JP2002342963A - 光ディスク装置及びその制御方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】 チルトセンサなどの特別な検出装置を設ける
ことなく、光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面
の傾きを光学ピックアップによる再生信号によって正確
に検出し、かつ光ビームの光軸に対する光ディスクの記
録面の傾きを最適な角度に制御することができる光ディ
スク装置を提供する。 【解決手段】 光ディスク１の記録面と光ビームの相対
傾き（チルト量）を基準角度を中心として所定ステップ
角度で変化させながら再生信号の振幅値を計測する計測
手段２０と、チルト量と再生信号の振幅値の関係を最小
二乗法により２次関数に近似して再生信号の振幅値が最
大となる最適チルト量を演算結果として演算手段と、演
算結果の正否を判定する手段を有し、演算結果が異常の
場合には基準角度を所定ステップだけずらして再設定
し、再計測・再演算を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクに光ビ
ームを照射して情報の記録や再生を行う光ディスク装置
及びその制御方法に関し、特に光ディスクの記録面と光
ビームの相対的な傾きを制御するチルト制御に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】近年、大容量のデータを記録再生する手
段として、より高い記録密度で記録または再生できる光
ディスク装置が要望されている。高密度記録の光ディス
ク装置を実現するためには、光ビームの光軸に対する光
ディスクの記録面の傾き（チルト量）を最適な角度に制
御する必要がある。光ビームの光軸に対する光ディスク
の記録面の傾き（チルト量）が最適な角度に保たれない
場合には、光ディスクに光ビームを集束した際の光スポ
ットが収差をもち、高密度に記録されたデータを正確に
読み出すことや、品質のよい信号を高密度で記録するこ
とは困難である。ところが光ディスクの基板は、一般的
に樹脂材料を成形して構成されているために、成形時の
ひずみや保存状態などにより反りを生じる場合が多い。
このような反りを有する光ディスクの記録面に対して光
ビームの光軸の傾き（チルト量）を制御する方法として
従来からいくつかの方法が提案されている。

【０００３】例えば、実開平２−７２４１４号公報、特
開平７−２７２３００号公報、特開平１０−３０８０２
３号公報などにおいては、発光素子と２分割された受光
素子で構成されたいわゆるチルトセンサを光ヘッド上に
設け、このチルトセンサで光ヘッドと光ディスクの記録
面の相対的な傾きを検出し、チルトセンサの検出信号に
基づいて光ヘッド全体を駆動機構によって傾けながら光
ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の傾きを制御
する装置が提案されている。また、特開平１０−８１２
５６４号公報には、チルトセンサを光ヘッド上ではなく
シャーシ上に固定して設け、これらで検出された信号か
ら光ディスクの反りを求めてチルト量を補正する装置が
開示されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の構
成では、光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の
傾きを検出するためにそれ専用のチルトセンサを用いて
いた。よって、チルトセンサを配置するためのスペース
が必要となると共にセンサ単体のみならずその駆動用回
路、検出用回路を合わせたコストアップを招いていた。
また、チルトセンサによっては光ビームの光軸と光ディ
スクの記録面の相対傾きそのものを検出するものではな
いため、チルトセンサの検出原点角度と光ビームの光軸
の傾きを合わせるための調整作業が必要になる。さらに
チルトセンサが傾きを検出する位置と光スポットの位置
を一致させるのは困難のため、光スポットの位置での光
ディスクの記録面の傾きを検出することもできず、検出
誤差が生じていた。

【０００５】本発明は、上記の課題を鑑みてなされたも
のであり、チルトセンサなどの特別な検出装置を設ける
ことなく、光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面
の傾きを光学ピックアップで読み取った再生信号を用い
て正確に検出し、かつ光ビームの光軸に対する光ディス
クの記録面の傾きを最適な角度に制御することができる
光ディスク装置を提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】前記の問題点を解決する
ために本発明は、以下の構成を有する。本発明の第１の
構成は、スパイラル状または同心円状に形成されたトラ
ックを有する光ディスクに光ビームを集束して照射し、
信号の記録または再生を行う光学ピックアップと、前記
光ディスクからの反射光を受光する光検出器と、前記光
ディスクの記録面と前記光ビームの相対傾きであるチル
ト量に応じて変化する信号を前記光検出器の出力信号を
用いて生成する再生信号処理部と、第１のモードにおい
ては前記チルト量を複数の異なる値に設定する指令信号
を順次出力し、第２のモードにおいては前記チルト量を
最適チルト値に設定するチルト設定信号生成部と、前記
チルト設定信号生成部の出力信号に応じて前記チルト量
を可変するチルト駆動機構と、前記指令信号に基づいて
前記チルト駆動機構を駆動して前記チルト量を順次変化
させたときの前記再生信号処理部の出力値を計測する再
生信号計測部と、前記指令信号によって変化させた前記
チルト量と前記再生信号計測部の計測値とに基づいて前
記最適チルト値を算出する最適チルト量演算部と、を具
備することを特徴とする光ディスク装置である。

【０００７】又、本発明の第１６の構成は、スパイラル
状または同心円状に形成されたトラックを有する光ディ
スクに光ビームを集束して照射し、信号の記録または再
生を行う光学ピックアップと、前記光ディスクからの反
射光を受光する光検出器と、前記光ディスクの記録面と
前記光ビームの相対傾きであるチルト量に応じて変化す
る信号を前記光検出器の出力信号を用いて生成する再生
信号処理部と、前記再生信号処理部の出力値を計測する
再生信号計測部と、前記チルト量を可変するチルト駆動
機構と、を具備する光ディスク装置の制御方法であっ
て、前記チルト量を複数の異なる値に設定する指令信号
を順次出力し、前記指令信号に応じて前記チルト駆動機
構を駆動して前記チルト量を順次変化させ、前記チルト
量を順次変化させたときの前記再生信号処理部の出力信
号を計測し、前記指令信号によって変化させた前記チル
ト量と前記再生信号計測部の計測値とに基づいて最適チ
ルト値を算出する最適チルト量検出ステップと、前記チ
ルト量を前記最適チルト値に設定する最適チルト量設定
ステップと、を有することを特徴とする光ディスク装置
の制御方法である。チルトセンサなどの特別な検出装置
を設けることなく、光ビームの光軸に対する光ディスク
の記録面の傾きを光ヘッドによる再生信号によって正確
に検出し、かつ光ビームの光軸に対する光ディスクの記
録面の傾きを最適な角度に制御することができる。

【０００８】本発明の第２の構成は、スパイラル状また
は同心円状に形成されたトラックを有する光ディスクに
光ビームを集束して照射し、信号の記録または再生を行
う光学ピックアップと、前記光ディスクからの反射光を
受光する光検出器と、前記光ディスクの記録面と前記光
ビームの相対傾きであるチルト量に応じて変化する信号
を前記光検出器の出力信号を用いて生成する再生信号処
理部と、第１のモードにおいては前記チルト量を複数の
異なる値に設定する指令信号を順次出力し、第２のモー
ドにおいては前記チルト量を最適チルト値に設定するチ
ルト設定信号生成部と、前記チルト設定信号生成部の出
力信号に応じて前記チルト量を可変するチルト駆動機構
と、前記指令信号に基づいて前記チルト駆動機構を駆動
して前記チルト量を順次変化させたときの前記再生信号
処理部の出力値を計測する再生信号計測部と、前記指令
信号によって変化させた前記チルト量と前記再生信号計
測部の計測値との関係を最小二乗法により所定の関数に
近似し、前記関数に基づいて前記最適チルト値を算出す
る最適チルト量演算部と、を具備することを特徴とする
光ディスク装置である。

【０００９】又、本発明の第１７の構成は、前記最適チ
ルト量検出ステップにおいて、前記指令信号によって変
化させた前記チルト量と前記再生信号計測部の計測値と
の関係を最小二乗法により所定の関数に近似し、前記関
数に基づいて前記最適チルト値を算出することを特徴と
する第１６の構成の光ディスク装置の制御方法である。
これにより、わずかな個数の測定値に基づいて正確な最
適チルト値を求めることが出来る。小型の計算回路又は
短い計算時間で正確な最適チルト値を求めることが出来
る。

【００１０】本発明の第３の構成は、前記最適チルト量
演算部で算出された前記最適チルト値が、前記チルト設
定信号生成部の指令信号に応じて定められる演算限界値
を越えているか否かを判定し、前記最適チルト値が正方
向の前記演算限界値を越えていた場合には前記チルト設
定信号生成部の指令信号をそれによって定められるチル
ト値が正方向に所定量だけ変化するように再設定し、前
記最適チルト値が負方向の前記演算限界値を越えていた
場合には前記チルト設定信号生成部の指令信号をそれに
よって定められるチルト値が負方向に所定量だけ変化す
るように再設定し、前記最適チルト値が前記演算限界値
が越えていない場合には前記チルト設定信号生成部に前
記最適チルト値を設定させる演算結果判定部を更に具備
し、前記最適チルト量演算部で算出された前記最適チル
ト値が正方向または負方向の前記演算限界値を越えてい
た場合には、前記チルト設定信号生成部は再設定した前
記指令信号を出力し、前記再生信号計測部は再設定され
た前記指令信号に応じて前記チルト量を順次変化させた
ときの前記再生信号処理部の出力値を再計測し、かつ前
記最適チルト量演算部は前記最適チルト値を再算出する
ことを特徴とする第１又は２の構成の光ディスク装置で
ある。

【００１１】本発明の第１８の構成は、前記最適チルト
量検出ステップにおいて、前記最適チルト値が前記指令
信号に応じて定められる演算限界値を越えているか否か
を判定し、前記最適チルト値が正方向の前記演算限界値
を越えていた場合には、前記指令信号をそれによって定
められるチルト値が正方向に所定量だけ変化するように
再設定して、前記最適チルト量検出ステップを再実行
し、前記最適チルト値が負方向の前記演算限界値を越え
ていた場合には、前記指令信号をそれによって定められ
るチルト値が負方向に所定量だけ変化するように再設定
して、前記最適チルト量検出ステップを再実行し、前記
最適チルト値が前記演算限界値が越えていない場合には
最適チルト量設定ステップを実行する、ことを特徴とす
る第１６又は１７の構成の光ディスク装置の制御方法で
ある。最適チルト値の正否を判定する手段を有し、最適
チルト値が異常の場合には基準角度を所定ステップだけ
ずらして再設定し、再計測・再演算を行うものであり、
正確な最適チルト値を求めることが出来る。

【００１２】本発明の第４の構成は、前記チルト量を
Ｘ、前記再生信号計測部の計測値をＹとするとＹはＸの
２次関数で表され、前記最適チルト量演算部は、前記Ｙ
が極値となる前記チルト量を最適チルト値として算出
し、前記２次関数の２次係数が正か負かの判定を行い、
正の場合には前記チルト設定信号生成部の指令信号をそ
れによって定められるチルト値が所定量だけ変化するよ
うに再設定し、負の場合には前記チルト設定信号生成部
に前記最適チルト値を設定させる演算結果判定部を更に
有し、前記２次関数の２次係数が正の場合には、前記チ
ルト設定信号生成部は再設定した前記指令信号を出力
し、前記再生信号計測部は再設定された前記指令信号に
応じて前記チルト量を順次変化させたときの前記再生信
号処理部の出力値を再計測し、かつ前記最適チルト量演
算部は前記最適チルト値を再算出する、ことを特徴とす
る第１又は２の構成の光ディスク装置である。

【００１３】本発明の第１９の構成は、前記最適チルト
量検出ステップにおいて、前記チルト量をＸ、前記再生
信号計測部の計測値をＹとするとＹはＸの２次関数で表
され、前記Ｙが極値となる前記チルト量を最適チルト値
として算出し、且つ前記２次関数の２次係数が正か負か
の判定を行い、前記２次関数の２次係数が正の場合には
前記指令信号をそれによって定められるチルト値が所定
量だけ変化するように再設定して、前記最適チルト量検
出ステップを再実行し、前記２次関数の２次係数が負の
場合には最適チルト量設定ステップを実行する、ことを
特徴とする第１６又は１７の構成の光ディスク装置の制
御方法である。最適チルト値の正否を判定する手段を有
し、最適チルト値が異常の場合には基準角度を所定ステ
ップだけずらして再設定し、再計測・再演算を行うもの
であり、ＲＦ信号などの再生信号が最大となる正確な最
適チルト値を求めることが出来る。

【００１４】本発明の第５の構成は、前記チルト量を
Ｘ、前記再生信号計測部の計測値をＹとするとＹはＸの
２次関数で表され、前記最適チルト量演算部は、前記Ｙ
が極値となる前記チルト量を最適チルト値として算出
し、前記２次関数の２次係数が正か負かの判定を行い、
負の場合には前記チルト設定信号生成部の指令信号をそ
れによって定められるチルト値が所定量だけ変化するよ
うに再設定し、正の場合には前記チルト設定信号生成部
に前記最適チルト値を設定させる演算結果判定部を更に
有し、前記２次関数の２次係数が負の場合には、前記チ
ルト設定信号生成部は再設定した前記指令信号を出力
し、前記再生信号計測部は再設定された前記指令信号に
応じて前記チルト量を順次変化させたときの前記再生信
号処理部の出力値を再計測し、かつ前記最適チルト量演
算部は前記最適チルト値を再算出する、ことを特徴とす
る第１又は２の構成の光ディスク装置である。

【００１５】本発明の第２０の構成は、前記最適チルト
量検出ステップにおいて、前記チルト量をＸ、前記再生
信号計測部の計測値をＹとするとＹはＸの２次関数で表
され、前記Ｙが極値となる前記チルト量を最適チルト値
として算出し、且つ前記２次関数の２次係数が正か負か
の判定を行い、前記２次関数の２次係数が負の場合には
前記指令信号をそれによって定められるチルト値が所定
量だけ変化するように再設定して、前記最適チルト量検
出ステップを再実行し、前記２次関数の２次係数が正の
場合には最適チルト量設定ステップを実行する、ことを
特徴とする第１６又は１７の構成の光ディスク装置の制
御方法である。光ディスクの反り量が極端に大きい場合
など再生信号の品位が著しく低下する場合でも、ジッタ
値などが最小となる最適チルト量を正確に検出し、かつ
チルト量を最適な角度に精度良く制御することが可能で
ある。

【００１６】本発明の第６の構成は、前記演算結果判定
部は、前記２次関数の２次係数が正か負かを判定すると
共に、前記指令信号によって設定される複数の前記チル
ト量の中心値である基準角度を基準として前記最適チル
ト値が正方向に位置するか負方向に位置するかを判定
し、前記２次係数が負の場合には前記チルト設定信号生
成部に前記最適チルト値を設定させ、前記２次係数が正
であってかつ前記最適チルト値が前記基準角度を基準と
して正方向に位置する場合には前記チルト設定信号生成
部の指令信号をそれによって定められるチルト値が負方
向に所定量だけ変化するように再設定し、前記２次係数
が正であってかつ前記最適チルト値が前記基準角度を基
準として負方向に位置する場合には前記チルト設定信号
生成部の指令信号をそれによって定められるチルト値が
正方向に所定量だけ変化するように再設定することを特
徴とする第４の構成の光ディスク装置である。最適チル
ト値の正否を判定する手段を有し、最適チルト値が異常
の場合には基準角度を所定ステップだけずらして再設定
し、再計測・再演算を行うものであり、ＲＦ信号などの
再生信号が最大となる正確な最適チルト値を求めること
が出来る。

【００１７】本発明の第７の構成は、前記演算結果判定
部は、前記２次関数の２次係数が正か負かを判定すると
共に、前記指令信号によって設定される複数の前記チル
ト量の中心値である基準角度を基準として前記最適チル
ト値が正方向に位置するか負方向に位置するかを判定
し、前記２次係数が正の場合には前記チルト設定信号生
成部に前記最適チルト値を設定させ、前記２次係数が負
であってかつ前記最適チルト値が前記基準角度を基準と
して正方向に位置する場合には前記チルト設定信号生成
部の指令信号をそれによって定められるチルト値が負方
向に所定量だけ変化するように再設定し、前記２次係数
が負であってかつ前記最適チルト値が前記基準角度を基
準として負方向に位置する場合には前記チルト設定信号
生成部の指令信号をそれによって定められるチルト値が
正方向に所定量だけ変化するように再設定することを特
徴とする第５の構成の光ディスク装置である。光ディス
クの反り量が極端に大きい場合など再生信号の品位が著
しく低下する場合でも、ジッタ値などが最小となる最適
チルト量を正確に検出し、かつチルト量を最適な角度に
精度良く制御することが可能である。

