JP2002156282A - Spectrophotometer - Google Patents
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する分野】本発明は、汎用分光光度計として
使用される紫外・可視分光光度計および紫外・可視・近
赤外分光光度計に関する。The present invention relates to an ultraviolet / visible spectrophotometer and an ultraviolet / visible / near infrared spectrophotometer used as a general-purpose spectrophotometer.
【０００２】[0002]
【従来の技術】分光光度計は、被測定試料中を透過した
光のスペクトルを測定し、試料に吸収された光の波長ま
たは透過した光の波長を調べることにより、試料成分を
分析するものである。2. Description of the Related Art A spectrophotometer analyzes a sample component by measuring the spectrum of light transmitted through a sample to be measured and examining the wavelength of light absorbed or transmitted by the sample. is there.
【０００３】一般に、分光光度計にはダブルビーム方式
とシングルビーム方式の２種類がある。ダブルビーム方
式の分光光度計は、測定試料を通過した光のエネルギー
と、参照試料を通過した光のエネルギーとの比を測定す
ることにより、定性および定量分析を行う。図２にダブ
ルビーム方式の分光光度計の概略構成図を示す。光源２
１からの光はチョッパ２２をモータ２３により回転する
ことによりチョッピングされた後、分光器２４に達す
る。分光器２４により単色化された光は、セクターミラ
ー２６に達する。セクターミラー２６は光路に対して４
５度の角度で配置されている。図３にセクターミラー２
６の概略構成図を示す。セクターミラー２６には開口部
４４、４５と、ミラー４１、４２とが交互に配置されて
いる。セクターミラー２６は開口部４４、４５あるいは
ミラー４１、４２が光路上に来るように設置され、モー
タ等の手段により一定速度で回転される。セクターミラ
ー２６がモータ２７により回転することにより、開口部
４４が光路上に来たとき、光源からの光はセクターミラ
ー２６を通過し、試料セル３２を透過した後ミラー３５
で反射され、検出器３８で検出される。検出器３８には
一般にフォトマルチプライアー、シリコンフォトダイオ
ード等が用いられる。次に、セクターミラー２６が回転
することで、光路上にミラー４１が配置される。分光器
２４からの光はミラー３０で反射され、さらにミラー４
１で反射された後、参照セル３３を透過し、ミラー３６
で反射され、検出器３８で検出される。Generally, there are two types of spectrophotometers, a double beam system and a single beam system. The double-beam spectrophotometer performs qualitative and quantitative analysis by measuring the ratio of the energy of light passing through a measurement sample to the energy of light passing through a reference sample. FIG. 2 shows a schematic configuration diagram of a double beam type spectrophotometer. Light source 2
The light from 1 reaches the spectroscope 24 after being chopped by rotating the chopper 22 by the motor 23. The light monochromatized by the spectroscope 24 reaches the sector mirror 26. The sector mirror 26 is 4
They are arranged at an angle of 5 degrees. FIG. 3 shows sector mirror 2
6 is a schematic configuration diagram. In the sector mirror 26, openings 44 and 45 and mirrors 41 and 42 are alternately arranged. The sector mirror 26 is installed such that the openings 44 and 45 or the mirrors 41 and 42 are on the optical path, and is rotated at a constant speed by means such as a motor. When the sector mirror 26 is rotated by the motor 27 and the opening 44 is on the optical path, the light from the light source passes through the sector mirror 26, passes through the sample cell 32, and then passes through the mirror 35.
And is detected by the detector 38. As the detector 38, a photomultiplier, a silicon photodiode, or the like is generally used. Next, by rotating the sector mirror 26, the mirror 41 is arranged on the optical path. The light from the spectroscope 24 is reflected by the mirror 30 and further reflected by the mirror 4
After being reflected at 1, the light passes through the reference cell 33 and is
And is detected by the detector 38.
