JP2003002628A - シリコン製造装置および製造方法 - Google Patents
シリコン製造装置および製造方法Info
- Publication number
- JP2003002628A JP2003002628A JP2001187654A JP2001187654A JP2003002628A JP 2003002628 A JP2003002628 A JP 2003002628A JP 2001187654 A JP2001187654 A JP 2001187654A JP 2001187654 A JP2001187654 A JP 2001187654A JP 2003002628 A JP2003002628 A JP 2003002628A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- silicon
- heating
- temperature
- zone
- chlorosilanes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Silicon Compounds (AREA)
Abstract
料ガス供給口近辺でのシリコン詰りを防止してシリコン
を連続して円滑に製造する装置と製造方法を提供するこ
と。 【解決手段】 クロロシラン類と水素を反応せしめてシ
リコンを生成せしめる析出ゾーンと析出したシリコンを
融液として落下せしめる落下ゾーンを備えたシリコン製
造装置であって、析出ゾーンと落下ゾーンとの温度を独
立に制御する加熱手段を備えたシリコン製造装置並びに
シリコンを析出せしめる温度と、落下するシリコンの融
液の温度と同等または異なる温度に制御するシリコンの
製造方法。
Description
および製造方法に関する。さらに詳しくは、加熱手段お
よび加熱方式に特徴を有するシリコンの製造装置および
製造方法に関する。
電池の原料として使用されるシリコンを製造する方法は
種々知られており、そのうちのいくつかは既に工業的に
実施されている。例えばその一つはシーメンス法と呼ば
れる方法であり、通電によりシリコンの析出温度に加熱
したシリコン棒をベルジャー内部に配置し、ここにトリ
クロロシラン(SiHCL3、以下TCSという)やモ
ノシラン(SiH4)を、水素等の還元性ガスと共に接
触させてシリコンを析出させる方法である。
とが特徴であり、最も一般的な方法として実施されてい
るが、析出がバッチ式であるため、種となるシリコン棒
の設置、シリコン棒の通電加熱、析出、冷却、取り出
し、ベルジャーの洗浄、等の極めて煩雑な手順を行わな
ければならないという問題点がある。上記方法に対し
て、シリコンを連続的に製造するための方法として、流
動層による析出方法がある。この方法は流動層を用い、
100μm程度のシリコン微粒子を析出核として供給し
ながら、上述のシラン類を供給してシリコン微粒子上に
シリコンを析出し、1〜2mmのシリコン粒として連続
的に抜出す方法である。この方法はシリコンを抜出すた
めに反応停止する必要が無く、比較的長期の連続運転が
可能であることが特徴である。
れている態様においては、析出温度の低いモノシランを
シリコン原料として使用しているため、比較的低温域に
おいても該モノシランの熱分解による微粉シリコンの生
成や、反応器壁へのシリコンの析出等が起こり易く、反
応容器の定期的な洗浄または交換が必要となる。また、
流動状態にある析出途中のシリコン粒子が長時間に亘っ
て反応器壁と激しく接触して摩擦するために生成シリコ
ンの純度においても問題が残る。上記流動床による方法
における問題を回避し得るシリコンの連続的な製造方法
として、加熱体の表面でシリコンを生成、析出せしめ、
該シリコンを融液として該加熱体より連続的に回収する
方法がある。
には、反応器の温度1400℃以上の反応帯域に高純度
モノシランを供給して熱分解させてシリコン溶融体と
し、これを反応系外に取出すシリコンの製造方法が開示
されている。反応器としては、析出溶解したシリコンを
捕集する受器を下部に備えた円筒状縦型反応器が開示さ
れ、1400℃以上に耐える材質としてはグラファイ
ト、カーボランダムが開示されている。また、特開昭5
1−37819号公報には、ガス状珪素供給源を141
5℃以上の温度に加熱された堆積棒を備えた反応室に通
して該ガス状ケイ素供給源を分解しそして生成したケイ
素を該堆積棒上に液体状で堆積し、この液体状珪素を反
応室底部で捕集する、珪素の連続的製造法が開示されて
いる。上記堆積棒として、石英管で被覆された高密度グ
ラファイトからなる円筒が好ましいことが開示されてい
る。
