JP2002247604A - 視差量測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 視差測定に際してのエラーマッチングと正し
いマッチングとを明確に切り分けて検出でき、視差の統
計量などを計算する際に、エラーマッチングの影響を減
らすことができる視差量測定装置を提供する。 【解決手段】 ステレオ画像の第１の画像１上に所定の
測定ブロックを設定する測定ブロック設定手段３と、第
２の画像２上で測定ブロックと対応する領域とのマッチ
ングを行って測定ブロックの視差量を測定する上層マッ
チング手段９Ａと、測定ブロックを複数のサブブロック
に分割し、第２の画像上で各サブブロックと対応する領
域とのマッチングを行って各サブブロックの視差量を測
定する下層マッチング手段９Ｂと、各サブブロックの視
差量と測定ブロックの視差量とを比較する視差量比較手
段９１６と、その比較結果に基づいて上層マッチング手
段９Ａでのマッチングがエラーか否かを判定するエラー
判定手段９１７と、を有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ステレオ画像の視
差量を測定する視差量測定装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来から、ステレオ画像の視差量を測定
する技術は様々な応用分野がある。例えば、特開平７−
１２０２５５号公報に記載されているように、複数のカ
メラで前方視野を撮影し、その視差量から奥行き情報を
得るステレオ距離計測が古くから知られている。このス
テレオ距離計測では、特定場所の奥行きを測定する場合
もあれば、視差全体を細かく分割し、その各々について
奥行きを測定する場合もある。

【０００３】また、娯楽用あるいは業務用の立体映像表
示の分野では、測定した視差情報を片方の映像に付加し
て伝送することで伝送量を減らすという使い方もある。
さらに、例えば特開平９−３２２１９９号公報や特開平
４−３６０３９４号公報に記載されているように、映像
の視差量を監視しておいて、それが観察者にとって良好
な視差になるように映像やカメラ設定を補正したり、特
開平１１−３５５８０８号公報に記載されているように
表示条件を切り替えたりする使い方もある。このような
使い方の場合、画面内の詳細な視差分布を測定すること
もあるが、特定箇所の視差量や、視差の最頻値や最大値
などの統計量を用いることもある。

【０００４】上記の視差量を測定する方法としては、従
来からブロックマッチング方法がよく利用されている。
この方法では、例えば左右（ＬＲ）の２枚の画像の視差
を測定する場合には、例えば図１５に示すようにＬ画像
の画面をＭ×Ｎ画素のいくつかの測定ブロックに分割、
またはＬ画像の画面上で何箇所かの測定ブロックを指定
して、各測定ブロックに対してＲ画像の画面上から対応
する場所すなわち最も類似した場所を探し出し、その両
者の位置ずれ量に基づいて視差量を測定している。

【０００５】ここで、対応する場所を探索するにあたっ
ては、例えば図１６に示すように、Ｌ画像上の測定ブロ
ックの座標を（ＸＬ，ＹＬ）として、まずＲ画像上にＬ
画像と同じ座標でＭ×Ｎ画素のブロックＢを設定し、ブ
ロックＡとブロックＢとの間で下記の式に従って画素同
士の輝度差（絶対値）の総和（以後、差分絶対値和と呼
ぶ）を演算する。

【０００６】

【数１】

【０００７】上記のブロックＡ，Ｂ間の差分絶対値和Ｓ
は、ブロックＢがブロックＡに対応する場所で最小とな
るので、ブロックＢをずらしながら、つまりΔＸ，ΔＹ
の値を適度な範囲内で変えながら差分絶対値和Ｓを演算
して、それが最小となる場所を探し出す。このようにし
て、差分絶対値和Ｓが最小となるブロックＢの場所を探
したら、そのブロックＢの場所とブロックＡの場所との
ずれ量ΔＸ，ΔＹをブロックＡに対応する視差量として
演算する。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところが、通常のブロ
ックマッチング方法では、例えばブロック内に明確な輝
度変化が十分にない場合には、至る所に類似箇所が存在
して、わずかなノイズや画像の違いで正しくマッチング
できなくなる場合がある。また、画像にノイズが多い場
合や、オクルージョンや視差の大きく異なるオブジェク
トがブロック内に含まれている場合には、ブロックの一
部にしか対応場所が存在しなかったり、逆に対応する場
所が複数存在したり、といった現象が起こってマッチン
グエラーとなり易い。このようなマッチングエラーが発
生すると、測定結果に異常値が含まれることになり、前
述の距離測定に大きな誤差がでたり、表示条件の補正や
変更が不適切なものになる。

【０００９】上記のマッチングエラーの発生を避けるた
めに、異常な情報を除外したり何らかの補間処理を施し
て、悪影響を及ぼさないようにする方法も知られてい
る。例えば、ブロック内に明確な輝度変化が十分にない
場合の対策として、例えば特開平７−１２０２５５号公
報には、エッジの有無つまり明確な輝度変化の有無をチ
ェックしてエラーマッチングの可能性が高いか否かを判
定し、可能性が高い場所を予め除外することが開示され
ている。

【００１０】しかし、画像にノイズが多い場合や、オク
ルージョンや視差の大きく異なるオブジェクトがブロッ
ク内に含まれている場合には、エラーマッチングを検出
するのは困難である。例えば、特開平７−１２０２５５
号公報や特開平４−２０３９０８号公報には、マッチン
グ結果の差分絶対値和を利用してエラーマッチングを検
出する方法が開示されているが、差分絶対値和は、輝
度、コントラスト、エッジの多少、ノイズなど画像の性
質に左右されるうえ、正しくても最小値が十分小さくな
らないことも多く、エラーマッチングと正しいマッチン
グとの切り分けを必ずしも明確にできない。

【００１１】例えば、ブロック内に前景オブジェクトと
背景オブジェクトとがある場合には、一般には前景と背
景との画像情報が邪魔しあって差分絶対値和の最小値は
大きくなるが、前景か背景のどちらかが優位になって正
しくマッチングすることもある。逆に、エラーマッチン
グであっても差分絶対値和の最小値がさほど大きくなら
ないこともある。

【００１２】このため、最適な閾値を決めるのは難し
く、例えば閾値を低くすればエラーマッチングの検出精
度は上がるが、測定データの多くが無駄になったり、再
測定の手間が増えたりする。特に、視差の統計量や全体
の傾向を短時間に得たいような用途では、測定データは
有効に利用して、再測定は避けたい。そのためには、エ
ラーマッチングと正しいマッチングとを明確に切り分け
る必要がある。

