JP2002221467A - Method for judging remote end position of optical fiber in optical pulse tester - Google Patents
Method for judging remote end position of optical fiber in optical pulse testerInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光パルス試験器に
おける光ファイバの遠端位置判定方法に係り、特に、た
とえば光通信などに用いられる光ファイバの破断点など
を求める際に用いて好適な光パルス試験器における光フ
ァイバの遠端位置判定方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for determining a far end position of an optical fiber in an optical pulse tester, and more particularly to a method suitable for determining a break point of an optical fiber used for optical communication and the like. The present invention relates to a method for determining a far end position of an optical fiber in an optical pulse tester.
【０００２】[0002]
【従来の技術】光ファイバの伝送損失特性またはその接
続個所の検出あるいは破断点などの劣化部分を検出する
測定装置として、その後方散乱光および反射光を検出し
て測定する、いわゆるＯＴＤＲ(optical time domain r
eflector) を適用した光パルス試験器が知られている。
このような光パルス試験器では、被測定対象の光ファイ
バの遠端位置、たとえば破断位置などを検出する遠端位
置検出機能を備えたものが知られている。2. Description of the Related Art As a measuring device for detecting a transmission loss characteristic of an optical fiber or a connection point thereof or a deteriorated portion such as a break point, a so-called OTDR (optical time) which detects and measures its backscattered light and reflected light. domain r
An optical pulse tester to which an eflector is applied is known.
As such an optical pulse tester, there is known an optical pulse tester having a far-end position detecting function for detecting a far-end position of an optical fiber to be measured, for example, a break position.
【０００３】たとえば、図９には、従来の遠端位置検出
方法が適用された光パルス試験器が示されている。この
光パルス試験器は、光パルス発生部１０と、戻り光検出
部２０と、波形形成部３０と、遠端検出部４０と、表示
部５０とを含む。光パルス発生部１０は、所定の間隔に
て光パルスを所定の回数繰り返して発生する部位であ
り、その発生タイミングおよび検出タイミングの信号を
生成するタイミング発生回路１０２と、そのタイミング
信号に応動して駆動信号を発生する駆動回路１０４と、
その駆動信号に応動して所定の波長の光パルスを発生す
るレーザなどの光源１０６とを含む。For example, FIG. 9 shows an optical pulse tester to which a conventional far end position detection method is applied. The optical pulse tester includes an optical pulse generation unit 10, a return light detection unit 20, a waveform forming unit 30, a far end detection unit 40, and a display unit 50. The optical pulse generation unit 10 is a unit that repeatedly generates an optical pulse at a predetermined interval a predetermined number of times, and generates a signal of the generation timing and the detection timing, and responds to the timing signal. A driving circuit 104 for generating a driving signal;
A light source 106 such as a laser that generates an optical pulse having a predetermined wavelength in response to the drive signal.
【０００４】戻り光検出部２０は、光パルス発生部１０
から発生された光パルスを光ファイバ１の一端部から入
射して、その戻り光を検出する部位であり、光スイッチ
あるいは半透過鏡などにて形成された光方向性結合器２
０２と、その戻り光を検出して電気信号に変換するフォ
トダイオードなどの受光器２０４と、その結果の信号を
増幅する増幅器２０６とを含む。波形形成部３０は、戻
り光検出部２０からの検出信号をサンプリングして光フ
ァイバ１の損失特性を表わす測定波形を形成する部位で
あり、タイミング発生回路１０２からのタイミング信号
に応動して増幅器２０６を介して検出された信号をサン
プリングして、その結果を光パルスの繰り返し回数分だ
け加算平均する平均化処理回路３０２と、その処理結果
を対数変換して右下がりの損失波形を形成する対数変換
回路３０４と、その結果のデータを記憶する記憶回路３
０６とを含む。[0004] The return light detecting section 20 includes an optical pulse generating section 10.
The optical pulse generated from the optical fiber 1 enters from one end of the optical fiber 1 and detects the return light. The optical directional coupler 2 is formed by an optical switch or a semi-transmissive mirror.
02, a photodetector 204 such as a photodiode that detects the returned light and converts it into an electric signal, and an amplifier 206 that amplifies the resulting signal. The waveform forming unit 30 is a unit that samples a detection signal from the return light detecting unit 20 and forms a measurement waveform representing the loss characteristics of the optical fiber 1. The amplifier 206 responds to a timing signal from the timing generation circuit 102. Averaging circuit 302 which samples the signal detected through the averaging circuit and adds and averages the result by the number of repetitions of the optical pulse, and logarithmic conversion which forms a logarithmic conversion of the processing result to form a loss waveform falling rightward Circuit 304 and storage circuit 3 for storing the resulting data
06.
【０００５】遠端検出部４０は、波形形成部３０におい
て形成した光ファイバ１の測定波形に基づいてその遠端
位置を検出する部位であり、たとえば、仮遠端検出回路
４０２と、ピーク立ち上がり検出回路４０４とを含む。
仮遠端検出回路４０２は、波形形成部３０の記憶回路３
０６に記憶された各測定ポイントのデータ値があらかじ
め設定した所定値Ｒｅｆと比較して、その所定値Ｒｅｆ
以下のデータ位置を仮遠端位置として検出する回路であ
る。所定値Ｒｅｆは、光源１０６のパルス発光なしでサ
ンプリングされたデータに基づいて決定されたもので、
たとえばノイズレベルなどの値である。ピーク立ち上が
り検出回路４０４は、仮遠端検出回路４０２によって検
出された測定ポイントから、近端方向に向けての各測定
ポイント間の差分値と光ファイバの減衰量との移動比
較、ならびに差分値が光ファイバの単位長あたりの減衰
量より小の場合の測定ポイント間の幅と、光源の発光パ
ルス幅のデータ分解能との比較、を行ないながら近端方
向に測定ポイントを移動しつつ遠端位置のピーク立ち上
がり位置を検出する回路である。その結果は、測定波形
とともに表示部５０に供給される。表示部５０は、波形
形成部３０の測定波形および遠端検出部４０からのデー
タを表示するＣＲＴ(cathode ray tube)などの表示装置
である。The far end detecting section 40 is a section for detecting the far end position based on the measured waveform of the optical fiber 1 formed by the waveform forming section 30, and includes, for example, a temporary far end detecting circuit 402 and a peak rising detection circuit. And a circuit 404.
The provisional far end detection circuit 402 is provided in the storage circuit 3 of the waveform forming unit 30.
06 is compared with a predetermined value Ref set in advance, and the predetermined value Ref
This is a circuit for detecting the following data positions as temporary far-end positions. The predetermined value Ref is determined based on data sampled without pulse light emission of the light source 106,
For example, it is a value such as a noise level. The peak rise detection circuit 404 compares the difference value between the measurement points in the near end direction and the optical fiber attenuation from the measurement point detected by the provisional far end detection circuit 402, and calculates the difference value. The distance between the measurement points when the attenuation is smaller than the attenuation per unit length of the optical fiber and the data resolution of the emission pulse width of the light source are compared. This is a circuit for detecting a peak rising position. The result is supplied to the display unit 50 together with the measurement waveform. The display unit 50 is a display device such as a CRT (cathode ray tube) that displays the measured waveform of the waveform forming unit 30 and the data from the far end detection unit 40.
【０００６】以上のような構成において、従来の光パル
ス試験器における光ファイバの遠端位置検出方法を説明
すると、まず、光源１０６からの光パルスは、光方向性
結合器２０２を介して測定対象の光ファイバ１に供給さ
れる。次に、光ファイバ１に入射した光パルスは、その
距離に応じて散乱及び反射して、その戻り光が受光器２
０４によって検出される。その結果の信号は、増幅器２
０６において増幅されて平均化処理回路３０２に供給さ
れる。次に、平均化処理回路３０２は、複数回の光パル
スの戻り光を平均化処理して、その距離に応じた光ファ
イバの損失特性の波形データを形成する。その測定波形
のデータは、対数変換回路３０４によって対数変換され
て、たとえば図２に示すような右下がりの測定波形のデ
ータとなって記憶回路３０６にそれぞれ記憶される。In the above configuration, a method of detecting the far end position of an optical fiber in a conventional optical pulse tester will be described. First, an optical pulse from the light source 106 is measured via the optical directional coupler 202. To the optical fiber 1. Next, the light pulse incident on the optical fiber 1 is scattered and reflected according to the distance, and the returned light is reflected by the light receiver 2.
