JP2002281389A

JP2002281389A - 撮像装置

Info

Publication number: JP2002281389A
Application number: JP2001075901A
Authority: JP
Inventors: Takayuki Kijima; 貴行木島; Keiichi Mori; 圭一森; Hideaki Yoshida; 英明吉田
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 2001-03-16
Filing date: 2001-03-16
Publication date: 2002-09-27

Abstract

(57)【要約】【課題】欠陥検出時のアイピースシャッタからの逆入
射光の影響がなくなり、誤検出を生じることなく画素欠
陥の経時劣化に対応する。【解決手段】撮像素子２０２への入射光を遮断した状
態で得られる撮像出力を解析することにより画素欠陥ア
ドレスを検出する欠陥データ検出部と、検出された欠陥
データに基づいて撮像素子２０２の出力に対して近隣画
素データによる補償処理を行う欠陥補償部を有する撮像
装置において、ファインダ開口部から撮像素子２０２へ
の光入射を遮るアイピースシャッタ２１１を設け、アイ
ピースシャッタ２１１が閉じられている時のみ欠陥デー
タの取得を許容するようにした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、電子スチルカメラ
（デジタルカメラ）やビデオカメラ等の撮像装置に係わ
り、特に画素欠陥補償機能を有した撮像装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、主として静止画を撮像記録するた
めに、電子スチルカメラが開発されている。また、動画
記録用であったビデオカメラにおいては、静止画撮影記
録機能が付加されるようになっている。そして、これら
のカメラにおける静止画撮影に際しては、撮像素子にお
ける電荷蓄積時間を長くすることによって露光時間を長
くする、いわゆる長時間露光技術が採用されている。こ
の長時間露光技術では、低照度下においてもストロボな
どの補助照明を使用することなく撮影することができ
る。

【０００３】一方、撮像素子においては、いわゆる暗電
流などによる暗出力が存在するため、この暗出力が画像
信号に重畳されることにより画質劣化を来す問題があ
る。この暗出力レベルが大きい画素が存在する場合は画
素欠陥と称され、その画素の出力情報は用いず、近隣の
画素の出力情報を用いて情報を補完することが広く実用
されている。本明細書においては、このような補完処理
を画素欠陥の補償と称する。一例として、使用フレーム
レートにおける動画駆動を前提に決められる所定の（Ｎ
ＴＳＣでは１／６０秒の、或いはこれに基づいて所定の
マージンを見た４倍マージンだと１／１５秒の）標準露
光時間で暗出力を評価し、そのレベルが大きい画素につ
いては欠陥画素と見做して前記画素欠陥補償を適用する
例がある。

【０００４】また、画素欠陥は温度依存や経時変化を伴
うから、欠陥画素の評価を工場出荷前に行うだけでは不
十分であるという点について改善をはかった撮像装置も
提案されている（特開平６−３８１１３号公報）。即ち
この公開公報には、電源オン直後にアイリスを閉じるこ
とで受光面を遮光し、カメラの使用に先立ってＣＣＤ暗
出力を評価することで欠陥画素を検出し、検出した欠陥
画素の情報に基づいて欠陥補償を行う技術が記載されて
いる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この種
の方法においては、１眼レフ光学ファインダからの逆入
射光によって欠陥画素を誤検出する場合がある。デジタ
ルカメラでは、１眼レフの実現のためにプリズム型のハ
ーフミラーが使われることが多い。この場合、ファイン
ダー系の開口部から入射した光は、ファインダ光路をそ
のまま逆行して、逆入射光がハーフミラーを透過し、プ
リズムの端で反射し、ハーフミラーで再度反射すると撮
像素子に入射する。そして、本来の撮像信号の上に逆入
射光が重畳されてしまい、これが誤検出の原因となる。

【０００６】この影響は、特に欠陥検出の場合に大き
い。即ち、欠陥検出の場合、遮光された状態で暗電流を
検出するため、遮光されていない部分からの光の影響は
大である。しかも、１度検出されるとそれ以降は常に欠
陥があると見なすのでその影響は益々大である。

【０００７】本発明は、上記事情を考慮して成されたも
ので、その目的とするところは、ファインダ開口部から
の逆入射光による欠陥の誤検出を生じることなく、経時
的画素欠陥増加による画質劣化を生じない高性能な撮像
装置を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】（構成）上記課題を解決
するために本発明は次のような構成を採用している。

