JP2002156230A - Af測量機 - Google Patents

Af測量機

Info

Publication number
JP2002156230A
JP2002156230A JP2001248696A JP2001248696A JP2002156230A JP 2002156230 A JP2002156230 A JP 2002156230A JP 2001248696 A JP2001248696 A JP 2001248696A JP 2001248696 A JP2001248696 A JP 2001248696A JP 2002156230 A JP2002156230 A JP 2002156230A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
distance
surveying instrument
focusing
focus
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001248696A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Kaneko
健治 金子
Shinichi Suzuki
新一 鈴木
Mochiyume Takayama
抱夢 高山
Tadahisa Hoshino
格久 星野
Takanori Yanai
孝徳 谷内
Masayuki Ueno
政幸 上野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pentax Precision Co Ltd
Original Assignee
Asahi Seimitsu KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Seimitsu KK filed Critical Asahi Seimitsu KK
Priority to JP2001248696A priority Critical patent/JP2002156230A/ja
Publication of JP2002156230A publication Critical patent/JP2002156230A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 測設作業を迅速に完了させることができ、信
頼度と操作性の良好なAF測量機を得る。 【解決手段】 視準望遠鏡2と、測定対象物6までの距
離を測定する測距機構3と、視準望遠鏡2の焦点調節レ
ンズ22の位置を調整するAF機構4とを備えたAF測
量機1において、測距機構3を介して求めた距離データ
又はAF機構4が測定対象物6の焦点状態から求めた物
体像データのいずれかに基づき、焦点調節レンズ22を
合焦位置へ移動させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】この発明は、測定対象物の位置に応じて視
準望遠鏡の焦点調節レンズを移動調整するAF機構付き
測量機に関する。
【0002】
【従来の技術及びその問題点】トータルステーション等
の測量機では、一般に、反射プリズム(コーナーキュー
ブ)を用いて測定対象物までの距離を測定している。即
ち、使用者は、測定対象物付近に目標物となる反射プリ
ズムを設置し、この反射プリズムを視準望遠鏡で視準し
た後、測距開始ボタンをオン操作して測距機構を動作さ
せる。この測距機構は、反射プリズムに向けて測距光
(レーザー光)を送光すると共に反射プリズムで反射さ
れた反射光を測距センサで受光し、測距光と反射光の位
相差及び内部参照光での初期位相、又は測距光と反射光
の時間差から目標物までの距離を演算する。
【0003】また近年では、トータルステーション等の
測量機において視準望遠鏡のAF(オートフォーカス)
化が進行している。AF機構を備えた測量機では、視準
望遠鏡を測定対象物に向けてセットした状態でAF開始
ボタンをオン操作すれば、測定対象物に自動的にピント
を合わせることができる。しかし、位相差方式のAF機
構を備えた測量機では、測定対象物の種類などによって
は、合焦しづらい場合がある。特に、測定対象物が、例
えば無地の壁面、コントラストの低い物体、或いは反射
プリズム(コーナーキューブ)等である場合には、合焦
しづらい傾向がある。
【0004】一方、上述の測距動作については、測距作
業及びAF作業の双方の効率化を図るため、反射プリズ
ムを用いずに測距動作を行いたいという要望がある。し
かし、反射プリズムを使用せずに測距を行うと、測距点
での測距光の反射位置を目視で確認できないため、測距
点がどこかを特定できずに不都合を生じる場合があっ
た。
【0005】また、AF装置を備えた測量機におけるト
ラッキング測距(繰り返し測距)は、図9に示すよう
に、以下の操作手順で行われる。先ず、設計値入力手段
又は設計値距離手段を介して、これから行うトラッキン
グ測距作業での設計距離や設計上の各種データを、制御
部へ入力する(SA1)。次に、測距開始ボタンをオン
してトラッキング測距モードを設定する(SA2)。ト
ラッキング測距モードが設定されると、ターゲットから
測距に必要な測距光が反射されてきたときに測距光が確
定し、距離値とその距離値から設計値を減じた較差とが
適宜の表示手段に表示される。続いて、視準望遠鏡に付
属した図示外の視準器から測定対象物を覗いて視準望遠
鏡の光軸を概ねターゲットに合致させ、ターゲットにピ