04. The resulting signal is
At 06, the signal is amplified and supplied to the averaging circuit 302. Next, the averaging processing circuit 302 performs averaging processing on the return light of the optical pulse for a plurality of times to form waveform data of the loss characteristic of the optical fiber according to the distance. The data of the measurement waveform is logarithmically converted by the logarithmic conversion circuit 304, and is stored in the storage circuit 306 as, for example, data of a measurement waveform falling to the right as shown in FIG.
【０００７】次に、記憶回路３０６に記憶された測定波
形のデータは、遠端検出部４０により随時読み出され
て、その遠端位置が検出される。この際、まず、仮遠端
検出回路４０２において、記憶回路３０６に記憶された
各測定ポイントのデータ値に基づいて仮遠端位置を検出
する。すなわち、仮遠端検出回路４０２は、たとえば図
１０に示すように、対数変換されて記憶されたデータ値
をＤｍとすると、ステップＳ１０において近端側からデ
ータ値Ｄｍを更新しつつ、それらをステップＳ１２にお
いてそれぞれノイズレベル等の所定値Ｒｅｆと比較し
て、それらの値が所定値Ｒｅｆ以下となっているか否か
を判定する。ステップＳ１２においてデータ値Ｄｍが所
定値Ｒｅｆ以下となると、そのデータ位置を仮遠端位置
ｌｍ（図２参照）として検出する。Next, the data of the measured waveform stored in the storage circuit 306 is read out at any time by the far end detecting section 40, and its far end position is detected. At this time, first, the provisional far end detection circuit 402 detects the provisional far end position based on the data value of each measurement point stored in the storage circuit 306. That is, assuming that the data value that has been logarithmically converted and stored is Dm, for example, as shown in FIG. 10, the provisional far end detection circuit 402 updates the data value Dm from the near end side in step S10, and In S12, each is compared with a predetermined value Ref such as a noise level to determine whether or not those values are equal to or less than the predetermined value Ref. When the data value Dm becomes equal to or smaller than the predetermined value Ref in step S12, the data position is detected as the temporary far end position lm (see FIG. 2).
【０００８】次に、仮遠端位置ｌｍが検出されると、ピ
ーク立ち上がり位置検出回路４０４は、仮遠端検出回路
４０２によって検出された測定ポイントから近端方向
に、ピークが立ち上がる直前の測定ポイントを検出し
て、その位置を遠端位置として検出する。すなわち、図
１０に示すように、ステップＳ１４において、位置ｌｍ
から順次１つ前の測定ポイントｌｍ−ｎのデータ値Ｄｍ
−ｎとデータ値Ｄｍとの差分をとって、その差分値Ａｎ
を求める。次に、ステップＳ１６において、差分値Ａｎ
が測定対象の光ファイバの減衰量αより小であり、かつ
正であるか否かを判定する。差分値Ａｎが減衰量αより
小でかつ正でなければ、ステップＳ１７に移って、測定
ポイントｌｍを近端側に移動して、ステップＳ１４およ
びステップＳ１６を繰り返す。Next, when the provisional far end position lm is detected, the peak rising position detection circuit 404 moves from the measurement point detected by the provisional far end detection circuit 402 to the measurement point immediately before the peak rises in the near end direction. Is detected, and that position is detected as the far end position. That is, as shown in FIG. 10, in step S14, the position lm
From the data value Dm of the immediately preceding measurement point lm-n
-N and the difference between the data value Dm and the difference value An
Ask for. Next, in step S16, the difference value An
Is smaller than the attenuation amount α of the optical fiber to be measured and is positive. If the difference value An is smaller than the attenuation amount α and not positive, the process moves to step S17, moves the measurement point lm to the near end side, and repeats steps S14 and S16.
【０００９】次に、ステップＳ１６において差分値Ａｎ
が減衰量αより小でかつ正となると、ステップＳ１８に
移って差分をとる１つ前の測定ポイントを移動して、つ
まりｎをインクリメントしてステップＳ２０に進む。次
に、ステップＳ２０ではｎが基準値ｎｍａｘより大であ
るか否かを判定する。基準値ｎｍａｘは、光源１０６の
発光パルス幅に依存する値であり、そのパルス幅をデー
タの分解能で割った値である。つまり、１つ前の測定ポ
イントが分解能の範囲にあるか否かを判定する。ステッ
プＳ２０において、ｎがｎｍａｘより大でなければ、再
び、ステップＳ１４に戻って、インクリメントした１つ
前の測定ポイントのデータによりステップＳ１４〜ステ
ップＳ１８を繰り返して仮遠端位置ｌｍのデータ値との
差分値が減衰量αより小でかつ正となる測定ポイントを
検出する。さらに、再びステップＳ１８〜Ｓ２０を繰り
返して、ステップＳ２０においてｎが基準値ｎｍａｘよ
り大となると、ステップＳ２２に移って、その際のデー
タ値Ｄｎおよびその測定ポイント位置を記憶する。この
結果、たとえば、図２中の拡大図Ｐに示すように、仮遠
端位置ｌｍからピーク位置ｌｍ−１、さらにピーク立ち
上がり位置ｌｍ−２が検出される。検出されたデータ
は、測定波形のデータとともに表示部５０に供給されて
表示される。Next, in step S16, the difference value An
If is smaller than the attenuation amount α and becomes positive, the process moves to step S18 to move the immediately preceding measurement point at which the difference is obtained, that is, increments n, and proceeds to step S20. Next, in step S20, it is determined whether or not n is larger than the reference value nmax. The reference value nmax is a value that depends on the light emission pulse width of the light source 106, and is a value obtained by dividing the pulse width by the data resolution. That is, it is determined whether the immediately preceding measurement point is within the resolution range. In step S20, if n is not larger than nmax, the process returns to step S14 again, and repeats steps S14 to S18 with the incremented data of the immediately preceding measurement point to obtain the data value of the provisional far end position lm. A measurement point at which the difference value is smaller than the attenuation amount α and is positive is detected. Further, steps S18 to S20 are repeated again, and when n becomes larger than the reference value nmax in step S20, the process proceeds to step S22, where the data value Dn and the measurement point position at that time are stored. As a result, for example, as shown in the enlarged view P in FIG. 2, a peak position lm-1 and a peak rising position lm-2 are detected from the temporary far end position lm. The detected data is supplied to and displayed on the display unit 50 together with the data of the measured waveform.
【００１０】[0010]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の技術では、仮遠端検出回路４０２によってノイ
ズレベル等の所定値Ｒｅｆに基づいて仮遠端位置ｌｍを
求め、その結果からピーク立ち上がり検出回路４０４に
よって一つ前の測定ポイントとの差分値Ａｎを求め、そ
の差分値Ａｎが光ファイバ１の減衰量αより小さく、か
つ正である測定ポイントを遠端位置の立ち上がりとして
検出するので、たとえば、フレネル反射などの２次反射
が生じている場合（部分）に、その反射によって現わ
れた実際の遠端よりさらに遠い位置のピーク位置を遠端
として誤認識して検出してしまうなどの欠点があった。
ちなみに、図２に示すようなフレネル反射が生じている
光ファイバにおいて、所定値Ｒｅｆの値を１．０ｄＢ、
基準値αの値を０．２ｄＢ、分解能を４ｍ（パルス幅１
μｓ）として測定した場合に、図１０のステップＳ１６
にて得られたすべての差分値Ａｎが基準値αより小とな
った。その結果、上述した技術では、図２に示す２次反
射によって生じた近端側から２番目のピークとなる最後
尾の測定ポイントを遠端位置として検出してしまうこと
になる。実際の遠端位置は、近端側から１番目のピーク
（部分）となる測定波形の中間位置のピーク位置であ
る。However, in the prior art described above, the provisional far end detection circuit 402 determines the provisional far end position lm based on a predetermined value Ref such as a noise level and the like, and from the result, a peak rise detection circuit. A difference value An from the immediately preceding measurement point is obtained by 404, and the difference value An is smaller than the attenuation amount α of the optical fiber 1 and a positive measurement point is detected as the rise of the far end position. When secondary reflection such as Fresnel reflection occurs (part), there is a disadvantage that a peak position farther than the actual far end that appears due to the reflection is erroneously recognized as a far end and detected. Was.
Incidentally, in the optical fiber having Fresnel reflection as shown in FIG. 2, the predetermined value Ref is set to 1.0 dB,
The reference value α is 0.2 dB and the resolution is 4 m (pulse width 1
μs), the step S16 in FIG.
