JP2003045058A - 光ディスク傾き検出装置 - Google Patents
光ディスク傾き検出装置Info
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 どのような光ディスクにおいても、高感度
で、対物レンズシフトの影響の小さい傾き検出信号を生
成できるようにする。 【解決手段】 光束を対物レンズ４により光ディスク５
上に集光し、その反射光を受光手段７に導き、傾き検出
手段８によって受光手段からの出力に基づき対物レンズ
の光軸と光ディスクとの傾きを検出する光ディスク傾き
検出装置において、光ディスクはプリピットを有し、受
光手段７は、光ディスク５のトラック方向における光束
の中心部を受光する第１領域とそれを挟む周辺部を受光
する第２領域とを有するとともに、各々の領域を光ディ
スク５の半径方向に２等分するように光束を受光する分
割センサーを含み、傾き検出手段８は第１領域で第１の
差信号、第２領域で第２の差信号を作り、プリピットの
位置で、第１の差信号に所定の値ｋを乗じた後、第１の
差信号と第２の差信号との間での差をとる手段である。
で、対物レンズシフトの影響の小さい傾き検出信号を生
成できるようにする。 【解決手段】 光束を対物レンズ４により光ディスク５
上に集光し、その反射光を受光手段７に導き、傾き検出
手段８によって受光手段からの出力に基づき対物レンズ
の光軸と光ディスクとの傾きを検出する光ディスク傾き
検出装置において、光ディスクはプリピットを有し、受
光手段７は、光ディスク５のトラック方向における光束
の中心部を受光する第１領域とそれを挟む周辺部を受光
する第２領域とを有するとともに、各々の領域を光ディ
スク５の半径方向に２等分するように光束を受光する分
割センサーを含み、傾き検出手段８は第１領域で第１の
差信号、第２領域で第２の差信号を作り、プリピットの
位置で、第１の差信号に所定の値ｋを乗じた後、第１の
差信号と第２の差信号との間での差をとる手段である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクドライ
ブにおいて、光ディスクと光ヘッドの対物レンズの光軸
との傾きを検出する方法、およびその方法を用いた装置
に関するものである。
ブにおいて、光ディスクと光ヘッドの対物レンズの光軸
との傾きを検出する方法、およびその方法を用いた装置
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、光ディスク装置は高密度化の一途
を辿っているが、高密度になるほど光ヘッド系の精度の
向上が強く要望される。なかでも光ディスクと光ヘッド
の対物レンズの光軸との垂直性は厳密に要求される。そ
して、光ヘッドの対物レンズの光軸に対して光ディスク
に傾きが発生すると著しく光スポットの結像性能が劣化
するので、この傾きを高精度に検出して記録再生の際に
何らかの性能補正することが求められる。
を辿っているが、高密度になるほど光ヘッド系の精度の
向上が強く要望される。なかでも光ディスクと光ヘッド
の対物レンズの光軸との垂直性は厳密に要求される。そ
して、光ヘッドの対物レンズの光軸に対して光ディスク
に傾きが発生すると著しく光スポットの結像性能が劣化
するので、この傾きを高精度に検出して記録再生の際に
何らかの性能補正することが求められる。
【０００３】この光ディスクの傾きは、従来から光ヘッ
ドに専用の傾き検出器（所謂チルトセンサ）を設けて検
出されていたが、光ディスク装置及び光ヘッドの小型化
に伴い、そのような専用検出器を設けることが困難とな
ってきた。
ドに専用の傾き検出器（所謂チルトセンサ）を設けて検
出されていたが、光ディスク装置及び光ヘッドの小型化
に伴い、そのような専用検出器を設けることが困難とな
ってきた。
【０００４】そこで、専用の傾き検出器を必要としな
い、光ヘッドの光学系中の受光素子を用いた光ディスク
傾き検出方法が提案されている。
い、光ヘッドの光学系中の受光素子を用いた光ディスク
傾き検出方法が提案されている。
【０００５】そのような傾き検出方法としては、例え
ば、特開平０７−１４１６７３号公報に記載されている
ような方法があるので、以下にその概要について説明す
る。
ば、特開平０７−１４１６７３号公報に記載されている
ような方法があるので、以下にその概要について説明す
る。
【０００６】光ディスクに光を照射するとその反射光で
は、光ディスクに傾きがない場合、光ディスク上のトラ
ックによる回折０次光と＋１次光、−１次光の光束が、
遠視野領域で一定の位相差で均等に干渉し、トラック構
造に依存した強度分布を形成する。
は、光ディスクに傾きがない場合、光ディスク上のトラ
ックによる回折０次光と＋１次光、−１次光の光束が、
遠視野領域で一定の位相差で均等に干渉し、トラック構
造に依存した強度分布を形成する。
【０００７】一方、光ディスクに傾きがある場合、所謂
コマ収差が発生し、回折光に不均一な位相分布が生じ、
その結果、干渉領域内で不均等な干渉による強度分布が
生じる。
コマ収差が発生し、回折光に不均一な位相分布が生じ、
その結果、干渉領域内で不均等な干渉による強度分布が
生じる。
【０００８】即ち、例えば、光ディスクが光ディスクラ
ジアル方向にある量＋θ傾くと、０次光と回折＋１次光
の干渉領域における中心付近の強度が相対的に強くな
り、一方、０次光と回折−１次光の干渉領域における中
心付近の強度が相対的に弱くなる。逆に、ある量−θ傾
くと、０次光と回折＋１次光の干渉領域における中心付
近の強度が相対的に弱くなり、一方、０次光と回折−１
次光の干渉領域における中心付近の強度が相対的に強く
なる。
ジアル方向にある量＋θ傾くと、０次光と回折＋１次光
の干渉領域における中心付近の強度が相対的に強くな
り、一方、０次光と回折−１次光の干渉領域における中
心付近の強度が相対的に弱くなる。逆に、ある量−θ傾
くと、０次光と回折＋１次光の干渉領域における中心付
近の強度が相対的に弱くなり、一方、０次光と回折−１
次光の干渉領域における中心付近の強度が相対的に強く
なる。
【０００９】そこで、そのような不均一さを検出するべ
く、干渉領域内の小領域と他の部分の差をとるように
し、その差をもって、光ディスク傾き検出信号とする。
く、干渉領域内の小領域と他の部分の差をとるように
し、その差をもって、光ディスク傾き検出信号とする。
【００１０】こうして、専用検出器を必要としない光デ
ィスク傾き検出が実現される。
ィスク傾き検出が実現される。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来例
のような光ディスク傾き検出方法においては、プッシュ
プル信号を検出して光ディスクの傾きを検出する方法で
あるため、プッシュプル信号が良好に検出されない光デ
ィスクでは、良好な傾き検出をすることが困難であると
いう課題を有していた。
のような光ディスク傾き検出方法においては、プッシュ
プル信号を検出して光ディスクの傾きを検出する方法で
あるため、プッシュプル信号が良好に検出されない光デ
ィスクでは、良好な傾き検出をすることが困難であると
いう課題を有していた。
【００１２】また、小領域は光ディスクで回折された０
次と±１次光の光束が重なる領域よりも小さな領域とし
ていたため、対物レンズはトラックに対して垂直な方向
に移動すると検出される光束の位置も移動するため、対
物レンズのトラックに対しての垂直な移動の影響のある
傾き検出信号となってしまうという課題も有していた。
次と±１次光の光束が重なる領域よりも小さな領域とし
ていたため、対物レンズはトラックに対して垂直な方向