【０００４】試料の測定にあたっては、まずベースライ
ン補正を行う。ベースライン補正は、試料が液体の場合
は試料セル３２及び参照セル３３内に、用いる溶媒のみ
を入れ、試料が固体の場合は試料セル３２及び参照セル
３３を取り除き、試料セル３２及び参照セル３３の位置
にはなにもない状態にした後、分光器２４で得られる各
波長の光において試料セル３２からの光の強度Ｓｂ（試
料信号強度）と参照セル３３からの光の強度Ｒｂ（参照
信号強度）を測定し記憶する。また、チョッパ２２によ
りチョッピングされ、光が遮断されたときのダーク信号
強度Ｄも測定し記憶する。次に、液体試料の場合は試料
を試料セル３２にいれ、固体試料の場合は試料を試料セ
ル３２の位置に設置した後、同様に各波長で試料セル３
２を透過した光の強度Ｓｓと参照セル３３を透過した光
の強度Ｒｓを測定し記憶する。これらの測定値から、
（１）式により透過率Ｔが計算される。 Ｔ＝｛（Ｓｓ−Ｄ）／（Ｒｓ−Ｄ）｝／｛（Ｓｂ−Ｄ）／（Ｒｂ−Ｄ）｝×Ｋ （１） ここで、Ｋは吸光度ゼロ補正を行ったときの係数であ
る。吸光度Ａは透過率Ｔより（２）式で求められる。 Ａ＝−ｌｏｇＴ （２）In measuring a sample, a baseline correction is first performed. In the baseline correction, only the solvent to be used is placed in the sample cell 32 and the reference cell 33 when the sample is a liquid, and the sample cell 32 and the reference cell 33 are removed when the sample is a solid, and the sample cell 32 and the reference cell 33 are removed. , The light intensity Sb (sample signal intensity) from the sample cell 32 and the light intensity Rb from the reference cell 33 (reference light) in the light of each wavelength obtained by the spectroscope 24. Signal strength) is measured and stored. In addition, the dark signal intensity D when the light is cut off after being chopped by the chopper 22 is measured and stored. Next, in the case of a liquid sample, the sample is placed in the sample cell 32, and in the case of a solid sample, the sample is placed at the position of the sample cell 32.
The intensity Ss of the light transmitted through the reference cell 2 and the intensity Rs of the light transmitted through the reference cell 33 are measured and stored. From these measurements,
The transmittance T is calculated by the equation (1). T = {(Ss-D) / (Rs-D)} / {(Sb-D) / (Rb-D)} × K (1) where K is a coefficient when the absorbance zero correction is performed. . The absorbance A is obtained from the transmittance T by the formula (2). A = -logT (2)
【０００５】図４にシングルビーム方式の分光光度計の
概略構成図を示す。光源５１からの光はモータ５４によ
り回転しているチョッパ５３によりチョッピングされた
後、分光器５６により単色化され、試料セル５８に達す
る。試料セル５８を透過した光は検出器６０により強度
が測定される。FIG. 4 shows a schematic configuration diagram of a single-beam type spectrophotometer. After the light from the light source 51 is chopped by the chopper 53 rotated by the motor 54, the light is monochromatized by the spectroscope 56 and reaches the sample cell 58. The intensity of the light transmitted through the sample cell 58 is measured by the detector 60.
