JP2003157411A - 非接触型ｉｃカードの破壊装置 - Google Patents
非接触型ｉｃカードの破壊装置Info
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- JP2003157411A JP2003157411A JP2001355541A JP2001355541A JP2003157411A JP 2003157411 A JP2003157411 A JP 2003157411A JP 2001355541 A JP2001355541 A JP 2001355541A JP 2001355541 A JP2001355541 A JP 2001355541A JP 2003157411 A JP2003157411 A JP 2003157411A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 非接触型ＩＣカードの破棄に対するセキュリ
ティ強化を解決し、カードの破棄時にカード内部のＩＣ
を破壊する非接触型ＩＣカードの破壊装置を提供する。 【解決手段】 リーダ・ライタとの間で電力伝送及び情
報通信を電磁結合で行う非接触型ＩＣカードの破壊装置
であって、非接触型ＩＣカードがリーダ・ライタとの間
で行う電力伝送及び情報通信に用いる搬送周波数と同じ
周期の交番磁界によってカードのＩＣを破壊に至らしめ
る強磁界発生部（強磁界発生器２とループアンテナ３）
を備える。
ティ強化を解決し、カードの破棄時にカード内部のＩＣ
を破壊する非接触型ＩＣカードの破壊装置を提供する。 【解決手段】 リーダ・ライタとの間で電力伝送及び情
報通信を電磁結合で行う非接触型ＩＣカードの破壊装置
であって、非接触型ＩＣカードがリーダ・ライタとの間
で行う電力伝送及び情報通信に用いる搬送周波数と同じ
周期の交番磁界によってカードのＩＣを破壊に至らしめ
る強磁界発生部（強磁界発生器２とループアンテナ３）
を備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、リーダ・ライタと
の間で行う電力伝送や情報通信を電磁結合を用いて行う
非接触型ＩＣカードの破壊装置に関する。
の間で行う電力伝送や情報通信を電磁結合を用いて行う
非接触型ＩＣカードの破壊装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】非接触型ＩＣカードを用いたテレフォン
カードは電話番号のテレフォンカードヘの登録が可能で
あり、しかも使い捨てである。しかし、その処理方法
は、ユーザに任せる方式を取っており、公衆電話ＢＯＸ
（ボックス）などでは、使用済みテレフォンカードの破
棄用に専用ＢＯＸを設けて、その中に捨てる方法を取っ
ているが、その後の使用済みテレフォンカードの処理は
ユーザには不明であり、他人だよりで心配である。この
ような使用済みテレフォンカードの破棄時には、カード
内部の情報を消去するようにテレフォンカードに明記し
てある。
カードは電話番号のテレフォンカードヘの登録が可能で
あり、しかも使い捨てである。しかし、その処理方法
は、ユーザに任せる方式を取っており、公衆電話ＢＯＸ
（ボックス）などでは、使用済みテレフォンカードの破
棄用に専用ＢＯＸを設けて、その中に捨てる方法を取っ
ているが、その後の使用済みテレフォンカードの処理は
ユーザには不明であり、他人だよりで心配である。この
ような使用済みテレフォンカードの破棄時には、カード
内部の情報を消去するようにテレフォンカードに明記し
てある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、カードデータ
の消去は電話機を用いて操作するしかないこと、及び操
作の煩雑さにより、必ずしも使用済みテレフォンカード
の内部データが消去されるとは限らず、そのまま破棄し
てしまった場合に、どのように悪用されるとも限らな
い。現在は、非接触型ＩＣカードを用いたテレフォンカ
ードに１件の電話番号の登録だけが可能であるが、今
後、テレフォンカードを用いたサービス、例えば、銀行
の預金及び振り込みサービスをテレフォンカードに登録
されている個人データなどを用いて公衆電話から利用で
きるなどが始まるとすれば、カードの破棄に対するセキ
ュリティの強化も必然的になってくる。
の消去は電話機を用いて操作するしかないこと、及び操
作の煩雑さにより、必ずしも使用済みテレフォンカード
の内部データが消去されるとは限らず、そのまま破棄し
てしまった場合に、どのように悪用されるとも限らな
