JP2002340739A - 表示画面検査装置および表示画面検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 安価且つ簡易な構成で迅速且つ正確に不良画
素を検出してその座標を特定できる表示画面検査装置お
よび表示画面検査方法を提供する。 【解決手段】 マトリクス状に配置された各表示素子に
対応して各表示画素を表示する表示画面内の不良画素
を、撮像手段の視野内に捉えて、その不良画素の座標を
特定する表示画面検査装置であって、前記撮像手段と、
前記表示画面を複数に分割して、各分割画面を個別表示
する分割画面表示手段と、不良画素を捉えた前記撮像手
段の視野と重複する分割画面を、前記個別表示に基づい
て判別して、その分割画面の座標範囲を概略座標範囲と
して検出する概略座標範囲検出手段と、前記概略座標範
囲内の表示画素を、前記マトリクスの２次元座標の各方
向に走査して表示することにより、前記撮像手段の視野
内において前記不良画素を検索してその座標を特定する
不良画素座標特定手段と、を備えたことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばＬＣＤパネ
ル、プラズマディスプレイ、ＥＬディスプレイ等の表示
画面の表示画面検査装置および表示画面検査方法に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】近年、例えばＬＣＤパネル等に代表され
るように、小型化・高画質化のために、マトリクス状に
配置された各表示素子に対応して各表示画素を表示する
表示画面の需要が高まり、その低価格化が望まれている
が、そのためには、完成した表示画面の不良画素（欠陥
画素）を検出（検査）する技術および検出された不良画
素を正常な画素に置き換える（リペア：直す）技術が不
可欠である。この場合、表示画面内の不良画素の正確な
座標（対象領域と見た場合のアドレス）を検出する必要
がある。そして、従来のこの種の検出（検査）方法およ
びそれを実施する装置は、２つに大別される。

【０００３】第１は、検査対象（検体）となる表示画面
の全体の状態を、高解像度の撮像手段により撮像して表
示画面全体の画像データとして取り込み、その画像デー
タに基づいて不良画素を検出・分析する方法あるいは装
置である。また、第２は、いわゆる熟練工による方法で
ある。すなわち、現在ではもはや百万画素以上を有する
こともある表示画面に対して、不良画素の存在を、表示
画面に向かって肉眼で、あるいは表示画面に対向して小
型のカメラを移動させ顕微鏡をのぞき込むようにして、
目視により確認し、その後、十時カーソル等により、あ
るいは表示画面の全画素を一つずつ発光（表示）させ
て、不良画素と一致したときの座標を読み取る方法であ
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】まず、第１の方法で
は、表示画面を一括して撮像可能な大型かつ高分解能カ
メラ、あるいは高分解能小型カメラと正確な座標移動が
可能な移動機構、などが必要であり、高価かつ複雑な構
成となる。一方、第２の方法では、カメラの分解能とし
ては不良画素の存在が判別可能な程度で良く、正確な移
動機構も不要なので、全体として安価な構成となるもの
の、高度な熟練を要し、また、不良画素の座標まで求め
るには、格別の手間が掛かる上に、不正確と成らざるを
得ない。

【０００５】本発明は、安価且つ簡易な構成で迅速且つ
正確に不良画素を検出してその座標を特定できる表示画
面検査装置および表示画面検査方法を提供することを目
的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明の請求項１の表示
画面検査装置は、マトリクス状に配置された各表示素子
に対応して各表示画素を表示する表示画面内の不良画素
を、撮像手段の視野内に捉えて、その不良画素の座標を
特定する表示画面検査装置であって、前記撮像手段と、
前記表示画面を複数に分割して、各分割画面を個別表示
する分割画面表示手段と、不良画素を捉えた前記撮像手
段の視野と重複する分割画面を、前記個別表示に基づい
て判別して、その分割画面の座標範囲を概略座標範囲と
して検出する概略座標範囲検出手段と、前記概略座標範
囲内の表示画素を、前記マトリクスの２次元座標の各方
向に走査して表示することにより、前記撮像手段の視野
内において前記不良画素を検索してその座標を特定する
不良画素座標特定手段と、を備えたことを特徴とする。