【００１８】本発明の第８の構成は、前記演算結果判定
部は、前記２次関数の２次係数が正か負かを判定すると
共に、前記指令信号によって設定される複数の前記チル
ト量の中心値である基準角度を基準として、前記指令信
号によって設定される前記チルト量が前記基準角度に対
して正方向に位置する場合に計測された前記計測値の平
均である正側平均値と、前記指令信号によって設定され
る前記チルト量が前記基準角度に対して負方向に位置す
る場合に計測された前記計測値の平均である負側平均値
との大小関係を比較し、前記２次係数が正でかつ前記正
側平均値が前記負側平均値よりも大きい場合には前記チ
ルト設定信号生成部の指令信号をそれによって定められ
るチルト値が正方向に所定量だけ変化するように再設定
し、前記２次係数が正でかつ前記負側平均値が前記正側
平均値よりも大きい場合には前記チルト設定信号生成部
の指令信号をそれによって定められるチルト値が負方向
に所定量だけ変化するように再設定し、前記２次係数が
負の場合には前記チルト設定信号生成部に前記最適チル
ト値を設定させことを特徴とする第４の構成の光ディス
ク装置である。最適チルト値の正否を判定する手段を有
し、最適チルト値が異常の場合には基準角度を所定ステ
ップだけずらして再設定し、再計測・再演算を行うもの
であり、ＲＦ信号などの再生信号が最大となる正確な最
適チルト値を求めることが出来る。

【００１９】本発明の第９の構成は、前記演算結果判定
部は、前記２次関数の２次係数が正か負かを判定すると
共に、前記指令信号によって設定される複数の前記チル
ト量の中心値である基準角度を基準として、前記指令信
号によって設定される前記チルト量が前記基準角度に対
して正方向に位置する場合に計測された前記計測値の平
均である正側平均値と、前記指令信号によって設定され
る前記チルト量が前記基準角度に対して負方向に位置す
る場合に計測された前記計測値の平均である負側平均値
との大小関係を比較し、前記２次係数が負でかつ前記正
側平均値が前記負側平均値よりも大きい場合には前記チ
ルト設定信号生成部の指令信号をそれによって定められ
るチルト値が負方向に所定量だけ変化するように再設定
し、前記２次係数が負でかつ前記負側平均値が前記正側
平均値よりも大きい場合には前記チルト設定信号生成部
の指令信号をそれによって定められるチルト値が正方向
に所定量だけ変化するように再設定し、前記２次係数が
正の場合には前記チルト設定信号生成部に前記最適チル
ト値を設定させことを特徴とする第５の構成の光ディス
ク装置である。光ディスクの反り量が極端に大きい場合
など再生信号の品位が著しく低下する場合でも、ジッタ
値などが最小となる最適チルト量を正確に検出し、かつ
チルト量を最適な角度に精度良く制御することが可能で
ある。

【００２０】本発明の第１０の構成は、前記演算結果判
定部は、前記２次関数の２次係数が正か負かを判定する
と共に、前記指令信号によって設定される複数の前記チ
ルト量の中心値である基準角度を基準として、前記指令
信号によって設定される前記チルト量が前記基準角度に
対して正方向に位置する場合に計測された前記計測値の
平均である正側平均値と、前記指令信号によって設定さ
れる前記チルト量が前記基準角度に対して負方向に位置
する場合に計測された前記計測値の平均である負側平均
値との大小関係を比較し、前記最適チルト量演算部で算
出された前記最適チルト値が前記基準角度に対して正方
向に位置しかつ前記負側平均値が前記正側平均値よりも
大きい場合には、前記チルト設定信号生成部の指令信号
をそれによって定められるチルト値が負方向に所定量だ
け変化するように再設定し、前記最適チルト値が前記基
準角度に対して負方向に位置しかつ前記正側平均値が前
記負側平均値よりも大きい場合には前記チルト設定信号
生成部の指令信号をそれによって定められるチルト値が
正方向に所定量だけ変化するように再設定し、前記チル
ト設定信号生成部の指令信号が再設定された場合には、
前記チルト設定信号生成部は再設定した前記指令信号を
出力し、前記再生信号計測部は再設定された前記指令信
号に応じて前記チルト量を順次変化させたときの前記再
生信号処理部の出力値を再計測し、かつ前記最適チルト
量演算部は前記最適チルト値を再算出する、ことを特徴
とする第４の構成の光ディスク装置である。最適チルト
値の正否を判定する手段を有し、最適チルト値が異常の
場合には基準角度を所定ステップだけずらして再設定
し、再計測・再演算を行うものであり、ＲＦ信号などの
再生信号が最大となる正確な最適チルト値を求めること
が出来る。

【００２１】本発明の第１１の構成は、前記演算結果判
定部は、前記２次関数の２次係数が正か負かを判定する
と共に、前記指令信号によって設定される複数の前記チ
ルト量の中心値である基準角度を基準として、前記指令
信号によって設定される前記チルト量が前記基準角度に
対して正方向に位置する場合に計測された前記計測値の
平均である正側平均値と、前記指令信号によって設定さ
れる前記チルト量が前記基準角度に対して負方向に位置
する場合に計測された前記計測値の平均である負側平均
値との大小関係を比較し、前記最適チルト量演算部で算
出された前記最適チルト値が前記基準角度に対して正方
向に位置しかつ前記正側平均値が前記負側平均値よりも
大きい場合には、前記チルト設定信号生成部の指令信号
をそれによって定められるチルト値が負方向に所定量だ
け変化するように再設定し、前記最適チルト値が前記基
準角度に対して負方向に位置しかつ前記負側平均値が前
記正側平均値よりも大きい場合には前記チルト設定信号
生成部の指令信号をそれによって定められるチルト値が
正方向に所定量だけ変化するように再設定し、前記チル
ト設定信号生成部の指令信号が再設定された場合には、
前記チルト設定信号生成部は再設定した前記指令信号を
出力し、前記再生信号計測部は再設定された前記指令信
号に応じて前記チルト量を順次変化させたときの前記再
生信号処理部の出力値を再計測し、かつ前記最適チルト
量演算部は前記最適チルト値を再算出する、ことを特徴
とする第５の構成の光ディスク装置である。光ディスク
の反り量が極端に大きい場合など再生信号の品位が著し
く低下する場合でも、ジッタ値などが最小となる最適チ
ルト量を正確に検出し、かつチルト量を最適な角度に精
度良く制御することが可能である。

【００２２】本発明の第１２の構成は、前記再生信号処
理部の出力値がトラッキングエラー信号であって、前記
再生信号計測部がトラッキングエラー信号振幅計測部で
あることを特徴とする第１、２、３、４、６、８又は１
０の構成の光ディスク装置である。トラッキングエラー
信号に基づいて、正確な最適チルト値を求めることが出
来る。

【００２３】本発明の第１３の構成は、前記再生信号処
理部の出力値が前記光検出器に含まれる複数の発光素子
の出力信号の加算信号に応じた出力値であって、前記再
生信号計測部が前記加算信号の振幅を計測する加算信号
振幅計測部であることを特徴とする第１、２、３、４、
６、８又は１０の構成の光ディスク装置である。ＲＦ信
号に基づいて、正確な最適チルト値を求めることが出来
る。

【００２４】本発明の第１４の構成は、前記再生信号計
測部がジッタ信号計測部であるであることを特徴とする
第１、２、３、５、７、９又は１１の構成の光ディスク
装置である。ジッタ信号に基づいて、正確な最適チルト
値を求めることが出来る。

【００２５】本発明の第１５の構成は、前記チルト駆動
機構が光ビームを集束する対物レンズの角度を変える構
成であることを特徴とする第１から１４のいずれかの構
成の光ディスク装置である。チルト駆動機構の構成を簡
素化し、小型・薄型化、低コスト化を実現する。

【００２６】

【発明の実施の形態】以下本発明の実施をするための最
良の形態を具体的に示した実施例について、図面ととも
に記載する。

【００２７】《実施例１》以下、本発明の実施例１の光
ディスク装置について、図面を参照しながら説明する。
図１は本発明の実施例１の光ディスク装置の構成を示す
ブロック図である。図１において、光ディスク１はスピ
ンドルモータ２によって回転駆動され、スピンドルモー
タ２の回転周波数はスピンドルサーボ回路（図示せず）
によってコントロールされる。光学ピックアップ３（そ
の上に搭載された対物レンズ４等を含む。）は光ビーム
を光ディスク１の記録面に集光してデータの記録または
再生を行う。記録すべき２値化信号は記録信号処理回路
（図示せず）で記録信号に変換されて光学ピックアップ
３に送られ、光ディスク１に記録される。光ディスク１
から読み取った再生信号は再生信号処理回路１９で２値
化信号に処理される。

【００２８】光学ピックアップ３の対物レンズ４はマグ
ネット８とフォーカス駆動コイル９とで構成されたフォ
ーカスアクチュエータ７によって光ビームの光軸方向
（フォーカス方向）に駆動される。フォーカスサーボ回
路６は光学ピックアップ３から出射された光ビームを光
ディスク１の記録面に集光するために、フォーカス駆動
コイル９に印加する電圧を制御して対物レンズ４の焦点
位置をコントロールする。対物レンズ４は同様にマグネ
ット８とトラッキング駆動コイル１０とで構成されたト
ラッキングアクチュエータ１１によって光ディスク３の
半径方向（トラッキング方向）に駆動される。トラッキ
ングサーボ回路１２は光学ピックアップ３から出射され
た光ビームを記録面に形成されたトラックに追従させる
ためにトラッキング駆動コイル１０に印加する電圧を制
御して対物レンズ４の光軸位置をコントロールする。光
ビームの焦点位置のずれを示すフォーカスエラー信号、
及びトラック方向のずれを示すトラッキングエラー信号
は光学ピックアップ３からの再生信号を基にして再生信
号処理回路１９で生成され、フォーカスサーボ回路６及
びトラッキングサーボ回路１２に送られる。

【００２９】光学ピックアップを異なる半径位置に移動
させる光学ピックアップ移動手段１３はトラバースモー
タ１４、リードスクリュウ１５、ラック１６、及びガイ
ド軸１７で構成され、トラバースモータ１４の回転軸に
形成されたリードスクリュウ１５は光学ピックアップ３
に固定されたラック１６と係合しており、光学ピックア
ップ３はガイド軸１７によって直進可能に支持されてい
る。そして光学ピックアップ３は、リードスクリュウ１
５とラック１６を介して伝達されたトラバースモータ１
４の回転トルクによって光ディスク１の半径方向に移動
される。

【００３０】また図１に示したチルト駆動機構２６（チ
ルト可変手段）は光学ピックアップ３を光ディスク１の
半径方向に移動可能に支持するガイド軸１７の外周端の
高さを変化させることにより光学ピックアップ３の光デ
ィスク１との相対傾きを変化させる機構であり、モータ
ギア２７、チルトラック２８、チルトカム２９、チルト
フォロア３０、ガイド軸固定板３１及びガイド軸１７を
含む。チルトサーボ回路２１からのチルト駆動電圧によ
ってチルトモータ２４が回転し、モータギア２７とチル
トラック２８を介してチルトカム２９が並進駆動され
る。チルトカム２９の並進移動によってチルトカム２９
の傾斜面に当接されたチルトフォロア３０が上下し、チ
ルトフォロア３０の上下動によりチルトフォロア３０と
一体的に形成されたガイド軸固定板３１が上下する。ガ
イド軸１７はその外周端がガイド軸固定板３１に固定さ
れ、かつガイド軸１７はその内周端が中心に回動自在に
支持されている。したがって、ガイド軸固定板３１の上
下動によりガイド軸１７の傾きが変わり、その結果、光
学ピックアップ３の傾きが変わる。以上のようにチルト
モータ２４を回転させることにより光学ピックアップ３
の傾きが変わり、光ディスク１に照射される光ビームの
照射角度を変化させることができる。すなわち、チルト
モータ２４の回転を制御することにより光ディスク１に
照射される光ビームの照射角度を所望の角度になるよう
にコントロールすることができる。

【００３１】図２にチルトサーボ回路２１の構成を示
す。チルトサーボ回路２１は光ディスク１に照射される
光ビームの照射角度が所望の角度になるように光学ピッ
クアップ３の傾きを制御するための回路であり、後述す
るチルト検出部２０に構成されているチルト設定信号生
成部３３からのチルト設定信号に基づき、チルトサーボ
信号を出力するチルトサーボ信号発生部２３と、チルト
サーボ信号に基づいたチルト駆動電圧をチルトモータ２
４に供給するチルトモータ駆動回路２５とから構成され
ている。

【００３２】次に光学ピックアップ３に設けられた光検
出器３４と再生信号処理回路１９に関して図３と図４を
用いて説明する。図３は光検出器３４の構成と光ディス
ク１からの反射光の関係を示したものである。光検出器
３４は分割された４つの受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄから構
成される。各受光素子の検出信号は増幅器で増幅され
る。各増幅器の出力信号ａ、ｂ、ｃ、ｄは再生信号処理
回路１９に伝送される。図４は再生信号処理回路１９を
示す。再生信号処理回路１９は光検出器３４の出力信号
ａ、ｂ、ｃ、ｄから、トラッキングエラー（ＴＥ）信号
＝（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）、フォーカスエラー（ＦＥ）
信号＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）、ＲＦ信号＝（ａ＋ｂ＋
ｃ＋ｄ）を生成する。前記ＴＥ信号は、トラッキングサ
ーボ回路１２へ送られ、光スポットを光ディスクのトラ
ックに追従させるトラッキングサーボに用いられる。前
記ＦＥ信号は、フォーカスサーボ回路６へ送られ、光ス
ポットを光ディスク１の記録面に集光するために対物レ
ンズ４の焦点位置をコントロールするフォーカスサーボ
に用いられる。

【００３３】図５にチルト検出部２０の構成を示す。チ
ルト検出部２０は、ＴＥ信号振幅計測部３５、チルト設
定信号生成部３３、最適チルト量演算部３６及び演算結
果判定部３７から構成されている。光ピックアップ３の
再生信号に基づいて最適なチルト量を演算し、チルト設
定信号を出力するチルト検出部２０は、本発明の特有の
ブロックである。チルト検出部２０は、最適チルト量検
出モードと最適チルト量設定モードとの２つの動作モー
ドを有する。最適チルト量検出モードはチルト量を変化
させることにより最適なチルト量を検出するモードであ
り、最適チルト量設定モードはチルト量を最適なチルト
量に固定するモードである。

【００３４】チルト設定信号生成部３３が、いずれの動
作モードで動作するかを決定する。決定された動作モー
ドは各ブロックに伝送される（図示していない）。チル
ト設定信号生成部３３は、最適チルト量検出モードにお
いては３つ以上の（実施例においては７つの）異なるチ
ルト設定信号を順次出力する。これにより、異なるチル
ト量が順次設定される（チルト設定信号毎に、一定のチ
ルト量が設定される。）。ＴＥ信号振幅計測部３５はそ
れぞれのチルト量におけるＴＥ信号の振幅値を測定する
（詳細は後述する。）。チルト設定信号生成部３３は、
最適チルト量設定モードにおいては最適チルト量演算部
３６が出力した演算結果に基づいて、最適なチルト量の
チルト設定信号を出力する。これにより、最適のチルト
量が設定される。

【００３５】ＴＥ信号振幅計測部３５は、再生信号処理
回路１９で生成されたトラッキングエラー信号（ＴＥ信
号）の振幅を計測する。最適チルト量演算部３６は、最
適チルト量検出モードにおいて３つ以上のチルト設定信
号と、それぞれのチルト量（チルト設定信号）において
計測されたＴＥ信号の振幅値との関係を最小二乗法によ
り２次関数に近似し、当該２次関数に基づいてＴＥ信号
の振幅値が極値（極大値）となるチルト量（チルト設定
信号でも良い。）を演算結果として算出する。最適のチ
ルト角度において、光ピックアップ３が入力する反射光
の光量は最大になる故に、ＴＥ信号の振幅値も最大にな
る。

【００３６】演算結果判定部３７は最適チルト量演算部
３６で算出された演算結果が所定の演算限界値を越えて
いるか否かを判定する。演算結果が演算限界値を越えて
いた場合には、演算結果と、チルト設定信号（チルト
量）とＴＥ信号の振幅値の関係を再計測させる指令とを
チルト設定信号生成部３３に出力する。チルト設定信号
生成部３３は、後述する方法で再計測を行なう。演算結
果が演算限界値を越えていない場合には、演算結果と、
演算結果が演算限界値を超えていないという情報とをチ
ルト設定信号生成部３３に伝送する。チルト設定信号生
成部３３は動作モードを最適チルト量設定モードに変更
し、演算結果（最適値）に対応するチルト設定信号を出
力する。

【００３７】チルト設定信号生成部３３は、光ディスク
１と光ビームの相対傾き（チルト量）を所望の角度に設
定するためのチルト設定信号をチルトサーボ回路２１に
出力する。チルト設定信号生成部３３は、上述のように
最適チルト量検出モードにおいては計測用に設定した３
つ以上のチルト設定信号を順次出力し、最適チルト量設
定モードにおいては最適チルト量演算部３６が出力した
演算結果（最適値）に対応するチルト設定信号を出力す
る。チルトサーボ回路２１はチルト設定信号に基づいて
チルト駆動機構２６を駆動し、光ディスク１と光ビーム
の相対傾き（チルト量）は、所望の角度（最適チルト
値）に設定される。

