JP2002196039A - キャリア位置ずれ検出機構 - Google Patents
キャリア位置ずれ検出機構Info
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- JP2002196039A JP2002196039A JP2000391402A JP2000391402A JP2002196039A JP 2002196039 A JP2002196039 A JP 2002196039A JP 2000391402 A JP2000391402 A JP 2000391402A JP 2000391402 A JP2000391402 A JP 2000391402A JP 2002196039 A JP2002196039 A JP 2002196039A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 水平搬送式のオ−トハンドラにおいて、テス
トボードに対するキャリアの位置がずれていた場合に検
知し、キャリアの動作を停止させること。 【解決手段】 テストボード２上のガイドピン１１の中
心にシャフト８を設け、位置がずれたキャリア４が下降
したとき、キャリア４によりシャフト８が押し下げら
れ、シャフト８の下降をセンサ９により検出し、キャリ
ア４の下降動作を停止させる。
トボードに対するキャリアの位置がずれていた場合に検
知し、キャリアの動作を停止させること。 【解決手段】 テストボード２上のガイドピン１１の中
心にシャフト８を設け、位置がずれたキャリア４が下降
したとき、キャリア４によりシャフト８が押し下げら
れ、シャフト８の下降をセンサ９により検出し、キャリ
ア４の下降動作を停止させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、水平搬送方式のオ
ートハンドラにおいて、ＩＣソケットが配設されたテス
トボードに対するキャリアの位置決め時に好適なキャリ
ア位置ずれ検出機構に関わる。
ートハンドラにおいて、ＩＣソケットが配設されたテス
トボードに対するキャリアの位置決め時に好適なキャリ
ア位置ずれ検出機構に関わる。
【０００２】
【従来の技術】組立が完了したＩＣを自動的にテストシ
ステムに供給し、そのテスト結果に基づいてＩＣを自動
的に分類収納するオ−トハンドラには、ＩＣを搭載する
キャリアを水平に搬送する水平搬送方式のオートハンド
ラがある。水平搬送方式のオートハンドラにおいて、従
来方式によるキャリアの位置ずれ検出を説明する。
ステムに供給し、そのテスト結果に基づいてＩＣを自動
的に分類収納するオ−トハンドラには、ＩＣを搭載する
キャリアを水平に搬送する水平搬送方式のオートハンド
ラがある。水平搬送方式のオートハンドラにおいて、従
来方式によるキャリアの位置ずれ検出を説明する。
【０００３】図３はＩＣソケット・キャリア・コンタク
トプッシャ等を示した図、図４は図３におけるガイドピ
ン部位での断面図である。図３及び図４に示すように、
テストボード２には複数のＩＣソケット３が配設されて
おり、各ＩＣソケットにはガイドピン３ａが立設されて
いる。またテストボード２にはガイドピン１が立設され
ている。
トプッシャ等を示した図、図４は図３におけるガイドピ
ン部位での断面図である。図３及び図４に示すように、
テストボード２には複数のＩＣソケット３が配設されて
おり、各ＩＣソケットにはガイドピン３ａが立設されて
いる。またテストボード２にはガイドピン１が立設され
ている。
【０００４】キャリア４は図示しない搬送機構により図
３の矢印Ａ方向に水平搬送され、キャリア４には個々の
ＩＣ７を保持するキャリアコマ５が複数設けられてい
る。テストボード２上に搬送されたキャリア４は、図示
しない昇降機構によりテストボード２に向けて図４の矢
印Ｂ方向に下降される。
３の矢印Ａ方向に水平搬送され、キャリア４には個々の
ＩＣ７を保持するキャリアコマ５が複数設けられてい
る。テストボード２上に搬送されたキャリア４は、図示
しない昇降機構によりテストボード２に向けて図４の矢
印Ｂ方向に下降される。
【０００５】キャリア４が下降されると、まずテストボ
ード２上のガイドピン１に対して、キャリア４に形成さ
