JP2002328019A - 外形状態判定方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 誤判定確率を低減することができ、且つ制御
が容易な外形状態判定方法及び装置を提供する。 【解決手段】 タイヤ１２を回転し、且つ変位センサ２
４を半径方向に移動させながら測定を行うことで、測定
軌跡８０のように、変位センサ２４でタイヤ１２の側面
を螺旋状に測定する。これにより、複数の測定円周上を
測定した場合と同等の効果を得ることができると共に、
測定中の変位センサ２４は等速移動でよいので、測定中
に位置決めや位置合わせを必要とせず、制御も容易であ
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、外形状態判定方法
及び装置に係わり、特に、測定手段によって被検査物の
外形を測定し、前記被検査物の外形状態を判定する外形
状態判定方法及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、タイヤ等の被検査物と静電容
量又はレーザ等を用いた変位センサとを相対移動させ
て、表面の凹凸を測定することにより、披検査物の外形
状態を判定する技術がある。例えば、タイヤ側面の外形
異常を検出するＬＲＰ（LateralRun-out Peak-to-pea
k）測定装置では、被検査物としてのタイヤを回転させ
て、変位センサによって同一円（以下、「測定円」とい
う）周上にある１周分又は２周分のタイヤ側面の凹凸を
測定して、外形状態を判定している。

【０００３】ところで、一般に、タイヤ側面には、タイ
ヤメーカのロゴマーク、サイズ等を表す文字や記号、及
び飾り模様等が凹凸（以下、「意図的な凹凸」という）
によって形成されている。また、タイヤ表面には、バリ
やスピュー等のタイヤ形成時にモールドからはみ出した
ゴムが出ていたり、ゴムカスが付着していることがあ
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＬＲＰ
測定装置では、変位センサによる測定位置にこのような
意図的な凹凸、モールドからはみ出したゴム、付着した
ゴムカスがあると、「異常」と誤判定してしまうという
問題があった。このため、各種ノイズ除去フィルターや
ロジックを用いて、測定データからこのような誤判定の
原因成分を除去する技術も提案されているが、十分な効
果は得られていない。

【０００５】また、ＬＲＰ測定装置では、タイヤ側面の
予め定められた所定半径の円周上を測定するため、図９
に示すように、タイヤ２００側面に異常な凹凸（以下、
「欠陥凹凸」という）２０２があっても、変位センサ２
０４による測定軌跡（測定円周）２０６上になければ、
該異常を検知できず、一次元の測定データでは誤判定を
避けることはできなかった。

【０００６】また、図１０（Ａ）に示すように、タイヤ
２００を回転させた状態で、変位センサ２０４によって
１周分の表面の凹凸を測定したら、矢印Ｇのように、変
位センサ２０４の測定位置を半径方向に移動した後、更
に１周分の表面の凹凸を測定する等して、図１０（Ｂ）
に示す測定軌跡２０６のように、半径の異なる複数の同
心円（測定円）について測定する（図１０は２つの測定
円の場合）ことも考えられるが、変位センサを段階的に
移動させるため、移動の度にその位置決めや、各測定円
の測定開始・終了位置の位置合わせが必要であり、制御
が複雑になり時間も掛かるという問題があった。

【０００７】本発明は上記問題点を解消するためになさ
れたもので、誤判定確率を低減することができ、且つ制
御が容易な外形状態判定方法及び装置を提供することを
目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１に記載の発明は、測定手段によって被検査
物の外形を測定し、前記被検査物の外形状態を判定する
外形状態判定方法であって、前記測定手段と前記被検査
物とを、相対的に、複数回回転移動させると共に、回転
半径方向に移動させて、前記測定手段で螺旋状に前記被
検査物表面の凹凸変位量を測定し、１回転分毎の測定結
果各々を互いに異なる半径寸法の同心円周上の測定結果
に見たてて、前記被検査物の外形状態の欠陥度合いを判
定する、ことを特徴としている。

