JP2002303584A - 巻糸パッケージの表面汚れ検査方法 - Google Patents
巻糸パッケージの表面汚れ検査方法Info
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- Spinning Or Twisting Of Yarns (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 薄くかつ狭い面積の汚れであっても、その汚
れをパッケージ形状に影響されず、かつ糸の影と区別し
て判定することが出来る巻糸パッケージの表面汚れ検査
方法を提供する。 【解決手段】 巻糸パッケージからの反射光をラインセ
ンサにより取り込み、素子のアナログ信号を1素子毎に
デジタル階調信号処理を施し、1画素毎のデジタル階調
データを作成し、該データより表面汚れを検査する方法
において、巻糸パッケージの周方向のデジタル階調デー
タを行方向に、巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調
データを列方向に、2次元のデジタル画像を形成し、列
方向を少なくとも2以上のブロックに分割し、各画素単
位でのデジタル階調データをAとし、各ブロック範囲内
の画素単位での最小デジタル階調データをAmin、各ブ
ロック範囲内の画素単位での最大デジタル階調データを
Amax、また、予め設定したデジタル階調データ管理値
をK1とした場合、各ブロック範囲内にAmax−Amin>
K1を満足するデジタル階調データが存在する場合に表
面汚れと判定する巻糸パッケージの表面汚れ検査方法。
れをパッケージ形状に影響されず、かつ糸の影と区別し
て判定することが出来る巻糸パッケージの表面汚れ検査
方法を提供する。 【解決手段】 巻糸パッケージからの反射光をラインセ
ンサにより取り込み、素子のアナログ信号を1素子毎に
デジタル階調信号処理を施し、1画素毎のデジタル階調
データを作成し、該データより表面汚れを検査する方法
において、巻糸パッケージの周方向のデジタル階調デー
タを行方向に、巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調
データを列方向に、2次元のデジタル画像を形成し、列
方向を少なくとも2以上のブロックに分割し、各画素単
位でのデジタル階調データをAとし、各ブロック範囲内
の画素単位での最小デジタル階調データをAmin、各ブ
ロック範囲内の画素単位での最大デジタル階調データを
Amax、また、予め設定したデジタル階調データ管理値
をK1とした場合、各ブロック範囲内にAmax−Amin>
K1を満足するデジタル階調データが存在する場合に表
面汚れと判定する巻糸パッケージの表面汚れ検査方法。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、巻糸パッケージの
表面汚れ検査方法に関し、とくに、表面汚れを精度良く
判定することができる巻糸パッケージの表面汚れ検査方
法に関する。
表面汚れ検査方法に関し、とくに、表面汚れを精度良く
判定することができる巻糸パッケージの表面汚れ検査方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】合成繊維の製造工場で生産される巻糸パ
ッケージには、種々の原因によりパッケージ表面に毛
羽、糸落ち、段付き、汚れなどの欠点が存在しているこ
とがある。そのため、製造工場では事前にこれら欠点が
検査され、欠点のない巻糸パッケージのみが出荷される
ように管理されている。
ッケージには、種々の原因によりパッケージ表面に毛
羽、糸落ち、段付き、汚れなどの欠点が存在しているこ
とがある。そのため、製造工場では事前にこれら欠点が
検査され、欠点のない巻糸パッケージのみが出荷される
ように管理されている。
【0003】上記のような種々の表面欠点のうち、汚れ
については、特開平11−201914号公報に、糸の
影から測定した反射光の電圧信号を判定基準にして、巻
糸パッケージの汚れを検査するようにした方法が提案さ
れている。
については、特開平11−201914号公報に、糸の
影から測定した反射光の電圧信号を判定基準にして、巻
糸パッケージの汚れを検査するようにした方法が提案さ
れている。
【0004】しかし、上記提案の検査方法では、巻糸パ
ッケージ表面の糸の影から測定した反射光の電圧信号を
判定基準にするため、薄くかつ狭い面積の汚れの場合に
は、糸の影と同様またはそれ以下の電圧信号しか発生し
ないことになり、その汚れを糸の影と区別することが出
来なくなるという欠点があった。
ッケージ表面の糸の影から測定した反射光の電圧信号を
判定基準にするため、薄くかつ狭い面積の汚れの場合に
は、糸の影と同様またはそれ以下の電圧信号しか発生し
ないことになり、その汚れを糸の影と区別することが出
