JP2003066924A - Image processing method for covering defect of liquid crystal panel and image displaying device with the same - Google Patents
Image processing method for covering defect of liquid crystal panel and image displaying device with the sameInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、液晶パネルの欠
点を目立たなくする画像処理方法、及びこれを用いた画
像表示装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image processing method for making defects of a liquid crystal panel inconspicuous and an image display device using the same.
【０００２】[0002]
【従来の技術】画像を表示するための画像表示装置とし
て、液晶パネルを用いた直視型の表示装置や投写型表示
装置等が種々開発されている。2. Description of the Related Art As an image display device for displaying an image, various direct-viewing type display devices using a liquid crystal panel, projection type display devices and the like have been developed.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】液晶パネルには、製造
上の問題から、欠点が発生するものがある。欠点とは、
信号によらずに一定の輝度状態を保っている点（画素）
を意味している。欠点には、輝度の高い状態を保つ明点
（「明欠点」とも呼ぶ。）や、輝度の低い状態を保つ暗
点（「暗欠点」とも呼ぶ。）がある。Some liquid crystal panels have drawbacks due to manufacturing problems. The drawback is
A point (pixel) that maintains a constant brightness state regardless of the signal
Means The defects include a bright point that maintains a high brightness state (also referred to as “bright defect”) and a dark point that maintains a low brightness state (also referred to as “dark defect”).
【０００４】このような欠点を有する液晶パネルを用い
た画像表示装置の表示では、表示内容が見にくくなる場
合がある。In the display of an image display device using a liquid crystal panel having such a defect, the displayed contents may be difficult to see.
【０００５】例えば、１つの画素を構成する赤色画素に
明欠点が発生しているとする。このとき、その欠点を含
む周囲の画素が黒色の画像を表示する場合であったとす
ると、欠点となっている画素のみ赤色で表示されて目立
つことになる。また、１つの画素を構成する赤色画素に
暗欠点が発生しているとする。このとき、その欠点を含
む周囲の画素が赤色の画像を表示する場合であったとす
ると、欠点となっている画素のみが黒色で表示されて目
立つことになる。あるいは、その欠点を含む周囲の画素
が白色の画像を表示する場合であったとすると、欠点と
なっている画素が青緑色で表示されて目立つことにな
る。For example, it is assumed that a red pixel which constitutes one pixel has a bright defect. At this time, if the surrounding pixels including the defect display a black image, only the defective pixel is displayed in red and is conspicuous. In addition, it is assumed that a red defect forming one pixel has a dark defect. At this time, if the surrounding pixels including the defect display a red image, only the defective pixel is displayed in black and is conspicuous. Alternatively, if the surrounding pixels including the defect display a white image, the defective pixel is displayed in blue-green and is conspicuous.
【０００６】この発明は、従来技術における上述の課題
を解決するためになされたものであり、液晶パネルの欠
点を目立たなくする技術を提供することを目的とする。The present invention has been made to solve the above-mentioned problems in the prior art, and an object thereof is to provide a technique for making the defects of the liquid crystal panel inconspicuous.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段およびその作用・効果】上
述の課題の少なくとも一部を解決するため、本発明で
は、あらかじめ、前記液晶パネルの欠点の位置および欠
点の状態を示す欠点情報を準備する。そして、前記欠点
情報を参照して、前記欠点の周辺の補正対象画素に供給
される画素データを、少なくとも前記補正対象画素の周
辺の画素に供給される画素データと、前記欠点の状態に
対応する欠点データとに基づいて補正する。Means for Solving the Problem and Its Action / Effect To solve at least a part of the above-mentioned problem, in the present invention, defect information indicating the position of the defect and the state of the defect of the liquid crystal panel is prepared in advance. . Then, referring to the defect information, the pixel data supplied to the correction target pixel around the defect corresponds to at least the pixel data supplied to the pixels around the correction target pixel and the defect state. Correct based on the defect data.
【０００８】この発明では、欠点の周辺の補正対象画素
に供給される画素データを、少なくとも前記補正対象画
素の周辺の画素に供給される画素データと、前記欠点の
状態に対応する欠点データとに基づいて補正することが
できるので、欠点と欠点の周辺の補正対象画素との輝度
の差（以下、「コントラスト」とも呼ぶ。）を低くする
ことができ、液晶パネルの欠点を目立たなくすることが
できる。According to the present invention, the pixel data supplied to the correction target pixels around the defect are at least pixel data supplied to the pixels around the correction target pixel and the defect data corresponding to the defect state. Since the correction can be performed based on the defect, the difference in brightness between the defect and the correction target pixel around the defect (hereinafter, also referred to as “contrast”) can be reduced, and the defect of the liquid crystal panel can be made inconspicuous. it can.
【０００９】ここで、前記欠点に隣接する補正対象画素
に供給される画素データを、前記補正対象画素に隣接す
る画素であって、正常な画素に供給される画素データ
と、前記欠点の状態に対応する欠点データとに基づいて
補正するようにすることができる。Here, the pixel data supplied to the correction target pixel adjacent to the defect is set to the pixel data supplied to a normal pixel which is a pixel adjacent to the correction target pixel and the defect state. The correction can be made based on the corresponding defect data.
【００１０】このようにすれば、欠点に隣接する補正対
象画素と欠点とのコントラストを低くすることができ、
液晶パネルの欠点を目立たなくすることができる。By doing so, the contrast between the pixel to be corrected adjacent to the defect and the defect can be lowered,
The defects of the liquid crystal panel can be made inconspicuous.
【００１１】なお、本発明は、以下に示すように、種々
の態様で実現することが可能である。
（１）液晶パネルを用いた画像表示装置において、前記
液晶パネルの欠点を目立たなくする画像処理方法
（２）液晶パネルの欠点を目立たなくすることが可能な
画像表示装置The present invention can be implemented in various modes as shown below. (1) In an image display device using a liquid crystal panel, an image processing method for making defects of the liquid crystal panel inconspicuous (2) Image display device capable of making defects of the liquid crystal panel inconspicuous
【００１２】[0012]
【発明の実施の形態】Ａ．画像表示装置の構成例：図１
は、この発明の実施例としての画像表示装置１０の概略
構成を示すブロック図である。この画像表示装置１０
は、コントローラ１００と、不揮発性メモリ１１０と、
画像信号変換部１２０と、フレームメモリ１３０と、画
像サイズ変換部１４０と、欠点補正部１５０と、液晶パ
ネル制御部１６０と、液晶パネル１７０と、照明光学系
１８０と、投写光学系１９０とを備えている。この画像
表示装置１０は、液晶パネル１７０から画素毎に射出さ
れた赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の３つの色光
を、投写光学系１９０を介して投写面ＳＣＲ上に投写す
ることにより画像を表示する投写型表示装置である。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A. Configuration example of image display device: FIG.
