、本発明では、読込みヘッドと書込
みヘッドとを備えた磁気ヘッドを用いた場合であって、
磁気ディスク上へのデータ書込み又はデータ読込みの際
に、読込み位置又は書込み位置を補正するようにして、
製造時における磁気ヘッド固有の問題の影響を受けない
ようにし、位置補正のための手段を簡単化することがで
きる磁気ディスクドライブシステムを提供することを目
的とする。
【0038】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに、本発明では、回転する磁気ディスク上をディスク
半径方向に移動できる磁気ヘッドが、距離を置いて並置
された書込みヘッドと読込みヘッドを有し、前記磁気デ
ィスクにデータを書き込み、又は前記磁気ディスクから
データを読み込むことができる磁気ディスクドライブシ
ステムにおいて、前記書込みヘッドと前記読込みヘッド
とのヘッド間隔情報を測定するヘッド間隔測定手段と、
測定された前記ヘッド間隔情報を格納する記憶手段と、
記憶手段から読み出された前記ヘッド間隔情報に基づい
て前記磁気ヘッドの動作を補正する制御手段とを備え
た。
【0039】そして、前記ヘッド間隔情報は、前記磁気
ディスク上の所定トラック位置にある特定セクタに、又
は、システム内に備えられた不揮発性メモリに格納され
るようにした。
【0040】前記ヘッド間隔測定手段は、所定の書込み
開始タイミングにおいて、測定用に選択されたセクタ
に、前記書込みヘッドにより測定用書込み情報を第1の
タイミングで書込みを指示し、次いで、前記読込みヘッ
ドにより該書込み情報を読み込み、該書込み情報に含ま
れる所定位置情報を検出して第2のタイミングを生成す
るようにし、第1のタイミングと第2のイミングとの間
隔から、第2のタイミングと書込み開始タイミングとの
間隔を減算して当該磁気ヘッドに係るトラック方向のヘ
ッド間隔を測定することとした。
【0041】また、前記ヘッド間隔測定手段は、前記磁
気ヘッドを測定用トラックにオントラックしたとき、前
記書込みヘッドに測定用情報の書込みを指示し、次い
で、オントラックしたトラック位置から、前記磁気ヘッ
ドを前記ディスクの半径方向に所定オフセット量だけオ
フセットし、該オフセット位置から、前記磁気ディスク
1回転毎に前記所定オフセット量を減じながら前記読込
みヘッドで前記測定用情報に対する読込み動作を行い、
該情報の読込みができたときのオフセット量に基づい
て、前記磁気ディスクの半径方向におけるヘッド間隔測
定を行うものであり、前記磁気ディスク上の複数のトラ
ック位置で前記ヘッド間隔測定が実行され、前記複数の
ヘッド間隔に基づいて、トラック位置に対するヘッド間
隔に関するn次多項式を生成することもできる。
【0042】そして、前記ヘッド間隔測定手段は、前記
n次多項式における次数係数を前記記憶手段に格納し、
前記制御手段が、前記読込みヘッドで読込み動作をする
とき、前記次数係数に基づいて、オントラックするトラ
ック位置におけるヘッド間隔を求め、該ヘッド間隔に基
づくオフセット量を該トラック位置に付加して読込みシ
ークを行うこととした。
【0043】また、前記制御手段は、前記書込みヘッド
により特定情報を所定トラック位置に書き込むとき、該
所定トラック位置に対応するヘッド間隔情報を前記記憶
手段から読み出し、該ヘッド間隔情報に基づいて補正情
報を生成し、次いで、前記磁気ヘッドを該所定トラック
位置にオントラック後、該所定トラック位置から該補正
情報量だけずらした位置で、前記書込みヘッドにより前
記特定情報を書き込むこととした。
【0044】
【発明の実施の形態】次に、本発明による磁気ディスク
ドライブシステムの実施形態について、図を参照しなが
ら説明する。以下においては、磁気ディスク上へのデー
タ書込み又はデータ読込みに際して、読込み位置又は書
込み位置を補正する仕方に従って、実施形態を分けて説
明する。 〔第1の実施形態〕第1の実施形態では、使用する磁気
ヘッドにおける書込みヘッドと読込みヘッドについて、
トラック方向の該ヘッドの間隔を測定し、測定されたヘ
ッド間隔に基づいて、データ書込み位置を補正するよう
にした。これにより、ヘッド間隔に製造上の磁気ヘッド
固有の誤差があっても、各トラックにデータを書き込む
際には、この誤差の影響をなくし、データ書込み開始タ
イミングを正確にとることができる磁気ディスクドライ
ブシステムとすることができる。第1の実施形態に関し
て、図1乃至図7を参照して説明する。
【0045】先ず、使用する磁気ヘッドにおける書込み
ヘッドと読込みヘッドについて、トラック方向の各ヘッ
ド間の間隔を測定する方法について説明する。このヘッ
ド間隔の測定にあたっては、使用する磁気ヘッドに対応
している磁気ディスク上の特定トラックを選択し、当該
磁気ヘッドによって、この特定トラックに測定用データ
を書き込む。その後、特定トラックに書き込まれた測定
用データを当該磁気ヘッドで読み込む。そこで、測定用
データに関する書込みタイミングと読込みタイミングと
から、当該磁気ヘッドに係るヘッド間隔を求めるように
した。ここでは、書込みヘッドと読込みヘッドとのトラ
ック方向距離を測定するために、シンクバイト部SBを
使用する方法の一例を示す。この例では、書込みヘッド
が読込みヘッドより後ろに配置されている場合を示して
いる。
【0046】図1に、測定用の媒体情報の例が示されて
いる。この測定用の媒体情報は、図27に示した媒体情
報と同様のフォーマットを有している。そして、図1に
は、この測定用の媒体情報について、当該磁気ヘッドに
よる書込み動作のタイミングが示されている。
【0047】最初に、磁気ヘッドを測定用の特定トラッ
クにオントラックさせる。次に、該磁気ヘッドを用い
て、適当位置のセクタに測定用の媒体情報を書き込む。
このとき、SM検出のタイミングtSMを基準として、
フオーマット上のデータ部開始までの時間Tを加え、
更に最大バラツキを見込んだ書込み・読込み(W/R)
のヘッド間隔Tを加えた間隔Tにおいて、書込みゲ
ートWGを生成する。このWGが開かれるタイミングt
WGで、上記のデータプリアンブル部DP、シンクバイ
ト部SB、データ部DA、ECC部等が順次書き込まれ
る。しかし、タイミングtWGは、読込みヘッドH
基準としたものであり、書込みヘッドHは、読込みヘ
ッドHより後ろに配置されているため、実際に書込み
が開始されるのは、WG開始タイミングtWGから、W
/Rヘッド実間隔を差し引いたタイミングtである。
【0048】次に、特定トラック上のセクタに書き込ん
だ測定用データの読込み動作を行う。この読込み動作の
様子を、図2に示した。図中の媒体情報は、図1に示し
た特定トラックに書き込まれた測定用のものである。S
Mに対して、フオーマット上のデータ部開始までの時間
のタイミングtRGで、RGが生成される。RGが
開かれると、RDC33のデータ読込み回路に信号波形
が入力される。
【0049】W/Rヘッド間隔の最大バラツキを見込ん
だ時間Tの位置tSBWで、シンクバイト部SBを検
出するためのシンクバイトウインドウSBWを開き、デ
ータの読込み動作を行う。もし、最初のSBW1におい
て、SBが検出できなかった場合、一周の回転待ちの後
に、再度、タイミングtRGでRGを開き、SBW幅を
最初よりも広げたSBW2を開く。この動作を、SBが
検出可能となるまで繰り返す。図2では、SBW3が開
かれたとき、タイミングtDAでSBが検出されたこと
を示している。
【0050】そこで、図3に示されるように、タイミン
