JP2003155658A - 糸条のモニターリング - Google Patents

糸条のモニターリング

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JP2003155658A
JP2003155658A JP2002244453A JP2002244453A JP2003155658A JP 2003155658 A JP2003155658 A JP 2003155658A JP 2002244453 A JP2002244453 A JP 2002244453A JP 2002244453 A JP2002244453 A JP 2002244453A JP 2003155658 A JP2003155658 A JP 2003155658A
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David Charles Eaton
チャ―ルス イ―トン ディビッド
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    • B65H63/065Electronic slub detector using photo-electric sensing means, i.e. the defect signal is a variation of light energy
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    • D01HSPINNING OR TWISTING
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 加工中のマルチフィラメント糸条におけ
る切れたフィラメントまたはループのモニターリング中
に、閾値水準を調整する方法を提供する。 【解決手段】 マルチフィラメント糸条の加工をモニタ
ーする方法および装置10である。この方法において、
光線13を発光装置12から受光装置14へ向けて投光
し、光線13にマルチフィラメント糸条11を通過さ
せ、受光装置14により受光される光量を所定の時間間
隔で測定する。所定の時間周期に亙り測定された受光量
から測定・計算装置16が頻度分布30を生成し、頻度
分布30から理想的な糸条を表している閾値標準34を
計算する。閾値標準34の外側にある測定値23の数が
記録され糸条11中のフィラメントの切断数およびルー
プを示している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、加工されつつある
糸条をモニターすることに関し、特に切れたフィラメン
トまたは突出したフィラメントループを検出するために
マルチフィラメント糸条の均整度をモニターすることに
関する。
【0002】マルチフィラメント糸条の加工中にフィラ
メントが切れたり、フィラメントループが形成されるこ
とがある。このような切れたフィラメントまたはループ
は糸条の表面から突出する傾向があり、それにより整
経、編成、製織などの糸条に行なわれる後続工程の効率
を低下させる。切れたフィラメントまたはループはその
後、その糸条で作られた布帛の表面から突出し、それに
より布帛の品質や外観を損ねる。従って、糸条の加工中
に切れたフィラメントまたはループが突出することとを
モニターして、不満足な布帛を製造する代わりに、受容
できない糸条を除くことは望ましいことである。このよ
うなモニターリングは更に切れたフィラメントまたはル
ープの発生に影響する糸条の加工中の因子に注意を向け
て、切れたフィラメントまたはループの数を減少させた
り理想的な糸条を製造するために加工パラメーターを変
えたり装置を修正させることになる。理想的な糸条と
は、糸条の表面から受容できないレベルにまで突出して
いる切れたフィラメントまたはフィラメントループを全
く含まない糸条を意味するものである。
【0003】
【従来の技術】2つの基本的なマルチフィラメント糸条
の加工のモニター方法が、切れたフィラメントまたは突
出したフィラメントループ用に現在実施されている。第
1の方法では、光線が加工中の移動糸条の表面の近傍に
投光される。切れたフィラメントまたはフィラメントル
ープが糸条の表面から突出すると、それは短時間光線の
中に立入り、受光装置で受光されている光量は一時的に
減少される。第2の方法では、光線が加工中の移動糸条
に投光され、光は糸条の両側を通過し受光装置で受光さ
れている。切れたフィラメントまたはフィラメントルー