【０００６】試料の測定にあたっては、この場合もまず
ベースライン補正を行う。試料が液体の場合は試料セル
５８内に用いる溶媒のみを入れ、試料が固体の場合は試
料セル５８を取り除き、試料セル５８の位置にはなにも
ない状態にした後、分光器５６で得られる各波長の光に
おいて試料セル５８からの光の強度Ｓｂ（参照信号強
度）を測定し、さらにチョッパ５３によりチョッピング
され、光が遮断されたときのダーク信号強度Ｄも測定し
記憶する。次に、液体試料の場合は試料を試料セル５８
にいれ、固体試料の場合は試料を試料セル５８の位置に
設置した後、同様に各波長で試料セル５８からの光の強
度Ｓｓ（試料信号強度）を測定し記憶する。これらの測
定値から、（３）式により透過率Ｔが計算される。 Ｔ＝（Ｓｓ−Ｄ）／（Ｓｂ−Ｄ）×Ｋ （３）In the measurement of a sample, a baseline correction is first performed in this case as well. When the sample is a liquid, only the solvent to be used is placed in the sample cell 58, and when the sample is a solid, the sample cell 58 is removed. The intensity Sb (reference signal intensity) of the light from the sample cell 58 is measured for the light of each wavelength to be obtained, and the dark signal intensity D when the light is cut off by the chopper 53 and the light is cut off is also measured and stored. Next, in the case of a liquid sample, the sample is
In the case of a solid sample, after setting the sample at the position of the sample cell 58, the intensity Ss (sample signal intensity) of the light from the sample cell 58 at each wavelength is similarly measured and stored. From these measured values, the transmittance T is calculated by equation (3). T = (Ss−D) / (Sb−D) × K (3)
【０００７】ダブルビーム方式の場合、常に試料セルか
らの信号と参照セルからの信号とを測定しているので、
光源で発生する光の強度が時間と共に変化しても正しい
測定を行うことができる。これに対して、シングルビー
ム方式では、ベースライン補正実行時と、試料測定時で
光源からの光の強度が変化すれば正しい測定を行うこと
ができない。この意味では、ダブルビーム方式のほうが
優れており、精度の高い分析は主にダブルビーム方式が
用いられている。In the case of the double beam method, the signal from the sample cell and the signal from the reference cell are always measured.
Even if the intensity of light generated by the light source changes with time, correct measurement can be performed. On the other hand, in the single beam method, correct measurement cannot be performed if the intensity of light from the light source changes between when the baseline correction is performed and when the sample is measured. In this sense, the double beam system is superior, and the double beam system is mainly used for highly accurate analysis.
【０００８】しかしながら、ダブルビーム方式の場合、
シングルビーム方式と比較して光の利用効率が悪いた
め、光量の損失がさけられない測定、例えば微少部分の
測定などではシングルビーム方式のほうが優れている場
合がある。また、試料の角度を変えて反射率を測定する
場合のように、試料からの透過光あるいは反射光の位置
・方向が変化し、それに合わせて検出器の位置を移動さ
せて測定したい場合がある。このような場合には、ダブ
ルビーム方式の場合には参照光束も連動させる必要があ
り、機構が非常に複雑となり、一般には実現が困難であ
る。このような場合にもシングルビーム方式による測定
を行う必要がある。However, in the case of the double beam system,
Since the use efficiency of light is lower than that of the single beam method, the single beam method may be superior in measurement where loss of light amount cannot be avoided, for example, measurement of a minute portion. Also, as in the case where the reflectance is measured by changing the angle of the sample, the position or direction of the transmitted light or reflected light from the sample changes, and there are cases where it is necessary to move the position of the detector accordingly to perform measurement. . In such a case, in the case of the double beam method, it is necessary to link the reference light beam, and the mechanism becomes very complicated, and it is generally difficult to realize the mechanism. In such a case, it is necessary to perform measurement by the single beam method.
【０００９】このように、測定手法や試料の状態によ
り、適宜シングルビーム方式とダブルビーム方式を使い
分ける必要があり、方式の異なる２台の分光光度計を用
意しておかなければならないという問題がある。このよ
うな問題を解決するため、ダブルビーム方式の分光光度
計を用いてシングルビーム方式の測定を行うことができ
る装置が提案されている。As described above, it is necessary to properly use the single beam method and the double beam method depending on the measurement method and the state of the sample, and there is a problem that two spectrophotometers having different methods must be prepared. . In order to solve such a problem, there has been proposed an apparatus capable of performing single-beam measurement using a double-beam spectrophotometer.
