JP2003028845A - フェーズドアレイによる探傷方法及び探傷装置 - Google Patents

フェーズドアレイによる探傷方法及び探傷装置

Info

Publication number
JP2003028845A
JP2003028845A JP2001216305A JP2001216305A JP2003028845A JP 2003028845 A JP2003028845 A JP 2003028845A JP 2001216305 A JP2001216305 A JP 2001216305A JP 2001216305 A JP2001216305 A JP 2001216305A JP 2003028845 A JP2003028845 A JP 2003028845A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
probe group
group
probes
phased array
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001216305A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4452001B2 (ja
Inventor
Seiichi Kawanami
精一 川浪
Masayoshi Nakai
正義 中井
Masaaki Kurokawa
政秋 黒川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP2001216305A priority Critical patent/JP4452001B2/ja
Publication of JP2003028845A publication Critical patent/JP2003028845A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4452001B2 publication Critical patent/JP4452001B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04—Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 先端の形状に拘らず欠陥２０の定量化を容易
に行う。 【解決手段】 送信グループ１３の探触子群１２と受信
グループ１４の探触子群１２とをペアに構成し、反射波
１９が受信された受信グループ１４の探触子群１２を演
算処理部１６で対応させて解析し、面反射エコーを用い
て略垂直に存在する欠陥２０の高さを正確に評価すし、
先端の形状に拘らず欠陥２０の定量化を容易に行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はフェーズドアレイに
よる探傷方法及び探傷装置に関し、面反射波を用いて欠
陥の高さを評価するようにしたものである。
【０００２】
【従来の技術】例えば原子力プラント等の各種プラント
における配管等の欠陥を非破壊検査により検出する場合
に超音波探傷が適用される。従来の超音波探傷の一例と
して、ＴＯＦＤ（Time Flight Diffraction ）法と称さ
れる技術が知られている。ＴＯＦＤ法は、送信プローブ
と受信プローブを対向配置させ、表面波、底面波及び欠
陥端部からの回析波の伝搬時間の差から欠陥の高さを計
測して欠陥を定量化するようにしたものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の超音波探傷は、
欠陥の端部からの回析波を検出して路程差により求めて
いるため、欠陥の形状によっては欠陥の端部からの回析
波が非常に小さくなることがあった。このため、雑音等
があると回析波を検出し難い場合があり、欠陥の定量化
が困難になる虞があった。
【０００４】本発明は上記状況に鑑みてなされたもの
で、形状等に拘らず容易に欠陥の定量化が行えるフェー
ズドアレイによる探傷方法及び探傷装置を提供すること
を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明のフェーズドアレイによる探傷方法は、多数の探触子