ントが合っている状態であれば、さらに、視準望遠鏡2
の光軸をターゲット中心に合致させる(SA3)。
【0006】SA3の視準操作は、以下のSA4〜SA
9の動作に並行して行われる。SA4では、AF機構に
よる合焦動作を開始させるAFボタンがオンしているか
否かが判断される。AFボタンがオンしているときは、
AF機構による合焦動作が成功したか否かが判断され
(SA4;Y、SA5)、合焦に失敗したと判断された
場合は、予め設定された位置に焦点調節レンズが移動さ
れる(SA5;N、SA6)。AFボタンがオンしてい
ないとき(SA4;N)、または合焦に成功したと判断
されたときは(SA5;Y)、SA6をスキップする。
【0007】SA7では、測距値が確定したか否かが判
断される。測距値は、測定対象物から測距に必要な光量
の測距光が反射してきたときに、確定する。測距値が確
定していない場合は、SA8をスキップする(SA7;
N)。測距値が確定した場合は、確定した測距値及びこ
の測距値から設計値を減算した較差が求められ、表示手
段に表示される(SA7;Y、SA8)。使用者は、S
A8で表示された較差により、現在のターゲット位置が
測設したい位置からどの程度ずれているかを認識でき
る。
【0008】そしてSA9では、測距終了ボタンがオン
しているか否かが判断され、オンしていない場合はSA
4からSA8の処理が繰り返される(SA9;N)、オ
ンしている場合はトラッキング測距動作が停止され(S
A9;Y、SA10)。使用者は、表示手段に表示され
た較差がゼロとなった時に、測設点にターゲットが測設
されたと認識し、測設作業を終了させるため測距終了ボ
タンをオン操作する。
【0009】上述のトラッキング測距や、複数箇所での
連続した杭打ち測定(測設)、直線n等分測定などを行
う場合には、測距動作を複数回連続して行い、この測距
動作中にAFボタンを頻繁に操作する必要があるので、
操作が非常に煩雑になるだけでなく、追従操作の妨げに
もなっていた。また従来では、測設作業中にターゲット
から視準が外れてオートフォーカスできなくなった場合
は、測設位置または距離に拘わらず、予め設定された特
定の位置にピントを合わせていたため、効果的な測設作
業を行うことが難しかった。
【0010】
【発明の目的】本発明は、上記事情に鑑み、測設作業を
迅速に完了させることができ、信頼度と操作性の良好な
AF測量機を得ることを目的とする。
【0011】
【発明の概要】本発明のAF測量機は、測定対象物を視
準する視準望遠鏡と、測定対象物までの距離を測定して
距離データを求める測距機構と、測定対象物の焦点状態
を検出して物体像データを求める焦点検出機構と、上記
距離データ又は物体像データのいずれかに基づき、視準
望遠鏡の焦点調節レンズを合焦位置へ移動させるAF機
構とを備えたことを特徴としている。
【0012】この構成によれば、測定対象物が低コント
ラスト又は高反射率である場合など物体像データを得ら
れないときは、距離データに基づいて合焦動作を行うの
で、確実に合焦状態を得ることができる。また、測定対
象物までの距離が遠すぎる場合など距離データを得られ
ないときは、物体像データに基づいて合焦動作を行うの
で、この場合にも合焦状態を得られるようになる。従っ
て、AF動作に失敗するという事態を大幅に減少でき、
測設作業を迅速に完了させることができる。
【0013】AF機構は、上記距離データ及び物体像デ
ータの信頼性を判断する判断手段を備え、上記距離デー
タ及び物体像データのうち、この判断手段によって信頼
しうると判断されたデータに基づき、合焦動作を実行す
る。特に、距離データ及び物体像データの両方とも信頼
しうると判断された場合は、検出精度の高い距離データ
に基づいて合焦動作を実行することが好ましい。なお、
距離データ及び物体像データの両方とも信頼できないと
判断された場合は、焦点調節レンズをデフォルト位置へ
移動させる。
【0014】また本発明のAF測量機は、測定対象物を
視準する視準望遠鏡と、測定対象物までの距離を測定す
る測距機構と、視準望遠鏡の焦点調節レンズを合焦位置
へ移動させるAF機構と、上記測距機構の測距動作を複
数回連続して行わせる連続測距モードを設定するモード
設定手段と、この連続測距モードが設定された場合は、
上記AF機構による合焦動作を、測距機構の測距動作に
連動させる制御手段とを備えたことを特徴としている。
【0015】この構成によれば、連続測距モードが設定
された場合は、測距動作とAF動作が一連の動作として
複数回連続して行われる。これにより、使用者は、測設
作業中にAF動作を実行させる操作部材を操作する必要
がなく、追従操作に専念することができる。
【0016】上記AF測量機には、さらに、測距機構の
測距動作を開始させる操作部材を備えることができる。
この構成において制御手段は、連続測距モードが設定さ
れている場合は上記操作部材が操作された時に測距動作
とAF動作を同時に開始させ、この測距動作及びAF動
作を所定の間隔で繰り返し実行させることが好ましい。
AF機構は、AF動作しても合焦状態を得られなかった
場合は、焦点調節レンズをデフォルト位置へ移動させる
ことができる。
【0017】
【発明の実施の形態】この発明の実施の形態について添
付図面に基づき説明する。図1は、本発明を適用したA
F測量機(トータルステーション)1を示している。A
F測量機1は、視準望遠鏡2と、測距機構3と、測角機
構(図略)と、AF機構4と、制御部5とを備えてい
る。なお、図1において、ハッチング部分は一対の瞳範