【０００９】請求項１に記載の発明によれば、測定手段
と被検査物とが、相対的に複数回回転移動され、且つ相
対的に回転方向に移動された状態で、測定手段によって
被検査物表面の凹凸変位量が測定される。これにより、
測定手段による被検査物表面上の測定軌跡は螺旋状とな
る。そして、複数回回転させて螺旋状に測定した際の１
回転分毎の測定結果各々を互いに異なる半径寸法の同心
円周上の測定結果と見たてて、例えば、請求項２に記載
されているように、測定結果から被検査物が本来有する
凹凸（意図的な凹凸）部による変位分を除去して、被検
査物の欠陥による凹凸（欠陥凹凸）を抽出する等して、
被検査物の外形状態の欠陥度合いを判定する。

【００１０】すなわち、螺旋状に測定することで、あた
かも半径の異なる複数の同心円について測定したかの如
く欠陥度合いを判定することができ、従来の一次元の測
定データを用いる場合よりも誤判定確率を低減すること
ができる。また、半径方向への移動は連続的であるの
で、位置決めや位置合わせを行う必要がなく、制御も容
易である。

【００１１】なお、請求項３に記載されているように、
前記被検査物がタイヤであり、前記測定手段はタイヤの
側面の凹凸変位量を測定するとよい。

【００１２】請求項４に記載の発明は、前記被検査物の
外形状態を判定する外形状態判定装置であって、前記被
検査物表面の凹凸変位量を測定する測定手段と、前記測
定手段と前記被検査物とを、相対的に、複数回回転移動
させると共に、回転半径方向に移動させる移動手段と、
前記移動手段による相対移動中の前記測定手段による測
定結果に基づいて、前記被検査物の欠陥度合いを判定す
る判定手段と、を有することを特徴としている。

【００１３】請求項４に記載の発明によれば、移動手段
によって、測定手段と被検査物とを、相対的に複数回回
転移動し、且つ相対的に回転方向に移動している状態
で、測定手段によって被検査物表面の凹凸変位量を測定
する。これにより、測定手段による被検査物表面上の測
定軌跡は螺旋状となる。

【００１４】判定手段では、この測定結果を用いて、被
検査物の欠陥度合いを判定することで、あたかも半径の
異なる複数の同心円について測定したかの如く欠陥度合
いを判定することができ、従来の一次元の測定データを
用いる場合よりも誤判定確率を低減することができる。
具体的には、例えば、請求項５に記載されているよう
に、前記測定手段による測定結果を１回転分毎に分割
し、当該分割した各々を互いに異なる半径寸法の同心円
周上の測定結果として扱って、請求項６に記載されてい
るように、前記測定結果から前記被検査物が本来有する
凹凸部による変位分を除去して前記被検査物の外形状態
の欠陥度合いを判定すればよい。

【００１５】また、移動手段による半径方向への移動は
連続的でよいので、位置決めや位置合わせを行う必要が
なく、制御も容易である。

【００１６】なお、移動手段は、請求項７に記載されて
いるように、前記被検査物を回転移動させる第１の移動
手段と、前記測定手段を回転半径方向に移動させる第２
の移動手段とを備えさせ、被検査物と測定手段とをそれ
ぞれ移動させてもよいし、請求項８に記載されているよ
うに、前記被検査物を回転移動させると共に、回転半径
方向に移動させ、測定手段は固定で被検査物のみを移動
させるようにしてもよい。

【００１７】請求項９に記載の発明は、請求項４乃至請
求項８の何れか１項に記載の発明において、前記移動手
段による前記回転半径方向への移動速度が変更可能であ
ることを特徴としている。

【００１８】請求項９に記載の発明によれば、回転半径
方向への移動速度が可変であるので、測定手段による測
定密度を変更することができ、例えば詳細に調べたい部
分については、半径方向の測定密度を上げることができ
る。

【００１９】なお、請求項１０に記載されているよう
に、前記被検査物がタイヤであり、前記測定手段はタイ
ヤの側面の凹凸変位量を測定するようにするとよい。

【００２０】

【発明の実施の形態】次に、図面を参照して本発明に係
る実施形態の１例を詳細に説明する。

【００２１】図１には、本発明が適用されたＬＲＰ測定
装置１０が示されている。

【００２２】ＬＲＰ測定装置１０は、タイヤ１２を保持
する固定手段としてホルダ部１４を備えている。このホ
ルダ部１４は、タイヤ１２を実装するホイールとしての
役目を持っており、タイヤ１２を装着した後、エアを注
入することができるようになっている。