グtDAと、実際にデータ書込みをしたタイミングt
WGから、書込みヘッドHと読込みヘッドH間の時
間差T が算出可能となる。その計算式は、SM/WG
間隔をT、SM/RG間隔をT、RG/WG間隔を
、RG/SB検出間隔をTとすると、 T=(T−T)−{T−(TDP+TSB)} となる。データプリアンブル部DPのデータ時間をT
DP、そして、シンクバイト部SBのデータ時間をT
SBとし、これらは、既知である。ここで、T=T
−Tであるので、W/Rヘッド間隔Tを表す計算式
は、 T=T−(T−TDP−TSB) となる。
【0051】なお、磁気ディスクの回転変動、信号タイ
ミングのジッタ等の影響も考えられるため、何度か書込
みと読込みとを繰り返し行ってSB位置を測定すること
により、より正確にSB位置を求めることができ、ヘッ
ド間時間も正確に求めることが可能となる。
【0052】次に、図4に、ヘッド間時間測定方法の別
の一例を示す。以上では、シンクバイト部SBの検出に
あたって、読込み動作の度にSBWのウインドウ幅を増
加していく方法を採用したが、図4の方法では、最初の
シンクバイトウインドウSBWにおいて、そのウインド
ウ幅を大きくしておき、1回でSBを検出できるように
した。
【0053】前述のように、SBWが開かれる幅を、読
込みの度に変化させないで、SBWが開かれる幅は、必
ずSBがその幅に入るように広く開けておく。図4に示
されるように、SBW3が開かれたときに、SBが検出
されたタイミングtDAにおいて、SB検出信号を生成
する。そこで、RGからSB検出信号までの間隔T
測定して、ヘッド間隔Tの計算に用いる。その計算式
は、 T=T−{T−(TDP+TSB)} となる。この式中において、T、TDP及びT
SBは、それぞれ既知であるので、間隔Tが測定され
れば、ヘッド間隔Tを求めることができる。
【0054】図26に示されるように、磁気ヘッドの製
造上の位置誤差読込みヘッドHと書込みヘッドH
のトラック方向の相対的間隔は、トラック位置に応じて
変化するものであるが、当該磁気ヘッドのヘッド間距離
を測定しておくことにより、ライトゲートWGを開
くタイミングtWGをトラック毎に正確に決定すること
ができる。このとき、測定されたヘッド間距離T
は、読込みヘッドHと書込みヘッドHとの製造上の
位置誤差も含まれたものとなっているので、この位置誤
差によるサーボ情報等の上書きが発生することもなく、
トラック毎に対応して、確実にしかも、所望の書込み位
置に正確にデータ書込みを実行することができる。ここ
で、全トラックについて、ヘッド間距離測定を実施しな
くても、磁気ディスク上の数箇所のトラックで測定を行
い、その間のトラックに対しては、各測定結果に基づい
て補間を行うようにする方が、測定処理時間の短縮化を
図ることができ、より正確な位置に書込みを実施するこ
とが可能となり、磁気ディスクを更に有効に使用するこ
とが可能となる。
【0055】なお、これまでに説明した例では、SBを
使用するヘッド間距離測定方法を例として挙げたが、磁
気ヘッドに書き込まれる媒体情報のなかで、タイミング
を特定することができる情報に基づき、書込みヘッドと
読込みヘッド間の時間間隔が測定できるものであれば、
この方法には限らない。
【0056】次に、測定されたヘッド間隔情報を磁気デ
ィスクドライブシステムに適用したときのシーケンス例
について、図5及び図6にそのフローチャートを示し
た。
【0057】図5のフローチャートでは、測定されたヘ
ッド間距離に基づいて求めたトラック毎のヘッド間隔情
報を、磁気ディスク上の特定セクタに磁気ヘッド固有情
報として書き込んでおくようにした場合を示している。
【0058】この場合においては、磁気ディスク装置1
に電源投入されると(ステップS101)、MCU31
は、磁気ディスク21上においてヘッド固有情報が書き
込まれている特定セクタへの読込み命令を発行する(ス
テップS102)。
【0059】次いで、SVC34は、この読込み命令に
従って、磁気ヘッドを特定セクタへのシーク動作を行い
(ステップS103)、RDC33は、HIC26から
送信される読込みデータから、読込み動作を行う(ステ
ップS104)。
【0060】そして、ヘッド固有情報として書き込まれ
ている情報が、読み込まれたデータに基づいて抽出さ
れ、データバッファメモリDBM36に格納される(ス
テップS105)。ここで、ヘッド固有情報として含ま
れるヘッド間隔情報の一例を次のテーブル形式で示し
た。 (テーブル) トラック番号 ヘッド0 ヘッド1 0h〜 100ns 200ns 1000h〜 150ns 250ns 2000h〜 200ns 300ns 3000h〜 220ns 330ns 4000h〜 250ns 360ns 5000h〜 230ns 350ns 6000h〜 210ns 330ns 7000h〜Max 180ns 300ns ここでは、トラック番号は、16進数で表記されてお
り、磁気ディスク装置1において、磁気ヘッドが2つ装
備されている場合を示している。このように、ヘッド間
隔情報が、トラック番号に対応して展開される。そし
て、データ書込みが必要な概要トラックに対応するヘッ
ド間隔値がこの表から読み出され、書込みタイミングの
決定に利用される。
【0061】また、図6のフローチャートは、ヘッド固
有情報が、磁気ディスク上の特定セクタに書き込まれて
いるのではなく、磁気ディスク装置1内の不揮発性メモ
リに格納されている場合を示している。
【0062】この場合には、先ず、磁気ディスク装置1
に電源投入されると(ステップS121)、MCU31
は、ヘッド固有情報としてヘッド間隔情報の読込み命令
を発行する(ステップS122)。
【0063】次いで、ヘッド固有情報として不揮発性メ
モリに書き込まれているヘッド間隔情報が、読み込ま
れ、データバッファメモリDBM36に格納される(ス
テップS123)。ここで格納されるヘッド間隔情報
は、上述したテーブルと同様のものである。
【0064】DBM36に格納されたヘッド間隔情報の
利用の仕方は、図5の場合と同様であるが、図6の場合
には、元々、ヘッド間隔情報が不揮発性メモリに格納さ
れていることから、図5の場合のように、ヘッド間隔情
報を読み込むためのシーク動作を必要としない。
【0065】以上のフローチャートでの動作は、ヘッド
間隔情報を取得するまでのステップであったが、次に、
図7のフローチャートを参照して、取得されたヘッド間
隔情報に基づいて書込みゲートWGのタイミングを決定
して、データ書込みを行う動作について説明する。
【0066】先ず、ホストである上位システム4から、
磁気ディスク装置1にデータ書込み命令が送信されてく
る(ステップS131)。
【0067】磁気ディスク装置1では、データ書込み命
令をHDC32で受信し、その命令に基づいて、含まれ
ている論理アドレスから、物理的ヘッド、トラック、セ
クタを割り出す(ステップS132)。
【0068】ディスクエンクロージャユニット2内に複
数の磁気ヘッドが装備されている場合には、論理アドレ
スに従う磁気ヘッドを選択し(ステップS133)、当
該磁気ヘッドを、割り出された目的のトラックへシーク
動作させる(ステップS134)。
【0069】そこで、HDC32は、使用される磁気ヘ
ッドに関し、目的のトラック位置でのW/Rヘッド間隔
値を、DBM36に格納されているテーブルから読み出
し(ステップS135)、このヘッド間隔値に基づいて