点以上に保ち、シリコン融液としてシリコンを回収する
ものである。しかしながら、加熱体表面において原料ガ
スを反応せしめてシリコンを析出させる場合、加熱体温
度をシリコン融点付近に維持することは実際には困難で
ある。すなわち、加熱体温度がシリコン融点より低下す
ると直ちにシリコン固体が析出し反応管を閉塞させる問
題がある。一方、シリコン融点よりも高温では加熱体材
料の劣化が著しく、またシリコン生成時に発生する塩化
水素と生成シリコンが反応し再びガス相に戻るためにシ
リコンの生産性が低下するという問題がある。上記問題
に対して、従来技術に見られる1系統の加熱手段では最
適化が困難であり、またわずかの条件の変化にも対応す
ることが困難であった。
は、加熱体表面でシリコンを生成せしめ、該シリコンを
融液として落下せしめて回収するシリコンの製造装置に
おいて、シリコン生産性と加熱体材質劣化を防ぐことを
両立させることが可能なシリコン製造装置および製造方
法を提供することにある。本発明のさらに他の目的およ
び利点は以下の説明から明らかになろう。
の上記目的および利点は、第1に、加熱体及び該加熱体
を加熱する加熱手段を備え、該加熱体の表面において、
クロロシラン類と水素との反応により生成したシリコン
を融液として流下させて該加熱体の下端より落下せしめ
るようにしたシリコン製造装置であって、上記加熱手段
が、加熱体の加熱ゾーンを複数段に分けて各ゾーンの温
度を独立に制御し得るように、分割して設けられたこと
を特徴とするシリコン製造装置によって達成される。
2に、上記装置を使用し、加熱体表面における最高温度
と最低温度との温度差を50℃以下に制御することを特
徴とするシリコンの製造方法によって達成される。シリ
コン析出速度は、高温になればなるほど大きくなると予
想されるが、本発明者らによる析出実験の結果では、シ
リコン融点付近で析出速度が最大となり融点以上では析
出速度が低下することが確認された。すなわち、溶融析
出技術において最大の析出速度を実現するためにはシリ
コンが生成し、溶融して流下する加熱体表面をシリコン
融点付近に維持することが好ましい。
し、融液として流下せしめる従来の装置においては、加
熱体を加熱するための加熱手段が1系統であり、加熱体
の全体に一定のパワーが与えられる。そのため、該加熱
体において、原料ガスによるシリコンの生成反応が主と
して起こる部位、主として生成したシリコンが流下する
部位、更には、原料ガスのノズル付近の部位、反応系外
のガスと接触する部位等において、上記パワーにより到
達する加熱体の表面温度が異なる結果となる。そして、
上記加熱体の表面温度を全てシリコンの融点以上に維持
しようとすると、過度に加熱する部位が存在し、かかる
部分の材質が劣化して破損する。また、上記現象を防止
するために、加熱手段のパワーを抑えるとシリコンの融
点を下回る部位が生じ、シリコンが析出し始める。この
シリコンの析出は、一旦析出すると加速的に析出部が成
長してしまい、装置を閉塞するという事態を招く。特に
原料ガス供給ノズル付近で温度が低下しシリコンが析出
して反応管が閉塞するという問題があった。
加熱体のうち、原料ガスによるシリコンの生成反応が主
として起こる筒状加熱体上方と主として生成したシリコ
ンが流下し、落下する筒状加熱体下方との温度差が著し
いことを見い出した。そして、本発明は、上記知見に基
づき、加熱体を加熱するための加熱手段を分割し、主と
して原料ガスが供給されシリコンが生成、析出する部位
とシリコン融液が加熱体上方より伝って落ちてきて下方
空間へ落下する部位とを別個、独立に温度制御し得るよ
うにすることによって、両部位の温度差をシリコン融点
付近に維持することができ、上記の如き問題点を解決し
たものである。本発明は、ガスの滞在時間を長くし反応
率を高めるため加熱体を縦方向に長く形成し、同一パワ
ーで該加熱体を加熱すると加熱体の上下部位の温度差が
生じ易いシリコンの製造装置に適用する場合に、特に効
果的である。
は、加熱体の加熱ゾーンを複数段に分けて各加熱ゾーン
の温度を独立に制御し得るように分割された加熱手段を
備えているものであれば、どのようなものでもよい。
ば、加熱体として筒状容器を使用した、添付図面の図1
に示されているような装置が代表例として挙げられる。
即ち、図1に示されるシリコン製造装置は、(1)下端
にシリコン取出口となる開口部2を有する筒状容器1、
(2)上記筒状容器1よりなる加熱体の内壁の加熱ゾー
ンを複数段(図においては2段)に分けてそれぞれの加
熱ゾーンの温度を独立しに制御し得るように、分割され
た加熱手段3および3’ (3)上記内壁で囲まれた空間4内に下方に向かって開
口するように設けられたクロロシラン類供給管5、およ