【００３８】以上のように構成された実施例１の光ディ
スク装置において、その動作を図２６を用いて説明す
る。図２６は、チルト検出部２０の動作を示すフローチ
ャートである。最初に、光ディスク装置の電源が投入さ
れるか又は光ディスク装置に光ディスクが装着される
と、チルト設定信号生成部３３は、チルト検出部２０を
最適チルト量検出モードに設定する（ステップ２６０
１）。最適チルト量検出モードにおいては、トラッキン
グサーボをオフにして、光スポットがトラックを横断す
る状態にする。次に、チルト設定信号生成部３３は予め
決められた７つのチルト設定信号を順次出力し、ＴＥ信
号振幅計測部３５はそれぞれのＴＥ信号の振幅値を計測
する（ステップ２６０２）。７つのチルト設定信号によ
り、予め決められている基準の傾きを基準角度０度とし
て、光学ピックアップ３の傾きを一定の角度ピッチＳ度
で正方向と負方向に３ステップずつ変化させる。つま
り、光ディスク１の記録面と光ビームの相対傾きである
チルト量を変化させながら、ＴＥ信号の振幅を計測す
る。まずチルト設定信号生成部３３は光学ピックアップ
３の傾きを基準角度０に設定するチルト設定信号をチル
トサーボ回路２１に出力する。光学ピックアップ３の傾
きＸ１が基準角度０に制御された状態でＴＥ信号振幅計
測部３５によってＴＥ信号の振幅値Ｙ（Ｘ１）を計測す
る。続いて光学ピックアップ３の傾きを＋１ステップに
設定し、ＴＥ信号の振幅値Ｙ（Ｘ２）を計測する。同様
に光学ピックアップ３の傾きを＋２ステップ、＋３ステ
ップ、−１ステップ、−２ステップ、−３ステップと変
化させながら各チルト量に対するＴＥ信号の振幅値Ｙ
（Ｘ３）、Ｙ（Ｘ４）、Ｙ（Ｘ５）、Ｙ（Ｘ６）、Ｙ
（Ｘ７）を合計７回計測する。

【００３９】なお、基準角度０度は以下のように製造工
場の組立工程で予め設定される。組立工程において、反
りのほとんどのないフラットな基準ディスクをスピンド
ルモータ２によって回転させながら、光ビームが基準デ
ィスクにほぼ垂直に照射されるように、光学ピックアッ
プ３の傾きを調整し、その傾きを基準角度０度と定義す
る。すなわち、反り量がほぼ０度の光ディスクに対して
は基準角度０度で光ディスクの記録面と光ビームの相対
傾き（チルト量）が最適値となる。そして、光学ピック
アップ３の傾きが基準角度０度に一致した際に零点信号
を出力するように回転角度検出センサ（図示せず）をチ
ルトモータ２４の回転軸に取り付ける。又は、光学ピッ
クアップ３の傾きが基準角度０度に一致した際に零点信
号を出力するように、回転角度検出センサの出力回路を
調整する。よって零点信号が出力される角度にチルトモ
ータ２４の回転角度を設定すれば光学ピックアップ３の
傾きは基準角度０度になり、回転角度検出センサの出力
に基づいてチルトモータ２４の回転角度をコントロール
すれば、光学ピックアップ３の傾きを基準角度０度から
所定角度だけずれた傾きに設定することができる。

【００４０】次に、計測値に基づいて最適チルト量を演
算する（ステップ２６０３）。ここで、図６に光学ピッ
クアップ３の傾きに対するＴＥ信号振幅の変化を示す。
図６のとおりＴＥ信号振幅が最大になる角度の近傍では
ＴＥ信号振幅の変化が小さいので、上記のように一定の
ステップ角度Ｓ度ピッチで光学ピックアップ３の傾きを
変化させた際には、小さなステップ角度で多数回の測定
を行わないとＴＥ信号振幅が最大になる真の角度を正確
に検出することはできない。しかしながら、光学ピック
アップ３の傾きに対するＴＥ信号振幅の変化がほぼ２次
関数に近い特性を示すことに着眼し、ＴＥ信号振幅の変
化を最小二乗法によって２次関数に近似してＴＥ信号振
幅が最大になる角度を求める。これによりステップ角度
を小さくすることなく、測定回数も多くすることなく最
大角度を求めることが可能である。そこで光学ピックア
ップの傾き（チルト量）のステップ角度Ｓに対する比を
Ｘ（上記の７ステップの測定を例に取ればＸ＝−３，・
・０・・３）、ＴＥ信号振幅をＹ（Ｘ）として、Ｙ
（Ｘ）を式（１）の２次関数で近似する。

【００４１】

【数１】

【００４２】測定ｊ回目のチルト量ＸをＸｊとした場合
のＴＥ信号振幅の計測値をＹｊとすると、近似した式
（１）の値と実際の計測値Ｙｊとは信号に混入したノイ
ズ等の影響で完全には一致しない。そのときの誤差量を
ｖｊとして、誤差量ｖｊを式（２）に示す。

【００４３】

【数２】

【００４４】最小二乗法は、式（３）に示すように誤差
ｖｊの二乗和Ｅを最小にするように係数ａ、ｂ、ｃを決
定するものである。Ｎは測定された所定のサンプル数を
示す。

【００４５】

【数３】

【００４６】最小二乗法では、Ｅが最小になるときに成
立する式（４）の行列式を解けば、ａ、ｂ、ｃの値を求
めることができる。

【００４７】

【数４】

【００４８】ここで、式（４）中の各関数Ｐ（ｋ）、Ｑ
（ｋ）、Ｙ１は式（５）、式（６）、式（７）に示した
とおりである。

【００４９】

【数５】

【００５０】

【数６】

【００５１】

【数７】

【００５２】ここで、チルト量はＸ１＝０、Ｘ２＝＋
１、Ｘ３＝＋２、Ｘ４＝＋３、Ｘ５＝−１、Ｘ６＝−
２、Ｘ７＝−３と設定するので、Ｘ２とＸ５、Ｘ３とＸ
６、及びＸ４とＸ７は、互いに正負が逆であるため、Ｐ
（１）、Ｐ（３）は０となり、式（４）は、簡素化され
て式（８）になる。

【００５３】

【数８】

【００５４】式（１）の２次関数でＹが最大値となるＸ
は、式（９）で求められる。２次係数ａと１次係数ｂ
は、計測したＴＥ信号の振幅値Ｙｊと式（８）から算出
できる。

【００５５】

【数９】

【００５６】これらをまとめると式（９）のＸｍａｘ
（Ｙが極大値となるＸの値）は、式（１０）で示され
る。また２次係数ａは式（１１）で求めることができ
る。

【００５７】

【数１０】

【００５８】

【数１１】

【００５９】以上により、ＴＥ信号の振幅値が最大値と
なるチルト量の角度θは、ステップ角度Ｓ度と式（９）
で算出されたＸｍａｘの積で求めることができる（θ＝
Ｓ×Ｘｍａｘ）。例えば、図７はステップ角度を０．２
度でチルト量を変化させながら計測したＴＥ信号の振幅
値のプロットと、その計測値に基づいて最小二乗法で２
次関数に近似した２次曲線を示したものであり、求めら
れたＸｍａｘが１．０５ステップであった場合である。
このときＴＥ信号振幅値が最大となるチルト量は０．２
１度となる。このように最適チルト量演算部３６は、チ
ルト設定信号生成部３３から出力されたチルト設定信号
に基づいて設定されたチルト量と、ＴＥ信号振幅計測部
３５によって計測されたＴＥ信号の振幅値の関係を上記
のように最小二乗法により２次関数に近似し、チルト量
の変化に対するＴＥ信号の振幅値が最大となるチルト量
を演算結果として算出する。

【００６０】次に、演算結果判定部３７は、ＴＥ信号振
幅が最大となる真の最適チルト量を正確に求めるため
に、最適チルト量演算部３６で算出された演算結果が所
定の演算限界値を越えているか否かを判定する（ステッ
プ２６０４）。図８はＴＥ信号振幅が最大となる真の最
適チルト量がステップ角度０．２度の約２．７５倍であ
った場合のチルト量に対するＴＥ信号振幅の変化を破線
で示す。例えば、光ディスク１の反り量が極端に大き
く、−０．５５度程度もあった場合などにこのような状
態になる。この場合に、チルト量を基準角度０度に対し
て１ステップ０．２度で±３ステップ変化させてＴＥ信
号振幅を測定した測定値を白丸のプロットで示す。ま
た、この計測値を用いて最小二乗法で近似した２次曲線
を実線で示す。図８から明らかのように真の極値（ＴＥ
信号振幅が最大となるチルト量）がマイナス側の最大ス
テップである−３ステップ付近にあるため、測定誤差の
影響を受け、±３ステップでの測定値から算出した極値
は−３．６ステップとなってしまう。

【００６１】このようにＴＥ信号振幅が最大となる最適
チルト量が基準角度から大きくずれている場合の最適チ
ルト量の誤算出を防ぐために、演算限界値を予め設定
し、演算結果がその演算限界値を越えていた場合にはス
テップ２６０５に進む。ステップ２６０５において、基
準角度を演算結果がずれている方向にシフトして再設定
する。具体的には演算限界値を±２ステップとして、演
算結果が本実施例のように−３．６ステップとマイナス
側の演算限界値を越えていた場合には、演算結果判定部
３７はチルト設定信号生成部３３が出力するチルト設定
信号の基準角度をマイナス側に２ステップずらすように
指令する。すなわち基準角度を−０．４度の角度に再設
定して再計測する。再びステップ２６０２に戻り、チル
ト設定信号生成部３３は新たな基準角度に対して０ステ
ップ、＋１ステップ、＋２ステップ、＋３ステップ、−
１ステップ、−２ステップ、−３ステップと変化させた
チルト設定信号を出力する。各チルト量（チルト設定信
号）に対するＴＥ信号の振幅値を合計７回計測する。

【００６２】図８における黒丸のプロットが再計測した
ＴＥ信号振幅値であり、この計測値を用いて最小二乗法
で近似し、極値（極大値）を算出する（ステップ２６０
３）。算出した極値は、ＴＥ信号振幅が最大となる真の
極値、すなわち最適チルト量と一致する。再び、演算結
果判定部３７は、最適チルト量演算部３６で算出された
演算結果が所定の演算限界値を越えているか否かを判定
する（ステップ２６０４）。演算結果が演算限界値内で
あれば、ステップ２６０６に進む。ステップ２６０６に
おいて、チルト設定信号生成部３３は、チルト検出部２
０を最適チルト量設定モードに設定する。次に、チルト
設定信号生成部３３は、入力した演算結果に応じて最適
なチルト設定信号を出力する（ステップ２６０７）。チ
ルト駆動機構２６は、光ディスク１を最適にチルトさせ
る。

【００６３】逆に、光ディスク１の反り量がプラス側に
大きい場合など、０度を基準角度として±３ステップで
計測・演算した結果がプラス側の演算限界値（＋２ステ
ップ）を越えていた場合にはステップ２６０５において
基準角度をプラス側に＋２ステップずらして、再計測・
再演算を行う（ステップ２６０２、２６０３）。これら
により、光ディスクの反り量が極端に大きい場合など、
最適チルト量が基準角度から大きくずれていた際にも、
基準角度を再設定して再計測・再演算を行うことによ
り、正確に最適チルト量を求めることができる。

【００６４】以上のように、本実施例１は、光ディスク
１の反り量が大きい場合でも、光ディスクの記録面と光
ビームの相対傾きの最適値をＴＥ信号振幅が最大となる
傾きとして、精度良く求めるために、チルト量を基準角
度を中心として±３ステップ角度変化させながら、チル
ト量とＴＥ信号の振幅値の関係を最小二乗法により２次
関数に近似し、ＴＥ信号の振幅値が極値となる最適チル
ト量を演算結果として算出する。そして、光ディスク１
の反り量が大きい場合でも最適チルト量を誤りなく求め
るために、まず、演算結果が演算限界値として設定した
±２ステップを越えているか否かを判定し、演算結果が
プラス側の演算限界値を越えていた場合には基準角度を
＋２ステップだけずらして再設定し、演算結果がマイナ
ス側の演算限界値を越えていた場合には基準角度を−２
ステップだけずらして再設定し、再計測・再演算を行
う。

【００６５】したがって、光ディスク１の反り量が大き
い場合でも再計測・再演算することにより、最終的に正
しい演算結果が求められる。チルト設定信号生成部３３
は、正しい演算結果を最適チルト量として記憶する。記
録もしくは再生動作の際には（最適チルト量設定モード
になっている。）、チルト設定信号生成部３３が、最適
チルト量に設定するためのチルト設定信号をチルトサー
ボ回路２１に出力し、チルトサーボ回路２１によって光
ディスク１と光ビームの相対傾きは最適チルト量に制御
される。以上のように、本発明の実施例１の構成によれ
ば、チルトセンサなどの特別な検出装置を設けることな
く、光ディスクの反り量が大きい場合でも、光ビームの
光軸に対する光ディスクの記録面の傾きを正確に検出
し、かつ光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の
傾きを最適な角度に精度良く制御することができる光デ
ィスク装置を提供する。別個のチルトセンサを用いる従
来例においてはチルトセンサにおけるチルト角度と光ピ
ックアップ３におけるチルト角度との誤差が問題であっ
たが、光ピックアップ３が入力した反射光に基づいて最
適のチルト量を算出する本発明の光ディスク装置におい
てはそのような誤差はありえない。

【００６６】《実施例２》以下、本発明の実施例２の光
ディスク装置について、図面を参照しながら説明する。
本発明の実施例２の光ディスク装置は、実施例１におけ
る演算結果判定部３７の動作のみが、実施例１と異な
る。実施例２の演算結果判定部を１３７とする。その他
の構成要素とその動作は実施例１と同様であるので同一
符号を付してその詳細な説明は省略する。本実施例２に
おいても、最適チルト量演算部３６は、チルト設定信号
生成部３３から出力されたチルト設定信号に基づいて設
定されたチルト量と、ＴＥ信号振幅計測部３５によって
計測されたＴＥ信号の振幅値の関係を上記のように最小
二乗法により２次関数に近似し、チルト量の変化に対す
るＴＥ信号振幅値の変化の極値を演算結果として算出す
る。

【００６７】そして、実施例２における演算結果判定部
１３７は、最適チルト演算部３６によって最小二乗法で
近似された２次関数における２次係数が正か負かの判定
を行うと共に、２次係数が正であった場合には、極値と
して算出された演算結果の正負により基準角度をずらす
べき方向を判定する。図９は、ＴＥ信号振幅が最大とな
る真の最適チルト量がステップ角度Ｓ＝０．２度の約
３．７倍であった場合、すなわち真の最適チルト量が、
図８で示した場合よりもさらに大きかった場合のチルト
量に対するＴＥ信号振幅の変化を破線で示す。この場合
に、チルト量を基準角度０度に対して１ステップ０．２
度で±３ステップ変化させてＴＥ信号振幅を測定した測
定値を白丸のプロットで示す。また、この計測値を用い
て最小二乗法で近似した２次曲線を実線で示す。

【００６８】このように真の最適チルト量が基準角度か
ら大きくマイナス側にずれている場合、チルト量がプラ
ス側でのＴＥ振幅値は非常に小さくなりノイズなどの影
響を受けやすくなるために計測誤差が大きくなる。さら
にその変化が２次関数で近似できるとは限らない。した
がって、例えば図９に示すように＋３ステップ角度での
ＴＥ振幅を真の値より大きく計測してしまう可能性が生
じ、最小二乗法で近似すると下に凸の２次曲線に誤った
近似を行ってしまう。したがって、式（１１）で示した
２次係数ａを正値と算出し、演算結果は真の最適チルト
量から完全にずれた値として算出される。この場合、具
体的には２次係数ａ＝６．７１に、演算結果Ｘｍａｘ＝
８．８ステップと算出してしまう。

【００６９】このような不具合を防ぐために、演算結果
判定部１３７は、２次係数の正負で演算に誤りがあるか
否かを判定し、２次係数が正の場合には演算結果が正し
くないと判定して、基準角度を再設定する。基準角度の
再設定においては、極値として算出された演算結果の正
負により基準角度をずらすべき方向を判定する。演算結
果が正の場合には、基準角度をマイナス側に２ステップ
ずらし、負の場合にはプラス側に２ステップずらす。図
９に示した場合には、演算結果が正であるので、基準角
度をマイナス側に２ステップずらして、再計測・再演算
を行う。図９における黒丸のプロットが、基準角度をマ
イナス側にずらして再計測したＴＥ信号振幅値であり、
この計測値を用いて最小二乗法で近似し、算出した極値
はＴＥ信号振幅が最大となる真の極値、すなわち最適チ
ルト量と一致する。