WG信号の作成タイミングt WGを計算する(ステップ
S136)。このタイミングtWGは、SM検出タイミ
ングとフォーマット上のデータ部開始との間隔Tと、
テーブルから読み出されてヘッド間隔値Tから計算さ
れ、次式で表される。 tWG=T+T この様に、間隔Tにヘッド間隔値TXを加算してタイ
ミングtWGを決定するのは、書込みヘッドHの位置
が読込みヘッドHより後ろにあることを前提としたた
めであり、これらのヘッド位置関係が逆であれば、タイ
ミングtWGは、間隔Tからヘッド間隔値Tを減算
して求められる。これで、データ書込み命令に従って、
テーブルから読み出された該当ヘッド間隔値に基づいた
計算により、書込みゲートWGを開くタイミングを決定
できる(ステップS137)。ステップS134におい
て、磁気ヘッドは、既に目的のトラックにシークされて
あるので、ここで、WGを生成して、目的のセクタの所
定位置にデータを書き込むことができる。
【0070】以上のように、使用する磁気ヘッドにおけ
る書込みヘッドHと読込みヘッドHとの実際のヘッ
ド間隔を測定し、この測定したヘッド間隔に基づいてト
ラック毎のヘッド間隔値を生成するようにしたので、こ
のヘッド間隔値によれば、トラック位置に応じたヘッド
間隔の変化を補正することができ、書き込むことができ
る開始タイミングを正確に求められることができる。そ
して、磁気ヘッドの製造上のバラツキがあっても、その
バラツキによる誤差の影響を受けることがない。
【0071】なお、第1の実施形態では、ヘッド間隔に
対する補正の仕方として、ヘッド間隔値をテーブル形式
で補正する例を示したが、テーブル形式で格納する代わ
りに、トラック番号を関数とするn次多項式で補正する
方式等も考えられる。 〔第2の実施形態〕第1の実施形態では、主に、磁気デ
ィスクの回転周方向、つまりトラック方向におけるヘッ
ド間隔の変化を補正するようにしたが、第2の実施形態
においては、磁気ディスクの半径方向、つまり隣接トラ
ック方向のズレを補正するようにした。
【0072】前述したように、図23に示された磁気デ
ィスク装置1における磁気ヘッド22には、高ビット密
度記録に適したMRヘッドが使用されている。この磁気
ヘッドは、読込みヘッドコアと書込みヘッドコアを別に
持つために、製造のバラツキにより、読込みヘッドコア
の中心と、書込みヘッドコアの中心にズレが発生する。
また、磁気ディスク、ヘッドキャリッジ部、共に回転機
構を用いているため、図24乃至図26に示されるよう
に、ヘッドの位置により、ヘッドとトラックの角度θが
変化し、トラックに対して、読込みヘッドコアの中心と
書込みヘッドコアの中心のズレ量Yが変化することにな
る。
【0073】この現象のため、従来では、トラック位置
を変化させオフトラックマージンを測定し、各補正位置
を直線で結び、コアのズレ量を補正していた。そこで、
磁気ヘッドコアとズレ量について説明する。
【0074】磁気ディスク21は回転を行っているた
め、トラックは、スピンドルモータSPM24の軸を中
心に円を描いている。一方、磁気ヘッド22は、ボイス
コイルモータVCM25によってヘッドアーム23で回
転運動を行い、円を描いているトラックと交叉する方向
に移動され、トラック位置を変更される。また、磁気ヘ
ッド22は、ヘッドアーム23に対しある角度を持って
取り付けられている。そして、読込みヘッドコアH
書込みヘッドコアHの中心は左右対称とはならない。
以上の配置状況により、トラックに対する読込みヘッド
と書込みヘッドHの位置は、単純に一定差にはな
らない。
【0075】ここで、読込みヘッドHの厚みをG
書込みヘッドHの厚みをG、読込みヘッドHと書
込みヘッドHの距離をGとした場合、読込みヘッド
の厚み中心と書込みヘッドHの厚み中心の距離X
は、 X=G/2+G/2+X ・・・・・・・・・・・・・・・・・・(1) となる。読込みヘッドHの中心と書込みヘッドH
中心とのズレ量をYとすると、読込みヘッドHの中心
と書込みヘッドHの中心との距離Gは、 G=(X+Y1/2 ・・・・・・・・・・・・・・・・(2) となる。また、XとGの角度をθとすると、 θ=cos−1{(X+G −Y)/(2×X×G)} ・・・(3) となる。VCM中心からヘッドギャップ中心までの距離
をB、VCM中心からSPM中心までの距離をC、SP
M中心からトラック中心までの距離をrとすると、VC
M中心−ヘッドギャップ−SPM中心の角度θは、 θ=cos−1{(B+r−C)/(2×B×r)} ・・・(4) となる。
【0076】これらから、読込みヘッドHrの中心と書
込みヘッドHwの中心のズレ量Eは E=r−{r+G +2×r×cos(θ+θ)}1/2 ・・(5) と表すことができる。この式(5)は、読込みヘッドH
と書込みヘッドHのズレ量Eは、r(SPM中心か
らオントラック中心までの距離)の関数として表せるこ
とを示している。つまり、ズレ量Eをトラック番号の関
数として表せることを示している。
【0077】例えば、データ領域をSPM中心から半径
方向21mm〜45mmの範囲とし、上記の各々のパラ
メータを以下に示す値にした場合、式(1)〜(5)よ
り、rに対する関数として、読込みヘッドHと書込み
ヘッドHに関するズレ量Eをグラフにして示すと、図
8のようになる。 G=0.1μm G=0.2μm G=40μm A=0.6μm B=50.0mm C=60.0mm ここで、例えば、データ領域を均等4分割し5箇所のト
ラックでオフトラックマージンを測定し、ズレ量補正に
使用する場合を説明する。従来では、図8に示される曲
線に対して、5点をそれぞれ直線で結び、その4直線を
ズレ量としていた。この直線による場合について、r位
置に対する補正誤差をグラフにすると、図9のようにな
る。同図によると、本来であれば、補正誤差は、0
〔m〕となるのがよいが、実際には、内周ほど誤差が大
きく残った状態になっている。
【0078】直線の補完で誤差を小さくするには測定点
を増やす方法が考えられるが、測定点を多くすれば、出
荷試験工程内の占有時間も多くなり、大量生産には不向
きとなる。
【0079】そこで、第2の実施形態では、測定点の数
を増加させるのではなく、図8に示される曲線に近似で
きるように、測定点を通るn次多項式を求め、求めた多
項式に基づいて補正に使用することとした。誤差を圧縮
することができる前述の5点直線補正と同一の測定点に
対し、4次の多項式によって補正した場合における補正
誤差を表したグラフを図10に示した。図10の補正誤
差グラフを参照すると、図9に示した直線補正の場合と
比較して、補正誤差が大幅に縮小されていることが分か
る。
【0080】ここで用いたn次多項式では、n=4とす
ると、その4次多項式Eは、 E=a×r+b×r+c×r+d×r+e ・・・・・・・・・(6) と表される。次数については、補正誤差ができるだけ0
に近い値となるように適宜選択できる。そして、変数r
について測定点のトラック番号を代入して、連立方程式
から、a乃至eのパラメータを算出する。これらのパラ
メータを格納しておき、シーク動作を行うときに、各パ
ラメータに基づいてコアズレ補正値を算出するようにす
る。
【0081】以上のn次多項式を用いたズレ補正方式を
磁気ディスク装置に適用したときには、先ず、補正トラ
ック位置における磁気ヘッド毎のオフトラックマージン
を測定する。そして、各トラック位置での読込みヘッド
コアと書込みヘッドコアのズレ量を計測する。その結果
より補正多項式における各次数の係数(式(6)であれ
