JP2002310940A - 物品検査方法 - Google Patents
物品検査方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【解決手段】 CCDカメラ4で撮影した水晶板2の画
像をもとに第1ヒストグラム(図3)を作成する。次
に、処理装置6は、第1ヒストグラムにおける最頻値M
axの前後の極小輝度Sから極大輝度Lの範囲の輝度が
0から255の階調となるように、輝度に関するコント
ラストとブライトネスのパラメータを変更する。この
後、CCDカメラ4で水晶板2を再度撮影し、処理装置
6は、このCCDカメラ4の画像データをもとに第2ヒ
ストグラム(図5)を作成する。この第2ヒストグラム
をもとにしきい値を設定し、画像データを基に上記しき
い値により水晶板2の良否を判定する。 【効果】 水晶板2の良否を的確に判定することができ
る。
像をもとに第1ヒストグラム(図3)を作成する。次
に、処理装置6は、第1ヒストグラムにおける最頻値M
axの前後の極小輝度Sから極大輝度Lの範囲の輝度が
0から255の階調となるように、輝度に関するコント
ラストとブライトネスのパラメータを変更する。この
後、CCDカメラ4で水晶板2を再度撮影し、処理装置
6は、このCCDカメラ4の画像データをもとに第2ヒ
ストグラム(図5)を作成する。この第2ヒストグラム
をもとにしきい値を設定し、画像データを基に上記しき
い値により水晶板2の良否を判定する。 【効果】 水晶板2の良否を的確に判定することができ
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は物品検査方法に関
し、より詳しくは、例えば水晶板の表面検査に用いて好
適な物品検査方法に関する。
し、より詳しくは、例えば水晶板の表面検査に用いて好
適な物品検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、板状物品の表面検査方法において
は、次のようにして物品の良否を検査していたものであ
る。すなわち、先ず、検査対象となる物品に光を照射し
て、該物品から反射される反射光を撮影手段で撮影す
る。次に、この撮影手段で撮影した反射光を画像取り込
み手段に取り込んで、この画像取り込み手段に取り込ん
だ反射光の画像について輝度と画素数との関係で表現さ
れるヒストグラムを作成する。その後、上記ヒストグラ
ムにおける画素数の変化率が切り換わる位置の輝度をし
きい値として設定し、そのしきい値を超えた不良品側と
なる画素数が所定画素数よりも多い場合に検査対象であ
る物品が不良品であると判定していたものである。
は、次のようにして物品の良否を検査していたものであ
る。すなわち、先ず、検査対象となる物品に光を照射し
て、該物品から反射される反射光を撮影手段で撮影す
る。次に、この撮影手段で撮影した反射光を画像取り込
み手段に取り込んで、この画像取り込み手段に取り込ん
だ反射光の画像について輝度と画素数との関係で表現さ
れるヒストグラムを作成する。その後、上記ヒストグラ
ムにおける画素数の変化率が切り換わる位置の輝度をし
きい値として設定し、そのしきい値を超えた不良品側と
なる画素数が所定画素数よりも多い場合に検査対象であ
る物品が不良品であると判定していたものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来の
検査方法において、撮影手段が撮影した物品の画像をA
/D変換器(アナログ/デジタル変換器)により、アナ
ログ信号からデジタル信号に変換する際には、輝度に関
するコントラストおよびブライトネスのパラメータを所
定の固定値で行っていたものである。しかも、個々の物
品の表面の平滑さにばらつきがあり、検査位置に位置さ
せた際には個々の物品の支持状態などにより傾斜角度が
異なることがある。したがって、上記物品の画像をA/
D変換器で変換した画像データを基にヒストグラムを作
成しても、物品の検査対象領域である最頻値の前後とな
る範囲の輝度について画素数の変化を詳細に把握しにく
いという欠点があった。そのため、従来では、上記ヒス
トグラムにおいて、物品の良否を判定する規準となるし
きい値を決めるに際して、的確な値をしきい値と設定す
るのが困難であった。また、上記物品の画像をA/D変
換器で変換して取り込んだ画像データを基に物品の傷や
しみの有無を判別しようとしても、互いの輝度の差が小
さいため、判別しにくいという欠点もあった。したがっ
て、従来の物品検査方法においては、物品の良否を的確
に判定しにくいという欠点が指摘されていたものであ
る。
検査方法において、撮影手段が撮影した物品の画像をA
/D変換器(アナログ/デジタル変換器)により、アナ
ログ信号からデジタル信号に変換する際には、輝度に関
するコントラストおよびブライトネスのパラメータを所
定の固定値で行っていたものである。しかも、個々の物
品の表面の平滑さにばらつきがあり、検査位置に位置さ
せた際には個々の物品の支持状態などにより傾斜角度が
異なることがある。したがって、上記物品の画像をA/
D変換器で変換した画像データを基にヒストグラムを作
成しても、物品の検査対象領域である最頻値の前後とな
る範囲の輝度について画素数の変化を詳細に把握しにく
いという欠点があった。そのため、従来では、上記ヒス
トグラムにおいて、物品の良否を判定する規準となるし
きい値を決めるに際して、的確な値をしきい値と設定す
るのが困難であった。また、上記物品の画像をA/D変
換器で変換して取り込んだ画像データを基に物品の傷や
しみの有無を判別しようとしても、互いの輝度の差が小
さいため、判別しにくいという欠点もあった。したがっ
て、従来の物品検査方法においては、物品の良否を的確
に判定しにくいという欠点が指摘されていたものであ
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】上述した事情に鑑み、本
発明は、検査対象となる物品を撮影手段で撮影し、この
撮影手段で撮影した物品の画像をもとに最小輝度から最
大輝度まで所定数の階調における輝度の違いに応じた画
素数で表現される第1ヒストグラムを作成し、上記第1
ヒストグラムにおける物品領域の最頻値または平均値と
なる輝度の前後における極小輝度及び極大輝度を求め
て、これら極小輝度から極大輝度となった範囲の輝度を
所定数の階調とする輝度の違いに応じた画素数で表現さ
れる第2ヒストグラムを作成し、上記第2ヒストグラム
における輝度の違いに応じた画素数の変化を基にしきい