れたガイド穴４ａが挿嵌され、これによりキャリア４全
体がテストボード２に対して位置決めされ、その後、そ
れぞれのＩＣソケット３上のガイドピン３ａに対して、
対応するキャリアコマ５に形成されたキャリアコマガイ
ド穴５ａが挿嵌され、個々のＩＣ７がＩＣソケット３に
位置決めされる。
ード２上のガイドピン１に対して、キャリア４に形成さ
れたガイド穴４ａが挿嵌され、これによりキャリア４全
体がテストボード２に対して位置決めされ、その後、そ
れぞれのＩＣソケット３上のガイドピン３ａに対して、
対応するキャリアコマ５に形成されたキャリアコマガイ
ド穴５ａが挿嵌され、個々のＩＣ７がＩＣソケット３に
位置決めされる。
【０００６】位置決め後、キャリア４の上方からコンタ
クトプッシャ６が下降し、コンタクトプッシャ６により
キャリア４上のＩＣ７をＩＣソケット３に接触させて試
験される。
クトプッシャ６が下降し、コンタクトプッシャ６により
キャリア４上のＩＣ７をＩＣソケット３に接触させて試
験される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかし上記の構成だけ
では、例えばテストボード２上に搬送されてきたキャリ
ア４が、搬送機構の不良動作やオペレータの設定ミスな
どにより正常な位置にないまま下降されると、テストボ
ード２上のガイドピン１にガイド穴４ａが挿嵌されず、
更にコンタクトプッシャ６が下降してくることにより、
コンタクトプッシャ６とガイドピン１との間でキャリア
４が挟まれる場合がある。
では、例えばテストボード２上に搬送されてきたキャリ
ア４が、搬送機構の不良動作やオペレータの設定ミスな
どにより正常な位置にないまま下降されると、テストボ
ード２上のガイドピン１にガイド穴４ａが挿嵌されず、
更にコンタクトプッシャ６が下降してくることにより、
コンタクトプッシャ６とガイドピン１との間でキャリア
４が挟まれる場合がある。
【０００８】上記不具合を解決するため、例えば、あら
かじめ設けられたセンサによりキャリア４の位置を検出
してから、キャリア４をテストボード２に向けて下降さ
せる構成を考えることができる。しかしこれでは、セン
サによるキャリア４の位置検出のための時間が必要とな
り、インデックスタイムが長くなるという不都合が生じ
る。
かじめ設けられたセンサによりキャリア４の位置を検出
してから、キャリア４をテストボード２に向けて下降さ
せる構成を考えることができる。しかしこれでは、セン
サによるキャリア４の位置検出のための時間が必要とな
り、インデックスタイムが長くなるという不都合が生じ
る。
【０００９】そこで本発明は、上記事情に鑑み、テスト
ボードに対するキャリアの位置決め時に位置ずれを検出
することでキャリアの位置ずれ不都合を解消し、しか
も、位置検出時間を要さず好都合なキャリア位置ずれ検
出機構を提供することを目的とする。
ボードに対するキャリアの位置決め時に位置ずれを検出
することでキャリアの位置ずれ不都合を解消し、しか
も、位置検出時間を要さず好都合なキャリア位置ずれ検
出機構を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明のうち請求項１は、図１に示すように、ＩＣを
搭載するキャリア（４）と、キャリア（４）に搭載され
たＩＣを測定する測定部（２・３）とをもち、キャリア
（４）に位置決め穴（４ａ）を形成し、測定部（２）に
突起（１１）を形成し、位置決め穴（４ａ）を突起（１
１）に挿嵌することによりキャリア（４）を測定部
（２）に位置決めするオートハンドラにおいて、突起
（１１）の先端側に突出配置され、位置決め用突起（１
１）と位置決め用穴（４ａ）とが対応している状態での
み、位置決め用穴（４ａ）を通過可能な位置ずれ時当接
手段（８）と、位置ずれ時当接手段（８）とキャリア
（４）との当接を検知して、キャリア位置ずれ検出信号
として出力する当接検知手段（９）とを備えることを特
徴とするキャリア位置ずれ検出機構にある。
の本発明のうち請求項１は、図１に示すように、ＩＣを
搭載するキャリア（４）と、キャリア（４）に搭載され
たＩＣを測定する測定部（２・３）とをもち、キャリア
（４）に位置決め穴（４ａ）を形成し、測定部（２）に
突起（１１）を形成し、位置決め穴（４ａ）を突起（１