【０００７】この表示画面検査装置では、表示画面内の
不良画素を撮像手段の視野内に捉えて、不良画素の座標
を特定する。この場合、表示画面を分割した分割画面を
個別表示できるので、不良画素を捉えた撮像手段の視野
と重複する分割画面を判別でき、その分割画面の座標範
囲を概略座標範囲として検出し、概略座標範囲内を検索
して、不良画素の座標を特定できる。この場合、不良画
素の座標は、概略座標範囲内まで絞れているので、検索
範囲が少なく（狭く）て済み、その分、表示画面全体を
範囲として検索するより、迅速且つ正確に座標を特定で
きる。ここで、撮像手段の視野および解像度は、不良画
素を捉えられる程度で良いので、安価な撮像手段を採用
できる。また、視野と重複する分割画面が判別できれば
その座標範囲から逆に撮像手段の現在位置を判別（把
握）できるので、撮像手段自体の位置を常時正確に把握
する必要が無く、ラフな位置制御で済むので、位置制御
のための機構も安価かつ簡易な構成で済む（極端には、
手持ち移動でも良い）。

【０００８】また、請求項１の表示画面検査装置におい
て、前記不良画素座標特定手段は、前記視野と重複する
分割画面を表示した場合、検査基準により規定された輝
度レベルを満足しない表示画素群を、前記不良画素を含
む表示画素群として検出する画素群輝度レベル判別手段
を有することが好ましい。

【０００９】この表示画面検査装置では、視野と重複す
る分割画面を表示した場合、検査基準により規定された
輝度レベルを満足しない表示画素群を、不良画素を含む
表示画素群として検出する。このため、例えば２次元座
標（ＸＹ座標）の（ｙが等しい）１行または（ｘが等し
い）１列等に並ぶ表示画素群が不良画素を含むか否かを
検出することにより、不良画素を含む行と列との交差す
る座標が不良画素の座標となるなど、不良画素を特定可
能になる。また、輝度レベルに応じているので、その検
査基準に応じた検査を行うことができる。また、輝度レ
ベルに応じて商品（検体の表示画面を備えた商品：表示
装置）を差別化するなどの工夫も可能になり、商品（表
示装置）の低価格化にも寄与させることができる。

【００１０】また、請求項３の表示画面検査方法は、マ
トリクス状に配置された各表示素子に対応して各表示画
素を表示する表示画面内の不良画素の座標を特定する表
示画面検査方法であって、前記不良画素を撮像手段の視
野内に捉えた状態で、前記表示画面を複数に分割した各
分割画面を個別表示して、前記視野と重複する分割画面
を判別し、その分割画面の座標範囲を概略座標範囲とし
て検出する概略座標範囲検出工程と、前記概略座標範囲
内において、前記マトリクスの２次元座標の各方向に走
査して表示させた表示画素群を前記撮像手段の視野内に
捉えて、前記不良画素を含む表示画素群を検索すること
により、前記不良画素の座標を特定する不良画素座標特
定工程と、を備えたことを特徴とする。

【００１１】この表示画面検査方法では、表示画面内の
不良画素を撮像手段の視野内に捉えた状態で、不良画素
の座標を特定する。この場合、分割画面を個別表示し、
撮像手段の視野と重複する分割画面を判別し、その座標
範囲を概略座標範囲として検出し、概略座標範囲内にお
いて、マトリクスの２次元座標の各方向に走査して表示
させた表示画素群を撮像手段の視野内に捉えて、不良画
素を含む表示画素群を検索する。この場合、座標は、概
略座標範囲内まで絞れているので、検索範囲が少なく
（狭く）て済み、迅速且つ正確に座標を特定でき、ま
た、不良画素を捉えられる程度で良いので、安価な撮像
手段を採用できる。また、視野と重複する分割画面の座
標範囲から逆に撮像手段の現在位置を判別（把握）で
き、位置制御のための機構も安価かつ簡易な構成で済
む。

【００１２】また、請求項３の表示画面検査方法におい
て、前記不良画素座標特定工程では、前記概略座標範囲
内を検索した検索結果を記憶しておき、前記不良画素の
座標の特定は、前記概略座標範囲内を全検索後に、記憶
された前記検索結果に基づいて行われることが好まし
い。

【００１３】この表示画面検査方法では、概略座標範囲
内を検索した検索結果を記憶するので、その後であれ
ば、処理上の都合に合わせて任意の時点で、記憶された
検索結果に基づいて、不良画素の座標の特定ができる。

