JP2003227861A - コネクタ検査用プローブおよびコネクタ検査器 - Google Patents
コネクタ検査用プローブおよびコネクタ検査器Info
- Publication number
- JP2003227861A JP2003227861A JP2002024549A JP2002024549A JP2003227861A JP 2003227861 A JP2003227861 A JP 2003227861A JP 2002024549 A JP2002024549 A JP 2002024549A JP 2002024549 A JP2002024549 A JP 2002024549A JP 2003227861 A JP2003227861 A JP 2003227861A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- connector
- probe
- inspection
- terminal fitting
- probe pin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 端子金具およびプローブの損傷を防止するコ
ネクタ検査用プローブおよびコネクタ検査器を提供す
る。 【解決手段】 コネクタＣに装着された端子金具Ｔに接
触させて導通検査を行うためのプローブ１０であって、
端子金具Ｔに接触させるプローブピン１１の少なくとも
先端接触部を導電性ゴムから構成する。そして、この導
電性ゴムを有するプローブをコネクタ検査器２０の検査
部２３に並設固定し、コネクタ受け部２２に保持された
コネクタＣの端子金具Ｔと弾性接触させることで、コネ
クタＣの導通検査を行う。
ネクタ検査用プローブおよびコネクタ検査器を提供す
る。 【解決手段】 コネクタＣに装着された端子金具Ｔに接
触させて導通検査を行うためのプローブ１０であって、
端子金具Ｔに接触させるプローブピン１１の少なくとも
先端接触部を導電性ゴムから構成する。そして、この導
電性ゴムを有するプローブをコネクタ検査器２０の検査
部２３に並設固定し、コネクタ受け部２２に保持された
コネクタＣの端子金具Ｔと弾性接触させることで、コネ
クタＣの導通検査を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はコネクタ検査用プロ
ーブおよびコネクタ検査器に関し、詳しくは、検査すべ
きコネクタの端子金具の傷つき、変形等の防止を図るも
のである。
ーブおよびコネクタ検査器に関し、詳しくは、検査すべ
きコネクタの端子金具の傷つき、変形等の防止を図るも
のである。
【０００２】
【従来の技術】従来、ワイヤハーネスに取り付けられた
コネクタ間の導通検査に用いられるコネクタ検査器およ
び検査用プローブとしては、特開平８−８０２７号公報
に記載のものが知られている。このコネクタ検査器１
は、図６（Ａ）に示すように、ベース２上に、コネクタ
Ｃを位置決めして保持するコネクタ受け部３と、検査す
べきコネクタＣの端子金具Ｔの配列に対応して並設され
たプローブ４を有する検査部５とから構成されている。
そして、梃子機構を利用したレバー６によって検査部５
をコネクタ受け部３側へ移動操作することで、端子金具
Ｔとプローブ４とを接触させ、その間の導通状態を導通
検査機で検知することで端子金具Ｔの有無および配列状
態を検査するようにしている。
コネクタ間の導通検査に用いられるコネクタ検査器およ
び検査用プローブとしては、特開平８−８０２７号公報
に記載のものが知られている。このコネクタ検査器１
は、図６（Ａ）に示すように、ベース２上に、コネクタ
Ｃを位置決めして保持するコネクタ受け部３と、検査す
べきコネクタＣの端子金具Ｔの配列に対応して並設され
たプローブ４を有する検査部５とから構成されている。
そして、梃子機構を利用したレバー６によって検査部５
をコネクタ受け部３側へ移動操作することで、端子金具
Ｔとプローブ４とを接触させ、その間の導通状態を導通
検査機で検知することで端子金具Ｔの有無および配列状
態を検査するようにしている。
【０００３】上記検査部４に並設されたプローブ４は、
図６（Ｂ）に示すように、端子金具Ｔの先端に接触する
金属製のプローブピン４ａと、このプローブピン４ａの
基部を進退可能に内嵌する金属製の細筒状のスリーブ４
ｂとから構成されている。そして、プローブピン４ａは
端子金具Ｔに対し弾性的に接触可能とするため、スリー
ブ４ｂに内装したスプリング４ｃにより突出方向に付勢
されている。
図６（Ｂ）に示すように、端子金具Ｔの先端に接触する
金属製のプローブピン４ａと、このプローブピン４ａの
