JP2003215627A - Liquid crystal cell unit, liquid crystal device, method for manufacturing liquid crystal device, and electronic equipment - Google Patents

Liquid crystal cell unit, liquid crystal device, method for manufacturing liquid crystal device, and electronic equipment

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JP2003215627A
JP2003215627A JP2002014481A JP2002014481A JP2003215627A JP 2003215627 A JP2003215627 A JP 2003215627A JP 2002014481 A JP2002014481 A JP 2002014481A JP 2002014481 A JP2002014481 A JP 2002014481A JP 2003215627 A JP2003215627 A JP 2003215627A
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liquid crystal
inspection
crystal cell
substrate
cell unit
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Yoichi Momose
洋一 百瀬
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Seiko Epson Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a means capable of simplifying defect inspection of electrodes or the like. <P>SOLUTION: In the liquid crystal cell unit of this invention, a plurality of routed wiring 11 for common electrodes are formed on a lower substrate base material 22, and on the wiring 11, common electrodes 9 electrically connected with the routed wiring 11 for each common electrode are formed via an insulating film. Moreover, on the lower layer side of the insulating film, electrodes 27 for inspecting common electrodes electrically connected with all the common electrodes 9 are formed, and on the upper layer side of the insulating film, electrodes 25 for inspecting segment electrodes electrically connected with all the segment electrodes 7 on the upper substrate base material 22 side are formed. These electrodes 27 for inspecting common electrodes and electrodes 25 for inspecting segment electrodes are formed on the end material part H3 to be cut off at the time of dividing the liquid crystal cell unit into a plurality of liquid crystal cells. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶セルユニッ
ト、液晶装置、液晶装置の製造方法、並びに電子機器に
係り、特に、液晶装置を製造する際の検査工程を簡略化
する技術に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal cell unit, a liquid crystal device, a method for manufacturing a liquid crystal device, and an electronic device, and more particularly to a technique for simplifying an inspection process when manufacturing a liquid crystal device. .

【０００２】[0002]

【従来の技術】携帯電話等の電子機器に搭載される直視
型表示装置などに用いられる液晶装置は、液晶層を挟持
して対向配置された第１の基板（例えば上基板）と第２
の基板（例えば下基板）がシール材を介して貼着されて
概略構成されている。一般に、複数の液晶装置を同時に
製造し、製造プロセスの簡略化を図るために、液晶装置
は、第１の基板を複数切り出すための第１の基板母材と
第２の基板を複数切り出すための第２の基板母材とを用
いて製造する、いわゆる「複数個取り」と呼ばれる方法
が用いられている。本明細書では、第１の基板母材にお
いて、最終的に第１の基板が形成される領域のことを
「第１の基板形成領域」、第２の基板母材において、最
終的に第２の基板が形成される領域のことを「第２の基
板形成領域」と称す。2. Description of the Related Art A liquid crystal device used for a direct-view type display device mounted on an electronic device such as a mobile phone has a first substrate (for example, an upper substrate) and a second substrate which are opposed to each other with a liquid crystal layer interposed therebetween.
The substrate (for example, the lower substrate) is adhered via a sealing material to form a schematic structure. Generally, in order to manufacture a plurality of liquid crystal devices at the same time and to simplify the manufacturing process, the liquid crystal device includes a first substrate base material for cutting a plurality of first substrates and a plurality of second substrates for cutting a plurality of second substrates. A so-called "multi-take" method is used in which the second substrate base material is used for manufacturing. In the present specification, a region in which the first substrate is finally formed in the first substrate base material is referred to as a “first substrate formation region”, and a region in the second substrate base material is finally referred to as a second substrate formation region. The region where the substrate is formed is referred to as "second substrate formation region".

【０００３】以下、従来の液晶装置の製造方法の一例と
して、第１の基板と第２の基板の双方がストライプ状に
形成された複数の電極を具備するパッシブマトリクス型
液晶装置の製造方法について簡単に説明する。初めに、
第１の基板母材の各第１の基板形成領域と、第２の基板
母材の各第２の基板形成領域に、電極や配向膜等の必要
な構成要素を形成する。次に、第１の基板母材の各第１
の基板形成領域と、第２の基板母材の各第２の基板形成
領域とを未硬化のシール材を介して貼着した後、シール
材を硬化することにより、複数の液晶セルが一体化され
た液晶セルユニットを製造する。なお、この工程におい
て、シール材の一部には液晶を注入するための液晶注入
部が形成される。Hereinafter, as an example of a conventional method of manufacturing a liquid crystal device, a method of manufacturing a passive matrix type liquid crystal device having a plurality of electrodes in which both a first substrate and a second substrate are formed in stripes will be briefly described. Explained. at first,
Necessary components such as electrodes and alignment films are formed in each first substrate forming region of the first substrate base material and each second substrate forming region of the second substrate base material. Next, each first of the first substrate base material
The plurality of liquid crystal cells are integrated by adhering the substrate forming region of No. 2 and each second substrate forming region of the second substrate base material through the uncured sealing material and then curing the sealing material. The manufactured liquid crystal cell unit is manufactured. In this step, a liquid crystal injection part for injecting liquid crystal is formed in a part of the sealing material.

【０００４】次に、全ての液晶注入部が最端部に位置す
るように液晶セルユニットを切断し、複数の液晶セルが
一方向に配列した短冊状の液晶セルユニットに分割した
後、短冊状の液晶セルユニットの各液晶セルに、真空注
入法等により液晶を注入し、液晶層を形成した後、液晶
注入部を封止材により封止する。次に、短冊状の液晶セ
ルユニットを切断し、単品の液晶セルに分割した後、各
液晶セルについて電極の欠陥、必要とされる電極間での
電気的接続不良（導通不良）、表示上の欠陥の有無を検
査する。最後に、各液晶セルの外側に偏光子、位相差板
等の光学部品を貼着することにより、複数のパッシブマ
トリクス型液晶装置を同時に製造することができる。Next, the liquid crystal cell unit is cut so that all the liquid crystal injecting portions are located at the outermost end and divided into strip-shaped liquid crystal cell units in which a plurality of liquid crystal cells are arranged in one direction. After injecting liquid crystal into each liquid crystal cell of the liquid crystal cell unit by a vacuum injection method or the like to form a liquid crystal layer, the liquid crystal injection portion is sealed with a sealing material. Next, after cutting the strip-shaped liquid crystal cell unit and dividing it into individual liquid crystal cells, each liquid crystal cell has a defect in the electrode, a necessary electrical connection defect (conduction defect) between the electrodes, and a display defect. Inspect for defects. Finally, a plurality of passive matrix liquid crystal devices can be manufactured at the same time by sticking optical components such as a polarizer and a retardation plate on the outside of each liquid crystal cell.

【０００５】このように、従来のパッシブマトリクス型
液晶装置の製造方法においては、単品の液晶セルに分割
した後、各液晶セルについて電極の欠陥、導通不良、表
示上の欠陥の有無を検査している。ここで、これらの検
査方法としては、例えば、複数本の検査用プローブを、
隣接する複数本の電極に接触させ、電気的特性を計測す
ることにより電極のパターン欠陥や導通不良を検出する
方法や、第１の基板に形成された全ての電極、第２の基
板に形成された全ての電極にそれぞれ幅広の電極を接触
させ、電圧を印加することにより、全てのドットが正常
に点灯するか否かを検査する点灯検査を行う方法などが
知られている。As described above, in the conventional method for manufacturing a passive matrix type liquid crystal device, after being divided into individual liquid crystal cells, each liquid crystal cell is inspected for electrode defects, conduction defects, and display defects. There is. Here, as these inspection methods, for example, a plurality of inspection probes,
A method of detecting a pattern defect or a conduction failure of an electrode by contacting a plurality of adjacent electrodes and measuring electrical characteristics, or a method of forming all electrodes formed on the first substrate and the second substrate. A method is known in which a wide electrode is brought into contact with all of the electrodes and a voltage is applied to perform a lighting inspection for inspecting whether all the dots are normally lit.

【０００６】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
のパッシブマトリクス型液晶装置の製造方法において
は、単品の液晶セルに分割した後、各液晶セルについて
電極の欠陥検査を行っているため、複数の液晶セルの電
極の欠陥検査を一括して行うことができず、検査工程で
多くの時間を必要とする上、検査工程が複雑化するとい
う問題点を有している。なお、第１の基板母材と第２の
基板母材に各々電極を形成した後、第１の基板母材と第
２の基板母材とを貼着する前に、各基板母材に対して電
極の欠陥検査を一括して行う場合があるが、この場合に
も、その後の工程において、異物等により生じた電極の
パターン欠陥を検出するために、第１の基板母材と第２
の基板母材とを貼着した後に再度、電極の欠陥検査を行
うことが好ましい。したがって、本明細書において、
「検査」とは、第１の基板母材と第２の基板母材とを貼
着した後の検査のことを意味しているものとする。As described above, in the conventional method for manufacturing a passive matrix type liquid crystal device, after the liquid crystal cells are divided into individual liquid crystal cells, the electrode defect inspection is performed for each liquid crystal cell. There is a problem in that it is not possible to collectively perform a defect inspection of electrodes of a plurality of liquid crystal cells, a lot of time is required in the inspection process, and the inspection process is complicated. In addition, after forming electrodes on the first substrate base material and the second substrate base material, respectively, and before bonding the first substrate base material and the second substrate base material, In some cases, the defect inspection of the electrodes is collectively performed, but in this case as well, in the subsequent process, in order to detect pattern defects of the electrodes caused by foreign matter or the like, the first substrate base material and the second substrate base material are used.
It is preferable to carry out the defect inspection of the electrode again after adhering the substrate base material of 1. Therefore, in this specification,
The “inspection” means an inspection after the first substrate base material and the second substrate base material are attached.

【０００７】また、近年、液晶装置の高精細化に伴っ
て、電極のピッチの微細化が進められているが、微細な
ピッチで形成された電極の欠陥検査を正確かつ迅速に行
うことは難しく、検査工程が一層複雑化するという問題
点を有している。特に検査用プローブを用いて電極の欠
陥検査を行う場合には、微細なピッチで形成された隣接
する複数本の電極毎に正確に検査用プローブを接触さ
せ、全ての電極の欠陥検査を行う必要があるため、電極
の欠陥検査を正確かつ迅速に行うことは極めて難しくな
っている。[0007] In recent years, the fineness of the electrode pitch has been advanced along with the high definition of the liquid crystal device, but it is difficult to accurately and promptly perform the defect inspection of the electrode formed with the fine pitch. However, there is a problem that the inspection process becomes more complicated. In particular, when performing electrode defect inspection using an inspection probe, it is necessary to accurately contact the inspection probe for each of a plurality of adjacent electrodes formed at a fine pitch and perform defect inspection of all electrodes. Therefore, it is extremely difficult to accurately and quickly inspect the electrode for defects.

【０００８】以上の問題は、パッシブマトリクス型液晶
装置に限らず、スイッチング素子としてＴＦＤ（Thin F
ilm Diode,薄膜ダイオード）を用いたアクティブマトリ
クス型液晶装置においても同様に生じる問題である。な
お、スイッチング素子としてＴＦＤを用いたアクティブ
マトリクス型液晶装置では、第１の基板、第２の基板
が、各々ストライプ状に形成されたデータ線（もしくは
走査線）、走査線（もしくはデータ線）を具備して概略
構成されており、データ線および走査線に対して同様の
欠陥検査を行っている。The above problems are not limited to the passive matrix type liquid crystal device, and the TFD (Thin F
The same problem occurs in an active matrix type liquid crystal device using an ilm diode (thin film diode). In an active matrix type liquid crystal device using a TFD as a switching element, a first substrate and a second substrate each have a data line (or a scanning line) and a scanning line (or a data line) formed in stripes. The data line and the scanning line are subjected to the same defect inspection.

【０００９】本発明は、上記の課題を解決するためにな
されたものであって、電極等の欠陥、表示上の欠陥等の
検査を合理的に短時間で行うことができ、簡略化が可能
な手段を提供することを目的とする。The present invention has been made in order to solve the above problems, and can inspect defects such as electrodes and defects on display in a reasonably short time and can be simplified. The purpose is to provide such means.

【００１０】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明者は上記課題を解
決すべく検討を行った結果、以下の液晶セルユニットを
発明するに到った。本発明の液晶セルユニットは、第１
の表示用電極が形成された複数の第１の基板形成領域を
有する第１の基板母材と、第２の表示用電極が形成され
た複数の第２の基板形成領域を有する第２の基板母材と
を具備するとともに、第１の基板母材の各第１の基板形
成領域と第２の基板母材の各第２の基板形成領域とがそ
れぞれシール材を介して貼着される液晶セルユニットで
あって、第２の基板母材上には、第２の基板形成領域に
形成された第２の表示用電極と電気的に接続されている
とともに第２の基板形成領域内から当該第２の基板形成
領域外に導出された複数の第２検査用引き廻し配線と第
２の基板形成領域外で複数の第２検査用引き廻し配線を
結合して配線された第２検査用導電部とが形成され、更
に複数の第２検査用引き廻し配線と第２検査用導電部の
上方には絶縁層を介在させて、第１の基板形成領域に形
成された第１の表示用電極と電気的に接続されていると
ともに第２の基板形成領域内から当該第２の基板形成領
域外に導出された複数の第１検査用引き廻し配線と第２
の基板形成領域外で複数の第１検査用引き廻し配線を結
合した第１検査用導電部とが形成されていることを特徴
とする。As a result of studies to solve the above problems, the present inventor has invented the following liquid crystal cell unit. The liquid crystal cell unit of the present invention is the first
A first substrate base material having a plurality of first substrate forming regions on which the display electrodes of (1) and a second substrate having a plurality of second substrate forming regions on which the second display electrodes are formed of A liquid crystal comprising a base material, and each first substrate forming region of the first substrate base material and each second substrate forming region of the second substrate base material are attached via a sealing material. The cell unit, which is electrically connected to the second display electrode formed in the second substrate formation region on the second substrate base material and is connected to the second substrate formation region from within the second substrate formation region. A plurality of second inspection wirings led out to the outside of the second substrate forming area and a plurality of second inspection wirings connected to the outside of the second substrate forming area to form a second inspection conductive wire. And a plurality of second inspection wirings and an insulating layer above the second inspection conductive portion. A plurality of electrodes that are present and are electrically connected to the first display electrode formed in the first substrate formation region and are led out from the inside of the second substrate formation region to the outside of the second substrate formation region. First inspection wiring and second
Is formed outside the substrate formation region, and a first inspection conductive portion to which a plurality of first inspection wirings are coupled is formed.

【００１１】なお、本明細書において、「液晶セル」
は、液晶層を具備する液晶セルと、液晶層を具備しない
空の液晶セルの双方を含んでいるものとする。また、
「液晶セルユニット」は、複数の液晶セルが一体化され
たものであり、液晶セルユニットから複数の液晶装置を
製造することが可能な構造のものを意味しているものと
する。In the present specification, "liquid crystal cell"
Includes both a liquid crystal cell having a liquid crystal layer and an empty liquid crystal cell having no liquid crystal layer. Also,
The “liquid crystal cell unit” is a unit in which a plurality of liquid crystal cells are integrated, and has a structure capable of manufacturing a plurality of liquid crystal devices from the liquid crystal cell unit.

【００１２】すなわち、本発明の液晶セルユニットで
は、各基板母材に形成された表示用電極に対して検査用
引き廻し配線、検査用導電部を順次電気的に接続する構
成としているので、検査用導電部に対して欠陥検査を行
うことにより、検査用導電部に電気的に接続された表示
用電極の欠陥検査を行うことができる。さらに、複数の
検査用引き廻し配線を束ねて検査用導電部に結合する構
成としているので、１本の検査用導電部に対して検査を
行うことにより、同時に複数の表示用電極もしくはこの
電極に電気的に接続された配線の欠陥検査を行うことが
できる。That is, in the liquid crystal cell unit of the present invention, the inspection wiring and the conductive portion for inspection are electrically connected to the display electrodes formed on the respective base materials of the substrates in order. By performing a defect inspection on the conductive portion for display, it is possible to perform a defect inspection on the display electrode electrically connected to the conductive portion for inspection. Furthermore, since a plurality of inspection lead-out wires are bundled and coupled to the inspection conductive portion, it is possible to simultaneously inspect a plurality of display electrodes or this electrode by inspecting one inspection conductive portion. It is possible to perform a defect inspection of electrically connected wiring.

【００１３】よって、本発明の液晶セルユニットを用い
て液晶装置を製造することにより、本発明の液晶セルユ
ニット、もしくは本発明の液晶セルユニットを分割して
得られる液晶セルユニットを構成する全ての液晶セルに
対して、表示用電極もしくはこれに電気的に接続された
配線の欠陥検査を一括して行うことができる。その結
果、検査工程を大幅に簡略化することができ、製造プロ
セスの簡略化を図ることができる。Therefore, by manufacturing a liquid crystal device using the liquid crystal cell unit of the present invention, all the liquid crystal cell units of the present invention or liquid crystal cell units obtained by dividing the liquid crystal cell unit of the present invention can be formed. With respect to the liquid crystal cell, it is possible to collectively perform a defect inspection of the display electrode or the wiring electrically connected to the display electrode. As a result, the inspection process can be greatly simplified, and the manufacturing process can be simplified.

【００１４】また、複数の検査用引き廻し配線を束ねて
検査用導電部に接続する構成を採用しているので、検査
用導電部の数を表示用電極の数に比較して大幅に低減す
ることができる。したがって、表示用電極のピッチが非
常に微細な高精細な液晶装置を製造する液晶セルユニッ
トに対して、検査プローブを用いて検査を行う場合にお
いても、検査する検査用導電部の数が少ないことに加え
て、検査用プローブを接触させる検査用導電部のピッチ
を大きく確保することができるので、正確かつ迅速に検
査を行うことができる。Further, since a plurality of inspection wirings are bundled and connected to the conductive portion for inspection, the number of conductive portions for inspection is significantly reduced as compared with the number of display electrodes. be able to. Therefore, even when a liquid crystal cell unit that manufactures a high-definition liquid crystal device in which the pitch of the display electrodes is extremely fine is inspected using an inspection probe, the number of inspection conductive parts to be inspected is small. In addition, a large pitch of the conductive portions for inspection with which the inspection probe is brought into contact can be secured, so that the inspection can be performed accurately and quickly.

【００１５】特に本発明の場合、第１の表示用電極と電
気的に接続された第２の基板母材上の複数の第１検査用
引き廻し配線およびこれら第１検査用引き廻し配線を結
合する第１検査用導電部の下層側に、絶縁膜を介して複
数の第２検査用引き廻し配線およびこれら第２検査用引
き廻し配線を結合する第２検査用導電部が設けられてお
り、これら検査用引き廻し配線の各々が複数の第２の表
示用電極の各々と電気的に接続されているので、第２の
基板母材上の配線の引き廻し構造が３次元的に構成され
ている。このような構成により、液晶装置の額縁領域を
より狭くすることができ、装置の外周の割に大きな表示
領域を確保することができる。また、１枚の基板母材か
ら取れる液晶セルの個数を多くすることができる。Particularly in the case of the present invention, a plurality of first inspection routing wires on the second substrate base material electrically connected to the first display electrode and the first inspection routing wires are combined. On the lower layer side of the first inspection conductive portion, a plurality of second inspection routing wirings and a second inspection conductive portion coupling the second inspection routing wirings are provided via an insulating film, Since each of the inspection wirings is electrically connected to each of the plurality of second display electrodes, the wiring wiring structure on the second substrate base material is three-dimensionally configured. There is. With such a configuration, the frame area of the liquid crystal device can be made narrower, and a large display area can be secured for the outer circumference of the device. Moreover, the number of liquid crystal cells that can be obtained from one substrate base material can be increased.

