JP2003244552A

JP2003244552A - 撮像装置および画像データ出力方法

Info

Publication number: JP2003244552A
Application number: JP2002039914A
Authority: JP
Inventors: Koji Kubota; 耕司久保田; Naomoto Kubo; 直基久保
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 2002-02-18
Filing date: 2002-02-18
Publication date: 2003-08-29
Anticipated expiration: 2022-02-18
Also published as: US7271833B2; JP3839733B2; US20040160520A1

Abstract

(57)【要約】【課題】撮像素子の流用を阻止し得る撮像装置を提供
する。【解決手段】予め定めた配列パターンに応じた故意欠
陥画素を、欠陥補正できるメモリの限界以上の個数とす
る。配列パターンは、複数種類あり、カメラ（撮像素
子）毎に異なる。配列パターンを特定するカメラＩＤを
読込み（１００）、カメラＩＤに対応する欠陥パターン
データを読込む（１０２）。画像データを読込み（１０
４）、欠陥パターンデータに基づいて故意欠陥画素１５
を補正する（１０６）。即ち、故意欠陥画素が欠陥補正
できるメモリの記憶の限界以上であるので、故意欠陥画
素の配列パターンに対応する欠陥パターンデータが読出
しできない場合には画像データを正常に再生できない。
従って、撮像素子に欠陥補正ができる限界以上の個数の
故意欠陥画素を、予め定めた配列パターンに応じて形成
したので、カメラの撮像素子を他の撮像装置に利用でき
ない。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＣＤイメージセ
ンサ，ＣＭＯＳイメージセンサなどの固定撮像素子を備
える撮像装置および画像データ出力方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】デジタルスチルカメラ，デジタルビデオ
カメラなどの撮像装置は、ＣＣＤイメージセンサなどの
固体撮像素子を備えている。このような固体撮像素子の
中には、その製造時に、受光量に応じた電荷を生成する
ことができない画素や，暗電流の不均一によるノイズが
規定値以上に発生してしまう画素などのいわゆる欠陥画
素が形成される場合がある。

【０００３】欠陥画素は、その画像信号を表示させた際
に、黒傷，白傷などの傷となって撮像画像に現れ、画像
品質を著しく低下させる。そのため、固体撮像素子の製
造時においては、その検査過程で、欠陥画素であるか否
かを判断する。欠陥画素であると判断された場合は、そ
の欠陥画素の位置（座標）などを表わす「欠陥画素デー
タ」を、撮像装置の記憶部（メモリ）に予め記憶してい
た。

【０００４】そして、撮像装置は画像欠陥補正装置を備
え、この画像欠陥補正装置は上記「欠陥画素データ」に
基づいて欠陥画素に対する欠陥補正を行っていた。この
画像欠陥補正装置に関する技術としては、特開平１−１
０５６７１号公報に記載のものがある。

【０００５】即ち、上述した画像欠陥補正装置は、実際
の撮像時において、予め記憶してした「欠陥画素デー
タ」に対応する欠陥画素のみを、この欠陥画素の周辺画
素データに基づき補正処理していた。欠陥画素を補正す
る方法としてメモリに予め記憶した「欠陥画素データ」
のみを用いるのは、連写，動画などの実際の撮影処理を
速くするためである。このような欠陥画素補正方法は、
小型軽量で低価格のデジタルスチルカメラにおいて、要
請されるものである。

【０００６】そして、上記デジタルスチルカメラでは、
「欠陥画素データ」を記憶するメモリの上限値（限界）
が、コストなどによって予め決められていた。上記メモ
リの個数は、２５６個乃至１０００個の範囲内に抑えら
れていた。そのため、上記メモリの範囲内における欠陥
画素は、その周辺画素データに基づき、適切に補正さ
れ、良好な画像を得ていた。