基部を進退可能に内嵌する金属製の細筒状のスリーブ４
ｂとから構成されている。そして、プローブピン４ａは
端子金具Ｔに対し弾性的に接触可能とするため、スリー
ブ４ｂに内装したスプリング４ｃにより突出方向に付勢
されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記のように従来のプ
ローブ４は、スプリング４ｃの作用により検査時におい
て、端子金具Ｔに対しプローブピン４ａが弾性的に接触
することで、端子金具Ｔおよびプローブピン４ａの損傷
を防止するようにしている。しかしながら、プローブピ
ン４ａが僅かでも変形した場合、プローブピン４ａの進
退が円滑に行われなくなる場合がある。この場合、端子
金具Ｔとの接触時にプローブピン４ａの弾性的な後退が
円滑に行われないと端子金具Ｔを傷を付けてしまう可能
性がある。同様に、プローブピン４ａ自体もこれに対応
して、更に折れ曲がったり、ピッチがずれて接触不良を
起こすという問題がある。このような問題は、端子金具
Ｔおよびプローブ４が細くなるほど顕著である。
ローブ４は、スプリング４ｃの作用により検査時におい
て、端子金具Ｔに対しプローブピン４ａが弾性的に接触
することで、端子金具Ｔおよびプローブピン４ａの損傷
を防止するようにしている。しかしながら、プローブピ
ン４ａが僅かでも変形した場合、プローブピン４ａの進
退が円滑に行われなくなる場合がある。この場合、端子
金具Ｔとの接触時にプローブピン４ａの弾性的な後退が
円滑に行われないと端子金具Ｔを傷を付けてしまう可能
性がある。同様に、プローブピン４ａ自体もこれに対応
して、更に折れ曲がったり、ピッチがずれて接触不良を
起こすという問題がある。このような問題は、端子金具
Ｔおよびプローブ４が細くなるほど顕著である。
【０００５】本発明は上記問題に鑑みてなされたもの
で、端子金具およびプローブの損傷を防止するコネクタ
検査用プローブおよびコネクタ検査器を提供するもので
ある。
で、端子金具およびプローブの損傷を防止するコネクタ
検査用プローブおよびコネクタ検査器を提供するもので
ある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明では、コネクタに装着された端子金具に接触
させて導通検査を行うためのプローブであって、上記端
子金具に接触させるプローブピンの少なくとも先端接触
部を導電性ゴムから構成したことを特徴とするコネクタ
検査用プローブを提供している。
め、本発明では、コネクタに装着された端子金具に接触
させて導通検査を行うためのプローブであって、上記端
子金具に接触させるプローブピンの少なくとも先端接触
部を導電性ゴムから構成したことを特徴とするコネクタ
検査用プローブを提供している。
【０００７】上記構成によれば、検査すべき端子金具と
接触するプローブピンの先端接触部が導電性ゴムから構
成されているため、導通検査時における端子金具との接
触によって端子金具が傷付けられるのを防止できる。
接触するプローブピンの先端接触部が導電性ゴムから構
成されているため、導通検査時における端子金具との接
触によって端子金具が傷付けられるのを防止できる。
【０００８】より具体的には、上記プローブは上記プロ
ーブピンと、このプローブピンの基部を収容する金属製
のスリーブとからなり、上記プローブピンは全体を導電
性ゴムから構成している。このように構成すれば、プロ
ーブピン全体が弾性部材からなっているため、端子金具
との無理な接触やプローブピンへの異物の接触によって
もプローブピン自体が折損するようなことがなく、その
耐久性を向上することができる。また、プローブピン自
体の弾性により、端子金具との接触時の押圧力を吸収す
ることができるため、従来のプローブのようにプローブ
ピンを弾性的に付勢するためのスプリングをスリーブに
内装する必要がなく、その構造を簡素化することができ
る。
ーブピンと、このプローブピンの基部を収容する金属製
のスリーブとからなり、上記プローブピンは全体を導電
性ゴムから構成している。このように構成すれば、プロ
ーブピン全体が弾性部材からなっているため、端子金具
との無理な接触やプローブピンへの異物の接触によって
もプローブピン自体が折損するようなことがなく、その
耐久性を向上することができる。また、プローブピン自
体の弾性により、端子金具との接触時の押圧力を吸収す
ることができるため、従来のプローブのようにプローブ
ピンを弾性的に付勢するためのスプリングをスリーブに
内装する必要がなく、その構造を簡素化することができ
る。
【０００９】また、上記プローブは全体を導電性ゴムか
