JP2002502980A - 試料ホルダ起伏形状を補償し且つシステム・ノイズのロック除去を行う反射測定システム - Google Patents

試料ホルダ起伏形状を補償し且つシステム・ノイズのロック除去を行う反射測定システム

Info

Publication number
JP2002502980A
JP2002502980A JP2000530879A JP2000530879A JP2002502980A JP 2002502980 A JP2002502980 A JP 2002502980A JP 2000530879 A JP2000530879 A JP 2000530879A JP 2000530879 A JP2000530879 A JP 2000530879A JP 2002502980 A JP2002502980 A JP 2002502980A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
spot
signal
intensity
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000530879A
Other languages
English (en)
Inventor
ジョン エル ローレス
アルバート イー チュー
Original Assignee
イーワイ ラボラトリーズ インコーポレイテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by イーワイ ラボラトリーズ インコーポレイテッド filed Critical イーワイ ラボラトリーズ インコーポレイテッド
Publication of JP2002502980A publication Critical patent/JP2002502980A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8483Investigating reagent band
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/90Determination of colour characteristics
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N2021/1765Method using an image detector and processing of image signal
    • G01N2021/177Detector of the video camera type
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity
    • G01N21/5907Densitometers
    • G01N2021/5915Processing scan data in densitometry
    • G01N2021/5919Determining total density of a zone
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity
    • G01N21/5907Densitometers
    • G01N2021/5915Processing scan data in densitometry
    • G01N2021/5923Determining zones of density; quantitating spots
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity
    • G01N21/5907Densitometers
    • G01N2021/5915Processing scan data in densitometry
    • G01N2021/593Correcting from the background density
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity
    • G01N21/5907Densitometers
    • G01N2021/5915Processing scan data in densitometry
    • G01N2021/5934Averaging on a zone
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8483Investigating reagent band
    • G01N2021/8488Investigating reagent band the band presenting reference patches
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30004Biomedical image processing
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S128/00Surgery
    • Y10S128/92Computer assisted medical diagnostics
    • Y10S128/922Computer assisted medical diagnostics including image analysis