い。現在は、非接触型ＩＣカードを用いたテレフォンカ
ードに１件の電話番号の登録だけが可能であるが、今
後、テレフォンカードを用いたサービス、例えば、銀行
の預金及び振り込みサービスをテレフォンカードに登録
されている個人データなどを用いて公衆電話から利用で
きるなどが始まるとすれば、カードの破棄に対するセキ
ュリティの強化も必然的になってくる。
【０００４】例えば特開２０００−２３１６６３号公報
には、接触型ＩＣカードのＩＣの端子に高電圧を印加し
て内部のメモリセルを破壊する技術が開示されている。
また、テレフォンカードに限らず、これからのカード社
会での必須アイテムとして非接触型ＩＣカードの破壊装
置も必須であり、また、あらゆる方式の非接触型ＩＣカ
ードを１台のＩＣ破壊装置で処理できればメリットも大
きい。
には、接触型ＩＣカードのＩＣの端子に高電圧を印加し
て内部のメモリセルを破壊する技術が開示されている。
また、テレフォンカードに限らず、これからのカード社
会での必須アイテムとして非接触型ＩＣカードの破壊装
置も必須であり、また、あらゆる方式の非接触型ＩＣカ
ードを１台のＩＣ破壊装置で処理できればメリットも大
きい。
【０００５】本発明は上述した問題点に鑑みてなされた
ものであり、その目的は、従来技術の盲点である非接触
型ＩＣカードの破棄に対するセキュリティ強化を解決
し、カードの破棄時にカード内部のＩＣを破壊してしま
うことができる非接触型ＩＣカードの破壊装置を提供す
ることにある。
ものであり、その目的は、従来技術の盲点である非接触
型ＩＣカードの破棄に対するセキュリティ強化を解決
し、カードの破棄時にカード内部のＩＣを破壊してしま
うことができる非接触型ＩＣカードの破壊装置を提供す
ることにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る非接触型ＩＣカードの破壊装置は、リ
ーダ・ライタとの間で電力伝送及び情報通信を電磁結合
で行う非接触型ＩＣカードの破壊装置であって、前記非
接触型ＩＣカードが前記リーダ・ライタとの間で行う電
力伝送及び情報通信に用いる搬送周波数と同じ周期の交
番磁界によってカードのＩＣを破壊に至らしめる強磁界
発生部を備えるものである。この構成によれば、強磁界
発生部により電力伝送及び情報通信に用いる搬送周波数
と同じ周期の交番磁界を発生させることで、使い捨てで
使用済みの非接触型ＩＣカードの内部ＩＣを破壊に至ら
しめることができるので、カード内部に情報が残ってい
る場合でも安心してカードＩＣの破棄ができる。このた
め、カードのメモリ内部情報の消去という煩わしさがな
く、操作に手慣れていない人でも簡単にカードＩＣの破
壊ができ、使用済みカードのセキュリティが確保でき
る。
に、本発明に係る非接触型ＩＣカードの破壊装置は、リ
ーダ・ライタとの間で電力伝送及び情報通信を電磁結合
で行う非接触型ＩＣカードの破壊装置であって、前記非
接触型ＩＣカードが前記リーダ・ライタとの間で行う電
力伝送及び情報通信に用いる搬送周波数と同じ周期の交
番磁界によってカードのＩＣを破壊に至らしめる強磁界
発生部を備えるものである。この構成によれば、強磁界
発生部により電力伝送及び情報通信に用いる搬送周波数
と同じ周期の交番磁界を発生させることで、使い捨てで
使用済みの非接触型ＩＣカードの内部ＩＣを破壊に至ら
しめることができるので、カード内部に情報が残ってい
る場合でも安心してカードＩＣの破棄ができる。このた
め、カードのメモリ内部情報の消去という煩わしさがな
く、操作に手慣れていない人でも簡単にカードＩＣの破
壊ができ、使用済みカードのセキュリティが確保でき
る。
【０００７】また、前記強磁界発生部は、箱体のカード
挿入口から破棄カード空間に案内するスロープの両側で
カード挿入口から挿入されたカードのＩＣを破壊に至ら
しめるための強磁界発生器とそのアンテナとでなること
を特徴とするものである。この構成によれば、非接触型
ＩＣカードが強磁界を発生させる強磁界発生部のループ
アンテナ３を通過する際、ループアンテナ付近にカード
を暫く止めてその通過時間を稼いでカードＩＣを確実に
破壊することができる。
挿入口から破棄カード空間に案内するスロープの両側で
カード挿入口から挿入されたカードのＩＣを破壊に至ら
しめるための強磁界発生器とそのアンテナとでなること
を特徴とするものである。この構成によれば、非接触型
ＩＣカードが強磁界を発生させる強磁界発生部のループ
アンテナ３を通過する際、ループアンテナ付近にカード
を暫く止めてその通過時間を稼いでカードＩＣを確実に