ば、パラメータa、b、c、d及びe)であるパラメー
タを求め、各パラメータを補正データとして補正テーブ
ル形式で磁気ディスクの特定セクタに記録しておく。電
源投人時に、特定セクタから当該各パラメータを読み込
み、補正テーブルをメモリに展開する。読込み命令を受
けると、メモリから当該磁気ヘッドの補正テーブルを読
み込み、トラック位置からのズレ量を計算して、オント
ラック時におけるオフセット量を決定する。
【0082】この方式を磁気ディスク装置に適用した場
合の動作について、図11乃至図15に示した。
【0083】図11及び図12のフローチャートでは、
補正トラック位置における磁気ヘッド毎のオフトラック
マージンを測定する場合の動作を示している。図11の
フローチャートは、オフトラックマージンを測定する際
に、補正トラック位置に対してイン側から測定を行う場
合を示し、図12のフローチャートは、そのアウタ側か
ら測定する場合を示している。
【0084】図11のフローチャートにおいて、先ず、
測定しようとしている磁気ヘッドを選択し、当該磁気ヘ
ッドを測定用トラックにシークさせる(ステップS20
1)。この測定用トラックは、測定を行うときだけのも
のであり、測定が終了した後では、他のデータで上書き
される。そのため、いずれのトラックを選定することが
でき、例えば、特定セクタが記録されているトラックを
用いることもできる。当該磁気ヘッドは、測定用トラッ
クに、あるいは、測定用トラックの近くにオントラック
される。
【0085】当該磁気ヘッドのシーク動作が行われる
と、書込みヘッドHによって測定用トラックに測定用
データを書き込む(ステップS202)。
【0086】次いで、当該磁気ヘッドによって最大でど
こから測定用データを読み込めるかを考慮して、オフセ
ット量を加算して当該磁気ヘッドをシークする(ステッ
プS203)。ここでは、イン側から測定するので、ト
ラック番号が増加する側にオフセットすることになる。
【0087】そこで、読込み回数を0に設定し(ステッ
プS204)、読込みヘッドHで読込み動作を開始す
る(ステップS205)。
【0088】まず、その位置で、測定用データが読み込
めるかどうかが判定され(ステップS206)、測定用
データを読み込むことができた場合(Yes)には、読
込みOKセクタが一つあったとして、読込み回数に1を
加算する(ステップS208)。
【0089】一方、測定用データを読み込むことができ
なかった場合(No)には、測定用データを読み込める
側になるように、オフセット量を1だけ減算し(ステッ
プS207)、そして、ステップS205において、1
だけ少ないオフセット量の位置で読込み動作を行う。こ
のように、磁気ディスクの1回転毎に1ずつオフセット
した位置で、測定用データが読み込むことができるまで
読込み動作を繰り返す。
【0090】ステップS208において、1ずつ減算さ
れた特定のオフセット位置で、磁気ディスク1回転毎に
読込みOKセクタ数がカウントされる。このカウント値
が読込みOKの規定回数になったかどうかが判定される
(ステップS209)。これは、磁気ディスク等の回転
機構における変動要因を考慮したものである。
【0091】そこで、読込みOKセクタの読込み回数が
規定回数に達していない場合(No)には、ステップS
205に戻って、特定のオフセット位置で読込み動作を
行い、その読込み動作は、規定回数になるまで繰り返さ
れる。また、読込みOKセクタの読込み回数が規定回数
に達した場合(Yes)には、インナ側において測定用
データを読み込むことが可能であるとして、そのときの
特定オフセット量をメモリに格納する(ステップS21
0)。
【0092】以上のオフトラックマージン測定では、イ
ンナ側にオフセット量を設けた場合であったが、インナ
側では測定用データの読込み状態を把握することができ
ないこともあり得るし、アウタ側にオフセットすること
によりオフトラックマージンの測定を行うと、同じエラ
ーレートのオフセット幅を求めることができる。そこ
で、その幅のセンタをオフセット値とすればよい。
【0093】図12のフローチャートに、アウタ側にオ
フセットしてオフトラックマージン測定の動作を示し
た。図12のフローチャートにおけるオフトラックマー
ジンの測定動作は、図11に示されたフローチャートに
よる動作に続いて行われるが、図11に示されたフロー
チャートによるものと比較して、基本的な処理手順にお
いては同様である。
【0094】ただ、図12に示された動作では、インナ
側でなく、アウタ側にオフセットすることから、ステッ
プS211において、アウタ側にトラック番号をマイナ
スすることと、ステップS215において、オフセット
量を1だけ減算していくことが、図11のステップS2
01及びステップS207における動作と異なっている
だけである。
【0095】次に、式(6)のn次多項式によって補正
値を計算する動作について、図13のフローチャートを
参照して説明する。図13においては、n=4である4
次多項式を用いた例を示しており、全トラックのデータ
領域の幅内における5点で測定を行っている。
【0096】先ず、プリント基板に近い磁気ヘッドから
計算を始めるとして、ヘッド0を選択する(ステップS
221)。
【0097】そして、補正位置rに対するヘッド0の
センタ位置Yをメモリから読み込む(ステップS22
2)。mは、測定点数を示し、m=1〜5である。
【0098】次いで、読み込まれたセンタ位置Y乃至
に基づいて、式(6)で示される4次多項式を用い
て、多項式に含まれるパラメータa、b、c、d及びe
を算出し(ステップS223)、算出されたパラメータ
a、b、c、d及びeを補正データとして磁気ディスク
上の特定セクタに格納する(ステップS224)。
【0099】ここで、ヘッド0に関して、補正用の各パ
ラメータが格納されたので、ヘッド0についてのパラメ
ータ計算を終了し、他に磁気ヘッドを装備している場
合、例えば、ヘッド1がある場合には、ヘッド1に関し
ても、ヘッド0の場合と同様に、パラメータ計算を行
い、その結果を、特定セクタに格納する。
【0100】図13に係るこれまでの動作は、磁気ディ
スクの半径方向での読込みヘッドH と書込みヘッドH
のコアズレ量Eを求めるため、補正多項式が磁気ヘッ
ド毎に特定されたことになる。そこで、磁気ディスク装
置において、この補正多項式によるコアズレ量に基づく
補正を実行する動作を説明する。
【0101】図14に示したフローチャートは、磁気デ
ィスク装置に電源投入されたときに、補正を実行する動
作について示しており、先ず、電源が投入されると(ス
テップS231)、磁気ヘッドを、特定セクタが存在す
るトラックにシークさせ、その特定セクタから各磁気ヘ
ッドに係る補正データa、b、c、d及びeを読み込
み、各磁気ヘッドに対応させて各補正データをメモリに
展開する。
【0102】その後、磁気ヘッドのシーク動作の度に、
このメモリから当該磁気ヘッドに係る各パラメータを読
み出し、この各パラメータに基づいてn次多項式を用い
てコアズレ量を算出し、そして、そのデータによって当
該磁気ヘッドの位置制御を行う。
【0103】ここで、磁気ディスク装置1が上位システ
ム4から読込み命令を受信したときの動作について、図
15のフローチャートに示した。
【0104】磁気ディスク装置1のHDC32が、命令
待機状態にあるとき(ステップS241)、上位システ
ム4から読込みシーク命令を受け付ける(ステップS2
42)。