囲に対応する部分(光路)を概念的に示す。
【0018】視準望遠鏡2は、物体側(前方側)から順
に、対物レンズ21、焦点調節レンズ22、正立光学系
(ポロプリズム)23、焦点板24、接眼レンズ25を
備えている。焦点調節レンズ22は、光軸方向に可動で
あり、測定対象物6の距離に応じてその像を正しく焦点
板24に結像させるため、後述するAF機構4の駆動機
構45によって自動的に位置調整される。使用者は、焦
点板24に結像された像を接眼レンズ25を介して観察
することができる。なお本実施形態では、手動操作や電
動操作でも位置調節が行えるように、図示外のマニュア
ルフォーカス(MF)機構やパワーフォーカス(PF)
機構を備えている。
【0019】正立光学系(ポロプリズム)23には、対
物レンズ21からの光束のうち、一対の瞳範囲を通過し
た光束(AF用光束)をAFユニット43(後述する)
へ導く光路分割プリズム42が斜面に取り付けられてい
る。対物レンズ21からの光束のうち、上記AF用光束
以外の光束(光路分割プリズム42に入射しない光束)
は、ポロプリズム23に入射し、ポロプリズム23の反
射面で反射して焦点板24に導かれる。焦点板24上に
は、その中心に、視準の際の目印となる十字線ヘアライ
ン(視準線)24Aが描かれている。
【0020】測距機構3は、AF測量機1とは別個に形
成された図示外の反射プリズムを目標地点に設置し、測
距光を反射プリズムに向けて出射すると共に反射プリズ
ムからの反射光を受光して測距するプリズム方式と、反
射プリズムを使用せずに直接目標物に向けて測距光を出
射すると共に目標物からの反射光を受光して測距するノ
ンプリズム方式との両方行えるものであり、目標となる
測定対象物6の種類や特徴に応じて適宜選択することが
できる。
【0021】測距機構3には、光波距離計30が設けら
れている。光波距離計30は、視準望遠鏡2の対物レン
ズ21の後方に、送受光ミラー31と、測距光を反射し
可視光を透過する波長選択フィルタ32と、特定波長の
測距光(レーザー光)を発する発光素子33と、受光フ
ァイバ34と、受光素子35とを備えている。
【0022】送受光ミラー31は、対物レンズ21の光
軸上に位置する平行平面ミラーからなり、その対物レン
ズ21側の面が送光ミラー31A、波長選択フィルタ3
2側の面が受光ミラー31Bを構成している。発光素子
33から発せられた測距光は、コリメータレンズ33A
及び固定ミラー33Bを介して送光ミラー31Aに入射
し、送光ミラー31Aから測定対象物6に向けて送光さ
れ、対物レンズ21の光軸上を進む。
【0023】波長選択フィルタ32は、測定対象物6で
反射し対物レンズ21を透過した測距光をさらに反射さ
せて受光ミラー31Bに戻す作用をし、受光ミラー31
Bは、その反射光を受光ファイバ34の入射端面34A
に入射させる。受光ファイバ34は、入射端面34A側
がホルダ34Cで保持されており、ホルダ34Cは送受
光ミラー31とともに図示外の固定手段で対物レンズ2
1の後方空間に固定されている。
【0024】発光素子33と固定ミラー33Bとの間の
測距光路上には、切換ミラー36と送光用のアッテネー
タ37が配置されている。切換ミラー36は、発光素子
33からの測距光を固定ミラー33Bに与えるか、直接
受光ファイバ34の入射端面34Aに与えるかの切換を
行う。送光用アッテネータ37は、測定対象物6に送光
する測距光の光量調節を行う。
【0025】受光ファイバ34の出射端面34Bと受光
素子35との間には、集光レンズ35A、受光用アッテ
ネータ38、バンドパスフィルタ35Bが順に配置され
ている。受光素子35は、制御部5に接続されている。
なお、対物レンズ21上の一対の瞳範囲は、光波距離計
30の送受光ミラー31、受光ファイバ34、ホルダ3
4C及びこれらの支持部材や固定手段(ともに図示せ
ず)に干渉しないように設定されている。
【0026】以上のように構成された光波距離計30
は、周知のように、制御部5がアクチュエータ36Aを
介して切換ミラー36を駆動し、発光素子33からの測
距光を固定ミラー34Bに与える状態と、受光ファイバ
34の入射端面34に直接与える状態とを作り出す。固
定ミラー34Bに与えられた測距光は、上述のように、
送光ミラー31Aと対物レンズ21を介して測定対象物
6に投光され、その反射光が対物レンズ21、波長選択
フィルタ32及び受光ミラー31Bを介して入射端面3
4Aに入射する。そして、この測定対象物6で反射して
入射端面34Aに入射する測距光と、切換ミラー36を
介して入射端面34Aに直接与えられた内部参照光とが
受光素子35によって受光される。制御部5では、受光
素子35の出力に基づいて測距光と内部参照光との位相
差を検出し、測定対象物6までの距離を演算して、その
測距結果(距離データ)を測距結果表示器8に表示す
る。
【0027】AF機構4には、上述の光路分割プリズム
42と、該分割光路上に配置された位相差方式のAFユ
ニット43と、焦点調節レンズ22をモータにより移動
させる駆動機構45と、AF開始ボタン52などが備え
られている。
【0028】AFユニット43は、焦点板24と光学的
に等価な焦点検出面44の焦点状態、即ち、前ピン、後
ピン等のデフォーカス量を検出するもので、図2にその
概念図を示す。焦点検出面44上に結像する対物レンズ
21による物体像は、集光レンズ43A及び基線長だけ
離間して配置した一対のセパレータレンズ(結像レン
ズ)43Bによって分割され、この分割された一対の物
体像がAFセンサ(一対のCCDラインセンサ)43C
