JP2002303584A - 巻糸パッケージの表面汚れ検査方法 - Google Patents
巻糸パッケージの表面汚れ検査方法Info
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- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 薄くかつ狭い面積の汚れであっても、その汚
れをパッケージ形状に影響されず、かつ糸の影と区別し
て判定することが出来る巻糸パッケージの表面汚れ検査
方法を提供する。 【解決手段】 巻糸パッケージからの反射光をラインセ
ンサにより取り込み、素子のアナログ信号を１素子毎に
デジタル階調信号処理を施し、１画素毎のデジタル階調
データを作成し、該データより表面汚れを検査する方法
において、巻糸パッケージの周方向のデジタル階調デー
タを行方向に、巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調
データを列方向に、２次元のデジタル画像を形成し、列
方向を少なくとも２以上のブロックに分割し、各画素単
位でのデジタル階調データをＡとし、各ブロック範囲内
の画素単位での最小デジタル階調データをＡmin、各ブ
ロック範囲内の画素単位での最大デジタル階調データを
Ａmax、また、予め設定したデジタル階調データ管理値
をＫ１とした場合、各ブロック範囲内にＡmax−Ａmin＞
Ｋ１を満足するデジタル階調データが存在する場合に表
面汚れと判定する巻糸パッケージの表面汚れ検査方法。
れをパッケージ形状に影響されず、かつ糸の影と区別し
て判定することが出来る巻糸パッケージの表面汚れ検査
方法を提供する。 【解決手段】 巻糸パッケージからの反射光をラインセ
ンサにより取り込み、素子のアナログ信号を１素子毎に
デジタル階調信号処理を施し、１画素毎のデジタル階調
データを作成し、該データより表面汚れを検査する方法
において、巻糸パッケージの周方向のデジタル階調デー
タを行方向に、巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調
データを列方向に、２次元のデジタル画像を形成し、列
方向を少なくとも２以上のブロックに分割し、各画素単
位でのデジタル階調データをＡとし、各ブロック範囲内
の画素単位での最小デジタル階調データをＡmin、各ブ
ロック範囲内の画素単位での最大デジタル階調データを
Ａmax、また、予め設定したデジタル階調データ管理値
をＫ１とした場合、各ブロック範囲内にＡmax−Ａmin＞
Ｋ１を満足するデジタル階調データが存在する場合に表
面汚れと判定する巻糸パッケージの表面汚れ検査方法。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、巻糸パッケージの
表面汚れ検査方法に関し、とくに、表面汚れを精度良く
判定することができる巻糸パッケージの表面汚れ検査方
法に関する。
表面汚れ検査方法に関し、とくに、表面汚れを精度良く
判定することができる巻糸パッケージの表面汚れ検査方
法に関する。
【０００２】
【従来の技術】合成繊維の製造工場で生産される巻糸パ
ッケージには、種々の原因によりパッケージ表面に毛
羽、糸落ち、段付き、汚れなどの欠点が存在しているこ
とがある。そのため、製造工場では事前にこれら欠点が
検査され、欠点のない巻糸パッケージのみが出荷される
ように管理されている。
ッケージには、種々の原因によりパッケージ表面に毛
羽、糸落ち、段付き、汚れなどの欠点が存在しているこ
とがある。そのため、製造工場では事前にこれら欠点が
検査され、欠点のない巻糸パッケージのみが出荷される
ように管理されている。
【０００３】上記のような種々の表面欠点のうち、汚れ
については、特開平１１−２０１９１４号公報に、糸の
影から測定した反射光の電圧信号を判定基準にして、巻
糸パッケージの汚れを検査するようにした方法が提案さ
れている。
については、特開平１１−２０１９１４号公報に、糸の
影から測定した反射光の電圧信号を判定基準にして、巻
糸パッケージの汚れを検査するようにした方法が提案さ
れている。
【０００４】しかし、上記提案の検査方法では、巻糸パ
ッケージ表面の糸の影から測定した反射光の電圧信号を
判定基準にするため、薄くかつ狭い面積の汚れの場合に
は、糸の影と同様またはそれ以下の電圧信号しか発生し
ないことになり、その汚れを糸の影と区別することが出
来なくなるという欠点があった。
ッケージ表面の糸の影から測定した反射光の電圧信号を
判定基準にするため、薄くかつ狭い面積の汚れの場合に
は、糸の影と同様またはそれ以下の電圧信号しか発生し
ないことになり、その汚れを糸の影と区別することが出
来なくなるという欠点があった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、巻糸