【００１６】また、前記第２の基板母材上の第２検査用
引き廻し配線と第２の表示用電極は、第２の表示用電極
の下層側に前記絶縁膜を介して設けられ個々の第２の表
示用電極と導電接続された各第２表示電極用引き廻し配
線によって電気的に接続されていることが望ましい。こ
の構成によれば、第２の表示用電極を外部接続用端子部
まで引き廻す目的で設けられた第２表示電極用引き廻し
配線が、第２の表示用電極を第２検査用引き廻し配線ま
で引き廻す引き廻し配線としても機能し、引き廻し配線
の構成の簡略化を図ることができる。また、その結果、
本発明の液晶セルユニットを構成する複数の液晶セルの
配列ピッチを小さくすることができ、１個の液晶セルユ
ニットにより多くの液晶セルを形成することができるの
で、好適である。The second inspection wiring and the second display electrode on the second substrate base material are provided below the second display electrode via the insulating film. It is desirable that the second display electrodes are electrically connected to each other by the lead wires for the second display electrodes that are conductively connected to the second display electrodes. According to this structure, the second display electrode routing wiring provided for the purpose of routing the second display electrode to the external connection terminal portion is such that the second display electrode routing wiring is used for the second display electrode. It also functions as a routing wire that extends around, and simplifies the configuration of the routing wire. Also, as a result,
This is preferable because the arrangement pitch of a plurality of liquid crystal cells forming the liquid crystal cell unit of the present invention can be reduced and more liquid crystal cells can be formed by one liquid crystal cell unit.

【００１７】また、本発明の液晶セルユニットにおい
て、前記第２の基板母材上の前記第１検査用引き廻し配
線と前記第１の基板母材の前記第１基板形成領域に形成
された前記第１の表示用電極は両基板母材間での検査用
上下導通部を介して電気的に接続されていることが望ま
しい。すなわち、第１の基板母材側の第１の表示用電極
を検査用上下導通部を用いて第２の基板母材上の第１検
査用引き廻し配線に引き廻す構成とすることが望まし
い。Further, in the liquid crystal cell unit of the present invention, the first inspection routing wiring on the second substrate base material and the first substrate forming region of the first substrate base material It is desirable that the first display electrode is electrically connected between the base materials of both substrates via the vertical conducting portion for inspection. That is, it is desirable that the first display electrode on the side of the first substrate base material is routed to the first inspection routing wiring on the second substrate base material by using the vertical conductive portion for inspection.

【００１８】上記の構成とすることにより、第１の基板
母材側の第１の表示用電極を３次元の引き廻し構造を持
つ第２の基板母材側の第１検査用引き廻し配線に容易に
引き廻すことができる。With the above structure, the first inspection wiring on the second substrate base material side having the three-dimensional routing structure for the first display electrode on the first substrate base material side is formed. It can be easily routed.

【００１９】さらに、前記第２の基板母材上の前記第１
検査用導電部と前記第２検査用導電部は前記第２の基板
母材の最端部にまで延設されていることが望ましい。Further, the first substrate on the second substrate base material
It is desirable that the conductive portion for inspection and the second conductive portion for inspection be extended to the outermost end portion of the second substrate base material.

【００２０】この構成とすることにより、各検査用導電
部に対して検査用プローブや検査用電極の接触を容易に
行うことができ、検査工程のより一層の簡略化を図るこ
とができる。With this configuration, the inspection probe and the inspection electrode can be easily brought into contact with each inspection conductive portion, and the inspection process can be further simplified.

【００２１】また、第１の基板母材の各第１の基板形成
領域に外部接続用端子部を形成するとともに、第１検査
用導電部を、第１の基板母材に形成された外部接続用端
子部と対向する端材部分に形成することが望ましい。第
１の基板母材の各第１の基板形成領域に外部接続用端子
部が形成されている場合、第２の基板母材の外部接続用
端子部と対向する部分は、複数の液晶セルに分割する際
に切り落とされる端材部分となる。この端材部分は従来
から存在するため、この端材部分に第１検査用導電部を
形成することにより、新たな端材部分を設けることなく
第１検査用導電部を配設することができ、本発明の液晶
セルユニットを構成する複数の液晶セルの配列ピッチを
従来と同程度とすることができるので、１個の液晶セル
ユニットにより多くの液晶セルを形成することができ、
好適である。Further, the external connection terminal portions are formed in the respective first substrate formation regions of the first substrate base material, and the first inspection conductive portions are connected to the external connection formed on the first substrate base material. It is desirable to form it on the end material portion facing the terminal portion for use. When the external connection terminal portion is formed in each of the first substrate forming regions of the first substrate base material, the portion of the second substrate base material facing the external connection terminal portion is formed into a plurality of liquid crystal cells. It becomes the end material part cut off when dividing. Since this end material portion has been present in the past, by forming the first inspection conductive portion in this end material portion, it is possible to dispose the first inspection conductive portion without providing a new end material portion. Since the arrangement pitch of a plurality of liquid crystal cells forming the liquid crystal cell unit of the present invention can be made to be approximately the same as the conventional one, many liquid crystal cells can be formed by one liquid crystal cell unit,
It is suitable.

【００２２】なお、本発明の液晶セルユニットでは、各
液晶セルに液晶層が形成されている場合と、そうでない
場合とが存在する。具体的には、各シール材が、液晶を
注入するための液晶注入部を有しない場合には、一方の
基板母材に未硬化のシール材を印刷し、基板母材の未硬
化のシール材で囲まれた領域に液晶を滴下し、液晶層を
形成した後、未硬化のシール材を介して他方の基板母材
と貼着して本発明の液晶セルユニットを製造するため、
本発明の液晶セルユニットにおいて、第１の基板母材の
各第１の基板形成領域と第２の基板母材の各第２の基板
形成領域との間には、液晶層が形成されている。In the liquid crystal cell unit of the present invention, there are cases where a liquid crystal layer is formed in each liquid crystal cell and cases where it is not. Specifically, when each sealing material does not have a liquid crystal injecting portion for injecting liquid crystal, an uncured sealing material is printed on one substrate base material, and the uncured sealing material of the substrate base material is printed. In order to manufacture the liquid crystal cell unit of the present invention by dripping liquid crystal in the area surrounded by, to form a liquid crystal layer, and then sticking the other substrate base material through the uncured sealing material,
In the liquid crystal cell unit of the present invention, a liquid crystal layer is formed between each first substrate forming region of the first substrate base material and each second substrate forming region of the second substrate base material. .

【００２３】また、各シール材が液晶を注入するための
液晶注入部を有するとともに、複数の液晶セルが、液晶
注入部が液晶セルユニットの最端部に位置するように、
一方向に配列している場合には、本発明の液晶セルユニ
ットを製造する際に、全ての液晶セルに液晶を注入する
ことができるので、本発明の液晶セルユニットにおい
て、第１の基板母材の各第１の基板形成領域と第２の基
板母材の各第２の基板形成領域との間には、液晶層が形
成されている。Further, each sealing material has a liquid crystal injecting section for injecting liquid crystal, and a plurality of liquid crystal cells are arranged so that the liquid crystal injecting section is located at the end of the liquid crystal cell unit.
When the liquid crystal cell units of the present invention are arranged in one direction, liquid crystal can be injected into all the liquid crystal cells when the liquid crystal cell unit of the present invention is manufactured. A liquid crystal layer is formed between each first substrate formation region of the material and each second substrate formation region of the second substrate base material.

【００２４】これに対して、各シール材が液晶を注入す
るための液晶注入部を有するが、複数の液晶注入部が液
晶セルユニットの最端部に位置していない場合には、本
発明の液晶セルユニットを製造する際に液晶セルに液晶
を注入することができないので、本発明の液晶セルユニ
ットにおいて、第１の基板母材の各第１の基板形成領域
と第２の基板母材の各第２の基板形成領域との間に、液
晶層が形成されていない。On the other hand, when each sealing material has a liquid crystal injecting portion for injecting liquid crystal, but the plurality of liquid crystal injecting portions are not located at the outermost end portion of the liquid crystal cell unit, the present invention is used. Since liquid crystal cannot be injected into the liquid crystal cell when manufacturing the liquid crystal cell unit, in the liquid crystal cell unit of the present invention, each of the first substrate forming region of the first substrate base material and the second substrate base material The liquid crystal layer is not formed between each second substrate formation region.

【００２５】ここで、検査用プローブを用いた電極の欠
陥検査は液晶層の有無に関係なく行うことができるのに
対して、点灯検査については液晶層を形成してからでな
ければ行うことができない。すなわち、本発明の液晶セ
ルユニットの各シール材が液晶注入部を有していない場
合、もしくは、本発明の液晶セルユニットの各シール材
が液晶注入部を有しており、複数の液晶セルが、液晶注
入部が液晶セルユニットの最端部に位置するように、一
方向に配列している場合には、本発明の液晶セルユニッ
トに液晶層が形成されているので、本発明の液晶セルユ
ニットに対して検査用プローブを用いた検査と点灯検査
の双方が可能である。Here, the electrode defect inspection using the inspection probe can be performed regardless of the presence or absence of the liquid crystal layer, whereas the lighting inspection can be performed only after the liquid crystal layer is formed. Can not. That is, when each seal material of the liquid crystal cell unit of the present invention does not have a liquid crystal injection portion, or each seal material of the liquid crystal cell unit of the present invention has a liquid crystal injection portion, and a plurality of liquid crystal cells When the liquid crystal injecting portion is arranged in one direction so that the liquid crystal injecting portion is located at the outermost end of the liquid crystal cell unit, the liquid crystal layer of the present invention is formed because the liquid crystal layer is formed in the liquid crystal cell unit of the present invention. Both the inspection using the inspection probe and the lighting inspection can be performed on the unit.

【００２６】これに対して、本発明の液晶セルユニット
の各シール材が液晶注入部を有するとともに、複数の液
晶注入部が液晶セルユニットの最端部に位置していない
場合には、本発明の液晶セルユニットに液晶層が形成さ
れていないので、本発明の液晶セルユニットに対して点
灯検査を行うことはできず、検査用プローブを用いた電
極の欠陥検査のみが可能である。したがって、この構成
の液晶セルユニットの各液晶セルに対して点灯検査を行
う場合には、短冊状の液晶セルユニットに分割し、液晶
層を形成した後、分割された短冊状の液晶セルユニット
に対して点灯検査を行えば良い。また、検査用プローブ
を用いた検査を行う場合についても、液晶層を形成し、
液晶セルを完成させてから、検査を行うことが好ましい
ため、この場合にも、短冊状の液晶セルユニットに分割
し、液晶層を形成した後、分割された短冊状の液晶セル
ユニットに対して、検査を行うことが好ましい。On the other hand, in the case where each sealing material of the liquid crystal cell unit of the present invention has a liquid crystal injecting portion and the plurality of liquid crystal injecting portions are not located at the outermost end portion of the liquid crystal cell unit, the present invention Since the liquid crystal layer is not formed in the liquid crystal cell unit, the lighting inspection cannot be performed on the liquid crystal cell unit of the present invention, and only the electrode defect inspection using the inspection probe can be performed. Therefore, when performing a lighting inspection on each liquid crystal cell of the liquid crystal cell unit of this configuration, the liquid crystal cell unit is divided into strip-shaped liquid crystal cell units, the liquid crystal layer is formed, and then the divided strip-shaped liquid crystal cell units are formed. On the other hand, the lighting inspection may be performed. Also, when performing an inspection using an inspection probe, forming a liquid crystal layer,
Since it is preferable to perform the inspection after the liquid crystal cell is completed, in this case as well, the liquid crystal cell unit is divided into strip-shaped liquid crystal cell units, the liquid crystal layer is formed, and then the divided strip-shaped liquid crystal cell units are separated. It is preferable to carry out an inspection.

【００２７】以上の本発明の液晶セルユニットから、以
下の本発明の液晶装置を製造することができる。本発明
の液晶装置は、上記本発明の液晶セルユニットから製造
された液晶装置であって、前記第１の基板母材の前記第
１の基板形成領域から得られた第１の基板と、前記第２
の基板母材の前記第２の基板形成領域から得られた第２
の基板とを具備し、前記第１の基板と前記第２の基板と
の間に液晶層が挟持されているとともに、前記第１検査
用引き廻し配線の少なくとも一部、前記第２検査用引き
廻し配線の少なくとも一部、および前記検査用上下導電
部を具備することを特徴とする。From the above liquid crystal cell unit of the present invention, the following liquid crystal device of the present invention can be manufactured. A liquid crystal device of the present invention is a liquid crystal device manufactured from the liquid crystal cell unit of the present invention, comprising: a first substrate obtained from the first substrate forming region of the first substrate base material; Second
The second substrate obtained from the second substrate forming region of the substrate base material of
And a liquid crystal layer sandwiched between the first substrate and the second substrate, and at least a part of the first inspection routing wiring, the second inspection wiring. At least a part of the wiring and the above-mentioned upper and lower conductive parts for inspection are provided.

【００２８】以上の本発明の液晶装置は、本発明の液晶
セルユニットを用いて製造されたものであるから、液晶
装置を製造する際の検査工程を大幅に簡略化することが
でき、製造プロセスの簡略化を図ることができるものと
なる。Since the above-described liquid crystal device of the present invention is manufactured by using the liquid crystal cell unit of the present invention, the inspection process at the time of manufacturing the liquid crystal device can be greatly simplified, and the manufacturing process Can be simplified.

【００２９】次に、本発明の第１の液晶装置の製造方法
は、各シール材が前記液晶注入部を有せず、第１の基板
母材の各第１の基板形成領域と第２の基板母材の各第２
の基板形成領域との間に液晶層が挟持されている本発明
の液晶セルユニット、または各シール材が液晶注入部を
有し、複数の液晶セルが、液晶注入部が液晶セルユニッ
トの最端部に位置するように一方向に配列しており、第
１の基板母材の各第１の基板形成領域と第２の基板母材
の各第２の基板形成領域との間に液晶層が挟持されてい
る本発明の液晶セルユニットから液晶装置を製造する方
法であって、液晶セルユニットの第１の表示用電極およ
び第２の表示用電極の欠陥検査を行う検査工程と、欠陥
検査後の液晶セルユニットの第１の基板母材を各第１の
基板形成領域の外周に沿って切断し、第２の基板母材を
各第２の基板形成領域の外周に沿って切断することによ
り、複数の液晶セルに分割する切断工程とを有すること
を特徴とする。すなわち、本発明の液晶セルユニットの
各液晶セルに液晶層が形成されている場合には、本発明
の液晶セルユニットに対して欠陥検査を行った後、個々
の液晶セルに分割して、本発明の液晶装置を製造すれば
良い。Next, in the first method for manufacturing a liquid crystal device according to the present invention, each sealing material does not have the liquid crystal injecting portion, and each first substrate forming region of the first substrate base material and the second substrate forming area are formed. Each second of the base material
The liquid crystal cell unit of the present invention in which a liquid crystal layer is sandwiched between the liquid crystal cell and the substrate forming region, or each sealing material has a liquid crystal injection part, and a plurality of liquid crystal cells have the liquid crystal injection part at the end of the liquid crystal cell unit. Are arranged in one direction so that the liquid crystal layer is provided between each first substrate forming region of the first substrate base material and each second substrate forming region of the second substrate base material. A method of manufacturing a liquid crystal device from a sandwiched liquid crystal cell unit of the present invention, comprising: an inspection step of performing a defect inspection of a first display electrode and a second display electrode of the liquid crystal cell unit; By cutting the first substrate base material of each liquid crystal cell unit along the outer circumference of each first substrate formation region, and cutting the second substrate base material along the outer circumference of each second substrate formation region. And a cutting step of dividing into a plurality of liquid crystal cells. That is, when a liquid crystal layer is formed in each liquid crystal cell of the liquid crystal cell unit of the present invention, after performing a defect inspection on the liquid crystal cell unit of the present invention, the liquid crystal cell unit is divided into individual liquid crystal cells and The liquid crystal device of the invention may be manufactured.

【００３０】また、本発明の第２の液晶装置の製造方法
は、各シール材が前記液晶注入部を有し、複数の前記液
晶注入部が液晶セルユニットの最端部に位置しておら
ず、第１の基板母材の各第１の基板形成領域と第２の基
板母材の各第２の基板形成領域との間に液晶層が挟持さ
れていない本発明の液晶セルユニットから液晶装置を製
造する方法であって、液晶セルユニットを、全ての液晶
注入部が最端部に位置するように切断し、複数の液晶セ
ルが一方向に配列した短冊状の液晶セルユニットに分割
する第１の切断工程と、短冊状の液晶セルユニットの各
液晶セルに液晶注入部から液晶を注入し、液晶層を形成
する液晶注入工程と、短冊状の液晶セルユニットの液晶
注入部を封止する封止工程と、短冊状の液晶セルユニッ
トの第１の表示用電極および第２の表示用電極の欠陥検
査を行う検査工程と、欠陥検査後の短冊状の液晶セルユ
ニットを切断し、複数の液晶セルに分割する第２の切断
工程とを有することを特徴とする。すなわち、本発明の
液晶セルユニットの各液晶セルに液晶層が形成されてい
ない場合には、本発明の液晶セルユニットを、複数の液
晶セルが一方向に配列した短冊状の液晶セルユニットに
分割し、分割して得られた短冊状の液晶セルユニットの
各液晶セルに液晶を注入し、液晶層を形成した後、短冊
状の液晶セルユニットに対して欠陥検査を行い、その
後、個々の液晶セルに分割して、本発明の液晶装置を製
造することが好ましい。Further, in the second method for manufacturing a liquid crystal device according to the present invention, each sealing material has the liquid crystal injecting portion, and the plurality of liquid crystal injecting portions are not positioned at the end of the liquid crystal cell unit. A liquid crystal device of the present invention in which a liquid crystal layer is not sandwiched between each first substrate forming region of the first substrate base material and each second substrate forming region of the second substrate base material. A method for manufacturing a liquid crystal cell unit, the liquid crystal cell unit is cut so that all the liquid crystal injection parts are located at the outermost end, and divided into strip-shaped liquid crystal cell units in which a plurality of liquid crystal cells are arranged in one direction. 1, the liquid crystal injection step of injecting liquid crystal into each liquid crystal cell of the strip-shaped liquid crystal cell unit to form a liquid crystal layer, and the liquid crystal injection portion of the strip-shaped liquid crystal cell unit is sealed. The encapsulation process and the first display power of the strip-shaped liquid crystal cell unit. And a second cutting step of cutting the second display electrode for a defect, and cutting the strip-shaped liquid crystal cell unit after the defect inspection into a plurality of liquid crystal cells. . That is, when a liquid crystal layer is not formed in each liquid crystal cell of the liquid crystal cell unit of the present invention, the liquid crystal cell unit of the present invention is divided into strip-shaped liquid crystal cell units in which a plurality of liquid crystal cells are arranged in one direction. Then, after injecting liquid crystal into each liquid crystal cell of the strip-shaped liquid crystal cell unit obtained by division to form a liquid crystal layer, a defect inspection is performed on the strip-shaped liquid crystal cell unit, and then individual liquid crystal It is preferable to manufacture the liquid crystal device of the invention by dividing it into cells.

【００３１】なお、本発明の第１、第２の液晶装置の製
造方法では、前記検査工程において第２の基板母材上に
形成された複数の第１，第２検査用導電部に各々検査用
プローブを接触させ、電気的特性を計測することによ
り、液晶セルユニットの第１の表示用電極および第２の
表示用電極の欠陥検査を行うことができる。In the first and second liquid crystal device manufacturing methods of the present invention, the plurality of first and second conductive portions for inspection formed on the second substrate base material are inspected in the inspection step. A defect inspection of the first display electrode and the second display electrode of the liquid crystal cell unit can be performed by bringing the probe for measurement into contact and measuring the electrical characteristics.