プが糸条の表面から突出すると、光線中の糸条の有効断
面積は短時間増加され、受光装置で受光されている光量
は同様に一時的に減少される。何れの方法でも、所与の
長さの糸条の通過に対応している所与の時間に受光され
る光量の減少が記録される。これは単位長さ当たりの糸
条の切れたフィラメントまたはループの数を示してい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】第1の方法の場合に
は、フィラメントが糸条の表面から或る平面内で光線の
中に立入るように突出しているときにのみ、切れたフィ
ラメントまたはフィラメントループの検出が行なわれ
る。更に光線と糸条の表面との間の間隙は重要であり、
糸条により表される「円筒表面」の均整度は糸条の種
類、撚度合い、および/または加工度合い、交絡度等に
依存しているので、異なる糸条に対しては変えねばなら
ない。第1の問題を解決する試みとして、糸条がローラ
に巻き掛けられる際に糸条の近傍に光線を投光して、切
れたフィラメントまたはフィラメントループが外に向い
て光線中に出るようにしてもよい。しかしながら、糸条
とローラとの間に捕捉された切れたフィラメントまたは
フィラメントループは全く検出されない。この問題の発
生は第2の方法では遥かに低い度合いである。しかしな
がら、糸条が表わしている「円筒状表面」の上述した非
均一さによって、切れたフィラメントまたはフィラメン
トループが記録される前に受光装置により受光される光
量についての許容度または「閾値標準」を設定すること
が難しいという、同等の第2の問題が存在する。局所的
な汚染、投受光器の光学的特性およびその他の局所的な
因子によって、設定は単一の糸条加工機上の位置間また
は単一の位置で時間とともに調整されねばならない。
【0005】何れの方法でも、糸道に対する不可避な障
害によって、実際の糸道における切れたフィラメントの
検出はしばしば一層難しいものとなる。これらは、例え
ば、インターレースジェットの前後での糸条の長手方向
「パルシング」や、糸条が加工機を高速で分配される際
の糸条の綾振り作動によって起こされる。
【0006】
【発明の目的】本発明は、加工中のマルチフィラメント
糸条における突出、すなわち、突出した切れたフィラメ
ントまたはループ、のモニターリング中に、閾値水準を
調整する方法を提供して現在実施されている上述の第2
の方法に付随する問題を充分な程度まで解消しようとす
るものである。加えて、本発明は、上述した隠れた糸条
信号の障害効果を切れたフィラメントのそれから識別す
るものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、光線を発光装
置から受光装置へ向けて投光し、光線にマルチフィラメ
ント糸条を通過させ、受光装置により受光される光量を
測定してマルチフィラメント糸条の加工をモニターする
方法において、所定の時間間隔で受光される光量を測定
し、所定の時間周期に亙り測定された受光量から頻度分
布を生成し、頻度分布から理想的な糸条を表している閾
値標準を計算し、前記糸条中の突出部分の数を示すため
に閾値標準の外側にある測定値の数を記録するマルチフ
ィラメント糸条の加工をモニターする方法が提供され
る。
【0008】所定の時間間隔は、測定値が加工速度に応
じて、毎秒10000から50000回の範囲、例え
ば、実質的に毎秒25000回で記録されるようになっ
ていてもよい。
【0009】所定の時間周期は、10から1000ミリ
秒、好ましくは実質的に100ミリ秒であってもよい、
計算は、測定値のうちの所定数がその中に入る測定値で
ある標準値を計算することであってもよい。所定数は9
5%〜100%でもよく、99%でもよい。信号の不連
続なサンプルを頻度分布を生成するために用いるときに
は、この方法では多数の頻度分布の標準値を記録し該頻
度分布の平均値または最小値を取ることが必要となるこ
とがある。計算は更に感度因子により標準値を調整して
閾値標準を決定してもよい。感度因子は、記録するべき
切れたフィラメントまたはループの寸法に応じて、標準
値の1%〜50%とすることができる。
【0010】この方法は、更に、アナログまたはデジタ
ル手段により、光の測定量を時間に対して微分すること
を含んでいてもよい。微分が光の測定量の第1の導関数
を決定することを含んでいてもよく、その導関数から頻
度分布を生成する。
【0011】本発明は更に、受光した光量を測定可能な
受光装置へ向けて光線を投光可能な発光装置からなるマ
ルチフィラメント糸条の加工をモニターする装置におい