パッケージ表面の部分的な明るさの違いに影響されるこ
となく、薄くかつ狭い面積の汚れあるいは回転方向に発
生した薄い年輪状の汚れであっても、その汚れを糸の影
と区別して判定できるようにし、表面汚れを精度良く判
定できるようにした巻糸パッケージの表面汚れ検査方法
を提供することにある。
パッケージ表面の部分的な明るさの違いに影響されるこ
となく、薄くかつ狭い面積の汚れあるいは回転方向に発
生した薄い年輪状の汚れであっても、その汚れを糸の影
と区別して判定できるようにし、表面汚れを精度良く判
定できるようにした巻糸パッケージの表面汚れ検査方法
を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明に係る巻糸パッケージの表面汚れ検査方法
は、中空管からなる巻糸管に巻かれた巻糸パッケージ
を、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸パッケージの
表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定した固体撮像
素子を配列したラインセンサにより取り込み、該素子の
アナログ信号を１素子毎にデジタル階調信号処理を施
し、１画素毎のデジタル階調データを作成し、該データ
より表面汚れを検査する方法において、前記巻糸パッケ
ージの周方向のデジタル階調データを行方向に、前記巻
糸パッケージの軸方向のデジタル階調データを列方向
に、２次元のデジタル画像を形成し、列方向を少なくと
も２以上のブロックに分割し、各画素単位でのデジタル
階調データをＡとし、各ブロック範囲内の画素単位での
最小デジタル階調データをＡmin、各ブロック範囲内の
画素単位での最大デジタル階調データをＡmax、また、
予め設定したデジタル階調データ管理値をＫ１とした場
合、各ブロック範囲内にＡmax−Ａmin＞Ｋ１を満足する
デジタル階調データが存在する場合に表面汚れと判定す
ることを特徴とする。
に、本発明に係る巻糸パッケージの表面汚れ検査方法
は、中空管からなる巻糸管に巻かれた巻糸パッケージ
を、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸パッケージの
表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定した固体撮像
素子を配列したラインセンサにより取り込み、該素子の
アナログ信号を１素子毎にデジタル階調信号処理を施
し、１画素毎のデジタル階調データを作成し、該データ
より表面汚れを検査する方法において、前記巻糸パッケ
ージの周方向のデジタル階調データを行方向に、前記巻
糸パッケージの軸方向のデジタル階調データを列方向
に、２次元のデジタル画像を形成し、列方向を少なくと
も２以上のブロックに分割し、各画素単位でのデジタル
階調データをＡとし、各ブロック範囲内の画素単位での
最小デジタル階調データをＡmin、各ブロック範囲内の
画素単位での最大デジタル階調データをＡmax、また、
予め設定したデジタル階調データ管理値をＫ１とした場
合、各ブロック範囲内にＡmax−Ａmin＞Ｋ１を満足する
デジタル階調データが存在する場合に表面汚れと判定す
ることを特徴とする。
【０００７】また、本発明に係る巻糸パッケージの表面
汚れ検査方法は、中空管からなる巻糸管に巻かれた巻糸
パッケージを、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸パ
ッケージの表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定し
た固体撮像素子を配列したラインセンサにより取り込
み、該素子のアナログ信号を１素子毎にデジタル階調信
号処理を施し、１画素毎のデジタル階調データを作成
し、該データより表面汚れを検査する方法において、前
記巻糸パッケージの周方向のデジタル階調データを行方
向に、前記巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調デー
タを列方向に、２次元のデジタル画像を形成し、列方向
を少なくとも２以上のブロックに分割し、各ブロック内
の画素単位での最小階調データＡmin(m)と最大階調デー
タＡmax(m)の差の平均値をＢave（ｍは該ブロック番
号）、また、予め設定したデジタル階調データ管理値を
Ｋ２とした場合、（Ａmax(m)−Ａmin(m)）／Ｂave＞Ｋ
２を満足するデジタル階調データが存在する場合に表面
汚れと判定することを特徴とする。
汚れ検査方法は、中空管からなる巻糸管に巻かれた巻糸
パッケージを、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸パ
ッケージの表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定し
た固体撮像素子を配列したラインセンサにより取り込
み、該素子のアナログ信号を１素子毎にデジタル階調信
号処理を施し、１画素毎のデジタル階調データを作成
し、該データより表面汚れを検査する方法において、前
記巻糸パッケージの周方向のデジタル階調データを行方
向に、前記巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調デー
タを列方向に、２次元のデジタル画像を形成し、列方向
を少なくとも２以上のブロックに分割し、各ブロック内
の画素単位での最小階調データＡmin(m)と最大階調デー
タＡmax(m)の差の平均値をＢave（ｍは該ブロック番
号）、また、予め設定したデジタル階調データ管理値を
Ｋ２とした場合、（Ａmax(m)−Ａmin(m)）／Ｂave＞Ｋ
２を満足するデジタル階調データが存在する場合に表面
汚れと判定することを特徴とする。
【０００８】さらに、本発明に係る巻糸パッケージの表
面汚れ検査方法は、中空管からなる巻糸管に巻かれた巻
糸パッケージを、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸
パッケージの表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定
した固体撮像素子を配列したラインセンサにより取り込
み、該素子のアナログ信号を１素子毎にデジタル階調信
号処理を施し、１画素毎のデジタル階調データを作成
し、該データより表面汚れを検査する方法において、前
記巻糸パッケージの周方向のデジタル階調データを行方
向に、前記巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調デー
タを列方向に、２次元のデジタル画像を形成し、列方向
を少なくとも２以上のブロックに分割し、各ブロック内
のデジタル階調データの平均値をＡave(m)（mは該ブロ
ック番号）、また、予め設定したデジタル階調データ管
理値をＫ３とした場合、｜Ａave(m)−Ａave(m+1)｜＞Ｋ
３を満足するデジタル階調データが存在する場合に表面
汚れと判定することを特徴とする。
面汚れ検査方法は、中空管からなる巻糸管に巻かれた巻
糸パッケージを、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸
パッケージの表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定
した固体撮像素子を配列したラインセンサにより取り込
み、該素子のアナログ信号を１素子毎にデジタル階調信
号処理を施し、１画素毎のデジタル階調データを作成
し、該データより表面汚れを検査する方法において、前
記巻糸パッケージの周方向のデジタル階調データを行方
向に、前記巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調デー
タを列方向に、２次元のデジタル画像を形成し、列方向
を少なくとも２以上のブロックに分割し、各ブロック内
のデジタル階調データの平均値をＡave(m)（mは該ブロ
ック番号）、また、予め設定したデジタル階調データ管
理値をＫ３とした場合、｜Ａave(m)−Ａave(m+1)｜＞Ｋ
３を満足するデジタル階調データが存在する場合に表面
汚れと判定することを特徴とする。
【０００９】これらの方法は、各々単独で採用されても
よく、上記表面汚れ判定方法を少なくとも２つ組み合わ
せて表面汚れを判定する巻糸パッケージの表面汚れ検査
方法としてもよい。
よく、上記表面汚れ判定方法を少なくとも２つ組み合わ
せて表面汚れを判定する巻糸パッケージの表面汚れ検査
方法としてもよい。
【００１０】上記のような検査方法を用いることによ
り、巻糸パッケージ表面位置による反射光の変化に影響
されることなく、また糸の影に影響されることなく、濃
い面積の大きい汚れはもちろんのこと、薄くかつ面積の
狭い汚れ、またはパッケージ回転方向に発生する年輪状
の汚れであっても、精度良く測定でき、それに基づいて
的確に合否判定することが可能になる。
り、巻糸パッケージ表面位置による反射光の変化に影響
されることなく、また糸の影に影響されることなく、濃
い面積の大きい汚れはもちろんのこと、薄くかつ面積の
狭い汚れ、またはパッケージ回転方向に発生する年輪状
の汚れであっても、精度良く測定でき、それに基づいて
的確に合否判定することが可能になる。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の望ましい実施の
形態について、図面を参照して具体的に説明する。図１
は、本発明の一実施態様に係る巻糸パッケージの表面汚