【０００７】また、従来のデジタルスチルカメラの中に
は、画像データの画像を第三者に見られないようにする
ため、画像データ自体を暗号化する暗号処理手段を有す
るものがあった。この暗号処理に関する技術としては、
特開２０００−１６５７２０号公報に記載のものがあ
る。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところで、不特定多数
のユーザに貸し出し回収する、いわゆる使い捨てタイプ
のデジタルスチルカメラなどを販売する販売システム
が、構築されることを仮に想定すると、上記デジタルス
チルカメラを借りた第三者が、そのＣＣＤイメージセン
サ，ＣＭＯＳイメージセンサなどの撮像素子を他の撮像
装置に利用（流用）することが考えられる。なお、上述
した画像データ自体を暗号する場合には、撮像装置にお
ける処理などに負荷が生じる。

【０００９】本発明の目的は、上記事実を考慮して、撮
像素子の流用を阻止し得る撮像装置および画像データ出
力方法を提供することにある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の撮像装置
では、欠陥補正ができる限界以上の個数の欠陥画素を、
予め定めた配列パターンに応じて形成した撮像素子を備
える。請求項１記載に係る発明において、予め定めた配
列パターンに応じて形成した欠陥画素を、欠陥補正でき
るメモリなどの限界以上の個数としたので、上記欠陥画
素の配列パターンに対応するパターンデータが認識でき
ない場合には上記撮像素子によって撮像された画像デー
タを正常に再生させることができない。

【００１１】一方、上記欠陥画素の配列パターンに対応
するパターンデータを認識し得る場合には、既知のパタ
ーンデータに基づき、予め形成した欠陥画素を適切に補
正し、良好な画像データを得る。即ち、請求項１記載に
係る発明によれば、撮像素子に欠陥補正ができる限界以
上の個数の欠陥画素を、予め定めた配列パターンに応じ
て形成したので、ＣＣＤイメージセンサ，ＣＭＯＳイメ
ージセンサなどの撮像素子の流用を阻止できる。なお、
請求項１記載に係る発明は、撮像素子の流用を阻止し得
るように構成したので、不特定多数のユーザに貸し出し
回収する、使い捨てタイプのデジタルカメラなどの撮像
装置に適している。

【００１２】また、請求項１記載に係る発明では、撮像
素子（ハード）自体に欠陥補正ができる限界以上の個数
の欠陥画素を、予め定めた配列パターンに応じて形成す
ることにより、撮像された画像データを正常に再生でき
ないようにしたので、画像データ自体を暗号する場合と
異なり、撮像装置における処理などに負荷が全く生じな
い。

【００１３】請求項２記載に係る発明では、請求項１に
係る撮像装置において、Ｇ画素を前記欠陥画素とするこ
とを特徴とする。請求項２記載に係る発明によれば、欠
陥画素を、撮像素子において画素数の多いＧ画素とした
ので、Ｓ／Ｎ（信号対雑音比）の劣化を最小限にでき
る。

【００１４】請求項３記載の画像データ出力方法では、
欠陥補正ができる限界以上の個数の欠陥画素を予め定め
た配列パターンに応じて形成した撮像素子によって撮像
された画像データを読出すと共に、前記欠陥画素の配列
パターンに対応するパターンデータを読出し、前記パタ
ーンデータに基づき、前記画像データを補正し出力す
る。

【００１５】欠陥補正ができる限界以上の個数の欠陥画
素を予め定めた配列パターンに応じて形成した撮像素子
によって撮像された画像データを、撮像装置における例
えばフラッシュＲＯＭなどの記録媒体から読出す。上記
欠陥画素の配列パターンは予め異なる複数種類が存在
し、そのため上記画像データに記録された欠陥画素の配
列パターンに対応するパターンデータを読出す。そし
て、読出したパターンデータに基づき、画像データを補
正すると共に、例えばプリンタなどに出力する。

【００１６】請求項３記載に係る発明によれば、予め定
めた配列パターンに応じて形成した欠陥画素を、欠陥補
正できるメモリなどの限界以上の個数としたので、上記
欠陥画素の配列パターンに対応するパターンデータが認
識できない場合には上記撮像素子によって撮像された画
像データを正常に再生させることができない。すなわ
ち、請求項３記載に係る発明によれば、撮像素子に欠陥
補正ができる限界以上の個数の欠陥画素を、予め定めた
配列パターンに応じて形成したので、撮像素子の流用を
阻止できる。