に移動すると検出される光束の位置も移動するため、対
物レンズのトラックに対しての垂直な移動の影響のある
傾き検出信号となってしまうという課題も有していた。
【００１３】本発明は、以上のような従来の課題を考慮
し、プッシュプル信号が良好に検出されないような光デ
ィスクでも高精度な傾き検出が可能であり、且つ、対物
レンズの移動による影響を受けにくい光ディスク傾き検
出装置を提供することを目的とする。
し、プッシュプル信号が良好に検出されないような光デ
ィスクでも高精度な傾き検出が可能であり、且つ、対物
レンズの移動による影響を受けにくい光ディスク傾き検
出装置を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】上記のような課題を解決
するために、本発明の光ディスク傾き検出装置は、光源
からの光束を対物レンズにより光ディスク上に集光し、
該光ディスクからの光を受光手段に導き、傾き検出手段
によって該受光手段からの出力に基づき前記対物レンズ
の光軸と前記光ディスクとの傾きを検出する光ディスク
傾き検出装置において、前記光ディスクはプリピットを
有し、前記受光手段は、少なくとも前記光ディスクのト
ラック方向における光束の中心部を受光する第１の領域
とそれを挟む周辺部を受光する第２の領域とを有すると
ともに、各々の領域を前記光ディスクの半径方向に２等
分するように光束を受光する分割センサーを含み、前記
傾き検出手段は、前記第１の領域で第１の差信号、第２
の領域で第２の差信号を作り、前記プリピットの位置
で、前記第１及び第２の差信号のどちらか一方に所定の
値を乗じた後、該所定の値を乗じた一方の差信号と他方
の差信号との間での差をとる手段であることを特徴とす
る。
するために、本発明の光ディスク傾き検出装置は、光源
からの光束を対物レンズにより光ディスク上に集光し、
該光ディスクからの光を受光手段に導き、傾き検出手段
によって該受光手段からの出力に基づき前記対物レンズ
の光軸と前記光ディスクとの傾きを検出する光ディスク
傾き検出装置において、前記光ディスクはプリピットを
有し、前記受光手段は、少なくとも前記光ディスクのト
ラック方向における光束の中心部を受光する第１の領域
とそれを挟む周辺部を受光する第２の領域とを有すると
ともに、各々の領域を前記光ディスクの半径方向に２等
分するように光束を受光する分割センサーを含み、前記
傾き検出手段は、前記第１の領域で第１の差信号、第２
の領域で第２の差信号を作り、前記プリピットの位置
で、前記第１及び第２の差信号のどちらか一方に所定の
値を乗じた後、該所定の値を乗じた一方の差信号と他方
の差信号との間での差をとる手段であることを特徴とす
る。
【００１５】また本発明の光ディスク傾き検出装置は、
光源からの光束を対物レンズにより光ディスク上に集光
し、該光ディスクからの光を受光手段に導き、傾き検出
手段によって該受光手段からの出力に基づき前記対物レ
ンズの光軸と前記光ディスクとの傾きを検出する光ディ
スク傾き検出装置において、前記光ディスクはサンプル
サーボ用プリピット対を有し、前記受光手段は、少なく
とも前記光ディスクのトラック方向における光束の中心
部を受光する第１の領域とそれを挟む周辺部を受光する
第２の領域とを有するとともに、各々の領域を前記光デ
ィスクの半径方向に２等分するように光束を受光する分
割センサーを含み、前記傾き検出手段は、前記第１の領
域で第１の差信号、第２の領域で第２の差信号を作り、
前記プリピット対の位置で、前記第１及び第２の差信号
のどちらか一方に所定の値を乗じた後、該所定の値を乗
じた一方の差信号と他方の差信号との間での差をとる手
段であり、前記プリピット対の第１のプリピットでの前
記傾き検出手段からの出力と、前記プリピット対の第２
のプリピットでの前記傾き検出手段からの出力との和を
とる手段を有することを特徴とする。
光源からの光束を対物レンズにより光ディスク上に集光
し、該光ディスクからの光を受光手段に導き、傾き検出
手段によって該受光手段からの出力に基づき前記対物レ
ンズの光軸と前記光ディスクとの傾きを検出する光ディ
スク傾き検出装置において、前記光ディスクはサンプル
サーボ用プリピット対を有し、前記受光手段は、少なく
とも前記光ディスクのトラック方向における光束の中心
部を受光する第１の領域とそれを挟む周辺部を受光する
第２の領域とを有するとともに、各々の領域を前記光デ
ィスクの半径方向に２等分するように光束を受光する分
割センサーを含み、前記傾き検出手段は、前記第１の領
域で第１の差信号、第２の領域で第２の差信号を作り、
前記プリピット対の位置で、前記第１及び第２の差信号
のどちらか一方に所定の値を乗じた後、該所定の値を乗
じた一方の差信号と他方の差信号との間での差をとる手
段であり、前記プリピット対の第１のプリピットでの前
記傾き検出手段からの出力と、前記プリピット対の第２
のプリピットでの前記傾き検出手段からの出力との和を
とる手段を有することを特徴とする。
【００１６】また本発明の光ディスク傾き検出装置は、
光源からの光束を対物レンズにより光ディスク上に集光
し、該光ディスクからの光を受光手段に導き、傾き検出
手段によって該受光手段からの出力に基づき前記対物レ
ンズの光軸と前記光ディスクとの傾きを検出する光ディ
スク傾き検出装置において、前記光ディスクはトラッキ
ングガイド用溝を有し、前記受光手段は、少なくとも前
記光ディスクのトラック方向における光束の中心部を受
光する第１の領域とそれを挟む周辺部を受光する第２の
領域とを有するとともに、各々の領域を前記光ディスク
の半径方向に２等分するように光束を受光する分割セン
サーを含み、前記傾き検出手段は、前記第１の領域で第
１の差信号、第２の領域で第２の差信号を作り、前記ト
ラッキングガイド用溝がある領域で、前記第１及び第２
の差信号のどちらか一方に所定の値を乗じた後、該所定
の値を乗じた一方の差信号と他方の差信号との間での差
をとる手段であることを特徴とする。
光源からの光束を対物レンズにより光ディスク上に集光
し、該光ディスクからの光を受光手段に導き、傾き検出
手段によって該受光手段からの出力に基づき前記対物レ
ンズの光軸と前記光ディスクとの傾きを検出する光ディ
スク傾き検出装置において、前記光ディスクはトラッキ
ングガイド用溝を有し、前記受光手段は、少なくとも前
記光ディスクのトラック方向における光束の中心部を受
光する第１の領域とそれを挟む周辺部を受光する第２の
領域とを有するとともに、各々の領域を前記光ディスク
の半径方向に２等分するように光束を受光する分割セン
サーを含み、前記傾き検出手段は、前記第１の領域で第
１の差信号、第２の領域で第２の差信号を作り、前記ト
ラッキングガイド用溝がある領域で、前記第１及び第２
の差信号のどちらか一方に所定の値を乗じた後、該所定
の値を乗じた一方の差信号と他方の差信号との間での差
をとる手段であることを特徴とする。
【００１７】以上のようにすることにより、光ディスク
のラジアル方向の傾きが検出できる。
のラジアル方向の傾きが検出できる。
【００１８】また、第１、及び第２の差信号のどちらか
一方に所定の値を乗じた後、第１、及び第２の差信号間
での差をとるので、対物レンズのラジアル方向への移動
の影響を除去でき、対物レンズのラジアル方向への移動
の影響を受けない、光ディスクのラジアル方向の傾き検
出信号が得られる。
一方に所定の値を乗じた後、第１、及び第２の差信号間
での差をとるので、対物レンズのラジアル方向への移動
の影響を除去でき、対物レンズのラジアル方向への移動
の影響を受けない、光ディスクのラジアル方向の傾き検
出信号が得られる。