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 完全独立システムは、背景領域によって取り囲まれた装置膜上の着色スポットの強度を検査し、スポットを生成する試料についての情報を得るのに光反射率を使用する。マスタ・クロック(270)が、交互に、スポット中心に合焦した1つのLED(280)を駆動し、次に背景領域に合焦した2つのLEDを駆動する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 (他の係属中の出願に対する関係) この出願は、「OPTICAL SPECIMEN ANALYSIS SYSTEM AND METHOD」という名称 の、1998年2月10日に米国特許第5,717,778号として許される出
願通し番号08/465,089および「OPTICAL SPECIMEN ANALYSIS SYSTEM A
ND METHOD」という名称の、前記通し番号08/465,089の係属である、 1997年12月22日に出願された出願通し番号08/995,590からの
一部係属出願である。これらの出願は、参考資料として、ここに援用する。
【0002】 (発明の分野) 本発明は、全般的には反射測定システムに関するものであり、一層詳しくは、
テスト用基体の或る領域のカラー濃度または光学濃度のような特性における変化
を分析するのに使用される反射測定システム及び方法に関する。このような領域
は、(他の用途のうちでも)分子認識用途において試料内の化学的状態を表し、
コントラスト信号から意味のある情報を確認することができる着色スポットを含
み得る。
【0003】 (発明の背景) 自動光学分析システムを含めて、光学技術を使用して生物学的その他の試料を
分析することは公知技術である。試料内の或る特定の検体に結合できる或る特殊
な試薬との反応についてテストすることによって、この検体の潜在的な存在を検
知することがしばしば望まれる。このような分子認識反応は、互いに対する高い
結合親知力を所有する分子の錯化を表す。
【0004】 たとえば、妊娠の指標として、検体ヒト絨毛性ゴナドトロピン(HCG)(妊
婦の尿に存在するホルモン)を検出することを考えられたい。尿の2、3の液滴
を、HCGに結合することが知られている試薬を有する基体にさらす。このよう
なテストを実施するに際して、付加的な試薬をテスト用基体に添加して、HCG
が尿内に存在する場合には、結果の少なくとも一部に特性の変化(たとえば、カ
ラー)が生じる。こうして生じたカラー変化は、訓練を受けていない目にもはっ
きりと見え、家庭妊娠テストとして役立つことができる。
【0005】 人間の目では、せいぜい、質的な結果を見るだけである。しかしながら、テス
トを行ったり、テスト結果を読み取ったりするのに経験を積んだ実験室技術者の
場合でも、テストから容易に「イエス」、「ノー」の結果を確認できないことも
多い。また、或る種のテストでは、量的な結果が望ましいことがある。たとえば
、疾病状態の進行度あるいは程度を測定したい場合がある。 1つの看者が異なる感度を有するの、カラー、コントラスの変化を視覚で検査す
ることは質的なものにすぎず、ひとりの観察者の目が別の観察者の目とは感度が
異なっていることは普通である。同じ視覚的感度を持つ観察者がふたりいたとし
ても、疲労や主観的な判断差が同じデータについて異なった結果を与えることが
あり得る。
【0006】 多くの他の分子認識用途(免疫学的、非免疫学的を問わず)は、コントラスト
・データを使用して分析することができる意味のあるコントラスト信号を得るこ
とができる。免疫学的ペア用途(たとえば、抗体-抗原、「Ab-Ag」)に加えて、
Ab/Ag/AbまたはAg/Ab/プロテインA-ゴールドのような種々のサンドイッチ ・フォーマット・マトリックス分析評価技術は、アビジン・ビオチン誘導体間結
合あるいはレクチン・カルボヒドレート結合のような意味のあるコントラスト信
号を生成することができる。多くの用途は、分子認識サイトとしてホルモン受容
体を使用する。そして、反応特殊結合はDNA交雑において使用される強力な分析 ツールとなる。より信頼性が高い自動化した分析ツールを得ることができるなら
ば、このような用途は有益となろう。
【0007】 種々のシステムは、免疫学的、非免疫学的な分子認識用途から得られた結果を
分析するための自動化した、信頼性のあるシステムを得るシステムが種々試みら
れている。或る種のテストでは、特に免疫学検定装置を使用するテストでは、染
料着色したスポットの存在ならびにそれを取り囲む背景領域に対する反射率を識
別する必要がある。たとえば、電気泳動免疫ブロット(「Western Blots」をテ ストするときには、濃度計を使用してニトロセルロース・ストリップから反射し
たの光の光学的濃度を測定する。しかしながら、ストリップにおける抗体生成カ
ラー・バンドの濃度は、背景カラーと同様に変化する可能性がある。さらなる複
雑化の要因としては、このようなテストにおいて使用される濃度計が、カラー・
バンドにおける単一のポイントしか測定できないということがある。したがって
、濃度計は自動化し結果を得ることはできるが、その結果が大きく変化する可能
性があり、また、非常に不正確である可能性がある。
【0008】 Chu等の米国特許第5,006,464号が、免疫学検定テストの結果をより 迅速に定量化するのに反射測定法を使用することを開示している。たとえば、こ
こで、このような迅速な免疫学検定テストを使用して人間の血液を調べたいと仮
定する。血液、血清または血漿の試料を、数滴、分析装置のテスト用基体上に垂
らす。テスト用基体は、しばしば、多孔性の膜であり、膜の個別の領域で膜に結
合した1つまたはそれ以上の受容体化学物質を有し、これらの化学物質が血液内
に1つまたはそれ以上の標的検体が存在しているならばこの検体と結合反応する
。代表的には、血液試料の添加後、着色染料を含み得る標識試薬を、数滴、テス
ト用基体に添加する。最後に、洗浄用溶液を、数滴、テスト用基体に添加し、受
容体化学物質が設置された膜の個別の領域に特に結合しなかった任意の残留試薬
を除去してもよい。それ故、血液内の標的検体の存在が、装置上の、無着色周囲
背景(化学物質が結合していないテスト用基体の領域となる)に対する染料着色
スポットの存在によって示され得る。もちろん、このようなテストは、血液内の
或る特定の検体の診断に限らず、当該標的検体を含み得る他のタイプの試料、生
物学的製剤その他でも実施し得る。
【0009】 図1Aは、上記Chuタイプの分析を実施するのに用いられ得る装置10を例示し
ている。装置10は、多分1cm平方を測定することができ、経済的な理由のた
めに、上下の層20、30を包含するボール紙(または、時にはプラスチック)
のいくつかの層から作られている。上方層20は、開口40(おそらく、直径8
mm)を構成しており、この開口は、底層30より高い状態に位置する表面50
を露出させている。表面50は、膜(または基体)を構成し、好ましくは、これ
の多孔性表面が少なくとも1つの不動受容体化学物質を含有し、この化学物質が
試料内に存在する標的検体との結合反応を生じることになる。
【0010】 図1Bは、上記のテスト作業が実施された後の、図1Aに示す装置の頂面図であ
る。スポット60(受容体化学物質がテスト用基体に付着している)は、かなり
(理想的に)円形であるものとして示してあり、装置10の周囲上面70に対す
るコントラストがはっきりしているカラーを有し、当該検体がテストされる試料
内に存在したことを示している。チャレンジは、周囲領域70に対するスポット
60の反射率を決定することである。換言すれば、チャレンジは、スポット60
からの信号と領域70からの背景基準レベルとを区別することである。ここで、
いずれの信号における小さい変化も2つの信号間の差におけるかなりの変化隣得
るということは了解されたい。
【0011】 反射率信号を背景基準レベルと区別する能力によって、試料における標的検体
の有無に関して意味のある結論に達することができる。たとえば、図1Cはスポ ットがどこにもない装置10、たとえば、結合反応がなんら生じておらず、標的
検体が試料にそんざいしていない装置10を示している。図1Dにおいて、暗い スポットが存在しているが、これはしばしばあるケースであり、スポットは形状
不均一であり、予想よりもサイズが小さいかも知れない。スポット・サイズは、
試料が導入される前に、最初に化学物質を含浸させたか、または、化学物質で処
理した膜50の領域によって影響を受ける可能性がある。図1Fは、均一なスポ ット60を示しているが、図1Bに示すスポットより不透明さが少ないのに対し て、図1Fは、図1Aまたは図1Cに示す不透明さの少ない不均一な形状のスポ ットを示している。
【0012】 周囲領域70に対するスポット60の反射率を正確に識別することは非常に難
しい可能性がある。これは、好ましくは自動化様式で、訓練を受けた作業員を必
要とすることなく、信号をノイズから区別しようとしている場合に、特に当ては
まる。多くの用途において、正の読み取り値と負の読み取り値との差は、反射率
で約±1%よりも小さい可能性がある。実際問題として、スポット反射率がおそ
らくは背景反射率の98%であるとき、ボーダーラインの読み取り値が生じるこ とが多い。実際問題として、95.4%の読み取り値が負となるのに対し、97 .6%の読み取り値が正となる。したがって、意味のあるデータを得ようとして いる場合、反射率を正確かつ一貫して解釈することが重要である。訓練を受けた
人間の目でさえ、数パーセントもの小さい反射率の変化を分解することはできな
い。所与の時間内に多くの装置10を検査しなければならないとき、人間の目は
劣等な反射測定器具ともなる。たとえ反射率変化が目で区別することができるに
充分に大きくても、疲労、観察での反射率変化および誤差が、異なった分析結果
を生じさせる可能性がある。
【0013】 したがって、反射率データを正しく確認できる自動化システムが必要である。
代表的には、試料への露出後、後露出処理および上述したような着色の後、装置
10は反射測定装置に挿入される。反射率計は、装置の少なくともスポット領域
を光にさらし、スポット領域から反射した光(信号)および対応する周囲領域か
ら反射した光(基準信号)の強さを測定しようと試みる。しかしながら、装置が
整合状態で反射率計内に挿入されていない限り、受容体スポット領域からの光が
正確に測定されることはない。事実、低密度スポットの場合、スポット強度を背
景領域強度から識別することは難しい可能性がある。着色スポットそれ自体が、
均一に着色されていないかも知れないし、スポット信号読み取り値が、反射光強
度について受容体スポット領域の部分を検査したことにかなり依存する可能性が
ある。
【0014】 さらに、普通の反射率計信号処理ユニットは、比較的大型であり、信号処理用
のコンピュータを除いて、製造するのに1ユニット当たり1,500ドルのコス
トがかかり、普通は少なくとも80486タイプのマイクロプロセッサを必要と
する傾向がある。たとえば、現代のビデオ・カメラに見出されるものと変わらな
い電荷制御装置(「CCDs」)を使用して強度を測定しようとすることがしば
しばであった。しかしながら、このような装置におけるピクセル間感度変動が、
較正および首尾一貫したデータ読み取りをいくぶん難しくしていた。さらに、か
さばることおよび高価であることに加えて、このようなシステムは、特に機械的
に頑丈ではなかった。
【0015】 上記の問題が存在しない場合であっても、膜50の表面は、普通、不規則な表
面起伏形状(topography)となっている。この不規則性は、ボール紙
または紙の膜表面ならびに高品質織布表面をふくむ安価に製造された装置で存在
する。ここで使用している膜という用語は、紙、ボール紙、布および装置10を
製造する際に使用される他の普通に使用される膜材料を含むことは了解されたい
。光学品質の膜(たとえば、ガラス、セラミック、金属)はかなり平らな表面を
与えるであろうが、これらより高価な材料は、水の拡散等を可能としながら所望
化学物質を保持するには不適である。
【0016】 その結果、受容体領域におけるカラー強度がどうにか完全に均一であり、背景
領域からかなり識別できるとしても、膜表面における不規則性がなお強度読み取
り値に誤差をもたらすであろう。高強度スポットが生じる免疫学検定テストの場
合、1%〜2%の強度読み取り誤差は許容できるかも知れないが、他のテストの
場合、1%または2%の誤差は完全に失敗の結果となるかも知れない。
【0017】 必要なのは、装置上のスポットによって発生させられる強度信号を迅速かつ正
確に分析できる技術である。この場合、スポット濃度が重要なデータを含む。こ
のような技術は、免疫学的、非免疫学的な分子認識用途に適用できなければなら
ない。このような技術は、改良した信号対ノイズ特性を示し、好ましくは、装置
起伏形状における不規則性を補正しなければならない。この技術は、機械的に頑
丈であり、操作する素人にとって充分に簡単でなければならない。そして、製造
、保守が比較的安価に行えなければならない。
【0018】 本発明は、このような方法およびこの方法を実施するシステムを提供する。
【0019】 (本発明の概要) 本発明は、無着色の背景によって取り囲まれた着色スポットを形成する膜を含
有する装置を検査する完全独立システムを提供する。着色スポットは、とりわけ
免疫学的、非免疫学的なベースを持つ用途を含む分子認識の結果であってもよい
。本発明は、相対的なスポット信号対背景基準信号を決定するのに光の反射率を
使用し、スポット強度に関して意味のある情報を収集する。この情報は、標的検
体または化学物質または物質を定量化するのを可能にし、その存在がスポット染
料特性に寄与する。
【0020】 膜表面は、スポット着色領域を包含し、この領域が目標物質の存在に応答し、
このスポット領域は、普通、無着色の背景領域に取り囲まれている。好ましい実
施例において、本発明は、二者択一的にスポット領域と背景領域を照明し、各領
域から反射してきた光の強度を測定する。別の実施例では、膜表面(着色スポッ
ト領域および背景領域)を照射し、次いで、スポット領域または背景領域を照射
し、スポット領域は照射しない。種々の照明モード中に反射してきた光の強度を
減算して、光がない場合に光検出器からの増幅信号と関連したゼロ出力ドリフト
効果を削除する。エミッタ光は、好ましくは、3つのほぼ同じ光源、たとえば、
発光ダイオード(「LED」)から来るものであるとよい。そのうちの1つはス
ポット領域を狙い、他の2つは背景領域を狙う。マスタ・クロック・ユニットが
活発にLEDを駆動し、スポット、背景を二者択一的に照明する。あるいは、マ
スタ・クロック・ユニットによって、LEDでスポット領域および背景領域を同
時に照射させ、スポットのみあるいはスポットなしの背景のみを周期的に照射す
る時間を交替させるようにしてもよい。他の実施例では、単一の光源を設け、た
とえば、拡散性または反射性の反射体ユニットを使用して、この光源の光出力を
スポット領域、背景領域に一様に向ける。このような実施例において、装置表面
領域が光を受けるのを、マスタ・クロック・ユニットで制御する穴あき回転式機
械シャッタ、または、ソリッド・ステートの、好ましくは液晶シャッタによって
制御する。種々の実施例において、光源(単数または複数)は1つの平面を構成
する。そして、スポット領域、背景領域を含んでいる膜が第2の平面を構成する
。光源(単数または複数)を、いずれかの平面に配置し、光検出器を残りの平面
に配置してもよい。放射された光スペクトルは、可視光線、不可視光線、赤外線
、紫外線、X線のいずれであってもよく、とりわけLED、レーザー・ダイオー
ド、白熱光を含む種々の光源から発生させたものであってもよい。
【0021】 次いで、反射光(すなわち、放出光の一部である)が、方位角90度の設定し
た倍数の角度に隔たった光検出器(「PD」)によって検出される。装置膜表面
の起伏形状に依存して、方位角的に180度または90度隔たった2つのPDを
設けると好ましい。
【0022】 本発明は、2つのサブシステムを提供する。すなわち、不均等な装置起伏形状
によるスキュー・誤差を実質的に減らすサブシステムと、ノイズを発生させるこ
となく信号電圧を測定することによって検出信号/ノイズを向上させる位相ロッ
クイン増幅器サブシステムとである。
【0023】 第1のサブシステムにおいて、本発明は、普通に使用される膜と関連する劣等
