JP2002303923A - Optical device - Google Patents

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical device whose shake is accurately detected by a shake detection means by preventing disturbance vibration exerted on a shake detection means. SOLUTION: This optical device where an electric wiring is arranged in the vicinity of the shake detection means for detecting the shake of the device is provided with a supporting part for supporting the electric wiring so that the electric wiring may not come into contact with the shake detection means in a device main body.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は装置本体の振れを検
出する振れ検出手段を備えた光学装置であって、この振
れ検出手段により光学装置の振れを精度良く検出するた
めの技術に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical device provided with a shake detecting means for detecting a shake of an apparatus main body, and to a technique for accurately detecting the shake of the optical device by the shake detecting means. .

【０００２】[0002]

【従来の技術】現在のカメラは露出決定やピント合わせ
等の撮影にとって重要な作業はすべて自動化され、カメ
ラ操作に未熟な人でも撮影ミスを起こす可能性は非常に
少なくなっている。また、最近では、カメラに加わる手
振れを防ぐシステムの研究がされており、撮影ミスを誘
発する要因はほとんどなくなってきている。2. Description of the Related Art In a current camera, all operations important for photographing, such as exposure determination and focusing, are automated, and even a person unskilled in camera operation is very unlikely to cause a photographing error. In recent years, research has been conducted on a system for preventing camera shake that is applied to a camera, and the factor that causes a shooting error has almost disappeared.

【０００３】ここで、手振れを防ぐシステムについて簡
単に説明する。撮影時のカメラの手振れは周波数として
通常１Ｈｚ〜１０Ｈｚの振動であり、レリーズ時点にお
いてこのような手振れを起こしていても像振れのない撮
影を可能とするための基本的な考え方として、カメラの
振れを検出するとともに、この検出値に応じて撮影光学
系内に配置された補正レンズを変位させなければならな
い。つまり、カメラ振れが生じても像振れが生じない撮
影を行うためには、第１にカメラ振れを正確に検出し、
第２にカメラ振れによる撮影光軸の変化を補正すること
が必要となる。Here, a system for preventing camera shake will be briefly described. The camera shake at the time of shooting is generally a vibration of 1 Hz to 10 Hz as a frequency, and the camera shake as a basic concept for enabling shooting without image shake even when such camera shake occurs at the time of release. Must be detected, and the correction lens disposed in the photographing optical system must be displaced in accordance with the detected value. That is, in order to perform photographing in which image shake does not occur even when camera shake occurs, first, camera shake is accurately detected,
Second, it is necessary to correct a change in the photographing optical axis due to camera shake.

【０００４】カメラ振れの検出は、原理的にいえば、加
速度、角加速度、角速度、角変位等を検出するととも
に、補正レンズを変位させるために検出結果を適宜演算
処理する振れ検出部をカメラ本体に搭載することによっ
て行うことができる。そして、振れ検出部により検出さ
れた検出結果に基づいて撮影光軸の変化を補正する（補
正レンズを偏心させる）振れ補正装置を駆動させること
により像振れを抑制することができる。In principle, the camera shake is detected by detecting a shake, an acceleration, an angular acceleration, an angular velocity, an angular displacement, and the like, and a camera shake detection unit for appropriately processing the detection result to displace the correction lens. It can be performed by mounting it on a computer. Then, the image blur can be suppressed by driving a shake correction device that corrects a change in the photographing optical axis (decenters the correction lens) based on the detection result detected by the shake detection unit.

【０００５】図９（ａ）は振れ検出部と振れ補正装置を
備えたコンパクトカメラの外観斜視図である。このコン
パクトカメラは、光軸４１に対して矢印４２ｐ、４２ｙ
で示すカメラの縦振れおよび横振れに対する振れ補正を
行う。FIG. 9A is an external perspective view of a compact camera provided with a shake detecting section and a shake correction device. This compact camera has arrows 42p and 42y with respect to the optical axis 41.
The camera shake correction for the vertical shake and the horizontal shake of the camera is performed.

【０００６】４３はカメラ本体であり、４３ａは撮影時
に２段ストロークで押圧操作されるレリーズボタンであ
る。４３ｂは各種撮影モードの設定を変更するために回
転操作されるモードダイヤルであり、このモードダイヤ
ル４３ｂの回転軸中心部にはカメラの電源をオン／オフ
に切り換えるために押圧操作されるメインスイッチが配
置されている。４３ｃは閃光発光するリトラクタブルス
トロボであり、４３ｄは撮影者が被写体を観察するため
のファインダ窓である。Reference numeral 43 denotes a camera body, and reference numeral 43a denotes a release button which is pressed by a two-step stroke during photographing. Reference numeral 43b denotes a mode dial which is rotated to change the setting of various shooting modes. A main switch which is pressed to switch on / off the power of the camera is provided at the center of the rotation axis of the mode dial 43b. Are located. Reference numeral 43c denotes a retractable strobe that emits flash light, and reference numeral 43d denotes a finder window for a photographer to observe a subject.

【０００７】図９（ｂ）はカメラ本体４３の内部構造斜
視図である。４４はカメラボディである。５３はカメラ
振れ（撮影光軸の変化）を補正するための振れ補正装置
であり、補正レンズ５２を矢印５８ｐ、５８ｙ方向に自
在に駆動する。４５ｐ、４５ｙはそれぞれ、軸４６ｐ、
４６ｙ回りの振れ（角速度や角加速度等）を検出する角
速度計や角加速時計等の振れ検出部である。FIG. 9B is a perspective view of the internal structure of the camera body 43. 44 is a camera body. Reference numeral 53 denotes a shake correction device for correcting camera shake (change in the optical axis of photographing), and drives the correction lens 52 freely in directions of arrows 58p and 58y. 45p and 45y are axes 46p,
It is a shake detection unit such as an angular velocity meter or an angular acceleration clock that detects a shake (angular velocity, angular acceleration, etc.) around 46y.

【０００８】振れ検出部４５ｐ、４５ｙで検出された検
出情報はそれぞれ、演算部４７ｐ、４７ｙに出力され、
この演算部４７ｐ、４７ｙで振れ補正装置５３の駆動目
標値（振れ補正を行うために必要な補正レンズ５２の駆
動量）に変換された後、振れ補正装置５３に設けられた
コイルに出力される。これにより、振れ補正装置５３が
補正レンズ５２を矢印５８ｐ、５８ｙ方向に所定量駆動
して撮影光軸の変化を補正することにより振れ補正を行
う。The detection information detected by the shake detecting units 45p and 45y is output to arithmetic units 47p and 47y, respectively.
After being converted into drive target values of the shake correction device 53 (driving amounts of the correction lens 52 necessary for performing shake correction) by the calculation units 47p and 47y, the converted values are output to a coil provided in the shake correction device 53. . As a result, the shake correction device 53 performs the shake correction by driving the correction lens 52 in the directions of the arrows 58p and 58y by a predetermined amount to correct the change in the photographing optical axis.

【０００９】図１０は演算部４７ｐ（４７ｙ）のブロッ
ク図である。ここで、演算部４７ｐ、４７ｙは同じ構成
であるため、演算部４７ｐのブロック図だけを示す。FIG. 10 is a block diagram of the operation unit 47p (47y). Here, since the operation units 47p and 47y have the same configuration, only a block diagram of the operation unit 47p is shown.

【００１０】演算部４７ｐは、ＤＣカットフィルタ４８
ｐ、ローパスフィルタ４９ｐ、アナログ−デジタル（Ａ
／Ｄ）変換回路４１０ｐ、カメラマイクロコンピュータ
（カメラマイコン）４１１および駆動回路４１９ｐで構
成されている。カメラマイコン４１１は第１記憶回路４
１２ｐ、第１差動回路４１３ｐ、ＤＣカットフィルタ４
１４ｐ、積分回路４１５ｐ、第２記憶回路４１６ｐ、第
２差動回路４１７ｐおよびＰＷＭデューティー変換回路
４１８ｐで構成されている。The operation unit 47p includes a DC cut filter 48
p, low-pass filter 49p, analog-digital (A
/ D) a conversion circuit 410p, a camera microcomputer (camera microcomputer) 411, and a drive circuit 419p. The camera microcomputer 411 includes the first storage circuit 4
12p, first differential circuit 413p, DC cut filter 4
14p, an integration circuit 415p, a second storage circuit 416p, a second differential circuit 417p, and a PWM duty conversion circuit 418p.

【００１１】ここで、振れ検出部４５ｐ（４５ｙ）とし
て感度軸周りの回転角速度（振れ角速度）を検出する振
動ジャイロを用いており、この振動ジャイロはカメラ本
体４３の電源がオンすることにより駆動し、カメラに加
わる振れ角速度の検出を開始する。Here, a vibration gyro for detecting a rotational angular velocity (vibration angular velocity) around a sensitivity axis is used as the vibration detection section 45p (45y). The vibration gyro is driven by turning on the power supply of the camera body 43. Then, detection of the shake angular velocity applied to the camera is started.

【００１２】振れ検出部４５ｐの検出信号（振れ角速度
信号）は、アナログ回路で構成されるＤＣカットフィル
タ４８ｐに出力され、このＤＣカットフィルタ４８ｐで
振れ角速度信号に重畳しているＤＣバイアス成分がカッ
トされる（以下、ＤＣカットと称す）。このＤＣカット
フィルタ４８ｐは０．１Ｈｚ以下の周波数信号をカット
する周波数特性を有しており、カメラに加わる１〜１０
Ｈｚの手振れ周波数帯域には影響が及ばないようになっ
ている。The detection signal (shake angular velocity signal) of the shake detection section 45p is output to a DC cut filter 48p composed of an analog circuit, and the DC cut filter 48p cuts a DC bias component superimposed on the shake angular velocity signal. (Hereinafter referred to as DC cut). This DC cut filter 48p has a frequency characteristic of cutting a frequency signal of 0.1 Hz or less, and 1 to 10
It does not affect the camera shake frequency band of Hz.