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of an image display device 10 as an embodiment of the present invention. This image display device 10
Is a controller 100, a non-volatile memory 110,
An image signal conversion unit 120, a frame memory 130, an image size conversion unit 140, a defect correction unit 150, a liquid crystal panel control unit 160, a liquid crystal panel 170, an illumination optical system 180, and a projection optical system 190. ing. The image display device 10 projects three color lights of red (R), green (G), and blue (B) emitted from the liquid crystal panel 170 for each pixel on the projection surface SCR via the projection optical system 190. This is a projection display device that displays an image by doing.
【００１３】コントローラ１００は、図示しないＣＰ
Ｕ、ＲＡＭ、およびＲＯＭを有するマイクロコンピュー
タであり、バス１００ｂを介して不揮発性メモリ１１０
と、画像信号変換部１２０と、画像サイズ変換部１４０
と、欠点補正部１５０と、液晶パネル制御部１６０の動
作を制御する。The controller 100 is a CP (not shown).
A microcomputer having a U, a RAM, and a ROM, and a nonvolatile memory 110 via a bus 100b.
An image signal conversion unit 120 and an image size conversion unit 140
Then, the operation of the defect correction section 150 and the liquid crystal panel control section 160 is controlled.
【００１４】画像信号変換部１２０は、コンピュータの
映像出力であるアナログ画像信号ＰＣＶＳをサンプリン
グしてフレームメモリ１３０に格納する。また、コンポ
ジット信号であるテレビジョン画像信号ＴＶＳを復調す
るとともに、サンプリングしてフレームメモリ１３０に
格納する。あるいは、ディジタル画像信号ＤＶＳをフレ
ームメモリ１３０に格納する。そして、フレームメモリ
１３０に格納された画像データを読み出して画像サイズ
変換部１４０に供給する。The image signal converter 120 samples the analog image signal PCVS, which is the video output of the computer, and stores it in the frame memory 130. Further, the television image signal TVS which is a composite signal is demodulated, sampled and stored in the frame memory 130. Alternatively, the digital image signal DVS is stored in the frame memory 130. Then, the image data stored in the frame memory 130 is read and supplied to the image size conversion unit 140.
【００１５】画像サイズ変換部１４０は、フレームメモ
リ１３０から読み出された画像データの解像度（画像サ
イズ）を、液晶パネル１７０で表示可能な解像度（画像
サイズ）の画像データに変換する。変換された画像デー
タは、欠点補正部１５０に入力される。The image size conversion unit 140 converts the resolution (image size) of the image data read from the frame memory 130 into image data of a resolution (image size) that can be displayed on the liquid crystal panel 170. The converted image data is input to the defect correction unit 150.
【００１６】欠点補正部１５０は、後述するように不揮
発性メモリ１１０に記憶されている欠点情報（欠点の画
素位置および欠点の状態を含む）に基づいて、画像サイ
ズ変換部１４０から供給される画像データを補正する。
補正された画像データは、液晶パネル制御部１６０に供
給される。The defect correction unit 150, based on the defect information (including the pixel position of the defect and the state of the defect) stored in the nonvolatile memory 110 as described later, the image supplied from the image size conversion unit 140. Correct the data.
The corrected image data is supplied to the liquid crystal panel control unit 160.
【００１７】液晶パネル制御部１６０は、供給された画
像データに基づいて、液晶パネル１７０を駆動する。The liquid crystal panel control section 160 drives the liquid crystal panel 170 based on the supplied image data.
【００１８】液晶パネル１７０は、照明光学系１８０か
らの照明光を、液晶パネル制御部１６０に供給された画
像データに応じて変調する。液晶パネル１７０で変調さ
れた光は、投写光学系１９０によって投写面ＳＣＲに向
かって射出され、画像が表示される。The liquid crystal panel 170 modulates the illumination light from the illumination optical system 180 according to the image data supplied to the liquid crystal panel control section 160. The light modulated by the liquid crystal panel 170 is emitted toward the projection surface SCR by the projection optical system 190, and an image is displayed.
【００１９】なお、図示は省略しているが、液晶パネル
１７０は、ＲＧＢの３色に対応する３枚の液晶パネルを
含んでいる。このため、画像信号変換部１２０ないし液
晶パネル制御部１６０の各回路は、ＲＧＢの３色分の画
像信号を処理する機能を有している。また、照明光学系
１８０は、光源光を３色の光に分離する色光分離光学系
を有しており、また、投写光学系１９０は、３色の画像
光を合成してカラー画像を表す画像光を生成する合成光
学系と投写レンズとを有している。なお、このようなプ
ロジェクタの光学系の構成については、種々の一般的な
プロジェクタの光学系の構成が利用可能である。Although not shown, the liquid crystal panel 170 includes three liquid crystal panels corresponding to the three colors of RGB. Therefore, each circuit of the image signal conversion unit 120 or the liquid crystal panel control unit 160 has a function of processing image signals of three colors of RGB. Further, the illumination optical system 180 has a color light separating optical system that separates the light source light into light of three colors, and the projection optical system 190 combines the image lights of three colors to form an image representing a color image. It has a synthetic optical system for generating light and a projection lens. As for the optical system configuration of such a projector, various general projector optical system configurations can be used.
【００２０】Ｂ．欠点補正部の構成例：図２は、欠点補
正部１５０の内部構成の一例を示すブロック図である。
欠点補正部１５０は、補正演算データメモリ１５１と、
補正演算部１５３と、補正演算データメモリ１５１およ
び補正演算部１５３の動作を制御する欠点補正制御部１
５５とを備えている。また、表示データメモリ１５７と
表示データメモリ１５７の動作を制御する表示データ制
御部１５９とを備えている。B. Configuration Example of Defect Correction Unit: FIG. 2 is a block diagram showing an example of the internal configuration of the defect correction unit 150.