１）に挿嵌することによりキャリア（４）を測定部
（２）に位置決めするオートハンドラにおいて、突起
（１１）の先端側に突出配置され、位置決め用突起（１
１）と位置決め用穴（４ａ）とが対応している状態での
み、位置決め用穴（４ａ）を通過可能な位置ずれ時当接
手段（８）と、位置ずれ時当接手段（８）とキャリア
（４）との当接を検知して、キャリア位置ずれ検出信号
として出力する当接検知手段（９）とを備えることを特
徴とするキャリア位置ずれ検出機構にある。
【００１１】また、本発明のうち請求項２は、位置ずれ
時当接手段（８）は、突起（１１）から突出付勢される
シャフトであり、当接検知手段（９）は、シャフト
（８）の後端部（８ｂ）を検知するセンサ（９）である
ことを特徴とする請求項１記載のキャリア位置ずれ検出
機構にある。
時当接手段（８）は、突起（１１）から突出付勢される
シャフトであり、当接検知手段（９）は、シャフト
（８）の後端部（８ｂ）を検知するセンサ（９）である
ことを特徴とする請求項１記載のキャリア位置ずれ検出
機構にある。
【００１２】また、本発明のうち請求項３は、当接検知
手段（９）がキャリア位置ずれ検出信号を出力すると位
置決め動作を停止することを特徴とする請求項１記載の
キャリア位置ずれ検出機構にある。
手段（９）がキャリア位置ずれ検出信号を出力すると位
置決め動作を停止することを特徴とする請求項１記載の
キャリア位置ずれ検出機構にある。
【００１３】なお、上記括弧内の符号は図面と対照する
ためのものであり、本発明の構成を何等限定するもので
はない。
ためのものであり、本発明の構成を何等限定するもので
はない。
【００１４】
【発明の実施の形態】図１は本実施形態によるキャリア
位置ずれ検出機構においてキャリアの位置がずれている
状態を示す図であり、（ａ）はキャリア下降前の状態、
（ｂ）はキャリア下降後の状態を示す図である。図２は
本実施形態によるキャリア位置ずれ検出機構においてキ
ャリアの位置が正常な状態を示す図であり、（ａ）はキ
ャリア下降前の状態、（ｂ）はキャリア下降後の状態を
示す図である。
位置ずれ検出機構においてキャリアの位置がずれている
状態を示す図であり、（ａ）はキャリア下降前の状態、
（ｂ）はキャリア下降後の状態を示す図である。図２は
本実施形態によるキャリア位置ずれ検出機構においてキ
ャリアの位置が正常な状態を示す図であり、（ａ）はキ
ャリア下降前の状態、（ｂ）はキャリア下降後の状態を
示す図である。
【００１５】本実施形態における、テストボード、キャ
リア、コンタクトプッシャ等の基本的な構成は「従来の
技術」で説明したもの（図３及び図４参照）と略同一で
あり、本実施形態での改良点は、テストボードに設けら
れたガイドピン及びその近傍部分の構成である。従っ
て、本実施の形態の説明において、テストボード、キャ
リア等のうち「従来の技術」で説明したものと同様の構
成要素に対しは、同一の符号を付すことにより説明を省
略する。
リア、コンタクトプッシャ等の基本的な構成は「従来の
技術」で説明したもの（図３及び図４参照）と略同一で
あり、本実施形態での改良点は、テストボードに設けら
れたガイドピン及びその近傍部分の構成である。従っ
て、本実施の形態の説明において、テストボード、キャ
リア等のうち「従来の技術」で説明したものと同様の構
成要素に対しは、同一の符号を付すことにより説明を省
略する。
【００１６】テストボード２には、図１又は図２に示す
ように、キャリア４のガイド穴４ａ（位置決め穴）に挿
嵌されてキャリア４を位置決めするためのガイドピン１
１（位置決め用突起）が、「従来の技術」で説明したガ
イドピン１の代りに設けられている。ガイドピン１１の
中心部には貫通孔１１ａが形成されており、貫通孔１１
ａにはシャフト８（位置ずれ時当接手段）が上下に移動
自在に貫通挿入されている。
ように、キャリア４のガイド穴４ａ（位置決め穴）に挿
嵌されてキャリア４を位置決めするためのガイドピン１
１（位置決め用突起）が、「従来の技術」で説明したガ
イドピン１の代りに設けられている。ガイドピン１１の
中心部には貫通孔１１ａが形成されており、貫通孔１１
ａにはシャフト８（位置ずれ時当接手段）が上下に移動
自在に貫通挿入されている。