【００１７】なお、本発明では、画像データを記録する
記録媒体を、スマート・メディア（SmartMedia
（Ｒ））、コンパクト・フラッシュ（CompactFlash）、
ＡＴＡ（AT Attachment）カード、フロッピィディス
ク、ＣＤ−Ｒ（Compact Disc-Recordable）、ＣＤ−Ｒ
Ｗ（Compact Disc-ReWritable）などとしても良い。ま
た、本発明に係る撮像装置は、デジタルスチルカメラ，
デジタルビデオカメラ，撮像機能を備えた携帯電話，パ
ーソナル・コンピュータ，ＰＤＡ（Personal Digital
Assistance）などを含む概念である。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下、図１乃至図６に基づいて、
本発明の実施形態であるデジタルスチルカメラ（以下、
単に「カメラ」という）について説明する。なお、図１
は本実施形態のカメラにおけるＣＣＤイメージセンサの
要部を示す平面図、図２は図１に示すＣＣＤイメージセ
ンサとは異なるタイプの要部を示す平面図である。

【００１９】ここで、本実施形態のカメラは、不特定多
数のユーザに貸し出し回収する、いわゆる使い捨てタイ
プである。また、本実施形態では、小型軽量で低価格な
カメラとしたので、「欠陥画素データ」を記憶するメモ
リの個数（限界）が、２５６個となっている。

【００２０】カメラに内蔵された撮像素子であるＣＣＤ
イメージセンサは、図１に示すように、半導体基板（図
示省略）上に、平面形状が正八角形のフォトダイオード
（光電変換素子である画素）１４を所定間隔（垂直画素
ピッチＶＰ）で垂直方向に複数配列した第１の光電変換
素子列１６と、複数のフォトダイオード１４を第１の光
電変換素子列１６と同じ間隔で垂直方向に配列し、かつ
第１の光電変換素子列１６に対して垂直方向に垂直画素
ピッチＶＰに対して１／２ずらして配置された第２の光
電変換素子列１８と、で構成された素子列の組を水平方
向に複数組並べて構成されている。

【００２１】そして、隣り合う第１の光電変換素子列１
６及び隣り合う第２の光電変換素子列１８は、垂直画素
ピッチと同じ間隔（水平画素ピッチＨＰ）で配置され、
第１の光電変換素子列１６に含まれるフォトダイオード
１４により構成される光電変換素子行に対して、第２の
光電変換素子列１８に含まれるフォトダイオード１４に
より構成される光電変換素子行は、水平方向に水平画素
ピッチＨＰに対して１／２ずらして配置されている。即
ち、フォトダイオード１４は、いわゆるハニカム状に配
列されている。

【００２２】なお、相互に接近して配列された第１の光
電変換素子列１６と第２の光電変換素子列１８との間に
は、フォトダイオード１４で発生した信号電荷を読み出
して垂直方向に転送する垂直電荷転送チャネル２０が各
々設けられている。垂直電荷転送チャネル２０は、両側
に位置する光電変換素子列の各フォトダイオード間に侵
入した侵入部２０Ａと非侵入部２０Ｂとが交互に位置す
るように連続して構成され、ハニカム状に配列したフォ
トダイオード１４の間を蛇行しながら垂直方向に延びて
いる。

【００２３】また、図１の想像線に示すように、所定位
置のフォトダイオード１４は、故意に欠陥を設けたフォ
トダイオード（以下、単に「故意欠陥画素」という）１
５としている。この故意欠陥画素１５は、黒を検出する
ための領域（オプティカルブラック部分）を形成する工
程において、フォトダイオード１４の表面部分をアルミ
ニウムで覆い隠す（マスクする）ことによって形成す
る。