【００１９】なお、光ディスクとしては、例えばＣＤ、
ＣＤＲ、ＤＶＤ、光磁気ディスク等が挙げられる。
ＣＤＲ、ＤＶＤ、光磁気ディスク等が挙げられる。
【００２０】
【実施例】以下、本発明の各々の実施形態について、図
面を用いて説明する。
面を用いて説明する。
【００２１】（第１の実施形態）図１は、本発明に係る
光ヘッドの構成ブロック図である。同図において、１は
光源、２は往路光学系光軸、３はビームスプリッタ、４
は対物レンズ、５は光ディスク、６はセンサー光学系、
７は受光手段、８は光ディスクの傾き検出手段、９は傾
き検出手段８内の差信号生成手段、１０は傾き検出手段
８内の入力信号をｋ倍する増幅手段、１１は傾き検出手
段８内の差動信号生成手段、ＴＩＬＴは傾き検出手段８
で生成される傾き検出信号を表している。
光ヘッドの構成ブロック図である。同図において、１は
光源、２は往路光学系光軸、３はビームスプリッタ、４
は対物レンズ、５は光ディスク、６はセンサー光学系、
７は受光手段、８は光ディスクの傾き検出手段、９は傾
き検出手段８内の差信号生成手段、１０は傾き検出手段
８内の入力信号をｋ倍する増幅手段、１１は傾き検出手
段８内の差動信号生成手段、ＴＩＬＴは傾き検出手段８
で生成される傾き検出信号を表している。
【００２２】図２は、受光手段７の受光領域と受光手段
上のスポットの様子を示す図である。同図において、ボ
ールパターンはピット、グルーブ等による回折光の０次
と±１次光の重なりのある受光光束スポットである。ま
た、７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄ、７ｅ、７ｆ（７ｅ、７ｆ
は第１の領域、７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄは第２の領域と
なる）は各々独立した受光領域、矢印はその方向が光デ
ィスク５上のトラックと平行な方向を示している。受光
領域７ｅ、７ｆ（第１の領域）のトラック方向の幅は、
受光手段７に入射した光束のスポット径に対して約１／
４の大きさである。
上のスポットの様子を示す図である。同図において、ボ
ールパターンはピット、グルーブ等による回折光の０次
と±１次光の重なりのある受光光束スポットである。ま
た、７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄ、７ｅ、７ｆ（７ｅ、７ｆ
は第１の領域、７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄは第２の領域と
なる）は各々独立した受光領域、矢印はその方向が光デ
ィスク５上のトラックと平行な方向を示している。受光
領域７ｅ、７ｆ（第１の領域）のトラック方向の幅は、
受光手段７に入射した光束のスポット径に対して約１／
４の大きさである。
【００２３】光源１からの光束は、ビームスプリッタ３
を透過し、対物レンズ４にて光ディスク５のトラック上
に集光する。光ディスク５で反射した光束は、ふたたび
対物レンズ４と通過し、ビームスプリッタ３で反射し
て、センサー光学系６により受光手段７に導かれる。セ
ンサー光学系６は、フォーカスエラー検出方法の非点収
差法に対応して、非点収差発生手段を有する。
を透過し、対物レンズ４にて光ディスク５のトラック上
に集光する。光ディスク５で反射した光束は、ふたたび
対物レンズ４と通過し、ビームスプリッタ３で反射し
て、センサー光学系６により受光手段７に導かれる。セ
ンサー光学系６は、フォーカスエラー検出方法の非点収
差法に対応して、非点収差発生手段を有する。
【００２４】図２に示すように、受光手段７に入射した
光束は、受光領域７ａから７ｆに６分割されて受光さ
れ、光ヘッド往路光学系の光軸に対する光ディスク５の
ディスク半径方向の傾き（垂直からにずれ）を示す信号
（傾き検出信号）が生成される。
光束は、受光領域７ａから７ｆに６分割されて受光さ
れ、光ヘッド往路光学系の光軸に対する光ディスク５の
ディスク半径方向の傾き（垂直からにずれ）を示す信号
（傾き検出信号）が生成される。
【００２５】次に、その傾き検出信号を生成する方法に
ついて述べる。
ついて述べる。
【００２６】図３（ａ）、（ｂ）は、光ディスクのプリ
ピット部とそのプリピット部をスポットがトレースした
時の様子とその時の受光手段７から得られる、受光光量
総和に相当する和信号の様子を示す図である。同図にお
いて、Ａはトレースしているトラック、３１、３２はス
ポット、２１はクロックピット、２２は第１のウォブル
ピット、２３は第２のウォブルピット、２４はアドレス
ピット、Ｔ１はトレースしているスポットがスポット３
１にある瞬間、Ｔ２はトレースしているスポットがスポ
ット３２にある瞬間を表している。
ピット部とそのプリピット部をスポットがトレースした
時の様子とその時の受光手段７から得られる、受光光量
総和に相当する和信号の様子を示す図である。同図にお
いて、Ａはトレースしているトラック、３１、３２はス
ポット、２１はクロックピット、２２は第１のウォブル
ピット、２３は第２のウォブルピット、２４はアドレス
ピット、Ｔ１はトレースしているスポットがスポット３
１にある瞬間、Ｔ２はトレースしているスポットがスポ
ット３２にある瞬間を表している。
【００２７】本実施形態においては、クロックピット２
１、アドレスピット２４の少なくとどちらか一方のプリ
ピット上をトレースしている時に、受光手段７からの出
力より、傾き検出信号を生成する。
１、アドレスピット２４の少なくとどちらか一方のプリ
ピット上をトレースしている時に、受光手段７からの出
力より、傾き検出信号を生成する。
【００２８】瞬間Ｔ１に傾き検出信号を得る場合につい
て述べる。
て述べる。
【００２９】図４は、傾き検出手段７の回路構成を示す
ブロック図である。同図において、２０は、図１の増幅
手段１０、ＴＩＬＴは図１のＴＩＬＴに相当する。各受
光領域からの出力を、受光領域７ａから７ｆに対して、
ＳａからＳｂとする。
ブロック図である。同図において、２０は、図１の増幅
手段１０、ＴＩＬＴは図１のＴＩＬＴに相当する。各受
光領域からの出力を、受光領域７ａから７ｆに対して、
ＳａからＳｂとする。
【００３０】まず、図２に示す受光手段７を用いて、受
光スポットの中心付近のプッシュプル信号ＰＰ１とそれ
以外の領域でのプッシュプル信号ＰＰ２を作る。
光スポットの中心付近のプッシュプル信号ＰＰ１とそれ
以外の領域でのプッシュプル信号ＰＰ２を作る。
【００３１】各プッシュプル信号は、図４に示す回路に
従って、 ＰＰ１＝（Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ） ＰＰ２＝（Ｓｅ−Ｓｆ） である。
従って、 ＰＰ１＝（Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ） ＰＰ２＝（Ｓｅ−Ｓｆ） である。
【００３２】光ディスク５に傾きが生じると、前述した
ように、回折０次光と回折１次光の重ね合わさる部分で
の不均一な振る舞いにより、主に、重ね合わせの中心部
分を含むプッシュプル信号ＰＰ２と重ね合わせの中心部
分を含まないプッシュプル信号ＰＰ１では異なる振る舞
いを示す。
ように、回折０次光と回折１次光の重ね合わさる部分で
の不均一な振る舞いにより、主に、重ね合わせの中心部
分を含むプッシュプル信号ＰＰ２と重ね合わせの中心部
分を含まないプッシュプル信号ＰＰ１では異なる振る舞
いを示す。
【００３３】図５は、光ディスクを傾けたときのプッシ
ュプル信号ＰＰ１、ＰＰ２をプロットしたグラフであ
る。条件は、光源波長が６６０ｎｍ、対物レンズの開口
