JP2003218027A - 結晶成長方法及びレーザアニール装置 - Google Patents

結晶成長方法及びレーザアニール装置

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JP2003218027A
JP2003218027A JP2002010478A JP2002010478A JP2003218027A JP 2003218027 A JP2003218027 A JP 2003218027A JP 2002010478 A JP2002010478 A JP 2002010478A JP 2002010478 A JP2002010478 A JP 2002010478A JP 2003218027 A JP2003218027 A JP 2003218027A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 一つのレーザ光源を用いて、種結晶の形成と
成長とを行うことが可能な結晶成長方法を提供する。 【解決手段】 Qスイッチレーザ発振器のQスイッチを
オン状態からオフ状態に変化させた時に出力されるパル
スレーザビームを、アモルファス状態の対象部材に入射
させ、照射された部分を結晶化させて種結晶を形成す
る。Qスイッチレーザ発振器のQスイッチをオフ状態に
した状態で出力される連続波レーザビームを、対象部材
の、種結晶の形成された位置に入射させ、連続波レーザ
ビームの入射位置を、種結晶から遠ざかる方向に移動さ
せることにより種結晶を成長させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、結晶成長方法及び
レーザアニール装置に関し、特にアモルファス状態の対
象部材にレーザビームを照射して結晶化させる結晶成長
方法及びそれに用いられるレーザアニール装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】ガラス基板上に形成されたアモルファス
シリコン膜に、XeCl等のエキシマレーザを照射し
て、多結晶化させる技術が知られている。エキシマレー
ザを用いることにより、高ピークパワーかつ大出力のパ
ルスレーザビームを得ることができる。この高ピークパ
ワーのパルスレーザビームをアモルファスシリコン膜上
に集光させることにより、集光位置のアモルファスシリ
コン膜が溶融し、固化することにより、種結晶が形成さ
れる。集光位置を移動させることによって、種結晶を成
長させることができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】エキシマレーザ発振器
から出力されるレーザビームはパルス状であるため、得
られる種結晶の大きさが高々1μm程度である。このた
め、エキシマレーザ照射によって多結晶化されたシリコ
ンの電子移動度は、単結晶シリコンの電子移動度よりも
小さい。
【0004】また、レーザ媒質としてガスを用いるエキ
シマレーザは、固体レーザに比べて出力が不安定であ
る。パルスエネルギのばらつきの標準偏差が約1%程度
であり、均一度の高い多結晶シリコン膜を作製すること
が困難である。
【0005】一方、アモルファスシリコン膜中に種結晶
を形成しておき、連続波レーザビーム(CWレーザビー
ム)を照射しながらレーザビームの入射位置を移動させ
ることにより、種結晶を成長させることもできる。この
方法により、結晶粒径が10μm程度の多結晶シリコン
膜を作製することができるとの報告がある。この方法で
は、アモルファスシリコン膜に、予め種結晶を形成して
おく必要がある。
【0006】本発明の目的は、一つのレーザ光源を用い
て、種結晶の形成と成長とを行うことが可能な結晶成長
方法を提供することである。
【0007】本発明の他の目的は、上記結晶成長方法に
適用することが可能なレーザアニール装置を提供するこ
とである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の一観点による
と、(a)Qスイッチレーザ発振器のQスイッチをオン
状態からオフ状態に変化させた時に出力されるパルスレ
ーザビームを、アモルファス状態の対象部材に入射さ
せ、照射された部分を結晶化させて種結晶を形成する工
程と、(b)前記Qスイッチレーザ発振器のQスイッチ
をオフ状態にした状態で出力される連続波レーザビーム
を、前記対象部材の、前記種結晶の形成された位置に入
射させ、該連続波レーザビームの入射位置を、前記種結
晶から遠ざかる方向に移動させることにより前記種結晶
を成長させる工程とを有する結晶成長方法が提供され
る。
【0009】Qスイッチレーザ発振器から出力されるパ
ルスレーザビームは、高いピークパワーを有するため、
アモルファス材料を溶融させ、大きな種結晶を形成する