【００３２】以上の第１、第２の本発明の液晶装置の製
造方法によれば、個々の液晶セルに分割する前に、複数
の液晶セルの第１、第２の表示用電極の欠陥検査を一括
して行うことができるので、検査工程を大幅に簡略化す
ることができ、製造プロセスの簡略化を図ることができ
る。According to the above-described manufacturing method of the liquid crystal device of the first and second aspects of the present invention, the defect inspection of the first and second display electrodes of the plurality of liquid crystal cells is performed before dividing into the individual liquid crystal cells. Therefore, the inspection process can be greatly simplified and the manufacturing process can be simplified.

【００３３】また、上記の本発明の液晶装置を備えるこ
とにより、本発明の電子機器を提供することができる。
本発明の電子機器は、本発明の液晶装置を備えたもので
あるので、製造プロセスの簡略化を図ることができるも
のとなる。By including the above-described liquid crystal device of the present invention, it is possible to provide the electronic apparatus of the present invention.
Since the electronic device of the present invention includes the liquid crystal device of the present invention, the manufacturing process can be simplified.

【００３４】[0034]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て詳細に説明する。なお、各実施の形態においては図面
を参照しながら説明するが、各図において、各層や各部
材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層
や各部材毎に縮尺を異ならせてある。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Next, embodiments of the present invention will be described in detail. Although each embodiment will be described with reference to the drawings, in each drawing, in order to make each layer or each member recognizable in the drawing, the scale is different for each layer or each member. is there.

【００３５】［第１の実施の形態］ （液晶装置の構成）まず最初に、図１〜図５に基づい
て、本発明の第１の実施の形態の液晶装置の構成につい
て説明する。本実施の形態では、パッシブマトリクス型
の液晶装置の例を挙げて説明する。図１は本実施の形態
の液晶装置を構成する上基板（上基板形成領域）の構成
を示す平面図、図２は同、下基板の構成を示す平面図、
図３は上基板と下基板を貼り合わせた状態を示す平面
図、図４は同、液晶装置の断面構造を示す図であって、
図３のＡ−Ａ’線に沿う断面図、図５は同、図３のＢ−
Ｂ’線に沿う断面図である。[First Embodiment] (Structure of Liquid Crystal Device) First, the structure of the liquid crystal device according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In this embodiment mode, an example of a passive matrix liquid crystal device will be described. FIG. 1 is a plan view showing the configuration of an upper substrate (upper substrate formation region) that constitutes the liquid crystal device of the present embodiment, and FIG. 2 is a plan view showing the configuration of the lower substrate.
3 is a plan view showing a state in which an upper substrate and a lower substrate are bonded together, and FIG. 4 is a diagram showing a sectional structure of the liquid crystal device,
3 is a sectional view taken along the line AA ′ in FIG. 3, FIG.
It is sectional drawing which follows the B'line.

【００３６】本実施の形態の液晶装置１は、図３に示す
ように、平面視矩形状の上基板２（第１の基板）と下基
板３（第２の基板）とがシール材４を介して対向配置さ
れている。本実施の形態の場合、シール材４は各基板
２，３の周縁に沿って略矩形で環状に切れ目なく形成さ
れており、液晶注入口を有していない。そして、双方の
基板２，３とシール材４とに囲まれた空間内には両基板
の貼り合わせ前に滴下された液晶が封入されている。In the liquid crystal device 1 of the present embodiment, as shown in FIG. 3, the upper substrate 2 (first substrate) and the lower substrate 3 (second substrate) each having a rectangular shape in plan view have the sealing material 4. Are opposed to each other. In the case of the present embodiment, the seal material 4 is formed in a substantially rectangular shape along the peripheral edges of the substrates 2 and 3 in an annular shape and has no liquid crystal injection port. Then, in the space surrounded by both the substrates 2 and 3 and the sealing material 4, the liquid crystal dropped before bonding the both substrates is sealed.

【００３７】本実施の形態では、下基板３よりも上基板
２の外形寸法（図３における縦方向の長さ）の方が大き
く、対向して貼り合わされる上基板と下基板において、
上基板には４辺のうち１辺側が下基板から張り出してい
る領域３５が設けられている。従って、上基板３と下基
板２の３辺（図３における上辺、右辺、左辺）では縁が
揃っているが、下基板３の残りの１辺（図３における下
辺）からは上基板２の端部がはみ出すように配置されて
いる。そして、上基板２のはみ出した領域３５の端部に
は、例えば上基板３、下基板２双方の表示用電極を駆動
するための駆動用半導体素子７が実装されたフレキシブ
ルプリント配線板（Flexible Printed Circuit, ＦＰ
Ｃ）等を接続するための複数の外部接続用端子５，６が
形成されている。In this embodiment, the outer substrate 2 has a larger outer dimension (the length in the vertical direction in FIG. 3) than the lower substrate 3, and the upper substrate and the lower substrate, which are bonded to each other, face each other.
The upper substrate is provided with a region 35 in which one of four sides projects from the lower substrate. Therefore, the edges of the upper substrate 3 and the lower substrate 2 are aligned on the three sides (the upper side, the right side, and the left side in FIG. 3), but the remaining one side of the lower substrate 3 (the lower side in FIG. 3) is the edge of the upper substrate 2. The ends are arranged so as to protrude. At the end of the protruding region 35 of the upper substrate 2, for example, a flexible printed wiring board (Flexible Printed Board) on which a driving semiconductor element 7 for driving the display electrodes of both the upper substrate 3 and the lower substrate 2 is mounted. Circuit, FP
A plurality of external connection terminals 5 and 6 for connecting C) and the like are formed.

【００３８】本実施の形態の場合、図１に示すように、
シール材４で囲まれた上基板２上には、図中縦方向（下
基板から上基板がはみ出す側の方向、及び外部接続用端
子５，６が存在する側の方向）に延在する複数の表示用
電極となるセグメント電極７がストライプ状に形成され
ている。従って、各セグメント電極７が延在する一方の
側はシール材４の形成領域を貫通してはみ出し領域３５
に導出されたのち外部接続用端子５に接続されていると
ともに、各セグメント電極７の延在する他方の側（図１
における各セグメント電極７の上端）においては、シー
ル材４の形成領域（矩形の上辺側）にかかるように延在
して配置されている。In the case of the present embodiment, as shown in FIG.
On the upper substrate 2 surrounded by the sealing material 4, a plurality of extending in the vertical direction in the figure (the direction in which the upper substrate protrudes from the lower substrate and the direction in which the external connection terminals 5 and 6 are present). The segment electrodes 7 to be display electrodes are formed in stripes. Therefore, the one side on which each segment electrode 7 extends penetrates the formation region of the sealing material 4 and the protrusion region 35.
After being led to the external connection terminal 5 and connected to the external connection terminal 5, each segment electrode 7 extends on the other side (see FIG. 1).
At the upper end of each segment electrode 7 in the above, it is arranged so as to extend over the region where the sealing material 4 is formed (upper side of the rectangle).

【００３９】また上述したように、上基板２の下辺側の
端部に複数の外部接続用端子５，６が形成されている
が、これら外部接続用端子５，６はその上端がシール材
４の形成領域（矩形の下辺側）にかかるように延在して
配置されている。複数の外部接続用端子５，６のうち、
中央寄りの端部に配列された端子５は、上基板２上に形
成されたセグメント電極用引き廻し配線８を介して各セ
グメント電極７と電気的に接続されたセグメント電極駆
動用の外部接続用端子であり、その両側の端子６は、後
述する上下導通部を介して下基板３側の各コモン電極と
電気的に接続されるコモン電極駆動用の外部接続用端子
である。従って、セグメント電極駆動用の外部接続用端
子５、及びコモン電極駆動用の外部接続用端子６に接続
されたＦＰＣ上の駆動用ＩＣ等からセグメント電極７に
対して表示画像に基づいたデータ信号が供給され、コモ
ン電極９に対して走査信号が供給される。As described above, a plurality of external connection terminals 5 and 6 are formed at the lower end of the upper substrate 2, and the upper ends of these external connection terminals 5 and 6 are the sealing material 4. Is formed so as to extend over the formation region (the lower side of the rectangle). Of the plurality of external connection terminals 5 and 6,
The terminals 5 arranged at the ends near the center are for external connection for driving the segment electrodes electrically connected to the respective segment electrodes 7 through the routing wiring 8 for the segment electrodes formed on the upper substrate 2. The terminals 6 on both sides of the terminal are external connection terminals for driving the common electrodes, which are electrically connected to the respective common electrodes on the lower substrate 3 side via the later-described vertical conducting portions. Therefore, a data signal based on the display image is sent to the segment electrode 7 from the driving IC on the FPC connected to the external connection terminal 5 for driving the segment electrode and the external connection terminal 6 for driving the common electrode. The scanning signal is supplied to the common electrode 9.

【００４０】一方、下基板３上には、図２に示すよう
に、上基板２上の表示用電極であるセグメント電極７と
略直交するように図中横方向に延在する複数の表示用電
極であるコモン電極９がストライプ状に形成されてい
る。下基板３の断面構造については後述するが、全ての
コモン電極９は下基板３上に形成された絶縁膜１０上に
形成されており、絶縁膜１０の下層側には、コモン電極
９と交差（略直交）する方向に延在する複数のコモン電
極用引き廻し配線１１が形成されている。なお、図２中
の符号１０ａで示す１点鎖線は絶縁膜１０の縁であり、
この縁１０ａよりも上側が絶縁膜１０が形成された領
域、下側が絶縁膜１０が形成されていない領域である。
コモン電極用引き廻し配線１１はコモン電極９の数と同
じ数だけ形成されており、コモン電極９とコモン電極用
引き廻し配線１１とが、これらが交差する位置に設けら
れた絶縁膜１０を貫通するコンタクトホール１２を通じ
て電気的に接続されている。On the other hand, on the lower substrate 3, as shown in FIG. 2, a plurality of display electrodes extending in the horizontal direction in the figure so as to be substantially orthogonal to the segment electrodes 7 which are the display electrodes on the upper substrate 2. The common electrode 9 which is an electrode is formed in a stripe shape. Although the cross-sectional structure of the lower substrate 3 will be described later, all the common electrodes 9 are formed on the insulating film 10 formed on the lower substrate 3, and the common electrode 9 intersects with the common electrode 9 on the lower layer side of the insulating film 10. A plurality of common electrode lead-out wirings 11 extending in a (substantially orthogonal) direction are formed. The alternate long and short dash line indicated by reference numeral 10a in FIG. 2 is the edge of the insulating film 10,
The region above the edge 10a is the region where the insulating film 10 is formed, and the region below the edge 10a is the region where the insulating film 10 is not formed.
The common electrode routing wires 11 are formed in the same number as the common electrodes 9, and the common electrodes 9 and the common electrode routing wires 11 penetrate the insulating film 10 provided at the positions where they intersect. It is electrically connected through the contact hole 12.

【００４１】また、コモン電極用引き廻し配線１１は絶
縁膜１０を挟んで全てのコモン電極９と交差する方向に
延在して形成され、延在方向の一方の側（図２の下辺
側）では左右の側方に２分（分割）されてシール材４の
形成領域にかかるように配置されている。形成されたシ
ール材４には導電粒子等の導通材が混入されているた
め、シール材４の形成領域に配置されたコモン電極用引
き廻し配線１１は、上基板２と下基板３を貼り合わせた
際に、上述した上基板２上の同シール材４の形成領域に
配置された外部接続用端子６と平面的に重なる位置に配
置されるため電気的に接続されている。つまり、混入さ
れた導通材の作用によって、シール材４内で上基板２の
外部接続用端子６と下基板３のコモン電極引き廻し配線
１１とを電気的に接続する上下導通部１３が存在する。
従って、コモン電極９は、絶縁膜１０を貫通するコンタ
クトホール１２、コモン電極用引き廻し配線１１、上下
導通接続部１３を介してコモン電極駆動用の外部接続用
端子６と電気的に接続されている。また、コモン電極用
引き廻し配線１１の延在方向の他方の側（図２の上辺
側）ではそのままシール材４の形成領域を貫通して基板
端部まで形成されるとともに、下基板形成領域の外側に
導出されており後述する液晶セルユニットでのコモン電
極検査用引き廻し配線２６としての役割を果たしてい
る。The common electrode lead-out wiring 11 is formed so as to extend in a direction intersecting with all the common electrodes 9 with the insulating film 10 interposed therebetween, and one side in the extending direction (the lower side of FIG. 2). Is divided into two parts on the left and right sides (divided) so as to cover the formation region of the sealing material 4. Since the conductive material such as conductive particles is mixed in the formed sealing material 4, the common electrode routing wiring 11 arranged in the area where the sealing material 4 is formed attaches the upper substrate 2 and the lower substrate 3 together. In this case, the external connection terminals 6 arranged in the formation region of the sealing material 4 on the above-described upper substrate 2 are arranged in a position overlapping in plan view, so that they are electrically connected. That is, due to the action of the conductive material mixed in, the vertical conductive portion 13 that electrically connects the external connection terminal 6 of the upper substrate 2 and the common electrode routing wiring 11 of the lower substrate 3 exists in the sealing material 4. .
Therefore, the common electrode 9 is electrically connected to the external connection terminal 6 for driving the common electrode through the contact hole 12 penetrating the insulating film 10, the common electrode routing wiring 11, and the vertical conduction connection portion 13. There is. Further, on the other side (the upper side of FIG. 2) in the extending direction of the common electrode lead-out wiring 11, the sealing material 4 is formed as it is to the end portion of the substrate and the lower substrate forming area is formed. It is led out to the outside and serves as a common electrode inspection wiring 26 in a liquid crystal cell unit described later.

【００４２】また更に、図２における下基板３の上辺側
の端部には、上述した上基板２上の複数のセグメント電
極７のシール材４の形成領域（矩形の上辺側）にかかる
ように延在された部分と、上基板２と下基板３を貼り合
わせた際に、平面的に重なる位置に後述するセグメント
電極検査用引き廻し配線１４の一部が絶縁膜１０上に残
存して配置される。従って、これらセグメント電極検査
用引き廻し配線１４の一部は、同様にシール材４の形成
領域（矩形の上辺側）にかかるように配置され、上基板
２と下基板３を貼り合わせた際に、セグメント電極７の
シール材４の形成領域にかかるように延在された部分と
平面的に重なる位置に配置されているので、検査用上下
導通部１６を介して各セグメント電極７とセグメント電
極検査用引き廻し配線１４は電気的に接続されている。Further, the end portion on the upper side of the lower substrate 3 in FIG. 2 is formed so as to cover the formation region (the upper side of the rectangle) of the seal material 4 of the plurality of segment electrodes 7 on the upper substrate 2 described above. When the extended portion and the upper substrate 2 and the lower substrate 3 are bonded to each other, a part of a segment electrode inspection routing wiring 14 described later is arranged on the insulating film 10 at a position where they are planarly overlapped with each other. To be done. Therefore, a part of the segment electrode inspection wiring 14 is also arranged so as to cover the formation region (upper side of the rectangle) of the sealing material 4, and when the upper substrate 2 and the lower substrate 3 are bonded together. Since the segment electrode 7 is arranged at a position that overlaps with a portion of the segment electrode 7 that extends in the formation region of the sealing material 4 in plan view, each segment electrode 7 and the segment electrode inspection are performed via the inspection vertical conduction portion 16. The auxiliary wiring 14 is electrically connected.

【００４３】上記構成の上基板２と下基板３を貼り合わ
せると図３のような平面パターンとなるが、セグメント
電極７とコモン電極９とが交差し、平面的に見て重なり
合った各領域が文字や絵柄等の表示を構成する「１ドッ
ト」である。本実施形態での構造では、上基板２のセグ
メント電極７と下基板３のコモン電極引き廻し配線１１
とが平面的に重なる位置に配置され、コンタクトホール
１２も各ドット内にそれぞれ配置されているが、それぞ
れドット外にコンタクトホール１２やこれに対応するコ
モン電極引き廻し配線１１を配置してもよい。また、下
基板３の絶縁膜１０の形成領域は、コンタクトホール１
２部を除いた部分のコモン電極９とコモン電極引き廻し
配線１１との絶縁と、コモン電極引き廻し配線１１とセ
グメント電極検査用引き廻し配線１４との絶縁が図られ
て、コモン電極引き廻し配線１１と上基板２の外部接続
用端子６との電気的な接続（上下導通部）が確保される
ものであればよく、図２，図３の符号１０ａに示す絶縁
膜の縁に限定されるものではない。また、図示は省略し
たが、両基板２，３の周縁部には例えば周辺見切りなど
と呼ばれる遮光層が形成されており、遮光層よりも内側
にある多数のドットがマトリクス状に配列された領域を
「表示領域」という。When the upper substrate 2 and the lower substrate 3 having the above-mentioned structure are attached to each other, a plane pattern as shown in FIG. 3 is obtained, but the segment electrodes 7 and the common electrodes 9 intersect each other, and the respective overlapping regions in a plan view are It is a "1 dot" that constitutes the display of characters and pictures. In the structure of the present embodiment, the segment electrode 7 of the upper substrate 2 and the common electrode wiring 11 of the lower substrate 3
And the contact holes 12 are also arranged in the respective dots, but the contact holes 12 and the common electrode routing wirings 11 corresponding thereto may be arranged outside the respective dots. . In addition, the formation region of the insulating film 10 of the lower substrate 3 is the contact hole 1
Insulation between the common electrode 9 and the common electrode wiring 11 except for the two parts and between the common electrode wiring 11 and the segment electrode inspection wiring 14 are achieved, and the common electrode wiring 11 11 and the external connection terminals 6 of the upper substrate 2 may be secured as long as they are electrically connected (vertical conduction portion), and are limited to the edge of the insulating film shown by reference numeral 10a in FIGS. Not a thing. Although not shown, a light-shielding layer called, for example, a peripheral partition, is formed on the peripheral portions of both substrates 2 and 3, and a large number of dots inside the light-shielding layer are arranged in a matrix. Is called "display area".

【００４４】次に、本実施の形態の液晶装置１の断面構
造を、図４、図５を用いて説明する。図４は、図３の液
晶装置１を、コモン電極駆動用の外部接続用端子６を縦
断する線（図３のＡ−Ａ’線）で切断した断面図であ
り、図５は、セグメント電極駆動用の外部接続用端子５
を縦断する線（図３のＢ−Ｂ’線）で切断した断面図で
ある。これらの図に示すように、ガラス、プラスチック
等の透光性基板からなる上基板２の下面には、インジウ
ム錫酸化物（Indium Tin Oxide, 以下、ＩＴＯと略記す
る）等の透明導電膜からなるセグメント電極７、セグメ
ント電極駆動用の外部接続用端子５、およびコモン電極
駆動用の外部接続用端子６がそれぞれ形成されている。Next, the cross-sectional structure of the liquid crystal device 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 4 is a cross-sectional view of the liquid crystal device 1 of FIG. 3 taken along a line (AA line in FIG. 3) longitudinally cutting the external connection terminal 6 for driving the common electrode, and FIG. External connection terminal 5 for driving
4 is a cross-sectional view taken along a line (longitudinal line BB ′ in FIG. 3) that vertically cuts. As shown in these figures, a transparent conductive film such as indium tin oxide (hereinafter abbreviated as ITO) is formed on the lower surface of the upper substrate 2 made of a transparent substrate such as glass or plastic. A segment electrode 7, an external connection terminal 5 for driving the segment electrode, and an external connection terminal 6 for driving the common electrode are formed respectively.

