JP2003062403A - 膜脱気装置の運転方法 - Google Patents

膜脱気装置の運転方法

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JP2003062403A JP2001254530A JP2001254530A JP2003062403A JP 2003062403 A JP2003062403 A JP 2003062403A JP 2001254530 A JP2001254530 A JP 2001254530A JP 2001254530 A JP2001254530 A JP 2001254530A JP 2003062403 A JP2003062403 A JP 2003062403A
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Osayuki Inoue
修行 井上
Atsushi Aoyama
淳 青山
Takayoshi Kawamoto
孝善 川本
Osamu Nakanishi
收 中西
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 脱気膜の気相側を被処理水の飽和蒸気圧以下
に減圧しつつ、真空ポンプの劣化を防止することができ
る膜脱気装置の運転方法を提供する。 【解決手段】 脱気膜モジュール1と、ドライタイプの
真空ポンプ3と、該1と3とを接続する真空配管4と、
該4に気体を供給する気体供給手段5とを有し、被処理
水中の溶存ガスを除去する膜脱気装置の運転方法におい
て、前記1の液相側12に被処理水21を通水し、該1
の気相側11のガスを前記3によって排出して脱気処理
を行いつつ、該1と3を接続している真空配管4中に、
前記気体供給手段5から気体を断続的もしくは連続的に
供給することとしたものであり、前記4中に5から供給
する気体の量は、該4に取り付けられた圧力測定手段6
1、又は、該5に取り付けられた流量測定手段62によ
って決定することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、膜脱気装置の運転
方法に係り、特に、被処理水中の溶存ガスを除去する脱
気膜モジュールと、その気相側のガスを排出するための
真空ポンプを備えた膜脱気装置の運転方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体等の製造ラインでは、その洗浄行
程等において塩類、微粒子等の不純物を低減した純水、
超純水が用いられている。これらの純水、超純水は、塩
類、微粒子等の他に、溶存酸素等の溶存ガスも除去する
必要がある。従来、溶存ガスの除去には、真空脱気塔、
窒素等の不活性ガスのパージ、薬品の注入(例えば溶存
酸素の除去にはヒドラジン等)等の手段で対応してきた
が、近年は脱気膜モジュールを備えた膜脱気装置が用い
られることが多くなっている。これは、気体は透過させ
るが液体は透過させない気体分離膜を用いて、その液相
側に脱気処理を行う被処理水を通水し、気相側を真空ポ
ンプ、スチームエジェクター等の真空装置にて真空に引
くことにより、液相中の溶存ガスを気相中に移動させて
除去する装置である。このような脱気膜モジュールを用
いれば、容易に液相の表面積を増大することが可能とな
り、その大きさに比べ、大容量の溶存ガスの除去を行う
ことができる。
【0003】しかし、脱気膜モジュールの気相側を真空
にして被処理水中の溶存ガスを除去する膜脱気方法は、
真空装置に水封式の真空ポンプやスチームエジェクター
を用いて減圧すると、絶対圧で約6kPa程度までしか
減圧できず、処理水中のDO(溶存酸素)濃度を例に取
れば、水温が25℃だとすると、300〜500ppb
程度までしか低減することができなかった。また、膜脱
気モジュールの気相側の一端に窒素等の不活性ガスを注
入し、他端から真空を引くことによって、溶存ガス濃度
をさらに低減することも可能であるが、別途ユーティリ
ティとして窒素等の不活性ガスが必要となるし、その不
活性ガスの純度によっては、かえって被処理水中の微粒
子などが増加し、被処理水を汚染することがあった。
【0004】そこで、これらの真空装置に代わり、被処