【００１０】この装置の場合、図２におけるセクターミ
ラー２６を、開口部４４あるいは４５が光路上にくるよ
うに停止させ、分光器２４からの光が試料セル３２を通
る光路にのみ導入することにより、シングルビーム方式
の測定を行うことができるようにしている。In this apparatus, the sector mirror 26 shown in FIG. 2 is stopped so that the opening 44 or 45 is on the optical path, and light from the spectroscope 24 is introduced only into the optical path passing through the sample cell 32. And a single-beam measurement can be performed.
【００１１】[0011]
【発明が解決しようとする課題】上記のダブルビーム方
式の分光光度計によりシングルビーム方式の測定をおこ
なうことができる装置の場合においては、セクターミラ
ーを回転させるモータにシンクロナスモータが一般に用
いられている。シンクロナスモータの場合、所定の位置
で停止させることは不可能であり、シングルビーム方式
の測定を行う際には、シンクロナスモータの電源を切
り、セクターミラーの開口部が試料セルを通る光路上で
停止させる操作を手作業で行わなければならない。ま
た、ベースライン補正の結果、試料測定の結果をそれぞ
れ記憶させ、式（３）による演算をさせるといった一連
の操作も手作業で行わなければならず、測定のための操
作が非常に煩雑である。In the case of an apparatus capable of performing single beam measurement by the above-mentioned double beam spectrophotometer, a synchronous motor is generally used as a motor for rotating a sector mirror. I have. In the case of a synchronous motor, it is impossible to stop at a predetermined position.When performing a single-beam measurement, the synchronous motor is turned off, and the opening of the sector mirror is placed on the optical path passing through the sample cell. The operation to stop at must be done manually. In addition, a series of operations, such as storing the results of the baseline correction and the results of the sample measurement, and performing the calculation according to equation (3), must also be performed manually, which makes the operation for measurement extremely complicated. .
【００１２】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたものであり、シングルビーム方式とダブルビーム方
式の測定の切り替えを可能とする機能を有し、さらにシ
ングルビーム方式測定時には検出器の増幅率を変化さ
せ、試料測定により得られる試料信号強度とベースライ
ン補正測定により得られる参照信号強度から所望の測定
値を自動的に出力する分光光度計を提供することを目的
とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problem, and has a function of enabling switching between a single-beam method and a double-beam method. It is an object of the present invention to provide a spectrophotometer that changes a rate and automatically outputs a desired measurement value from a sample signal intensity obtained by sample measurement and a reference signal intensity obtained by baseline correction measurement.
【００１３】[0013]
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するた
め、本発明の分光光度計は、光源と被測定試料および参
照試料との間の光路上に、ミラー、開口部のいずれかが
介在するように切り換える回転可能なセクターミラーを
備え、被測定試料と参照試料に交互に光を入射させるダ
ブルビーム方式の分光光度計において、シングルビーム
方式とダブルビーム方式の測定の切り換えを行うため、
シングルビーム測定時にはセクターミラーを所定の位置
で停止させ、試料光束のみを定常的に取り出すことを可
能とするものである。その手段としては、たとえばセク
ターミラー駆動モータとしてサーボモータを使用し、セ
クターミラーを所定に位置に実質上停止させることを可
能とすることにより、シングルビーム方式とダブルビー
ム方式の測定の切り換えを自動化できる。In order to solve the above-mentioned problems, a spectrophotometer according to the present invention has one of a mirror and an opening interposed on an optical path between a light source and a sample to be measured and a reference sample. In order to switch between single-beam and double-beam measurements in a double-beam spectrophotometer equipped with a rotatable sector mirror that switches between the sample to be measured and the reference sample alternately,
At the time of single beam measurement, the sector mirror is stopped at a predetermined position, so that only the sample light beam can be constantly extracted. As a means, for example, by using a servo motor as a sector mirror driving motor and enabling the sector mirror to be substantially stopped at a predetermined position, it is possible to automate the switching between the single beam method and the double beam method. .
