JP2002526940A - 自動装着機内で基板に装着された構成部材の位置検出のための方法 - Google Patents

自動装着機内で基板に装着された構成部材の位置検出のための方法

Info

Publication number
JP2002526940A
JP2002526940A JP2000573149A JP2000573149A JP2002526940A JP 2002526940 A JP2002526940 A JP 2002526940A JP 2000573149 A JP2000573149 A JP 2000573149A JP 2000573149 A JP2000573149 A JP 2000573149A JP 2002526940 A JP2002526940 A JP 2002526940A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
component
substrate
mounting
automatic
mounting machine
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000573149A
Other languages
English (en)
Inventor
ザロモン ヴェルナー
プリットマン ヨーヘン
グラスミュラー ハンス−ホルスト
Original Assignee
シーメンス プロダクション アンド ロジスティクス システムズ アクチエンゲゼルシャフト
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by シーメンス プロダクション アンド ロジスティクス システムズ アクチエンゲゼルシャフト filed Critical シーメンス プロダクション アンド ロジスティクス システムズ アクチエンゲゼルシャフト
Publication of JP2002526940A publication Critical patent/JP2002526940A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • H05K13/0815Controlling of component placement on the substrate during or after manufacturing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Manipulator (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 基板(2)に装着された構成部材(15)の位置検出は従来は自動装着機(1)の外側で目視で行われている。このことは煩雑であり、かつ複数の構成部材(15,16)を上下に装着する場合には下側に位置する構成部材(15)が検査できない。本発明に基づく方法においては、自動装着機(1)内に存在するセンサー(10)を用いて、構成部材(15)の所定の位置が自動装着機(1)内で本来の装着プロセスの後に短時間に検出される。これによって、欠陥が早期に見つけられ、かつ自動装着機(1)が位置精度に関して容易に調節可能である。センサー(10)として有利には、後に接続された画像評価ユニットを備えるカメラが用いられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 本発明は、自動装着機内で基板に装着された構成部材の位置検出のための方法
に関する。
【0002】 基板(例えばプリント回路板若しくはセラミックサブストレート)にSMD・構
成部材(SMD= Surface Mounted Device)を自動的に装着する場合には、個別の構
成部材が装着ヘッドを用いて供給装置から取り出されて、基板上の所定の位置に
位置決めされる。
【0003】 ドイツ連邦共和国特許公開第4121404号明細書により公知の方法におい
ては、すべての構成部材を所定の位置に位置決めしてあるかどうかの検査が装着
プロセスの後に自動装着機の外側で行われている。そこで付加的に、位置修正若
しくは後装着が行われる。この場合、自動装着機が位置検出のためには構成され
ていないので、実装された基板は別個の装置に供給されねばならず、このことは
製造プロセス中に時間を必要とする。
【0004】 部分的には、自動装着機内で装着した構成部分の位置が自動装着機の外側で別
個の装置内で目視検査される。ドイツ連邦共和国特許公開第3618590号明
細書により、基板に既に装着された構成部材の上に構成部材を配置することが公
知であり、下側に位置する構成部材は目視検査のためにはもはやアクセス可能で
はなく、従って、煩雑なエックス線検査装置が用いられねばならない。
【0005】 米国特許5003692号明細書により公知の方法においては、特別に構成さ
れた吸着ピペットを介して、画像評価ユニットを備えた後続のカメラによって、
構成部材の設置前の基板の画像並びに設置された構成部材を備える基板の画像が
撮影される。これによって、各構成部材の設置後の位置が検査される。このため
に必要な吸着ピペットの構造は極めて煩雑であり、また装着された各構成部材の
時間のかかる撮影は通常は不要である。
【0006】 装着プロセスの終了の後の1つの構成部材の誤差のある位置は、電気的な機能
検査によってしか発見されない。この場合、欠陥の排除は考えられておらず、基
板はもはや使用されるものではない。
【0007】 従って本発明の課題は、基板上の構成部材の位置検出のための簡単な方法を提
供し、これによって構成部材の実際の位置が早期に検査されるようにすることで
ある。
【0008】 前述の課題が請求項1に記載の方法によって解決される。
【0009】 装着プロセスの後に直接に自動装着機内で実際の位置と所定の位置とを比較す
ることによって、目視検査のための別個の装置がもはや不要である。その結果、
装着プロセスが中断されず、かつ別個の装置と自動装着機のための別個のプログ
ラムも不要である。検査すべき構成部材を予め選択することによって、各構成部
材の検査に対して時間的利点が得られる。
【0010】 付加的な利点として、誤った位置が早期に検出され、従って欠陥のある基板が