値を求めて、このしきい値により物品の良否を判定する
ようにした物品検査方法を提供するものである。このよ
うな構成によれば、第1ヒストグラムにおける極小輝度
から極大輝度に至る範囲について第2ヒストグラムを作
成する。そのため、第2ヒストグラムにおいては、輝度
の違いに応じた画素数の変化を詳細かつ的確に把握する
ことができる。そのため、この第2ヒストグラムにおい
てしきい値を的確に設定することができる。したがっ
て、従来に比較して物品の良否を的確に判定することが
できる。
発明は、検査対象となる物品を撮影手段で撮影し、この
撮影手段で撮影した物品の画像をもとに最小輝度から最
大輝度まで所定数の階調における輝度の違いに応じた画
素数で表現される第1ヒストグラムを作成し、上記第1
ヒストグラムにおける物品領域の最頻値または平均値と
なる輝度の前後における極小輝度及び極大輝度を求め
て、これら極小輝度から極大輝度となった範囲の輝度を
所定数の階調とする輝度の違いに応じた画素数で表現さ
れる第2ヒストグラムを作成し、上記第2ヒストグラム
における輝度の違いに応じた画素数の変化を基にしきい
値を求めて、このしきい値により物品の良否を判定する
ようにした物品検査方法を提供するものである。このよ
うな構成によれば、第1ヒストグラムにおける極小輝度
から極大輝度に至る範囲について第2ヒストグラムを作
成する。そのため、第2ヒストグラムにおいては、輝度
の違いに応じた画素数の変化を詳細かつ的確に把握する
ことができる。そのため、この第2ヒストグラムにおい
てしきい値を的確に設定することができる。したがっ
て、従来に比較して物品の良否を的確に判定することが
できる。
【0005】
【発明の実施の形態】以下図示実施例について本発明を
説明すると、図1において、1は水晶板の品質検査を行
う物品検査装置である。この物品検査装置1による品質
検査の対象となる物品は、略正方形をした薄板状の水晶
板2である(図2参照)。この水晶板2は、縦横それぞ
れ10mm未満で厚さも1mm未満の薄板であり、想像
線で示した円の内方側を有効領域(検査対象領域)2’
としている。そして、本実施例の検査装置はこの水晶板
2における有効領域2’に付いて、傷があるか否か及び
表面にしみがあるか否かを検査するようにしている。な
お、検査対象となる水晶板2の形状は略矩形であっても
良く、水晶板2の寸法は例示であっても、上記寸法の水
晶板2に限定されるものではない。また、水晶板2の有
効領域2’の形状は楕円あるいは矩形であっても良い。
図1に示すように、水晶板2はインデックステーブルの
供給ポジションに供給される。インデックステーブルの
グリッパ3は供給された水晶板2を把持して所定の角度
づつ回転し、各ポジションごとに所定の処理を行う。供
給ポジションに供給された水晶板2はグリッパ3により
把持され、所定のポジションで位置補正などの所定の処
理がなされた後、順次検査位置Aに供給されて水平に支
持されるようになっている。検査位置Aにおいて、グリ
ッパ3は、先ず水晶板2をその表面が上方に位置するよ
うに水平に支持するようにしてあり、この状態で物品検
査装置1によって水晶板2の表面の検査を行う。その
後、次の位置にグリッパ3が移動して水晶板2を反転さ
せた後、さらに検査位置Bにおいて裏面が上方となるよ
うに水晶板2を水平に支持した状態で、物品検査装置1
によって水晶板2の裏面の検査を行うようにしている。
上記検査位置A、Bにおいて、水晶板2の表面及び裏面
について物品検査装置1による品質検査が終了したら、
グリッパ3は検査終了後の水晶板2を検査位置Bから次
の位置に移動し、所定の処理を行った後で排出ポジショ
ンで離すようになっている。グリッパ3から離された水
晶板2は別体のロボットハンドによって次の工程へ搬送
される。その間にも新たな水晶板2がグリッパ3によっ
て検査位置A、Bに順次供給されるようになっている。
説明すると、図1において、1は水晶板の品質検査を行
う物品検査装置である。この物品検査装置1による品質
検査の対象となる物品は、略正方形をした薄板状の水晶
板2である(図2参照)。この水晶板2は、縦横それぞ
れ10mm未満で厚さも1mm未満の薄板であり、想像
線で示した円の内方側を有効領域(検査対象領域)2’
としている。そして、本実施例の検査装置はこの水晶板
2における有効領域2’に付いて、傷があるか否か及び
表面にしみがあるか否かを検査するようにしている。な
お、検査対象となる水晶板2の形状は略矩形であっても
良く、水晶板2の寸法は例示であっても、上記寸法の水
晶板2に限定されるものではない。また、水晶板2の有
効領域2’の形状は楕円あるいは矩形であっても良い。
図1に示すように、水晶板2はインデックステーブルの
供給ポジションに供給される。インデックステーブルの
グリッパ3は供給された水晶板2を把持して所定の角度
づつ回転し、各ポジションごとに所定の処理を行う。供
給ポジションに供給された水晶板2はグリッパ3により
把持され、所定のポジションで位置補正などの所定の処
理がなされた後、順次検査位置Aに供給されて水平に支
持されるようになっている。検査位置Aにおいて、グリ
ッパ3は、先ず水晶板2をその表面が上方に位置するよ
うに水平に支持するようにしてあり、この状態で物品検
査装置1によって水晶板2の表面の検査を行う。その
後、次の位置にグリッパ3が移動して水晶板2を反転さ
せた後、さらに検査位置Bにおいて裏面が上方となるよ
うに水晶板2を水平に支持した状態で、物品検査装置1
によって水晶板2の裏面の検査を行うようにしている。
上記検査位置A、Bにおいて、水晶板2の表面及び裏面
について物品検査装置1による品質検査が終了したら、
グリッパ3は検査終了後の水晶板2を検査位置Bから次
の位置に移動し、所定の処理を行った後で排出ポジショ
ンで離すようになっている。グリッパ3から離された水
晶板2は別体のロボットハンドによって次の工程へ搬送
される。その間にも新たな水晶板2がグリッパ3によっ
て検査位置A、Bに順次供給されるようになっている。
【0006】本実施例の物品検査装置1は、検査位置A
の上方に撮影手段としてのCCDカメラ4を備えてい
る。このCCDカメラ4には光ファイバを介して光源5
を接続してあり、この光源5から光ファイバと上記CC
Dカメラ4を介して上記検査位置Aに供給された水晶板
2に向けて同軸落射照明により光を照射するようにして
いる。検査位置Aの水晶板2に光が照射されると、水晶
板2によって反射された反射光がCCDカメラ4によっ
て撮影されるようになっている。物品検査装置1は判定