【００１３】したがって、係る点に鑑みてなされた本発
明の目的は、視差測定に際してのエラーマッチングと正
しいマッチングとを明確に切り分けて検出でき、視差の
統計量などを計算する際に、エラーマッチングの影響を
減らすことができる視差量測定装置を提供することにあ
る。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成する請求
項１に係る視差量測定装置の発明は、第１の画像および
第２の画像からなるステレオ画像の上記第１の画像上に
所定の測定ブロックを設定する測定ブロック設定手段
と、上記第２の画像上で上記測定ブロックと対応する領
域とのマッチングを行って、両画像の座標の違いから上
記測定ブロックの視差量を測定する上層マッチング手段
と、上記測定ブロックを複数のサブブロックに分割し、
上記第２の画像上で上記各サブブロックと対応する領域
とのマッチングを行って、両画像の座標の違いから上記
各サブブロックの視差量を測定する下層マッチング手段
と、該下層マッチング手段で得られた上記各サブブロッ
クの視差量と上記上層マッチング手段で得られた上記測
定ブロックの視差量とを比較する視差量比較手段と、該
視差量比較手段での比較結果に基づいて上記上層マッチ
ング手段でのマッチングがエラーか否かを判定するエラ
ー判定手段と、を有することを特徴とするものである。

【００１５】請求項１に係る視差量測定装置によると、
下層マッチング手段で得られた各サブブロックの視差量
と上層マッチング手段で得られた測定ブロックの視差量
とを比較して、上層マッチング手段でのマッチングがエ
ラーか否かを判定するようにしたので、視差の統計量な
どを計算する際に、エラーマッチングの測定ブロックを
除外することができ、エラーマッチングの影響を減らす
ことができる。

【００１６】請求項２に係る発明は、第１の画像および
第２の画像からなるステレオ画像の上記第１の画像上に
所定の測定ブロックを設定する測定ブロック設定手段
と、上記第２の画像上で上記測定ブロックと対応する領
域とのマッチングを行って、両画像の座標の違いから上
記測定ブロックの視差量を測定する上層マッチング手段
と、上記測定ブロックを複数のサブブロックに分割し、
上記第２の画像上で上記各サブブロックと対応する領域
とのマッチングを行って、両画像の座標の違いから上記
各サブブロックの視差量を測定する下層マッチング手段
と、該下層マッチング手段で得られた上記各サブブロッ
クの視差量と上記上層マッチング手段で得られた上記測
定ブロックの視差量とを比較する視差量比較手段と、該
視差量比較手段での比較結果に基づいて上記下層マッチ
ング手段での各サブブロックのマッチングがエラーか否
かを判定するエラー判定手段と、を有することを特徴と
するものである。

【００１７】請求項２に係る視差量測定装置によると、
下層マッチング手段で得られた視差量と上層マッチング
手段で得られた視差量とを比較して、下層マッチング手
段での各サブブロックのマッチングがエラーか否かを判
定するようにしたので、結果的に上層マッチング手段で
の測定ブロックのマッチングに信頼性に応じた重み付け
を行うことができ、視差の統計量などを計算する際にエ
ラーマッチングの影響を減らすことができる。

【００１８】請求項３に係る発明は、請求項１または２
に記載の視差量測定装置において、上記下層マッチング
手段は、上記第１の画像上のサブブロックと対応する上
記第２の画像上の領域との類似性を演算するサブブロッ
ク類似性演算手段と、上記第１の画像上の各サブブロッ
クについて、上記サブブロック類似性演算手段での演算
結果に基づいて類似性がもっとも高くなる上記第２の画
像上の領域の位置および類似性を示す値を検出する手段
とを含み、上記上層マッチング手段は、上記サブブロッ
ク類似性演算手段での各サブブロックの類似性の演算結
果を加算する加算手段と、該加算手段での加算結果に基
づいて上記測定ブロックと対応する上記第２の画像上の
領域との類似性がもっとも高くなる上記第２の画像上の
領域の位置および類似性を示す値を検出する手段とを含
むことを特徴とするものである。

【００１９】請求項３に係る視差量測定装置によると、
サブブロック類似性演算手段での各サブブロックの類似
性の演算結果を加算手段で加算して、第２の画像上で測
定ブロックと対応する領域の類似性を示す値を求めるよ
うにしたので、上層マッチング手段の回路規模を縮小で
き、処理時間も短縮することが可能となる。

【００２０】

【発明の実施の形態】以下、本発明による視差量測定装
置の実施の形態について、図１〜図１３を参照して説明
する。

【００２１】（第１実施の形態）図１〜図５は第１実施
の形態を示すもので、図１は全体の要部の回路構成を示
すブロック図、図２は図１に示す視差測定部の要部の回
路構成を示すブロック図、図３（ａ）および（ｂ）はエ
ラーマッチング判定の原理を説明するための図、図４は
視差量測定動作の概要を示すフローチャート、図５
（ａ）および（ｂ）はマッチング演算処理の変形例を説
明するための図である。

【００２２】本実施の形態の視差量測定装置は、図１に
示すように、ステレオ画像を構成する左右（ＬＲ）の画
像１，２の一方、ここではＬ画像１を測定ブロック設定
部３に、他方のＲ画像２を探索範囲／参照ブロック設定
部４にそれぞれ供給する。測定ブロック設定部３では、
予め設定した座標に基づいてＬ画像１上に所定数の測定
ブロックを設定し、各測定ブロックの画像データをメモ
リに読み込むなどして基準データ５として順次出力す
る。また、探索範囲／参照ブロック設定部４では、Ｒ画
像２上に測定ブロックと同じ座標（Ｘ，Ｙ）を中心とす
る探索範囲と、その探索範囲内で測定ブロックと同じ大
きさの参照ブロックとを設定し、各参照ブロック内の画
像データをメモリに読み込むなどして参照データ６とし
て順次出力する。

【００２３】基準データ５および参照データ６は、視差
測定部９にそれぞれ供給し、ここでマッチング演算処理
を行って各測定ブロックの視差量７を測定して出力する
と共に、その視差量７を測定した際のマッチングがエラ
ーマッチングであったか否かを判定して、その判定結果
を表わすエラーコード８を出力する。