【００２４】即ち、本実施形態では、故意欠陥画素１５
を予め定めた配列パターンに応じて形成すると共に、故
意欠陥画素１５の個数をカメラのメモリ（「欠陥画素デ
ータ」を記憶するメモリ）で欠陥補正ができる限界（２
５６個）以上の個数としている。故意欠陥画素１５は欠
陥補正できるメモリの限界に対する数値として例えば１
０００個以上を形成し、かつ故意欠陥画素１５の配列パ
ターンは規則正しくなっている。

【００２５】なお、本実施形態においても、ＣＣＤイメ
ージセンサの製造時に不慮に形成された欠陥画素に対
し、その欠陥画素の位置（座標）などを表わす「欠陥画
素データ」がカメラの記憶部（メモリ）に予め記憶され
ている。そして、本実施形態においても、実際の撮像時
において、予め記憶していた上記「欠陥画素データ」に
対応する欠陥画素を、この周辺画素データに基づいて補
正処理する。

【００２６】上述のように構成されたＣＣＤイメージセ
ンサは、被写界に向けて配置された撮像レンズによって
結像される被写体像を電気信号に変換する。ＣＣＤイメ
ージセンサの撮像面には、ＧストライプＲ／Ｂ完全市松
配列のＲＧＢ原色フィルタが被着されている。即ち、Ｒ
（レッド），Ｇ（グリーン），およびＢ（ブルー）の各
フィルタに対応する画素（フォトダイオード）１４にお
いて、Ｇ画素は、Ｒ画素またはＢ画素の２倍の画素数と
なっている。

【００２７】そして、本実施形態では、Ｒ・Ｂの画素よ
りも画素数の多いＧ画素を、上述した故意欠陥画素１５
の主対象としている。そのため、本実施形態において
は、故意欠陥画素１５を、画素数の多いＧ画素としたの
で、Ｓ／Ｎ（信号対雑音比）の劣化を最小限にし得る。

【００２８】図２には、図１とは平面形状および配列が
異なる画素を備えたＣＣＤイメージセンサが示されてい
る。即ち、図２に示すように、平面形状が正四角形のフ
ォトダイオード（画素）２２は、図示しない半導体基板
上に、垂直方向および平行方向において所定間隔をもっ
て整列している。

【００２９】また、図２の想像線に示すように、所定位
置のフォトダイオード２２は、故意に欠陥を設けたフォ
トダイオード（以下、単に「故意欠陥画素」という）２
３としている。この故意欠陥画素２３は、オプティカル
ブラック（ＯＢ）部分を形成する工程において、フォト
ダイオード２２の表面部分をアルミニウムでマスクする
ことによって形成する。その他の構成は図１に示すＣＣ
Ｄイメージセンサと同様であるので、説明は省略する。

【００３０】なお、カメラには、ＣＣＤイメージセンサ
からの出力信号に基づき被写体像を示すデジタル画像デ
ータを生成すると共にＣＣＤイメージセンサなどを駆動
するためのタイミング信号を生成する信号処理部と、主
としてＣＣＤイメージセンサによる撮像によって得られ
たデジタル画像データを記憶するＳＤＲＡＭ（Synchron
ous Dynamic RAM）と、カメラの全体的な動作を司る制
御部（ＣＰＵ）と、を含んで構成されている。

【００３１】また、ＣＰＵは、図示しない所定容量のラ
インバッファを内蔵した撮像制御部と、所定の圧縮形式
（本実施形態ではＪＰＥＧ（Joint Photographic Exper
ts Group）形式）でデジタル画像データに対して圧縮処
理を施すと共に、圧縮処理されたデジタル画像データに
対して伸張処理を施す圧縮・伸張部と、がバスを介して
相互に接続されて構成されている。

【００３２】さらに、カメラは、ＣＣＤイメージセンサ
による撮像によって得られた被写体像や各種情報を表示
する表示部（ＬＣＤ）と、電源スイッチなどの各種操作
キーを備える操作部と、カメラのＩＤ（このＩＤは故意
欠陥画素１５，２３の配列パターンを特定するための
「カメラＩＤ」である）や各種パラメータなどを記憶し
た記憶部（フラッシュＲＯＭ）と、ＵＳＢコネクタなど
のインターフェイス３２（図３参照）を接続する外部接
続部と、を含んで構成されている。

