JP2003021658A - 電子部品の電気特性検査装置 - Google Patents
電子部品の電気特性検査装置Info
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- JP2003021658A JP2003021658A JP2001205948A JP2001205948A JP2003021658A JP 2003021658 A JP2003021658 A JP 2003021658A JP 2001205948 A JP2001205948 A JP 2001205948A JP 2001205948 A JP2001205948 A JP 2001205948A JP 2003021658 A JP2003021658 A JP 2003021658A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 搬送時の位置ずれ,チップ部品の寸法誤差あ
るいは電極ピッチ,電極幅のばらつきが生じた場合にも
測定端子を確実に電極に接触させることができる電子部
品の電気検査測定装置を提供する。 【解決手段】 特性測定位置Bに配置され、電気的絶縁
状態で対向する一対の測定端子15,15を、上記特性
測定位置Bに搬送された電子部品20の電極22,23
に当接させることにより電気的特性を測定するようにし
た電子部品の電気特性検査装置において、上記各測定端
子15の当接面15aを、上記電子部品20の電極2
2,23の長辺Y1又は短辺X1と斜めに交差するよう
に傾斜させて配置する。
るいは電極ピッチ,電極幅のばらつきが生じた場合にも
測定端子を確実に電極に接触させることができる電子部
品の電気検査測定装置を提供する。 【解決手段】 特性測定位置Bに配置され、電気的絶縁
状態で対向する一対の測定端子15,15を、上記特性
測定位置Bに搬送された電子部品20の電極22,23
に当接させることにより電気的特性を測定するようにし
た電子部品の電気特性検査装置において、上記各測定端
子15の当接面15aを、上記電子部品20の電極2
2,23の長辺Y1又は短辺X1と斜めに交差するよう
に傾斜させて配置する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばチップ型の
電子部品(以下チップ部品と略記する)の電極に測定端
子を接触させることにより電気的特性を測定するように
した電気特性検査装置に関する。
電子部品(以下チップ部品と略記する)の電極に測定端
子を接触させることにより電気的特性を測定するように
した電気特性検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】チップ部品の電気的特性を測定して良品
を選別するようにした電気特性検査装置として、図15
に示すように、固定ベース50上に円板状の搬送ロータ
51を回転可能に配置し、該搬送ロータ51の外周部に
チップ部品52が収納される収納凹部51aを周方向に
所定間隔あけて形成した概略構造のものがある。
を選別するようにした電気特性検査装置として、図15
に示すように、固定ベース50上に円板状の搬送ロータ
51を回転可能に配置し、該搬送ロータ51の外周部に
チップ部品52が収納される収納凹部51aを周方向に
所定間隔あけて形成した概略構造のものがある。
【0003】この電気特性検査装置では、搬送ロータ5
1を回転させつつ各収納凹部51aにチップ部品52を
順次供給し、該チップ部品52を特性測定位置Sに搬送
する。この特性測定位置Sには固定テーブル50の上
方,下方にそれぞれ測定端子が昇降可能に配設されてい
る。そして上記チップ部品52が検査位置Sに搬送され
ると測定端子が移動してチップ部品52の電極53,5
4に接触し、該チップ部品52の電気的特性を測定す
る。
1を回転させつつ各収納凹部51aにチップ部品52を
順次供給し、該チップ部品52を特性測定位置Sに搬送
する。この特性測定位置Sには固定テーブル50の上
方,下方にそれぞれ測定端子が昇降可能に配設されてい
る。そして上記チップ部品52が検査位置Sに搬送され
ると測定端子が移動してチップ部品52の電極53,5
4に接触し、該チップ部品52の電気的特性を測定す
る。
【0004】上記測定端子は、従来、図11に示すよう
に、チップ部品52の一方の上,下電極53,53´に
それぞれ対向するように配設された上下一対の帯板状端
子57と、他方の上,下電極54,54´にそれぞれ対
向するように配設された上下一対の帯板状端子58で構
成されている。そしてこれらの測定端子57,58は、
その長辺部57a,58aがチップ部品52のX軸方向
辺(長辺部)52aと平行となるように配置した構造の
もの、あるいは図13に示すように、各端子57,58
を長辺部57a,58aがチップ部品52のY軸方向辺
(短辺部)52bと平行となるように配置した構造のも
のが一般的である。
に、チップ部品52の一方の上,下電極53,53´に
それぞれ対向するように配設された上下一対の帯板状端
子57と、他方の上,下電極54,54´にそれぞれ対
向するように配設された上下一対の帯板状端子58で構
成されている。そしてこれらの測定端子57,58は、
その長辺部57a,58aがチップ部品52のX軸方向
辺(長辺部)52aと平行となるように配置した構造の
もの、あるいは図13に示すように、各端子57,58
を長辺部57a,58aがチップ部品52のY軸方向辺
(短辺部)52bと平行となるように配置した構造のも
のが一般的である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の各板状端子57,58の長辺部57a,58aをチ
ップ部品52の長辺部52aと平行に向けて配置した構
造では、図12に示すように、チップ部品52の短辺部