【００４５】また、ガラス、プラスチック等の透光性基
板からなる下基板３の上面には、ＩＴＯ等の透明導電膜
からなるコモン電極用引き廻し配線１１が形成され、コ
モン電極用引き廻し配線１１を覆うように例えばアクリ
ル系樹脂等からなる絶縁膜１０が形成され、絶縁膜１０
上にＩＴＯ等の透明導電膜からなるコモン電極９、コモ
ン電極用引き廻し配線１１のコモン電極用上下導通接続
部１３およびセグメント電極検査用引き廻し配線１４の
一部が形成されている。セグメント電極７、コモン電極
９およびコモン電極用引き廻し配線１１は表示領域内に
位置するため、透過型液晶装置を構成する場合にはＩＴ
Ｏ等の透明導電膜で形成する必要がある。その一方、コ
モン電極用引き廻し配線１１のコモン電極用上下導通接
続部１３やセグメント電極検査用引き廻し配線１４の一
部（検査用上下導通部１６からシール材４の外側に延在
した部分、或いは検査用上下導通部１６から下基板形成
領域外に向けて延在した部分）は非表示領域に位置する
ため、透明導電膜で形成する必要はない。むしろ、製造
プロセスが多少複雑になることを許容すれば、これらの
部分は低抵抗化を考慮して低抵抗の金属膜を用いて形成
することが望ましい。また、反射型液晶装置を構成する
場合には、コモン電極９をアルミ等の反射性を有する金
属膜を用いて形成するとともに、下基板３上の各種配線
や接続部や端子についても適宜アルミ等の反射性を有す
る金属膜を用いて形成するものである。On the upper surface of the lower substrate 3 made of a transparent substrate such as glass or plastic, a common electrode wiring 11 made of a transparent conductive film such as ITO is formed. The common electrode wiring 11 is formed. An insulating film 10 made of, for example, acrylic resin is formed so as to cover the insulating film 10.
A common electrode 9 made of a transparent conductive film such as ITO, a common electrode vertical conduction connection portion 13 of the common electrode routing wiring 11, and a part of the segment electrode testing routing wiring 14 are formed on the top. Since the segment electrode 7, the common electrode 9 and the common electrode lead-out wiring 11 are located in the display area, when the transmissive liquid crystal device is constructed, IT is used.
It is necessary to form the transparent conductive film such as O. On the other hand, a part of the common electrode vertical conduction connection portion 13 of the common electrode routing wiring 11 and the segment electrode inspection routing wiring 14 (a portion extending from the inspection vertical conduction portion 16 to the outside of the seal material 4, Alternatively, the portion extending from the inspection vertical conduction portion 16 toward the outside of the lower substrate formation region) is located in the non-display region, and therefore it is not necessary to form the transparent conductive film. Rather, if the manufacturing process is allowed to be somewhat complicated, it is desirable to form these portions using a low-resistance metal film in consideration of the reduction in resistance. Further, in the case of forming a reflective liquid crystal device, the common electrode 9 is formed using a reflective metal film such as aluminum, and various wirings, connecting portions and terminals on the lower substrate 3 are appropriately made of aluminum or the like. It is formed by using a metal film having the above reflective property.

【００４６】上基板２と下基板３とはシール材４によっ
て貼り合わされ、双方の基板２，３とシール材４によっ
て囲まれた空間にＳＴＮ（Super Twisted Nematic）液
晶等からなる液晶１５が封入されている。なお、図４、
図５では図示を省略したが、双方の基板２，３の最も液
晶層側には配向膜が形成されている。The upper substrate 2 and the lower substrate 3 are bonded together by a seal material 4, and a liquid crystal 15 made of STN (Super Twisted Nematic) liquid crystal or the like is sealed in a space surrounded by both the substrates 2, 3 and the seal material 4. ing. In addition, in FIG.
Although not shown in FIG. 5, an alignment film is formed on the most liquid crystal layer side of both substrates 2 and 3.

【００４７】（液晶セルユニットの構成）次に、液晶セ
ルユニットおよび検査用導電部の構成について図６〜図
１１を用いて説明する。図６は、本実施の形態の液晶セ
ルユニットのうち、上基板母材２０のみを取り出して示
す平面図、図７は、下基板母材２２のみを取り出して示
す平面図、図８は、下基板母材２２の構成を示す図７の
右上の下基板形成領域２３の周辺部分を拡大して示す平
面図、図９は、上下の基板母材を貼り合わせた状態で図
６、図７の右上の上基板形成領域２１と下基板形成領域
２３によって構成される液晶セルの部分を拡大して示す
平面図、図１０は、下基板母材２２の断面構造を示す図
であって図８のＡ−Ａ’線に沿う断面図、図１１は液晶
セルユニットの全体構成を示す図であって図９のＢ−
Ｂ’線に沿う断面図である。(Structure of Liquid Crystal Cell Unit) Next, the structure of the liquid crystal cell unit and the conductive portion for inspection will be described with reference to FIGS. 6 is a plan view showing only the upper substrate base material 20 out of the liquid crystal cell unit of the present embodiment, FIG. 7 is a plan view showing only the lower substrate base material 22 taken out, and FIG. 7 is a plan view showing the peripheral portion of the lower substrate forming region 23 in the upper right of FIG. 7 showing the structure of the substrate base material 22, and FIG. 9 is a plan view of FIG. 6 and FIG. 8 is an enlarged plan view showing a portion of a liquid crystal cell constituted by an upper substrate forming region 21 and a lower substrate forming region 23 on the upper right, and FIG. 10 is a diagram showing a cross-sectional structure of the lower substrate base material 22. FIG. 11 is a cross-sectional view taken along the line AA ′, FIG. 11 is a view showing the overall configuration of the liquid crystal cell unit, and
It is sectional drawing which follows the B'line.

【００４８】図６、図７に示すように、本実施の形態の
液晶セルユニットは、複数の上基板形成領域（第１の基
板形成領域）２１を有し、各上基板形成領域２１の外周
に沿って切断することにより、複数の上基板２（第１の
基板）を切り出すことが可能なガラス、透明樹脂等から
なる上基板母材（第１の基板母材）２０と、複数の下基
板形成領域（第２の基板形成領域）２３を有し、各下基
板形成領域２３の外周に沿って切断することにより、複
数の下基板３を切り出すことが可能なガラス、透明樹脂
等からなる下基板母材（第２の基板母材）２２とを具備
している。そして、上基板母材２０の各上基板形成領域
２１と、下基板母材２２の各下基板形成領域２３とがシ
ール材４を介して貼着されている。As shown in FIGS. 6 and 7, the liquid crystal cell unit of the present embodiment has a plurality of upper substrate forming regions (first substrate forming regions) 21, and the outer periphery of each upper substrate forming region 21. A plurality of upper substrates 2 (first substrates) can be cut by cutting along the upper substrate base material (first substrate base material) 20 made of glass, transparent resin, or the like, and a plurality of lower substrates. It has a substrate formation region (second substrate formation region) 23, and is made of glass, transparent resin, or the like that can cut out a plurality of lower substrates 3 by cutting along the outer periphery of each lower substrate formation region 23. And a lower substrate base material (second substrate base material) 22. Then, each upper substrate forming region 21 of the upper substrate base material 20 and each lower substrate forming region 23 of the lower substrate base material 22 are attached via the sealing material 4.

【００４９】そして、本実施の形態の液晶セルユニット
において、シール材４を介して貼着された各上基板形成
領域２１と各下基板形成領域２３により１個の液晶セル
が構成されており、本実施の形態の液晶セルユニットを
各上基板形成領域２１と各下基板形成領域２３の外周に
沿って切断することにより、複数の液晶セルに分割する
ことができ、各液晶セルから液晶装置を製造することが
可能な構成になっている。なお、１組の液晶セルユニッ
トの中に形成する液晶セルの個数については適宜設計す
ることが可能である。In the liquid crystal cell unit of this embodiment, one liquid crystal cell is composed of each upper substrate forming region 21 and each lower substrate forming region 23 that are adhered via the sealing material 4. The liquid crystal cell unit of the present embodiment can be divided into a plurality of liquid crystal cells by cutting along the outer peripheries of the upper substrate forming regions 21 and the lower substrate forming regions 23, and a liquid crystal device can be formed from each liquid crystal cell. It has a structure that can be manufactured. The number of liquid crystal cells formed in one set of liquid crystal cell units can be appropriately designed.

【００５０】また上述したように、液晶装置１を構成す
る上基板２と下基板３の形状が異なっている（下基板か
ら上基板の一端がはみ出している）ことから、液晶セル
ユニットにおいても、各液晶セルを構成する上基板形成
領域２１と下基板形成領域２３とは異なる形状で形成さ
れている。具体的には、各液晶セルにおいて、上基板形
成領域２１、下基板形成領域２３は、上基板形成領域２
１の図示下端部が下基板形成領域２３よりも外側に位置
してはみ出しており、この上基板形成領域２１のはみ出
した領域３５に外部接続用端子５，６が設けられてい
る。また、上基板形成領域２１の外部接続用端子５，６
と対向する部分は、本実施の形態の液晶セルユニットを
複数の液晶セルに分割する際に切り落とされる端材部分
Ｈ１となっている。Further, as described above, since the upper substrate 2 and the lower substrate 3 forming the liquid crystal device 1 have different shapes (one end of the upper substrate protrudes from the lower substrate), the liquid crystal cell unit also has The upper substrate forming region 21 and the lower substrate forming region 23 forming each liquid crystal cell are formed in different shapes. Specifically, in each liquid crystal cell, the upper substrate forming region 21 and the lower substrate forming region 23 are the upper substrate forming region 2
The lower end portion of 1 in the figure is located outside the lower substrate forming region 23 and protrudes, and the external connection terminals 5 and 6 are provided in the protruding region 35 of the upper substrate forming region 21. In addition, the external connection terminals 5, 6 in the upper substrate formation region 21
The portion opposite to is the end material portion H1 that is cut off when the liquid crystal cell unit of the present embodiment is divided into a plurality of liquid crystal cells.

【００５１】また、図６、図７に示すように、本実施の
形態の液晶セルユニットにおいて、上基板母材２０の上
基板形成領域２１は、図示上下左右方向（セグメント電
極７が配列する方向、及びセグメント電極７が延在する
方向）にはともに隙間なく形成されている。また、下基
板母材２２の下基板形成領域２３は、図示左右方向（コ
モン電極９が延在する方向）には隙間なく形成されてい
るとともに、最密に配置されている。なお、液晶セルユ
ニットにおいて、液晶セルが形成されていない周縁部
は、複数の液晶セルに分割する際に切り落とされる端材
部分Ｈ２になっている。Further, as shown in FIGS. 6 and 7, in the liquid crystal cell unit of the present embodiment, the upper substrate forming region 21 of the upper substrate base material 20 is in the vertical and horizontal directions in the drawing (direction in which the segment electrodes 7 are arranged). , And the segment electrodes 7 extend in the same direction) without any gap. Further, the lower substrate forming region 23 of the lower substrate base material 22 is formed without gaps in the left-right direction in the drawing (direction in which the common electrode 9 extends), and is arranged most densely. In the liquid crystal cell unit, the peripheral portion where the liquid crystal cell is not formed is an end material portion H2 that is cut off when the liquid crystal cell is divided into a plurality of liquid crystal cells.

【００５２】（検査用導電部の構成）さらに、本実施の
形態の液晶セルユニットでは、１個の液晶セルに着目し
た場合、上基板形成領域２１に形成された各セグメント
電極７が検査用上下導通部１６を介してセグメント電極
検査用引き廻し配線１４に電気的に接続されているとと
もに、全てのセグメント電極検査用引き廻し配線１４が
セグメント電極検査用導電部２５に電気的に接続されて
いる。また、下基板形成領域２３に形成された各コモン
電極９がコモン電極検査用引き廻し配線２６として上記
セグメント電極検査用引き廻し配線１４が配置形成され
る側にそのまま延在され、下基板形成領域２３の外側に
導出されているとともに、全てのコモン電極検査用引き
廻し配線２６がコモン電極検査用導電部２７に電気的に
接続されている。以下、各電極と各電極検査用引き廻し
配線と各検査用導電部の接続構造について詳述する。(Construction of Conducting Section for Inspection) Further, in the liquid crystal cell unit of the present embodiment, when attention is paid to one liquid crystal cell, each segment electrode 7 formed in the upper substrate forming region 21 is arranged above and below the inspection. The lead wires 14 for segment electrode inspection are electrically connected through the conducting portions 16, and all the lead wires 14 for segment electrode inspection are electrically connected to the conductor portion 25 for segment electrode inspection. . Further, each common electrode 9 formed in the lower substrate formation region 23 extends as it is as a common electrode inspection routing wiring 26 to the side where the segment electrode inspection routing wiring 14 is arranged and formed. All of the common electrode inspection lead-out wirings 26 are led out to the outside of 23 and are electrically connected to the common electrode inspection conductive portion 27. Hereinafter, the connection structure of each electrode, each electrode inspection wiring and each inspection conductive portion will be described in detail.

【００５３】図８および図１０に示すように、下基板母
材２２の絶縁膜１０上には、上述の液晶装置１の構成に
関する説明の個所で「下基板３上に一部が残存してい
る」として説明した複数のセグメント電極検査用引き廻
し配線１４が形成されている。これらセグメント電極検
査用引き廻し配線１４はセグメント電極７の延在する方
向で下基板形成領域２３内に延在した形状であり、上下
の基板母材２０，２２を貼り合わせた際にセグメント電
極７と平面的に重なり、しかもシール材４の形成領域
（検査用上下導通部１６）にかかるように配置されてい
る。そして、全てのセグメント電極検査用引き廻し配線
１４を電気的に接続するセグメント電極検査用導電部２
５が形成されている。セグメント電極検査用導電部２５
は、セグメント電極検査用引き廻し配線１４の延在方向
と略直交する方向（図における横方向）に延在し、下基
板母材２２の両側の最端部にまで延在している。As shown in FIGS. 8 and 10, on the insulating film 10 of the lower substrate base material 22, "a part of the lower substrate 3 is left on the lower substrate 3" in the description of the configuration of the liquid crystal device 1 described above. A plurality of segment electrode inspection routing wires 14 described as “there are” are formed. The segment electrode inspection wiring 14 has a shape extending in the lower substrate forming region 23 in the direction in which the segment electrode 7 extends, and when the upper and lower substrate base materials 20 and 22 are bonded together, Is overlapped in a plane, and is arranged so as to overlap the region where the sealing material 4 is formed (the vertical conducting portion 16 for inspection). Then, the segment electrode inspection conductive portion 2 that electrically connects all of the segment electrode inspection lead wires 14
5 is formed. Conductive part for segment electrode inspection 25
Extend in a direction (horizontal direction in the drawing) substantially orthogonal to the extending direction of the segment electrode inspection wiring 14 and extend to the outermost ends on both sides of the lower substrate base material 22.

【００５４】複数のセグメント電極検査用引き廻し配線
１４の各々は、図１１に示すように、シール材４内部の
導電粒子等の導通材の作用による上下導通部１６を介し
て両基板間（上下方向）で複数のセグメント電極７の各
々と電気的に接続されている。これにより、各セグメン
ト電極７がセグメント電極検査用導電部２５と電気的に
接続されている。As shown in FIG. 11, each of the plurality of lead-out wirings 14 for inspecting the segment electrodes is connected between the two substrates (upper and lower) via a vertical conducting portion 16 by the action of a conducting material such as conductive particles in the sealing material 4. Direction) and is electrically connected to each of the plurality of segment electrodes 7. As a result, each segment electrode 7 is electrically connected to the segment electrode inspection conductive portion 25.

【００５５】一方、図８、図１０に示すように、下基板
母材２２の絶縁膜１０下には、複数のコモン電極用引き
廻し配線１１の各々を延在して下基板形成領域２３外に
導出した複数のコモン電極検査用引き廻し配線２６が形
成されている。これらコモン電極検査用引き廻し配線２
６はコモン電極９の延在方向に略直交する方向に延在し
た形状となっている。そして、全てのコモン電極検査用
引き廻し配線２６を電気的に接続するコモン電極検査用
導電部２７が形成されている。コモン電極検査用電極２
７は、コモン電極検査用引き廻し配線１１の延在方向と
略直交する方向（図８における横方向）に延在し、下基
板母材２２の最端部にまで延在している。また、図８で
はコモン電極検査用引き廻し配線２６とセグメント電極
検査用引き廻し配線１４は平面的に重なる領域に形成さ
れているが異なっていても良く、絶縁膜を介在して下基
板形成領域２３の同じ側で外側に向けて導出されていれ
ば良い。更に、下基板形成領域２３外で略平行に位置す
るセグメント電極検査用導電部２５とコモン電極検査用
導電部２７の平面的な相互の配置関係は、絶縁膜１０を
介しているのでコモン電極検査用導電部２７を下基板形
成領域２３側、セグメント電極検査用導電部２５を更に
コモン電極検査用導電部２７の外側に配置する構成とし
ても良い。On the other hand, as shown in FIGS. 8 and 10, under the insulating film 10 of the lower substrate base material 22, each of the plurality of common electrode routing wires 11 is extended to extend outside the lower substrate formation region 23. A plurality of common electrode inspection leading wirings 26 derived from the above are formed. These common electrode inspection wiring 2
6 has a shape extending in a direction substantially orthogonal to the extending direction of the common electrode 9. Then, a common electrode inspection conductive portion 27 that electrically connects all the common electrode inspection lead-out wirings 26 is formed. Common electrode inspection electrode 2
7 extends in a direction (horizontal direction in FIG. 8) substantially orthogonal to the extending direction of the common electrode inspection routing wiring 11 and extends to the outermost portion of the lower substrate base material 22. Further, in FIG. 8, the common electrode inspection routing wiring 26 and the segment electrode inspection routing wiring 14 are formed in a region overlapping in plan view, but they may be different, and the lower substrate formation region may be interposed with the insulating film interposed. It suffices if it is led out toward the outside on the same side of 23. Furthermore, since the segment electrode inspection conductive portion 25 and the common electrode inspection conductive portion 27, which are located substantially parallel to each other outside the lower substrate formation region 23, have a planar mutual positional relationship with the insulating film 10 interposed therebetween, the common electrode inspection is performed. It is also possible to dispose the conductive portion 27 for use in the lower substrate forming region 23 and the conductive portion 25 for segment electrode inspection further outside the conductive portion for common electrode inspection 27.

【００５６】ここでは、セグメント電極検査用導電部２
５、コモン電極検査用導電部２７の両端をそれぞれ下基
板母材２２の最端部にまで延在した例を示したが、これ
ら検査用導電部２５，２７の少なくとも一端を、下基板
母材２２の最端部にまで延設した構成であればよい。ま
た、セグメント電極検査用導電部２５とセグメント電極
検査用引き廻し配線１４とは同じ導電性材料で一体に形
成してもよいし、異なる導電性材料で個別に形成したも
のを接続しても良い。コモン電極検査用導電部２７とコ
モン電極検査用引き廻し配線２６、さらにコモン電極用
引き廻し配線１１は同じ導電性材料で全てを一体に形成
してもよいし、異なる導電性材料で個別に形成したもの
を接続しても良い。Here, the conductive portion 2 for segment electrode inspection is used.
5 shows an example in which both ends of the common electrode inspection conductive portion 27 are extended to the outermost end of the lower substrate base material 22, respectively. At least one end of these inspection conductive portions 25 and 27 is connected to the lower substrate base material. Any configuration may be used as long as it extends to the extreme end of 22. The segment electrode inspection conductive portion 25 and the segment electrode inspection lead-out wiring 14 may be integrally formed of the same conductive material, or may be formed separately of different conductive materials and connected. . The common electrode inspection conductive portion 27, the common electrode inspection lead-out wiring 26, and the common electrode lead-out wiring 11 may all be integrally formed of the same conductive material, or may be individually formed of different conductive materials. You may connect what you have done.