ことができる。連続波レーザビームのパワーは、パルス
レーザビームのピークパワーに比べて小さいが、すでに
種結晶が形成されているため、種結晶を成長させること
ができる。
【0010】本発明の他の観点によると、Qスイッチを
オン状態からオフ状態に切り換えたときにパルスレーザ
ビームを出力し、該Qスイッチをオン状態に維持してお
くと、該パルスレーザビームのピークパワーよりも低い
パワーの連続波レーザビームを出力するQスイッチレー
ザ発振器と、対象部材を保持するステージと、前記Qス
イッチレーザ発振器から出力されたレーザビームの断面
形状が、前記ステージに保持された対象部材の表面にお
いて線状になるように整形する整形光学系と、前記Qス
イッチレーザ発振器から出力されたレーザビームを、前
記ステージに保持された対象部材の表面上に、スポット
状に集光させる集光光学系と、前記Qスイッチレーザ発
振器からパルスレーザビームが出力されるときに、該パ
ルスレーザビームを、前記集光光学系を経由して対象部
材上に入射させ、前記Qスイッチレーザ発振器から連続
波レーザビームが出力されるときに、該連続波レーザビ
ームを、前記整形光学系を経由して対象部材上に入射さ
せる切換手段と、前記整形光学系及び前記集光光学系を
経由したレーザビームの、前記テーブルに保持された対
象部材の表面への入射位置を移動させる移動機構とを有
するレーザアニール装置が提供される。
【0011】高いピークパワーを有するパルスレーザビ
ームを、アモルファス材料の表面に集光させることによ
り、アモルファス材料を溶融させ、結晶化させることが
できる。低いパワーの連続波レーザビームを用いて、種
結晶を成長させることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】図1に、本発明の実施例によるレ
ーザアニール装置の概略図を示す。Qスイッチレーザ発
振器12が、レーザビームを出射する。Qスイッチレー
ザ発振器12は、全反射ミラー12a、部分透過ミラー
12b、レーザ媒質12c、Qスイッチ12d、波長変
換素子12e、及び励起光源12fを含んで構成され
る。
【0013】全反射ミラー12aと部分透過ミラー12
bとが、光共振器を構成している。レーザ媒質12c、
Qスイッチ12d、及び波長変換素子12eは、光共振
器内の光路上に配置されている。レーザ媒質12cとし
て、例えばNd:YAG、Nd:YLF、またはNd:
YVO4等が用いられる。波長変換素子12eは、レー
ザ媒質12cからの誘導放出光の波長を変換し、その2
倍高調波を生成する。
【0014】Qスイッチ12dがオン状態のとき、光共
振器の品質因子Qが低い値に保たれ、レーザ発振するこ
となくレーザ媒質12cが高い利得状態まで励起され
る。Qスイッチ12dをオフ状態にすると、光共振器の
品質因子Qが高くなり、レーザ発振の急激な立ち上がり
が生ずる。これにより、高ピークパワーのパルスレーザ
ビームが出力される。Qスイッチ12dをオフ状態に維
持しておくと、パルスレーザビームのピークパワーより
も低いパワーの連続波(CW)レーザビームが出力され
る。
【0015】レーザ媒質12cとしてNd:YAGを用
いる場合、出力される2倍高調波の波長は532nmに
なる。なお、波長変換素子12eを光共振器の外に配置
してもよい。また、3倍以上の高調波を生成する構成と
してもよい。
【0016】Qスイッチレーザ発振器12から出力され
たレーザビームは、アッテネータ13を経由してビーム
エキスパンダ16に入射し、ビーム径が拡げられる。ビ
ーム径の拡がったレーザビームは、空間的可干渉性解消
素子17で可干渉性を緩和され、ビームホモジナイザ
(整形光学系)18で均一な強度分布を有するビームに
変換される。空間的可干渉性解消素子17及びビームホ
モジナイザ18の構成については、後に詳しく説明す
る。
【0017】ビームホモジナイザ18から出射したレー
ザビームは、折返しミラー40で下方に反射され、マス
ク41に形成されているスリットに入射する。ビームホ
モジナイザ18は、マスク41の配置された位置におけ
るビーム断面が、マスク41のスリットに整合した直線
状になるようにレーザビームを整形する。
【0018】マスク41のスリットを透過したレーザビ
ームが、集束レンズ42で集束され、ガスカーテン装置
20の入射窓22に入射する。ガスカーテン装置20
は、入射窓22とガス導入口23とを有する上板24、
及びその周辺部下面に接続された側壁部材25で半密閉
空間を画定する。側壁部材25の下部にはガス回収口2
6が設けられている。なお、ガス雰囲気形成機構はガス
カーテンだけに限定されない。例えば、ガス交換が可能
な真空チェンバでも良い。
【0019】ステージ30が、ステッピングモータ等の
駆動手段を備えたXステージ33、Yステージ32、及
び定盤31を含んで構成されている。Yステージ32