れ検査方法を実施するための装置の概略構成を示してい
る。図１において、コンベア１の移動方向に沿って待機
ステーションＳＴ１、検査ステーションＳＴ２、払出し
ステーションＳＴ３が設けられている。トレーＴはコン
ベア１上に取り付けられ、そのトレーＴの上に巻糸パッ
ケージＰが回動可能に立設されて、トレーＴは矢印方向
に間欠的に搬送されるようになっている。
形態について、図面を参照して具体的に説明する。図１
は、本発明の一実施態様に係る巻糸パッケージの表面汚
れ検査方法を実施するための装置の概略構成を示してい
る。図１において、コンベア１の移動方向に沿って待機
ステーションＳＴ１、検査ステーションＳＴ２、払出し
ステーションＳＴ３が設けられている。トレーＴはコン
ベア１上に取り付けられ、そのトレーＴの上に巻糸パッ
ケージＰが回動可能に立設されて、トレーＴは矢印方向
に間欠的に搬送されるようになっている。
【００１２】巻糸パッケージＰの表面は、それぞれ傾斜
の異なるテーパ部Ｐ１とストレート部Ｐ２が存在する巻
き形状を有する。
の異なるテーパ部Ｐ１とストレート部Ｐ２が存在する巻
き形状を有する。
【００１３】検査ステーションＳＴ２には暗室２が設け
られ、その暗室２内に巻糸パッケージＰを回転させる回
転駆動装置Ｒ１が設けられている。Ｒ２は、巻糸パッケ
ージＰを所定の立設姿勢に保つための軸受である。
られ、その暗室２内に巻糸パッケージＰを回転させる回
転駆動装置Ｒ１が設けられている。Ｒ２は、巻糸パッケ
ージＰを所定の立設姿勢に保つための軸受である。
【００１４】暗室２内には、上記のように立設された巻
糸パッケージＰの周囲に、その上部を均一に照らすよう
に拡散光源３が配置されている。巻糸パッケージＰの表
面上の拡散光源３による照射範囲に対し、巻糸パッケー
ジＰからの反射光を撮像するラインセンサ４が、巻糸パ
ッケージＰの表面と垂直の方向に、とくに稜線方向に向
けて配置され、そのラインセンサ４は画像処理装置５に
接続されている。この画像処理装置５は、ラインセンサ
４に配列された各素子毎に取り込んだアナログ信号（以
下、反射光の強度と記述することもある）を、１画素毎
に各画素の反射光の強度を０〜２５５階調以上のデジタ
ル階調データに変換し、１画素毎にデジタル階調信号処
理を施し、１画素毎のデジタル階調データを作成し、巻
糸パッケージＰの周方向のデジタル階調データを行方向
に、巻糸パッケージＰの軸方向のデジタル階調データを
列方向にして、２次元デジタル画像化する。
糸パッケージＰの周囲に、その上部を均一に照らすよう
に拡散光源３が配置されている。巻糸パッケージＰの表
面上の拡散光源３による照射範囲に対し、巻糸パッケー
ジＰからの反射光を撮像するラインセンサ４が、巻糸パ
ッケージＰの表面と垂直の方向に、とくに稜線方向に向
けて配置され、そのラインセンサ４は画像処理装置５に
接続されている。この画像処理装置５は、ラインセンサ
４に配列された各素子毎に取り込んだアナログ信号（以
下、反射光の強度と記述することもある）を、１画素毎
に各画素の反射光の強度を０〜２５５階調以上のデジタ
ル階調データに変換し、１画素毎にデジタル階調信号処
理を施し、１画素毎のデジタル階調データを作成し、巻
糸パッケージＰの周方向のデジタル階調データを行方向
に、巻糸パッケージＰの軸方向のデジタル階調データを
列方向にして、２次元デジタル画像化する。
【００１５】この各画素の反射光の強度をデジタル化し
た２次元デジタル画像に対しての汚れ判定処理の詳細に
ついては後述する。
た２次元デジタル画像に対しての汚れ判定処理の詳細に
ついては後述する。
【００１６】本発明において、ラインセンサ４及び拡散
光源３は、１組以上を設けることが必要である。その組
数は巻糸パッケージＰの巻幅の長さ、または汚れの検出
精度に応じて決定すればよく、ラインセンサ４と拡散光
源３を１組使用して全巻幅を照射撮像するようにしても
よいし、ラインセンサ４と拡散光源３を複数組使用し
て、巻幅方向に検査範囲を複数分割するようにしてもよ
い。
光源３は、１組以上を設けることが必要である。その組
数は巻糸パッケージＰの巻幅の長さ、または汚れの検出
精度に応じて決定すればよく、ラインセンサ４と拡散光
源３を１組使用して全巻幅を照射撮像するようにしても
よいし、ラインセンサ４と拡散光源３を複数組使用し
て、巻幅方向に検査範囲を複数分割するようにしてもよ
い。
【００１７】図２はラインセンサ４及び画像処理装置５
の構成図であり、画像処理装置５は、データ入力処理で
ラインセンサ４からアナログ電圧信号を取り込む。画像
処理装置５の処理部では、階調化処理部６において、取
り込んだアナログ電圧信号のレベルを各画素単位で０〜
２５５階調以上のデジタル階調信号に変換し、２次元画
像化し、演算／判定処理部７において、以下に述べるも
ろもろの演算処理を実施し、設定器８から予め入力した