上に再結像する。AFセンサ43Cは、多数の光電変換
素子をライン上に配設したものであって、各光電変換素
子が受光した物体像を光電変換してその変換した電荷を
積分(蓄積)し、その蓄積した電荷をAFセンサデータ
(物体像データ)として制御部5へ出力する。
【0029】AF開始ボタン52は、制御部5によるA
F動作を1度だけ実行する単発フォーカスモードと、A
F動作を時系列的に複数回実行する連続フォーカスモー
ドとを、AF開始ボタン52をオンする回数(1回また
は2回)あるいはオンする時間の長さ(通常の押圧動作
または長押し動作)に応じて切り替えることができる。
本実施形態では、AF開始ボタン52が1回オンされた
とき単発フォーカスモードが設定され、AF開始ボタン
52が2回オンされるか若しくは長押しされたとき連続
フォーカスモードが設定される。
【0030】単発フォーカスモードが設定された場合
は、制御部5が、例えばAFユニット43の積分動作を
実行させて物体像データを入力し、この物体像データに
基づいて測距演算を行い、この演算結果に基づいて駆動
機構45を動作させて焦点調節レンズ22を移動させる
合焦処理を1度だけ行う。この合焦処理により合焦状態
が得られると、合焦ブザー55がなる。そして、AF動
作終了後、AF機構4の電源が自動的にオフになる。連
続フォーカスモードが設定された場合は、制御部5が、
上述の合焦処理が時系列的に複数回実行する。すなわ
ち、焦点調節レンズ22は、AFユニット43による焦
点検出時における合焦位置へ毎回移動される。従って、
測定対象物6が移動体であっても、次々に合焦動作を行
うことが可能である。このような合焦動作では、合焦状
態が得られる毎に、合焦ブザーが鳴動する。そして、最
後の合焦動作が完了した後にAF機構4の電源が自動的
にオフになる。
【0031】制御部5には、上述した受光素子35、A
Fセンサ43C、切換ミラー36のアクチュエータ36
A、測距結果表示器8、測距開始ボタン51、AF開始
ボタン52及び合焦ブザー55のほか、タイマー53、
デフォルト位置設定手段54及び測距終了ボタン56が
接続されている。使用者は、デフォルト位置設定手段5
4を介して、合焦状態を得られなかった場合に焦点調節
レンズ22を移動させるデフォルト位置を任意に設定す
ることができる。
【0032】制御部5は、AF制御方式として、物体像
検出(物体像データを利用する)方式と測距(距離デー
タを利用する)方式とを有し、測定対象物6に応じてい
ずれか一方を選択する。物体像検出方式は、測距機構3
の受光素子35の出力に基づいて距離データを求め、こ
の距離データに基づいて駆動機構45を動作させ、焦点
調節レンズ22を合焦位置へ移動させる方式であり、測
距方式は、AFユニット43のAFセンサ43Cから入
力した物体像データに基づいてデフォーカス演算を行
い、求めたデフォーカス量に基づいて駆動機構45を動
作させ、焦点調節レンズ22を合焦位置へ移動させる方
式である。
【0033】より具体的に説明すると、制御部5は、先
ず、物体像データ及び距離データを入力し、これら入力
データが信頼できるか否かを判断する。そして、表1に
示すように、両方とも信頼できると判断した場合または
距離データのみ信頼できると判断した場合は、優先的
に、検出精度の高い測距方式を選択する。これに対し、
物体像データのみ信頼できると判断した場合は、物体像
検出方式を選択し、両方とも信頼できないと判断した場
合は、デフォルト位置設定手段54を介して設定された
デフォルト位置へ焦点調節レンズ22を移動させる。
【0034】
【表1】
【0035】このように本実施形態では、測定対象物6
のコントラストが低い場合や反射率が高い場合など信頼
しうる物体像データを得られないときは、距離データに
基づいて焦点調整レンズ22を合焦位置へ移動させるの
で、AF精度を向上することができる。
【0036】次に、図3及び図4を参照し、AF測量機
1のAF動作について説明する。図3は、AF測量機1
のAF動作を示すフローチャートである。このAF動作
は、制御部5によって制御され、AF開始ボタン52が
オンされた時にAF機構4の電源がオンされて以下の処
理が実行される。この処理に入ると先ず、タイマー53
をクリアしてスタートさせ(S101)、焦点調節レン
ズ22を合焦位置へ移動させる合焦処理を実行する(S
102)。合焦処理を実行したら、合焦フラグがOKか
否かをチェックし(S103)、合焦フラグがOKであ
れば合焦ブザー55を鳴らして合焦状態である旨を報知
する(S103;Y、S104)。合焦フラグがOKで
なければ、駆動機構45を動作させ、デフォルト位置設
定手段54を介して設定されたデフォルト位置に焦点調
節レンズ22を移動させる(S103;N、S10
5)。
【0037】続いて、タイマー53を介して所定時間
(例えば、1分間)が経過したか否かをチェックし(S
106)、1分経過していなければ、現在のモードが連
続フォーカスであるか否かをチェックする(S106;
N、S107)。すなわち、S107では、AF開始ボ
タン52が2回オンされたか否かがチェックされる。連
続フォーカスモードであれば、S102へ戻る(S10
7;Y)。連続フォーカスモードでなければ、AF機構
4の電源をオフし、この処理から抜ける(S107;
N、S108)。一方、S106にて1分経過していた
ときは、AF機構4の電源をオフし、この処理から抜け
る(S106;Y、S109)。以上の処理により、単
発フォーカスモードが設定されている場合は、AF開始