【００２３】ホルダ部１４は、一対の円盤部１６が互い
に対向、かつ平行に配置されており、それぞれの中心に
は、回転軸１８、２０がそれぞれ同軸上に取り付けられ
ている。

【００２４】回転軸１８には、第１の移動手段としての
モータ２２の駆動力が伝達されるように、図示しない歯
車やベルト等を介してモータ２２の回転軸と連結されて
いる。このモータ２２は、判定手段としての波形処理装
置５０内に備えられている駆動制御部５２からの信号に
応じて回転され、ホルダ部１４を等速回転させることが
できるようになっている。すなわち、ホルダ部１４に装
着されたタイヤ１２を矢印Ａ方向に等速回転させること
ができる。

【００２５】ホルダ部１４に装着されたタイヤ１２の両
側面（図１では、上下面となる）に対向して、測定手段
としての変位センサ２４が配設されている。この変位セ
ンサ２４は、支持アーム２６の先端部に取り付けられて
おり、支持アーム２６の基部は、第２の移動手段として
の駆動部本体２８に取り付けられている。

【００２６】駆動部本体２８は、波形処理装置５０内の
駆動制御部５２からの信号を受ける駆動装置（所謂ドラ
イバ）３０と接続されており、この駆動装置３０によっ
て各支持アーム２６を伸縮方向（矢印Ｂ参照）及び軸直
角方向（矢印Ｃ参照）へ移動するようになっている。こ
の駆動部本体２８の駆動力によって、支持アーム２６
は、タイヤ１２に接近、離反する方向、及び回転軸１
８、２０へ近接・離反する方向（以下、「半径方向」と
いう）へ平行移動する構造となっている。

【００２７】ここで、支持アーム２６をタイヤに近接、
離反する方向へ移動させて、変位センサ２４がタイヤ１
２に対して所定の距離（基準位置）となると、変位セン
サ２４はレーザビームを出力すると共に、タイヤ１２表
面からの反射ビームを受光する。この受光点は、タイヤ
表面の凹凸に応じて、基準受光点に対して平面的に変位
する構造となっており、この変位量が電気信号に変換さ
れて、センサアンプ３２へ出力されるようになってい
る。

【００２８】センサアンプ３２では、変位センサ２４か
らの電気信号を増幅し、波形処理装置５０内のサンプリ
ング処理部５４へ送出する。このサンプリング処理部５
４では、取り込まれた電気信号を波形変換し、原波形を
生成する。

【００２９】生成された原波形はフィルタリング処理部
５６へ送られ、タイヤ１２の回転時の振動等に起因する
高周波ノイズ分が取り除かれた状態で、波形処理部５８
へ送出されるようになっている。

【００３０】波形処理部５８では、原波形から意図的な
凹凸、モールドからはみ出したゴム、付着したゴムカス
等の要因を取り除き、タイヤ１２の異常による欠陥凹凸
部の情報を抽出する。

【００３１】なお、本実施の形態では、欠陥凹凸部の抽
出がなされた後、凹部及び凸部に分別し、それぞれの波
形に応じた信号が判定処理部６０へ送られ、その大きさ
に応じて良否を判定するようになっている。

【００３２】この判定処理部６０には、判定規格設定部
６２からの信号を入力されるようになっている。この判
定規格設定部６２では、タッチパネル駆動部６４の操作
部６４Ａによる操作内容に基づいて判定基準レベル等を
判定処理部６０へ送出する役目を有している。また、判
定処理部６０には、結果表示部６６が接続されており、
判定処理部６０での判定結果をタッチパネル駆動部６４
の表示部６４Ｂによる表示形態に変換している。これに
より、タッチパネル駆動部６４の表示部６４Ｂでは、タ
イヤ１２における欠陥凹凸部の位置や大きさ、最終判定
結果等が表示されるようになっている。

【００３３】また、判定処理部６０には、外部出力端子
６８が接続されており、判定内容をそのままプリントア
ウトしたり、別のコンピュータへ送信することも可能と
なっている。