【０００９】即ち本発明は、撮像装置において、被写体
像を撮像するための撮像素子と、該撮像素子の画素欠陥
アドレスを欠陥データとして登録する記憶手段と、前記
撮像素子の出力に対し前記記憶手段に登録された欠陥デ
ータに基づいて近隣画素データによる補償処理を行う欠
陥補償手段と、前記撮像素子への入射光を遮断した状態
で得られる該撮像素子の出力を解析することにより前記
画素欠陥アドレスを新たに検出する欠陥データ検出手段
と、該欠陥データ検出手段により新たに検出された欠陥
データに基づいて前記記憶手段に登録された欠陥データ
を更新する欠陥データ管理手段とを具備してなることを
特徴とする。

【００１０】ここで、本発明の望ましい実施態様として
は次のものがあげられる。 (1) 逆入射光遮断手段の設定状態が遮断状態に切り替え
られた際に、欠陥データ検出手段による欠陥アドレスの
検出を実行するように構成されていること。

【００１１】(2) 撮像素子の画素欠陥アドレスを欠陥デ
ータとして登録する記憶手段と、欠陥データ検出手段に
より新たに検出された欠陥データに基づいて記憶手段に
登録された欠陥データを更新する欠陥データ管理手段と
を有すること。

【００１２】(3) 欠陥データ管理手段は、既に登録され
ている登録欠陥データに対して、新たに検出された新規
検出欠陥データの画素欠陥アドレスのうち登録欠陥デー
タの画素欠陥アドレスと重複しないものを追加登録する
ように構成されていること。

【００１３】(4) 欠陥データ管理手段は、工場出荷時に
登録された初期登録欠陥データに対して、新たに検出さ
れた新規検出欠陥データの画素欠陥アドレスのうち初期
登録欠陥データの画素欠陥アドレスと重複しないものを
追加登録するように構成されていること。

【００１４】（作用）本発明によれば、撮像素子への入
射光を遮断した状態で得られる撮像素子の出力を解析す
ることにより画素欠陥アドレスを検出する欠陥データ検
出手段と、検出された欠陥データに基づいて撮像素子の
出力に対して近隣画素データによる補償処理を行う欠陥
補償手段とを有する撮像装置において、ファインダ開口
部から撮像素子への光入射を遮る逆入射光遮断手段を設
けると共に、該逆入射光遮断手段の設定状態を検出する
設定状態検出手段を設け、逆入射光遮断手段の設定状態
が遮断状態に無い場合には、欠陥データ検出手段による
欠陥アドレスの検出を禁止するようにしているので、画
素欠陥検出の際にファインダ開口部からの逆入射光によ
って誤検出が生じるのを防止することができる。これに
より、経時的画素欠陥増加による画質劣化を生じない高
性能な撮像装置を提供することが可能となる。

【００１５】また、画素欠陥アドレスを欠陥データとし
て登録する記憶手段と、新たに検出した欠陥データに基
づいて記憶手段に登録された欠陥データを更新する欠陥
データ管理手段を設けることにより、記憶手段に登録さ
れる欠陥データは、工場出荷時の初期画素欠陥に加え
て、宇宙線や自然放射能の影響によって生じた経時的画
素欠陥を有するものとなる。従って、記憶手段に登録さ
れた欠陥データに基づいて近隣画素データによる補償処
理を行うことによって、経時的画素欠陥増加による画質
劣化を防止することができる。さらに、この追加登録を
自己の有する時計機能によって低い頻度で行うことによ
り、通常の撮影時には検出動作が不要となるから、タイ
ムラグは発生しない。しかも、定期的に欠陥データが更
新されるから欠陥が放置されず、顕在化を事実上防止で
きる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、本発明の詳細を図示の実施
形態によって説明する。

【００１７】（実施形態）図１は、本発明の一実施形態
に係わるデジタルカメラの基本構成を示すブロック図で
ある。

【００１８】図中１０１は各種レンズからなるレンズ
系、１０２はレンズ系１０１を駆動するためのレンズ駆
動機構である。１０３は露出を制御するための露出制御
機構であり、絞り及びこの絞りを駆動する駆動機構を含
み、レンズ系１０１を通過した光線の入射光量を制限し
てその絞りを制御するために設けられている。１０４は
ローパス及び赤外カット用のフィルタを備えたフィルタ
系、１０５はＣＣＤカラー撮像素子であり、露出制御機
構１０３を通過した光線は、フィルタ１０４を介して撮
像素子１０５に導かれる。従って、撮像素子１０５に
は、被写体に対応した画像が結像される。

