JP2003149296A - プリント基板の検査治具 - Google Patents
プリント基板の検査治具Info
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- JP2003149296A JP2003149296A JP2001349589A JP2001349589A JP2003149296A JP 2003149296 A JP2003149296 A JP 2003149296A JP 2001349589 A JP2001349589 A JP 2001349589A JP 2001349589 A JP2001349589 A JP 2001349589A JP 2003149296 A JP2003149296 A JP 2003149296A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電気信号を取り出すためのコンタクトピンに
於いて、プリント基板の高密度化に伴う狭ピッチのピン
コンタクト及び、前記コンタクトピンに於ける適切な接
触圧力の確保可能な検査治具構造の確立、あるいは、該
検査治具を安価、且つ短期間に製作を行える様な検査治
具構造にある。 【解決手段】 電子部品の小型化に伴うプリント基板の
高密度化に対し、圧力のコントロールされたコンタクト
ピンで狭ピッチのピンコンタクトが、容易、且つコンタ
クトピンのメンテナンス性を向上させた上に、フラック
ス等のゴミ対策も施した安価なプリント基板の検査治具
を提供する事にある。
於いて、プリント基板の高密度化に伴う狭ピッチのピン
コンタクト及び、前記コンタクトピンに於ける適切な接
触圧力の確保可能な検査治具構造の確立、あるいは、該
検査治具を安価、且つ短期間に製作を行える様な検査治
具構造にある。 【解決手段】 電子部品の小型化に伴うプリント基板の
高密度化に対し、圧力のコントロールされたコンタクト
ピンで狭ピッチのピンコンタクトが、容易、且つコンタ
クトピンのメンテナンス性を向上させた上に、フラック
ス等のゴミ対策も施した安価なプリント基板の検査治具
を提供する事にある。
Description
【0001】
【発明が属する技術分野】 本発明は、高密度な電子部
品搭載前のプリント基板単体及び、電子部品搭載後のプ
リント基板について、判定回路を有する電気検査機との
接触を容易にする端子構造に係わるものである。
品搭載前のプリント基板単体及び、電子部品搭載後のプ
リント基板について、判定回路を有する電気検査機との
接触を容易にする端子構造に係わるものである。
【0002】
【従来の技術】 図3に示す如く、スプリングコンタク
トピンA31、スプリングコンタクトピンB32を下治
具ピンベース37及び、上治具ピンベース38に固定
し、プリント基板7から電気信号を取り出すことにより
検査を行う従来構造のプリント基板検査治具は、加工・
組立に対し多大な日数を必要とし、その結果、高密度プ
リント基板の検査治具費用増大につながっていた。さら
に、前記スプリングコンタクトピンA31、スプリング
コンタクトピンB32を狭ピッチに配置すべく直径を細
くした際は、接触圧力を上げることが、不可能となり、
検査の誤判定を招くため、近年の高密度プリント基板検
査用としては不適切な治具構造である。
トピンA31、スプリングコンタクトピンB32を下治
具ピンベース37及び、上治具ピンベース38に固定
し、プリント基板7から電気信号を取り出すことにより
検査を行う従来構造のプリント基板検査治具は、加工・
組立に対し多大な日数を必要とし、その結果、高密度プ
リント基板の検査治具費用増大につながっていた。さら
に、前記スプリングコンタクトピンA31、スプリング
コンタクトピンB32を狭ピッチに配置すべく直径を細
くした際は、接触圧力を上げることが、不可能となり、
検査の誤判定を招くため、近年の高密度プリント基板検
査用としては不適切な治具構造である。
【0003】 図4に示す如く、近年の高密度プリント
基板検査に対応すべく、コンタクトピン61を用いた治
具構造が考案されたが、該コンタクトピン61の保持を
下治具表面プレート67、下治具裏面プレート69及
び、上治具表面プレート68、上治具裏面プレート70
各々2枚のプレートで保持し、プリント基板7と接触す
る部分と配線インターフェイスピン62と接続する部分
に於いて、前記コンタクトピン61は垂直に配置されて
いた。その結果、該コンタクトピン61の前記プリント
基板7への接触圧力微調整が、不可能で、さらに、前記
コンタクトピン61の抜き差し及び、組立性の向上は望
めない構造となり、検査治具も高価なものとなってい
た。
基板検査に対応すべく、コンタクトピン61を用いた治
具構造が考案されたが、該コンタクトピン61の保持を
下治具表面プレート67、下治具裏面プレート69及
び、上治具表面プレート68、上治具裏面プレート70
各々2枚のプレートで保持し、プリント基板7と接触す
