JP2002311406A - 液晶パネルパラメータ検出装置 - Google Patents
液晶パネルパラメータ検出装置Info
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Abstract
が基板面に対してなすプレチルト角や反射型液晶パネル
における液晶分子配向のねじれの角度等のパラメータを
容易に検出することができる装置を提供する。 【解決手段】 コリメータ2、赤外線カットフィルタ3
を透過した白色光源1からの光を色フィルタ41での単
色光(波長1)とし、偏光板(偏光子)5と偏光板(検
光子)8で挟んだ液晶パネル61に対して、偏光板8及
び1/4波長板71を用いてストークスパラメータS1
1、S21、S31を測定し、次に波長1とは異なる波
長の光(波長2)を透過する色フィルタ42を用い、同
様に偏光板8及び1/4波長板72を用いてストークス
パラメータS12、S22、S32を測定し、(7)
式、(5)、(4)式の連立方程式を解くことで液晶パ
ネル61における液晶層の厚みd、液晶分子配向のねじ
れの角度φ、及び平均のプレチルト角θを求める。反射
型液晶パネルの場合には同様の操作により液晶分子配向
のねじれの角度またはプレチルト角を求める。
Description
いられる液晶パネルにおけるパラメータを迅速に検出す
る液晶パネルパラメータ検出装置に関する。
液晶パネルとしては、液晶分子が2枚の基板面に対して
平行に配向しており、その配向が両基板間で徐々にねじ
れて、90度ねじれるようにしたツイステッドネマティ
ック液晶パネル(以下、「TNパネル」という)や、1
80度から270度程度ねじれているスーパーツイステ
ッドネマティック液晶パネル(以下、「STNパネル」
という)等が広く使われている。また、液晶パネルの基
板面内方向の電界成分により液晶分子の配向がねじれる
ように制御することで表示を行う、インプレーンスイッ
チング液晶パネル(以下、「IPSパネル」という)が
広視野角特性を有することで広く使われている。このよ
うなTNパネルやSTNパネルまたはIPSパネルにお
いては、表示の品質は液晶層の厚みや液晶分子配向のね
じれの角度、基板面に対し液晶分子がある角度立ち上が
って初期配向しているプレチルト角等に関わる液晶パネ
ルパラメータに強く依存する。したがって、液晶パネル
を製造する際や、その特性を評価する際には、液晶層の
厚み及び液晶分子配向のねじれの角度、及びプレチルト
角等を迅速に検出することがきわめて重要である。
れの角度を検出する方法としては、2枚の直線偏光板の
間に液晶パネルを配置し、光弾性変調素子により光路差
を可変して透過光強度特性を求めカーブフィッティング
することで液晶層の厚み及び液晶分子配向のねじれの角
度を検出する方法や、液晶パネル及び直線偏光板のいず
れかを回転させて透過光強度が最大もしくは最小となる
角度を求め、ジョーンズマトリクス法を用いて液晶層の
厚み及び液晶分子配向のねじれの角度を求める方法等が
知られている。これらは、「Jpn.J.Appl.P
hys.」(Vol.33,頁L434−436)、
「Jpn.J.Appl.Phys.」(Vol.3
3,頁L1242−L1244)、「Jpn.J.Ap
pl.Phys.」(Vol.35,頁4434−44
37)、「第22回液晶討論会講演予稿集」(頁139
−140)等に記載されている。また、液晶パネルのス
トークスパラメータを求めて液晶層の厚み及び液晶分子
配向のねじれの角度を検出する方法が特開平10−15
3780号、特開平11−83730,特開平11−8
4335に開示されている。
測定方法としてはクリスタルローテーション法が知られ
ている(「J.Appl.Phys.」,Vol.4
8,1783頁,1977年)。このクリスタルローテ
ーション法は、ねじれの無い水平配向液晶パネルを偏光
子と検光子との間に配置し、液晶パネルに入射する光の
入射角を変化させながら透過光強度を測定する。そし
て、透過光強度が極大又は極小となる入射角に基づいて