【0105】そこで、受け付けた命令に従って、シーク
する磁気ヘッドがどれかを判定し、判定された当該磁気
ヘッド用の補正用データとして、メモリから補正データ
a、b、c、d及びeを読み込み(ステップS24
3)、MCU31は、読み込まれた各パラメータに基づ
いて、n次多項式によってシーク先でのコアズレ量Yを
求める(ステップS244)。
【0106】そして、当該磁気ヘッドをシークさせ、さ
らに、コアズレ量Yに対応するオフセット量を加えて補
正する(ステップS245)。これで、読込みシーク命
令に基づく当該磁気ヘッドの読込みシークが完了したこ
とになる(ステップS246)。
【0107】以上の動作処理により、磁気ディスク上の
複数トラック位置で測定した書込みヘッドと読込みヘッ
ドとのコアズレ量から、トラック位置に対するn次多項
による補正用式を作成し、磁気ヘッドのシーク動作毎に
トラック位置に対応した磁気ヘッドのコアズレ量を補正
することができるので、磁気ヘッド固有の書込みヘッド
と読込みヘッドとのズレ量に係る製造上の誤差を吸収す
ることができる。
【0108】そして、補正方式として、n次多項式を採
用することにより、オフトラックマージンの測定回数が
少なくても、補正誤差を小さくすることができ、また、
メモリに格納する補正データを少なくすることができ
る。
【0109】なお、補正テーブルとしてズレ量を持って
おき、補正多項式の次数計算を、電源投入時、シーク時
等の後に行うことも可能である。 〔第3の実施形態〕第2の実施形態による磁気ディスク
ドライブシステムでは、複数トラック位置で測定した書
込みヘッドと読込みヘッドとのコアズレ量に基づく補正
用n次多項式によって、トラック位置に対応した磁気ヘ
ッドのコアズレ量を補正し、磁気ヘッド固有の書込みヘ
ッドと読込みヘッドとのズレ量に係る製造上の誤差を吸
収するようにした。
【0110】そこで、第3の実施形態では、磁気ヘッド
固有の書込みヘッドと読込みヘッドとのズレ量に係る製
造上の誤差を吸収するために、測定した書込みヘッドと
読込みヘッドとのコアズレ量を測定し、データ書込み時
には、コアズレ量だけずらして書き込むようにした。
【0111】前述したように、MRヘッドは、高ビット
密度記録に適しているが、読込みヘッドコアと書込みヘ
ッドコアが別に配置されているために、製造のバラツキ
により、読込みヘッドコアの中心と、書込みヘッドコア
の中心にズレが発生する。また、磁気ディス装置では、
回転機構を用いているため、磁気ヘッドの位置により、
磁気ヘッドとトラックの角度が変化し、トラックに対し
て、読込みヘッドコアの中心と書込みヘッドコアの中心
とのズレ量も変化する。
【0112】図24に示されるように、MRヘッド22
は、読込みヘッドコアHと書込みヘッドコアHを別
々に持っている。その磁気ヘッドを用いたとき、データ
が書き込んだ位置に、読込みヘッドHを移動させなけ
れば、読込みが不可能であるため、読込み時には、書込
みヘッドHと読込みヘッドHのズレ分Yのオフセッ
トを加えてシークする。磁気ヘッドは非常に小さいもの
であるため、このズレ量Yのバラツキを無にすること
は、製造上不可能である。
【0113】そのため、従来においては、トラック位置
を変化させオフトラックマージンを測定し、各コア間の
ズレ量を補正している。書込み時の位置決め精度を最も
良くするため、書込み時には、読込みヘッドコアを目標
トラックのセンタに位置させてデータ書込みし、読込み
時には、各コアのズレ量分をオフセットし、書込み位置
に読込みヘッドコアを持っていく制御を行っている。
【0114】ここで、従来におけるズレ量補正につい
て、電源投入時の動作を、図18のフローチャートに示
す。
【0115】電源が投入されると(ステップS30
1)、装置の固有情報が保存されている特定セクタヘの
読込み命令が出る(ステップS302)。MCU31は
命令を判別し(ステップS303)、シーク動作をさ
せ、特定セクタのあるトラックヘと磁気ヘッドを移動す
る(ステップ304)。
【0116】磁気ヘッドは、セクタヘのリード動作に入
るが、このときのオフセット量は、ROM内部に持って
いる初期値が使用される(ステップS305)。この初
期値は、製品共通のものであり、実際のコアズレ量に
は、製品間でバラツキがある。そのため、一回目では読
み込めない場合(ステップS306、ステップS307
のNo)、所定オフセット量を加えながら読み込み(ス
テップS308)、特定セクタを探す動作に入る。
【0117】ここで、特定セクタを探す動作を、図17
及び図18に示す。図中において、図を簡単にするた
め、書込みヘッドHと読込みヘッドHとは同じ大き
さにしてあり、Hr1、Hr2、Hr3、…は、読込み
ヘッドHを磁気ディスクの1回転毎に所定オフセット
量だけずらして移動させた位置を示している。
【0118】図17では、書込みヘッドHによって書
き込まれデータの書込み位置に、読込みヘッドHが移
動していき、Hr3の位置で、書込みヘッドHで書き
込まれたデータを読み込めた状態を示している。しか
し、図18に示すように、読込みヘッドコアHの幅が
小さいと、書き込まれて位置に位置決めできず、特定セ
クタを探すことができない場合がある。また、図19に
示すように、オフセットの刻みを小さくすれば防ぐこと
ができるが、再リードの回数が多くかかってしまい、電
源投入から正常に起動するまで、多大な時間を要するこ
とになる。
【0119】そこで、第3の実施形態では、書込みヘッ
ドHと読込みヘッドHのズレ量Yが、製造上の誤差
を含む装置固有の情報であることに着目し、このズレ量
Yについて、オフトラックマージンを用いて測定してお
き、この測定に基づいたオフセット量だけずらしてデー
タ書込みを行うようにした。なお、このオフトラックマ
ージンの測定処理は、図11及び図12のフローチャー
トに示された手順に従って行われる。
【0120】本実施形態による磁気ヘッドの制御方式の
概要について、図20に示した。ここで、磁気ヘッド2
2は、書込みヘッドHと読込みヘッドHを有してお
り、それらは、磁気ディスクの半径方向にコアズレ量Y
だけ離れて配置されている。このコアズレ量Yは、製造
上の誤差を含む装置固有の値であって、オフトラックマ
ージン測定で得られたものであり、磁気ディスク装置内
に記憶される。
【0121】図20に示した例は、製品出荷時に、コア
ズレを補正するための初期オフセット値Yが、磁気デ
ィスク装置のROM内に格納されていた場合であり、初
期オフセット値Yは、読込みヘッドHの中心から半
径方向のズレ量を表している。そこで、データを書き込
むときの読込みヘッドHの中心からの書込み用オフセ
ット量Y0wを求める。この書込み用オフセット値Y
0wは、測定されたコアズレ量Yと初期オフセット値Y
との差であり、Y0w=Y+Yの式による符号付計
算で求められる。
【0122】装置固有情報を該当トラックに書き込むと
きには、磁気ヘッドを該当トラックにオントラックし、
さらに、その位置から書込み用オフセット値Y0wだけ
半径方向にオフセットする。このオフセット後に、書込
みヘッドHによって該情報を書き込む。書込みヘッド
で書き込まれたライト位置を、図20に破線で示し
た。
【0123】次いで、ライト位置に書き込まれた装置固
有情報を読み込むときには、磁気ヘッドを該当トラック
にオントラックし、さらに、磁気ヘッドを初期オフセッ
ト値Yだけ半径方向にオフセットする。このオフセッ
ト後においては、読込みヘッドHの半径方向の位置