【００３３】即ち、上記配列パターンは複数種類が存在
し、カメラ（撮像素子）毎に異なるよう設定されてい
る。また、フラッシュＲＯＭは、装置本体に内蔵され、
取外し不可能となっている。

【００３４】外部接続部は、ＣＰＵに接続されており、
Ｉ／Ｆ３２を介して接続された外部端末（図３に示すよ
うな再生装置３０など）との間の通信を司る。なお、信
号処理部は、相関２重サンプリング回路（ＣＤＳ）と、
ゲインコントローラと、Ａ／Ｄコンバータと、タイミン
グジェネレータと、を含んで構成されている。

【００３５】そして、信号処理部は、ＲＧＢ原色フィル
タのフィルタ配列に対応するＣＣＤイメージセンサの各
画素を３つの原色ＲＧＢとして表わす画素補間機能を有
し、Ｒ，Ｇ，およびＢ各原色の画素から１つのＲＧＢ画
素を補間処理によって生成する機能を有している。即
ち、ＣＣＤイメージセンサから出力された信号は、相関
２重サンプリング回路によって相関２重サンプリング処
理が施され、ゲインコントローラによってＣＣＤイメー
ジセンサにおけるＲ（赤），Ｇ（緑），Ｂ（青）毎の感
度調整が施された後、各画素毎のＲ、Ｇ、Ｂ信号として
Ａ／Ｄコンバータに加えられる。

【００３６】Ａ／Ｄコンバータは、ゲインコントローラ
から順次加えられるＲ，Ｇ，Ｂ信号を、各々１２ビット
のＲ，Ｇ，Ｂ信号（以下、「デジタル画像データ」とい
う。）に変換してＣＰＵに出力する。そして、ＣＰＵ
は、内蔵しているラインバッファにＡ／Ｄコンバータか
ら順次入力されるデジタル画像データを、蓄積して一旦
ＳＤＲＡＭに格納する。

【００３７】ＳＤＲＡＭに格納されたデジタル画像デー
タは、ＣＰＵによって読み出され、これらに光源種に応
じたデジタルゲインをかけることでホワイトバランス調
整を行なうと共に、ガンマ処理及びシャープネス処理を
行なって８ビットのデジタル画像データを生成し、更に
ＹＣ信号処理して輝度信号Ｙとクロマ信号Ｃｒ、Ｃｂ
（以下、単に「ＹＣ信号」という。）を生成し、ＹＣ信
号を再びＳＤＲＡＭに格納する。

【００３８】シャッターボタンが撮影者によって押圧操
作された場合には、ＳＤＲＡＭに格納されたＹＣ信号
を、圧縮・伸張部によって所定の圧縮形式で圧縮した後
にフラッシュＲＯＭに記憶する。即ち、フラッシュＲＯ
Ｍには、被写体の画像データが記憶される。また、図３
に示すように、Ｉ／Ｆ３２には再生装置３０が接続さ
れ、そしてフラッシュＲＯＭに記憶されているデジタル
画像データ，カメラＩＤなどの各種情報は再生装置３０
に読込まれる。

【００３９】次に、図３に基づき、再生装置３０の構成
を説明する。なお、本実施形態の再生装置３０は、いわ
ゆるラボ（写真現像店）に設置されたパーソナル・コン
ピュータ（パソコン）である。

【００４０】再生装置３０には、その装置全体の動作を
司るＣＰＵ（中央演算処理装置）３４と，カメラ２８な
どが接続される入力用のＩ／Ｆ３２と，Ｉ／Ｆ３２から
入力されたデジタル画像データを処理する信号処理部３
６と，テンキーなど配置された操作部３８と，デジタル
画像データなどを表示する表示部４０と，欠陥画素の配
列パターンに対応する欠陥パターンデータおよびカメラ
ＩＤなどの各種情報が記憶されたメモリ４２と，信号処
理部３６で画像処理などされたデジタル画像データを外
部に出力する出力用のＩ／Ｆ４４と，がバスＢＵＳを介
して相互に接続されて構成されている。なお、再生装置
３０であるパソコンは一般的なものであるので、その詳
細な説明は省略する。

