JP2003147576A - めっき装置及びめっき方法 - Google Patents

めっき装置及びめっき方法

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JP2003147576A
JP2003147576A JP2001347107A JP2001347107A JP2003147576A JP 2003147576 A JP2003147576 A JP 2003147576A JP 2001347107 A JP2001347107 A JP 2001347107A JP 2001347107 A JP2001347107 A JP 2001347107A JP 2003147576 A JP2003147576 A JP 2003147576A
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JP
Japan
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plating
plating solution
bubbles
plated
fine holes
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JP2001347107A
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Hiroshi Kuroki
洋志 黒木
Katsuya Ozaki
克也 小崎
Takeo Nakamoto
武夫 中本
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 めっき液を沸騰させることなく、半導体ウエ
ハに形成された微細孔の気泡を除去できるようにする。 【解決手段】 半導体ウエハ3をめっき液2に浸漬した
後、めっき槽1内部を減圧することで半導体ウエハ3に
形成された微細孔16に残留した気泡17を膨張させ、
更に半導体ウエハ3の表面にめっき液流18を発生させ
ることにより、気泡17を除去する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はめっき装置および
めっき方法に関するものであり、特に半導体基板上に形
成された微細溝にめっきにより金属の埋め込みを行なう
装置及び方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図7は例えば特開平11−93000号
公報に示された従来のめっき装置を示す構成図であり、
図において、31はめっき槽、32はめっき槽31内に
満たされためっき液、33はめっき槽31内に残された
空気、34はめっき液32に浸漬された半導体ウエハ、
35は半導体ウエハ34に形成された微細孔、36は微
細孔35に残留した気泡、37はめっき槽31内の空気
を排気するための真空ポンプである。
【0003】従来のめっき装置では、微細孔35が形成
された半導体ウエハ34において、微細孔35内部に残
留した気泡36を除去して、微細孔35内部にめっきを
施すため、半導体ウエハ34をめっき液32に浸漬した
あと、真空ポンプ37によりめっき液32の飽和蒸気圧
以下まで減圧し、めっき液32を沸騰させることで微細
孔35内部の気泡36を除去している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のめっき装置は以
上のように構成されているので、めっき液が沸騰するこ
とによって、新たな気泡が微細孔の内部に発生してしま
い、更にはめっき液の成分が蒸発することによってめっ
き液の組成が変動し、めっき膜の膜質が変動するという
問題があった。
【0005】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたものであり、膨張した気泡にめっき液流
を当てることにより、めっき液を沸騰させることなく、
微細孔の気泡を除去できるめっき装置及びめっき方法を
提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項1に係
るめっき装置は、めっき液を収容するためのめっき槽
と、このめっき槽の内部を排気させる手段と、めっき液
に浸漬された被めっき物の表面にめっき液流を発生させ
る手段とを設けたものである。
【0007】この発明の請求項2に係るめっき装置は、
被めっき物に形成された微細孔の内径と同程度の厚みを
持つ層流を発生させる手段を設けたものである。
【0008】この発明の請求項3に係るめっき方法は、
被めっき物をめっき液に浸漬する工程と、めっき槽内部
を減圧することで被めっき物に形成された微細孔に残留
した気泡を膨張させる工程と、被めっき物の表面にめっ
き液流を発生させることにより気泡を除去する工程とを
有するものである。
【0009】この発明の請求項4に係るめっき方法は、
めっき液の飽和蒸気圧よりも高い圧力までめっき槽内部
を減圧するものである。
【0010】この発明の請求項5に係るめっき方法は、
被めっき物を純水に浸漬する工程と、めっき槽内部を減
圧することで被めっき物に形成された微細孔に残留した
気泡を膨張させる工程と、被めっき物の表面に純水流を
発生させることにより気泡を除去する工程と、純水を排
水し、めっき液をめっき槽内部に入れる工程とを有する
ものである。
【0011】
【発明の実施の形態】実施の形態1.以下、この発明の
一実施形態を図に基づいて説明する。図1はこの発明の
実施の形態1によるめっき装置を示す構成図、図2(a)
(b)(c)は半導体ウエハ部分を示す拡大図である。図に