手段としての処理装置6を備えている。処理装置6とし
ては、FAパソコンやパソコンなどを使用できるが、本
実施例ではパソコンを使用している。上記CCDカメラ
4によって撮影された画像は、処理装置6のA/D変換
器6Aによってアナログ信号をデジタル信号に変換され
て取り込み部6Bに取り込まれるようになっている。こ
の取り込み部6Bに取り込まれた画像は、画像処理部6
Cに読み込まれる。画像処理部6Cは、読み込んだ画像
データに基づいて縦軸を画素数とし、横軸を0から25
5の256階調の輝度(明るさ)として表現した第1ヒ
ストグラムを作成するようにしている(図3参照)。こ
の時、本実施例では、上記CCDカメラ4によって撮影
された画像を取り込むのに際して、輝度に関するコント
ラストとブライトネスのパラメータを0.5:0.5の
設定で行うようにしている。
の上方に撮影手段としてのCCDカメラ4を備えてい
る。このCCDカメラ4には光ファイバを介して光源5
を接続してあり、この光源5から光ファイバと上記CC
Dカメラ4を介して上記検査位置Aに供給された水晶板
2に向けて同軸落射照明により光を照射するようにして
いる。検査位置Aの水晶板2に光が照射されると、水晶
板2によって反射された反射光がCCDカメラ4によっ
て撮影されるようになっている。物品検査装置1は判定
手段としての処理装置6を備えている。処理装置6とし
ては、FAパソコンやパソコンなどを使用できるが、本
実施例ではパソコンを使用している。上記CCDカメラ
4によって撮影された画像は、処理装置6のA/D変換
器6Aによってアナログ信号をデジタル信号に変換され
て取り込み部6Bに取り込まれるようになっている。こ
の取り込み部6Bに取り込まれた画像は、画像処理部6
Cに読み込まれる。画像処理部6Cは、読み込んだ画像
データに基づいて縦軸を画素数とし、横軸を0から25
5の256階調の輝度(明るさ)として表現した第1ヒ
ストグラムを作成するようにしている(図3参照)。こ
の時、本実施例では、上記CCDカメラ4によって撮影
された画像を取り込むのに際して、輝度に関するコント
ラストとブライトネスのパラメータを0.5:0.5の
設定で行うようにしている。
【0007】ここで、上述したように、検査対象となる
物品は半透明の水晶板2である。そのため、水晶板2の
表面及び裏面はほぼ均一な平坦面となっている。したが
って、図3に示すように、先ず水晶板2の周囲となる背
景部分について輝度38前後に画素数のピークが見られ
るとともに輝度112で水晶板2について最頻値が見ら
れるようになっている。判定手段としての処理装置6
は、しきい値設定部6Dを備えており、後に詳述するよ
うに、このしきい値設定部6Dは、例えば図5に示した
ヒストグラムにおける所要箇所の輝度をしきい値M1お
よびM2として設定するようにしている。輝度が最頻値
より小さい側(左方側)となるしきい値M1は、水晶板
2の表面に傷があるか否かの判定の基となるしきい値と
している。他方、輝度が最頻値より大きい側(右方側)
のしきい値M2は、水晶板2の表面にしみがあるか否か
の判定の基となるしきい値としている。なお、しきい値
設定部6Dは、図3に示す第1ヒストグラムが得られた
際に、上記最頻値Maxが得られた画素数のブロックを
検査対象となる水晶板2の領域であると判断して、上記
しきい値の設定を行うようにしている。
物品は半透明の水晶板2である。そのため、水晶板2の
表面及び裏面はほぼ均一な平坦面となっている。したが
って、図3に示すように、先ず水晶板2の周囲となる背
景部分について輝度38前後に画素数のピークが見られ
るとともに輝度112で水晶板2について最頻値が見ら
れるようになっている。判定手段としての処理装置6
は、しきい値設定部6Dを備えており、後に詳述するよ
うに、このしきい値設定部6Dは、例えば図5に示した
ヒストグラムにおける所要箇所の輝度をしきい値M1お
よびM2として設定するようにしている。輝度が最頻値
より小さい側(左方側)となるしきい値M1は、水晶板
2の表面に傷があるか否かの判定の基となるしきい値と
している。他方、輝度が最頻値より大きい側(右方側)
のしきい値M2は、水晶板2の表面にしみがあるか否か
の判定の基となるしきい値としている。なお、しきい値
設定部6Dは、図3に示す第1ヒストグラムが得られた
際に、上記最頻値Maxが得られた画素数のブロックを
検査対象となる水晶板2の領域であると判断して、上記
しきい値の設定を行うようにしている。
【0008】そして、図4に例示したように、水晶板2
が傷やしみのない良品の場合には、この図4の最も左方
側に示すように、最頻値Xの左右両側となる輝度(大き
い側及び小さい側の輝度)の分布が少なく表れるように
なっている。これに対して、水晶板2に傷がある不良品
の場合には、図4の右方側に示すように最頻値Yに隣接
する左方側(小さい側)の輝度の分布が多く表れるよう
になっている。また、水晶板2にしみがある不良品の場
合には、この図4の中央側に示すように最頻値Zに隣接
する右方側(大きい側)の輝度の分布が多く表れるよう
になっている。ところで、この図4に示したヒストグラ
ムにおいては、輝度の違いによる画素数の変化がわかり
にくくなっている。そこで本実施例では、後述するよう
に、第1ヒストグラムを作成した後に再度CCDカメラ
に4によって水晶板2を撮影して、再度取り込み部6B
に取り込んだ画像から図5に示した第2ヒストグラムを
作成した後、その第2ヒストグラムにおける最頻値の前
後となる所要の輝度を上記しきい値M1およびM2とし
て設定するようにしている。また、処理装置6は判定部
6Eを備えており、後述するように、再度水晶板2をC
CDカメラで撮影して取り込んだ画像を基にして判定部
6Eは、次のようにして水晶板2の良否を判定するよう
になっている。すなわち、判定部6Eは、先ず検査対象
領域(図2の有効領域2’)におけるしきい値M1より
も輝度の小さい画素の総画素数(総面積に相当する)を
求める。また、それと同時に、しきい値M1よりも輝度
が小さいもので一塊にまとまった箇所の画素数も求め
る。そして、そのようにして求めた画素数がそれぞれ予
め設定した所定の画素数よりもどちらか一方でも多い場
合には、その検査対象となった水晶板2の表面に傷があ
り不良品であると判定するようにしている。それに対し
て、その求めた画素数がそれぞれ予め設定した所定の画
素数よりもどちらも少ない場合には、判定部6Eは検査
対象となった水晶板2には傷がなく、良品である判定す
るようにしている。
が傷やしみのない良品の場合には、この図4の最も左方