【００２４】視差測定部９は、図２に示すように、上層
マッチング部９Ａ、下層マッチング部９Ｂ、階層間比較
回路９１６、およびエラー判定回路９１７を有してい
る。

【００２５】上層マッチング部９Ａは、従来と同様に測
定ブロックのマッチング演算処理を行うもので、第１差
分絶対値和演算回路９０１と第１最小値検出回路９０２
とを有しており、第１差分絶対値和演算回路９０１にお
いて従来のブロックマッチングと同様に基準データ５と
参照データ６との差分絶対値和を演算して最小値検出回
路９０２に供給し、最小値検出回路９０２において差分
絶対値和の演算結果をそれまでの最小値と比較して、大
きければその値を捨て、小さければ最小値を入れ替え
て、視差量ΔＸ１，ΔＹ１に現在のシフト量（参照デー
タを切り出した座標Ｘ＋ΔＸ，Ｙ＋ΔＹと、探索範囲の
中心座標Ｘ，Ｙとの差）を代入する。

【００２６】また、下層マッチング部９Ｂは、測定ブロ
ックをｎ個（本実施の形態では、ｎ＝４）に分割したサ
ブブロックを設定し、その各々のサブブロックについて
マッチング演算処理を行うもので、第１〜第４サブブロ
ックの各々に対応する第２−１〜２−４差分絶対値和演
算回路９０３〜９０６と、第２−１〜２−４最小値検出
回路９０７〜９１０とを有しており、各サブブロックに
ついて対応する第２−ｎ差分絶対値和演算回路および第
２−ｎ最小値検出回路により、上述した上層マッチング
部９Ａでのマッチング演算処理と同様のマッチング演算
処理を行って視差量を測定する。

【００２７】各測定ブロックについて、上記の一連の作
業を参照ブロックのシフト量、つまり参照データを切り
出す位置を変えて繰り返すことで、当該測定ブロックお
よびその各サブブロックに対応する領域を探索して、測
定ブロックに対する第１視差量９１１（ΔＸ１，ΔＹ
１）、第１サブブロックに対する第２−１視差量９１２
（ΔＸ２１，ΔＹ２１）、第２サブブロックに対する第
２−２視差量９１３（ΔＸ２２，ΔＹ２２）、第３サブ
ブロックに対する第２−３視差量９１４（ΔＸ２３，Δ
Ｙ２３）、および第４サブブロックに対する第２−４視
差量９１５（ΔＸ２４，ΔＹ２４）を決定し、第１視差
量９１１を測定ブロックの視差量７（ＤｉｓＸ，Ｄｉｓ
Ｙ）として出力すると共に、階層間比較回路９１６に供
給し、第２−１〜２−４視差量９１２〜９１５を階層間
比較回路９１６に供給する。

【００２８】階層間比較回路９１６では、測定ブロック
（上層マッチング部９Ａ）に対する第１視差量９１１と
第１〜第４サブブロック（下層マッチング部９Ｂ）に対
する第２−１〜２−４視差量９１２〜９１５とをそれぞ
れ比較して、それらの比較結果をエラー判定回路９１７
に供給する。

【００２９】エラー判定回路９１７では、階層間比較回
路９１６での比較結果に基づいて、第２−１〜２−４視
差量９１２〜９１５の少なくとも一つが、第１視差量９
１１とほぼ等しい（差が規定値以内）ときは、ＯＫを意
味するエラーコード８を出力し、第２−１〜２−４視差
量９１２〜９１５のいずれもが第１視差量９１１と大き
く異なるときは、ＮＧを意味するエラーコード８を出力
する。これにより、エラーコード８がＮＧのときは、当
該測定ブロックの視差量を無効として使用しないように
する。

【００３０】次に、図３（ａ）および（ｂ）を参照して
エラー判定の原理について説明する。図３（ａ）は、測
定ブロックＭＢ内に異なる視差を持つ二つのオブジェク
トＯＢ１，ＯＢ２が在る様子を示している。このような
場合、オブジェクトＯＢ１に対応する領域とオブジェク
トＯＢ２に対応する領域は異なるため、うまく対応場所
を見つけられずにマッチングエラーとなることもある
が、どちらかのオブジェクトの情報が優位に働いてマッ
チングに成功することもある。

【００３１】ここで、図３（ｂ）に示すように測定ブロ
ックＭＢを縦横各々２分してなる第１〜第４サブブロッ
クＳＢ１〜ＳＢ４を考えると、サブブロックＳＢ１とＳ
Ｂ３にはオブジェクトＯＢ１の情報が多く含まれ、サブ
ブロックＳＢ２とＳＢ４にはオブジェクトＯＢ２の情報
が多く含まれることになる。もし、サブブロックＳＢ１
のマッチング結果と測定ブロックＭＢのマッチング結果
とが等しければ、オブジェクトＯＢ１に対応する正しい
マッチング結果を示していると考えられる。

【００３２】図４は、上述した本実施の形態による視差
量測定動作の概要を示すフローチャートである。先ず、
ステレオ画像の一方の画像に対して測定ブロックを設定
して（ステップＳ１）、他方の画像の探索範囲で測定ブ
ロックのマッチング演算を行って第１視差量ΔＸ１，Δ
Ｙ１を測定する（ステップＳ２）と共に、その測定ブロ
ックに対して４個のサブブロックを設定して（ステップ
Ｓ３）、同様のマッチング演算を行って各サブブロック
に対する第２−ｎ視差量ΔＸ２ｎ，ΔＹ２ｎ（ｎ＝１〜
４）を測定する（ステップＳ４）。

【００３３】その後、測定ブロックに対する視差量と各
サブブロックに対する視差量とをそれぞれ比較する階層
間比較を行って、｜ΔＸ２ｎ−ΔＸ１｜≦ａｘおよび｜
ΔＹ２ｎ−ΔＹ１｜≦ａｙ（ａｘ，ａｙは規定値）であ
るか否かを判定する（ステップＳ５）。ここで、判定結
果がＹＥＳの場合には上層すなわち測定ブロックの第１
視差量ΔＸ１，ΔＹ１についてＯＫと判定し（ステップ
Ｓ６）、ＮＯの場合には第１視差量ΔＸ１，ΔＹ１につ
いてＮＧと判定して（ステップＳ７）、第１視差量ΔＸ
１，ΔＹ１とエラーの判定結果とを出力する（ステップ
Ｓ８）。

【００３４】なお、本実施の形態において、上層マッチ
ング部９Ａでの第１差分絶対値和の演算処理は、測定ブ
ロックＭＢの全ての画素を対象とすることもできるが、
例えば図５（ａ）に示すように、基準データや参照デー
タを１画素ずつ間引いて行い、下層マッチング部９Ｂで
の第２差分絶対値和の演算処理では、図５（ｂ）に示す
ように間引かないようにすることもできる。このように
すれば、第１および第２差分絶対値和演算回路での計算
量を等しくできるので、回路規模を同じにすることがで
きる。