び(4)上記クロロシラン類供給管5の開口位置より上
部の筒状容器内空間にシールガスを供給するシールガス
供給管7より構成され、該シリコンが筒状容器の下部加
熱ゾーンの内壁を溶融状態で流下し、下端に位置するシ
リコン取出口から落下するように構成された装置であ
る。
1は、シリコン取出口として、後で詳述するように、そ
の内部で析出・溶融したシリコンが自然流下により容器
外に落下し得る開口部2を有する。筒状容器1の断面形
状は、円状、多角状等の任意の形状を採ることができ
る。また、筒状容器1は、製作を容易にするために、図
1に示すような断面積が各部分で等しい直胴状にするこ
ともできるし、反応ガスの滞在時間を長くしてクロロシ
ラン類のシリコンへの転化率(以下、単に転化率ともい
う)を向上させるために、断面の一部が他の部分よりも
拡大された形状にすることもできる。
の仕方も、図1に示すように、ストレートに開口した態
様でもよいし、下方に向かって徐々に径が減少するよう
に絞り部を形成した態様でもよい。また、筒状容器1の
開口部は、その周縁が水平となるように構成する態様で
も問題なく粒子状のシリコンを得るが、周縁が傾斜する
ように構成する態様、さらには周縁を波状に構成する態
様とすることにより、該開口部2の周縁より落下するシ
リコン融液の液滴が揃い、シリコン粒子の粒径をより均
一に調整することができるため好ましい。
開口部周縁の形状においても、溶融シリコンが落下時の
液切れを良くするため、先端部に向かって肉厚が次第に
薄くなる刃物状にすることがより好ましい態様である。
本発明において、加熱手段は、加熱体を加熱し得る公知
の手段が特に制限なく採用される。例えば、高周波を使
用する方法、電熱線を使用する方法、赤外線を使用する
方法などが挙げられ、これらの方法を単独或いは組み合
わせて使用することができる。加熱体として上記筒状容
器1を用いる場合、加熱手段は、該筒状容器の周囲に高
周波発生コイルを設けて構成することが好ましい。
器は、上下に分けられた加熱ゾーンの内壁を加熱するた
めの加熱手段3、3’を有する。尚、かかる加熱手段を
分割する段数及び、各段の比率は、筒状容器1の内壁の
温度分布が生じる環境状態に応じて適宜決定すればよ
い。一般に、段数は、2〜4段程度がである。
される上部の加熱ゾーンは、主としてクロロシラン類と
水素が反応してシリコンが生成する部位であり、反応的
に吸熱反応である。従って、加熱体の加熱ゾーン全体を
均一な温度に維持する場合には、主としてシリコン融液
が流下し、落下する部位であり、加熱手段3’により加
熱される下部の加熱ゾーンに比して、加熱手段より供給
されるパワーを多くする必要がある。このようにして、
各加熱ゾーンにおける温度を加熱手段のパワーを制御す
ることにより、加熱体の加熱ゾーンをシリコンの融点付
近の温度に均一に調整することができ、高いシリコンの
生産性で、且つ加熱体の材質劣化を防ぎながら、シリコ
ンを製造することが可能である。
でシリコンの製造を行う場合、加熱体表面における最低
温度と最高温度との差が、50℃以下、好ましくは、3
0℃以下に調整することが好ましい。尚、本発明の装置
を用いた加熱手段の他の制御方法として、上記上部の加
熱ゾーンの温度を900以上、融点未満としてシリコン
を析出せしめ、断続的に該加熱ゾーンの温度を上昇せし
めてシリコンを溶融し、下部の加熱ゾーンを経て落下さ
せる態様が挙げられる。この場合においても、本発明の
装置は、それぞれのゾーンが独立して温度制御が可能で
あるため、加熱体の材質に負担が無くシリコンの製造を
行うことができる。
独立した加熱手段3、3’によって各々独立に制御され
る。従って、加熱手段は、一般に、少なくとも2系統以
上の独立した加熱源とこれらの加熱源を制御する制御系
からなる。具体的には、各々加熱源を有し、各ゾーンの
温度を計測し、フィードバック制御する態様が好まし
い。勿論、上記制御は運転状態をチェックしながら、人
手によって行うことも可能である。本発明において、加
熱体の形状は、図1に示す筒状容器に限定されず、板
状、棒状等特に制限されない。しかし、熱効率を考慮す
れば、筒状容器が最も好ましい。
って形成される加熱ゾーン毎に分ける必要はなく、各加
熱ゾーンを通じて一体物であっても良い。更に、加熱体
の材質は、シリコン融液に耐える材質を用いる必要があ
る。かかる材質としては、例えば、グラファイトの如き
炭素材料、炭化ケイ素(SiC)、窒化ケイ素(Si3
N4)、窒化ホウ素(BN)および窒化アルミ(Al
N)の如きセラミックス材料を挙げることができる。こ
れらは単独材料または複合材料として用いることができ
る。しかし、加熱体の下端部においては、シリコン融液