をアレイ状に配設してフェーズドアレイ探触子を形成
し、多数の探触子を１個もしくは複数個づつに分けた探
触子群を複数組形成し、各探触子群を順次切り換えて超
音波を送出し、受信手段で超音波の反射波を受信すると
共に、受信された反射波に対応する超音波を送出した探
触子群を特定することで、傷の高さを評価することを特
徴とする。
【０００６】そして、受信手段は、フェーズドアレイ探
触子の一部もしくは全ての探触子が切り換えられて形成
されることを特徴とする。
【０００７】また、上記目的を達成する本発明のフェー
ズドアレイによる探傷方法は、多数の探触子をアレイ状
に配設してフェーズドアレイ探触子を形成し、多数の探
触子を１個もしくは複数個づつに分けた探触子群を複数
組形成し、各探触子群を順次切り換えて超音波を送出
し、受信手段で超音波の反射波を受信すると共に、受信
された反射波に対応する超音波を送出した探触子群を特
定することで、傷の高さを評価することを特徴とする。
【０００８】そして、送信手段は、フェーズドアレイ探
触子の一部もしくは全ての探触子が切り換えらて形成さ
れることを特徴とする。
【０００９】また、上記目的を達成する本発明のフェー
ズドアレイによる探傷方法は、多数の探触子をアレイ状
に配設してフェーズドアレイ探触子を形成し、多数の探
触子を１個もしくは複数個づつに分けた探触子群を複数
組形成し、探触子群を送信探触子グループと受信探触子
グループとに分割し、送信探触子グループを順次切り換
えて超音波を送出し、受信探触子グループを順次切り換
えて受信モードとし、超音波を送出した送信探触子グル
ープの探触子群と反射波を受信する受信探触子グループ
の探触子群とを対応させることで傷の高さを評価するこ
とを特徴とする。
【００１０】また、上記目的を達成する本発明のフェー
ズドアレイによる探傷方法は、多数の探触子をアレイ状
に配設してフェーズドアレイ探触子を形成し、多数の探
触子を１個もしくは複数個づつに分けた探触子群を複数
組形成し、各探触子群を送信探触子グループと受信探触
子グループとに分割し、送信探触子グループを順次切り
換えて超音波を送出し、受信探触子グループを切り換え
て受信モードとし、超音波を送出した送信探触子グルー
プの探触子群と反射波を受信した受信探触子グループの
探触子群とを特定することで傷の高さ及び状況を評価す
ることを特徴とする。
【００１１】そして、送信探触子グループ及び受信探触
子グループは、全ての探触子が切り換えられて交互に形
成されることを特徴とする。
【００１２】上記目的を達成する本発明の探傷装置は、
多数の探触子をアレイ状に配設すると共に多数の探触子
を１個もしくは複数個づつに分けて探触子群を複数組形
成し各探触子群を順次切り換えて超音波を送出するフェ
ーズドアレイ探触子と、超音波の反射波を受信する受信
手段と、受信手段で受信された反射波に対応した超音波
を送出したフェーズドアレイ探触子の探触子群を特定す
ることで傷の高さを評価する制御手段とを備えたことを
特徴とする。
【００１３】また、上記目的を達成する本発明の探傷装
置は、多数の探触子をアレイ状に配設する共に多数の探
触子を１個もしくは複数個づつに分けた探触子群を複数
組形成し各探触子群を順次切り換えて超音波の反射波を
受信するフェーズドアレイ探触子と、超音波を送出する
送信手段と、反射波を受信したフェーズドアレイ探触子
の探触子群を特定することで傷の高さを評価する制御手
段とを備えたことを特徴とする。
【００１４】また、上記目的を達成する本発明の探傷装
置は、多数の探触子をアレイ状に配設すると共に多数の
探触子を１個もしくは複数個づつに分けた探触子群を複
数組形成する一方、探触子群を送信探触子グループと受
信探触子グループとに分割し、送信探触子グループを順
次切り換えて超音波を送出し、受信探触子グループを順
次切り換えて受信モードとするフェーズドアレイ探触子
と、超音波を送出した送信探触子グループの探触子群と
反射波を受信する受信探触子グループの探触子群とを対
応させることで傷の高さを評価する制御装置とを備えた
ことを特徴とする。
【００１５】また、上記目的を達成する本発明の探傷装