理水の飽和蒸気圧以下にまで減圧することが可能な、ド
ライタイプの真空ポンプ、例えばスクロール式ドライタ
イプの真空ポンプ等を用いることにより、脱気膜の気相
側を被処理水の飽和蒸気圧以下にまで減圧することが可
能となった。これにより、窒素等の不活性ガスを脱気膜
モジュールに注入することなく、被処理水中の溶存ガス
は、溶存酸素温度を例に取れば、飽和濃度から10pp
b以下といった極低濃度まで除去することが可能となっ
た。、また、脱気膜モジュールに不活性ガスを供給する
必要が無いことから、これらのユーティリティの供給設
備も不要となり、また、これに起因する被処理水の汚染
も無くなった。しかし、上述のように、ドライタイプの
真空ポンプを真空装置として用いると、真空ポンプの吸
気側は飽和水蒸気であるために、真空ポンプ内で水蒸気
が凝縮して水滴となり、真空ポンプの寿命が著しく劣化
すると共に、真空ポンプ内のシール部品等の摩耗が進む
につれ、飽和蒸気圧まで真空を引くことができなくな
り、極低濃度の脱気処理ができなくなるという問題が生
じた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題点
を解決し、脱気膜の気相側を真空ポンプによって被処理
水の飽和蒸気圧以下にまで減圧し、被処理水中の溶存ガ
スを極低濃度まで除去可能としつつ、真空ポンプの劣化
を防止することができる膜脱気装置の運転方法を提供す
ることを課題とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明では、脱気膜モジュールと、ドライタイプの
真空ポンプと、該脱気膜モジュールと該真空ポンプとを
接続する真空配管と、該真空配管に気体を供給する気体
供給手段とを有し、被処理水中の溶存ガスを除去する膜
脱気装置の運転方法において、前記脱気膜モジュールの
液相側に被処理水を通水し、該脱気膜モジュールの気相
側のガスを前記真空ポンプによって排出して脱気処理を
行いつつ、該脱気膜モジュールと真空ポンプを接続して
いる真空配管中に、前記気体供給手段から気体を断続的
もしくは連続的に供給することとしたものである。前記
膜脱気装置の運転方法において、真空配管中に気体供給
手段から供給する気体の量は、該真空配管中に取り付け
られた圧力測定手段、又は、該気体供給手段に取り付け
られた流量測定手段によって決定することができ、ま
た、前記気体供給手段は、真空配管中の圧力測定手段か
ら得られた圧力データ、又は、気体供給手段に取り付け
られた流量測定手段から得られた気体供給量データを元
に、気体の供給量を制御する制御手段を有することがで
きる。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明では、膜脱気装置を運転す
る際、真空ポンプにて脱気膜モジュールの気相側を減圧
するが、脱気膜モジュールと真空ポンプを接続する配管
中に、気体供給手段から気体、例えば空気を供給しなが
ら真空ポンプの運転を行う。これにより、真空ポンプ内
に導入された水蒸気が、気体供給手段から供給された気
体により凝縮すること無く、また真空ポンプ内にて凝縮
した際にも、気体供給手段から供給された気体の圧力に
よって真空ポンプ機外に排出され、ドライの状態で真空
ポンプを連続的に運転することが可能となる。これによ
って、被処理水の飽和蒸気圧以下にまで脱気膜モジュー
ルの気相側を減圧しつつ、真空ポンプの劣化を防止する
ことが可能となる。本発明によれば、被処理水中の溶存
ガスを極低濃度まで除去することができると共に、真空
ポンプの著しい劣化を防止することができ、長期間安定
した脱気処理が可能となる。
【0008】次に、本発明を図1に示す概略構成図に基
づいて説明する。図1において、1は脱気膜モジュール
であり、密閉容器内部に多数の中空糸(気体分離膜)を
束ねた形状のものである。図示はしていないが、脱気膜
モジュール1の両端側には、中空糸の内部空間と連通す
る1対の排気室が形成されており、この1対の排気室と
中空糸の内側の空間とで気相室11を形成している。ま
た、両排気室に挟まれた中空糸の外部空間は液相室12
を形成しており、液相室12の入口側から被処理水21
が導入され、出口側からは脱気処理された処理水22が