【００１７】貫通孔１１ａには圧縮コイルばね１０（以
下、「ばね１０」と略称する）が内装されており、ばね
１０によりシャフト８を上方に突出付勢している。シャ
フト８の先端部８ａはガイドピン１１の先端よりも突出
しており、シャフト８の後端部８ｂはガイドピン１１の
下端よりも下方（テストボード２の下側）に突出してい
る。シャフト８の上下移動により後端部８ｂが出入りす
る位置に光学式のセンサ９（当接検知手段）が設けられ
ている。キャリア位置ずれ検出機構が以上のように構成
されている。なお、当接検知手段は接触形、非接触形、
いずれの代替手段を用いてもよい。
下、「ばね１０」と略称する）が内装されており、ばね
１０によりシャフト８を上方に突出付勢している。シャ
フト８の先端部８ａはガイドピン１１の先端よりも突出
しており、シャフト８の後端部８ｂはガイドピン１１の
下端よりも下方（テストボード２の下側）に突出してい
る。シャフト８の上下移動により後端部８ｂが出入りす
る位置に光学式のセンサ９（当接検知手段）が設けられ
ている。キャリア位置ずれ検出機構が以上のように構成
されている。なお、当接検知手段は接触形、非接触形、
いずれの代替手段を用いてもよい。
【００１８】通常の動作では、図２（ａ）のように、未
測定のＩＣ７（図示せず）を搭載したキャリア４がテス
トボード２（測定部）上に搬送される。図２（ａ）の場
合はキャリア４がテストボード２上に正しく位置決めさ
れたので、キャリア４をテストボード２に向けて下降さ
せると、図２（ｂ）に示すようにキャリア４のキャリア
ガイド穴４ａはガイドピン１１に挿嵌され、キャリア４
がテストボード２に適正に位置決めされる。
測定のＩＣ７（図示せず）を搭載したキャリア４がテス
トボード２（測定部）上に搬送される。図２（ａ）の場
合はキャリア４がテストボード２上に正しく位置決めさ
れたので、キャリア４をテストボード２に向けて下降さ
せると、図２（ｂ）に示すようにキャリア４のキャリア
ガイド穴４ａはガイドピン１１に挿嵌され、キャリア４
がテストボード２に適正に位置決めされる。
【００１９】図２（ａ）及び図２（ｂ）に示すように、
シャフト８の先端部８ａはキャリア４等に当接しないの
で、シャフト８は上下移動せず、シャフト８の後端部８
ｂがセンサ９を遮断しない。つまり、この場合にはキャ
リアの位置ずれが検出されず、キャリア４の下降動作等
が中断されない。
シャフト８の先端部８ａはキャリア４等に当接しないの
で、シャフト８は上下移動せず、シャフト８の後端部８
ｂがセンサ９を遮断しない。つまり、この場合にはキャ
リアの位置ずれが検出されず、キャリア４の下降動作等
が中断されない。
【００２０】次に、図１（ａ）に示すように、搬送され
たキャリア４の位置がテストボード２とずれている場
合、同様にキャリア４が下降されるが、キャリアガイド
穴４ａがテストボード２上のガイドピン１１に挿嵌され
ないので、図１（ｂ）に示すように、キャリア４のうち
キャリアガイド穴４ａ以外の部位にシャフト８の先端部
８ａが当接する。これによりシャフト８はばね１０に抗
して下方に移動し、シャフト８の後端部８ｂがセンサ９
を遮断する。
たキャリア４の位置がテストボード２とずれている場
合、同様にキャリア４が下降されるが、キャリアガイド
穴４ａがテストボード２上のガイドピン１１に挿嵌され
ないので、図１（ｂ）に示すように、キャリア４のうち
キャリアガイド穴４ａ以外の部位にシャフト８の先端部
８ａが当接する。これによりシャフト８はばね１０に抗
して下方に移動し、シャフト８の後端部８ｂがセンサ９
を遮断する。
【００２１】センサ９が遮断されることにより、センサ
９はキャリア位置ずれ検出信号を出力する。この検出信
号に基づいて、オートハンドラの図示しない制御装置が
キャリア４の下降を中断する。これによりコンタクトプ
ッシャとガイドピンとの間でキャリア４が挟まれるとい
った不具合は解消される。その後、一旦、キャリア４を
搬送位置まで上昇させて位置調整した後、再び下降さ
せ、動作を再開する。
９はキャリア位置ずれ検出信号を出力する。この検出信
号に基づいて、オートハンドラの図示しない制御装置が
キャリア４の下降を中断する。これによりコンタクトプ
ッシャとガイドピンとの間でキャリア４が挟まれるとい
