JP2003214835A - 絶対位置検出装置とそれを搭載した顕微鏡 - Google Patents
絶対位置検出装置とそれを搭載した顕微鏡Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 高精度な絶対位置検出装置とこれを搭載した
顕微鏡を従来より安価に提供すること。 【解決手段】 往復移動する移動機構部と、前記移動機
構部の位置を検出する位置検出手段22、28、30、
32、33を有し、前記位置検出手段22、28、3
0、32,33の信号から前記移動機構部の絶対位置を
検出し、前記移動機構部を制御する制御手段を有する絶
対位置検出装置において、前記複数の位置検出手段の第
1の位置検出手段22は、前記移動機構部の移動位置に
対応する第1の信号を出力し、前記複数の位置検出手段
の第2の位置検出手段28は、前記移動機構部が移動範
囲内で予め定められた領域を移動するとき単位移動量に
対応する第2の信号を出力し、前記制御手段40が前記
第1の信号と前記第2の信号とから前記移動機構部の絶
対位置を検出すること。
顕微鏡を従来より安価に提供すること。 【解決手段】 往復移動する移動機構部と、前記移動機
構部の位置を検出する位置検出手段22、28、30、
32、33を有し、前記位置検出手段22、28、3
0、32,33の信号から前記移動機構部の絶対位置を
検出し、前記移動機構部を制御する制御手段を有する絶
対位置検出装置において、前記複数の位置検出手段の第
1の位置検出手段22は、前記移動機構部の移動位置に
対応する第1の信号を出力し、前記複数の位置検出手段
の第2の位置検出手段28は、前記移動機構部が移動範
囲内で予め定められた領域を移動するとき単位移動量に
対応する第2の信号を出力し、前記制御手段40が前記
第1の信号と前記第2の信号とから前記移動機構部の絶
対位置を検出すること。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、往復移動する移動
機構部の絶対位置を検出する絶対位置検出装置に関す
る。
機構部の絶対位置を検出する絶対位置検出装置に関す
る。
【0002】
【従来技術】従来、直線的に往復移動する移動機構部の
絶対位置検出をするためには、アブソリュートエンコー
ダを用いることや、リニアエンコーダを用いることによ
って検出していた。
絶対位置検出をするためには、アブソリュートエンコー
ダを用いることや、リニアエンコーダを用いることによ
って検出していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、アブソリュー
トエンコーダを用いる場合、高精度の絶対位置検出を行
うためには、アブソリュートエンコーダが、求める精度
に比例して大きくなるため、小型化が難しくなると同時
にアブソリュートエンコーダが非常に高価になるという
問題があった。
トエンコーダを用いる場合、高精度の絶対位置検出を行
うためには、アブソリュートエンコーダが、求める精度
に比例して大きくなるため、小型化が難しくなると同時
にアブソリュートエンコーダが非常に高価になるという
問題があった。
【0004】また、リニアエンコーダを使用した場合に
は、電源投入時に移動機構部の絶対位置がどこにあるか
不明なため、移動機構部の絶対位置情報を初期化する必
要がある。この初期化は移動機構部を基準位置(例えば
原点位置)まで移動し、絶対位置情報を原点情報にリセ
ットすることで行っている。一般に、高精度に移動機構
部の絶対位置を検出するためには、高精度のリニアエン
コーダを用いると共に、移動機構部の移動量の制御も高
精度に行われている。このような、高精度の移動機構を
用いた場合、高速に移動機構部を移動することは不可能
であり(高精度と高速移動とは一般的に相反するた
め)、電源投入時や何かの理由で現在位置情報が狂った
時に、初期化のための時間がかかると言う問題があっ
た。
は、電源投入時に移動機構部の絶対位置がどこにあるか
不明なため、移動機構部の絶対位置情報を初期化する必
要がある。この初期化は移動機構部を基準位置(例えば
原点位置)まで移動し、絶対位置情報を原点情報にリセ
ットすることで行っている。一般に、高精度に移動機構
部の絶対位置を検出するためには、高精度のリニアエン
コーダを用いると共に、移動機構部の移動量の制御も高
精度に行われている。このような、高精度の移動機構を
用いた場合、高速に移動機構部を移動することは不可能
であり(高精度と高速移動とは一般的に相反するた
め)、電源投入時や何かの理由で現在位置情報が狂った
時に、初期化のための時間がかかると言う問題があっ