置は、多数の探触子をアレイ状に配設すると共に多数の
探触子を１個もしくは複数個づつに分けた探触子群を複
数組形成する一方、探触子群を送信探触子グループと受
信探触子グループとに分割し、送信探触子グループを順
次切り換えて超音波を送出し、受信探触子グループを順
次切り換えて受信モードとするフェーズドアレイ探触子
と、超音波を送出した送信探触子グループの探触子群と
反射波を受信する受信探触子グループの探触子群とを特
定することで傷の高さ及び状況を評価する制御装置とを
備えたことを特徴とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を図面に
基づき詳細に説明する。
【００１７】本形態はいわゆるフェーズドアレイ法を利
用するものである。そこで、このフェーズドアレイ法を
図１に基づき説明しておく。図１にはフェーズドアレイ
法の原理を表す概念を示してある。
【００１８】図に示すように、フェーズドアレイ法と
は、複数の超音波の探触子１をアレイ状に配設してなる
フェーズドアレイ探触子Ｉを用い、このフェーズドアレ
イ探触子Ｉの各探触子１からそれぞれ発信する超音波の
送信波３の遅延時間ＤＴを電気的に適宜設定して、各送
信波３の位相をずらすことにより、その合成波面３ａの
進行方向（超音波入射方向：入射角Ｄ）を所望の方向に
調整するものである。かかるフェーズドアレイ法を用い
れば、超音波発信の遅延時間の設定を調整するだけで容
易に入射角を変えることができ、送信波３の入射角を変
える超音波探傷が非常に有効なものとなる。
【００１９】遅延時間ＤＴの制御により送信波３の入射
角を任意に変化させることにより被探傷部材２の内部の
広い範囲を超音波の送信波３でスキャンすることがで
き、また送信波３を任意の方向に収束させることもでき
るからである。かかる関係は、フェーズドアレイ探触子
１を受信モードとした場合にも同様である。即ち、受信
側のフェーズドアレイ探触子Ｉの各探触子１における受
信のタイミングを制御することで広い範囲の反射波を検
出することができる。
【００２０】図２に基づいて本発明の第１実施形態例を
説明する。図１には本発明の第１実施形態例に係る探傷
装置により探傷方法を実施している状態の概略を示して
ある。
【００２１】図に示すように、フェーズドアレイ探触子
１１は多数（例えば１２８ｃｈ）の探触子（エレメン
ト）がアレイ状に配置され、多数の探触子は１個もしく
は複数個づつが一組とされて探触子群１２が複数組形成
されている。探触子群１２は中央から左右に送信グルー
プ１３及び受信グループ１４とに分割され、送信グルー
プ１３及び受信グループ１４の探触子群１２は、中央か
ら左右対称に送受信のペアが構成されている。つまり、
中央から右側に送信グループ１３の探触子群１２〜１
２が形成され、中央から左側に受信グループ１４の探
触子群１２〜１２が形成されている。
【００２２】そして、送信グループ１３の探触子群１２
から送出された超音波の反射波は受信グループ１４の
探触子群１２でのみ受信される状態に制御部１５によ
り制御され、探触子群１２同士、探触子群１２同
士、探触子群１２同士、探触子群１２同士及び探触
子群１２同士で送受信が可能に制御されるようになっ
ている。フェーズドアレイ探触子１１の情報は演算処理
部１６に入力される。
【００２３】上述したフェーズドアレイ探触子１１は、
欠陥２０の位置が特定された後に所定の位置に配置され
る。送信グループ１３の探触子群１２の送信波１８ａ
を欠陥２０のコーナ部に向けて送信するように探触子群
１２からの合成波面を制御し、底面及びコーナ部の欠
陥２０の面を反射した面反射エコーである反射波１９ａ
を受信グループ１４の探触子群１２で受信させる。こ
の位置で、探触子群１２同士、探触子群１２同士、
探触子群１２同士、探触子群１２同士及び探触子群
１２同士で送受信を行う。
【００２４】この時、欠陥２０の高さに応じて反射波１
９が受信される探触子群１２が決まる（例えば、図示例
の場合、探触子群１２、探触子群１２に反射波１９
が受信される）。図示例の欠陥２０に対し、高さが低い
場合、探触子群１２で反射波１９が受信され、それ以
外の受信グループ１４の探触子群１２では反射波１９は