【００７０】以上のように、本実施例２は、光ディスク
１の反り量が大きい場合でも、光ディスクの記録面と光
ビームの相対傾きの最適値をＴＥ信号振幅が最大となる
傾きとして、精度良く求めるために、チルト量を基準角
度を中心として±３ステップ角度変化させながら、チル
ト量とＴＥ信号の振幅値の関係を最小二乗法により２次
関数に近似し、ＴＥ信号の振幅値が極値となる最適チル
ト量を演算結果として算出する。そして、近似された２
次関数における２次係数が正か負かを判定すると共に、
演算結果が基準角度を基準として正方向か負方向を判定
し、２次係数が正の場合には演算結果に誤りがあると判
定し、基準角度を再設定する。演算結果が基準角度を基
準としてプラス方向の場合には基準角度を−２ステップ
だけずらして再設定し、演算結果が基準角度を基準とし
てマイナス方向の場合には基準角度を＋２ステップだけ
ずらして再設定し、再計測・再演算を行う。

【００７１】このように、光ディスク１の反り量が大き
い場合でも再計測・再演算することにより、最終的に正
しい演算結果が求められる。そして演算結果判定部１３
７は正しい演算結果を最適チルト量として設定し、チル
ト設定信号生成部３３に出力して記憶させる。そして、
記録もしくは再生動作の際には、チルト設定信号生成部
３３が、最適チルト量に設定するためのチルト設定信号
をチルトサーボ回路２１に出力し、チルトサーボ回路２
１によって光ディスク１と光ビームの相対傾きは最適チ
ルト量に制御される。以上のように、本発明の実施例２
の構成によれば、チルトセンサなどの特別な検出装置を
設けることなく、光ディスクの反り量が大きい場合で
も、光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の傾き
をＴＥ信号により正確に検出し、かつ光ビームの光軸に
対する光ディスクの記録面の傾きを最適な角度に精度良
く制御することができる光ディスク装置を提供する。

【００７２】《実施例３》以下、本発明の実施例３の光
ディスク装置について、図面を参照しながら説明する。
本発明の実施例３の光ディスク装置は、実施例１におけ
る演算結果判定部３７の動作のみが、実施例１と異な
る。実施例３の演算結果判定部を２３７とする。その他
の構成要素とその動作は実施例１と同様であるので同一
符号を付してその詳細な説明は省略する。本実施例３に
おいても、最適チルト量演算部３６は、チルト設定信号
生成部３３から出力されたチルト設定信号に基づいて設
定されたチルト量と、ＴＥ信号振幅計測部３５によって
計測されたＴＥ信号の振幅値の関係を上記のように最小
二乗法により２次関数に近似し、チルト量の変化に対す
るＴＥ信号振幅値の変化の極値を演算結果として算出す
る。そして、実施例３における演算結果判定部２３７
は、最適チルト演算部３６によって最小二乗法で近似さ
れた２次関数における２次係数が正か負かの判定を行う
と共に、２次係数が正であった場合には、チルト量が基
準角度から正方向の３ステップで計測されたＴＥ信号振
幅の平均値と、負方向の３ステップで計測されたＴＥ信
号振幅の平均値との大小関係を比較して、基準角度をず
らすべき方向を判定する。

【００７３】図１０は、実施例２の説明に用いた図９と
同様に、ＴＥ信号振幅が最大となる真の最適チルト量が
ステップ角度０．２度の約３．７倍であった場合、すな
わち真の最適チルト量が大きかった場合のチルト量に対
するＴＥ信号振幅の変化を破線で示す。この場合に、図
９と同様にチルト量を基準角度０度に対して１ステップ
０．２度で±３ステップ変化させてＴＥ信号振幅を測定
した測定値を白丸のプロットで示す。また、この計測値
を用いて最小二乗法で近似した２次曲線を実線で示す。
このように真の最適チルト量が基準角度から大きくマイ
ナス側にずれている場合には計測誤差などの影響を大き
く受け、最小二乗法で近似すると下に凸の２次曲線に誤
った近似を行ってしまう場合がある。このような場合、
２次係数ａを正値と算出し、演算結果は真の最適チルト
量から完全にずれた値として算出される。

【００７４】このような不具合を防ぐために、演算結果
判定部２３７は、まず実施例２と同様に２次係数の正負
で演算に誤りがあるか否かを判定し、２次係数が正の場
合には演算結果が正しくないと判定して、基準角度を再
設定する。そして、基準角度の再設定において、本実施
例の演算結果判定部２３７は、チルト量が基準角度から
プラス側の３ステップで計測されたＴＥ信号振幅の平均
値（正側平均値）と、マイナス側の３ステップで計測さ
れたＴＥ信号振幅の平均値（負側平均値）との大小関係
を比較して、基準角度をずらすべき方向を判定する。プ
ラス側３ステップの平均値が大きい場合には、基準角度
をプラス側に２ステップずらし、マイナス側の３ステッ
プの平均値が大きい場合にはマイナス側に２ステップず
らす。図１０に示した場合には、明らかにマイナス側３
ステップの平均値の方が大きいので、基準角度をマイナ
ス側に２ステップずらして、再計測・再演算を行う。図
９と同様ににおける黒丸のプロットが、基準角度をマイ
ナス側にずらして再計測したＴＥ信号振幅値であり、こ
の計測値を用いて最小二乗法で近似し、算出した極値は
ＴＥ信号振幅が最大となる真の極値、すなわち最適チル
ト量と一致する。

【００７５】以上のように、本実施例３は、光ディスク
１の反り量が大きい場合でも、光ディスクの記録面と光
ビームの相対傾きの最適値をＴＥ信号振幅が最大となる
傾きとして、精度良く求めるために、チルト量を基準角
度を中心として±３ステップ角度変化させながら、チル
ト量とＴＥ信号の振幅値の関係を最小二乗法により２次
関数に近似し、ＴＥ信号の振幅値が極値となる最適チル
ト量を演算結果として算出する。そして、近似された２
次関数における２次係数が正か負かを判定すると共に、
正側平均値と負側平均値との大小関係を比較する。２次
係数が正の場合には演算結果に誤りがあると判定し、基
準角度を再設定する。正側平均値が負側平均値より大き
い場合には基準角度を＋２ステップだけずらして再設定
し、正側平均値が負側平均値より小さい場合には基準角
度を−２ステップだけずらして再設定し、再計測・再演
算を行う。

【００７６】このように、光ディスク１の反り量が大き
い場合でも再計測・再演算することにより、最終的に正
しい演算結果が求められる。そして演算結果判定部２３
７は正しい演算結果を最適チルト量として設定し、チル
ト設定信号生成部３３に出力して記憶させる。そして、
記録もしくは再生動作の際には、チルト設定信号生成部
３３が、最適チルト量に設定するためのチルト設定信号
をチルトサーボ回路２１に出力し、チルトサーボ回路２
１によって光ディスク１と光ビームの相対傾きは最適チ
ルト量に制御される。以上のように、本発明の実施例３
の構成によれば、チルトセンサなどの特別な検出装置を
設けることなく、光ディスクの反り量が大きい場合で
も、光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の傾き
をＴＥ信号により正確に検出し、かつ光ビームの光軸に
対する光ディスクの記録面の傾きを最適な角度に精度良
く制御することができる光ディスク装置を提供する。

【００７７】《実施例４》以下、本発明の実施例４の光
ディスク装置について説明する。本発明の実施例４の光
ディスク装置は、実施例１における演算結果判定部３７
の動作のみが、実施例１と異なる。実施例４の演算結果
判定部を３３７とする。その他の構成要素とその動作は
実施例１と同様であるので同一符号を付してその詳細な
説明は省略する。本実施例４においても、最適チルト量
演算部３６は、チルト設定信号生成部３３から出力され
たチルト設定信号に基づいて設定されたチルト量と、Ｔ
Ｅ信号振幅計測部３５によって計測されたＴＥ信号の振
幅値の関係を上記のように最小二乗法により２次関数に
近似し、チルト量の変化に対するＴＥ信号振幅値の変化
の極値を演算結果として算出する。

【００７８】そして、実施例４における演算結果判定部
３３７は、最適チルト演算部３６によって極値として算
出された演算結果の正負（極値のチルト量が基準角度に
対して正の値であるか負の値であるか）を判定すると共
に、チルト量が基準角度からプラス側の３ステップで計
測されたＴＥ信号振幅の平均値（正側平均値）と、マイ
ナス側の３ステップで計測されたＴＥ信号振幅の平均値
（負側平均値）との大小関係を比較することにより、演
算結果の正否と基準角度をずらすべき方向を判定する。
演算結果がプラス方向で（極値のチルト量が基準角度に
対して正の値で）かつ負側平均値が大きい場合には基準
角度からマイナス方向に所定量だけ変化させて基準角度
を再設定し、演算結果がマイナス方向で（極値のチルト
量が基準角度に対して負の値で）かつ正側平均値が大き
い場合には基準角度からプラス方向に所定量だけ変化さ
せて基準角度を再設定し、さらに演算結果がプラスで
（極値のチルト量が基準角度に対して正の値で）かつ正
側平均値が大きい場合と、演算結果がマイナスで（極値
のチルト量が基準角度に対して負の値で）かつ負側平均
値が大きい場合には演算結果が正しいと判定して、演算
結果を最適チルト量として設定する。チルト量が基準角
度からプラス側の３ステップで計測されたＴＥ信号振幅
の平均値と、マイナス側の３ステップで計測されたＴＥ
信号振幅の平均値との差分の絶対値が一定値以下であれ
ば、又は演算結果（極値のチルト量）が基準角度から一
定の範囲内であれば、上記の判定ステップを行なわない
ようにしても良い。

【００７９】例えば、実施例３の説明で用いた図１０に
おいては、ＴＥ信号振幅が最大となる真の最適チルト量
はマイナス方向の−３．７ステップであった。この場合
に、チルト量を基準角度０度に対して１ステップ０．２
度で±３ステップ変化させて測定した測定値（白丸のプ
ロット）から算出した極値Ｘｍａｘは、前述のように計
測誤差などの影響を大きく受けて真の最適チルト量から
完全にずれた値＋８．８ステップとして算出されてしま
う。この場合、演算結果（極値のチルト量）は＋８．８
ステップでプラス方向であり、チルト量が基準角度から
プラス側の３ステップで計測されたＴＥ信号振幅の平均
値は１０２ｍＶ、マイナス側の３ステップで計測された
ＴＥ信号振幅の平均値は６０９ｍＶとなる。したがっ
て、演算結果がプラス方向で（極値のチルト量が基準角
度に対して正の値で）かつ負側平均値が大きいケースに
相当し、基準角度をマイナス方向に２ステップずらして
再設定し、再計測・再演算を行う。実施例３と同様に黒
丸のプロットが、基準角度をマイナス側にずらして再計
測したＴＥ信号振幅値であり、この計測値を用いて最小
二乗法で近似し、算出した極値はＴＥ信号振幅が最大と
なる真の極値、すなわち最適チルト量と一致する。

【００８０】以上のように、本実施例４は、光ディスク
１の反り量が大きい場合でも、光ディスクの記録面と光
ビームの相対傾きの最適値をＴＥ信号振幅が最大となる
傾きとして、精度良く求めるために、チルト量を基準角
度を中心として±３ステップ角度変化させながら、チル
ト量とＴＥ信号の振幅値の関係を最小二乗法により２次
関数に近似し、ＴＥ信号の振幅値が極値となる最適チル
ト量を演算結果として算出する。そして、最適チルト量
演算部３６によって極値として算出された演算結果の正
負を判定すると共に、チルト量が基準角度からプラス側
の３ステップで計測されたＴＥ信号振幅の平均値と、マ
イナス側の３ステップで計測されたＴＥ信号振幅の平均
値との大小関係を比較することにより、演算結果の正否
と基準角度をずらすべき方向を判定し、演算結果が正し
くないと判定した場合には基準角度を再設定し、再計測
・再演算を行う。

【００８１】このように、光ディスク１の反り量が大き
い場合でも再計測・再演算することにより、最終的に正
しい演算結果が求められる。そして演算結果判定部３３
７は正しい演算結果を最適チルト量として設定し、チル
ト設定信号生成部３３に出力して記憶させる。そして、
記録もしくは再生動作の際には、チルト設定信号生成部
３３が、最適チルト量に設定するためのチルト設定信号
をチルトサーボ回路２１に出力し、チルトサーボ回路２
１によって光ディスク１と光ビームの相対傾きは最適チ
ルト量に制御される。以上のように、本発明の実施例４
の構成によれば、チルトセンサなどの特別な検出装置を
設けることなく、光ディスクの反り量が大きい場合で
も、光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の傾き
をＴＥ信号により正確に検出し、かつ光ビームの光軸に
対する光ディスクの記録面の傾きを最適な角度に精度良
く制御することができる光ディスク装置を提供する。

【００８２】《実施例５》以下、本発明の実施例５の光
ディスク装置について、図面を参照しながら説明する。
本発明の実施例５の光ディスク装置は、ＲＦ信号の振幅
が最大となる光ディスク１の記録面と光ビームの相対傾
き（チルト量）を最適チルト量として検出するものであ
り、光学ピックアップの傾きを変化させることにより、
チルト量を変化させながらＲＦ信号の振幅値を計測し、
チルト量とＲＦ信号の振幅値の関係を最小二乗法によっ
て２次関数に近似し、チルト量の変化に対するＲＦ信号
の振幅値が最大となるチルト量を算出して最適チルト量
とする。したがって、実施例１〜４との相違点は、ＴＥ
信号の振幅値の代わりにＲＦ信号の振幅値を用いる点で
ある。以下、実施例１〜４と同様である構成要素とその
動作は同一符号を付してその詳細な説明は省略する。

【００８３】図１１は本発明の実施例５の光ディスク装
置の構成を示すブロック図である。図１１の光ディスク
装置は、図１のチルト検出部２０に代えて、チルト検出
部４２０を有する。再生信号処理回路１９から出力され
るＲＦ信号が、チルト検出部４２０に送られること以外
は前述の図１に示した実施例１と同様である。前述の図
３に示した光ヘッド３内の光検出器３４の分割された４
つの受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの出力信号ａ、ｂ、ｃ、ｄ
が、前述の図４に示した再生信号処理回路１９にて加算
され、ＲＦ信号＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）が生成される。図
１２に本発明の実施例５のチルト検出部４２０の構成を
示す。チルト検出部４２０は、ＲＦ信号振幅計測部４３
８、チルト設定信号生成部３３、最適チルト量演算部４
３６、及び演算結果判定部４３７から構成されている。

【００８４】チルト検出部４２０は、最適チルト量検出
モードと最適チルト量設定モードとの２つの動作モード
を有する。最適チルト量検出モードはチルト量を変化さ
せることにより最適なチルト量を検出するモードであ
り、最適チルト量設定モードはチルト量を最適なチルト
量に固定するモードである。チルト設定信号生成部３３
が、いずれの動作モードで動作するかを決定する。決定
された動作モードは各ブロックに伝送される（図示して
いない）。チルト設定信号生成部３３は、最適チルト量
検出モードにおいては３つ以上の（実施例においては７
つの）異なるチルト設定信号を順次出力する。これによ
り、異なるチルト量が順次設定される（チルト設定信号
毎に、一定のチルト量が設定される。）。ＲＦ信号振幅
計測部４３８はそれぞれのチルト量におけるＲＦ信号の
振幅値を測定する（詳細は後述する。）。チルト設定信
号生成部３３は、最適チルト量設定モードにおいては最
適チルト量演算部４３６が出力した演算結果に基づい
て、最適なチルト量のチルト設定信号を出力する。これ
により、最適のチルト量が設定される。

【００８５】ＲＦ信号振幅計測部４３８は、再生信号処
理回路１９で生成されたＲＦ信号の振幅を計測する。最
適チルト量演算部４３６は、チルト設定信号生成部３３
から出力されたチルト設定信号に基づいて設定されたチ
ルト量と、ＲＦ信号振幅計測部４３８によって計測され
たＲＦ信号の振幅値との関係を最小二乗法により２次関
数に近似する。当該２次関数に基づいて、チルト量の変
化に対するＲＦ信号の振幅値が極値（極大値）となるチ
ルト量を演算結果として算出する。演算結果判定部４３
７は最適チルト量演算部４３６で算出された演算結果が
所定の演算限界値を越えているか否かを判定し、演算結
果が演算限界値を越えていた場合には演算結果と、チル
ト量とＲＦ信号の振幅値の関係を再計測させる指令とを
チルト設定信号生成部３３に出力する。演算結果が演算
限界値を越えていない場合には演算結果と、演算結果が
演算限界値内であるという情報とをチルト設定信号生成
部３３に伝送する。チルト設定信号生成部３３は、入力
した演算結果を最適チルト値として設定する。