ボタン52がオンされると1回だけAF動作が実行され
る。また、連続フォーカスモードが設定されている場合
は、AF開始ボタン52が2回オンされた時から1分間
経過するまで、連続してAF動作が行われる。
【0038】図4を参照し、S102で実行される合焦
処理について説明する。この処理に入ると先ず、受光素
子35の出力から距離データを求めると共に、AFユニ
ット43のAFセンサ43Cから物体像データを入力す
る(S1)。次に、S1で求めた距離データが読み取り
可能か否か(信頼できるか否か)をチェックする(S
2)。距離データが読み取り可能である場合は(S2;
Y)(表1(1)、(2))、距離データに基づき駆動
機構45を動作させて焦点調節レンズ22を合焦位置ま
で移動させ(S3、S4)、合焦フラグをOKにセット
してリターンする(S5)。
【0039】一方、距離データが読み取り可能でなかっ
た場合は、物体像データが読み取り可能であるか否か
(信頼できるか否か)をチェックする(S2;N、S
6)。距離データが読み取り可能ではなく且つ物体像デ
ータが読み取り可能であった場合は(S6;Y)(表1
(3))、物体像データに基づいてデフォーカス量を算
出し(S7)、算出したデフォーカス量に基づき駆動機
構45を動作させて焦点調節レンズ22を合焦位置まで
移動させ(S4)、合焦フラグをOKにセットしてリタ
ーンする(S5)。距離データ及び物体像データの両方
とも読み取り可能でなかった場合は(S6;N)(表1
(4))、駆動機構45を動作させ、デフォルト位置設
定手段54を介して設定されたデフォルト位置へ焦点調
節レンズ22を移動させ(S8)、合焦フラグをNGに
セットしてリターンする(S9)。
【0040】以上のように本実施形態では、信頼できる
距離データが得られている場合には、距離データが物体
像データよりも高精度であることから、距離データを用
いて合焦処理を行う。これにより、測定対象物が低コン
トラスト又は高反射率のため信頼できる物体像データが
得られない場合であっても、確実に合焦状態を得ること
ができる。また、測距不可能な距離などに測定対象物が
ある場合には、物体像データを用いて合焦動作を行うの
で、この場合にも合焦状態を得られるようになる。この
ようにAF精度が向上するから、AFに失敗するという
事態を大幅に減少でき、測設作業を迅速に完了させるこ
とができる。
【0041】以上の本実施形態では、反射プリズム(コ
ーナーキューブ)を目標物として使用せずに、測距動作
を行うことができる。反射プリズムを用いない測距で
は、測距点が不明瞭であったり、測距点を見誤ったりす
る虞があるが、本実施形態のように距離データを用いて
合焦動作を行えば、測距点に確実にピントを合わせるこ
とができる。これにより、反射プリズムを設置する作業
が不要となり、測距動作及びAF動作を一連の動作とし
てスムーズに行うことができる。
【0042】なお、図4に示す実施形態では、距離デー
タの取得作業と物体像データの取得作業とを同時に行う
ように構成してあるが、実施の合焦作業では、時系列的
に作業を行うので、例えば、図5に示すように、先に物
体像データの取り込み作業を行ってもよいし、図6に示
すように、先に距離データの取り込み作業を行ってもよ
い。
【0043】図7は、本発明を適用したAF測量機の第
2の実施形態を示している。AF測量機1’は、図1に
示すAF測量機1と略同様の構成であるが、設計値入力
手段7A、設計値距離手段7B、測距終了ボタン56及
びモード設定手段57をさらに備えている点でAF測量
機1とは異なる。AF測量機1’では、杭打ち測定モー
ド、直線n等分測定モード、逆打ち測定モード、幅杭設
置測定モード、連続杭打ち測定モード等の測定モード
を、使用者がモード設定手段57を介し択一的に選択す
ることができる。
【0044】設計値入力手段7Aは、使用者が設定した
設定値を入力して制御部5に出力する手段である。入力
される設定値は、測定モードに応じて異なる。すなわ
ち、杭打ち測定モードでは設定距離値が入力され、直線
n等分測定モードでは最長設定距離値と等分割するとき
の分割数nとが入力される。また、逆打ち測定モードで
は設定座標値が入力され、幅杭設置測定モードでは単距
離値と幅員数が入力される。設計値距離手段7Bは、使
用者が設定した所望の地点までの距離を測定し、該測定
値を制御部5に出力する手段である。例えば、直線n等
分測定モードでは基準距離値が入力され、幅杭設置測定
モードでは単距離値が入力される。
【0045】本実施形態は、例えば連続杭打ち測定モー
ドのような、測距動作を複数回連続して行わせるモード
が設定された場合に、測距動作に連動させてAF動作を
実行させることに特徴がある。すなわち、測距開始ボタ
ン51がオンした時に測距動作とAF動作とを同時に開
始させ、測距終了ボタン56がオンするまで測距動作及
びAF動作を所定の間隔で繰り返し実行させる。従っ
て、使用者は、測設作業中にAF開始ボタン52を動作
する必要がなくなり、ターゲットの追従操作に専念する
ことができる。これにより、測設作業を速やかに完了さ
せることができる。
【0046】次に、図8を参照し、AF測量機1’の連
続杭打ち測定作業について説明する。先ず、使用者は、
設計値入力手段7A又は設計値距離手段7Bを介して、
これから行う連続杭打ち測定作業での設定距離、その他
の設計上必要な各種データを制御部5へ入力する(SB
1)。なお、例えば杭打ち、逆杭打ち、直線N等分、幅
杭など他の測設作業を行う場合には、SB1の動作前