受信されない。また、図示例の欠陥２０に対し、高さが
高い場合、探触子群１２または探触子群１２または
探触子群１２で反射波１９が受信されることになる。
【００２５】これにより、ペアに構成された送信グルー
プ１３からの反射波１９が受信された受信グループ１４
の探触子群１２を、演算処理部１６で対応させて解析す
ることにより、面反射エコーを用いて略垂直に存在する
欠陥２０の高さを正確に評価することができ、先端の形
状に拘らず欠陥２０の定量化が容易に行える。
【００２６】尚、フェーズドアレイ探触子１１の全ての
探触子群１２を、送信時には送信グループ１３に切り換
え、受信時には受信グループ１４に切り換えて欠陥２０
の高さを評価することも可能である。
【００２７】図３に基づいて本発明の第２実施形態例を
説明する。図３には本発明の第２実施形態例に係る探傷
装置による探傷方法を実施している状態の概略を示して
ある。尚、図２に示した部材と同一部材には同一符号を
付してある。
【００２８】図に示すように、フェーズドアレイ探触子
２２は多数（例えば１２８ｃｈ）の探触子（エレメン
ト）がアレイ状に配置され、多数の探触子は複数個づつ
が一組とされて探触子群１２が複数組形成されている。
探触子群１２は中央から左右に送信グループ１３及び受
信グループ１４とに分割され、送信グループ１３の探触
子群１２は中央から右側に探触子群１２〜１２が形
成されている。また、受信グループ１４は全ての探触子
群１２が受信可能な状態に制御部１５により制御されて
いる（受信手段）。
【００２９】上述したフェーズドアレイ探触子２２は、
欠陥２１の位置が特定された後に所定の位置に配置され
る。送信グループ１３の探触子群１２の送信波１８ａ
を欠陥２１のコーナ部に向けて送出するように探触子群
１２からの合成波面を制御し、底面及びコーナ部の欠
陥２１の面を反射した反射波１９ａを受信グループ１４
の探触子群１２の最中央部で受信させる。この位置で、
探触子群１２〜１２から順次送信波１８を送出し、
受信グループ１４の探触子群１２で受信した反射波１９
の送信グループ１３の探触子群１２を特定する。
【００３０】図示例では、送信グループ１３の探触子群
１２、１２で送出された送信波１８の反射波１９が
受信グループ１４の探触子群１２で受信された状態にな
っている。このとき、欠陥２１の傾斜角度が垂直側とな
っていた場合、受信グループ１４には、例えば、探触子
群１２、１２、１２から送出される送信波１８の
反射波１９が受信される。逆の傾斜角度の場合、受信さ
れた反射波１９を送出した送信グループ１３の探触子群
１２が減少する。
【００３１】これにより、受信グループ１４で受信され
た反射波１９を送出した探触子群１２〜を演算処理
部１６で特定して解析することにより、欠陥２１が傾斜
していても、面反射エコーを用いて欠陥２１の高さを評
価することができ、先端の形状に拘らず欠陥２１の定量
化が容易に行える。
【００３２】尚、フェーズドアレイ探触子２２の全ての
探触子群１２を、送信時には送信グループ１３に切り換
え、受信時には受信グループ１４に切り換えて欠陥２１
の高さを評価することも可能である。また、フェーズド
アレイ探触子２２の全ての探触子群１２を、送信グルー
プ１３に切り換え、別途受信手段を備えることも可能で
ある。
【００３３】また、フェーズドアレイ探触子２２の受信
グループ１４を探触子群１２〜とし、送信グループ
１３の全ての探触子群１２を送信可能な状態に制御する
ことも可能である。この場合、反射波１９を受信した探
触子群１２〜を特定することで傾斜した欠陥２１の
高さを評価することができる。この時、フェーズドアレ
イ探触子２２を全て受信グループ１４に切り換え、別途
送信手段を備えることも可能である。
【００３４】図４に基づいて本発明の第３実施形態例を
説明する。図４には本発明の第３実施形態例に係る探傷
装置による探傷方法を実施している状態の概略を示して
ある。尚、図２に示した部材と同一部材には同一符号を
付してある。
【００３５】図に示すように、フェーズドアレイ探触子
３２は多数（例えば１２８ｃｈ）の探触子（エレメン
ト）がアレイ状に配置され、多数の探触子は１個もしく
は複数個づつが一組とされて探触子群１２が複数組形成