は、Xステージ33上に取り付けられており、Yステー
ジ32の上に定盤31が設置されている。定盤31の上
に、アモルファスシリコン膜を形成したガラス基板等の
加工対象物19が載置される。Xステージ33及びYス
テージ32を動作させることにより、定盤31を2次元
方向に移動させることができる。なお、Xステージ33
とYステージ32との上下の順序は逆でも良い。
【0020】ガスカーテン装置20は、定盤31の上方
に、加工対象物19から所定距離隔てて配置される。ガ
ス導入口23から不活性ガスを導入すると、上板24、
側壁部材25、及び定盤31上に載置された加工対象物
19で画定される加工空間内が不活性ガスで充填され、
外気から遮断される。
【0021】入射窓22を通して加工空間内に入射した
レーザビームが、定盤31の上に載置された加工対象物
19に入射する。集束レンズ42は、マスク41のスリ
ットを、加工対象物19の表面上に結像させる。加工対
象物19のアモルファスシリコン膜にレーザビームを照
射すると、アモルファスシリコン膜がレーザビームによ
って溶融し、不活性ガス雰囲気内で固化(結晶化)す
る。
【0022】コンピュータ等で構成された制御装置35
が、タイミング制御装置36を介してQスイッチレーザ
発振器12に、Qスイッチ12dのタイミング信号を送
信する。また、制御装置35は、ステージコントローラ
39を介してXステージ33及びYステージ32を所望
速度で移動させることができる。
【0023】駆動機構55が、アッテネータ13とビー
ムエキスパンダ16との間のレーザビームの光路内に、
全反射ミラー51を移動させる。全反射ミラー51がレ
ーザビームの光路内に配置されると、レーザビームが反
射され、折返しミラー52に入射する。この状態では、
レーザビームがビームエキスパンダ16に入射しない。
【0024】折返しミラー52で反射されたレーザビー
ムが、集束レンズ53で集束され、全反射ミラー54に
入射する。駆動機構54が、マスク41と集束レンズ4
2との間のレーザビームの光路内に、全反射ミラー54
を移動させる。
【0025】全反射ミラー54がレーザビームの光路内
に配置されている状態では、集束レンズ53で集束され
たレーザビームが、全反射ミラー54で反射され、集束
レンズ42に入射する。集束レンズ42に入射したレー
ザビームは、マスク41を通過したレーザビームと同様
に、加工対象物19に入射する。集束レンズ53及び4
2は、加工対象物19の表面上でレーザビームのスポッ
トサイズが最小になるような構成とされている。すなわ
ち、集束レンズ53と42とが、加工対象物19の表面
上に焦点を結ばせる集光光学系を構成する。
【0026】図2(A)及び(B)に、空間的可干渉性
解消素子17及びホモジナイザ18の構成例を示す。光
軸をZ方向とした場合、図2(A)は、たとえばX方向
から見た側面図であり、図2(B)はY方向から見た側
面図である。
【0027】空間的可干渉性解消素子17は、Z方向の
長さが異なる光学材料の板をY方向に積層した素子17
bと、X方向に積層した素子17aとを組み合わせた構
成を有する。ビーム断面内の位置によって、実効的な光
路長に差が生じ、空間的可干渉性が低減する。互いに隣
接する領域で光路長が徐々に変化する構成を図示した
が,光路差の設定は任意である。たとえば、ランダムな
光路差を設定してもよい。
【0028】なお、ビーム断面内を複数の領域に分割で
き、各領域に異なる光路差を生じさせる構成であれば図
示の構成に限らない。たとえば、ファイババンドルのよ
うな構成であれば、2つの素子を必要とせず、単一の素
子で同様の効果を発揮することができる。
【0029】ホモジナイザ18は、たとえば、X方向シ
リンドリカルレンズ18aをY方向に並べ、Y方向に並
んだ複数の光束を形成し、他のX方向シリンドリカルレ
ンズ18bで各光束を再分布させる。同様に、Y方向シ
リンドリカルレンズ18cをX方向に並べ、X方向に並
んだ複数の光束を形成し、他のY方向シリンドリカルレ
ンズ18dで各光束を再分布させる。図の構成では、レ
ンズ18p、18qで各光束を共通の仮想平面(ホモジ
ナイズ面)上にホモジナイズさせている。ホモジナイズ
した領域は、Y方向に長い線状の形状を有する。
【0030】このようにして、照射領域内で一定の強度
を有する長尺ビームを形成している。このホモジナイズ
面に、図1に示したマスク41が配置されている。マス
ク41のスリットが、アモルファスシリコン膜を堆積し
た加工対象物19上に結像されるため、アモルファスシ
リコン膜上において、レーザビームの照射領域内の強度
がほぼ均一になる。
【0031】次に、図3を参照して、実施例による結晶
成長方法について説明する。なお、必要に応じて、図1
が参照される。
【0032】図3(A)に示すように、加工対象物19
は、長方形のガラス基板19aの上にアモルファスシリ