側に示すように、最頻値Xの左右両側となる輝度(大き
い側及び小さい側の輝度)の分布が少なく表れるように
なっている。これに対して、水晶板2に傷がある不良品
の場合には、図4の右方側に示すように最頻値Yに隣接
する左方側(小さい側)の輝度の分布が多く表れるよう
になっている。また、水晶板2にしみがある不良品の場
合には、この図4の中央側に示すように最頻値Zに隣接
する右方側(大きい側)の輝度の分布が多く表れるよう
になっている。ところで、この図4に示したヒストグラ
ムにおいては、輝度の違いによる画素数の変化がわかり
にくくなっている。そこで本実施例では、後述するよう
に、第1ヒストグラムを作成した後に再度CCDカメラ
に4によって水晶板2を撮影して、再度取り込み部6B
に取り込んだ画像から図5に示した第2ヒストグラムを
作成した後、その第2ヒストグラムにおける最頻値の前
後となる所要の輝度を上記しきい値M1およびM2とし
て設定するようにしている。また、処理装置6は判定部
6Eを備えており、後述するように、再度水晶板2をC
CDカメラで撮影して取り込んだ画像を基にして判定部
6Eは、次のようにして水晶板2の良否を判定するよう
になっている。すなわち、判定部6Eは、先ず検査対象
領域(図2の有効領域2’)におけるしきい値M1より
も輝度の小さい画素の総画素数(総面積に相当する)を
求める。また、それと同時に、しきい値M1よりも輝度
が小さいもので一塊にまとまった箇所の画素数も求め
る。そして、そのようにして求めた画素数がそれぞれ予
め設定した所定の画素数よりもどちらか一方でも多い場
合には、その検査対象となった水晶板2の表面に傷があ
り不良品であると判定するようにしている。それに対し
て、その求めた画素数がそれぞれ予め設定した所定の画
素数よりもどちらも少ない場合には、判定部6Eは検査
対象となった水晶板2には傷がなく、良品である判定す
るようにしている。
【0009】また、判定部6Eは、検査対象領域(図2
の有効領域2’)について、もう一方のしきい値M2よ
りも輝度の大きい画素の総画素数を求める。またそれと
同時に、しきい値M2よりも輝度が大きいもので一塊に
まとまった箇所の画素数も求める。そして、そのように
して求めた画素数がそれぞれ予め設定した所定の画素数
よりもどちらか一方でも多い場合には、検査対象となる
水晶板2の表面にしみがあり不良品であると判定するよ
うにしている。これに対して、検査対象領域におけるそ
の求めた画素数が、それぞれ予め設定した所定画素数よ
りもどちらも少ない場合には、判定部6Eは検査対象と
なった水晶板2にはしみがなく良品であると判定するよ
うになっている。さらに、処理装置6は、表示部6Fを
備えており、上記判定部6Eによる判定結果は、この表
示部6Fに表示されるようになっている。
の有効領域2’)について、もう一方のしきい値M2よ
りも輝度の大きい画素の総画素数を求める。またそれと
同時に、しきい値M2よりも輝度が大きいもので一塊に
まとまった箇所の画素数も求める。そして、そのように
して求めた画素数がそれぞれ予め設定した所定の画素数
よりもどちらか一方でも多い場合には、検査対象となる
水晶板2の表面にしみがあり不良品であると判定するよ
うにしている。これに対して、検査対象領域におけるそ
の求めた画素数が、それぞれ予め設定した所定画素数よ
りもどちらも少ない場合には、判定部6Eは検査対象と
なった水晶板2にはしみがなく良品であると判定するよ
うになっている。さらに、処理装置6は、表示部6Fを
備えており、上記判定部6Eによる判定結果は、この表
示部6Fに表示されるようになっている。
【0010】しかして、本実施例は、上記画像処理部6
Cによって上記第1ヒストグラムを作成した後に、輝度
に関するコントラストとブライトネスのパラメータの設
定を変更した後、再度、CCDカメラ4によって水晶板
2を撮影するようにしたものである。すなわち、画像処
理部6Cは、上記図3に示す第1ヒストグラムを作成し
た後に、この第1ヒストグラムにおける極小輝度Sの輝
度が0となり、かつ第1ヒストグラムの極大輝度Lの輝
度が255となるように、輝度に関するコントラストと
ブライトネスのパラメータの設定を変更する。例えば、
当初は輝度に関するコントラストとブライトネスのパラ
メータを0.5:0.5としていたものを、0.9:
0.7となるように変更する。そして、このように画像
処理部6Cが輝度に関するコントラストとブライトネス
のパラメータの設定を変更したら、その後、再度CCD
カメラ4で水晶板2を撮影する。このCCDカメラ4に
よって撮影された画像は、処理装置6のA/D変換器6
Aによってアナログ信号からデジタル信号に変換されて
取り込み部6Bに取り込まれる。そして、取り込み部6
Bに取り込まれた画像は、画像処理部6Cに読み込ま
れ、画像処理部6Cは、読み込んだ画像データに基づい
て0から255の256階調の輝度として表現した第2
ヒストグラムを作成するようにしている(図5参照)。
Cによって上記第1ヒストグラムを作成した後に、輝度
に関するコントラストとブライトネスのパラメータの設
定を変更した後、再度、CCDカメラ4によって水晶板
2を撮影するようにしたものである。すなわち、画像処
理部6Cは、上記図3に示す第1ヒストグラムを作成し
た後に、この第1ヒストグラムにおける極小輝度Sの輝
度が0となり、かつ第1ヒストグラムの極大輝度Lの輝
度が255となるように、輝度に関するコントラストと
ブライトネスのパラメータの設定を変更する。例えば、
当初は輝度に関するコントラストとブライトネスのパラ
メータを0.5:0.5としていたものを、0.9:
0.7となるように変更する。そして、このように画像
処理部6Cが輝度に関するコントラストとブライトネス
のパラメータの設定を変更したら、その後、再度CCD
カメラ4で水晶板2を撮影する。このCCDカメラ4に
よって撮影された画像は、処理装置6のA/D変換器6
Aによってアナログ信号からデジタル信号に変換されて
取り込み部6Bに取り込まれる。そして、取り込み部6
Bに取り込まれた画像は、画像処理部6Cに読み込ま
れ、画像処理部6Cは、読み込んだ画像データに基づい
て0から255の256階調の輝度として表現した第2
ヒストグラムを作成するようにしている(図5参照)。
【0011】上述したように、CCDカメラ4による水
晶板2の再度の撮影前に、画像処理部6Cは輝度に関す
るコントラストとブライトネスのパラメータの設定を変
更してある。そのため、この図5に示した第2ヒストグ