【００３４】以下に本実施の形態の作用を説明する。

【００３５】被検査物であるタイヤ１２をホルダ部１４
に装着して、空気を注入する。この状態で、波形処理装
置５０によって、タイヤの良否を判定するために、図２
に示す制御ルーチンが実行される。

【００３６】波形処理装置５０は、まず、ステップ１０
０において、モータ２２を駆動させて、ホルダ部１４を
所定速度で回転駆動させ、タイヤ１２の定速回転を開始
する。次いで、ステップ１０２において、ホルダ部１４
に装着されたタイヤ１２の両側面に対向して配設された
変位センサ２４をタイヤ１２に対して所定の距離離れた
位置に位置決めする。

【００３７】この位置決めは、タイヤ１２の各側面に対
して配設された変位センサ２４は、１個の支持アーム２
６に取り付けられており、駆動制御部５２からの信号に
よって、この支持アーム２６を動作させることにより、
容易に行うことができる。

【００３８】変位センサ２４の位置決めが完了すると、
ステップ１０４に移行し、支持アーム２６を半径方向内
側へ向けて所定速度で移動させ、変位センサ２４の半径
方向内側への定速移動を開始する。この状態、すなわち
タイヤ１２を回転させ、且つ変位センサ２４を移動させ
た状態で、以降の測定が開始される。

【００３９】すなわち、ステップ１０６でゼロ点調整し
て、ステップ１０８で変位センサ２４によってタイヤ１
２の両側面の凹凸変位量を測定する。この変位センサ２
４による測定結果は、センサアンプ３２を介してサンプ
リング処理部５４へ送られ、次のステップ１１０で、サ
ンプリング処理部５４において、変位センサ２４による
測定結果に基づいて、タイヤ１２の側面の凹凸に応じた
波形が生成される。次いで、ステップ１１２では、フィ
ルタリング処理部５６において、タイヤ１２の回転時の
振動等に起因する高周波ノイズ分が除去された後、原波
形として、波形処理部５８へ送出される。

【００４０】次のステップ１１４では、波形処理部５８
において、文字キャンセル処理、波形息継ぎ処理、ＨＬ
Ｓ処理等を行って、原波形から欠陥凹凸部を抽出し、抽
出結果を判定処理部６０へと送出すると共に、ステップ
１１６で、測定開始からのタイヤ１２の回転回数をチェ
ックして、予め設定された所定回数に達していない場合
は、ステップ１０６に戻り、以降の処理を繰返し行う。
所定回数に達したら（本実施の形態では、一例として４
回転）、次のステップ１１８に移行して、タイヤ１２の
回転及び変位センサ２４の移動を終了し、測定を終え
る。

【００４１】なお、タイヤ１２の回転回数は、例えば、
ＦＧセンサやロータリーパルスエンコーダを用いること
で把握可能である。詳しくは、ＦＧセンサの場合は、ホ
ルダ部１４の回転軸１８にドグを取り付け、このドグを
検出可能な位置にドグに近接してセンサを設置しておけ
ば、回転軸１８の回転によって回転するドグがセンサの
測定位置を遮る度にセンサの信号出力が変化する、すな
わちホルダ部１４の１回転毎にＦＧ信号が出力されるの
で、これを用いてタイヤ１２の回転回数を把握すること
ができる。また、ロータリーパルスエンコーダの場合
は、回転軸１８に軸着しておき、この出力パルス信号を
１回転分のパルス数毎にサンプリング、例えば、１回転
で１０００パルスの出力パルス信号を得るロータリーパ
ルスエンコーダであれば、１０００パルス毎にサンプリ
ングすることで、タイヤの回転回数を把握することがで
きる。

【００４２】このように、図３（Ａ）に示すように、タ
イヤ１２が回転されている状態で、変位センサ２４を半
径方向に移動しながらタイヤ１２側面の凹凸を測定する
ので、図３（Ｂ）に示すように、その測定軌跡８０は螺
旋状になる。

【００４３】ここで、波形処理部５８に入力される原波
形データは、タイヤ１２の所定回数回転分のデータ、す
なわち螺旋状に測定された所定周分のデータが連続して
入力される。波形処理部５８では、これをあたかも１周
毎に測定したデータの如く再編集してから、欠凹凸部の
抽出を行う。