All the difference values An obtained in are smaller than the reference value α. As a result, in the above-described technique, the last measurement point, which is the second peak from the near end side generated by the secondary reflection shown in FIG. 2, is detected as the far end position. The actual far-end position is the peak position at the middle position of the measured waveform that is the first peak (part) from the near-end side.
【００１１】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、フレネル反射などの２次反射による遠端位置の
誤認識を防止して、正確な遠端位置を検出することがで
きる光パルス試験器における光ファイバの遠端位置判定
方法を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an optical pulse capable of preventing erroneous recognition of a far end position due to secondary reflection such as Fresnel reflection and capable of detecting an accurate far end position. An object of the present invention is to provide a method for determining a far-end position of an optical fiber in a tester.
【００１２】[0012]
【課題を解決するための手段】本発明による光パルス試
験器における光ファイバの遠端位置判定方法は、上述の
課題を解決するために、被測定対象の光ファイバにその
一端部から所定の光パルスを入射して、その戻り光の信
号レベルの波形から光ファイバの遠端部位を判定する光
パルス試験器における光ファイバの遠端位置判定方法で
あって、光源を駆動して所定の光パルスを光ファイバに
入射し、その戻り光を検出する第１の工程と、第１の工
程の検出結果に基づいて光ファイバの距離に応じた損失
特性を表わす測定波形を形成する第２の工程と、第２の
工程により形成した測定波形からその波形のそれぞれの
ピーク値を検出してその立ち上がり位置を求める第３の
工程と、第３の工程により求めた測定波形のピーク値の
立ち上がり位置を直線によって結んだ際の傾きを求める
第４の工程と、第４の工程により求めたピーク値間の傾
きを被測定波形の光ファイバの特性によりあらかじめ求
められる所定の値と比較する第５の工程と、第３の工程
により求めたピーク値間の測定波形を微分演算してその
ピーク値間の波形の増減率を求める第６の工程と、第６
の工程により求めたピーク値間の波形の増減率と第５の
工程の比較結果とに基づいて遠端位置を判定する第７の
工程とを含むことを特徴とする。In order to solve the above-mentioned problems, a method for determining the far end position of an optical fiber in an optical pulse tester according to the present invention includes the steps of: A method for determining a far end position of an optical fiber in an optical pulse tester which receives a pulse and determines a far end portion of the optical fiber from a waveform of a signal level of the return light, wherein a light source is driven to generate a predetermined optical pulse And a second step of forming a measurement waveform representing a loss characteristic according to the distance of the optical fiber based on the detection result of the first step. A third step of detecting each peak value of the waveform from the measurement waveform formed in the second step to determine its rising position, and a rising position of the peak value of the measurement waveform determined in the third step. A fourth step of obtaining an inclination when connected by a line, and a fifth step of comparing the inclination between the peak values obtained in the fourth step with a predetermined value previously obtained from the characteristics of the optical fiber of the waveform to be measured. A sixth step of differentiating the measured waveform between the peak values obtained in the third step to obtain an increase / decrease rate of the waveform between the peak values;
And a seventh step of determining the far end position based on the increase / decrease rate of the waveform between the peak values obtained in the step and the comparison result in the fifth step.
【００１３】この場合、第３の工程は、測定波形に複数
のピーク値があるか否かを検出する工程を含み、その工
程により複数のピーク値が検出された場合に、それらの
ピーク値間について第４ないし第６の工程を繰り返し、
そのうちのいずれかのピーク値の位置を第７の工程によ
り遠端位置として判定するとよい。In this case, the third step includes a step of detecting whether or not the measured waveform has a plurality of peak values. If a plurality of peak values are detected in the step, the third step is performed between those peak values. The fourth to sixth steps are repeated for
The position of any of the peak values may be determined as the far end position in the seventh step.
【００１４】また、有利には、第５の工程は、被測定対
象の光ファイバの光パルスの伝搬波長に依存する減衰率
に基づいて決定される係数と第４の工程により求めたピ
ーク値間の直線の傾きとを比較するとよい。[0014] Preferably, the fifth step is a step between the coefficient determined based on the attenuation factor dependent on the propagation wavelength of the optical pulse of the optical fiber to be measured and the peak value obtained in the fourth step. Should be compared with the slope of the straight line.
【００１５】さらに、第７の工程は、ピーク値間の直線
の傾きが所定の係数より大となった場合に、かつ第６の
工程により微分波形が単調増加を表わす場合に、測定点
に近いピーク位置を遠端位置と判定するとよい。Further, the seventh step is close to the measurement point when the gradient of the straight line between the peak values is larger than a predetermined coefficient and when the differentiated waveform indicates a monotonic increase in the sixth step. The peak position may be determined as the far end position.
【００１６】[0016]
【発明の実施の形態】次に、添付図面を参照して本発明
による光パルス試験器における光ファイバの遠端位置判
定方法の実施の形態を詳細に説明する。図１には本発明
による遠端位置判定方法が適用された光パルス試験器の
一実施形態が示されている。本実施形態に適用される光
パルス試験器は、被試験対象の光ファイバ１の一端部か
ら所定の波長の光パルスを入射して、その一端部に光フ
ァイバ１の内部で後方散乱および反射して戻る光を検出
して、その検出結果から光ファイバ１の損失特性を表わ
す測定波形を形成して表示する測定装置であり、本実施
形態では、測定の結果得られた測定波形のデータ値から
光ファイバ１の実際の遠端位置を検出する遠端位置検出
機能を有している。特に、本実施形態では、遠端位置を
検出する場合に、測定波形のデータ値から複数のピーク
値を検出して、それらを結んだ直線傾きおよび波形の微
分係数に基づいてフレネル反射などの２次反射により生
じた波形を実際の光ファイバの光パルスの伝搬による波
形と区別して正確な遠端位置を求める点が主な特徴点で
ある。なお、図１において、図９に示す各部と同様の部
分には同符号を付して、その説明を簡略化して以下に説
明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an embodiment of a method for determining a far end position of an optical fiber in an optical pulse tester according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 shows an embodiment of an optical pulse tester to which the far-end position determination method according to the present invention is applied. The optical pulse tester applied to the present embodiment receives an optical pulse having a predetermined wavelength from one end of the optical fiber 1 to be tested, and backscatters and reflects inside the optical fiber 1 at one end. This is a measuring device that detects the returning light, forms a measurement waveform representing the loss characteristic of the optical fiber 1 from the detection result, and displays the measurement waveform. It has a far end position detection function for detecting the actual far end position of the optical fiber 1. In particular, in the present embodiment, when detecting the far end position, a plurality of peak values are detected from the data values of the measured waveform, and two or more peak values are detected based on the linear slope connecting them and the differential coefficient of the waveform. The main characteristic point is that the waveform generated by the secondary reflection is distinguished from the waveform due to the propagation of the optical pulse of the actual optical fiber to obtain an accurate far-end position. In FIG. 1, the same parts as those shown in FIG. 9 are denoted by the same reference numerals, and the description will be simplified and described below.
【００１７】すなわち、本実施形態に適用された光パル
ス試験器は、図１に示すように、光パルス発生部１０
と、戻り光検出部２０と、波形形成部３０と、遠端検出
部４０と、表示部５０とを含む。光パルス発生部１０
は、図９に示す部位と同様に、タイミング発生回路１０
２と、駆動回路１０４と、光源１０６とを含み、所定の
タイミングにより光源１０６を駆動して所定の波長の光
パルスを発生して、これを所望の間隔にて所定の回数繰
り返す光パルス発生手段である。発生された光パルス
は、戻り光検出部２０の光方向性結合器２０２を介して
被試験対象の光ファイバ１に入射される。That is, as shown in FIG. 1, the optical pulse tester applied to this embodiment has an optical pulse generator 10.
, A return light detecting unit 20, a waveform forming unit 30, a far end detecting unit 40, and a display unit 50. Optical pulse generator 10
Is similar to the part shown in FIG.
2, a driving circuit 104, and a light source 106, an optical pulse generating means for driving the light source 106 at a predetermined timing to generate an optical pulse of a predetermined wavelength, and repeating this at a predetermined interval a predetermined number of times. It is. The generated optical pulse is incident on the optical fiber 1 to be tested via the optical directional coupler 202 of the return light detector 20.