【００１３】ここで、ＤＣカットフィルタ４８ｐを０．
１Ｈｚ以下の周波数信号をカットする特性にすると、Ｄ
Ｃカットフィルタ４８ｐに振れ検出部４５ｐからの信号
が入力されてから完全にＤＣカットされるまでには１０
秒近くかかってしまい、振れ検出部４５ｐから出力され
た振れ角度信号が劣化することとなる。そこで、カメラ
の電源がオンされてから例えば０．１秒まではＤＣカッ
トフィルタ４８ｐの時定数を小さく（例えば１０Ｈｚ以
下の周波数信号をカットする特性）しておくことで、
０．１秒くらいの短い時間でＤＣカットし、その後時定
数を大きく（例えば０．１Ｈｚ以下の周波数信号をカッ
トする特性）してＤＣカットを行うようにすることで、
ＤＣカットフィルタ４８ｐにより振れ角度信号が劣化し
ないようにしている。Here, the DC cut filter 48p is set to 0.
If the characteristic is to cut the frequency signal of 1 Hz or less, D
From the input of the signal from the shake detector 45p to the C-cut filter 48p to the complete DC cut, 10
It takes about seconds, and the shake angle signal output from the shake detection unit 45p is deteriorated. Therefore, by reducing the time constant of the DC cut filter 48p (for example, a characteristic of cutting a frequency signal of 10 Hz or less) by, for example, 0.1 second after the power of the camera is turned on,
By performing DC cut in a short time of about 0.1 second, and then increasing the time constant (for example, a characteristic of cutting a frequency signal of 0.1 Hz or less) to perform DC cut,
The DC cut filter 48p prevents the shake angle signal from deteriorating.

【００１４】ＤＣカットフィルタ４８ｐからの出力信号
は、アナログ回路で構成されるローパスフィルタ４９ｐ
によりＡ／Ｄ分解能に合わせて適宜増幅されるととも
に、振れ角速度信号に重畳する高周波数のノイズがカッ
トされる。これは振れ角速度信号をカメラマイコン４１
１に入力するときのＡ／Ｄ変換回路４１０ｐのサンプリ
ングが振れ角速度信号のノイズにより読み誤りが起きる
のを防止するためである。An output signal from the DC cut filter 48p is supplied to a low-pass filter 49p composed of an analog circuit.
As a result, while being appropriately amplified in accordance with the A / D resolution, high-frequency noise superimposed on the shake angular velocity signal is cut. This is because the shake angular velocity signal is transmitted to the camera microcomputer 41.
This is because the sampling of the A / D conversion circuit 410p at the time of input to 1 prevents a reading error from occurring due to the noise of the shake angular velocity signal.

【００１５】ローパスフィルタ４９ｐの出力信号は、Ａ
／Ｄ変換回路４１０ｐによりサンプリングされてカメラ
マイコン４１１に取り込まれる。上述したようにＤＣカ
ットフィルタ４８ｐによりブレ角速度信号に重畳してい
るＤＣバイアス成分はカットされるが、その後のローパ
スフィルタ４９ｐの増幅により再びＤＣバイアス成分が
振れ角速度信号に重畳することとなるため、カメラマイ
コン４１１内において再度ＤＣカットを行う必要があ
る。The output signal of the low-pass filter 49p is A
The signal is sampled by the / D conversion circuit 410p and taken into the camera microcomputer 411. As described above, the DC bias component superimposed on the shake angular velocity signal is cut by the DC cut filter 48p, but the DC bias component is superimposed on the shake angular velocity signal again by the subsequent amplification of the low-pass filter 49p. It is necessary to perform the DC cut again in the camera microcomputer 411.

【００１６】そこで、例えばカメラの電源をオンにして
から０．２秒後にサンプリングされた振れ角速度信号を
第１記憶回路４１２ｐに記憶するとともに、第１差動回
路４１３ｐで第１記憶回路４１２ｐに記憶された記憶値
（振れ角速度信号）とＡ／Ｄ変換回路４１０ｐによりサ
ンプリングされた振れ角速度信号との差を求めることに
よりＤＣカットを行う。ここで、カメラの電源をオンに
してから０．２秒後に第１記憶回路４１２ｐに記憶され
た振れ角速度信号の中にはＤＣバイアス成分ばかりでな
く実際の手振れによる成分も含まれており、上述した回
路動作ではおおざっぱなＤＣカットしかできない。この
ため、後段でデジタルフィルタで構成されたＤＣカット
フィルタ４１４ｐにより十分なＤＣカットを行ってい
る。Therefore, for example, the shake angular velocity signal sampled 0.2 seconds after the power of the camera is turned on is stored in the first storage circuit 412p, and stored in the first storage circuit 412p by the first differential circuit 413p. The DC cut is performed by calculating the difference between the stored value (vibration angular velocity signal) and the vibration angular velocity signal sampled by the A / D conversion circuit 410p. Here, the shake angular velocity signal stored in the first storage circuit 412p 0.2 seconds after the power of the camera is turned on includes not only a DC bias component but also a component due to actual camera shake. With the circuit operation described above, only a rough DC cut can be performed. For this reason, a sufficient DC cut is performed by a DC cut filter 414p formed of a digital filter in a subsequent stage.

【００１７】このＤＣカットフィルタ４１４ｐの時定数
もアナログ回路で構成されるＤＣカットフィルタ４８ｐ
と同様に変更可能になっており、カメラの電源をオンに
して０．２秒後から更に０．２秒費やして時定数を徐々
に大きくしている。具体的には、ＤＣカットフィルタ４
１４ｐはカメラ本体のメインスイッチオンから０．２秒
経過した時には１０Ｈｚ以下の周波数をカットする特性
であり、その後５０ｍｓｅｃ毎にＤＣカットフィルタ４
１４ｐでカットする周波数を５Ｈｚ、１Ｈｚ、０．５Ｈ
ｚ、０．２Ｈｚと下げている。The time constant of this DC cut filter 414p is also a DC cut filter 48p composed of an analog circuit.
The time constant can be gradually increased by spending another 0.2 seconds 0.2 seconds after the power of the camera is turned on. Specifically, the DC cut filter 4
14p is a characteristic that cuts a frequency of 10 Hz or less when 0.2 seconds elapses after the main switch of the camera body is turned on.
Frequency cut at 14p is 5Hz, 1Hz, 0.5H
z and 0.2 Hz.

【００１８】ここで、上記回路動作の間に撮影者がレリ
ーズボタン４３ａを半押し（ＳＷ１）して測光測距動作
を行った時には直ちに撮影を行う可能性があり、時間を
費やして時定数を変更することが好ましくない場合もあ
る。そこで、このような時には、撮影条件に応じて時定
数変更を途中で中止する。例えば、測光結果によりシャ
ッタースピードが１／６０となることが判明し、撮影焦
点距離が１５０ｍｍのときには振れ補正の精度はさほど
要求されないためにＤＣカットフィルタ４１４ｐにおけ
る回路動作は０．５ＨＺ以下の周波数をカットする特性
まで時定数を変更した時点で完了とする。つまり、シャ
ッタースピードと撮影焦点距離に基づいて時定数変更量
を制御することにより、時定数変更の時間を短縮できる
とともに、シャッターチャンスを優先することができ
る。また、より速いシャッタースピード或いはより短い
焦点距離の時には、ＤＣカットフィルタ４１４ｐの回路
動作は１Ｈｚ以下の周波数をカットする特性まで時定数
を変更した時点で完了とし、より遅いシャッタースピー
ド或いはより長い焦点距離の時には時定数が最後まで変
更完了するまで撮影を禁止する。Here, when the photographer half-presses the release button 43a (SW1) during the circuit operation to perform the photometric distance measuring operation, there is a possibility that the photographing is immediately performed. It may not be desirable to change it. Therefore, in such a case, the change of the time constant is stopped halfway according to the photographing conditions. For example, the photometry results show that the shutter speed is 1/60, and when the shooting focal length is 150 mm, the accuracy of shake correction is not so much required, so that the circuit operation in the DC cut filter 414p requires a frequency of 0.5 Hz or less. The process is completed when the time constant is changed up to the characteristic to be cut. That is, by controlling the time constant change amount based on the shutter speed and the photographing focal length, the time for changing the time constant can be reduced, and the photo opportunity can be prioritized. When the shutter speed is faster or the focal length is shorter, the circuit operation of the DC cut filter 414p is completed when the time constant is changed to the characteristic of cutting the frequency of 1 Hz or less, and the shutter speed is shorter or the focal length is longer. In the case of, shooting is prohibited until the time constant is completely changed.

【００１９】積分回路４１５ｐはレリーズボタン４３ａ
の半押し（ＳＷ１）に応じてＤＣカットフィルタ４１４
ｐからの出力信号の積分を開始し、振れ角速度信号を角
度信号に変換する。ただし、上述したようにＤＣカット
フィルタ４１４ｐの時定数変更が完了していないときに
は、時定数変更が完了するまで積分動作を行わない。The integration circuit 415p has a release button 43a.
DC cut filter 414 according to half-press (SW1) of
The integration of the output signal from p is started, and the shake angular velocity signal is converted into an angle signal. However, as described above, when the time constant change of the DC cut filter 414p is not completed, the integration operation is not performed until the time constant change is completed.

【００２０】なお、図１０では不図示であるが、積分回
路４１５ｐの積分により得られた角度信号は、レリーズ
時の焦点距離および被写体距離情報に基づいて適宜増幅
され、振れ補正装置５３が振れ角度に応じた適切な量で
駆動するように変換される。これは、ズーミングやフォ
ーカシングにより撮影光学系が光軸方向に移動する際、
振れ補正装置の駆動量に対して光軸偏心量が変わるため
これを補正する必要があるためである。Although not shown in FIG. 10, the angle signal obtained by the integration of the integrating circuit 415p is appropriately amplified based on the focal length and the subject distance information at the time of release, and the shake correction device 53 Is converted so as to be driven by an appropriate amount according to. This is because when the shooting optical system moves in the optical axis direction due to zooming and focusing,
This is because the amount of eccentricity of the optical axis changes with respect to the amount of drive of the shake correction device, and it is necessary to correct this.

【００２１】レリーズボタン４３ａの押し切り（ＳＷ
２）により振れ補正装置５３は振れ角度信号に応じて駆
動し始めるが、振れ補正装置５３の駆動が急激に始まら
ないように注意する必要がある。このため、カメラマイ
コン４１１内に第２記憶回路４１６ｐおよび第２差動回
路４１７ｐを設けている。Press and release the release button 43a (SW
According to 2), the shake correction device 53 starts to be driven according to the shake angle signal, but it is necessary to take care that the drive of the shake correction device 53 does not start suddenly. Therefore, a second storage circuit 416p and a second differential circuit 417p are provided in the camera microcomputer 411.