ら構成したプローブピンのみから構成するようにしても
よい。このようにすれば、更にプローブの構造を簡素化
することができる。
ら構成したプローブピンのみから構成するようにしても
よい。このようにすれば、更にプローブの構造を簡素化
することができる。
【００１０】また、本発明は、上記コネクタ検査用プロ
ーブを備えたコネクタ検査器であって、上記コネクタを
保持可能なコネクタ受け部と、このコネクタ受け部に対
向して設けられると共に、検査すべきコネクタの端子金
具の配列に対応して上記プローブピンを突出させたプロ
ーブを並設した検査部と、上記コネクタ受け部と検査部
とを進退変位させて上記プローブピンを上記コネクタ受
け部に保持されるコネクタの端子金具に接離させる移動
手段とを備えたことを特徴とするコネクタ検査器を提供
している。導電性ゴムを用いたプローブを備えることに
より、コネクタ受け部に保持されたコネクタの端子金具
に対し、検査部に並設したプローブを一括して接触させ
るとき、その接触押圧によって各端子金具に対し損傷を
与えることがない。また、プローブ自体も無理な接触押
圧によって変形するおそれがないため、コネクタ検査器
の耐久性を大幅に向上することができる。
ーブを備えたコネクタ検査器であって、上記コネクタを
保持可能なコネクタ受け部と、このコネクタ受け部に対
向して設けられると共に、検査すべきコネクタの端子金
具の配列に対応して上記プローブピンを突出させたプロ
ーブを並設した検査部と、上記コネクタ受け部と検査部
とを進退変位させて上記プローブピンを上記コネクタ受
け部に保持されるコネクタの端子金具に接離させる移動
手段とを備えたことを特徴とするコネクタ検査器を提供
している。導電性ゴムを用いたプローブを備えることに
より、コネクタ受け部に保持されたコネクタの端子金具
に対し、検査部に並設したプローブを一括して接触させ
るとき、その接触押圧によって各端子金具に対し損傷を
与えることがない。また、プローブ自体も無理な接触押
圧によって変形するおそれがないため、コネクタ検査器
の耐久性を大幅に向上することができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】本発明の実施形態を図面を参照し
て説明する。図１は本発明の第１実施形態のコネクタ検
査用プローブ１０を示し、このプローブ１０は、検査す
べきコネクタＣの端子金具Ｔの接触ポイントに対応する
太さを有する細長いプローブピン１１と、このプローブ
ピン１１の基部を内嵌して固定する金属製の筒状のスリ
ーブ１２とから構成している。
て説明する。図１は本発明の第１実施形態のコネクタ検
査用プローブ１０を示し、このプローブ１０は、検査す
べきコネクタＣの端子金具Ｔの接触ポイントに対応する
太さを有する細長いプローブピン１１と、このプローブ
ピン１１の基部を内嵌して固定する金属製の筒状のスリ
ーブ１２とから構成している。
【００１２】プローブピン１１は全体が導電性ゴムの成
形体からなっている。導電性ゴムとしては、具体的に
は、エピクロルヒドリンゴム、アクリロニトリルブタジ
エンゴム、ウレタンゴム、クロロプレンゴム等のイオン
導電性ゴム、またはカーボンブラックや金属酸化物の粉
末等の導電性充填材を充填することによりゴムに導電性
を付与したものとしている。なお、プローブピン１１と
して適する導電性ゴムの硬度としては、ＪＩＳ６２５３
Ａ型硬度計で４０〜８０、好ましくは５０〜７０であ
る。
形体からなっている。導電性ゴムとしては、具体的に
は、エピクロルヒドリンゴム、アクリロニトリルブタジ
エンゴム、ウレタンゴム、クロロプレンゴム等のイオン
導電性ゴム、またはカーボンブラックや金属酸化物の粉
末等の導電性充填材を充填することによりゴムに導電性
を付与したものとしている。なお、プローブピン１１と
して適する導電性ゴムの硬度としては、ＪＩＳ６２５３
Ａ型硬度計で４０〜８０、好ましくは５０〜７０であ
る。
【００１３】スリーブ１２に内嵌されるプローブピン１
１は、基端部１１ａがスリーブ１２と共にカシメ部１２
ａにて固着され、その基端部１１ａからスリーブ１２の
先端に至る領域では、スリーブ１２の内周１２ｂにガイ
ドされた状態で摺動可能としている。そして、スリーブ
１２から突出するプローブピン１１の先端部は、端子金
具Ｔに接触したとき腰折れしない程度の長さが外方へ突
出している。これにより、プローブピン１１は端子金具
Ｔの先端に接触したとき、その押圧により導電性ゴムの
弾性によりスリーブ１２内へ向かって弾性的に収縮する
ことで、その押圧力を吸収可能とされている。また、ス
リーブ１２の基端部には、導通検査機（図示せず）に接
続された電線Ｗの端末を金具１３を介して接続可能とし