選び出されて、費用のかかる後続の装着プロセス若しくは別のプロセス(はんだ
付け)が行われない。
【0011】 場合によっては、誤った位置の早期の検査に際して位置修正が例えば手動で実
施されてよく、若しくは欠陥のある個所の装着過程が繰り返される。
【0012】 請求項2に記載の有利な実施態様では、センサーとしてカメラが後に接続され
た画像評価ユニットと一緒に用いられる。このようなセンサー並びに画像分析の
方法は技術的には完成していて、周知で、簡単に位置検出を可能にするものであ
る。
【0013】 請求項3に記載の方法が、複数の構成部材を上下に装着する場合に有利に用い
られる。このような構成部材は、例えば自動装着機内で電子的な構成部材の上に
装着される冷却薄板を意味する。大きな構成部材が所要スペース節減のために部
分的に、既に装着された構成部材の上に装着されてもよい。本発明に基づく該方
法によって、下側に位置する構成部材の位置が、上側に配置すべき構成部材の装
着の前に規定され、これによって煩雑なエックス線検査が省略される。
【0014】 有利な形式では、請求項4に記載の方法に基づきセンサーが装着ヘッドと一緒
に移動させられ、これによってセンサーの視野が基板上に装着されたすべての構
成部材に到達できる。その結果、センサーの付加的な煩雑な構造が避けられる。
【0015】 請求項5に記載の有利な方法に基づき、センサーが自動装着機内での基板の位
置の規定のためにも用いられ、従って、両方のプロセスにとって経済的に1つの
センサーしか必要とされない。
【0016】 時間節約のために有利には、請求項6に記載の方法に基づき、自動装着機内で
の基板の位置が一回だけ構成部材の装着の前に規定される。
【0017】 前述の方法が有利には、自動装着機の位置精度を最適にするために用いられる
。公知の最適化アルゴリズムによって、自動装着機内の構成部材から構成部材へ
の位置精度が改善される。
【0018】 次に本発明を図示の実施例に基づき詳細に説明する。
【0019】 図1に示す自動装着機1を用いて、構成部材15が保持装置5(例えば吸着ピ
ペット)を介して供給ユニット(図示せず)から取り出されて、基板2上の所定
の位置に搬送される。この場合、基板2が搬送装置3を用いて自動装着機内に搬
送される。保持装置5が取り付け装置6を介して自動装着機1の装着ヘッド4に
取り付けられており、装着ヘッドが、制御装置7によって監視されて、基板2に
対して平行にx・y・方向に運動させられる。これによって、基板2上のすべて
の位置が到達される。センサー10、例えば光学的な検出器11、光学的な撮像
装置12及び、制御装置内に配置されていてよい画像評価ユニット(図示せず)
から成るカメラが、視野13内で、装着された構成部材15を少なくとも部分的
にとらえる。センサー10が装着ヘッド4に取り付けてある場合には、センサー
の視野13は自動装着機内で基板2のあらゆる点に到達できる。このようなセン
サー10は自動装着機1内での基板2の位置規定のためにも活用される。従って
、基板2の規定された位置が、装着プロセス中に基板2に対する構成部材15の
正確な位置決めのために用いられる。
【0020】 センサー10を用いて、装着された構成部材15の位置が検出される。構成部
材が所定の位置にあるか、若しくはまだ存在していないかどうかの確認のために
、センサー10としては簡単な高さセンサー、例えば市販の三角測量センサーも
適している。
【0021】 装着すべき位置でどの構成部材15を個別に検査するかによって、該構成部材
が制御装置7に装着プロセスのスタートの前に所定の位置と一緒にメモリーされ
る。画像評価ユニットが所定の位置と実際の位置とを比較して、結果が次のよう
に利用される。肯定的な結果においては装着プロセスが継続され、否定的な比較
結果においてはエラー警報が発信される。エラー警報は例えば次のように用いら
れ、即ち、誤って実装される基板が早期に識別されて、引き続くプロセスから除
かれる。従って費用のかかる後続のプロセスステップが節減される。
【0022】 特に有利には前記方法が、図2及び図3に断面を概略的に示すように、既に装
着された構成部材15の上に別の構成部材16(例えば大きな構成部材若しくは
冷却薄板)を装着する場合に用いられる。自動装着機1内での位置検出によって
、別の構成部材16の装着の前に下側の構成部材15の位置検出を行うことがで
き、このことは従来は費用のかかる方法、例えばエックス線法によってしか行わ
れ得なかった。自動装着機1内での装着された構成部材15の位置検出は、装着
プロセス中に自動装着機1の位置精度を高めるためにも用いられる。制御装置7
が例えば規則的に実際の位置と所定の位置との間の偏差を規定して、それ自体公
知の方法によって装着プロセスが、所定の位置と実際の位置とを良好に合致させ
るまで適合される。
【0023】 前記方法によって、装着された構成部材15の早期の位置検出が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 自動装着機の概略的な側面図。
【図2】 1つの構成部材を装着された基板の概略的な断面図。
【図3】 上下に装着された2つの構成部材を備えた基板の概略的な断面図。
【符号の説明】
1 自動装着機、 2 基板、 3 搬送装置、 4 装着ヘッド、
5 保持装置、 6 取り付け装置、 7 制御装置、 10 センサ
ー、 11 検出器、 12 撮像装置、 13 視野、 15,16
構成部材
【手続補正書】特許協力条約第34条補正の翻訳文提出書
【提出日】平成12年10月16日(2000.10.16)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項1
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項2
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項3
【補正方法】変更
【補正内容】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ハンス−ホルスト グラスミュラー ドイツ連邦共和国 マンメンドルフ カペ レンシュトラーセ 4 Fターム(参考) 5E313 AA01 AA11 CC04 EE02 EE03 EE33