プレチルト角を算出する。このクリスタルローテーショ
ン法を改良したプレチルト角検出方法が、特開平8−9
4445号公報、特開平11−160198号公報等に
開示されているが、クリスタルローテーション法は、基
本的には配向方向がねじれていない液晶パネルが対象で
あるため、TN液晶パネルやSTN液晶パネル等の配向
方向がねじれている液晶パネルのプレチルト角を検出す
ることはできない。液晶分子配向がねじれているTNパ
ネルやSTNパネルにおけるプレチルト角を検出する方
法として、特開平9−152321号公報に液晶パネル
を傾けて液晶パネルを透過した光の分光特性を測定して
液晶パネルのプレチルト角を検出する方法が開示されて
いる。また、特開平11−352449号公報には、複
数の波長の光を用いて液晶パネルの透過光強度を測定
し、透過光強度に基づいて液晶パネルのプレチルト角を
検出する方法が開示されている。
する反射材を配置した構造の反射型液晶表示装置があ
り、背面からの照明装置を必要としないため省電力動作
ができるという特徴がある。TNパネルやSTNパネル
を用いた反射型液晶表示装置においても、透過型液晶パ
ネルと同様に、液晶層の厚みや液晶分子配向のねじれの
角度、プレチルト角等の液晶パネルパラメータが表示の
品質に大きく関与しているため、これらのパラメータを
迅速に検出することがきわめて重要である。反射型液晶
パネルにおける液晶層の厚みを検出する方法として、近
赤外線の波長域における光の干渉効果を利用する方法
「第18回International Liquid
Crystal Conference Abstr
acts」(25D−59P,330頁)が知られてい
る。また、ストークスパラメータを用いて液晶層の厚み
を検出する方法「第18回International
Liquid Crystal Conferenc
e Abstracts」(25D−55P,326
頁)も知られている。
来の方法は、液晶パネルの透過光強度特性のカーブフィ
ッティングを行い、または液晶パネルや直線偏光板を回
転させて透過光強度が最大もしくは最小となる角度を測
定するものであり、装置が複雑で操作や処理が面倒であ
り、特に測定に長時間を要し、プレチルト角を検出する
ことが難しいという問題点があった。また、特開平10
−153780号、特開平11−83730,特開平1
1−84335に開示されている、液晶パネルのストー
クスパラメータを求め、ストークスパラメータの解析結
果に基づいて液晶パネルの液晶層の厚みや液晶分子配向
のねじれの角度を検出する方法では、プレチルト角を求
めることができないという問題点があった。
示されている方法は、液晶パネルを傾けて液晶パネルを
透過した光の分光特性を測定して液晶パネルのプレチル
ト角を検出するものであり計算量が膨大となり、液晶パ
ネルにおけるプレチルト角を2次元分布として検出する
ことは困難である。また、特開平11−352449号
公報に開示されている方法は、多波長の光での透過光強
度を4×4行列法で計算する必要があり、特開平9−1
52321号公報に開示されている方法と同様の問題点
を持っている。また、特開平11−352449号公報
に開示されている方法には、プレチルト角を算出する具
体的方法が開示されておらず、液晶パネルにおけるプレ
チルト角を2次元分布として検出することは困難であ
る。また、反射型液晶パネルにおいては、液晶層におけ
る液晶分子のねじれの効果が入射過程と反射過程で互い
に相殺するように働くため、液晶パネルにおける光学的
特性に対する液晶分子配向のねじれの角度依存性は非常
に小さくなり、これらの従来の方法から液晶分子配向の
ねじれの角度を測定し検出することは困難であった。ま
た、液晶分子配向のねじれの角度が既知でないとプレチ
ルト角を正確に算出することができないため、反射型液
晶パネルにおけるプレチルト角を検出することも困難で
あった。
簡単な構成できわめて容易に液晶パネルにおけるプレチ
ルト角や反射型液晶パネルにおける液晶分子配向のねじ