来なくなるという欠点があった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、巻糸
パッケージ表面の部分的な明るさの違いに影響されるこ
となく、薄くかつ狭い面積の汚れあるいは回転方向に発
生した薄い年輪状の汚れであっても、その汚れを糸の影
と区別して判定できるようにし、表面汚れを精度良く判
定できるようにした巻糸パッケージの表面汚れ検査方法
を提供することにある。
パッケージ表面の部分的な明るさの違いに影響されるこ
となく、薄くかつ狭い面積の汚れあるいは回転方向に発
生した薄い年輪状の汚れであっても、その汚れを糸の影
と区別して判定できるようにし、表面汚れを精度良く判
定できるようにした巻糸パッケージの表面汚れ検査方法
を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明に係る巻糸パッケージの表面汚れ検査方法
は、中空管からなる巻糸管に巻かれた巻糸パッケージ
を、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸パッケージの
表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定した固体撮像
素子を配列したラインセンサにより取り込み、該素子の
アナログ信号を1素子毎にデジタル階調信号処理を施
し、1画素毎のデジタル階調データを作成し、該データ
より表面汚れを検査する方法において、前記巻糸パッケ
ージの周方向のデジタル階調データを行方向に、前記巻
糸パッケージの軸方向のデジタル階調データを列方向
に、2次元のデジタル画像を形成し、列方向を少なくと
も2以上のブロックに分割し、各画素単位でのデジタル
階調データをAとし、各ブロック範囲内の画素単位での
最小デジタル階調データをAmin、各ブロック範囲内の
画素単位での最大デジタル階調データをAmax、また、
予め設定したデジタル階調データ管理値をK1とした場
合、各ブロック範囲内にAmax−Amin>K1を満足する
デジタル階調データが存在する場合に表面汚れと判定す
ることを特徴とする。
に、本発明に係る巻糸パッケージの表面汚れ検査方法
は、中空管からなる巻糸管に巻かれた巻糸パッケージ
を、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸パッケージの
表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定した固体撮像
素子を配列したラインセンサにより取り込み、該素子の
アナログ信号を1素子毎にデジタル階調信号処理を施
し、1画素毎のデジタル階調データを作成し、該データ
より表面汚れを検査する方法において、前記巻糸パッケ
ージの周方向のデジタル階調データを行方向に、前記巻
糸パッケージの軸方向のデジタル階調データを列方向
に、2次元のデジタル画像を形成し、列方向を少なくと
も2以上のブロックに分割し、各画素単位でのデジタル
階調データをAとし、各ブロック範囲内の画素単位での
最小デジタル階調データをAmin、各ブロック範囲内の
画素単位での最大デジタル階調データをAmax、また、
予め設定したデジタル階調データ管理値をK1とした場
合、各ブロック範囲内にAmax−Amin>K1を満足する
デジタル階調データが存在する場合に表面汚れと判定す
ることを特徴とする。
【0007】また、本発明に係る巻糸パッケージの表面
汚れ検査方法は、中空管からなる巻糸管に巻かれた巻糸
パッケージを、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸パ
ッケージの表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定し
た固体撮像素子を配列したラインセンサにより取り込
み、該素子のアナログ信号を1素子毎にデジタル階調信
号処理を施し、1画素毎のデジタル階調データを作成
し、該データより表面汚れを検査する方法において、前
記巻糸パッケージの周方向のデジタル階調データを行方
向に、前記巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調デー
タを列方向に、2次元のデジタル画像を形成し、列方向
を少なくとも2以上のブロックに分割し、各ブロック内
の画素単位での最小階調データAmin(m)と最大階調デー
タAmax(m)の差の平均値をBave(mは該ブロック番
号)、また、予め設定したデジタル階調データ管理値を
K2とした場合、(Amax(m)−Amin(m))/Bave>K
2を満足するデジタル階調データが存在する場合に表面
汚れと判定することを特徴とする。
汚れ検査方法は、中空管からなる巻糸管に巻かれた巻糸
パッケージを、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸パ
ッケージの表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定し
た固体撮像素子を配列したラインセンサにより取り込
み、該素子のアナログ信号を1素子毎にデジタル階調信
号処理を施し、1画素毎のデジタル階調データを作成
し、該データより表面汚れを検査する方法において、前
記巻糸パッケージの周方向のデジタル階調データを行方
向に、前記巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調デー
タを列方向に、2次元のデジタル画像を形成し、列方向
を少なくとも2以上のブロックに分割し、各ブロック内
の画素単位での最小階調データAmin(m)と最大階調デー
タAmax(m)の差の平均値をBave(mは該ブロック番
号)、また、予め設定したデジタル階調データ管理値を
K2とした場合、(Amax(m)−Amin(m))/Bave>K
2を満足するデジタル階調データが存在する場合に表面
汚れと判定することを特徴とする。
【0008】さらに、本発明に係る巻糸パッケージの表
面汚れ検査方法は、中空管からなる巻糸管に巻かれた巻
糸パッケージを、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸
パッケージの表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定
した固体撮像素子を配列したラインセンサにより取り込
み、該素子のアナログ信号を1素子毎にデジタル階調信
号処理を施し、1画素毎のデジタル階調データを作成
し、該データより表面汚れを検査する方法において、前
記巻糸パッケージの周方向のデジタル階調データを行方
向に、前記巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調デー
タを列方向に、2次元のデジタル画像を形成し、列方向
を少なくとも2以上のブロックに分割し、各ブロック内
のデジタル階調データの平均値をAave(m)(mは該ブロ
ック番号)、また、予め設定したデジタル階調データ管
理値をK3とした場合、|Aave(m)−Aave(m+1)|>K
3を満足するデジタル階調データが存在する場合に表面
汚れと判定することを特徴とする。
面汚れ検査方法は、中空管からなる巻糸管に巻かれた巻
糸パッケージを、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸
パッケージの表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定
した固体撮像素子を配列したラインセンサにより取り込
み、該素子のアナログ信号を1素子毎にデジタル階調信
号処理を施し、1画素毎のデジタル階調データを作成
し、該データより表面汚れを検査する方法において、前
記巻糸パッケージの周方向のデジタル階調データを行方
向に、前記巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調デー
タを列方向に、2次元のデジタル画像を形成し、列方向
を少なくとも2以上のブロックに分割し、各ブロック内
のデジタル階調データの平均値をAave(m)(mは該ブロ
ック番号)、また、予め設定したデジタル階調データ管
理値をK3とした場合、|Aave(m)−Aave(m+1)|>K
3を満足するデジタル階調データが存在する場合に表面
汚れと判定することを特徴とする。
【0009】これらの方法は、各々単独で採用されても
よく、上記表面汚れ判定方法を少なくとも2つ組み合わ
せて表面汚れを判定する巻糸パッケージの表面汚れ検査
方法としてもよい。
よく、上記表面汚れ判定方法を少なくとも2つ組み合わ
せて表面汚れを判定する巻糸パッケージの表面汚れ検査
方法としてもよい。
【0010】上記のような検査方法を用いることによ
り、巻糸パッケージ表面位置による反射光の変化に影響
されることなく、また糸の影に影響されることなく、濃
い面積の大きい汚れはもちろんのこと、薄くかつ面積の
狭い汚れ、またはパッケージ回転方向に発生する年輪状
の汚れであっても、精度良く測定でき、それに基づいて
的確に合否判定することが可能になる。
り、巻糸パッケージ表面位置による反射光の変化に影響
されることなく、また糸の影に影響されることなく、濃
い面積の大きい汚れはもちろんのこと、薄くかつ面積の
狭い汚れ、またはパッケージ回転方向に発生する年輪状
の汚れであっても、精度良く測定でき、それに基づいて
的確に合否判定することが可能になる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の望ましい実施の
形態について、図面を参照して具体的に説明する。図1
は、本発明の一実施態様に係る巻糸パッケージの表面汚