ラムにおいては、上記図3の第1ヒストグラムにおける
最頻値Maxの前後の極小輝度Sから極大輝度Lまでの
範囲の画素数の変化をより詳細に表示することができ
る。つまり、この図5に示した第2ヒストグラムによれ
ば、最頻値Maxの前後の極小輝度Sから極大輝度Lま
での画素数の変化をより詳細に表示することができる。
なお、上記第1ヒストグラムと第2ヒストグラムに対応
する画像イメージで比較すると図6と図7のとおりであ
る。つまり、第1ヒストグラムに対応する図6の画像イ
メージを基に水晶板2の良否を判定する場合と、第2ヒ
ストグラムに対応する図7の画像イメージを基に水晶板
2の良否を判定する場合とでは、図7を基に良否を判定
した方が的確に行うことができることは明らかである。
そして、本実施例では、上述のようにして画像処理部6
Cが第2ヒストグラムを作成したら、上記しきい値設定
部6Dは第の第2ヒストグラムをもとにしきい値M1、
M2を設定する。この後、判定部6Eは画像取り込み部
6Bに取り込んだ画像に対して、そのしきい値M1、M
2をもとに画素数の計算を行って水晶板2に傷があるか
否かを判定するとともに、水晶板2にしみがあるか否か
を判定するようにしている。この判定部6Eによる判定
結果は6Fに表示される。
晶板2の再度の撮影前に、画像処理部6Cは輝度に関す
るコントラストとブライトネスのパラメータの設定を変
更してある。そのため、この図5に示した第2ヒストグ
ラムにおいては、上記図3の第1ヒストグラムにおける
最頻値Maxの前後の極小輝度Sから極大輝度Lまでの
範囲の画素数の変化をより詳細に表示することができ
る。つまり、この図5に示した第2ヒストグラムによれ
ば、最頻値Maxの前後の極小輝度Sから極大輝度Lま
での画素数の変化をより詳細に表示することができる。
なお、上記第1ヒストグラムと第2ヒストグラムに対応
する画像イメージで比較すると図6と図7のとおりであ
る。つまり、第1ヒストグラムに対応する図6の画像イ
メージを基に水晶板2の良否を判定する場合と、第2ヒ
ストグラムに対応する図7の画像イメージを基に水晶板
2の良否を判定する場合とでは、図7を基に良否を判定
した方が的確に行うことができることは明らかである。
そして、本実施例では、上述のようにして画像処理部6
Cが第2ヒストグラムを作成したら、上記しきい値設定
部6Dは第の第2ヒストグラムをもとにしきい値M1、
M2を設定する。この後、判定部6Eは画像取り込み部
6Bに取り込んだ画像に対して、そのしきい値M1、M
2をもとに画素数の計算を行って水晶板2に傷があるか
否かを判定するとともに、水晶板2にしみがあるか否か
を判定するようにしている。この判定部6Eによる判定
結果は6Fに表示される。
【0012】このように、本実施例は、最初に水晶板2
をCCDカメラ4で撮影した後に、輝度に関するコント
ラストとブライトネスのパラメータの設定を変更するよ
うにしてあり、その後にCCDカメラ4によって水晶板
2を再度撮影して画像を取り込み、取り込んだ画像にお
ける第2ヒストグラムを作成してしきい値を設定すると
ともに、取り込んだ画像を基に水晶板3の良否を判定す
るようにしている。図3の第1ヒストグラムと図5の第
2ヒストグラムを比較すれば理解できるように、第2ヒ
ストグラムによれば、最頻値Maxの前後の極小輝度S
から極大輝度Lにわたる画素数の変動をより詳細に表現
することができる。そのため、上記しきい値M1、M2
の設定を的確な輝度に設定することができる。また、図
3に示した第1のヒストグラムに対応する図6の画像イ
メージと図5の第2ヒストグラムに対応する図7の画像
イメージを比較すれば明らかなように、再度取り込んだ
画像に対して、判定部6Eによる画素数のカウントをよ
り的確に行うことができる。したがって、従来に比較し
て水晶板2の良否を的確に判定することが可能となる。
をCCDカメラ4で撮影した後に、輝度に関するコント
ラストとブライトネスのパラメータの設定を変更するよ
うにしてあり、その後にCCDカメラ4によって水晶板
2を再度撮影して画像を取り込み、取り込んだ画像にお
ける第2ヒストグラムを作成してしきい値を設定すると
ともに、取り込んだ画像を基に水晶板3の良否を判定す
るようにしている。図3の第1ヒストグラムと図5の第
2ヒストグラムを比較すれば理解できるように、第2ヒ
ストグラムによれば、最頻値Maxの前後の極小輝度S
から極大輝度Lにわたる画素数の変動をより詳細に表現
することができる。そのため、上記しきい値M1、M2
の設定を的確な輝度に設定することができる。また、図
3に示した第1のヒストグラムに対応する図6の画像イ
メージと図5の第2ヒストグラムに対応する図7の画像
イメージを比較すれば明らかなように、再度取り込んだ
画像に対して、判定部6Eによる画素数のカウントをよ
り的確に行うことができる。したがって、従来に比較し
て水晶板2の良否を的確に判定することが可能となる。
【0013】また、上記実施例は、CCDカメラ4で水
晶板2を撮影した際に、水晶板2だけでなくその周囲の
背景部分も撮影されることを前提として上述した処理を
行っているが、つぎのような処理を行っても良い。すな
わち、水晶板2の面積は予め定められているので、CC
Dカメラ4によって水晶板2を撮影する際に、その水晶
板2だけが撮影されて背景部分が撮影されないようにし
ても良い。このようにして、CCDカメラ4で撮影した
水晶板2の画像データを基に図3に対応する第1ヒスト
グラムを作成すれば、図3における背景部分に相当する
部分は表示されないで最頻値Maxとその前後のブロッ
クの画素数の変化だけが表示された第1ヒストグラムを
得ることができる。このような第1ヒストグラムを得た
ら、その後は上述した実施例と同様に第2ヒストグラム
を作成して上述した実施例と同様の処理を行えばよい。
このような実施例であっても上記実施例と同様の作用効
果を得ることができる。
晶板2を撮影した際に、水晶板2だけでなくその周囲の
背景部分も撮影されることを前提として上述した処理を
行っているが、つぎのような処理を行っても良い。すな
わち、水晶板2の面積は予め定められているので、CC
Dカメラ4によって水晶板2を撮影する際に、その水晶
板2だけが撮影されて背景部分が撮影されないようにし
ても良い。このようにして、CCDカメラ4で撮影した
水晶板2の画像データを基に図3に対応する第1ヒスト
グラムを作成すれば、図3における背景部分に相当する
部分は表示されないで最頻値Maxとその前後のブロッ
クの画素数の変化だけが表示された第1ヒストグラムを
得ることができる。このような第1ヒストグラムを得た