は、情報が書き込まれているライト位置に一致している
ので、データを読み込むことができる。
【0124】このような磁気ヘッドの位置制御方式によ
ると、初期オフセット値にずらすだけで読み込みができ
るようにオフセットして書き込まれているため、再読込
みが発生せず、瞬時に起動することができ、装置固有の
誤差を含む書込み用オフセット値のオフセットでデータ
書込みを行っているので、磁気ヘッドに製造上のバラツ
キがあっても、そのバラツキの影響をなくすることがで
きる。
【0125】次に、本実施形態による装置固有情報の書
込み動作について、図21のフローチャートに示した。
先ず、装置固有情報の書込み命令が発行されると(ステ
ップS321)、オフトラックマージン測定によるコア
ズレ量をメモリから読み込み(ステップS322)、さ
らに、初期オフセット値を装置のROMから読み込む
(ステップS323)。
【0126】そこで、書込み用オフセット値Y0wを求
めるため、コアズレ量と初期オフセット値との符号付加
算を実行する(ステップS324)。
【0127】そして、磁気ヘッドを特定セクタのトラッ
クにシーク動作させ(ステップS325)、求められた
書込み用オフセット値をオントラック目標値に加えた位
置に、磁気ヘッドが半径方向に移動される(ステップS
326)。
【0128】磁気ヘッドが書込み用オフセット値の位置
にオントラック目標値からオフセットされたとき、装置
固有情報を特定セクタに書き込み(ステップS32
7)、この書込みが完了したとき、当該磁気ヘッドに係
る装置固有情報の書込み動作が終了する。そして、複数
の磁気ヘッドを装備している場合には、次の磁気ヘッド
に係る装置固有情報の書込み動作に移行する(ステップ
S328)。
【0129】次に、本実施形態の磁気ヘッドの位置制御
方式における電源投入時における装置固有情報の読出し
動作を、図22のフローチャートを用いて説明する。
【0130】先ず、電源投入されると(ステップS33
1)、ROMから初期オフセット値を読み込む(ステッ
プS332)。そして、磁気ヘッド固有情報が保存され
ている当該磁気ディスク上の特定セクタへの読込み命令
が発行される(ステップS333)。
【0131】当該磁気ヘッドは、この読込み命令に従っ
て、特定セクタが存在するトラック位置を目標値として
シーク動作される(ステップS334)。このとき、オ
ントラックの目標値に、読み込まれた初期オフセット値
を加算して、当該磁気ヘッドをオフセット移動させる
(ステップS335)。
【0132】そこで、磁気ヘッドの読込みヘッドH
位置が書込みヘッドHによるライト位置に一致してい
るので、当該読込みヘッドHで特定セクタ内の装置固
有情報を読み込む(ステップS336)。そして、読み
込まれた磁気ヘッド固有のコアズレ量について、メモリ
のテーブルに展開する(ステップS337)。
【0133】これで、電源投入時における装置固有情報
の読出し動作のフローチャートは、終了することとなる
が、磁気ヘッド固有のコアズレ量がテーブルに展開され
た以降においては、このコアズレ量は、当該磁気ヘッド
の位置制御に使用される(ステップS338)。
【0134】以上のように、磁気ディスク装置における
磁気ヘッドの位置制御方式としたので、トラック密度の
高密度化によりライトコア幅が小さくなり、トラック幅
に対しコアズレ量が大きくなり、設計目標もしくは製造
平均を使用した初期オフセット値を使用した場合にも、
磁気ヘッド固有のコアズレ量が保存してある特定セクタ
を探すまでに、オフセット再読込みの必要がなくなり、
起動時に瞬時に特定セクタの情報を読み込むことができ
る。そして、磁気ヘッド固有情報の格納のために、特別
な不揮発性メモリを必要としない。 (付記1)回転する磁気ディスク上をディスク半径方向
に移動できる磁気ヘッドが、距離を置いて並置された書
込みヘッドと読込みヘッドを有し、前記磁気ディスクに
データを書き込み、又は前記磁気ディスクからデータを
読み込むことができる磁気ディスクドライブシステムで
あって、前記書込みヘッドと前記読込みヘッドとのヘッ
ド間隔情報を測定するヘッド間隔測定手段と、測定され
た前記ヘッド間隔情報を格納する記憶手段と、記憶手段
から読み出された前記ヘッド間隔情報に基づいて前記磁
気ヘッドの動作を補正する制御手段とを有する磁気ディ
スクドライブシステム。 (付記2)前記ヘッド間隔情報は、前記磁気ディスク上
の所定トラック位置にある特定セクタに格納されること
を特徴とする付記1に記載の磁気ディスクドライブシス
テム。 (付記3)前記ヘッド間隔情報は、システム内に備えら
れた不揮発性メモリに格納されることを特徴とする付記
1に記載の磁気ディスクドライブシステム。 (付記4)前記ヘッド間隔測定手段は、所定の書込み開
始タイミングにおいて、測定用に選択されたセクタに、
前記書込みヘッドにより測定用書込み情報を第1のタイ
ミングで書込みを指示し、次いで、前記読込みヘッドに
より該書込み情報を読み込み、該書込み情報に含まれる
所定位置情報を検出して第2のタイミングを生成するこ
とを特徴とする付記1乃至3のいずれか一項に記載の磁
気ディスクドライブシステム。 (付記5)前記ヘッド間隔測定手段は、第1のタイミン
グと第2のイミングとの間隔から、第2のタイミングと
書込み開始タイミングとの間隔を減算して当該磁気ヘッ
ドに係るトラック方向のヘッド間隔を測定することを特
徴とする付記4に記載の磁気ディスクドライブシステ
ム。 (付記6)前記ヘッド間隔測定手段は、前記所定位置情
報を探索用ウインドウで検出するものであって、該探索
前記ヘッド間隔測定手段は、前記所定位置情報を探索用
ウインドウで検出するものであって、該探索用ウインド
ウのウインドウ幅が、前記磁気ディスクの1回転毎に増
加することを特徴とする付記4又は5に記載の磁気ディ
スクドライブシステム。 (付記7)前記ヘッド間隔測定手段は、前記所定位置情
報を探索用ウインドウで検出するものであって、該探索
用ウインドウのウインドウ幅が、第2のタイミングを超
える大きさであることを特徴とする付記4又は5に記載
の磁気ディスクドライブシステム。 (付記8)前記ヘッド間隔測定手段は、前記磁気ディス
ク上の複数のトラック位置でヘッド間隔測定を実行する
ことを特徴とする付記1乃至7のいずれか一項に記載の
磁気ディスクドライブシステム。 (付記9)前記ヘッド間隔測定手段は、トラック位置が
異なる前記複数のヘッド間隔に基づいて、測定されてい
ないトラック位置に係るヘッド間隔を補間する処理を行
うことを特徴とする付記8に記載の磁気ディスクドライ
ブシステム。 (付記10)前記補間処理が、n次多項式によって行わ
れることを特徴とする付記9に記載の磁気ディスクドラ
イブシステム。 (付記11)前記ヘッド間隔測定手段は、システム電源
投入時にヘッド間隔測定を実行することを特徴とする付
記1乃至10のいずれか一項に記載の磁気ディスクドラ
イブシステム。 (付記12)前記制御手段は、前記データを書き込むと
き、前記記憶手段に記憶されているヘッド間隔を読み出
し、該ヘッド間隔に基づいて補正した書込み開始タイミ
ングを決めることを特徴とする付記1乃至11のいずれ
か一項に記載の磁気ディスクドライブシステム。 (付記13)前記ヘッド間隔測定手段は、前記磁気ヘッ
ドを測定用トラックにオントラックしたとき、前記書込
みヘッドに測定用情報の書込みを指示し、次いで、オン
トラックしたトラック位置から、前記磁気ヘッドを前記
ディスクの半径方向に所定オフセット量だけオフセット