れの角度等のパラメータを検出することができる液晶パ
ネルパラメータ検出装置を提供することにある。
に、請求項1に記載の発明は、液晶パネルにおける液晶
層を透過した光の強度を複数箇所で検出し、検出した透
過光強度からストークスパラメータを求め、複数箇所に
おけるストークスパラメータの解析結果に基づいて液晶
パネルの複数箇所におけるパネルパラメータを求める方
法または装置において、波長が異なる複数の光に対する
ストークスパラメータを用いて液晶パネルにおけるプレ
チルト角度を求めることを特徴とする液晶パネルパラメ
ータ検出装置である。また、請求項2に記載の発明は、
液晶パネルにおける液晶層を透過した光が背面の反射材
により反射され、再度液晶層を透過した光の強度を複数
箇所で検出し、検出した透過光強度からストークスパラ
メータを求め、複数箇所におけるストークスパラメータ
の解析結果に基づいて液晶パネルの複数箇所におけるパ
ネルパラメータを求める方法または装置において、波長
が異なる複数の光に対するストークスパラメータを用い
て液晶パネルにおける液晶分子配向のねじれの角度及び
プレチルト角度の少なくとも一方を求めることを特徴と
する液晶パネルパラメータ検出装置である。
ータ検出装置を用いれば、簡単な構成で精度よく液晶パ
ネルにおけるプレチルト角や液晶分子配向のねじれの角
度を複数箇所で二次元分布として同時に検出することが
できる。
て図面を参照して説明する。図1には本発明における透
過型液晶パネルにおけるプレチルト角等のパネルパラメ
ータ検出装置の一実施形態の概略構成図を示している。
図1において、1は白色光源等の光源であり、たとえば
ハロゲンランプが用いられる。光源1からの光は2のコ
リメータで平行光線とされ、X軸及びY軸と直交するZ
軸に沿って照射される。液晶パネル61の基板の複数箇
所あるいは全面にほぼ垂直に光が照射されるようになっ
ていることが望ましい。3の赤外線遮断フィルタは熱線
成分を取り除くためのものである。4は、色フィルタで
あり、白色光源等の光源1から照射される光を単色光に
変換するもので、例えば波長が589nm又は633n
m等を透過波長帯とする干渉フィルタ等を用いることが
できる。図1では2種類の波長、波長1(589nm)
及び波長2(633nm)に対応する色フィルタ41及
び42を切り替える方法を示している。5は、偏光板
(偏光子)である。6は、TNパネル、STNパネル等
の液晶パネルである。図1では透過型液晶パネル61に
ついて示してある。7は、1/4波長板であり、41又
は42の色フィルタで単色となった波長1又は波長2に
対応する1/4波長板71、72を切り替える。また、
1/4波長板の軸方向を偏光板(検光子)8の偏光方向
に対して45度傾けて液晶パネル61と偏光板(検光
子)8との間に挿入可能に設けられている。9は、レン
ズであり、液晶パネル61の表面に焦点を合わせるよう
に配置される。10は、CCDカメラ等の液晶パネル6
1の複数箇所の透過光強度を同時に検出することができ
る2次元の光検出器であり、液晶パネル61の複数箇所
の透過光強度検出信号を同時に出力する。11はデータ
処理用のパーソナルコンピュータ等の処理装置であり、
光検出器10から出力される液晶パネル61の複数箇所
におけるストークスパラメータ、さらに液晶パネル61
の複数箇所における液晶層の厚みや液晶分子配向のねじ
れの角度及びプレチルト角等の液晶パネルパラメータを
同時に求め、それらの2次元分布図等を表示画面やプリ
ンタ等に出力する。
施の形態について説明する。図2は、本発明の液晶パネ
ルパラメータ検出方法を反射型液晶パネルに実施するた
めの液晶パネルパラメータ検出装置の一実施の形態の概
略図である。図2において、62は反射型液晶パネルで
ある。白色光源等の光源1からの光は2のコリメータで
平行光線とされ、3の赤外線遮断フィルタで熱線成分を
取り除かれ4の色フィルタ、5の偏光板(偏光子)等を
透過した後、ハーフミラー(半透過鏡)12によりほぼ
半分の強度の光が反射型液晶パネル62に垂直に入射す