る部分と配線インターフェイスピン62と接続する部分
に於いて、前記コンタクトピン61は垂直に配置されて
いた。その結果、該コンタクトピン61の前記プリント
基板7への接触圧力微調整が、不可能で、さらに、前記
コンタクトピン61の抜き差し及び、組立性の向上は望
めない構造となり、検査治具も高価なものとなってい
た。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】 電気信号を取り出す
ためのコンタクトピンに於いて、プリント基板の高密度
化に伴う狭ピッチのピンコンタクト及び、前記コンタク
トピンに於ける適切な接触圧力の確保可能な検査治具構
造の確立、あるいは、該検査治具を安価、且つ短期間に
製作を行える様な検査治具構造にある。
ためのコンタクトピンに於いて、プリント基板の高密度
化に伴う狭ピッチのピンコンタクト及び、前記コンタク
トピンに於ける適切な接触圧力の確保可能な検査治具構
造の確立、あるいは、該検査治具を安価、且つ短期間に
製作を行える様な検査治具構造にある。
【0005】
【課題を解決するための手段】 電子部品の小型化に伴
うプリント基板の高密度化に対し、圧力のコントロール
されたコンタクトピンで、狭ピッチのピンコンタクト
が、容易、且つコンタクトピンのメンテナンス性を向上
させた上に、フラックス等のゴミ対策も施した安価なプ
リント基板の検査治具を提供する事にある。
うプリント基板の高密度化に対し、圧力のコントロール
されたコンタクトピンで、狭ピッチのピンコンタクト
が、容易、且つコンタクトピンのメンテナンス性を向上
させた上に、フラックス等のゴミ対策も施した安価なプ
リント基板の検査治具を提供する事にある。
【0006】
【発明の実施の形態】 図1に示す如く、コンタクトピ
ン1を下治具表面プレート9と下治具裏面プレート13
及び、複数枚の下治具中間プレート11にて各々任意の
角度でストレス無く保持させ、上下位置決めシャフト4
と上下位置決めブッシュ5で案内された上治具表面プレ
ート10と上治具裏面プレート14及び、複数枚の上治
具中間プレート12で保持したコンタクトピン1をプリ
ント基板7の所定の検査ポイントへコンタクトピン1の
先端を当接させる。 コンタクトピン1から取り出した
電気信号を配線インターフェイスピン3にて中継し、検
査機に取り込む事により、プリント基板7の電気検査を
行う。
ン1を下治具表面プレート9と下治具裏面プレート13
及び、複数枚の下治具中間プレート11にて各々任意の
角度でストレス無く保持させ、上下位置決めシャフト4
と上下位置決めブッシュ5で案内された上治具表面プレ
ート10と上治具裏面プレート14及び、複数枚の上治
具中間プレート12で保持したコンタクトピン1をプリ
ント基板7の所定の検査ポイントへコンタクトピン1の
先端を当接させる。 コンタクトピン1から取り出した
電気信号を配線インターフェイスピン3にて中継し、検
査機に取り込む事により、プリント基板7の電気検査を
行う。
【0007】
【実施例】 図1及び、図2に本発明の実施例を説明す
る。検査動作前の状態では、図1に示す如く下治具表面
プレート9、複数枚の下治具中間プレート11及び、下
治具裏面プレート13をプレート保持ポスト18にて各
々のプレート間隔を所定の寸法に保ちつつ、平面方向の
相対関係位置規制を行う。前記各々のプレート毎に異な
る座標値の穴明けを施し、コンタクトピン1を直線状に
ストレスの無い状態で任意の角度に保持し、プリント基
板7の下面側所定の接触ポイントへ前記コンタクトピン
1を導く。また、複数枚の前記下治具中間プレート11
間に穴明けの施されたコンタクトピン保持ラバー17を
配置し、前記コンタクトピン1の脱落を防止する。さら
に、前記下治具表面プレート9の前記プリント基板7と
接する表面側に穴明けの施されたフラックスガードフィ
ルム8を設け、前記プリント基板7に付着したフラック
ス及び、ゴミの検査治具内への進入を防止し、前記フラ
ックスガードフィルム8が、汚れ等により電気検査に支
障が、生じた際には、該フラックスガードフィルム8を
交換可能とした。
る。検査動作前の状態では、図1に示す如く下治具表面
プレート9、複数枚の下治具中間プレート11及び、下
治具裏面プレート13をプレート保持ポスト18にて各
々のプレート間隔を所定の寸法に保ちつつ、平面方向の
相対関係位置規制を行う。前記各々のプレート毎に異な
る座標値の穴明けを施し、コンタクトピン1を直線状に
ストレスの無い状態で任意の角度に保持し、プリント基
板7の下面側所定の接触ポイントへ前記コンタクトピン
1を導く。また、複数枚の前記下治具中間プレート11
間に穴明けの施されたコンタクトピン保持ラバー17を
配置し、前記コンタクトピン1の脱落を防止する。さら
に、前記下治具表面プレート9の前記プリント基板7と
接する表面側に穴明けの施されたフラックスガードフィ
ルム8を設け、前記プリント基板7に付着したフラック
ス及び、ゴミの検査治具内への進入を防止し、前記フラ