【００３５】また、サブブロックの数は、４つに限ら
ず、２つ以上の任意の数とすることができる。さらに、
測定ブロックのサイズ（画素数）は、例えば図５では１
２×１２の偶数としたが、奇数とすることもできる。な
お、測定ブロックサイズを奇数とする場合には、サブブ
ロックは隣接するサブブロック同士が１ラインずつ重な
るように設定すればよい。さらに、マッチング演算処理
では、対応領域を１画素または複数画素ずつ飛び越して
探索することもできる。このようにすれば、視差測定の
分解能は落ちるが、回路規模の縮小や計算時間の短縮を
図ることができる。また、入力する画像に対して解像度
（画素数）削減やスムージングなどの前処理を行って、
測定時間や回路規模を縮小したり、ノイズの影響を減ら
したりすることもできる。さらに、下層マッチング部９
Ｂを一対の差分絶対値和演算回路と最小値検出回路とで
構成し、これを各サブブロックで順次使用してそれぞれ
の視差量を演算したり、あるいは上層マッチング部９Ａ
の一対の差分絶対値和演算回路と最小値検出回路とを共
用して、各サブブロックの視差量を演算するよう構成す
ることもできる。さらにまた、マッチングは、差分絶対
値和に限らず、左右ブロックの類似性を示すものであれ
ば、例えば相互相関のような他の演算量を用いることも
できる。上記の各変形例は、後述の実施の形態にも適宜
適用することができる。

【００３６】（第２実施の形態）図６および図７は第２
実施の形態を示すもので、図６は視差測定部の要部の回
路構成を示すブロック図、図７は視差量測定動作の概要
を示すフローチャートである。本実施の形態は、視差測
定部９の構成が第１実施の形態と異なるものである。す
なわち、第１実施の形態では上層マッチング部９Ａに第
１差分絶対値和演算回路９０１を設けて測定ブロックの
差分絶対値和を演算するようにしたが、本実施の形態で
は、図６に示すように第１差分絶対値和演算回路９０１
に代えて加算回路９２０を設け、この加算回路９２０に
おいて下層マッチング部９Ｂの第２−１〜２−４差分絶
対値和演算回路９０３〜９０６の出力を加算して、測定
ブロックの差分絶対値和を演算するようにしたものであ
る。

【００３７】図６において、下層マッチング部９Ｂで
は、第１実施の形態と同様に、第２−１〜２−４差分絶
対値和演算回路９０３〜９０６でサブブロックの差分絶
対値和を演算し、それらを対応する第２−１〜２−４最
小値検出回路９０７〜９１０に供給してそれまでの最小
値と比較し、小さければ最小値と視差量ΔＸ２ｎ，ΔＹ
２ｎとを更新する。本実施の形態では、第２−１〜２−
４差分絶対値和演算回路９０３〜９０６でそれぞれ演算
される差分絶対値和を上層マッチング部９Ａの加算回路
９２０にも供給する。

【００３８】加算回路９２０では、入力される差分絶対
値和の和を演算し、これを測定ブロックに対する第１差
分絶対値和とする。この第１差分絶対値和は、第１実施
の形態と同様に第１最小値検出回路９０２に供給して、
それまでの最小値と比較し、小さければ最小値と視差量
ΔＸ１，ΔＹ１とを更新する。

【００３９】各測定ブロックについて、上記の一連の作
業を参照データを切り出す位置を変えて繰り返し、当該
測定ブロックおよびその各サブブロックに対するマッチ
ング演算処理が終了したら、第１実施の形態と同様に、
上層マッチング部９Ａでの第１視差量９１１（ΔＸ１，
ΔＹ１）を測定ブロックの視差量７（ＤｉｓＸ，Ｄｉｓ
Ｙ）として出力すると共に、階層間比較回路９１６にお
いて、測定ブロック（上層マッチング部９Ａ）に対する
第１視差量９１１と第１〜第４サブブロック（下層マッ
チング部９Ｂ）に対する第２−１〜２−４視差量９１２
〜９１５とをそれぞれ比較して、第２−１〜２−４視差
量９１２〜９１５の少なくとも一つが、第１視差量９１
１とほぼ等しい（差が規定値以内）ときは、エラー判定
回路９１７からＯＫを意味するエラーコード８を出力
し、第２−１〜２−４視差量９１２〜９１５のいずれも
が第１視差量９１１と大きく異なるときは、エラー判定
回路９１７からＮＧを意味するエラーコード８を出力す
る。

【００４０】図７は、第２実施の形態による視差量測定
動作の概要を示すフローチャートである。先ず、ステレ
オ画像の一方の画像に対する測定ブロックの設定（ステ
ップＳ１１）およびサブブロックの設定（ステップＳ１
２）が終了したら、サブブロックに対する参照データを
設定して（ステップＳ１３）、サブブロックのマッチン
グ演算処理を行い、各サブブロックの差分絶対値和を算
出する（ステップＳ１４）と共に、その最小値を検出し
て各サブブロックに対する第２−ｎ視差量ΔＸ２ｎ，Δ
Ｙ２ｎ（ｎ＝１〜４）を更新する（ステップＳ１５）。

【００４１】ステップＳ１４で算出される各サブブロッ
クの差分絶対値和は、加算することで測定ブロックの差
分絶対値和を算出し（ステップＳ１６）、その差分絶対
値和の最小値を検出して測定ブロックに対する第１視差
量ΔＸ１，ΔＹ１を更新する（ステップＳ１７）。

【００４２】上記のステップＳ１３からステップＳ１７
までの処理は、ステップＳ１８においてサブブロックの
マッチング演算が終了するまで繰り返し、マッチング演
算が終了したら、測定ブロックに対する第１視差量ΔＸ
１，ΔＹ１と各サブブロックに対する第２−ｎ視差量Δ
Ｘ２ｎ，ΔＹ２ｎとをそれぞれ比較する階層間比較を行
って、｜ΔＸ２ｎ−ΔＸ１｜≦ａｘおよび｜ΔＹ２ｎ−
ΔＹ１｜≦ａｙ（ａｘ，ａｙは規定値）であるか否かを
判定する（ステップＳ１９）。ここで、判定結果がＹＥ
Ｓの場合には上層すなわち測定ブロックの第１視差量Δ
Ｘ１，ΔＹ１についてＯＫと判定し（ステップＳ２
０）、ＮＯの場合には第１視差量ΔＸ１，ΔＹ１につい
てＮＧと判定して（ステップＳ２１）、第１視差量ΔＸ
１，ΔＹ１とエラーの判定結果とを出力する（ステップ
Ｓ２２）。