ている。
１は、基端部１１ａがスリーブ１２と共にカシメ部１２
ａにて固着され、その基端部１１ａからスリーブ１２の
先端に至る領域では、スリーブ１２の内周１２ｂにガイ
ドされた状態で摺動可能としている。そして、スリーブ
１２から突出するプローブピン１１の先端部は、端子金
具Ｔに接触したとき腰折れしない程度の長さが外方へ突
出している。これにより、プローブピン１１は端子金具
Ｔの先端に接触したとき、その押圧により導電性ゴムの
弾性によりスリーブ１２内へ向かって弾性的に収縮する
ことで、その押圧力を吸収可能とされている。また、ス
リーブ１２の基端部には、導通検査機（図示せず）に接
続された電線Ｗの端末を金具１３を介して接続可能とし
ている。
【００１４】次に、図２、図３は上記構造のプローブ１
０を用いたコネクタ検査器２０を示している。コネクタ
検査器２０は、ベース２１と、このベース２１上の図中
右側に配置されたコネクタ受け部２２と、これに対向し
ベース２１の左側に配置されると共に、コネクタ受け部
２２に向かって進退可能な検査部２３と、この検査部２
３を進退移動させる移動手段２４とから構成している。
コネクタ受け部２２は、コネクタＣを位置決め保持する
ものであり、前後両方向および上方に開放したＵ字形断
面をなす受け部本体２２ａと、その後端面に固着したＵ
字形のストッパプレート２２ｂとから構成している。そ
して、コネクタＣは受け部本体２２ａ内に上方から挿入
され、ストッパプレート２２ｂにより後方への移動が阻
止された状態で保持される。
０を用いたコネクタ検査器２０を示している。コネクタ
検査器２０は、ベース２１と、このベース２１上の図中
右側に配置されたコネクタ受け部２２と、これに対向し
ベース２１の左側に配置されると共に、コネクタ受け部
２２に向かって進退可能な検査部２３と、この検査部２
３を進退移動させる移動手段２４とから構成している。
コネクタ受け部２２は、コネクタＣを位置決め保持する
ものであり、前後両方向および上方に開放したＵ字形断
面をなす受け部本体２２ａと、その後端面に固着したＵ
字形のストッパプレート２２ｂとから構成している。そ
して、コネクタＣは受け部本体２２ａ内に上方から挿入
され、ストッパプレート２２ｂにより後方への移動が阻
止された状態で保持される。
【００１５】検査部２３はベース２１の上面に設けたレ
ール２１ａに沿ってコネクタ受け部２２に対し、進退す
る方向にスライド可能に支持されており、全体として直
方体状をなして、コネクタ受け部２２の対向面にコネク
タＣの先端部を嵌入可能な矩形の凹部２３ａを備えてい
る。検査部２３とコネクタ受け部２２との間には、ガイ
ドシャフト２５が設けられ、このガイドシャフト２５に
は検査部２３をコネクタ受け部２２から離間する方向に
付勢する圧縮コイルスプリング２６が外装されている。
また、検査部２３には、検査すべきコネクタＣの端子金
具Ｔの配列に対応して上記構成からなるプローブ１０を
並設している。プローブ１０は、スリーブ１２を検査部
２３に埋め込んで固定すると共に、プローブピン１１を
凹部２３ａ内でコネクタ受け部２２に向けて突出させて
いる。
ール２１ａに沿ってコネクタ受け部２２に対し、進退す
る方向にスライド可能に支持されており、全体として直
方体状をなして、コネクタ受け部２２の対向面にコネク
タＣの先端部を嵌入可能な矩形の凹部２３ａを備えてい
る。検査部２３とコネクタ受け部２２との間には、ガイ
ドシャフト２５が設けられ、このガイドシャフト２５に
は検査部２３をコネクタ受け部２２から離間する方向に
付勢する圧縮コイルスプリング２６が外装されている。
また、検査部２３には、検査すべきコネクタＣの端子金
具Ｔの配列に対応して上記構成からなるプローブ１０を
並設している。プローブ１０は、スリーブ１２を検査部
２３に埋め込んで固定すると共に、プローブピン１１を
凹部２３ａ内でコネクタ受け部２２に向けて突出させて
いる。
【００１６】検査部２３を進退移動させる移動手段２４
は、ベース２１に支軸２４ａにて回動操作可能に取り付
けたレバー２４ｂと、このレバー２４ｂの下部に膨出形
成したカム部２４ｃからなっている。そして、レバー２
４ｂを検査部２３側へ回動操作することで、梃子作用に
よりカム部２４ｃが検査部２３の背面をコネクタ受け部
２２方向に押圧し、この押圧作用によって検査部２３を
コネクタ受け部２２側へ移動させることができる。
は、ベース２１に支軸２４ａにて回動操作可能に取り付
けたレバー２４ｂと、このレバー２４ｂの下部に膨出形
成したカム部２４ｃからなっている。そして、レバー２
４ｂを検査部２３側へ回動操作することで、梃子作用に