【００４４】例えば、タイヤ１２が４回転された場合
は、図４のように、４周分連続した波形データが得ら
れ、この波形データを１周毎のサンプリング数（以下、
「測定点数」という）単位に分割することで、データの
再編集を行う。なお、タイヤ１２が定速回転されてお
り、サンプリング処理部５４では、所定時間間隔毎に変
位センサ２４の測定結果をサンプリングするので、各周
の測定点数は同一である。

【００４５】具体的に、測定点数が１０２５の場合は、
Ｄ０、Ｄ１、…、Ｄ４０９９（Ｄの後に続く数字は、順
番を示す）と４１００個のデータが連続して得られる。
これを、 １周目：Ｄ０、Ｄ１、……、Ｄ１０２４ ２周目：Ｄ１０２５、Ｄ１０２６、……、Ｄ２０４９ ３周目：Ｄ２０５０、Ｄ２０４９、……、Ｄ３０７４ ４周目：Ｄ３０７５、Ｄ３０７６、……、Ｄ４０９９ として、データを再編集する。

【００４６】なお、本実施の形態では、一例として、以
下に詳細を説明する文字キャンセル処理、波形息継ぎ処
理、高さ（Ｈ）−幅（Ｌ）−面積（Ｓ）算出処理（以
下、「ＨＬＳ処理」という）等を経て、欠陥凹凸部の抽
出を行うようになっている。ただし、欠陥凹凸部の抽出
方法はこれに限定されるものではない。

【００４７】文字キャンセル処理とは、サンプリングさ
れたデータ、すなわち原波形データからタイヤ１２側面
に形成された文字や記号等の意図的な凹凸の成分を取り
除く処理である。詳しくは、図５に示すように、波形デ
ータが示す高さ情報に注目し、急な立ち上がり（予め設
定された設定値以上の傾き）を検出し、且つ立ち上がり
後のレベルが一定時間以上を保たれる場合に、該立ち上
がりを意図的な凹凸の開始とする。その後、急な立下り
（予め設定された設定値以上の傾き）で、且つ立ち下り
後のレベルが一定時間以上保たれる場合に、該立下りを
意図的な凹凸の終了とする。そして、意図的な凹凸の開
始から終了までのデータから、意図的な凹凸の高さ分を
差し引くことで、意図的な凹凸の成分を取り除く。

【００４８】波形息継ぎ処理とは、文字キャンセル処理
後の原波形データを滑らかなデータとするための処理で
あり、詳しくは、図６に示すように、測定点Ｐ３−Ｐ４
の幅が予め設定された設定値よりも小さい場合に、測定
点Ｐ３と測定点Ｐ４を別々の点として処理せず、同一点
として扱うものである。なお、本実施の形態では、何れ
か一方の測定点を無視することで、２つの測定点を同一
点として扱うが、２つの測定点の中間点を取るようにし
てもよい。

【００４９】ＨＬＳ処理とは、波形息継ぎ処理後の原波
形データから、タイヤ１２の良否判定のための特徴量を
抽出する処理である。詳しくは、図７に示すように、波
形データを各測定点（Ｐ１〜５）を境に分割し、各々の
分割領域について、高さ、幅、面積を求め、予め設定し
た基準値を比較し、欠陥凹凸であるか否かを判断する。

【００５０】なお、原波形データの寸法は、半径方向の
変位センサ２４の位置によって、タイヤ１２側面におけ
る測定点間の絶対的な距離（サンプリング間隔の長さ寸
法）が異なる。このため、ＨＬＳ処理では、図８に示す
ように回転中心からの距離、すなわち半径ｒに応じて、
以下の式を用いて、変位センサ２４の位置に応じて測定
点間の距離を補正した上で、高さ、幅、面積を求める。

【００５１】測定点間の距離＝２πｒ／（１周分の測定
点数）波形処理部５８は、このように文字キャンセル処
理、波形息継ぎ処理、及びＨＬＳ処理を行って欠陥凹凸
と判断した凹凸の特徴量を抽出結果として、判定処理部
６０へ送出する。