った不具合は解消される。その後、一旦、キャリア４を
搬送位置まで上昇させて位置調整した後、再び下降さ
せ、動作を再開する。
【００２２】以上のように、本実施の形態のキャリア位
置ずれ検出機構を採用すると、キャリア４の下降前に予
めキャリア４の位置を検出しなくても、実際にキャリア
４が下降する際にキャリア４の位置がずれていた場合に
のみ、センサ９が検出信号を出力してキャリア４の下降
が中断される。即ち、別途に位置検出時間を要さずイン
デックスタイムが長くならないので好都合である。
置ずれ検出機構を採用すると、キャリア４の下降前に予
めキャリア４の位置を検出しなくても、実際にキャリア
４が下降する際にキャリア４の位置がずれていた場合に
のみ、センサ９が検出信号を出力してキャリア４の下降
が中断される。即ち、別途に位置検出時間を要さずイン
デックスタイムが長くならないので好都合である。
【００２３】
【発明の効果】本発明によると、実際にキャリアが下降
する際にキャリアの位置がずれていた場合にのみ、位置
ずれ時当接手段がキャリアに当接し、当接検知手段がキ
ャリア位置ずれ検出信号を出力する。このようにキャリ
アの位置ずれを検出する。位置ずれの検出により、キャ
リアの下降中断等の措置をとることができるので、キャ
リアの変形或いは破損を未然に防止できる。しかも、別
途に位置検出時間を要さず、作業時間が長くならないの
で好都合である。
する際にキャリアの位置がずれていた場合にのみ、位置
ずれ時当接手段がキャリアに当接し、当接検知手段がキ
ャリア位置ずれ検出信号を出力する。このようにキャリ
アの位置ずれを検出する。位置ずれの検出により、キャ
リアの下降中断等の措置をとることができるので、キャ
リアの変形或いは破損を未然に防止できる。しかも、別
途に位置検出時間を要さず、作業時間が長くならないの
で好都合である。
【００２４】また本発明によると、シャフトと、シャフ
トの後端部を検知するセンサとにより、簡単な構成でキ
ャリア位置ずれ検出機構が構築できる。
トの後端部を検知するセンサとにより、簡単な構成でキ
ャリア位置ずれ検出機構が構築できる。
【図１】本実施形態によるキャリア位置ずれ検出機構に
おいてキャリアの位置がずれている状態を示す図。
おいてキャリアの位置がずれている状態を示す図。
【図２】本実施形態によるキャリア位置ずれ検出機構に
おいてキャリアの位置が正常な状態を示す図。
おいてキャリアの位置が正常な状態を示す図。
【図３】ＩＣソケット・キャリア・コンタクトプッシャ
等を示した図。
等を示した図。
【図４】図３におけるガイドピン部位での断面図。
【符号の説明】 ２ 測定部（テストボード） ３ 測定部（ＩＣソケット） ４ キャリア ４ａ 位置決め穴（キャリアガイド穴） ８ シャフト ９ センサ １１ 突起（ガイドピン）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G003 AA07 AG01 AG08 AG11 AG12 AG13 AG16 AH01 AH04 AH05 2G011 AB07 AC06 AC14 AF02 3F022 EE05 MM02 MM61 NN13 PP06 QQ12
Claims (3)
- 【請求項１】 ＩＣを搭載するキャリアと、前記キャリ
アに搭載された前記ＩＣを測定する測定部とをもち、前
記キャリアに位置決め穴を形成し、前記測定部に突起を
形成し、前記位置決め穴を前記突起に挿嵌することによ
り前記キャリアを前記測定部に位置決めするオートハン
ドラにおいて、 前記突起の先端側に突出配置され、該突起と前記位置決
め穴とが対応している状態でのみ、該位置決め穴を通過
可能な位置ずれ時当接手段と、 前記位置ずれ時当接手段と前記キャリアとの当接を検知
して、キャリア位置ずれ検出信号として出力する当接検
知手段とを備えることを特徴とするキャリア位置ずれ検
出機構。 - 【請求項２】 前記位置ずれ時当接手段は、前記突起か
ら突出付勢されるシャフトであり、 前記当接検知手段は、前記シャフトの後端部を検知する
センサであることを特徴とする請求項１記載のキャリア
位置ずれ検出機構。 - 【請求項３】 前記当接検知手段がキャリア位置ずれ検
出信号を出力すると位置決め動作を停止することを特徴