ックスガードフィルム8が、汚れ等により電気検査に支
障が、生じた際には、該フラックスガードフィルム8を
交換可能とした。
【0008】 次に、前記プリント基板7上面側の電気
信号取り出し用として上治具表面プレート10、複数枚
の上治具中間プレート12及び、上治具裏面プレート1
4により下治具側と同様に前記コンタクトピン1を保持
し構成する。
信号取り出し用として上治具表面プレート10、複数枚
の上治具中間プレート12及び、上治具裏面プレート1
4により下治具側と同様に前記コンタクトピン1を保持
し構成する。
【0009】 また、上・下治具の平面方向相対関係位
置合わせとして、上下位置決めシャフト4と上下位置決
めブッシュ5を用いて、該上下位置決めシャフト4をス
プリング力で該上下位置決めブッシュ5に当接させる事
により行う。
置合わせとして、上下位置決めシャフト4と上下位置決
めブッシュ5を用いて、該上下位置決めシャフト4をス
プリング力で該上下位置決めブッシュ5に当接させる事
により行う。
【0010】 検査動作状態は、図2に示す如くプリン
ト基板7に対しエアシリンダ等により、上下面各々のコ
ンタクトピン1が、当接することにより、各々の該コン
タクトピン1は、下治具中間プレート11、上治具中間
プレート12間で座屈が発生し、前記プリント基板7へ
の接触圧力となり、電気信号の取り出しを行う。
ト基板7に対しエアシリンダ等により、上下面各々のコ
ンタクトピン1が、当接することにより、各々の該コン
タクトピン1は、下治具中間プレート11、上治具中間
プレート12間で座屈が発生し、前記プリント基板7へ
の接触圧力となり、電気信号の取り出しを行う。
【0011】 次に、前記プリント基板7の上面より取
り出した電気信号は、配線インターフェイスピン3同士
を配線接続し、上下インターフェイスピン2を介して下
治具側のコンタクトピン1で前記プリント基板7の下面
より取り出した電気信号と同様に、下治具側の配線イン
ターフェイスピン3を経由して検査機へ送り込み、前記
プリント基板7の良否判定を行う。
り出した電気信号は、配線インターフェイスピン3同士
を配線接続し、上下インターフェイスピン2を介して下
治具側のコンタクトピン1で前記プリント基板7の下面
より取り出した電気信号と同様に、下治具側の配線イン
ターフェイスピン3を経由して検査機へ送り込み、前記
プリント基板7の良否判定を行う。
【0012】 尚、本発明に於ける中間プレート11,
12間でのコンタクトピン1の座屈は、3ヶ所に限ら
ず、該コンタクトピン1の直径あるいは、前記中間プレ
ート11,12の間隔及び、枚数を任意に設定すること
により、プリント基板7への接触圧をコントロール可能
である。
12間でのコンタクトピン1の座屈は、3ヶ所に限ら
ず、該コンタクトピン1の直径あるいは、前記中間プレ
ート11,12の間隔及び、枚数を任意に設定すること
により、プリント基板7への接触圧をコントロール可能
である。
【0013】 また、前記実施例は、配線の引き廻しに
より検査機へ電気信号の伝達を行っているが、プリント
配線板等の代用でも良く、全ての電気信号についても下
治具から検査機へ伝達しているが、上治具あるいは、下
治具各々より直接伝達も可能である。
より検査機へ電気信号の伝達を行っているが、プリント
配線板等の代用でも良く、全ての電気信号についても下
治具から検査機へ伝達しているが、上治具あるいは、下
治具各々より直接伝達も可能である。
【0014】 さらに、プリント基板7は、電子部品
が、搭載された状態を示しているが、搭載前のプリント
基板7の単体検査用治具としても使用可能である。
が、搭載された状態を示しているが、搭載前のプリント
基板7の単体検査用治具としても使用可能である。
【0015】 また、前記実施例は、電子部品の搭載さ
れたプリント基板7の検査時には、プリント基板受けポ
スト6にて、プリント基板7を受け止める構造を示して
いるが、電子部品の逃げ用座ぐり加工の施されたプレー
トにて、プリント基板7を受け止める構造でも良く、前
記電子部品の逃げ用座ぐり加工の施されたプレートに
は、静電気対策を施す事も可能である。
れたプリント基板7の検査時には、プリント基板受けポ
スト6にて、プリント基板7を受け止める構造を示して
いるが、電子部品の逃げ用座ぐり加工の施されたプレー
トにて、プリント基板7を受け止める構造でも良く、前
記電子部品の逃げ用座ぐり加工の施されたプレートに
は、静電気対策を施す事も可能である。
【0016】 さらに、本発明の検査治具は、図3の従
来側に示したスプリングコンタクトピン31,32の混
載治具も可能である。
来側に示したスプリングコンタクトピン31,32の混
載治具も可能である。
【0017】
【発明の効果】 本発明の検査治具に於いては、コンタ
クトピン1を直線状に保持しているため、組立時のコン
タクトピン1の挿入及び、メンテナンス時のコンタクト
ピン1の抜き差し交換を容易とし、コンタクトピン1の
交換時は治具を分解せずに行える。