【００１４】また、シングルビーム方式測定の際に、ベ
ースライン補正時に各波長で信号量が概一定になるよう
にフォトマルチプライアーの増幅率を変化させ、その増
幅率を信号量とともに各波長ごとに記憶し、試料測定時
には記憶した増幅率にて測定を行う。得られた試料測定
時の信号量とベースライン補正時の信号量とから試料の
透過率あるいは反射率等の所望の測定値を演算し出力す
る。これにより、シングルビーム方式の測定データを最
適な状態で得ることが可能となる。In the single beam system measurement, the amplification factor of the photomultiplier is changed so that the signal amount becomes substantially constant at each wavelength at the time of baseline correction, and the amplification ratio is changed for each wavelength together with the signal amount. It is stored, and the measurement is performed at the stored amplification factor when measuring the sample. A desired measured value such as transmittance or reflectance of the sample is calculated and output from the obtained signal amount at the time of sample measurement and the signal amount at the time of baseline correction. This makes it possible to obtain single-beam measurement data in an optimal state.
【００１５】本発明の分光光度計によれば、ダブルビー
ム方式の分光光度計でありながら、シングルビーム方式
の方が有利な測定に対しては、容易にシングルビーム方
式に切り換えが可能であり、さらに適正な検出器増幅率
による測定を行うことができる。According to the spectrophotometer of the present invention, it is possible to easily switch to the single beam method for a measurement in which the single beam method is more advantageous even though the spectrophotometer is of the double beam method. Further, measurement with an appropriate detector amplification factor can be performed.
【００１６】[0016]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を
参照しながら詳細に説明する。図１は、本発明の分光光
度計の一実施例の概略構成図である。本発明の分光光度
計は、紫外・可視光あるいは可視・近赤外光を発生する
光源１と、チョッパ２と、チョッパ２を回転させるモー
タ３と、分光器４と、セクターミラー６と、セクターミ
ラー６を回転させるモータ７と、モータ７の回転を制御
する制御器８と、ミラー１０と、試料セル１２と、参照
セル１３と、ミラー１５、１６と、検出器１８と、増幅
器１９およびＣＰＵ２０から構成されている。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of one embodiment of the spectrophotometer of the present invention. The spectrophotometer according to the present invention includes a light source 1 for generating ultraviolet / visible light or visible / near infrared light, a chopper 2, a motor 3 for rotating the chopper 2, a spectroscope 4, a sector mirror 6, a sector mirror 6, A motor 7 for rotating the mirror 6, a controller 8 for controlling the rotation of the motor 7, a mirror 10, a sample cell 12, a reference cell 13, mirrors 15 and 16, a detector 18, an amplifier 19 and a CPU 20 It is composed of
【００１７】光源１から発せられた光はチョッパ２をモ
ータ３により回転することによりチョッピングされた
後、分光器４に達する。分光器４により単色化された光
は、セクターミラー６に達する。セクターミラー６は光
路に対して４５度の角度で配置されている。セクターミ
ラー６は図３に示すものと同じ構造をしており、開口部
４４、４５と、ミラー４１、４２とが交互に配置されて
いる。セクターミラー６は開口部４４、４５あるいはミ
ラー４１、４２が光路上に来るように設置され、モータ
７により一定速度で回転される。モータ７には回転数が
可変であるサーボモータを使用しており、制御器８によ
り回転数を制御する。セクターミラー６がモータ７によ
り回転することにより、開口部４４が光路上に来たと
き、光源からの光はセクターミラー６を通過し、試料セ
ル１２を透過した後ミラー１５で反射され、検出器１８
で検出される。検出器１８にはフォトマルチプライアー
を用いている。次に、セクターミラー６が回転すること
で、光路上にミラー４１が配置される。分光器４からの
光はミラー１０で反射され、さらにミラー４１で反射さ
れた後、参照セル１３を透過し、ミラー１６で反射さ
れ、検出器１８で検出される。検出された信号は増幅器
１９で増幅され、ＣＰＵ２０で記憶される。The light emitted from the light source 1 is chopped by rotating the chopper 2 by the motor 3 and then reaches the spectroscope 4. The light monochromatized by the spectroscope 4 reaches the sector mirror 6. The sector mirror 6 is arranged at an angle of 45 degrees with respect to the optical path. The sector mirror 6 has the same structure as that shown in FIG. 3, and openings 44 and 45 and mirrors 41 and 42 are alternately arranged. The sector mirror 6 is installed so that the openings 44 and 45 or the mirrors 41 and 42 are on the optical path, and is rotated at a constant speed by the motor 7. The motor 7 uses a servo motor whose rotation speed is variable, and the controller 8 controls the rotation speed. When the opening 44 is on the optical path by the rotation of the sector mirror 6 by the motor 7, the light from the light source passes through the sector mirror 6, passes through the sample cell 12, is reflected by the mirror 15, and is detected by the detector 15. 18
Is detected by A photomultiplier is used for the detector 18. Next, the mirror 41 is arranged on the optical path by rotating the sector mirror 6. The light from the spectroscope 4 is reflected by the mirror 10, further reflected by the mirror 41, transmitted through the reference cell 13, reflected by the mirror 16, and detected by the detector 18. The detected signal is amplified by the amplifier 19 and stored in the CPU 20.