し、該オフセット位置から、前記磁気ディスク1回転毎
に前記所定オフセット量を減じながら前記読込みヘッド
で前記測定用情報に対する読込み動作を行い、該情報の
読込みができたときのオフセット量に基づいて、前記磁
気ディスクの半径方向におけるヘッド間隔測定を行うこ
とを特徴とする付記1乃至3のいずれか一項に記載の磁
気ディスクドライブシステム。 (付記14)前記ヘッド間隔測定手段は、前記オントラ
ックしたトラック位置に対して、前記磁気ヘッドをイン
側又はアウタ側に前記所定オフセット量だけオフセット
し、両側から前記ヘッド間隔測定を実行することを特徴
とする付記13に記載の磁気ディスクドライブシステ
ム。 (付記15)前記ヘッド間隔測定手段は、前記磁気ディ
スク上の複数のトラック位置で前記ヘッド間隔測定を実
行することを特徴とする付記13又は14に記載の磁気
ディスクドライブシステム。 (付記16)前記ヘッド間隔測定手段は、トラック位置
が異なる前記複数のヘッド間隔に基づいて、測定されて
いないトラック位置に係るヘッド間隔を補間することを
特徴とする付記15に記載の磁気ディスクドライブシス
テム。 (付記17)前記ヘッド間隔測定手段は、前記複数のヘ
ッド間隔に基づいて、トラック位置に対するヘッド間隔
に関するn次多項式を生成することを特徴とする付記1
6に記載の磁気ディスクドライブシステム。 (付記18)前記ヘッド間隔測定手段は、前記n次多項
式における次数係数を前記記憶手段に格納し、前記制御
手段が、前記読込みヘッドで読込み動作をするとき、前
記次数係数に基づいて、オントラックするトラック位置
におけるヘッド間隔を求め、該ヘッド間隔に基づくオフ
セット量を該トラック位置に付加して読込みシークを行
うことを特徴とする付記17に記載の磁気ディスクドラ
イブシステム。 (付記19)前記ヘッド間隔測定手段は、システム電源
投入時にヘッド間隔測定を実行することを特徴とする付
記13乃至18のいずれか一項に記載の磁気ディスクド
ライブシステム。 (付記20)前記制御手段は、前記書込みヘッドにより
特定情報を所定トラック位置に書き込むとき、該所定ト
ラック位置に対応するヘッド間隔情報を前記記憶手段か
ら読み出し、該ヘッド間隔情報に基づいて補正情報を生
成し、次いで、前記磁気ヘッドを該所定トラック位置に
オントラック後、該所定トラック位置から該補正情報量
だけずらした位置で、前記書込みヘッドにより前記特定
情報を書き込むことを特徴とする付記13に記載の磁気
ディスクドライブシステム。 (付記21)前記補正情報は、前記ヘッド間隔と、前記
記憶手段に格納された初期オフセットとによる符号付き
計算によって求められることを特徴とする付記19に記
載の磁気ディスクドライブシステム。 (付記22)前記特定情報は、装置固有情報を含み、前
記磁気ディスク上の特定セクタに書き込まれることを特
徴とする付記19又は20に記載の磁気ディスクドライ
ブシステム。 (付記23)前記制御手段は、前記特定情報を前記読込
みヘッドにより読み込むとき、前記記憶手段に記憶され
ている前記初期オフセット値を読み出し、次いで、前記
磁気ヘッドを前記所定トラックにオントラックした後
に、前記磁気ヘッドを前記初期オフセット値だけずら
し、前期読込みヘッドにより前記特定情報を読み込むこ
とを特徴とする付記20又は21に記載の磁気ディスク
ドライブシステム。
【0135】
【発明の効果】本発明の磁気ディスクドライブシステム
によれば、磁気ヘッドにおける書込みヘッドと読込みヘ
ッドとの間隔について、実際の磁気ヘッドを使用して測
定するようにしているので、製造上のバラツキ、回転変
動などによる装置固有の情報を把握でき、コアズレ量な
どの装置固有情報に基づいて、磁気ヘッドによる書込み
又は読込みのタイミングや、磁気ヘッドのトラック位置
に関わる制御を精度良く実行することができる。
【0136】そして、書込みヘッドと読込みヘッドとの
トラック方向の間隔が算出されるので、この間隔に従っ
たタイミングで書込み動作を行うことにより、磁気ヘッ
ド間距離の製造上の誤差を吸収できるばかりでなく、サ
ーボ情報等を上書きすることを防止でき、しかも、デー
タ書込みタイミングを正確に決めることができる。その
ため、磁気ディスクのフォーマットに時間余裕を持たせ
る必要がなくなり、ビット密度の高密度化に対応してフ
ォーマット効率を向上することができる。
【0137】また、本発明の磁気ディスクドライブシス
テムによれば、磁気ヘッドのシーク動作に関するディス
ク半径方向のトラック位置の制御において、書込みヘッ
ドと読込みヘッドとのコアズレ量を測定した複数の測定
点に対して、n次多項式を用いて、各トラック位置を補
正することにより、その補正によって生じる誤差につい
て、直線補正による補正誤差より大幅に減縮することが
でき、コアズレ量に対して適切に補正される。
【0138】そのため、磁気ヘッドによる隣接トラック
への書き広がりが抑えられ、エラーレイトを向上するこ
とができる。しかも、コアズレ量の測定箇所が少なくて
済み、その誤差を小さくできるため、補正値テーブル量
も小さくすることができ、格納メモリを圧迫することが
なくなる。そして、磁気ディスク装置の製造における試
験工程内の時間を圧迫することもなく、効率よく生産す
ることが可能である。
【0139】さらに、本発明の磁気ディスクドライブシ
ステムによれば、測定された書込みヘッドと読込みヘッ
ドとのディスク半径方向のコアズレ量が測定され、この
コアズレ量と初期オフセット値に基づいてオフセットさ
れたライト位置で、コアズレ量を含む装置固有情報を特
定セクタに書き込むようにし、装置固有情報の読込み命
令を受けたときには、磁気ヘッドを、オントラック目標
値に初期オフセット値を加算してオフセットするだけ
で、読込みヘッドの位置をライト位置に一致させること
ができる。そのため、電源投入時において、読込みヘッ
ドによる装置固有情報のオフセット再読込みの必要性が
なくなり、瞬時に起動することが可能となる。
【0140】また、使用する初期オフセット値は、元
々、ROM内に格納されているものであり、測定された
装置固有情報は、磁気ディスクの特定セクタに書き込ま
れる。そのため、特別に用意した不揮発性メモリを使用
する必要がなく、フアームウェアのマスクROM化も可
能となり、コストダウンが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】特定のトラックに測定用の媒体情報を書き込む
動作を説明するタイムチャート図である。
【図2】特定のトラックに書き込まれた測定用の媒体情
報を読み込む動作を説明するタイムチャート図である。
【図3】読み込んだ測定用の媒体情報からW/Rヘッド
間隔を算出する方法を説明するタイムチャート図であ
る。
【図4】読み込んだ測定用の媒体情報からW/Rヘッド
間隔を算出する別の方法を説明するタイムチャート図で
ある。
【図5】特定セクタに書き込まれたW/Rヘッド間隔を
読み込む動作を説明するフローチャート図である。
【図6】不揮発性メモリに格納されたW/Rヘッド間隔
を読み込む動作を説明するフローチャート図である。
【図7】読み込まれたW/Rヘッド間隔に基づいてデー
タ書込みタイミングを決定する動作を説明するフローチ
ャート図である。
【図8】書込みヘッドコア中心と読込みヘッドコア中心
とのディスク半径方向のコアズレ量が、トラック位置に
応じて変化する様子を示すグラフである。
【図9】図8に示されたコアズレ量の変化に対して、5