ら、その後は上述した実施例と同様に第2ヒストグラム
を作成して上述した実施例と同様の処理を行えばよい。
このような実施例であっても上記実施例と同様の作用効
果を得ることができる。
【0014】さらに、次のような処理を行っても良い。
すなわち、CCDカメラ4で水晶板2を撮影した際に、
水晶板2の画像データを基に水晶板2における有効領域
2’に外接する正方形を想定し、その想定した正方形の
内部領域だけのヒストグラムを作成しても良い。このよ
うにすれば、図3における背景部分に相当する部分は表
示されないで最頻値Maxとその前後のブロックの画素
数の変化だけが表示された第1ヒストグラムを得ること
ができる。このような第1ヒストグラムを得たら、その
後は上述した第1実施例と同様に第2ヒストグラムを作
成して上述した実施例と同様の処理を行えばよい。この
ような実施例であっても上記実施例と同様の作用効果を
得ることができる。また、上記実施例においては、上記
図3の第1ヒストグラムにおける最頻値Maxのある画
素数のブロックを水晶板2の領域であるとして、上記最
頻値Maxをもとに上記第2ヒストグラムを作成してい
る。しかしながら、上記最頻値Maxの代わりに水晶板
2の領域である輝度の平均値を用いて、上述した処理を
行ってもよい。なお、上記第2ヒストグラムを作成し
て、その第2ヒストグラム上でしきい値M1、M2を設
定した後に、この第2ヒストグラム上において、上記し
きい値M1、M2を超えた不良領域となる輝度の画素数
をカウントすることによって水晶板2の良否を判定する
ようにしても良い。つまり、しきい値M1、M2の設定
および画素数のカウントと良否の判定を第2ヒストグラ
ムをもとに行なっても良い。
すなわち、CCDカメラ4で水晶板2を撮影した際に、
水晶板2の画像データを基に水晶板2における有効領域
2’に外接する正方形を想定し、その想定した正方形の
内部領域だけのヒストグラムを作成しても良い。このよ
うにすれば、図3における背景部分に相当する部分は表
示されないで最頻値Maxとその前後のブロックの画素
数の変化だけが表示された第1ヒストグラムを得ること
ができる。このような第1ヒストグラムを得たら、その
後は上述した第1実施例と同様に第2ヒストグラムを作
成して上述した実施例と同様の処理を行えばよい。この
ような実施例であっても上記実施例と同様の作用効果を
得ることができる。また、上記実施例においては、上記
図3の第1ヒストグラムにおける最頻値Maxのある画
素数のブロックを水晶板2の領域であるとして、上記最
頻値Maxをもとに上記第2ヒストグラムを作成してい
る。しかしながら、上記最頻値Maxの代わりに水晶板
2の領域である輝度の平均値を用いて、上述した処理を
行ってもよい。なお、上記第2ヒストグラムを作成し
て、その第2ヒストグラム上でしきい値M1、M2を設
定した後に、この第2ヒストグラム上において、上記し
きい値M1、M2を超えた不良領域となる輝度の画素数
をカウントすることによって水晶板2の良否を判定する
ようにしても良い。つまり、しきい値M1、M2の設定
および画素数のカウントと良否の判定を第2ヒストグラ
ムをもとに行なっても良い。
【0015】--------(第2実施例) 上記第1実施例においては、画像処理部6Cによって輝
度に関するコントラストとブライトネスのパラメータの
設定を変更しなおしてから再度CCDカメラ4によって
水晶板2を撮影するようにしている。これに対して、処
理装置6内のA/D変換器6Aの前に上記CCDカメラ
4で水晶板2を撮影した画像をほぼそのまま保存するメ
モリを設ければ、CCDカメラ4での水晶板2の撮影は
1回だけでよい。すなわち、この場合には、最初にCC
Dカメラ4で撮影した水晶板2の画像データがメモリに
記憶されA/D変換器6Aによってデジタル信号に変換
されて取り込み部6Bに取り込まれ、水晶板2に関する
デジタル信号が記憶される。次に、画像処理部6Cは上
記取り込み部6Bから読み込んだ画像データをもとに、
上記図3に示した第1ヒストグラムを作成する。次に、
画像処理部6Cは、図3に示す第1ヒストグラムに極小
輝度Sの輝度が0となり第1ヒストグラムの極大輝度L
の輝度が255となるように、輝度に関するコントラス
トとブライトネスのパラメータの設定を変更する。この
後、メモリに記憶した画像データは再度A/D変換器6
Aによりアナログ信号からデジタル信号に変換されて取
り込み部6Bに取り込まれ、取り込み部6Bに取り込ま
れた画像データを画像処理部6Cが読み込み、画像処理
部6Cは、図5に示す第2ヒストグラムを作成する。
度に関するコントラストとブライトネスのパラメータの
設定を変更しなおしてから再度CCDカメラ4によって
水晶板2を撮影するようにしている。これに対して、処
理装置6内のA/D変換器6Aの前に上記CCDカメラ
4で水晶板2を撮影した画像をほぼそのまま保存するメ
モリを設ければ、CCDカメラ4での水晶板2の撮影は
1回だけでよい。すなわち、この場合には、最初にCC
Dカメラ4で撮影した水晶板2の画像データがメモリに
記憶されA/D変換器6Aによってデジタル信号に変換
されて取り込み部6Bに取り込まれ、水晶板2に関する
デジタル信号が記憶される。次に、画像処理部6Cは上
記取り込み部6Bから読み込んだ画像データをもとに、
上記図3に示した第1ヒストグラムを作成する。次に、
画像処理部6Cは、図3に示す第1ヒストグラムに極小
輝度Sの輝度が0となり第1ヒストグラムの極大輝度L
の輝度が255となるように、輝度に関するコントラス
トとブライトネスのパラメータの設定を変更する。この
後、メモリに記憶した画像データは再度A/D変換器6
Aによりアナログ信号からデジタル信号に変換されて取
り込み部6Bに取り込まれ、取り込み部6Bに取り込ま
れた画像データを画像処理部6Cが読み込み、画像処理
部6Cは、図5に示す第2ヒストグラムを作成する。
【0016】そして、この後は、上記第1実施例と同様
に、図5の第2ヒストグラムにおいてしきい値設定部6
Dがしいき値M1、M2の設定を行い、次に、取り込み
部6Bに取り込まれた画像データを基に上記しきい値M
1、M2で判定部6Eによって水晶板2に傷があるか否
か及びしみがあるか否かを判定するようにしている。こ
の判定部6Eによる判定結果は、表示部6Fに表示され
る。この第2実施例においては、A/D変換器6Aより
前に画像データを記憶するメモリを設けているので、C
CDカメラ4による水晶板2の撮影は1回行うだけでよ
い。このような第2実施例においても、上述した第1実