な起伏形状が反射光強度読み取り値における少なくとも±1%の不確定誤差の原
因となり得ると認識している。この誤差(ほぼ正弦波である)は、方位角的に1
80度互いから隔たった2つのPDを使用して反射光強度をモニタすることによ
ってほぼ削除される。万が一膜を架橋ボール紙で作る場合には、2つのPDは方
位角的に90度互いから隔てる。一対のPDをこのように方位角的に選んだ90
度の倍数の角度で配置すると、その出力信号を平均化することで精度を±1%以
上向上させることができる。
【0024】 第2のサブシステムにおいて、平均したPD出力信号は、同時に正負で増幅し
、これら正負に増幅した信号をスイッチでサンプリングする。このスイッチは、
LED駆動信号の活性領域と同期して作動する。その結果、活性LED駆動信号
部分で生じる同相信号のみをサンプリングすることができる。さらに、PD加算
増幅器の出力に存在する信号が効果的な振幅でほぼ二倍にされ、それによって、
信号/ノイズ比を向上させる。
【0025】 スイッチの出力は、ローパスフィルタに送られ、このローパスフィルタが、周
波数を測定周波数より高く、(おそらくは、3Hz)減衰する。測定周波数は、
LEDクロック・スイッチング周波数よりもかなり低い。このようにして、ロー
パスフィルタ出力には、クロック周波数の数ヘルツ内のノイズ成分以外のノイズ
がほとんどない。したがって、ローパスフィルタは、スポット光強度と比例した
信号を回復し、優れた信号対ノイズ特性を示す。
【0026】 本発明の他の特徴および利点は、添付図面と関連した、好ましい実施例を詳細
に説明する以下の説明から明らかとなろう。
【0027】 図2は、本発明、つまり試料ホルダ(specimen holder)の起伏形状(topogra
phy)の補償と及びシステム・ノイズのロック除去(lock-rejection)を有する 反射率計システム100の透視図である。システム100の筐体は、システム1
00の中で生成された光に対して実質的に透過性である窓120に隣接して搭載
される装置ホルダ(device holder)110を含む。ホルダ110は、ここで上 述された装置10を保持することができる大きさである。装置10は、窓120
に面した化学的に着色されたスポット(spot)を有するホルダ110に挿入され
る。(ここで使用されているように、「着色されたスポット」という用語は、領
域60における特徴的な変化、例えばコントラスト、色、色又は光の濃度の、制
約のないあらゆる変化を一般的に示す。) このように装置10の表面20は、システム100に面しており、及び反対の
表面30は、システム10から離れた方向に面している。好ましい実施形態にお
いて、システム100は、視覚的読み取り装置、好ましくはデジタル読み取り1
30及び/又はアナログ読み取り装置140を含む。当然であるが、読み取り装
置130及び/又は140は、受け入れ可能な強度の値が装置10のスポット5
0から計測される場合に、電源を入れたり、切ったり、又は色を変えるようにバ
イアスがかけられている少なくとも一つの発光ダイオード(LED、light emit
ting diode)と取り替えられ、又はそれによって強化されることができる。シス
テム100は、通常は、例えば前記システムの電源を入れたり、切ったりするた
めの、又は所望であれば手動較正機能を供給するための一つ以上のコントロール
(control)150、160を含む。
【0028】 本発明の目的では、システム100は、例えば、図1A、1C乃至1Fに記載
のとおり、スポット60と背景70との間の相対的反射率を量子化することを目
的とする。生物学的試験における応用では、スポット60は、検体を導入する前
の膜50(図1A参照)に存在する化学物質を含む化学物質に前記検体をさらす
ことによって生成される。しかしながら実際には、本発明はどのようにスポット
60が形成されるかということから実質的に独立して、相対的反射率の正確な計
測を供給することができる。例えば、装置10の膜50におけるスポット60と
して表示されている、塗料サンプル(sample)を分析するために、システム10
0を使用することが望ましいであろう。
【0029】 記述のとおり、膜50は通常は厚紙であり、比較的安価な素材であるが、残念
ながらいくらか粗い起伏形状を特徴とする素材である。出願人は、装置10にお
ける膜50を製造するために使用される厚紙に一般的である起伏形状は、反射さ
れた信号の計測された強度における少なくとも±2パーセントの誤差を容易にも
たらしうることを発見した。残念ながら、多くの応用例において、特に生物医学
的応用例において、±2パーセントの誤差は、本当の読み取り値と誤負読み取り
値又は誤正読み取り値との間の差を意味しうる。
【0030】 図3A及び3Bは、前記起伏形状問題の性質と及び出願人によって発見された
解決法を理解する上で有用である。図3Aは、膜50の上部表面の山型の起伏形
状を、誇張した形態で示す。図3Aはまた、球座標の一点を識別するために使用
される3つのパラメータのうちの2つ、すなわち仰角(altitude angle)α及び
半径Rも示しており;第三のパラメータ、方位角(azimuthal angle)Θは、平 面図において見られる。
【0031】 図3Aにおいて、比較的暗いスポット60が、背景部70と同様に、膜50に
おいて見られる。反射率が、平行光を膜50に、例えばLED1、LED2、.
..LED4で示される複数の発光ダイオードから当てることによって計測され
ると仮定するが、4つより少ない又は4つ以上のLEDが使用されてもよい。ス
ポット60から、及び背景70から反射した光の強度はしばしば、ここではフォ
トダイオード(photodiode)PDA、PDB、及びPDCとして示されている複
数の光検出器で検出されるが、他の光検出器、例えば光電子倍増管が使用されて
もよい。
【0032】 膜50の上部表面が完全な平面であったなら、光は背景部70から均等に反射
したであろうこと、及び光は、前記スポットが色の濃度において均一である場合
、スポット60からより低い強度ではあるが、理論上均等に反射されるであろう
ことは、明らかである。しかし、平面である膜の表面を作り出すのは費用が高く
、及び図3Aに示されたものは、厚紙から作られた実際の装置10と遭遇するも
のにより近い。スポット60は、劣っている膜の起伏形状によって傾斜している
ので、PDAがPDCよりもより多く反射した光信号を受信するであろうことは
明らかである。巨視的には、PDAは、PDCの視野から見えるよりも、スポッ
ト60からのより大きく突出した区域が見える。その結果、PDAは、スポット
60の周囲が観察されると、はっきりしたコントラストを理論的に示す強度を有
する信号を受信するであろう。
【0033】 反射された光信号の強度におけるスキュー(skewing)は従来技術において単 に黙認されてきた結果、比較的大きな不確実性の誤差(error)が容認されるよ うになった。しかしながら出願人は、上述の平らでない起伏形状に関連する正弦
波の搬送機能があり、及び互いに180度離れて配置された2つの光検出器が使
用される場合、膜の起伏形状による強度スキュー・誤差は、少なくとも約±1パ
ーセント改善されることができる。(±1パーセント前後の強度の変化は、単に
裸眼では見ることができない。) また、装置から装置への、及び実際には時間の関数としての単一の装置に対す
る起伏形状の影響、例えば前記スポットが乾き続けるにつれて、又は前記膜表面
が周囲温度及び/又は周囲湿度に応答して変化するにつれての前記影響が存在す
ることも、注目される。さらに、名目上は白色である、着色されていない膜領域
70は、実際には白色以外でもよく、及び装置によって及び実際には単一の装置
の異なる領域に対して変わってもよい。
【0034】 スキュー・誤差の補正における1パーセント又は2パーセントの向上は、顕著
でないように聞こえるが、実際には、特にわずかなコントラストのスポットが読
み取られる場合、それは良い結果と疑わしい結果との間に差を作るであろう。最
も高い可能な計測正確性が必要とされるのは、正確に、通常は信号/ノイズ比が
乏しいことが特徴である前記の疑わしいスポットが分析されるときである。当然
であるが、医学的試験環境において、システム100のようなシステムからの誤
った読み取りは、試験中の検体を取られた対象者に対する重大な派生問題を有し
うる。
【0035】 図3Bは、方位(又は縦)角度Θが変化するにつれて、光検出器(例えばPD
A)によって計測される反射光の強度を示す。ここで使用されているとおり、Θ
は、名目上の膜の平面に対して直角である対称軸を有する円錐体の角度を定義し
、前記光検出器は、前記円錐体の表面に配置され、角Θから離れて配置されてい
る。
【0036】 図3Bにおいて、強度計測が、正確にΘ=180度に離れて、例えばデータ点
X1とデータ点X2、又はデータ点X2とデータ点X3に離れて行われている場
合、一定の光強度値が、起伏形状の変化の寄与から独立して得られることが注目
される。異なって説明されているが、反射光の強度が、Θ=180度に離れて配
置されたたった二つの光検出器を使用して得られるのであれば、前記二つの光検
出器の出力からの合計の(平均の)信号は、実質的に前記起伏形状の正弦波変化
を相殺するであろう。この結果は、{sin(Θ)+sin(Θ+180度)}
=0という関係から生じる。
【0037】 前記正弦波起伏形状機能を生成する厚紙膜50の種類は、紙において継ぎ目が
なく(non-linked)、平行な繊維(parallel grain)を有してもよい。出願人は
、異なる種類の厚紙膜、外見上繊維が交差している紙の膜に対して、図3Bに記
載された周波数は2倍になり、例えば180度離れるのではなく、むしろ90度
離れて行われたデータ計測は、実質的に起伏形状の誤差を無効にすることを発見
した。当然ながら、図3Bに記載された関係が完全な正弦波ではないために、起
伏形状の相殺は完全ではないが、かなり近い。
【0038】 図3A及び3Bに記載の実施形態において、二つの光の平面が示されている:
発光源における平面と及び基板における平面である。所望であれば、LED及び
PDの役割は、LED1、2及び3をPD1、2、3と、及びPDA及びPDB
をLED1及びLED2と、好ましくは起伏形状・誤差を低減させるために18
0度の方位に搭載されるように交換されることによって、逆になってもよい。こ
の実施形態においては、試料のすべては同時にLED1及びLED2によって証
明を当てられてもよく、それらは好ましくは、主クロック装置によって命令され
た駆動信号に応答して点滅する。この実施形態においては、(背景領域に集束さ
れた)PD1、PD3からの信号と及び(前記スポットの上に配置され、そこに
集束された)PD2からの信号は、ドリフト・誤差(drift error)を相殺する ために減じられてもよい。
【0039】 図4Aは、上述の発見の好ましい実施形態の上面図である一方で、図4Bは、
簡潔な平面図であり、方位角Θが見られる。図4Aにおいて、3つの光源LED
1、LED2、LED3及びたった二つの光検出器(PDs)PDA及びPDB
が使用される。前記スポットと代表的な周辺の膜領域との間の反射率における比
較的微妙な変化は、起伏形状の不完全性を考慮に入れて、観察することが望まし
い。本発明において、光源の数は、ここで前述された強度における正弦波の変化
の相殺を最大化するために、3つに制限された。好ましい構成では、3つのLE
D(PDA、PDB、PDC)によって照らされる膜領域を通る線は、前記膜に
向かって突出したような受容器PDの間の線に対して垂直である。前記3つの光
源が、前記スポットそれ自体(例えば所望の信号)及び2つの代表的な周辺背景
領域(背景参照区域信号を供給する)からの読み取りを獲得できるようにする一
方で、記載された起伏形状の相殺の利益を獲得する。
【0040】 LED1、LED2、LED3はすべて、名目上、理論上平面であり又は前記
膜の第二の平面に対して平行である線上又は第一の平面上に搭載されている。L
EDと膜平面との間の距離は、レンズ・システム(lens system)の焦点距離の 関数として、いくらか変化し、前記焦点距離は、軸上のLED2と軸から外れた
LED1、LED2との間で変化する。隣接するLEDの間の離れた距離は、約
6.3ミリメートルであり、及び前記スポットの名目上の大きさ(通常は約1.
6ミリメートル)によって、及び光学システムの拡大倍率によって決定される。
名目上のスポットの寸法が大きくなると、離れたLEDの距離も大きくなること
が望ましい。
【0041】 前記スポットの中央領域は、最終的に前記膜の着色されていない背景部70に
遭遇するまで、反射率を上げながら外側に向かって放射状に伸張する低反射率と
関連する。実際には、スポットから背景への遷移がある。LED2は、主に前記
スポットの中央に光を集束させることを意図する一方で、LED1及びLED2
は、背景の周辺領域に光を集束させることを意図する。
【0042】 LED−発光は、主に拡散して反射される。Θ=180度(好ましくは、±約
5度の範囲内で)離れて配置された2つのPDは、上述のとおり、起伏形状のス
キュー相殺の効果で、良い強度読み取りを供給する。図4Aに記載のとおり、理
論上の光検出器PDA、PDBは入射光に対して垂直である。PDA及びPDB
は、仰角αに等しい角を有する膜の名目上の平面から等距離の平面上に配置され
る。理論上は、仰角αは、光の受容を最大限にするために90度に近いが、実際
には、光学システム170の存在によってα=30度である。光検出器によって
受容される光の強度は、 sin(α)/R2 で変化する。
【0043】 対象となるスポットと光検出器又はLEDとの間の放射距離Rは小さく、及び
各PDに対して等しくなければならない。しかし、各LEDは実質的に光検出器
の平面から等距離にあるので、PDA及びPDBはそれぞれ同じ距離の2乗され
た強度の効果が見える。
【0044】 このように、図3Bに記載された特徴的な正弦波強度機能を生成する種類の厚
紙膜との使用のために、PDA及びPDBは、そうでなければ起伏形状の不規則
性のために計測されるスキューを無効にするために、180度に離れて配置され
る。当然、二つの近接な適合するもの、好ましくは同一の検出器PDA、PDB
を使用する代わりに、単一の検出器PDAが使用され、及び計測の間を180度
機械的に動いてもよい。前記のような配置は、すべての強度計測が、同一の(例
えば、まったく同じの)光検出器で行われたことを確証するであろう一方で、可
動機械式アーム(moving mechanical arm)又は同様のものを供給すること、前 記システム全体の費用、体積、及び強度の損失に寄与するであろう。
【0045】 膜50が、図3Bに記載の周波数の2倍の強度機能を明白にした厚紙から製造
されると、PDA及びPDBは、90度に離れて配置され、例えばその内角が9
0度で、その対称軸は、膜50の名目上の(理論上の)平面に対して垂直である
、想像上の円錐体の表面に配置されるであろう。
【0046】 図4Aにおいて、3つのLEDが装置10の表面上に、好ましくは平凸レンズ
及び二重凸レンズを含むレンズ・システム170によって集束される。有効焦点
距離は約1センチメートルであり、それは、膜表面及びスポットの上の良い集束
場所に対する有効な高絞り値である。通常は、本発明は、赤く着色されたスポッ
トに対する強度を計測するために使用されるが、他の色のスポットも、同様に良
いデータを生むであろう。
【0047】 LED1、LED2、及びLED3は、商用に使用可能な高い強度、高い輝度
の5ミリメートル直径の装置であり、それらは現在おそらく1装置当たり10ド
ルである。前記LEDの容器は、約10度の発散角度に集束する、内部に組み込
まれたレンズを含む。実際の応用においては、スポット60の名目上の大きさは
、スポットの大きさの許容範囲とともに、知られるであろう。例えば理論上のス
ポットは1.6ミリメートルの直径であってもよいが、実際には、円形から三日
月型に形状が変化してもよいという条件で、大きさは1.6ミリメートル乃至2
.4ミリメートルに変化してもよい。(スポットの大きさの実質的な要素は、膜
に染み込ませた化学物質の大きさ及び模様である。) 光学システム160は、内部LEDレンズとともに、名目上1.6ミリメート
ルの直径に標準LED焦点を合わせるように設計された。好ましい実施形態にお
いては、有効光学拡大倍率は約0.34であり、それはすなわち5ミリメートル