の表面張力が大きいためにシリコン融液の液滴の液切れ
が悪く、容易に落下しない場合があるため、シリコン融
液に濡れにくい材料として、とりわけ、例えば窒化ケイ
素、窒化ホウ素等を使用することが好ましい。
ラン類供給管5は、筒状容器1の内壁によって囲まれた
空間4にクロロシラン類11を直接供給するためのもの
であり、空間4内に下方に向かって開口するように設け
られる。クロロシラン類としては、例えばモノクロロシ
ラン、ジクロロシラン、トリクロロシラン、テトラクロ
ロシランのクロロシラン類、ヘキサクロロシランに代表
されるジクロロシラン類、オクタクロロシランに代表さ
れるクロロトリシラン類を挙げることができる。これら
のクロロシラン類は単独あるいは混合物として使用する
ことができる。
向を示す「下方」とは、垂直方向のみに限定されず、供
給されたクロロシラン類が該開口に再度接触しないよう
に開口する態様が全て含まれる。しかし、最も好適な態
様は、平面に対して垂直方向に開口する態様である。ま
た、クロロシラン類供給管5には、該空間4において管
内が加熱され、クロロシラン類の熱分解に伴うシリコン
の析出が生じないように、管の内壁をクロロシランの自
己分解温度未満に冷却する冷却手段6を設けることが好
ましい。
ことができればどのようなものでもよい。例えば、図1
に示すような、内部に水、熱媒油等の冷媒液体を通液可
能な流路を設けて冷却する液体ジャケット方法、図示さ
れていないが、クロロシラン類供給管に二重管以上の多
重環ノズルを設け、中心部からクロロシラン類を供給
し、外環ノズルから冷却ガスをパージして中心ノズルを
冷却する空冷ジャケット方式などが挙げられる。
するクロロシラン類の自己分解温度未満に設定すればよ
いが、TCSまたは四塩化ケイ素(SiCl4、以下S
TCという)を原料として用いる場合は、好ましくは8
00℃以下、より好ましくは600℃以下、最も好まし
くは500℃以下とすることがよい。クロロシラン類供
給管5の材質としては、筒状容器1と同様の材質のほ
か、石英ガラス、鉄、ステンレス鋼等も使用できる。
クロロシラン供給管5の開口位置より上部に存在する空
間にシールガスを供給するために設けられる。それによ
って、筒状容器に原料として供給されたクロロシラン類
が、析出・溶融のための空間に到達するまでの間に該ク
ロロシラン類の熱分解により分解して固体シリコンが、
筒状容器内に析出するのを防止することができる。上記
高温の空間にクロロシラン類を直接供給する。その際、
該クロロシラン類の供給管5の開口位置より上部に位置
する壁面では、シリコンの溶融温度からシリコンの析出
温度未満の温度に至る温度勾配が存在する。
給管5の開口位置より上部であれば特に制限されない
が、加熱手段3が存在しない筒状容器壁面に設けること
が好ましい。また、シールガス供給管7より供給される
シールガスは、シリコンを生成せず、且つクロロシラン
類が存在する領域においてシリコンの生成に悪影響を与
えないガスが好適である。具体的には、アルゴン、ヘリ
ウム等の不活性ガス、水素等が使用できるが、原料ガス
の一つである水素が好適に使用される。
度勾配の存在する空間を常に満たす圧力を保つ程度に供
給されていれば十分であり、かかる供給量を低減するに
は、該空間の全体あるいは下部の断面積を小さくするよ
うに、筒状容器1の形状あるいはクロロシラン類供給管
の外壁の形状等を決定すればよい。上記シリコン製造装
置において、クロロシラン類と共に析出反応に供される
水素10は、クロロシラン類と予め混合して、クロロシ
ラン類供給管5より供給することができるが、クロロシ
ラン類供給管5と独立して筒状容器1に供給することが
好ましい。この場合、前記したように、水素はシールガ
ス供給管より供給することが好ましいが、筒状容器1の
空間4に開口した水素供給管8を設け、そこから供給す
ることもできる。
1の下端の開口部2には、これより溶融落下するシリコ
ン融液を外気と触れることなく冷却固化せしめて回収す
るための外気と遮断された空間を与える冷却回収室(図
示されていない)を接続することが、高純度のシリコン
を工業的に得るために好ましい。冷却回収室の材質とし
ては、例えば金属材料、セラミックス材料、ガラス材料
等がいずれも好適に使用できるが、工業装置として頑丈
であり、かつ高純度のシリコンを回収することを両立す
るために、金属製回収室の内部を、シリコン、テフロン
(登録商標)、石英ガラス等でライニングを施すことは
より好適である。
析出温度とシリコンの落下温度とを同等または異なる温
度に制御して実施されるが、このときシリコンの析出温
度よりも落下するシリコン融液の温度を高くして実施す
ることが好ましい。それによりシリコン融液の落下が円