されている。探触子群１２は中央から左右に送信グルー
プ１３及び受信グループ１４とに分割され、中央から右
側に送信グループ１３の探触子群１２〜１２が形成
され、中央から左側に受信グループ１４の探触子群１２
〜１２が形成されている。
【００３６】そして、受信グループ１４の探触子群１２
〜１２は、送信グループ１３の探触子群１２〜１
２から超音波が送出される毎に順次切り換えられ、送
信波毎に反射波が受信される探触子群１２〜１２の
位置が特定される。フェーズドアレイ探触子３２の情報
は演算処理部１６に入力される。
【００３７】上述したフェーズドアレイ探触子３２は、
欠陥３１の位置が特定された後に所定の位置に配置され
る。送信グループ１３の探触子群１２の送信波１８ａ
を欠陥３１に向けて送信するように探触子群１２から
の合成波面を制御し、底面及びコーナ部の欠陥２０の面
を反射した反射波１９ａを受信グループ１４で受信させ
る。この時、受信グループ１４の探触子群１２〜１２
を順次切り換え、探触子群１２からの送信波１８ａ
の反射波１９ａが受信する受信グループ１４の探触子群
１２〜１２を特定する。送信グループ１３の探触子
群１２〜１２の送信波１８毎に、受信グループ１４
の探触子群１２〜１２を順次切り換え、反射波１９
ａを受信する受信グループ１４の探触子群１２〜１２
を特定する。
【００３８】この時、欠陥３１の形状及び高さに応じて
反射波１９が受信される受信グループ１４の探触子群１
２の受信位置が決まる（例えば、図示例の場合、送信グ
ループ１３の探触子群１２からの送信波１８が受信グ
ループ１４の探触子群１２に受信される）。反射波１
９が受信される受信グループ１４の探触子群１２の受信
位置を演算処理部１６で特定して解析することにより、
面反射エコーを用いて変形して形状が不連続となる欠陥
３１の高さを評価することができ、先端の形状に拘らず
欠陥３１の定量化が容易に行える。
【００３９】尚、フェーズドアレイ探触子３２の全ての
探触子群１２を、送信時には送信グループ１３に切り換
え、受信時には受信グループ１４に切り換えて欠陥３１
の高さを評価することも可能である。
【００４０】
【発明の効果】本発明のフェーズドアレイによる探傷方
法は、多数の探触子をアレイ状に配設してフェーズドア
レイ探触子を形成し、多数の探触子を１個もしくは複数
個づつに分けた探触子群を複数組形成し、各探触子群を
順次切り換えて超音波を送出し、受信手段で超音波の反
射波を受信すると共に、受信された反射波に対応する超
音波を送出した探触子群を特定することで、傷の高さを
評価するようにしたので、面反射エコーを用いて傷の高
さを評価することができる。この結果、雑音が多い材料
中でも先端の形状や傾斜状態に拘らず傷の定量化が容易
に行える。
【００４１】また、本発明のフェーズドアレイによる探
傷方法は、多数の探触子をアレイ状に配設してフェーズ
ドアレイ探触子を形成し、多数の探触子を１個もしくは
複数個づつに分けた探触子群を複数組形成し、送信手段
から超音波を送出すると共に各探触子群を順次切り換え
て超音波の反射波を受信し、反射波を受信した探触子群
を特定することで傷の高さを評価するようにしたので、
面反射エコーを用いて傷の高さを評価することができ
る。この結果、雑音が多い材料中でも先端の形状や傾斜
状態に拘らず傷の定量化が容易に行える。
【００４２】また、本発明のフェーズドアレイによる探
傷方法は、多数の探触子をアレイ状に配設してフェーズ
ドアレイ探触子を形成し、多数の探触子を１個もしくは
複数個づつに分けた探触子群を複数組形成し、探触子群
を送信探触子グループと受信探触子グループとに分割
し、送信探触子グループを順次切り換えて超音波を送出
し、受信探触子グループを順次切り換えて受信モードと
し、超音波を送出した送信探触子グループの探触子群と
反射波を受信する受信探触子グループの探触子群とを対
応させることで傷の高さを評価するようにしたので、面
反射エコーを用いて傷の高さを正確に評価することがで
きる。この結果、雑音が多い材料中でも先端の形状に拘
らず傷の定量化が容易に行える。
【００４３】また、本発明のフェーズドアレイによる探
傷方法は、多数の探触子をアレイ状に配設してフェーズ
ドアレイ探触子を形成し、多数の探触子を１個もしくは