デジタル階調データと演算値を比較し、その結果を例え
ば合格であれば「０」また、不合格であれば「１」の２
値で判定する。同時に反射光の強度をデジタル化した２
次元デジタル画像のデータや演算結果を保存する機能を
有する。また、この保存した２次元デジタル画像や演算
結果を外部に接続したプリンタなどの外部機器９に出力
する機能を有する。データ出力処理では判定した結果を
「０」または「１」のデジタル信号として外部機器９に
出力する。
の構成図であり、画像処理装置５は、データ入力処理で
ラインセンサ４からアナログ電圧信号を取り込む。画像
処理装置５の処理部では、階調化処理部６において、取
り込んだアナログ電圧信号のレベルを各画素単位で０〜
２５５階調以上のデジタル階調信号に変換し、２次元画
像化し、演算／判定処理部７において、以下に述べるも
ろもろの演算処理を実施し、設定器８から予め入力した
デジタル階調データと演算値を比較し、その結果を例え
ば合格であれば「０」また、不合格であれば「１」の２
値で判定する。同時に反射光の強度をデジタル化した２
次元デジタル画像のデータや演算結果を保存する機能を
有する。また、この保存した２次元デジタル画像や演算
結果を外部に接続したプリンタなどの外部機器９に出力
する機能を有する。データ出力処理では判定した結果を
「０」または「１」のデジタル信号として外部機器９に
出力する。
【００１８】以下に、画像処理装置５の処理部での処理
詳細について述べる。例えば、巻糸パッケージＰの表面
に汚れがあり、反射光の強度を８ビットのデジタル階調
データに変換する場合、階調データの範囲は０〜２５５
の整数値として処理され、２次元画像化される。この２
次元画像を回転軸に直交する方向（稜線方向）に２以上
の分割、例えば５分割した場合のイメージは図３のよう
になる。各分割範囲内で、横軸に反射光の強度のデジタ
ルデータ、縦軸に画素の個数をプロットしたのが図４で
あり、各分割範囲で、ある強度を基準にほぼ正規分布す
る。
詳細について述べる。例えば、巻糸パッケージＰの表面
に汚れがあり、反射光の強度を８ビットのデジタル階調
データに変換する場合、階調データの範囲は０〜２５５
の整数値として処理され、２次元画像化される。この２
次元画像を回転軸に直交する方向（稜線方向）に２以上
の分割、例えば５分割した場合のイメージは図３のよう
になる。各分割範囲内で、横軸に反射光の強度のデジタ
ルデータ、縦軸に画素の個数をプロットしたのが図４で
あり、各分割範囲で、ある強度を基準にほぼ正規分布す
る。
【００１９】なお、１〜５番目の各分割範囲内の強度分
布の関係は図４と同じような分布となるが、中心値が異
なった分布となる。例えば、分割した１番目の範囲に汚
れｓ１があり、この部分の反射光の強度データをＡmin
(1)とした場合、汚れの部分は反射光強度が小さくなる
ことから、分布曲線は図５に示すようになるので、分布
曲線内での最大値Amax(1)から予め設定した管理値Ｋ１
の範囲内は合格、範囲から外れた場合不合格と判定すれ
ば、汚れの場所に関わらず、薄くかつ面積の狭い汚れの
判別が可能となる。
布の関係は図４と同じような分布となるが、中心値が異
なった分布となる。例えば、分割した１番目の範囲に汚
れｓ１があり、この部分の反射光の強度データをＡmin
(1)とした場合、汚れの部分は反射光強度が小さくなる
ことから、分布曲線は図５に示すようになるので、分布
曲線内での最大値Amax(1)から予め設定した管理値Ｋ１
の範囲内は合格、範囲から外れた場合不合格と判定すれ
ば、汚れの場所に関わらず、薄くかつ面積の狭い汚れの
判別が可能となる。
【００２０】なお、範囲の分割数については、巻き糸パ
ッケージＰの表面の稜線方向の幅が２００mmで、ライン
センサ４の１素子あたりの長さが０．１mm〜１．０mmの
場合、５〜２０分割程度が好ましい。
ッケージＰの表面の稜線方向の幅が２００mmで、ライン
センサ４の１素子あたりの長さが０．１mm〜１．０mmの
場合、５〜２０分割程度が好ましい。
【００２１】次に、回転軸と直交する方向に２以上に分
割したｍ番目の範囲の反射光の強度の最大値Ａmax(m)と
最小値Ａmin(m)の差をBmとし、Bmを稜線方向に合計した
値をΣBm、ΣBmの平均値（ΣBm）／mをＢaveとする。
割したｍ番目の範囲の反射光の強度の最大値Ａmax(m)と
最小値Ａmin(m)の差をBmとし、Bmを稜線方向に合計した
値をΣBm、ΣBmの平均値（ΣBm）／mをＢaveとする。
【００２２】巻糸パッケージＰでは、回転方向に少なか
らず巻糸の層の影が発生し、この部分の反射光の強度デ
ータは少なからず小さい値となるため、２以上の分割範
囲の各範囲で汚れがなくても誤って、巻糸の層の影を汚
れと判定する可能性がある。この問題を解決するため、
図６に示すように、各範囲内で反射光の強度データの最