て、所定の時間間隔で受光した光量を測定し、所定の時
間周期に亙り測定された受光量から頻度分布を生成し、
頻度分布から理想的な糸条を表す閾値標準を計算し、閾
値標準の外側にある測定値の数を記録して糸条中の突出
部分の数を示すようにした測定・計算装置を有すること
を特徴とするマルチフィラメント糸条の加工をモニター
する装置を提供する。
【0012】測定・計算装置が加工速度に応じて毎秒1
0000から50000回の範囲で、例えば毎秒250
00回で受光した光量を測定するようになっていてもよ
い。測定・計算装置が10から1000ミリ秒、好まし
くは、実質的に100ミリ秒の時間周期に亙る測定光量
の頻度分布を生成するようになっていてもよい。
【0013】測定・計算装置は測定値のうちの所定数が
その中に入る測定値である標準値を計算するようになっ
ていてもよい。所定数が95%〜100%であってもよ
く、99%であってもよい。測定・計算装置は多数の頻
度分布の標準値を記録し完全な信号の真の姿を表すため
に頻度分布の平均値または最小値を取るようにしてもよ
い。測定・計算装置が更に感度因子により標準値を調整
して閾値標準を決定するようにしてもよい。感度因子は
標準値の1%〜50%でよい。
【0014】測定・計算装置が光の測定量の第1の導関
数を決定し、その導関数から頻度分布を生成するように
なっていてもよい。
【0015】
【実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明を詳細
に説明する。図において、図1は単一の糸条のモニター
装置を示し、図2は1つの時間周期に亙り取った測定値
のグラフであり、図3は得られた測定値から生成された
頻度分布を示し、図4は多位置繊維機械におけるモニタ
ー装置を示し、図5は図2の測定値の第1の導関数のグ
ラフである。
【0016】図1を参照して、単一のマルチフィラメン
ト糸条11の加工をモニターする装置10が示されてい
る。装置10は発光ダイオード12を含んでおり、発光
ダイオード12は受光ダイオード14へ光線13を投光
する。ダイオード12、14は光線13が糸条11に当
たるように位置決めされており、受光ダイオード14に
影15を落とす。もし糸条11が一定の直径であれば、
ダイオード14により受光される光量は一定であろう。
しかしながら、切れたフィラメントまたはフィラメント
ループがその表面から突出している糸条11の一部分が
光線13を通過すると、その瞬間のダイオード14で受
光される光量は減少されるであろう。装置16は受光ダ
イオード14からダイオード14により受光された光量
に比例する信号を受ける。若し、上述した公知の配置と
同様に、装置16が単に信号を測定し且つ切れたフィラ
メントまたはフィラメントループを表している減少した
測定値を計数するのであったなら、このような配置は上
述した従来の第2の方法を実施する。しかしながら、例
えば油剤の飛散などの汚染効果として装置16で受けら
れた信号の或る時間周期に亙る減少により、理想的な糸
条を表す閾値標準は減少するであろう。このことは糸条
に存在するフィラメントの切れやループの数の記録を不
正確なものとする。
【0017】この問題を解決するために、本実施例では
装置16は測定・計算装置となっており、この測定・計
算装置16は加工速度に応じて毎秒10000〜500
00回、例えば毎秒25000回の所定の間隔で受光ダ
イオード14で受光された光量を測定し記録する。受光
ダイオード14からの信号は増幅器17、ついでアナロ
グ検出器18に通される。増幅された信号は更にアナロ
グ/デジタル変換器19へ通され、アナログ/デジタル
変換器19はマイクロプロセッサ20へデジタル信号を
送る。完全な円筒の場合には、測定値の全ては図2にお
いて線21で示されるように同一であろう。しかしなが
ら、実際の測定値は、繊維糸条11の直径が糸条の種
類、撚度合い、加工度合い、交絡またはその他の工程パ
ラメータに応じてその長さ方向に変化するので、図2に
おいて線22で示されるように、変動を示している。マ
イクロプロセッサ20は、この場合には測定値から直接
に、図3に示すような頻度分布30を生成する。頻度分
布30から、最大周波数で生じる記録された測定値は糸
条11の公称直径を表す測定値31の回りに分布してい
ることが分かる。繊維糸条11の直径が上述した理由に
より一定でないために、この測定値31の上下に測定値
が生じ、これら測定値に対する減少した頻度は測定値3
1からより一層大きな量隔たる。
【0018】頻度分布30から、マイクロプロセッサ2