れ検査方法を実施するための装置の概略構成を示してい
る。図1において、コンベア1の移動方向に沿って待機
ステーションST1、検査ステーションST2、払出し
ステーションST3が設けられている。トレーTはコン
ベア1上に取り付けられ、そのトレーTの上に巻糸パッ
ケージPが回動可能に立設されて、トレーTは矢印方向
に間欠的に搬送されるようになっている。
形態について、図面を参照して具体的に説明する。図1
は、本発明の一実施態様に係る巻糸パッケージの表面汚
れ検査方法を実施するための装置の概略構成を示してい
る。図1において、コンベア1の移動方向に沿って待機
ステーションST1、検査ステーションST2、払出し
ステーションST3が設けられている。トレーTはコン
ベア1上に取り付けられ、そのトレーTの上に巻糸パッ
ケージPが回動可能に立設されて、トレーTは矢印方向
に間欠的に搬送されるようになっている。
【0012】巻糸パッケージPの表面は、それぞれ傾斜
の異なるテーパ部P1とストレート部P2が存在する巻
き形状を有する。
の異なるテーパ部P1とストレート部P2が存在する巻
き形状を有する。
【0013】検査ステーションST2には暗室2が設け
られ、その暗室2内に巻糸パッケージPを回転させる回
転駆動装置R1が設けられている。R2は、巻糸パッケ
ージPを所定の立設姿勢に保つための軸受である。
られ、その暗室2内に巻糸パッケージPを回転させる回
転駆動装置R1が設けられている。R2は、巻糸パッケ
ージPを所定の立設姿勢に保つための軸受である。
【0014】暗室2内には、上記のように立設された巻
糸パッケージPの周囲に、その上部を均一に照らすよう
に拡散光源3が配置されている。巻糸パッケージPの表
面上の拡散光源3による照射範囲に対し、巻糸パッケー
ジPからの反射光を撮像するラインセンサ4が、巻糸パ
ッケージPの表面と垂直の方向に、とくに稜線方向に向
けて配置され、そのラインセンサ4は画像処理装置5に
接続されている。この画像処理装置5は、ラインセンサ
4に配列された各素子毎に取り込んだアナログ信号(以
下、反射光の強度と記述することもある)を、1画素毎
に各画素の反射光の強度を0〜255階調以上のデジタ
ル階調データに変換し、1画素毎にデジタル階調信号処
理を施し、1画素毎のデジタル階調データを作成し、巻
糸パッケージPの周方向のデジタル階調データを行方向
に、巻糸パッケージPの軸方向のデジタル階調データを
列方向にして、2次元デジタル画像化する。
糸パッケージPの周囲に、その上部を均一に照らすよう
に拡散光源3が配置されている。巻糸パッケージPの表
面上の拡散光源3による照射範囲に対し、巻糸パッケー
ジPからの反射光を撮像するラインセンサ4が、巻糸パ
ッケージPの表面と垂直の方向に、とくに稜線方向に向
けて配置され、そのラインセンサ4は画像処理装置5に
接続されている。この画像処理装置5は、ラインセンサ
4に配列された各素子毎に取り込んだアナログ信号(以
下、反射光の強度と記述することもある)を、1画素毎
に各画素の反射光の強度を0〜255階調以上のデジタ
ル階調データに変換し、1画素毎にデジタル階調信号処
理を施し、1画素毎のデジタル階調データを作成し、巻
糸パッケージPの周方向のデジタル階調データを行方向
に、巻糸パッケージPの軸方向のデジタル階調データを
列方向にして、2次元デジタル画像化する。
【0015】この各画素の反射光の強度をデジタル化し
た2次元デジタル画像に対しての汚れ判定処理の詳細に
ついては後述する。
た2次元デジタル画像に対しての汚れ判定処理の詳細に
ついては後述する。
【0016】本発明において、ラインセンサ4及び拡散
光源3は、1組以上を設けることが必要である。その組
数は巻糸パッケージPの巻幅の長さ、または汚れの検出
精度に応じて決定すればよく、ラインセンサ4と拡散光
源3を1組使用して全巻幅を照射撮像するようにしても
よいし、ラインセンサ4と拡散光源3を複数組使用し
て、巻幅方向に検査範囲を複数分割するようにしてもよ
い。
光源3は、1組以上を設けることが必要である。その組
数は巻糸パッケージPの巻幅の長さ、または汚れの検出
精度に応じて決定すればよく、ラインセンサ4と拡散光
源3を1組使用して全巻幅を照射撮像するようにしても
よいし、ラインセンサ4と拡散光源3を複数組使用し
て、巻幅方向に検査範囲を複数分割するようにしてもよ
い。
【0017】図2はラインセンサ4及び画像処理装置5
の構成図であり、画像処理装置5は、データ入力処理で
ラインセンサ4からアナログ電圧信号を取り込む。画像
処理装置5の処理部では、階調化処理部6において、取
り込んだアナログ電圧信号のレベルを各画素単位で0〜
255階調以上のデジタル階調信号に変換し、2次元画
像化し、演算/判定処理部7において、以下に述べるも
ろもろの演算処理を実施し、設定器8から予め入力した
デジタル階調データと演算値を比較し、その結果を例え