【００４３】本実施の形態によれば、第１差分絶対値和
演算回路を用いることなく、第２−１〜２−４差分絶対
値和演算回路９０３〜９０６から出力される各サブブロ
ックの差分絶対値和を加算回路９２０で加算して測定ブ
ロックに対する第１差分絶対値和を得るようにしたの
で、第１実施の形態に比べ回路規模を縮小できると共
に、処理時間も短くできる。

【００４４】なお、本実施の形態において、ブロック内
の画素や探索範囲を間引く場合には、上層および下層の
間引きが等しくなる。

【００４５】（第３実施の形態）図８〜図１０は第３実
施の形態を示すもので、図８は全体の要部の回路構成を
示すブロック図、図９は図８に示す視差測定部の要部の
回路構成を示すブロック図、図１０は視差量測定動作の
概要を示すフローチャートである。

【００４６】本実施の形態の視差量測定装置は、図８に
示すように、測定ブロック設定部３からの基準データ５
および探索範囲／参照ブロック設定部４からの参照デー
タ６に基づいて、視差測定部９から４つのサブブロック
の視差量７０１〜７０４と、その各々のエラーコード８
０１〜８０４とを出力するようにしたものである。

【００４７】視差測定部９は、図９に示すように、上層
マッチング部９Ａ、下層マッチング部９Ｂ、および第２
−１〜２−４階層間比較／エラー判定回路９２１〜９２
４を有している。

【００４８】本実施の形態では、上層マッチング部９Ａ
および下層マッチング部９Ｂを第２実施の形態と同様に
構成して、上層マッチング部９Ａで測定ブロックに対す
る第１視差量９１１を演算し、下層マッチング部９Ｂで
各サブブロックに対する第２−１〜２−４視差量９１２
〜９１５を演算する。第１視差量９１１は第２−１〜２
−４階層間比較／エラー判定回路９２１〜９２４に供給
し、第２−１〜２−４視差量９１２〜９１５は視差量７
０１〜７０４として出力すると共に、対応する第２−１
〜２−４階層間比較／エラー判定回路９２１〜９２４に
供給する。

【００４９】第２−１〜２−４階層間比較／エラー判定
回路９２１〜９２４では、第２−１〜２−４視差量９１
２〜９１５（下層マッチング部９Ａの結果）と第１視差
量９１１（上層マッチング部９Ｂの結果）とをそれぞれ
比較し、両者の差が規定範囲内であればＯＫを、両者の
差が規定範囲外であればＮＧを意味するエラーコード８
０１〜８０４を出力する。

【００５０】図１０は、第３実施の形態による視差量測
定動作の概要を示すフローチャートである。本実施の形
態では、ステップＳ１１〜Ｓ１８で図７で説明したと同
様の処理を行って、測定ブロックに対する第１視差量Δ
Ｘ１，ΔＹ１と各サブブロックに対する第２−ｎ視差量
ΔＸ２ｎ，ΔＹ２ｎ（ｎ＝１〜４）とを求めたら、第１
視差量ΔＸ１，ΔＹ１と第２−ｎ視差量ΔＸ２ｎ，ΔＹ
２ｎ（ｎ＝１〜４）とをそれぞれ階層間比較して、｜Δ
Ｘ２ｎ−ΔＸ１｜≦ａｘおよび｜ΔＹ２ｎ−ΔＹ１｜≦
ａｙ（ａｘ，ａｙは規定値）であるか否かを判定する
（ステップＳ２３）。ここで、判定結果がＹＥＳの第２
−ｎ視差量ΔＸ２ｎ，ΔＹ２ｎについては対応するエラ
ーコードの内容をＯＫとし（ステップＳ２４）、ＮＯの
第２−ｎ視差量ΔＸ２ｎ，ΔＹ２ｎについては対応する
エラーコードの内容をＮＧとして（ステップＳ２５）、
４つのサブブロックの視差量７０１〜７０４と、その各
々のエラーコード８０１〜８０４とを出力する（ステッ
プＳ２６）。

【００５１】本実施の形態によれば、画像全体について
視差の統計量を求める場合、各測定ブロックが全体に及
ぼす影響の大きさを第１，第２実施の形態の場合よりも
小さくできる。すなわち、第１，第２実施の形態の場合
には、各測定ブロックの影響度は１か０となるが、本実
施の形態では４，３，２，１，０の影響度を取り得るこ
とになる。したがって、例えば４個のサブブロックが同
じ視差を持っている場合には測定ブロックの影響度は４
になるが、前景と背景との境界上にあるような測定ブロ
ックでは、どちらにマッチングしても影響度は小さくな
る。このような境界上の測定ブロックの視差測定結果
は、測定ブロック内の一部に対しては正解だが、他の部
分に対してはエラーである。

【００５２】また、第１，第２実施の形態の場合、全く
のエラーマッチングであっても、一つのサブブロックの
結果が測定ブロックの視差結果とたまたま一致してしま
うと、測定ブロック全体のマッチングがＯＫと判定され
てエラーを検出し損ね、影響度が大きくなることが懸念
されるが、本実施の形態では一致したサブブロックのみ
がマッチングＯＫと判定されるので、測定ブロックの影
響度は低くなる。このように、本実施の形態では、サブ
ブロックの信頼性によって各測定ブロックを重み付けす
ることができるので、一カ所のエラーが全体に及ぼす影
響を軽減することができる。

【００５３】なお、本実施の形態では、上層マッチング
部９Ａを第２実施の形態と同様に加算回路９２０を用い
て構成したが、第１実施の形態と同様に第１差分絶対値
和演算回路を用いて構成することもできる。

【００５４】（第４実施の形態）図１１および図１２は
第４実施の形態を示すもので、図１１は視差測定部の要
部の回路構成を示すブロック図、図１２は図１１に示す
特徴チェック部の構成を示すブロック図である。

【００５５】図１１に示すように、本実施の形態では、
第１実施の形態において、視差測定部９の上層マッチン
グ部９Ａに測定ブロック内の特徴（明確な輝度変化）の
有無をチェックする特徴チェック部１０を設けると共
に、下層マッチング部９Ｂにも各サブブロックに対応し
て当該サブブロック内の特徴の有無をチャックする特徴
チェック部１０を設ける。