よりカム部２４ｃが検査部２３の背面をコネクタ受け部
２２方向に押圧し、この押圧作用によって検査部２３を
コネクタ受け部２２側へ移動させることができる。
【００１７】次に、コネクタ検査器２０の作用について
説明する。ワイヤハーネスとして組み立てられ、その端
末に取り付けられたコネクタＣを検査する場合、まず、
そのコネクタＣをコネクタ受け部２２に上方からセット
して位置決め保持させる。すると、コネクタＣは図３
（Ａ）に示すように、検査部２３に対して真っ直ぐに向
かい合う。そこで、図３（Ｂ）に示すように、レバー２
４ｂを同図矢印方向に回動させると、検査部２３が圧縮
コイルスプリング２６を圧縮しながら移動して凹部２３
ａ内にコネクタＣの先端部が進入して嵌合する。この結
果、凹部２３ａ内に突出しているプローブピン１１の先
端がコネクタＣの各端子金具Ｔの先端に弾性接触して電
気的導通が得られ、それに基づきコネクタＣの検査が行
われる。なお、プローブピン１１が端子金具Ｔに接触す
る際、プローブピン１１は導電性ゴムからなっているた
め、その弾性によりスリーブ１２側に圧縮され、これに
より端子金具Ｔとの接触押圧が吸収される。その際、プ
ローブピン１１は端子金具Ｔより柔らかい材料からなる
ため、端子金具Ｔへの傷つきを防止できると共に、プロ
ーブピン１１自体の折損のおそれもない。よって、安定
した導通検査を行うことができると共に、コネクタ検査
器２０の耐久性を向上することができる。
説明する。ワイヤハーネスとして組み立てられ、その端
末に取り付けられたコネクタＣを検査する場合、まず、
そのコネクタＣをコネクタ受け部２２に上方からセット
して位置決め保持させる。すると、コネクタＣは図３
（Ａ）に示すように、検査部２３に対して真っ直ぐに向
かい合う。そこで、図３（Ｂ）に示すように、レバー２
４ｂを同図矢印方向に回動させると、検査部２３が圧縮
コイルスプリング２６を圧縮しながら移動して凹部２３
ａ内にコネクタＣの先端部が進入して嵌合する。この結
果、凹部２３ａ内に突出しているプローブピン１１の先
端がコネクタＣの各端子金具Ｔの先端に弾性接触して電
気的導通が得られ、それに基づきコネクタＣの検査が行
われる。なお、プローブピン１１が端子金具Ｔに接触す
る際、プローブピン１１は導電性ゴムからなっているた
め、その弾性によりスリーブ１２側に圧縮され、これに
より端子金具Ｔとの接触押圧が吸収される。その際、プ
ローブピン１１は端子金具Ｔより柔らかい材料からなる
ため、端子金具Ｔへの傷つきを防止できると共に、プロ
ーブピン１１自体の折損のおそれもない。よって、安定
した導通検査を行うことができると共に、コネクタ検査
器２０の耐久性を向上することができる。
【００１８】また、導通検査後にレバー２４ｂを戻す
と、検査部２３が圧縮コイルスプリング２６の弾発力に
よってコネクタＣから離れる方向に押し戻され、各プロ
ーブピン１１が端子金具Ｔの先端から離れる。すると、
導電性ゴムの弾性により、プローブピン１１は、直ちに
元の状態に戻り、次のコネクタＣの検査に備えることが
できる。
と、検査部２３が圧縮コイルスプリング２６の弾発力に
よってコネクタＣから離れる方向に押し戻され、各プロ
ーブピン１１が端子金具Ｔの先端から離れる。すると、
導電性ゴムの弾性により、プローブピン１１は、直ちに
元の状態に戻り、次のコネクタＣの検査に備えることが
できる。
【００１９】図４はプローブ３０の第２実施形態を示
し、このプローブ３０は、金属製のプローブピン３１と
スリーブ３２とからなり、プローブピン３１の先端接触
部３１ａのみに導電性ゴムを貼り付けて構成したもので
ある。スリーブ３２内には、従来のプローブと同様にプ
ローブピン３１を突出方向に付勢するスプリング３２ａ
を備えている。この第２実施形態のプローブ３０も第１
実施形態と同様に、使用に際しては、コネクタ検査器２
０の検査部２３に並設固定される。このように、第２実
施形態のプローブ３０は、プローブピン３１の先端接触
部３１ａを導電性ゴムとしているので、コネクタＣの検
査に際して端子金具Ｔと接触したとき、その材質特性よ
り端子金具Ｔへの傷つきを効果的に防止できる。
し、このプローブ３０は、金属製のプローブピン３１と
スリーブ３２とからなり、プローブピン３１の先端接触
部３１ａのみに導電性ゴムを貼り付けて構成したもので
ある。スリーブ３２内には、従来のプローブと同様にプ
ローブピン３１を突出方向に付勢するスプリング３２ａ
を備えている。この第２実施形態のプローブ３０も第１
実施形態と同様に、使用に際しては、コネクタ検査器２
０の検査部２３に並設固定される。このように、第２実
施形態のプローブ３０は、プローブピン３１の先端接触