【００１４】また、請求項５の表示画面検査方法は、マ
トリクス状に配置された各表示素子に対応して各表示画
素を表示する表示画面内の不良画素を、撮像手段の視野
内に捉えて、その不良画素の座標を特定する表示画面検
査方法であって、前記表示画面をｎ個（ｎは２以上の自
然数）に分割して、各分割画面を個別表示し、不良画素
を捉えた前記撮像手段の視野と重複する分割画面を判別
して、その分割画面の座標範囲を第１座標範囲として検
出する第１座標範囲検索工程と、前記第１座標範囲を有
する分割画面をさらにｎ個に分割して、各第２分割画面
として個別表示し、前記撮像手段の視野と重複する第２
分割画面を判別して、その第２分割画面の座標範囲を第
２座標範囲として検出する第２座標範囲検索工程と、前
記第２座標範囲内を検索して、前記不良画素の座標を特
定する不良画素座標特定工程と、を備えたことを特徴と
する。

【００１５】この表示画面検査方法では、表示画面内に
不良画素が存在するときに、その不良画素を撮像手段の
視野内に捉えた状態で、表示画面をｎ個（ｎは２以上の
自然数）に分割した分割画面の座標範囲（第１座標範
囲）まで座標の検索範囲を絞り、その分割画面をさらに
ｎ個に分割した座標範囲（第２座標範囲）まで検索範囲
を絞ってから検索を行うので、検索範囲が少なく（狭
く）て済み、その分、表示画面全体を範囲として検索す
るより、さらにはｎ個（ｎは２以上の自然数）の分割画
面の座標範囲（第１座標範囲）まで絞った状態より、迅
速且つ正確に座標を特定できる。なお、同様のｎ個の分
割を同様に繰り返すことにより、ｎの階乗の数の分だけ
（究極的には１個の座標まで）検索範囲を絞ることがで
きる。

【００１６】また、請求項６の表示画面検査装置は、マ
トリクス状に配置された各表示素子に対応して各表示画
素を表示する表示画面内の不良画素を、撮像手段の視野
内に捉えて、その不良画素の座標を特定する表示画面検
査装置であって、前記撮像手段と、前記視野内に定めた
視野内基準点を原点としたときの前記不良画素の視野内
座標を検出する視野内座標検出手段と、前記表示画面内
の表示画素を、前記マトリクスの２次元座標の各方向に
走査して表示することにより、前記視野内基準点の座標
を検出する視野内基準点検出手段と、前記視野内基準点
の座標と前記視野内座標とに基づいて、前記不良画素の
前記表示画面内での座標を特定する不良画素座標特定手
段と、を備えたことを特徴とする。

【００１７】この表示画面検査装置では、視野内に定め
た視野内基準点を原点としたときの不良画素の視野内座
標と、その視野内基準点の（表示画面内での）座標とに
基づいて、不良画素の表示画面内での座標を特定するの
で、視野内における不良画素を迅速に検出（特定）可能
な撮像手段を用いる場合、それを利用して、さらに迅速
且つ正確に不良画素の座標を特定できる。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態に係る
表示画面検査装置および表示画面検査方法および表示画
面検査方法を適用した表示画面検査システムについて、
添付図面を参照しながら詳細に説明する。

【００１９】図１に示すように、この表示画面検査シス
テム１は、表示画面検査装置とその検体となるＬＣＤパ
ネル１４により構成され、本実施形態の表示画面検査装
置は、フォトセンサ等を含むＣＣＤカメラから成る撮像
手段（以下、単に「ＣＣＤカメラ」）Ｃと、ＬＣＤパネ
ル１４の表示画面Ｄに画像出力（駆動信号の出力）を行
う出画装置１２と、ＣＣＤカメラＣによる撮像結果を画
像データとして取り込むための画像認識装置１３と、そ
の撮像結果の画像データ（撮像画像データ：入力画像デ
ータ）を取り込んで処理するとともに、表示画像の指示
（出力画像データ）を出画装置１２に与えるなど、表示
画面検査システム１全体を制御する制御装置１１と、を
備えている。