【００２２】第２記憶回路４１６ｐは、レリーズボタン
４３ａの押し切り（ＳＷ２）動作に同期して積分回路４
１５ｐの振れ角度信号を記憶する。第２差動回路４１７
ｐは積分回路４１５ｐの振れ角度信号と第２記憶回路４
１６ｐに記憶された振れ角度信号との差を求める。ＳＷ
２時における第２差動回路４１７ｐに入力された２つの
信号は等しく第２差動回路４１７ｐの振れ補正装置５３
の駆動目標値はゼロであるが、その後積分回路４１５ｐ
から第２差動回路４１７ｐに連続的に出力されることに
より駆動目標値が増加する。ここで、第２記憶回路４１
６ｐに記憶された振れ角度信号は、振れ補正装置５３の
駆動目標値を決定するための基準となる。これにより、
振れ補正装置５３が急激に駆動することがなくなる。The second storage circuit 416p stores the integration circuit 4 in synchronization with the release (SW2) operation of the release button 43a.
The 15p shake angle signal is stored. Second differential circuit 417
p is the shake angle signal of the integration circuit 415p and the second storage circuit 4
The difference from the shake angle signal stored in 16p is obtained. SW
At two o'clock, the two signals input to the second differential circuit 417p are equal, and the shake correction device 53 of the second differential circuit 417p is
Is zero, but thereafter the integration circuit 415p
Are output to the second differential circuit 417p continuously, thereby increasing the drive target value. Here, the second storage circuit 41
The shake angle signal stored in 6p serves as a reference for determining the drive target value of the shake correction device 53. This allows
The vibration correction device 53 does not suddenly drive.

【００２３】第２差動回路４１７ｐからの駆動目標値信
号は、ＰＷＭデューティ変換回路４１８ｐに入力され
る。振れ補正装置５３に設けられたコイルに、振れ角度
に対応した電圧又は電流を印可すれば、振れ補正装置５
３に設けられた補正レンズがこの振れ角度に対応して駆
動するが、振れ補正装置５３の駆動消費電力およびコイ
ルの駆動トランジスタの省電力化のためにはＰＷＭ駆動
が望ましい。ここで、ＰＷＭデューティ変換回路４１８
ｐは駆動目標値に応じてコイル駆動ディーティを変更し
ている。例えば、周波数が２０ＫＨｚのＰＷＭにおいて
第２差動回路４１７ｐの駆動目標値が２０４８のときに
はデューティゼロ、駆動目標値が４０９６のときにはデ
ューティ１００とし、この間を等分してデューティを駆
動目標値に応じて決定していく。なお、デューティの決
定は駆動目標値ばかりでなくカメラの撮影条件（温度や
カメラの姿勢、バッテリの状態）によって細かく制御し
て精度よい振れ補正が行われるようにする。The drive target value signal from the second differential circuit 417p is input to a PWM duty conversion circuit 418p. If a voltage or current corresponding to the shake angle is applied to the coil provided in the shake correction device 53, the shake correction device 5
The correction lens provided in 3 is driven in accordance with the shake angle. However, PWM driving is desirable in order to reduce the drive power consumption of the shake correction device 53 and the power consumption of the coil drive transistor. Here, the PWM duty conversion circuit 418
p changes the coil drive duty according to the drive target value. For example, when the drive target value of the second differential circuit 417p is 2048 and the drive target value is 4096, the duty is 100 when the drive target value of the second differential circuit 417p is 2048 Hz. I will decide. The duty is determined not only by the drive target value but also by the camera shooting conditions (temperature, camera attitude, battery state) so that accurate shake correction is performed.

【００２４】ＰＷＭデューティ変換回路４１８ｐの出力
信号はＰＷＭドライバ等の公知の駆動回路４１９ｐに入
力され、駆動回路４１９ｐの出力を振れ補正装置５３の
コイルに印可して振れ補正を行う。駆動回路４１９ｐは
ＳＷ２に同期してオンし、フィルムへの露光が終了する
とオフされる。また、露光が終了してもレリーズボタン
４３ａが半押し（ＳＷ１）されている限り積分回路４１
５ｐは積分を継続しており、ＳＷ２で再び第２記憶回路
４１６ｐが新たな振れ角度信号を記憶する。The output signal of the PWM duty conversion circuit 418p is input to a known drive circuit 419p such as a PWM driver, and the output of the drive circuit 419p is applied to the coil of the shake correction device 53 to perform shake correction. The drive circuit 419p turns on in synchronization with SW2, and turns off when exposure to the film is completed. Even if the exposure is completed, the integration circuit 41 is kept pressed as long as the release button 43a is pressed halfway (SW1).
5p continues integration, and the second storage circuit 416p stores a new shake angle signal again at SW2.

【００２５】レリーズボタン４３ａの半押し（ＳＷ１）
を解除すると、積分回路４１５ｐはＤＣカットフィルタ
４１４ｐから出力された振れ角速度信号の積分を止め、
積分回路４１５ｐにおいて積分情報をリセットする（積
分してきた情報をすべてカラにする）。そして、カメラ
の電源をオフにすることで、振れ検出部４５ｐがオフと
なり振れ補正シーケンスは終了する。The release button 43a is half-pressed (SW1).
Is canceled, the integration circuit 415p stops integrating the shake angular velocity signal output from the DC cut filter 414p,
The integration information is reset in the integration circuit 415p (all the integrated information is cleared). When the power of the camera is turned off, the shake detection unit 45p is turned off, and the shake correction sequence ends.

【００２６】なお、積分回路４１５ｐの信号が所定値よ
り大きくなったときには、カメラのパンニングが行われ
たと判断して、ＤＣカットフィルタ４１４ｐの時定数を
変更する。例えば、ＤＣカットフィルタ４１４ｐが０．
２Ｈｚ以下の周波数をカットする特性であったものを１
Ｈｚ以下の周波数をカットする特性に変更し、所定時間
経過した後に時定数をもとに戻していく。このときの時
定数変更量も積分回路４１５ｐの出力の大きさにより制
御される。すなわち、積分回路４１５ｐの出力が第１の
閾値を超えたときにはＤＣカットフィルタ４１４ｐの特
性を０．５Ｈｚ以下の周波数をカットする特性にし、第
２の閾値を超えたときにはＤＣカットフィルタ４１４ｐ
の特性を１Ｈｚ以下の周波数をカットする特性にし、第
３の閾値を超えたときにはＤＣカットフィルタ４１４ｐ
の特性を５Ｈｚ以下の周波数をカットする特性にする。
また、積分回路４１５ｐの出力が非常に大きくなった時
には、積分回路４１５ｐにおける回路動作を一旦リセッ
トして演算上の飽和（オーバーフロー）を防止してい
る。When the signal of the integration circuit 415p becomes larger than a predetermined value, it is determined that the camera has been panned, and the time constant of the DC cut filter 414p is changed. For example, when the DC cut filter 414p is set to 0.
The characteristic that cuts the frequency of 2 Hz or less
The frequency is changed to a characteristic of cutting the frequency below Hz, and the time constant is restored after a predetermined time has elapsed. The time constant change amount at this time is also controlled by the magnitude of the output of the integration circuit 415p. That is, when the output of the integrating circuit 415p exceeds the first threshold, the characteristic of the DC cut filter 414p is changed to a characteristic for cutting a frequency of 0.5 Hz or less, and when the output exceeds the second threshold, the DC cut filter 414p
Is changed to a characteristic for cutting a frequency of 1 Hz or less, and when the frequency exceeds a third threshold value, the DC cut filter 414p
Is a characteristic for cutting a frequency of 5 Hz or less.
Further, when the output of the integrating circuit 415p becomes extremely large, the circuit operation of the integrating circuit 415p is reset once to prevent the saturation (overflow) in the calculation.

【００２７】図１０においてＤＣカットフィルタ４１４
ｐは、カメラの電源がオンされてから０．２秒後に作動
を開始する構成となっているがこれに限らず、レリーズ
ボタン４３ａの半押し（ＳＷ１）より作動を開始するこ
ともできる。この場合、ＤＣカットフィルタ４１４ｐの
時定数変更が完了した時から積分回路４１４ｐを作動さ
せる。In FIG. 10, the DC cut filter 414
p is configured to start the operation 0.2 seconds after the power of the camera is turned on, but is not limited to this, and the operation can be started by half-pressing (SW1) of the release button 43a. In this case, the integration circuit 414p is activated when the change of the time constant of the DC cut filter 414p is completed.

【００２８】また、積分回路４１５ｐはレリーズボタン
４３ａの半押し（ＳＷ１）により作動を開始する構成と
なっているが、レリーズボタン４３ａの押し切り（ＳＷ
２）のときに作動を開始するようにすることもできる。
この場合には、カメラマイコン４１１内に第２記憶回路
４１６ｐおよび第２差動回路４１７ｐを設ける必要はな
くなる。図１０では、演算部４７ｐ内にＤＣカットフィ
ルタ４８ｐおよびローパスフィルタ４９ｐを設けている
が、これらを振れ検出部４５ｐ内に設けることもでき
る。The operation of the integration circuit 415p is started by half-pressing the release button 43a (SW1).
The operation may be started at the time of 2).
In this case, it is not necessary to provide the second storage circuit 416p and the second differential circuit 417p in the camera microcomputer 411. In FIG. 10, the DC cut filter 48p and the low-pass filter 49p are provided in the calculation unit 47p, but they may be provided in the shake detection unit 45p.

【００２９】図１１（ａ）〜（ｃ）及び図１２は振れ補
正装置５３の説明図であり、図１１（ａ）は振れ補正装
置５３の正面図、図１１（ｂ）は振れ補正装置５３を図
１１（ａ）中矢印５１方向から見た側面図、図１１
（ｃ）は振れ補正装置５３の図１１（ａ）中Ａ−Ａ断面
図、図１２は振れ補正装置５３の斜視図である。FIGS. 11 (a) to 11 (c) and 12 are explanatory views of the shake correcting device 53. FIG. 11 (a) is a front view of the shake correcting device 53, and FIG. FIG. 11A is a side view of FIG.
11C is a cross-sectional view of the shake correction device 53 taken along the line AA in FIG. 11A, and FIG. 12 is a perspective view of the shake correction device 53.