滑に進行する。
コン製造装置にクロロシラン類と水素とを供給し、該ク
ロロシラン類からシリコンへの転化率が10%以上、好
ましくは30%以上となる条件下でシリコンを生成せし
めるように、クロロシラン類と水素との供給比率、供給
量、滞在時間等を決定することが、冷却回収装置におけ
る固体シリコンの析出をより効果的に防止することがで
き好ましい。例えば、前供給ガス中のクロロシラン類の
モル分率は1〜90モル%、好ましくは5〜50モル%
であることが、反応容器の大きさに対して経済的なシリ
コンの製造速度を得るために好ましい。
きるメリットがあるが、0〜1MPaG程度が工業的に
実施しやすく、好ましい。滞在時間は、一定容量の反応
容器に対して、圧力と温度の条件によって変化するが、
反応条件下において、反応容器である筒状容器内でのガ
スの平均的な滞在時間は0.001〜60秒、好ましく
は0.01〜10秒、より好ましくは0.05〜1秒に設
定することができ、十分に経済的なクロロシラン類の転
化率を得ることが可能である。
ンを生成せしめ、そして、生成したシリコンを融液とし
て回収するための加熱体の温度を、独立して制御可能な
加熱手段により加熱することにより、シリコンの融点付
近で精度良く制御することが可能であり、シリコンの高
い生産性を確保しながら、該加熱体の材質劣化を効果的
に防止することが可能である。
を挙げて説明するが、本発明はこれらの実施例に限定さ
れるものではない。
た。内径25mm、長さ500mmで、下部に開口部を
持つグラファイト製筒状容器1に、その上部100mm
の位置から下端までの周囲に加熱手段として高周波加熱
コイル3、3’を設置した。該高周波加熱コイルは上部
加熱ゾーンと下部加熱ゾーンを別個に加熱できるよう
に、独立の2系統とした。高周波加熱コイルに印可する
高周波電力をそれぞれ調整して、上部加熱ゾーンの温度
を1450℃、下部加熱ゾーンの温度を1430℃に保
ち、原料供給ノズル11よりトリクロロシランを10g
/minの速度で供給したところ、下部加熱ゾーン先端
にシリコン融液が溜まり、継続的にシリコン融液が落下
し、約0.6g/minの速度でほぼ均一な粒径を有す
る粒状のシリコンを得た。この場合のトリクロロシラン
の転化率は約30%であった。50時間反応を継続した
後、運転を停止して装置内部を開放観察したところ、シ
リコンによる閉塞は発生していなかった。
れる通電加熱式ヒータ材を用いた。通電加熱式ヒータ材
に印可する通電電力を調整して、上部加熱ゾーンの温度
を1450℃、下部加熱ゾーンの温度を1430℃に保
ち、原料ガスにトリクロロシランを10g/minの速
度で供給したところ、下部加熱ゾーン先端にシリコン融
液が溜まり、継続的にシリコン融液が落下し、約0.6
g/minの速度でほぼ均一な粒径を有する粒状のシリ
コンを得た。この場合のトリクロロシランの転化率は約
30%であった。50時間反応を継続した後、運転を停
止して装置内部を開放観察したところ、シリコンによる
閉塞は発生していなかった。
組合せそれぞれ独立に制御した以外は、実施例1と同様
に実施した。上部加熱ゾーンを包むように高周波コイル
を設置し、該上部加熱ゾーンの温度が1450℃となる
ように高周波電力を調整し、一方下部加熱ゾーン部の周
囲は通電加熱方式のヒータを設置し該下部加熱ゾーンの
温度が1430℃となるように通電電力を調整した。原
料ガスにトリクロロシランを10g/minの速度で供
給したところ、下部加熱ゾーン先端にシリコン融液が溜
まり、継続的にシリコン融液が落下し、約0.6g/m
inの速度でほぼ均一な粒径を有する粒状のシリコンを
得た。この場合のトリクロロシランの転化率は約30%
であった。50時間反応を継続した後、運転を停止して
装置内部を開放観察したところ、シリコンによる閉塞は
発生していなかった。
ラクロロシランに変更した以外は同様に実施した。下部
加熱ゾーン先端にシリコン融液が溜まり、継続的にシリ
コン融液が落下し、約0.05g/minの速度でシリ
コンを得た。50時間反応を継続した後、運転を停止し
て装置内部を開放観察したところ、シリコンによる閉塞
は発生していなかった。
温度を1470℃に調整した以外は実施例1と同様に実
施した。上部加熱ゾーンの温度が下部加熱ゾーンの温度
よりも高く設定され、特に問題なく粒状シリコンが得ら
れた。
ンを1系統の高周波加熱コイルにより加熱した。原料ガ
ス供給前には、加熱ゾーンの上部および下部の温度は1
450℃と均一であったが、原料ガス供給により原料ガ
ス供給ノズルに近い加熱ゾーンでガス冷却により温度が
1400℃に低下し、シリコン固体が析出した。このた
め加熱ゾーンの下部へのシリコン融液供給が滞った。ま