【００２０】ここでは、ＣＣＤカメラＣの視野Ｃｅは、
図２（ｂ）に示すように、ＬＣＤパネル１４の表示画面
Ｄより小さいものとする。この場合、その解像度（分解
能）としては、不良画素Ｐｄ（「★」により図示）の存
否が判別可能な程度で良く、表示画面Ｄの各部を撮像し
ながら移動させることにより、表示画面Ｄ全体に対する
検査もできる。逆に言えば、後述の方法により、不良画
素Ｐｄの座標［ｘ、ｙ］を判別（特定）できるため、こ
こでは、座標［ｘ、ｙ］まで詳細に判別できる解像度は
必要なく、その分、安価なＣＣＤカメラ（安価な撮像手
段）Ｃを採用できる。また、ここでは、ＣＣＤカメラＣ
を検査者（作業員、ユーザ）が手動（手持ち）で移動さ
せる。このため、格別な移動機構は不要である。

【００２１】また、検体となるＬＣＤパネル１４の表示
画面Ｄとしては、実際には１００万画素（ピクセル）以
上のものも対象とするが、ここでは、簡易に説明するた
め、同図に図示のように、Ｘ方向に１５画素（ｘ＝０〜
１４の１５ピクセル）、Ｙ方向に５画素（ｙ＝０〜４の
５ピクセル）とする（各画素（各ピクセル）の発光（表
示）状態を「□」、消光状態を「■」、表示の不良状態
を「★」により図示する）。このため、ここでの表示画
面Ｄでは、１５×５のマトリクス状に配置された発光
（表示）素子に対応した各画素を表示する（表示画面Ｄ
の状態を画面Ｄ１等として図示し、説明では符号のみ
（Ｄ１）等として添える）。

【００２２】また、同図（ｃ）に示すように、１５×５
のマトリクス（座標）の表示画面Ｄを複数（ここでは左
右の２個）に分割することにより、それぞれ所定の座標
範囲を有する複数（２個）の分割画面を設定し、個別表
示できるものとする。すなわち、本例では、左右の２個
に分割して、座標範囲［０、０］〜［７、４］を有する
図示左側の分割画面ＤＬと、座標範囲［８、０］〜［１
４、４］を有する図示右側の分割画面ＤＲとを設定する
ことにより、図示のように、分割画面ＤＬと分割画面Ｄ
Ｒとを互いに独立して個別表示できる。

【００２３】この表示画面検査システム１における検査
方法（表示画面検査方法）について、図２を参照して、
以下に説明する。この検査方法では、まず、同図（ａ）
に示すように、不良画素Ｐｄを発見する（Ｄ１）。この
場合、不良画素Ｐｄの発見は、分解能（解像度）等から
可能であれば、ＬＣＤパネル１４の表示画面Ｄを直接的
に目視して発見しても良いし、制御装置１１と連携した
（図外の）ディスプレイ（モニタ）により、検査者が顕
微鏡をのぞき込む感覚で発見しても良い。なお、ＣＣＤ
カメラＣからの画像データに基づいて制御装置１１にお
いて、不良画素Ｐｄの存在を自動判別できるようにして
も良い。

【００２４】次に、同図（ｂ）に示すように、ＣＣＤカ
メラＣの視野Ｃｅ内に不良画素Ｐｄを捕らえ、その存在
を判別可能に撮像する（Ｄ２）。次に、分割画面ＤＬと
分割画面ＤＲとを個別表示し、視野Ｃｅと重複する分割
画面を判別する。例えば同図（ｃ）に示すように、分割
画面ＤＲを個別表示した場合に、視野Ｃｅ内において不
良画素Ｐｄの撮像が可能となるときには、右側の分割画
面ＤＲであると判別し、分割画面ＤＲの座標範囲［８、
０］〜［１４、４］を概略座標範囲とする（Ｄ３）。す
なわち、この時点で、不良画素Ｐｄの座標は、概略座標
範囲内まで絞り込まれたことを意味する。

【００２５】次に、同図（ｄ）に示すように、Ｙ座標ｙ
＝０〜４のそれぞれについて、各１列の表示素子を発光
（表示）させ、不良画素Ｐｄが存在するときのＹの座標
（Ｙアドレス）を検出（特定）する。本例の場合、図示
のように、不良画素ＰｄのＹ座標（Ｙアドレス）ｙ＝２
と決定（特定）する。続いて、同図（ｅ）に示すよう
に、分割画面ＤＲの座標範囲（概略座標範囲）内のＸ座
標ｘ＝８〜１４のそれぞれについて、各１列の表示素子
を表示させ、不良画素Ｐｄが存在するときのＸの座標
（Ｘアドレス）を検出（特定）する。本例の場合、図示
のように、不良画素ＰｄのＸ座標（Ｘアドレス）ｘ＝１
２と決定（特定）する。なお、同図（ｆ）に示すよう
に、概略座標範囲内において、１画素ずつ順に検査（検
索）していっても、小さい（狭い）範囲なので、表示画
面Ｄ全体を範囲とする場合に比べて、遙かに迅速且つ正
確に座標を特定できる。このため、一旦、不良画素Ｐｄ
の座標を特定した後、検証用に同図（ｆ）の方法を行う
こともできる。