のLEDの直径と名目上1.5ミリメートルの円形のスポットとの間の比である
。当然のことながら、他の照明装置及び他の焦点システムが代わりに使用される
ことができる。
【0048】 図5は、システム100のブロック図であり、回路160の好ましい実施形態
を示す。回路160は、2つの重要なサブ・システム:起伏形状・スキュー・誤
差低減サブ・システム200、及びノイズを生成することなく信号の電圧を計測
することによって、検出された信号/ノイズを増幅させる閉じ込み式増幅器を含
む。起伏形状補償サブ・システム200が存在しなかったとしても、サブ・シス
テム210は、スポットと周辺背景との間の遷移における過剰なノイズ信号を受
信することなく、公知の(スポット)信号及び公知の(背景領域)参照信号を入
手する信頼性を向上させるであろう。
【0049】 起伏形状・スキュー・誤差低減サブ・システム200の多くが記載されてきた
。二つの光検出器PDA、PDBは、Θ=180度(又は、装置10が交差した
繊維の種類の紙膜を使用する場合、Θ=90度)に離れて配置され、及びそれら
の出力は、加算増幅器220において結合される。記述されたとおり、増幅器2
20の出力は、PDA(波形A)及びPDB(波形B)からの出力信号の平均合
計である波形Cになるであろう。これら、及び他の波形は、図5に示され、図6
Aは波形Aを示し、図6Bは波形Bを示す、等である。しかしながら図6Dは、
図6Cに重ねて記載された、波形C及びDの平均合計を示す。
【0050】 好ましい実施形態において、LED1及び3は、装置10の背景又は周辺領域
70に向かっている一方で、LED2は、スポット60に向かっている。好まし
い実施形態においては、LED1及び3は、(図6Aに記載の)波形Aによって
同時に起動され、LED2は相補形の波形Bによって起動される。LED駆動信
号の繰返し速度及び動作周期は、好ましくは主クロック270によって命令され
る。好ましい実施形態において、これらの波形は、2キロヘルツの繰返し周波数
を有する方形波である。この周波数は、フォトダイオード及び操作上の増幅シス
テム・ノイズを含む電子的ノイズが、特に約2キロヘルツと低いために選択され
た。主クロック270及び駆動装置280は、約250マイクロ秒間、中央LE
D2の電源を入れ、及び隣接するLED1及びLED3は、約250マイクロ秒
間電源を入れ、すべてのLEDは、約2キロヘルツの基本クロック速度で駆動す
る。他の駆動構成が使用されてもよい。例えば、3つのLEDのすべてが、装置
10全体に照明を当てるために同時に電源を入れられてもよく、及び他の主クロ
ック周期において、LED2のみが、対象のスポット60に照明を当てるために
起動してもよい。さらに他の実施形態においては、単一の光源が、電子シャッタ
、例えば液晶シャッタとともに使用されることができる。他の主クロック周期の
間、前記シャッタは、装置全体が照明を当てられるようにし(例えば、対象とな
るスポット及び背景)、及び対象となるスポットのみ、又はおそらく前記対象と
なるスポット区域を除く装置全体が照らされるようにするであろう。
【0051】 図5において、波形C及びDは、それぞれPDA及びPDBによって検出され
た光を示す。波形C及びDの振幅は、次第にゆっくりと変化し、それぞれPDA
及びPDBによって見られる反射光の強度を表す。PDA及びPDBはΘ=18
0度に離れて配置されるので、それらの平均結合出力信号(例えば波形A及び波
形Bの平均合計)は、前記装置の膜表面50の不規則な起伏形状によって、実質
的に誤差がないであろう。
【0052】 図6Cは、重ねられた波形C及びDを示す。図6Cに示された例において、P
DAは背景領域70から反射したより多くの光、及びPDBよりも少ないスポッ
ト60から反射された光を見る。このように図6Cの第一の周期は(図6Aに記
載されたLED1及びLED3への駆動信号が、アクティブであるか又は高い場
合に)、PDBに対するよりも大きい、PDAに対する信号振幅を示し、その波
形は、明らかにするために想像線で示されている。図6Cに記載の次の周期の間
(例えば、図6Bにおいて波形Bによって記載されたとおり、LED2がアクテ
ィブである場合)、PDBからの信号の振幅がPDAからの信号振幅よりも高く
、それは、PDBが、スポット60から反射した光をPDAよりも多く見るとい
うことを意味する。
【0053】 図6Dは、2つのPD出力信号の平均を示す。信号が、PD出力において直接
検査された場合、おそらく1マイクロアンペアの平均定常レベルであり、多くの
反射光が存在する状態では、おそらく1マイクロアンペアのピークとピークは重
ねて配置され、及び基本的に反射光がない状態では、ピークとピークを重ねて配
置した信号がない。
【0054】 加算増幅器220は、増幅された平均結合PD信号(例えば、図6Dに記載の
信号)を出力する。これらの増幅された信号は、好ましくは蓄電器C1によって
AC接続され、及び図6Eに記載の波形Eとして現れる。増幅器220は、実質
的にシステム100に対するゲイン(gain)のすべてを供給し、及びサブ・シス
テム200内におけるオフセット電圧誤差を排除するために、蓄電器C1を介し
てAC接続されたその出力を有する。当然であるが、オフセット電圧は、蓄電器
C1をバンドパス・フィルタ(bandpass filter)に交換することによって排除 されてもよく、それは主クロック交換周波数の上及び下の周波数範囲におけるノ
イズも排除することができる。
【0055】 6Eにおいて、波形Eは、白い背景領域から反射した光に対して、ピークから
ピークが20ボルトくらい大きさでもよく、及びスポットがない場合、例えば周
辺領域とスポットが存在する領域との間の強度コントラストがない場合、ピーク
からピークは本来0ボルトであろう。
【0056】 サブ・システム210は、サブ・システム200からAC接続された出力(又
はバンドパス接続された出力)を受信する。サブ・システム210は、それぞれ
が入力として波形Cを受信し、及びそれぞれ波形D(波形Cの一つの変形)及び
波形E、つまり波形Cの変形を出力する正及び負同一ゲイン増幅器230、24
0を含む。図D及びEにそれぞれ記載された波形D及びEは、増幅器240によ
って行われる変換のために、互いに相対して180度位相偏移する。好ましい実
施形態においては、増幅器230、240は、同一の電圧ゲインを供給し、及び
信号/ノイズ比を最大限にするために、ピークからピークへ最大約12ボルトの
出力波形D及びEを出力することができる。電子ノイズ(ショット・ノイズ(sh
ot noise)、ランダム・ノイズ(random noise)等)は、増加する電力供給電圧
とともには増加しないので、ノイズへの信号が、増強される一方で、出力信号は
、増加する電力供給電圧とともに大きくなる。システム10における中心的ノイ
ズ源は、光検出器PDA、PDBであり、より低い度合いでは増幅器220であ
る。
【0057】 スイッチ250は、波形信号D及びEをサンプリングし、及び図6Fに記載の
とおり、サンプリングされた波形Fを生成する。波形Fは、高周波サンプリング
速度(ここでは2キロヘルツ)を除去するために、低域フィルタ(フィルタ26
0)にかけられる。フィルタ260の出力、図6Gに記載の波形Gは、相対的な
信号/ノイズに比例したDC電圧であり、すなわち、着色されたスポットの濃度
に比例する。前記DC波形信号Gは、デジタル出力、例えば表示器130及び/
又はアナログ出力、例えば表示器140を生成するためにデジタル化されてもよ
い。回路160はまた、主クロック270及びLED駆動回路280も含む。電
源290は、システム100に、好ましくは±12ボルトの動作電位を供給する
。電源290は、従来の方法で整流された110/220VACから供給されて
もよい。
【0058】 他に、低電圧電池操作も、例えば電圧二倍器及び電圧変換器、例えば商用に使
用可能であるハリスICL7660IC等を使用して、所望の電圧を供給するこ
とが可能である。前記のような電圧二倍器及び電圧変換器は通常はより高い電圧
レベルへとリップル(ripple)を取り入れるが、二倍器−変換器クロック回路は
、本発明において主クロック回路270から同期されてもよい(又は得られても
よい)。前記同期が実行されると、電圧倍増リプルによる信号誤差は、システム
210によって排除され、及びシステム100のデータ読み取りの質を低下させ
ず又は影響を与えないであろう。
【0059】 主クロック270は、LEDであるLED1、LED2、LED3が、約50
パーセントの動作周期で約2キロヘルツでアクティブになるようにする従来のL
ED駆動装置280にクロック信号を出力するが、他の駆動周波数及び動作周期
が使用されてもよい。光検出器PDA及びPDBは各々、少なくともLEDによ
って出力された光のほんの一部を受信し、及び図6A及び6Bに記載のとおり、
変化する振幅の2キロヘルツ信号を自ら出力するであろう。
【0060】 記載されたとおり、サブ・システム210への入力信号は、AC接続されてお
り、及びDCオフセットをまったく有しない。波形Cのピークからピークへの大
きさは、大変暗いスポットに対して20ボルト(すなわち、±10ボルト)くら
いであり、及び境界線の試料に対しては、おそらく0.2ボルトかそれ以下であ
ろう。
【0061】 通常は、無垢の白色膜は、おそらく5.2ミリ平方メートルのアクティブ区域
を有するフォトダイオード検出器上で、約3マイクロワットの光の信号を生成す
るであろう。この検出された光出力は、約1ボルトの出力電圧を生成し、さらに
増幅されるために、相互コンダクタンス増幅器(例えば、増幅器220)に入力
される約1マイクロアンペアの電気信号を生成する。
【0062】 実際には、本発明は、より良いとは言えないまでも、ピークからピークが約2
0ミリボルトの装置10におけるスポット60と周辺区域70との間の反射率に
おける差を容易に解決することができる。図3Bにおける計測された反射率にお
ける1パーセントの誤差が、サブ・システム210への入力において、ピークか
らピークへの200ミリボルトの誤差、例えばピークからピークへ1パーセント
×20ボルトの誤差を生じさせることが注目される。境界線上での分析の場合、
肯定的分析と否定的分析の差は、おそらく20ミリボルト乃至30ミリボルトか
それ以下の、検出された光強度の差によって決定されることができる。
【0063】 サブ・システム210における増幅器230、240は、閉じ込み式システム
として動作する。記載されたとおり、遠くへの信号A、B、C、D、Eのすべて
は、基本クロック速度、例えば約2キロヘルツで切り換えられる。しかしながら
、スイッチ250の出力から及び低域フィルタ260へは、妥当な信号はDCで
ある。ノイズを増幅することなく、PDA及びPDBによって受信される光強度
に比例するDC信号Gを出力することは、サブ・システム210の機能である。
【0064】 スイッチ250は、主クロック270と同期して動作し、及びクロック周波数
、ここでは2キロヘルツでサンプリングされる。そのように、2キロヘルツ以外
の周波数コンポーネントは、サンプリングされず、波形Fの大きさには寄与しな
い。例えば、1キロヘルツ又は3キロヘルツにおけるノイズ・コンポーネントは
、増幅器230及び240によって取り消され、波形F又は波形Gには寄与しな
い。サンプリングされた波形Fの信号は、低域フィルタ260に入力され、それ
は好ましくは、少なくとも主クロック周波数においてゼロに配置された2極フィ
ルタである。通常フィルタ260は、約20ヘルツの3デシベル減衰周波数を示
す。
【0065】 例えば60ヘルツの低周波数ノイズ・コンポーネントは、単に遅すぎてスイッ
チ250によって見られることができない。例えば、100ヘルツの低周波数ノ
イズ・コンポーネントがシステム100に存在すると仮定する。100ヘルツの
波形は、2キロヘルツにおけるPDA、PDB(例えば、主クロック速度)によ
ってサンプリングされ、及び(増幅器230による)ゲイン+K及び(増幅器2
40による)ゲイン−Kで増幅される。スイッチ250は、迅速に、これらの反
対の位相の低周波数ノイズ・コンポーネントの信号部を同期させてサンプリング
する。
【0066】 本質的に、サブ・システム210コンポーネント230、240、250は、
100ヘルツノイズ信号を1900ヘルツ及び2100ヘルツ出力信号に変換す
る。しかしながら、これらの1900ヘルツ及び2100ヘルツのコンポーネン
トは、実質的には、20ヘルツの低域フィルタ260によって減弱され、及び1
00ヘルツのノイズ・コンポーネントはシステム100からの出力信号Gに寄与
しない。
【0067】 このように、非ゼロ信号を低域フィルタ260に通すために、前記信号はそれ
自身が(ここでは2キロヘルツの)主クロック周波数においてサンプリングされ
なければならず、及び主クロック270のアクティブ部と、同期で位相が合って
いなければならない。
【0068】 主クロック信号のアクティブ部は、スイッチ250が主クロック波形のこの部
分に同期すると、LED1、LED2、LED3を駆動させる動作周期の部分に
なるであろう。低域フィルタ260を通過することを許されるノイズ・コンポー
ネントは、2キロヘルツのクロック・サンプリング速度に極めて近いコンポーネ
ントのみである。このように2キロヘルツ±3ヘルツの周波数差(frequency sp
read)に入るノイズは、低域フィルタ260を通過するかもしれないが、すべて
の他のノイズ・コンポーネントは、実質的に前記フィルタによって減弱されるで
あろう。
【0069】 システム100信号/ノイズ比を改善させることについて、閉じ込み式サブ・
システム210によって供給される効果を考察する。選択された主クロック周波
数(約2キロヘルツ)において、フォトダイオード検出器PDA及びPDBから
、及び加算増幅器220からのノイズ寄与は、約0.08μV/Hz1/2である 。20ヘルツ遮断周波数低域フィルタ260では、合計出力ノイズ(波形G)は
、約0.08*(20)1/2=0.4μVになるであろう。同じフォトダイオー ド対及び増幅器からのフィルタに通されていない出力ノイズは、約1mVであろ
う。このように、サブ・システム210は、約2,500の要素、例えば1mV
/0.4μVによって、システム・ノイズを低減する。
【0070】 閉じ込み式増幅器230、240、スイッチ250及び低域フィルタ260に
よって供給される同期位相検出は、非同期検出器又は同じ帯域幅を有する狭帯域
フィルタとは異なり、システム信号/ノイズを効果的に倍増する。サブ・システ
ム210によって供給される向上した信号/ノイズ特性は、サブ・システム20
0によって供給される起伏形状取り消し特性とともに、システム100が、実質
的に従来のシステムから得られるものよりも優れた正確性を有する信頼できるデ
ータを出力できるようにする。 少なくとも、正確性は、サブ・システム200を含むことによって、少なくとも
±1パーセント向上する。その結果、薄い(低密度の)スポットに対して、シス
テム100は、信頼できる表示器130、140に出力情報を供給することがで
きる。前記のような状況において、従来のシステムは、計測されているデータに
大きさが近似する誤差を示すであろう。従来のシステムが誤正又は誤負出力を供
給する傾向にある一方で、本発明は真の出力情報を供給することができる。
【0071】 装置上の試料からの反射率情報を実際に入手する際のシステム100の使用は
、ここから説明される。実際には、装置10は検体、化学物質にさらされ、及び
検体の相対的な大きさと同様に、検体が存在するか、しないかに関する有意義な
情報を含むことができる色濃度を有する着色されたスポット60を生成するため
に、洗浄されるであろう。他に、本発明の目的として、装置10はシステム10
0に与えられ、それは周辺の膜領域70と相対した着色されたスポット60の彩
度を識別するために使用されるであろう。言い換えれば、スポット60がどのよ
うに周辺領域70に生成されたかは、本発明には比較的重要ではなく、名目上の
スポットの直径を供給することが、システム100には適している。
【0072】 最初に着色されていない装置10、例えば図1Bに記載されたものは、ホルダ
110に挿入され、及びコントロール、例えば150は、表示器130/140
上にゼロ読み取りを生成するために調整されるであろう。他に、システム100
は、空白、好ましくはすべて白の装置10で表示される場合に、前記システムを