【００１８】戻り光検出部２０は、図９に示す部位と同
様に、光方向性結合器２０２と、受光器２０４と、増幅
器２０６とを含み、光パルス発生部１０からの光パルス
を光ファイバ１の一端部から入射して、その一端部に光
ファイバ１の内部から後方散乱または反射されて戻る光
を光方向性結合器２０２を介して受光器２０４に供給し
て検出する検出手段である。受光器２０４によって検出
された戻り光は、電気信号に変換されて、増幅器２０６
により増幅されて波形処理部３０の平均化処理回路３０
２に供給される。The return light detector 20 includes an optical directional coupler 202, a light receiver 204, and an amplifier 206, as in the portion shown in FIG. 9, and converts the optical pulse from the optical pulse generator 10 into an optical fiber. 1 is a detection means for supplying light from one end of the optical fiber 1 to the light receiver 204 via the optical directional coupler 202 and detecting light that is backscattered or reflected back from the inside of the optical fiber 1 to the one end. . The return light detected by the light receiver 204 is converted into an electric signal,
Averaging circuit 30 of the waveform processing unit 30
2 is supplied.
【００１９】波形形成部３０は、図９に示す部位と同様
の平均化処理回路３０２と、対数変換回路３０４と、記
憶回路３０６を含む。平均化処理回路３０２は、戻り光
検出部２０により検出した戻り光の検出信号をサンプリ
ングして、光ファイバ１の損失特性を表わす測定波形の
データを形成するデータ形成回路であり、そのサンプリ
ングした結果を光パルス発生部１０のタイミング発生回
路１０２からのタイミング信号に応動して光源１０６で
の光パルスの繰り返し回数分加算して、その平均値を求
める演算処理回路である。その処理結果は対数変換回路
３０４に供給される。対数変換回路３０４は、平均化処
理されて形成された波形の信号レベルを対数変換する演
算回路であり、対数変換した結果は光ファイバ１の損失
特性に比例したほぼ右下がりの波形となって記憶回路３
０６に記憶される。記憶回路３０６は、随時書き換え可
能なＲＡＭ(random access memory) などの記憶装置が
有利に適用されている。The waveform forming section 30 includes an averaging circuit 302, a logarithmic conversion circuit 304, and a storage circuit 306 similar to those shown in FIG. The averaging circuit 302 is a data forming circuit that samples a detection signal of the return light detected by the return light detection unit 20 and forms data of a measured waveform representing the loss characteristic of the optical fiber 1. In response to the timing signal from the timing generation circuit 102 of the optical pulse generation unit 10, the number of repetitions of the optical pulse in the light source 106 is added, and an average value is obtained. The processing result is supplied to the logarithmic conversion circuit 304. The logarithmic conversion circuit 304 is an arithmetic circuit that logarithmically converts the signal level of the waveform formed by the averaging process, and the result of the logarithmic conversion is stored as a substantially right-downward waveform proportional to the loss characteristic of the optical fiber 1. Circuit 3
06 is stored. As the storage circuit 306, a storage device such as a random access memory (RAM) that can be rewritten at any time is advantageously applied.
【００２０】遠端検出部４０は、図９に示す部位と同様
の仮遠端検出回路４０２と、ピーク立ち上がり検出回路
４０４とを含み、さらに、本実施形態では、ピークアド
レス検出回路４０６と、ピーク間傾き演算回路４０８
と、ピーク間増減率演算回路４１０と、遠端判定回路４
１２とを含む。仮遠端検出回路４０２は、図１０に示す
部位と同様に、各測定ポイントのデータ値をノイズレベ
ル等の所定値Ｒｅｆと比較して、所定値Ｒｅｆ以下とな
るデータ値を検出してその測定ポイントを仮遠端位置と
して検出する。ピーク立ち上がり検出回路４０４は、図
９に示す部位と同様に、仮遠端検出回路４０２において
検出した比較基準としての仮遠端位置と、近端方向にそ
の一つ前の測定ポイントと、の差分（図１０のＳ１４）
を光ファイバ１の単位長さ当たりの減衰量αと比較して
（図１０のＳ１６）、差分値が減衰量αより小でかつ正
でなければ比較基準と比較相手値を近端方向に向けてそ
れぞれ一つ前の測定ポイントに移し（図１０のＳ１
７）、順次それらの差分を取りながらそれらの差分と減
衰量αとの比較を行なう。そして、差分値が減衰量αよ
り小でかつ正の場合にのみ比較相手値をさらに一つ前の
ポイントにインクリメントして（図１０のＳ１８）移動
して光源の発光パルス幅により定まるデータ分解能との
比較を行ない（図１０のＳ２０）、距離に対応するデー
タ間幅が分解能の範囲になければ再びそれまでの比較基
準と比較相手値との差分と減衰量との比較を行う。測定
ポイント間の距離に対応するデータ幅が減衰量αより小
かつ正で距離対応のデータ幅が発光パルス幅のデータ分
解能より大きいとき, すなわち、分解能の範囲内であれ
ばそのときのデータ値を遠端位置のピーク立ち上がり位
置として記憶するものである。本実施形態では、ピーク
立ち上がり検出回路４０４は、仮遠端検出回路４０２に
おいて検出した仮遠端位置およびピークアドレス検出回
路４０６において検出した他のピーク値での立ち上がり
位置を検出する。The far end detecting section 40 includes a temporary far end detecting circuit 402 and a peak rising detecting circuit 404 similar to those shown in FIG. 9, and in the present embodiment, a peak address detecting circuit 406 and a peak address detecting circuit 406 are provided. Slope calculation circuit 408
, A peak-to-peak change rate calculation circuit 410, and a far-end determination circuit 4.
12 is included. The temporary far-end detection circuit 402 compares the data value of each measurement point with a predetermined value Ref such as a noise level and detects a data value equal to or less than the predetermined value Ref, similarly to the part shown in FIG. The point is detected as a temporary far end position. The peak rise detection circuit 404 calculates the difference between the provisional far end position detected by the provisional far end detection circuit 402 as a comparison reference and the immediately preceding measurement point in the near end direction, similarly to the part shown in FIG. (S14 in FIG. 10)
Is compared with the attenuation amount α per unit length of the optical fiber 1 (S16 in FIG. 10). If the difference value is smaller than the attenuation amount α and is not positive, the comparison reference and the comparison partner value are directed toward the near end. Respectively to the previous measurement point (S1 in FIG. 10).
7) While comparing the differences, the differences are compared with the attenuation amount α. Then, only when the difference value is smaller than the attenuation amount α and is positive, the comparison partner value is further incremented to the immediately preceding point (S18 in FIG. 10) and moved to obtain the data resolution determined by the light emission pulse width of the light source. (S20 in FIG. 10), and if the data interval corresponding to the distance is not within the range of the resolution, the difference between the comparison reference and the comparison partner value up to that point and the attenuation are again compared. When the data width corresponding to the distance between the measurement points is smaller and positive than the attenuation amount α, and the data width corresponding to the distance is larger than the data resolution of the emission pulse width, that is, if it is within the resolution range, the data value at that time is This is stored as the peak rising position at the far end position. In the present embodiment, the peak rise detection circuit 404 detects the provisional far end position detected by the provisional far end detection circuit 402 and the rise position at another peak value detected by the peak address detection circuit 406.
【００２１】ピークアドレス検出回路４０６は、仮遠端
検出回路４０２において検出した仮遠端位置の他にピー
ク値を示す測定ポイントが複数あるか否かを検出するピ
ーク値検出回路であり、本実施形態では、波形形成部３
０からの測定波形のデータをたとえば微分演算してピー
クとなる位置を検出する。この場合、たとえば、図４に
示すように微分演算した結果から波形の変化点のそれぞ
れの位置を検出する。検出したそれぞれのピーク位置
は、ピーク立ち上がり検出回路４０４と、ピーク間傾き
演算回路４０８と、ピーク間増減率演算回路４１０と、
遠端判定回路４１２とにそれぞれ供給される。The peak address detection circuit 406 is a peak value detection circuit for detecting whether there are a plurality of measurement points indicating a peak value in addition to the provisional far end position detected by the provisional far end detection circuit 402. In the form, the waveform forming unit 3
The peak position is detected by, for example, differentiating the data of the measured waveform from zero. In this case, for example, as shown in FIG. 4, the respective positions of the changing points of the waveform are detected from the result of the differential operation. The detected peak positions are determined by a peak rise detection circuit 404, a peak slope calculation circuit 408, a peak change rate calculation circuit 410,
The signal is supplied to the far-end determination circuit 412.