クトピン1を直線状に保持しているため、組立時のコン
タクトピン1の挿入及び、メンテナンス時のコンタクト
ピン1の抜き差し交換を容易とし、コンタクトピン1の
交換時は治具を分解せずに行える。
【0018】 さらに、フラックスガードフィルム8に
より、フラックス等のゴミによるコンタクトピン1の摺
動不良を抑え、仮にフラックス等が付着してもフラック
スガードフィルム8の交換により良好なピンコンタクト
を得る事が、可能である。
より、フラックス等のゴミによるコンタクトピン1の摺
動不良を抑え、仮にフラックス等が付着してもフラック
スガードフィルム8の交換により良好なピンコンタクト
を得る事が、可能である。
【0019】 また、小径のコンタクトピン1による治
具構成である為、コンタクトピン1を狭ピッチに配置可
能となり、コンタクトピン1の接触圧力も治具プレート
枚数構成の可変により、調整可能であり、治具コストも
抑えられる。
具構成である為、コンタクトピン1を狭ピッチに配置可
能となり、コンタクトピン1の接触圧力も治具プレート
枚数構成の可変により、調整可能であり、治具コストも
抑えられる。
【図1】 本発明検査治具の実施例1に於ける検査動作
前の状態を示す側面図。
前の状態を示す側面図。
【図2】 実施例1に於ける検査動作状態を示す側面
図。
図。
【図3】 従来例1に於ける検査治具の側面図。
【図4】 従来例2に於ける検査治具の側面図。
1…コンタクトピン、
2…上下インターフェイスピン、
3…配線インターフェイスピン、
4…上下位置決めシャフト、
5…上下位置決めブッシュ、
6…プリント基板受けポスト、
7…プリント基板、
8…フラックスガードフィルム、
9…下治具表面プレート、
10…上治具表面プレート、
11…下治具中間プレート、
12…上治具中間プレート、
13…下治具裏面プレート、
14…上治具裏面プレート、
15…下治具配線プレート、
16…上治具配線プレート、
17…コンタクトピン保持ラバー、
18…プレート保持ポスト、
19…治具スペーサ、
31…スプリングコンタクトピンA、
32…スプリングコンタクトピンB、
33…上下インターフェイスピンA、
34…上下インターフェイスピンB、
36…プリント基板受けコマ、
37…下治具ピンベース、
38…上治具ピンベース、
39…上下位置決めシャフト、
40…上下位置決めブッシュ、
41…サポートポスト、
61…コンタクトピン、
62…配線インターフェイスピン、
63…プリント基板受けポスト、
64…上下位置決めシャフト、
65…上下位置決めブッシュ、
67…下治具表面プレート、
68…上治具表面プレート、
69…下治具裏面プレート、
70…上治具裏面プレート、
71…下配線プレート、
72…上配線プレート、
73…サポートポスト、
74…治具スペーサ、
Claims (6)
- 【請求項1】 電気信号を取り出す為のコンタクトピン
を有したプリント基板の検査治具に於いて、前記コンタ
クトピンを案内させるための穴明が、施された複数枚の
治具プレートにて、該コンタクトピンを任意の角度でス
トレス無く直線状に保持し、プリント基板と前記治具プ
レートの相対関係が、近づく事により、前記コンタクト
ピンに座屈を発生させ、得た接触圧力で前記プリント基
板から電気信号を取り出し、配線インターフェイスピン
を中継することにより、検査機との接続を行える様にし
た事を特徴とするプリント基板の検査治具。 - 【請求項2】 前記コンタクトピンは、前記プリント基
板と接続する側から容易な抜き差しで、交換可能とした
請求項1に記載の検査治具。 - 【請求項3】 前記コンタクトピンは、前記複数枚の治
具プレート内に穴明けの施されたコンタクトピン保持ラ
バーが、配置された請求項1に記載の検査治具。 - 【請求項4】 前記治具プレートの前記プリント基板と
接する表面側に穴明けの施されたフラックスガードフィ
ルムが、配置された請求項1に記載の検査治具。 - 【請求項5】 前記複数枚の治具プレート間隔及び、枚
数の可変により前記コンタクトピンの接触圧調整が、可
能な請求項1に記載の検査治具。 - 【請求項6】 前記配線インターフェイスピンの替わり
に、プリント配線板により検査機との接続を可能とした
請求項1に記載の検査治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001349589A JP2003149296A (ja) | 2001-11-15 | 2001-11-15 | プリント基板の検査治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001349589A JP2003149296A (ja) | 2001-11-15 | 2001-11-15 | プリント基板の検査治具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003149296A true JP2003149296A (ja) | 2003-05-21 |