コン膜19bが堆積された積層構造を有する。ガラス基
板19aの1つの辺に平行な方向をx軸とし、その辺と
隣り合う辺に平行な方向をy軸とする。図1に示したQ
スイッチレーザ発振器12のQスイッチ12dをオン状
態にしておき、移動ミラー51及び54を、レーザビー
ムの光路内に配置する。
【0033】Qスイッチ12dをオフ状態にし、高ピー
クパワーのパルスレーザビームを出射させる。このパル
スレーザビーム60は、集束レンズ53及び42を通過
して、加工対象物19の表面上に入射する。第1回目の
照射では、パルスレーザビーム60を、アモルファスシ
リコン膜19bの頂点近傍に入射させる。
【0034】Qスイッチ12dのオンオフを繰り返すこ
とにより、複数ショットのパルスレーザビーム60を出
力させるとともに、Yステージ32を移動させて、パル
スレーザビーム60のビームスポットをアモルファスシ
リコン膜19bの一つの辺に沿って移動させる。
【0035】図3(B)に、ビームスポット61の移動
の様子を示す。あるショットのビームスポットが、前回
のショットのビームスポットと部分的に重なるように、
ビームスポット61が移動している。ビームスポット6
1のサイズは、10〜300μmである。
【0036】高ピークパワーを有するパルスレーザビー
ム60を照射することにより、加工対象物19に、アモ
ルファスシリコン膜19bを貫通してガラス基板19a
まで達する凹部が形成される。ビームスポット61を移
動させることにより、加工対象物19の縁に、段差62
が形成される。アモルファスシリコン膜19bのうち、
段差62の極近傍の領域は、一旦溶融し、その後固化す
る。このため、段差62の側面に露出した部分が結晶化
され、段差62に沿った領域に種結晶63が形成され
る。
【0037】種結晶63を形成した後、移動ミラー51
及び54を、レーザビームの光路から外れた位置に待避
させる。Qスイッチ12dをオフ状態に維持し、低パワ
ーの連続波レーザビームを出力させる。連続波レーザビ
ームは、ホモジナイザ18により長尺化されて加工対象
物19に入射する。
【0038】図3(C)に、長尺化されたレーザビーム
の照射領域65を示す。照射領域65の長手方向がy軸
と平行になり、種結晶63の形成された領域に入射す
る。Xステージ33を動作させることにより、照射領域
65をx軸方向に移動させる。照射領域65のアモルフ
ァスシリコンが溶融し、固化することにより、結晶がx
軸方向に成長する。これにより、x軸方向に長い単結晶
領域、例えばy軸方向の幅が5μm、x軸方向の長さが
20μm程度の単結晶領域を形成することができる。上
記実施例による方法では、1つのQスイッチレーザ発振
器12を使用することにより、種結晶の形成と結晶成長
とを行うことができる。
【0039】上記実施例では、アモルファスシリコンを
多結晶化させる場合を説明したが、他のアモルファス半
導体やアモルファス材料を多結晶化させることも可能で
ある。また、上記実施例では、加工対象物に段差を形成
する場合を説明したが、必ずしも段差を形成する必要は
ない。加工対象物の表面におけるパルスレーザビームの
エネルギ密度を、加工対象物に凹部は形成されないが、
アモルファス材料が溶融する程度の大きさとしてもよ
い。また、上記実施例では、加工対象物の縁に沿った領
域に種結晶を形成したが、その他の領域に種結晶を形成
することも可能である。
【0040】以上実施例に沿って本発明を説明したが、
本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種
々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に
自明であろう。
【0041】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
Qスイッチレーザ発振器から出力される高ピークパワー
のパルスレーザビームの照射により、アモルファス材料
の一部が結晶化され、低パワーの連続波レーザビームの
照射により種結晶が成長する。このため、1台のレーザ
光源を用いて、種結晶の形成と結晶成長との両方を行う
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例によるレーザアニール装置の
概略図である。
【図2】 本発明の実施例によるレーザアニール装置に
用いられている空間的可干渉性解消素子及びビームホモ
ジナイザの側面図及び平面図である。
【図3】 本発明の実施例による結晶成長方法を説明す
るための加工対象物の斜視図、及びレーザビームの照射
領域の移動の様子を説明するための加工対象物の平面図
である。
【符号の説明】