【００２２】ピーク間傾き演算回路４０８は、ピークア
ドレス検出回路４０６において複数のピーク値を検出し
た場合に、ピーク立ち上がり検出回路４０４からの後ろ
２つのピーク立ち上がり位置を直線により結んだ際の傾
きをそれぞれ求める演算回路である。この際、求めた傾
きは、信号レベルｄＢを距離ｋｍより除算した値とな
り、光ファイバの減衰率と同様の単位によって表わされ
る。求めたピーク間の直線傾きは、遠端判定回路４１２
に供給される。When a plurality of peak values are detected by the peak address detection circuit 406, the peak-to-peak slope calculation circuit 408 calculates the slope when the last two peak rise positions from the peak rise detection circuit 404 are connected by a straight line. This is the arithmetic circuit to be obtained. At this time, the obtained slope is a value obtained by dividing the signal level dB by the distance km, and is represented by the same unit as the attenuation rate of the optical fiber. The obtained linear slope between the peaks is calculated by the far end determination circuit 412.
Supplied to
【００２３】他方、ピーク間増減率演算回路４１０は、
ピークアドレス検出回路４０６において複数のピーク値
を検出した場合に、それぞれのピーク値間の測定波形の
増減率を求める演算回路であり、本実施形態では、ピー
ク値の測定波形のデータを微分演算してその波形が単調
増加であるか、または一定であるかを求める。たとえ
ば、図４に示す微分波形の場合、測定波形の前半部分は
増減率が一定であり、後半部分は単調増加となってお
り、それぞれ求めた演算結果を遠端判定回路４１２に供
給する。On the other hand, the peak-to-peak change rate calculating circuit 410
When a plurality of peak values are detected in the peak address detection circuit 406, the peak address detection circuit 406 calculates an increase / decrease rate of the measured waveform between the respective peak values. To determine whether the waveform is monotonically increasing or constant. For example, in the case of the differential waveform shown in FIG. 4, the first half of the measured waveform has a constant increase / decrease rate, and the second half has a monotonic increase. The calculated results are supplied to the far end determination circuit 412.
【００２４】遠端判定回路４１２は、ピークアドレス検
出回路４０６と、ピーク間傾き演算回路４０８と、ピー
ク間増減率演算回路４１０とからの検出結果およびそれ
ぞれの演算結果に基づいて２次反射などを考慮した遠端
位置を判定する判定回路であり、本実施形態では、ピー
クアドレス検出回路４０６において複数のピーク値を検
出した場合に、ピーク間傾き演算回路４０８の演算結果
を光ファイバの減衰率αと比較し、さらにピーク間増減
率演算回路４１０からの増減率による波形の状態によ
り、いずれのピーク値が遠端位置であるか否かを判定す
る。判定結果は、測定波形のデータとともに表示部５０
に供給される。表示部５０は、図９に示す部位と同様
に、ＣＲＴ(cathode ray tube)などの表示装置であり、
その表示した測定波形をハードコピー等により印刷する
回路を含むと有利である。The far-end determination circuit 412 detects secondary reflection and the like based on the detection results from the peak address detection circuit 406, the peak-to-peak slope calculation circuit 408, and the peak-to-peak increase / decrease rate calculation circuit 410 and the respective calculation results. In the present embodiment, when a plurality of peak values are detected by the peak address detection circuit 406, the calculation result of the peak-to-peak slope calculation circuit 408 is used to determine the optical fiber attenuation rate α. Then, it is determined whether or not any peak value is at the far end position based on the state of the waveform based on the change rate from the peak change rate calculation circuit 410. The judgment result is displayed on the display unit 50 together with the measured waveform data.
Supplied to The display unit 50 is a display device such as a CRT (cathode ray tube), like the portion shown in FIG.
It is advantageous to include a circuit for printing the displayed measured waveform by hard copy or the like.
【００２５】次に、本実施形態による光パルス試験器に
おける光ファイバの遠端位置検出方法を上記光パルス試
験器の動作とともに説明すると、まず、光パルス発生か
ら波形形成までの工程は、図９に示す光パルス試験器の
場合と同様に実行される。すなわち、まず、タイミング
発生回路１０２から駆動回路１０４に所定の間隔にてタ
イミング信号が順次供給されると、駆動回路１０４は、
そのタイミング信号に応動して光源１０６に駆動信号を
供給して、光源１０６から所定の波長の光パルスが順次
発生される。Next, the method of detecting the far end position of the optical fiber in the optical pulse tester according to the present embodiment will be described together with the operation of the optical pulse tester. First, the steps from generation of an optical pulse to waveform formation are shown in FIG. Are performed in the same manner as in the case of the optical pulse tester shown in FIG. That is, first, when timing signals are sequentially supplied from the timing generation circuit 102 to the drive circuit 104 at predetermined intervals, the drive circuit 104
In response to the timing signal, a driving signal is supplied to the light source 106, and the light source 106 sequentially generates light pulses of a predetermined wavelength.
【００２６】光源１０６からの所定の波長の光パルス
は、方向性結合器２０２を介して光ファイバ１の一端部
から入射されて、コアの屈折率の不均一分布などにより
その一部が後方散乱して、または接続部位あるいは劣化
部位などにより反射して入射端に戻ってくる。入射端に
戻った光は、方向性結合器２０２を介して受光器２０４
により検出されて、その検出光の強度に応じた電気信号
に変換される。その結果の信号は増幅器２０６により増
幅されて、平均化処理回路３０２に供給される。次に、
平均化処理回路３０２では、タイミング発生部１０２か
らのタイミング信号に応動して増幅器２０６からの検出
信号をサンプリングして、その結果から光ファイバ１の
距離に応じた損失特性のデータを生成する。次に、生成
された測定波形のデータは、対数変換回路３０４におい
て対数変換されて、たとえば図２に示すような右下がり
の測定波形が得られる。平均化処理され、対数変換され
た測定波形のデータは、順次記憶回路３０６に蓄積され
る。An optical pulse having a predetermined wavelength from the light source 106 is incident from one end of the optical fiber 1 through the directional coupler 202, and a part thereof is backscattered due to uneven distribution of the refractive index of the core. Then, the light returns to the incident end after being reflected by a connection portion or a deteriorated portion. The light that has returned to the incident end passes through the directional coupler 202 and is received by the light receiver 204.
And converted into an electric signal corresponding to the intensity of the detected light. The resulting signal is amplified by the amplifier 206 and supplied to the averaging circuit 302. next,
The averaging circuit 302 samples the detection signal from the amplifier 206 in response to the timing signal from the timing generator 102, and generates loss characteristic data according to the distance of the optical fiber 1 from the result. Next, the data of the generated measurement waveform is logarithmically converted by the logarithmic conversion circuit 304 to obtain a measurement waveform falling to the right as shown in FIG. 2, for example. The averaging-processed logarithmically converted measured waveform data is sequentially stored in the storage circuit 306.
【００２７】次に、測定波形のデータが記憶回路３０６
に蓄積されると、遠端検出部４０では、図３に示すよう
に、まず、ステップＳ１００において、仮遠端位置検出
回路４０２によって順次近端側から測定波形のデータを
読み出して、図１０に示すステップＳ１０およびステッ
プＳ１２と同様の工程により仮遠端位置ｌｍを検出す
る。次に、仮遠端位置ｌｍが検出されると、ステップＳ
１０２に進んで、ピークアドレス検出回路４０６によっ
て測定波形のデータが微分されて仮遠端位置ｌｍの他の
ピーク値が検出される。たとえば、図２に示す測定波形
のデータを微分したものが図５に示されている。この図
において、最後尾の仮遠端位置ｌｍの他にほぼ中央にあ
る変化点により表わされるピーク値の位置ｌｍｒが検出
される。検出されたピーク値のアドレスは、ピーク立ち
上がり検出回路４０４と、ピーク間傾き演算回路４０８
と、ピーク間増減率演算回路４１０と、遠端判定回路４
１２にそれぞれ供給される。これにより、各部では、ス
テップＳ１０４に進み、ピーク値が複数あるか否かを判
定する。この場合、他のピーク位置ｌｍｒがあるので、
次のステップに進む。ステップＳ１０４において他のピ
ーク値が検出されない場合、すなわち、たとえば図８に
示すように、２次反射などが生じていない場合には、仮
遠端位置ｌｍのみとなって、ピーク立ち上がり検出回路
４０４により仮遠端位置でのピーク立ち上がり位置が検
出されて、その立ち上がり位置が遠端位置として検出さ
れ、処理を終了する。Next, the measured waveform data is stored in the storage circuit 306.