数（ＮＡ）が０．６、トラックピッチが０．５４μｍ、
ピットサイズが半値幅でφ０．４μｍ、ピット深さが約
５０ｎｍである。同グラフにおいて、黒抜きのプロット
（●、■）は対物レンズ４が光ディスク半径方向に対し
て設計中心にある時、白抜きプロット（○、□）は対物
レンズ４が光ディスク半径方向に対して設計中心からデ
ィスク外周方向へ２００μｍシフトしている時を示して
いる。四角印（■、□）はＰＰ１、丸印（●、○）はＰ
Ｐ２を示している。凡例では、Ｓｅ−Ｓｆ＋２００と
（Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ）＋２００である。ここ
で、２００μｍと言う値は、対物レンズ４の直径の約１
割に相当する量である。
ュプル信号ＰＰ１、ＰＰ２をプロットしたグラフであ
る。条件は、光源波長が６６０ｎｍ、対物レンズの開口
数（ＮＡ）が０．６、トラックピッチが０．５４μｍ、
ピットサイズが半値幅でφ０．４μｍ、ピット深さが約
５０ｎｍである。同グラフにおいて、黒抜きのプロット
（●、■）は対物レンズ４が光ディスク半径方向に対し
て設計中心にある時、白抜きプロット（○、□）は対物
レンズ４が光ディスク半径方向に対して設計中心からデ
ィスク外周方向へ２００μｍシフトしている時を示して
いる。四角印（■、□）はＰＰ１、丸印（●、○）はＰ
Ｐ２を示している。凡例では、Ｓｅ−Ｓｆ＋２００と
（Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ）＋２００である。ここ
で、２００μｍと言う値は、対物レンズ４の直径の約１
割に相当する量である。
【００３４】同グラフを見ると、各信号とも、光ディス
ク傾きに応じてほぼ単調に増減している。とともに、対
物レンズのシフトにより、各信号ともオフセットを有し
ている。
ク傾きに応じてほぼ単調に増減している。とともに、対
物レンズのシフトにより、各信号ともオフセットを有し
ている。
【００３５】特徴的なことは、プッシュプル信号ＰＰ１
とプッシュプル信号ＰＰ２で対物レンズシフトによるオ
フセット量が異なることである。これは、受光光束内
の、回折０次と±１次光間の干渉の強弱に寄与しない成
分、主には回折０次光の強度分布の、対物レンズのシフ
トによる強度分布の重心の変位によるものである。
とプッシュプル信号ＰＰ２で対物レンズシフトによるオ
フセット量が異なることである。これは、受光光束内
の、回折０次と±１次光間の干渉の強弱に寄与しない成
分、主には回折０次光の強度分布の、対物レンズのシフ
トによる強度分布の重心の変位によるものである。
【００３６】また、別の特徴的なことは、ディスクの傾
きに対する変化がプッシュプル信号ＰＰ１とプッシュプ
ル信号ＰＰ２で逆極性であることである。従って、プッ
シュプル信号ＰＰ１とプッシュプル信号ＰＰ２で差動を
とることにより傾き検出感度が上がることが期待され
る。これだけでは、従来例に類似した方法である。
きに対する変化がプッシュプル信号ＰＰ１とプッシュプ
ル信号ＰＰ２で逆極性であることである。従って、プッ
シュプル信号ＰＰ１とプッシュプル信号ＰＰ２で差動を
とることにより傾き検出感度が上がることが期待され
る。これだけでは、従来例に類似した方法である。
【００３７】そこで、本実施形態においては、先のプッ
シュプル信号ＰＰ１とプッシュプル信号ＰＰ２間で対物
レンズシフトによるオフセット量を相殺するように差を
とる。
シュプル信号ＰＰ１とプッシュプル信号ＰＰ２間で対物
レンズシフトによるオフセット量を相殺するように差を
とる。
【００３８】図５において、ディスク傾きが無いとき、
即ち、０ mradian の時の各信号値をみると、 Ｓｅ−Ｓｆ＋２００＝−０．１０７ （Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ）＋２００＝−０．２１
１ Ｓｅ−Ｓｆ＝０ （Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ）＝０ 従って、 ＰＰ１でのオフセット量＝−０．１０７ ＰＰ２でのオフセット量＝−０．２１１ 以上より、ＰＰ１でのオフセット量とＰＰ２でのオフセ
ット量の比（＝ｋ）は約２．０である。
即ち、０ mradian の時の各信号値をみると、 Ｓｅ−Ｓｆ＋２００＝−０．１０７ （Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ）＋２００＝−０．２１
１ Ｓｅ−Ｓｆ＝０ （Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ）＝０ 従って、 ＰＰ１でのオフセット量＝−０．１０７ ＰＰ２でのオフセット量＝−０．２１１ 以上より、ＰＰ１でのオフセット量とＰＰ２でのオフセ
ット量の比（＝ｋ）は約２．０である。
【００３９】このように、対物レンズシフトの無いとき
と、所定量シフトしているときで、各信号値を測定する
ことにより、ｋの値が決められる。
と、所定量シフトしているときで、各信号値を測定する
ことにより、ｋの値が決められる。
【００４０】そこで、ＰＰ１から２．０倍のＰＰ２を差
し引いた信号を作る。これが本実施形態による傾き検出
信号である。
し引いた信号を作る。これが本実施形態による傾き検出
信号である。
【００４１】図４の回路に従って、
ＴＩＬＴ＝（Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ）−ｋ（Ｓｅ
−Ｓｆ） である。
−Ｓｆ） である。
【００４２】図６は、こうして作られた傾き検出信号を
ミラー部での総和Ｉｏで正規化した値を光ディスクの傾
きに対してプロットしたグラフである。同グラフにおい
て、黒抜きのプロットは対物レンズ４が光ディスク半径
方向に対して設計中心にある時、白抜きプロットは対物
レンズ４が光ディスク半径方向に対して設計中心からデ
ィスク外周方向へ２００μｍシフトしている時を示して
いる。ここで、ミラー部での総和Ｉｏは、ミラー部にお
ける Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋Ｓｄ＋ｋ（Ｓｅ＋Ｓｆ） である。
ミラー部での総和Ｉｏで正規化した値を光ディスクの傾
きに対してプロットしたグラフである。同グラフにおい
て、黒抜きのプロットは対物レンズ４が光ディスク半径
方向に対して設計中心にある時、白抜きプロットは対物
レンズ４が光ディスク半径方向に対して設計中心からデ
ィスク外周方向へ２００μｍシフトしている時を示して
いる。ここで、ミラー部での総和Ｉｏは、ミラー部にお
ける Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋Ｓｄ＋ｋ（Ｓｅ＋Ｓｆ） である。
【００４３】図６のグラフより、対物レンズ４が光ディ
スク半径方向に対して設計中心にある時と対物レンズ４
が光ディスク半径方向に対して設計中心からディスク外
周方向へ２００μｍシフトしている時とでほぼ同等の光
ディスクの傾き変化に対して単調に変化する信号となっ
ている、ことが分かる。
スク半径方向に対して設計中心にある時と対物レンズ４
が光ディスク半径方向に対して設計中心からディスク外
周方向へ２００μｍシフトしている時とでほぼ同等の光
ディスクの傾き変化に対して単調に変化する信号となっ
ている、ことが分かる。
【００４４】以上のようにして、本実施形態によれば、
光ディスク傾きに対して変化する信号から対物レンズシ
フトの影響を除いた信号を生成するようにしたので、プ
リピット部でも高精度な傾き検出が可能であり、且つ、
対物レンズの移動による影響を受けにくい光ディスク傾