【００３０】補正レンズ５２は、図１１（ｃ）に示すよ
うに３枚のレンズ５２ａ、５２ｂ、５２ｃで構成されて
いる。レンズ５２ａ、５２ｂは支持枠５３ｃに固定さ
れ、レンズ５２ｃは地板５４に固定されている。また、
支持枠５３ｃの外周には強磁性材料のヨーク５５が取り
付けられており、このヨーク５５の裏面（地板５４側）
にはネオジウム等の永久磁石５６ｐ、５６ｙが吸着固定
されている。The correction lens 52 is composed of three lenses 52a, 52b and 52c as shown in FIG. The lenses 52a and 52b are fixed to the support frame 53c, and the lens 52c is fixed to the main plate 54. Also,
A yoke 55 of a ferromagnetic material is attached to the outer periphery of the support frame 53c, and the back surface of the yoke 55 (the base plate 54 side).
, Permanent magnets 56p and 56y such as neodymium are fixed by suction.

【００３１】支持枠５３ｃから放射状に延びている３本
の支持軸５３ａは、地板５４の側壁５４ｂに形成された
長孔５４ａに係合しており、光軸方向（波線５７）にガ
タが生じないようになっている。また、長孔５４ａは地
板５４の周方向に延びているため、支持枠５３ｃは光軸
直交面内において自由に移動することができる（支持枠
５３ｃは矢印５８ｐ、５８ｙ、５８ｒ方向に移動するこ
とができる）。ただし、支持枠５３ｃに形成されたピン
５３ｂと地板５４に形成されたピン５４ｃには引張りコ
イルバネ５９が係合しているため、支持枠５３ｃの移動
を弾性的に規制している。The three support shafts 53a radially extending from the support frame 53c are engaged with long holes 54a formed in the side wall 54b of the base plate 54, and play is generated in the optical axis direction (wave line 57). Not to be. Further, since the elongated hole 54a extends in the circumferential direction of the main plate 54, the support frame 53c can move freely in a plane orthogonal to the optical axis (the support frame 53c moves in the directions of arrows 58p, 58y, 58r). Can be). However, since the tension coil spring 59 is engaged with the pin 53b formed on the support frame 53c and the pin 54c formed on the main plate 54, the movement of the support frame 53c is elastically restricted.

【００３２】地板５４には、支持枠５３ｃに設けられた
永久磁石５６ｐ、５６ｙと対向する位置にコイル５１０
ｐ、５１０ｙが取り付けられている。コイル５１０ｐに
電流を流すと支持枠５３ｃは矢印５８ｐ方向に移動し、
コイル５１０ｙに電流を流すと支持枠５３ｃは矢印５８
ｙ方向に移動する。The main plate 54 has a coil 510 at a position facing the permanent magnets 56p and 56y provided on the support frame 53c.
p, 510y are attached. When a current is applied to the coil 510p, the support frame 53c moves in the direction of the arrow 58p,
When a current is applied to the coil 510y, the support frame 53c is turned into an arrow 58.
Move in y direction.

【００３３】ここで、支持枠５３ｃの移動量は引張りコ
イルバネ５９のバネ力と、コイル５１０ｐ、５１０ｙお
よび永久磁石５６ｐ、５６ｙの関連で生じる推力との釣
り合いで決まる。したがって、コイル５１０ｐ、５１０
ｙに流す電流量を変化させることにより、支持枠５３ｃ
の移動量（補正レンズ５２の偏心量）を変えることがで
きる。Here, the amount of movement of the support frame 53c is determined by the balance between the spring force of the tension coil spring 59 and the thrust generated in relation to the coils 510p, 510y and the permanent magnets 56p, 56y. Therefore, the coils 510p, 510
By changing the amount of current flowing through the support frame 53c
(The amount of eccentricity of the correction lens 52) can be changed.

【００３４】[0034]

【発明が解決しようとする課題】最近のコンパクトカメ
ラは小型化が顕著に進んでおり、これに伴い撮影レンズ
を光軸方向に移動させるためのレンズ鏡筒は全長、直径
ともかなり小さくなってきている。このように小型化さ
れたカメラに、カメラ振れを防ぐシステムを搭載しよう
とすると、図１１（図１２）に示す振れ補正装置５３を
小型化にするか、或いは振れ補正装置５３のなかで空い
ているスペースにレンズ鏡筒内部に配置される他の部
材、例えばフォーカス駆動モータ等を配置することが望
まれている。In recent years, compact cameras have been remarkably reduced in size, and the lens barrel for moving the taking lens in the direction of the optical axis has become considerably smaller in both length and diameter. I have. If an attempt is made to mount a system for preventing camera shake in such a miniaturized camera, the size of the shake correction device 53 shown in FIG. 11 (FIG. 12) may be reduced, or the camera may become empty in the shake correction device 53. It is desired to dispose other members disposed inside the lens barrel, for example, a focus drive motor or the like in a space where the lens is located.

【００３５】一方、カメラの小型化を図るためには、振
れ検出部４５ｐ、４５ｙの取り付けスペースも制約する
必要があり、振れ検出部４５ｐ、４５ｙの周囲に電気配
線等を張り巡らして高密度に配置する必要がある。On the other hand, in order to reduce the size of the camera, it is necessary to restrict the space in which the shake detecting units 45p and 45y are mounted, and high-density wiring is provided around the shake detecting units 45p and 45y. Need to be placed.

【００３６】最近、カメラ振れを検出する振れ検出部と
して振動ジャイロが多用されている。振動ジャイロは、
この構成要素である振動子が高周波で微少振動してお
り、この振動子の振動と振れ角速度により生じるコリオ
リの力を検出することで角速度の検出を行っている。Recently, a vibrating gyroscope is frequently used as a shake detecting unit for detecting camera shake. The vibrating gyro is
The vibrator, which is a component of the vibrator, vibrates minutely at a high frequency, and the angular velocity is detected by detecting the Coriolis force generated by the vibration of the vibrator and the swing angular velocity.

【００３７】ところで、振動ジャイロの振動子は上述し
たように高周波で微少振動しているため、振動ジャイロ
が外部からの振動を受けると、振動ジャイロの角速度検
出出力が劣化してしまう問題がある。Since the vibrator of the vibrating gyroscope vibrates minutely at a high frequency as described above, there is a problem that when the vibrating gyroscope receives external vibration, the angular velocity detection output of the vibrating gyroscope deteriorates.

【００３８】上述したように振れ検出部（振動ジャイ
ロ）４５ｐ、４５ｙの周囲を電気配線で高密度に配置す
ると、カメラが作動する際の振動により振れ検出部４５
ｐ、４５ｙの近傍に配置された電気配線が振れ検出部４
５ｐ、４５ｙに接触したり離れたりして振れ検出部４５
ｐ、４５ｙに外乱振動を与える。例えば、振れ検出部４
５ｐ、４５ｙの近傍にフレキシブル基板等の電気配線基
板を配置すると、電気配線基板がカメラの作動に伴って
振動し、振れ検出部４５ｐ、４５ｙに接触したり離れた
りする場合がある。この外乱振動により、一定条件で震
えていた振動子の振動モードが変化するとともに、角速
度検出出力が大きく劣化してくる。ここで、コンパクト
カメラには、焦点調節時における撮影レンズ駆動シーケ
ンスと露光時におけるシャッター開閉駆動シーケンスが
あるが、これらのシーケンスはアクチュエータが駆動す
るシーケンスであり振動を伴うため、電気配線が振動し
て振れ検出部４５ｐ、４５ｙに接触したり離れたりする
場合がある。As described above, if the periphery of the shake detecting units (vibrating gyroscopes) 45p and 45y are arranged at high density by electric wiring, the shake detecting unit 45
The electric wiring arranged near p, 45y is
5p, the shake detection unit 45 that comes in contact with or separates from the 45y
Disturbance vibration is applied to p and 45y. For example, the shake detection unit 4
If an electric wiring board such as a flexible board is arranged near 5p, 45y, the electric wiring board may vibrate with the operation of the camera, and may come in contact with or move away from the shake detecting units 45p, 45y. Due to the disturbance vibration, the vibration mode of the vibrator vibrating under certain conditions changes, and the angular velocity detection output greatly deteriorates. Here, the compact camera has a photographing lens driving sequence at the time of focus adjustment and a shutter opening / closing driving sequence at the time of exposure. These sequences are sequences in which the actuator is driven and involve vibrations, so that the electric wiring is vibrated. It may come in contact with or separate from the shake detection units 45p and 45y.

【００３９】このように、振れ検出部４５ｐ、４５ｙが
外乱振動を受けると角速度検出出力が大きく劣化して、
精度よい振れ補正を行うことはできない。As described above, when the shake detectors 45p and 45y receive disturbance vibration, the angular velocity detection output is greatly deteriorated,
Accurate shake correction cannot be performed.

【００４０】なお、焦点調節時における撮影レンズの駆
動シーケンスは、露光前に完了するため振れ補正とは無
関係と考えられやすいが、撮影レンズの駆動シーケンス
において実際に振れ検出部４５ｐ、４５ｙに外乱振動が
加わると、この外乱振動による振れ検出部４５ｐ、４５
ｙの振動がおさまるまでには所定の時間が必要であり、
この所定の時間が経過するまでに撮影を開始すると精度
よい振れ補正を行うことができず、また、所定の時間が
経過するまで待ってから撮影を行うと撮影までの時間が
かかりすぎてしまい好ましくない。ここで、外乱振動に
よる振れ検出部４５ｐ、４５ｙの振動がおさまるまでに
所定の時間がかかるのは、振動子の尖鋭度が高いこと
や、角速度信号の演算処理に大きな時定数の演算を行っ
ているためである。Although the drive sequence of the photographing lens at the time of focus adjustment is completed before the exposure, it is likely to be irrelevant to shake correction. However, in the drive sequence of the photographing lens, disturbance vibration is actually applied to the shake detection units 45p and 45y. Is added, the shake detection units 45p, 45
A certain time is required until the vibration of y subsides,
If shooting is started before the predetermined time has elapsed, accurate shake correction cannot be performed, and if shooting is performed after waiting for the predetermined time to elapse, it takes too much time until shooting. Absent. Here, it takes a predetermined time until the vibrations of the shake detection units 45p and 45y due to the disturbance vibration are reduced, because the sharpness of the vibrator is high, and a large time constant is calculated in the calculation processing of the angular velocity signal. Because it is.

【００４１】そこで、本発明は振れ検出部の周辺を配線
により高密度に配置したまま、振れ検出部に外乱振動が
伝わるのを防止することを目的とする。Accordingly, it is an object of the present invention to prevent disturbance vibration from being transmitted to the shake detecting unit while the periphery of the shake detecting unit is arranged at high density by wiring.