ば合格であれば「0」また、不合格であれば「1」の2
値で判定する。同時に反射光の強度をデジタル化した2
次元デジタル画像のデータや演算結果を保存する機能を
有する。また、この保存した2次元デジタル画像や演算
結果を外部に接続したプリンタなどの外部機器9に出力
する機能を有する。データ出力処理では判定した結果を
「0」または「1」のデジタル信号として外部機器9に
出力する。
の構成図であり、画像処理装置5は、データ入力処理で
ラインセンサ4からアナログ電圧信号を取り込む。画像
処理装置5の処理部では、階調化処理部6において、取
り込んだアナログ電圧信号のレベルを各画素単位で0〜
255階調以上のデジタル階調信号に変換し、2次元画
像化し、演算/判定処理部7において、以下に述べるも
ろもろの演算処理を実施し、設定器8から予め入力した
デジタル階調データと演算値を比較し、その結果を例え
ば合格であれば「0」また、不合格であれば「1」の2
値で判定する。同時に反射光の強度をデジタル化した2
次元デジタル画像のデータや演算結果を保存する機能を
有する。また、この保存した2次元デジタル画像や演算
結果を外部に接続したプリンタなどの外部機器9に出力
する機能を有する。データ出力処理では判定した結果を
「0」または「1」のデジタル信号として外部機器9に
出力する。
【0018】以下に、画像処理装置5の処理部での処理
詳細について述べる。例えば、巻糸パッケージPの表面
に汚れがあり、反射光の強度を8ビットのデジタル階調
データに変換する場合、階調データの範囲は0〜255
の整数値として処理され、2次元画像化される。この2
次元画像を回転軸に直交する方向(稜線方向)に2以上
の分割、例えば5分割した場合のイメージは図3のよう
になる。各分割範囲内で、横軸に反射光の強度のデジタ
ルデータ、縦軸に画素の個数をプロットしたのが図4で
あり、各分割範囲で、ある強度を基準にほぼ正規分布す
る。
詳細について述べる。例えば、巻糸パッケージPの表面
に汚れがあり、反射光の強度を8ビットのデジタル階調
データに変換する場合、階調データの範囲は0〜255
の整数値として処理され、2次元画像化される。この2
次元画像を回転軸に直交する方向(稜線方向)に2以上
の分割、例えば5分割した場合のイメージは図3のよう
になる。各分割範囲内で、横軸に反射光の強度のデジタ
ルデータ、縦軸に画素の個数をプロットしたのが図4で
あり、各分割範囲で、ある強度を基準にほぼ正規分布す
る。
【0019】なお、1〜5番目の各分割範囲内の強度分
布の関係は図4と同じような分布となるが、中心値が異
なった分布となる。例えば、分割した1番目の範囲に汚
れs1があり、この部分の反射光の強度データをAmin
(1)とした場合、汚れの部分は反射光強度が小さくなる
ことから、分布曲線は図5に示すようになるので、分布
曲線内での最大値Amax(1)から予め設定した管理値K1
の範囲内は合格、範囲から外れた場合不合格と判定すれ
ば、汚れの場所に関わらず、薄くかつ面積の狭い汚れの
判別が可能となる。
布の関係は図4と同じような分布となるが、中心値が異
なった分布となる。例えば、分割した1番目の範囲に汚
れs1があり、この部分の反射光の強度データをAmin
(1)とした場合、汚れの部分は反射光強度が小さくなる
ことから、分布曲線は図5に示すようになるので、分布
曲線内での最大値Amax(1)から予め設定した管理値K1
の範囲内は合格、範囲から外れた場合不合格と判定すれ
ば、汚れの場所に関わらず、薄くかつ面積の狭い汚れの
判別が可能となる。
【0020】なお、範囲の分割数については、巻き糸パ
ッケージPの表面の稜線方向の幅が200mmで、ライン
センサ4の1素子あたりの長さが0.1mm〜1.0mmの
場合、5〜20分割程度が好ましい。
ッケージPの表面の稜線方向の幅が200mmで、ライン
センサ4の1素子あたりの長さが0.1mm〜1.0mmの
場合、5〜20分割程度が好ましい。
【0021】次に、回転軸と直交する方向に2以上に分
割したm番目の範囲の反射光の強度の最大値Amax(m)と
最小値Amin(m)の差をBmとし、Bmを稜線方向に合計した
値をΣBm、ΣBmの平均値(ΣBm)/mをBaveとする。
割したm番目の範囲の反射光の強度の最大値Amax(m)と
最小値Amin(m)の差をBmとし、Bmを稜線方向に合計した
値をΣBm、ΣBmの平均値(ΣBm)/mをBaveとする。
【0022】巻糸パッケージPでは、回転方向に少なか
らず巻糸の層の影が発生し、この部分の反射光の強度デ
ータは少なからず小さい値となるため、2以上の分割範
囲の各範囲で汚れがなくても誤って、巻糸の層の影を汚
れと判定する可能性がある。この問題を解決するため、
図6に示すように、各範囲内で反射光の強度データの最
大値と最小値の差Bmを平均化した値Baveに対する差分
の比率Bm/Baveを指標として予め設定した管理値K