自動的にゼロにする電子機器を含むことができる。前記ゼロ調整(手動又は自動
)は基本的には、好ましくは白い背景のための背景参照信号を基準化し又は設定
する。この基準化された信号レベルは、領域70によって囲まれた(好ましくは
赤く)着色されたスポット60を含む装置10を使用するときに、領域70から
入手されなければならない。
【0073】 前記空白の装置は、ホルダ110から除去され、実際に着色された試料のスポ
ットは、ホルダ、例えば図1A、1C乃至1Fに記載された装置に、制約なく挿
入される。実際には、デジタル読み取り装置130及び/又はアナログ読み取り
装置140は、自動的に1秒以内くらいに読み取りを表示する。出力読み取りが
行われる速度は、低域フィルタ260の減衰特性によって部分的に決定される。
【0074】 出力読み取りは、本発明からの光を当てられる着色されていない周辺領域と相
対した着色された領域の彩度の良い指標となるであろう。最も重要なことは、シ
ステム100は専門家でない者によって操作されることができ、及びその結果は
、所望であれば、システム100の中のオプションのメモリによって電子的にコ
ピーされ又は記憶されることができる。
【0075】 出力表示器130、140は、目前の作業に合わせて作られることができるこ
とが評価されるであろう。例えば、コントロール160は、例えば「血液検体」
、「尿検体」等のいくつかの位置の一つに転換可能でもよく、前記位置によって
、出力表示器130、140は、目前の作業に対して再基準化される。再基準化
によって、表示器130、140上の出力レベルは、目前の作業に対して再基準
決定又は再基準化される。血液試料に対しては、おそらく「12.3」の最小限
のデジタル読み取りが良いが、尿試料には、最小読み取りは「9.5」であろう
。再標準化は、各試料に対する適切な読み取りという結果を生む。
【0076】 一度標準化されると、出力表示器は、所望であれば、計測された光の強度デー
タ、例えば:「良い」「悪い」「疑わしい」に基づいて、多くの出力の一つを表
示することができる。所望であれば、デジタル出力130は、英数字読み取りを
使用して、前記の単語をつづることができる。
【0077】 所望であれば、装置10の形状は、異なる作業に対して専用にすることができ
る。例えば、試料が血液である場合、装置10の上部右角は切り取られることが
できる;試料が尿である場合、上部左角は切り取られることができる、等である
。マイクロスイッチ又はホルダ110に関連する同様のものは、どの種類のデー
タが表示されるかを自動的に感知することができ、及び出力表示器130、14
0を自動的に再基準化することができる。あらゆる場合において、訓練されてい
ない専門家でない者がうまく装置100を操作することができることは評価され
る。
【0078】 システム100は、250ドル以下で大量生産することができ、及びおそらく
6センチメートル×15センチメートル×18センチメートルかそれより小さい
形状要素で製造されることができる。使いやすさ、剛性、低費用及び小ささはす
べて、従来システムに対してきわだった対照を見せる。さらに、膜起伏形状を補
う能力は、最低1パーセント及びおそらく100パーセントかそれ以上の正確性
を前記システム読み取りに加え、及びノイズを生成することなくピーク信号を計
測する能力は、さらにシステムの信頼性を向上させる。本発明は、従来のシステ
ムよりも多く、最大量の光学的情報を着色されたスポットから入手し、及び向上
した正確性と信頼性でそれを行う。
【0079】 図2乃至5及び波形6A乃至6Gに記載の構成は、本発明の一つの実施形態を
示している。起伏形状補正及び信号/ノイズの向上を供給する他の実施形態も可
能である。上述のとおり、図4Aに記載の実施形態は、実質的に同一のLEDを
使用することによって、差動LEDのドリフトを最小限にするように努める。異
なるアプローチが図7Aに記載の実施形態においてとられ、そこでは単一の光源
LS1が使用される。当然ながら、前記スポット及び周辺領域のそれぞれ60、
70が単一の実質的に均一の出力光源から照明を当てられることができる場合、
異なる光源による差動ドリフトはないであろう。
【0080】 このように、図7Aにおいては、拡散性(おそらく白)を有し又は反射性(お
そらく鏡面)を有してもよい内部表面310を有する反射装置300は、単一の
光源LS1からの光線を、装置10に一様に誘導する。LS1はLED又は(ス
イッチ速度が重要でない場合)他の光源の中でも、白熱がよいかもしれない。装
置10に誘導される前に好ましくは充分に拡散される光出力を有する単一の光源
を供給することによって、図4Aに記載の複数のLED実施形態において存在す
るかもしれない光源から光源の変化は、排除される。
【0081】 好ましくは、LS1から装置10に誘導された光線は、集束されていない光線
である。拡散非集束光が望ましい場合、拡散装置320が含まれてもよく、装置
300の内側表面310、例えばおそらく白い表面それ自身は、散乱性でもよい
。他に、内側反射表面310は、高い反射性の、例えば鏡でもよい。拡散性でも
、反射性でも、またそれらの組み合わせでも、反射装置300の内側表面310
は、制約のない、半球や放射状を含む様々な形状を有してもよい。
【0082】 穿孔ディスク(perforated disk)340は、背景領域70に照明を当てるた めの光が通過する貫通開口部370を定める。ディスク340はまた、スポット
60に照明を当てるための光が通過する貫通開口部380(図7Bに記載)も定
める。好ましい実施形態においては、円形ディスク340は8つの開口部370
、及び4つの開口部380、合計で12の開口部を有する。
【0083】 図7Aにおいて、ディスク340は、第一の又は光源平面に搭載されるように
示されている。所望であれば、代わりに回転ディスク340が、第二の平面また
はPD平面に隣接して搭載されることができる。この代替的実施形態は、図7A
において、想像線ディスク340’によって示されている。当然であるが、第二
の平面に搭載されたディスク340’における様々な貫通開口部の位置は、第一
の平面に搭載されたディスクの開口部の位置とは異なる。簡易に図示するために
、図7Bは反射装置300を含まない。
【0084】 第一の平面に搭載されても、第二の平面に搭載されても、穿孔円形ディスク3
40は主クロック装置270からの命令信号の下で、中央ディスク中心軸360
に関してモータ350によって回転される。(図7Bにおいてwで示されている
)機械的回転速度は、好ましくは、システムの電子的ノイズを低減させる周波数
、例えば100ヘルツから約5キロヘルツである。機械式ディスク回転によって
、光を、装置10上の所望のスポット60又は周辺領域70に当たり、又は当た
らないようにすることができる。所望の開口部が装置10の上に整列して配置さ
れている場合、PD計測が行われる。このように、一対の開口部370が装置1
0に配列されている場合に、シャッタ動作を制御する主クロック装置からの信号
によって決定されるとおり、領域70からの背景PD強度読み取りが行われる。
同様に、スポットPD強度読み取りは、単一の開口部380がスポット区域(こ
こでも、主クロック装置からの信号によって決定される)に整列される場合に、
行われる。ディスク回転は主クロック270によって制御されるので、PDA、
PDB(好ましくは、図4A、4Bに記載のとおり、同じ起伏形状補正方位90
度又は180度の方向を有する)からの出力信号は、図6に記載の波形C及びD
に類似する。
【0085】 図4Aの場合、光照明の異なる組み合わせが可能である。一つの組み合わせは
、単に、スポット60、周辺領域70、スポット60、周辺領域70というよう
に、交代で照明を当てるものである。図7Aにおいて、ディスク340の穴の型
は、光の型に影響を与える。他に、図4A及び7Aにおいてスポット及び周辺領
域の両方に照明を当てることができ、及びスポットだけか又は周辺領域だけ(ス
ポットは除く)に照明を当てることができる。PDA、PDB信号は、(より少
ないスポットだけ又はより少ないスポットを除く周辺区域の合計照度に対応して
)、スポット及び背景又は周辺領域に所望の信号を供給するために、減じられる
ことができる。
【0086】 図7Dに記載の実施形態は、好ましくは固体の状態(例えば、液晶)のシャッ
タ400が、機械式シャッタの代わりに使用されていることを除いて、図7Aと
いくらか類似している。ここでも、単一の光源LS1が、反射装置300ととも
に使用されてもよく、好ましくは図7Aに関して説明された。LS1からの均一
分散光は、不透明よりもむしろ選択的に透明であるシャッタ400の選択的通過
貫通領域410、420によって、スポット60又は周辺領域70(又は所望で
あれば、スポット60及び領域70)に向かう。領域410、420は、主クロ
ック装置270からのタイミング信号に応答するシャッタ駆動装置430からの
適切な電子信号によって、不透明又は反射状態から、透明状態に変わる。図7C
において想像線で示されたとおり、液晶シャッタ400’は、第一の、LED平
面よりもむしろ、第二の、PD平面に配置されてもよい。簡易な図示のために、
図7Dは反射装置300を含まない。
【0087】 図7Eは、単一の光源LS1が(上述の装置300と同一でもよい)反射装置
300とともに、レンズ・システム170を介して装置10に照明を当てる本発
明の実施形態を示す。この実施形態においては、LS1は常に電源が入っている
が、電力消費を節約するために、パルスされ(pulsed)てもよい。
【0088】 複数のPD、それらの6つの好ましくは同一の検出器PDA、PDB、...
PDFは、図示されたとおり、(膜表面の繊維の性質によって)90度又は18
0度の方位に配置される。各PDは独自のレンズ、例えばPDAにはレンズ17
0A、PDBにはレンズ170B等を有しており、PDA並びにPDD、及びP
DC並びにPDFは、個別の背景領域70からの光を計測する一方で、PDB及
びPDEは、スポット区域60からの光を計測する。好ましくはPDは平面より
も三次元で配置され、及び上述のとおり起伏形状補正を供給することが理解され
る。
【0089】 図7Eの実施形態において、LS1は、領域70及び領域60に常に照明を当
てることができる。しかしながら、様々なPDの集束された性質は、PDB及び
PDEからの出力が、スポット強度の基準になる一方で、残りのPDからの出力
は、背景区域の強度の基準になることを確証する。様々なPDの出力が、例えば
所望であれば主クロック装置の制御下でサンプリングされ、どの信号が装置10
の膜表面のどの領域を表すかがわかる。信号処理は、前述の内容と類似して行わ
れる。
【0090】 図7Fに記載の実施形態は、LED焦点平面とPD焦点平面の位置を逆にする
:(起伏形状・スキュー効果を最小限にするために)LEDは装置10の近くへ
と90度又は180度の方位に傾斜し、及びPDは装置10から離れて配置され
る。図7Fは、2つのLED、LED1及びLED2を示す一方で、実際には、
三次元に分配された追加のLEDが使用されてもよい。このように、4つのLE
Dが使用されると、平面図では、LED1及びLED2は、9時及び3時の時計
の位置に、LED3及びLED4は12時及び6時の時計の位置にあるかもしれ
ない。しかしながら、方位的には、すべてのLEDは、膜表面の繊維によって示
されるとおり、90度又は180度に傾斜するだろう。
【0091】 図7Fは、図7Eにいくらか類似する。図7Fにおいて、膜表面は実質的にL
EDによって均一に照明を当てられ、及び各PDは、装置10の個別の領域に集
束される。このようにPDBからの信号は、スポット60の強度に応答する一方
で、PDA及びPDCからの信号は、背景領域70の強度に応答するであろう。
図7Fにおいて、主クロック装置270及びLED駆動装置280(図5参照)
は、好ましくはLEDをパルス点滅させる。LEDの電源が切れている場合、例
えば起動されない場合、PDA、PDB、PDCからの出力信号は、いわゆるゼ
ロ信号ドリフト・誤差(例えば、光がない場合の増幅されたPDからの誤差信号
)である。LEDの電源が入っている場合、PDA、PDB、PDCからの信号
は、反射光に応答する。LEDがオフ及びLEDがオンの場合のPD出力を減じ
ることは、ゼロ信号ドリフト・誤差・コンポーネントを相殺するであろう。前記
信号のさらなる処理は、図5を参照して上述されたとおりに、実行されてもよい
【0092】 本発明は、幅広い応用、生物学的及び非生物学的に使用されてもよい。例えば
、出願人チュの係属中アメリカ合衆国特許出願番号第08/823,936号、
1997年3月25日出願、「検体検査装置」において開示されている装置は、
ここに参照のために採用されており、免疫学的検定に使用されてもよい。前記免
疫学的検定の結果は、本発明を使用して得られてもよい。当然であるが、検出可
能な対象の範囲は、検体それ自体には限定されない。他の物質の中でも、大気中
の汚染物質、武器に使用される細菌は、本発明によって検出可能である、膜の無
垢の部分に相対したコントラストを有する、着色され又は着色されていないスポ
ットを作るかもしれない。さらに、本発明は反射され、拡散され、又は誘導され
た可視光の使用について説明してきた一方で、不可視光、例えば赤外線、紫外線
、X線周波数放射線、又はおそらく低エネルギ・レーザ光も同様に使用されても
よいことが理解される。
【0093】 添付の特許請求の範囲によって定義される本発明の主題と精神から逸脱するこ
となく、開示された実施形態に変更及び変形が行われてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1A】 図1Aは、本発明を実施し得るスポット生成装置の斜視図で ある。
【図1B】 図1Bは、スポットが存在しない、図1Aの装置の平面図であ
る。
【図1C】 図1Cは、完全に形成された暗いスポットを表す、図1Aの装
置の平面図である。
【図1D】 図1Dは、ゆがんだ暗いスポットを表す、図1Aの装置の平面
図である。
【図1E】 図1Eは、完全に形成された明るい着色のスポットを表す、 図1Aの装置の平面図である。
【図1F】 図1Fは、ゆがんだ明るい着色のスポットを表す、図1Aの装
置の平面図である。
【図2】 図2は、本発明の斜視図である。
【図3A】 図3Aは、従来技術による、反射光の強度をモニタするため の従来構成を示す図である。
【図3B】 図3Bは、反射光の強度間のアプリカントおよび光検出器間 の角度方向によって発見された、本発明による三角関係を示す図である。
【図4A】 図4Aは、膜起伏形状によるスキューを最小限に抑えるよう に反射光の強度をモニタするための、本発明による好ましい構成の側面図である
【図4B】 図4Bは、図4Aに示す構成の単純化した平面図であり、本発
明に従って光検出器間の方位角方向を表す図である。
【図5】 図5は、本発明の好ましい実施例のブロック図である。
【図6】 図6A〜図6Gは、図5に示すノードでの波形を示す図である。
【図7A】 図7Aは、単一の光源および回転可能な機械的シャッタを用 いて膜起伏形状によるスキューを最小限に抑える、本発明による別の実施例の側
面図である。
【図7B】 図7Bは、本発明による、図7Aに示す構成の単純化平面図で
ある。
【図7C】 図7Cは、単一の光源および電子シャッタを用いて膜起伏形 状のスキューを最小限に抑える、本発明によるまた別の実施例の側面図である。
【図7D】 図7Dは、本発明による、図7Cに示す構成の単純化平面図で
ある。
【図7E】 図7Eは、単一の光源および複数の合焦PDを用いて膜起伏 形状によるスキューを最小限に抑える、本発明による他の実施例の側面図である
【図7F】 図7Fは、LEDおよびPDの位置を交換して膜起伏形状に よるスキューを最小限に抑える、本発明によるまた別の実施例の側面図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 チュー アルバート イー アメリカ合衆国 カリフォルニア州 94010 ヒルスボロー ロブラー アベニ ュー 140 Fターム(参考) 2G059 AA01 BB04 CC16 DD13 EE02 EE13 FF06 GG01 GG02 GG03 GG07 GG10 HH01 HH02 HH03 JJ11 JJ14 JJ23 KK01 KK03 MM15 MM17 NN09 PP04