た。
【0005】本発明は、上記問題に鑑みて行われたもの
であり、安価で簡単な構成の高精度な絶対位置検出装置
とこれを搭載した顕微鏡を提供することを目的としてい
る。
であり、安価で簡単な構成の高精度な絶対位置検出装置
とこれを搭載した顕微鏡を提供することを目的としてい
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目標を達成するため
に、本発明では、往復移動する移動機構部と、前記移動
機構部の位置を検出する位置検出手段を有し、前記位置
検出手段の信号から前記移動機構部の絶対位置を検出
し、前記移動機構部を制御する制御手段を有する絶対位
置検出装置において、前記位置検出手段の第1の位置検
出手段は、前記移動機構部の移動位置に対応する第1の
信号を出力し、前記位置検出手段の第2の位置検出手段
は、前記移動機構部が移動範囲内で予め定められた領域
を移動するときの単位移動量に対応する第2の信号を出
力し、前記制御手段が前記第1の信号と前記第2の信号
とから前記移動機構部の絶対位置を検出することを特徴
とする絶対位置検出装置を提供する。
に、本発明では、往復移動する移動機構部と、前記移動
機構部の位置を検出する位置検出手段を有し、前記位置
検出手段の信号から前記移動機構部の絶対位置を検出
し、前記移動機構部を制御する制御手段を有する絶対位
置検出装置において、前記位置検出手段の第1の位置検
出手段は、前記移動機構部の移動位置に対応する第1の
信号を出力し、前記位置検出手段の第2の位置検出手段
は、前記移動機構部が移動範囲内で予め定められた領域
を移動するときの単位移動量に対応する第2の信号を出
力し、前記制御手段が前記第1の信号と前記第2の信号
とから前記移動機構部の絶対位置を検出することを特徴
とする絶対位置検出装置を提供する。
【0007】また、本発明の絶対位置検出装置では、前
記第1の位置検出手段は、ポテンショメータから構成さ
れていることが好ましい。
記第1の位置検出手段は、ポテンショメータから構成さ
れていることが好ましい。
【0008】また、本発明の絶対位置検出装置では、前
記第2の位置検出手段は、フォトインタラプタと複数の
スリットを有する遮光板とから構成されていることが好
ましい。
記第2の位置検出手段は、フォトインタラプタと複数の
スリットを有する遮光板とから構成されていることが好
ましい。
【0009】また、本発明の絶対位置検出装置では、前
記位置検出手段の第3の位置検出手段は、リニアエンコ
ーダからなることことが好ましい。
記位置検出手段の第3の位置検出手段は、リニアエンコ
ーダからなることことが好ましい。
【0010】また、本発明の絶対位置検出装置では、前
記移動機構部の往復移動範囲の制限位置を検出する制限
位置検出装置を設けたことが好ましい。
記移動機構部の往復移動範囲の制限位置を検出する制限
位置検出装置を設けたことが好ましい。
【0011】また、本発明では、前記絶対位置検出装置
を搭載したことを特徴とする顕微鏡を提供する。
を搭載したことを特徴とする顕微鏡を提供する。
【0012】
【発明の実施形態】本発明の実施の形態を図面を参照し
つつ説明する。
つつ説明する。
【0013】図1は本発明に係る絶対位置検出装置を搭
載した顕微鏡の全体構成図を、図2は本発明に係る絶対
位置検出装置の概略説明図を、図3は第1の位置検出手
段の拡大説明図を、図4は第2の位置検出手段の拡大説
明図を、図5は第3の位置検出手段の拡大説明図を、図
6は絶対位置検出動作時の各信号の関係を示す図を、そ
して図7は絶対位置検出装置の制御手段を示す図であ
る。
載した顕微鏡の全体構成図を、図2は本発明に係る絶対
位置検出装置の概略説明図を、図3は第1の位置検出手
段の拡大説明図を、図4は第2の位置検出手段の拡大説
明図を、図5は第3の位置検出手段の拡大説明図を、図
6は絶対位置検出動作時の各信号の関係を示す図を、そ
して図7は絶対位置検出装置の制御手段を示す図であ
る。
【0014】図1において、倒立顕微鏡10は、光源部
12と照明光学系14有し、ステージ16に置かれた不
図示の標本を照明し、標本からの透過光はレボルバ18
の上対物レンズ介し不図示の光学系を経由して観察光学
系20に送られ目視で観察される。倒立顕微鏡10の対
物レンズが装着されるレボルバ18には標本に合焦する
ために上下に移動する移動機構部が設けられている。そ
して、この移動機構部には、対物レンズの絶対位置を検
出するために本発明に係る絶対位置検出装置21が設け
られている。この絶対位置検出装置21を用いることに
よって、対物レンズが標本やステージにぶつかることを