るようにハーフミラー(半透過鏡)12が配置されてい
る。反射型液晶パネル62において液晶層を2度透過し
た光は反射光として1/4波長板7,偏光板(検光子)
8に垂直に入射し,レンズ9を通り,光検出器10で検
出される。
装置の実施の形態の基本原理を説明する。ここで、図1
に示した透過型液晶パネルに対する場合について、図3
に示すような座標系をとる。図3に示す座標系におい
て、入射側の偏光板4の偏光方向はY軸方向とする。そ
して、液晶パネル61の光入射側の液晶ダイレクタ(配
向方向)とX軸とのなす角度をα、液晶パネル61にお
ける液晶分子の配向のねじれの角度をφとする。したが
って、液晶パネル61の出射側の液晶のダイレクタ(配
向方向)は角度φだけねじれていることになる。また、
入射光はZ軸(XY平面に垂直)に入射されるものとす
る。
となるように液晶パネル61を配置し液晶パネル61の
偏光作用を示すジョーンズマトリクスを用いて液晶パネ
ル61を透過した光の透過光強度のX軸及びY軸方向の
電界(偏光)成分Ex及びEyは(1)式のようなマト
リクスで表される。
X軸及びY軸方向の電界(偏光)成分Exin及びEy
inは(2)式で表される。
式のように表される。
り、二つの異なる波長λ1、λ2に対して(5)式のよ
うに表される。
軸に平行な偏波面をもつ光(異常光)に対する屈折率、
noは液晶分子の長軸に垂直な偏波面をもつ光(常光)
に対する屈折率であり、いずれも入射光の波長により変
わるため、波長λ1、λ2に対してそれぞれne1、n
e2、no1、no2と示している。θはプレチルト角
(液晶分子が基板から傾いている角度)であり、(6)
式で表される平均のプレチルト角である。
ことで、液晶パネル61を透過した光に対して、偏光状
態を示すストークスパラメータS1、S2、S3は
(7)式のように表される。
S02=S12+S22+S32となる。
メータ検出装置を用い、本発明の液晶パネルパラメータ
検出方法の第1の実施の形態により透過型液晶パネルに
おけるプレチルト角を検出する処理を説明する。まず、
透過型液晶パネル61と光検出器10との間に配置した
偏光板8の偏光方向をX軸方向とし、その時の光検出器
10からの透過光強度検出信号により液晶パネル61の
複数箇所の透過光強度Ixを測定する。次に、偏光板8
の偏光方向をY軸方向とし、その時の光検出器10から
の透過光強度信号により液晶パネル61の複数箇所の透
過光強度Iyを測定する。次に、偏光板8の偏光方向を
X軸及びY軸と45度の角度をなすようにし、その時の
光検出器10からの透過光強度検出信号により液晶パネ
ル61の複数箇所の透過光強度I45を測定する。次
に、偏光板8の偏光方向をX軸及びY軸と45度の角度
をなすようにした状態で、偏光板8と液晶パネル61の
間に1/4波長板7をその軸方向を偏光板8の偏光方向
に対して45度傾けて(すなわちY軸方向に向けて)配
置し、その時の光検出器10からの透過光強度検出信号
により液晶パネル61の複数箇所の透過光強度Iq45
を測定する。これらの測定値Ix、Iy、I45及びI
q45を用いてストークスパラメータを表すと、(8)
式のようになる。
式に示すストークスパラメータは(Ix+Iy)で正規
化を行っている。
測定値Ix、Iy、I45及びIq45に基づき(8)
式により液晶パネル61の複数箇所におけるストークス
パラメータS1、S2、S3、を求めることができる。
そして求めた液晶パネル61の複数箇所のストークスパ
ラメータS1、S2、S3に基づき、(7)式、(4)
式、(5)式により、液晶パネル61の複数箇所の液晶
層の厚みd及び液晶分子配向のねじれの角度φを同時に
求めることができる。これらの処理は処理装置11で行
われる。処理装置11は、液晶パネルの複数箇所の液晶
層の厚み及び液晶分子配向のねじれの角度を表示画面や
プリンタ等に2次元分布又はグラフや図で出力すること
も可能である。
2、S3から、液晶パネル61の複数箇所の液晶層の厚
みd及び液晶分子配向のねじれの角度φを同時に求める