部３１ａを導電性ゴムとしているので、コネクタＣの検
査に際して端子金具Ｔと接触したとき、その材質特性よ
り端子金具Ｔへの傷つきを効果的に防止できる。
【００２０】図５はプローブ４０の第３実施形態を示
し、本実施形態では全体を導電性ゴムからなるプローブ
ピン４１のみから構成している。この第３実施形態のプ
ローブ４０も第１実施形態と同様に、使用に際しては、
コネクタ検査器２０の検査部２３に並設固定される。好
ましくは、プローブピン４１の基端部側を固定し、プロ
ーブピン４１全体が検査部２３内において基端部側に弾
性的に収縮して摺動できるようにするとよい。本実施形
態によれば、プローブ４１の構造をより一層簡素化でき
ると共に、プローブピン４１全体が導電性ゴムからなる
ため、プローブピン４１の折損のおそれもなく、その耐
久性を向上できる。
し、本実施形態では全体を導電性ゴムからなるプローブ
ピン４１のみから構成している。この第３実施形態のプ
ローブ４０も第１実施形態と同様に、使用に際しては、
コネクタ検査器２０の検査部２３に並設固定される。好
ましくは、プローブピン４１の基端部側を固定し、プロ
ーブピン４１全体が検査部２３内において基端部側に弾
性的に収縮して摺動できるようにするとよい。本実施形
態によれば、プローブ４１の構造をより一層簡素化でき
ると共に、プローブピン４１全体が導電性ゴムからなる
ため、プローブピン４１の折損のおそれもなく、その耐
久性を向上できる。
【００２１】なお、上記実施形態では、コネクタ検査器
２０により検査されるコネクタＣとして雄の端子金具Ｔ
を備えたものを示したが、雌の端子金具Ｔを備えたコネ
クタＣにも同様に適用可能である。また、プローブピン
１０、３０、４０の先端接触面の形状、大きさは、接触
すべき端子金具Ｔの接触ポイントの形状に応じて適宜設
定可能である。例えば、先端接触面の中心に凹部を形成
して端子金具Ｔを受け入れて位置ずれしないようにした
り、段差状にして端子金具Ｔと広い面で接触させたりす
ることもできる。
２０により検査されるコネクタＣとして雄の端子金具Ｔ
を備えたものを示したが、雌の端子金具Ｔを備えたコネ
クタＣにも同様に適用可能である。また、プローブピン
１０、３０、４０の先端接触面の形状、大きさは、接触
すべき端子金具Ｔの接触ポイントの形状に応じて適宜設
定可能である。例えば、先端接触面の中心に凹部を形成
して端子金具Ｔを受け入れて位置ずれしないようにした
り、段差状にして端子金具Ｔと広い面で接触させたりす
ることもできる。
【００２２】
【発明の効果】以上の説明より明らかなように、本発明
によれば、コネクタの端子金具に接触させることによっ
て導通検査を行うプローブの少なくとも先端接触部に導
電性ゴムを用いたので、検査に際して端子金具にプロー
ブの接触押圧が作用しても端子金具を傷付けたり変形さ
せたりするのを確実に防止できる。また、プローブピン
自体が導電性ゴムから構成されているものでは、プロー
ブピンの折損のおそれもなく、プローブの耐久性を向上
できると共に、プローブピンを突出方向に弾性付与する
スプリングを要しないので、プローブの構造を簡素化す
ることができる。
によれば、コネクタの端子金具に接触させることによっ
て導通検査を行うプローブの少なくとも先端接触部に導
電性ゴムを用いたので、検査に際して端子金具にプロー
ブの接触押圧が作用しても端子金具を傷付けたり変形さ
せたりするのを確実に防止できる。また、プローブピン
自体が導電性ゴムから構成されているものでは、プロー
ブピンの折損のおそれもなく、プローブの耐久性を向上
できると共に、プローブピンを突出方向に弾性付与する
スプリングを要しないので、プローブの構造を簡素化す
ることができる。
【図１】 本発明に係るコネクタ検査用プローブの第１
実施形態の断面図である。
実施形態の断面図である。
【図２】 第１実施形態のコネクタ検査用プローブを備
えたコネクタ検査器の斜視図である。
えたコネクタ検査器の斜視図である。
【図３】 （Ａ）（Ｂ）コネクタ検査器による検査工程
を示す断面図である。
を示す断面図である。
【図４】 コネクタ検査用プローブの第２実施形態の断
面図である。
面図である。
【図５】 コネクタ検査用プローブの第３実施形態の断
面図である。
面図である。
【図６】 （Ａ）（Ｂ）は従来例を示す図である。
１０、３０、４０ プローブ
１１、３１、４１ プローブピン
１１ａ 基端部
１２、３２ スリーブ
２０ コネクタ検査器
２２ コネクタ受け部
２３ 検査部
２４ 移動手段
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考）
Ｈ０１Ｒ 43/00 Ｈ０１Ｒ 43/00 Ｚ