As shown in FIG. 3, in the far-end detection unit 40, first, in step S100, data of the measured waveform is sequentially read from the near end side by the provisional far-end position detection circuit 402, and as shown in FIG. The provisional far end position lm is detected by the same process as shown in steps S10 and S12. Next, when the provisional far end position lm is detected, step S
Proceeding to 102, the peak address detection circuit 406 differentiates the data of the measured waveform and detects another peak value of the provisional far end position lm. For example, FIG. 5 shows data obtained by differentiating the data of the measurement waveform shown in FIG. In this figure, a position lmr of a peak value represented by a change point substantially at the center is detected in addition to the last provisional far end position lm. The address of the detected peak value is stored in a peak rise detection circuit 404 and a peak slope calculation circuit 408.
, A peak-to-peak change rate calculation circuit 410, and a far end determination circuit 4.
12 respectively. Accordingly, each unit proceeds to step S104 and determines whether there are a plurality of peak values. In this case, since there is another peak position lmr,
Proceed to the next step. If no other peak value is detected in step S104, that is, if secondary reflection or the like does not occur, for example, as shown in FIG. The peak rising position at the provisional far end position is detected, and the rising position is detected as the far end position, and the process ends.
【００２８】次に、ステップＳ１０４において、他のピ
ーク値があると判定されると、遠端検出部４０の各部４
０４〜４１２では、それぞれの処理を実行する。まず、
ピーク立ち上がり位置検出回路４０４では、仮遠端位置
のピーク立ち上がり検出と同様に、ピーク位置ｌｍｒに
対して、図１０に示すステップＳ１４〜Ｓ２０と同様の
工程を繰り返し、ピーク位置ｌｍｒでのピーク立ち上が
り位置を検出する。ピーク立ち上がり位置検出回路４０
４によって検出された最後尾の仮遠端位置のピーク立ち
上がり位置のデータと、中央の他のピーク位置の立ち上
がり位置のデータは、それぞれピーク間傾き演算回路４
０８と、ピーク間増減率演算回路４１０に供給される。
これにより、ピーク立ち上がり位置のデータを受けたピ
ーク間傾き演算回路４０８では、ステップＳ１０６に移
って、最後尾のピーク立ち上がり位置と中央のピーク立
ち上がり位置とを直線により結んだ際の傾きを演算す
る。その結果は、遠端判定回路４１２に供給される。一
方、ピーク立ち上がり位置のデータを受けたピーク間増
減率演算回路４１０では、最後尾のピーク立ち上がり位
置と中央の立ち上がり位置との間の測定波形のデータを
微分演算して、その結果を遠端判定回路４１２に供給す
る。Next, in step S104, when it is determined that there is another peak value, each part 4 of the far end detection unit 40
In steps 04 to 412, respective processes are executed. First,
The peak rise position detection circuit 404 repeats the same steps as steps S14 to S20 shown in FIG. 10 for the peak position lmr, similarly to the detection of the peak rise at the provisional far end position, and repeats the peak rise position at the peak position lmr. Is detected. Peak rising position detection circuit 40
The data of the peak rising position of the last provisional far-end position and the data of the rising positions of the other central peak positions detected by the peak-to-peak inclination calculating circuit 4 are respectively obtained.
08 and supplied to the peak-to-peak increase / decrease rate calculation circuit 410.
Accordingly, the peak-to-peak inclination calculating circuit 408 that has received the data of the peak rising position proceeds to step S106, and calculates the inclination when the last peak rising position and the central peak rising position are connected by a straight line. The result is supplied to the far end determination circuit 412. On the other hand, the peak-to-peak increase / decrease rate calculation circuit 410 receiving the data of the peak rising position differentiates the data of the measured waveform between the last peak rising position and the center rising position, and determines the result as the far end. The signal is supplied to a circuit 412.
【００２９】次に、ピーク間傾き検出回路４０８からの
演算結果と、ピーク間増減率演算回路３１０からの演算
結果とを受けた遠端判定回路４１２では、ステップＳ１
０８において、ピーク間傾き検出回路４０８からのピー
ク間傾きの演算結果を光ファイバ１の減衰量αと比較し
て、ピーク間傾きが減衰量αより大であるか否かを判定
する。減衰量αは、測定対象の光ファイバ１の波長に依
存する値であり、たとえば、１．３１μｍの波長の光フ
ァイバにおいて０．２５〜０．４５ｄＢ／ｋｍであり、
１．５５μｍの波長の光ファイバにおいて０．１５〜
０．３５ｄＢ／ｋｍである。ピーク間の傾きがこれらの
減衰量αの上限値より大となる場合には、たとえば図５
に示すように、仮遠端位置ｌｍのデータが２次反射によ
り生じた値である可能性が高く、ステップＳ１１０に進
む。ピーク間の傾きが減衰量αの下限値より小となる場
合、あるいは所定の範囲内にある場合は、たとえば図６
に示すように中央のピーク位置が接続点の場合であり、
遠端位置は最後尾のピーク位置として検出される。Next, the far-end determination circuit 412, which receives the calculation result from the peak-to-peak inclination detection circuit 408 and the calculation result from the peak-to-peak increase / decrease rate calculation circuit 310, executes step S1.
At 08, the calculation result of the peak-to-peak inclination from the peak-to-peak inclination detection circuit 408 is compared with the attenuation amount α of the optical fiber 1 to determine whether the peak-to-peak inclination is greater than the attenuation amount α. The attenuation amount α is a value depending on the wavelength of the optical fiber 1 to be measured, and is, for example, 0.25 to 0.45 dB / km in an optical fiber having a wavelength of 1.31 μm.
0.15 in an optical fiber with a wavelength of 1.55 μm
It is 0.35 dB / km. When the slope between the peaks is larger than the upper limit of the attenuation amount α, for example, FIG.
As shown in (1), there is a high possibility that the data at the temporary far end position lm is a value generated by secondary reflection, and the process proceeds to step S110. If the slope between the peaks is smaller than the lower limit value of the attenuation amount α, or if it is within a predetermined range, for example, FIG.
Is the case where the central peak position is the connection point as shown in
The far end position is detected as the last peak position.
【００３０】次に、遠端判定回路４１２では、ステップ
Ｓ１１０において、ピーク間増減率演算回路４１０から
の演算結果について、そのピーク値間の波形が単調増加
であるか、または一定であるかを判定する。ピーク値間
の波形が一定である場合は、たとえば図７に示すよう
に、光ファイバの接続部位の劣化により遠端側の減衰量
が大となって、そのピーク値間の直線傾きが通常の光フ
ァイバの減衰量αより大となって現われる場合である。
この場合、遠端判定回路４１２は、最後尾のピーク立ち
上がり位置を遠端位置として検出する。一方、ピーク値
間の波形が単調増加の場合、フレネル反射などの２次反
射により、図２あるいは図５に示すように、ピーク値間
の波形が遠端方向に裾を引くように滑らかな曲線を描い
ている場合である。この場合、遠端判定回路４１２は、
中央付近のピーク立ち上がり位置を遠端位置として検出
する。遠端判定回路４１２において判定した遠端位置の
結果は、測定波形のデータとともに表示部５０に表示さ
れる。Next, in step S110, the far-end determination circuit 412 determines whether the waveform between the peak values is monotonically increasing or constant with respect to the calculation result from the peak-to-peak change rate calculation circuit 410. I do. When the waveform between the peak values is constant, for example, as shown in FIG. 7, the attenuation at the far end becomes large due to the deterioration of the connection portion of the optical fiber, and the linear slope between the peak values becomes a normal slope. This is a case where it appears as being larger than the attenuation amount α of the optical fiber.
In this case, the far end determination circuit 412 detects the last peak rising position as the far end position. On the other hand, when the waveform between the peak values is monotonically increasing, the waveform between the peak values has a smooth curve as shown in FIG. 2 or 5 by the secondary reflection such as Fresnel reflection. Is drawn. In this case, the far end determination circuit 412
The peak rising position near the center is detected as the far end position. The result of the far end position determined by the far end determination circuit 412 is displayed on the display unit 50 together with the data of the measured waveform.