ことは、特開平11−83730及び特開平11−84
335等に開示されている。しかし、単一波長の光を用
いた場合には、液晶パネル61の複数箇所の液晶層の厚
みd及び液晶分子配向のねじれの角度φを同時に求める
ことができるが、たとえαが既知であったとしても液晶
分子が基板面に対してなす角度であるプレチルト角を同
時に求めることはできない。プレチルト角を求めるため
には、少なくとももう一組の方程式が必要とされる。し
たがって、図1に示した第1の実施の形態による透過型
液晶パネルパラメータ検出装置を用い、まず始めに波長
1(λ1)の光を透過する色フィルタ41及び1/4波
長板71を用いてストークスパラメータS11、S2
1、S31を測定し、次に波長1とは異なる波長である
波長2(λ2)の光を透過する色フィルタ42及び1/
4波長板72を用いてストークスパラメータS12、S
22、S32を測定し、(7)式、(5)、(4)式の
連立方程式を解くことで液晶パネル61における液晶層
の厚みd、液晶分子配向のねじれの角度φ、及び平均の
プレチルト角θを求めることができる。次に、平均のプ
レチルト角θと液晶分子配向のねじれの角度φからから
(6)式の関係により液晶分子が基板面に対してなす角
度、すなわちプレチルト角を求めることができる。互い
に異なる2波長の光を用いることで、透過型液晶パネル
61における複数箇所の液晶層の厚みdや液晶分子配向
のねじれの角度φ及びプレチルト角を同時に求めること
ができるが、測定波長を増やすことで、さらに精度よく
これらのパネルパラメータを検出することが可能とな
る。
装置により、図2に示す反射型液晶パネルにおけるパネ
ルパラメータを検出する方法として、第2の実施の形態
の基本原理を説明する。ここで、図4に示すような座標
系において,反射型液晶パネル62に入射する光を、
反射型液晶パネルから出射する光をとすると、の場
合は図3の場合と同一となるが、反射光については入
射側と出射側それぞれがの場合と反転する。図2にお
いて、ハーフミラー(半透明鏡)12で反射して反射型
液晶パネル62に垂直に入射し、反射型液晶パネル62
の液晶層を2回透過して出射した光強度のX軸及びY軸
方向の電界(偏光)成分Ex及びEyは、図4のような
座標系を考慮して(9)式のようなマトリクスで表され
る。
合には入射光が液晶層を2回透過し、座標変換されてい
るため、その項が新たに加わっている点が異なってい
る。反射型液晶パネル62に入射する光強度のX軸及び
Y軸方向の電界(偏光)成分Exin及びEyinは
(2)式で表される。また、(9)式におけるa、bは
(3)式で表され、a1、a2、b1、b2は(4)式
のように表される。(4)式でuはそれぞれ異なる複数
の波長λの関数であり、二つの異なる波長λ1、λ2に
対して(5)式のように表されることも、透過型液晶パ
ネルの場合における実施の形態1で説明したことと同様
である。プレチルト角についても同様に(6)式で表さ
れる平均のプレチルト角を用いている。また、図4に示
した座標系において、ジョーンズ行列を用いることで、
反射型液晶パネル62から出射した光に対しても、偏光
状態を示すストークスパラメータS1、S2、S3は同
様に(7)式のように表される。
けるパネルパラメータ検出装置を用い、本発明の液晶パ
ネルパラメータ検出方法の第2の実施の形態により反射
型液晶パネルにおける液晶分子配向のねじれの角度等の
パラメータを検出する処理を説明する。反射型液晶パネ
ル62と光検出器10との間に配置した偏光板8及び1
/4波長板7等をそれぞれ所定の角度及び位置に設定す
ることでIx、Iy、I45及びIq45等の光強度を
測定しする操作は図1に示した透過型液晶パネル61の
それぞれの透過光強度を測定する場合と同様である。こ
れらの測定値Ix、Iy、I45及びIq45を用いて
ストークスパラメータを表すと、同様に(8)式のよう
になる。
箇所の測定値Ix、Iy、I45及びIq45に基づき
(8)式により反射型液晶パネル62の複数箇所におけ