おいて、1は内部を密閉できるめっき槽、2はめっき槽
1内に満たされためっき液、3はめっき液2に浸漬され
た、めっきの対象となる半導体ウエハ、4は半導体ウエ
ハ3を載置する保持台、5はめっき液2の流れを作るた
めの噴流管、6はめっき液2を循環させるためのポン
プ、7はめっき槽1からめっき液2を吸い取るための吸
水管、8は電線、9は電極10に電流を供給するめっき
電源、11はめっき槽1内に残された空気、12は排気
管、13は排気ポンプ、14は吸気管、15はコック、
16は半導体ウエハ3に形成された微細孔、17は微細
孔16に残留した気泡、18は半導体ウエハ3表面を流
れるめっき液流である。
【0012】図1に示すように、本発明によれば、めっ
き槽1の内部を排気する排気管12と排気ポンプ13、
および半導体ウエハ3の表面にめっき液2の流れを作る
ための噴流管5とポンプ6を設けている。又、噴流管5
からめっき槽1に流れ込んだめっき液2は、吸水管7を
通ってポンプ6に戻り、再びめっき槽1へ流れ込む。こ
の構造において、半導体ウエハ3に形成された微細孔1
6内部に残留した気泡17が除去される過程を図2に示
す。
【0013】排気管12と排気ポンプ13によってめっ
き槽1の内部を減圧すると、図2(a)に示すように、半
導体ウエハ3に形成された微細孔16に残留した気泡1
7は膨張する。この気泡17にめっき液流18を当てる
と、図2(b)に示すように、気泡17が変形し、微細孔
16の内部から押し出される。これにより、微細孔16
の内部は図2(c)に示すように、めっき液2で満たされ
る。このとき、めっき槽1の内部をめっき液2の飽和蒸
気圧より高い圧力まで減圧しておけば、めっき液2の沸
騰が生じず、微細孔16の内部に新たな気泡17は再発
生せず、又、めっき液2の成分が蒸発によって変動し、
めっき膜の膜質が変動することを防止することができ
る。
【0014】以上のように本発明においては、微細孔1
6が形成された半導体ウエハ3へのめっき処理におい
て、被めっき物をめっき液2に浸漬した後でめっき槽1
内部を減圧し、気泡17を膨張させた後、被めっき物の
表面にめっき液2を流すことで気泡17を除去するもの
であり、減圧によって気泡17を膨張させることによ
り、めっき液2の流れによって気泡17が除去されやす
いという効果がある。
【0015】又、めっき液2が沸騰しないように、飽和
蒸気圧よりも高い圧力まで減圧し、微細孔16内部の気
泡17を膨張させるようにしたので、めっき液2を沸騰
させないため、めっき液2に溶け込んだ空気が減圧によ
って気化し、微細孔16内部で気泡となることを防止す
る効果がある。
【0016】実施の形態2.図3(a)(b)(c)はこの発
明の実施の形態2による半導体ウエハ部分を示す拡大図
であり、微細孔16の深さが、その内径よりも深けれ
ば、減圧によって膨張した気泡17がめっき液流18に
よって***し、図3(a)に示すように、一部の気泡17
は微細孔16の底部に残留する。このとき、半導体ウエ
ハ3の表面に、例えば微細孔16の内径と同程度の厚み
を持つ層流19を流し、その流速を制御すれば、乱流粘
性の作用により微細孔16の底部に残留した気泡17を
引き出すことができる。
【0017】図3(a)(b)(c)に、層流19を形成する
形態を示す。図3(b)に示すように、微細孔16の内径
と同程度の大きさの噴出口を持つ噴出ノズル20を半導
体ウエハ3の表面に配置し、噴出ノズル20からめっき
液2を噴出させれば、半導体ウエハ3の表面に層流19
を流すことができる。層流19により、微細孔16の底
部に残留した気泡17は微細孔16の外に引き出され、
図3(c)に示すように、微細孔16の内部はめっき液2
で満たされる。
【0018】このような気泡の除去方法においては、流
速によって気泡の除去の程度が異なる。図4は流速と気
泡除去率との関係を示す図であり、横軸に流速(m/s
ec)、縦軸に気泡除去率(%)を示している。例え
ば、内径50μm、深さ100μmの微細孔において
は、0.2m/sec以上の流速の液体を流すことで、
気泡を100%除去することができる。
【0019】以上のように本実施形態によれば、乱流粘
性の作用で微細孔16内部の気泡17が、微細孔16の
外に引きずり出されるように、半導体ウエハ3の表面に
層流19を流すようにしたものであり、微細孔16内部
の気泡17が引きずり出されるように、半導体ウエハ3
の表面近傍にめっき液2を流すことで、減圧によって微
細孔16の外まで膨張しなかった気泡17についても、
微細孔16から除去することができるという効果があ
る。
【0020】実施の形態3.図5,図6はこの発明の実
施の形態3によるめっき装置を示す構成図であり、図に
おいて、21は純水、22は排水管、23はめっき液供
給管、24は純水流である。めっき液2に蒸気圧の低い
成分が含まれている場合、排気管12と排気ポンプ13
による減圧によってめっき液2の成分が蒸発し、組成が
変動する。これを防止するため、めっき液2の代わりに
純水21を入れて、めっき槽1内部を減圧することによ
り、半導体ウエハ3に形成された微細孔16の気泡17
を除去した後、純水21をめっき槽1から抜き取り、そ
の後でめっき液2を充填することもできる。
【0021】図5,図6に純水21中で気泡17を除去
した後、めっき液2を充填する場合を示す。図5に示す
ように、純水流24によって気泡17を除去した後、排
水管22から純水21を排水し、めっき液2をめっき液
供給管23からめっき槽1の内部に入れる。次に図6に
示すように、微細孔16内部の純水21は、半導体ウエ
ハ3と電極10の間の電場によってめっき液2中に拡散
し、微細孔16内部もめっき液2で満たされる。
【0022】以上のように本実施形態によれば、めっき