【００１９】１０７は、ゲインコントロールアンプ，Ａ
／Ｄ変換器等を含むプリプロセス回路であり、撮像素子
１０５により得られた撮像信号はこのプリプロセス回路
１０７に入力され、デジタル化された画素信号がこのプ
リプロセス回路１０７から出力される。１０８は、色信
号生成処理，マトリックス変換処理，その他各種のデジ
タル処理を行うためのデジタルプロセス回路であり、こ
のデジタルプロセス回路１０８において上記デジタル化
された画像信号を処理することによりカラー画像データ
が生成される。１０９はデジタルプロセス回路１０８に
接続されたカードインターフェース、１１０はＣＦ（Co
mpact Flash Memory Card）やスマートメディア等のメ
モリカード、１１１はＬＣＤ画像表示系である。メモリ
カード１１０はカラー画像データを格納するものであ
り、ＬＣＤ表示系１１１はカラー画像データを表示する
ものである。

【００２０】また、図中の１１２は各部を統括的に制御
するためのシステムコントローラ（ＣＰＵ）、１１３は
各種ＳＷからなる操作スイッチ系、１１４は操作状態及
びモード状態等を表示するための操作表示系、１１５は
レンズ駆動機構１０２を制御するためのレンズドライ
バ、１１６は発光手段としてのストロボ、１１７は露出
制御機構１０３及びストロボ１１６を制御するための露
出制御ドライバ、１１８は各種設定情報等を記憶するた
めの不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）を示している。こ
こで、ＥＥＰＲＯＭ１１８には、各種設定情報等と共
に、予め画像欠陥データが格納されている。

【００２１】また、図中の１２０は後述する逆入射光遮
断手段の設定状態を検出するための検出スイッチを示し
ている。

【００２２】本実施形態のデジタルカメラにおいてはシ
ステムコントローラ１１２が全ての制御を統括的に行っ
ており、特に露出制御機構１０３に含まれるシャッタ装
置と、ＣＣＤドライバ１０６によるＣＣＤ撮像素子１０
５の駆動を制御して露光（電荷蓄積）及び信号の読み出
しを行い、それをプリプロセス１０７を介してデジタル
プロセス１０８に格納した出力レベル情報を用いて、以
下で説明する画素欠陥の検出等を行うものである。

【００２３】図２は、本実施形態におけるカメラ内の撮
像部の構成及びファインダ部の構成を示す図である。

【００２４】カメラ筐体２００内に設けられた撮像レン
ズ系２０１（図１の１０１）により入射光がＣＣＤ撮像
素子２０２（図１の１０５）に導かれ、被写体像が撮像
素子２０２の受光面に結像される。レンズ系２０１と撮
像素子２０２との間にはプリズム型のハーフミラー２０
３が設置されており、レンズ系２０１からの入射光の一
部はこのハーフミラー２０３で反射される。ハーフミラ
ー２０３で反射された光はミラー２０４により反射さ
れ、レンズ２０５及び２０６を介してファインダ開口部
に導かれる。

【００２５】ここまでの撮像部及びファインダ部の構成
は通常の装置と同じであるが、本実施形態ではこれに加
えて、ファインダ開口部からの入射光を遮るための逆入
射光遮断手段が設けられている。この逆入射光手段手段
は、遮光板２１１，軸体２１２及びレバー２１３で形成
されている。軸体２１２はカメラ筐体２００を貫通して
回転自在に設けられる。軸体２１２のカメラ内部側端に
は遮光板２１１が取り付けられ、軸体２１２の回動によ
り遮光板２１１がファインダ開口部を遮光するようにな
っている。即ち、光学ファインダの開口部最外レンズ２
０６の内側に、つや消し黒塗装された樹脂板からなる遮
光板（アイピースシャッタ）２１１が挿入可能に設置さ
れている。軸体２１２のカメラ外側端には、レバー２１
３が一体的に形成され、このレバー２１３の操作により
軸体２１２が回動するようになっている。