【００５６】各特徴チェック部１０は、図１２に示すよ
うに、エッジ抽出フィルタ１００１、二値化回路１００
２、合計回路１００３および比較判定回路１００４を有
し、基準データ５をエッジ抽出フィルタ１００１にかけ
てエッジを抽出し、その出力を二値化回路１００２で適
正な閾値で二値化して、合計回路１００３で対応するブ
ロックにおける二値化画像のエッジの画素数を合計し、
その合計値を比較判定回路１００４において規定値と比
較して、合計値が規定値よりも小さいときは当該ブロッ
ク内に特徴がないとしてＮＧを意味するエラーコードを
出力し、合計値が規定値よりも大きいときは当該ブロッ
ク内に特徴があるとしてＯＫを意味するエラーコードを
出力するように構成する。

【００５７】上層マッチング部９Ａの特徴チェック部１
０から出力される第１エラーコードおよび下層マッチン
グ部９Ｂの各サブブロックに対応する特徴チェック部１
０から出力される第２−１〜２−４エラーコードは階層
間比較回路９１６に供給し、ここで例えば第２−１〜２
−４エラーコードがＮＧのときは、当該ＮＧのサブブロ
ックに対応する視差量と測定ブロックに対する第１視差
量との比較を省略あるいはその比較結果を無視し、第1
エラーコードがＮＧのときは、第２−１〜２−４エラー
コードに拘わらず、エラー判定回路９１７でＮＧと判定
される比較結果をエラー判定回路９１７に出力する。

【００５８】このように構成すれば、測定ブロックに対
する第１視差量と、各サブブロックに対する第２−１〜
２−４視差量との階層間比較に基づいてエラーマッチン
グを判定する場合に比べて、より確実にエラーマッチン
グを減らすことができる。

【００５９】このような特徴チェック部１０は、上記の
第２実施の形態や第３実施の形態、あるいは後述する第
５実施の形態において、マッチングを行って所定ブロッ
クの視差量を求めるマッチング演算処理部にも有効に適
用することができる。

【００６０】なお、図１１では、特徴チェック部１０を
対応するマッチング演算処理部に対して並列的に設けた
が、マッチング処理の前に特徴チェックを行い、その結
果がＮＧのときは対応するマッチング処理を省略するよ
うに構成することもできる。このように構成すれば、特
徴の少ない画像を扱う場合に、演算時間を短縮すること
ができる。

【００６１】（第５実施の形態）図１３は、第５実施の
形態における視差測定部の要部の回路構成を示すブロッ
ク図である。本実施の形態は、第２実施の形態の４つの
サブブロックから成る一つの測定ブロックを第３実施の
形態のサブブロックの一つとする３層構成として、第２
層の４ブロックの視差量をそれぞれ測定し、その各視差
量に対応するブロックでのマッチングエラーを、当該ブ
ロックの視差量とその上下層のブロックの視差量との階
層間比較に基づいて判定するようにしたものである。

【００６２】図１３では、図面を簡略化するため、第１
層マッチング部９Ｃと、第１層ブロックの４個の第２層
ブロックのうちの１個に対応する第２層マッチング部９
Ｄ−１と、１６個の第３層ブロックのうちの１個の第２
層ブロックに対応する４個の第３層ブロックからなる第
３層マッチング部９Ｅ−１と、第２層マッチング部９Ｄ
−１に対応する第２−１上位階層間比較／エラー判定回
路９３０と、第３層マッチング部９Ｅ−１に対応する第
２−１下位階層間比較回路９３１と、第２−１下位階層
間比較回路９３１に対応するエラー判定回路９３２と、
第２−１上位階層間比較／エラー判定回路９３０および
エラー判定回路９３２に対応する最終エラー判定回路９
３３とを図示している。

【００６３】第３層マッチング部９Ｅ−１は、４個の第
３層ブロックの各々に対応する第３−１−１〜３−１−
４差分絶対値和演算回路９３５〜９３８と、その各々の
最小値を検出する第３−１−１〜３−１−４最小値検出
回路９３９〜９４２とを有している。第２層マッチング
部９Ｄ−１は、対応する第３層マッチング部９Ｅ−１の
第３−１−１〜３−１−４差分絶対値和演算回路９３５
〜９３８からの出力を加算する第２−１加算回路９４４
と、その最小値を検出する第２−１最小値検出回路９４
５とを有している。第１層マッチング部９Ｃは、第２層
マッチング部９Ｄ−１を含む４個の第２層マッチング部
の第２−１〜２−４加算回路からの出力を加算する第１
加算回路９４６と、その最小値を検出する第１最小値検
出回路９４７とを有している。

【００６４】本実施の形態では、先ず、第２実施の形態
と同様に、第３−１−１〜３−１−４差分絶対値和演算
回路９３５〜９３８で第３層の対応する各ブロックの差
分絶対値和を演算し、第３−１−１〜３−１−４最小値
検出回路９３９〜９４２で差分絶対値和の演算結果をそ
れまでの最小値とそれぞれ比較して、小さければ対応す
る最小値と第３−１−１〜３−１−４視差量９５１〜９
５４（ΔＸ３１１，ΔＹ３１１〜ΔＸ３１４，ΔＹ３１
４）とを更新する。

【００６５】また、第２−１加算回路９４４で第３−１
−１〜３−１−４差分絶対値和演算回路９３５〜９３８
の出力を加算して第２層の１個のブロックの差分絶対値
和を得、第２−１最小値検出回路９４５でそれまでの最
小値と比較して、小さければ最小値と第２−１視差量９
５５（ΔＸ２１，ΔＹ２１）とを更新し、この第２−１
最小値検出回路９４５での第２−１視差量９５５を第２
層の当該ブロックにおける視差量７０１（ＤｉｓＸ１，
ＤｉｓＹ１）として出力する。

【００６６】さらに、第１加算回路９４６で第２−１加
算回路９４４の出力、図示しない第２−２〜２−４加算
回路の出力とを加算して第１層ブロックの差分絶対値和
を得、第１最小値検出回路９３１でそれまでの最小値と
比較して、小さければ最小値と第１視差量９５６（ΔＸ
１，ΔＹ１）とを更新する。