12 Qスイッチレーザ発振器 13 アッテネータ 16 ビームエキスパンダ 17 空間的可干渉性解消素子 18 ビームホモジナイザ 19 加工対象物 20 ガスカーテン装置 22 入射窓 23 ガス導入口 24 上板 25 側壁部材 26 ガス回収口 30 ステージ 31 定盤 32 Yステージ 33 Xステージ 35 制御装置 36 タイミング制御装置 39 ステージコントローラ 40、52 折返しミラー 41 マスク 42、53 集束レンズ 51、54 移動ミラー 60 パルスレーザビーム 61 ビームスポット 62 段差 63 種結晶 65 長尺レーザビーム照射領域

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (a)Qスイッチレーザ発振器のQスイ
    ッチをオン状態からオフ状態に変化させた時に出力され
    るパルスレーザビームを、アモルファス状態の対象部材
    に入射させ、照射された部分を結晶化させて種結晶を形
    成する工程と、 (b)前記Qスイッチレーザ発振器のQスイッチをオフ
    状態にした状態で出力される連続波レーザビームを、前
    記対象部材の、前記種結晶の形成された位置に入射さ
    せ、該連続波レーザビームの入射位置を、前記種結晶か
    ら遠ざかる方向に移動させることにより前記種結晶を成
    長させる工程とを有する結晶成長方法。
  2. 【請求項2】 前記工程(a)において、Qスイッチの
    オンオフを繰り返しながら、複数ショットのパルスレー
    ザビームを前記対象物に入射させるとともに、該パルス
    レーザビームの入射位置を、前記対象部材の表面の線状
    の領域に沿って移動させ、該線状の領域に種結晶を形成
    する工程を含み、 前記工程(b)が、 前記連続波レーザビームの断面形状を線状に整形する工
    程と、 線状に整形された前記連続波レーザビームを、前記種結
    晶の形成された線状領域に入射させ、入射位置を、該線
    状領域の長手方向と交差する方向に移動させながら前記
    種結晶を成長させる工程とを含む請求項1に記載の結晶
    成長方法。
  3. 【請求項3】 前記工程(a)において、前記対象部材
    の表面において、複数ショットの前記パルスレーザビー
    ムのビームスポットが相互に重なるように、該パルスレ
    ーザビームの入射位置を移動させる請求項2に記載の結
    晶成長方法。
  4. 【請求項4】 前記対象部材が、下地基板の表面上に形
    成されたアモルファス状態の薄膜であり、 前記工程(a)において、前記パルスレーザビームの入
    射位置に、該パルスレーザビームのエネルギによって、
    前記薄膜を貫通して前記下地基板まで到達する凹部を形
    成し、該凹部の側面に露出した部分を結晶化させて種結
    晶を形成する請求項1〜3のいずれかに記載の結晶成長
    方法。
  5. 【請求項5】 Qスイッチをオン状態からオフ状態に切
    り換えたときにパルスレーザビームを出力し、該Qスイ
    ッチをオン状態に維持しておくと、該パルスレーザビー
    ムのピークパワーよりも低いパワーの連続波レーザビー
    ムを出力するQスイッチレーザ発振器と、 対象部材を保持するステージと、 前記Qスイッチレーザ発振器から出力されたレーザビー
    ムの断面形状が、前記ステージに保持された対象部材の
    表面において線状になるように整形する整形光学系と、 前記Qスイッチレーザ発振器から出力されたレーザビー
    ムを、前記ステージに保持された対象部材の表面上に、
    スポット状に集光させる集光光学系と、 前記Qスイッチレーザ発振器からパルスレーザビームが
    出力されるときに、該パルスレーザビームを、前記集光
    光学系を経由して対象部材上に入射させ、前記Qスイッ
    チレーザ発振器から連続波レーザビームが出力されると
    きに、該連続波レーザビームを、前記整形光学系を経由
    して対象部材上に入射させる切換手段と、 前記整形光学系及び前記集光光学系を経由したレーザビ
    ームの、前記テーブルに保持された対象部材の表面への
    入射位置を移動させる移動機構とを有するレーザアニー
    ル装置。
  6. 【請求項6】 前記切換手段が、前記Qスイッチレーザ
    発振器から出力されたレーザビームの光路内に移動して
    レーザビームを反射させる移動ミラーを有し、該移動ミ
    ラーが前記レーザビームの光路から外れた位置に待避さ
    れている状態では、前記レーザビームが、前記整形光学
    系及び前記集光光学系の一方の光学系に入射し、前記移
    動ミラーが前記レーザビームの光路内に配置されている
    状態では、前記レーザビームが他方の光学系に入射する
    請求項5に記載のレーザアニール装置。
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