【００２６】また、軸体２１２のカメラ内側端には切片
２１５が固定されて、この切片２１５と隣接する位置に
電気接点（メカニカルスイッチ）２３０（図１の１２
０）が設けられている。レバー２１３を垂直にした状態
では、図３（ａ）に示すように、遮蔽板２１１は光路を
遮ることはない。このとき、スイッチ２３０に切片２１
５が接触することはなく、スイッチ２３０はオフ状態で
ある。レバー２１３を動かして斜めにした状態では、図
３（ｂ）に示すように、遮蔽板２１１が光路を遮ること
になる。このとき、切片２１５がスイッチ２３０を押圧
し、スイッチ２３０はオンとなる。

【００２７】つまり、レバー２１３の回動によりファイ
ンダ開口を開閉することができ、この開閉状態はスイッ
チ２３０により検出することができる。

【００２８】図４は、本実施形態における欠陥検出及び
欠陥補償に関する構成を機能的に示すブロック図であ
る。４０１は欠陥データを格納するＥＥＰＲＯＭ、４０
２は画素欠陥補償手段、４０３は欠陥データ検出手段、
４０４は欠陥データ管理手段である。これらは、システ
ムコントローラ１１２の制御の下に、デジタルプロセス
回路１０８及びＥＥＰＲＯＭ１１８を制御することによ
って実現される。

【００２９】ＥＥＰＲＯＭ４０１は前記ＥＥＰＲＯＭ１
１８の一部であり、このＥＥＰＲＯＭ４０１には、既存
の（その時点における最新の）欠陥データ（以下、登録
欠陥データと称する）に関するアドレスデータが格納さ
れている。初期（カメラの工場出荷時）においては、登
録欠陥としては製造調整工程において取得された欠陥デ
ータが登録されている。

【００３０】欠陥補償手段４０２は、欠陥画素に対して
近隣画素による補完処理を行うものであり、この手段４
０２では、入力した画像データに対して、ＥＥＰＲＯＭ
４０１に格納された登録欠陥データを読み出し、この欠
陥データに基づいて隣接補完等の画素欠陥補償処理が施
される。欠陥データ検出手段４０３では、撮像素子への
入射光を遮断した状態で得られる該撮像素子の出力を解
析することにより画素欠陥アドレスが新たに検出され
る。そして、欠陥データ管理手段４０４によって、新た
に検出された欠陥データに基づいてＥＥＰＲＯＭ４０１
に登録された欠陥データが更新される。

【００３１】以下、本実施形態における撮像動作、特に
画素欠陥の検出と補償に係わる処理及びファインダ開口
からの逆入射光による誤動作防止の処理について具体的
に説明する。ここで、本カメラにおいて信号レベルのデ
ジタル処理は８ビット（０〜２５５）で行われるものと
する。また、後に特記する部分を除いては常温を仮定し
て説明する。

【００３２】まず、画素欠陥の検出と補償に係わる処理
を説明する。撮影に先立って、マニュアル設定又は測光
結果に基づいて撮影に必要な露光時間が設定される。次
に、本撮像の撮影トリガー指令を待機し、指令を受けた
ら所定の露出制御値に基いた露光を行い、撮像信号を読
み出して所定の信号処理を施した後にメモリカード１１
０に記録する。その際、上記登録欠陥画素については画
素欠陥補償を伴なう。欠陥補償後において記録に至るま
での映像信号処理は、その必要に応じて適宜使用される
それ自体は公知の、例えば色バランス処理、マトリクス
演算による輝度−色差信号への変換或いはその逆変換処
理、帯域制限等による偽色除去或いは低減処理、γ変換
に代表される各種非線型処理、各種情報圧縮処理、等々
である。

【００３３】本カメラにおいて欠陥補償は、公知の「欠
陥アドレスが登録された画素に関しての近隣画素による
補完」が採用されており、具体的補完方法は「際近接同
色画素（同色の画素のうち、当該欠陥画素に最も近い４
画素：ＲＧＢベイヤ配列の場合を例示すればＧに関して
は斜め４方に隣接する４つのＧ画素、Ｒ（又はＢ）に関
しては上下左右の４方向で直接隣接でなく間に１つのＧ
を挟んで次に位置する各４つのＲ（又はＢ）画素）たる
４画素情報の平均値を代替適用する」ものが採用されて
いる。

【００３４】本カメラは必要時に欠陥検出を行い、その
結果に基づき上記登録欠陥を追加更新する。欠陥検出は
次のように行われる。この場合のフローチャートを、図
５に示す。