Family
ID=19162236
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001349589A Pending JP2003149296A (ja) | 2001-11-15 | 2001-11-15 | プリント基板の検査治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003149296A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007010671A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Feinmetall Gmbh | 被験体を電気的に検査する方法および装置ならびに検査時に使用される接触装置の製造方法 |
US8362793B2 (en) | 2006-11-07 | 2013-01-29 | Apple Inc. | Circuit boards including removable test point portions and configurable testing platforms |
JP2013080888A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-05-02 | Hermes Testing Solutions Inc | 回路試験の探針カードと探針基板構造 |
US8436636B2 (en) | 2006-10-10 | 2013-05-07 | Apple Inc. | Methods and apparatuses for testing circuit boards |
KR101539006B1 (ko) * | 2014-02-12 | 2015-07-23 | 엘엠디지털 주식회사 | 인쇄회로기판 검사장치 |
JP2015194476A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-11-05 | 沖電気工業株式会社 | 基板検査冶具および基板接続冶具 |
CN110381669A (zh) * | 2019-06-17 | 2019-10-25 | 泰州市旺灵绝缘材料厂 | 一种玻璃基电路板夹具 |
-
2001
- 2001-11-15 JP JP2001349589A patent/JP2003149296A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007010671A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Feinmetall Gmbh | 被験体を電気的に検査する方法および装置ならびに検査時に使用される接触装置の製造方法 |
US8436636B2 (en) | 2006-10-10 | 2013-05-07 | Apple Inc. | Methods and apparatuses for testing circuit boards |
US8362793B2 (en) | 2006-11-07 | 2013-01-29 | Apple Inc. | Circuit boards including removable test point portions and configurable testing platforms |
US9513314B2 (en) | 2006-11-07 | 2016-12-06 | Apple Inc. | Configurable testing platforms for circuit boards with removable test point portions |
JP2013080888A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-05-02 | Hermes Testing Solutions Inc | 回路試験の探針カードと探針基板構造 |
KR101539006B1 (ko) * | 2014-02-12 | 2015-07-23 | 엘엠디지털 주식회사 | 인쇄회로기판 검사장치 |
JP2015194476A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-11-05 | 沖電気工業株式会社 | 基板検査冶具および基板接続冶具 |
CN110381669A (zh) * | 2019-06-17 | 2019-10-25 | 泰州市旺灵绝缘材料厂 | 一种玻璃基电路板夹具 |
CN110381669B (zh) * | 2019-06-17 | 2021-08-10 | 泰州市旺灵绝缘材料厂 | 一种玻璃基电路板夹具 |
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