【００６７】第２−１下位階層間比較回路９３１では、
第２層の第２−１視差量９５５と第３層の第３−１−１
〜３−１−４視差量９５１〜９５４とをそれぞれ比較
し、第３−１−１〜３−１−４視差量９５１〜９５４の
いずれか一つが第２−１視差量９５５とほぼ等しい（差
が規定値以内）ときは、エラー判定回路９３２からＯＫ
を意味するエラーコード８１１を出力する。これに対
し、第３−１−１〜３−１−４視差量９５１〜９５４の
いずれもが第２−１視差量９５５と大きく異なるとき
は、エラー判定回路９３２からＮＧを意味するエラーコ
ード８１１を出力する。

【００６８】一方、第２−１上位階層間比較／エラー判
定回路９３０では、第２層の第２−１視差量９５５と第
１層の第１視差量９５６とを比較して、両者がほぼ等し
い（差が規定値以内）のときは、ＯＫを意味するエラー
コード８１２を出力する。これに対し、両者が大きく異
なるときは、ＮＧを意味するエラーコード８１２を出力
する。最終エラー判定回路９３３では、エラーコード８
１１およびエラーコード８１２のどちらかがＯＫのとき
は、ＯＫを意味するエラーコード８０１を出力する。

【００６９】本実施の形態によれば、ブロックを３層構
造として、下位の第２層と第３層との階層間比較に基づ
いてエラーマッチングを判定すると共に、上位の第１層
と第２層との階層間比較に基づてエラーマッチングを判
定して、いずれかがＯＫならＯＫと判定するようにした
ので、画像の特徴が少ないときや下位のブロックサイズ
をかなり小さくした場合に、下層のブロックでは特徴チ
ェックでエラーと判定されたり、上位との比較がうまく
いかない場合があっても、上位の層との比較によってエ
ラー判定を確実に行うことができる。したがって、視差
が複雑であったり、種々の空間周波数が存在する場合に
も、エラーマッチングを確実に判定することができる。

【００７０】なお、本実施の形態では、ブロックを３階
層としたが、さらに多くの階層を設定することもでき
る。

【００７１】図１４は、本発明に係る視差量測定装置の
応用例を示すもので、頭部装着型表示装置（ＨＭＤ）に
適用した場合を示している。このＨＭＤは、映像表示コ
ントローラ１３、ＨＭＤユニット１４、前処理部１５、
評価量演算部１６、評価部１７、および制御信号出力部
１８と、上記実施の形態で説明した測定ブロック設定部
３、探索範囲／参照ブロック設定部４および視差測定部
９からなる視差量測定装置とを有している。

【００７２】図１４において、ステレオ映像信号は映像
表示コントローラ１３に入力し、該映像表示コントロー
ラ１３による制御のもとにＨＭＤユニット１４に表示す
る。ここで、ステレオ映像信号は、例えばゲーム機やビ
デオあるいはコンピュータなどの映像信号で、左右映像
がフィールド毎に交互に伝送されるものであっても良い
し、左右映像が１フィールド内に含まれているものであ
ってもよい。

【００７３】ＨＭＤユニット１４は、ユーザーの左右の
目に対応する２つの表示部を含み、左目用の表示部には
左映像を、右目用の表示部には右映像をそれぞれ表示す
ることにより、ユーザーは立体的なステレオ映像を見る
ことができるようになっている。また、映像表示コント
ローラ１３により左右どちらかの映像のみを左右両方の
表示部に表示するように制御することにより、ユーザー
は通常の２Ｄ映像を見ることができるようになってい
る。なお、入力映像がステレオ映像でなく通常の２Ｄ映
像の場合には、入力映像信号をそのまま左右両方の表示
部に表示することにより、ユーザーは通常の２Ｄ映像を
見ることができるようになっている。このような表示の
切替は、映像表示コントローラ１３に切替スイッチを設
けてユーザーが手動で切り替える場合もあれば、自動的
に映像信号の種類を検出して切り替える場合もある。

【００７４】ステレオ映像信号は前処理部１５にも入力
し、ここで特定のタイミングで左右画像を各々のメモリ
に格納して、解像度変換、スムージングなど視差測定の
ための前処理を施す。その後、上記実施の形態で説明し
たと同様に、左画像上に複数の測定ブロックを設定し、
各ブロックに対して右画像上から対応する部分を探索し
て視差測定部９で画像の視差を測定する。

【００７５】視差測定部９から出力される視差量７およ
びエラーコード８は評価量演算部１６に入力し、ここで
１画面分の測定ブロックに対する視差測定の結果を統合
して、評価量を算出する。例えば、画面内の視差量の統
計量（最大値や最頻値、あるいは平均値など）を演算し
た後、所定の規則に従って当該画像に対する評価値を与
え、その評価値をそれまでの評価値に加算する。ここ
で、画像の評価値は、例えば視差の最大値に係数をかけ
て二乗したり、統計量に応じたランク付けを行う表を参
照する等の所定の規則に従って求める。なお、統計量を
演算する際には、エラーコード８を参照して、ＮＧを示
すコードであればそのときの視差量は無視する。

【００７６】評価量演算部１６で累積された評価値は、
評価部１７で規定値と比較し、規定値を超えた場合に
は、制御信号出力部１８から映像表示コントローラ１３
へ表示切替の指示信号を送出して、映像表示コントロー
ラ１３において強制的に画像表示をステレオ映像表示か
ら２Ｄ映像表示に切り替える。

【００７７】このような制御を行うＨＭＤの利点につい
て説明する。一般に、ステレオ映像は、視差量が大きす
ぎると見づらくなったり、立体感が損なわれたりするの
で、表示装置にあった適切な視差で見ることが望ましい
が、特定の表示装置に最適化して作られた映像の視差
は、別の表示装置では不適切になることがある。また、
近年２Ｄ映像やゲーム映像をステレオ映像に変換する装
置がいくつかあるが、設定が不適切だと大きな視差量の
映像が連続して表示される場合もある。そこで、映像に
含まれる視差量を監視し、大きな視差量が続く場合に
は、映像の設定が不適切である可能性が高いため、例え
ばステレオ表示を２Ｄ表示に切り替えることにより、ユ
ーザーが気づかないまま不適切に表示された映像を見続
けるのを避けることができる。

【００７８】なお、上記の応用例では、累積された評価
値が規定値を超えた場合に、制御信号出力部１８から映
像表示コントローラ１３へ表示切替の指示信号を送出す
るようにしたが、表示の切替指示に換えて視差設定を確
認するようユーザーに促すメッセージを表示させる信号
を出力することもできる。また、例えば視差量の最頻値
が適度な値になるように映像表示を制御することもでき
る。この場合には、映像信号の読み出し位置を左右でず
らし、左右の映像表示を互いに逆方向にシフトさせれば
よい。また、評価量演算の際、エラー箇所の視差は無視
するようにしたが、エラー箇所が多数の場合には評価量
に特定の値を充てるようにすることもできる。