に、対応する測定モードをモード設定手段57により設
定しておく(SB0)。
【0047】設計値を入力したら、測距開始ボタン51
をオンする(SB2)。図8は連続杭打ち測定モードを
実行する場合であるため、測距開始ボタン51のオンに
よりトラッキング測距が開始され、これと同時に連続A
F動作(合焦動作)も開始される。このトラッキング測
距または連続AF動作のいずれかが実行されている間
に、視準操作を並行して行う(SB3)。この視準操作
では、ターゲットに対し視準望遠鏡2の向きが合ってい
ない場合に、視準望遠鏡2に付属した図示外の視準器か
ら測定対象物を覗き、手動により視準望遠鏡2の光軸を
概ねターゲットに合致させる。そして、ターゲットにピ
ントが合っている状態であれば、さらに、視準望遠鏡2
の光軸をターゲット中心に合致させる。
【0048】一方、トラッキング測距及び連続AF動作
が開始されると、制御部5は、AF機構4の1回のAF
動作が終了する毎に、合焦状態が得られたか否かをチェ
ックする(SB4)。合焦状態が得られなかった場合
は、デフォルト位置設定手段54を介して設定されたデ
フォルト位置へ焦点調節レンズ22を自動的に先回りさ
せる(SB4;N、SB5)。一方、合焦状態が得られ
た場合はSB5をスキップする(SB4;Y)。SB6
では、制御部5は、測距値が確定したか否かをチェック
する。測距値は、測定対象物6から測距に必要な光量の
測距光が反射したときに、確定する。測距値が確定した
場合は、確定した測距値及びこの測距値から設計値を減
算した較差が測距結果表示器8に表示される(SB6:
Y、SB7)。測距値が確定していない場合は、SB7
をスキップする(SB6;N)。使用者は、測距結果表
示器8に表示された較差により、現在のターゲット位置
が測設したい位置からどの程度ずれているかを認識でき
る。
【0049】以上のSB4〜SB7の動作は、測距終了
ボタン56がオンされるまで繰り返し実行される(SB
9;N)。すなわち、測距開始ボタン51がオンされた
時から測距終了ボタン56がオンされるまでの間は、測
距動作とAF動作が所定の間隔で繰り返し実行される。
【0050】そして、使用者は、測距結果表示器8に表
示された較差がゼロとなった時に、測設点にターゲット
が測設されたと認識し、測設作業を終了させるため測距
終了ボタン56をオン操作する(SB9;Y)。測距終
了ボタン56がオンすると、制御部5は、トラッキング
測距及び連続AF動を終了させる(SA10)。
【0051】以上のように第2の実施形態では、測距動
作を複数回連続して行わせる測定モードが設定されてい
る場合は、測距開始ボタン51をオンすると、測距動作
及びAF動作が同時に開始され、以降、自動的に繰り返
し実行される。これにより、使用者は、測設作業中にA
F開始ボタン52を操作する必要がなくなり、ターゲッ
トの追従操作に専念することができる。従って、測設作
業を速やかに完了させることができる。
【0052】なお、第2の実施形態においても、第1の
実施形態と同様に、距離データ又は物体像データのいず
れかに基づき、AF機構4のAF動作を実行させること
ができる。
【0053】以上、図示実施形態を参照して本発明を説
明したが、本発明のAF測量機は図示実施形態に限定さ
れるものではない。
【0054】
【発明の効果】本発明によれば、測設作業を迅速に完了
させることができ、信頼度と操作性の良好なAF測量機
を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用したAF機構付き測量機の第1実
施形態を示す概略構成図である。
【図2】AF機構の要部を示す図である。
【図3】図1に示す測量機のAF動作に関するフローチ
ャートである。
【図4】図1に示す測量機の合焦処理に関するフローチ
ャートである。
【図5】図4に示す合焦処理の変形例を示すフローチャ
ートである。
【図6】図4に示す合焦処理の他の変形例を示すフロー
チャートである。
【図7】本発明を適用したAF機構付き測量機の第2実
施形態を示す概略構成図である。
【図8】図7に示すAF機構付き測量機の動作の手順を
示すフローチャートである。
【図9】従来のトラッキング測定手順を示すフローチャ
ートである。
【符号の説明】
1 AF測量機 1’AF測量機 2 視準望遠鏡 3 測距機構 4 AF機構 5 制御部(判断手段、制御手段) 6 測定対象物 7A 設計値入力手段 7B 設計値距離手段 21 対物レンズ 22 焦点調節レンズ 23 正立光学系(ポロプリズム) 24 焦点板 25 接眼レンズ 30 光波距離計 31 送受光ミラー 32 波長選択フィルタ 33 発光素子 35 受光素子 36 切換ミラー 36A アクチュエータ 41 光源 42 光路分割プリズム 43 AFユニット(焦点検出機構) 43C AFセンサ 45 駆動機構 51 測距開始ボタン(操作部材) 52 AF開始ボタン 53 タイマー 54 デフォルト位置設定手段 55 合焦ブザー 56 測距終了ボタン 57 モード設定手段
フロントページの続き (72)発明者 高山 抱夢 東京都練馬区東大泉二丁目5番2号 旭精 密株式会社内 (72)発明者 星野 格久 東京都練馬区東大泉二丁目5番2号 旭精 密株式会社内 (72)発明者 谷内 孝徳 東京都練馬区東大泉二丁目5番2号 旭精 密株式会社内 (72)発明者 上野 政幸 東京都練馬区東大泉二丁目5番2号 旭精 密株式会社内 Fターム(参考) 2H051 AA00 BA04 CC02 DA02 DA11 DA31 DB01 DC01