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料内の分子として認識できる標的検体の存在の可能性を
    定量化する方法であって、(a)前記標的検体にスポット部分を包含する膜を有
    する装置をさらす段階であり、前記スポット部分を化学的に処理して、前記標的
    検体の存在によって前記スポット部分の特性を変え、前記膜の周囲領域に対する
    前記スポット部分のコントラストにより、前記標的検体の存在を定量化し得るよ
    うにする段階と、(b)前記膜の前記スポット部分および前記周囲領域を交互に
    周期的に照明する段階と、(c)前記スポット部分および前記周囲領域で反射し
    た前記光の特性を測定し、このように測定した前記光の特性を比較する段階と、
    (d)このようにして測定した前記光の特性を比較している信号を出力する段階
    とを包含することを特徴とする方法。
  2. 【請求項2】 請求項1の方法において、前記特性が、(i)カラー、(
    ii)カラー濃度、(iii)光学濃度、(iv)反射光の相対的なコントラス
    トからなるグループから選択した少なくとも1つの特性を包含することを特徴と
    する方法。
  3. 【請求項3】 請求項1の方法において、前記標的検体が、(i)核酸、
    (ii)抗原、(iii)抗体、(iv)ハプテン、(v)ハプテン結合体、(
    vi)巨大分子、(vii)タンパク質、(viii)重合体、(ix)化学物
    質からなるグループから選択した少なく1つの検体を包含することを特徴とする
    方法。
  4. 【請求項4】 請求項1の方法において、階段(b)が、(i)可視光源 、(ii)非可視光源、(iii)LED、(iv)レーザー・ダイオード、(
    v)白熱光源、(vi)X線源、(vii)紫外線光源、(viii)赤外線光
    源、(ix)拡散光源、(x)非拡散光源からなるグループから選択した少なく
    とも1つの光源からの照明を与える段階を包含することを特徴とする方法。
  5. 【請求項5】 請求項1の方法において、階段(b)が、(i)円形光パ ターンで前記スポット部分を照明し、環状光パターンで前記周囲領域を照明する
    段階と、(ii)円形光パターンで前記スポット部分を照明し、円形光パターン
    で前記周囲領域のうち少なくとも1つの周囲領域を照明する段階と、(iii)
    前記スポット部分および前記周囲領域の少なくとも一方を非円形光パターンで照
    明する段階と、(iv)複数の光源から前記照明階段を行う段階と、(v)単一
    の光源から前記照明階段を行う段階と、(vi)約100Hzから約10KHz
    までの周波数で交互に周期的に照明する段階と、(vii)前記スポット部分か
    ら前記周囲領域へ交互に周期的に切り替えて照明する段階とからなるグループか
    ら選択した少なくとも1つの階段を包含することを特徴とする方法。
  6. 【請求項6】 請求項1の方法において、階段(b)が、前記スポット部 分および前記周囲領域のうち少なくとも一方を円形光パターンで照明し、前記ス
    ポット部分および前記周囲領域が一線上に位置している段階を包含し、段階(c
    )が、前記測定を実施するように前記線に対して直角な線上に光検出器を配置し
    、前記スポット部分および前記周囲領域が、各々、前記光検出器からほぼ等距離
    のところにあるようにする段階を包含することを特徴とする方法。
  7. 【請求項7】 請求項1の方法において、階段(b)が、単一の光源を用 意する段階と、(i)前記膜の少なくとも1つの選んだ領域に向けて光を通すよ
    うな位置、寸法の貫通開口を構成する回転可能なディスク、(ii)前記膜の少
    なくとも1つの選んだ領域に向けて光を通すように選択的に透明とした領域を構
    成している電子シャッタ、(iii)前記膜の少なくとも1つの選んだ領域に向
    けて光を通すように選択的に透明にした領域を構成している液晶シャッタからな
    るグループから選択した構成要素を通して前記光源から光を選択的に通過させる
    ことによって交互に周期的に照明する段階とを包含することを特徴とする方法。
  8. 【請求項8】 請求項1の方法において、階段(b)が、前記膜の微細構 成における不規則性からのスキュー・誤差を減らすように、方位角90度の倍数
    の角度、互いに隔たった少なくとも第1、第2の光検出器で強度を測定する段階
    を包含することを特徴とする方法。
  9. 【請求項9】 請求項2の方法において、階段(a)が、前記スポット領
    域からの測定光強度を前記周囲領域の測定光強度から減算する段階を包含し、こ
    の減算段階を、(i)アナログ減算、 (ii)デジタル減算からなるグループ から選択した方法で実施し、光がないときの測定強度の影響を低減することを特
    徴とする方法。
  10. 【請求項10】 請求項1の方法において、階段(d)が、(i)前記ス
    ポット部分からの測定反射光と前記周囲領域からの測定反射光の比を表す信号、
    (ii)少なくとも第1、第2の光検出器を用意し、前記スポット部分からの測
    定反射光と前記スポット部分の測定照明強度の比を表す信号を出力すること、(
    iii)少なくとも第1、第2の光検出器を準備し、前記周囲部分からの測定反
    射光と前記周囲部分の測定照明強度の比を表す信号を出力すること、(iv)デ
    ジタル読み取り信号、(v)アナログ読み取り信号、(vi)少なくとも第1、
    第2の光検出器を用意し、複数の比のうちの1つの比を表す信号を出力し、これ
    らの比のうち第1の比が、前記部分の測定照明強度に匹敵する前記スポット部分
    からの測定反射光によって表され、第2の比が、前記周囲部分からの測定反射光
    対前記周囲部分の測定照明強度の比によって表されること、(vii)前記信号
    に比例してカラーを変える光、(viii)前記信号に比例して強度を変える光
    、(ix)印刷出力、(x)ディジタル・コンピュータ・インターフェイス接続
    可能な信号、(xi)ピッチが前記信号に比例する音、(xii)振幅が前記信
    号に比例する音、(xiii)前記信号に適した少なくとも1つワードを発音す
    る可聴発音器からなるグループから選択した少なくとも1つの信号を出力する段
    階を包含することを特徴とする方法。
  11. 【請求項11】 請求項1の方法において、階段(b)が、約100Hz 〜約10KHzの範囲の選択した周波数で交互に周期的に照明する段階を包含し
    、階段(d)が、前記スポット部分の反射した測定光強度および前記周囲領域の
    反射した測定光強度を表す反射光強度を段階(a)で同期照明することで測定す
    る段階、前記スポット部分の反射した測定光強度および前記周囲領域の反射した
    測定光強度を表す反転、非反転の測定反射光強度を結合する段階、反転、非反転
    させた測定反射光強度の増幅バージョンを表す信号を同期して切り替えながらサ
    ンプリングして前記出力信号を得る段階からなるグループから選択した少なくと
    も2つの階段を包含することを特徴とする方法。
  12. 【請求項12】 請求項11の方法において、階段(d)が、さらに、(
    i)前記測定光強度を濾過して前記選択した周波数と関連する周波数成分を低減
    する段階、(ii)前記出力を行う前に同期して切り替えながらサンプリングし
    た信号をローパス濾過する段階からなるグループから選択した少なくとも1つの
    階段を包含することを特徴とする方法。
  13. 【請求項13】 基体上のスポットの、この基体の周囲領域の強度に対す
    る強度を測定する反射測定システムであって、クロック周波数およびテューティ
    サイクルを有する少なくとも周期的なマスタ・クロック信号を出力するマスタ・
    クロック・ユニットと、前記マスタ・クロック・ユニットの出力部に接続してあ
    り、前記スポットに向けて制御状態で光を発し、前記周囲領域に向けて制御状態
    で光を発する少なくとも1つの光源と、前記周囲領域および前記スポットで反射
    した前記光の部分を検出するように配置した第1、第2の光検出器とを包含し、
    前記第1、第2の光検出器からの出力信号が前記定量化用データを含んでいるこ
    とを特徴とするシステム。
  14. 【請求項14】 請求項13のシステムにおいて、前記第1、第2の光検
    出器が、互いに或る方位角量隔たっており、前記基体の微細構成における不規則
    性から生じるスキュー・誤差を減らすようになっており、前記方位角量が(i)
    180の度、(ii)90度からなるグループから選択したものであることを特
    徴とするシステム。
  15. 【請求項15】 請求項13のシステムにおいて、さらに、前記第1、第
    2の光検出器からの出力信号を、前記周期的マスタ・クロック信号と同期して、
    サンプリングし、検出して前記定量化データを得る手段を包含することを特徴と
    するシステム。
  16. 【請求項16】 請求項13のシステムにおいて、さらに、前記第1、第
    2の光検出器のゼロ光入力に対する応答を実質的にキャンセルし、前記第1、第
    2の光検出器からの前記出力信号におけるドリフトを実質的にキャンセルする手
    段を包含し、この手段が、前記定量化データの出力を実質的にキャンセルするこ
    とを特徴とするシステム。
  17. 【請求項17】 請求項16のシステムにおいて、実質的にキャンセルす
    る前記手段が、ロックイン増幅器システムを包含することを特徴とするシステム
  18. 【請求項18】 請求項16のシステムにおいて、さらに、前記第1、第
    2の光検出器からの前記出力信号に接続して平均加算信号を出力する加算増幅器
    と、各々が等しいゲインを有し、前記加算増幅器からの前記平均加算信号を受け
    取るようにAC接続してある非反転増幅器および反転増幅器と、前記マスタ・ク
    ロック信号と同期して、前記非反転増幅器の出力と前記反転増幅器の出力を交互
    にサンプリングするように接続したスイッチであり、前記サンプリング段階が、
    前記光源が駆動される前記マスタ・クロック信号テューティサイクルの能動部分
    の遷移なし間隔中に生じるスイッチとを包含し、前記スイッチの出力が、前記定
    量化データを表す平均成分を包含することを特徴とするシステム。 定めることを前記描写している平均の構成要素。
  19. 【請求項19】 請求項13のシステムにおいて、前記少なくとも1つの
    光源が、(i)前記スポットおよび前記周囲領域を交互に照明すること、(ii
    )前記スポットおよび前記周囲領域を同時に照明すること、(iii)前記スポ
    ットのみを照明し、前記スポット以外のときは交互に前記周囲領域を照明するこ
    とからなるグループから選択した少なくとも1つの方法で前記基体を照明するこ
    とを特徴とするシステム。
  20. 【請求項20】 請求項13のシステムにおいて、前記光源が、(i)可
    視光源、(ii)不可視光源、(iii)LED、(iv)レーザー・ダイオー
    ド、(vi)X線源、(vii)紫外線光源、(viii)赤外線光源、(ix
    )拡散光源、(x)非拡散光源からなるグループから選択したものであることを
    特徴とするシステム。
JP2000530879A 1998-02-10 1999-02-09 試料ホルダ起伏形状を補償し且つシステム・ノイズのロック除去を行う反射測定システム Pending JP2002502980A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US2141998A 1998-02-10 1998-02-10
US09/021,419 1998-02-10
PCT/US1999/002707 WO1999040536A1 (en) 1998-02-10 1999-02-09 Reflectometry system with compensation for specimen holder topography and with lock-rejection of system noise