【００８６】以上のように構成された実施例５の光ディ
スク装置において、その動作を図２７を用いて説明す
る。図２７は、チルト検出部４２０の動作を示すフロー
チャートである。最初に、光ディスク装置の電源が投入
されるか又は光ディスク装置に光ディスクが装着される
と、チルト設定信号生成部３３は、チルト検出部４２０
を最適チルト量検出モードに設定する（ステップ２７０
１）。最適チルト量検出モードにおいては、フォーカス
サーボ、トラッキングサーボを共にオンにした状態で、
チルト設定信号生成部３３は予め決められた７つのチル
ト設定信号を順次出力し、ＲＦ信号振幅計測部４３８は
それぞれのＴＥ信号の振幅値を計測する（ステップ２７
０２）。７つのチルト設定信号により、実施例１〜４と
同様に予め決められている基準の傾きを基準角度０度と
して、光学ピックアップ３の傾きを一定の角度ピッチＳ
度で正方向と負方向に３ステップずつ変化させる。つま
り、光ディスクの記録面と光ビームの相対傾きであるチ
ルト量を変化させながら、ＲＦ信号の振幅を計測する。
まずチルト設定信号生成部３３は光学ピックアップ３の
傾きを基準角度０に設定するチルト設定信号をチルトサ
ーボ回路２１に出力する。光学ピックアップ３の傾きＸ
１を基準角度０に制御された状態でＲＦ信号振幅計測部
４３８によってＲＦ信号の振幅値Ｙ（Ｘ１）を計測す
る。続いて光学ピックアップ３の傾きを＋１ステップに
設定し、ＲＦ信号の振幅値Ｙ（Ｘ２）を計測する。同様
に光学ピックアップ３の傾き＋２ステップ、＋３ステッ
プ、−１ステップ、−２ステップ、−３ステップと変化
させながら各チルト量に対するＲＦ信号の振幅値Ｙ（Ｘ
３）、Ｙ（Ｘ４）、Ｙ（Ｘ５）、Ｙ（Ｘ６）、Ｙ（Ｘ
７）を合計７回計測する。

【００８７】なお、基準角度０度は以下のように製造工
場の組立工程で予め設定される。組立工程において、反
りのほとんどのないフラットな基準ディスクをスピンド
ルモータによって回転させながら、光ビームが基準ディ
スクにほぼ垂直に照射されるように、光学ピックアップ
３の傾きを調整し、その傾きを基準角度０度と定義す
る。すなわち、反り量がほぼ０度の光ディスクに対して
は基準角度０度で光ディスクの記録面と光ビームの相対
傾き（チルト量）が最適値となる。そして、光学ピック
アップ３の傾きが基準角度０度に一致した際に零点信号
を出力するように回転角度検出センサ（図示せず）をチ
ルトモータ２４の回転軸に取り付ける。又は、光学ピッ
クアップ３の傾きが基準角度０度に一致した際に零点信
号を出力するように、回転角度検出センサの出力回路を
調整する。よって零点信号が出力される角度にチルトモ
ータ２４の回転角度を設定すれば光学ピックアップ３の
傾きは基準角度０度になり、回転角度検出センサの出力
に基づいてチルトモータ２４の回転角度をコントロール
すれば、光学ピックアップ３の傾きを基準角度０度から
所定角度だけずれた傾きに設定することができる。

【００８８】次に、計測値に基づいて最適チルト量を演
算する（ステップ２７０３）。ここで、図１３に光学ピ
ックアップ３の傾きに対するＲＦ信号振幅の変化を示
す。図１３のとおり光学ピックアップ３の傾きに対する
ＲＦ信号振幅の変化はＴＥ信号振幅の変化と同様にほぼ
２次関数に近い特性を示す。よってＲＦ信号振幅の変化
を最小二乗法によって２次関数に近似してＲＦ信号振幅
が最大になる角度を求める。そこで光学ピックアップの
傾き（チルト量）のステップ角度Ｓに対する比をＸ（上
記の７ステップの測定を例に取ればＸ＝−３，・・０・
・３）、ＲＦ信号振幅をＹ（Ｘ）として式（１）の２次
関数に近似する。その演算方法は実施例１と同一であ
り、測定ｊ回目のチルト量ＸをＸｊとした場合のＲＦ信
号振幅の計測値をＹｊとすると、近似した式（１）の値
と実際の計測値Ｙｊとの誤差量ｖｊは式（２）に示され
る。式（３）に示す誤差ｖｊの二乗和Ｅを最小にするよ
うに係数ａ、ｂ、ｃを決定する。係数ａ、ｂ、ｃ、ｄは
式（４）の行列式を解くことにより求めることができ
る。ここで、式（４）中の各関数Ｐ（ｋ）、Ｑ（ｋ）、
Ｙ１は式（５）、式（６）、式（７）に示したとおりで
ある。チルト量はＸ１＝０、Ｘ２＝＋１、Ｘ３＝＋２、
Ｘ４＝＋３、Ｘ５＝−１、Ｘ６＝−２、Ｘ７＝−３と設
定するので、Ｘ２とＸ５、Ｘ３とＸ６、及びＸ４とＸ７
は、互いに符号が逆であるため、Ｐ（１）、Ｐ（３）は
０となり、式（４）は、簡素化されて式（８）になる。
式（１）の２次関数でＹが最大値となるＸは、式（９）
で求められる。２次係数ａと１次係数ｂは、計測したＲ
Ｆ信号の振幅値Ｙｊと式（８）から算出できる。これら
をまとめると式（９）のＸｍａｘは、式（１０）で示さ
れる。また２次係数ａは式（１１）で求めることができ
る。

【００８９】以上により、ＲＦ信号の振幅値が最大値と
なるチルト量の角度θは、ステップ角度Ｓ度と式（９）
で算出されたＸｍａｘの積で求めることができる（θ＝
Ｓ×Ｘｍａｘ）。例えば、図１４はステップ角度を０．
２度でチルト量を変化させながら計測したＲＦ信号振幅
のプロットと、その計測値に基づいて最小二乗法で２次
関数に近似した２次曲線を示したものであり、求められ
たＸｍａｘが１．０５ステップであった場合である。こ
のときＲＦ信号振幅値が最大となるチルト量は０．２１
度となる。このように最適チルト量演算部４３６は、チ
ルト設定信号生成部３３から出力されたチルト設定信号
に基づいて設定されたチルト量と、ＲＦ信号振幅計測部
４３８によって計測されたＲＦ信号の振幅値の関係を上
記のように最小二乗法により２次関数に近似し、チルト
量の変化に対するＴＥ信号の振幅値が最大となるチルト
量を演算結果として算出する。

【００９０】次に演算結果判定部４３７は、ＲＦ信号振
幅が最大となる真の最適チルト量を正確に求めるため
に、最適チルト量演算部４３６で算出された演算結果が
所定の演算限界値を越えているか否かを判定する（ステ
ップ２７０４）。図１５はＲＦ信号振幅が最大となる真
の最適チルト量がステップ角度０．２度の約２．７５倍
であった場合のチルト量に対するＲＦ信号振幅の変化を
破線で示す。例えば、光ディスク１の反り量が極端に大
きく、−０．５５度程度もあった場合などにこのような
状態になる。この場合に、チルト量を基準角度０度に対
して１ステップ０．２度で±３ステップ変化させてＲＦ
信号振幅を測定した測定値を白丸のプロットで示す。ま
た、この計測値を用いて最小二乗法で近似した２次曲線
を実線で示す。図１５から明らかのように真の極値（Ｒ
Ｆ信号振幅が最大となるチルト量）がマイナス側の最大
ステップである−３ステップ付近にあるため、測定誤差
の影響を受け、±３ステップでの測定値から算出した極
値は−３．６ステップとなってしまう。

【００９１】このようにＲＦ信号振幅が最大となる最適
チルト量が基準角度から大きくずれている場合の最適チ
ルト量の誤算出を防ぐために、演算限界値を予め設定
し、演算結果がその演算限界値を越えていた場合にはス
テップ２７０５に進む。ステップ２７０５において、基
準角度を演算結果がずれている方向にシフトして再設定
する。具体的には演算限界値を±２ステップとして、演
算結果が本実施例のように−３．６ステップとマイナス
側の演算限界値を越えていた場合には、演算結果判定部
４３７はチルト設定信号生成部３３が出力するチルト設
定信号の基準角度をマイナス側に２ステップずらすよう
に指令する。すなわち基準角度を−０．４度の角度に再
設定して再計測する。再びステップ２７０２に戻り、チ
ルト設定信号生成部３３は新たな基準角度に対して０ス
テップ、＋１ステップ、＋２ステップ、＋３ステップ、
−１ステップ、−２ステップ、−３ステップと変化させ
たチルト設定信号を出力する。各チルト量（チルト設定
信号）に対するＴＥ信号の振幅値を合計７回計測する。

【００９２】図１５における黒丸のプロットが再計測し
たＲＦ信号振幅値であり、この計測値を用いて最小二乗
法で近似し、極値（極大値）を算出する（ステップ２７
０３）。算出した極値は、ＲＦ信号振幅が最大となる真
の極値、すなわち最適チルト量と一致する。再び、演算
結果判定部４３７は、最適チルト量演算部４３６で算出
された演算結果が所定の演算限界値を越えているか否か
を判定する（ステップ２７０４）。演算結果が演算限界
値内であれば、ステップ２７０６に進む。ステップ２７
０６において、チルト設定信号生成部３３は、チルト検
出部２０を最適チルト量設定モードに設定する。次に、
チルト設定信号生成部３３は、入力した演算結果に応じ
て最適なチルト設定信号を出力する（ステップ２７０
７）。チルト駆動機構２６は、光ディスク１を最適にチ
ルトさせる。

【００９３】逆に、光ディスク１の反り量がプラス側に
大きい場合など、０度を基準角度として±３ステップで
計測・演算した結果がプラス側の演算限界値（＋２ステ
ップ）を越えていた場合にはステップ２７０５において
基準角度をプラス側に＋２ステップずらして、再計測・
再演算を行う（ステップ２７０２、２７０３）。これら
により、光ディスクの反り量が極端に大きい場合など、
最適チルト量が基準角度から大きくずれていた際にも、
基準角度を再設定して再計測・再演算を行うことによ
り、正確に最適チルト量を求めることができる。

【００９４】さらに、演算結果判定部４３７は、最小二
乗法で近似した２次関数における２次係数が正か負かの
判定を行う。図１６は、ＲＦ信号振幅が最大となる真の
最適チルト量がステップ角度０．２度の約３．７倍であ
った場合、すなわち真の最適チルト量が、図１５で示し
た場合よりもさらに大きかった場合のチルト量に対する
ＲＦ信号振幅の変化を破線で示す。この場合に、チルト
量を基準角度０度に対して１ステップ０．２度で±３ス
テップ変化させてＲＦ信号振幅を測定した測定値を白丸
のプロットで示す。また、この計測値を用いて最小二乗
法で近似した２次曲線を実線で示す。

【００９５】このように真の最適チルト量が基準角度か
ら大きくマイナス側にずれている場合、チルト量がプラ
ス側でのＲＦ信号振幅値は非常に小さくなりノイズなど
の影響を受けやすくなるために計測誤差が大きくなる。
さらにその変化が２次関数で近似できるとは限らない。
したがって、例えば図１６に示すように＋３ステップ角
度でのＲＦ振幅を真の値より大きく計測してしまう可能
性が生じ、最小二乗法で近似すると下に凸の２次曲線に
誤った近似を行ってしまう。したがって、式（１１）で
示した２次係数ａを正値と算出し、演算結果は真の最適
チルト量から完全にずれた値として算出される。この場
合、具体的には２次係数ａ＝６．７１に、演算結果Ｘｍ
ａｘ＝８．８ステップと算出してしまう。

【００９６】このような不具合を防ぐために、演算結果
判定部４３７は、２次係数の正負で演算に誤りがあるか
否かを判定し、２次係数が正の場合には演算結果が正し
くないと判定して、基準角度を再設定する。基準角度の
再設定においては、極値として算出された演算結果の正
負により基準角度をずらすべき方向を判定する。演算結
果が正の場合には、基準角度をマイナス側に２ステップ
ずらし、負の場合にはプラス側に２ステップずらす。図
１６に示した場合には、演算結果が正であるので、基準
角度をマイナス側に２ステップずらして、再計測・再演
算を行う。図１６における黒丸のプロットが、基準角度
をマイナス側にずらして再計測したＲＦ信号振幅値であ
り、この計測値を用いて最小二乗法で近似し、算出した
極値はＲＦ信号振幅が最大となる真の極値、すなわち最
適チルト量と一致する。

【００９７】以上のように、本実施例５は、光ディスク
１の反り量が大きい場合でも、光ディスクの記録面と光
ビームの相対傾きの最適値をＲＦ信号振幅が最大となる
傾きとして、精度良く求めるために、チルト量を基準角
度を中心として±３ステップ角度変化させながら、チル
ト量とＲＦ信号の振幅値の関係を最小二乗法により２次
関数に近似し、ＲＦ信号の振幅値が極値となる最適チル
ト量を演算結果として算出する。そして、光ディスク１
の反り量が大きい場合でも最適チルト量を誤りなく求め
るために、まず、演算結果が演算限界値として設定した
±２ステップを越えているか否かを判定し、演算結果が
プラス側の演算限界値を越えていた場合には基準角度を
＋２ステップだけずらして再設定し、演算結果がマイナ
ス側の演算限界値を越えていた場合には−２ステップだ
けずらして再設定し、再計測・再演算を行う。このよう
に、光ディスク１の反り量が大きい場合でも再計測・再
演算することにより、最終的に正しい演算結果が求めら
れる。

【００９８】さらに、近似された２次関数における２次
係数が正か負かを判定すると共に、演算結果が基準角度
を基準として正方向か負方向か（極値におけるチルト量
が基準角度に対して正の値か負の値か）を判定する。２
次係数が正の場合には演算結果に誤りがあると判定し、
基準角度を再設定する。演算結果が基準角度を基準とし
てプラス方向（極値におけるチルト量が基準角度に対し
て正の値）の場合には基準角度を−２ステップだけずら
して再設定し、演算結果が基準角度を基準としてマイナ
ス方向（極値におけるチルト量が基準角度に対して負の
値）の場合には基準角度を＋２ステップだけずらして再
設定し、再計測・再演算を行う。このように、光ディス
ク１の反り量が大きい場合でも再計測・再演算すること
により、最終的に正しい演算結果が求められる。

【００９９】チルト設定信号生成部３３は、正しい演算
結果を最適チルト量として記憶する。記録もしくは再生
動作の際には（最適チルト量設定モードになってい
る。）、チルト設定信号生成部３３が、最適チルト量に
設定するためのチルト設定信号をチルトサーボ回路２１
に出力し、チルトサーボ回路２１によって光ディスク１
と光ビームの相対傾きは最適チルト量に制御される。以
上のように、本発明の実施例５の構成によれば、チルト
センサなどの特別な検出装置を設けることなく、光ディ
スクの反り量が大きい場合でも、光ビームの光軸に対す
る光ディスクの記録面の傾きをＲＦ信号により正確に検
出し、かつ光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面
の傾きを最適な角度に精度良く制御することができる光
ディスク装置を提供する。別個のチルトセンサを用いる
従来例においてはチルトセンサにおけるチルト角度と光
ピックアップ３におけるチルト角度との誤差が問題であ
ったが、光ピックアップ３が入力した反射光に基づいて
最適のチルト量を算出する本発明の光ディスク装置にお
いてはそのような誤差はありえない。

【０１００】《実施例６》以下、本発明の実施例６の光
ディスク装置について、図面を参照しながら説明する。
本発明の実施例６の光ディスク装置は、ＲＦ信号の基準
クロックに対するジッタ値が最小となる光ディスク１の
記録面と光ビームの相対傾き（チルト量）を最適チルト
量として検出するものであり、光学ピックアップの傾き
を変化させることにより、チルト量を変化させながらジ
ッタ値を計測し、チルト量とジッタ値の関係を最小二乗
法によって２次関数に近似し、チルト量の変化に対する
ジッタ値が最小となるチルト量を算出して最適チルト量
とする。したがって、実施例１〜４との相違点は、ＴＥ
信号の振幅値の代わりにジッタ値を用いる点である。以
下、実施例１〜４と同様である構成要素とその動作は同
一符号を付してその詳細な説明は省略する。