防止することができ、さらにまた、絶対位置検出装置2
1からの信号を用いることによって自動焦点調整などの
制御も可能としている。
12と照明光学系14有し、ステージ16に置かれた不
図示の標本を照明し、標本からの透過光はレボルバ18
の上対物レンズ介し不図示の光学系を経由して観察光学
系20に送られ目視で観察される。倒立顕微鏡10の対
物レンズが装着されるレボルバ18には標本に合焦する
ために上下に移動する移動機構部が設けられている。そ
して、この移動機構部には、対物レンズの絶対位置を検
出するために本発明に係る絶対位置検出装置21が設け
られている。この絶対位置検出装置21を用いることに
よって、対物レンズが標本やステージにぶつかることを
防止することができ、さらにまた、絶対位置検出装置2
1からの信号を用いることによって自動焦点調整などの
制御も可能としている。
【0015】次に、本発明に係る絶対位置検出装置21
に関し説明する。図2は、図1の絶対位置検出装置21
の概略説明図である(移動方向を紙面の横方向に図示し
ている)。本発明に係る絶対位置検出装置21は、レボ
ルバ18に取り付けられた不図示の直線的に往復移動す
る移動機構部とこれを支持する顕微鏡10の本体に固定
された不図示の支持部とからなり、移動機構部の移動量
に対応して検出信号を発生する第1の位置検出手段であ
るポテンショメータ22と、固定された支持部に設けら
れたフォトインタラプタ24と移動機構部に設けられた
複数のスリット26aを有する遮光板26から構成され
る第2の位置検出手段28と、第3の位置検出手段であ
るリニアエンコーダ30とから構成されている。さら
に、移動機構部の往復両端位置を制限する制限位置検出
装置であるフォトインタラプタ32とフォトインタラプ
タ33がそれぞれ固定された支持部に設けられている。
そして、それぞれの検出手段からの信号は図7に示す制
御手段40に伝送されて、各種判断をされて移動機構部
の絶対位置検出が行われる。
に関し説明する。図2は、図1の絶対位置検出装置21
の概略説明図である(移動方向を紙面の横方向に図示し
ている)。本発明に係る絶対位置検出装置21は、レボ
ルバ18に取り付けられた不図示の直線的に往復移動す
る移動機構部とこれを支持する顕微鏡10の本体に固定
された不図示の支持部とからなり、移動機構部の移動量
に対応して検出信号を発生する第1の位置検出手段であ
るポテンショメータ22と、固定された支持部に設けら
れたフォトインタラプタ24と移動機構部に設けられた
複数のスリット26aを有する遮光板26から構成され
る第2の位置検出手段28と、第3の位置検出手段であ
るリニアエンコーダ30とから構成されている。さら
に、移動機構部の往復両端位置を制限する制限位置検出
装置であるフォトインタラプタ32とフォトインタラプ
タ33がそれぞれ固定された支持部に設けられている。
そして、それぞれの検出手段からの信号は図7に示す制
御手段40に伝送されて、各種判断をされて移動機構部
の絶対位置検出が行われる。
【0016】図2では、絶対位置検出装置21は直線的
に往復移動可能な移動機構部の物理的移動距離Xを規定
するために、図中の左端移動限界位置を規定、検出する
フォトインタラプタ32と右端移動限界位置を規定、検
出するフォトインタラプタ33が配置されている。ま
た、物理的距離X中での実移動距離を規定するために、
第2の位置検出装置28の一部である複数のスリット2
6aを有する遮光板26が配置されている。遮光板26
の左端aとフォトインタラプタ32との距離をA、遮光
板26の右端bとフォトインタラプタ33との距離をB
とすると、実移動距離は(A+B)となる。実移動距離
(A+B)中における移動機構部の絶対位置検出は、ポ
テンショメータ22の出力信号(図3(b)参照)とフ
ォトインタラプタ24の出力信号(図4(b)参照)お
よびリニアエンコーダ30の出力信号(図5(b)参
照)とから制御手段40(図7参照)によって行われ
る。
に往復移動可能な移動機構部の物理的移動距離Xを規定
するために、図中の左端移動限界位置を規定、検出する
フォトインタラプタ32と右端移動限界位置を規定、検
出するフォトインタラプタ33が配置されている。ま
た、物理的距離X中での実移動距離を規定するために、
第2の位置検出装置28の一部である複数のスリット2
6aを有する遮光板26が配置されている。遮光板26
の左端aとフォトインタラプタ32との距離をA、遮光
板26の右端bとフォトインタラプタ33との距離をB
とすると、実移動距離は(A+B)となる。実移動距離
(A+B)中における移動機構部の絶対位置検出は、ポ