液2の代わりに純水21を使って微細孔16内部の気泡
17を除去するようにしたので、めっき液2に含まれる
蒸気圧の低い成分が蒸発することによるめっき液2の組
成の変動を防ぐことができるという効果がある。
【0023】
【発明の効果】この発明の請求項1に係るめっき装置に
よれば、めっき液を収容するためのめっき槽と、このめ
っき槽の内部を排気させる手段と、めっき液に浸漬され
た被めっき物の表面にめっき液流を発生させる手段とを
設けたので、めっき液の流れによって気泡は除去され易
くなる。
【0024】この発明の請求項2に係るめっき装置によ
れば、被めっき物に形成された微細孔の内径と同程度の
厚みを持つ層流を発生させる手段を設けたので、微細孔
の底部に残留した気泡を除去することができる。
【0025】この発明の請求項3に係るめっき方法によ
れば、被めっき物をめっき液に浸漬する工程と、めっき
槽内部を減圧することで被めっき物に形成された微細孔
に残留した気泡を膨張させる工程と、被めっき物の表面
にめっき液流を発生させることにより気泡を除去する工
程とを有するので、気泡を容易に除去することができ
る。
【0026】この発明の請求項4に係るめっき方法によ
れば、めっき液の飽和蒸気圧よりも高い圧力までめっき
槽内部を減圧するようにしたので、微細孔の内部に新た
な気泡が発生せず、又、めっき液の成分が蒸発によって
変動することを防止することができる。
【0027】この発明の請求項5に係るめっき方法によ
れば、被めっき物を純水に浸漬する工程と、めっき槽内
部を減圧することで被めっき物に形成された微細孔に残
留した気泡を膨張させる工程と、被めっき物の表面に純
水流を発生させることにより気泡を除去する工程と、純
水を排水し、めっき液をめっき槽内部に入れる工程とを
有するので、めっき液に蒸気圧の低い成分が含まれてい
ても、めっき液の組成の変動を防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1によるめっき装置を
示す構成図である。
【図2】 半導体ウエハ部分を示す拡大図である。
【図3】 この発明の実施の形態2による半導体ウエハ
部分を示す拡大図である。
【図4】 流速と気泡除去率との関係を示す図である。
【図5】 この発明の実施の形態3によるめっき装置を
示す構成図である。
【図6】 この発明の実施の形態3によるめっき装置を
示す構成図である。
【図7】 従来のめっき装置を示す構成図である。
【符号の説明】
1 めっき槽、2 めっき液、16 微細孔、17 気
泡、18 めっき液流、19 層流、21 純水。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中本 武夫 兵庫県伊丹市東有岡4丁目42番8号 株式 会社エルテック内 Fターム(参考) 4K024 BA01 BB12 CB13 GA16 4M104 DD06 DD52 HH14 HH20

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 めっき液を収容するためのめっき槽と、
    このめっき槽の内部を排気させる手段と、上記めっき液
    に浸漬された被めっき物の表面にめっき液流を発生させ
    る手段とを設けたことを特徴とするめっき装置。
  2. 【請求項2】 被めっき物に形成された微細孔の内径と
    同程度の厚みを持つ層流を発生させる手段を設けたこと
    を特徴とする請求項1記載のめっき装置。
  3. 【請求項3】 被めっき物をめっき液に浸漬する工程
    と、めっき槽内部を減圧することで上記被めっき物に形
    成された微細孔に残留した気泡を膨張させる工程と、上
    記被めっき物の表面にめっき液流を発生させることによ
    り上記気泡を除去する工程とを有することを特徴とする
    めっき方法。
  4. 【請求項4】 めっき液の飽和蒸気圧よりも高い圧力ま
    でめっき槽内部を減圧することを特徴とする請求項3記
    載のめっき方法。
  5. 【請求項5】 被めっき物を純水に浸漬する工程と、め
    っき槽内部を減圧することで上記被めっき物に形成され
    た微細孔に残留した気泡を膨張させる工程と、上記被め
    っき物の表面に純水流を発生させることにより上記気泡
    を除去する工程と、上記純水を排水し、めっき液を上記
    めっき槽内部に入れる工程とを有することを特徴とする
    めっき方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009024249A (ja) * 2007-07-24 2009-02-05 Yoshiji Ichihara 電気めっき装置及びめっき部材の製造方法
JP2011029308A (ja) * 2009-07-23 2011-02-10 Noge Denki Kogyo:Kk 環境配慮型のめっき方法及びその構造体
CN102566031A (zh) * 2012-02-18 2012-07-11 福州大学 抗气泡液体控制装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009024249A (ja) * 2007-07-24 2009-02-05 Yoshiji Ichihara 電気めっき装置及びめっき部材の製造方法
JP2011029308A (ja) * 2009-07-23 2011-02-10 Noge Denki Kogyo:Kk 環境配慮型のめっき方法及びその構造体
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