【００４２】[0042]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、装置振れを検出する振れ検出手段の近傍に
電気配線が配置された光学装置において、装置本体に、
前記電気配線が前記振れ検出手段に接触しないように前
記電気配線を支持する支持部を設けたことを特徴とす
る。これにより、電気配線が装置の作動等に伴って振動
して振れ検出手段に外乱振動が伝わるのを防止すること
ができるため、振れ検出手段において精度良い検出を行
うことができる。ここで、支持部は振れ検出手段を挟ん
だ両側に設けることができる。SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention relates to an optical apparatus in which electric wiring is arranged near a shake detecting means for detecting a shake of an apparatus.
A support portion for supporting the electric wiring is provided so that the electric wiring does not contact the shake detecting means. Accordingly, it is possible to prevent the electric wiring from vibrating due to the operation of the device and transmitting disturbance vibration to the shake detecting means, so that the shake detecting means can perform accurate detection. Here, the support portions can be provided on both sides of the shake detecting means.

【００４３】また、本発明は、装置振れを検出する振れ
検出手段の近傍に電気配線が配置された光学装置におい
て、前記電気配線と前記振れ検出手段とを結合させたこ
とを特徴とする。このように、電気配線と振れ検出手段
とを結合させ、常に接触させておくことで、電気配線が
装置の作動等に伴って振動した際に振れ検出手段に外乱
振動が伝わるのを防止することができるため振れ検出手
段において精度良い検出を行うことができるとともに、
装置内部において部品配置の高密度化を図ることができ
るため光学装置の小型化を図ることができる。ここで、
振れ検出手段と電気配線とを粘弾性部材を介して結合さ
せることができ、粘弾性部材として両面テープや粘弾性
接着剤を用いることができる。粘弾性部材を用いること
により、電気配線と振れ検出手段間での振動（特に高周
波振動）が互いに伝達するのを防止することができる。Further, the present invention is characterized in that, in an optical device in which an electric wiring is arranged near a shake detecting means for detecting an apparatus shake, the electric wiring and the shake detecting means are combined. In this way, by connecting the electric wiring and the vibration detection means and keeping them in contact at all times, it is possible to prevent disturbance vibration from being transmitted to the vibration detection means when the electric wiring vibrates due to the operation of the device or the like. Can be performed with high accuracy in the shake detection means,
Since the density of components can be increased in the device, the size of the optical device can be reduced. here,
The shake detecting means and the electric wiring can be connected via a viscoelastic member, and a double-sided tape or a viscoelastic adhesive can be used as the viscoelastic member. By using the viscoelastic member, it is possible to prevent vibrations (particularly high-frequency vibrations) between the electric wiring and the vibration detecting means from being transmitted to each other.

【００４４】さらに、本発明は、装置振れを検出する振
れ検出手段の近傍に電気配線が配置された光学装置にお
いて、前記振れ検出手段と前記電気配線との間に、弾性
部材を配置したことを特徴とする。これにより、電気配
線が装置の作動等に伴って振動した際にもこの電気配線
の振動が弾性部材により吸収されるため、電気配線の振
動が振れ検出手段に伝わるのを防止することができ、振
れ検出手段は精度良い検出を行うことができる。また、
電気配線と振れ検出手段間での振動（特に高周波振動）
が互いに伝達するのを防止することができる。ここで、
振動吸収部材にモルトプレンやブチルゴムを用いること
ができる。Further, according to the present invention, in an optical device in which an electric wiring is arranged near a shake detecting means for detecting an apparatus shake, an elastic member is arranged between the shake detecting means and the electric wiring. Features. Thereby, even when the electric wiring is vibrated due to the operation of the device or the like, since the vibration of the electric wiring is absorbed by the elastic member, it is possible to prevent the vibration of the electric wiring from being transmitted to the shake detecting means, The shake detecting means can perform accurate detection. Also,
Vibration (particularly high-frequency vibration) between electrical wiring and shake detection means
Can be prevented from transmitting to each other. here,
Moltprene or butyl rubber can be used for the vibration absorbing member.

【００４５】[0045]

【発明の実施の形態】（第１実施形態）図１は本発明の
第１実施形態であるカメラの内部構造斜視図である。本
実施形態のカメラにおいても、不図示であるが上記従来
技術で説明したように振れ補正装置５３（振れ検出部４
５ｐ、４５ｙおよび演算部４７ｐ、４７ｙを含む）を有
しており、演算部４７ｐ、４７ｙにおいて上述した回路
動作を行う。(First Embodiment) FIG. 1 is a perspective view showing the internal structure of a camera according to a first embodiment of the present invention. Also in the camera of the present embodiment, although not shown, as described in the related art, the shake correction device 53 (the shake detection unit 4) is used.
5p, 45y and operation units 47p, 47y), and the above-described circuit operations are performed in the operation units 47p, 47y.

【００４６】カメラボディ１１（本願請求項に記載の装
置本体）には、振れ検出部４５ｐ、４５ｙ（本願請求項
に記載の振れ検出手段）に電源を供給するとともに、振
れ検出部４５ｐ、４５ｙからの検出信号を不図示の処理
回路に伝達するための配線を有するＬ字形状の第１の基
板１２がネジ等により固定される。The camera body 11 (apparatus main body according to the present invention) is supplied with power to shake detecting units 45p and 45y (shake detecting means according to the present invention), and is supplied from the shake detecting units 45p and 45y. An L-shaped first substrate 12 having wiring for transmitting the detection signal to a processing circuit (not shown) is fixed by screws or the like.

【００４７】第１の基板１２には振れ検出部４５ｐ、４
５ｙの各端子４５ｐａ、４５ｙａが半田付けされ、これ
により振れ検出部４５ｐ、４５ｙが第１の基板１２に固
定される。ここで、振れ検出部４５ｐはカメラの横方向
に感度軸を有するように配置され、振れ検出部４５ｙは
カメラの高さ方向に感度軸を有するように配置されてい
る。The first substrate 12 has a shake detector 45p,
The respective terminals 45pa and 45ya of 5y are soldered, whereby the shake detecting units 45p and 45y are fixed to the first substrate 12. Here, the shake detection unit 45p is arranged so as to have a sensitivity axis in the lateral direction of the camera, and the shake detection unit 45y is arranged so as to have a sensitivity axis in the height direction of the camera.

【００４８】振れ検出部４５ｐ、４５ｙの正面（第１の
基板１２と反対側の面）には、カメラ内部に配置される
ズームモータなどを駆動するための駆動電力を供給する
第２の基板１３（本願請求項に記載の電気配線）が配置
されている。ここで、第２の基板１３はフレキシブル基
板であり、カメラの作動（焦点調節時における撮影レン
ズ駆動シーケンスや露光時におけるシャッター開閉駆動
シーケンス等）にともなって振動し、この振動により第
２の基板１３が振れ検出部４５ｐ、４５ｙに接触したり
離れたりする場合がある。On the front of the shake detectors 45p and 45y (the surface opposite to the first substrate 12), there is provided a second substrate 13 for supplying driving power for driving a zoom motor and the like disposed inside the camera. (Electrical wiring according to the claims of the present application) are arranged. Here, the second substrate 13 is a flexible substrate, and vibrates in accordance with the operation of the camera (a photographing lens driving sequence at the time of focus adjustment, a shutter opening / closing driving sequence at the time of exposure, and the like). May come in contact with or separate from the shake detection units 45p and 45y.

【００４９】振れ検出部４５ｐ、４５ｙは感度軸回りの
角速度を検出する振動ジャイロであり、振れ検出部４５
ｐ、４５ｙのケース内で振動子が振動している。これに
より、ケースの中央部４５ｐｂ、４５ｙｂが太鼓の腹の
ようになって所定のモードで振動を繰り返している。こ
のような状態のときに、カメラの作動に伴って第２の基
板１３が振れ検出部４５ｐ、４５ｙの中央部４５ｐａ、
４５ｙａに接触したり離れたりすると、振れ検出部４５
ｐ、４５ｙに外乱振動が加えられこととなり振れ検出部
４５ｐ、４５ｙの振動モードが変化して振動子の振動振
幅に変化を与える。The shake detectors 45p and 45y are vibration gyroscopes for detecting the angular velocity around the sensitivity axis.
The vibrator vibrates in the case of p, 45y. As a result, the center portions 45pb and 45yb of the case resemble a belly of a drum and repeat the vibration in a predetermined mode. In such a state, the second substrate 13 is moved in accordance with the operation of the camera so that the central portion 45pa of the shake detecting portions 45p and 45y,
45ya, the shake detector 45
Disturbance vibration is applied to p and 45y, and the vibration mode of the shake detectors 45p and 45y changes to change the vibration amplitude of the vibrator.

【００５０】振動子の振動振幅変化は、振れ検出部４５
ｐ、４５ｙの角速度検出感度の変化に影響してくるとと
もに、振動ジャイロ出力のＤＣオフセット変化を引き起
こす場合があり、このような場合には積分回路４１５ｐ
において振動ジャイロの角速度出力を積分して角度に変
換するときに大きな出力変動を起こす恐れがある。The change in the vibration amplitude of the vibrator is detected by the vibration detection unit 45.
In addition to affecting the change in the angular velocity detection sensitivity of p and 45y, the DC offset of the vibration gyro output may be changed. In such a case, the integration circuit 415p
In this case, when the angular velocity output of the vibrating gyroscope is integrated and converted into an angle, a large output fluctuation may occur.

【００５１】カメラボディ１１には、カメラボディ１１
の横方向に延びる突条タイプの支持部１１ｐとカメラボ
ディ１１の高さ方向に延びる突条タイプの支持部１１ｙ
とがそれぞれ対になって形成されている。この支持部１
１ｐ、１１ｙの役割について図２を用いて説明する。こ
こで、図２は本実施形態におけるカメラの内部構造側面
図（図１において矢印１４方向から見た図）である。The camera body 11 includes a camera body 11
And a ridge-type support 11y extending in the height direction of the camera body 11.
Are formed in pairs. This support 1
The roles of 1p and 11y will be described with reference to FIG. Here, FIG. 2 is a side view of the internal structure of the camera according to the present embodiment (a view seen from the arrow 14 direction in FIG. 1).