【００３１】以上のように本実施形態の光パルス試験器
における光ファイバの遠端位置判定方法によれば、測定
対象の光ファイバ１の一端部から所定の光パルスを入射
して得られた測定波形のデータからピークアドレス検出
回路４０６により複数のピーク値を求め、それらのピー
ク立ち上がり位置をピーク立ち上がり検出回路４０４に
より求めて、その立ち上がり位置を直線により結んだ際
の傾きをピーク間傾き演算回路４０８により演算して、
さらにピーク値間の波形の増減率をピーク間増減率演算
回路４１０により演算して、ピーク間傾き演算回路４０
８の演算結果とピーク間増減率演算回路４１０の演算結
果とに基づいて遠端判定回路４１２により複数のピーク
立ち上がり位置から遠端位置を判定するので、フレネル
反射などの２次反射が生じている場合に、その反射によ
る最後尾のピーク位置を遠端位置として誤認識すること
なく、実際の中央のピーク位置を遠端位置として有効に
検出することができる。特に、ピーク値間の直線傾きを
光ファイバの減衰量αと比較して、その値が減衰量αよ
り大となるか否かを判定して、減衰量αより大となる傾
きのピーク値間を反射によるデータとみなすので、複数
の接続部位がある光ファイバの遠端位置と２次反射によ
る遠端位置とを区別して有効に検出することができる。
さらに、直線傾きが減衰量αより大となった場合に、ピ
ーク値間の波形の増減率を求めて、その波形の増減率が
単調増加であるか一定であるかを判定して、単調増加で
ある場合に２次反射による波形と判定するので、２次反
射の裾引きによる滑らかな曲線と、接続点の劣化などに
よるレベルの低下した曲線とを有効に区別することがで
きる。したがって、フレネル反射などの２次反射による
波形と、複数の接続点を有する波形と、さらにその接続
点が劣化している場合の波形とを有効に区別して、それ
ぞれの状態に応じた正確な遠端位置を検出することがで
きる。As described above, according to the method for determining the far end position of an optical fiber in the optical pulse tester of the present embodiment, the measurement obtained by injecting a predetermined optical pulse from one end of the optical fiber 1 to be measured is performed. A plurality of peak values are obtained from the waveform data by the peak address detection circuit 406, the peak rising positions are obtained by the peak rising detection circuit 404, and the slope when the rising positions are connected by a straight line is calculated as a peak-to-peak slope calculation circuit 408. Is calculated by
Further, the change rate of the waveform between the peak values is calculated by the peak-to-peak change rate calculating circuit 410, and the peak-to-peak slope calculating circuit 40 is calculated.
Since the far-end determination circuit 412 determines the far-end position from a plurality of peak rising positions based on the calculation result of No. 8 and the calculation result of the peak-to-peak change rate calculation circuit 410, secondary reflection such as Fresnel reflection occurs. In this case, the actual center peak position can be effectively detected as the far end position without erroneously recognizing the tail peak position due to the reflection as the far end position. In particular, the linear gradient between the peak values is compared with the attenuation amount α of the optical fiber, and it is determined whether or not the value is greater than the attenuation amount α. Is regarded as data by reflection, it is possible to distinguish and effectively detect the far-end position of the optical fiber having a plurality of connection portions and the far-end position by secondary reflection.
Further, when the linear slope becomes larger than the attenuation amount α, the rate of change of the waveform between the peak values is obtained, and it is determined whether the rate of change of the waveform is monotonically increasing or constant, and the monotonically increasing rate is obtained. In this case, it is determined that the waveform is due to the secondary reflection. Therefore, it is possible to effectively distinguish between a smooth curve due to the trailing of the secondary reflection and a curve having a reduced level due to deterioration of the connection point. Therefore, a waveform due to secondary reflection such as Fresnel reflection, a waveform having a plurality of connection points, and a waveform when the connection points are degraded are effectively distinguished, and an accurate distance according to each state is obtained. The end position can be detected.
【００３２】以上本発明による光パルス試験器における
光ファイバの遠端位置判定方法の一実施形態について説
明したが、本発明による遠端位置判定方法は上記実施形
態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載さ
れた本発明の要旨を逸脱しない範囲の変更および改変は
もちろん本発明に含まれる。Although one embodiment of the method for determining the far end position of an optical fiber in an optical pulse tester according to the present invention has been described above, the method for determining the far end position according to the present invention is not limited to the above embodiment. Changes and modifications that do not depart from the gist of the present invention described in the claims are naturally included in the present invention.
【００３３】[0033]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光パルス
試験器における光ファイバの遠端位置判定方法によれ
ば、光源を駆動して所定の光パルスを被測定対象の光フ
ァイバに入射し、その戻り光を検出する第１の工程と、
第１の工程の検出結果に基づいて光ファイバの距離に応
じた損失特性を表わす測定波形を形成する第２の工程
と、第２の工程により形成した測定波形からその波形の
それぞれのピーク値を検出してその立ち上がり位置を求
める第３の工程と、第３の工程により求めた測定波形の
ピーク値の立ち上がり位置を直線によって結んだ際の傾
きを求める第４の工程と、第４の工程により求めたピー
ク値間の傾きを被測定波形の光ファイバの特性によりあ
らかじめ求められる所定の値と比較する第５の工程と、
第３の工程により求めたピーク値間の測定波形を微分演
算して、そのピーク値間の波形の増減率を求める第６の
工程と、第６の工程により求めたピーク値間の波形の増
減率と前記第５の工程の比較結果とに基づいて遠端位置
を判定する第７の工程とを含むので、フレネル反射など
の２次反射により生じた最後尾のピーク位置を遠端位置
と誤認識することなく、実際のピーク値による正確な遠
端位置を有効に検出することができる。As described above, according to the method for determining the far end position of an optical fiber in an optical pulse tester according to the present invention, a light source is driven and a predetermined optical pulse is incident on the optical fiber to be measured. A first step of detecting the return light;
A second step of forming a measurement waveform representing a loss characteristic according to the distance of the optical fiber based on the detection result of the first step; and calculating the respective peak values of the waveform from the measurement waveform formed in the second step. A third step of detecting and calculating the rising position thereof, a fourth step of obtaining a slope when the rising position of the peak value of the measured waveform obtained in the third step is connected by a straight line, and a fourth step. A fifth step of comparing the slope between the obtained peak values with a predetermined value previously obtained from the characteristics of the optical fiber of the measured waveform;
A sixth step of differentiating the measured waveform between the peak values obtained in the third step to obtain an increase / decrease rate of the waveform between the peak values, and an increase / decrease of the waveform between the peak values obtained in the sixth step And a seventh step of determining the far end position based on the ratio and the comparison result of the fifth step. Therefore, the last peak position caused by secondary reflection such as Fresnel reflection is mistaken for the far end position. An accurate far-end position based on the actual peak value can be effectively detected without recognition.
【００３４】本発明の請求項２に係る遠端位置判定方法
によれば、第３の工程は、測定波形に複数のピーク値が
あるか否かを検出する工程を含み、その工程により複数
のピーク値が検出された場合に、それらのピーク値間に
ついて第４ないし第６の工程を繰り返して、そのうちの
いずれかのピーク値の位置を第７の工程により遠端位置
と判定するので、複数の接続部位を有する光ファイバを
測定する場合またはさらに２次反射が生じている場合
に、複数のピーク値から接続部位によるピークまたは２
次反射によるピークを有効に区別して正確な遠端位置を
検出することができる。According to the far-end position determining method of the second aspect of the present invention, the third step includes a step of detecting whether or not the measured waveform has a plurality of peak values. When a peak value is detected, the fourth to sixth steps are repeated between the peak values, and the position of any one of the peak values is determined as the far end position by the seventh step. When measuring an optical fiber having a connection portion of the above, or when secondary reflection occurs, the peak due to the connection portion or 2
An accurate far end position can be detected by effectively distinguishing peaks due to secondary reflection.
【００３５】本発明の請求項３に係る遠端位置判定方法
によれば、第５の工程は、被測定対象の光ファイバでの
光パルスの伝搬波長に依存する減衰率に基づいて決定さ
れる係数と第４の工程により求めたピーク値間の直線の
傾きとを比較するので、接続部位によるピーク値と２次
反射によるピーク値とを有効に区別して、正確な遠端位
置を検出することができる。According to the far-end position determining method of the third aspect of the present invention, the fifth step is determined based on the attenuation rate depending on the propagation wavelength of the optical pulse in the optical fiber to be measured. Since the coefficient and the slope of the straight line between the peak values obtained in the fourth step are compared, the peak value due to the connection portion and the peak value due to the secondary reflection are effectively distinguished to detect the accurate far-end position. Can be.