【００５７】すなわち、本実施の形態の検査用引き廻し
配線、及び検査用導電部は、同様な形状、構成のセグメ
ント電極検査用引き廻し配線１４、セグメント電極検査
用導電部２５とコモン電極検査用引き廻し配線２６、コ
モン電極検査用導電部２７とが絶縁膜１０の上下に形成
された構成となっている。ただし、セグメント電極検査
用とコモン電極検査用とではセグメント電極７、コモン
電極９との接続の際に導電材を含むシール材４（基板間
での上下導通部）を介在しているか否かが異なってい
る。That is, the lead-out wiring for inspection and the conductive portion for inspection of this embodiment have the same shape and configuration as the lead-out wiring 14 for segment electrode inspection, the conductive portion 25 for segment electrode inspection and the common electrode inspection. The lead-out wiring 26 and the common electrode inspection conductive portion 27 are formed above and below the insulating film 10. However, for the segment electrode inspection and the common electrode inspection, whether or not the seal material 4 (the vertical conduction portion between the substrates) including the conductive material is interposed when connecting the segment electrode 7 and the common electrode 9. Is different.

【００５８】１本のセグメント電極検査用導電部２５
は、図８に示すような１個の液晶セル内の全てのセグメ
ント電極検査用引き廻し配線１４を電気的に接続するの
みならず、図７に示すように、図７における左右方向
（セグメント電極検査用導電部２５の延在する方向）に
並ぶ１行の全ての液晶セルの全てのセグメント電極検査
用引き廻し配線１４を電気的に接続している。コモン電
極９側も同様であり、１本のコモン電極検査用電極２７
は、図７における左右方向（コモン電極検査用導電部２
７の延在する方向）に並ぶ１行の全ての液晶セルの全て
のコモン電極検査用引き廻し配線２６を電気的に接続し
ている。One segment electrode inspection conductive part 25
Not only electrically connect all the segment electrode inspection routing wires 14 in one liquid crystal cell as shown in FIG. 8, but also as shown in FIG. All the segment electrode inspection lead-out wirings 14 of all the liquid crystal cells in one row arranged in the inspection conductive portion 25 are electrically connected. The same applies to the common electrode 9 side, and one common electrode inspection electrode 27
Is in the left-right direction in FIG. 7 (common electrode inspection conductive portion 2
All the common electrode inspection wirings 26 of all the liquid crystal cells in one row arranged in the direction 7) are electrically connected.

【００５９】図９において、Ｃ１−Ｃ１’線、Ｃ２−Ｃ
２’線、Ｃ３−Ｃ３’線、Ｃ４−Ｃ４’線はこれらの線
に沿って上基板母材２０と下基板母材２２の双方を切断
する切断線、Ｄ１−Ｄ１’線は下基板母材２２のみを切
断する切断線を示している。このように、セグメント電
極検査用導電部２５とコモン電極検査用導電部２７、及
びセグメント電極検査用引き廻し配線１４とコモン電極
検査用引き廻し配線２６の基板形成領域外に導出された
部分は、液晶セルユニットを複数の液晶セルに分割する
際に切り落とされる端材部分Ｈ１に形成されている。よ
って、分割前には一つの液晶セル内の全てのセグメント
電極７、さらには左右方向に隣接する１行全ての液晶セ
ルの全てのセグメント電極７がセグメント電極検査用導
電部２５に接続され、一つの液晶セル内の全てのコモン
電極９、さらには左右方向に隣接する１行全ての液晶セ
ルの全てのコモン電極９がコモン電極検査用導電部２７
に接続されており、検査時に一括して電圧印加が可能で
あるが、分割後はセグメント電極検査用導電部２５とコ
モン電極検査用導電部２７、及びセグメント電極検査用
引き廻し配線１４とコモン電極検査用引き廻し配線２６
の基板形成領域外に導出された部分が切り落とされ、全
てのセグメント電極７、コモン電極９が電気的に接続さ
れず、切り離された状態となる。In FIG. 9, C1-C1 'line, C2-C
The 2'line, the C3-C3 'line and the C4-C4' line are cutting lines that cut both the upper substrate base material 20 and the lower substrate base material 22 along these lines, and the D1-D1 'line is the lower substrate base material. A cutting line for cutting only the material 22 is shown. In this manner, the segment electrode inspection conductive portion 25, the common electrode inspection conductive portion 27, the segment electrode inspection lead-out wiring 14 and the common electrode inspection lead-out wiring 26 are led out to the outside of the substrate forming region. It is formed in an end material portion H1 cut off when the liquid crystal cell unit is divided into a plurality of liquid crystal cells. Therefore, before the division, all the segment electrodes 7 in one liquid crystal cell, and further, all the segment electrodes 7 of all the liquid crystal cells in one row that are adjacent to each other in the left-right direction are connected to the segment electrode inspection conductive portion 25. All the common electrodes 9 in one liquid crystal cell, and further, all the common electrodes 9 of all the liquid crystal cells in one row that are adjacent to each other in the left-right direction are the common electrode inspection conductive portions 27.
, And voltage can be applied collectively at the time of the inspection, but after the division, the segment electrode inspection conductive portion 25 and the common electrode inspection conductive portion 27, and the segment electrode inspection lead-out wiring 14 and the common electrode are connected. Inspection wiring 26
The part led out to the outside of the substrate forming region is cut off, and all the segment electrodes 7 and the common electrode 9 are not electrically connected but are separated.

【００６０】図９においては、この図に示した液晶セル
の全てのセグメント電極７を検査するためのセグメント
電極検査用導電部２５と全てのコモン電極９を検査する
ためのコモン電極検査用導電部２７、及びセグメント電
極検査用引き廻し配線１４とコモン電極検査用引き廻し
配線２６の基板形成領域外に導出された部分がＣ１−Ｃ
１’線の上側に図示されているが、セグメント電極検査
用導電部２５、コモン電極検査用導電部２７、セグメン
ト電極検査用引き廻し配線１４とコモン電極検査用引き
廻し配線２６の基板形成領域外に導出された部分が、Ｄ
１−Ｄ１’線とＣ２−Ｃ２’線との間の下基板母材２２
上にも当該液晶セルの図示下側に位置する液晶セル用
（隣接する他の液晶セル用）として形成されている。そ
して、これらセグメント電極検査用導電部２５、コモン
電極検査用導電部２７、セグメント電極検査用引き廻し
配線１４とコモン電極検査用引き廻し配線２６の基板形
成領域外に導出された部分は、上基板形成領域２１の外
部接続用端子５，６が形成された領域３５と対向する位
置関係にある。In FIG. 9, a segment electrode inspecting conductive portion 25 for inspecting all the segment electrodes 7 and a common electrode inspecting conductive portion for inspecting all the common electrodes 9 of the liquid crystal cell shown in FIG. 27, and the portion of the lead-out wiring 14 for segment electrode inspection and the lead-out wiring for common electrode inspection 26, which is led out of the substrate forming region, is C1-C.
Although illustrated on the upper side of the line 1 ′, the segment electrode inspection conductive portion 25, the common electrode inspection conductive portion 27, the segment electrode inspection lead-out wiring 14 and the common electrode inspection lead-out wiring 26 are outside the substrate forming area. The part derived to
Lower substrate base material 22 between 1-D1 'line and C2-C2' line
It is also formed on the upper side for a liquid crystal cell located on the lower side of the liquid crystal cell in the figure (for another adjacent liquid crystal cell). The segment electrode inspection conductive portion 25, the common electrode inspection conductive portion 27, the segment electrode inspection lead-out wiring 14 and the common electrode inspection lead-out wiring 26 are led out to the outside of the substrate forming area. It is in a positional relationship of facing the region 35 of the formation region 21 where the external connection terminals 5 and 6 are formed.

【００６１】このように、本実施の形態の液晶セルユニ
ットでは、上基板母材２０上に形成されたセグメント電
極７が下基板母材２２の最端部にまで延設されたセグメ
ント電極検査用導電部２５に電気的に接続されており、
下基板母材２２上に形成されたコモン電極９が下基板母
材２２の最端部にまで延設されたコモン電極検査用導電
部２７に電気的に接続されているので、下基板母材２２
の最端部にまで延設されたセグメント電極検査用導電部
２５、コモン電極検査用導電部２７に対して電圧を印加
し、欠陥検査を行うことにより、液晶セルユニットを構
成する全ての液晶セルの電極欠陥検査を一括して行うこ
とができる。また、セグメント電極検査用導電部２５、
コモン電極検査用導電部２７の少なくとも一端が最端部
に位置するように、本実施の形態の液晶セルユニットを
複数の液晶セルユニットに分割することができるので、
この液晶セルユニットを分割して得られる液晶セルユニ
ットについても同様に、全ての液晶セルの電極欠陥検査
を一括して行うことができる。As described above, in the liquid crystal cell unit according to the present embodiment, the segment electrode 7 formed on the upper substrate base material 20 is extended to the outermost end of the lower substrate base material 22 for segment electrode inspection. Electrically connected to the conductive portion 25,
Since the common electrode 9 formed on the lower substrate base material 22 is electrically connected to the common electrode inspecting conductive portion 27 extending to the most end portion of the lower substrate base material 22, the lower substrate base material 22 is formed. 22
All the liquid crystal cells constituting the liquid crystal cell unit are applied by applying a voltage to the segment electrode inspecting conductive portion 25 and the common electrode inspecting conductive portion 27 extending to the end of the liquid crystal cell unit. The electrode defect inspection can be collectively performed. In addition, the conductive portion 25 for segment electrode inspection,
Since the liquid crystal cell unit of the present embodiment can be divided into a plurality of liquid crystal cell units so that at least one end of the common electrode inspection conductive portion 27 is located at the most end portion,
Similarly, for liquid crystal cell units obtained by dividing this liquid crystal cell unit, electrode defect inspection of all liquid crystal cells can be performed collectively.

【００６２】よって、本実施の形態の液晶セルユニット
を用いて液晶装置を製造することにより、本実施の形態
の液晶セルユニット、もしくは本実施の形態の液晶セル
ユニットを分割して得られる液晶セルユニットに対し
て、電極欠陥検査を行うことができるので、単品の液晶
セルに分割する前に複数の液晶セルの電極欠陥検査を一
括して行うことができる。その結果、検査工程を大幅に
簡略化することができ、製造プロセスの簡略化を図るこ
とができる。なお、本実施の形態の液晶セルユニット、
あるいは、本実施の形態の液晶セルユニットを分割して
得られる液晶セルユニットの電極欠陥検査方法の詳細に
ついては後述する。Therefore, by manufacturing a liquid crystal device using the liquid crystal cell unit of this embodiment, the liquid crystal cell unit of this embodiment or a liquid crystal cell obtained by dividing the liquid crystal cell unit of this embodiment. Since the electrode defect inspection can be performed on the unit, the electrode defect inspection of a plurality of liquid crystal cells can be collectively performed before dividing the unit into a single liquid crystal cell. As a result, the inspection process can be greatly simplified, and the manufacturing process can be simplified. The liquid crystal cell unit of the present embodiment,
Alternatively, details of the electrode defect inspection method of the liquid crystal cell unit obtained by dividing the liquid crystal cell unit of the present embodiment will be described later.

【００６３】また、本実施の形態の液晶セルユニットで
は、各セグメント電極７に対してセグメント電極検査用
引き廻し配線１４をそれぞれ接続するとともに、複数の
セグメント電極検査用引き廻し配線１４を束ねてセグメ
ント電極検査用導電部２５に接続する構成を採用してい
るので、セグメント電極検査用導電部２５の本数をセグ
メント電極７の本数に比較して大幅に低減することがで
きる。また同様に、各コモン電極９に対してコモン電極
検査用引き廻し配線２６をそれぞれ接続するとともに、
複数のコモン電極検査用引き廻し配線２６を束ねてコモ
ン電極検査用導電部２７に接続する構成を採用している
ので、コモン電極検査用導電部２７の本数をコモン電極
９の本数に比較して大幅に低減することができる。In the liquid crystal cell unit of the present embodiment, the segment electrode inspection wiring 14 is connected to each segment electrode 7, and a plurality of segment electrode inspection wiring 14 are bundled to form a segment. Since the structure for connecting to the electrode inspection conductive portion 25 is adopted, the number of the segment electrode inspection conductive portions 25 can be significantly reduced as compared with the number of the segment electrodes 7. Similarly, the common electrode inspection wiring 26 is connected to each common electrode 9, and
Since a plurality of common electrode inspection lead-out wirings 26 are bundled and connected to the common electrode inspection conductive portion 27, the number of common electrode inspection conductive portions 27 is compared with the number of common electrodes 9. It can be significantly reduced.

【００６４】つまり、本実施の形態の液晶セルユニット
内には左右方向（セグメント電極検査用導電部２５，コ
モン電極検査用導電部２７の延在する方向）に複数個の
液晶セルが並び、各液晶セルには多数のセグメント電極
７、コモン電極９が形成されているにもかかわらず、検
査用導電部の本数は僅か２本である。したがって、電極
ピッチが非常に微細な高精細な液晶装置を製造するため
の液晶セルユニットに対して検査用プローブを用いて検
査を行う場合においても、検査する検査用導電部の数が
少ないことに加えて、検査用プローブを接触させる検査
用導電部のピッチを大きく確保することができるので、
正確かつ迅速に検査を行うことができる。That is, in the liquid crystal cell unit of the present embodiment, a plurality of liquid crystal cells are arranged in the left-right direction (direction in which the segment electrode inspection conductive portion 25 and the common electrode inspection conductive portion 27 extend). Although the liquid crystal cell has a large number of segment electrodes 7 and common electrodes 9, the number of conductive portions for inspection is only two. Therefore, even when an inspection probe is used to inspect a liquid crystal cell unit for manufacturing a high-definition liquid crystal device having a very fine electrode pitch, the number of inspection conductive portions to be inspected is small. In addition, since it is possible to secure a large pitch of the conductive portion for inspection with which the probe for inspection is brought into contact,
The inspection can be performed accurately and quickly.

【００６５】さらに、本実施の形態の液晶セルユニット
では、各検査用導電部２５，２７を複数の液晶セルに分
割する際に切り落とされる端材部分Ｈ１に形成する構成
としている。この構成により、本実施の形態の液晶セル
ユニットに検査用導電部２５，２７を形成しても液晶装
置１にはこれら検査用導電部２５，２７が残らないた
め、得られる液晶装置において隣接するセグメント電極
７、あるいは隣接するコモン電極９が検査用導電部２
５，２７の存在によって短絡する恐れがないとともに
に、得られる液晶装置の非表示領域（額縁領域）が検査
用導電部２５，２７の存在によって大きくなる恐れもな
い。Further, in the liquid crystal cell unit of the present embodiment, each inspection conductive portion 25, 27 is formed in the end material portion H1 which is cut off when dividing into a plurality of liquid crystal cells. With this structure, even if the conductive portions 25 and 27 for inspection are formed in the liquid crystal cell unit of the present embodiment, the conductive portions 25 and 27 for inspection are not left in the liquid crystal device 1, and therefore they are adjacent to each other in the obtained liquid crystal device. The segment electrode 7 or the adjacent common electrode 9 is the conductive portion 2 for inspection.
There is no risk of short-circuiting due to the presence of 5, 27, and there is also no risk of the non-display region (frame region) of the obtained liquid crystal device becoming larger due to the presence of the conductive portions for inspection 25, 27.

【００６６】さらに本実施の形態の場合、図８に示した
ように、下基板母材２２上の複数のコモン電極９の下層
側に絶縁膜１０を介して複数のコモン電極用引き廻し配
線１１が設けられており、これらコモン電極用引き廻し
配線１１の各々とコモン電極９の各々とがコンタクトホ
ール１２を通じて電気的に接続されているので、下基板
母材２２上の配線の引き廻し構造が３次元的に構成され
ている。すなわち、複数のコモン電極９が短絡しないよ
うに配線を引き廻す際に、複数のコモン電極９と平面的
に重なる位置にコモン電極用引き廻し配線１１を配置す
ることができる。このような構成により、液晶装置１の
額縁領域をより狭くすることができ、表示領域の大きな
液晶装置を提供することができる。Further, in the case of the present embodiment, as shown in FIG. 8, a plurality of common electrode lead-out wirings 11 are provided under the plurality of common electrodes 9 on the lower substrate base material 22 via the insulating film 10. Are provided, and each of the common electrode routing wires 11 and each of the common electrodes 9 are electrically connected through the contact holes 12, so that the wiring routing structure on the lower substrate base material 22 is It has a three-dimensional structure. That is, when the wiring is routed so that the plurality of common electrodes 9 are not short-circuited, the common electrode routing wiring 11 can be arranged at a position that overlaps the plurality of common electrodes 9 in plan view. With such a configuration, the frame area of the liquid crystal device 1 can be made narrower, and a liquid crystal device having a large display area can be provided.

【００６７】（液晶セルユニットの製造方法、及び液晶
装置の製造方法）次に、上記液晶セルユニットの製造方
法、および本実施形態の液晶セルユニットから液晶装置
を製造する方法について説明する。最初に、上基板母材
２０を用意し、上基板母材２０の内面に必要な要素を形
成する。すなわち、上基板母材２０に、フォトリソグラ
フィー法等により所定のパターンのセグメント電極７、
外部接続用端子５，６等を形成し、次いで、セグメント
電極７上に配向膜を形成する。次に、必要な要素を形成
した上基板母材２０の各上基板形成領域２１の周縁部に
未硬化のシール材４を印刷した後、未硬化のシール材４
により囲まれた領域にディスペンス法等によって液晶の
液滴を滴下することにより、各上基板形成領域２１に液
晶層１５を形成する。(Method for Manufacturing Liquid Crystal Cell Unit and Method for Manufacturing Liquid Crystal Device) Next, a method for manufacturing the above liquid crystal cell unit and a method for manufacturing a liquid crystal device from the liquid crystal cell unit of this embodiment will be described. First, the upper substrate base material 20 is prepared, and necessary elements are formed on the inner surface of the upper substrate base material 20. That is, the segment electrode 7 having a predetermined pattern is formed on the upper substrate base material 20 by a photolithography method or the like.
External connection terminals 5, 6 and the like are formed, and then an alignment film is formed on the segment electrodes 7. Next, after the uncured sealing material 4 is printed on the peripheral portion of each upper substrate forming region 21 of the upper substrate base material 20 on which necessary elements are formed, the uncured sealing material 4 is printed.
The liquid crystal layer 15 is formed in each upper substrate formation region 21 by dropping liquid crystal droplets by a dispense method or the like in a region surrounded by.

【００６８】一方、下基板母材２２を用意し、下基板母
材２２の内面に必要な要素を形成する。すなわち、下基
板母材２２に、フォトリソグラフィー法等により所定の
パターンのコモン電極用引き廻し配線１１、コモン電極
検査用引き廻し配線２６、コモン電極検査用導電部２７
等を形成し、これらを覆う絶縁膜１０を形成した後、フ
ォトリソグラフィー法により絶縁膜１０の縁１０ａとし
て示した位置でパターニングすると同時にコンタクトホ
ール１２を形成する。次に、再度フォトリソグラフィー
法等により所定のパターンのコモン電極９、セグメント
電極検査用引き廻し配線１４、セグメント電極検査用導
電部２５等を形成し、次いで、コモン電極９上に配向膜
（図示略）を形成する。次に、必要な要素を形成した下
基板母材２２の各下基板形成領域２３にセルギャップを
保持するためのスペーサを散布する。On the other hand, the lower substrate base material 22 is prepared, and necessary elements are formed on the inner surface of the lower substrate base material 22. That is, the common electrode routing wiring 11 having a predetermined pattern, the common electrode testing routing wiring 26, and the common electrode testing conductive portion 27 in a predetermined pattern on the lower substrate base material 22.
Etc., and the insulating film 10 covering them is formed, and then patterning is performed at the position shown as the edge 10a of the insulating film 10 by the photolithography method, and at the same time, the contact hole 12 is formed. Next, the common electrode 9, the segment electrode inspection wiring 14, the segment electrode inspection conductive portion 25, and the like having a predetermined pattern are formed again by the photolithography method or the like, and then the alignment film (not shown) is formed on the common electrode 9. ) Is formed. Next, spacers for maintaining a cell gap are scattered on each lower substrate forming region 23 of the lower substrate base material 22 on which necessary elements are formed.