大値と最小値の差Bmを平均化した値Ｂaveに対する差分
の比率Ｂｍ／Ｂaveを指標として予め設定した管理値Ｋ
２と比較することにより、巻糸の層の影を誤って汚れと
判定せず、薄くかつ面積の狭い汚れの検出が可能にな
る。
らず巻糸の層の影が発生し、この部分の反射光の強度デ
ータは少なからず小さい値となるため、２以上の分割範
囲の各範囲で汚れがなくても誤って、巻糸の層の影を汚
れと判定する可能性がある。この問題を解決するため、
図６に示すように、各範囲内で反射光の強度データの最
大値と最小値の差Bmを平均化した値Ｂaveに対する差分
の比率Ｂｍ／Ｂaveを指標として予め設定した管理値Ｋ
２と比較することにより、巻糸の層の影を誤って汚れと
判定せず、薄くかつ面積の狭い汚れの検出が可能にな
る。
【００２３】巻糸パッケージＰの表面に発生する汚れに
は糸巻き方向に平行した方向に年輪状の汚れが発生する
場合がある。この汚れが上記２つの方法では、稜線方向
に分割した範囲全体に年輪状に発生した汚れが存在する
場合、検出不可能という場合が生じる。これを解決する
ため、図７に示すように、各分割範囲の反射光の強度デ
ータの平均値を求め、この平均値データを各分割範囲の
代表値Ａave（m)とし、隣接する分割範囲間で代表値の
差のデータＳm＝｜Ａave(m)−Ａave(m+1)｜を求め、こ
れを予め設定した管理値Ｋ３と比較することにより、あ
る分割範囲全体に存在する年輪状の汚れを精度良く検出
することが可能になる。
は糸巻き方向に平行した方向に年輪状の汚れが発生する
場合がある。この汚れが上記２つの方法では、稜線方向
に分割した範囲全体に年輪状に発生した汚れが存在する
場合、検出不可能という場合が生じる。これを解決する
ため、図７に示すように、各分割範囲の反射光の強度デ
ータの平均値を求め、この平均値データを各分割範囲の
代表値Ａave（m)とし、隣接する分割範囲間で代表値の
差のデータＳm＝｜Ａave(m)−Ａave(m+1)｜を求め、こ
れを予め設定した管理値Ｋ３と比較することにより、あ
る分割範囲全体に存在する年輪状の汚れを精度良く検出
することが可能になる。
【００２４】次に図１に示したように、巻糸パッケージ
Ｐの表面をラインセンサ４で撮像する場合、巻糸パッケ
ージＰの稜線方向を見た場合、テーパ部Ｐ１とストレー
ト部Ｐ２で巻糸パッケージＰの表面の反射光の強度が異
なるため、上述した検査方法では、反射光の強度が異な
る部分全体を汚れと判断する。この問題を解決するた
め、テーパ部Ｐ１とストレート部Ｐ２の境界位置は機械
的な配置で決まることから、予め境界位置データを設定
しておき、テーパ部Ｐ１、及びストレート部Ｐ２の各々
の範囲で上述した各検査処理を実施することにより、パ
ッケージ巻き形状の変化による反射光の強度の変化の影
響をなくすことが可能となり、薄い狭い面積の汚れを精
度良く検出することが可能になる。
Ｐの表面をラインセンサ４で撮像する場合、巻糸パッケ
ージＰの稜線方向を見た場合、テーパ部Ｐ１とストレー
ト部Ｐ２で巻糸パッケージＰの表面の反射光の強度が異
なるため、上述した検査方法では、反射光の強度が異な
る部分全体を汚れと判断する。この問題を解決するた
め、テーパ部Ｐ１とストレート部Ｐ２の境界位置は機械
的な配置で決まることから、予め境界位置データを設定
しておき、テーパ部Ｐ１、及びストレート部Ｐ２の各々
の範囲で上述した各検査処理を実施することにより、パ
ッケージ巻き形状の変化による反射光の強度の変化の影
響をなくすことが可能となり、薄い狭い面積の汚れを精
度良く検出することが可能になる。
【００２５】
【発明の効果】上述したように本発明によれば、ライン
センサを用いて撮像し、巻糸パッケージＰのテーパ部Ｐ
１及びストレート部Ｐ２のそれぞれの範囲で、稜線方向
に分割した各範囲での反射光の強度の最大差、平均値に
注目し、かつ各範囲間での反射光の強度の平均差を求め
ることにより、巻糸の糸層の影及び表面形状による表面
反射光強度の変化の影響を受けることなく、薄くかつ面
積の狭い汚れ及び年輪状の汚れを精度良く測定すること
が可能になり、巻糸パッケージの表面汚れを高精度で検
査することができる。
センサを用いて撮像し、巻糸パッケージＰのテーパ部Ｐ
１及びストレート部Ｐ２のそれぞれの範囲で、稜線方向
に分割した各範囲での反射光の強度の最大差、平均値に
注目し、かつ各範囲間での反射光の強度の平均差を求め
ることにより、巻糸の糸層の影及び表面形状による表面
反射光強度の変化の影響を受けることなく、薄くかつ面
積の狭い汚れ及び年輪状の汚れを精度良く測定すること
が可能になり、巻糸パッケージの表面汚れを高精度で検
査することができる。
【図１】本発明の一実施態様に係る巻糸パッケージの表
面汚れ検査方法を実施するための装置を示す概略正面図
である。
面汚れ検査方法を実施するための装置を示す概略正面図
である。
【図２】図１の装置を使用して測定する場合のラインセ