テンショメータ22の出力信号(図3(b)参照)とフ
ォトインタラプタ24の出力信号(図4(b)参照)お
よびリニアエンコーダ30の出力信号(図5(b)参
照)とから制御手段40(図7参照)によって行われ
る。
【0017】図3に示すように、第1の位置検出手段で
あるポテンショメータ22からの第1の信号(図3
(b))は、移動機構部の実移動距離(A+B)内の移
動位置に比例して、“GND”から“Vm”まで直線的
に変化する。従って、この出力電圧の値から、移動機構
部のおよその位置を推定することができるが、絶対位置
を決めることは、ポテンショメータ22の誤差が大きい
ため困難である。本実施形態では、ポテンショメータ2
2の出力電圧の最大値Vmは、5Vを例にして説明す
る。
あるポテンショメータ22からの第1の信号(図3
(b))は、移動機構部の実移動距離(A+B)内の移
動位置に比例して、“GND”から“Vm”まで直線的
に変化する。従って、この出力電圧の値から、移動機構
部のおよその位置を推定することができるが、絶対位置
を決めることは、ポテンショメータ22の誤差が大きい
ため困難である。本実施形態では、ポテンショメータ2
2の出力電圧の最大値Vmは、5Vを例にして説明す
る。
【0018】図4に示すように、第2の位置検出手段2
8の一部である遮光板26には実移動距離(A+B)の
間を均等に分割した単位移動量に対応する信号をフォト
インタラプタ24が発生するように(図4(b))、遮
光板26中に複数のスリット26aが均等に配置されて
いる(図4(a))。この複数のスリット26aの数は、
実移動距離(A+B)やフォトインタラプタ24の分解
能に応じて任意に設定可能である。本実施形態では、ス
リット26aが5個設けられている場合を例として説明
する。
8の一部である遮光板26には実移動距離(A+B)の
間を均等に分割した単位移動量に対応する信号をフォト
インタラプタ24が発生するように(図4(b))、遮
光板26中に複数のスリット26aが均等に配置されて
いる(図4(a))。この複数のスリット26aの数は、
実移動距離(A+B)やフォトインタラプタ24の分解
能に応じて任意に設定可能である。本実施形態では、ス
リット26aが5個設けられている場合を例として説明
する。
【0019】なお、複数のスリット26aは、実移動距
離(A+B)の全長の一部分を均等に分割するように構
成しても同等の効果が得られる。また、スリット26a
の数や間隔、幅は任意に決めることができるが、ポテン
ショメータ22が有する精度より細かく設定する必要は
ない。また、本実施形態の説明では、遮光板26を移動
機構部に、フォトインタラプタ24を支持部に配置して
いるが、フォトインタラプタ24を移動機構部に遮光板
26を支持部に配置しても良い。
離(A+B)の全長の一部分を均等に分割するように構
成しても同等の効果が得られる。また、スリット26a
の数や間隔、幅は任意に決めることができるが、ポテン
ショメータ22が有する精度より細かく設定する必要は
ない。また、本実施形態の説明では、遮光板26を移動
機構部に、フォトインタラプタ24を支持部に配置して
いるが、フォトインタラプタ24を移動機構部に遮光板
26を支持部に配置しても良い。
【0020】図5には、第3の位置検出手段であるリニ
アエンコーダ30からの出力信号が示されている(図5
(b))。リニアエンコーダ30からの信号は、実移動
距離(A+B)間をリニアエンコーダ30の分解能に応
じたパルス信号が出力されて移動機構部の位置検出が行
われるように、工場出荷時に1パルス当たりの移動量が
校正されている(使用中に再校正することも可能であ
る)。この結果、1箇所でも移動機構部の絶対位置検出
が行われれば、その後はこの検出された絶対位置を基準
にリニアエンコーダ30により、全移動範囲にわたって
絶対位置検出が可能となる。このリニアエンコーダ30
は、移動機構部を高精度に位置決めするために用いられ
るため、高い分解能を有する(単位長さあたりのパルス
出力数の多い)ものが用いられる。
アエンコーダ30からの出力信号が示されている(図5
(b))。リニアエンコーダ30からの信号は、実移動
距離(A+B)間をリニアエンコーダ30の分解能に応
じたパルス信号が出力されて移動機構部の位置検出が行
われるように、工場出荷時に1パルス当たりの移動量が
校正されている(使用中に再校正することも可能であ
る)。この結果、1箇所でも移動機構部の絶対位置検出
が行われれば、その後はこの検出された絶対位置を基準
にリニアエンコーダ30により、全移動範囲にわたって
絶対位置検出が可能となる。このリニアエンコーダ30