52bの寸法Wのばらつきや特性測定位置Sに対する搬
送時の位置ずれS1が生じた場合、一方側の測定端子5
7´,58´が電極53,54から外れたり,接触不良
を起こしたりするおそれがあり、測定精度に対する信頼
性が低いという問題がある。
来の各板状端子57,58の長辺部57a,58aをチ
ップ部品52の長辺部52aと平行に向けて配置した構
造では、図12に示すように、チップ部品52の短辺部
52bの寸法Wのばらつきや特性測定位置Sに対する搬
送時の位置ずれS1が生じた場合、一方側の測定端子5
7´,58´が電極53,54から外れたり,接触不良
を起こしたりするおそれがあり、測定精度に対する信頼
性が低いという問題がある。
【0006】このような電子部品と測定端子との間に位
置ズレが生じると、測定端子が電子部品の測定面(上
面)の端縁上に沿って当接してしまうことがある。この
端縁を覆うように電極が形成されている電子部品の場
合、測定端子が電子部品の端縁上に形成された電極の一
部を削り、傷をつけてしまうという問題がある。
置ズレが生じると、測定端子が電子部品の測定面(上
面)の端縁上に沿って当接してしまうことがある。この
端縁を覆うように電極が形成されている電子部品の場
合、測定端子が電子部品の端縁上に形成された電極の一
部を削り、傷をつけてしまうという問題がある。
【0007】一方、従来の各板状端子57,58の長辺
部57a,58aを短辺部52bと平行に向けて配置し
た構造を採用すると、図14に示すように、両電極5
3,54の電極ピッチpや電極幅wにばらつきが生じた
場合、測定端子58´が電極54から外れてしまうおそ
れがあり、上記同様に測定精度に対する信頼性が低いと
いう問題がある。
部57a,58aを短辺部52bと平行に向けて配置し
た構造を採用すると、図14に示すように、両電極5
3,54の電極ピッチpや電極幅wにばらつきが生じた
場合、測定端子58´が電極54から外れてしまうおそ
れがあり、上記同様に測定精度に対する信頼性が低いと
いう問題がある。
【0008】本発明は上記従来の状況に鑑みてなされた
もので、搬送時の位置ずれ,チップ部品の寸法誤差ある
いは電極ピッチ,電極幅のばらつきが生じた場合にも測
定端子を確実に電極に接触させることができ、測定精度
に対する信頼性を向上できる電子部品の電気検査測定装
置を提供することを目的としている。
もので、搬送時の位置ずれ,チップ部品の寸法誤差ある
いは電極ピッチ,電極幅のばらつきが生じた場合にも測
定端子を確実に電極に接触させることができ、測定精度
に対する信頼性を向上できる電子部品の電気検査測定装
置を提供することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、長辺
を有する当接面を備えた上下一対の測定端子を特性測定
位置に対向配置し、該各測定端子の当接面を、上記特性
測定位置に搬送された電子部品の長辺を有する電極に当
接させることにより電気的特性を測定するようにした電
子部品の電気特性検査装置において、上記測定端子を上
記当接面の長辺が上記電子部品の電極の長辺と斜めに交
差するよう傾斜させて配置したことを特徴としている。
を有する当接面を備えた上下一対の測定端子を特性測定
位置に対向配置し、該各測定端子の当接面を、上記特性
測定位置に搬送された電子部品の長辺を有する電極に当
接させることにより電気的特性を測定するようにした電
子部品の電気特性検査装置において、上記測定端子を上
記当接面の長辺が上記電子部品の電極の長辺と斜めに交
差するよう傾斜させて配置したことを特徴としている。
【0010】請求項2の発明は、請求項1において、上
記測定端子が、上記電子部品の特性測定位置への搬送誤
差及び該搬送方向における電子部品の寸法誤差を吸収す
る方向に傾斜していることを特徴としている。
記測定端子が、上記電子部品の特性測定位置への搬送誤
差及び該搬送方向における電子部品の寸法誤差を吸収す
る方向に傾斜していることを特徴としている。
【0011】請求項3の発明は、請求項1において、上
記測定端子が、上記電子部品の搬送方向と直交する方向
における電極の外形寸法の誤差及び電極ピッチの誤差を
吸収する方向に傾斜していることを特徴としている。
記測定端子が、上記電子部品の搬送方向と直交する方向
における電極の外形寸法の誤差及び電極ピッチの誤差を
吸収する方向に傾斜していることを特徴としている。
【0012】請求項4の発明は、請求項1ないし3の何
れかにおいて、上記測定端子の当接面の長辺と上記電子
部品の電極の長辺とが30〜60度をなしていることを
特徴としている。
れかにおいて、上記測定端子の当接面の長辺と上記電子
部品の電極の長辺とが30〜60度をなしていることを
特徴としている。
【0013】請求項5の発明は、請求項1ないし4の何
れかにおいて、上記測定端子が電気的に独立した2箇所
の当接面及び電気的に独立した2本の導電経路を有する
ことを特徴としている。
れかにおいて、上記測定端子が電気的に独立した2箇所
の当接面及び電気的に独立した2本の導電経路を有する
ことを特徴としている。
【0014】請求項6の発明は、請求項5において、横
断面形状が略半円形状をなす棒体で、かつ該半円形状の
平坦面部分に絶縁処理が施された2本の測定端子を上記
平坦面同士を対向させて配置することにより略円柱状の
端子ユニットを形成し、該端子ユニットをガイド部材に
形成されたガイド孔により軸方向に移動可能にかつ軸直
角方向に移動不能に支持したことを特徴としている。
断面形状が略半円形状をなす棒体で、かつ該半円形状の
平坦面部分に絶縁処理が施された2本の測定端子を上記
平坦面同士を対向させて配置することにより略円柱状の
端子ユニットを形成し、該端子ユニットをガイド部材に
形成されたガイド孔により軸方向に移動可能にかつ軸直