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定対象物を視準する視準望遠鏡と、 測定対象物までの距離を測定して距離データを求める測
    距機構と、 測定対象物の焦点状態を検出して物体像データを求める
    焦点検出機構と、 上記距離データ又は物体像データのいずれかに基づき、
    視準望遠鏡の焦点調節レンズを合焦位置へ移動させるA
    F機構と、を備えたことを特徴とするAF測量機。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のAF測量機において、A
    F機構は、上記距離データ及び物体像データの信頼性を
    判断する判断手段を備え、上記距離データ及び物体像デ
    ータのうち、この判断手段によって信頼しうると判断さ
    れたデータに基づき、合焦動作を実行するAF測量機。
  3. 【請求項3】 請求項2記載のAF測量機において、A
    F機構は、上記判断手段によって距離データ及び物体像
    データの両方とも信頼しうると判断された場合は、距離
    データに基づいて合焦動作を実行するAF測量機。
  4. 【請求項4】 請求項2または3記載のAF測量機にお
    いて、AF機構は、判断手段によって距離データ及び物
    体像データの両方とも信頼できないと判断された場合
    は、焦点調節レンズをデフォルト位置へ移動させるAF
    測量機。
  5. 【請求項5】 測定対象物を視準する視準望遠鏡と、 測定対象物までの距離を測定する測距機構と、 視準望遠鏡の焦点調節レンズを合焦位置へ移動させるA
    F機構と、 上記測距機構の測距動作を複数回連続して行わせる連続
    測距モードを設定するモード設定手段と、 この連続測距モードが設定された場合は、上記AF機構
    による合焦動作を、測距機構の測距動作に連動させる制
    御手段と、を備えたことを特徴とするAF測量機。
  6. 【請求項6】 請求項5記載のAF測量機において、さ
    らに、測距機構の測距動作を開始させる操作部材を備
    え、 上記制御手段は、連続測距モードが設定されている場合
    は、上記操作部材が操作された時に測距動作とAF動作
    を同時に開始させ、この測距動作及びAF動作を所定の
    間隔で繰り返し実行させるAF測量機。
  7. 【請求項7】 請求項5または6記載のAF測量機にお
    いて、AF機構は、AF動作しても合焦状態を得られな
    かった場合は、焦点調節レンズをデフォルト位置へ移動
    させるAF測量機。
JP2001248696A 2000-09-11 2001-08-20 Af測量機 Withdrawn JP2002156230A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001248696A JP2002156230A (ja) 2000-09-11 2001-08-20 Af測量機