【００２６】上述のように、本例の表示画面検査方法で
は、ＣＣＤカメラ（撮像手段）Ｃにより表示画面Ｄの一
部を、不良画素Ｐｄの存否が判別可能なように撮像す
る。このため、表示画面Ｄの各部を撮像しながら移動さ
せれば、表示画面Ｄ全体に対する検査もできる。この場
合、ＣＣＤカメラＣの視野Ｃｅは表示画面Ｄより小さく
て良く、その解像度（分解能）としては、不良画素Ｐｄ
の存否が判別可能な程度で良いので、安価なものを採用
できる。

【００２７】また、表示画面Ｄを分割した分割画面を個
別表示できるので、視野Ｃｅと重複する分割画面を判別
できる。この場合、撮像対象は表示された部分であり、
視野Ｃｅと重複する分割画面の座標範囲が、その時点の
状態（位置）における撮像範囲なので、その分割画面が
判別できればその座標範囲から逆にＣＣＤカメラＣの現
在位置を判別（把握）できる。すなわち、ＣＣＤカメラ
Ｃ自体の位置を常時正確に把握する必要が無く、手動に
よる移動などを含めてラフな位置制御で済むので、端的
には上述の例のように手持ち移動でも良く、位置制御の
ための機構も不要または安価かつ簡易な構成で済む。

【００２８】また、視野Ｃｅ内に不良画素Ｐｄが存在す
るときに、視野Ｃｅと重複する分割画面の座標範囲を概
略座標範囲として検出し、概略座標範囲内を検索して、
不良画素の座標Ｐｄを特定する。この場合、不良画素Ｐ
ｄの座標は、不良画素Ｐｄの存在が検出された時点で概
略座標範囲内まで絞れているので、検索範囲が少なく
（狭く）て済み、その分、表示画面Ｄ全体を範囲として
検索するより、迅速且つ正確に座標を特定できる。した
がって、安価且つ簡易な構成で迅速且つ正確に不良画素
Ｐｄを検出してその座標（例えば座標[ｘ、ｙ]＝［１
２、２］）を特定できる。また、上述の例では、不良画
素ＰｄをＣＣＤカメラＣの視野Ｃｅ内に捉えた状態で、
各分割画面ＤＬ、ＤＲの個別表示、重複する分割画面の
判別、および概略座標範囲の検出を行うので、迅速且つ
正確に不良画素を検出してその座標特定に移行できる。

【００２９】なお、概略座標範囲内を検索して、その検
索結果を記憶しておくこともでき、この場合、記憶後で
あれば、処理上の都合に合わせて任意の時点で、記憶さ
れた検索結果に基づいて、不良画素Ｐｄの座標の特定が
できる。また、上述の例では、分割画面の数を簡単に左
右２個の例としたが、画素のマトリクス（座標）に基づ
く分割であれば任意の数で良い。すなわち、４個、６
個、８個あるいは奇数でも良いし、本例のように各分割
画面が相互に異なる大きさでも良いし、同じでも良い。
これらの場合、各分割画面の表示素子を他の分割画面と
独立して表示させることにより、各分割画面を個別表示
できる。なお視野Ｃｅと重複する分割画面として、複数
の分割画面が判別されたときには、ＣＣＤカメラＣの現
在位置は、それらの複数の分割画面の境界に跨った位置
となる。

【００３０】また、上述の例では、検索する座標範囲を
最初の分割数（上述の例では２個）により絞って概略座
標範囲としたが、例えば最初（第１回）に、表示画面を
ｎ個（ｎは２以上の自然数）に分割した分割画面の座標
範囲（第１座標範囲）まで座標の検索範囲を絞り、次
（第２回）に、その分割画面をさらにｎ個に分割した座
標範囲（第２座標範囲）まで検索範囲を絞るようにして
も良い。この場合、さらに検索範囲が少なく（狭く）て
済み、その分、表示画面全体を範囲として検索するよ
り、さらにはｎ個（ｎは２以上の自然数）の分割画面の
座標範囲（第１座標範囲）まで絞った状態より、迅速且
つ正確に座標を特定できる。なお、同様のｎ個の分割を
同様に繰り返すことにより、ｎの階乗の数の分だけ（究
極的には１個の座標まで）検索範囲を絞ることもでき
る。