Claims (4)
- 【請求項１】 コネクタに装着された端子金具に接触さ
せて導通検査を行うためのプローブであって、 上記端子金具に接触させるプローブピンの少なくとも先
端接触部を導電性ゴムから構成したことを特徴とするコ
ネクタ検査用プローブ。 - 【請求項２】 上記プローブは上記プローブピンと、こ
のプローブピンの基部を収容する金属製のスリーブとか
らなり、上記プローブピンは全体を導電性ゴムから構成
している請求項１に記載のコネクタ検査用プローブ。 - 【請求項３】 上記プローブは全体を導電性ゴムから構
成したプローブピンのみから構成している請求項１に記
載のコネクタ検査用プローブ。 - 【請求項４】 上記請求項１乃至請求項３のいずれか１
項に記載のコネクタ検査用プローブを備えたコネクタ検
査器であって、 上記コネクタを保持可能なコネクタ受け部と、このコネ
クタ受け部に対向して設けられると共に、検査すべきコ
ネクタの端子金具の配列に対応して上記プローブピンを
突出させたプローブを並設した検査部と、上記コネクタ
受け部と検査部とを進退変位させて上記プローブピンを
上記コネクタ受け部に保持されるコネクタの端子金具に
接離させる移動手段とを備えたことを特徴とするコネク
タ検査器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002024549A JP2003227861A (ja) | 2002-01-31 | 2002-01-31 | コネクタ検査用プローブおよびコネクタ検査器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002024549A JP2003227861A (ja) | 2002-01-31 | 2002-01-31 | コネクタ検査用プローブおよびコネクタ検査器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003227861A true JP2003227861A (ja) | 2003-08-15 |
Family
ID=27746964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002024549A Withdrawn JP2003227861A (ja) | 2002-01-31 | 2002-01-31 | コネクタ検査用プローブおよびコネクタ検査器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003227861A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007003319A (ja) * | 2005-06-23 | 2007-01-11 | Seiko Instruments Inc | 水晶振動子の特性測定装置および特性測定方法 |
| JP2008151581A (ja) * | 2006-12-15 | 2008-07-03 | Ngk Insulators Ltd | 静電チャックの誘電体層の体積抵抗率測定装置及びその装置を用いた測定方法 |
| KR200448254Y1 (ko) * | 2007-12-21 | 2010-03-29 | 주식회사 아이에스시테크놀러지 | 포고핀 |
| KR100977491B1 (ko) | 2008-03-17 | 2010-08-23 | 리노공업주식회사 | 반도체 칩 검사용 탐침 장치 |
| KR100999574B1 (ko) * | 2007-12-06 | 2010-12-08 | 주식회사 오킨스전자 | 비지에이 패키지 테스트 소켓용 프로브 접촉자 및 이를포함하는 비지에이 패키지 테스트 소켓 |
| JP2017003317A (ja) * | 2015-06-05 | 2017-01-05 | 矢崎総業株式会社 | 導通検査治具、導通検査装置、電線の導通検査方法及びワイヤハーネスの導通検査方法 |
| JP2017004651A (ja) * | 2015-06-05 | 2017-01-05 | 矢崎総業株式会社 | 導通検査装置、電線の導通検査方法、及びワイヤハーネスの導通検査方法 |
| KR20180055308A (ko) * | 2016-11-16 | 2018-05-25 | 명보 주식회사 | 핀 터미널 삽입고정 테스트지그 |
-
2002
- 2002-01-31 JP JP2002024549A patent/JP2003227861A/ja not_active Withdrawn