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002502980A true JP2002502980A (ja) 2002-01-29

Family

ID=21804113

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000530879A Pending JP2002502980A (ja) 1998-02-10 1999-02-09 試料ホルダ起伏形状を補償し且つシステム・ノイズのロック除去を行う反射測定システム

Country Status (4)

Country Link
US (2) US6584217B1 (ja)
EP (1) EP1060455A4 (ja)
JP (1) JP2002502980A (ja)
WO (1) WO1999040536A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010216818A (ja) * 2009-03-13 2010-09-30 Meidensha Corp 化学種定量方法及び化学種定量装置
JP2012098272A (ja) * 2010-08-23 2012-05-24 Nsk Ltd 標的物質濃度測定装置および標的物質濃度測定方法
US10182190B2 (en) 2014-11-10 2019-01-15 Nikon Corporation Light detecting apparatus, image capturing apparatus and image sensor

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999040536A1 (en) * 1998-02-10 1999-08-12 Ey Laboratories, Inc. Reflectometry system with compensation for specimen holder topography and with lock-rejection of system noise
US20040166593A1 (en) * 2001-06-22 2004-08-26 Nolte David D. Adaptive interferometric multi-analyte high-speed biosensor
US6985231B2 (en) * 2001-09-20 2006-01-10 Strainoptics, Inc. Method and apparatus for measuring the optical quality of a reflective surface
US7256833B2 (en) * 2002-05-22 2007-08-14 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method and apparatus for automatically optimizing optical contrast in automated equipment
US7408527B2 (en) * 2004-04-30 2008-08-05 Infocus Corporation Light emitting device driving method and projection apparatus so equipped
WO2006083917A2 (en) * 2005-02-01 2006-08-10 Purdue Research Foundation Laser scanning interferometric surface metrology
US20070023643A1 (en) 2005-02-01 2007-02-01 Nolte David D Differentially encoded biological analyzer planar array apparatus and methods
US7910356B2 (en) * 2005-02-01 2011-03-22 Purdue Research Foundation Multiplexed biological analyzer planar array apparatus and methods
US7499170B2 (en) * 2005-07-13 2009-03-03 Fcc, Llc System and method for reading a test strip
EP2010868B1 (en) * 2006-03-28 2017-01-18 University of Southern California Biomimetic tactile sensor
US8181540B2 (en) * 2006-03-28 2012-05-22 University Of Southern California Measurement of sliding friction-induced vibrations for biomimetic tactile sensing
US20070259366A1 (en) * 2006-05-03 2007-11-08 Greg Lawrence Direct printing of patterned hydrophobic wells
US20080144899A1 (en) * 2006-11-30 2008-06-19 Manoj Varma Process for extracting periodic features from images by template matching
US20080230605A1 (en) * 2006-11-30 2008-09-25 Brian Weichel Process and apparatus for maintaining data integrity
US7522282B2 (en) 2006-11-30 2009-04-21 Purdue Research Foundation Molecular interferometric imaging process and apparatus
EP1936362B1 (de) * 2006-12-20 2020-03-18 Roche Diabetes Care GmbH Testelement mit Referenzierung
US7659968B2 (en) 2007-01-19 2010-02-09 Purdue Research Foundation System with extended range of molecular sensing through integrated multi-modal data acquisition
CA2681722A1 (en) * 2007-03-26 2008-10-02 Purdue Research Foundation Method and apparatus for conjugate quadrature interferometric detection of an immunoassay
US8272278B2 (en) * 2007-03-28 2012-09-25 University Of Southern California Enhancements to improve the function of a biomimetic tactile sensor
WO2009023334A2 (en) * 2007-05-18 2009-02-19 University Of Southern California Biomimetic tactile sensor for control of grip
EP2232239A1 (en) * 2008-01-04 2010-09-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Optimized detector readout for biosensor
US8537237B2 (en) * 2008-03-12 2013-09-17 Koninklijke Philips N.V. Real-time digital image processing architecture
WO2009112984A2 (en) * 2008-03-12 2009-09-17 Koninklijke Philips Electronics N. V. Correction of spot area in measuring brightness of sample in biosensing device
CN102209891B (zh) 2008-11-07 2014-10-22 霍夫曼-拉罗奇有限公司 用于检测试样中的分析物的测试元件
WO2014120844A1 (en) * 2013-01-29 2014-08-07 The Regents Of The University Of California Drift-corrected, high-resolution optical trap and high-sensitivity angular interferometer
US10126546B2 (en) 2013-01-29 2018-11-13 The Regents Of The University Of California Drift-corrected, high-resolution optical trap and high-sensitivity angular interferometer
KR101562946B1 (ko) * 2013-04-23 2015-10-26 주식회사 수젠텍 검체 내 분석물을 검출하기 위한 디바이스 및 방법
US9651532B2 (en) * 2014-02-27 2017-05-16 Honeywell International, Inc. Multi-point gas detector
US11055552B2 (en) 2016-01-12 2021-07-06 Disney Enterprises, Inc. Systems and methods for detecting light signatures and performing actions in response thereto
PL3647774T3 (pl) 2018-10-31 2022-08-01 F. Hoffmann-La Roche Ag Urządzenie i sposób pomiaru stężenia analitu w próbce płynu ustrojowego
CN109298179B (zh) * 2018-11-29 2023-09-01 福州大学 一种免疫层析检测***及其背景识别方法
US20240024555A1 (en) * 2022-07-25 2024-01-25 William M. Gosney Apparatus for processing of blood to neutralize pathogen cells therein