【００５２】支持部１１ｐ、１１ｙはカメラボディ１１
から突出しており、この支持部１１ｐ、１１ｙの先端が
第２の基板１３に当接している。支持部１１ｐ、１１ｙ
の幅は、第１の基板１２の厚みと振れ検出部４５ｐ、４
５ｙの厚みを足した長さより長くなっている。具体的に
は、第２の基板１３の振動により振れ検出部４５ｐ、４
５ｙに外乱振動が伝わるのを防ぐことができる必要最小
限の範囲で支持部１１ｐ、１１ｙの幅が設定されてい
る。このため、支持部１１ｐ、１１ｙの先端に当接する
第２の基板１３がカメラの作動により振動しても振れ検
出部４５ｐ、４５ｙに接触したり離れたりすることはな
くなり、振れ検出部４５ｐ、４５ｙは安定した振動検出
（角速度検出）を行うことができる。The support portions 11p and 11y are connected to the camera body 11
, And the tips of the support portions 11p and 11y are in contact with the second substrate 13. Supports 11p, 11y
Is the thickness of the first substrate 12 and the shake detectors 45p, 4p.
It is longer than the length obtained by adding the thickness of 5y. Specifically, the shake detection units 45p, 4p
The widths of the support portions 11p and 11y are set within the minimum necessary range that can prevent disturbance vibration from being transmitted to 5y. For this reason, even if the second substrate 13 abutting on the tips of the support portions 11p and 11y vibrates due to the operation of the camera, the second substrate 13 does not come into contact with or separate from the shake detection portions 45p and 45y, and the shake detection portions 45p and 45y. Can perform stable vibration detection (angular velocity detection).

【００５３】ここで、本実施形態では振れ検出部４５
ｐ、４５ｙを挟んだ両側に支持部１１ｐ、１１ｙを設け
ている。これは、仮に振れ検出部４５ｐ、４５ｙの片側
にのみ支持部１１ｐ、１１ｙを設けると、第２の基板１
３がカメラの作動により振動した際に、支持部１１ｐ、
１１ｙが設けられていない側で第２の基板１３が振れ検
出部４５ｐ、４５ｙに接触したり離れたりするおそれが
あるため、これを防止するために振れ検出部４５ｐ、４
５ｙの両側に支持部１１ｐ、１１ｙを設けている。Here, in the present embodiment, the shake detector 45
Support portions 11p and 11y are provided on both sides of p and 45y. This is because if the support portions 11p and 11y are provided only on one side of the shake detection portions 45p and 45y, the second substrate 1
When the camera 3 is vibrated by the operation of the camera, the support 11p,
Since the second substrate 13 may come in contact with or separate from the shake detection units 45p and 45y on the side where the 11y is not provided, in order to prevent this, the shake detection units 45p and 45y may be used.
Support portions 11p and 11y are provided on both sides of 5y.

【００５４】なお、支持部１１ｐ、１１ｙの幅をより長
くしたり、支持部１１ｐ、１１ｙをＬ字形状にしたりし
てこの支持部１１ｐ、１１ｙを振れ検出部４５ｐ、４５
ｙの片側にのみ設けても第２の基板１３が振れ検出部４
５ｐ、４５ｙに接触したり離れたりするのを防止するこ
とができるが、この場合にはカメラが大型化してしま
う。そこで、本実施形態のように振れ検出部４５ｐ、４
５ｙを挟んだ両側に支持部１１ｐ、１１ｙを設けること
で、支持部１１ｐ、１１ｙの幅を短くすることができる
とともに、振れ検出部４５ｐ、４５ｙに第２の基板１３
による外乱振動が伝わるのを防止することができる。The widths of the support portions 11p and 11y are made longer, and the support portions 11p and 11y are formed in an L-shape so that the support portions 11p and 11y are moved to the shake detection portions 45p and 45y.
the second substrate 13 is provided on only one side of the y-axis.
Although it is possible to prevent the 5p and 45y from coming into contact with or separating from each other, in this case, the size of the camera is increased. Therefore, as in the present embodiment, the shake detection units 45p,
By providing the support portions 11p and 11y on both sides of the support member 5y, the width of the support portions 11p and 11y can be reduced, and the second substrate 13 is provided on the shake detection portions 45p and 45y.
It is possible to prevent disturbance vibrations from being transmitted.

【００５５】一方、第２の基板１３と振れ検出部４５
ｐ、４５ｙとの間には、電気シールドとしてのグランド
パターン１３ａ（本願請求項に記載の電気シールドパタ
ーン）が配置されている。このため、第２の基板１３に
ズームモーター等を駆動させるための駆動電力が供給さ
れても、この電力信号（例えば、ＰＷＭ駆動によるパル
ス信号）により振れ検出部４５ｐ、４５ｙに誘導ノイズ
が発生するのを防止することができる。また、第２の基
板１３にも電気シールドとしての効果を持たせてもよ
い。これにより、カメラ外部からのノイズも振れ検出部
４５ｐ、４５ｙに伝わらなくなるため、精度良い振動検
出を行うことができる。On the other hand, the second substrate 13 and the shake detector 45
Between p and 45y, a ground pattern 13a (an electric shield pattern described in the claims of the present application) as an electric shield is arranged. For this reason, even if drive power for driving a zoom motor or the like is supplied to the second substrate 13, an induced noise is generated in the shake detection units 45 p and 45 y by this power signal (for example, a pulse signal by PWM driving). Can be prevented. Further, the second substrate 13 may have an effect as an electric shield. As a result, noise from the outside of the camera is not transmitted to the shake detecting units 45p and 45y, so that accurate vibration detection can be performed.

【００５６】（第２実施形態）第１実施形態のカメラで
は、カメラボディ１１に支持部１１ｐ、１１ｙを設ける
ことで、第２の基板１３が振れ検出部４５ｐ、４５ｙに
接触したり離れたりするのを防止しているが、第２実施
形態のカメラでは、第２の基板１３および振れ検出部４
５ｐ、４５ｙを結合させ常に接触させておくことで、第
２の基板１３が振れ検出部４５ｐ、４５ｙに接触したり
離れたりするのを防止して、振れ検出部４５ｐ、４５ｙ
の振動モードが変化するのを防止している。(Second Embodiment) In the camera of the first embodiment, by providing the camera body 11 with the supporting portions 11p and 11y, the second substrate 13 comes into contact with or separates from the shake detecting portions 45p and 45y. In the camera of the second embodiment, the second substrate 13 and the shake detecting unit 4
5p and 45y are coupled and kept in contact to prevent the second substrate 13 from coming into contact with or separating from the shake detecting units 45p and 45y, and to prevent the second substrate 13 from coming into contact with the shake detecting units 45p and 45y.
This prevents the vibration mode from changing.

【００５７】以下、本実施形態のカメラについて具体的
に説明する。なお、第１実施形態と同一の部材について
は同一符号を用いている。また、本実施形態のカメラに
おいても、不図示であるが上記従来技術で説明したよう
に振れ補正装置５３（振れ検出部４５ｐ、４５ｙおよび
演算部４７ｐ、４７ｙを含む）を有しており、演算部４
７ｐ、４７ｙにおいて上述した回路動作を行う。Hereinafter, the camera of this embodiment will be described in detail. The same members as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals. Although not shown, the camera according to the present embodiment also includes the shake correction device 53 (including the shake detection units 45p and 45y and the calculation units 47p and 47y) as described in the above-described related art. Part 4
The circuit operation described above is performed at 7p and 47y.

【００５８】図３は本実施形態におけるカメラの内部構
造斜視図である。本実施形態では第１実施形態と異なり
カメラボディ１１に支持部１１ｐ、１１ｙを形成せず
に、振れ検出部４５ｐ、４５ｙと第２の基板１３との間
に両面テープ２１を設けている。これにより、第２の基
板１３と振れ検出部４５ｐ、４５ｙとは両面テープ２１
を介して固着（結合）する。また、振れ検出部４５ｐ、
４５ｙは半田付けにより第１の基板１２に固定され、第
１の基板１２はカメラボディ１１にねじ等で固定され
る。FIG. 3 is a perspective view of the internal structure of the camera according to this embodiment. In the present embodiment, unlike the first embodiment, the double-sided tape 21 is provided between the shake detection units 45p and 45y and the second substrate 13 without forming the support portions 11p and 11y on the camera body 11. As a result, the second substrate 13 and the shake detection units 45p and 45y are
Is fixed (bonded) through Also, the shake detection unit 45p,
45y is fixed to the first substrate 12 by soldering, and the first substrate 12 is fixed to the camera body 11 with screws or the like.

【００５９】図４は本実施形態におけるカメラの内部構
造側面図である。第２の基板１３と振れ検出部４５ｐ、
４５ｙとの間に配置された両面テープ２１は粘性を有し
ており、この粘性により第２の基板１３および振れ検出
部４５ｐ、４５ｙに生じる高周波振動（カメラの作動に
よる第２の基板１３の振動や振動子による振れ検出部４
５ｐ、４５ｙの振動）は減衰するため、これらの高周波
振動が互いの部材（第２の基板１３又は振れ検出部４５
ｐ、４５ｙ）に伝達されることはない。また、カメラの
作動により第２の基板１３が振動した場合にも、振れ検
出部４５ｐ、４５ｙと第２の基板１３とは両面テープ２
１で固着されているため、第２の基板１３が振れ検出部
４５ｐ、４５ｙに接触したり離れたりすることにより振
れ検出部４５ｐ、４５ｙに外乱振動が伝わることはな
く、振れ検出部４５ｐ、４５ｙは安定した振動検出（角
速度検出）を行うことができる。FIG. 4 is a side view of the internal structure of the camera in this embodiment. A second substrate 13 and a shake detection unit 45p;
45y has a viscosity, and the high frequency vibration (vibration of the second substrate 13 due to the operation of the camera) generated in the second substrate 13 and the shake detection units 45p and 45y due to the viscosity. Detector 4 by vibrator and vibrator
5p and 45y) are attenuated, and these high-frequency vibrations are mutually transmitted to each other (the second substrate 13 or the shake detecting unit 45).
p, 45y). Further, even when the second substrate 13 vibrates due to the operation of the camera, the shake detection units 45p and 45y and the second substrate 13
1, the second substrate 13 does not transmit or disturb the vibration detecting units 45p and 45y when the second substrate 13 comes into contact with or separates from the vibration detecting units 45p and 45y. Can perform stable vibration detection (angular velocity detection).