るストークスパラメータS1、S2、S3、を求めるこ
とができる。そして求めた反射型液晶パネル62の複数
箇所のストークスパラメータS1、S2、S3に基づ
き、(7)式、(4)式、(5)式により、液晶パネル
62の複数箇所の液晶層の厚みdを求めることができ
る。しかし、反射型液晶パネルにおいては、液晶層にお
ける液晶分子のねじれの効果が入射過程と反射過程で互
いに相殺するように働くため、液晶パネルにおける光学
的特性に対する液晶分子配向のねじれの角度依存性は非
常に小さくなり、単一の波長の光を用いる方法では、液
晶分子配向のねじれの角度を測定し検出することは困難
である。また、液晶分子配向のねじれの角度が既知でな
いとプレチルト角を正確に算出することができないた
め、反射型液晶パネルにおけるプレチルト角を検出する
ことも困難である。反射型液晶パネルにおいて、液晶分
子配向のねじれの角度を検出するためには、少なくとも
もう一組の方程式が必要とされる。したがって、図2に
示した第2の実施の形態による反射型液晶パネルパラメ
ータ検出装置を用い、まず始めに波長1(λ1)の光を
透過する色フィルタ41及び1/4波長板71を用いて
ストークスパラメータS11、S21、S31を測定
し、次に波長1とは異なる波長の波長2(λ2)の光を
透過する色フィルタ42及びその波長に対応する1/4
波長板72を用いてストークスパラメータS12、S2
2、S32を測定し、(7)式、(5)、(4)式の連
立方程式を解くことで反射型液晶パネル62における液
晶層の厚みd、液晶分子配向のねじれの角度φを求める
ことができる。このように互いに異なる2波長の光を用
いることで、反射型液晶パネル62における複数箇所の
液晶層の厚みdや液晶分子配向のねじれの角度φを同時
に求めることができるが、測定波長を2波長からさらに
増やすことで、平均のプレチルト角θも同時に求めるこ
とができる。この場合には、平均のプレチルト角と液晶
分子配向のねじれの角度φから(6)式の関係により液
晶分子が基板面に対してなす角度、すなわちプレチルト
角を求めることができる。
検出装置の実施例1により透過型液晶パネルにおけるプ
レチルト角等のパネルパラメータを求める例を示す。ポ
リビニルアルコール(PVA)又はポリイミド(PI)
E膜を塗布した後ラビング処理を行ったガラス基板をラ
ビング方向がほぼ65度となるように組み合わせ、2枚
の基板間に直径が19ミクロンの球状のポリマースペー
サを挟んでネマティック液晶を封入した構造の透過型液
晶パネルを作製した。光干渉法で測定した基板の間隔は
19.1ミクロン、ラビング時の傷跡から得られた組み
合わせ角度は65.4度であった。測定波長としてλ1
=589nm、λ2=633nmを透過する色フィルタ
を用い、これらの波長に対応する1/4波長板を用い
て、作製した透過型液晶パネルにおけるパネルパラメー
タを測定した。PVA膜を用いた場合には、液晶層の厚
みが18.81ミクロン、分子配向のねじれの角度が6
6.4度、プレチルト角は0.51度であった。PI膜
を用いた場合には、それぞれ18.83ミクロン、6
6.2度、4.39度であり、プレチルト角を含めてほ
ぼ妥当な値を得ることができた。種々のポリイミド膜を
用いて平行配向の透過型液晶パネルを作製し、本発明に
よるパネルパラメータ測定装置を用いてプレチルト角を
測定し、クリスタルローテーション法による測定値と比
較した結果を図5に示す。図から比較的よい一致が得ら
れていることがわかる。また、ポリイミドD膜を用いた
場合のパネルパラメータを測定し、液晶層の厚みの2次
元分布特性を図6に、分子配向のねじれの角度の2次元
分布特性を図7に、プレチルト角の2次元分布特性を図
8に示すような結果が得られた。
検出装置の実施例2により、反射型液晶パネルにおける
分子配向のねじれの角度等のパネルパラメータを求める
例を示す。ポリイミド(PI)D膜を塗布した後ラビン
グ処理を行ったガラス基板をラビング方向がほぼ−70
度となるように組み合わせ、2枚の基板間に直径が5.