【００３５】まず、露出制御機構１０３に含まれるシャ
ッタ装置で撮像素子１０５の受光面を遮光してから（Ｓ
１）、その遮光状態でテスト撮像を行う（Ｓ２）。即
ち、暗黒下でＣＣＤドライバ１０６により本カメラの最
長露出時間Ｔmax（設定は任意：ここでの例示値５ｓ）
の電荷蓄積動作を行ってテスト撮像信号（暗出力信号）
を読み出し、デジタルプロセス１０８に格納する（Ｓ
３）。格納された有効出力画素の全データに関して各出
力レベルを調べて基準レベルとデジタル比較を行うこと
で欠陥か否かの判定を行う（Ｓ４）。

【００３６】判定基準は以下のようなものである。即
ち、着目画素の出力レベルがＰであったとしてＰ＞５の場合に欠陥、それ以外（Ｐ≦５）の時には非欠陥とす
るものである。この意味は、本撮像時の暗出力レベルを
最大フルレンジ２５５の約２％までは許容するとしたも
のである。

【００３７】ここで、出力レベル約２％という判定基準
レベルはもとよりあくまでも一例であり、設計時に事情
に合わせて任意に設定し得るものである。上記程度の適
当な値（他に例えば約５％や約１％なども有効）を選ん
でおけば、画像に重畳される暗出力の影響の顕在化可能
性は充分低くなる。またこれを０％に選べば、暗出力が
重畳された画素を完全に排除することが可能であり、こ
の点ではこれも一つの好適実施形態として挙げ得る。こ
れは逆に見れば、僅かな暗信号の重畳のためにその画素
情報を完全に廃棄することを意味するから、却って総合
画質を低下させることにもなる場合もある。現実には、
これらのトレードオフ要素を勘案して基準レベルを設定
する。

【００３８】ステップＳ４以降の具体的ステップは、次
の通りである。まず、最初のアドレスを指定したのち
（Ｓ５）、このアドレスに対してＰ＞５であるか否かを
判定する（Ｓ６）。ステップＳ６によりＰ＞５と判定さ
れた場合は、画素欠陥有りと見なし（Ｓ７）、検出画素
欠陥のアドレスを一時記憶する（Ｓ８）。ステップＳ６
によりＰ≧５と判定された場合は、欠陥無しと見なす
（Ｓ９）。そして、ステップＳ１０で最終アドレスかを
判定し（Ｓ１０）、最終アドレスでない場合は、次のア
ドレスを指定し（Ｓ１１）、ステップＳ６に戻る。ステ
ップＳ１０において最終アドレスと判定されたら、上記
一時記憶した画素欠陥のアドレスをＥＥＰＲＯＭ２０１
に登録する（Ｓ１２）。

【００３９】ＥＥＰＲＯＭ４０１に欠陥データを更新す
る際には、検出欠陥画素のアドレスのうち登録欠陥と重
複するものを除去したものを追加登録する。このとき、
検出欠陥のデータを単純に既存の登録データに置き換え
るように構成してもよい。但しこの場合、仮に新規検出
時において例えばノイズなど何らかの原因による検出ミ
スが生じた場合に、工場出荷時或いはそれまでの経時劣
化によって欠陥であった画素を非欠陥として扱ってしま
い、欠陥を顕在化させてしまうおそれがある。これに対
して本実施形態では、検出欠陥から既存の登録欠陥との
重複を除去したものを既存のデータに追加するから、一
旦登録された欠陥が再び顕在化することを防止できると
いう効果を有している。

【００４０】データの更新（上記欠陥検出及び登録欠陥
の追加更新）はカメラの有する時計機能に基づいて行わ
れる。本実施形態では、１日に１回深夜２時に更新時期
が設定されている。そして、更新時期が来ると、その後
初めて電源が投入された時で、且つでファインタ開口部
が閉じられている時にデータの更新が実行される。その
際、使用者を困惑させないために、例えば「カメラセッ
トアップ中」等の表示を適所、例えばＬＣＤ１１１によ
る電子ビューファインダに表示することが好適である。
その後は、次の更新時期が来るまでデータの更新は行わ
れないので、その日１日はタイムラグを生じることな
い。また、電源投入されない限りデータが更新されない
ので、無駄な電力を消費することもない。