【０１０１】図１７は本発明の実施例６の光ディスク装
置の構成を示すブロック図である。図１７の光ディスク
装置は、図１のチルト検出部２０に代えて、ジッタ計測
部５３９及びチルト検出部５２０を有する。再生信号処
理回路１９から出力されるＲＦ信号がジッタ計測部５３
９に送られ、ジッタ計測部５３９で計測されたジッタ値
がチルト検出部５２０に送られる。それ以外は前述の図
１に示した実施例１と同様である。前述の図３に示した
光学ピックアップ３内の光検出器３４の分割された４つ
の受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの出力ａ、ｂ、ｃ、ｄが、前
述の図４に示した再生信号処理回路１９にて加算され、
ＲＦ信号＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）として生成される。ジッ
タ計測部５３９はＲＦ信号を２値化信号に変換し、２値
化信号の基準クロックに対するジッタ値を計測し、その
ジッタ値に比例した電圧をジッタ電圧として出力する。

【０１０２】図１８は本発明の実施例６のチルト検出部
５２０の構成を示す。チルト検出部５２０は、ジッタ信
号計測部５４０、チルト設定信号生成部３３、最適チル
ト量演算部５３６、及び演算結果判定部５３７から構成
されている。チルト検出部４２０は、最適チルト量検出
モードと最適チルト量設定モードとの２つの動作モード
を有する。最適チルト量検出モードはチルト量を変化さ
せることにより最適なチルト量を検出するモードであ
り、最適チルト量設定モードはチルト量を最適なチルト
量に固定するモードである。チルト設定信号生成部３３
が、いずれの動作モードで動作するかを決定する。決定
された動作モードは各ブロックに伝送される（図示して
いない）。チルト設定信号生成部３３は、最適チルト量
検出モードにおいては３つ以上の（実施例においては７
つの）異なるチルト設定信号を順次出力する。これによ
り、異なるチルト量が順次設定される（チルト設定信号
毎に、一定のチルト量が設定される。）。ジッタ信号計
測部５４０はそれぞれのチルト量におけるジッタ信号を
測定する（詳細は後述する。）。チルト設定信号生成部
３３は、最適チルト量設定モードにおいては最適チルト
量演算部５３６が出力した演算結果に基づいて、最適な
チルト量のチルト設定信号を出力する。これにより、最
適のチルト量が設定される。

【０１０３】ジッタ信号計測部５４０は、ジッタ計測部
５３９で生成されたジッタ電圧値をジッタ値として計測
する。チルト設定信号生成部３３は、光ディスク１と光
ビームの相対傾き（チルト量）を所望の角度に設定する
ためのチルト設定信号をチルトサーボ回路２１に出力す
る。最適チルト量演算部５３６は、チルト設定信号生成
部３３から出力されたチルト設定信号に基づいて設定さ
れたチルト量と、ジッタ信号計測部５４０によって計測
されたジッタ値の関係を最小二乗法により２次関数に近
似する。当該２次関数に基づいて、チルト量の変化に対
するジッタ値が極値（極小値）となるチルト量を演算結
果として算出する。演算結果判定部５３７は最適チルト
量演算部５３６で算出された演算結果が所定の演算限界
値を越えているか否かを判定し、演算結果が演算限界値
を越えていた場合には、演算結果と、チルト量とジッタ
値の関係を再計測させる指令とをチルト設定信号生成部
３３に出力する。演算結果が演算限界値を越えていない
場合には演算結果と、演算結果が演算限界値内であると
いう情報とをチルト設定信号生成部３３に伝送する。チ
ルト設定信号生成部３３は、入力した演算結果を最適チ
ルト値として設定する。

【０１０４】以上のように構成された実施例６の光ディ
スク装置において、その動作を図２８を用いて説明す
る。図２８は、チルト検出部５２０の動作を示すフロー
チャートである。最初に、光ディスク装置の電源が投入
されるか又は光ディスク装置に光ディスクが装着される
と、チルト設定信号生成部３３は、チルト検出部５２０
を最適チルト量検出モードに設定する（ステップ２８０
１）。最適チルト量検出モードにおいては、フォーカス
サーボ、トラッキングサーボを共にオンにした状態で、
チルト設定信号生成部３３は予め決められた７つのチル
ト設定信号を順次出力し、ジッタ信号計測部５４０はそ
れぞれのジッタ値を計測する（ステップ２８０２）。７
つのチルト設定信号により、実施例１〜４と同様に予め
決められている基準の傾きを基準角度０度として、光学
ピックアップ３の傾きを一定の角度ピッチＳ度で正方向
と負方向に３ステップずつ変化させる。つまり、光ディ
スクの記録面と光ビームの相対傾きであるチルト量を変
化させながら、ジッタ値を計測する。

【０１０５】まずチルト設定信号生成部３３は光学ピッ
クアップ３の傾きを基準角度０に設定するチルト設定信
号をチルトサーボ回路２１に出力する。光学ピックアッ
プ３の傾きＸ１を基準角度０に制御された状態でジッタ
信号計測部５４０によってジッタ値Ｙ（Ｘ１）を計測す
る。続いて光学ピックアップ３の傾きを＋１ステップに
設定し、ジッタ値Ｙ（Ｘ２）を計測する。同様に光学ピ
ックアップ３の傾き＋２ステップ、＋３ステップ、−１
ステップ、−２ステップ、−３ステップと変化させなが
ら各チルト量に対するジッタ値Ｙ（Ｘ３）、Ｙ（Ｘ
４）、Ｙ（Ｘ５）、Ｙ（Ｘ６）、Ｙ（Ｘ７）を合計７回
計測する。

【０１０６】なお、基準角度０度は以下のように製造工
場の組立工程で予め設定される。組立工程において、反
りのほとんどのないフラットな基準ディスクをスピンド
ルモータによって回転させながら、光ビームが基準ディ
スクにほぼ垂直に照射されるように、光学ピックアップ
３の傾きを調整し、その傾きを基準角度０度と定義す
る。すなわち、反り量がほぼ０度の光ディスクに対して
は基準角度０度で光ディスクの記録面と光ビームの相対
傾き（チルト量）が最適値となる。そして、光学ピック
アップ３の傾きが基準角度０度に一致した際に零点信号
を出力するように回転角度検出センサ（図示せず）をチ
ルトモータ２４の回転軸に取り付ける。又は、光学ピッ
クアップ３の傾きが基準角度０度に一致した際に零点信
号を出力するように、回転角度検出センサの出力回路を
調整する。よって零点信号が出力される角度にチルトモ
ータ２４の回転角度を設定すれば光学ピックアップ３の
傾きは基準角度０度になり、回転角度検出センサの出力
に基づいてチルトモータ２４の回転角度をコントロール
すれば、光学ピックアップ３の傾きを基準角度０度から
所定角度だけずれた傾きに設定することができる。

【０１０７】次に、計測値に基づいて最適チルト量を演
算する（ステップ２８０３）。ここで、図１９に光学ピ
ックアップ３の傾きに対するジッタ値の変化を示す。図
１９のとおり光学ピックアップ３の傾きに対するジッタ
値の変化はＴＥ信号振幅の変化と同様にほぼ２次関数に
近い特性を示す。ただし、２次係数が正の下に凸の２次
曲線となり、ジッタが極小となるチルト量が最適チルト
量となる。よってチルト量に対するジッタ値の変化を最
小二乗法によって２次関数に近似してジッタ値が最小に
なる角度を求める。そこで光学ピックアップの傾き（チ
ルト量）のステップ角度Ｓに対する比をＸ（上記の７ス
テップの測定を例に取ればＸ＝−３，・・０・・３）、
ジッタ値をＹ（Ｘ）として式（１）の２次関数に近似す
る。その演算方法は実施例１と同一であり、測定ｊ回目
のチルト量ＸをＸｊとした場合のジッタ値の計測値をＹ
ｊとすると、近似した式（１）の値と実際の計測値Ｙｊ
との誤差量ｖｊは式（２）に示される。

【０１０８】式（３）に示す誤差ｖｊの二乗和Ｅを最小
にするように係数ａ、ｂ、ｃを決定する。係数ａ、ｂ、
ｃ、ｄは式（４）の行列式を解くことにより求めること
ができる。ここで、式（４）中の各関数Ｐ（ｋ）、Ｑ
（ｋ）、Ｙ１は式（５）、式（６）、式（７）に示した
とおりである。チルト量はＸ１＝０、Ｘ２＝＋１、Ｘ３
＝＋２、Ｘ４＝＋３、Ｘ５＝−１、Ｘ６＝−２、Ｘ７＝
−３と設定するので、Ｘ２とＸ５、Ｘ３とＸ６、及びＸ
４とＸ７は、互いに符号が逆であるため、Ｐ（１）、Ｐ
（３）は０となり、式（４）は、簡素化されて式（８）
になる。式（１）の２次関数でＹが最大値となるＸは、
式（９）で求められ、２次係数ａと１次係数ｂは、計測
したジッタ値Ｙｊと式（８）から算出できる。これらを
まとめるとＸｍｉｎ（Ｙが極小値となるＸの値）は、式
（９）及び式（１０）のＸｍａｘをＸｍｉｎに置き換え
た式で示される。また２次係数ａは式（１１）で求める
ことができる。

【０１０９】以上により、ジッタ値が最小値となるチル
ト量の角度θは、ステップ角度Ｓ度と式（９）で算出さ
れたＸｍｉｎの積で求めることができる（θ＝Ｓ×Ｘｍ
ｉｎ）。例えば、図２０はステップ角度Ｓを０．２度で
チルト量を変化させながら計測したジッタ電圧値のプロ
ットと、その計測値に基づいて最小二乗法で２次関数に
近似した２次曲線を示したものであり、求められたＸｍ
ｉｎが１．０５ステップであった場合である。このとき
ジッタ値が最小となるチルト量は０．２１度となる。こ
のように最適チルト量演算部５３６は、チルト設定信号
生成部３３から出力されたチルト設定信号に基づいて設
定されたチルト量と、ジッタ信号計測部５４０によって
計測されたジッタ電圧値の関係を上記のように最小二乗
法により２次関数に近似し、チルト量の変化に対するジ
ッタ値が最小となるチルト量を演算結果として算出す
る。

【０１１０】次に演算結果判定部５３７の動作を説明す
る。まず、演算結果判定部５３７は、ジッタ値が最小と
なる真の最適チルト量を正確に求めるために、最適チル
ト量演算部５３６で算出された演算結果が所定の演算限
界値を越えているか否かを判定する（ステップ２８０
４）。図２１はジッタ値が最小となる真の最適チルト量
がステップ角度Ｓ＝０．２度の約２．７５倍であった場
合のチルト量に対するジッタ値の変化を破線で示す。例
えば、光ディスク１の反り量が極端に大きく、−０．５
５度程度もあった場合などにこのような状態になる。こ
の場合に、チルト量を基準角度０度に対して１ステップ
０．２度で±３ステップ変化させてジッタ電圧値を測定
した測定値を白丸のプロットで示す。また、この計測値
を用いて最小二乗法で近似した２次曲線を実線で示す。
図２１から明らかのように真の極値（ジッタ値が最小と
なるチルト量）がマイナス側の最大ステップである−３
ステップ付近にあるため、測定誤差の影響を受け、±３
ステップでの測定値から算出した極値は−３．６ステッ
プとなってしまう。

【０１１１】このようにジッタ値が最小となる最適チル
ト量が基準角度から大きくずれている場合の最適チルト
量の誤算出を防ぐために、演算限界値を予め設定し、演
算結果がその演算限界値を越えていた場合にはステップ
２８０５に進む。ステップ２８０５において、基準角度
を演算結果がずれている方向にシフトして再設定する。
具体的には演算限界値を±２ステップとして、演算結果
が本実施例のように−３．６ステップとマイナス側の演
算限界値を越えていた場合には、演算結果判定部５３７
はチルト設定信号生成部３３が出力するチルト設定信号
の基準角度をマイナス側に２ステップずらすように指令
する。すなわち基準角度を−０．４度の角度に再設定し
て再計測する。再びステップ２８０２に戻り、チルト設
定信号生成部３３は新たな基準角度に対して０ステッ
プ、＋１ステップ、＋２ステップ、＋３ステップ、−１
ステップ、−２ステップ、−３ステップと変化させたチ
ルト設定信号を出力する。各チルト量（チルト設定信
号）に対するジッタ値を合計７回計測する。

【０１１２】図２１における黒丸のプロットが再計測し
たジッタ電圧値であり、この計測値を用いて最小二乗法
で近似し、算出した極値は、ジッタ値が最小となる真の
極値、すなわち最適チルト量と一致する。再び、演算結
果判定部５３７は、最適チルト量演算部５３６で算出さ
れた演算結果が所定の演算限界値を越えているか否かを
判定する（ステップ２８０４）。演算結果が演算限界値
内であれば、ステップ２８０６に進む。ステップ２８０
６において、チルト設定信号生成部３３は、チルト検出
部５２０を最適チルト量設定モードに設定する。次に、
チルト設定信号生成部３３は、入力した演算結果に応じ
て最適なチルト設定信号を出力する（ステップ２８０
７）。チルト駆動機構２６は、光ディスク１を最適にチ
ルトさせる。

【０１１３】逆に、光ディスク１の反り量がプラス側に
大きい場合など、０度を基準角度として±３ステップで
計測・演算した結果がプラス側の演算限界値（＋２ステ
ップ）を越えていた場合にはステップ２８０５において
基準角度をプラス側に＋２ステップずらして、再計測・
再演算を行う（ステップ２８０２、２８０３）。これら
により、光ディスクの反り量が極端に大きい場合など、
最適チルト量が基準角度から大きくずれていた際にも、
基準角度を再設定して再計測・再演算を行うことによ
り、正確に最適チルト量を求めることができる。

【０１１４】さらに、演算結果判定部５３７は、最小二
乗法で近似した２次関数における２次係数が正か負かの
判定を行う。図２２は、ジッタ値が最小となる真の最適
チルト量がステップ角度Ｓ＝０．２度の約３．７倍であ
った場合、すなわち真の最適チルト量が、図２１で示し
た場合よりもさらに大きかった場合のチルト量に対する
ジッタ電圧値の変化を破線で示す。この場合に、チルト
量を基準角度０度に対して１ステップ０．２度で±３ス
テップ変化させてジッタ電圧値を測定した測定値を白丸
のプロットで示す。また、この計測値を用いて最小二乗
法で近似した２次曲線を実線で示す。

【０１１５】このように真の最適チルト量が基準角度か
ら大きくマイナス側にずれている場合、ジッタ値が単調
増大型のカーブになり最小二乗法で近似した２次曲線の
係数がノイズなどの影響を受けやすくなる。例えば図２
２に示すように＋３ステップ角度でのジッタ値が真の値
より小さく計測してしまった場合、Ｙ（Ｘ）を最小二乗
法で近似すると上に凸の２次曲線に誤った近似を行って
しまう。したがって、式（１１）で示した２次係数ａを
負値と算出し、演算結果は真の最適チルト量から完全に
ずれた値として算出される。この場合、具体的には２次
係数ａ＝−６．７１に、演算結果Ｘｍｉｎ＝＋８．８ス
テップと算出してしまう。

【０１１６】このような不具合を防ぐために、演算結果
判定部５３７は、２次係数の正負で演算に誤りがあるか
否かを判定し、２次係数が負の場合には演算結果が正し
くないと判定して、基準角度を再設定する。基準角度の
再設定においては、極値として算出された演算結果の正
負により基準角度をずらすべき方向を判定する。演算結
果が正の場合には、基準角度をマイナス側に２ステップ
ずらし、負の場合にはプラス側に２ステップずらす。図
２２に示した場合には、演算結果が正であるので、基準
角度をマイナス側に２ステップずらして、再計測・再演
算を行う。図２２における黒丸のプロットが、基準角度
をマイナス側にずらして再計測したジッタ電圧値であ
り、この計測値を用いて最小二乗法で近似し、算出した
極値はジッタ値が最小となる真の極値、すなわち最適チ
ルト量と一致する。

【０１１７】以上のように、本実施例６は、光ディスク
１の反り量が大きい場合でも、光ディスクの記録面と光
ビームの相対傾きの最適値をジッタが最小となる傾きと
して、精度良く求めるために、チルト量を基準角度を中
心として±３ステップ角度変化させながら、チルト量と
ジッタ値の関係を最小二乗法により２次関数に近似し、
ジッタ値が極値となる最適チルト量を演算結果として算
出する。そして、光ディスク１の反り量が大きい場合で
も最適チルト量を誤りなく求めるために、まず、演算結
果が演算限界値として設定した±２ステップを越えてい
るか否かを判定し、演算結果がプラス側の演算限界値を
越えていた場合には基準角度を＋２ステップだけずらし
て再設定し、演算結果がマイナス側の演算限界値を越え
ていた場合には−２ステップだけずらして再設定し、再
計測・再演算を行う。このように、光ディスク１の反り
量が大きい場合でも再計測・再演算することにより、最
終的に正しい演算結果が求められる。