は、移動機構部を高精度に位置決めするために用いられ
るため、高い分解能を有する(単位長さあたりのパルス
出力数の多い)ものが用いられる。
【0021】図6は移動機構部をフォトインタラプタ3
2側からフォトインタラプタ33側に向かって実移動距
離(A+B)動かしたときのポテンショメータ22(図
6(a))、第2の位置検出装置28のフォトインタラ
プタ24(図6(b))、リニアエンコーダ30(図6
(c))のそれぞれの出力信号を示している。この図を
用いて移動機構部の絶対位置検出動作について説明す
る。
2側からフォトインタラプタ33側に向かって実移動距
離(A+B)動かしたときのポテンショメータ22(図
6(a))、第2の位置検出装置28のフォトインタラ
プタ24(図6(b))、リニアエンコーダ30(図6
(c))のそれぞれの出力信号を示している。この図を
用いて移動機構部の絶対位置検出動作について説明す
る。
【0022】移動機構部が実移動距離(A+B)(例え
ば、A+B=10mm)移動したときのポテンショメー
タ22からの出力は、移動機構部の移動位置に比例して
直線的に増加し実移動距離(A+B)移動したとき最大
値Vm(例えば、5V)を示すように設定されている。
また、フォトインタラプタ24からは、遮光板26のス
リット26a(例えば、5個のスリットが形成されてい
る場合)によって図7(b)に示されるように10個の
エッジ(図中の番号1〜10)を持った単位移動量に対
応したパルス信号が得られる。
ば、A+B=10mm)移動したときのポテンショメー
タ22からの出力は、移動機構部の移動位置に比例して
直線的に増加し実移動距離(A+B)移動したとき最大
値Vm(例えば、5V)を示すように設定されている。
また、フォトインタラプタ24からは、遮光板26のス
リット26a(例えば、5個のスリットが形成されてい
る場合)によって図7(b)に示されるように10個の
エッジ(図中の番号1〜10)を持った単位移動量に対
応したパルス信号が得られる。
【0023】電源をOFF状態からON状態にしたと
き、図7に示す制御手段40への信号は、ON状態にし
たときの移動機構部の位置であるポテンショメータ22
からの出力電圧(例えば、Vc=2.7V)のみが得ら
れる。この状態では電圧Vcが電圧Vmの半分に近いこ
とから、移動機構部の位置は、およそ実移動距離(A+
B)の半分付近(約5.4mm前後)の位置にあること
が推定されるが、ポテンショメータ22の精度や、周囲
の温度状態によってポテンショメータ22の出力信号に
誤差が生じていることが考えられるため、この値をもっ
て移動機構部の絶対位置とすることには問題がある。
き、図7に示す制御手段40への信号は、ON状態にし
たときの移動機構部の位置であるポテンショメータ22
からの出力電圧(例えば、Vc=2.7V)のみが得ら
れる。この状態では電圧Vcが電圧Vmの半分に近いこ
とから、移動機構部の位置は、およそ実移動距離(A+
B)の半分付近(約5.4mm前後)の位置にあること
が推定されるが、ポテンショメータ22の精度や、周囲
の温度状態によってポテンショメータ22の出力信号に
誤差が生じていることが考えられるため、この値をもっ
て移動機構部の絶対位置とすることには問題がある。
【0024】この状態から、移動機構部を例えば図2の
左端に向かって移動させると、ポテンショメータ22の
出力は電圧Vcから電圧Vp(例えば、約2.5V)ま
で低下すると同時にフォトインタラプタ24の信号レベ
ルが“H”レベルから“GND”レベルに変化する。フ
ォトインタラプタ24の信号は10個のエッジを有しエ
ッジ間隔が予め定められた等間隔(単位移動量)に設定
されおり、本例の場合、エッジ信号が1mm間隔で発生
するように設定されているので、図6(b)の1から1
0までの数字は、丁度1mmから10mmまでの値に相
当していることになる。
左端に向かって移動させると、ポテンショメータ22の
出力は電圧Vcから電圧Vp(例えば、約2.5V)ま
で低下すると同時にフォトインタラプタ24の信号レベ
ルが“H”レベルから“GND”レベルに変化する。フ
ォトインタラプタ24の信号は10個のエッジを有しエ
ッジ間隔が予め定められた等間隔(単位移動量)に設定
されおり、本例の場合、エッジ信号が1mm間隔で発生
するように設定されているので、図6(b)の1から1
0までの数字は、丁度1mmから10mmまでの値に相
当していることになる。
【0025】上述のポテンショメータ22の出力信号電
圧Vp(例えば、約2.5V)とフォトインタラプタ2
4のエッジ検出の結果から、移動機構部の現在の位置は
左端から丁度5mmの位置にあることが決定でき、移動