【００５２】そして、図２のステップ１２０では、判定
処理部６０において、タイヤ１２の良否判定を行う。詳
しくは、判定処理部６０では、まず、波形処理部５８で
抽出した欠陥凹凸の良否の判定を行う。具体的には、欠
陥凹凸部の抽出結果を波形のプラス側の変位分（凸波
形）とマイナス側の変位分（凹波形）とに分け、それぞ
れの高さ（Ｈ）、幅（Ｌ）、面積（Ｓ）を予め設定され
たしきい値に基づいて良否の判定を行う。

【００５３】なお、このしきい値は、タッチパネル駆動
部６４の操作部６４Ａの操作によって入力される被検査
タイヤ１２の型式等に基づいて、判定規格設定部６２で
決定され、判定処理部６０へ送られたものである。

【００５４】そして、次に、しきい値を超えた凸部及び
凹部の数、並びにその大きさ、位置等から総合的にタイ
ヤ１２の良否を判定する。

【００５５】次のステップ１２２では、判定結果を結果
表示部６６を介してタッチパネル駆動部６４の表示部６
４Ｂに送り、必要な情報を表示させる。本実施の形態で
は、総合判定結果と、不良判定の場合には、不良判定し
た判定要因と、そのタイヤ１２周面上の位置（例えば、
基準半径からの角度）を表示する。

【００５６】なお、必要な情報の選択は、結果表示部６
６での変換形式によって任意に変更可能である。すなわ
ち、タイヤ１２の良否のみを表示してもよいし、欠陥凹
凸部の数や大きさ等を併せて表示してもよい。

【００５７】次いで、ステップ１２４で、外部出力端子
６８から欠陥凹凸の抽出結果データや判定結果データ等
を外部へ出力する。すなわち、外部出力端子６８にパソ
コン等を接続することにより、から欠陥凹凸の抽出結果
データや判定結果データ等を蓄積し、履歴を残すことも
できる。また、この外部出力端子６８に直接プリンタを
接続して、データをプリントアウトすることもできる。

【００５８】このように、本実施の形態では、タイヤ１
２を回転し、且つ変位センサ２４を半径方向に移動させ
ながら測定を行うことで、変位センサ２４でタイヤ１２
の側面を螺旋状に測定し、半径の異なる複数の同心円
（測定円）周上を測定した場合（図１０参照）と同等の
効果を得ることができると共に、測定中の変位センサ２
４は等速移動でよいので、測定中に位置決めや位置合わ
せを必要とせず、制御も容易である。

【００５９】なお、本実施の形態では、変位センサ２４
を半径方向に移動させることで、変位センサ２４とタイ
ヤ１２を半径方向に相対移動させ、螺旋状に測定する場
合を例に説明したが、本発明はこれに限定されるもので
はない。例えば、測定中の変位センサ２４の位置は固定
しておき、タイヤ１２を回転させながら半径方向にも移
動させるようにしても、螺旋状に測定を行うことができ
る。

【００６０】また、本実施の形態では、変位センサ２４
を等速移動させる場合、すなわち変位センサ２４とタイ
ヤ１２との半径方向への相対移動を等速に行う場合を例
に説明したが、変位センサ２４とタイヤ１２との半径方
向への相対移動速度を可変としてもよい。この場合、具
体的には、駆動制御部５２からの信号に基づいて、半径
方向の移動速度が制御されるようにすればよい。これに
より、例えば、より詳細に調べたい部分については半径
方向の測定密度を上げることができる。

【００６１】また、本実施の形態では、タイヤ１２側面
の外形の良否を判定するＬＲＰ測定装置１０に本発明を
適用した場合を例に説明したが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、タイヤ以外を測定（判定）対象とし
てもよい。

【００６２】

【発明の効果】上記に示したように、本発明は、誤判定
確率を低減することができ、且つ制御が容易であるとい
う優れた効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の実施の形態に係わるＬＲＰ測定装置
の概略構成図である。