き検出装置を実現可能となる。
光ディスク傾きに対して変化する信号から対物レンズシ
フトの影響を除いた信号を生成するようにしたので、プ
リピット部でも高精度な傾き検出が可能であり、且つ、
対物レンズの移動による影響を受けにくい光ディスク傾
き検出装置を実現可能となる。
【００４５】（第２の実施形態）本実施形態における、
光ヘッドの構成、受光手段の構成は、第１の実施形態に
同じである。まず、傾き検出信号を生成する方法につい
て述べる。
光ヘッドの構成、受光手段の構成は、第１の実施形態に
同じである。まず、傾き検出信号を生成する方法につい
て述べる。
【００４６】図７（ａ）、（ｂ）は、光ディスクのプリ
ピット部とそのプリピット部をスポットがトレースした
時の様子とその時の受光手段７から得られる、受光光量
総和に相当する和信号の様子を示す図である。同図にお
いて、Ｂはトレースしているトラック、３３，３４はス
ポット、２２は第１のウォブルピット、２３は第２のウ
ォブルピット、２４はアドレスピット、２５，２６は、
情報信号を記録再生するグルーブ、Ｗ−Ｔ１はトレース
しているスポットがスポット３３にある瞬間、即ち、第
１のウォブルピット２２を検出した瞬間を、Ｗ−Ｔ２は
トレースしているスポットがスポット３４にある瞬間、
即ち、第２のウォブルピット２３を検出した瞬間を表し
ている。第１のウォブルピット２２と第２のウォブルピ
ット２３は対をなして、サンプルサーボ用のプリピット
対となっている。
ピット部とそのプリピット部をスポットがトレースした
時の様子とその時の受光手段７から得られる、受光光量
総和に相当する和信号の様子を示す図である。同図にお
いて、Ｂはトレースしているトラック、３３，３４はス
ポット、２２は第１のウォブルピット、２３は第２のウ
ォブルピット、２４はアドレスピット、２５，２６は、
情報信号を記録再生するグルーブ、Ｗ−Ｔ１はトレース
しているスポットがスポット３３にある瞬間、即ち、第
１のウォブルピット２２を検出した瞬間を、Ｗ−Ｔ２は
トレースしているスポットがスポット３４にある瞬間、
即ち、第２のウォブルピット２３を検出した瞬間を表し
ている。第１のウォブルピット２２と第２のウォブルピ
ット２３は対をなして、サンプルサーボ用のプリピット
対となっている。
【００４７】本実施形態においては第１のウォブルピッ
ト２２と第２のウォブルピット２３を検出した時の、受
光手段７からの出力より、傾き検出信号を生成する。
ト２２と第２のウォブルピット２３を検出した時の、受
光手段７からの出力より、傾き検出信号を生成する。
【００４８】即ち、図２における受光スポットの中心付
近のプッシュプル信号ＰＰ１と、それ以外の領域でのプ
ッシュプル信号ＰＰ２を、Ｗ−Ｔ１とＷ−Ｔ２に合わせ
て作る。各プッシュプル信号は、図４に示す回路に従っ
て、 ＰＰ１＝（Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ） ＰＰ２＝（Ｓｅ−Ｓｆ） 更に、それらの加算を行う。ＰＰ１のＷ−Ｔ１とＷ−Ｔ
２との加算値を（ＳＡ＋ＳＢ）−（ＳＣ＋ＳＤ）、ＰＰ
２のＷ−Ｔ１とＷ−Ｔ２との加算値をＳＥ−ＳＦと表記
する。
近のプッシュプル信号ＰＰ１と、それ以外の領域でのプ
ッシュプル信号ＰＰ２を、Ｗ−Ｔ１とＷ−Ｔ２に合わせ
て作る。各プッシュプル信号は、図４に示す回路に従っ
て、 ＰＰ１＝（Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ） ＰＰ２＝（Ｓｅ−Ｓｆ） 更に、それらの加算を行う。ＰＰ１のＷ−Ｔ１とＷ−Ｔ
２との加算値を（ＳＡ＋ＳＢ）−（ＳＣ＋ＳＤ）、ＰＰ
２のＷ−Ｔ１とＷ−Ｔ２との加算値をＳＥ−ＳＦと表記
する。
【００４９】ここで、加算を行う理由について説明す
る。
る。
【００５０】図７の（ａ）に示されるように、サンプル
サーボ用のプリピット対はトラック中心に対して相対的
に逆方向に同じ値だけシフトとした位置にある。従っ
て、トラックトレース時に、Ｗ−Ｔ１及びＷ−Ｔ２でプ
ッシュプル信号を作ると、逆極性のトラッキングエラー
が発生し、Ｗ−Ｔ１または、Ｗ−Ｔ２のどちらか一方で
のみのプッシュプル信号を利用する場合、即ち、第１の
実施形態の傾き検出信号を作ると、トラッキングエラー
の影響が発生する。そこで、そのトラッキングエラーの
影響を押さえる為に、加算により逆極性のトラッキング
エラーが相殺する。こうして、トラッキングエラーの影
響のない傾き検出信号を得ることが可能となる。
サーボ用のプリピット対はトラック中心に対して相対的
に逆方向に同じ値だけシフトとした位置にある。従っ
て、トラックトレース時に、Ｗ−Ｔ１及びＷ−Ｔ２でプ
ッシュプル信号を作ると、逆極性のトラッキングエラー
が発生し、Ｗ−Ｔ１または、Ｗ−Ｔ２のどちらか一方で
のみのプッシュプル信号を利用する場合、即ち、第１の
実施形態の傾き検出信号を作ると、トラッキングエラー
の影響が発生する。そこで、そのトラッキングエラーの
影響を押さえる為に、加算により逆極性のトラッキング
エラーが相殺する。こうして、トラッキングエラーの影
響のない傾き検出信号を得ることが可能となる。
【００５１】図８は、光ディスクを傾けたときの（ＳＡ
＋ＳＢ）−（ＳＣ＋ＳＤ）、ＳＥ−ＳＦをプロットした
グラフである。条件は、光源波長が６６０ｎｍ、対物レ
ンズの開口数（ＮＡ）が０．６、トラックピッチが０．
５４μｍ、ピットサイズが半値幅でφ０．４μｍ、ピッ
ト深さが約５０ｎｍである。同グラフにおいて、黒抜き
のプロット（●、■）は対物レンズ４が光ディスク半径
方向に対して設計中心にある時、白抜きプロット（○、
□）は対物レンズ４が光ディスク半径方向に対して設計
中心からディスク外周方向へ２００μｍシフトしている
時を示している。四角印（■、□）は（ＳＡ＋ＳＢ）−
（ＳＣ＋ＳＤ）、丸印（●、○）はＳＥ−ＳＦを示して
いる。
＋ＳＢ）−（ＳＣ＋ＳＤ）、ＳＥ−ＳＦをプロットした
グラフである。条件は、光源波長が６６０ｎｍ、対物レ
ンズの開口数（ＮＡ）が０．６、トラックピッチが０．
５４μｍ、ピットサイズが半値幅でφ０．４μｍ、ピッ
ト深さが約５０ｎｍである。同グラフにおいて、黒抜き
のプロット（●、■）は対物レンズ４が光ディスク半径
方向に対して設計中心にある時、白抜きプロット（○、
□）は対物レンズ４が光ディスク半径方向に対して設計
中心からディスク外周方向へ２００μｍシフトしている
時を示している。四角印（■、□）は（ＳＡ＋ＳＢ）−
（ＳＣ＋ＳＤ）、丸印（●、○）はＳＥ−ＳＦを示して
いる。
【００５２】光ディスク５に傾きが生じると、前述した
ような回折０次光と回折１次光の重ね合わさる部分での
不均一な振る舞いにより、加算値においても、主に重ね
合わせの中心部分を含むプッシュプル信号の加算値と重
ね合わせの中心部分を含まないプッシュプル信号の加算
値でも異なる振る舞いを示す。
ような回折０次光と回折１次光の重ね合わさる部分での
不均一な振る舞いにより、加算値においても、主に重ね
合わせの中心部分を含むプッシュプル信号の加算値と重
ね合わせの中心部分を含まないプッシュプル信号の加算
値でも異なる振る舞いを示す。
【００５３】同グラフを見ると、各信号とも、光ディス
ク傾きに応じてほぼ単調に増減している。とともに、対
物レンズのシフトにより、各信号ともオフセットを有し
ている。
ク傾きに応じてほぼ単調に増減している。とともに、対
物レンズのシフトにより、各信号ともオフセットを有し
ている。
【００５４】第１の実施形態と同じように、本実施形態
においても、（ＳＡ＋ＳＢ）−（ＳＣ＋ＳＤ）、ＳＥ−
ＳＦ間で対物レンズシフトによるオフセット量を相殺す
るように差をとる。