機構部の絶対位置が決定できる。このようにして、ポテ
ンショメータ22の出力信号とフォトインタラプタ24
のエッジ信号とから移動機構部の絶対位置検出が可能と
なる。
圧Vp(例えば、約2.5V)とフォトインタラプタ2
4のエッジ検出の結果から、移動機構部の現在の位置は
左端から丁度5mmの位置にあることが決定でき、移動
機構部の絶対位置が決定できる。このようにして、ポテ
ンショメータ22の出力信号とフォトインタラプタ24
のエッジ信号とから移動機構部の絶対位置検出が可能と
なる。
【0026】ところで、ここで得られる絶対位置は実移
動距離(A+B)に対して、(A+B)/(スリット2
6aの数×2)の位置毎にしか絶対位置を決定すること
ができない。このため第3の位置検出手段であるリニア
エンコーダ30を設けることによって、上述のようにし
て求められた絶対位置を基準として、リニアエンコーダ
30の信号(図6(c))をもとに、実移動距離(A+
B)の全域にわたって、所望の絶対位置までより正確に
移動機構部を動かすことが可能となる。また、リニアエ
ンコーダ30の分解能を高くすることによって、移動機
構部の絶対位置をさらに高精度に制御することが可能と
なる。
動距離(A+B)に対して、(A+B)/(スリット2
6aの数×2)の位置毎にしか絶対位置を決定すること
ができない。このため第3の位置検出手段であるリニア
エンコーダ30を設けることによって、上述のようにし
て求められた絶対位置を基準として、リニアエンコーダ
30の信号(図6(c))をもとに、実移動距離(A+
B)の全域にわたって、所望の絶対位置までより正確に
移動機構部を動かすことが可能となる。また、リニアエ
ンコーダ30の分解能を高くすることによって、移動機
構部の絶対位置をさらに高精度に制御することが可能と
なる。
【0027】上述の制御は図7に示す制御手段40によ
って行われる。制御手段40にはポテンショメータ22
からのアナログ信号をデジタル信号に変換するためのA
/D変換器42と工場出荷時のキャリブレーションデー
タ等を記憶するデータ記憶部43等を有し各種の処理を
行うCPU44および移動機構部の移動を行うモータ5
0の制御を行うドライバ46から構成されている。
って行われる。制御手段40にはポテンショメータ22
からのアナログ信号をデジタル信号に変換するためのA
/D変換器42と工場出荷時のキャリブレーションデー
タ等を記憶するデータ記憶部43等を有し各種の処理を
行うCPU44および移動機構部の移動を行うモータ5
0の制御を行うドライバ46から構成されている。
【0028】このような制御手段40によって、移動機
構部の絶対位置検出が行われると共に、所望の絶対位置
まで移動機構部を動かすことが可能になる。
構部の絶対位置検出が行われると共に、所望の絶対位置
まで移動機構部を動かすことが可能になる。
【0029】なお、本実施形態の説明では、遮光板26
のスリット26aの数を5個(10エッジ)、実移動距
離(A+B)を10mm、ポテンショメータ22の最大
出力電圧Vmを5V等を用いたが、これに限定されるも
のではなく、種々変形が可能である。
のスリット26aの数を5個(10エッジ)、実移動距
離(A+B)を10mm、ポテンショメータ22の最大
出力電圧Vmを5V等を用いたが、これに限定されるも
のではなく、種々変形が可能である。
【0030】また、フォトインタラプタ32、33は設
けなくても良いが、設けてある場合には、装置の工場出
荷調整時に、実移動距離(A+B)を全スキャンし、フ
ォトインタラプタ24、32および33の信号出力とポ
テンショメータ22およびリニアエンコーダ30の信号
出力とを用いてキャリブレーションデータを作成して制
御部40のデータ記憶部43に記憶しておき、実際の使
用時にこのキャリブレーションデータを参照、ポテンシ
ョメータ22とフォトインタラプタ24およびリニアエ
ンコーダ30の出力信号と比較制御することによって、
移動機構部の絶対位置検出を可能とすることもできる。
けなくても良いが、設けてある場合には、装置の工場出
荷調整時に、実移動距離(A+B)を全スキャンし、フ
ォトインタラプタ24、32および33の信号出力とポ
テンショメータ22およびリニアエンコーダ30の信号
出力とを用いてキャリブレーションデータを作成して制
御部40のデータ記憶部43に記憶しておき、実際の使
用時にこのキャリブレーションデータを参照、ポテンシ
ョメータ22とフォトインタラプタ24およびリニアエ
ンコーダ30の出力信号と比較制御することによって、
移動機構部の絶対位置検出を可能とすることもできる。
【0031】また、第2の位置検出装置28を構成して