【００３１】また、上述の例では、不良画素の存否およ
び位置のみを問題としたが、各画素を輝度レベルに基づ
いて複数に分別することもできる。また、所定の基準
（例えば輝度の基準）以上のものは、完全な発光（表
示）をしなくても、ＯＫとする（例えばこの種の表示素
子を含む製品は値引きする）ことなど、種々の事情に応
じて、種々の検査基準を定めることができる。また、こ
の場合、概略座標範囲（上記の例の場合、分割画面ＤＲ
の座標範囲）内の各画素の輝度レベルを検出して記憶し
ておき、全て検出後に表示画面としての機能別（能力
別）判定等を行うこともできる。これらにより、検査基
準に応じた検査を行うことができる。また、輝度レベル
に応じて商品（検体の表示画面を備えた商品：表示装
置）を差別化するなどの工夫も可能になり、商品（表示
装置）の低価格化にも寄与させることができる。

【００３２】なお、上述の実施形態では、ＣＣＤカメラ
（撮像手段）Ｃは作業者が手持ちで移動させたが、同じ
く手動にしても、例えばマウスやトラックボールを操作
するような感覚でＣＣＤカメラＣを移動できるようにし
ても良い。また、不良画素の存在を検知した後、自動的
に不良画素を視野内に捉える位置まで移動させる移動機
構を設けても良い。これらの場合、表示画面内に不良画
素が存在するときに、撮像手段を不良画素を視野内に捉
える位置まで移動させることができ、その不良画素を撮
像手段の視野内に捉えた状態で、その不良画素の座標を
特定するので、迅速且つ正確に不良画素を検出して座標
を特定できる。

【００３３】また、上述の例では、ＣＣＤカメラＣの視
野Ｃｅと重複する分割画面の座標範囲を概略座標範囲と
して検出し、概略座標範囲内を検索して、不良画素の座
標Ｐｄを特定したが、不良画素を視野Ｃｅ内に捉えた時
点で視野Ｃｅ内における不良画素の座標（視野内座標）
を特定可能な場合には、さらに迅速に座標を特定でき
る。

【００３４】例えば図２に示すように、視野Ｃｅ内（の
例えば端の位置）に基準点（視野内基準点）Ｃｂを定
め、それを原点としたときの不良画素Ｐｄの視野内座標
（図示の例では、視野内基準点Ｃｂを座標［０、０］と
したときの座標［１、２］）を瞬時に特定可能なＣＣＤ
カメラＣを使用する場合、視野内基準点Ｃｂの表示画面
Ｄ内での座標（図示の座標［１１、０］）を検出（特
定）するだけで、視野Ｃｅ内に捉えた不良画素Ｐｄの座
標（図示の座標［１２、２］）を迅速に特定できる。す
なわち、視野内Ｃｅに捉えた不良画素Ｐｄの座標に拘わ
らず、視野内基準点Ｃｂの座標（例えば視野Ｃｅの端の
座標）の特定ですむので、さらに迅速に特定できる。

【００３５】また、上述の実施形態では、ＬＣＤパネル
の表示画面の例を挙げたが、プラズマディスプレイやＥ
Ｌディスプレイなど、マトリクス状に配置された各表示
素子に対応して各表示画素を表示する表示画面であれ
ば、同様に適用できる。また、本発明の要旨を逸脱しな
い範囲で、適宜変更も可能である。

【００３６】

【発明の効果】上述のように、本発明の表示画面検査装
置および表示画面検査方法によれば、安価且つ簡易な構
成で迅速且つ正確に不良画素を検出してその座標を特定
できる、などの効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に係る表示画面検査装置お
よび表示画面検査方法および表示画面検査方法を適用し
た表示画面検査システムのブロック図である。

【図２】図１の表示画面検査システム１における表示画
面検査方法の一例を示す説明図である。

【符号の説明】

１ 表示画面検査システム １１ 制御装置 １２ 出画装置 １３ 画像認識装置 １４ ＬＣＤパネル（表示装置） Ｃ ＣＣＤカメラ Ｃｂ 視野内基準点 Ｃｅ 視野 Ｄ、Ｄ１〜Ｄ６ …… 表示画面