5ミクロンの球状のポリマースペーサを挟んでネマティ
ック液晶を封入した構造の反射型液晶パネルを作製し
た。液晶を封入する前の2枚の基板の間隔を光干渉法で
測定した結果、5.5ミクロンであり、ラビング時の傷
跡から得られた組み合わせ角度は−70.2度であっ
た。測定波長としてλ1=589nm、λ2=633n
mを透過する色フィルタを用い、これらの波長に対応す
る2組の1/4波長板を用いて、作製した反射型液晶パ
ネルにおけるパネルパラメータを本発明による液晶パネ
ルパラメータ測定装置により測定した。反射型液晶パネ
ルにおける液晶層の厚みと分子配向のねじれの角度の2
次元分布特性を測定した結果、図9及び図10に示すよ
うな結果が得られ、設定値とほぼ同様の結果が得られ
た。さらに、第3の波長の光としてλ3=546nmの
光を用いた3波長で測定したプレチルト角は2.5度で
あった。
置を用いると、液晶パネルにおける液晶層の厚みや液晶
分子配向のねじれの角度の他に、プレチルト角の2次元
分布等の液晶パネルパラメータを比較的容易に測定する
ことができる。
容易に液晶パネルにおけるプレチルト角及び液晶分子配
向のねじれの角度等のパラメータを検出することがで
き、特に反射型液晶パネルにおけるパラメータを検出す
ることができる。
出装置の一実施の形態の構成図である。
メータ検出装置の一実施の形態の構成図である。
液晶分子の配向方向及び液晶分子の配向の捻れの角度を
示す図である。
分子の配向方向と液晶分子の配向のねじれの角度、及び
反射材により反射し液晶パネルから出射した光に対す
る液晶分子の配向方向と液晶分子の配向のねじれの角度
を示す図である。
ネルについて、クリスタルローテーション法により測定
したプレチルト角と本発明により検出したプレチルト角
の関係を示す図である。
元分布を示す図である。
れの角度の2次元分布を示す図である。
元分布を示す図である。
元分布を示す図である。
次元分布を示す図である。
Claims (2)
- 【請求項1】液晶パネルにおける液晶層を透過した光の
強度を複数箇所で検出し、検出した透過光強度からスト
ークスパラメータを求め、複数箇所におけるストークス
パラメータの解析結果に基づいて液晶パネルの複数箇所
におけるパネルパラメータを求める方法または装置にお
いて、波長が異なる複数の光に対するストークスパラメ
ータを用いて液晶パネルにおけるプレチルト角度を求め
ることを特徴とする液晶パネルパラメータ検出装置。 - 【請求項2】液晶パネルにおける液晶層を透過した光が
背面の反射材により反射され、再度液晶層を透過して出
射した光の強度を複数箇所で検出し、検出した透過光強
度からストークスパラメータを求め、複数箇所における
ストークスパラメータの解析結果に基づいて液晶パネル
の複数箇所におけるパネルパラメータを求める方法また
は装置において、波長が異なる複数の光に対するストー
クスパラメータを用いて液晶パネルにおける液晶分子配
向のねじれの角度及びプレチルト角度の少なくとも一方
を求めることを特徴とする液晶パネルパラメータ検出装
置。
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---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP2001118521A JP3813834B2 (ja) | 2001-04-17 | 2001-04-17 | 液晶パネルパラメータ検出装置 |
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JP2002311406A true JP2002311406A (ja) | 2002-10-23 |
JP3813834B2 JP3813834B2 (ja) | 2006-08-23 |
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010204378A (ja) * | 2009-03-03 | 2010-09-16 | Otsuka Denshi Co Ltd | 反射型液晶セルのチルト角測定方法及び装置 |
JP2012127933A (ja) * | 2010-12-16 | 2012-07-05 | Ind Technol Res Inst | 液晶パラメータ測定の方法及び装置 |
CN103728118A (zh) * | 2013-12-30 | 2014-04-16 | 浙江大学 | 一种光纤内扭转检测方法 |
US20160146596A1 (en) * | 2014-11-25 | 2016-05-26 | Samsung Display Co., Ltd. | Apparatus and method for measuring pretilt angle of liquid crystal |
JP2019507328A (ja) * | 2015-12-22 | 2019-03-14 | センター ナショナル ド ラ ルシェルシュ サイエンティフィーク | 電場中の局所変化を検出する電気光学装置 |
-
2001
- 2001-04-17 JP JP2001118521A patent/JP3813834B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010204378A (ja) * | 2009-03-03 | 2010-09-16 | Otsuka Denshi Co Ltd | 反射型液晶セルのチルト角測定方法及び装置 |
JP2012127933A (ja) * | 2010-12-16 | 2012-07-05 | Ind Technol Res Inst | 液晶パラメータ測定の方法及び装置 |
KR101374328B1 (ko) * | 2010-12-16 | 2014-03-12 | 인더스트리얼 테크놀로지 리서치 인스티튜트 | 액정 셀 파라미터 측정 방법 및 장치 |
CN103728118A (zh) * | 2013-12-30 | 2014-04-16 | 浙江大学 | 一种光纤内扭转检测方法 |
US20160146596A1 (en) * | 2014-11-25 | 2016-05-26 | Samsung Display Co., Ltd. | Apparatus and method for measuring pretilt angle of liquid crystal |
US9766061B2 (en) * | 2014-11-25 | 2017-09-19 | Samsung Display Co., Ltd. | Apparatus and method for measuring pretilt angle of liquid crystal |
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