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000-274365 2000-09-11
JP2000274365 2000-09-11
JP2001248696A JP2002156230A (ja) 2000-09-11 2001-08-20 Af測量機

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002156230A true JP2002156230A (ja) 2002-05-31

Family

ID=26599612

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001248696A Withdrawn JP2002156230A (ja) 2000-09-11 2001-08-20 Af測量機

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002156230A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006003098A (ja) * 2004-06-15 2006-01-05 Topcon Corp 光波距離測定方法及び光波距離測定装置
JP2012255920A (ja) * 2011-06-09 2012-12-27 Nikon Corp 撮像装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006003098A (ja) * 2004-06-15 2006-01-05 Topcon Corp 光波距離測定方法及び光波距離測定装置
JP2012255920A (ja) * 2011-06-09 2012-12-27 Nikon Corp 撮像装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6891141B2 (en) Surveying instrument having an optical distance meter and an autofocus system, and a surveying instrument having a detachable autofocus system
US6765653B2 (en) Electronic distance meter
US6480266B2 (en) Autofocus distance-measuring optical system
US20050200949A1 (en) Surveying instrument
US6532059B2 (en) Surveying instrument having an optical distance meter
US6624402B2 (en) Surveying instrument, surveying instrument having AF function, surveying instrument having PF mechanism, and surveying instrument having multiple-focus function
JP3723721B2 (ja) 光波測距儀及びaf機能を有する光波測距儀
US6580495B2 (en) Surveying instrument having a phase-difference detection type focus detecting device and a beam-splitting optical system
US6469777B2 (en) Surveying instrument having an optical distance meter
JP2002156230A (ja) Af測量機
US6501541B2 (en) Electronic distance meter
JPH09243747A (ja) 測距装置
US6501540B2 (en) Surveying instrument having an optical distance meter
US6618126B2 (en) Surveying instrument having a sighting telescope and a phase-difference detection type focus detection device therefor
JP3069893B2 (ja) 測量機の合焦方法及び合焦装置
US6677568B2 (en) Surveying instrument having a phase-difference detection type focus detecting device
JP3154047B2 (ja) Af機能を有する測量機
JP3923996B2 (ja) Af機能を有する光波測距儀
JP2000221035A (ja) Af測量機用反射鏡
JP2003344046A (ja) 光波測距儀
JP2001324326A (ja) Af機能を有する測量機
JP2002071351A (ja) 測量機及びaf機能を有する測量機

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20040427

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040628

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050308

A711 Notification of change in applicant

Effective date: 20050310

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

A761 Written withdrawal of application

Effective date: 20050419

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761