破壊することができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態に係る
非接触型ＩＣカードの破壊装置を図に基づいて説明す
る。図１は、本発明の実施の形態に係る非接触型ＩＣカ
ードの破壊装置を示す外観図である。図１に示す非接触
型ＩＣカードの破壊装置１は、通常の公衆電話ＢＯＸに
設置されているテレフォンカードの破棄ＢＯＸと同じで
あり、箱型外形をなしている。箱には、外部に磁界が漏
れなく、かつ外部から磁界が入らないように金属シール
ドが施されており、非接触型ＩＣカードが挿入されるカ
ード挿入口１ａが設けられている。
非接触型ＩＣカードの破壊装置を図に基づいて説明す
る。図１は、本発明の実施の形態に係る非接触型ＩＣカ
ードの破壊装置を示す外観図である。図１に示す非接触
型ＩＣカードの破壊装置１は、通常の公衆電話ＢＯＸに
設置されているテレフォンカードの破棄ＢＯＸと同じで
あり、箱型外形をなしている。箱には、外部に磁界が漏
れなく、かつ外部から磁界が入らないように金属シール
ドが施されており、非接触型ＩＣカードが挿入されるカ
ード挿入口１ａが設けられている。
【０００９】また、図２は、図１に示す非接触型ＩＣカ
ードの破壊装置１の断面図である。箱内部には、カード
挿入口１ａに挿入された非接触型ＩＣカードを破棄カー
ド空間１ｃに案内する非金属性のスロープ１ｂが形成さ
れ、このスロープ１ｂの途中には、当該スロープ１ｂの
両側に挿入されたカードのＩＣを破壊に至らしめるため
の強磁界発生器２とそのアンテナ３とでなる強磁界発生
部が備えられている。図２において、１ｄは破棄カード
空間１ｃに落ちた破棄カードを示している。
ードの破壊装置１の断面図である。箱内部には、カード
挿入口１ａに挿入された非接触型ＩＣカードを破棄カー
ド空間１ｃに案内する非金属性のスロープ１ｂが形成さ
れ、このスロープ１ｂの途中には、当該スロープ１ｂの
両側に挿入されたカードのＩＣを破壊に至らしめるため
の強磁界発生器２とそのアンテナ３とでなる強磁界発生
部が備えられている。図２において、１ｄは破棄カード
空間１ｃに落ちた破棄カードを示している。
【００１０】図１及び図２に示す構成でなる非接触型Ｉ
Ｃカードの破壊装置１は、強磁界を用いて一瞬でカード
内部のＩＣを破壊させる。ＩＣの破壊に至る動作の経緯
は、次の通りである。カード挿入ロ１ａから使用済みの
非接触型ＩＣカードを挿入すると、該カードはスロープ
１ｂを通り、ループアンテナ３に差し掛かるときにルー
プアンテナ３が発する強磁界でカード内部のＩＣが破壊
される。ＩＣが破壊されたカードは、そのままスロープ
１ｂ内を落下して破棄カード空間１ｃに到達する。破棄
カード空間１ｃには、ＩＣの破壊されたカードが溜まっ
てゆく。
Ｃカードの破壊装置１は、強磁界を用いて一瞬でカード
内部のＩＣを破壊させる。ＩＣの破壊に至る動作の経緯
は、次の通りである。カード挿入ロ１ａから使用済みの
非接触型ＩＣカードを挿入すると、該カードはスロープ
１ｂを通り、ループアンテナ３に差し掛かるときにルー
プアンテナ３が発する強磁界でカード内部のＩＣが破壊
される。ＩＣが破壊されたカードは、そのままスロープ
１ｂ内を落下して破棄カード空間１ｃに到達する。破棄
カード空間１ｃには、ＩＣの破壊されたカードが溜まっ
てゆく。
【００１１】非接触型ＩＣカードの内部構造は、ループ
アンテナとこれに接続しているＩＣとからなり、ループ
アンテナは非接触型ＩＣカードの質問器としてのリーダ
ライタとの間で電力伝送及び情報通信を電磁結合で行う
が、その質問器のアンテナから励磁される磁界から電流
を誘起させ、これがカードアンテナのインピーダンスに
より電力を発生する。これを整流しＩＣに電力供給しＩ
Ｃを動作させる。しかし、ＩＣは半導体である為にＩＣ
チップにかかる電圧に絶対最大定格を持っている為にカ
ードに加えられる磁界の強さ（磁界強度）にも限界があ
る。よって、必要以上の磁界をカードに浴びせられれ
ば、ＩＣチップは絶対最大定格以上の過電圧となり、破
壊に達する。なお、電力では、破壊の経緯が電力の時間
積分で行われる。つまりＩＣの自己発熱での破壊であっ
て一瞬では破壊しないので、破壊させるためには、ある
程度の時間が必要となる。
アンテナとこれに接続しているＩＣとからなり、ループ
アンテナは非接触型ＩＣカードの質問器としてのリーダ
ライタとの間で電力伝送及び情報通信を電磁結合で行う
が、その質問器のアンテナから励磁される磁界から電流
を誘起させ、これがカードアンテナのインピーダンスに
より電力を発生する。これを整流しＩＣに電力供給しＩ
Ｃを動作させる。しかし、ＩＣは半導体である為にＩＣ