The defect correction unit 150 includes a correction calculation data memory 151,
Defect correction control unit 1 for controlling operations of correction calculation unit 153, correction calculation data memory 151, and correction calculation unit 153
55 and. Further, the display data memory 157 and the display data control unit 159 for controlling the operation of the display data memory 157 are provided.
【００２１】画像サイズ変換部１４０において、液晶パ
ネル１７０の解像度（画像サイズ）と等しくなるように
調整された画像データは、基本的には欠点補正制御部１
５５を介して表示データ制御部１５９に供給される。そ
して、表示データ制御部１５９は、供給された画像デー
タを表示データメモリ１５７に格納する。The image data adjusted by the image size conversion unit 140 to be equal to the resolution (image size) of the liquid crystal panel 170 is basically the defect correction control unit 1.
It is supplied to the display data control unit 159 via 55. Then, the display data control unit 159 stores the supplied image data in the display data memory 157.
【００２２】ここで、不揮発性メモリ１１０には、あら
かじめ液晶パネル１７０の欠点の位置（アドレス）およ
び欠点の状態（欠点の種類：明欠点／暗欠点、等）を含
む欠点情報が格納されている。In the nonvolatile memory 110, defect information including a defect position (address) of the liquid crystal panel 170 and a defect state (type of defect: bright defect / dark defect, etc.) is stored in advance. .
【００２３】欠点補正制御部１５５は、不揮発性メモリ
１１０に格納されている欠点情報を参照しながら、画像
サイズ変換部１４０から供給される画像データを、以下
に示す（１）、（２）の手順により処理する。The defect correction control unit 155 refers to the defect information stored in the non-volatile memory 110 and refers to the image data supplied from the image size conversion unit 140 as shown in (1) and (2) below. Process according to the procedure.
【００２４】（１）欠点補正制御部１５５は、供給され
た画像データが後述する補正対象画素の画素データの補
正に利用される画素の画素データでない場合には、その
画素データを表示データ制御部１５９に供給する。(1) If the supplied image data is not the pixel data of the pixel used for correcting the pixel data of the pixel to be corrected which will be described later, the defect correction control section 155 sets the pixel data to the display data control section. 159.
【００２５】（２）欠点補正制御部１５５は、供給され
た画像データが補正対象画素の画素データの補正に利用
される画素の画素データである場合には、その画素デー
タを補正演算データメモリ１５１に格納する。補正演算
データメモリ１５１に格納された画素データを利用し
て、補正演算部１５３において補正対象画素の画像デー
タの補正演算を実行させる。そして、補正演算部１５３
によって算出された補正対象画素の補正データを、表示
データ制御部１５９に供給する。(2) If the supplied image data is pixel data of a pixel used for correcting the pixel data of the pixel to be corrected, the defect correction control section 155 sets the pixel data to the correction calculation data memory 151. To store. Using the pixel data stored in the correction calculation data memory 151, the correction calculation unit 153 causes the correction calculation of the image data of the correction target pixel to be executed. Then, the correction calculation unit 153
The correction data of the correction target pixel calculated by is supplied to the display data control unit 159.
【００２６】なお、表示データメモリ１５７に格納され
た画像データは、表示データ制御部１５９によって読み
出されて液晶パネル制御部１６０に供給される。The image data stored in the display data memory 157 is read by the display data control unit 159 and supplied to the liquid crystal panel control unit 160.
【００２７】Ｃ．欠点補正方法：以下では、補正対象画
素の画素データを補正する方法の具体例について、横方
向８画素（画素Ａ〜画素Ｈ）で縦方向６画素（画素１〜
画素６）の解像度を有する赤色用の液晶パネルに欠点が
発生している場合を例に説明する。また、各画素のアド
レスあるいは画素データを、Ａ１〜Ａ６，Ｂ１〜Ｂ６，
Ｃ１〜Ｃ６，Ｄ１〜Ｄ６，Ｅ１〜Ｅ６，Ｆ１〜Ｆ６，Ｇ
１〜Ｇ６，Ｈ１〜Ｈ６のように示す。C. Defect correction method: In the following, regarding a specific example of the method of correcting the pixel data of the correction target pixel, 8 pixels in the horizontal direction (pixel A to pixel H) and 6 pixels in the vertical direction (pixel 1 to pixel 1
An example will be described in which a red liquid crystal panel having the resolution of the pixel 6) has a defect. In addition, the address or pixel data of each pixel is set to A1 to A6, B1 to B6,
C1-C6, D1-D6, E1-E6, F1-F6, G
1 to G6 and H1 to H6.
【００２８】Ｃ１．点欠点の場合：図３は、１画素の点
欠点と補正対象画素との関係を示す説明図である。図３
は、画素Ｂ３に点欠点が発生している場合を示してい
る。C1. Case of Point Defect: FIG. 3 is an explanatory diagram showing a relationship between a point defect of one pixel and a correction target pixel. Figure 3
Shows the case where a point defect has occurred in the pixel B3.
【００２９】１画素の点欠点が発生している場合には、
以下に示すように、欠点に隣接する画素の画素データを
それぞれ補正する。例えば、図３に示すように、欠点Ｂ
３に隣接する画素Ａ２、Ｂ２，Ｃ２，Ａ３，Ｃ３，Ａ
４，Ｂ４，Ｃ４（図中クロスハッチングで示す画素）を
補正対象画素として、それぞれの画素データを補正す
る。When a point defect of 1 pixel occurs,
As shown below, the pixel data of the pixels adjacent to the defect are respectively corrected. For example, as shown in FIG.
Pixels A2, B2, C2, A3, C3, A adjacent to
4, B4, C4 (pixels indicated by cross hatching in the figure) are set as correction target pixels, and the respective pixel data are corrected.