複数個づつに分けた探触子群を複数組形成し、各探触子
群を送信探触子グループと受信探触子グループとに分割
し、送信探触子グループを順次切り換えて超音波を送出
し、受信探触子グループを切り換えて受信モードとし、
超音波を送出した送信探触子グループの探触子群と反射
波を受信した受信探触子グループの探触子群とを特定す
ることで傷の高さ及び状況を評価するようにしたので、
面反射エコーを用いて傷の高さ及び状況を評価すること
ができる。この結果、雑音が多い材料中でも先端の形状
や傷の状況に拘らず傷の定量化が容易に行える。
【００４４】本発明の探傷装置は、多数の探触子をアレ
イ状に配設すると共に多数の探触子を１個もしくは複数
個づつに分けて探触子群を複数組形成し各探触子群を順
次切り換えて超音波を送出するフェーズドアレイ探触子
と、超音波の反射波を受信する受信手段と、受信手段で
受信された反射波に対応した超音波を送出したフェーズ
ドアレイ探触子の探触子群を特定することで傷の高さを
評価する制御手段とを備えたので、面反射エコーを用い
て傷の高さを評価することができる。この結果、雑音が
多い材料中でも先端の形状や傾斜状態に拘らず傷の定量
化が容易に行える。
【００４５】また、本発明の探傷装置は、多数の探触子
をアレイ状に配設する共に多数の探触子を１個もしくは
複数個づつに分けた探触子群を複数組形成し各探触子群
を順次切り換えて超音波の反射波を受信するフェーズド
アレイ探触子と、超音波を送出する送信手段と、反射波
を受信したフェーズドアレイ探触子の探触子群を特定す
ることで傷の高さを評価する制御手段とを備えたので、
面反射エコーを用いて傷の高さを評価することができ
る。この結果、雑音が多い材料中でも先端の形状や傾斜
状態に拘らず傷の定量化が容易に行える。
【００４６】また、本発明の探傷装置は、多数の探触子
をアレイ状に配設すると共に多数の探触子を１個もしく
は複数個づつに分けた探触子群を複数組形成する一方、
探触子群を送信探触子グループと受信探触子グループと
に分割し、送信探触子グループを順次切り換えて超音波
を送出し、受信探触子グループを順次切り換えて受信モ
ードとするフェーズドアレイ探触子と、超音波を送出し
た送信探触子グループの探触子群と反射波を受信する受
信探触子グループの探触子群とを対応させることで傷の
高さを評価する制御装置とを備えたので、面反射エコー
を用いて傷の高さを正確に評価することができる。この
結果、雑音が多い材料中でも先端の形状に拘らず傷の定
量化が容易に行える。
【００４７】また、本発明の探傷装置は、多数の探触子
をアレイ状に配設すると共に多数の探触子を１個もしく
は複数個づつに分けた探触子群を複数組形成する一方、
探触子群を送信探触子グループと受信探触子グループと
に分割し、送信探触子グループを順次切り換えて超音波
を送出し、受信探触子グループを順次切り換えて受信モ
ードとするフェーズドアレイ探触子と、超音波を送出し
た送信探触子グループの探触子群と反射波を受信する受
信探触子グループの探触子群とを特定することで傷の高
さ及び状況を評価する制御装置とを備えたので、面反射
エコーを用いて傷の高さ及び状況を評価することができ
る。この結果、雑音が多い材料中でも先端の形状や傷の
状況に拘らず傷の定量化が容易に行える。
【図面の簡単な説明】
【図１】フェーズドアレイ法の原理を概念的に示す説明
図。
【図２】本発明の第１実施形態例に係る探傷装置により
探傷方法を実施している状態の概略図。
【図３】本発明の第２実施形態例に係る探傷装置により
探傷方法を実施している状態の概略図。
【図４】本発明の第３実施形態例に係る探傷装置により
探傷方法を実施している状態の概略図。
【符号の説明】
１１，２２，３２ フェーズドアレイ探触子 １２ 探触子 １３ 送信グループ １４ 受信グループ １５ 制御部 １６ 演算処理部 １８ 送信波 １９ 反射波 ２０，２１，３１ 欠陥
フロントページの続き (72)発明者 黒川 政秋 兵庫県高砂市荒井町新浜二丁目１番１号 三菱重工業株式会社高砂研究所内 Ｆターム(参考） 2G047 BA03 BB02 BC07 CA01 DB02 EA10 GB02 GB16 GF06 GF15 GF17