チップにかかる電圧に絶対最大定格を持っている為にカ
ードに加えられる磁界の強さ（磁界強度）にも限界があ
る。よって、必要以上の磁界をカードに浴びせられれ
ば、ＩＣチップは絶対最大定格以上の過電圧となり、破
壊に達する。なお、電力では、破壊の経緯が電力の時間
積分で行われる。つまりＩＣの自己発熱での破壊であっ
て一瞬では破壊しないので、破壊させるためには、ある
程度の時間が必要となる。
【００１２】強磁界発生器２とそのアンテナ３とでなる
強磁界発生部は、上述した電力伝送及び情報通信に用い
る搬送周波数と同じ周期の交番磁界を発生するもので、
例えばＩＳＯ１５６９３規格に準拠した非接触型ＩＣカ
ード（搬送周波数：１３．５６ＭＨｚ）で７Ａ／ｍの磁
界強度を１分間与えれば、ＩＣは破壊し、それ以上の磁
界強度を与えればさらに早く破壊する。なお、搬送周波
数が１３．５６ＭＨｚ以外の例えば２．４５ＧＨｚのカ
ードであっても、強磁界発生部により当該搬送周波数と
同じ周期の交番磁界を発生させればよく、同様にしてＩ
Ｃチップを破棄させることができる。
強磁界発生部は、上述した電力伝送及び情報通信に用い
る搬送周波数と同じ周期の交番磁界を発生するもので、
例えばＩＳＯ１５６９３規格に準拠した非接触型ＩＣカ
ード（搬送周波数：１３．５６ＭＨｚ）で７Ａ／ｍの磁
界強度を１分間与えれば、ＩＣは破壊し、それ以上の磁
界強度を与えればさらに早く破壊する。なお、搬送周波
数が１３．５６ＭＨｚ以外の例えば２．４５ＧＨｚのカ
ードであっても、強磁界発生部により当該搬送周波数と
同じ周期の交番磁界を発生させればよく、同様にしてＩ
Ｃチップを破棄させることができる。
【００１３】また、ここで、非接触型ＩＣカードが強磁
界を発生させる強磁界発生部のループアンテナ３を通過
する際、カードの案内路はスロープ１ｂとなっている
が、これは、カード内部ＩＣを破壊する場合に強磁界に
よって一瞬にて破壊させるのは困難となるので強磁界を
発生させるループアンテナ３付近にカードを暫く止めて
その通過時間を稼ぐ為である。さらに、非接触型ＩＣカ
ードとループアンテナ３との間隔、つまりスロープ１ｂ
の幅も破壊用のアンテナとカードの結合でアンテナの共
振周波数がずれるので、予め所望値より僅かにずらして
おいて、カードがループアンテナ３を横切る位置に到達
したときに破壊用のアンテナとカードの共振周波数が合
うように調整しなければならないが、できるだけ非接触
型ＩＣカードとループアンテナ３が近付けるようにすれ
ばよい。
界を発生させる強磁界発生部のループアンテナ３を通過
する際、カードの案内路はスロープ１ｂとなっている
が、これは、カード内部ＩＣを破壊する場合に強磁界に
よって一瞬にて破壊させるのは困難となるので強磁界を
発生させるループアンテナ３付近にカードを暫く止めて
その通過時間を稼ぐ為である。さらに、非接触型ＩＣカ
ードとループアンテナ３との間隔、つまりスロープ１ｂ
の幅も破壊用のアンテナとカードの結合でアンテナの共
振周波数がずれるので、予め所望値より僅かにずらして
おいて、カードがループアンテナ３を横切る位置に到達
したときに破壊用のアンテナとカードの共振周波数が合
うように調整しなければならないが、できるだけ非接触
型ＩＣカードとループアンテナ３が近付けるようにすれ
ばよい。
【００１４】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、強磁界
発生部により電力伝送及び情報通信に用いる搬送周波数
と同じ周期の交番磁界を発生させることで、使い捨てで
使用済みの非接触型ＩＣカードの内部ＩＣを破壊に至ら
しめることができるので、カード内部に情報が残ってい
る場合でも安心してカードＩＣの破棄ができる。このた
め、カードのメモリ内部情報の消去という煩わしさがな
く、操作に手慣れていない人でも簡単にカードＩＣの破
壊ができ、使用済みカードのセキュリティが確保でき
る。
発生部により電力伝送及び情報通信に用いる搬送周波数
と同じ周期の交番磁界を発生させることで、使い捨てで
使用済みの非接触型ＩＣカードの内部ＩＣを破壊に至ら
しめることができるので、カード内部に情報が残ってい
る場合でも安心してカードＩＣの破棄ができる。このた
め、カードのメモリ内部情報の消去という煩わしさがな
く、操作に手慣れていない人でも簡単にカードＩＣの破
壊ができ、使用済みカードのセキュリティが確保でき
る。
【図１】 本発明の実施の形態に係る非接触型ＩＣカー
ドの破壊装置を示す外観図である。
ドの破壊装置を示す外観図である。
【図２】 図１に示す非接触型ＩＣカードの破壊装置１