【０１１８】さらに、近似された２次関数における２次
係数が正か負かを判定すると共に、演算結果が基準角度
を基準として正方向か負方向か（極値におけるチルト量
が基準角度に対して正の値か負の値か）を判定する。２
次係数が負の場合には演算結果に誤りがあると判定し、
基準角度を再設定する。演算結果が基準角度を基準とし
てプラス方向（極値におけるチルト量が基準角度に対し
て正の値）の場合には基準角度を−２ステップだけずら
して再設定し、演算結果が基準角度を基準としてマイナ
ス方向（極値におけるチルト量が基準角度に対して負の
値）の場合には基準角度を＋２ステップだけずらして再
設定し、再計測・再演算を行う。このように、光ディス
ク１の反り量が大きい場合でも再計測・再演算すること
により、最終的に正しい演算結果が求められる。

【０１１９】チルト設定信号生成部３３は、正しい演算
結果を最適チルト量として記憶する。記録もしくは再生
動作の際には（最適チルト量設定モードになってい
る。）、チルト設定信号生成部３３が、最適チルト量に
設定するためのチルト設定信号をチルトサーボ回路２１
に出力し、チルトサーボ回路２１によって光ディスク１
と光ビームの相対傾きは最適チルト量に制御される。以
上のように、本発明の実施例６の構成によれば、チルト
センサなどの特別な検出装置を設けることなく、光ディ
スクの反り量が大きい場合でも、光ビームの光軸に対す
る光ディスクの記録面の傾きをジッタ信号により正確に
検出し、かつ光ビームの光軸に対する光ディスクの記録
面の傾きを最適な角度に精度良く制御することができる
光ディスク装置を提供する。別個のチルトセンサを用い
る従来例においてはチルトセンサにおけるチルト角度と
光ピックアップ３におけるチルト角度との誤差が問題で
あったが、光ピックアップ３が入力した反射光に基づい
て最適のチルト量を算出する本発明の光ディスク装置に
おいてはそのような誤差はありえない。

【０１２０】《実施例７》以下、本発明の実施例７の光
ディスク装置について、図面を参照しながら説明する。
実施例７においては、チルト駆動機構は光ビームを集束
する対物レンズ４の角度を変える構成とした。実施例１
〜６では、チルト量を変化させるために光学ピックアッ
プ３の傾きを変えたが、対物レンズ４の傾きを変える構
成にしても同様の効果が得られる。つまり、対物レンズ
４の傾きを変えることにより光ビームが光ディスク３の
記録面に入射する角度を変えることができる。よって本
実施例７においては、実施例１と同様に対物レンズ４の
傾きを変えることによりチルト量を変化させながらＴＥ
信号振幅が最大となる最適チルト量を求めることができ
る。

【０１２１】図２３に対物レンズ４を傾けるチルトアク
チュエータの構成を示す。チルトアクチュエータは、マ
グネット８と内周側フォーカス駆動コイル６４１と外周
側フォーカス駆動コイル６４２で構成されている。内周
側フォーカス駆動コイル６４１と外周側フォーカスコイ
ル６４２に同位相の電圧を加えると対物レンズ４はフォ
ーカス方向（上下方向）に駆動される。また、内周側フ
ォーカス駆動コイル６４１と外周側フォーカスコイル６
４２に逆位相の電圧を加えると対物レンズ４は傾き、こ
れらのコイルに入力する電圧をコントロールすることに
より対物レンズ４の傾き角度を制御できる。

【０１２２】図２４は本発明の実施例７の光ディスク装
置の構成を示すブロック図である。図１の構成と比べ
て、実施例７の光ディスク装置は光ピックアップ３の対
物レンズ４の角度を変えることによりチルトを可変して
いること、及びチルトサーボ回路２１に代えてチルトサ
ーボ部６２１を有することにおいて特徴的である。チル
トサーボ回路部６２１の出力信号は、フォーカスサーボ
回路６の出力信号と加算され、当該加算信号により対物
レンズ４は駆動される。

【０１２３】図２５はチルトサーボ回路６２１の構成を
示す図ある。チルトサーボ回路６２１は光ディスク１に
照射される光ビームの照射角度が所望の角度になるよう
に対物レンズ４の傾きを制御する。チルト設定信号生成
部３３からのチルト設定信号に基づき、チルトサーボ信
号を出力するチルトサーボ信号発生部６２３と、チルト
サーボ信号に基づき内周側フォーカス駆動コイル６４１
と外周側フォーカスコイル６４２に電圧を印加するチル
ト駆動回路６４３とから構成されている。そのほかの構
成は実施例１と同様であり、チルト検出部２０は図５と
同様の構成を有し、ＴＥ信号振幅計測部３５、チルト設
定信号生成部３３、最適チルト量演算部３６、及び演算
結果判定部６３７から構成されている（図５の演算結果
判定部３７に代えて、演算結果判定部６３７を有す
る。）。ＴＥ信号振幅計測部３５は、再生信号処理回路
１９で生成されたトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）
の振幅を計測する。

【０１２４】チルト設定信号生成部３３は、光ディスク
１と光ビームの相対傾き（チルト量）を所望の角度に設
定するためのチルト設定信号をチルトサーボ回路６２１
に出力する。最適チルト量演算部３６は、チルト設定信
号生成部３３から出力されたチルト設定信号に基づいて
設定されたチルト量と、ＴＥ信号振幅計測部３５によっ
て計測されたＴＥ信号の振幅値との関係を最小二乗法に
より２次関数に近似する。当該２次関数を用いて、チル
ト量の変化に対するＴＥ信号の振幅値が極値となるチル
ト量を演算結果として算出する。演算結果判定部６３７
は最適チルト量演算部で算出された演算結果が所定の演
算限界値を越えているか否かを判定し、演算結果が演算
限界値を越えていた場合には、演算結果と、チルト量と
ＴＥ信号の振幅値の関係を再計測させる指令とをチルト
設定信号生成部３３に出力する。演算結果が演算限界値
を越えていない場合には、演算結果と、演算結果が演算
限界値内であるという情報とをチルト設定信号生成部３
３に伝送する。チルト設定信号生成部３３は、当該演算
結果を最適チルト値として設定する。

【０１２５】このように、光ディスク１の反り量が大き
い場合でも再計測・再演算することにより、最終的に正
しい演算結果が求められる。そしてチルト設定信号生成
部３３は正しい演算結果を最適チルト量として記憶す
る。記録もしくは再生動作の際には（最適チルト量設定
モードになっている。）、チルト設定信号生成部３３
が、最適チルト量に設定するためのチルト設定信号をチ
ルトサーボ回路２１に出力し、チルトサーボ回路６２１
によって対物レンズ４の傾きをコントロールすることに
より光ディスク１と光ビームの相対傾きは最適チルト量
に制御することができる。以上のように、本発明の実施
例７の構成によれば、チルトセンサなどの特別な検出装
置やチルトモータなどのチルト駆動機構を設けることな
く、光ディスクの反り量が大きい場合でも、光ビームの
光軸に対する光ディスクの記録面の傾きをジッタ信号に
より正確に検出し、かつ光ビームの光軸に対する光ディ
スクの記録面の傾きを最適な角度に精度良く制御するこ
とができる光ディスク装置を提供する。別個のチルトセ
ンサを用いる従来例においてはチルトセンサにおけるチ
ルト角度と光ピックアップ３におけるチルト角度との誤
差が問題であったが、光ピックアップ３が入力した反射
光に基づいて最適のチルト量を算出する本発明の光ディ
スク装置においてはそのような誤差はありえない。

【０１２６】以上、本発明の光ディスク装置は、チルト
センサなどの特別な検出装置を設けることなく、光ディ
スクの反り量が大きい場合にも、確実に最適チルト量を
検出することができるので、非常に高精度で信頼性の高
いチルトサーボが実現できる。したがって、本発明の光
ディスク装置の構成はＤＶＤ−Ｒ装置、ＤＶＤ−ＲＡＭ
装置、ＤＶＤ−ＲＷ装置、ＣＤ−Ｒ装置、ＣＤ−ＲＷ装
置や光磁気記録装置などの記録及び再生の両方を行う光
ディスク記録再生装置、及び再生専用のＤＶＤ−ＲＯＭ
装置、ＣＤ−ＲＯＭ装置や再生専用ＭＤ装置などの光デ
ィスク再生装置、及び記録のみを行う光ディスク記録装
置のいずれの光ディスク装置においても好適であり、い
ずれの場合も同様の効果を奏することは言うまでもな
い。

【０１２７】

【発明の効果】以上、本発明の光ディスク装置は光ディ
スクの記録面と光ビームの相対傾きであるチルト量を光
学ピックアップの再生信号を用いて検出する。光学ピッ
クアップの傾きや対物レンズの傾きを変化させることに
より、チルト量を変化させながら再生信号の振幅値やジ
ッタ値を計測し、チルト量と再生信号の振幅値の関係を
最小二乗法によって２次関数に近似する。チルト量の変
化に対する再生信号の振幅値が最大となるチルト量、ま
たはジッタ値が最小となるチルト量を算出して最適チル
ト量とする。さらに光ディスクの反り量が極端に大きい
場合など再生信号の品位が著しく低下する場合に対応す
るために、算出された最適チルト量が正しいか否かを判
定する手段を設け、正しくないと判定した際には、光デ
ィスクの反り角度に対応した角度範囲でチルト量を再び
変化させ、再計測・再演算を行う構成とした。この構成
により、チルトセンサなどの特別な検出装置を設けるこ
となく、光ディスクの反り量の大小に関わらず、光ビー
ムの光軸に対する光ディスクの記録面の傾きを正確に検
出し、かつ光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面
の傾きを最適な角度に精度良く制御することが可能とな
る。よって、小型・薄型でかつ信頼性の高い光ディスク
装置を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例１における光ディスク装置の構
成を示すブロック図である。

【図２】本発明の実施例１における光ディスク装置のチ
ルトサーボ回路２１の構成を示すブロック図である。

【図３】本発明の実施例１における光ディスク装置の光
検出器３４の構成を示す図である。

【図４】本発明の実施例１における光ディスク装置の再
生信号処理回路１９の構成を示すブロック図である。

【図５】本発明の実施例１における光ディスク装置のチ
ルト検出部２０の構成を示すブロック図である。

【図６】本発明の実施例１における光ディスク装置の光
学ピックアップ３の傾きに対するＴＥ信号振幅の変化を
示すグラフである。

【図７】本発明の実施例１における光ディスク装置にお
いてステップ角度を０．２度でチルト量を変化させなが
ら計測したＴＥ信号振幅のプロットと、その計測値に基
づいて最小二乗法で２次関数に近似した２次曲線を示す
グラフである。

【図８】本発明の実施例１における光ディスク装置にお
いてＴＥ信号振幅が最大となる真の最適チルト量がステ
ップ角度０．２度の約２．７５倍であった場合のＴＥ信
号振幅のプロットと、その計測値に基づいて最小二乗法
で２次関数に近似した２次曲線を示すグラフである。

【図９】本発明の実施例２における光ディスク装置にお
いてＴＥ信号振幅が最大となる真の最適チルト量がステ
ップ角度０．２度の約３．７倍であった場合のＴＥ信号
振幅のプロットと、その計測値に基づいて最小二乗法で
２次関数に近似した２次曲線を示すグラフである。

【図１０】本発明の実施例３における光ディスク装置に
おいてＴＥ信号振幅が最大となる真の最適チルト量がス
テップ角度０．２度の約３．７倍であった場合のＴＥ信
号振幅のプロットと、その計測値に基づいて最小二乗法
で２次関数に近似した２次曲線を示すグラフである。

【図１１】本発明の実施例５における光ディスク装置の
構成を示すブロック図である。

【図１２】本発明の実施例５における光ディスク装置の
チルト検出部４２０の構成を示すブロック図である。

【図１３】本発明の実施例５の光ディスク装置の光学ピ
ックアップ３の傾きに対するＲＦ信号振幅の変化を示す
グラフである。

【図１４】本発明の実施例５における光ディスク装置に
おいてステップ角度を０．２度でチルト量を変化させな
がら計測したＲＦ信号振幅のプロットと、その計測値に
基づいて最小二乗法で２次関数に近似した２次曲線を示
すグラフである。

【図１５】本発明の実施例５における光ディスク装置に
おいてＲＦ信号振幅が最大となる真の最適チルト量がス
テップ角度０．２度の約２．７５倍であった場合のＲＦ
信号振幅のプロットと、その計測値に基づいて最小二乗
法で２次関数に近似した２次曲線を示すグラフである。

【図１６】本発明の実施例５における光ディスク装置に
おいてＲＦ信号振幅が最大となる真の最適チルト量がス
テップ角度０．２度の約３．７倍であった場合のＲＦ信
号振幅のプロットと、その計測値に基づいて最小二乗法
で２次関数に近似した２次曲線を示すグラフである。

【図１７】本発明の実施例６における光ディスク装置の
構成を示すブロック図である。

【図１８】本発明の実施例６の光ディスク装置のチルト
検出部５２０の構成を示すブロック図である。

【図１９】本発明の実施例６の光ディスク装置の光学ピ
ックアップ３の傾きに対するジッタ値の変化を示すグラ
フである。

【図２０】本発明の実施例６における光ディスク装置の
ステップ角度０．２度でチルト量を変化させながら計測
したジッタ電圧値のプロットと、その計測値に基づいて
最小二乗法で２次関数に近似した２次曲線を示したグラ
フである。

【図２１】本発明の実施例６における光ディスク装置の
ジッタ値が最小となる真の最適チルト量がステップ角度
０．２度の約２．７５倍であった場合の計測したジッタ
電圧値のプロットと、その計測値に基づいて最小二乗法
で２次関数に近似した２次曲線を示したグラフである。

【図２２】本発明の実施例６における光ディスク装置の
ジッタ値が最小となる真の最適チルト量がステップ角度
０．２度の約３．７倍であった場合の計測したジッタ電
圧値のプロットと、その計測値に基づいて最小二乗法で
２次関数に近似した２次曲線を示したグラフである。

【図２３】本発明の実施例７における光ディスク装置の
対物レンズ４を傾けるチルトアクチュエータの構成を示
す図である。

【図２４】本発明の実施例７の光ディスク装置の構成を
示すブロック図である。

【図２５】本発明の実施例７の光ディスク装置のチルト
サーボ回路６２１の構成を示すブロック図ある。

【図２６】本発明の実施例１の光ディスク装置のチルト
検出部２０の動作を示すフローチャートである。

【図２７】本発明の実施例５の光ディスク装置のチルト
検出部４２０の動作を示すフローチャートである。

【図２８】本発明の実施例６の光ディスク装置のチルト
検出部５２０の動作を示すフローチャートである。

【符号の説明】

１ 光ディスク ２ スピンドルモータ ３ 光学ピックアップ ４ 対物レンズ ６ フォーカスサーボ回路 ７ フォーカスアクチュエータ ８ マグネット ９ フォーカス駆動コイル １０ トラッキング駆動コイル １１ トラッキングアクチュエータ １２ トラッキングサーボ回路 １７ ガイド軸 １９ 再生信号処理回路 ２０、４２０、５２０ チルト検出部 ２１、６２１ チルトサーボ回路 ２３ チルトサーボ信号発生部 ２４ チルトモータ ２５ チルトモータ駆動回路 ２７ モータギア ２８ チルトラック ２９ チルトカム ３０ チルトフォロア ３１ ガイド軸固定板３１ ３４ 光検出器 ３３ チルト設定信号生成部 ３５ ＴＥ信号振幅計測部 ３６、４３６、５３６ 最適チルト量演算部 ３７、１３７、２３７、３３７、４３７、５３７、６３
７ 演算結果判定 部４３８ ＲＦ信号振幅計測部 ５３９ ジッタ計測部 ５４０ ジッタ信号計測部 ６２３ チルトサーボ信号発生部 ６４３ チルト駆動回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森田 勝己 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Ｆターム(参考） 5D118 AA13 BA01 CB03 CC12 CD03 CD04 CF05