角方向に移動不能に支持したことを特徴としている。
【0015】請求項7の発明は、請求項6において、上
記各測定端子の電極への当接面はナイフエッジ形状をな
すように形成されていることを特徴としている。
記各測定端子の電極への当接面はナイフエッジ形状をな
すように形成されていることを特徴としている。
【0016】請求項8の発明は、請求項6又は7におい
て、上記端子ユニットが2本組で1つの端子ブロックに
取付けられており、該端子ブロックはそれぞれ上記特性
測定位置にて電子部品を挟んで対向するように、かつ該
電子部品の電極に当接する測定位置と待機位置との間で
昇降可能に支持されていることを特徴としている。
て、上記端子ユニットが2本組で1つの端子ブロックに
取付けられており、該端子ブロックはそれぞれ上記特性
測定位置にて電子部品を挟んで対向するように、かつ該
電子部品の電極に当接する測定位置と待機位置との間で
昇降可能に支持されていることを特徴としている。
【0017】
【発明の作用効果】請求項1の発明にかかる電気特性検
査装置によれば、測定端子をこれの当接面の長辺が電子
部品の電極の長辺と斜めに交差するように傾斜させて配
置したので、特性測定位置から電極がずれた場合にも、
測定端子の当接面を確実に電極に接触させることができ
る。特に、上述の部品素子の端縁を覆うように電極が形
成されている電子部品の場合に、電極の一部を削り、傷
をつけてしまうという問題を解消でき、測定端子を確実
に電子部品の測定面(上面)に当接させることができ、
上記のような不具合が生じることはない。これにより接
触ミスを防止でき、測定精度に対する信頼性を向上でき
る。
査装置によれば、測定端子をこれの当接面の長辺が電子
部品の電極の長辺と斜めに交差するように傾斜させて配
置したので、特性測定位置から電極がずれた場合にも、
測定端子の当接面を確実に電極に接触させることができ
る。特に、上述の部品素子の端縁を覆うように電極が形
成されている電子部品の場合に、電極の一部を削り、傷
をつけてしまうという問題を解消でき、測定端子を確実
に電子部品の測定面(上面)に当接させることができ、
上記のような不具合が生じることはない。これにより接
触ミスを防止でき、測定精度に対する信頼性を向上でき
る。
【0018】請求項2の発明では、測定端子を特性測定
位置に対する電子部品の搬送誤差及び電子部品の寸法誤
差を吸収する方向に傾斜させたので、搬送時の位置ずれ
や電子部品の寸法誤差が生じた場合にも測定端子を確実
に電極に接触させることができ、測定精度に対する信頼
性を向上できる。
位置に対する電子部品の搬送誤差及び電子部品の寸法誤
差を吸収する方向に傾斜させたので、搬送時の位置ずれ
や電子部品の寸法誤差が生じた場合にも測定端子を確実
に電極に接触させることができ、測定精度に対する信頼
性を向上できる。
【0019】請求項3の発明では、測定端子を電極の外
形寸法の誤差及び電極ピッチの誤差を吸収する方向に傾
斜させたので、電極幅や電極ピッチのばらつきが生じた
場合にも測定端子を確実に電極に接触させることがで、
上記同様に測定精度に対する信頼性を向上できる。
形寸法の誤差及び電極ピッチの誤差を吸収する方向に傾
斜させたので、電極幅や電極ピッチのばらつきが生じた
場合にも測定端子を確実に電極に接触させることがで、
上記同様に測定精度に対する信頼性を向上できる。
【0020】請求項4の発明では、測定端子の当接面の
長辺と電極の長辺との交差角度を30〜60度としたの
で、搬送時の位置ずれ,チップ部品の寸法誤差あるいは
電極ピッチ,電極幅のばらつきが生じた場合にも測定端
子を確実に電極に接触させることができ、安定した測定
精度を得ることができる。
長辺と電極の長辺との交差角度を30〜60度としたの
で、搬送時の位置ずれ,チップ部品の寸法誤差あるいは
電極ピッチ,電極幅のばらつきが生じた場合にも測定端
子を確実に電極に接触させることができ、安定した測定
精度を得ることができる。
【0021】請求項5の発明では、上記測定端子を電気
的に独立した2箇所の当接面及び2本の導電経路を有す
るものとしたので、測定端子を電子部品の電極に確実に
当接させることができる。即ち、正確な測定を行うため
には、一対の電極にそれぞれ2つの測定端子を確実に当
接させる必要のある4端子測定の場合、測定端子と電子
部品との僅かな位置ズレで、測定端子のいずれかが電極
に当接できない不具合が生じる。本発明は、測定端子と
電子部品との間に位置ズレが生じたとしても、測定端子
を電子部品の上下電極面に確実に当接させることができ
るため、このような4端子測定に特に有効である。
的に独立した2箇所の当接面及び2本の導電経路を有す
るものとしたので、測定端子を電子部品の電極に確実に
当接させることができる。即ち、正確な測定を行うため
には、一対の電極にそれぞれ2つの測定端子を確実に当
接させる必要のある4端子測定の場合、測定端子と電子
部品との僅かな位置ズレで、測定端子のいずれかが電極
に当接できない不具合が生じる。本発明は、測定端子と
電子部品との間に位置ズレが生じたとしても、測定端子
を電子部品の上下電極面に確実に当接させることができ
るため、このような4端子測定に特に有効である。
【0022】請求項6の発明では、横断面半円形状の測
定端子の平坦面同士を電気的絶縁状態で対向させること
により円柱状の端子ユニットを形成し、該端子ユニット
をガイド部材のガイド孔により軸方向に移動可能にかつ
軸直角方向に移動不能に支持したので、2本の測定端子
を組み合わせて端子ユニットを形成する場合の両者の合
わせ精度を確保でき、しかも電極面積が極めて小さい場
合にも2本の測定端子を電極に確実に接触させることが
でき、4端子測定を行なう場合の測定精度をさらに向上
できる。
定端子の平坦面同士を電気的絶縁状態で対向させること
により円柱状の端子ユニットを形成し、該端子ユニット