た運転開始4時間後にシリコン析出により完全に閉塞し
たため運転継続不可能となった。尚、加熱ゾーンの下部
の温度は、1600℃に上昇していた。
0℃となるように、高周波加熱コイルに印可する高周波
電力を調整したところ、加熱ゾーン下部の温度が180
0℃を超え、基材の劣化が起こり始めたため、運転を打
ち切った。
す概念図。
Claims (2)
- 【請求項1】 加熱体及び該加熱体を加熱する加熱手段
を備え、該加熱体の表面において、クロロシラン類と水
素との反応により生成したシリコンを融液として流下さ
せて該加熱体の下端より落下せしめるようにしたシリコ
ン製造装置であって、上記加熱手段が、加熱体の加熱ゾ
ーンを複数段に分けて各ゾーンの温度を独立に制御し得
るように、分割して設けられたことを特徴とするシリコ
ン製造装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の装置を使用し、加熱体表
面における最高温度と最低温度との温度差を50℃以下
に制御することを特徴とするシリコンの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001187654A JP4639004B2 (ja) | 2001-06-21 | 2001-06-21 | シリコン製造装置および製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001187654A JP4639004B2 (ja) | 2001-06-21 | 2001-06-21 | シリコン製造装置および製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003002628A true JP2003002628A (ja) | 2003-01-08 |
JP4639004B2 JP4639004B2 (ja) | 2011-02-23 |
Family
ID=19026918
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001187654A Expired - Lifetime JP4639004B2 (ja) | 2001-06-21 | 2001-06-21 | シリコン製造装置および製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4639004B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003020217A (ja) * | 2001-07-03 | 2003-01-24 | Tokuyama Corp | シリコンおよびトリクロロシランの製造法 |
WO2005019106A1 (ja) * | 2003-08-22 | 2005-03-03 | Tokuyama Corporation | シリコン製造装置 |
JP2006008423A (ja) * | 2004-06-22 | 2006-01-12 | Tokuyama Corp | シリコンの製造方法およびシリコン製造装置 |
JP2006036549A (ja) * | 2004-07-22 | 2006-02-09 | Tokuyama Corp | シリコンの製造方法 |
JP4805155B2 (ja) * | 2004-08-11 | 2011-11-02 | 株式会社トクヤマ | シリコン製造装置 |
JP2014088275A (ja) * | 2012-10-29 | 2014-05-15 | Tokuyama Corp | 多結晶シリコンの製造方法 |
WO2014077155A1 (ja) | 2012-11-13 | 2014-05-22 | ダイキン工業株式会社 | 表面処理組成物 |
WO2017183487A1 (ja) * | 2016-04-21 | 2017-10-26 | 株式会社トクヤマ | 金属粉末の製造方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6465010A (en) * | 1987-09-04 | 1989-03-10 | Osaka Titanium | Device for producing high-purity granular metallic silicon |
JPH1149509A (ja) * | 1997-06-03 | 1999-02-23 | Tokuyama Corp | 炭素含有量の少ない多結晶シリコンの製造方法 |