【００３０】図４は、補正対象画素に対応する補正デー
タの生成方法について示す説明図である。図４（Ａ）に
示すように、補正対象画素Ｂ２（図中太線で囲まれた画
素）の画素データは、下式（１）に示すように、補正対
象画素Ｂ２と、この補正対象画素Ｂ２に隣接する８つの
周辺画素Ａ１，Ｂ１，Ｃ１，Ａ２，Ｃ２，Ａ３，Ｂ３，
Ｃ３，の９つの画素（図中破線で囲まれた画素）の画素
データの平均値を算出することにより求められる。FIG. 4 is an explanatory diagram showing a method of generating correction data corresponding to a pixel to be corrected. As shown in FIG. 4A, the pixel data of the correction target pixel B2 (pixels surrounded by a thick line in the drawing) is the correction target pixel B2 and the correction target pixel B2 as shown in the following expression (1). Eight peripheral pixels A1, B1, C1, A2, C2, A3, B3 adjacent to
It is obtained by calculating the average value of the pixel data of nine pixels C3 (pixels surrounded by a broken line in the figure).
【００３１】 Ｂ２＝（Ａ１＋Ｂ１＋Ｃ１＋Ａ２＋Ｂ２＋Ｃ２＋Ａ３＋Ｂ３＊＋Ｃ３）／９ … （１）[0031] B2 = (A1 + B1 + C1 + A2 + B2 + C2 + A3 + B3 * + C3) / 9 ... (1)
【００３２】ただし、式（１）において、各画素の画素
データは、画素アドレスと同じ記号で示されている。ま
た、画素Ｂ３は欠点であるので、欠点データはＢ３＊の
ように記号＊を付加して示されている（以下、同様であ
る）。なお、欠点データは、不揮発性メモリ１１０に格
納されている欠点情報に含まれる欠点の状態（明欠点／
暗欠点）に応じて設定される。例えば、明欠点の場合
は、欠点データとして最も明るい画素データに対応する
階調データが設定され、暗欠点の場合は、最も暗い画素
データに対応する階調データが設定される。However, in the equation (1), the pixel data of each pixel is indicated by the same symbol as the pixel address. Further, since the pixel B3 is a defect, the defect data is shown by adding the symbol * like B3 * (the same applies hereinafter). In addition, the defect data is the state of the defect included in the defect information stored in the non-volatile memory 110 (clear defect /
It is set according to the dark defect). For example, in the case of a bright defect, the gradation data corresponding to the brightest pixel data is set as the defect data, and in the case of the dark defect, the gradation data corresponding to the darkest pixel data is set.
【００３３】他の補正対象画素Ａ２，Ｃ２，Ａ３，Ｃ
３，Ａ４，Ｂ４，Ｃ４のうち、Ａ２，Ａ３，Ａ４を除く
Ｃ２，Ｃ３，Ｂ４，C４も、画素Ｂ２と同様に、下式
（２）〜（５）に示すように、９つの画素の画素データ
の平均値を算出することにより求められる。Other correction target pixels A2, C2, A3, C
Of A3, A4, B4, and C4, C2, C3, B4, and C4 except A2, A3, and A4 have nine pixels, as shown in the following formulas (2) to (5). It is obtained by calculating the average value of pixel data.
【００３４】 Ｃ２＝（Ｂ１＋Ｃ１＋Ｄ１＋Ｂ２＋Ｃ２＋Ｄ２＋Ｂ３＊＋Ｃ３＋Ｄ３）／９ … （２） Ｃ３＝（Ｂ２＋Ｃ２＋Ｄ２＋Ｂ３＊＋Ｃ３＋Ｄ３＋Ｂ４＋Ｃ４＋Ｄ４）／９ … （３） Ｂ４＝（Ａ３＋Ｂ３＊＋Ｃ３＋Ａ４＋Ｂ４＋Ｃ４＋Ａ５＋Ｂ５＋Ｃ５）／９ … （４） Ｃ４＝（Ｂ３＊＋Ｃ３＋Ｄ３＋Ｂ４＋Ｃ４＋Ｄ４＋Ｂ５＋Ｃ５＋Ｄ５）／９ … （５）[0034] C2 = (B1 + C1 + D1 + B2 + C2 + D2 + B3 * + C3 + D3) / 9 ... (2) C3 = (B2 + C2 + D2 + B3 * + C3 + D3 + B4 + C4 + D4) / 9 ... (3) B4 = (A3 + B3 * + C3 + A4 + B4 + C4 + A5 + B5 + C5) / 9 ... (4) C4 = (B3 * + C3 + D3 + B4 + C4 + D4 + B5 + C5 + D5) / 9 ... (5)
【００３５】また、図４（Ｂ）に示すように、補正対象
画素Ａ２（図中太線で囲まれた画素）は、液晶パネルの
左端縁の画素であるため、これに隣接する画素は、画素
Ａ１，Ｂ１，Ｂ２，Ａ３，Ｂ３の５つしかない。この場
合には、下式（６）に示すように、補正対象画素Ａ２
と、この補正対象画素Ａ２に隣接する５つの周辺画素Ａ
１，Ｂ１，Ｂ２，Ａ３，Ｂ３の６つの画素（図中破線で
囲まれた画素）の画素データの平均値を算出することに
より求められる。Further, as shown in FIG. 4B, since the correction target pixel A2 (pixel surrounded by a thick line in the drawing) is a pixel on the left edge of the liquid crystal panel, a pixel adjacent thereto is a pixel. There are only five, A1, B1, B2, A3 and B3. In this case, as shown in the following equation (6), the correction target pixel A2
And five peripheral pixels A adjacent to the correction target pixel A2.
It is obtained by calculating an average value of pixel data of 6 pixels of 1, B1, B2, A3 and B3 (pixels surrounded by a broken line in the figure).
【００３６】 Ａ２＝（Ａ１＋Ｂ１＋Ａ２＋Ｂ２＋Ａ３＋Ｂ３＊）／６ …（６）[0036] A2 = (A1 + B1 + A2 + B2 + A3 + B3 *) / 6 (6)
【００３７】補正対象画素Ａ３，Ａ４も、画素Ａ２と同
様に、下式（７），（８）に示すように、６つの画素の
画素データの平均値を算出することにより求められる。Similarly to the pixel A2, the correction target pixels A3 and A4 are also obtained by calculating the average value of the pixel data of the six pixels as shown in the following equations (7) and (8).