【００４１】次に、ファインダ開口部からの逆入射光に
よる誤動作防止処理について説明する。前述した欠陥画
素を検出する際に、ファインダ開口部が遮光板２１１に
より閉じられているか否かを検出する。ファインダ開口
部が閉じられていれば、先に説明したように欠陥画素の
検出及び欠陥画素データの更新を行う。ファインダ開口
部が閉じられていなければ、欠陥画素の検出及びデータ
の更新は行わない。このとき、ＬＣＤ１１１に「アイピ
ースシャッタを閉じてください」等の表示を行い、ユー
ザーに光学ファインダを閉じるように促し、閉じられる
のを確認して画素欠陥の検出に進むようにしてもよい。

【００４２】このように本実施形態によれば、遮光板２
１１によるファインダ開口部の開閉状態を検出し、ファ
インダ開口部が閉じられていれば欠陥画素の検出及び欠
陥画素データの更新を行い、閉じられていない場合に
は、欠陥画素の検出を禁止するようにしているので、画
素欠陥検出の際にファインダ開口部からの逆入射光によ
って誤検出が生じるのを防止することができる。

【００４３】また本実施形態では、新たに検出した欠陥
データに基づいてＥＥＰＲＯＭ４０１に登録された欠陥
データを更新することにより、ＥＥＰＲＯＭ４０１に登
録される欠陥データは、工場出荷時の初期画素欠陥に加
えて経時的画素欠陥を有するものとなる。従って、ＥＥ
ＰＲＯＭ４０１に登録された欠陥データに基づいて近隣
画素データによる補償処理を行うことによって、経時的
画素欠陥増加による画質劣化を防止することができる。

【００４４】（変形例）変形例として、「電源投入」の
代わりに、メカニカルスイッチがオンに転じたとき（即
ち、アイピースシャッタが遮光状態に切り替わったと
き）にデータの更新を行うようにしてもよい。

【００４５】また、別の変形例として、電源が投入され
ていない場合に更新時期が来るとデータ更新を行うもの
が挙げられる。例えば、３日に１回深夜２時に更新時期
が来ると自らカメラの内部的な電源投入を行い、メカニ
カルスイッチのオンを確認してデータの更新を実行する
ようにすればよい。この場合は、一般的にはカメラが使
用される可能性が低い時間帯に頻度も低く更新が実行さ
れるので、使用者に影響を与える可能性は極めて少な
く、使用者は殆どどんな場合にもタイムラグ無しで使用
することができる。なおこの場合、もしデータ更新実行
中に電源投入の手動指令があった場合には直ちに更新動
作を中止して、通常の撮影機能を優先させるようにすれ
ば、タイムラグを完全に無くすことも可能である。

【００４６】また、上記例のいずれにおいても更新時期
の設定は使用者が任意に変更できるようにすれば自由度
が増しさらに好適である。さらに、更新時期を一定の周
期毎にするのではなく、乱数的な不定期な時間間隔を設
定したり、時計による時間管理ではなく、例えば電源投
入回数何回毎に１回とか撮影枚数何枚毎に１回とかの計
数的情報で更新時期を設定することもできる。但し、通
常は画素欠陥の経時的変化は確率的現象であるから、上
記実施形態のような定期的時間管理がより好ましい。

【００４７】また、実施形態で用いているＡ／Ｄコンバ
ータの量子化レベルに関して補足すれば、現実には、Ａ
／Ｄコンバータハードウェアの有する誤差特性の存在
や、仮にそれが無いとしても原理的に最小量子化レベル
付近においては量子化誤差は相対的には１００％にも相
当する。これを考慮すれば、上記実施形態に関して実際
の量子化に用いるＡ／Ｄコンバータは画像処理系の量子
化ビット数（実施形態では８ビット）よりも多い、例え
ば１０ビット或いは１２ビット程度（それ以上でも良
い）のものを使用することがより好適であり、これによ
って上記各演算式の演算に際して誤差の影響を充分低減
することができる。

【００４８】以上本発明の実施形態及び変形例として幾
つかの例を具体的に挙げたが、本発明はこれらに限られ
ることなく、特許請求の範囲に記載の限りにおいて如何
なる態様をも取り得るものであることは言うまでもな
い。

【００４９】

【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、撮
像素子への入射光を遮断した状態で得られる撮像素子の
出力を解析することにより画素欠陥アドレスを検出する
欠陥データ検出手段と、検出された欠陥データに基づい
て撮像素子の出力に対して近隣画素データによる補償処
理を行う欠陥補償手段を有する撮像装置において、光学
的ファインダ手段から撮像素子への光入射を遮る逆入射
光遮断手段を設けると共に、該逆入射光遮断手段の設定
状態を検出する設定状態検出手段を設け、逆入射光遮断
手段の設定状態が遮断状態に無い場合には、欠陥データ
検出手段による欠陥アドレスの検出を禁止するようにし
ているので、ファインダからの逆入射光による誤検出を
無くすことができ、経時的画素欠陥増加による画質劣化
を生じない高性能な撮像装置を実現することが可能とな
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に係わるデジタルカメラの
基本構成を示すブロック図。