をガイド部材のガイド孔により軸方向に移動可能にかつ
軸直角方向に移動不能に支持したので、2本の測定端子
を組み合わせて端子ユニットを形成する場合の両者の合
わせ精度を確保でき、しかも電極面積が極めて小さい場
合にも2本の測定端子を電極に確実に接触させることが
でき、4端子測定を行なう場合の測定精度をさらに向上
できる。
【0023】請求項7の発明では、測定端子の電極当接
面をナイフエッジ形状としたので、電極との電気的接触
を良好に行なうことができるとともに、電極ずれの許容
範囲を広げることが可能となる。
面をナイフエッジ形状としたので、電極との電気的接触
を良好に行なうことができるとともに、電極ずれの許容
範囲を広げることが可能となる。
【0024】請求項8の発明では、2本の端子ユニット
を1つの端子ブロックに取付け、該端子ブロックを測定
位置と待機位置との間で昇降可能に支持したので、複数
の電極を有する電子部品を測定する場合の端子ユニット
間の位置精度を確保することができるとともに、装置全
体をコンパクトにできる。
を1つの端子ブロックに取付け、該端子ブロックを測定
位置と待機位置との間で昇降可能に支持したので、複数
の電極を有する電子部品を測定する場合の端子ユニット
間の位置精度を確保することができるとともに、装置全
体をコンパクトにできる。
【0025】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて説明する。
図面に基づいて説明する。
【0026】図1ないし図8は、本発明の一実施形態に
よる電子部品の電気特性検査装置を説明するための図で
あり、図1は電気特性検査装置の全体斜視図、図2は電
気特性検査装置の特性測定部の概略斜視図、図3は端子
ブロックの分解斜視図、図4は端子ユニットの斜視図、
図5は端子ブロックの断面図、図6は測定端子の平面
図、図7は測定端子の斜視図、図8(a)(b)は測定
端子の先端部を示す図である。
よる電子部品の電気特性検査装置を説明するための図で
あり、図1は電気特性検査装置の全体斜視図、図2は電
気特性検査装置の特性測定部の概略斜視図、図3は端子
ブロックの分解斜視図、図4は端子ユニットの斜視図、
図5は端子ブロックの断面図、図6は測定端子の平面
図、図7は測定端子の斜視図、図8(a)(b)は測定
端子の先端部を示す図である。
【0027】図1において、1は電気特性検査装置を示
しており、これはチップ部品20の電気的特性を測定検
査して良品の選別を自動的に連続して行なうものであ
り、主として部品供給部2,特性測定部3,測定表示部
4及び部品回収部5を備えている。
しており、これはチップ部品20の電気的特性を測定検
査して良品の選別を自動的に連続して行なうものであ
り、主として部品供給部2,特性測定部3,測定表示部
4及び部品回収部5を備えている。
【0028】上記チップ部品20は直方体状のセラミッ
ク素子21のX軸方向両端部に該素子21を挟んで対向
するように外部電極22,23を形成した構造のもので
ある。なお、上記各外部電極22,23はセラミック素
子21のY軸方向両端に渡って形成され、長方形状をな
している。また上記チップ部品20はX軸方向辺が長辺
部20aに、Y軸方向辺が短辺部20bになっている。
ク素子21のX軸方向両端部に該素子21を挟んで対向
するように外部電極22,23を形成した構造のもので
ある。なお、上記各外部電極22,23はセラミック素
子21のY軸方向両端に渡って形成され、長方形状をな
している。また上記チップ部品20はX軸方向辺が長辺
部20aに、Y軸方向辺が短辺部20bになっている。
【0029】上記部品供給部2は多数のチップ部品20
が収納された収納ホッパ2aと該収納ホッパ2a内のチ
ップ部品20を取り出して上記特性測定部3に順次供給
する供給部2bとを備えており、該特性測定部3にて測
定検査したチップ部品20を上記部品回収部5で回収す
るようになっている。
が収納された収納ホッパ2aと該収納ホッパ2a内のチ
ップ部品20を取り出して上記特性測定部3に順次供給
する供給部2bとを備えており、該特性測定部3にて測
定検査したチップ部品20を上記部品回収部5で回収す
るようになっている。
【0030】上記特性測定部3は、架台6上に固定され
た固定ベース7の上面に歯車状の搬送ロータ8を回転可
能に配置し、該搬送ロータ8を不図示の駆動モータによ
り部品供給位置A,特性測定位置B,部品回収位置C等
を通るよう回転駆動するように構成されている。
た固定ベース7の上面に歯車状の搬送ロータ8を回転可
能に配置し、該搬送ロータ8を不図示の駆動モータによ
り部品供給位置A,特性測定位置B,部品回収位置C等
を通るよう回転駆動するように構成されている。
【0031】上記搬送ロータ8の外周部には収納凹部8
aが回転中心側にへこむように形成されており、また各
収納凹部8a,8a間には周方向に所定の間隔が設けら
れている。この収納凹部8a内にチップ部品20がこれ
のX軸方向辺(長辺部)20aを半径方向に向け、Y軸
方向辺(短辺部)20bを搬送方向に向けて収納されて
いる。
aが回転中心側にへこむように形成されており、また各
収納凹部8a,8a間には周方向に所定の間隔が設けら
れている。この収納凹部8a内にチップ部品20がこれ
のX軸方向辺(長辺部)20aを半径方向に向け、Y軸
方向辺(短辺部)20bを搬送方向に向けて収納されて
いる。
【0032】上記固定ベース7の特性測定位置Bには端
子機器10が配設されている。この端子機器10は、上
記特性測定位置Bにてチップ部品20を挟んで対向する
ように配設された箱状の上側,下側端子ブロック11,
12と、該各端子ブロック11,12に配設された2組
の端子ユニット13とを備えている。なお、上側、下側
端子ブロック11,12は同様の構造であり、また上記
各端子ユニット13,13は同様の構造となっている。