Claims (20)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 スパイラル状または同心円状に形成され
   たトラックを有する光ディスクに光ビームを集束して照
   射し、信号の記録または再生を行う光学ピックアップ
   と、 前記光ディスクからの反射光を受光する光検出器と、 前記光ディスクの記録面と前記光ビームの相対傾きであ
   るチルト量に応じて変化する信号を前記光検出器の出力
   信号を用いて生成する再生信号処理部と、 第１のモードにおいては前記チルト量を複数の異なる値
   に設定する指令信号を順次出力し、第２のモードにおい
   ては前記チルト量を最適チルト値に設定するチルト設定
   信号生成部と、 前記チルト設定信号生成部の出力信号に応じて前記チル
   ト量を可変するチルト駆動機構と、 前記指令信号に基づいて前記チルト駆動機構を駆動して
   前記チルト量を順次変化させたときの前記再生信号処理
   部の出力値を計測する再生信号計測部と、 前記指令信号によって変化させた前記チルト量と前記再
   生信号計測部の計測値とに基づいて前記最適チルト値を
   算出する最適チルト量演算部と、 を具備することを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 スパイラル状または同心円状に形成され
   たトラックを有する光ディスクに光ビームを集束して照
   射し、信号の記録または再生を行う光学ピックアップ
   と、 前記光ディスクからの反射光を受光する光検出器と、 前記光ディスクの記録面と前記光ビームの相対傾きであ
   るチルト量に応じて変化する信号を前記光検出器の出力
   信号を用いて生成する再生信号処理部と、 第１のモードにおいては前記チルト量を複数の異なる値
   に設定する指令信号を順次出力し、第２のモードにおい
   ては前記チルト量を最適チルト値に設定するチルト設定
   信号生成部と、 前記チルト設定信号生成部の出力信号に応じて前記チル
   ト量を可変するチルト駆動機構と、 前記指令信号に基づいて前記チルト駆動機構を駆動して
   前記チルト量を順次変化させたときの前記再生信号処理
   部の出力値を計測する再生信号計測部と、 前記指令信号によって変化させた前記チルト量と前記再
   生信号計測部の計測値との関係を最小二乗法により所定
   の関数に近似し、前記関数に基づいて前記最適チルト値
   を算出する最適チルト量演算部と、 を具備することを特徴とする光ディスク装置。
3. 【請求項３】 前記最適チルト量演算部で算出された前
   記最適チルト値が、前記チルト設定信号生成部の指令信
   号に応じて定められる演算限界値を越えているか否かを
   判定し、前記最適チルト値が正方向の前記演算限界値を
   越えていた場合には前記チルト設定信号生成部の指令信
   号をそれによって定められるチルト値が正方向に所定量
   だけ変化するように再設定し、前記最適チルト値が負方
   向の前記演算限界値を越えていた場合には前記チルト設
   定信号生成部の指令信号をそれによって定められるチル
   ト値が負方向に所定量だけ変化するように再設定し、前
   記最適チルト値が前記演算限界値が越えていない場合に
   は前記チルト設定信号生成部に前記最適チルト値を設定
   させる演算結果判定部を更に具備し、 前記最適チルト量演算部で算出された前記最適チルト値
   が正方向または負方向の前記演算限界値を越えていた場
   合には、前記チルト設定信号生成部は再設定した前記指
   令信号を出力し、前記再生信号計測部は再設定された前
   記指令信号に応じて前記チルト量を順次変化させたとき
   の前記再生信号処理部の出力値を再計測し、かつ前記最
   適チルト量演算部は前記最適チルト値を再算出すること
   を特徴とする請求項１又は請求項２に記載の光ディスク
   装置。
4. 【請求項４】 前記チルト量をＸ、前記再生信号計測部
   の計測値をＹとするとＹはＸの２次関数で表され、前記
   最適チルト量演算部は、前記Ｙが極値となる前記チルト
   量を最適チルト値として算出し、 前記２次関数の２次係数が正か負かの判定を行い、正の
   場合には前記チルト設定信号生成部の指令信号をそれに
   よって定められるチルト値が所定量だけ変化するように
   再設定し、負の場合には前記チルト設定信号生成部に前
   記最適チルト値を設定させる演算結果判定部を更に有
   し、 前記２次関数の２次係数が正の場合には、前記チルト設
   定信号生成部は再設定した前記指令信号を出力し、前記
   再生信号計測部は再設定された前記指令信号に応じて前
   記チルト量を順次変化させたときの前記再生信号処理部
   の出力値を再計測し、かつ前記最適チルト量演算部は前
   記最適チルト値を再算出する、ことを特徴とする請求項
   １又は請求項２に記載の光ディスク装置。
5. 【請求項５】 前記チルト量をＸ、前記再生信号計測部
   の計測値をＹとするとＹはＸの２次関数で表され、前記
   最適チルト量演算部は、前記Ｙが極値となる前記チルト
   量を最適チルト値として算出し、 前記２次関数の２次係数が正か負かの判定を行い、負の
   場合には前記チルト設定信号生成部の指令信号をそれに
   よって定められるチルト値が所定量だけ変化するように
   再設定し、正の場合には前記チルト設定信号生成部に前
   記最適チルト値を設定させる演算結果判定部を更に有
   し、 前記２次関数の２次係数が負の場合には、前記チルト設
   定信号生成部は再設定した前記指令信号を出力し、前記
   再生信号計測部は再設定された前記指令信号に応じて前
   記チルト量を順次変化させたときの前記再生信号処理部
   の出力値を再計測し、かつ前記最適チルト量演算部は前
   記最適チルト値を再算出する、 ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の光ディ
   スク装置。
6. 【請求項６】 前記演算結果判定部は、前記２次関数の
   ２次係数が正か負かを判定すると共に、前記指令信号に
   よって設定される複数の前記チルト量の中心値である基
   準角度を基準として前記最適チルト値が正方向に位置す
   るか負方向に位置するかを判定し、前記２次係数が負の
   場合には前記チルト設定信号生成部に前記最適チルト値
   を設定させ、前記２次係数が正であってかつ前記最適チ
   ルト値が前記基準角度を基準として正方向に位置する場
   合には前記チルト設定信号生成部の指令信号をそれによ
   って定められるチルト値が負方向に所定量だけ変化する
   ように再設定し、前記２次係数が正であってかつ前記最
   適チルト値が前記基準角度を基準として負方向に位置す
   る場合には前記チルト設定信号生成部の指令信号をそれ
   によって定められるチルト値が正方向に所定量だけ変化
   するように再設定することを特徴とする請求項４に記載
   の光ディスク装置。
7. 【請求項７】 前記演算結果判定部は、前記２次関数の
   ２次係数が正か負かを判定すると共に、前記指令信号に
   よって設定される複数の前記チルト量の中心値である基
   準角度を基準として前記最適チルト値が正方向に位置す
   るか負方向に位置するかを判定し、前記２次係数が正の
   場合には前記チルト設定信号生成部に前記最適チルト値
   を設定させ、前記２次係数が負であってかつ前記最適チ
   ルト値が前記基準角度を基準として正方向に位置する場
   合には前記チルト設定信号生成部の指令信号をそれによ
   って定められるチルト値が負方向に所定量だけ変化する
   ように再設定し、前記２次係数が負であってかつ前記最
   適チルト値が前記基準角度を基準として負方向に位置す
   る場合には前記チルト設定信号生成部の指令信号をそれ
   によって定められるチルト値が正方向に所定量だけ変化
   するように再設定することを特徴とする請求項５に記載
   の光ディスク装置。
8. 【請求項８】 前記演算結果判定部は、前記２次関数の
   ２次係数が正か負かを判定すると共に、前記指令信号に
   よって設定される複数の前記チルト量の中心値である基
   準角度を基準として、前記指令信号によって設定される
   前記チルト量が前記基準角度に対して正方向に位置する
   場合に計測された前記計測値の平均である正側平均値
   と、前記指令信号によって設定される前記チルト量が前
   記基準角度に対して負方向に位置する場合に計測された
   前記計測値の平均である負側平均値との大小関係を比較
   し、前記２次係数が正でかつ前記正側平均値が前記負側
   平均値よりも大きい場合には前記チルト設定信号生成部
   の指令信号をそれによって定められるチルト値が正方向
   に所定量だけ変化するように再設定し、前記２次係数が
   正でかつ前記負側平均値が前記正側平均値よりも大きい
   場合には前記チルト設定信号生成部の指令信号をそれに
   よって定められるチルト値が負方向に所定量だけ変化す
   るように再設定し、前記２次係数が負の場合には前記チ
   ルト設定信号生成部に前記最適チルト値を設定させこと
   を特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置。
9. 【請求項９】 前記演算結果判定部は、前記２次関数の
   ２次係数が正か負かを判定すると共に、前記指令信号に
   よって設定される複数の前記チルト量の中心値である基
   準角度を基準として、前記指令信号によって設定される
   前記チルト量が前記基準角度に対して正方向に位置する
   場合に計測された前記計測値の平均である正側平均値
   と、前記指令信号によって設定される前記チルト量が前
   記基準角度に対して負方向に位置する場合に計測された
   前記計測値の平均である負側平均値との大小関係を比較
   し、前記２次係数が負でかつ前記正側平均値が前記負側
   平均値よりも大きい場合には前記チルト設定信号生成部
   の指令信号をそれによって定められるチルト値が負方向
   に所定量だけ変化するように再設定し、前記２次係数が
   負でかつ前記負側平均値が前記正側平均値よりも大きい
   場合には前記チルト設定信号生成部の指令信号をそれに
   よって定められるチルト値が正方向に所定量だけ変化す
   るように再設定し、前記２次係数が正の場合には前記チ
   ルト設定信号生成部に前記最適チルト値を設定させこと
   を特徴とする請求項５に記載の光ディスク装置。
10. 【請求項１０】 前記演算結果判定部は、前記２次関数
    の２次係数が正か負かを判定すると共に、前記指令信号
    によって設定される複数の前記チルト量の中心値である
    基準角度を基準として、前記指令信号によって設定され
    る前記チルト量が前記基準角度に対して正方向に位置す
    る場合に計測された前記計測値の平均である正側平均値
    と、前記指令信号によって設定される前記チルト量が前
    記基準角度に対して負方向に位置する場合に計測された
    前記計測値の平均である負側平均値との大小関係を比較
    し、前記最適チルト量演算部で算出された前記最適チル
    ト値が前記基準角度に対して正方向に位置しかつ前記負
    側平均値が前記正側平均値よりも大きい場合には、前記
    チルト設定信号生成部の指令信号をそれによって定めら
    れるチルト値が負方向に所定量だけ変化するように再設
    定し、前記最適チルト値が前記基準角度に対して負方向
    に位置しかつ前記正側平均値が前記負側平均値よりも大
    きい場合には前記チルト設定信号生成部の指令信号をそ
    れによって定められるチルト値が正方向に所定量だけ変
    化するように再設定し、 前記チルト設定信号生成部の指令信号が再設定された場
    合には、前記チルト設定信号生成部は再設定した前記指
    令信号を出力し、前記再生信号計測部は再設定された前
    記指令信号に応じて前記チルト量を順次変化させたとき
    の前記再生信号処理部の出力値を再計測し、かつ前記最
    適チルト量演算部は前記最適チルト値を再算出する、 ことを特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置。
11. 【請求項１１】 前記演算結果判定部は、前記２次関数
    の２次係数が正か負かを判定すると共に、前記指令信号
    によって設定される複数の前記チルト量の中心値である
    基準角度を基準として、前記指令信号によって設定され
    る前記チルト量が前記基準角度に対して正方向に位置す
    る場合に計測された前記計測値の平均である正側平均値
    と、前記指令信号によって設定される前記チルト量が前
    記基準角度に対して負方向に位置する場合に計測された
    前記計測値の平均である負側平均値との大小関係を比較
    し、前記最適チルト量演算部で算出された前記最適チル
    ト値が前記基準角度に対して正方向に位置しかつ前記正
    側平均値が前記負側平均値よりも大きい場合には、前記
    チルト設定信号生成部の指令信号をそれによって定めら
    れるチルト値が負方向に所定量だけ変化するように再設
    定し、前記最適チルト値が前記基準角度に対して負方向
    に位置しかつ前記負側平均値が前記正側平均値よりも大
    きい場合には前記チルト設定信号生成部の指令信号をそ
    れによって定められるチルト値が正方向に所定量だけ変
    化するように再設定し、 前記チルト設定信号生成部の指令信号が再設定された場
    合には、前記チルト設定信号生成部は再設定した前記指
    令信号を出力し、前記再生信号計測部は再設定された前
    記指令信号に応じて前記チルト量を順次変化させたとき
    の前記再生信号処理部の出力値を再計測し、かつ前記最
    適チルト量演算部は前記最適チルト値を再算出する、 ことを特徴とする請求項５に記載の光ディスク装置。
12. 【請求項１２】 前記再生信号処理部の出力値がトラッ
    キングエラー信号であって、前記再生信号計測部がトラ
    ッキングエラー信号振幅計測部であることを特徴とする
    請求項１、請求項２、請求項３、請求項４、請求項６、
    請求項８又は請求項１０に記載の光ディスク装置。
13. 【請求項１３】 前記再生信号処理部の出力値が前記光
    検出器に含まれる複数の発光素子の出力信号の加算信号
    に応じた出力値であって、前記再生信号計測部が前記加
    算信号の振幅を計測する加算信号振幅計測部であること
    を特徴とする請求項１、請求項２、請求項３、請求項
    ４、請求項６、請求項８又は請求項１０に記載の光ディ
    スク装置。
14. 【請求項１４】 前記再生信号計測部がジッタ信号計測
    部であるであることを特徴とする請求項１、請求項２、
    請求項３、請求項５、請求項７、請求項９又は請求項１
    １に記載の光ディスク装置。
15. 【請求項１５】 前記チルト駆動機構が光ビームを集束
    する対物レンズの角度を変える構成であることを特徴と
    する請求項１から請求項１４のいずれかの請求項に記載
    の光ディスク装置。
16. 【請求項１６】 スパイラル状または同心円状に形成さ
    れたトラックを有する光ディスクに光ビームを集束して
    照射し、信号の記録または再生を行う光学ピックアップ
    と、 前記光ディスクからの反射光を受光する光検出器と、 前記光ディスクの記録面と前記光ビームの相対傾きであ
    るチルト量に応じて変化する信号を前記光検出器の出力
    信号を用いて生成する再生信号処理部と、 前記再生信号処理部の出力値を計測する再生信号計測部
    と、 前記チルト量を可変するチルト駆動機構と、 を具備する光ディスク装置の制御方法であって、 前記チルト量を複数の異なる値に設定する指令信号を順
    次出力し、前記指令信号に応じて前記チルト駆動機構を
    駆動して前記チルト量を順次変化させ、前記チルト量を
    順次変化させたときの前記再生信号処理部の出力信号を
    計測し、前記指令信号によって変化させた前記チルト量
    と前記再生信号計測部の計測値とに基づいて最適チルト
    値を算出する最適チルト量検出ステップと、 前記チルト量を前記最適チルト値に設定する最適チルト
    量設定ステップと、 を有することを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
17. 【請求項１７】 前記最適チルト量検出ステップにおい
    て、前記指令信号によって変化させた前記チルト量と前
    記再生信号計測部の計測値との関係を最小二乗法により
    所定の関数に近似し、前記関数に基づいて前記最適チル
    ト値を算出することを特徴とする請求項１６に記載の光
    ディスク装置の制御方法。
18. 【請求項１８】 前記最適チルト量検出ステップにおい
    て、前記最適チルト値が前記指令信号に応じて定められ
    る演算限界値を越えているか否かを判定し、 前記最適チルト値が正方向の前記演算限界値を越えてい
    た場合には、前記指令信号をそれによって定められるチ
    ルト値が正方向に所定量だけ変化するように再設定し
    て、前記最適チルト量検出ステップを再実行し、 前記最適チルト値が負方向の前記演算限界値を越えてい
    た場合には、前記指令信号をそれによって定められるチ
    ルト値が負方向に所定量だけ変化するように再設定し
    て、前記最適チルト量検出ステップを再実行し、 前記最適チルト値が前記演算限界値が越えていない場合
    には最適チルト量設定ステップを実行する、 ことを特徴とする請求項１６又は請求項１７に記載の光
    ディスク装置の制御方法。
19. 【請求項１９】 前記最適チルト量検出ステップにおい
    て、前記チルト量をＸ、前記再生信号計測部の計測値を
    ＹとするとＹはＸの２次関数で表され、前記Ｙが極値と
    なる前記チルト量を最適チルト値として算出し、且つ前
    記２次関数の２次係数が正か負かの判定を行い、 前記２次関数の２次係数が正の場合には前記指令信号を
    それによって定められるチルト値が所定量だけ変化する
    ように再設定して、前記最適チルト量検出ステップを再
    実行し、 前記２次関数の２次係数が負の場合には最適チルト量設
    定ステップを実行する、 ことを特徴とする請求項１６又は請求項１７に記載の光
    ディスク装置の制御方法。
20. 【請求項２０】 前記最適チルト量検出ステップにおい
    て、前記チルト量をＸ、前記再生信号計測部の計測値を
    ＹとするとＹはＸの２次関数で表され、前記Ｙが極値と
    なる前記チルト量を最適チルト値として算出し、且つ前
    記２次関数の２次係数が正か負かの判定を行い、 前記２次関数の２次係数が負の場合には前記指令信号を
    それによって定められるチルト値が所定量だけ変化する
    ように再設定して、前記最適チルト量検出ステップを再
    実行し、 前記２次関数の２次係数が正の場合には最適チルト量設
    定ステップを実行する、 ことを特徴とする請求項１６又は請求項１７に記載の光
    ディスク装置の制御方法。