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G051 AA73 AB07 AC02 CA04 EB01 ED08 ED23 2G086 EE10 2H088 FA13 FA30 5B057 BA02 CA12 CA16 DA03

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 マトリクス状に配置された各表示素子に
   対応して各表示画素を表示する表示画面内の不良画素
   を、撮像手段の視野内に捉えて、その不良画素の座標を
   特定する表示画面検査装置であって、 前記撮像手段と、 前記表示画面を複数に分割して、各分割画面を個別表示
   する分割画面表示手段と、 不良画素を捉えた前記撮像手段の視野と重複する分割画
   面を、前記個別表示に基づいて判別して、その分割画面
   の座標範囲を概略座標範囲として検出する概略座標範囲
   検出手段と、 前記概略座標範囲内の表示画素を、前記マトリクスの２
   次元座標の各方向に走査して表示することにより、前記
   撮像手段の視野内において前記不良画素を検索してその
   座標を特定する不良画素座標特定手段と、を備えたこと
   を特徴とする表示画面検査装置。
2. 【請求項２】 前記不良画素座標特定手段は、前記視野
   と重複する分割画面を表示した場合、検査基準により規
   定された輝度レベルを満足しない表示画素群を、前記不
   良画素を含む表示画素群として検出する画素群輝度レベ
   ル判別手段を有することを特徴とする、請求項１に記載
   の表示画面検査装置。
3. 【請求項３】 マトリクス状に配置された各表示素子に
   対応して各表示画素を表示する表示画面内の不良画素の
   座標を特定する表示画面検査方法であって、 前記不良画素を撮像手段の視野内に捉えた状態で、前記
   表示画面を複数に分割した各分割画面を個別表示して、
   前記視野と重複する分割画面を判別し、その分割画面の
   座標範囲を概略座標範囲として検出する概略座標範囲検
   出工程と、 前記概略座標範囲内において、前記マトリクスの２次元
   座標の各方向に走査して表示させた表示画素群を前記撮
   像手段の視野内に捉えて、前記不良画素を含む表示画素
   群を検索することにより、前記不良画素の座標を特定す
   る不良画素座標特定工程と、 を備えたことを特徴とする表示画面検査方法。
4. 【請求項４】 前記不良画素座標特定工程では、前記概
   略座標範囲内を検索した検索結果を記憶しておき、前記
   不良画素の座標の特定は、前記概略座標範囲内を全検索
   後に、記憶された前記検索結果に基づいて行われること
   を特徴とする、請求項３に記載の表示画面検査方法。
5. 【請求項５】 マトリクス状に配置された各表示素子に
   対応して各表示画素を表示する表示画面内の不良画素
   を、撮像手段の視野内に捉えて、その不良画素の座標を
   特定する表示画面検査方法であって、 前記表示画面をｎ個（ｎは２以上の自然数）に分割し
   て、各分割画面を個別表示し、不良画素を捉えた前記撮
   像手段の視野と重複する分割画面を判別して、その分割
   画面の座標範囲を第１座標範囲として検出する第１座標
   範囲検索工程と、 前記第１座標範囲を有する分割画面をさらにｎ個に分割
   して、各第２分割画面として個別表示し、前記撮像手段
   の視野と重複する第２分割画面を判別して、その第２分
   割画面の座標範囲を第２座標範囲として検出する第２座
   標範囲検索工程と、 前記第２座標範囲内を検索して、前記不良画素の座標を
   特定する不良画素座標特定工程と、を備えたことを特徴
   とする表示画面検査方法。
6. 【請求項６】 マトリクス状に配置された各表示素子に
   対応して各表示画素を表示する表示画面内の不良画素
   を、撮像手段の視野内に捉えて、その不良画素の座標を
   特定する表示画面検査装置であって、 前記撮像手段と、 前記視野内に定めた視野内基準点を原点としたときの前
   記不良画素の視野内座標を検出する視野内座標検出手段
   と、 前記表示画面内の表示画素を、前記マトリクスの２次元
   座標の各方向に走査して表示することにより、前記視野
   内基準点の座標を検出する視野内基準点検出手段と、 前記視野内基準点の座標と前記視野内座標とに基づい
   て、前記不良画素の前記表示画面内での座標を特定する
   不良画素座標特定手段と、 を備えたことを特徴とする表示画面検査装置。