いるフォトインタラプタ24と遮光板26の替わりに、
分解能の粗いリニアエンコーダを第2の位置検出手段と
して使用することもできる。
いるフォトインタラプタ24と遮光板26の替わりに、
分解能の粗いリニアエンコーダを第2の位置検出手段と
して使用することもできる。
【0032】さらに、ポテンショメータ22の替わり
に、図8に示すような三角形の開口部51を有する遮光
板52とフォトインタラプタ54とを組み合わせた第1
の位置検出手段として使用して、実移動距離(A+B)
の範囲を遮光板52またはフォトインタラプタ54とを
相対的に移動させることによって、ポテンショメータ2
2と同等の出力信号を得ることができ、絶対位置検出装
置21を安価に構成することも可能である。
に、図8に示すような三角形の開口部51を有する遮光
板52とフォトインタラプタ54とを組み合わせた第1
の位置検出手段として使用して、実移動距離(A+B)
の範囲を遮光板52またはフォトインタラプタ54とを
相対的に移動させることによって、ポテンショメータ2
2と同等の出力信号を得ることができ、絶対位置検出装
置21を安価に構成することも可能である。
【0033】なお、本発明に係る絶対値検出装置は、顕
微鏡の焦点位置の絶対位置検出のみならず、X−Yステ
ージ等の移動機構部の絶対位置検出にも適用可能であ
る。
微鏡の焦点位置の絶対位置検出のみならず、X−Yステ
ージ等の移動機構部の絶対位置検出にも適用可能であ
る。
【0034】なお、この上述の実施の形態は例に過ぎ
ず、この構成や形状に限定されるものではない。本発明
の範囲内において適宜修正、変更が可能である。
ず、この構成や形状に限定されるものではない。本発明
の範囲内において適宜修正、変更が可能である。
【0035】
【発明の効果】上述のように、本発明では、高精度な絶
対位置検出装置とこれを搭載した顕微鏡を従来よりも安
価に提供することができる。
対位置検出装置とこれを搭載した顕微鏡を従来よりも安
価に提供することができる。
【図1】本発明に係る絶対位置検出装置を搭載した顕微
鏡の全体構成図。
鏡の全体構成図。
【図2】本発明に係る絶対位置検出装置の概略説明図
【図3】第1の位置検出手段の拡大説明図。
【図4】第2の位置検出手段の拡大説明図。
【図5】第3の位置検出手段の拡大説明図。
【図6】絶対位置検出動作を説明する各信号の関係を示
す図。
す図。
【図7】絶対位置検出装置の制御手段を示す図。
【図8】第1の位置検出手段の別の例を示す図。
10 倒立顕微鏡
12 光源部
14 照明光学系
16 ステージ
18 レボルバ
20 観察光学系
21 絶対位置検出装置
22 ポテンショメータ
24、32、33、54 フォトインタラプタ
26、52 遮光板
26a スリット
28 第2の位置検出手段
30 リニアエンコーダ
40 制御手段
42 A/D変換器
43 データ記憶部
44 CPU
46 ドライバ
50 モータ
51 開口部
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考)
G02B 7/08 G02B 21/24 2H052
21/00 G01D 5/16 A
21/24 G02B 7/04 C
Fターム(参考) 2F064 AA01 BB01 BB03 CC04 MM26
MM34
2F065 AA07 AA14 AA20 BB02 BB18
DD02 FF02 FF16 FF23 FF67
HH15 JJ01 JJ05 JJ15 PP12
PP22 QQ25 QQ27 QQ28
2F069 AA02 DD20 GG01 GG04 GG06
GG07 HH09 HH12 HH14 NN08
2F077 AA27 CC02 EE04 RR03
2H044 BB01 DA01 DC01 DE06
2H052 AD05 AD09 AD16
Claims (6)
- 【請求項1】往復移動する移動機構部と、 前記移動機構部の位置を検出する位置検出手段を有し、 前記位置検出手段の信号から前記移動機構部の絶対位置
を検出し、前記移動機構部を制御する制御手段を有する
絶対位置検出装置において、 前記位置検出手段の第1の位置検出手段は、前記移動機
構部の移動位置に対応する第1の信号を出力し、 前記位置検出手段の第2の位置検出手段は、前記移動機
構部が移動範囲内で予め定められた領域を移動するとき
の単位移動量に対応する第2の信号を出力し、 前記制御手段が前記第1の信号と前記第2の信号とから
前記移動機構部の絶対位置を検出することを特徴とする
絶対位置検出装置。 - 【請求項2】前記第1の位置検出手段は、ポテンショメ