【００４１】図４に示すように、メモリ４２の記憶領域
４５は、カメラＩＤと欠陥パターンとを対応付けるデー
タ（図５参照）を予め記憶したテーブル領域４６，カメ
ラ２８からのデジタル画像データなどを記憶する画像領
域４７，欠陥パターンに基づいてデジタル画像データを
欠陥補正するプログラムなどが予め記憶されたプログラ
ム領域４８，テーブル領域４６の欠陥パターンに対応す
る欠陥パターンデータ（故意欠陥画素の座標などのデー
タ）が予め記憶された欠陥パターンデータ領域４９など
を備えている。

【００４２】引続き、図６に基づき、図３に示す再生装
置３０におけるデジタル画像データの出力処理について
説明する。なお、図６に示す処理は使い捨てタイプのカ
メラを販売する販売システムが構築されることが前提で
あり、そして撮像済みのカメラ２８をラボに持ち込む。
また、本処理は、Ｉ／Ｆ３２にカメラ２８を接続し、か
つＩ／Ｆ４４にプリンタ５０を接続していることが前提
である。

【００４３】図６に示すように、ステップ１００ではカ
メラ２８のフラッシュＲＯＭに記憶されているカメラＩ
Ｄを読込み、ステップ１０２では読込んだカメラＩＤに
対応する欠陥パターンデータを図３に示すメモリ４２の
欠陥パターンデータ領域４９（図４参照）から読込む。
即ち、欠陥パターンデータは、カメラＩＤと欠陥パター
ンとが対応付けられたテーブル（図５参照）に基づき、
欠陥パターンデータ領域４９から読出す。

【００４４】また、ステップ１０４ではカメラ２８のフ
ラッシュＲＯＭから出力されたデジタル画像データを画
像領域４７（図４参照）から読込み、ステップ１０６で
は欠陥パターンデータに基づいて故意欠陥画素１５（図
１参照）または２３（図２参照）を補正する。即ち、上
記「欠陥パターンデータ」に対応する欠陥画素を、この
周辺画素データに基づいて補正処理する。

【００４５】そして、ステップ１０８では、補正処理さ
れたデジタル画像データを、図３に示すプリンタ５０に
転送する。プリンタ５０は、信号処理部３６で画像処理
されたデジタル画像データに基づく画像を、プリントア
ウトする。即ち、本実施形態においては、故意欠陥画素
１５，２３の配列パターンに対応する既知の欠陥パター
ンデータに基づき、予め形成した故意欠陥画素１５，２
３を適切に補正し、良好な画像データを得ることができ
る。

【００４６】なお、上述したように、本実施形態に係る
カメラ２８は使い捨てタイプであるので、プリントアウ
ト後に、業者がカメラ２８を回収する。また、本処理の
終了後は、カメラ２８のフラッシュＲＯＭに記録された
デジタル画像データを、全て消去し、その後の再利用を
図る。

【００４７】本実施形態においては、予め定めた配列パ
ターンに応じて形成した故意欠陥画素１５，２３を、欠
陥補正できるメモリなどの限界以上の個数としたので、
故意欠陥画素１５，２３の配列パターンに対応する欠陥
パターンデータが認識できない（読出すことができな
い）場合すなわち欠陥パターンデータを記憶している再
生装置３０以外ではデジタル画像データを正常に再生さ
せることができない。

【００４８】従って、本実施形態によれば、ＣＣＤイメ
ージセンサに欠陥補正ができる限界以上の個数の故意欠
陥画素１５，２３を、予め定めた配列パターンに応じて
形成したので、カメラ２８に配置されたＣＣＤイメージ
センサを他の撮像装置に利用（流用）することができな
い。なお、上述したように、本実施形態のＣＣＤイメー
ジセンサは、その流用を阻止し得るように構成したの
で、使い捨てタイプのデジタルカメラに適している。