の断面図である。
の断面図である。
１ 非接触型ＩＣカードの破壊装置、１ａ カード挿入
口、１ｂ スロープ、１ｃ 破棄カード空間、１ｄ 破
棄カード、２ 強磁界発生器、３ ループアンテナ。
口、１ｂ スロープ、１ｃ 破棄カード空間、１ｄ 破
棄カード、２ 強磁界発生器、３ ループアンテナ。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Ｆターム(参考） 2C005 MA40 MB05
5B017 AA07 BA08 BB03 CA14
5B058 CA15 KA31 KA40
Claims (2)
- 【請求項１】 リーダ・ライタとの間で電力伝送及び情
報通信を電磁結合で行う非接触型ＩＣカードの破壊装置
であって、 前記非接触型ＩＣカードが前記リーダ・ライタとの間で
行う電力伝送及び情報通信に用いる搬送周波数と同じ周
期の交番磁界によってカードのＩＣを破壊に至らしめる
強磁界発生部を備える非接触型ＩＣカードの破壊装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の非接触型ＩＣカードの
破壊装置において、 前記強磁界発生部は、箱体のカード挿入口から破棄カー
ド空間に案内するスロープの両側でカード挿入口から挿
入されたカードのＩＣを破壊に至らしめるための強磁界
発生器とそのアンテナとでなることを特徴とする非接触
型ＩＣカードの破壊装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001355541A JP2003157411A (ja) | 2001-11-21 | 2001-11-21 | 非接触型ｉｃカードの破壊装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001355541A JP2003157411A (ja) | 2001-11-21 | 2001-11-21 | 非接触型ｉｃカードの破壊装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003157411A true JP2003157411A (ja) | 2003-05-30 |
Family
ID=19167227
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001355541A Withdrawn JP2003157411A (ja) | 2001-11-21 | 2001-11-21 | 非接触型ｉｃカードの破壊装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003157411A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008003998A (ja) * | 2006-06-26 | 2008-01-10 | Miyoshi Electronics Corp | Ｉｃカード破壊装置 |
| US7740174B2 (en) * | 2007-02-27 | 2010-06-22 | Hitachi-Omron Terminal Solutions, Corp. | Manual noncontact IC card reader |
| JP2021015521A (ja) * | 2019-07-12 | 2021-02-12 | パーク二四株式会社 | 磁気カード処理装置および精算機 |
-
2001
- 2001-11-21 JP JP2001355541A patent/JP2003157411A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008003998A (ja) * | 2006-06-26 | 2008-01-10 | Miyoshi Electronics Corp | Ｉｃカード破壊装置 |
| US7740174B2 (en) * | 2007-02-27 | 2010-06-22 | Hitachi-Omron Terminal Solutions, Corp. | Manual noncontact IC card reader |
| JP2021015521A (ja) * | 2019-07-12 | 2021-02-12 | パーク二四株式会社 | 磁気カード処理装置および精算機 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050201 |