においても、（ＳＡ＋ＳＢ）−（ＳＣ＋ＳＤ）、ＳＥ−
ＳＦ間で対物レンズシフトによるオフセット量を相殺す
るように差をとる。
【００５５】図８において、ディスク傾きが無いとき、
即ち、０ mradian の時の各信号値をみると、 ＳＥ−ＳＦ＋２００＝−０．２０８ （ＳＡ＋ＳＢ）−（ＳＣ＋ＳＤ）＋２００＝−０．４２
８ ＳＥ−ＳＦ＝０ （ＳＡ＋ＳＢ）−（ＳＣ＋ＳＤ）＝０ 従って、 ＰＰ１でのオフセット量 ＝ −０．２０８ ＰＰ２でのオフセット量 ＝ −０．４２８ 以上より、ＰＰ１でのオフセット量とＰＰ２でのオフセ
ット量の比（＝ｋ）は約２．０である。
即ち、０ mradian の時の各信号値をみると、 ＳＥ−ＳＦ＋２００＝−０．２０８ （ＳＡ＋ＳＢ）−（ＳＣ＋ＳＤ）＋２００＝−０．４２
８ ＳＥ−ＳＦ＝０ （ＳＡ＋ＳＢ）−（ＳＣ＋ＳＤ）＝０ 従って、 ＰＰ１でのオフセット量 ＝ −０．２０８ ＰＰ２でのオフセット量 ＝ −０．４２８ 以上より、ＰＰ１でのオフセット量とＰＰ２でのオフセ
ット量の比（＝ｋ）は約２．０である。
【００５６】このように、対物レンズシフトの無いとき
と、所定量シフトしているときで、各信号値を測定する
ことにより、ｋの値が決められる。
と、所定量シフトしているときで、各信号値を測定する
ことにより、ｋの値が決められる。
【００５７】そこで、（ＳＡ＋ＳＢ）−（ＳＣ＋ＳＤ）
から２．０倍の、ＳＥ−ＳＦを差し引いた信号を作る。
これが本実施形態による傾き検出信号である。
から２．０倍の、ＳＥ−ＳＦを差し引いた信号を作る。
これが本実施形態による傾き検出信号である。
【００５８】図９は、こうして作られた傾き検出信号を
ミラー部での総和Ｉｏで正規化した値を光ディスクの傾
きに対してプロットしたグラフである。同グラフにおい
て、黒抜きのプロットは対物レンズ４が光ディスク半径
方向に対して設計中心にある時、白抜きプロットは対物
レンズ４が光ディスク半径方向に対して設計中心からデ
ィスク外周方向へ２００μｍシフトしている時を示して
いる。ここで、ミラー部での総和Ｉｏは、ミラー部にお
ける Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋Ｓｄ＋ｋ（Ｓｅ＋Ｓｆ） の２倍の値である。
ミラー部での総和Ｉｏで正規化した値を光ディスクの傾
きに対してプロットしたグラフである。同グラフにおい
て、黒抜きのプロットは対物レンズ４が光ディスク半径
方向に対して設計中心にある時、白抜きプロットは対物
レンズ４が光ディスク半径方向に対して設計中心からデ
ィスク外周方向へ２００μｍシフトしている時を示して
いる。ここで、ミラー部での総和Ｉｏは、ミラー部にお
ける Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋Ｓｄ＋ｋ（Ｓｅ＋Ｓｆ） の２倍の値である。
【００５９】図１０は、図８、図９を得るプロセスを回
路化した、本実施形態における回路構成を表すブロック
図である。前述した図４の回路に従って、傾き検出信号
を、第１のウォブルピットを検出した瞬間（Ｗ−Ｔ１）
でサンプルホールドし、第２のウォブルピットを検出し
た瞬間（Ｗ−Ｔ２）でサンプルホールドし、それぞれを
傾き検知信号ＳＴ１、ＳＴ２として、それを加算して、
本実施形態の傾き検出信号ＴＩＬＴとしている。
路化した、本実施形態における回路構成を表すブロック
図である。前述した図４の回路に従って、傾き検出信号
を、第１のウォブルピットを検出した瞬間（Ｗ−Ｔ１）
でサンプルホールドし、第２のウォブルピットを検出し
た瞬間（Ｗ−Ｔ２）でサンプルホールドし、それぞれを
傾き検知信号ＳＴ１、ＳＴ２として、それを加算して、
本実施形態の傾き検出信号ＴＩＬＴとしている。
【００６０】以上のようにして、本実施形態によれば、
トラック上にプリピットが配置されていない、サンプル
サーボ用光ディスクのサンプルサーボ用プリピットでも
高精度な傾き検出が可能であり、且つ、対物レンズの移
動による影響を受けにくい光ディスク傾き検出装置を実
現可能となる。
トラック上にプリピットが配置されていない、サンプル
サーボ用光ディスクのサンプルサーボ用プリピットでも
高精度な傾き検出が可能であり、且つ、対物レンズの移
動による影響を受けにくい光ディスク傾き検出装置を実
現可能となる。
【００６１】（第３の実施形態）本実施形態における、
光ヘッドの構成、受光手段の構成は、第１、第２の実施
形態に同じである。まず、傾き検出信号を生成する方法
について述べる。
光ヘッドの構成、受光手段の構成は、第１、第２の実施
形態に同じである。まず、傾き検出信号を生成する方法
について述べる。
【００６２】本実施形態においては、ランド部及びグル
ーブ部を有する光ディスクを用いている。そして、ラン
ド部或はグルーブ部をトレース中であれば、タイミング
を図らずに傾き検出信号が得られる。以下の説明では光
スポットがランド部をトレースしている例を用いて説明
する。
ーブ部を有する光ディスクを用いている。そして、ラン
ド部或はグルーブ部をトレース中であれば、タイミング
を図らずに傾き検出信号が得られる。以下の説明では光
スポットがランド部をトレースしている例を用いて説明
する。
【００６３】図１１は、光ディスクのランド部をトレー
スしているスポットを示す図である。同図において、３
５はスポット、２７はランド、２８はグルーブを表して
いる。
スしているスポットを示す図である。同図において、３
５はスポット、２７はランド、２８はグルーブを表して
いる。
【００６４】各プッシュプル信号は、図４に示す回路に
従って、 ＰＰ１＝（Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ） ＰＰ２＝（Ｓｅ−Ｓｆ） である。
従って、 ＰＰ１＝（Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ） ＰＰ２＝（Ｓｅ−Ｓｆ） である。
【００６５】光ディスク５に傾きが生じると、前述した
ように、回折０次光と回折１次光の重ね合わさる部分で
の不均一な振る舞いにより、主に、重ね合わせの中心部
分を含むプッシュプル信号ＰＰ２と重ね合わせの中心部
分を含まないプッシュプル信号ＰＰ１では異なる振る舞
いを示す。
ように、回折０次光と回折１次光の重ね合わさる部分で
の不均一な振る舞いにより、主に、重ね合わせの中心部
分を含むプッシュプル信号ＰＰ２と重ね合わせの中心部
分を含まないプッシュプル信号ＰＰ１では異なる振る舞
いを示す。
【００６６】図１２は、光ディスクを傾けたときのＰＰ
１、ＰＰ２をプロットしたグラフである。条件は、光源
波長が６６０ｎｍ、対物レンズの開口数（ＮＡ）が０．
６、トラックピッチが１．０８μｍ、グルーブ幅が半値
幅で０．４μｍ、深さが約５０ｎｍである。同グラフに
おいて、黒抜きのプロット（■、●）は対物レンズ４が
光ディスク半径方向に対して設計中心にある時、白抜き
プロット（□、○）は対物レンズ４が光ディスク半径方
向に対して設計中心からディスク外周方向へ２００μｍ
シフトしている時を示している。四角印（■、□）はＰ
Ｐ１、丸印（●、○）はＰＰ２を示している。
１、ＰＰ２をプロットしたグラフである。条件は、光源
波長が６６０ｎｍ、対物レンズの開口数（ＮＡ）が０．
６、トラックピッチが１．０８μｍ、グルーブ幅が半値
幅で０．４μｍ、深さが約５０ｎｍである。同グラフに
おいて、黒抜きのプロット（■、●）は対物レンズ４が
光ディスク半径方向に対して設計中心にある時、白抜き
プロット（□、○）は対物レンズ４が光ディスク半径方
向に対して設計中心からディスク外周方向へ２００μｍ
シフトしている時を示している。四角印（■、□）はＰ