Family Cites Families (90)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE372016C (de) 1921-10-11 1923-06-07 Rudolf Spengler Vorrichtung zur Wiedergabe von Wort und Bild mit einer Einrichtung zum selbsttaetigen Abheben bzw. Aufsetzen des Schreibstiftes auf den Phonogrammtraeger auf elektrischem Wege
US4020151A (en) 1976-02-17 1977-04-26 International Diagnostic Technology, Inc. Method for quantitation of antigens or antibodies on a solid surface
US4092068A (en) * 1976-05-05 1978-05-30 Domtar Inc. Surface sensor
US4097845A (en) 1976-11-01 1978-06-27 Rush-Presbyterian-St. Luke's Medical Center Method of and an apparatus for automatic classification of red blood cells
US4335427A (en) 1980-04-21 1982-06-15 Technicare Corporation Method of selecting a preferred difference image
US4338024A (en) 1980-05-02 1982-07-06 International Remote Imaging Systems, Inc. Flow analyzer and system for analysis of fluids with particles
EP0047472B1 (en) 1980-09-02 1985-04-24 Fuji Photo Film Co., Ltd. Method for immunochemical measurement of trace components
US4476231A (en) 1981-07-22 1984-10-09 International Remote Imaging Systems, Inc. Method of analyzing the distribution of a reagent between particles and liquid in a suspension
DE3138878A1 (de) 1981-09-30 1983-04-14 Boehringer Mannheim Gmbh, 6800 Mannheim Messeinrichtung, insbesondere ulbricht'sche kugel
JPS58130030A (ja) 1981-10-05 1983-08-03 工業技術院長 X線ディジタル画像処理装置
US4447153A (en) * 1982-06-08 1984-05-08 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Apparatus and method for quantitative measurement of small differences in optical absorptivity between two samples using differential interferometry and the thermooptic effect
DE3378933D1 (en) 1982-10-07 1989-02-16 Toshiba Kk Image data processing apparatus
US4537861A (en) * 1983-02-03 1985-08-27 Elings Virgil B Apparatus and method for homogeneous immunoassay
AU565874B2 (en) 1983-03-11 1987-10-01 Ei Solutions, Inc. Adaptive threshold circuit for digital image processing
JPS59214431A (ja) 1983-05-20 1984-12-04 株式会社東芝 放射線診断装置
US4667335A (en) 1983-06-20 1987-05-19 International Remote Imaging Systems, Inc. Method of determining the diagnostic significance of the content of a volume of biological sample containing particles
US4552458A (en) 1983-10-11 1985-11-12 Eastman Kodak Company Compact reflectometer
US4563701A (en) 1983-11-14 1986-01-07 Elscint Ltd. Digital diagnostic imaging system
JPS60150729A (ja) 1984-01-19 1985-08-08 株式会社東芝 X線診断装置
DE3407754A1 (de) 1984-03-02 1985-09-12 Boehringer Mannheim Gmbh, 6800 Mannheim Geraet zur bestimmung des diffusen reflexionsvermoegens einer probenflaeche kleiner abmessungen
US4755058A (en) 1984-06-19 1988-07-05 Miles Laboratories, Inc. Device and method for measuring light diffusely reflected from a nonuniform specimen
US4647544A (en) 1984-06-25 1987-03-03 Nicoli David F Immunoassay using optical interference detection
JPS6116371A (ja) 1984-07-03 1986-01-24 Toshiba Corp デジタルフルオログラフイ装置
US4817123A (en) 1984-09-21 1989-03-28 Picker International Digital radiography detector resolution improvement
US4648053A (en) 1984-10-30 1987-03-03 Kollmorgen Technologies, Corp. High speed optical inspection system
AU5815886A (en) 1985-05-29 1986-12-24 Kurt Tiefenthaler Optical sensor for selectively determining the presence of substances and the variation of the refraction index in the measured substances
DE3526566A1 (de) 1985-07-25 1987-02-05 Boehringer Mannheim Gmbh N-acyl-dihydroresorufin-derivate, verfahren zu deren herstellung sowie deren verwendung zur bestimmung von wasserstoffperoxid, peroxidatisch wirkender verbindungen oder peroxidase
JPH0629852B2 (ja) 1985-08-26 1994-04-20 富士写真フイルム株式会社 偏倚乾式分析要素を用いた液体試料中の被検物質の定量分析方法
US4769776A (en) 1985-08-30 1988-09-06 Hitachi, Ltd. Apparatus for measuring the concentration of filamentous microorganisms in a mixture including microorganisms
US4737464A (en) 1985-09-26 1988-04-12 Molecular Devices Corporation Solid-state optical assay imaging apparatus
US5008185A (en) 1985-11-04 1991-04-16 Cell Analysis Systems, Inc. Methods and apparatus for the quantitation of nuclear proteins
US5485527A (en) 1985-11-04 1996-01-16 Becton Dickinson And Company Apparatus and method for analyses of biological specimens
US4741043B1 (en) 1985-11-04 1994-08-09 Cell Analysis Systems Inc Method of and apparatus for image analyses of biological specimens
US4891757A (en) 1986-04-14 1990-01-02 Picker International, Inc. Medical imaging system and method having gray scale mapping means for indicating image saturation regions
EP0253371A1 (en) 1986-07-15 1988-01-20 Omron Tateisi Electronics Co. Chemical level measurement device with easy action cover and single control mode selection capability
US4855930A (en) 1987-03-27 1989-08-08 Chimerix Corporation Method and appartatus for improved time-resolved fluorescence spectroscopy
JP2502591B2 (ja) 1987-05-13 1996-05-29 株式会社リコー 原稿位置検出装置
DE3720166A1 (de) 1987-06-16 1988-12-29 Vysoka Skola Chem Tech Photometrische zelle zum auswerten der intensitaet der verfaerbung von reagenzstreifen
US5028139A (en) 1987-07-16 1991-07-02 Miles Inc. Readhead for reflectance measurement of distant samples
US4922915A (en) 1987-11-27 1990-05-08 Ben A. Arnold Automated image detail localization method
US4882492A (en) 1988-01-19 1989-11-21 Biotronics Associates, Inc. Non-invasive near infrared measurement of blood analyte concentrations
US5121338A (en) 1988-03-10 1992-06-09 Indiana University Foundation Method for detecting subpopulations in spectral analysis
JPH01253634A (ja) 1988-04-01 1989-10-09 Fuji Photo Film Co Ltd 反射濃度測定装置
US5014216A (en) 1988-07-19 1991-05-07 Beckman Instruments, Inc. Concentration determination with multiple wavelength flash photometers
US5353799A (en) * 1991-01-22 1994-10-11 Non Invasive Technology, Inc. Examination of subjects using photon migration with high directionality techniques
US5046003A (en) * 1989-06-26 1991-09-03 General Electric Company Method for reducing skew image artifacts in helical projection imaging
NL8902205A (nl) * 1989-09-01 1991-04-02 Philips Nv Projektiesysteem.
JPH0395435A (ja) 1989-09-08 1991-04-19 Terumo Corp 測定装置
US5255071A (en) * 1989-09-13 1993-10-19 Pollak Fred H Photoreflectance method and apparatus utilizing acousto-optic modulation
US5218419A (en) 1990-03-19 1993-06-08 Eli Lilly And Company Fiberoptic interferometric sensor
FR2663754B1 (fr) * 1990-06-26 1992-09-11 Alsthom Cge Alcatel Procede de fabrication d'une fibre optique destinee notamment a la reflectometrie temporelle et fibre optique obtenue par ce procede.
US5235522A (en) 1990-10-10 1993-08-10 Cell Analysis Systems, Inc. Method and apparatus for automated analysis of biological specimens
US5604105B1 (en) 1990-10-12 1999-08-24 Spectral Diagnostics Inc Method and device for diagnosingand distinguishing chest pain in early onset thereof
US5320814A (en) * 1991-01-25 1994-06-14 Trustees Of Tufts College Fiber optic array sensors, apparatus, and methods for concurrently visualizing and chemically detecting multiple analytes of interest in a fluid sample
US5159412A (en) * 1991-03-15 1992-10-27 Therma-Wave, Inc. Optical measurement device with enhanced sensitivity
JP2912957B2 (ja) 1991-06-18 1999-06-28 東ソー株式会社 酵素活性測定方法及び装置
US5189495A (en) 1991-09-03 1993-02-23 Miles Inc. Ambient light suppression for reflectance photometers
CA2077781A1 (en) 1991-09-23 1993-03-24 James W. Bacus Method and apparatus for automated assay of biological specimens
US5239696A (en) * 1991-10-15 1993-08-24 Sensormatic Electronics Corporation Linear power amplifier utilizing current feedback
US6002829A (en) * 1992-03-23 1999-12-14 Minnesota Mining And Manufacturing Company Luminaire device
US5321492A (en) 1992-08-07 1994-06-14 Miles Inc. Dual function readhead for a reflectance instrument
US5279925A (en) * 1992-12-16 1994-01-18 At&T Bell Laboratories Projection electron lithographic procedure
JPH06282849A (ja) * 1993-01-29 1994-10-07 Sony Corp 光記録媒体、光記録媒体の記録再生装置及び再生装置
WO1994019767A1 (en) 1993-02-26 1994-09-01 E-Y Laboratories, Inc. Optical specimen analysis system and method
US5413939A (en) * 1993-06-29 1995-05-09 First Medical, Inc. Solid-phase binding assay system for interferometrically measuring analytes bound to an active receptor
DE4321548A1 (de) 1993-06-29 1995-01-12 Boehringer Mannheim Gmbh Verfahren zum Erfassen und Auswerten analoger photometrischer Signale in einem Testträger-Analysesystem und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
KR950033689A (ko) * 1994-03-02 1995-12-26 오노 시게오 노광장치 및 이를 이용한 회로패턴 형성방법
US5437840A (en) 1994-04-15 1995-08-01 Hewlett-Packard Company Apparatus for intracavity sensing of macroscopic properties of chemicals
US5515170A (en) 1994-09-08 1996-05-07 Lifescan, Inc. Analyte detection device having a serpentine passageway for indicator strips
WO1996009600A1 (en) * 1994-09-20 1996-03-28 Neopath, Inc. Apparatus for identification and integration of multiple cell patterns
US5616502A (en) 1995-05-19 1997-04-01 Molecular Probes, Inc. Non-specific protein staining using merocyanine dyes
US5642192A (en) * 1995-06-12 1997-06-24 Measurex Corporation Dual spectrometer color sensor
US5706094A (en) * 1995-08-25 1998-01-06 Brown University Research Foundation Ultrafast optical technique for the characterization of altered materials
US5633724A (en) 1995-08-29 1997-05-27 Hewlett-Packard Company Evanescent scanning of biochemical array
US5518689A (en) 1995-09-05 1996-05-21 Bayer Corporation Diffused light reflectance readhead
US5831254A (en) * 1995-12-18 1998-11-03 Welch Allyn, Inc. Exposure control apparatus for use with optical readers
US6586193B2 (en) * 1996-04-25 2003-07-01 Genicon Sciences Corporation Analyte assay using particulate labels
US5661563A (en) 1996-05-09 1997-08-26 Bayer Corporation Reflectance spectroscope with read head for minimizing singly-reflected light rays
US5654803A (en) 1996-05-09 1997-08-05 Bayer Corporation Apparatus and method for determination of non-hemolyzed levels of occult blood in urine
JP4306800B2 (ja) * 1996-06-04 2009-08-05 ケーエルエー−テンカー テクノロジィース コーポレイション 表面検査用光学走査システム
DE19629141A1 (de) * 1996-07-19 1998-04-16 Bayer Ag Verfahren und Vorrichtung zum Screening von Molekülen bezüglich ihres individuellen Bindungsverhaltens zu mindestens einem vorgegebenen Ligand
US5781299A (en) * 1996-09-24 1998-07-14 Phase Metrics Determining the complex refractive index phase offset in interferometric flying height testing
DK1017993T3 (da) * 1997-09-25 2009-07-27 Siemens Healthcare Diagnostics Spektroskopisk analyse af pröver med uklarhed og höj absorbans
WO1999040536A1 (en) * 1998-02-10 1999-08-12 Ey Laboratories, Inc. Reflectometry system with compensation for specimen holder topography and with lock-rejection of system noise
US6248988B1 (en) * 1998-05-05 2001-06-19 Kla-Tencor Corporation Conventional and confocal multi-spot scanning optical microscope
US6515292B1 (en) * 1998-05-19 2003-02-04 California Institute Of Technology High resolution electron projection
US7057721B2 (en) * 2002-01-10 2006-06-06 Chemimage Corporation Wide field method for detecting pathogenic microorganisms
US20030171655A1 (en) * 2002-03-08 2003-09-11 Newman Richard W. Combination otoscope
US6896381B2 (en) * 2002-10-11 2005-05-24 Light Prescriptions Innovators, Llc Compact folded-optics illumination lens
JP4773348B2 (ja) * 2003-07-12 2011-09-14 アクセラー8 テクノロジー コーポレイション 高感度かつ迅速なバイオ検出法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010216818A (ja) * 2009-03-13 2010-09-30 Meidensha Corp 化学種定量方法及び化学種定量装置
JP2012098272A (ja) * 2010-08-23 2012-05-24 Nsk Ltd 標的物質濃度測定装置および標的物質濃度測定方法
US10182190B2 (en) 2014-11-10 2019-01-15 Nikon Corporation Light detecting apparatus, image capturing apparatus and image sensor

Also Published As

Publication number Publication date
WO1999040536A1 (en) 1999-08-12
EP1060455A1 (en) 2000-12-20
US20040071331A1 (en) 2004-04-15
US7031508B2 (en) 2006-04-18
US6584217B1 (en) 2003-06-24
EP1060455A4 (en) 2002-08-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002502980A (ja) 試料ホルダ起伏形状を補償し且つシステム・ノイズのロック除去を行う反射測定システム
US7217393B2 (en) Apparatus and method for process monitoring
JP5159760B2 (ja) ヒストグラムを用いる光学データの解析
EP2385369B1 (en) Assay reader operable to scan a test strip
US8173439B2 (en) Measurement system with optical referencing
CN104428653B (zh) 自动分析装置
JPH11258150A (ja) フレネル反射体を使用する医療診断機器
KR20000053341A (ko) 분석 장치
GB2432660A (en) System for counting bacteria and determining their susceptibility to antibiotics
US8068217B2 (en) Apparatus for testing component concentration of a test sample
JPH11511557A (ja) 環境光の下での標本の特性を決定する方法と装置
EP1812783A2 (en) Read-head for optical diagnostic device
EP4196720A1 (en) Circuit board with onboard light sources
JPH09308623A (ja) 無侵襲生化学計測装置
US20070122914A1 (en) Obtaining measurements of light transmitted through an assay test strip
JPS59109844A (ja) 反射光測定装置
KR20200040417A (ko) 정량적 측정을 위한 스트립 삽입형 형광 리더장치 및 장치의 프로세서
JPS5995441A (ja) 反射光測定装置
KR20200133540A (ko) 광학식 체외진단기기와 이를 이용한 체외진단 방법
CA2073344C (en) Fluorescence assay apparatus
US20070292964A1 (en) Measuring Equipment and Measuring Method
WO2024012825A1 (en) Test strip cassette, monitoring device and method for fabricating a test strip cassette
WO1982000355A1 (en) Method and apparatus for the measurement of the properties of an agglutination
TW202338351A (zh) 篩檢試紙讀取量測方法