点による直線補正をしたときのディスク半径方向の補正
誤差を示すグラフである。
【図10】図8に示されたコアズレ量の変化に対して、
5点測定による4次多項式補正をしたときのディスク半
径方向の補正誤差を示すグラフである。
【図11】磁気ヘッドのオフトラックマージンを測定す
る動作処理の手順を示すフローチャートである。
【図12】図11に続くオフトラックマージンを測定す
る動作処理の手順を示すフローチャートである。
【図13】5点測定による4次多項式補正の場合におけ
る補正値計算の処理フローを説明するフローチャートで
ある。
【図14】5点測定による4次多項式補正を使用した場
合における電源投入時の処理フローを説明するフローチ
ャートである。
【図15】5点測定による4次多項式補正を使用した場
合における読込み命令受付時の処理フローを説明するフ
ローチャートである。
【図16】電源投入時における磁気ヘッドによるオフセ
ット再読込みの動作処理を説明するフローチャートであ
る。
【図17】磁気ヘッドによるオフセット再読込みの動作
状態を説明する図である。
【図18】磁気ヘッドのコア幅が小さい場合に、オフセ
ット再読込みができない状態を説明する図である。
【図19】磁気ヘッドのコア幅が小さく、オフセット量
を小さくした場合に、オフセット再読込みができた状態
を説明する図である。
【図20】本実施形態による磁気ディスクへの磁気ヘッ
ド位置制御方式に従った書込み及び読込み動作を説明す
る図である。
【図21】図20に示される磁気ヘッド位置制御方式に
従って、装置固有情報を書き込む動作処理を説明するフ
ローチャートである。
【図22】図20に示される磁気ヘッド位置制御方式に
従って、電源投入時に装置固有情報を読み込む動作処理
を説明するフローチャートである。
【図23】従来の磁気ディスク装置の概略ブロック構成
を示す図である。
【図24】磁気ヘッドの配置構成を示す図である。
【図25】磁気ディスクと磁気ヘッドの配置構成を示す
図である。
【図26】磁気ディスク上のトラック位置に対応する磁
気ヘッド間隔の変化を説明する図である。
【図27】磁気ディスクに記録される媒体情報のフォー
マット例を示す図である。
【符号の説明】
1…磁気ディスク装置 2…ディスクエンクロージャユニット 21…磁気ディスク 22…磁気ヘッド 23…ヘッドアーム 24…スピンドルモータ 25…ボイスコイルモータ 26…ヘッドIC 3…プリント基板ユニット 31…MCU 32…ハードディスクコントローラ 33…リード・ライトチャンネル部 34…サーボコントローラ 35…ROM 36…データバッファメモリ 4…上位システム H…読込みヘッド H…書込みヘッド

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転する磁気ディスク上をディスク半径
    方向に移動できる磁気ヘッドが、距離を置いて並置され
    た書込みヘッドと読込みヘッドを有し、前記磁気ディス
    クにデータを書き込み、又は前記磁気ディスクからデー
    タを読み込むことができる磁気ディスクドライブシステ
    ムであって、 前記書込みヘッドと前記読込みヘッドとのヘッド間隔情
    報を測定するヘッド間隔測定手段と、 測定された前記ヘッド間隔情報を格納する記憶手段と、 記憶手段から読み出された前記ヘッド間隔情報に基づい
    て前記磁気ヘッドの動作を補正する制御手段とを有する
    磁気ディスクドライブシステム。
  2. 【請求項2】 前記ヘッド間隔情報は、前記磁気ディス
    ク上の所定トラック位置にある特定セクタに格納される
    ことを特徴とする請求項1に記載の磁気ディスクドライ
    ブシステム。
  3. 【請求項3】 前記ヘッド間隔情報は、システム内に備
    えられた不揮発性メモリに格納されることを特徴とする
    請求項1に記載の磁気ディスクドライブシステム。
  4. 【請求項4】 前記ヘッド間隔測定手段は、所定の書込
    み開始タイミングにおいて、測定用に選択されたセクタ
    に、前記書込みヘッドにより測定用書込み情報を第1の
    タイミングで書込みを指示し、次いで、前記読込みヘッ
    ドにより該書込み情報を読み込み、該書込み情報に含ま
    れる所定位置情報を検出して第2のタイミングを生成す
    ることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記
    載の磁気ディスクドライブシステム。
  5. 【請求項5】 前記ヘッド間隔測定手段は、第1のタイ
    ミングと第2のイミングとの間隔から、第2のタイミン
    グと書込み開始タイミングとの間隔を減算して当該磁気
    ヘッドに係るトラック方向のヘッド間隔を測定すること
    を特徴とする請求項4に記載の磁気ディスクドライブシ
    ステム。
  6. 【請求項6】 前記ヘッド間隔測定手段は、前記磁気ヘ
    ッドを測定用トラックにオントラックしたとき、前記書
    込みヘッドに測定用情報の書込みを指示し、次いで、オ
    ントラックしたトラック位置から、前記磁気ヘッドを前
    記ディスクの半径方向に所定オフセット量だけオフセッ
    トし、該オフセット位置から、前記磁気ディスク1回転
    毎に前記所定オフセット量を減じながら前記読込みヘッ
    ドで前記測定用情報に対する読込み動作を行い、該情報
    の読込みができたときのオフセット量に基づいて、前記
    磁気ディスクの半径方向におけるヘッド間隔測定を行う
    ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載
    の磁気ディスクドライブシステム。
  7. 【請求項7】 前記ヘッド間隔測定手段は、前記磁気デ
    ィスク上の複数のトラック位置で前記ヘッド間隔測定を
    実行することを特徴とする請求項6に記載の磁気ディス
    クドライブシステム。
  8. 【請求項8】 前記ヘッド間隔測定手段は、前記複数の
    ヘッド間隔に基づいて、トラック位置に対するヘッド間
    隔に関するn次多項式を生成することを特徴とする請求
    項7に記載の磁気ディスクドライブシステム。
  9. 【請求項9】 前記ヘッド間隔測定手段は、前記n次多
    項式における次数係数を前記記憶手段に格納し、 前記制御手段が、前記読込みヘッドで読込み動作をする
    とき、前記次数係数に基づいて、オントラックするトラ
    ック位置におけるヘッド間隔を求め、該ヘッド間隔に基
    づくオフセット量を該トラック位置に付加して読込みシ
    ークを行うことを特徴とする請求項8に記載の磁気ディ
    スクドライブシステム。
  10. 【請求項10】 前記制御手段は、前記書込みヘッドに
    より特定情報を所定トラック位置に書き込むとき、該所
    定トラック位置に対応するヘッド間隔情報を前記記憶手
    段から読み出し、該ヘッド間隔情報に基づいて補正情報
    を生成し、次いで、前記磁気ヘッドを該所定トラック位
    置にオントラック後、該所定トラック位置から該補正情
    報量だけずらした位置で、前記書込みヘッドにより前記
    特定情報を書き込むことを特徴とする請求項6に記載の
    磁気ディスクドライブシステム。
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