【００１８】ダブルビーム方式の測定を選択した場合
は、従来と同様の測定が実行される。すなわち、まず各
波長でベースライン補正が実行され、試料セル１２から
の光の強度Ｓｂ（試料信号強度）と参照セル１３からの
光の強度Ｒｂ（参照信号強度）および光が遮断されたと
きのダーク信号強度Ｄが測定される。次に、液体試料の
場合は試料を試料セル１２にいれ、固体試料の場合は試
料を試料セル１２の位置に設置した後、同様に各波長で
試料セル１２を透過した光の強度Ｓｓと参照セル１３を
透過した光の強度Ｒｓを測定し記憶する。これらの測定
値から、ＣＰＵ２０により（１）式に従って透過率Ｔが
計算され、結果が出力される。また、吸光度Ａは透過率
Ｔより（２）式で求められる。When the measurement of the double beam system is selected, the same measurement as the conventional one is performed. That is, first, the baseline correction is performed at each wavelength, and the light intensity Sb (sample signal intensity) from the sample cell 12, the light intensity Rb (reference signal intensity) from the reference cell 13, and the light when the light is cut off. The dark signal strength D is measured. Next, in the case of a liquid sample, the sample is placed in the sample cell 12, and in the case of a solid sample, the sample is placed at the position of the sample cell 12, and similarly, the intensity Ss of light transmitted through the sample cell 12 at each wavelength is referred to. The intensity Rs of the light transmitted through the cell 13 is measured and stored. From these measured values, the transmittance T is calculated by the CPU 20 according to the equation (1), and the result is output. Further, the absorbance A is obtained from the transmittance T by the formula (2).
【００１９】シングルビーム方式の測定を選択した場合
は、セクターミラー６が制御器８により、開口部４４あ
るいは４５が光路上に位置し、わずかな移動距離で往復
運動するよう制御され、実質上開口部４４あるいは４５
が光路上に停止している状態に保たれる。When the measurement of the single beam system is selected, the sector mirror 6 is controlled by the controller 8 so that the opening 44 or 45 is located on the optical path and reciprocates by a small moving distance. Part 44 or 45
Is kept stationary on the optical path.