【図２】本実施形態における撮像部及びファインダ部の
構成を示す図。

【図３】レバーの回動によるファインダ開口部の開閉状
態を示す図。

【図４】本実施形態における欠陥検出部及び補償部の構
成を機能的に示すブロック図。

【図５】画素欠陥検出及び欠陥アドレスの更新を説明す
るためのフローチャート。

【符号の説明】

１０１，２０１…レンズ系１０２…レンズ駆動機構１０３…露出制御機構１０４…メカシャッタ１０５，２０２…ＣＣＤカラー撮像素子１０６…ＣＣＤドライバ１０７…プリプロセス回路１０８…デジタルプロセス回路１０９…カードインターフェース１１０…メモリカード１１１…ＬＣＤ画像表示系１１２…システムコントローラ（ＣＰＵ）１１３…操作スイッチ系１１４…操作表示系１１５…レンズドライバ１１６…ストロボ１１７…露出制御ドライバ１１８…不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）２００…カメラ筐体２０３…ハーフミラー２０４…ミラー２０５，２０６…ファインダ用レンズ２１１…遮光板２１２…軸体２１３…レバー２１５…切片２３０…スイッチ４０１…ＥＥＥＰＲＯＭ４０２…画素欠陥補償手段４０３…欠陥データ検出手段４０４…欠陥データ管理手段

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者吉田英明東京都渋谷区幡ヶ谷２丁目43番２号オリンパス光学工業株式会社内Ｆターム(参考） 5C022 AA13 AB37 AC02 AC08 AC09 AC69 CA00 5C024 BX01 CX22 CX23 CX24 EX41 EX47 GY01 HX14 HX29 HX51 HX58

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被写体像を撮像するための撮像素子と、該
撮像素子に被写体像を入力する撮像光学系と、前記撮像
光学系から前記撮像素子への入射光を遮断する撮像遮光
手段と、前記撮像素子に入射される光の一部を分岐させ
て前記被写体を確認するための光学的ファインダ手段
と、該光学的ファインダ手段から前記撮像素子への光入
射を遮る逆入射光遮断手段と、該逆入射光遮断手段の設
定状態を検出する設定状態検出手段と、前記撮像遮光手
段により前記撮像光学系による前記撮像素子への入射光
を遮断した状態で得られる前記撮像素子の出力を解析す
ることにより前記画素欠陥アドレスを検出する欠陥デー
タ検出手段と、該欠陥データ検出手段により検出された
欠陥データに基づいて前記撮像素子の出力に対して近隣
画素データによる補償処理を行う欠陥補償手段と、前記
設定状態検出手段により検出された前記逆入射光遮断手
段の設定状態が遮断状態に無い場合には、前記欠陥デー
タ検出手段による欠陥アドレスの検出を禁止する制御手
段とを具備してなることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】前記逆入射光遮断手段の設定状態が遮断状
態に切り替えられた際に、前記欠陥データ検出手段によ
る欠陥アドレスの検出を実行するように構成されている
ことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】前記撮像素子の画素欠陥アドレスを欠陥デ
ータとして登録する記憶手段と、前記欠陥データ検出手
段により新たに検出された欠陥データに基づいて前記記
憶手段に登録された欠陥データを更新する欠陥データ管
理手段とを有することを特徴とする請求項１記載の撮像
装置。
【請求項４】前記欠陥データ管理手段は、既に登録され
ている登録欠陥データに対して、新たに検出された新規
検出欠陥データの画素欠陥アドレスのうち登録欠陥デー
タの画素欠陥アドレスと重複しないものを追加登録する
ように構成されていることを特徴とする請求項３に記載
の撮像装置。
【請求項５】前記欠陥データ管理手段は、工場出荷時に
登録された初期登録欠陥データに対して、新たに検出さ
れた新規検出欠陥データの画素欠陥アドレスのうち初期
登録欠陥データの画素欠陥アドレスと重複しないものを
追加登録するように構成されていることを特徴とする請
求項３に記載の撮像装置。