子機器10が配設されている。この端子機器10は、上
記特性測定位置Bにてチップ部品20を挟んで対向する
ように配設された箱状の上側,下側端子ブロック11,
12と、該各端子ブロック11,12に配設された2組
の端子ユニット13とを備えている。なお、上側、下側
端子ブロック11,12は同様の構造であり、また上記
各端子ユニット13,13は同様の構造となっている。
【0033】上記上側,下側端子ブロック11,12は
不図示の昇降駆動機構によりチップ部品20の電気的特
性を測定する測定位置と該チップ部品20から離れて待
機する待機位置との間で昇降可能に支持されている。ま
た各端子ブロック11,12には挿入孔11a,12a
が形成されており、この各挿入孔11a,12a内に上
記端子ユニット13が進退可能に挿入されている。
不図示の昇降駆動機構によりチップ部品20の電気的特
性を測定する測定位置と該チップ部品20から離れて待
機する待機位置との間で昇降可能に支持されている。ま
た各端子ブロック11,12には挿入孔11a,12a
が形成されており、この各挿入孔11a,12a内に上
記端子ユニット13が進退可能に挿入されている。
【0034】上記各端子ユニット13は、一対の測定端
子15,15を電気的絶縁状態で対向配置した構造であ
り、詳細には以下の構造となっている。
子15,15を電気的絶縁状態で対向配置した構造であ
り、詳細には以下の構造となっている。
【0035】上記各測定端子15は直方体状の端子部材
16の一主面のコーナ部に溶接により接合されており、
また該端子部材16の他主面には上記測定端子15の反
対側に延びる支持棒17が接続固定されており、またこ
の支持棒17にはコイルスプリング18が装着されてい
る。
16の一主面のコーナ部に溶接により接合されており、
また該端子部材16の他主面には上記測定端子15の反
対側に延びる支持棒17が接続固定されており、またこ
の支持棒17にはコイルスプリング18が装着されてい
る。
【0036】そして上記端子ユニット13は端子ブロッ
ク12の挿入孔12a内に上記端子部材16が位置する
よう、かつ進退可能に挿入されており、上記コイルスプ
リング18により測定端子15は突出方向に付勢されて
いる。またこの各測定端子15は配線により計測器26
に接続されている。
ク12の挿入孔12a内に上記端子部材16が位置する
よう、かつ進退可能に挿入されており、上記コイルスプ
リング18により測定端子15は突出方向に付勢されて
いる。またこの各測定端子15は配線により計測器26
に接続されている。
【0037】上記端子ブロック12には平板状のガイド
部材25が配置固定されている。このガイド部材25に
はガイド孔25aが形成されており、該ガイド孔25a
内に上記端子ユニット13の測定端子15が軸方向に摺
動可能にかつ軸直角方向に移動不能に挿入されている。
部材25が配置固定されている。このガイド部材25に
はガイド孔25aが形成されており、該ガイド孔25a
内に上記端子ユニット13の測定端子15が軸方向に摺
動可能にかつ軸直角方向に移動不能に挿入されている。
【0038】上記各測定端子15は電気的導電性に優れ
た超硬材からなる横断面半円形状の棒体であり、該半円
形の中心を通る平坦面15bには絶縁膜15cがコーテ
ィングされている。なお上記端子部材16,16の対向
面にも絶縁膜(不図示)がコーティングされている。
た超硬材からなる横断面半円形状の棒体であり、該半円
形の中心を通る平坦面15bには絶縁膜15cがコーテ
ィングされている。なお上記端子部材16,16の対向
面にも絶縁膜(不図示)がコーティングされている。
【0039】また上記各測定端子15の先端面にはナイ
フエッジ状の当接面15aが円弧側を削ることにより上
記平坦面15bに続くように形成されている。この当接
面15aは幅0.05mm×長さ4mm程度の長方形状
のもので、外部電極22,23の長辺と略同じ長さとな
っている。
フエッジ状の当接面15aが円弧側を削ることにより上
記平坦面15bに続くように形成されている。この当接
面15aは幅0.05mm×長さ4mm程度の長方形状
のもので、外部電極22,23の長辺と略同じ長さとな
っている。
【0040】そして、図6に示すように、上記端子ユニ
ット13の各測定端子15はこれの当接面15aが上記
外部電極22,23の長辺Y1又は短辺X1と斜めに交
差するよう傾斜させて配置されている。この測定端子1
5の傾斜角度θは30〜60度の範囲となっており、具
体的には45度に設定されている。
ット13の各測定端子15はこれの当接面15aが上記
外部電極22,23の長辺Y1又は短辺X1と斜めに交
差するよう傾斜させて配置されている。この測定端子1
5の傾斜角度θは30〜60度の範囲となっており、具
体的には45度に設定されている。
【0041】このようにして上記各測定端子15は、チ
ップ部品20の特性測定位置Bへの搬送誤差及び該搬送
方向におけるチップ部品20の寸法誤差を吸収する方向
に傾斜しており、また上記チップ部品20の搬送方向と
直交する方向における電極の外形寸法の誤差及び電極ピ
ッチの誤差を吸収する方向に傾斜している。
ップ部品20の特性測定位置Bへの搬送誤差及び該搬送
方向におけるチップ部品20の寸法誤差を吸収する方向
に傾斜しており、また上記チップ部品20の搬送方向と
直交する方向における電極の外形寸法の誤差及び電極ピ
ッチの誤差を吸収する方向に傾斜している。
【0042】上記電気特性検査装置1を用いてチップ部
品20の電気的特性を測定して良品を選別するには、部
品供給位置Aにてチップ部品20を搬送ロータ8の各収
納凹部8aに順次供給し、該チップ部品20を特性測定
位置Bに搬送する。すると上側端子ブロック11が下降
するとともに、下側端子ブロック12が上昇し、各測定
端子15の当接面15aがそれぞれ外部電極22,23
に当接する。この状態で電気的特性,検査等が行われ、
しかる後部品回収位置Cに搬送され、部品回収部5にて
回収される。
品20の電気的特性を測定して良品を選別するには、部
品供給位置Aにてチップ部品20を搬送ロータ8の各収
納凹部8aに順次供給し、該チップ部品20を特性測定
位置Bに搬送する。すると上側端子ブロック11が下降
するとともに、下側端子ブロック12が上昇し、各測定
端子15の当接面15aがそれぞれ外部電極22,23
に当接する。この状態で電気的特性,検査等が行われ、
しかる後部品回収位置Cに搬送され、部品回収部5にて
回収される。
【0043】この場合、チップ部品20の搬送時の搬送
誤差,及び外形寸法の誤差あるいは電極ピッチ,電極幅
の誤差が生じた場合には、従来では測定端子が電極から
外れて接触ミスを起こすおそれがあった。これに対し
て、本実施形態では、各測定端子15は搬送誤差,外形
寸法誤差及び電極のばらつきを吸収する方向に傾斜して
延びており、各測定端子15は外部電極22,23に確
実に接触することとなる。
誤差,及び外形寸法の誤差あるいは電極ピッチ,電極幅
の誤差が生じた場合には、従来では測定端子が電極から
外れて接触ミスを起こすおそれがあった。これに対し
て、本実施形態では、各測定端子15は搬送誤差,外形
寸法誤差及び電極のばらつきを吸収する方向に傾斜して
延びており、各測定端子15は外部電極22,23に確
実に接触することとなる。
【0044】ここで、図9は、測定端子15の傾斜角度
を45度とした場合の、特性測定位置に対する外部電極
のずれと測定端子との位置関係を模式的に示している。
これはセラミック素子の長辺部20a寸法が1250±
50μmで、短辺部20b寸法が500±50μmで、
また電極幅(短辺部)が350±100μmの場合であ
る(図9(a)参照)。ちなみに、この種のチップ部品
の素子寸法,電極寸法,電極ピッチは±50μm程度の
誤差が許容範囲となっている。また特性測定位置への搬
送時の搬送誤差は±70μmが許容範囲となっている。
を45度とした場合の、特性測定位置に対する外部電極
のずれと測定端子との位置関係を模式的に示している。
これはセラミック素子の長辺部20a寸法が1250±
50μmで、短辺部20b寸法が500±50μmで、
また電極幅(短辺部)が350±100μmの場合であ
る(図9(a)参照)。ちなみに、この種のチップ部品
の素子寸法,電極寸法,電極ピッチは±50μm程度の
誤差が許容範囲となっている。また特性測定位置への搬
送時の搬送誤差は±70μmが許容範囲となっている。
【0045】例えば、特性測定位置Bに対してチップ部
品20が70μmほど位置ずれした場合にも、測定端子
15はその当接面15aの略全面が外部電極22,23
に当接している(図9(b)参照)。また特性測定位置
Bに対してチップ部品20が許容範囲を越える95μm
ほど位置ずれし、かつ幅寸法が50μm小さい場合に
は、一方の測定端子の当接面15a´の一部が電極2
2,23から若干外れるものの、電気的接触は確実に確
保できている(図9(c)参照)。
品20が70μmほど位置ずれした場合にも、測定端子
15はその当接面15aの略全面が外部電極22,23
に当接している(図9(b)参照)。また特性測定位置
Bに対してチップ部品20が許容範囲を越える95μm
ほど位置ずれし、かつ幅寸法が50μm小さい場合に
は、一方の測定端子の当接面15a´の一部が電極2
2,23から若干外れるものの、電気的接触は確実に確
保できている(図9(c)参照)。
【0046】一方、チップ部品20の電極幅が250μ
mと小さく形成され、電極ピッチに100μmのばらつ
きが生じた場合には、一方の測定端子15´の当接面1
5a´の略半分ほどが電極23から外れるものの、電気
的接触は確実に得られている(図9(d)参照)。
mと小さく形成され、電極ピッチに100μmのばらつ
きが生じた場合には、一方の測定端子15´の当接面1
5a´の略半分ほどが電極23から外れるものの、電気
的接触は確実に得られている(図9(d)参照)。
【0047】さらにチップ部品20の電極幅が250μ
mと小さく形成され、電極ピッチに100μmのばらつ
きが生じ、しかもチップ部品20の幅寸法が50μm小
さく形成された場合で、かつ特性測定位置Bに対してチ
ップ部品20が許容範囲を越える95μmほど位置ずれ
した場合には、従来は電極から外れるおそれがあったが
本実施形態では、一方の測定端子15´の当接面15´
の略半分が電極22,23が外れるものの、電気的接触
は確保できている(図9(e)参照)。
mと小さく形成され、電極ピッチに100μmのばらつ
きが生じ、しかもチップ部品20の幅寸法が50μm小
さく形成された場合で、かつ特性測定位置Bに対してチ
ップ部品20が許容範囲を越える95μmほど位置ずれ
した場合には、従来は電極から外れるおそれがあったが
本実施形態では、一方の測定端子15´の当接面15´
の略半分が電極22,23が外れるものの、電気的接触
は確保できている(図9(e)参照)。
【0048】図10(a)〜図10(e)は、それぞれ
は測定端子の傾斜角度を30度とした場合の、特性測定
位置に対する外部電極のずれと測定端子との関係を模式
的に示す図である。この場合においても上記同様に測定
端子15が電極22,23から外れることはなく、電気
的接触は確保できている。
は測定端子の傾斜角度を30度とした場合の、特性測定
位置に対する外部電極のずれと測定端子との関係を模式
的に示す図である。この場合においても上記同様に測定
端子15が電極22,23から外れることはなく、電気
的接触は確保できている。
【0049】このように本実施形態によれば、端子ユニ
ット13の各測定端子15を、これの当接面15aがチ
ップ部品20の外部電極22,23の長辺Y1又は短辺
X1と斜めに交差するように傾斜させて配置したので、
具体的には、上記測定端子15の傾斜角度θを30〜6
0度としたので、特性測定位置Bに対するチップ部品2
0の搬送誤差及びチップ部品20の寸法誤差を吸収する
ことができるとともに、外部電極22,23の外形寸法
の誤差及び電極ピッチの誤差を吸収することができ、特
性測定位置Bから外部電極22,23がずれた場合に
も、測定端子15の当接面15aを確実に外部電極2
2,23に接触させることができる。これにより接触ミ
スを防止でき、測定精度に対する信頼性を向上できる。
ット13の各測定端子15を、これの当接面15aがチ
ップ部品20の外部電極22,23の長辺Y1又は短辺
X1と斜めに交差するように傾斜させて配置したので、
具体的には、上記測定端子15の傾斜角度θを30〜6
0度としたので、特性測定位置Bに対するチップ部品2
0の搬送誤差及びチップ部品20の寸法誤差を吸収する
ことができるとともに、外部電極22,23の外形寸法
の誤差及び電極ピッチの誤差を吸収することができ、特
性測定位置Bから外部電極22,23がずれた場合に
も、測定端子15の当接面15aを確実に外部電極2
2,23に接触させることができる。これにより接触ミ
スを防止でき、測定精度に対する信頼性を向上できる。
【0050】本実施形態では、横断面半円形状に形成し
た一対の測定端子15の平坦面15b同士を絶縁膜16
を介在させて対向させることにより円柱状の端子ユニッ
ト13を形成し、該端子ユニット13をガイド部材25
のガイド孔25aにより軸方向に可能可能にかつ軸直角
方向に移動不能に支持したので、2本の測定端子15を
組み合わせて端子ユニット13を形成する場合の両者1
5,15の合わせ精度を確保でき、しかも電極面積が極
めて小さい場合にも各測定端子15を確実に接触させる
ことができ、測定精度をさらに向上できる。
た一対の測定端子15の平坦面15b同士を絶縁膜16
を介在させて対向させることにより円柱状の端子ユニッ
ト13を形成し、該端子ユニット13をガイド部材25
のガイド孔25aにより軸方向に可能可能にかつ軸直角
方向に移動不能に支持したので、2本の測定端子15を
組み合わせて端子ユニット13を形成する場合の両者1
5,15の合わせ精度を確保でき、しかも電極面積が極
めて小さい場合にも各測定端子15を確実に接触させる
ことができ、測定精度をさらに向上できる。
【0051】上記測定端子15の当接面15aをナイフ
エッジ形状としたので、外部電極22,23との電気的
接触を良好に行なうことができるとともに、電極ずれの
許容範囲を広げることが可能となる。
エッジ形状としたので、外部電極22,23との電気的
接触を良好に行なうことができるとともに、電極ずれの
許容範囲を広げることが可能となる。
【0052】本実施形態では、2本の端子ユニット13
を1つの端子ブロック11,12に取付け、各端子ブロ
ック11,12を測定位置と待機位置との間で昇降可能
に支持したので、一対の対向する外部電極22,23を
有するチップ部品20を測定する場合の端子ユニット1
3間の位置精度を確保することができるとともに、装置
全体をコンパクトにできる。
を1つの端子ブロック11,12に取付け、各端子ブロ
ック11,12を測定位置と待機位置との間で昇降可能
に支持したので、一対の対向する外部電極22,23を
有するチップ部品20を測定する場合の端子ユニット1
3間の位置精度を確保することができるとともに、装置
全体をコンパクトにできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態による電子部品の電気特性
検査装置の全体斜視図である。
検査装置の全体斜視図である。
【図2】上記電気特性検査装置の特性測定部の概略斜視
図である。
図である。
【図3】上記電気特性検査装置の端子ブロックの分解斜
視図である。
視図である。
【図4】上記端子ブロックに配設された端子ユニットの
斜視図である。
斜視図である。
【図5】上記端子ブロックの断面図である。
【図6】上記端子ユニットを構成する測定端子の平面図
である。
である。
【図7】上記測定端子の斜視図である。
【図8】上記測定端子の先端部を示す図である。
【図9】上記実施形態の測定端子の傾斜角度を45度と
した場合の接触状態を示す図である。
した場合の接触状態を示す図である。
【図10】上記実施形態の測定端子の傾斜角度を30度
とした場合の接触状態を示す図である。
とした場合の接触状態を示す図である。
【図11】従来の一般的な測定端子の配置構造を示す斜
視図である。
視図である。
【図12】上記配置構造の問題点を示す図である。
【図13】従来の一般的な測定端子の配置構造を示す斜
視図である。
視図である。
【図14】上記配置構造の問題点を示す図である。
【図15】一般的な電気特性検査装置の特性検査部の斜
視図である。
視図である。
1 電気特性検査装置
11,12 端子ブロック
13 端子ユニット
15 測定端子
15a 当接面
15b 平坦面
20 チップ部品(電子部品)
22,23 外部電極
25 ガイド部材
25a ガイド孔
B 特性測定位置
X1 電極の短辺
Y1 電極の長辺
フロントページの続き
Fターム(参考) 2G003 AA00 AB00 AG03 AG10 AG11
AG12 AG16 AH05 AH07
2G011 AA02 AC14 AD01 AE00
2G036 AA00 BA00 BB00 CA02 CA03
2G132 AA00 AD01 AE01 AE04 AE22
AF06 AF07 AF08 AL03 AL11
AL35
Claims (8)
- 【請求項1】 長辺を有する当接面を備えた上下一対の
測定端子を特性測定位置に対向配置し、該各測定端子の
当接面を、上記特性測定位置に搬送された電子部品の長
辺を有する電極に当接させることにより電気的特性を測
定するようにした電子部品の電気特性検査装置におい
て、上記測定端子を上記当接面の長辺が上記電子部品の
電極の長辺と斜めに交差するよう傾斜させて配置したこ
とを特徴とする電子部品の電気特性検査装置。 - 【請求項2】 請求項1において、上記測定端子が、上
記電子部品の特性測定位置への搬送誤差及び該搬送方向
における電子部品の寸法誤差を吸収する方向に傾斜して
いることを特徴とする電子部品の電気特性検査装置。 - 【請求項3】 請求項1において、上記測定端子が、上
記電子部品の搬送方向と直交する方向における電極の外
形寸法の誤差及び電極ピッチの誤差を吸収する方向に傾
斜していることを特徴とする電子部品の電気特性検査装
置。 - 【請求項4】 請求項1ないし3の何れかにおいて、上
記測定端子の当接面の長辺と上記電子部品の電極の長辺
とが30〜60度をなしていることを特徴とする電子部
品の電気特性検査装置。 - 【請求項5】 請求項1ないし4の何れかにおいて、上
記測定端子が電気的に独立した2箇所の当接面及び電気
的に独立した2本の導電経路を有することを特徴とする
電子部品の電気特性検査装置。 - 【請求項6】 請求項5において、横断面形状が略半円
形状をなす棒体で、かつ該半円形状の平坦面部分に絶縁
処理が施された2本の測定端子を上記平坦面同士を対向
させて配置することにより略円柱状の端子ユニットを形
成し、該端子ユニットをガイド部材に形成されたガイド
孔により軸方向に移動可能にかつ軸直角方向に移動不能
に支持したことを特徴とする電子部品の電気特性検査装
置。 - 【請求項7】 請求項6において、上記各測定端子の電
極への当接面はナイフエッジ形状をなすように形成され
ていることを特徴とする電子部品の電気特性検査装置。 - 【請求項8】 請求項6又は7において、上記端子ユニ
ットが2本組で1つの端子ブロックに取付けられてお
り、該端子ブロックはそれぞれ上記特性測定位置にて電
子部品を挟んで対向するように、かつ該電子部品の電極
に当接する測定位置と待機位置との間で昇降可能に支持
されていることを特徴とする電子部品の電気特性検査装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001205948A JP2003021658A (ja) | 2001-07-06 | 2001-07-06 | 電子部品の電気特性検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001205948A JP2003021658A (ja) | 2001-07-06 | 2001-07-06 | 電子部品の電気特性検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003021658A true JP2003021658A (ja) | 2003-01-24 |
Family
ID=19042166
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001205948A Withdrawn JP2003021658A (ja) | 2001-07-06 | 2001-07-06 | 電子部品の電気特性検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003021658A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008133209A1 (ja) * | 2007-04-19 | 2008-11-06 | Nhk Spring Co., Ltd. | 導電性接触子および導電性接触子ユニット |
WO2009096318A1 (ja) * | 2008-02-01 | 2009-08-06 | Nhk Spring Co., Ltd. | プローブユニット |
JP2014126422A (ja) * | 2012-12-26 | 2014-07-07 | Totoku Electric Co Ltd | 2芯コンタクトプローブ、2芯コンタクトプローブ・ユニットおよび2芯コンタクトプローブの製造方法 |
-
2001
- 2001-07-06 JP JP2001205948A patent/JP2003021658A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008133209A1 (ja) * | 2007-04-19 | 2008-11-06 | Nhk Spring Co., Ltd. | 導電性接触子および導電性接触子ユニット |
WO2009096318A1 (ja) * | 2008-02-01 | 2009-08-06 | Nhk Spring Co., Ltd. | プローブユニット |
CN101932941A (zh) * | 2008-02-01 | 2010-12-29 | 日本发条株式会社 | 探针单元 |
US8344747B2 (en) | 2008-02-01 | 2013-01-01 | Nhk Spring Co., Ltd. | Probe unit |
JP5607934B2 (ja) * | 2008-02-01 | 2014-10-15 | 日本発條株式会社 | プローブユニット |
JP2014126422A (ja) * | 2012-12-26 | 2014-07-07 | Totoku Electric Co Ltd | 2芯コンタクトプローブ、2芯コンタクトプローブ・ユニットおよび2芯コンタクトプローブの製造方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
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