【００３６】本発明の請求項４に係る遠端位置判定方法
によれば、第７の工程は、第５の工程においてピーク値
間の直線の傾きが所定の係数より大となった場合に、か
つ第６の工程において微分波形が単調増加を表わす場合
に、測定点に近いピーク位置を被測定対象の光ファイバ
の遠端位置と判定するので、複数の接続部位を有する光
ファイバの波形、その接続部位が劣化している場合の波
形、さらに２次反射による裾引きの波形を有効に区別し
て、遠端位置を正確に判定して検出することができる。According to the far end position determination method of the fourth aspect of the present invention, in the seventh step, when the slope of the straight line between the peak values in the fifth step becomes larger than a predetermined coefficient, And when the differential waveform indicates a monotonic increase in the sixth step, the peak position close to the measurement point is determined to be the far end position of the optical fiber to be measured, so that the waveform of the optical fiber having a plurality of connection portions, The waveform when the connection part is deteriorated and the waveform of the tail due to the secondary reflection can be effectively distinguished, and the far end position can be accurately determined and detected.
【図１】本発明による遠端位置判定方法が適用された光
パルス試験器の一実施形態を示す機能ブロック図であ
る。FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of an optical pulse tester to which a far end position determination method according to the present invention is applied.
【図２】２次反射を含む光ファイバの測定波形の一例を
示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a measured waveform of an optical fiber including secondary reflection.
【図３】図１の実施形態による光パルス試験器での遠端
位置判定方法を説明するためのフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart illustrating a method of determining a far end position in the optical pulse tester according to the embodiment of FIG. 1;
【図４】図２による測定波形の微分波形を示す図であ
る。4 shows a differential waveform of the measured waveform according to FIG.
【図５】図１の実施形態による光パルス試験器での遠端
位置判定方法を説明するための測定波形の一例である。FIG. 5 is an example of a measured waveform for explaining a far end position determination method in the optical pulse tester according to the embodiment of FIG. 1;
【図６】図１の実施形態による光パルス試験器での遠端
位置判定方法を説明するための測定波形の一例である。FIG. 6 is an example of a measured waveform for explaining a far end position determination method in the optical pulse tester according to the embodiment of FIG. 1;
【図７】図１の実施形態による光パルス試験器での遠端
位置判定方法を説明するための測定の一例である。FIG. 7 is an example of measurement for explaining a far end position determination method in the optical pulse tester according to the embodiment of FIG. 1;
【図８】図１の実施形態による光パルス試験器での遠端
位置判定方法を説明するための測定波形の一例である。FIG. 8 is an example of a measured waveform for explaining a far end position determination method in the optical pulse tester according to the embodiment of FIG. 1;
【図９】従来の遠端位置判定方法が適用された光パルス
試験器を示す機能ブロック図である。FIG. 9 is a functional block diagram showing an optical pulse tester to which a conventional far-end position determination method is applied.
【図１０】従来の遠端位置判定方法を説明するためのフ
ローチャートである。FIG. 10 is a flowchart for explaining a conventional far end position determination method.
１０ 光パルス発生部 ２０ 戻り光検出部 ３０ 波形形成部 ４０ 遠端検出部 ５０ 表示部 ４０２ 仮遠端検出回路 ４０４ ピーク立ち上がり位置検出回路 ４０６ ピークアドレス検出回路 ４０８ ピーク間傾き演算回路 ４１０ ピーク間増減率演算回路 ４１２ 遠端判定回路 Reference Signs List 10 light pulse generation unit 20 return light detection unit 30 waveform formation unit 40 far end detection unit 50 display unit 402 temporary far end detection circuit 404 peak rising position detection circuit 406 peak address detection circuit 408 peak slope calculation circuit 410 peak change rate Arithmetic circuit 412 Far end judgment circuit
Claims (4)
ら所定の光パルスを入射して、その戻り光の信号レベル
の波形から光ファイバの遠端部位を判定する光パルス試
験器における光ファイバの遠端位置判定方法であって、
該方法は、 光源を駆動して所定の光パルスを被測定対象の光ファイ
バに入射し、その戻り光を検出する第１の工程と、 該第１の工程の検出結果に基づいて光ファイバの距離に
応じた損失特性を表わす測定波形を形成する第２の工程
と、 該第２の工程により形成した測定波形からその波形のそ
れぞれのピーク値を検出してその立ち上がり位置を求め
る第３の工程と、 該第３の工程により求めた測定波形のピーク値の立ち上
がり位置を直線によって結んだ際の傾きを求める第４の
工程と、 該第４の工程により求めたピーク値間の傾きを被測定波
形の光ファイバの特性によりあらかじめ求められる所定
の値と比較する第５の工程と、 前記第３の工程により求めたピーク値間の測定波形を微
分演算して、そのピーク値間の波形の増減率を求める第
６の工程と、 該第６の工程により求めたピーク値間の波形の増減率と
前記第５の工程の比較結果とに基づいて遠端位置を判定
する第７の工程とを含むことを特徴とする光パルス試験
器における光ファイバの遠端位置判定方法。1. An optical fiber in an optical pulse tester for injecting a predetermined optical pulse from one end into an optical fiber to be measured and determining the far end of the optical fiber from the waveform of the signal level of the returned light. The far end position determination method of
The method comprises: a first step of driving a light source to cause a predetermined optical pulse to be incident on an optical fiber to be measured, and detecting return light thereof; and a step of detecting an optical fiber based on a result of the first step. A second step of forming a measurement waveform representing a loss characteristic according to the distance, and a third step of detecting a peak value of the waveform from the measurement waveform formed in the second step to determine a rising position thereof A fourth step of obtaining a slope when the rising positions of the peak values of the measurement waveform obtained in the third step are connected by a straight line; and a slope between the peak values obtained in the fourth step is measured. A fifth step of comparing the waveform with a predetermined value previously determined based on the characteristics of the optical fiber; and performing a differential operation on the measured waveform between the peak values obtained in the third step to increase or decrease the waveform between the peak values. Find the rate And a seventh step of determining the far end position based on the increase / decrease rate of the waveform between the peak values obtained in the sixth step and the comparison result of the fifth step. Of determining the far end position of an optical fiber in an optical pulse tester.
いて、前記第３の工程は、測定波形に複数のピーク値が
あるか否かを検出する工程を含み、該工程により複数の
ピーク値が検出された場合に、それらのピーク値間につ
いて前記第４ないし第６の工程を繰り返して、そのうち
のいずれかのピーク値の位置を前記第７の工程により遠
端位置と判定することを特徴とする光パルス試験器にお
ける光ファイバの遠端位置判定方法。2. The method according to claim 1, wherein the third step includes a step of detecting whether or not the measured waveform has a plurality of peak values. When a value is detected, the fourth to sixth steps are repeated between the peak values, and the position of any one of the peak values is determined as the far end position by the seventh step. A method for determining a far end position of an optical fiber in an optical pulse tester.
置判定方法において、前記第５の工程は、被測定対象の
光ファイバでの光パルスの伝搬波長に依存する減衰率に
基づいて決定される係数と前記第４の工程により求めた
ピーク値間の直線の傾きとを比較することを特徴とする
光パルス試験器における光ファイバの遠端位置判定方
法。3. The far-end position determining method according to claim 1, wherein the fifth step is performed based on an attenuation rate depending on a propagation wavelength of an optical pulse in an optical fiber to be measured. A method for determining a far-end position of an optical fiber in an optical pulse tester, wherein the determined coefficient is compared with a slope of a straight line between peak values obtained in the fourth step.
いて、前記第７の工程は、前記第５の工程においてピー
ク値間の直線の傾きが所定の係数より大となった場合
に、かつ前記第６の工程において微分波形が単調増加を
表わす場合に、測定点に近いピーク位置を被測定対象の
光ファイバの遠端位置と判定することを特徴とする光パ
ルス試験器における光ファイバの遠端位置判定方法。4. The far-end position determination method according to claim 3, wherein, in the seventh step, when a slope of a straight line between peak values becomes larger than a predetermined coefficient in the fifth step, And when the differential waveform indicates a monotonic increase in the sixth step, determining a peak position close to the measurement point as a far end position of the optical fiber to be measured. Far end position determination method.
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001017479A JP2002221467A (en) | 2001-01-25 | 2001-01-25 | Method for judging remote end position of optical fiber in optical pulse tester |
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2001
- 2001-01-25 JP JP2001017479A patent/JP2002221467A/en active Pending
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