【００３８】 Ａ３＝（Ａ２＋Ｂ２＋Ａ３＋Ｂ３＊＋Ａ４＋Ｂ４）／６ …（７） Ａ４＝（Ａ３＋Ｂ３＊＋Ａ４＋Ｂ４＋Ａ５＋Ｂ５）／６ …（８）[0038] A3 = (A2 + B2 + A3 + B3 * + A4 + B4) / 6 (7) A4 = (A3 + B3 * + A4 + B4 + A5 + B5) / 6 (8)
【００３９】ここで、上記補正演算データメモリ１５１
（図２）には、上記式（１）〜（８）からわかるよう
に、少なくとも画素Ａ１〜Ａ５，Ｂ１〜Ｂ５，Ｃ１〜Ｃ
５，Ｄ１〜Ｄ５の画素データが記憶される。補正演算部
１５３は、補正演算データメモリ１５１に記憶されてい
る画素データを利用して、上記式（１）〜（８）の演算
を行って、各補正対象画素Ａ２，Ｂ２，Ｃ２，Ａ３，Ｃ
３，Ａ４，Ｂ４，Ｃ４の補正データを算出する。Here, the correction calculation data memory 151
In FIG. 2, at least the pixels A1 to A5, B1 to B5, and C1 to C, as can be seen from the above formulas (1) to (8).
5, pixel data of D1 to D5 are stored. The correction calculation unit 153 uses the pixel data stored in the correction calculation data memory 151 to perform the calculations of the above formulas (1) to (8), and each correction target pixel A2, B2, C2, A3. C
The correction data of 3, A4, B4 and C4 are calculated.
【００４０】また、欠点が画素Ｂ２である場合におい
て、補正対象画素Ａ１は、補正対象画素Ａ１と、これに
隣接する周辺画素Ａ２，Ｂ１，Ｂ２の４画素により平均
化される。すなわち、補正対象画素に隣接する画素が８
画素に満たない場合には、補正対象画素と補正対象画素
に隣接する実際の数の画素で平均化するようにすればよ
い。When the defect is the pixel B2, the correction target pixel A1 is averaged by the correction target pixel A1 and the four neighboring pixels A2, B1 and B2 adjacent thereto. That is, the number of pixels adjacent to the pixel to be corrected is 8
If the number of pixels is less than the number of pixels, the correction target pixel and the actual number of pixels adjacent to the correction target pixel may be averaged.
【００４１】以上のように、補正対象画素Ａ２，Ｂ２，
Ｃ２，Ａ３，Ｃ３，Ａ４，Ｂ４，Ｃ４は、それぞれ上式
（１）〜（８）に示すように、欠点Ｂ３の欠点を含み、
それぞれの補正対象画素に隣接する画素の画素データに
より平均化された画素データとされている。これによ
り、各補正対象画素Ａ２，Ｂ２，Ｃ２，Ａ３，Ｃ３，Ａ
４，Ｂ４，Ｃ４の画素データを、欠点Ｂ３の欠点の状態
を示す欠点データＢ３＊の状態が反映されるように補正
することができる。これにより、欠点Ｂ３と各補正対象
画素Ａ２，Ｂ２，Ｃ２，Ａ３，Ｃ３，Ａ４，Ｂ４，Ｃ４
とのコントラストを低くすることができるので、赤色用
の液晶パネルに発生した１画素の点欠点を目立たなくす
ることができる。As described above, the correction target pixels A2, B2,
C2, A3, C3, A4, B4 and C4 each include the defect of defect B3 as shown in the above formulas (1) to (8),
The pixel data is averaged by the pixel data of the pixels adjacent to the respective correction target pixels. Accordingly, the correction target pixels A2, B2, C2, A3, C3, A
The pixel data of 4, B4, and C4 can be corrected so that the state of the defect data B3 * indicating the state of the defect of the defect B3 is reflected. As a result, the defect B3 and the correction target pixels A2, B2, C2, A3, C3, A4, B4, C4
Since it is possible to reduce the contrast with the above, the point defect of one pixel generated in the red liquid crystal panel can be made inconspicuous.
【００４２】なお、上記説明では、液晶パネル内に１画
素の点欠点が発生している場合を例に説明しているが、
複数の点欠点が非連続で発生している場合においても、
それぞれの点欠点に対して同様に補正することができ
る。In the above description, the case where a point defect of one pixel occurs in the liquid crystal panel has been described as an example.
Even when multiple point defects occur discontinuously,
The respective point defects can be similarly corrected.
【００４３】また、本例では、赤色用の液晶パネルに１
画素の点欠点が発生している場合を例に説明している
が、他の色用の液晶パネルにおいても、同様にして、液
晶パネルに発生した１画素の欠点の表示を目立たなくす
ることができる。また、複数色用の液晶パネルにおいて
欠点が発生している場合においても、同様にして、それ
ぞれの液晶パネルに発生した１画素の点欠点を目立たな
くすることができる。In this example, the liquid crystal panel for red has one
Although the case where a pixel point defect has occurred has been described as an example, it is possible to make the display of the defect of one pixel generated in the liquid crystal panel inconspicuous in the same manner in the liquid crystal panels for other colors. it can. Further, even when a defect occurs in a liquid crystal panel for a plurality of colors, the point defect of one pixel occurring in each liquid crystal panel can be made inconspicuous in the same manner.
【００４４】Ｃ２．連結欠点の場合：図５は、２画素の
連続する点欠点（連結欠点）と補正対象画素との関係を
示す説明図である。C2. In the case of connection defect: FIG. 5 is an explanatory diagram showing a relationship between a point defect (connection defect) having two consecutive pixels and a correction target pixel.
【００４５】２画素の連結欠点が発生している場合にお
いても、基本的には、１画素の点欠点が発生している場
合と同様に、欠点に隣接する画素の画素データをそれぞ
れ補正する。例えば、図５に示すように、２つの画素Ｂ
３，Ｃ３に連結欠点が発生している場合には、２つの欠
点Ｂ３，Ｃ３に隣接する１０個の周辺画素Ａ２，Ｂ２，
Ｃ２，Ａ３，Ｄ３，Ａ４，Ｂ４，Ｃ４，Ｄ４（図中クロ
スハッチングで示す画素）のそれぞれの画素データを補
正する。Even when a connection defect of two pixels has occurred, basically, similarly to the case where a point defect of one pixel has occurred, the pixel data of pixels adjacent to the defect are respectively corrected. For example, as shown in FIG.