とする請求項１記載のキャリア位置ずれ検出機構。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000391402A JP2002196039A (ja) | 2000-12-22 | 2000-12-22 | キャリア位置ずれ検出機構 |
| TW090130862A TWI221903B (en) | 2000-12-22 | 2001-12-13 | Carrier positional displacement detecting mechanism |
| US10/022,082 US20020079195A1 (en) | 2000-12-22 | 2001-12-13 | Carrier positional displacement detecting mechanism |
| KR10-2001-0081595A KR100451964B1 (ko) | 2000-12-22 | 2001-12-20 | 캐리어위치 어긋남 검출기구 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000391402A JP2002196039A (ja) | 2000-12-22 | 2000-12-22 | キャリア位置ずれ検出機構 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002196039A true JP2002196039A (ja) | 2002-07-10 |
Family
ID=18857545
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000391402A Pending JP2002196039A (ja) | 2000-12-22 | 2000-12-22 | キャリア位置ずれ検出機構 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20020079195A1 (ja) |
| JP (1) | JP2002196039A (ja) |
| KR (1) | KR100451964B1 (ja) |
| TW (1) | TWI221903B (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010190737A (ja) * | 2009-02-18 | 2010-09-02 | Seiko Instruments Inc | 半導体検査装置 |
| JP2012200562A (ja) * | 2011-03-28 | 2012-10-22 | Kyoraku Sangyo Kk | 遊技機用制御基板の検査準備装置 |
| JP2015021867A (ja) * | 2013-07-19 | 2015-02-02 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置の試験用治具 |
| JP2015070179A (ja) * | 2013-09-30 | 2015-04-13 | 株式会社ディスコ | チャックテーブル |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100815136B1 (ko) * | 2006-11-10 | 2008-03-20 | 세크론 주식회사 | 반도체소자용 스트립 피커장치 |
| US9666465B2 (en) * | 2013-12-12 | 2017-05-30 | Seagate Technology Llc | Positioning apparatus |
| KR101629447B1 (ko) | 2015-12-03 | 2016-06-10 | 이은보 | 경량 스테인리스 스틸 파이프 롤러 |
| CN116443730B (zh) * | 2023-06-13 | 2023-08-25 | 上海新创达半导体设备技术有限公司 | 一种辅助天车补偿校正***及控制方法 |
Family Cites Families (10)
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