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 自動装着機(1)内で基板(2)に装着された構成部材(1
    5)の位置検出のための方法において、 構成部材(15)の所定の位置を装着前に自動装着機(1)の制御装置(7)内
    にメモリーして、 後で検査すべき構成部材(15)の選択を制御装置(7)内にメモリーして、 自動装着機(1)内でセンサー(10)を用いて、選択された構成部材(15)
    の、基板(2)上に装着された後の実際の位置と所定の位置とを比較して、 実際の位置と所定の位置との、所定の範囲内での合致に際して装着プロセスを継
    続し、かつそうでない場合にはエラー信号を発信することを特徴とする、自動装
    着機内で基板に装着された構成部材の位置検出のための方法。
  2. 【請求項2】 センサー(10)としてカメラを後に接続された画像評価ユ
    ニットと一緒に用いる請求項1記載の方法。
  3. 【請求項3】 位置検出を、既に装着された構成部材(15)上への別の構
    成部材(16)の装着の前に行う請求項1又は2記載の方法。
  4. 【請求項4】 センサー(10)を自動装着機(1)の装着ヘッド(4)に
    取り付けてあって、従って装着ヘッド(4)と一緒に移動させる請求項1、2及
    び3のいずれか1項記載の方法。
  5. 【請求項5】 センサー(10)を自動装着機(1)内での基板(2)の位
    置の規定のためにも用いる請求項1から4のいずれか1項記載の方法。
  6. 【請求項6】 自動装着機内での基板(2)の位置を一回だけ装着の前に規
    定する請求項1から5のいずれか1項記載の方法。
  7. 【請求項7】 請求項1から6のいずれか1項記載の方法の利用法において
    、自動装着機(1)内で装着プロセスの位置精度を、位置検出の結果に基づき後
    続の装着プロセスのために改善することを特徴とする利用法。
JP2000573149A 1998-09-28 1999-09-02 自動装着機内で基板に装着された構成部材の位置検出のための方法 Pending JP2002526940A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19844456 1998-09-28
DE19844456.7 1998-09-28
PCT/DE1999/002781 WO2000019800A1 (de) 1998-09-28 1999-09-02 Verfahren zur lageerkennung von in einem bestückautomaten auf ein substrat bestückten bauelementen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002526940A true JP2002526940A (ja) 2002-08-20