【００７９】

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、第１の
画像に設定した測定ブロックを複数のサブブロックに分
割し、測定ブロックおよび各サブブロックの各々につい
て第２の画像上でマッチングを行ってそれぞれ視差量を
求め、測定ブロックの視差量と各サブブロックの視差量
との比較に基づいて、測定ブロックのマッチングがエラ
ーか否か、あるいは各サブブロックのマッチングがエラ
ーか否かを判定するようにしたので、視差測定に際して
のエラーマッチングと正しいマッチングとを明確に切り
分けて検出でき、視差の統計量などを計算する際に、エ
ラーマッチングの影響を減らすことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明による視差量測定装置の第１実施の形
態の全体の要部の回路構成を示すブロック図である。

【図２】 図１に示す視差測定部の要部の回路構成を示
すブロック図である。

【図３】 第１実施の形態によるエラーマッチング判定
の原理を説明するための図である。

【図４】 第１実施の形態による視差量測定動作の概要
を示すフローチャートである。

【図５】 第１実施の形態におけるマッチング演算処理
の変形例を説明するための図である。

【図６】 本発明による視差量測定装置の第２実施の形
態における視差測定部の要部の回路構成を示すブロック
図である。

【図７】 第２実施の形態による視差量測定動作の概要
を示すフローチャートである。

【図８】 本発明による視差量測定装置の第３実施の形
態の全体の要部の回路構成を示すブロック図である。

【図９】 図８に示す視差測定部の要部の回路構成を示
すブロック図である。

【図１０】 第３実施の形態による視差量測定動作の概
要を示すフローチャートである。

【図１１】 本発明による視差量測定装置の第４実施の
形態における視差測定部の要部の回路構成を示すブロッ
ク図である。

【図１２】 図１１に示す特徴チェック部の構成を示す
ブロック図である。

【図１３】 本発明による視差量測定装置の第５実施の
形態における視差測定部の要部の回路構成を示すブロッ
ク図である。

【図１４】 本発明に係る視差量測定装置を頭部装着型
表示装置に適用した例を示すブロック図である。

【図１５】 ブロックマッチングによる視差量測定方法
を説明するための図である。

【図１６】 同じく、ブロックマッチングによる視差量
測定方法を説明するための図である。

【符号の説明】

３ 測定ブロック設定部 ４ 探索範囲／参照ブロック設定部 ９ 視差測定部 ９Ａ 上層マッチング部 ９Ｂ 下層マッチング部 ９Ｃ 第１層マッチング部 ９Ｄ−１ 第２層マッチング部 ９Ｅ−１ 第３層マッチング部 １０ 特徴チェック部 ９０１，９０３〜９０６，９３５〜９３８ 差分絶対値
和演算回路 ９０２，９０７〜９１０，９３９〜９４２，９４５，９
４７ 最小値検出回路 ９１６ 階層間比較回路 ９１７ エラー判定回路 ９２０，９４４，９４６ 加算回路 ９２１〜９２４ 階層間比較／エラー判定回路 ９３０ 上位階層間比較／エラー判定回路 ９３１ 下位階層間比較回路 ９３２ エラー判定回路 ９３３ 最終エラー判定回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F112 AC06 BA06 CA12 FA03 FA21 FA27 FA32 FA45 5C061 AA20 AB04 AB18 5L096 AA09 FA67 GA19 HA01 JA03

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 第１の画像および第２の画像からなるス
   テレオ画像の上記第１の画像上に所定の測定ブロックを
   設定する測定ブロック設定手段と、 上記第２の画像上で上記測定ブロックと対応する領域と
   のマッチングを行って、両画像の座標の違いから上記測
   定ブロックの視差量を測定する上層マッチング手段と、 上記測定ブロックを複数のサブブロックに分割し、上記
   第２の画像上で上記各サブブロックと対応する領域との
   マッチングを行って、両画像の座標の違いから上記各サ
   ブブロックの視差量を測定する下層マッチング手段と、 該下層マッチング手段で得られた上記各サブブロックの
   視差量と上記上層マッチング手段で得られた上記測定ブ
   ロックの視差量とを比較する視差量比較手段と、 該視差量比較手段での比較結果に基づいて上記上層マッ
   チング手段でのマッチングがエラーか否かを判定するエ
   ラー判定手段と、 を有することを特徴とする視差量測定装置。
2. 【請求項２】 第１の画像および第２の画像からなるス
   テレオ画像の上記第１の画像上に所定の測定ブロックを
   設定する測定ブロック設定手段と、 上記第２の画像上で上記測定ブロックと対応する領域と
   のマッチングを行って、両画像の座標の違いから上記測
   定ブロックの視差量を測定する上層マッチング手段と、 上記測定ブロックを複数のサブブロックに分割し、上記
   第２の画像上で上記各サブブロックと対応する領域との
   マッチングを行って、両画像の座標の違いから上記各サ
   ブブロックの視差量を測定する下層マッチング手段と、 該下層マッチング手段で得られた上記各サブブロックの
   視差量と上記上層マッチング手段で得られた上記測定ブ
   ロックの視差量とを比較する視差量比較手段と、 該視差量比較手段での比較結果に基づいて上記下層マッ
   チング手段での各サブブロックのマッチングがエラーか
   否かを判定するエラー判定手段と、 を有することを特徴とする視差量測定装置。
3. 【請求項３】 請求項１または２に記載の視差量測定装
   置において、 上記下層マッチング手段は、上記第１の画像上のサブブ
   ロックと対応する上記第２の画像上の領域との類似性を
   演算するサブブロック類似性演算手段と、上記第１の画
   像上の各サブブロックについて、上記サブブロック類似
   性演算手段での演算結果に基づいて類似性がもっとも高
   くなる上記第２の画像上の領域の位置および類似性を示
   す値を検出する手段とを含み、 上記上層マッチング手段は、上記サブブロック類似性演
   算手段での各サブブロックの類似性の演算結果を加算す
   る加算手段と、該加算手段での加算結果に基づいて上記
   測定ブロックと対応する上記第２の画像上の領域との類
   似性がもっとも高くなる上記第２の画像上の領域の位置
   および類似性を示す値を検出する手段とを含むことを特
   徴とする視差量測定装置。