排出される。3はドライタイプの真空ポンプであり、4
の真空配管を介して、脱気膜モジュール1の気相室11
に接続されている。5は気体供給手段であり、真空配管
4中に接続されている。
【0009】61は真空配管4中の真空を測定する圧力
測定手段であり、62は気体供給手段5によって真空配
管4中に供給される気体の流量を測定する流量測定手段
である。また、7は逆流防止手段であり、真空ポンプ3
の運転停止時に、真空ポンプ3から、もしくは気体供給
手段5から脱気膜モジュール1の気相室11に気体が拡
散しないようにするためのもので、真空配管4中に備え
ることが望ましい。この逆流防止手段としては、手動
弁、電動弁、電磁弁、逆止弁等が選択できる。8は気体
供給手段の制御装置であり、圧力測定手段61の圧力デ
ー夕、流量測定手段62の流量データ、真空ポンプの運
転時間等の値から最適な気体供給量となるように気体供
給手段5を制御するものである。この場合、気体供給手
段5には電動弁、電磁弁等を用いることができる。気体
供給手段5の制御方法は、断続的にある時間気体を供給
したり、連続的に真空配管4の圧力データや気体の流量
データを元に気体供給手段5の気体供給量を変更したり
することができる。また、この制御装置8には、逆流防
止手段7の開閉タイミングを制御する機能をもたせても
よい。
【0010】脱気膜モジュール1に被処理水21を導入
し、真空ポンプ3を用いて脱気膜モジュール1の気相側
を減圧する際、気体供給手段5から、圧力測定手段61
によって脱気膜モジュール1の気相室圧力が目標値にな
るように気体を供給するか、流量測定手段62によって
所定量の気体を真空配管4を通じて真空ポンプ3に供給
することにより、真空ポンプ3内で脱気膜モジュール1
からの水蒸気が凝縮することなく、また凝縮した際にも
真空ポンプ機外に排出することが可能となり、これによ
り真空ポンプ3への凝縮水による悪影響を防止すること
が可能となる。また、図1においては、脱気膜モジュー
ル1は1本であるが、被処理水21の流量、脱気処理水
22の溶存ガス除去設計値等によっては、これを並列、
もしくは直列に複数本使用してもかまわない。また、真
空ポンプ3も必要な排気量によっては複数台設置しても
かまわない。
【0011】気体供給手段5は、手動のバルブ、オリフ
ィス等の手段を用いて気体を供給してもかまわないし、
圧力測定手段61、流量測定手段62等の値から、気体
供給手段5の気体供給量を制御する制御装置を設け、気
体供給量を制御してもかまわない。この際、気体供給手
段5には、電動弁、電磁弁等の機器を用いることができ
る。圧力測定手段61は、図1においては真空ポンプ3
と逆流防止手段7の間に取り付けられているが、逆流防
止手段7と脱気膜モジュール1の気相室11との間に取
り付けられてもかまわない。気体供給手段5から供給さ
れる気体は、通常の空気でも良いし、窒素等の不活性ガ
スを用いてもかまわない。供給気体として空気を使用す
る場合は、気体供給手段5としての弁、オリフィス等を
介して、膜脱気装置の外気を供給すればよい。この場
合、必要によっては、気体供給手段5にエアフィルタを
介して空気を供給することもある。
【0012】
【実施例】以下実施例をもって、本発明をさらに具体的
に説明する。 実施例1 脱気処理を行う被処理水21として、水温25℃、DO
飽和(8.11ppm)のRO処理水を用い、脱気膜モ
ジュール1に1700L/hの流量で供給した。真空ポ
ンプは、ドライ真空ポンプで、到達圧力100Pa a
bs.、排気量200L/min以上のものを採用すれ
ば、脱気膜モジュール1の気相室側圧力を被処理水21
の飽和蒸気圧以下に維持することができ、被処理水中の
溶存ガスを極低濃度まで除去可能となる。また、圧力測
定手段61として、水銀マノメータを使用した。
【0013】気体供給手段5と逆流防止手段7には手動
弁を使用し、真空ポンプ3を運転しながら逆流防止手段
7を閉じ、その時点で圧力測定手段61の絶対圧が0.
4kPa abs.となるように気体供給手段5を調整
した後、逆流防止手段7の手動弁を全開とし、連続的に
空気を真空配管4中に供給しながら、被処理水21の脱
気を行った。この状態で、真空配管4の絶対圧は約3.