Ｐ１、丸印（●、○）はＰＰ２を示している。
【００６７】そこで、本実施形態においても、ＰＰ１と
ＰＰ２間で対物レンズシフトによるオフセット量を相殺
するように差をとる。
ＰＰ２間で対物レンズシフトによるオフセット量を相殺
するように差をとる。
【００６８】図１２において、ディスク傾きが無いと
き、即ち、０ mradian の時の各信号値をみると、 Ｓｅ−Ｓｆ＋２００＝−０．０３２ （Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ）＋２００＝−０．０８
４ Ｓｅ−Ｓｆ＝０ （Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ）＝０ 従って、 ＰＰ１でのオフセット量 ＝ −０．０３２ ＰＰ２でのオフセット量 ＝ −０．０８４ 以上より、ＰＰ１でのオフセット量とＰＰ２でのオフセ
ット量の比（＝ｋ）は約２．６である。
き、即ち、０ mradian の時の各信号値をみると、 Ｓｅ−Ｓｆ＋２００＝−０．０３２ （Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ）＋２００＝−０．０８
４ Ｓｅ−Ｓｆ＝０ （Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ）＝０ 従って、 ＰＰ１でのオフセット量 ＝ −０．０３２ ＰＰ２でのオフセット量 ＝ −０．０８４ 以上より、ＰＰ１でのオフセット量とＰＰ２でのオフセ
ット量の比（＝ｋ）は約２．６である。
【００６９】このように、本実施形態においても、対物
レンズシフトの無いときと、所定量シフトしているとき
で、各信号値を測定することにより、ｋの値が決められ
る。
レンズシフトの無いときと、所定量シフトしているとき
で、各信号値を測定することにより、ｋの値が決められ
る。
【００７０】そこで、ＰＰ１からｋ＝２．６倍のＰＰ２
を差し引いた信号を作る。これが本実施形態による傾き
検出信号である。
を差し引いた信号を作る。これが本実施形態による傾き
検出信号である。
【００７１】図４の回路に従って、
ＴＩＬＴ＝（Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ）−ｋ（Ｓｅ
−Ｓｆ） である。
−Ｓｆ） である。
【００７２】図１３は、こうして作られた傾き検出信号
をランド部での総和Ｉtopで正規化した値を光ディスク
の傾きに対してプロットしたグラフである。同グラフに
おいて、黒抜きのプロットは対物レンズ４が光ディスク
半径方向に対して設計中心にある時、白抜きプロットは
対物レンズ４が光ディスク半径方向に対して設計中心か
らディスク外周方向へ２００μｍシフトしている時を示
している。ここで、ランド部での総和Ｉtopは、ランド
部における Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋Ｓｄ＋ｋ（Ｓｅ＋Ｓｆ） である。
をランド部での総和Ｉtopで正規化した値を光ディスク
の傾きに対してプロットしたグラフである。同グラフに
おいて、黒抜きのプロットは対物レンズ４が光ディスク
半径方向に対して設計中心にある時、白抜きプロットは
対物レンズ４が光ディスク半径方向に対して設計中心か
らディスク外周方向へ２００μｍシフトしている時を示
している。ここで、ランド部での総和Ｉtopは、ランド
部における Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋Ｓｄ＋ｋ（Ｓｅ＋Ｓｆ） である。
【００７３】グラフより、対物レンズ４が光ディスク半
径方向に対して設計中心にある時と対物レンズ４が光デ
ィスク半径方向に対して設計中心からディスク外周方向
へ２００μｍシフトしている時とでほぼ同等の光ディス
クの傾き変化に対して単調に変化する信号となってい
る、ことが分かる。
径方向に対して設計中心にある時と対物レンズ４が光デ
ィスク半径方向に対して設計中心からディスク外周方向
へ２００μｍシフトしている時とでほぼ同等の光ディス
クの傾き変化に対して単調に変化する信号となってい
る、ことが分かる。
【００７４】本実施形態の場合、トラッキングエラーと
してのプッシュプル信号の検出が可能であることが条件
であることは言うまでもない。即ち、トラックピッチ
（ランドピッチまたはグルーブピッチ）は、スポット径
（半値幅）よりも大きいことが条件となる。
してのプッシュプル信号の検出が可能であることが条件
であることは言うまでもない。即ち、トラックピッチ
（ランドピッチまたはグルーブピッチ）は、スポット径
（半値幅）よりも大きいことが条件となる。
【００７５】以上のようにして、本実施形態によれば、
プリピット部以外で、タイミングを計らずに高精度な傾
き検出が可能であり、且つ、対物レンズの移動による影
響を受けにくい光ディスク傾き検出装置を実現可能とな
る。
プリピット部以外で、タイミングを計らずに高精度な傾
き検出が可能であり、且つ、対物レンズの移動による影
響を受けにくい光ディスク傾き検出装置を実現可能とな
る。
【００７６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
どのような光ディスクにおいても、高感度で、対物レン
ズシフトの影響の小さい傾き検出信号を生成できる。
どのような光ディスクにおいても、高感度で、対物レン
ズシフトの影響の小さい傾き検出信号を生成できる。
【図１】本発明に係る光ヘッドの構成ブロック図であ
る。
る。
【図２】受光手段７の受光領域と受光手段上のスポット
の様子を示す図である。
の様子を示す図である。
【図３】光ディスクのプリピット部とそのプリピット部
をスポットがトレースした時の様子とその時の受光手段
７から得られる、受光光量総和に相当する和信号の様子
を示す図である。
をスポットがトレースした時の様子とその時の受光手段
７から得られる、受光光量総和に相当する和信号の様子
を示す図である。
【図４】傾き検出手段７の回路構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図５】光ディスクを傾けたときの各プッシュプル信号
ＰＰ１、ＰＰ２をプロットしたグラフである。
ＰＰ１、ＰＰ２をプロットしたグラフである。
【図６】傾き検出信号をミラー部での総和Ｉｏで割った
値を光ディスクの傾きに対してプロットしたグラフであ
る。
値を光ディスクの傾きに対してプロットしたグラフであ
る。
【図７】第２の実施形態に係る光ディスクのプリピット
部とそのプリピット部をスポットがトレースした時の様
子とその時の受光手段７から得られる、受光光量総和に
相当する和信号の様子を示す図である。
部とそのプリピット部をスポットがトレースした時の様
子とその時の受光手段７から得られる、受光光量総和に
相当する和信号の様子を示す図である。
【図８】光ディスクを傾けたときの各差信号（ＳＡ＋Ｓ
Ｂ）−（ＳＣ＋ＳＤ）、ＳＥ−ＳＦをプロットしたグラ
フである。
Ｂ）−（ＳＣ＋ＳＤ）、ＳＥ−ＳＦをプロットしたグラ
フである。
【図９】第２の実施形態に係る、傾き検出信号をミラー
部での総和Ｉｏで割った値を光ディスクの傾きに対して
プロットしたグラフである。
部での総和Ｉｏで割った値を光ディスクの傾きに対して
プロットしたグラフである。
【図１０】第２の実施形態における回路構成を表すブロ
ック図である。
ック図である。
【図１１】光ディスクのグルーブ領域とランド部をトレ
ースしているスポットを示す図である。
ースしているスポットを示す図である。
【図１２】第３の実施形態に係る、光ディスクを傾けた