JPH11314996A (ja) * | 1998-05-08 | 1999-11-16 | Digital Wave:Kk | 結晶の製造方法及び製造装置 |
JP2002029726A (ja) * | 2000-05-11 | 2002-01-29 | Tokuyama Corp | シリコン生成用反応装置 |
WO2002100777A1 (fr) * | 2001-06-06 | 2002-12-19 | Tokuyama Corporation | Procede de fabrication de silicium |
-
2001
- 2001-06-21 JP JP2001187654A patent/JP4639004B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6465010A (en) * | 1987-09-04 | 1989-03-10 | Osaka Titanium | Device for producing high-purity granular metallic silicon |
JPH1149509A (ja) * | 1997-06-03 | 1999-02-23 | Tokuyama Corp | 炭素含有量の少ない多結晶シリコンの製造方法 |
JPH11314996A (ja) * | 1998-05-08 | 1999-11-16 | Digital Wave:Kk | 結晶の製造方法及び製造装置 |
JP2002029726A (ja) * | 2000-05-11 | 2002-01-29 | Tokuyama Corp | シリコン生成用反応装置 |
WO2002100777A1 (fr) * | 2001-06-06 | 2002-12-19 | Tokuyama Corporation | Procede de fabrication de silicium |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4639005B2 (ja) * | 2001-07-03 | 2011-02-23 | 株式会社トクヤマ | シリコンおよびトリクロロシランの製造法 |
JP2003020217A (ja) * | 2001-07-03 | 2003-01-24 | Tokuyama Corp | シリコンおよびトリクロロシランの製造法 |
WO2005019106A1 (ja) * | 2003-08-22 | 2005-03-03 | Tokuyama Corporation | シリコン製造装置 |
US7993455B2 (en) | 2003-08-22 | 2011-08-09 | Tokuyama Corporation | Silicon manufacturing apparatus |
JPWO2005019106A1 (ja) * | 2003-08-22 | 2006-10-19 | 株式会社トクヤマ | シリコン製造装置 |
CN100347083C (zh) * | 2003-08-22 | 2007-11-07 | 德山株式会社 | 硅生产装置 |
AU2004266934B2 (en) * | 2003-08-22 | 2010-03-11 | Tokuyama Corporation | Silicon manufacturing apparatus |
JP4597863B2 (ja) * | 2003-08-22 | 2010-12-15 | 株式会社トクヤマ | シリコン製造装置 |
JP2006008423A (ja) * | 2004-06-22 | 2006-01-12 | Tokuyama Corp | シリコンの製造方法およびシリコン製造装置 |
JP4545497B2 (ja) * | 2004-06-22 | 2010-09-15 | 株式会社トクヤマ | シリコンの製造方法およびシリコン製造装置 |
JP4545505B2 (ja) * | 2004-07-22 | 2010-09-15 | 株式会社トクヤマ | シリコンの製造方法 |
JP2006036549A (ja) * | 2004-07-22 | 2006-02-09 | Tokuyama Corp | シリコンの製造方法 |
JP4805155B2 (ja) * | 2004-08-11 | 2011-11-02 | 株式会社トクヤマ | シリコン製造装置 |
JP2014088275A (ja) * | 2012-10-29 | 2014-05-15 | Tokuyama Corp | 多結晶シリコンの製造方法 |
WO2014077155A1 (ja) | 2012-11-13 | 2014-05-22 | ダイキン工業株式会社 | 表面処理組成物 |