When a connection defect occurs in 3 and C3, 10 peripheral pixels A2, B2 adjacent to the two defects B3 and C3
Each pixel data of C2, A3, D3, A4, B4, C4, D4 (pixels shown by cross hatching in the figure) is corrected.
【００４６】また、補正対象画素の補正データは、１点
の欠点が発生している場合と同様に、補正対象画素と、
この補正対象画素に隣接する周辺画素の画素データの平
均値を算出することにより求められる。Further, the correction data of the correction target pixel is the same as the correction target pixel, as in the case where one defect occurs.
It is obtained by calculating the average value of the pixel data of the peripheral pixels adjacent to the correction target pixel.
【００４７】図６は、補正対象画素に対応する補正デー
タの生成方法について示す説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram showing a method of generating correction data corresponding to the correction target pixel.
【００４８】補正対象画素Ａ２，Ａ３，Ａ４は、上記点
欠点の場合と同様に、上記式（６），（７），（８）で
表される。The correction target pixels A2, A3, and A4 are represented by the above equations (6), (7), and (8), as in the case of the above point defects.
【００４９】図６（Ａ）に示すように、補正対象画素Ｂ
２（図中太線で囲まれた画素）の画素データは、補正対
象画素Ｂ２と、この補正対象画素Ｂ２に隣接する８つの
周辺画素Ａ１，Ｂ１，Ｃ１，Ａ２，Ｃ２，Ａ３，Ｂ３，
Ｃ３，の９つの画素（図中破線で囲まれた画素）の画素
データの平均値を算出することにより求められる。ただ
し、画素Ｂ３および画素Ｃ３が連結欠点であるので、補
正対象画素Ｂ２の画素データは、上記式（１）ではな
く、下式（９）で表される。As shown in FIG. 6A, the correction target pixel B
The pixel data of 2 (pixels surrounded by a thick line in the drawing) includes a correction target pixel B2 and eight peripheral pixels A1, B1, C1, A2, C2, A3, B3 adjacent to the correction target pixel B2.
It is obtained by calculating the average value of the pixel data of nine pixels C3 (pixels surrounded by a broken line in the figure). However, since the pixel B3 and the pixel C3 are connection defects, the pixel data of the correction target pixel B2 is expressed by the following expression (9) instead of the above expression (1).
【００５０】 Ｂ２＝（Ａ１＋Ｂ１＋Ｃ１＋Ａ２＋Ｂ２＋Ｃ２＋Ａ３＋Ｂ３＊＋Ｃ３＊）／９ …（９）[0050] B2 = (A1 + B1 + C1 + A2 + B2 + C2 + A3 + B3 * + C3 *) / 9 … (9)
【００５１】また、補正対象画素Ｃ２，Ｂ４，Ｃ４も、
同様に、上記式（２），（４），（５）ではなく、下式
（１０），（１１），（１２）で表される。The correction target pixels C2, B4, C4 are also
Similarly, the following expressions (10), (11), and (12) are used instead of the above expressions (2), (4), and (5).
【００５２】 Ｃ２＝（Ｂ１＋Ｃ１＋Ｄ１＋Ｂ２＋Ｃ２＋Ｄ２＋Ｂ３＊＋Ｃ３＊＋Ｄ３）／９ …（１０） Ｂ４＝（Ａ３＋Ｂ３＊＋Ｃ３＊＋Ａ４＋Ｂ４＋Ｃ４＋Ａ５＋Ｂ５＋Ｃ５）／９ …（１１） Ｃ４＝（Ｂ３＊＋Ｃ３＊＋Ｄ３＋Ｂ４＋Ｃ４＋Ｄ４＋Ｂ５＋Ｃ５＋Ｄ５）／９ …（１２）[0052] C2 = (B1 + C1 + D1 + B2 + C2 + D2 + B3 * + C3 * + D3) / 9 … (10) B4 = (A3 + B3 * + C3 * + A4 + B4 + C4 + A5 + B5 + C5) / 9 … (11) C4 = (B3 * + C3 * + D3 + B4 + C4 + D4 + B5 + C5 + D5) / 9 … (12)
【００５３】また、図６（Ｂ）に示すように、補正対象
画素Ｄ２（図中太線で囲まれた画素）の画素データは、
下式（１３）に示すように、補正対象画素Ｄ２と、この
補正対象画素Ｄ２に隣接する８つの周辺画素Ｃ１，Ｄ
１，Ｅ１，Ｃ２，Ｅ２，Ｃ３，Ｄ３，Ｅ３の９つの画素
（図中破線で囲まれた画素）の画素データの平均値を算
出することにより求められる。Further, as shown in FIG. 6B, the pixel data of the correction target pixel D2 (pixel surrounded by a thick line in the figure) is
As shown in the following equation (13), the correction target pixel D2 and eight peripheral pixels C1 and D adjacent to the correction target pixel D2
It is obtained by calculating the average value of the pixel data of nine pixels (E1, C2, E2, C3, D3, E3) (pixels surrounded by the broken line in the figure).
【００５４】 Ｄ２＝（Ｃ１＋Ｄ１＋Ｅ１＋Ｃ２＋Ｄ２＋Ｅ２＋Ｃ３＊＋Ｄ３＋Ｅ３）／９ …（１３）[0054] D2 = (C1 + D1 + E1 + C2 + D2 + E2 + C3 * + D3 + E3) / 9 … (13)
【００５５】また、他の補正対象画素Ｄ３，Ｄ４も、下
式（１４），（１５）で表される。The other correction target pixels D3 and D4 are also expressed by the following equations (14) and (15).
【００５６】 Ｄ３＝（Ｃ２＋Ｄ２＋Ｅ２＋Ｃ３＊＋Ｄ３＋Ｅ３＋Ｃ４＋Ｄ４＋Ｅ４）／９ …（１４） Ｄ４＝（Ｃ３＊＋Ｄ３＋Ｅ３＋Ｃ４＋Ｄ４＋Ｅ４＋Ｃ５＋Ｄ５＋Ｅ５）／９ …（１５）[0056] D3 = (C2 + D2 + E2 + C3 * + D3 + E3 + C4 + D4 + E4) / 9 … (14) D4 = (C3 * + D3 + E3 + C4 + D4 + E4 + C5 + D5 + E5) / 9 … (15)
【００５７】ここで、上記補正演算データメモリ１５１
（図２）には、上記式（６）〜（１５）からわかるよう
に、少なくとも画素Ａ１〜Ａ５，Ｂ１〜Ｂ５，Ｃ１〜Ｃ
５，Ｄ１〜Ｄ５，Ｅ１〜Ｅ５の画素データが記憶され
る。補正演算部１５３は、補正演算データメモリ１５１
に記憶されている画素データを利用して、上記式（６）
〜（１５）の演算を行って、各補正対象画素Ａ２，Ｂ
２，Ｃ２，Ｄ２，Ａ３，Ｄ３，Ａ４，Ｂ４，Ｃ４，Ｄ４
の補正データを算出する。Here, the correction calculation data memory 151
In FIG. 2, at least the pixels A1 to A5, B1 to B5, and C1 to C, as can be seen from the above formulas (6) to (15).
Pixel data of 5, D1 to D5 and E1 to E5 are stored. The correction calculation unit 153 includes a correction calculation data memory 151.
Using the pixel data stored in, the above equation (6)
~ (15) is calculated to obtain each correction target pixel A2, B
2, C2, D2, A3, D3, A4, B4, C4, D4
The correction data of is calculated.
【００５８】以上のように、各補正対象画素Ａ２，Ｂ
２，Ｃ２，Ｄ２，Ａ３，Ｄ３，Ａ４，Ｂ４，Ｃ４，Ｄ４
は、それぞれ上式（６）〜（１５）に示すように、連続
する欠点Ｂ３，Ｃ３を含み、それぞれの補正対象画素に
隣接する画素の画素データにより平均化された画素デー
タとされている。これにより、各補正対象画素Ａ２，Ｂ
２，Ｃ２，Ｄ２，Ａ３，Ｄ３，Ａ４，Ｂ４，Ｃ４，Ｄ４
の画素データを、欠点Ｂ３，Ｃ３の欠点の状態を示す欠
点データＢ３＊、Ｃ３＊が反映されるように補正するこ
とができる。これにより、欠点Ｂ３，Ｃ３と各補正対象
画素Ａ２，Ｂ２，Ｃ２，Ｄ２，Ａ３，Ｄ３，Ａ４，Ｂ
４，Ｃ４，Ｄ４とのコントラストを低くすることができ
るので、Ｒ用の液晶パネルの欠点の表示を目立たなくす
ることができる。As described above, the correction target pixels A2 and B
2, C2, D2, A3, D3, A4, B4, C4, D4
Is the pixel data averaged by the pixel data of the pixels adjacent to the respective correction target pixels, including the consecutive defects B3 and C3 as shown in the above equations (6) to (15). As a result, the correction target pixels A2 and B
2, C2, D2, A3, D3, A4, B4, C4, D4
The pixel data of 3 can be corrected so that the defect data B3 * and C3 * indicating the defect states of the defects B3 and C3 are reflected. As a result, the defects B3, C3 and the correction target pixels A2, B2, C2, D2, A3, D3, A4, B
Since the contrast with 4, C4 and D4 can be lowered, the display of defects of the liquid crystal panel for R can be made inconspicuous.
【００５９】なお、本例においては、連結欠点として横
方向に２つの点欠点が連続する場合を例に説明している
が、縦、横、斜めいずれの方向に２以上の点欠点が連続
する場合においても同様に補正することができる。In this example, the case where two point defects are continuous in the lateral direction as the connection defect is described as an example, but two or more point defects are continuous in any of the vertical, horizontal, and diagonal directions. Even in the case, the same correction can be performed.
【００６０】また、本例においては、液晶パネル内に連
結欠点が１つ発生している場合を例に説明しているが、
複数の連結欠点が発生している場合において、それぞれ
の連結欠点に対して同様に補正することができる。In this example, the case where one connection defect occurs in the liquid crystal panel has been described as an example.
In the case where a plurality of connection defects occur, it is possible to similarly correct each connection defect.
【００６１】また、本例では、赤色用の液晶パネルに連
結欠点が発生している場合を例に説明しているが、他の
色用の液晶パネルにおいても、同様にして、液晶パネル
に発生した連結欠点を目立たなくすることができる。ま
た、複数色用の液晶パネルにおいて連結欠点が発生して
いる場合においても、同様にして、それぞれの液晶パネ
ルに発生した連結欠点を目立たなくすることができる。In this example, the case where the red liquid crystal panel has a connection defect has been described as an example, but the liquid crystal panels of other colors are similarly generated in the liquid crystal panel. It is possible to make the connection defects that have been made inconspicuous. Further, even when the connection defect occurs in the liquid crystal panels for a plurality of colors, the connection defect occurring in each liquid crystal panel can be made inconspicuous in the same manner.
【００６２】Ｄ．その他なお、この発明は上記の実施例
や実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱し
ない範囲において種々の態様において実施することが可
能であり、例えば次のような変形も可能である。D. In addition, the present invention is not limited to the above-described examples and embodiments, and can be implemented in various modes without departing from the scope of the invention, and the following modifications are possible, for example.
【００６３】（１）上記実施例では、欠点に隣接する補
正対象画素の画素データを補正するようにしているが、
これに限定されるものではなく、隣接する画素だけでな
く、隣接する画素の周辺の画素も補正対象画素として、
その画素データを補正するようにしてもよい。(1) In the above embodiment, the pixel data of the correction target pixel adjacent to the defect is corrected.
The pixel to be corrected is not limited to this, and not only the adjacent pixels but also the pixels around the adjacent pixels are corrected pixels.
The pixel data may be corrected.
【００６４】また、上記実施例では、補正対象画素の補
正データを、補正対象画素と、この補正対象画素に隣接
する画素の平均値とする場合を示しているが、これに限
定されるものではない。欠点との位置関係に応じて、補
正対象画素に隣接する画素に重み付けを持たせるように
してもよい。In the above embodiment, the correction data of the correction target pixel is the average value of the correction target pixel and the pixel adjacent to the correction target pixel, but the present invention is not limited to this. Absent. Pixels adjacent to the correction target pixel may be weighted according to the positional relationship with the defect.
【００６５】すなわち、欠点の周囲の画素に供給される
画素データを、欠点データに近づくように補正して、欠
点が目立たなくなるようにできれば、どのように補正し
てもかまわない。That is, if the pixel data supplied to the pixels around the defect can be corrected so as to be close to the defect data so that the defect becomes inconspicuous, any correction may be performed.