0は、例えば100ミリ秒の所定の時間周期に亙る標準
値32を計算する。標準値32は、それ以上には所定数
の測定値が存在している、例えばそれ以上には測定値の
99%が存在している値であると見なすことができる。
頻度分布の形成のために信号の不連続サンプルが使用さ
れると、この方法では多数の頻度分布の標準値を記録し
このような標準値の平均値または最小値を取ることが必
要になろう。例えば汚染およびその他の局所的なまたは
暫定的な因子によって標準値32の外側にあるこれらの
読みを切れたフィラメントまたはフィラメントループを
表すものとして記録しないようにするために、標準値3
2は感度因子33によって調整されてその時間周期に対
して閾値34を生成する(図2および図3参照)。この
閾値34はアナログ検出器18に伝達され、アナログ検
出器18は受光装置16からの増幅された信号を現在の
閾値34と連続的に比較する。線22は更に35(図
3)で示され糸条11の表面から突出している切れたフ
ィラメントまたはフィラメントループが光線13を通過
したことを表している頻度で生じている23(図2)に
おける測定値を表している。これら測定値23は計算さ
れた閾値の外側となり計数される。
【0019】標準値32は特定の時間周期に亙り加工さ
れている糸条11について記録された実際の測定値の変
動を参照して計算され、装置10はどのような撚度合
い、および/または加工度合い、交絡度等を有するどの
ような種類の糸条11とともに使用するのにも適してい
る。感度因子33の値は理想的な状態で大小何れの径変
動を有する糸条11にも適するように調整してもよい。
加えて、閾値34は引き続く時間周期において計算して
信号強度が時間とともに変動することを補償してもよ
い。
【0020】多数の糸条を加工する多位置繊維機械の場
合の、装置が図4に示されている。各糸条11.1、1
1.2...11.nについて対応する装置10.1、
10.2...10.nがあり、装置10.1、10.
2...10.nは発光ダイオード12.1、12.
2...12.nおよび受光ダイオード14.1、1
4.2...14.nからなっている。受光ダイオード
14.1、14.2...14.nからの信号がそれぞ
れの増幅器17.1、17.2...17.nへ送ら
れ、次いでそれぞれのアナログ検出器18.1、18.
2...18.nへ送られる。増幅された信号は次いで
マルチプレクサスイッチ24を経てアナログ/デジタル
変換器19へ送られ、アナログ/デジタル変換器19は
デジタル信号をマイクロプロセッサ20へ送る。マイク
ロプロセッサ20は次々と各糸条位置の測定値の頻度分
布30を生成し、そして標準値32と所定の時間周期に
亙る閾値34の計算を行なう。各閾値34は第2のマル
チプレクサスイッチ25を経て次いでそれぞれのアナロ
グ検出器18.1、18.2...18.nへ送られ、
アナログ検出器18.1、18.2...18.nは受
光装置16からの増幅された信号を最後にそこへ送られ
た閾値34と連続的に比較する。
【0021】切れたフィラメントの主な特徴は、他の障
害のそれと比較すると、フィラメントが糸条の速度でセ
ンサを通過させられるので、検出器の光信号への効果が
非常に短時間であることである。高速加工(>2000
m/分)時においては、切れたフィラメントが全光学系
を横切る時間はマイクロ秒で計測される。このことは通
過しているフィラメントの基本周波数はKHzで測定さ
れ、そして立ったまたは垂れ下がった縁部は数十KHz
で測定されることを意味する。糸条の振動やジェットパ
ルシングに付随する周波数はこれよりも低く、多分最大
でも数百Hzであり、しばしばそれよりもずっと低い傾
向にある。このために、高速加工(>2000m/分の
糸処理速度)で切れたフィラメントが光線13を高速度
で通過するので迅速な測定の切替えのためには、測定・
計算装置16は、アナログまたはデジタル手段により、
図2に示される読みの第1の導関数を決定し、この第1
の導関数は図5に示されている。図2において、幾つか
の大きな障害23が多数の小さなものとともに見られ
る。高速加工時には、図2の軌跡の中心に単一の、短期
間の凹み23が切れたフィラメントで生じられており、
従って他の大きいがより長期の障害は実際上雑音となっ
ており、この雑音は前述したように高速加工に存在する
振動やパルシングにより発生されている。図5は図2の
データの第1の導関数を示している。より長期の障害2
3、すなわち、これら測定値の変化割合が小さいもの
は、除去されている。しかしながら、図2の軌跡の中心