Family

ID=7882526

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000573149A Pending JP2002526940A (ja) 1998-09-28 1999-09-02 自動装着機内で基板に装着された構成部材の位置検出のための方法

Country Status (8)

Country Link
US (1) US6408090B1 (ja)
EP (1) EP1118262B1 (ja)
JP (1) JP2002526940A (ja)
KR (1) KR100538912B1 (ja)
CN (1) CN1237863C (ja)
AT (1) ATE282944T1 (ja)
DE (1) DE59911111D1 (ja)
WO (1) WO2000019800A1 (ja)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6605500B2 (en) 2000-03-10 2003-08-12 Infotech Ag Assembly process
US7555831B2 (en) * 2001-11-13 2009-07-07 Cyberoptics Corporation Method of validating component feeder exchanges
US7813559B2 (en) * 2001-11-13 2010-10-12 Cyberoptics Corporation Image analysis for pick and place machines with in situ component placement inspection
US7239399B2 (en) * 2001-11-13 2007-07-03 Cyberoptics Corporation Pick and place machine with component placement inspection
KR100847294B1 (ko) * 2001-11-22 2008-07-18 미래산업 주식회사 백업플레이트의 상승 제어장치
US7542151B2 (en) * 2003-03-28 2009-06-02 Assembleon N.V. Method of placing at least one component on at least one substrate as well as such a system
US7559134B2 (en) * 2003-11-04 2009-07-14 Cyberoptics Corporation Pick and place machine with improved component placement inspection
US20050125993A1 (en) * 2003-11-07 2005-06-16 Madsen David D. Pick and place machine with improved setup and operation procedure
US7706595B2 (en) * 2003-11-07 2010-04-27 Cyberoptics Corporation Pick and place machine with workpiece motion inspection
US20060016066A1 (en) * 2004-07-21 2006-01-26 Cyberoptics Corporation Pick and place machine with improved inspection
US20060075631A1 (en) * 2004-10-05 2006-04-13 Case Steven K Pick and place machine with improved component pick up inspection
JP4563205B2 (ja) * 2005-02-08 2010-10-13 富士機械製造株式会社 実装された電子部品の検査方法及び装置
US20070003126A1 (en) * 2005-05-19 2007-01-04 Case Steven K Method and apparatus for evaluating a component pick action in an electronics assembly machine
JP4896136B2 (ja) * 2005-09-14 2012-03-14 サイバーオプティクス コーポレーション 改善された構成部品ピックイメージ処理を備えたピックアンドプレース機
DE112006003019T5 (de) * 2005-10-31 2008-10-23 Cyberoptics Corp., Golden Valley Elektronikmontagevorrichtung mit eingebauter Lötpastenprüfung
JP4803195B2 (ja) * 2008-03-14 2011-10-26 パナソニック株式会社 基板検査装置及び基板検査方法
US20210352835A1 (en) * 2020-05-05 2021-11-11 Integrated Dynamics Engineering Gmbh Method for processing substrates, in particular wafers, masks or flat panel displays, with a semi-conductor industry machine