【００６９】次に、液晶層１５を形成した上基板母材２
０とスペーサを散布した下基板母材２２とを、真空雰囲
気中で未硬化のシール材４を介して貼着する。この工程
において、各上基板形成領域２１と各下基板形成領域２
３とを未硬化のシール材４を介して貼着する。次に、常
圧に戻すことにより、液晶セルの内部と外部の圧力差を
利用して上基板母材２０と下基板母材２２とを外部から
加圧した後、未硬化のシール材４を硬化することによ
り、本実施の形態の液晶セルユニットを容易に製造する
ことができる。なお、未硬化のシール材４を塗布し、液
晶層１５を形成する基板母材と、スペーサを散布する基
板母材とは、適宜選択することが可能である。Next, the upper substrate base material 2 on which the liquid crystal layer 15 is formed
0 and the lower substrate base material 22 on which the spacers have been scattered are attached via the uncured sealing material 4 in a vacuum atmosphere. In this step, each upper substrate forming region 21 and each lower substrate forming region 2
3 and 3 are attached via the uncured sealing material 4. Next, by returning to normal pressure, the upper substrate base material 20 and the lower substrate base material 22 are externally pressurized by utilizing the pressure difference between the inside and the outside of the liquid crystal cell, and then the uncured sealing material 4 is removed. By curing, the liquid crystal cell unit of this embodiment can be easily manufactured. The substrate base material on which the uncured sealing material 4 is applied to form the liquid crystal layer 15 and the substrate base material on which the spacers are scattered can be appropriately selected.

【００７０】次に、以上のようにして製造した本実施の
形態の液晶セルユニットの電極欠陥検査を行う。本実施
形態の液晶セルユニットに対して、複数のセグメント電
極検査用導電部２５、複数のコモン電極検査用導電部２
７に各々検査用プローブを接触させ、電気的特性を計測
することにより、液晶セルユニットのセグメント電極
７、コモン電極９の欠陥検査を行うことができる。Next, an electrode defect inspection of the liquid crystal cell unit of this embodiment manufactured as described above is performed. With respect to the liquid crystal cell unit of the present embodiment, a plurality of segment electrode inspection conductive parts 25 and a plurality of common electrode inspection conductive parts 2 are provided.
A defect inspection of the segment electrode 7 and the common electrode 9 of the liquid crystal cell unit can be performed by bringing an inspection probe into contact with each of the electrodes 7 and measuring the electrical characteristics.

【００７１】例えば、液晶セルユニットの最端部にまで
延設された全てのセグメント電極検査用導電部２５と全
てのコモン電極検査用導電部２７に各々電極を接触さ
せ、セグメント電極検査用導電部２５、コモン電極検査
用導電部２７に各々異なる電圧を印加することにより、
電圧を印加したセグメント電極検査用導電部２５、コモ
ン電極検査用導電部２７に電気的に接続されたセグメン
ト電極７、コモン電極９に異なる電圧を印加することが
でき、全ての液晶セルを点灯させることができるので、
各液晶セルについて全てのドットが正常に点灯するか否
かを検査する点灯検査を行うことができ、全ての液晶セ
ルの電極のパターン欠陥を一度に検出することができ
る。For example, the electrodes are brought into contact with all the segment electrode inspection conductive portions 25 and all the common electrode inspection conductive portions 27 extending to the end of the liquid crystal cell unit, and the segment electrode inspection conductive portions are contacted. 25, by applying different voltages to the common electrode inspection conductive portion 27,
Different voltages can be applied to the segment electrode inspection conductive portion 25 to which a voltage is applied, the segment electrode 7 and the common electrode 9 electrically connected to the common electrode inspection conductive portion 27, and all liquid crystal cells are turned on. Because you can
For each liquid crystal cell, a lighting test can be performed to check whether all the dots are normally lit, and pattern defects of the electrodes of all the liquid crystal cells can be detected at one time.

【００７２】なお、セグメント電極検査用導電部２５、
コモン電極検査用導電部２７は下基板母材２２の内面に
形成されているので、セグメント電極検査用導電部２
５、コモン電極検査用導電部２７に検査用プローブなど
を接触させる際には、検査用プローブを上基板母材２０
と下基板母材２２との間に挿入する必要がある。ここ
で、液晶セルのセルギャップは数〜１０μｍ程度と微小
であるので、検査用プローブを上基板母材２０と下基板
母材２２との間に挿入することが難しい場合には、上基
板母材２０と下基板母材２２とを若干寸法だけずらして
液晶セルユニットを構成することが好ましい。The conductive portion 25 for segment electrode inspection,
Since the common electrode inspection conductive portion 27 is formed on the inner surface of the lower substrate base material 22, the segment electrode inspection conductive portion 2 is formed.
5. When the inspection probe or the like is brought into contact with the common electrode inspection conductive portion 27, the inspection probe is used as the upper substrate base material 20.
And the lower substrate base material 22 must be inserted. Here, since the cell gap of the liquid crystal cell is as small as about several to 10 μm, if it is difficult to insert the inspection probe between the upper substrate base material 20 and the lower substrate base material 22, the upper substrate base material 22 may be inserted. It is preferable to configure the liquid crystal cell unit by slightly shifting the material 20 and the lower substrate base material 22 by a certain size.

【００７３】以上のようにして、液晶セルユニットに対
して電極欠陥検査を行った後、図９に示したように、切
断線Ｃ１−Ｃ１’、Ｃ２−Ｃ２’、Ｃ３−Ｃ３’、Ｃ４
−Ｃ４’、Ｄ１−Ｄ１’に沿って上基板母材２０、下基
板母材２２を切断することにより、個々の液晶セルに分
割されるとともに、セグメント電極検査用導電部２５、
コモン電極検査用導電部２７と検査用引き廻し配線１
４，２６の一部とが切り落とされる。以上のようにし
て、液晶セルユニットを個々の液晶セルに分割し、最後
に、各液晶セルの外側に偏光子、位相差板等の光学素子
を貼着することにより、複数個のパッシブマトリクス型
液晶装置を同時に製造することができる。After the electrode defect inspection is performed on the liquid crystal cell unit as described above, the cutting lines C1-C1 ', C2-C2', C3-C3 ', C4 are obtained as shown in FIG.
By cutting the upper substrate base material 20 and the lower substrate base material 22 along -C4 'and D1-D1', the liquid crystal cell is divided into individual liquid crystal cells and the segment electrode inspection conductive portion 25,
Common electrode inspection conductive part 27 and inspection wiring 1
A part of 4, 26 is cut off. As described above, the liquid crystal cell unit is divided into individual liquid crystal cells, and finally, an optical element such as a polarizer or a retardation plate is attached to the outside of each liquid crystal cell to obtain a plurality of passive matrix type liquid crystal cells. Liquid crystal devices can be manufactured simultaneously.

【００７４】以上の液晶装置の製造方法によれば、個々
の液晶セルに分割する前に、複数の液晶セルの電極欠陥
検査を一括して行うことができるので、検査工程を大幅
に簡略化することができ、液晶装置の製造プロセスの簡
略化を図ることができる。According to the above-described method of manufacturing a liquid crystal device, the electrode defect inspection of a plurality of liquid crystal cells can be collectively performed before dividing into individual liquid crystal cells, so that the inspection process is greatly simplified. Therefore, the manufacturing process of the liquid crystal device can be simplified.

【００７５】なお、液晶セルユニットを複数の液晶セル
に分割する際に、液晶セルユニットをより小さい短冊状
の液晶セルユニットに分割してから複数の液晶セルに分
割しても良い。このように、一旦短冊状の液晶セルユニ
ットに分割した後、複数の液晶セルに分割する場合に
は、液晶セルユニットに対して電極欠陥検査を行う代わ
りに、液晶セルユニットを分割して得られた短冊状の液
晶セルユニットに対して電極欠陥検査を行うこともでき
る。この場合でも、短冊状の液晶セルユニットを構成す
る全ての液晶セルの電極の欠陥検査を一括して行うこと
ができる。When the liquid crystal cell unit is divided into a plurality of liquid crystal cells, the liquid crystal cell unit may be divided into smaller strip-shaped liquid crystal cell units and then divided into a plurality of liquid crystal cells. As described above, when the liquid crystal cell unit is once divided into strip-shaped liquid crystal cells and then divided into a plurality of liquid crystal cells, the liquid crystal cell units are obtained by dividing the liquid crystal cell units instead of performing the electrode defect inspection. The electrode defect inspection can be performed on the strip-shaped liquid crystal cell unit. Even in this case, the defect inspection of the electrodes of all the liquid crystal cells forming the strip-shaped liquid crystal cell unit can be collectively performed.

【００７６】なお、本実施の形態では、上下基板間でセ
グメント電極７と検査用引き廻し配線１４とを電気的に
接続する検査用上下導通部１６、およびセグメント電極
７と外部接続用端子６とを電気的に接続する上下導通部
１３を、導電粒子等の導通材を混入させたシール材４で
構成したが、これら上下導通部をシール材とは別個に設
ける構成としても良い。In the present embodiment, the inspection vertical conducting portion 16 for electrically connecting the segment electrode 7 and the inspection routing wiring 14 between the upper and lower substrates, and the segment electrode 7 and the external connection terminal 6 are provided. Although the upper and lower conducting parts 13 for electrically connecting the above are constituted by the seal material 4 in which a conducting material such as conductive particles is mixed, these upper and lower conducting parts may be provided separately from the seal material.

【００７７】［第２の実施の形態］ （液晶セルユニットの構造）次に、図１２〜図１５に基
づいて、本発明に係る第２の実施の形態の液晶装置およ
び液晶セルユニットの構造について説明する。図１２
は、本実施の形態の液晶セルユニットのうち、１個の液
晶セルの部分の下基板母材のみを示す平面図、図１３
は、液晶セルユニットのうち、１個の液晶セルの部分の
上基板母材のみを示す平面図、図１４は、上下の基板母
材を貼り合わせた状態の平面図、図１５は、液晶セルユ
ニットから１個の液晶セルに分割した状態の平面図であ
る。本実施の形態の液晶セルユニットの基本構造は第１
実施形態と同様であり、下基板における検査用導電部の
形成箇所のみが異なっている。なお、上基板側の構成は
第１の実施の形態と同様であるため、説明を省略する。
また、第１の実施の形態と同じ構成要素については図面
において同じ参照符号を付し、詳細な説明は省略する。[Second Embodiment] (Structure of Liquid Crystal Cell Unit) Next, with reference to FIGS. 12 to 15, a structure of a liquid crystal device and a liquid crystal cell unit according to a second embodiment of the present invention will be described. explain. 12
FIG. 13 is a plan view showing only a lower substrate base material of one liquid crystal cell in the liquid crystal cell unit of the present embodiment.
FIG. 14 is a plan view showing only an upper substrate base material of one liquid crystal cell portion of the liquid crystal cell unit, FIG. 14 is a plan view showing a state where upper and lower substrate base materials are bonded together, and FIG. 15 is a liquid crystal cell It is a plan view of a state in which the unit is divided into one liquid crystal cell. The basic structure of the liquid crystal cell unit of this embodiment is the first
This is the same as the embodiment, and is different only in the formation location of the conductive portion for inspection on the lower substrate. Since the configuration on the upper substrate side is the same as that of the first embodiment, the description is omitted.
The same components as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals in the drawings, and detailed description will be omitted.

【００７８】第１の実施の形態においては、図９に示し
たように、一つの液晶セルに着目した場合、外部接続用
端子５，６と反対側の端部（図９における液晶セルの上
側の端部）にセグメント電極検査用導電部２５およびコ
モン電極検査用導電部２７が配置されていた。即ち、一
つの液晶セルに着目した場合、そのセグメント電極検査
用導電部２５とコモン電極検査用導電部２７は、隣接す
る他の液晶セルでの外部接続用端子５，６が形成された
上基板形成領域２１の領域３５と対向する下基板母材上
に形成されていた。これに対して、本実施の形態の液晶
セルユニットにおいては、図１２に示すように、一つの
液晶セルに着目した場合、そのセグメント電極検査用導
電部２５とコモン電極検査用導電部２７は、当液晶セル
での外部接続用端子５，６が形成された上基板形成領域
２１の領域３５と対向する下基板母材上に形成されて配
置されている。In the first embodiment, as shown in FIG. 9, when focusing on one liquid crystal cell, the end portions on the opposite side of the external connection terminals 5 and 6 (the upper side of the liquid crystal cell in FIG. 9). The edge electrode) was provided with the segment electrode inspection conductive portion 25 and the common electrode inspection conductive portion 27. That is, when attention is paid to one liquid crystal cell, the segment electrode inspection conductive portion 25 and the common electrode inspection conductive portion 27 are the upper substrate on which the external connection terminals 5 and 6 of another adjacent liquid crystal cell are formed. It was formed on the lower substrate base material facing the region 35 of the formation region 21. On the other hand, in the liquid crystal cell unit of the present embodiment, as shown in FIG. 12, when one liquid crystal cell is focused on, the segment electrode inspection conductive portion 25 and the common electrode inspection conductive portion 27 are The liquid crystal cell is formed and arranged on the lower substrate base material facing the region 35 of the upper substrate forming region 21 where the external connection terminals 5 and 6 are formed.

【００７９】すなわち、各コモン電極９に電気的に接続
される複数のコモン電極検査用引き廻し配線３４が下基
板母材２２上の絶縁膜１０下に形成され、各コモン電極
検査用引き廻し配線３４がシール材４の形成領域で、上
基板母材２０側のコモン電極用外部接続用端子６とシー
ル材４内の上下導通部１３を介して接続されている。一
方、各コモン電極検査用引き廻し配線３４は下側基板上
でシール材４の形成領域（上下導通部）を貫通してその
まま下基板形成領域２３外に延在して導出されてコモン
電極検査用導電部３２にそれぞれ接続されている。そし
て、各コモン電極検査用引き廻し配線３４がシール材４
の形成領域（上下導通部）を貫通してそのまま下基板形
成領域２３外に延在して導出される下基板母材２２の領
域が、同液晶セルの上基板形成領域２１で外部接続用端
子５，６が形成された領域３５と対向する配置関係にあ
る。また、コモン電極検査用導電部３２の端部は下基板
母材２２の最端部にまで延在している。That is, a plurality of common electrode inspection routing wires 34 electrically connected to each common electrode 9 are formed under the insulating film 10 on the lower substrate base material 22, and each common electrode inspection routing wire is formed. 34 is a region where the sealing material 4 is formed, and is connected to the common electrode external connection terminal 6 on the upper substrate base material 20 side through the vertical conducting portion 13 in the sealing material 4. On the other hand, each common electrode inspection routing wiring 34 penetrates the formation region (vertical conduction part) of the sealing material 4 on the lower substrate, extends as it is to the outside of the lower substrate formation region 23, and is led out to perform the common electrode inspection. Are connected to the respective conductive portions 32. The common wiring 34 for inspecting each common electrode has the sealing material 4
The region of the lower substrate base material 22 that extends through the formation region (upper and lower conduction portion) of the liquid crystal cell and extends outside the lower substrate formation region 23 as it is is the external connection terminal in the upper substrate formation region 21 of the liquid crystal cell. There is an arrangement relationship that faces the region 35 in which 5 and 6 are formed. Further, the end portion of the conductive portion 32 for inspecting the common electrode extends to the end portion of the lower substrate base material 22.

【００８０】本実施の形態の場合、コモン電極検査用引
き廻し配線３４およびコモン電極検査用導電部３２と平
面的に重なるような位置（領域）にセグメント電極検査
用引き廻し配線３３およびセグメント電極検査用電極３
１が配置されるため、これらが短絡しないようにコモン
電極検査用引き廻し配線３４およびコモン電極検査用導
電部３２は絶縁膜１０に覆われている。符号１０ａ，１
０ｂで示す１点鎖線は絶縁膜の縁を表している。その一
方、シール材４の形成領域内のコモン電極用上下導通接
続部１３は上下基板間の電気的導通を確保しなければな
らないため、コモン電極用上下導通接続部１３は露出し
て絶縁膜１０に覆われていない。本実施の形態において
は、絶縁膜１０の形成領域は、コンタクトホール１２部
を除いた部分のコモン電極９とコモン電極引き廻し配線
１１との絶縁と、コモン電極検査用引き廻し配線３４及
びコモン電極検査用導電部３２とセグメント電極検査用
引き廻し配線３３及びセグメント電極検査用導電部３１
との絶縁が図られて、コモン電極引き廻し配線１１と上
基板２の外部接続用端子６との電気的な接続（上下導
通）と、上基板２０の各外部接続用端子５と下基板２２
のセグメント電極検査用引き廻し配線３３との電気的な
接続（上下導通）とが確保されるものであればよく、図
の１０ａ，１０ｂに示す絶縁膜の縁に限定されるもので
はない。In the case of the present embodiment, the segment electrode inspection routing wiring 33 and the segment electrode inspection are arranged at positions (areas) where the common electrode inspection routing wiring 34 and the common electrode inspection conductive portion 32 are planarly overlapped. Electrode 3
The common electrode inspection wiring 34 and the common electrode inspection conductive portion 32 are covered with the insulating film 10 so that they are not short-circuited. Reference numerals 10a, 1
The one-dot chain line indicated by 0b represents the edge of the insulating film. On the other hand, since the common electrode vertical conduction connecting portion 13 in the region where the sealing material 4 is formed has to ensure electrical conduction between the upper and lower substrates, the common electrode vertical conduction connecting portion 13 is exposed and the insulating film 10 is exposed. Not covered by. In the present embodiment, the region where the insulating film 10 is formed insulates the common electrode 9 and the common electrode wiring 11 from the portion other than the contact hole 12, and the common electrode inspection wiring 34 and the common electrode. Inspecting conductive portion 32, segment electrode inspecting wiring 33, and segment electrode inspecting conducting portion 31
And the electrical connection (vertical conduction) between the common electrode wiring 11 and the external connection terminals 6 of the upper substrate 2, and the external connection terminals 5 of the upper substrate 20 and the lower substrate 22.
As long as electrical connection (vertical conduction) with the segment electrode inspection wiring 33 is secured, it is not limited to the edge of the insulating film shown in FIGS. 10a and 10b.

【００８１】また、下基板母材２２上の絶縁膜１０上に
は、上基板母材２０上のセグメント電極用の外部接続用
端子５の位置と平面的に重なる位置に、各セグメント電
極７と電気的に接続される複数のセグメント電極検査用
引き廻し配線３３が形成されている。そして、第１の実
施の形態と同様、複数のセグメント電極検査用引き廻し
配線３３を束ねるようにセグメント電極検査用電極３１
が形成されている。セグメント電極検査用電極３１の端
部もコモン電極検査用電極３２と同様、下基板母材２２
の最端部にまで延在している。Further, on the insulating film 10 on the lower substrate base material 22, the segment electrodes 7 are formed on the upper substrate base material 20 at positions overlapping with the positions of the external connection terminals 5 for the segment electrodes in plan view. A plurality of electrically-routed segment electrode inspection wiring lines 33 are formed. Then, as in the first embodiment, the segment electrode inspection electrodes 31 are bundled so as to bundle the plurality of segment electrode inspection lead wires 33.
Are formed. The end portion of the segment electrode inspection electrode 31 is also similar to the common electrode inspection electrode 32 in the lower substrate base material 22.
Extends to the extreme end of.