2と比較することにより、巻糸の層の影を誤って汚れと
判定せず、薄くかつ面積の狭い汚れの検出が可能にな
る。
らず巻糸の層の影が発生し、この部分の反射光の強度デ
ータは少なからず小さい値となるため、2以上の分割範
囲の各範囲で汚れがなくても誤って、巻糸の層の影を汚
れと判定する可能性がある。この問題を解決するため、
図6に示すように、各範囲内で反射光の強度データの最
大値と最小値の差Bmを平均化した値Baveに対する差分
の比率Bm/Baveを指標として予め設定した管理値K
2と比較することにより、巻糸の層の影を誤って汚れと
判定せず、薄くかつ面積の狭い汚れの検出が可能にな
る。
【0023】巻糸パッケージPの表面に発生する汚れに
は糸巻き方向に平行した方向に年輪状の汚れが発生する
場合がある。この汚れが上記2つの方法では、稜線方向
に分割した範囲全体に年輪状に発生した汚れが存在する
場合、検出不可能という場合が生じる。これを解決する
ため、図7に示すように、各分割範囲の反射光の強度デ
ータの平均値を求め、この平均値データを各分割範囲の
代表値Aave(m)とし、隣接する分割範囲間で代表値の
差のデータSm=|Aave(m)−Aave(m+1)|を求め、こ
れを予め設定した管理値K3と比較することにより、あ
る分割範囲全体に存在する年輪状の汚れを精度良く検出
することが可能になる。
は糸巻き方向に平行した方向に年輪状の汚れが発生する
場合がある。この汚れが上記2つの方法では、稜線方向
に分割した範囲全体に年輪状に発生した汚れが存在する
場合、検出不可能という場合が生じる。これを解決する
ため、図7に示すように、各分割範囲の反射光の強度デ
ータの平均値を求め、この平均値データを各分割範囲の
代表値Aave(m)とし、隣接する分割範囲間で代表値の
差のデータSm=|Aave(m)−Aave(m+1)|を求め、こ
れを予め設定した管理値K3と比較することにより、あ
る分割範囲全体に存在する年輪状の汚れを精度良く検出
することが可能になる。
【0024】次に図1に示したように、巻糸パッケージ
Pの表面をラインセンサ4で撮像する場合、巻糸パッケ
ージPの稜線方向を見た場合、テーパ部P1とストレー
ト部P2で巻糸パッケージPの表面の反射光の強度が異
なるため、上述した検査方法では、反射光の強度が異な
る部分全体を汚れと判断する。この問題を解決するた
め、テーパ部P1とストレート部P2の境界位置は機械
的な配置で決まることから、予め境界位置データを設定
しておき、テーパ部P1、及びストレート部P2の各々
の範囲で上述した各検査処理を実施することにより、パ
ッケージ巻き形状の変化による反射光の強度の変化の影
響をなくすことが可能となり、薄い狭い面積の汚れを精
度良く検出することが可能になる。
Pの表面をラインセンサ4で撮像する場合、巻糸パッケ
ージPの稜線方向を見た場合、テーパ部P1とストレー
ト部P2で巻糸パッケージPの表面の反射光の強度が異
なるため、上述した検査方法では、反射光の強度が異な
る部分全体を汚れと判断する。この問題を解決するた
め、テーパ部P1とストレート部P2の境界位置は機械
的な配置で決まることから、予め境界位置データを設定
しておき、テーパ部P1、及びストレート部P2の各々
の範囲で上述した各検査処理を実施することにより、パ
ッケージ巻き形状の変化による反射光の強度の変化の影
響をなくすことが可能となり、薄い狭い面積の汚れを精
度良く検出することが可能になる。
【0025】
【発明の効果】上述したように本発明によれば、ライン
センサを用いて撮像し、巻糸パッケージPのテーパ部P
1及びストレート部P2のそれぞれの範囲で、稜線方向
に分割した各範囲での反射光の強度の最大差、平均値に
注目し、かつ各範囲間での反射光の強度の平均差を求め
ることにより、巻糸の糸層の影及び表面形状による表面
反射光強度の変化の影響を受けることなく、薄くかつ面
積の狭い汚れ及び年輪状の汚れを精度良く測定すること
が可能になり、巻糸パッケージの表面汚れを高精度で検
査することができる。
センサを用いて撮像し、巻糸パッケージPのテーパ部P
1及びストレート部P2のそれぞれの範囲で、稜線方向
に分割した各範囲での反射光の強度の最大差、平均値に
注目し、かつ各範囲間での反射光の強度の平均差を求め
ることにより、巻糸の糸層の影及び表面形状による表面
反射光強度の変化の影響を受けることなく、薄くかつ面
積の狭い汚れ及び年輪状の汚れを精度良く測定すること
が可能になり、巻糸パッケージの表面汚れを高精度で検
査することができる。
【図1】本発明の一実施態様に係る巻糸パッケージの表
面汚れ検査方法を実施するための装置を示す概略正面図
である。
面汚れ検査方法を実施するための装置を示す概略正面図
である。
【図2】図1の装置を使用して測定する場合のラインセ
ンサ及び画像処理装置の機能ブロック図である。
ンサ及び画像処理装置の機能ブロック図である。