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 多数の探触子をアレイ状に配設してフェ
    ーズドアレイ探触子を形成し、多数の探触子を１個もし
    くは複数個づつに分けた探触子群を複数組形成し、各探
    触子群を順次切り換えて超音波を送出し、受信手段で超
    音波の反射波を受信すると共に、受信された反射波に対
    応する超音波を送出した探触子群を特定することで、傷
    の高さを評価することを特徴とするフェーズドアレイに
    よる探傷方法。
  2. 【請求項２】 請求項１において、受信手段は、フェー
    ズドアレイ探触子の一部もしくは全ての探触子が切り換
    えられて形成されることを特徴とするフェーズドアレイ
    による探傷方法。
  3. 【請求項３】 多数の探触子をアレイ状に配設してフェ
    ーズドアレイ探触子を形成し、多数の探触子を１個もし
    くは複数個づつに分けた探触子群を複数組形成し、送信
    手段から超音波を送出すると共に各探触子群を順次切り
    換えて超音波の反射波を受信し、反射波を受信した探触
    子群を特定することで傷の高さを評価することを特徴と
    するフェーズドアレイによる探傷方法。
  4. 【請求項４】 請求項３において、送信手段は、フェー
    ズドアレイ探触子の一部もしくは全ての探触子が切り換
    えらて形成されることを特徴とするフェーズドアレイに
    よる探傷方法。
  5. 【請求項５】 多数の探触子をアレイ状に配設してフェ
    ーズドアレイ探触子を形成し、多数の探触子を１個もし
    くは複数個づつに分けた探触子群を複数組形成し、探触
    子群を送信探触子グループと受信探触子グループとに分
    割し、送信探触子グループを順次切り換えて超音波を送
    出し、受信探触子グループを順次切り換えて受信モード
    とし、超音波を送出した送信探触子グループの探触子群
    と反射波を受信する受信探触子グループの探触子群とを
    対応させることで傷の高さを評価することを特徴とする
    フェーズドアレイによる探傷方法。
  6. 【請求項６】 多数の探触子をアレイ状に配設してフェ
    ーズドアレイ探触子を形成し、多数の探触子を１個もし
    くは複数個づつに分けた探触子群を複数組形成し、各探
    触子群を送信探触子グループと受信探触子グループとに
    分割し、送信探触子グループを順次切り換えて超音波を
    送出し、受信探触子グループを切り換えて受信モードと
    し、超音波を送出した送信探触子グループの探触子群と
    反射波を受信した受信探触子グループの探触子群とを特
    定することで傷の高さ及び状況を評価することを特徴と
    するフェーズドアレイによる探傷方法。
  7. 【請求項７】 請求項５もしくは請求項６において、送
    信探触子グループ及び受信探触子グループは、全ての探
    触子が切り換えられて交互に形成されることを特徴とす
    るフェーズドアレイによる探傷方法。
  8. 【請求項８】 多数の探触子をアレイ状に配設すると共
    に多数の探触子を１個もしくは複数個づつに分けて探触
    子群を複数組形成し各探触子群を順次切り換えて超音波
    を送出するフェーズドアレイ探触子と、超音波の反射波
    を受信する受信手段と、受信手段で受信された反射波に
    対応した超音波を送出したフェーズドアレイ探触子の探
    触子群を特定することで傷の高さを評価する制御手段と
    を備えたことを特徴とする探傷装置。
  9. 【請求項９】 多数の探触子をアレイ状に配設する共に
    多数の探触子を１個もしくは複数個づつに分けた探触子
    群を複数組形成し各探触子群を順次切り換えて超音波の
    反射波を受信するフェーズドアレイ探触子と、超音波を
    送出する送信手段と、反射波を受信したフェーズドアレ
    イ探触子の探触子群を特定することで傷の高さを評価す
    る制御手段とを備えたことを特徴とする探傷装置。
  10. 【請求項１０】 多数の探触子をアレイ状に配設すると
    共に多数の探触子を１個もしくは複数個づつに分けた探
    触子群を複数組形成する一方、探触子群を送信探触子グ
    ループと受信探触子グループとに分割し、送信探触子グ
    ループを順次切り換えて超音波を送出し、受信探触子グ
    ループを順次切り換えて受信モードとするフェーズドア
    レイ探触子と、超音波を送出した送信探触子グループの
    探触子群と反射波を受信する受信探触子グループの探触
    子群とを対応させることで傷の高さを評価する制御装置
    とを備えたことを特徴とする探傷装置。
  11. 【請求項１１】 多数の探触子をアレイ状に配設すると
    共に多数の探触子を１個もしくは複数個づつに分けた探
    触子群を複数組形成する一方、探触子群を送信探触子グ
    ループと受信探触子グループとに分割し、送信探触子グ
    ループを順次切り換えて超音波を送出し、受信探触子グ
    ループを順次切り換えて受信モードとするフェーズドア
    レイ探触子と、超音波を送出した送信探触子グループの
    探触子群と反射波を受信する受信探触子グループの探触
    子群とを特定することで傷の高さ及び状況を評価する制
    御装置とを備えたことを特徴とする探傷装置。
JP2001216305A 2001-07-17 2001-07-17 フェーズドアレイによる探傷方法及び探傷装置 Expired - Lifetime JP4452001B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001216305A JP4452001B2 (ja) 2001-07-17 2001-07-17 フェーズドアレイによる探傷方法及び探傷装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001216305A JP4452001B2 (ja) 2001-07-17 2001-07-17 フェーズドアレイによる探傷方法及び探傷装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003028845A true JP2003028845A (ja) 2003-01-29
JP4452001B2 JP4452001B2 (ja) 2010-04-21