【００２０】この状態で、従来と同様のシングルビーム
方式の測定が実行される。すなわち、まず各波長でベー
スライン補正が実行され、各波長の光において試料セル
１２からの光の強度Ｓｂ（参照信号強度）が検出器１８
により測定され、増幅器１９により増幅され、ＣＰＵ２
０に記憶される。この時、検出器１８からの出力が概一
定になるように、増幅器１９における各波長毎の検出器
増幅率を変化させ、その増幅率をＣＰＵ２０に記憶す
る。また、チョッパ２によりチョッピングされ、光が遮
断されたときのダーク信号強度Ｄも測定し記憶する。次
に、液体試料の場合は試料を試料セル１２にいれ、固体
試料の場合は試料を試料セル１２の位置に設置した後、
同様に各波長で試料セル１２からの光の強度Ｓｓ（試料
信号強度）を測定する。得られた信号は、ベースライン
補正実行時に記憶された増幅率で各波長毎に増幅器１９
により増幅され、ＣＰＵ２０に記憶される。これらの測
定値から、（３）式に従って透過率Ｔが計算され、結果
が出力される。In this state, the measurement of the single beam system similar to the conventional one is performed. That is, first, baseline correction is performed at each wavelength, and the intensity Sb (reference signal intensity) of the light from the sample cell 12 in the light of each wavelength is detected by the detector 18.
And amplified by the amplifier 19,
0 is stored. At this time, the detector amplification factor for each wavelength in the amplifier 19 is changed so that the output from the detector 18 becomes substantially constant, and the amplification factor is stored in the CPU 20. Further, the dark signal intensity D when the light is cut off after being chopped by the chopper 2 is measured and stored. Next, in the case of a liquid sample, the sample is placed in the sample cell 12, and in the case of a solid sample, the sample is placed at the position of the sample cell 12.
Similarly, the intensity Ss (sample signal intensity) of the light from the sample cell 12 is measured at each wavelength. The obtained signal is supplied to the amplifier 19 for each wavelength at the amplification factor stored when the baseline correction is performed.
And stored in the CPU 20. From these measured values, the transmittance T is calculated according to equation (3), and the result is output.
【００２１】試料の角度を変えて反射率を測定する場合
には、試料の周囲を可変に動くことのできる検出器を配
置し、シングルビーム方式の測定を選択し、試料の角度
が変わるとともに検出器の位置も変化させ、常に試料か
らの反射光が検出器１８に入射されるようにすることに
より、対応が可能となる。When the reflectance is measured by changing the angle of the sample, a detector capable of variably moving around the sample is arranged, and a single beam type measurement is selected. By changing the position of the detector so that the reflected light from the sample is always incident on the detector 18, it is possible to respond.
【００２２】以上、本発明の実施例を説明したが、本発
明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の
範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で種々の変更を
行うことができる。例えば、シングルビーム方式の測定
を選択したとき、セクターミラー６を所定の位置で停止
させる操作を、モータ７にサーボモータを用い、制御器
８により制御することにより行っているが、セクターミ
ラー６を光路上で所定の位置に停止させる手段であれ
ば、これに限定されるものではない。また、上記実施例
においては、チョッパ２とセクターミラー６を用いてい
るが、セクターミラーとして開口部とミラーと遮蔽部を
有するセクターミラーを用いれば、チョッパ２は必要な
くなり装置がよりシンプルで安価となる。この場合に
は、シングルビーム方式を選択したとき、光路上に開口
部と遮蔽部が交互に位置するように、セクターミラーを
往復運動させるように制御する。Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various changes may be made within the scope of the present invention described in the appended claims. be able to. For example, when the measurement of the single beam system is selected, the operation of stopping the sector mirror 6 at a predetermined position is performed by controlling the controller 8 using a servo motor as the motor 7. The means is not limited to this as long as it stops at a predetermined position on the optical path. Further, in the above embodiment, the chopper 2 and the sector mirror 6 are used. However, if a sector mirror having an opening, a mirror, and a shielding portion is used as the sector mirror, the chopper 2 is not required and the apparatus is simpler and less expensive. Become. In this case, when the single beam system is selected, the sector mirror is controlled to reciprocate so that the openings and the shields are alternately positioned on the optical path.