【図3】図1の装置を使用して測定する場合の画像処理
装置内での撮像範囲分割イメージ図である。
装置内での撮像範囲分割イメージ図である。
【図4】図3の撮像範囲分割の各範囲内の反射光強度デ
ータとデータ個数を表すヒストグラムのイメージ図であ
る。
ータとデータ個数を表すヒストグラムのイメージ図であ
る。
【図5】ある分割範囲に汚れが存在する場合の反射光強
度データとデータ個数を表すヒストグラムのイメージ図
である。
度データとデータ個数を表すヒストグラムのイメージ図
である。
【図6】各分割範囲の反射光強度の最大値と最小値の差
Bmと各分割範囲のBmの平均値Bave及び平均値に対する
絶対値の比率Bm/Baveの関係を表す図である。
Bmと各分割範囲のBmの平均値Bave及び平均値に対する
絶対値の比率Bm/Baveの関係を表す図である。
【図7】ある分割範囲全体が汚れていた場合(年輪状の
汚れ)の測定論理のイメージ図である。
汚れ)の測定論理のイメージ図である。
【符号の説明】 1 コンベア 2 暗室 3 拡散光源 4 ラインセンサ 5 画像処理装置 T トレイ P 巻糸パッケージ P1 巻糸パッケージテーパ部 P2 巻糸パッケージストレート部 R1 回転駆動装置 R2 軸受
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中澤 源伸 石川県能美郡辰口町字北市リ1番地 東レ 株式会社石川工場内 Fターム(参考) 2G051 AA90 AB20 CA03 CB01 DA08 EA11 EB01 EC02 EC03 3B154 AB11 BA53 BB18 BB47 BB77 CA13 CA16 CA23 CA27 CA29 DA30 4L056 EA05 EA25 EA32 EA34 EA43 5B057 AA04 AA18 BA02 BA30 CA02 CA08 CA12 CA16 CB02 CB08 CB12 CB16 CC01 CE11 DA03 DB05 DB09 DC23
Claims (4)
- 【請求項1】 中空管からなる巻糸管に巻かれた巻糸パ
ッケージを、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸パッ
ケージの表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定した
固体撮像素子を配列したラインセンサにより取り込み、
該素子のアナログ信号を1素子毎にデジタル階調信号処
理を施し、1画素毎のデジタル階調データを作成し、該
データより表面汚れを検査する方法において、前記巻糸
パッケージの周方向のデジタル階調データを行方向に、
前記巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調データを列
方向に、2次元のデジタル画像を形成し、列方向を少な
くとも2以上のブロックに分割し、各画素単位でのデジ
タル階調データをAとし、各ブロック範囲内の画素単位
での最小デジタル階調データをAmin、各ブロック範囲
内の画素単位での最大デジタル階調データをAmax、ま
た、予め設定したデジタル階調データ管理値をK1とし
た場合、各ブロック範囲内にAmax−Amin>K1を満足
するデジタル階調データが存在する場合に表面汚れと判
定する巻糸パッケージの表面汚れ検査方法。 - 【請求項2】 中空管からなる巻糸管に巻かれた巻糸パ
ッケージを、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸パッ
ケージの表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定した
固体撮像素子を配列したラインセンサにより取り込み、
該素子のアナログ信号を1素子毎にデジタル階調信号処
理を施し、1画素毎のデジタル階調データを作成し、該
データより表面汚れを検査する方法において、前記巻糸
パッケージの周方向のデジタル階調データを行方向に、
前記巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調データを列
方向に、2次元のデジタル画像を形成し、列方向を少な
くとも2以上のブロックに分割し、各ブロック内の画素
単位での最小階調データAmin(m)と最大階調データAma
x(m)の差の平均値をBave(mは該ブロック番号)、ま
た、予め設定したデジタル階調データ管理値をK2とし
た場合、(Amax(m)−Amin(m))/Bave>K2を満足
するデジタル階調データが存在する場合に表面汚れと判
定する巻糸パッケージの表面汚れ検査方法。 - 【請求項3】 中空管からなる巻糸管に巻かれた巻糸パ
ッケージを、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸パッ
ケージの表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定した
固体撮像素子を配列したラインセンサにより取り込み、
該素子のアナログ信号を1素子毎にデジタル階調信号処
理を施し、1画素毎のデジタル階調データを作成し、該
データより表面汚れを検査する方法において、前記巻糸
パッケージの周方向のデジタル階調データを行方向に、
前記巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調データを列
方向に、2次元のデジタル画像を形成し、列方向を少な
くとも2以上のブロックに分割し、各ブロック内のデジ
タル階調データの平均値をAave(m)(mは該ブロック番
号)、また、予め設定したデジタル階調データ管理値を
K3とした場合、|Aave(m)−Aave(m+1)|>K3を満
足するデジタル階調データが存在する場合に表面汚れと
判定する巻糸パッケージの表面汚れ検査方法。 - 【請求項4】 請求項1〜3に記載の表面汚れ判定方法
を少なくとも2つ組み合わせて表面汚れを判定する巻糸
パッケージの表面汚れ検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001106845A JP2002303584A (ja) | 2001-04-05 | 2001-04-05 | 巻糸パッケージの表面汚れ検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001106845A JP2002303584A (ja) | 2001-04-05 | 2001-04-05 | 巻糸パッケージの表面汚れ検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002303584A true JP2002303584A (ja) | 2002-10-18 |
Family
ID=18959283
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001106845A Pending JP2002303584A (ja) | 2001-04-05 | 2001-04-05 | 巻糸パッケージの表面汚れ検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002303584A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007002363A (ja) * | 2005-06-24 | 2007-01-11 | Teijin Fibers Ltd | 糸条パッケージの発色性検査方法及び装置 |
CN110895803A (zh) * | 2018-08-24 | 2020-03-20 | 东华大学 | 一种卷装长丝的网丝缺陷检测方法 |
CN113899749A (zh) * | 2020-06-22 | 2022-01-07 | 东华大学 | 剥丝打结检测装置以及剥丝打结检测方法 |
CN114897894A (zh) * | 2022-07-11 | 2022-08-12 | 海门市芳华纺织有限公司 | 一种筒纱菊花芯缺陷检测方法 |
-
2001
- 2001-04-05 JP JP2001106845A patent/JP2002303584A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2007002363A (ja) * | 2005-06-24 | 2007-01-11 | Teijin Fibers Ltd | 糸条パッケージの発色性検査方法及び装置 |
JP4602848B2 (ja) * | 2005-06-24 | 2010-12-22 | 帝人ファイバー株式会社 | 糸条パッケージの発色性検査方法及び装置 |
CN110895803A (zh) * | 2018-08-24 | 2020-03-20 | 东华大学 | 一种卷装长丝的网丝缺陷检测方法 |
CN110895803B (zh) * | 2018-08-24 | 2023-03-28 | 东华大学 | 一种卷装长丝的网丝缺陷检测方法 |
CN113899749A (zh) * | 2020-06-22 | 2022-01-07 | 东华大学 | 剥丝打结检测装置以及剥丝打结检测方法 |
CN114897894A (zh) * | 2022-07-11 | 2022-08-12 | 海门市芳华纺织有限公司 | 一种筒纱菊花芯缺陷检测方法 |
CN114897894B (zh) * | 2022-07-11 | 2022-09-09 | 海门市芳华纺织有限公司 | 一种筒纱菊花芯缺陷检测方法 |
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