【００８２】第１、第２の実施の形態において、図２や
図１２の液晶セルの上端または下端に液晶注入口を設け
ることを考えた場合、下端側は上基板が下基板からはみ
出しており、縁が揃っていないため、こちら側に液晶注
入口を設けることはできない。一方、上端側について
は、第１の実施の形態の場合は上端側に検査用電極が配
置されているため、こちら側にも液晶注入口を設けるこ
とはできない。その理由は、仮に上端側に液晶注入口を
設けたとしても検査用電極を切り落とした後でなければ
液晶が注入できないので、液晶を注入しての点灯検査が
できなくなってしまい、検査用電極を設けた意味がない
からである。In the first and second embodiments, considering that a liquid crystal injection port is provided at the upper end or the lower end of the liquid crystal cell shown in FIGS. 2 and 12, the upper substrate protrudes from the lower substrate on the lower end side. However, the liquid crystal injection port cannot be provided on this side because the edges are not aligned. On the other hand, on the upper end side, in the case of the first embodiment, since the inspection electrode is arranged on the upper end side, the liquid crystal injection port cannot be provided on this side as well. The reason is that even if the liquid crystal injection port is provided on the upper end side, the liquid crystal can be injected only after cutting off the inspection electrode, so that the lighting inspection cannot be performed by injecting the liquid crystal, and the inspection electrode is This is because it has no meaning.

【００８３】これに対して、本実施の形態においては、
セグメント電極検査用導電部３１とコモン電極検査用導
電部３２をともに外部接続用端子５，６側（当液晶セル
の下端側）に配置したことにより、図１２に示したよう
に、液晶セルの上端側にシール材４の開口部４ａを設
け、ここを液晶注入口とすることができる。この場合、
図１２における左右方向に隣接する液晶セルが連なった
形に短冊状に各基板母材２０，２２を切断すれば、短冊
状の全ての液晶セルにおける液晶注入口４ａが図１２に
おける上側に位置するので、一括して液晶を注入するこ
とができ、その状態で点灯検査を含む電極欠陥検査を行
うことができる。ただし、図１３のように各基板母材２
０，２２を貼り合わせただけの段階では、未だ基板母材
２０，２２間に液晶層が形成されていないことになる。On the other hand, in the present embodiment,
By arranging both the segment electrode inspecting conductive portion 31 and the common electrode inspecting conductive portion 32 on the external connection terminals 5 and 6 side (the lower end side of the liquid crystal cell), as shown in FIG. An opening 4a of the sealing material 4 is provided on the upper end side, and this can be used as a liquid crystal inlet. in this case,
If the substrate base materials 20 and 22 are cut into strips in a form in which liquid crystal cells that are adjacent to each other in the left-right direction in FIG. 12 are connected, the liquid crystal injection ports 4a in all the strip-shaped liquid crystal cells are located on the upper side in FIG. Therefore, the liquid crystal can be injected all at once, and the electrode defect inspection including the lighting inspection can be performed in that state. However, as shown in FIG. 13, each substrate base material 2
The liquid crystal layer is not yet formed between the substrate base materials 20 and 22 at the stage of simply bonding 0 and 22.

【００８４】図１４において、Ｃ１−Ｃ１’線、Ｃ２−
Ｃ２’線、Ｃ３−Ｃ３’線、Ｃ４−Ｃ４’線はこれらの
線に沿って上基板母材２０と下基板母材２２の双方を切
断する切断線、Ｄ１−Ｄ１’線は下基板母材２２のみを
切断する切断線を示している。よって、セグメント電極
検査用導電部３１とコモン電極検査用導電部３２は、第
１の実施の形態と形成位置は異なるものの、液晶セルユ
ニットを複数の液晶セルに分割する際に切り落とされる
端材部分Ｈ４に形成されている点では第１の実施の形態
と同様である。よって、分割前には一つの液晶セル内の
全てのセグメント電極７、さらには左右方向（セグメン
ト電極検査用導電部３１、及びコモン電極検査用導電部
３２が延在する方向）に隣接する１行の全ての液晶セル
の全てのセグメント電極７がセグメント電極検査用導電
部３１に接続され、一つの液晶セル内の全てのコモン電
極９、さらには左右方向に隣接する全ての液晶セルの全
てのコモン電極９がコモン電極検査用電極３２に接続さ
れており、検査時に一括して電圧印加が可能であるが、
分割後はセグメント電極検査用導電部３１およびコモン
電極検査用導電部３２が切り落とされ、全てのセグメン
ト電極７、コモン電極９が電気的に接続されない状態と
なる。In FIG. 14, C1-C1 'line, C2-
The C2 ′ line, the C3-C3 ′ line, and the C4-C4 ′ line are cutting lines that cut both the upper substrate base material 20 and the lower substrate base material 22 along these lines, and the D1-D1 ′ line is the lower substrate base material. A cutting line for cutting only the material 22 is shown. Therefore, although the conductive portion 31 for segment electrode inspection and the conductive portion 32 for common electrode inspection are different in the formation positions from the first embodiment, the end material portion cut off when the liquid crystal cell unit is divided into a plurality of liquid crystal cells. It is similar to the first embodiment in that it is formed in H4. Therefore, before the division, all the segment electrodes 7 in one liquid crystal cell, and further, one row adjacent in the left-right direction (direction in which the segment electrode inspection conductive portion 31 and the common electrode inspection conductive portion 32 extend). All the segment electrodes 7 of all the liquid crystal cells are connected to the segment electrode inspection conductive part 31, all the common electrodes 9 in one liquid crystal cell, and all the commons of all the liquid crystal cells adjacent in the left-right direction. The electrode 9 is connected to the common electrode inspection electrode 32, and voltage can be applied collectively at the time of inspection.
After the division, the segment electrode inspection conductive portion 31 and the common electrode inspection conductive portion 32 are cut off, so that all the segment electrodes 7 and the common electrode 9 are not electrically connected.

【００８５】本実施の形態では、液晶セルが液晶注入口
４ａを有していることで、液晶装置の製造方法、特に液
晶注入工程と検査工程の順番が第１の実施の形態と異な
るものとなる。上述したように、第１の実施の形態と異
なり、本実施の形態の液晶セルユニットの各液晶セル内
には液晶層が形成されていないので、本実施の形態の液
晶セルユニットに対してそのままで点灯検査を行うこと
はできないが、検査用プローブを用いた検査を行うこと
は可能である。ただし、液晶層を形成した後、点灯検査
を行うことが好ましいため、以下、液晶層を形成した
後、点灯検査を行う場合について説明する。In this embodiment, since the liquid crystal cell has the liquid crystal injection port 4a, the manufacturing method of the liquid crystal device, in particular, the order of the liquid crystal injection process and the inspection process is different from that of the first embodiment. Become. As described above, unlike the first embodiment, since no liquid crystal layer is formed in each liquid crystal cell of the liquid crystal cell unit of the present embodiment, the liquid crystal cell unit of the present embodiment can be directly used. It is not possible to carry out a lighting test with, but it is possible to carry out a test using a testing probe. However, since it is preferable to perform the lighting inspection after the liquid crystal layer is formed, the case where the lighting inspection is performed after the liquid crystal layer is formed will be described below.

【００８６】最初に、図１３に示すような上基板母材２
０を、図１２に示す下基板母材に貼り合わせた状態を図
１４に示す。図１４において、本実施の形態の液晶セル
ユニットの上基板母材２０、下基板母材２２の双方を切
断線Ｃ１−Ｃ１’、Ｃ２−Ｃ２’、Ｃ３−Ｃ３’、Ｃ４
−Ｃ４’に沿って切断することにより、全ての液晶注入
口４ａが最端部に位置するように、複数の液晶セルが一
方向（図１４における左右方向）に配列した短冊状の液
晶セルユニットに分割する。次に、液晶セルユニットの
各液晶セル内に液晶注入口４ａから真空注入法等により
液晶を注入し、液晶層を形成した後、液晶注入口４ａを
封止材により封止する。First, the upper substrate base material 2 as shown in FIG.
FIG. 14 shows a state in which 0 is attached to the lower substrate base material shown in FIG. In FIG. 14, cutting lines C1-C1 ′, C2-C2 ′, C3-C3 ′, and C4 for both the upper substrate base material 20 and the lower substrate base material 22 of the liquid crystal cell unit of the present embodiment are shown.
A strip-shaped liquid crystal cell unit in which a plurality of liquid crystal cells are arranged in one direction (horizontal direction in FIG. 14) so that all the liquid crystal injection ports 4a are located at the most end by cutting along the line C4 ′. Split into. Next, liquid crystal is injected into each liquid crystal cell of the liquid crystal cell unit from the liquid crystal injection port 4a by a vacuum injection method or the like to form a liquid crystal layer, and then the liquid crystal injection port 4a is sealed with a sealing material.

【００８７】次に、短冊状の液晶セルユニットに対し
て、点灯検査を含む電極欠陥検査を行う。この短冊状の
液晶セルユニットにおいても、セグメント電極検査用導
電部３１、コモン電極検査用導電部３２の最端部がそれ
ぞれ下基板母材２２の最端部に位置しているので、複数
の液晶セルの電極欠陥検査を一括して行うことができ
る。Next, an electrode defect inspection including a lighting inspection is performed on the strip-shaped liquid crystal cell unit. Also in this strip-shaped liquid crystal cell unit, since the outermost ends of the segment electrode inspecting conductive portion 31 and the common electrode inspecting conductive portion 32 are located at the outermost ends of the lower substrate base material 22, respectively, a plurality of liquid crystals are formed. Electrode defect inspection of cells can be performed collectively.

【００８８】以上のように電極欠陥検査を行った後、短
冊状の液晶セルユニットを個々の液晶セルに分割し、各
液晶セルから液晶装置を製造することができる。After conducting the electrode defect inspection as described above, the strip-shaped liquid crystal cell unit can be divided into individual liquid crystal cells, and a liquid crystal device can be manufactured from each liquid crystal cell.

【００８９】以上説明したように、本実施の形態の液晶
セルユニットを用いて液晶装置を製造することによって
も、単品の液晶セルに分割する前に複数の液晶セルの電
極欠陥検査を一括して行うことができるので、検査工程
を大幅に簡略化することができ、製造プロセスの簡略化
を図ることができる。尚、本実施の形態は液晶を注入す
る方法を例に挙げて説明したが、本実施形態に用いた接
続構成においては、液晶の滴下によって液晶層を形成す
る方法も適用できるものである。As described above, by manufacturing a liquid crystal device using the liquid crystal cell unit of this embodiment, the electrode defect inspection of a plurality of liquid crystal cells can be collectively performed before dividing into a single liquid crystal cell. Since it can be performed, the inspection process can be greatly simplified and the manufacturing process can be simplified. Although the present embodiment has been described taking the method of injecting the liquid crystal as an example, the method of forming the liquid crystal layer by dropping the liquid crystal can also be applied to the connection configuration used in the present embodiment.

【００９０】なお、本実施の形態でも、上下基板間で各
コモン電極検査用引き廻し配線３４とコモン電極用外部
接続用端子６とを電気的に接続する上下導通部１３、お
よび各セグメント電極検査用引き廻し配線３３とセグメ
ント電極用外部接続用端子５とを電気的に接続する上下
導通部を、導電粒子等の導通材を混入させたシール材４
で構成したが、これら上下導通部をシール材とは別個に
設ける構成としても良い。Also in the present embodiment, the vertical conducting portion 13 for electrically connecting the common electrode inspection wiring 34 and the common electrode external connection terminal 6 between the upper and lower substrates, and each segment electrode inspection. Sealing material 4 in which a conductive material such as conductive particles is mixed in the upper and lower conductive portions that electrically connect the wiring for wiring 33 and the external connection terminals 5 for segment electrodes.
However, the upper and lower conducting portions may be provided separately from the sealing material.

【００９１】［第３の実施の形態（アクティブマトリク
ス型液晶装置への適用例）］第１、第２の実施の形態に
おいては、パッシブマトリクス型液晶装置を製造するこ
とが可能な液晶セルユニットを取り上げて説明したが、
本発明は、スイッチング素子としてＴＦＤ（薄膜ダイオ
ード）を用いたアクティブマトリクス型液晶装置を製造
することが可能な液晶セルユニットにも適用可能であ
る。以下、図１６に基づいて、スイッチング素子として
ＴＦＤを用いたアクティブマトリクス型の透過型液晶装
置の構造について簡単に説明した後、本発明への適用例
に簡単に説明する。なお、図１６は、後述する素子基板
側から見た時の概略斜視図である。[Third Embodiment (Example of Application to Active Matrix Liquid Crystal Device)] In the first and second embodiments, a liquid crystal cell unit capable of manufacturing a passive matrix liquid crystal device is provided. I took it up and explained,
The present invention can also be applied to a liquid crystal cell unit capable of manufacturing an active matrix liquid crystal device using a TFD (thin film diode) as a switching element. Hereinafter, a structure of an active matrix type transmissive liquid crystal device using a TFD as a switching element will be briefly described based on FIG. 16 and then an application example of the present invention will be briefly described. Note that FIG. 16 is a schematic perspective view when viewed from the element substrate side described later.

【００９２】図１６に示す液晶装置６０は、液晶層（図
示略）を挟持して対向配置された素子基板（第１の基
板）２１０と対向基板（第２の基板）２２０とが、シー
ル材（図示略）を介して貼着されて概略構成されてい
る。In a liquid crystal device 60 shown in FIG. 16, an element substrate (first substrate) 210 and a counter substrate (second substrate) 220, which are opposed to each other with a liquid crystal layer (not shown) interposed therebetween, are sealing materials. It is affixed via (not shown) to form a schematic structure.

【００９３】素子基板２１０の液晶層側表面には、ＴＦ
Ｄ２１４、画素電極２１３等が形成され、これらの液晶
層側に配向膜（図示略）が形成されている。より詳細に
は、素子基板２１０において、多数のデータ線２１２
（第１の導電部）がストライプ状に設けられており、各
データ線２１２に対して多数の画素電極２１３がＴＦＤ
２１４を介して接続されている。素子基板２１０の液晶
層側表面全体を見れば、多数の画素電極２１３がマトリ
クス状に配列されている。また、対向基板２２０の液晶
層側表面には、素子基板２１０のデータ線２１２の延在
方向に対して交差する方向に形成された複数の短冊状の
走査線（第２の導電部）２２１が形成され、この液晶層
側に配向膜（図示略）が形成されている。TF is formed on the surface of the element substrate 210 on the liquid crystal layer side.
D214, a pixel electrode 213, and the like are formed, and an alignment film (not shown) is formed on the liquid crystal layer side. More specifically, in the device substrate 210, a large number of data lines 212 are provided.
The (first conductive portion) is provided in a stripe shape, and a large number of pixel electrodes 213 are provided for each data line 212 with the TFD.
It is connected via 214. Looking at the entire surface of the element substrate 210 on the liquid crystal layer side, a large number of pixel electrodes 213 are arranged in a matrix. Further, on the liquid crystal layer side surface of the counter substrate 220, a plurality of strip-shaped scanning lines (second conductive portions) 221 formed in a direction intersecting with the extending direction of the data lines 212 of the element substrate 210 are provided. An alignment film (not shown) is formed on the liquid crystal layer side.

【００９４】ＴＦＤを用いたアクティブマトリクス型液
晶装置６０は、以上のように概略構成され、液晶装置６
０には、第１、第２の実施の形態のセグメント電極、コ
モン電極に相当するストライプ状に形成されたデータ線
２１２、走査線２２１が形成されているので、液晶装置
６０を製造することが可能な液晶セルユニットにおい
て、各液晶セルを構成する各データ線２１２、各走査線
２２１に対して、第１、第２の実施の形態で説明した第
１〜第４の検査用導電部を電気的に接続することによ
り、ＴＦＤを用いたアクティブマトリクス型液晶装置を
製造することが可能な本発明の液晶セルユニットを提供
することができ、第１、第２の実施の形態と同様の効果
を得ることができる。The active matrix type liquid crystal device 60 using the TFD is constructed as described above, and the liquid crystal device 6 is provided.
At 0, the segment electrodes of the first and second embodiments, the stripe-shaped data lines 212 and scanning lines 221 corresponding to the common electrodes are formed, so that the liquid crystal device 60 can be manufactured. In a possible liquid crystal cell unit, the first to fourth conductive portions for inspection described in the first and second embodiments are electrically connected to each data line 212 and each scanning line 221 forming each liquid crystal cell. The liquid crystal cell unit of the present invention capable of manufacturing an active matrix type liquid crystal device using a TFD can be provided by connecting the elements in the same manner, and the same effects as those of the first and second embodiments can be obtained. Obtainable.

【００９５】［電子機器］次に、本発明の上記実施の形
態の液晶装置を備えた電子機器の具体例について説明す
る。図１７は、携帯電話の一例を示した斜視図である。
図１７において、符号１０００は携帯電話本体を示し、
符号１００１は上記の液晶表示装置を用いた液晶表示部
を示している。[Electronic Equipment] Next, specific examples of electronic equipment equipped with the liquid crystal device according to the above-described embodiment of the present invention will be described. FIG. 17 is a perspective view showing an example of a mobile phone.
In FIG. 17, reference numeral 1000 indicates a mobile phone body,
Reference numeral 1001 indicates a liquid crystal display unit using the above liquid crystal display device.

【００９６】図１８は、ワープロ、パソコンなどの携帯
型情報処理装置の一例を示した斜視図である。図１８に
おいて、符号１２００は情報処理装置、符号１２０２は
キーボードなどの入力部、符号１２０４は情報処理装置
本体、符号１２０６は上記の液晶表示装置を用いた液晶
表示部を示している。FIG. 18 is a perspective view showing an example of a portable information processing device such as a word processor and a personal computer. In FIG. 18, reference numeral 1200 is an information processing apparatus, reference numeral 1202 is an input unit such as a keyboard, reference numeral 1204 is an information processing apparatus main body, and reference numeral 1206 is a liquid crystal display unit using the above liquid crystal display device.

【００９７】図１９は、腕時計型電子機器の一例を示し
た斜視図である。図１９において、符号１１００は時計
本体を示し、符号１１０１は上記の液晶表示装置を用い
た液晶表示部を示している。FIG. 19 is a perspective view showing an example of a wrist watch type electronic device. In FIG. 19, reference numeral 1100 indicates a watch body, and reference numeral 1101 indicates a liquid crystal display section using the above liquid crystal display device.

【００９８】図１７〜図１９に示す電子機器は、上記実
施の形態の液晶装置を用いた液晶表示部を備えているの
で、製造プロセスの簡略化を図ることができるものとな
る。Since the electronic equipment shown in FIGS. 17 to 19 is equipped with the liquid crystal display section using the liquid crystal device of the above-mentioned embodiment, the manufacturing process can be simplified.

【００９９】[0099]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、液晶装置を製造する際の検査工程を大幅に簡略化
することができ、製造プロセスの簡略化を図ることがで
きる手段を提供することができる。特に本発明の場合、
第２の基板母材上の配線の引き廻し構造が３次元的に構
成されているため、液晶装置の非表示領域（額縁領域）
をより狭くすることができる。As described in detail above, according to the present invention, a means for greatly simplifying the inspection process in manufacturing a liquid crystal device and simplifying the manufacturing process is provided. Can be provided. Especially in the case of the present invention,
The non-display area (frame area) of the liquid crystal device because the wiring layout structure on the second substrate base material is three-dimensionally configured.
Can be narrower.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図１】 本発明の第１の実施形態の液晶装置を構成す
る上基板の構成を示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing a configuration of an upper substrate that constitutes a liquid crystal device according to a first embodiment of the present invention.

【図２】 同、下基板の構成を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing the configuration of the lower substrate of the same.

【図３】 同、上基板と下基板を貼り合わせた状態を示
す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing a state where an upper substrate and a lower substrate are bonded together.

【図４】 同、液晶装置の断面構造を示す図であって、
図３のＡ−Ａ’線に沿う断面図である。FIG. 4 is a diagram showing a sectional structure of the liquid crystal device,
FIG. 4 is a sectional view taken along the line AA ′ of FIG. 3.

【図５】 同、図３のＢ−Ｂ’線に沿う断面図である。5 is a sectional view taken along line B-B ′ of FIG.