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2176654B (en) * 1985-06-11 1988-08-10 Avx Corp Method for optimising the decoupling of integrated circuit devices
JPH02303100A (ja) * 1989-05-17 1990-12-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 部品装着方法
DE69116709T2 (de) 1990-03-19 1997-02-06 Hitachi Ltd Vorrichtung und Verfahren zum Transport von Bauteilen
JP2619306B2 (ja) * 1991-02-18 1997-06-11 株式会社 大昌プレテック プリント実装基板検査装置
DE4121404A1 (de) * 1991-06-28 1993-01-07 W Schuh Gmbh & Co Dipl Ing Vorrichtung zum erreichen hoher zuverlaessigkeit und positioniergenauigkeiten beim automatischen bestuecken von smd bauteilen
US5991435A (en) * 1992-06-30 1999-11-23 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Inspecting apparatus of mounting state of component or printing state of cream solder in mounting line of electronic component
JP2993398B2 (ja) * 1995-05-31 1999-12-20 ニチデン機械株式会社 ピックアップ装置及びピックアップ方法
WO1997002708A1 (en) * 1995-06-30 1997-01-23 Precision Assembly Systems, Inc. Automated system for placement of components
EP0809926B1 (en) * 1995-12-14 1999-11-10 Koninklijke Philips Electronics N.V. Component placement machine
KR970053283A (ko) * 1995-12-26 1997-07-31 윌리엄 이. 힐러 반도체 패키지 윤곽 측정용 측정 유니트
GB2310716A (en) * 1996-02-28 1997-09-03 Daewoo Electronics Co Ltd Recognition of a fiducial mark on a printed circuit board
US5963662A (en) * 1996-08-07 1999-10-05 Georgia Tech Research Corporation Inspection system and method for bond detection and validation of surface mount devices
IE80676B1 (en) * 1996-08-02 1998-11-18 M V Research Limited A measurement system
KR19980039100A (ko) * 1996-11-27 1998-08-17 배순훈 부품의 클린칭 방향을 이용한 미삽 검사장치 및 방법
JP3347621B2 (ja) * 1996-11-29 2002-11-20 株式会社新川 ボンディング装置
KR100234122B1 (ko) * 1997-08-30 1999-12-15 윤종용 Ic 패키지 리드핀 검사장치 및 그 제어방법과 레이저센서의포커스 검출장치 및 그 포커스검출방법
US6028319A (en) * 1998-01-06 2000-02-22 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Calibration standard for lead configurations and method of using

Also Published As

Publication number Publication date
US6408090B1 (en) 2002-06-18
KR100538912B1 (ko) 2005-12-27
CN1237863C (zh) 2006-01-18
CN1320363A (zh) 2001-10-31
EP1118262A1 (de) 2001-07-25
ATE282944T1 (de) 2004-12-15
DE59911111D1 (de) 2004-12-23
KR20010075433A (ko) 2001-08-09
EP1118262B1 (de) 2004-11-17
WO2000019800A1 (de) 2000-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002526940A (ja) 自動装着機内で基板に装着された構成部材の位置検出のための方法
JP3026981B2 (ja) 潜在的歪曲プリント回路板点検のための補償システム
US11176635B2 (en) Automatic programming of solder paste inspection system
JP4563205B2 (ja) 実装された電子部品の検査方法及び装置
US20060016066A1 (en) Pick and place machine with improved inspection
US20070003126A1 (en) Method and apparatus for evaluating a component pick action in an electronics assembly machine
KR20070067101A (ko) 개선된 부품 픽업 탐지기를 구비한 픽업 배치장치
US6710867B2 (en) Device and method for inspecting a three-dimensional surface structure
US4941256A (en) Automatic visual measurement of surface mount device placement
JP2006319332A (ja) 実装された電子部品の検査装置を備えた電子部品実装機
US5880849A (en) Component placement machine and method of placing a component on a carrier by means of said component placement machine
JP2011014946A (ja) 電子部品実装方法及び実装機
US6211959B1 (en) Method of checking for the presence of connection balls
WO2006125102A1 (en) Method and apparatus for evaluating a component pick action in an electronics assembly machine
JP2001156498A (ja) 表面実装部品装着機における持ち帰り電子部品の検出方法
KR100567798B1 (ko) 표면실장기용 비전 검사기 셋팅 장치 및 방법
JPH07183694A (ja) 部品実装装置
US20240120219A1 (en) Bonding apparatus and bonding method
KR0120595B1 (ko) 시각 인식장치를 채용한 인쇄회로기판 검사 시스템의 원점 보정방법
KR920004326B1 (ko) 실장피씨비기판 자동검사장치의 카메라를 이용한 측정방법
JP2005214659A (ja) 異物検出装置および配線基板の製造方法
JPH072912U (ja) プリント基板検査装置
JPH05167299A (ja) チップ実装装置用カセットの検査方法及びその検査装置
JPH1051193A (ja) 電子部品のマウント装置
JP2000124696A (ja) 実装機における部品認識基準の位置ずれ検出方法及び同検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040109