WO2017183487A1 (ja) * | 2016-04-21 | 2017-10-26 | 株式会社トクヤマ | 金属粉末の製造方法 |
JPWO2017183487A1 (ja) * | 2016-04-21 | 2019-03-07 | 株式会社トクヤマ | 金属粉末の製造方法 |
US10953469B2 (en) | 2016-04-21 | 2021-03-23 | Tokuyama Corporation | Method of producing metal powder |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4639004B2 (ja) | 2011-02-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4290647B2 (ja) | シリコン製造用反応装置 | |
EP1437327B1 (en) | Method for producing silicon | |
JP4157281B2 (ja) | シリコン生成用反応装置 | |
JP5291282B2 (ja) | 管型反応容器および該反応容器を用いたシリコンの製造方法 | |
JP4597863B2 (ja) | シリコン製造装置 | |
KR101345641B1 (ko) | 고순도 다결정 실리콘의 제조 방법 및 제조 장치 | |
JP4038110B2 (ja) | シリコンの製造方法 | |
EP2294005B1 (en) | Method and skull reactor for producing silicon or a reactive metal | |
US20170372902A1 (en) | Crystal production systems and methods | |
JP4639004B2 (ja) | シリコン製造装置および製造方法 | |
JP3958092B2 (ja) | シリコン生成用反応装置 | |
JP4805155B2 (ja) | シリコン製造装置 | |
US10196273B2 (en) | Device for manufacturing polysilicon using horizontal reactor and method for manufacturing same | |
US20180051373A1 (en) | Mechanically vibrated based reactor systems and methods | |
JP2003002626A (ja) | シリコン生成用反応装置 | |
JP4099322B2 (ja) | シリコンの製造方法 | |
CN108350602B (zh) | 用于制造多晶硅的超高温沉淀工艺 | |
JP2003020216A (ja) | シリコンの製造方法 | |
JPS59121109A (ja) | 高純度シリコンの製造方法 | |
WO2011071032A1 (ja) | 多結晶シリコンの製造方法及び多結晶シリコン製造用の反応炉 | |
KR101938772B1 (ko) | 폴리실리콘 제조용 반응 장치 및 그에 의한 폴리실리콘 제조 방법 | |
JPS6057507B2 (ja) | 超硬高純度窒化珪素の製造装置とその製造方法 | |
JP5730423B2 (ja) | 熱プラズマ処理装置 | |
KR101952731B1 (ko) | 수평형 반응기를 이용한 폴리실리콘 제조 장치 및 제조 방법 | |
JPS62292607A (ja) | Cvd法による微粉末の製造方法およびその装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071206 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100203 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20101110 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101129 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131203 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4639004 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |