JP2002260222A - 磁気ディスクの個体識別方法 - Google Patents
磁気ディスクの個体識別方法Info
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- JP2002260222A JP2002260222A JP2001060397A JP2001060397A JP2002260222A JP 2002260222 A JP2002260222 A JP 2002260222A JP 2001060397 A JP2001060397 A JP 2001060397A JP 2001060397 A JP2001060397 A JP 2001060397A JP 2002260222 A JP2002260222 A JP 2002260222A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 磁気ディスクの個体識別を簡易かつ確実に行
う。 【解決手段】 磁気ディスク１０を製造工程において、
作製された磁気ディスクの１０エラーを測定し、エラー
分布を製造時データとして保存し、被験磁気ディスクの
エラーを測定し、エラー分布を被験データとし、被験デ
ータと製造時データとを比較し、両エラーパターンが一
致する数が最大である製造時データを検出して被験ディ
スクの識別を行う。
う。 【解決手段】 磁気ディスク１０を製造工程において、
作製された磁気ディスクの１０エラーを測定し、エラー
分布を製造時データとして保存し、被験磁気ディスクの
エラーを測定し、エラー分布を被験データとし、被験デ
ータと製造時データとを比較し、両エラーパターンが一
致する数が最大である製造時データを検出して被験ディ
スクの識別を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気ディスクの個体
識別方法に係わる。
識別方法に係わる。
【０００２】
【従来の技術】情報記録に使用される各種磁気ディスク
は、製造工程中において、何らかの欠陥が生じうるた
め、この欠陥が記録情報のエラーの原因になる。
は、製造工程中において、何らかの欠陥が生じうるた
め、この欠陥が記録情報のエラーの原因になる。
【０００３】ところで、磁気ディスクの製造工程におい
ては、ロット毎の管理がなされており、例えば一の磁気
ディスクが製造工程において、どのロットから出荷され
たものかが識別できるようになされている。
ては、ロット毎の管理がなされており、例えば一の磁気
ディスクが製造工程において、どのロットから出荷され
たものかが識別できるようになされている。
【０００４】例えば市場に出荷した磁気ディスクに品質
上の問題が発見されたときには、その磁気ディスクが製
造工程において、どのロットから出荷されたものである
かを確認し、その磁気ディスクの製造工程の段階におい
て予め蓄積しておいた品質データとの照合を行い、品質
上の問題点の原因の追求を行う必要があり、これには、
ピックアップされた磁気ディスクの一枚一枚を、製造工
程時の品質データと比較する作業を行うことが必要であ
る。
上の問題が発見されたときには、その磁気ディスクが製
造工程において、どのロットから出荷されたものである
かを確認し、その磁気ディスクの製造工程の段階におい
て予め蓄積しておいた品質データとの照合を行い、品質
上の問題点の原因の追求を行う必要があり、これには、
ピックアップされた磁気ディスクの一枚一枚を、製造工
程時の品質データと比較する作業を行うことが必要であ
る。
【０００５】このような点に鑑みて、従来においては、
磁気ディスクを構成する基板毎に、予め例えばレーザー
マーカー等によりシリアル番号を書き込んでおく等の方
法が採られており、番号で識別して出荷ロットの確認お
よび工程時の品質の照会等を行っていた。
磁気ディスクを構成する基板毎に、予め例えばレーザー
マーカー等によりシリアル番号を書き込んでおく等の方
法が採られており、番号で識別して出荷ロットの確認お
よび工程時の品質の照会等を行っていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、磁気デ
ィスクの基板にレーザーマーカー等によってシリアル番
号を書き込む手法によって磁気ディスクの個体識別を行
うこととすると、レーザーマーキングを行う際に発生す
る基板のコンタミネーション（汚染）が、最終的に得ら
れる磁気ディスクのエラーの発生原因になったり、ま
た、基板を傷つけることによって当該部分からコロージ
ョン（磁性膜の錆）が発生したりするおそれがあり、磁
気ディスクの品質の低下を招来する原因となっていた。
ィスクの基板にレーザーマーカー等によってシリアル番
号を書き込む手法によって磁気ディスクの個体識別を行
うこととすると、レーザーマーキングを行う際に発生す
る基板のコンタミネーション（汚染）が、最終的に得ら
れる磁気ディスクのエラーの発生原因になったり、ま
た、基板を傷つけることによって当該部分からコロージ
ョン（磁性膜の錆）が発生したりするおそれがあり、磁
気ディスクの品質の低下を招来する原因となっていた。
【０００７】特に磁気ディスクの基板が、ポリカーボネ
ート等の熱可塑性樹脂によって射出成形されたプラスチ
ック基板である場合には、基板をレーザー等によってマ
ーキングする際に発塵が起こりやすく、磁気ディスクの
エラーの発生の原因になりやすい。
ート等の熱可塑性樹脂によって射出成形されたプラスチ
ック基板である場合には、基板をレーザー等によってマ
ーキングする際に発塵が起こりやすく、磁気ディスクの
エラーの発生の原因になりやすい。
【０００８】上述したように、特にプラスチック基板を
用いた磁気ディスクの基板自体にシリアル番号を書き込
んでおく方法が磁気ディスクの品質管理上の問題となっ
てきた。
用いた磁気ディスクの基板自体にシリアル番号を書き込
んでおく方法が磁気ディスクの品質管理上の問題となっ
てきた。
【０００９】そこで、本発明においては、特にプラスチ
ック基板を用いて作製した磁気ディスクについて、主に
市場において問題となったとなった場合に、簡易に個体
識別を行い、製造工程における品質の確認を行うことが
できる方法を提供する。
ック基板を用いて作製した磁気ディスクについて、主に
市場において問題となったとなった場合に、簡易に個体
識別を行い、製造工程における品質の確認を行うことが
できる方法を提供する。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の磁気ディスクの
個体識別方法においては、先ず、磁気ディスクを製造工
程において作製された磁気ディスクのエラーを測定し、
エラー分布を製造時データとして保存しておき、次に、
品質上の問題があり製造時の品質を調べたい被験磁気デ
ィスクのエラーを測定しエラー分布を被験データとし、
これらの被験データと製造時データとを比較し、エラー
パターンが一致する数が最大である製造時データを検出
して被験ディスクの識別を行うものとする。
個体識別方法においては、先ず、磁気ディスクを製造工
程において作製された磁気ディスクのエラーを測定し、
エラー分布を製造時データとして保存しておき、次に、
品質上の問題があり製造時の品質を調べたい被験磁気デ
ィスクのエラーを測定しエラー分布を被験データとし、
これらの被験データと製造時データとを比較し、エラー
パターンが一致する数が最大である製造時データを検出
して被験ディスクの識別を行うものとする。
【００１１】本発明方法によれば、磁気ディスクの基板
に、レーザーマーカーにより書き込んで識別することが
不要となるため、磁気ディスクのコンタミネーション
（汚染）や、コロージョン（磁性膜の錆）が発生したり
することを回避でき、磁気ディスクの品質の向上が図ら
れ、製品歩留りの向上を図られる。
に、レーザーマーカーにより書き込んで識別することが
不要となるため、磁気ディスクのコンタミネーション
（汚染）や、コロージョン（磁性膜の錆）が発生したり
することを回避でき、磁気ディスクの品質の向上が図ら
れ、製品歩留りの向上を図られる。
【００１２】本発明方法によれば、磁気ディスク基板ご
とにシリアル番号を書き込む工程が不要となるので、製
造工程が簡易化し、コストの低減化が図られる。
とにシリアル番号を書き込む工程が不要となるので、製
造工程が簡易化し、コストの低減化が図られる。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、本発明の磁気ディスクの個
体識別方法についての実施形態について図を参照して説
明するが、本発明は、以下に示す例に限定されるもので
はない。
体識別方法についての実施形態について図を参照して説
明するが、本発明は、以下に示す例に限定されるもので
はない。
【００１４】磁気ディスクの作製工程図を図１に示す。
先ず、熱可塑性樹脂の射出成形により基板の成形を行い
（工程１）、その後例えば１１０℃で８時間程度のアニ
ール処理を施すことにより基板の歪みを低減し磁気ディ
スク用の基板を作製する（工程２）。続いて、基板上に
所定の磁性材料等をスパッタリング法等によって成膜
し、さらに潤滑剤を塗布して保護層を成膜することによ
り磁気ディスクが作製される（工程３）。その後、作製
した磁気ディスクのエラー検査を行う（工程４）。
先ず、熱可塑性樹脂の射出成形により基板の成形を行い
（工程１）、その後例えば１１０℃で８時間程度のアニ
ール処理を施すことにより基板の歪みを低減し磁気ディ
スク用の基板を作製する（工程２）。続いて、基板上に
所定の磁性材料等をスパッタリング法等によって成膜
し、さらに潤滑剤を塗布して保護層を成膜することによ
り磁気ディスクが作製される（工程３）。その後、作製
した磁気ディスクのエラー検査を行う（工程４）。
【００１５】磁気ディスクのエラー検査工程（工程４）
においては、磁気ディスク表面の突起状態の検査、エラ
ー検査を行うものとする。エラー検査においては、磁気
ディスク評価装置を用いて媒体検査を行い、テスト符号
に生じたエラーを検出することにより欠陥を検査するも
のとする。すなわち、検査対象の磁気ディスクに実際に
信号を書き込み、これらについて、モジュレーションエ
ラー（Modulation Error：ＭＤ）、ミッシングパルスエ
ラー（Missing Pulse Error ：ＭＩＳ）、エキストラパ
ルスエラー（Extra PulseError ：ＥＸＴ）、サーマル
アスペリティエラー（Thermal Asperity Error：ＴＡ）
のそれぞれについての測定を行うものとする。
においては、磁気ディスク表面の突起状態の検査、エラ
ー検査を行うものとする。エラー検査においては、磁気
ディスク評価装置を用いて媒体検査を行い、テスト符号
に生じたエラーを検出することにより欠陥を検査するも
のとする。すなわち、検査対象の磁気ディスクに実際に
信号を書き込み、これらについて、モジュレーションエ
ラー（Modulation Error：ＭＤ）、ミッシングパルスエ
ラー（Missing Pulse Error ：ＭＩＳ）、エキストラパ
ルスエラー（Extra PulseError ：ＥＸＴ）、サーマル
アスペリティエラー（Thermal Asperity Error：ＴＡ）
のそれぞれについての測定を行うものとする。
【００１６】上記測定においては、図２に示すように、
磁気ディスク１０を円周方向に複数のセクタＳ1 〜Ｓn
に等分割し、各トラックのセクタに対して、図３に示す
テスト信号を書き込み、これを再生するものとする（図
４）。
磁気ディスク１０を円周方向に複数のセクタＳ1 〜Ｓn
に等分割し、各トラックのセクタに対して、図３に示す
テスト信号を書き込み、これを再生するものとする（図
４）。
【００１７】ある所定のトラックを一周して信号再生を
行った際に、信号振幅の振れ幅を測定し、図３に示す一
定の閾値（ＴＡＡ）に対して１０〔％〕以上大きいエラ
ーをＰＭＤ（Positive Modulation Error ）、一定の閾
値に対して１０〔％〕小さいエラーをＮＭＤ（Negative
Modulation Error ）とする（図４）。
行った際に、信号振幅の振れ幅を測定し、図３に示す一
定の閾値（ＴＡＡ）に対して１０〔％〕以上大きいエラ
ーをＰＭＤ（Positive Modulation Error ）、一定の閾
値に対して１０〔％〕小さいエラーをＮＭＤ（Negative
Modulation Error ）とする（図４）。
【００１８】また、図３に示すようにテスト信号を書き
込み、これを再生したときには、標準レベルよりも大き
いパルスと、標準よりも小さいパルスとが現れる。そし
て、図５に示すように標準レベルＴＡＡの６８％程度と
極端に低いパルス群は、パルスの欠落部と見なすことが
でき、これをミッシングパルスエラー（Missing Pulse
Error ：ＭＩＳ）とする。
込み、これを再生したときには、標準レベルよりも大き
いパルスと、標準よりも小さいパルスとが現れる。そし
て、図５に示すように標準レベルＴＡＡの６８％程度と
極端に低いパルス群は、パルスの欠落部と見なすことが
でき、これをミッシングパルスエラー（Missing Pulse
Error ：ＭＩＳ）とする。
【００１９】また、図３に示すようにテスト信号を書き
込み、さらにこの信号を消去（イレーズ）し、その後信
号をイレーズした磁気ディスクに対して再生を行ったと
き、検出される湧き出しエラー、すなわちエキストラパ
ルスエラー（Extra Pulse Error ：ＥＸＴ）の測定を行
った結果を図６に示す。これはエラー信号として標準レ
ベルＴＡＡを２５％以上、上回ったものを検出すること
とした。
込み、さらにこの信号を消去（イレーズ）し、その後信
号をイレーズした磁気ディスクに対して再生を行ったと
き、検出される湧き出しエラー、すなわちエキストラパ
ルスエラー（Extra Pulse Error ：ＥＸＴ）の測定を行
った結果を図６に示す。これはエラー信号として標準レ
ベルＴＡＡを２５％以上、上回ったものを検出すること
とした。
【００２０】また、図３に示すようにテスト信号を書き
込み、これを再生したときの磁気ヘッドと磁気ディスク
との間の接触による熱的な原因によるサーマルアスペリ
ティエラー（Thermal Asperity Error：ＴＡ）の測定を
行った。測定結果を図７に示す。これは、再生信号の標
準レベルＴＡＡを、３０％以上、上回ったものを検出す
ることとした。
込み、これを再生したときの磁気ヘッドと磁気ディスク
との間の接触による熱的な原因によるサーマルアスペリ
ティエラー（Thermal Asperity Error：ＴＡ）の測定を
行った。測定結果を図７に示す。これは、再生信号の標
準レベルＴＡＡを、３０％以上、上回ったものを検出す
ることとした。
【００２１】上述した各種エラーは、基板表面の微細な
凹凸や、磁性材料の成膜時に発生する磁気的、機械的欠
陥、その他製造工程内での磁気ディスク表面への塵埃の
付着等の種々の原因によって発生するものであるが、性
質上ランダムに発生するものであるから、個々の磁気デ
ィスク毎に各種エラーの分布が異なるものとなり、この
エラーの種類および分布をデータ化することによって、
磁気ディスク固有の製造時データを作製することができ
る。
凹凸や、磁性材料の成膜時に発生する磁気的、機械的欠
陥、その他製造工程内での磁気ディスク表面への塵埃の
付着等の種々の原因によって発生するものであるが、性
質上ランダムに発生するものであるから、個々の磁気デ
ィスク毎に各種エラーの分布が異なるものとなり、この
エラーの種類および分布をデータ化することによって、
磁気ディスク固有の製造時データを作製することができ
る。
【００２２】以下に磁気ディスクのエラーを測定し、こ
のエラーデータを元に個体識別を行う手法について具体
的に説明する。例えばプラスチック基板の両主面に磁性
層を有する構成の、両面信号記録型の磁気ディスクを製
造し、この一主面および他の主面のそれぞれにおいて上
記各エラーの測定を行いその分布図を作製する。
のエラーデータを元に個体識別を行う手法について具体
的に説明する。例えばプラスチック基板の両主面に磁性
層を有する構成の、両面信号記録型の磁気ディスクを製
造し、この一主面および他の主面のそれぞれにおいて上
記各エラーの測定を行いその分布図を作製する。
【００２３】図８に一例の磁気ディスクの一主面のエラ
ー分布を示し、図９に当該磁気ディスクの他の一主面の
エラー分布を示す。図８および図９に示す各エラーは、
磁気ディスク１０を円周方向に１０２３個のセクタに等
分割しておき、上述した各種エラーの種類、大きさ（程
度）、エラーの半径方向における位置、セクタ０の位置
を基準としたときの角度位置のそれぞれについてエラー
座標Ｅ（Ｒ、θ）として個別にデータ化し、これを磁気
ディスクの製造時データとして保存、蓄積しておく。こ
れが磁気ディスクの固有の識別データベースとなる。
ー分布を示し、図９に当該磁気ディスクの他の一主面の
エラー分布を示す。図８および図９に示す各エラーは、
磁気ディスク１０を円周方向に１０２３個のセクタに等
分割しておき、上述した各種エラーの種類、大きさ（程
度）、エラーの半径方向における位置、セクタ０の位置
を基準としたときの角度位置のそれぞれについてエラー
座標Ｅ（Ｒ、θ）として個別にデータ化し、これを磁気
ディスクの製造時データとして保存、蓄積しておく。こ
れが磁気ディスクの固有の識別データベースとなる。
【００２４】次に、現実の使用段階で問題となった被験
磁気ディスクについて、上述と同様にしてエラーの測定
を行い、エラーの種類、大きさ（程度）、エラーの半径
方向における位置、セクタ０の位置を基準としたときの
角度位置のそれぞれについてエラー座標Ｒ（ｒ、θ）と
して個別にデータ化し、分布を被験データとして図８、
図９と同様にしてデータ化する。
磁気ディスクについて、上述と同様にしてエラーの測定
を行い、エラーの種類、大きさ（程度）、エラーの半径
方向における位置、セクタ０の位置を基準としたときの
角度位置のそれぞれについてエラー座標Ｒ（ｒ、θ）と
して個別にデータ化し、分布を被験データとして図８、
図９と同様にしてデータ化する。
【００２５】上記磁気ディスクの被験データと、データ
ベース中の製造時データとの比較工程を図１０に示す。
被験データと製造時データとを、それぞれのモデル分布
図における中心位置、すなわちそれぞれの円の中心点を
合致させて、さらに例えばモデル分布図におけるセクタ
Ｓ0 の位置を合致させて基準位置として決定しておく。
そして両データのエラー座標、すなわちＥ（Ｒ、θ）と
Ｒ（ｒ、θ）との一致度を角度をパラメータとして比較
する。すなわち、基準位置における両エラーデータが一
致した個数を記録しておき、被験ディスクのデータ図の
方を角度Δθずつ回転させてそれぞれの位置における両
エラーデータが一致した個数、すなわちマッチング個数
を記録し、被験ディスクのデータ図を一回転させて、最
も一致個数が多い角度位置を検出する。
ベース中の製造時データとの比較工程を図１０に示す。
被験データと製造時データとを、それぞれのモデル分布
図における中心位置、すなわちそれぞれの円の中心点を
合致させて、さらに例えばモデル分布図におけるセクタ
Ｓ0 の位置を合致させて基準位置として決定しておく。
そして両データのエラー座標、すなわちＥ（Ｒ、θ）と
Ｒ（ｒ、θ）との一致度を角度をパラメータとして比較
する。すなわち、基準位置における両エラーデータが一
致した個数を記録しておき、被験ディスクのデータ図の
方を角度Δθずつ回転させてそれぞれの位置における両
エラーデータが一致した個数、すなわちマッチング個数
を記録し、被験ディスクのデータ図を一回転させて、最
も一致個数が多い角度位置を検出する。
【００２６】なお、エラーデータの一致個数のカウント
に際しては、それぞれのエラーの測定時のディスクの位
置決め誤差や磁気ヘッドの位置決め誤差等を考慮して、
半径位置や角度位置について所定の裕度を設けて一致
（マッチング）したものとみなせるものをカウントする
こととした。
に際しては、それぞれのエラーの測定時のディスクの位
置決め誤差や磁気ヘッドの位置決め誤差等を考慮して、
半径位置や角度位置について所定の裕度を設けて一致
（マッチング）したものとみなせるものをカウントする
こととした。
【００２７】図１１に被験ディスクデータの角度位置
と、両エラーデータのマッチング個数との関係の一例を
示す。図１１に示す例においては、２８０°近辺で両エ
ラーデータのマッチング個数が最大となっている。すな
わち被験ディスクデータを基準位置から約２８０°回転
させた位置においてエラーデータのマッチング個数が最
大となった。
と、両エラーデータのマッチング個数との関係の一例を
示す。図１１に示す例においては、２８０°近辺で両エ
ラーデータのマッチング個数が最大となっている。すな
わち被験ディスクデータを基準位置から約２８０°回転
させた位置においてエラーデータのマッチング個数が最
大となった。
【００２８】ここで、マッチング個数の最大数をＳと
し、このマッチングが最大数であった位置を除いた他の
位置におけるマッチング個数の平均値をＮとする。図１
０に示すように、マッチング個数の最大数Ｓと他の位置
におけるマッチング個数の平均値Ｎとの比、Ｓ／Ｎがｐ
以上（ｐは任意の数値）、例えば３よりも大きいときに
は、マッチングの角度依存性が良好であるものと判断し
て最もマッチング個数が多い角度位置とマッチング個数
を記録しておく。記録後、次の製造時データに変更して
同様の比較工程を行い、最もマッチング個数が多い角度
位置とマッチング個数を記録する。図１１に示す例にお
いては、マッチング個数の最大となった位置における数
Ｓと他の位置におけるマッチング個数の平均値Ｎとの差
が顕著であるので、マッチングの角度依存性が良好なも
のと判断できる。
し、このマッチングが最大数であった位置を除いた他の
位置におけるマッチング個数の平均値をＮとする。図１
０に示すように、マッチング個数の最大数Ｓと他の位置
におけるマッチング個数の平均値Ｎとの比、Ｓ／Ｎがｐ
以上（ｐは任意の数値）、例えば３よりも大きいときに
は、マッチングの角度依存性が良好であるものと判断し
て最もマッチング個数が多い角度位置とマッチング個数
を記録しておく。記録後、次の製造時データに変更して
同様の比較工程を行い、最もマッチング個数が多い角度
位置とマッチング個数を記録する。図１１に示す例にお
いては、マッチング個数の最大となった位置における数
Ｓと他の位置におけるマッチング個数の平均値Ｎとの差
が顕著であるので、マッチングの角度依存性が良好なも
のと判断できる。
【００２９】一方、磁気ディスクの全体に各種エラーが
多く分布していると、図１２に示すようにどの角度位置
においてもマッチング個数が非常に多くなってしまう。
また、磁気ディスク全体でエラー数が極端に少ないと、
図１３に示すように、どの角度位置においてもマッチン
グ個数が少なくなってしまう。図１２および図１３に示
すような場合においては、両データにはエラーのマッチ
ング個数が極大となる位置がない、すなわちマッチング
個数が最大となる位置および最大個数を検出することに
意味がないので、このような場合には、図１０に示すよ
うに、比較するディスク製造時データを変更して同様の
比較工程を行うこととする。
多く分布していると、図１２に示すようにどの角度位置
においてもマッチング個数が非常に多くなってしまう。
また、磁気ディスク全体でエラー数が極端に少ないと、
図１３に示すように、どの角度位置においてもマッチン
グ個数が少なくなってしまう。図１２および図１３に示
すような場合においては、両データにはエラーのマッチ
ング個数が極大となる位置がない、すなわちマッチング
個数が最大となる位置および最大個数を検出することに
意味がないので、このような場合には、図１０に示すよ
うに、比較するディスク製造時データを変更して同様の
比較工程を行うこととする。
【００３０】次に、上述した比較工程において求められ
た最大マッチング個数が、被験ディスクの全体のエラー
個数に対して何％であるかを下記〔数１〕により一致度
Ａとして算出する。
た最大マッチング個数が、被験ディスクの全体のエラー
個数に対して何％であるかを下記〔数１〕により一致度
Ａとして算出する。
【数１】Ａ（一致度）＝（最大マッチング個数／被験デ
ィスクの全体のエラー個数）×１００〔％〕
ィスクの全体のエラー個数）×１００〔％〕
【００３１】このように、一致度を定量化し、候補とさ
れる製造時データの集団の中から、一致度Ａが略１００
となるものを選別することによって、被験ディスクの製
造時データを高精度に特定することができ、製造時の品
質の照会を確実に行うことができるのである。
れる製造時データの集団の中から、一致度Ａが略１００
となるものを選別することによって、被験ディスクの製
造時データを高精度に特定することができ、製造時の品
質の照会を確実に行うことができるのである。
【００３２】しかしながら、上述した方法によって、任
意の被験ディスクのエラーデータが、予め保管されてい
る製造時データと、どの程度一致するかを定量的に判断
することができるが、保存されている製造時データは、
製造されている磁気ディスク毎に異なるものであるた
め、製造時データ自体は通常膨大な数となる。このため
被験ディスクのエラーデータと、全ての製造時データと
の比較作業を行うこととすると、比較工程には膨大な時
間が必要となってしまい現実的ではない。
意の被験ディスクのエラーデータが、予め保管されてい
る製造時データと、どの程度一致するかを定量的に判断
することができるが、保存されている製造時データは、
製造されている磁気ディスク毎に異なるものであるた
め、製造時データ自体は通常膨大な数となる。このため
被験ディスクのエラーデータと、全ての製造時データと
の比較作業を行うこととすると、比較工程には膨大な時
間が必要となってしまい現実的ではない。
【００３３】そこで、磁気ディスクの製造時データは、
エラーの種類別に座標位置と個数をデータベースとして
分類保存しておき、比較工程は、エラーの種類毎に順次
行うことによって、作業の効率化を図ることが望まし
い。
エラーの種類別に座標位置と個数をデータベースとして
分類保存しておき、比較工程は、エラーの種類毎に順次
行うことによって、作業の効率化を図ることが望まし
い。
【００３４】すなわち、上述したモジュレーションエラ
ーは出現頻度が低いものであるので、先ずこのモジュレ
ーションエラー（Modulation Error：ＭＤ）すなわちＰ
ＭＤ（Positive Modulation Error ）およびＮＭＤ（Ne
gative Modulation Error ）の有無によって製造時デー
タを分類する。続いて、サーマルアスペリティエラー
（Thermal Asperity Error：ＴＡ）の有無により分類
し、さらに順次エキストラパルスエラー（Extra Pulse
Error ：ＥＸＴ）、ミッシングパルスエラー（Missing
Pulse Error ：ＭＩＳ）の有無についての分類を行って
おく。
ーは出現頻度が低いものであるので、先ずこのモジュレ
ーションエラー（Modulation Error：ＭＤ）すなわちＰ
ＭＤ（Positive Modulation Error ）およびＮＭＤ（Ne
gative Modulation Error ）の有無によって製造時デー
タを分類する。続いて、サーマルアスペリティエラー
（Thermal Asperity Error：ＴＡ）の有無により分類
し、さらに順次エキストラパルスエラー（Extra Pulse
Error ：ＥＸＴ）、ミッシングパルスエラー（Missing
Pulse Error ：ＭＩＳ）の有無についての分類を行って
おく。
【００３５】図１４に示すように、上記各種エラーの有
無について順次分類していくことによって、製造時デー
タを予めＮＯ．１〜ＮＯ．１６の１６分類しておくこと
ができる。これにより、被験ディスクのエラーデータ
が、先ず上述した１６分類のエラーデータ中のどのグル
ープに属するかを判断し、そのグループ中において、上
述した被験データと製造時データとの比較を行うことに
よって、効率良く製造時データの選出を行うことができ
る。
無について順次分類していくことによって、製造時デー
タを予めＮＯ．１〜ＮＯ．１６の１６分類しておくこと
ができる。これにより、被験ディスクのエラーデータ
が、先ず上述した１６分類のエラーデータ中のどのグル
ープに属するかを判断し、そのグループ中において、上
述した被験データと製造時データとの比較を行うことに
よって、効率良く製造時データの選出を行うことができ
る。
【００３６】
【発明の効果】本発明方法によれば、磁気ディスクを個
別に分類するために、基板にレーザーマーカーによりシ
リアル番号や識別表示を書き込むことが不要となるた
め、磁気ディスクにコンタミネーション（汚染）や、コ
ロージョン（磁性膜の錆）が発生したりすることを回避
でき、品質の向上が図られ、製品歩留りの向上を図るこ
とができた。
別に分類するために、基板にレーザーマーカーによりシ
リアル番号や識別表示を書き込むことが不要となるた
め、磁気ディスクにコンタミネーション（汚染）や、コ
ロージョン（磁性膜の錆）が発生したりすることを回避
でき、品質の向上が図られ、製品歩留りの向上を図るこ
とができた。
【００３７】本発明方法によれば、磁気ディスクを個別
に分類するために、基板ごとにシリアル番号や識別表示
を書き込む工程が不要となるので、製造工程が簡易化
し、磁気ディスクの生産コストの低減化が図られた。
に分類するために、基板ごとにシリアル番号や識別表示
を書き込む工程が不要となるので、製造工程が簡易化
し、磁気ディスクの生産コストの低減化が図られた。
【図１】磁気ディスクの一般的な製造工程図を示す。
【図２】磁気ディスクの概略平面図を示す。
【図３】モジュレーションエラーの説明図を示す。
【図４】モジュレーションエラーの説明図を示す。
【図５】ミッシングパルスエラーの説明図を示す。
【図６】エキストラパルスエラーの説明図を示す。
【図７】サーマルアスペリティエラーの説明図を示す。
【図８】磁気ディスクの一主面におけるエラー分布の一
例のモデル図を示す。
例のモデル図を示す。
【図９】磁気ディスクの他の主面におけるエラー分布の
一例のモデル図を示す。
一例のモデル図を示す。
【図１０】製造時のエラーデータと被験データとの比較
工程図を示す。
工程図を示す。
【図１１】被験ディスクの基準位置からの角度位置とマ
ッチング個数との関係図を示す。
ッチング個数との関係図を示す。
【図１２】被験ディスクの基準位置からの角度位置とマ
ッチング個数との関係図を示す。
ッチング個数との関係図を示す。
【図１３】被験ディスクの基準位置からの角度位置とマ
ッチング個数との関係図を示す。
ッチング個数との関係図を示す。
【図１４】各種エラーの有無による磁気ディスクの分類
方法のフローを示す。
方法のフローを示す。
１０ 磁気ディスク、２０ 磁気ディスクのエラー分布
フロントページの続き (72)発明者 鈴木 一也 東京都品川区北品川６丁目７番35号 ソニ ー株式会社内 Ｆターム(参考） 5D112 AA24 JJ07
Claims (3)
- 【請求項１】 磁気ディスクを製造工程において作製さ
れた磁気ディスクのエラーを測定し、エラー分布を製造
時データとして保存する工程と、 被験磁気ディスクのエラーを測定し、エラー分布を被験
データとする工程と、 上記被験データと上記製造時データとを比較し、エラー
パターンが一致する数が最大である製造時データを検出
して上記被験ディスクの識別を行うことを特徴とする磁
気ディスクの個体識別方法。 - 【請求項２】 上記被験データと上記製造時データとを
比較する工程において、 上記被験磁気ディスクのエラー分布を、上記磁気ディス
ク形のモデル図上に示した被験データと、上記製造時デ
ィスクのエラー分布を、上記磁気ディスク形のモデル図
上に示した製造時データとを、それぞれのモデル図にお
ける中心位置を合致させた状態で、上記被験データを中
心位置を基準として回転させて、エラーパターンの一致
数が最大である製造時データを検出し、被験磁気ディス
クの識別を行うことを特徴とする請求項１に記載の磁気
ディスクの個体識別方法。 - 【請求項３】 上記エラーが、モジュレーションエラ
ー、ミッシングパルスエラー、エキストラパルスエラ
ー、サーマルアスペリティエラーの少なくともいずれか
であることを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスク
の個体識別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001060397A JP2002260222A (ja) | 2001-03-05 | 2001-03-05 | 磁気ディスクの個体識別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001060397A JP2002260222A (ja) | 2001-03-05 | 2001-03-05 | 磁気ディスクの個体識別方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002260222A true JP2002260222A (ja) | 2002-09-13 |
Family
ID=18919825
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001060397A Pending JP2002260222A (ja) | 2001-03-05 | 2001-03-05 | 磁気ディスクの個体識別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002260222A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006260618A (ja) * | 2005-03-15 | 2006-09-28 | Hitachi Maxell Ltd | 磁気記録媒体の評価方法および評価装置 |
| JP2007149268A (ja) * | 2005-11-29 | 2007-06-14 | Fujifilm Corp | 磁気記録媒体の表面状態判定方法および表面状態判定装置 |
| JP2010170652A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-08-05 | Canon Anelva Corp | インライン真空処理装置、インライン真空処理装置の制御方法、情報記録媒体の製造方法 |
| US8033008B2 (en) | 2007-01-17 | 2011-10-11 | Hoya Corporation | Method for supporting manufacture of a magnetic disk |
| CN103824575A (zh) * | 2012-11-19 | 2014-05-28 | Lsi公司 | 基于谐波比率的缺陷分类器 |
-
2001
- 2001-03-05 JP JP2001060397A patent/JP2002260222A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006260618A (ja) * | 2005-03-15 | 2006-09-28 | Hitachi Maxell Ltd | 磁気記録媒体の評価方法および評価装置 |
| JP2007149268A (ja) * | 2005-11-29 | 2007-06-14 | Fujifilm Corp | 磁気記録媒体の表面状態判定方法および表面状態判定装置 |
| US8033008B2 (en) | 2007-01-17 | 2011-10-11 | Hoya Corporation | Method for supporting manufacture of a magnetic disk |
| US8567044B2 (en) | 2007-01-17 | 2013-10-29 | Hoya Corporation | Method of manufacturing a magnetic disk |
| JP2010170652A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-08-05 | Canon Anelva Corp | インライン真空処理装置、インライン真空処理装置の制御方法、情報記録媒体の製造方法 |
| US8900363B2 (en) | 2008-12-26 | 2014-12-02 | Canon Anelva Corporation | Inline vacuum processing apparatus, method of controlling the same, and information recording medium manufacturing method |
| CN103824575A (zh) * | 2012-11-19 | 2014-05-28 | Lsi公司 | 基于谐波比率的缺陷分类器 |
| JP2014102873A (ja) * | 2012-11-19 | 2014-06-05 | Lsi Corp | 高調波成分の比率に基づく不良分類器 |
| CN103824575B (zh) * | 2012-11-19 | 2016-10-05 | 安华高科技通用Ip(新加坡)公司 | 基于谐波比率的缺陷分类器 |
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