【図６】 本実施の形態の液晶セルユニットのうち、上
基板母材のみを取り出して示す平面図である。FIG. 6 is a plan view showing only an upper substrate base material in the liquid crystal cell unit according to the present embodiment.

【図７】 同、下基板母材のみを取り出して示す平面図
である。FIG. 7 is a plan view showing only the lower substrate base material.

【図８】 同、図７の右上の液晶セルの部分を拡大して
示す平面図である。8 is an enlarged plan view showing a portion of the liquid crystal cell on the upper right of FIG. 7. FIG.

【図９】 同、上下の基板母材を貼り合わせた状態で一
つの液晶セルの部分を拡大して示す平面図である。FIG. 9 is a plan view showing an enlarged part of one liquid crystal cell in a state where upper and lower substrate base materials are bonded together.

【図１０】 同、下基板母材の断面構造を示す図であっ
て、図８のＡ−Ａ’線に沿う断面図である。10 is a view showing a cross-sectional structure of the lower substrate base material of the same and is a cross-sectional view taken along the line AA ′ of FIG.

【図１１】 同、液晶セルユニットの全体構成を示す図
であって、図９のＢ−Ｂ’線に沿う断面図である。FIG. 11 is a diagram showing an overall configuration of the liquid crystal cell unit, and is a cross-sectional view taken along line BB ′ of FIG. 9.

【図１２】 本発明の第２の実施形態の液晶セルユニッ
トのうち、１個の液晶セルの部分の下基板母材のみを示
す平面図である。FIG. 12 is a plan view showing only a lower substrate base material of one liquid crystal cell portion of the liquid crystal cell unit according to the second embodiment of the present invention.

【図１３】 本発明の第２の実施形態の液晶セルユニッ
トのうち、１個の液晶セルの部分の上基板母材のみを示
す平面図である。FIG. 13 is a plan view showing only an upper substrate base material of one liquid crystal cell portion of the liquid crystal cell unit according to the second embodiment of the present invention.

【図１４】同、上下の基板母材を貼り合わせた状態の平
面図である。FIG. 14 is a plan view showing a state where upper and lower substrate base materials are bonded together.

【図１５】 同、液晶セルユニットから１個の液晶セル
に分割した状態の平面図である。FIG. 15 is a plan view showing a state where the liquid crystal cell unit is divided into one liquid crystal cell.

【図１６】 スイッチング素子としてＴＦＤを用いたア
クティブマトリクス型の透過型液晶装置の概略斜視図で
ある。FIG. 16 is a schematic perspective view of an active-matrix transmissive liquid crystal device using a TFD as a switching element.

【図１７】 本発明に係る電子機器の一例を示す斜視図
である。FIG. 17 is a perspective view showing an example of an electronic apparatus according to the invention.

【図１８】 本発明に係る電子機器の他の例を示す斜視
図である。FIG. 18 is a perspective view showing another example of an electronic device according to the present invention.

【図１９】 本発明に係る電子機器のさらに他の例を示
す斜視図である。FIG. 19 is a perspective view showing still another example of an electronic device according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１ 液晶装置 ２ 上基板（第１の基板） ３ 下基板（第２の基板） ４ シール材 ５ セグメント電極用外部接続用端子 ６ コモン電極用外部接続用端子 ７ セグメント電極（第１の表示用電極） ８ セグメント電極用引き廻し配線 ９ コモン電極（第２の表示用電極） １０ 絶縁膜 １１ コモン電極用引き廻し配線（第２表示電極用引き
廻し配線） １４，３３ セグメント電極検査用引き廻し配線（第１
検査用引き廻し配線） １５ 液晶層 ２０ 上基板母材（第１の基板母材） ２１ 上基板形成領域（第１の基板形成領域） ２２ 下基板母材（第２の基板母材） ２３ 下基板形成領域（第２の基板形成領域） ２５，３１ セグメント電極検査用導電部（第１検査用
導電部） ２６，３４ コモン電極検査用引き廻し配線（第２検査
用引き廻し配線） ２７，３２ コモン電極検査用導電部（第２検査用導電
部） Ｈ１〜Ｈ３ 端材部分1 Liquid Crystal Device 2 Upper Substrate (First Substrate) 3 Lower Substrate (Second Substrate) 4 Sealing Material 5 External Connection Terminal for Segment Electrode 6 External Connection Terminal for Common Electrode 7 Segment Electrode (First Display Electrode) ) 8 segment electrode routing wiring 9 common electrode (second display electrode) 10 insulating film 11 common electrode routing wiring (second display electrode routing wiring) 14, 33 segment electrode inspection routing wiring ( First
Inspection wiring) 15 Liquid crystal layer 20 Upper substrate base material (first substrate base material) 21 Upper substrate formation region (first substrate formation region) 22 Lower substrate base material (second substrate base material) 23 Lower Substrate formation region (second substrate formation region) 25, 31 Segment electrode inspection conductive part (first inspection conductive part) 26, 34 Common electrode inspection routing wiring (second inspection routing wiring) 27, 32 Common electrode inspection conductive part (second inspection conductive part) H1 to H3 Mill ends

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０９Ｆ 9/00 ３３８ Ｇ０９Ｆ 9/00 ３３８ 9/30 ３４３ 9/30 ３４３Ｚ 9/35 9/35 Ｆターム(参考） 2H088 FA06 FA09 FA10 FA13 FA26 FA29 HA02 HA04 HA08 JA13 MA20 2H089 LA22 NA01 NA22 NA25 NA40 NA55 NA58 QA12 QA13 QA16 RA10 TA02 TA09 2H092 GA05 GA14 GA25 GA26 GA29 GA30 GA33 GA35 GA38 GA39 GA44 HA04 HA05 HA06 HA12 HA13 HA19 HA28 JA03 JB12 JB77 MA57 NA27 NA30 PA04 PA12 QA10 5C094 AA15 AA43 BA04 BA43 CA19 DA13 EA02 EA03 EC01 GB10 HA03 5G435 AA17 AA18 BB12 CC09 HH12 KK05 LL10 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) G09F 9/00 338 G09F 9/00 338 9/30 343 9/30 343Z 9/35 9/35 F term ( Reference) 2H088 FA06 FA09 FA10 FA13 FA26 FA29 HA02 HA04 HA08 JA13 MA20 2H089 LA22 NA01 NA22 NA25 NA40 NA55 NA58 QA12 QA13 QA16 RA10 TA02 TA09 2H092 GA05 GA14 GA25 GA26 GA29 GA30 GA33 GA35 GA38 GA39 GA44 HA04 HA05 HA12 HA28 HA13 HA12 HA28 HA13 HA12 HA28 HA13 MA57 NA27 NA30 PA04 PA12 QA10 5C094 AA15 AA43 BA04 BA43 CA19 DA13 EA02 EA03 EC01 GB10 HA03 5G435 AA17 AA18 BB12 CC09 HH12 KK05 LL10

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 第１の表示用電極が形成された複数の第
１の基板形成領域を有する第１の基板母材と、第２の表
示用電極が形成された複数の第２の基板形成領域を有す
る第２の基板母材とを具備するとともに、前記第１の基
板母材の各第１の基板形成領域と前記第２の基板母材の
各第２の基板形成領域とがそれぞれシール材を介して貼
着される液晶セルユニットであって、 前記第２の基板母材上には、前記第２の基板形成領域に
形成された前記第２の表示用電極と電気的に接続されて
いるとともに前記第２の基板形成領域内から当該第２の
基板形成領域外に導出された複数の第２検査用引き廻し
配線と前記第２の基板形成領域外で前記複数の第２検査
用引き廻し配線を結合して配線された第２検査用導電部
とが形成され、更に前記複数の第２検査用引き廻し配線
と前記第２検査用導電部の上方には絶縁層を介在させ
て、前記第１の基板形成領域に形成された前記第１の表
示用電極と電気的に接続されているとともに前記第２の
基板形成領域内から当該第２の基板形成領域外に導出さ
れた複数の第１検査用引き廻し配線と前記第２の基板形
成領域外で前記複数の第１検査用引き廻し配線を結合し
た第１検査用導電部とが形成されていることを特徴とす
る液晶セルユニット。1. A first substrate base material having a plurality of first substrate formation regions on which a first display electrode is formed, and a plurality of second substrate formation on which a second display electrode is formed. A second substrate base material having a region, and each first substrate formation region of the first substrate base material and each second substrate formation region of the second substrate base material are respectively sealed. A liquid crystal cell unit adhered via a material, which is electrically connected to the second display electrode formed in the second substrate forming region on the second substrate base material. In addition, the plurality of second inspection wirings led out of the second substrate formation region to the outside of the second substrate formation region and the plurality of second inspection wirings outside the second substrate formation region. A second inspection conductive portion is formed by connecting the lead-out wirings, and the plurality of second conductive portions are further formed. An insulating layer is interposed above the lead wiring for inspection and the second conductive portion for inspection, and is electrically connected to the first display electrode formed in the first substrate formation region. At the same time, a plurality of first inspection wirings led out of the second substrate forming area to the outside of the second substrate forming area and the plurality of first inspection wirings outside the second substrate forming area. A liquid crystal cell unit, wherein a first conductive portion for inspection having wirings connected thereto is formed. 【請求項２】 前記第２の基板母材上の前記第２検査用
引き廻し配線と前記第２の表示用電極は、前記第２の表
示用電極の下層側に前記絶縁膜を介して設けられ個々の
前記第２の表示用電極と導電接続された各第２表示電極
用引き廻し配線によって電気的に接続されていることを
特徴とする請求項１に記載の液晶セルユニット。2. The second inspection wiring and the second display electrode on the second substrate base material are provided below the second display electrode via the insulating film. The liquid crystal cell unit according to claim 1, wherein the liquid crystal cell unit is electrically connected to each of the second display electrodes by conductive wiring connected to each of the second display electrodes. 【請求項３】 前記第２の基板母材上の前記第１検査用
引き廻し配線と前記第１の基板母材の前記第１基板形成
領域に形成された前記第１の表示用電極は両基板母材間
での検査用上下導通部を介して電気的に接続されている
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の液晶セ
ルユニット。3. The first inspection lead-out wiring on the second substrate base material and the first display electrode formed in the first substrate forming region of the first substrate base material on both sides. The liquid crystal cell unit according to claim 1 or 2, wherein the substrate base materials are electrically connected to each other through a vertical conduction portion for inspection. 【請求項４】 前記第２の基板母材上の前記第１検査用
導電部と前記第２検査用導電部は前記第２の基板母材の
最端部にまで延設されていることを特徴とする請求項１
ないし３のいずれか一項に記載の液晶セルユニット。4. The first inspecting conductive portion and the second inspecting conductive portion on the second substrate base material are extended to the outermost end of the second substrate base material. Claim 1 characterized by
4. The liquid crystal cell unit according to any one of items 1 to 3. 【請求項５】 前記第１の基板母材の各第１の基板形成
領域に外部接続用端子部が形成されているとともに、前
記第１検査用導電部が、前記第１の基板母材に形成され
た前記外部接続用端子部と対向する端材部分に形成され
ていることを特徴とする請求項１ないし４のいずれか一
項に記載の液晶セルユニット。5. An external connection terminal portion is formed in each first substrate formation region of the first substrate base material, and the first inspection conductive portion is provided on the first substrate base material. The liquid crystal cell unit according to any one of claims 1 to 4, wherein the liquid crystal cell unit is formed on an end material portion facing the formed external connection terminal portion. 【請求項６】 前記第１の基板母材の各第１の基板形成
領域に外部接続用端子部が形成されているとともに、前
記第２検査用導電部が、前記第１の基板母材に形成され
た前記外部接続用端子部と対向する端材部分に形成され
ていることを特徴とする請求項１ないし５のいずれか一
項に記載の液晶セルユニット。6. An external connection terminal portion is formed in each of the first substrate forming regions of the first substrate base material, and the second inspection conductive portion is provided on the first substrate base material. The liquid crystal cell unit according to any one of claims 1 to 5, wherein the liquid crystal cell unit is formed on an end material portion facing the formed external connection terminal portion. 【請求項７】 各シール材が、液晶を注入するための液
晶注入部を有しないとともに、前記第１の基板母材の各
第１の基板形成領域と前記第２の基板母材の各第２の基
板形成領域との間に液晶層が挟持されていることを特徴
とする請求項１ないし６のいずれか一項に記載の液晶セ
ルユニット。7. Each sealing material does not have a liquid crystal injection portion for injecting liquid crystal, and each first substrate forming region of the first substrate base material and each first substrate forming area of the second substrate base material. 7. The liquid crystal cell unit according to claim 1, wherein a liquid crystal layer is sandwiched between the two substrate formation regions. 【請求項８】 各シール材が、液晶を注入するための液
晶注入部を有するとともに、前記複数の液晶セルが、前
記液晶注入部が前記液晶セルユニットの最端部に位置す
るように、一方向に配列しており、前記第１の基板母材
の各第１の基板形成領域と前記第２の基板母材の各第２
の基板形成領域との間に液晶層が挟持されていることを
特徴とする請求項１ないし７のいずれか一項に記載の液
晶セルユニット。8. Each of the sealing members has a liquid crystal injecting section for injecting liquid crystal, and the plurality of liquid crystal cells are arranged so that the liquid crystal injecting section is located at the end of the liquid crystal cell unit. The first substrate forming regions of the first substrate base material and the second substrate forming bases of the second substrate base material.
8. The liquid crystal cell unit according to claim 1, further comprising a liquid crystal layer sandwiched between the liquid crystal cell unit and the substrate forming region. 【請求項９】 各シール材が、液晶を注入するための液
晶注入部を有するとともに、複数の前記液晶注入部が前
記液晶セルユニットの最端部に位置しておらず、前記第
１の基板母材の各第１の基板形成領域と前記第２の基板
母材の各第２の基板形成領域との間に液晶層が挟持され
ていないことを特徴とする請求項１ないし７のいずれか
一項に記載の液晶セルユニット。9. Each of the sealing materials has a liquid crystal injecting section for injecting liquid crystal, and the plurality of liquid crystal injecting sections are not located at the outermost end of the liquid crystal cell unit, and the first substrate is provided. 8. The liquid crystal layer is not sandwiched between each first substrate forming region of the base material and each second substrate forming region of the second substrate base material. The liquid crystal cell unit according to item 1. 【請求項１０】 請求項１ないし９のいずれか一項に記
載の液晶セルユニットから製造された液晶装置であっ
て、 前記第１の基板母材の前記第１の基板形成領域から得ら
れた第１の基板と、前記第２の基板母材の前記第２の基
板形成領域から得られた第２の基板とを具備し、前記第
１の基板と前記第２の基板との間に液晶層が挟持されて
いるとともに、前記第１検査用引き廻し配線の少なくと
も一部、前記第２検査用引き廻し配線の少なくとも一
部、および前記検査用上下導通部を具備することを特徴
とする液晶装置。10. A liquid crystal device manufactured from the liquid crystal cell unit according to claim 1, wherein the liquid crystal device is obtained from the first substrate forming region of the first substrate base material. A first substrate; and a second substrate obtained from the second substrate forming region of the second substrate base material, wherein a liquid crystal is provided between the first substrate and the second substrate. A liquid crystal having a layer sandwiched between the liquid crystal display device, the liquid crystal display device including at least a part of the first inspection wiring line, at least a part of the second inspection wiring line, and the inspection vertical conducting portion. apparatus. 【請求項１１】 請求項７または８に記載の液晶セルユ
ニットから液晶装置を製造する液晶装置の製造方法であ
って、 前記液晶セルユニットの前記第１の表示用電極および前
記第２の表示用電極の欠陥検査を行う検査工程と、欠陥
検査後の前記液晶セルユニットの前記第１の基板母材を
各第１の基板形成領域の外周に沿って切断し、前記第２
の基板母材を各第２の基板形成領域の外周に沿って切断
することにより、複数の液晶セルに分割する切断工程と
を有することを特徴とする液晶装置の製造方法。11. A method of manufacturing a liquid crystal device for manufacturing a liquid crystal device from the liquid crystal cell unit according to claim 7, wherein the first display electrode and the second display electrode of the liquid crystal cell unit are used. An inspection step of inspecting a defect of the electrode, and cutting the first substrate base material of the liquid crystal cell unit after the defect inspection along the outer periphery of each first substrate formation region,
And a cutting step of dividing the substrate base material into a plurality of liquid crystal cells by cutting along the outer periphery of each second substrate formation region. 【請求項１２】 請求項８に記載の液晶セルユニットか
ら液晶装置を製造する液晶装置の製造方法であって、 前記液晶セルユニットを、全ての前記液晶注入部が最端
部に位置するように切断し、複数の前記液晶セルが一方
向に配列した短冊状の液晶セルユニットに分割する第１
の切断工程と、 前記短冊状の液晶セルユニットの各液晶セルに、前記液
晶注入部から液晶を注入し、液晶層を形成する液晶注入
工程と、 前記短冊状の液晶セルユニットの前記液晶注入部を封止
する封止工程と、 前記短冊状の液晶セルユニットの前記第１の表示用電極
および前記第２の表示用電極の欠陥検査を行う検査工程
と、 欠陥検査後の前記短冊状の液晶セルユニットを切断し、
複数の液晶セルに分割する第２の切断工程とを有するこ
とを特徴とする液晶装置の製造方法。12. A method of manufacturing a liquid crystal device, which comprises manufacturing the liquid crystal device from the liquid crystal cell unit according to claim 8, wherein all the liquid crystal injecting portions of the liquid crystal cell unit are positioned at an endmost position. A first liquid crystal cell unit is cut and divided into strip-shaped liquid crystal cell units in which a plurality of the liquid crystal cells are arranged in one direction.
And a liquid crystal injecting step of injecting liquid crystal into the liquid crystal cells of the strip-shaped liquid crystal cell unit from the liquid crystal injecting section to form a liquid crystal layer, and the liquid crystal injecting section of the strip-shaped liquid crystal cell unit. A sealing step of sealing the strip-shaped liquid crystal cell unit, an inspection step of inspecting the first display electrode and the second display electrode of the strip-shaped liquid crystal cell unit for defects, and the strip-shaped liquid crystal after the defect inspection. Disconnect the cell unit,
A second cutting step of dividing the liquid crystal cell into a plurality of liquid crystal cells. 【請求項１３】 前記検査工程において、複数の前記第
１検査用導電部、複数の前記第２検査用導電部に各々検
査用プローブを接触させ、電気的特性を計測することに
より、前記液晶セルユニットの前記第１の表示用電極お
よび前記第２の表示用電極の欠陥検査を行うことを特徴
とする請求項１１または１２に記載の液晶装置の製造方
法。13. The liquid crystal cell according to claim 13, wherein in the inspecting step, an inspecting probe is brought into contact with each of the plurality of first inspecting conductive parts and the plurality of second inspecting conductive parts to measure an electrical characteristic. 13. The method for manufacturing a liquid crystal device according to claim 11, wherein a defect inspection of the first display electrode and the second display electrode of the unit is performed. 【請求項１４】 前記検査工程において、少なくとも１
個の前記第１検査用導電部、少なくとも１個の前記第２
検査用導電部に各々電圧を印加することにより、前記液
晶セルユニットの前記第１の表示用電極および前記第２
の表示用電極の欠陥検査を行うことを特徴とする請求項
１１または１２に記載の液晶装置の製造方法。14. In the inspection step, at least 1
Number of the first conductive portions for inspection, at least one of the second conductive portions
By applying a voltage to each of the conductive portions for inspection, the first display electrode and the second display electrode of the liquid crystal cell unit are provided.
13. The method for manufacturing a liquid crystal device according to claim 11, wherein the display electrode is inspected for defects. 【請求項１５】 請求項１０に記載の液晶装置を備えた
ことを特徴とする電子機器。15. An electronic apparatus comprising the liquid crystal device according to claim 10.
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