ンサ及び画像処理装置の機能ブロック図である。
ンサ及び画像処理装置の機能ブロック図である。
【図３】図１の装置を使用して測定する場合の画像処理
装置内での撮像範囲分割イメージ図である。
装置内での撮像範囲分割イメージ図である。
【図４】図３の撮像範囲分割の各範囲内の反射光強度デ
ータとデータ個数を表すヒストグラムのイメージ図であ
る。
ータとデータ個数を表すヒストグラムのイメージ図であ
る。
【図５】ある分割範囲に汚れが存在する場合の反射光強
度データとデータ個数を表すヒストグラムのイメージ図
である。
度データとデータ個数を表すヒストグラムのイメージ図
である。
【図６】各分割範囲の反射光強度の最大値と最小値の差
Ｂmと各分割範囲のBmの平均値Bave及び平均値に対する
絶対値の比率Bm／Baveの関係を表す図である。
Ｂmと各分割範囲のBmの平均値Bave及び平均値に対する
絶対値の比率Bm／Baveの関係を表す図である。
【図７】ある分割範囲全体が汚れていた場合（年輪状の
汚れ）の測定論理のイメージ図である。
汚れ）の測定論理のイメージ図である。
【符号の説明】 １ コンベア ２ 暗室 ３ 拡散光源 ４ ラインセンサ ５ 画像処理装置 Ｔ トレイ Ｐ 巻糸パッケージ Ｐ１ 巻糸パッケージテーパ部 Ｐ２ 巻糸パッケージストレート部 Ｒ１ 回転駆動装置 Ｒ２ 軸受
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中澤 源伸 石川県能美郡辰口町字北市リ１番地 東レ 株式会社石川工場内 Ｆターム(参考） 2G051 AA90 AB20 CA03 CB01 DA08 EA11 EB01 EC02 EC03 3B154 AB11 BA53 BB18 BB47 BB77 CA13 CA16 CA23 CA27 CA29 DA30 4L056 EA05 EA25 EA32 EA34 EA43 5B057 AA04 AA18 BA02 BA30 CA02 CA08 CA12 CA16 CB02 CB08 CB12 CB16 CC01 CE11 DA03 DB05 DB09 DC23
Claims (4)
- 【請求項１】 中空管からなる巻糸管に巻かれた巻糸パ
ッケージを、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸パッ
ケージの表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定した
固体撮像素子を配列したラインセンサにより取り込み、
該素子のアナログ信号を１素子毎にデジタル階調信号処
理を施し、１画素毎のデジタル階調データを作成し、該
データより表面汚れを検査する方法において、前記巻糸
パッケージの周方向のデジタル階調データを行方向に、
前記巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調データを列
方向に、２次元のデジタル画像を形成し、列方向を少な
くとも２以上のブロックに分割し、各画素単位でのデジ
タル階調データをＡとし、各ブロック範囲内の画素単位
での最小デジタル階調データをＡmin、各ブロック範囲
内の画素単位での最大デジタル階調データをＡmax、ま
た、予め設定したデジタル階調データ管理値をＫ１とし
た場合、各ブロック範囲内にＡmax−Ａmin＞Ｋ１を満足
するデジタル階調データが存在する場合に表面汚れと判
定する巻糸パッケージの表面汚れ検査方法。 - 【請求項２】 中空管からなる巻糸管に巻かれた巻糸パ
ッケージを、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸パッ
ケージの表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定した
固体撮像素子を配列したラインセンサにより取り込み、
該素子のアナログ信号を１素子毎にデジタル階調信号処
理を施し、１画素毎のデジタル階調データを作成し、該
データより表面汚れを検査する方法において、前記巻糸
パッケージの周方向のデジタル階調データを行方向に、
前記巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調データを列
方向に、２次元のデジタル画像を形成し、列方向を少な
くとも２以上のブロックに分割し、各ブロック内の画素
単位での最小階調データＡmin(m)と最大階調データＡma
x(m)の差の平均値をＢave（ｍは該ブロック番号）、ま
た、予め設定したデジタル階調データ管理値をＫ２とし
た場合、（Ａmax(m)−Ａmin(m)）／Ｂave＞Ｋ２を満足
するデジタル階調データが存在する場合に表面汚れと判
定する巻糸パッケージの表面汚れ検査方法。 - 【請求項３】 中空管からなる巻糸管に巻かれた巻糸パ