施例と同様に、水晶板2の良否を的確に判定することが
できる。そして、この第2実施例では水晶板2の撮影は
1回だけでよいので、上記第1実施例に比較して水晶板
2の良否判定に要する時間を短縮することができる。な
お、上記各実施例においては、第1ヒストグラムにおけ
る輝度の階調数と第2ヒストグラムにおける輝度の階調
数を同一にしていたが、第2ヒストグラムにおける輝度
の階調数を第1ヒストグラムにおける輝度の階調数と異
ならせても良い。要は、第2ヒストグラムを作成した際
に輝度の違いに応じた画素数の変化をより的確に把握で
きれば良く、すなわち第1ヒストグラムに比較して第2
ヒストグラムにおける1階調当りの輝度を小さくしても
よい。また、上記各実施例によれば、水晶板2の表面の
割れや欠け、コートずれなどの有無を検査することも可
能である。さらに、上記各実施例は本発明を水晶板2の
表面検査装置に用いた場合を説明したが、反射光の他に
透過光を用いて水晶板2の内部の傷や空洞の有無を検査
する検査に用いても良い。さらに、水晶板だけではな
く、ガラス、金属、鏡面体などの表面検査装置としても
本発明を用いることができる。
に、図5の第2ヒストグラムにおいてしきい値設定部6
Dがしいき値M1、M2の設定を行い、次に、取り込み
部6Bに取り込まれた画像データを基に上記しきい値M
1、M2で判定部6Eによって水晶板2に傷があるか否
か及びしみがあるか否かを判定するようにしている。こ
の判定部6Eによる判定結果は、表示部6Fに表示され
る。この第2実施例においては、A/D変換器6Aより
前に画像データを記憶するメモリを設けているので、C
CDカメラ4による水晶板2の撮影は1回行うだけでよ
い。このような第2実施例においても、上述した第1実
施例と同様に、水晶板2の良否を的確に判定することが
できる。そして、この第2実施例では水晶板2の撮影は
1回だけでよいので、上記第1実施例に比較して水晶板
2の良否判定に要する時間を短縮することができる。な
お、上記各実施例においては、第1ヒストグラムにおけ
る輝度の階調数と第2ヒストグラムにおける輝度の階調
数を同一にしていたが、第2ヒストグラムにおける輝度
の階調数を第1ヒストグラムにおける輝度の階調数と異
ならせても良い。要は、第2ヒストグラムを作成した際
に輝度の違いに応じた画素数の変化をより的確に把握で
きれば良く、すなわち第1ヒストグラムに比較して第2
ヒストグラムにおける1階調当りの輝度を小さくしても
よい。また、上記各実施例によれば、水晶板2の表面の
割れや欠け、コートずれなどの有無を検査することも可
能である。さらに、上記各実施例は本発明を水晶板2の
表面検査装置に用いた場合を説明したが、反射光の他に
透過光を用いて水晶板2の内部の傷や空洞の有無を検査
する検査に用いても良い。さらに、水晶板だけではな
く、ガラス、金属、鏡面体などの表面検査装置としても
本発明を用いることができる。
【0017】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、従来に
比較して物品の良否を的確に判定することができるとい
う効果が得られる。
比較して物品の良否を的確に判定することができるとい
う効果が得られる。
【図1】本発明の一実施例を示す概略の構成図。
【図2】水晶板を示す平面図。
【図3】図1に示した画像処理部6Cによって作成した
第1ヒストグラムを示す図。
第1ヒストグラムを示す図。
【図4】ヒストグラム上で表示される良品、不良品の区
別を示す図。
別を示す図。
【図5】第2ヒストグラムを示す図。
【図6】第1ヒストグラムに対応する水晶板2の画像イ
メージ。
メージ。
【図7】第2ヒストグラムに対応する水晶板2の画像イ
メージ。
メージ。
1…物品検査装置 2…水晶板(物品) 4…CCDカメラ(撮影手段) 5…光源 6…処理装置 6D…しきい値設定部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G051 AA90 AB02 CA04 CB01 DA08 EA11 EA16 EB01 EC02 EC03 5B057 AA01 BA02 DA03 DB02 DB09 DC23 DC36 5C082 AA01 AA11 AA27 BA16 BA35 CB05 MM01 MM10
Claims (4)
- 【請求項1】 検査対象となる物品を撮影手段で撮影
し、この撮影手段で撮影した物品の画像をもとに最小輝
度から最大輝度まで所定数の階調における輝度の違いに
応じた画素数で表現される第1ヒストグラムを作成し、 上記第1ヒストグラムにおける物品領域の最頻値または
平均値となる輝度の前後における極小輝度及び極大輝度
を求めて、 これら極小輝度から極大輝度となった範囲の輝度を所定
数の階調とする輝度の違いに応じた画素数で表現される
第2ヒストグラムを作成し、 上記第2ヒストグラムにおける輝度の違いに応じた画素
数の変化を基にしきい値を求めて、このしきい値により
物品の良否を判定することを特徴とする物品検査方法。 - 【請求項2】 上記第1ヒストグラムにおける極小輝度
および極大輝度を求めた後に、これら極小輝度から極大
輝度となった範囲の輝度を上記所定の階調の輝度の違い
として認識できるようにした後に、上記撮影手段によっ
て上記物品を再度撮影し、 この撮影手段で撮影した物品の画像をもとに輝度の違い
に応じた画素数で表現される上記第2ヒストグラムを作
成することを特徴とする請求項1に記載の物品検査方
法。 - 【請求項3】 上記第2ヒストグラムにおける輝度の違
いに応じた画素数の変化を基に特定の輝度をしきい値と
して設定し、このしきい値を超えた不良領域の輝度に応
じた画素数を求めて、該画素数を基に物品の良否を判定
することを特徴とする請求項1及び請求項2に記載の物
品検査方法。 - 【請求項4】 上記検査対象となる物品は、水晶板ある
いはガラス製品であることを特徴とする請求項1から請
求項3のそれぞれに記載の物品検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001121595A JP2002310940A (ja) | 2001-04-19 | 2001-04-19 | 物品検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001121595A JP2002310940A (ja) | 2001-04-19 | 2001-04-19 | 物品検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002310940A true JP2002310940A (ja) | 2002-10-23 |