【００６０】一方、第２の基板１３と両面テープ２１と
の間には電気シールドとしてのグランドパターン１３ａ
が配置されている。これにより、第２の基板１３にズー
ムモータ等を駆動させるための駆動電力が供給されて
も、この電力信号により振れ検出部４５ｐ、４５ｙに誘
導ノイズが発生するのを防止することができる。また、
第２の基板１３に電気シールドとしての効果を持たせれ
ば、カメラ外部からのノイズが振れ検出部４５ｐ、４５
ｙに伝わるのを防止することができる。On the other hand, a ground pattern 13 a as an electric shield is provided between the second substrate 13 and the double-sided tape 21.
Is arranged. As a result, even when the driving power for driving the zoom motor or the like is supplied to the second substrate 13, it is possible to prevent generation of induction noise in the shake detection units 45p and 45y due to the power signal. Also,
If the second substrate 13 has an effect as an electric shield, noise from the outside of the camera can be detected by the shake detection units 45p and 45p.
y can be prevented.

【００６１】第２の基板１３と振れ検出部４５ｐ、４５
ｙとの間には、両面テープ２１だけでなく粘弾性の接着
剤、例えばダイアボンド（商品名）を用いてもよい。The second substrate 13 and the shake detectors 45p, 45p
Between y and y, not only the double-sided tape 21 but also a viscoelastic adhesive such as Diabond (trade name) may be used.

【００６２】図５は粘弾性接着剤を用いた場合のカメラ
の内部構造斜視図である。振れ検出部４５ｐ、４５ｙの
正面中央部には、粘弾性接着剤２２ｐ、２２ｙが塗布さ
れており、この塗布面に第２の基板１３を押しつけるこ
とで、第２の基板１３と振れ検出部４５ｐ、４５ｙとが
固着される。また、振れ検出部４５ｐ、４５ｙは半田付
けにより第１の基板１２に固定され、第１の基板１２は
ねじ等によりカメラボディ１１に固定される。FIG. 5 is a perspective view of the internal structure of the camera when a viscoelastic adhesive is used. Viscoelastic adhesives 22p and 22y are applied to the front central portions of the shake detection units 45p and 45y, and by pressing the second substrate 13 against the applied surface, the second substrate 13 and the shake detection unit 45p are applied. , 45y are fixed. The shake detection units 45p and 45y are fixed to the first substrate 12 by soldering, and the first substrate 12 is fixed to the camera body 11 by screws or the like.

【００６３】図６は粘弾性接着剤を用いた場合のカメラ
の内部構造側面図である。振れ検出部４５ｐ、４５ｙと
第２の基板１３との間には、粘弾性接着剤２２ｐ、２２
ｙが充填されている。このように、第２の基板１３と振
れ検出部４５ｐ、４５ｙとの間にダイアボンド等の粘弾
性接着剤２２ｐ、２２ｙを設けることにより、第２の基
板１３および振れ検出部４５ｐ、４５ｙに生じる高周波
振動は減衰され、これらの高周波振動が互いの部材に伝
達されることはない。また、第２の基板１３と振れ検出
部４５ｐ、４５ｙとは粘弾性接着剤２２ｐ、２２ｙによ
り互いに固着しているため、第２の基板１３による外乱
振動が振れ検出部４５ｐ、４５ｙに伝わることはなく、
振れ検出部４５ｐ、４５ｙは安定した振動検出を行うこ
とができる。FIG. 6 is a side view of the internal structure of the camera when a viscoelastic adhesive is used. The viscoelastic adhesives 22p and 22p are provided between the shake detection units 45p and 45y and the second substrate 13.
y is filled. Thus, by providing the viscoelastic adhesives 22p and 22y such as a die bond between the second substrate 13 and the shake detecting units 45p and 45y, the second substrate 13 and the shake detecting units 45p and 45y are generated. High-frequency vibrations are attenuated, and these high-frequency vibrations are not transmitted to each other. Further, since the second substrate 13 and the shake detection units 45p and 45y are fixed to each other by the viscoelastic adhesives 22p and 22y, it is difficult for the disturbance vibration by the second substrate 13 to be transmitted to the shake detection units 45p and 45y. Not
The shake detection units 45p and 45y can perform stable vibration detection.

【００６４】一方、第２の基板１３と粘弾性接着剤２２
ｐ、２２ｙとの間には電気シールドとしてのグランドパ
ターン１３ａが配置されている。これにより、第２の基
板１３にズームモータ制御用等の電力供給が行われて
も、この信号（例えば、ＰＷＭ駆動によるパルス信号）
により振れ検出部４５ｐ、４５ｙに誘導ノイズが発生す
ることがない。また、第２の基板１３にも電気シールド
としての効果を持たせれば、カメラ外部からのノイズが
振れ検出部４５ｐ、４５ｙに伝わるのを防止することが
できる。On the other hand, the second substrate 13 and the viscoelastic adhesive 22
A ground pattern 13a as an electric shield is arranged between p and 22y. Thus, even when power is supplied to the second substrate 13 for controlling the zoom motor, the signal (for example, a pulse signal by PWM driving) is supplied.
As a result, no induced noise is generated in the shake detection units 45p and 45y. Further, if the second substrate 13 is also provided with an effect as an electric shield, it is possible to prevent noise from outside the camera from being transmitted to the shake detection units 45p and 45y.

【００６５】（第３実施形態）第１実施形態では、カメ
ラボディ１１に支持部１１ｐ、１１ｙを設けることで第
２の基板１３が振れ検出部４５ｐ、４５ｙに接触したり
離れたりするのを防止しているが、第３実施形態では第
２実施形態と同様に第２の基板１３および振れ検出部４
５ｐ、４５ｙを常に接触させておくことで、第２の基板
１３が振れ検出部４５ｐ、４５ｙに接触したり離れたり
するのを防止して、振れ検出部４５ｐ、４５ｙの振動モ
ードが変化することを防止している。ただし、本実施形
態においては、振れ検出部４５ｐ、４５ｙと第２の基板
１３とを固着せずに、振れ検出部４５ｐ、４５ｙと第２
の基板１３との間に弾性部材を設けて、振れ検出部４５
ｐ、４５ｙの振動やカメラ作動による第２の基板１３の
振動を弾性部材で吸収して互いに伝達しないようにして
いる。(Third Embodiment) In the first embodiment, the support portions 11p and 11y are provided on the camera body 11 to prevent the second substrate 13 from coming into contact with and separating from the shake detection portions 45p and 45y. However, in the third embodiment, as in the second embodiment, the second substrate 13 and the shake detector 4
By keeping the 5p and 45y in contact at all times, it is possible to prevent the second substrate 13 from contacting and separating from the shake detection units 45p and 45y, and to change the vibration mode of the shake detection units 45p and 45y. Has been prevented. However, in the present embodiment, the shake detection units 45p and 45y and the second
An elastic member is provided between the vibration detecting section 45 and the substrate 13.
The vibrations of p and 45y and the vibration of the second substrate 13 caused by the operation of the camera are absorbed by the elastic member so as not to be transmitted to each other.

【００６６】以下、本実施形態について具体的に説明す
る。なお、第１実施形態と同一の部材には同一符号を用
いる。また、本実施形態のカメラにおいても、不図示で
あるが上記従来技術で説明したように振れ補正装置５３
（振れ検出部４５ｐ、４５ｙおよび演算部４７ｐ、４７
ｙを含む）を有しており、演算部４７ｐ、４７ｙにおい
て上述した回路動作を行う。Hereinafter, the present embodiment will be specifically described. The same members as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals. Also, in the camera of the present embodiment, although not shown, the shake correction device 53 is used as described in the related art.
(The shake detection units 45p and 45y and the calculation units 47p and 47
y, and the above-described circuit operations are performed in the operation units 47p and 47y.

【００６７】図７は本実施形態におけるカメラの内部構
造斜視図である。本実施形態では第１実施形態と異なり
カメラボディ１１に支持部１１ｐ、１１ｙを形成せず
に、振れ検出部４５ｐ、４５ｙと第２の基板１３との間
にモルトプレンやブチルゴムなどの弾性部材３１を配置
している。この弾性部材３１は振れ検出部４５ｐ、４５
ｙと第２の基板１３とで挟まれることにより所定の位置
に保持される。また、振れ検出部４５ｐ、４５ｙは半田
付けにより第１の基板１２に固定され、第１の基板１２
はカメラボディ１１にねじ等で固定される。FIG. 7 is a perspective view of the internal structure of the camera according to this embodiment. In the present embodiment, unlike the first embodiment, the elastic members 31 such as maltprene and butyl rubber are provided between the shake detection units 45p and 45y and the second substrate 13 without forming the support portions 11p and 11y on the camera body 11. Have been placed. The elastic member 31 is connected to the shake detecting units 45p and 45p.
It is held at a predetermined position by being sandwiched between y and the second substrate 13. The shake detection units 45p and 45y are fixed to the first substrate 12 by soldering.
Is fixed to the camera body 11 with screws or the like.

【００６８】図８は本実施形態におけるカメラの内部構
造側面図である。振れ検出部４５ｐ、４５ｙと第２の基
板１３との間に配置された弾性部材３１は弾性を有して
いるため、第２の基板１３および振れ検出部４５ｐ、４
５ｙに生じる高周波振動（カメラ作動による第２の基板
１３の振動や振動子による振れ検出部４５ｐ、４５ｙの
振動）は減衰し、これらの高周波振動が互いの部材（第
２の基板１３又は振れ検出部４５ｐ、４５ｙ）に伝達さ
れることはない。また、カメラの作動により第２の基板
１３が振動した場合にも、第２の基板１３と振れ検出部
４５ｐ、４５ｙとの間に弾性部材３１が配置されている
ため、第２の基板１３が振れ検出部４５ｐ、４５ｙに接
触したり離れたりすることにより振れ検出部４５ｐ、４
５ｙに外乱振動が伝わることはなく、振れ検出部４５
ｐ、４５ｙは安定した振動検出（角速度検出）を行うこ
とができる。FIG. 8 is a side view showing the internal structure of the camera according to this embodiment. Since the elastic member 31 disposed between the shake detection units 45p and 45y and the second substrate 13 has elasticity, the second substrate 13 and the shake detection units 45p and
The high-frequency vibration (vibration of the second substrate 13 due to the operation of the camera and vibration of the vibration detection units 45p and 45y due to the vibrator) is attenuated, and these high-frequency vibrations are mutually attenuated (the second substrate 13 or the vibration detection). Section 45p, 45y). In addition, even when the second substrate 13 vibrates due to the operation of the camera, the elastic member 31 is disposed between the second substrate 13 and the shake detection units 45p and 45y. The contact with or away from the shake detectors 45p, 45y causes the shake detectors 45p, 45y
No disturbance vibration is transmitted to 5y, and the shake detection unit 45
For p and 45y, stable vibration detection (angular velocity detection) can be performed.