ータから構成されていることを特徴とする請求項1に記
載の絶対位置検出装置。 - 【請求項3】前記第2の位置検出手段は、フォトインタ
ラプタと複数のスリットを有する遮光板とから構成され
ていることを特徴とする請求項1または2に記載の絶対
位置検出装置。 - 【請求項4】前記位置検出手段の第3の位置検出手段
は、リニアエンコーダからなることを特徴とする請求項
1または2または3に記載の絶対位置検出装置。 - 【請求項5】前記移動機構部の往復移動範囲の制限位置
を検出する制限位置検出装置を設けたことを特徴とする
請求項1乃至4の何れか1項に記載の絶対位置検出装
置。 - 【請求項6】前記絶対位置検出装置を搭載したことを特
徴とする顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002009186A JP2003214835A (ja) | 2002-01-17 | 2002-01-17 | 絶対位置検出装置とそれを搭載した顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002009186A JP2003214835A (ja) | 2002-01-17 | 2002-01-17 | 絶対位置検出装置とそれを搭載した顕微鏡 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003214835A true JP2003214835A (ja) | 2003-07-30 |
Family
ID=27647255
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002009186A Withdrawn JP2003214835A (ja) | 2002-01-17 | 2002-01-17 | 絶対位置検出装置とそれを搭載した顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003214835A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006258586A (ja) * | 2005-03-16 | 2006-09-28 | Canon Inc | 位置検出装置および光学機器 |
JP2006259520A (ja) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Canon Inc | 光学機器 |
US7733586B2 (en) | 2008-05-16 | 2010-06-08 | Ffei Limited | Lens positioning assembly |
JP2017083192A (ja) * | 2015-10-23 | 2017-05-18 | 日本電子株式会社 | 検出装置および荷電粒子線装置 |
US20190196140A1 (en) * | 2017-12-25 | 2019-06-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Lens barrel controlling linear driving of movable lens and optical apparatus equipped with lens barrel |
JP2019219612A (ja) * | 2018-06-22 | 2019-12-26 | オリンパス株式会社 | 拡大観察装置 |
JP2021071444A (ja) * | 2019-11-01 | 2021-05-06 | 株式会社東海理化電機製作所 | 回転角検出装置 |
-
2002
- 2002-01-17 JP JP2002009186A patent/JP2003214835A/ja not_active Withdrawn
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2019219612A (ja) * | 2018-06-22 | 2019-12-26 | オリンパス株式会社 | 拡大観察装置 |
JP7061518B2 (ja) | 2018-06-22 | 2022-04-28 | オリンパス株式会社 | 拡大観察装置 |
JP2021071444A (ja) * | 2019-11-01 | 2021-05-06 | 株式会社東海理化電機製作所 | 回転角検出装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050405 |