Family
ID=18971434
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001121595A Pending JP2002310940A (ja) | 2001-04-19 | 2001-04-19 | 物品検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002310940A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011055772A1 (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-12 | 日本電気株式会社 | 画像目標識別装置、画像目標識別方法、画像目標識別プログラム |
JPWO2011074413A1 (ja) * | 2009-12-14 | 2013-04-25 | 日本電気株式会社 | 画像生成装置、画像生成方法、画像生成プログラム |
KR20160094784A (ko) * | 2015-02-02 | 2016-08-10 | 어경인 | 비전영상 기반 객체 검사 인증 방법 |
KR20160094783A (ko) * | 2015-02-02 | 2016-08-10 | 어경인 | 비전영상 기반 객체 검사 인증 시스템 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05126550A (ja) * | 1991-03-30 | 1993-05-21 | Mazda Motor Corp | 表面状態検査方法 |
JPH05300517A (ja) * | 1992-04-17 | 1993-11-12 | Toshiba Seiki Kk | 画像処理方法 |
JPH07113758A (ja) * | 1993-10-15 | 1995-05-02 | Toyo Commun Equip Co Ltd | 外観検査装置における2値化算出方式 |
JPH1156159A (ja) * | 1997-08-15 | 1999-03-02 | Hokkaido Prefecture | 鶏卵の検査方法および検査装置 |
JPH11183401A (ja) * | 1997-12-19 | 1999-07-09 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 物品の欠陥検査装置 |
-
2001
- 2001-04-19 JP JP2001121595A patent/JP2002310940A/ja active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05126550A (ja) * | 1991-03-30 | 1993-05-21 | Mazda Motor Corp | 表面状態検査方法 |
JPH05300517A (ja) * | 1992-04-17 | 1993-11-12 | Toshiba Seiki Kk | 画像処理方法 |
JPH07113758A (ja) * | 1993-10-15 | 1995-05-02 | Toyo Commun Equip Co Ltd | 外観検査装置における2値化算出方式 |
JPH1156159A (ja) * | 1997-08-15 | 1999-03-02 | Hokkaido Prefecture | 鶏卵の検査方法および検査装置 |
JPH11183401A (ja) * | 1997-12-19 | 1999-07-09 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 物品の欠陥検査装置 |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011055772A1 (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-12 | 日本電気株式会社 | 画像目標識別装置、画像目標識別方法、画像目標識別プログラム |
JPWO2011055772A1 (ja) * | 2009-11-05 | 2013-03-28 | 日本電気株式会社 | 画像目標識別装置、画像目標識別方法、画像目標識別プログラム |
US8818035B2 (en) | 2009-11-05 | 2014-08-26 | Nec Corporation | Image target identification device, image target identification method, and image target identification program |
JP5742722B2 (ja) * | 2009-11-05 | 2015-07-01 | 日本電気株式会社 | 画像目標識別装置、画像目標識別方法、画像目標識別プログラム |
JPWO2011074413A1 (ja) * | 2009-12-14 | 2013-04-25 | 日本電気株式会社 | 画像生成装置、画像生成方法、画像生成プログラム |
JP5741447B2 (ja) * | 2009-12-14 | 2015-07-01 | 日本電気株式会社 | 画像生成装置、画像生成方法、画像生成プログラム |
KR20160094784A (ko) * | 2015-02-02 | 2016-08-10 | 어경인 | 비전영상 기반 객체 검사 인증 방법 |
KR20160094783A (ko) * | 2015-02-02 | 2016-08-10 | 어경인 | 비전영상 기반 객체 검사 인증 시스템 |
KR101695531B1 (ko) * | 2015-02-02 | 2017-01-11 | 어경인 | 비전영상 기반 객체 검사 인증 시스템 |
KR101716020B1 (ko) * | 2015-02-02 | 2017-03-14 | 어경인 | 비전영상 기반 객체 검사 인증 방법 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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