ときのＰＰ１、ＰＰ２をプロットしたグラフである。
ときのＰＰ１、ＰＰ２をプロットしたグラフである。
【図１３】第３の実施形態に係る、傾き検出信号をラン
ド部での総和Ｉtopで割った値を光ディスクの傾きに対
してプロットしたグラフである。
ド部での総和Ｉtopで割った値を光ディスクの傾きに対
してプロットしたグラフである。
１ 光源
２ 光学系光軸
３ ビームスプリッタ
４ 対物レンズ
５ 光ディスク
６ 受光光学系
７ 受光手段
８ 傾き検出手段
９ 差信号生成手段
１０、２０ 増幅手段
１１ 傾き検出手段内の差動信号生成手段
フロントページの続き
(72)発明者 荒井 昭浩
大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器
産業株式会社内
(72)発明者 中村 徹
大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器
産業株式会社内
(72)発明者 林 卓生
大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器
産業株式会社内
Ｆターム(参考） 5D118 AA13 CB03 CC12 CD04 CF03
Claims (3)
- 【請求項１】 光源からの光束を対物レンズにより光デ
ィスク上に集光し、該光ディスクからの光を受光手段に
導き、傾き検出手段によって該受光手段からの出力に基
づき前記対物レンズの光軸と前記光ディスクとの傾きを
検出する光ディスク傾き検出装置において、 前記光ディスクはプリピットを有し、 前記受光手段は、少なくとも前記光ディスクのトラック
方向における光束の中心部を受光する第１の領域とそれ
を挟む周辺部を受光する第２の領域とを有するととも
に、各々の領域を前記光ディスクの半径方向に２等分す
るように光束を受光する分割センサーを含み、 前記傾き検出手段は、前記第１の領域で第１の差信号、
第２の領域で第２の差信号を作り、前記プリピットの位
置で、前記第１及び第２の差信号のどちらか一方に所定
の値を乗じた後、該所定の値を乗じた一方の差信号と他
方の差信号との間での差をとる手段であることを特徴と
する光ディスク傾き検出装置。 - 【請求項２】 光源からの光束を対物レンズにより光デ
ィスク上に集光し、該光ディスクからの光を受光手段に
導き、傾き検出手段によって該受光手段からの出力に基
づき前記対物レンズの光軸と前記光ディスクとの傾きを
検出する光ディスク傾き検出装置において、 前記光ディスクはサンプルサーボ用プリピット対を有
し、 前記受光手段は、少なくとも前記光ディスクのトラック
方向における光束の中心部を受光する第１の領域とそれ
を挟む周辺部を受光する第２の領域とを有するととも
に、各々の領域を前記光ディスクの半径方向に２等分す
るように光束を受光する分割センサーを含み、 前記傾き検出手段は、前記第１の領域で第１の差信号、
第２の領域で第２の差信号を作り、前記プリピット対の
位置で、前記第１及び第２の差信号のどちらか一方に所
定の値を乗じた後、該所定の値を乗じた一方の差信号と
他方の差信号との間での差をとる手段であり、 前記プリピット対の第１のプリピットでの前記傾き検出
手段からの出力と、前記プリピット対の第２のプリピッ
トでの前記傾き検出手段からの出力との和をとる手段を
有することを特徴とする光ディスク傾き検出装置。 - 【請求項３】 光源からの光束を対物レンズにより光デ
ィスク上に集光し、該光ディスクからの光を受光手段に
導き、傾き検出手段によって該受光手段からの出力に基
づき前記対物レンズの光軸と前記光ディスクとの傾きを
検出する光ディスク傾き検出装置において、 前記光ディスクはトラッキングガイド用溝を有し、 前記受光手段は、少なくとも前記光ディスクのトラック
方向における光束の中心部を受光する第１の領域とそれ
を挟む周辺部を受光する第２の領域とを有するととも
に、各々の領域を前記光ディスクの半径方向に２等分す
るように光束を受光する分割センサーを含み、 前記傾き検出手段は、前記第１の領域で第１の差信号、
第２の領域で第２の差信号を作り、前記トラッキングガ
イド用溝がある領域で、前記第１及び第２の差信号のど
ちらか一方に所定の値を乗じた後、該所定の値を乗じた
一方の差信号と他方の差信号との間での差をとる手段で
あることを特徴とする光ディスク傾き検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001232199A JP2003045058A (ja) | 2001-07-31 | 2001-07-31 | 光ディスク傾き検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001232199A JP2003045058A (ja) | 2001-07-31 | 2001-07-31 | 光ディスク傾き検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003045058A true JP2003045058A (ja) | 2003-02-14 |
Family
ID=19064154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001232199A Pending JP2003045058A (ja) | 2001-07-31 | 2001-07-31 | 光ディスク傾き検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003045058A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1632936A2 (en) * | 2004-08-31 | 2006-03-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | An optical head, an optical disk device and an integrated circuit |
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| US7382698B2 (en) | 2003-12-04 | 2008-06-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical information recording/reproducing apparatus having tilt correction mechanism and method therefor |
| EP1524653A3 (en) * | 2003-10-16 | 2008-08-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Tilt sensor and optical disk drive |
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| CN102005217A (zh) * | 2009-09-02 | 2011-04-06 | 日立视听媒介电子股份有限公司 | 光拾取器装置及使用其的光盘装置 |
-
2001
- 2001-07-31 JP JP2001232199A patent/JP2003045058A/ja active Pending
Cited By (14)
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