【００６６】（２）上記実施例では、複数の液晶パネル
を用いたカラー投写型表示装置の場合を例に説明してい
るが、１枚のカラー液晶パネルを用いた画像表示装置に
おいて、欠点が発生している場合においても、同様にし
て、欠点を目立たなくすることができる。(2) In the above embodiment, the case of a color projection type display device using a plurality of liquid crystal panels has been described as an example. However, an image display device using one color liquid crystal panel has a drawback. Even when it occurs, the defect can be made inconspicuous in the same manner.
【図１】この発明の実施例としての画像表示装置１０の
概略構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of an image display device 10 as an embodiment of the present invention.
【図２】欠点補正部１５０の内部構成の一例を示すブロ
ック図である。2 is a block diagram showing an example of an internal configuration of a defect correction section 150. FIG.
【図３】１画素の点欠点と補正対象画素との関係を示す
説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing a relationship between a point defect of one pixel and a pixel to be corrected.
【図４】補正対象画素に対応する補正データの生成方法
について示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing a method of generating correction data corresponding to a correction target pixel.
【図５】２画素の連続する点欠点と補正対象画素との関
係を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing a relationship between a continuous point defect of two pixels and a pixel to be corrected.
【図６】補正対象画素に対応する補正データの生成方法
について示す説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram showing a method of generating correction data corresponding to a correction target pixel.
１０…画像表示装置 １００…コントローラ １００ｂ…バス １１０…不揮発性メモリ １２０…画像信号変換部 １３０…フレームメモリ １４０…画像サイズ変換部 １５０…欠点補正部 １５１…補正演算データメモリ １５３…補正演算部 １５５…欠点補正制御部 １５７…表示データメモリ １５９…表示データ制御部 １６０…液晶パネル制御部 １７０…液晶パネル １８０…照明光学系 １９０…投写光学系 10 ... Image display device 100 ... Controller 100b ... bus 110 ... Non-volatile memory 120 ... Image signal converter 130 ... Frame memory 140 ... Image size conversion unit 150 ... Defect correction unit 151 ... Correction calculation data memory 153 ... Correction calculation unit 155 ... Defect correction control unit 157 ... Display data memory 159 ... Display data control unit 160 ... Liquid crystal panel control unit 170 ... Liquid crystal panel 180 ... Illumination optical system 190 ... Projection optical system
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０９Ｇ 3/20 ６４２ Ｇ０９Ｇ 3/20 ６４２Ｂ ６７０ ６７０Ａ Ｈ０４Ｎ 1/40 Ｈ０４Ｎ 1/40 １０１Ｚ Ｆターム(参考） 2H088 FA14 5B057 AA04 CA08 CA12 CA16 CB08 CB12 CB16 CC03 CD06 CE02 CH01 CH11 DB06 5C006 AF46 BB11 BF09 EB04 FA22 5C077 LL04 PP10 PQ12 PQ18 PQ23 SS06 5C080 AA10 BB05 DD01 DD28 EE29 JJ01 JJ02 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) G09G 3/20 642 G09G 3/20 642B 670 670A H04N 1/40 H04N 1/40 101Z F term (reference) 2H088 FA14 5B057 AA04 CA08 CA12 CA16 CB08 CB12 CB16 CC03 CD06 CE02 CH01 CH11 DB06 5C006 AF46 BB11 BF09 EB04 FA22 5C077 LL04 PP10 PQ12 PQ18 PQ23 SS06 5C080 AA10 BB05 DD01 DD28 EE29 JJ01 JJ02
Claims (3)
て、前記液晶パネルの欠点を目立たなくする画像処理方
法であって、（１）あらかじめ、前記液晶パネルの欠点
の位置および欠点の状態を示す欠点情報を準備する工程
と、（２）前記欠点情報を参照して、前記欠点の周辺の
補正対象画素に供給される画素データを、少なくとも前
記補正対象画素の周辺の画素に供給される画素データ
と、前記欠点の状態に対応する欠点データとに基づいて
補正する工程と、を備える画像処理方法。1. An image display device using a liquid crystal panel, which is an image processing method for making defects of the liquid crystal panel inconspicuous. (1) A defect indicating the position of the defect and the state of the defect in advance of the liquid crystal panel. (2) referring to the defect information, the pixel data supplied to the correction target pixels around the defect are the pixel data supplied to at least the pixels around the correction target pixel. And a step of correcting the defect based on the defect data corresponding to the defect state.
供給される画素データを、前記補正対象画素に隣接する
画素であって、正常な画素に供給される画素データと、
前記欠点の状態に対応する欠点データとに基づいて補正
する、画像処理方法。2. The image processing method according to claim 1, wherein in the step (2), the pixel data supplied to the correction target pixel adjacent to the defect is a pixel adjacent to the correction target pixel. And pixel data supplied to normal pixels,
An image processing method, wherein correction is performed based on defect data corresponding to the defect state.
が可能な画像表示装置であって、 前記液晶パネルの欠点の位置および欠点の状態を示す欠
点情報を記憶する不揮発性メモリと、 前記不揮発性メモリに記憶された欠点情報を参照して、
前記欠点の周辺の補正対象画素に供給される画素データ
を、少なくとも前記補正対象画素の周辺の画素に供給さ
れる画素データと、前記欠点の状態に対応する欠点デー
タとに基づいて補正する欠点補正部と、を備える画像表
示装置。3. An image display device capable of making a defect of a liquid crystal panel inconspicuous, comprising: a non-volatile memory for storing defect information indicating a position of the defect and a state of the defect of the liquid crystal panel; Referring to the defect information stored in the memory,
Defect correction for correcting the pixel data supplied to the correction target pixel around the defect based on at least the pixel data supplied to the pixels around the correction target pixel and the defect data corresponding to the defect state. And an image display device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001259099A JP2003066924A (en) | 2001-08-29 | 2001-08-29 | Image processing method for covering defect of liquid crystal panel and image displaying device with the same |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP2001259099A JP2003066924A (en) | 2001-08-29 | 2001-08-29 | Image processing method for covering defect of liquid crystal panel and image displaying device with the same |
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|---|---|
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