にあって、切れたフィラメントによる、測定値の変化割
合が大きい短期の障害23は、彰かに認められる。これ
らの図5に示される第1の導関数数値から、図3に示す
ような頻度分布がマイクロプロセッサ20により生成さ
れ、標準値および閾値32、34が上述したように頻度
分布から計算される。マイクロプロセッサ20は所定の
閾値34よりも高い第1の導関数値35の数を記録す
る。
【0022】切れたフィラメントを検出する他の方法と
して、装置10は糸条11の撚、交絡等の均整度を測定
するために用いてもよい。基本測定値32の計算に崔し
て用いる所定の数を適当に選択し、そして感度因子33
を小さい値に減少させることにより、撚、交絡などの変
動による糸条11の直径の小さな変化を検出して記録し
てもよい。結果として同じ装置10を所望により切れた
フィラメントまたは工程の品質、すなわち、糸条の均整
度、の何れかを記録することに用いることができる。
【0023】
【発明の効果】本発明によれば、加工中のマルチフィラ
メント糸条における突出、すなわち、突出した切れたフ
ィラメントまたはループ、のモニターリング中に、閾値
水準を調整することができ、現在実施されている上述の
第2の方法に付随する問題を充分な程度まで解消するこ
とができる。加えて、本発明によればは、上述した隠れ
た糸条信号の障害による効果を、切れたフィラメントの
それから識別することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】単一の糸条のモニター装置の概略図を示す。
【図2】1つの時間周期に亙り取った測定値のグラフで
ある。
【図3】得られた測定値から生成された頻度分布図を示
す。
【図4】多位置繊維機械におけるモニター装置の概略図
を示す。
【図5】図2の測定値の第1の導関数のグラフである。 11 マルチフィラメント糸条 12 発光装置 13 光線 14 受光装置 23 測定値 30 頻度分布 34 閾値標準
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 502310173 Maple Court, Davenp ort Street, Maccles field, Cheshire SK10 1JE, United Kingdo m (72)発明者 ディビッド チャ―ルス イ―トン イギリス国.ダ―ビィシャ―.バクスト ン.ブラウン エッジ ロ―ド 66 Fターム(参考) 2G051 AA44 AB02 BA20 CA03 CB08 DA06 EB02 3B154 AA06 AB03 BA53 BA55 BB18 BB76 BB77 BC42 BC47 BF04 CA13 CA18 CA29 DA21

Claims (25)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光線(13)を発光装置(12)から受
    光装置(14)へ向けて投光し、該光線(13)にマル
    チフィラメント糸条(11)を通過させ、受光装置(1
    4)により受光される光量を測定してマルチフィラメン
    ト糸条の加工をモニターする方法において、所定の時間
    間隔で受光される光量を測定し、所定の時間周期に亙り
    測定された受光量から頻度分布(30)を生成し、該頻
    度分布(30)から理想的な糸条を表している閾値標準
    (34)を計算し、前記糸条中の突出部分の数を示すた
    めに該閾値標準(34)の外側にある測定値(23)の
    数を記録することを特徴とするマルチフィラメント糸条
    の加工をモニターする方法。
  2. 【請求項2】 前記所定の時間間隔が、毎秒10000
    から50000回の範囲で測定値が記録されるようにな
    っていることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. 【請求項3】 前記所定の時間間隔は、実質的に毎秒2
    5000回で測定値が記録されるようになっていること
    を特徴とする請求項2に記載の方法。
  4. 【請求項4】 前記所定の時間周期が10から1000
    ミリ秒であることを特徴とする請求項1〜3の何れか1
    項に記載の方法。
  5. 【請求項5】 前記所定の時間周期が実質的に100ミ
    リ秒であることを特徴とする請求項4に記載の方法。
  6. 【請求項6】 前記計算が、測定値のうちの所定数がそ
    の中に入る測定値である標準値(32)を計算すること