【００４９】また、本実施形態では、ＣＣＤイメージセ
ンサ（ハード）自体に欠陥補正ができる限界以上の個数
の故意欠陥画素１５，２３を予め定めた配列パターンに
応じて形成することにより、撮像された画像データを正
常に再生できないようにしたので、画像データ自体を暗
号する場合と異なり、カメラ２８における処理などに負
荷が全く生じない。

【００５０】なお、上記各実施形態では撮像素子をＣＣ
Ｄイメージセンサとした例であるが、本発明に係る撮像
素子はＣＭＯＳイメージセンサなどとしても良い。ま
た、故意欠陥画素１５，２３の形成は、物理的手段であ
るアルミニウム等でマスクする他に、転送電極を部分的
に欠損させたり，所定位置に配置するべきフォトダイオ
ード（画素）を設けない（開口させる）ようにしても良
い。さらに、本発明に係る欠陥画素の形成は、上述した
遮光の他に、白傷などが形成できるように開光させても
良い。

【００５１】本発明では、欠陥パターンデータ（故意欠
陥画素１５，２３の座標データなど）を、暗号化させて
も良い。この場合には、画像データのセキュリティが確
保される。また、本実施形態ではカメラ２８をＩ／Ｆ３
２に接続した例であるが、本発明はこれに限定されるも
のではなく、例えばカメラに対して着脱可能なスマート
・メディアなどを再生装置３０に装着できるようにして
も良い。

【００５２】本実施形態ではプリンタ５０をＩ／Ｆ４４
に接続しプリントアウトする例であるが、上記「欠陥パ
ターンデータ」に基づいて補正処理されたデジタル画像
データをＣＤ−Ｒ，スマート・メディア，コンパクト・
フラッシュ，ＡＴＡカード，フロッピィディスク，ＣＤ
−ＲＷなどの記録媒体に記録させるようにしても良い。
また、本実施形態において説明したプログラムの処理の
流れ（図６参照）は一例であり、本発明の主旨を逸脱し
ない範囲内において適宜変更可能であることは言うまで
もない。

【００５３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
予め定めた配列パターンに応じて形成した欠陥画素を、
欠陥補正できるメモリなどの限界以上の個数としたの
で、上記欠陥画素の配列パターンに対応するパターンデ
ータが認識できない場合には上記撮像素子によって撮像
された画像データを正常に再生させることができない。
即ち、本発明によれば、撮像素子に欠陥補正ができる限
界以上の個数の欠陥画素を、予め定めた配列パターンに
応じて形成したので、撮像素子の流用を阻止できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態に係るＣＣＤイメージセンサ
の要部を示す平面図である。

【図２】図１に示すＣＣＤイメージセンサとは異なるタ
イプの要部を示す平面図である。

【図３】本実施形態に係る再生装置の構成を示すブロッ
ク図である。

【図４】図３に示すメモリのメモリマップを示す図であ
る。

【図５】図４に示すテーブル領域のメモリマップを示す
図である。

【図６】本実施形態に係る再生装置におけるデジタル画
像データの出力処理の流れを示すフローチャートであ
る。

【符号の説明】

１４、２２フォトダイオード（画素）１５、２３故意欠陥画素２８デジタルカメラ（撮像装置）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続きＦターム(参考） 4M118 AA07 AA10 AB01 BA10 BA14 CA02 CA20 FA01 FA06 FA50 GB09 GB11 GC08 GC15 5C024 CX21 GY01 5C077 LL02 MP08 PP10 PQ12 PQ17 PQ20 PQ25 TT09

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】欠陥補正ができる限界以上の個数の欠陥
画素を、予め定めた配列パターンに応じて形成した撮像
素子を備える撮像装置。
【請求項２】Ｇ画素を前記欠陥画素とする請求項１記
載の撮像装置。
【請求項３】欠陥補正ができる限界以上の個数の欠陥
画素を予め定めた配列パターンに応じて形成した撮像素
子によって撮像された画像データを読出すと共に、前記欠陥画素の配列パターンに対応するパターンデータ
を読出し、前記パターンデータに基づき、前記画像データを補正し
出力する画像データ出力方法。