【００２３】[0023]
【発明の効果】本発明によれば、ダブルビーム方式の分
光光度計において、セクターミラーを所定の位置で停止
させ、試料光束のみを定常的に取り出すことを可能とし
たので、シングルビーム方式とダブルビーム方式の測定
の切り換えを容易に行うことが可能となる。シングルビ
ーム方式の測定を行う際には、従来のシングルビーム方
式の測定に用いられている分光光度計と同様に、光エネ
ルギーを効率よく使用でき、さらに得られる信号強度に
応じて検出器の増幅率を変化させるようにしたので、デ
ータを最適な状態で得ることができる。According to the present invention, in the spectrophotometer of the double beam system, the sector mirror is stopped at a predetermined position, and only the sample beam can be taken out constantly. It is possible to easily switch the measurement of the beam system. When performing a single-beam measurement, light energy can be used efficiently, and the detector can be amplified according to the obtained signal intensity, as in a spectrophotometer used for conventional single-beam measurement. Since the rate is changed, data can be obtained in an optimal state.
【図１】本発明の分光光度計の一実施例の概略構成であ
る。FIG. 1 is a schematic configuration of one embodiment of a spectrophotometer of the present invention.
【図２】従来のダブルビーム方式の分光光度計の概略構
成図である。FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a conventional double beam type spectrophotometer.
【図３】セクターミラーの概略構成図である。FIG. 3 is a schematic configuration diagram of a sector mirror.
【図４】従来のシングルビーム方式の分光光度計の概略
構成図である。FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a conventional single-beam type spectrophotometer.
１---光源 ２---チョッパ ４---分光器 ６---セクターミラー １２---試料セル １３---参照セル １８---検出器 1 --- Light source 2 --- Chopper 4 --- Spectroscope 6 --- Sector mirror 12 --- Sample cell 13 --- Reference cell 18 --- Detector
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G020 BA14 BA20 CB04 CB05 CB07 CB21 CC01 CC48 CD03 CD12 CD13 CD22 CD24 CD33 CD37 CD38 CD58 2G059 AA01 BB04 BB08 EE01 EE02 EE12 FF08 GG07 JJ01 JJ24 KK01 MM10 MM12 MM15 Continued on front page F-term (reference) 2G020 BA14 BA20 CB04 CB05 CB07 CB21 CC01 CC48 CD03 CD12 CD13 CD22 CD24 CD33 CD37 CD38 CD58 2G059 AA01 BB04 BB08 EE01 EE02 EE12 FF08 GG07 JJ01 JJ24 KK01 MM15 MM12 MM15
Claims (2)
の光路上に、ミラー、開口部のいずれかが介在するよう
に切り換える回転可能なセクターミラーを備え、被測定
試料と参照試料に交互に光を入射させるダブルビーム方
式の分光光度計において、前記セクターミラーを所定の
位置に停止させ、被測定試料にのみ光を入射することに
より、シングルビーム方式の測定ができること特徴とす
る分光光度計。A rotatable sector mirror is provided on an optical path between a light source and a sample to be measured and a reference sample, so that any one of a mirror and an opening is interposed therebetween. A double beam type spectrophotometer in which light is incident on the sample mirror, wherein the sector mirror is stopped at a predetermined position, and light is incident only on the sample to be measured, whereby a single beam type measurement can be performed. .
ースライン補正実行時に、各波長毎の検出器からの出力
と検出器増幅率を記憶させ、被測定試料測定時に記憶し
た増幅率で信号を採取し、前に記憶した出力信号との比
をとる、あるいはベースライン補正実行時に、検出器か
らの出力が概一定になるように各波長ごとの検出器増幅
率を変化させ、その増幅率を記憶し、被測定試料測定時
に記憶した増幅率で信号を採取することを特徴とする請
求項１記載の分光光度計。2. In a single beam type measurement, when a baseline correction is performed, an output from a detector and a detector amplification factor for each wavelength are stored, and a signal is collected at the amplification factor stored at the time of measuring a sample to be measured. Take the ratio with the previously stored output signal, or change the detector amplification factor for each wavelength so that the output from the detector becomes approximately constant during baseline correction, and store the amplification factor. 2. The spectrophotometer according to claim 1, wherein a signal is collected at the amplification factor stored at the time of measuring the sample to be measured.
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