    であることを特徴とする請求項1〜5の何れか1項に記
    載の方法。
  7. 【請求項7】 前記所定数が95%〜100%であるこ
    とを特徴とする請求項6に記載の方法。
  8. 【請求項8】 前記所定数が99%であることを特徴と
    する請求項7に記載の方法。
  9. 【請求項9】 多数の頻度分布(30)の標準値(3
    2)を記録して該頻度分布(30)の平均値または最小
    値を取ることを特徴とする請求項6〜8の何れか1項に
    記載の方法。
  10. 【請求項10】 前記計算が更に感度因子(33)によ
    り前記標準値(32)を調整して前記閾値標準(34)
    を決定することを含むことを特徴とする請求項6〜9の
    何れか1項に記載の方法。
  11. 【請求項11】 前記感度因子(33)が前記標準値
    (32)の1%〜50%であることを特徴とする請求項
    10に記載の方法。
  12. 【請求項12】 前記光の測定量を時間に対して微分す
    ることを特徴とする請求項1〜11の何れか1項に記載
    の方法。
  13. 【請求項13】 前記微分が前記光の測定量の第1の導
    関数を決定することを含み、その第1の導関数から前記
    頻度分布(30)を生成することを特徴とする請求項1
    2に記載の方法。
  14. 【請求項14】 受光した光量を測定可能な受光装置
    (14)へ向けて光線(13)を投光可能な発光装置
    (12)からなるマルチフィラメント糸条の加工をモニ
    ターする装置において、 所定の時間間隔で受光した光量を測定し、 所定の時間周期に亙り測定された受光量から頻度分布
    (30)を生成し、 該頻度分布(30)から理想的な糸条を表す閾値標準
    (34)を計算し、 該閾値標準(34)の外側にある測定値(23)の数を
    記録して前記糸条中の突出部分の数を示すようにした測
    定・計算装置(16)を有することを特徴とするマルチ
    フィラメント糸条の加工をモニターする装置。
  15. 【請求項15】 前記測定・計算装置(16)が毎秒1
    0000から50000回の範囲で受光した光量を測定
    するようにしたことを特徴とする請求項14に記載の装
    置。
  16. 【請求項16】 前記測定・計算装置(16)が実質的
    に毎秒25000回で受光した光量を測定するようにし
    たことを特徴とする請求項15に記載の装置。
  17. 【請求項17】 前記測定・計算装置(16)が10か
    ら1000ミリ秒の時間周期に亙る測定光量の頻度分布
    (30)を生成するようにしたことを特徴とする請求項
    14〜16の何れか1項に記載の装置。
  18. 【請求項18】 前記時間周期が実質的に100ミリ秒
    であることを特徴とする請求項17に記載の装置。
  19. 【請求項19】 前記測定・計算装置(16)が前記測
    定値のうちの所定数がその中に入る測定値である標準値
    (32)を計算するようにしたことを特徴とする請求項
    14〜18の何れか1項に記載の装置。
  20. 【請求項20】 前記所定数が95%〜100%である
    ことを特徴とする請求項19に記載の装置。
  21. 【請求項21】 前記所定数が99%であることを特徴
    とする請求項20に記載の装置。
  22. 【請求項22】 前記測定・計算装置(16)が多数の
    頻度分布(30)の標準値(32)を記録し該頻度分布
    (30)の平均値または最小値を取るようにしたことを
    特徴とする請求項19〜21の何れか1項に記載の装
    置。
  23. 【請求項23】 前記測定・計算装置(16)が更に感
    度因子(33)により標準値(32)を調整して前記閾
    値標準(34)を決定するようにしたことを特徴とする
    請求項19〜22の何れか1項に記載の装置。
  24. 【請求項24】 前記感度因子(33)が基本測定値の
    1%〜50%であることを特徴とする請求項23に記載
    の装置。
  25. 【請求項25】 前記測定・計算装置(16)が光の測
    定量の第1の導関数を決定して、その導関数から頻度分
    布(30)を生成するようにしたことを特徴とする請求
    項14〜24の何れか1項に記載の装置。
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