1kPa abs.であり、得られた脱気処理水3のD
Oは約9.9ppb、DO除去率約99.88%と、1
0ppb以下にまで脱気処理を行うことができた。ま
た、気体の供給量を流量測定手段62にて決定する場合
は、真空ポンプの排気量と、脱気するのに必要な排気量
との差分だけ、真空配管4中に空気を供給してやればよ
い。
【0014】比較例1 比較例としては、機器の構成を本発明の実施例1と同一
とし、気体供給用の手動弁のみを全閉として運転を行っ
た。図2に本発明の実施例と比較例の運転結果を示す。
比較例の条件で膜脱気装置を運転しても、運転初期は実
施例1と同様の性能が得られたが、図2に示すように、
運転時間が1000時間を越えた辺りから、真空配管4
中の絶対圧が増加するとと共に、処理水のDO濃度が高
くなった。これは、真空ポンプ3内にたまった凝縮水の
影響で、真空ポンプ内のシール部分が摩耗したためと思
われ、それによって被処理水の飽和蒸気圧まで真空を引
けなくなり、当然脱気処理水3のDO濃度も増加してい
る。比較例のような状況下で、所定の脱気処理を行うた
めには、真空ポンプ3内のシール部分を交換する等のメ
ンテナンスが必要となる。それに対し、本発明の実施例
1では、真空ポンプの運転時間が3000時間を越えて
も安定して運転しており、脱気処理水3中のDO濃度
も、10ppb以下まで低減することができた。
【0015】
【発明の効果】本発明により、脱気膜モジュールの気相
側を真空ポンプで減圧するだけで、脱気膜モジュールの
液相側に導入した被処理水中の溶存ガスを極低濃度ま
で、安定して除去することが可能となった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の膜脱気装置の運転方法の用いる装置の
概略構成図。
【図2】運転時間による真空圧力の変化を示すグラフ。
【符号の説明】
1:脱気膜モジュール、 11:脱気膜モジュール気相室、 12:脱気膜モジュール液相室、 21:被処理水、 22:脱気処理水.、 3:真空ポンプ、 4:真空配管、 5:気体供給手段、 61:圧力測定手段、 62:流量測定手段、 7:逆流防止手段、 8:制御装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川本 孝善 東京都大田区羽田旭町11番1号 株式会社 荏原製作所内 (72)発明者 中西 收 東京都大田区羽田旭町11番1号 株式会社 荏原製作所内 Fターム(参考) 4D006 GA32 KA12 KA17 KA64 KE09P KE09Q MB03 PA01 PB02 PC02 4D011 AA17 AB10 4D037 AA03 AB18 BA23 BB07 CA03

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 脱気膜モジュールと、ドライタイプの真
    空ポンプと、該脱気膜モジュールと該真空ポンプとを接
    続する真空配管と、該真空配管に気体を供給する気体供
    給手段とを有し、被処理水中の溶存ガスを除去する膜脱
    気装置の運転方法において、前記脱気膜モジュールの液
    相側に被処理水を通水し、該脱気膜モジュールの気相側
    のガスを前記真空ポンプによって排出して脱気処理を行
    いつつ、該脱気膜モジュールと真空ポンプを接続してい
    る真空配管中に、前記気体供給手段から気体を断続的も
    しくは連続的に供給することを特徴とする膜脱気装置の
    運転方法。
  2. 【請求項2】 前記真空配管中に気体供給手段から供給
    する気体の量は、該真空配管中に取り付けられた圧力測
    定手段、又は、該気体供給手段に取り付けられた流量測
    定手段によって決定することを特徴とする請求項1に記
    載の膜脱気装置の運転方法。
  3. 【請求項3】 前記気体供給手段は、真空配管中の圧力
    測定手段から得られた圧力データ、又は、気体供給手段
    に取り付けられた流量測定手段から得られた気体供給量
    データを元に、気体の供給量を制御する制御手段を有す
    ることを特徴とする請求項2に記載の膜脱気装置の運転
    方法。
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