【００６９】一方、第２の基板１３と弾性部材３１との
間には電気シールドとしてのグランドパターン１３ａが
配置されている。これにより、第２の基板１３にズーム
モータ等を駆動させるための駆動電力が供給されても、
この電力信号（例えば、ＰＷＭ駆動によるパルス信号）
により振れ検出部４５ｐ、４５ｙに誘導ノイズが発生す
るのを防止することができる。また、第２の基板１３に
電気シールドとしての効果を持たせれば、カメラ外部か
らのノイズが振れ検出部４５ｐ、４５ｙに伝わるのを防
止することができる。On the other hand, a ground pattern 13 a as an electric shield is arranged between the second substrate 13 and the elastic member 31. Thereby, even when the driving power for driving the zoom motor or the like is supplied to the second substrate 13,
This power signal (for example, a pulse signal by PWM driving)
Accordingly, it is possible to prevent generation of induced noise in the shake detection units 45p and 45y. Further, if the second substrate 13 has an effect as an electric shield, it is possible to prevent noise from outside the camera from being transmitted to the shake detection units 45p and 45y.

【００７０】なお、上述した第１実施形態から第３実施
形態では本発明をカメラに適用したが、これに限るもの
ではなくレンズ鏡筒、双眼鏡や望遠鏡等の他の光学機器
にも適用することができる。In the first to third embodiments described above, the present invention is applied to a camera. However, the present invention is not limited to this, but may be applied to other optical devices such as a lens barrel, binoculars, and a telescope. Can be.

【００７１】[0071]

【発明の効果】本発明によれば、装置振れを検出する振
れ検出手段の近傍に電気配線が配置された光学装置にお
いて、装置本体に、電気配線が振れ検出手段に接触しな
いように電気配線を支持する支持部を設けることによ
り、電気配線が装置の作動等に伴って振動して振れ検出
手段に外乱振動が伝わるのを防止することができるた
め、振れ検出手段において精度良い検出を行うことがで
きる。According to the present invention, in an optical device in which electric wiring is arranged near a shake detecting means for detecting a shake of an apparatus, the electric wiring is provided on the apparatus main body so that the electric wiring does not contact the shake detecting means. By providing the supporting portion, it is possible to prevent the electric wiring from vibrating due to the operation of the device and transmitting the disturbance vibration to the shake detecting means, so that accurate detection can be performed by the shake detecting means. it can.

【００７２】また、電気配線と振れ検出手段とを結合さ
せ常に接触させておくことで、電気配線が装置の作動等
に伴って振動した際に振れ検出手段に外乱振動が伝わる
のを防止することができるため振れ検出手段において精
度良い検出を行うことができる。ここで、粘弾性部材を
用いて電気配線と振れ検出手段とを結合させれば、電気
配線と振れ検出手段間での振動（特に高周波振動）が互
いに伝達するのを防止することができる。Further, by connecting the electric wiring and the vibration detecting means so as to be always in contact with each other, it is possible to prevent disturbance vibration from being transmitted to the vibration detecting means when the electric wiring vibrates with the operation of the apparatus. Therefore, accurate detection can be performed by the shake detecting means. Here, if the electric wiring and the shake detecting means are connected by using a viscoelastic member, it is possible to prevent vibrations (particularly high-frequency vibrations) between the electric wiring and the shake detecting means from being transmitted to each other.

【００７３】さらに、振れ検出手段と電気配線との間に
弾性部材を配置することにより、電気配線が装置の作動
等に伴って振動した際にもこの電気配線の振動が弾性部
材により吸収されるため、電気配線の振動が振れ検出手
段に伝わるのを防止することができ、振れ検出手段は精
度良い検出を行うことができる。また、電気配線と振れ
検出手段間での振動（特に高周波振動）が互いに伝達す
るのを防止することができる。Further, by disposing an elastic member between the shake detecting means and the electric wiring, the vibration of the electric wiring is absorbed by the elastic member even when the electric wiring vibrates with the operation of the apparatus. Therefore, it is possible to prevent the vibration of the electric wiring from being transmitted to the shake detecting means, and the shake detecting means can perform accurate detection. Further, it is possible to prevent the vibration (particularly, high-frequency vibration) between the electric wiring and the shake detecting means from being transmitted to each other.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】第１実施形態におけるカメラの内部構造斜視
図。FIG. 1 is a perspective view of the internal structure of a camera according to a first embodiment.

【図２】第１実施形態におけるカメラの内部構造側面
図。FIG. 2 is a side view of the internal structure of the camera according to the first embodiment.

【図３】第２実施形態におけるカメラの内部構造斜視
図。FIG. 3 is a perspective view of the internal structure of a camera according to a second embodiment.

【図４】第２実施形態におけるカメラの内部構造側面
図。FIG. 4 is a side view of the internal structure of a camera according to a second embodiment.

【図５】第２実施形態と別形態のカメラの内部構造斜視
図。FIG. 5 is a perspective view of the internal structure of a camera different from the second embodiment.

【図６】第２実施形態と別形態のカメラの内部構造側面
図。FIG. 6 is a side view of the internal structure of a camera different from the second embodiment.

【図７】第３実施形態におけるカメラの内部構造斜視
図。FIG. 7 is a perspective view of the internal structure of a camera according to a third embodiment.

【図８】第３実施形態におけるカメラの内部構造側面
図。FIG. 8 is a side view showing the internal structure of a camera according to a third embodiment.

【図９】（ａ）カメラの斜視図。 （ｂ）カメラの内部構造斜視図。FIG. 9A is a perspective view of a camera. (B) Perspective view of the internal structure of the camera.

【図１０】演算部４７ｐのブロック図。FIG. 10 is a block diagram of a calculation unit 47p.

【図１１】（ａ）振れ補正装置の正面図。 （ｂ）振れ補正装置の側面図（図１１（ａ）中矢印５１
方向から見た図）。 （ｃ）振れ補正装置の断面図（図１１（ａ）中Ａ−Ａ断
面図）。FIG. 11A is a front view of a shake correction apparatus. (B) Side view of the shake correction device (arrow 51 in FIG. 11A)
Figure viewed from the direction). FIG. 11C is a cross-sectional view of the shake correction apparatus (a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 11A).

【図１２】振れ補正装置の斜視図。FIG. 12 is a perspective view of a shake correction apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１１ カメラボディ １１ｐ、１１ｙ 支持部 １２ 第１の基板 １３ 第２の基板 １３ａ グランドパターン ２１ 両面テープ ２２ｐ、２２ｙ 粘弾性接着剤 ３１ 弾性部材 ４５ｐ、４５ｙ 振れ検出部 ４５ｐａ、４５ｙａ 端子 ５２ 補正レンズ ５３ 振れ補正装置 ５３ａ 支持軸 ５３ｂ ピン ５３ｃ 支持枠 ５４ 地板 ５４ａ 長孔 ５４ｂ 側壁 ５４ｃ ピン ５７ 光軸 ５８ｐ 支持枠５３ｃ（補正レンズ５２）の移動方向 ５８ｙ 支持枠５３ｃ（補正レンズ５２）の移動方向 Reference Signs List 11 camera body 11p, 11y support portion 12 first substrate 13 second substrate 13a ground pattern 21 double-sided tape 22p, 22y viscoelastic adhesive 31 elastic member 45p, 45y shake detection portion 45pa, 45ya terminal 52 correction lens 53 shake correction Device 53a Support shaft 53b Pin 53c Support frame 54 Main plate 54a Slot 54b Side wall 54c Pin 57 Optical axis 58p Movement direction of support frame 53c (correction lens 52) 58y Movement direction of support frame 53c (correction lens 52)

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Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 装置振れを検出する振れ検出手段の近傍
に電気配線が配置された光学装置において、 装置本体に、前記電気配線が前記振れ検出手段に接触し
ないように前記電気配線を支持する支持部を設けたこと
を特徴とする光学装置。1. An optical device in which electric wiring is disposed near a shake detecting means for detecting a device shake, wherein a support for supporting the electric wiring is provided on a main body of the apparatus so that the electric wiring does not contact the shake detecting means. An optical device, comprising a unit. 【請求項２】 前記支持部が前記振れ検出手段を挟んだ
両側に設けられていることを特徴とする請求項１に記載
の光学装置。2. The optical device according to claim 1, wherein the support portions are provided on both sides of the shake detecting unit. 【請求項３】 装置振れを検出する振れ検出手段の近傍
に電気配線が配置された光学装置において、 前記電気配線と前記振れ検出手段とを結合させたことを
特徴とする光学装置。3. An optical device in which an electric wiring is arranged near a shake detecting means for detecting a device shake, wherein the electric wiring and the shake detecting means are combined. 【請求項４】 前記振れ検出手段と前記電気配線とが粘
弾性部材を介して結合されていることを特徴とする請求
項３に記載の光学装置。4. The optical device according to claim 3, wherein the shake detecting means and the electric wiring are connected via a viscoelastic member. 【請求項５】 前記粘弾性部材が両面テープであること
を特徴とする請求項４に記載の光学装置。5. The optical device according to claim 4, wherein the viscoelastic member is a double-sided tape. 【請求項６】 前記粘弾性部材が粘弾性接着剤であるこ
とを特徴とする請求項４に記載の光学装置。6. The optical device according to claim 4, wherein the viscoelastic member is a viscoelastic adhesive. 【請求項７】 装置振れを検出する振れ検出手段の近傍
に電気配線が配置された光学装置において、 前記振れ検出手段と前記電気配線との間に弾性部材を配
置したことを特徴とする光学装置。7. An optical device in which electric wiring is arranged in the vicinity of shake detecting means for detecting device shake, wherein an elastic member is arranged between the shake detecting means and the electric wiring. . 【請求項８】 前記振動吸収部材がモルトプレン又はブ
チルゴムからなることを特徴とする請求項７に記載の光
学装置。8. The optical device according to claim 7, wherein the vibration absorbing member is made of maltprene or butyl rubber. 【請求項９】 前記電気配線のうち前記振れ検出手段が
配置されている側の面には電気シールドパターンが設け
られていることを特徴とする請求項１から８のいずれか
に記載の光学装置。9. The optical device according to claim 1, wherein an electric shield pattern is provided on a surface of the electric wiring on a side on which the shake detection unit is arranged. .