Family

ID=19050800

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001216305A Expired - Lifetime JP4452001B2 (ja) 2001-07-17 2001-07-17 フェーズドアレイによる探傷方法及び探傷装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4452001B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004340809A (ja) * 2003-05-16 2004-12-02 Mitsubishi Heavy Ind Ltd フェーズドアレイプローブ及びそれを用いた超音波探傷装置
JP2006234701A (ja) * 2005-02-28 2006-09-07 Hitachi Ltd 超音波探傷装置及び超音波探傷装置方法
JP2012220402A (ja) * 2011-04-12 2012-11-12 Yokohama Rubber Co Ltd:The 音響材料の音響特性計測方法および音響材料の音響特性計測装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103604869B (zh) * 2013-11-25 2015-12-30 武汉大学 基于数值反演的无损检测模拟试块缺陷参数的识别方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004340809A (ja) * 2003-05-16 2004-12-02 Mitsubishi Heavy Ind Ltd フェーズドアレイプローブ及びそれを用いた超音波探傷装置
JP2006234701A (ja) * 2005-02-28 2006-09-07 Hitachi Ltd 超音波探傷装置及び超音波探傷装置方法
JP2012220402A (ja) * 2011-04-12 2012-11-12 Yokohama Rubber Co Ltd:The 音響材料の音響特性計測方法および音響材料の音響特性計測装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4452001B2 (ja) 2010-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
AU697833B2 (en) Ultrasonic inspection
JP5590249B2 (ja) 欠陥検出装置、欠陥検出方法、プログラム及び記憶媒体
JP2007078692A (ja) 単一指標の可変角度フェーズドアレイプローブ
JP7436835B2 (ja) 角形のビレットの検査装置及び検査方法、並びに、角形のビレットから鋼材を製造する方法
WO2015053014A1 (ja) 探触子、超音波探傷装置及び超音波探傷制御方法
JP2006234701A (ja) 超音波探傷装置及び超音波探傷装置方法
JP5574731B2 (ja) 超音波探傷試験方法
JP2009097942A (ja) 非接触式アレイ探触子とこれを用いた超音波探傷装置及び方法
JP2001305115A (ja) フェーズドアレイ式超音波探傷装置
JP2014077708A (ja) 検査装置および検査方法
US4604897A (en) Multitransducer ultrasonic probe with transducers of different sizes
JP6460136B2 (ja) 超音波探傷装置及び超音波探傷方法
WO2019111381A1 (ja) 超音波探傷装置
JP2002062281A (ja) 欠陥深さ測定方法および装置
JP2019078558A (ja) 対比試験片及び超音波フェーズドアレイ探傷試験方法
WO2020250379A1 (ja) 超音波探傷方法、超音波探傷装置、鋼材の製造設備列、鋼材の製造方法、及び鋼材の品質保証方法
JP2003028845A (ja) フェーズドアレイによる探傷方法及び探傷装置
RU2592044C1 (ru) Способ ультразвуковых измерений и ультразвуковое измерительное устройство
JP2011122827A (ja) アレイ探触子の測定方法及びその測定装置
KR870001259B1 (ko) 전자주사를 이용하는 각 강편의 검사방법
JPH07244028A (ja) 球状被検体の超音波探傷装置およびその方法
JPH11316215A (ja) 超音波探傷装置及び超音波探傷方法
JP2002228640A (ja) フェーズドアレイによる探傷方法及び探傷装置
Demčenko et al. Interaction of the A0 lamb wave mode with a de-lamination type defect in GLARE3-3/2 composite material
JP2001050941A (ja) 可変角超音波探触子及び可変角超音波探傷装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071107

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090701

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090707

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090907

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091006

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091202

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100105

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100129

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4452001

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130205

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140205

Year of fee payment: 4

EXPY Cancellation because of completion of term