ッケージを、該巻糸管の軸中心に回転させ、該巻糸パッ
ケージの表面に光をあて、反射光を稜線方向に固定した
固体撮像素子を配列したラインセンサにより取り込み、
該素子のアナログ信号を１素子毎にデジタル階調信号処
理を施し、１画素毎のデジタル階調データを作成し、該
データより表面汚れを検査する方法において、前記巻糸
パッケージの周方向のデジタル階調データを行方向に、
前記巻糸パッケージの軸方向のデジタル階調データを列
方向に、２次元のデジタル画像を形成し、列方向を少な
くとも２以上のブロックに分割し、各ブロック内のデジ
タル階調データの平均値をＡave(m)（mは該ブロック番
号）、また、予め設定したデジタル階調データ管理値を
Ｋ３とした場合、｜Ａave(m)−Ａave(m+1)｜＞Ｋ３を満
足するデジタル階調データが存在する場合に表面汚れと
判定する巻糸パッケージの表面汚れ検査方法。 - 【請求項４】 請求項１〜３に記載の表面汚れ判定方法
を少なくとも２つ組み合わせて表面汚れを判定する巻糸
パッケージの表面汚れ検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001106845A JP2002303584A (ja) | 2001-04-05 | 2001-04-05 | 巻糸パッケージの表面汚れ検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001106845A JP2002303584A (ja) | 2001-04-05 | 2001-04-05 | 巻糸パッケージの表面汚れ検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002303584A true JP2002303584A (ja) | 2002-10-18 |
Family
ID=18959283
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001106845A Pending JP2002303584A (ja) | 2001-04-05 | 2001-04-05 | 巻糸パッケージの表面汚れ検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002303584A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007002363A (ja) * | 2005-06-24 | 2007-01-11 | Teijin Fibers Ltd | 糸条パッケージの発色性検査方法及び装置 |
| CN110895803A (zh) * | 2018-08-24 | 2020-03-20 | 东华大学 | 一种卷装长丝的网丝缺陷检测方法 |
| CN113899749A (zh) * | 2020-06-22 | 2022-01-07 | 东华大学 | 剥丝打结检测装置以及剥丝打结检测方法 |
| CN114897894A (zh) * | 2022-07-11 | 2022-08-12 | 海门市芳华纺织有限公司 | 一种筒纱菊花芯缺陷检测方法 |
-
2001
- 2001-04-05 JP JP2001106845A patent/JP2002303584A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007002363A (ja) * | 2005-06-24 | 2007-01-11 | Teijin Fibers Ltd | 糸条パッケージの発色性検査方法及び装置 |
| JP4602848B2 (ja) * | 2005-06-24 | 2010-12-22 | 帝人ファイバー株式会社 | 糸条パッケージの発色性検査方法及び装置 |
| CN110895803A (zh) * | 2018-08-24 | 2020-03-20 | 东华大学 | 一种卷装长丝的网丝缺陷检测方法 |
| CN110895803B (zh) * | 2018-08-24 | 2023-03-28 | 东华大学 | 一种卷装长丝的网丝缺陷检测方法 |
| CN113899749A (zh) * | 2020-06-22 | 2022-01-07 | 东华大学 | 剥丝打结检测装置以及剥丝打结检测方法 |
| CN114897894A (zh) * | 2022-07-11 | 2022-08-12 | 海门市芳华纺织有限公司 | 一种筒纱菊花芯缺陷检测方法 |
| CN114897894B (zh) * | 2022-07-11 | 2022-09-09 | 海门市芳华纺织有限公司 | 一种筒纱菊花芯缺陷检测方法 |
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