【図２】 波形処理装置で実行される制御ルーチンを示
すフローチャートである。

【図３】 （Ａ）は変位センサによる測定方法を示し、
（Ｂ）は変位センサによる測定軌跡を示す。

【図４】 波形処理部に入力される原波形の一例を示す
図である。

【図５】 波形処理部で行われる文字キャンセル処理を
説明するための概念図である。

【図６】 波形処理部で行われる波形息継ぎ処理を説明
するための概念図である。

【図７】 波形処理部で行われる高さ（Ｈ）−幅（Ｌ）
−面積（Ｓ）算出処理を説明するための概念図である。

【図８】 波形処理部で行われる測定点間の距離補正を
説明するための図である。

【図９】 従来のＬＲＰ測定装置において、１つの円周
上を測定する場合の変位センサの測定軌跡を示す図であ
る。

【図１０】 従来のＬＲＰ測定装置において、（Ａ）は
変位センサによる異なる半径の複数の円周上の測定方法
を示し、（Ｂ）は変位センサによる測定軌跡を示す。

【符号の説明】

１０ ＬＲＰ測定装置 １２ タイヤ ２４ 変位センサ ２８ 駆動部本体 ３０ 駆動装置 ５０ 波形処理装置 ５２ 駆動制御部 ５４ サンプリング処理部 ５６ フィルタリング処理部 ５８ 波形処理部 ６０ 判定処理部 ６２ 判定規格設定部 ６４ タッチパネル駆動部 ６６ 結果表示部 ６８ 外部出力端子 ８０ 測定軌跡

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Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 測定手段によって被検査物の外形を測定
   し、前記被検査物の外形状態を判定する外形状態判定方
   法であって、 前記測定手段と前記被検査物とを、相対的に、複数回回
   転移動させると共に、回転半径方向に移動させて、前記
   測定手段で螺旋状に前記被検査物表面の凹凸変位量を測
   定し、 １回転分毎の測定結果各々を互いに異なる半径寸法の同
   心円周上の測定結果に見たてて、前記被検査物の外形状
   態の欠陥度合いを判定する、 ことを特徴とする外形状態判定方法。
2. 【請求項２】 前記測定結果から前記被検査物が本来有
   する凹凸部による変位分を除去して前記被検査物の外形
   状態の欠陥度合いを判定する、 ことを特徴とする請求項１に記載の外形状態判定方法。
3. 【請求項３】 前記被検査物がタイヤであり、前記測定
   手段はタイヤの側面の凹凸変位量を測定する、 ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の外形状
   態判定方法。
4. 【請求項４】 前記被検査物の外形状態を判定する外形
   状態判定装置であって、 前記被検査物表面の凹凸変位量を測定する測定手段と、 前記測定手段と前記被検査物とを、相対的に、複数回回
   転移動させると共に、回転半径方向に移動させる移動手
   段と、 前記移動手段による相対移動中の前記測定手段による測
   定結果に基づいて、前記被検査物の欠陥度合いを判定す
   る判定手段と、 を有することを特徴とする外形状態判定装置。
5. 【請求項５】 前記判定手段は、前記測定手段による測
   定結果を１回転分毎に分割し、当該分割した各々を互い
   に異なる半径寸法の同心円周上の測定結果として扱う、 ことを特徴とする請求項４に記載の外形状態判定装置。
6. 【請求項６】 前記測定結果から前記被検査物が本来有
   する凹凸部による変位分を除去して前記被検査物の外形
   状態の欠陥度合いを判定する、 ことを特徴とする請求項４又は請求項５に記載の外形状
   態判定装置。
7. 【請求項７】 前記移動手段は、 前記被検査物を回転移動させる第１の移動手段と、 前記測定手段を回転半径方向に移動させる第２の移動手
   段と、を備える、 ことを特徴とする請求項４乃至請求項６の何れか１項に
   記載の外形状態判定装置。
8. 【請求項８】 前記移動手段は、前記被検査物を回転移
   動させると共に、回転半径方向に移動させることを特徴
   とする請求項４乃至請求項６の何れか１項に記載の外形
   状態判定装置。
9. 【請求項９】 前記移動手段による前記回転半径方向へ
   の移動速度が変更可能である、ことを特徴とする請求項
   ４乃至請求項８の何れか１項に記載の外形状態判定装
   置。
10. 【請求項１０】 前記被検査物がタイヤであり、前記測
    定手段はタイヤの側面の凹凸変位量を測定する、ことを
    特徴とする請求項４乃至請求項９の何れか１項に記載の
    外形状態判定装置。