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007003319A (ja) * | 2005-06-23 | 2007-01-11 | Seiko Instruments Inc | 水晶振動子の特性測定装置および特性測定方法 |
| JP2008151581A (ja) * | 2006-12-15 | 2008-07-03 | Ngk Insulators Ltd | 静電チャックの誘電体層の体積抵抗率測定装置及びその装置を用いた測定方法 |
| KR100999574B1 (ko) * | 2007-12-06 | 2010-12-08 | 주식회사 오킨스전자 | 비지에이 패키지 테스트 소켓용 프로브 접촉자 및 이를포함하는 비지에이 패키지 테스트 소켓 |
| KR200448254Y1 (ko) * | 2007-12-21 | 2010-03-29 | 주식회사 아이에스시테크놀러지 | 포고핀 |
| KR100977491B1 (ko) | 2008-03-17 | 2010-08-23 | 리노공업주식회사 | 반도체 칩 검사용 탐침 장치 |
| JP2017003317A (ja) * | 2015-06-05 | 2017-01-05 | 矢崎総業株式会社 | 導通検査治具、導通検査装置、電線の導通検査方法及びワイヤハーネスの導通検査方法 |
| JP2017004651A (ja) * | 2015-06-05 | 2017-01-05 | 矢崎総業株式会社 | 導通検査装置、電線の導通検査方法、及びワイヤハーネスの導通検査方法 |
| KR20180055308A (ko) * | 2016-11-16 | 2018-05-25 | 명보 주식회사 | 핀 터미널 삽입고정 테스트지그 |
| KR101866410B1 (ko) | 2016-11-16 | 2018-06-11 | 명보 주식회사 | 핀 터미널 삽입고정 테스트지그 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH07114963A (ja) | コネクタ検査装置 | |
| TWI397688B (zh) | 測試用插座 | |
| CN109387763B (zh) | 测试装置 | |
| US5627473A (en) | Connector inspection device | |
| JPH11295376A (ja) | コネクタ検査具 | |
| JP2002025720A (ja) | 基板用コネクタ | |
| JP2012174431A (ja) | ジョイントコネクタ及び端子半挿入検査方法 | |
| KR101944693B1 (ko) | 반도체 소자 테스트용 bga 소켓장치 | |
| JP2003227861A (ja) | コネクタ検査用プローブおよびコネクタ検査器 | |
| KR102208381B1 (ko) | 검사프로브 및 그의 제조방법, 그리고 그를 지지하는 검사소켓 | |
| JPH07302669A (ja) | コネクタの端子検出具 | |
| KR101926672B1 (ko) | 클립 스프링 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓 | |
| JP2001159654A (ja) | コネクタ導通検査具 | |
| JPH08334542A (ja) | コネクタ検査具およびコネクタ | |
| CN102326304B (zh) | 同轴连接器 | |
| JPH07254449A (ja) | コネクタ及びコネクタ検査装置 | |
| JP3038109B2 (ja) | 嵌合フード部を有するコネクタの端子検出具 | |
| JP2002124357A (ja) | 検査ユニットおよびそれを用いたコネクタ検査装置 | |
| JP2874493B2 (ja) | コネクタ検査装置 | |
| JP2007128727A (ja) | 接続装置 | |
| JP3939469B2 (ja) | 電気コネクタ | |
| JPH07130441A (ja) | コネクタ検査装置 | |
| JP2000058213A (ja) | Ｉｃモジュール用ソケット | |
| JP2002040084A (ja) | コネクタの検査器 | |
| JP2797965B2 (ja) | コネクタ検査方法及びコネクタ検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050405 |