JP2002076772A - 温度補償水晶発振器 - Google Patents

温度補償水晶発振器

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JP2002076772A
JP2002076772A JP2000256099A JP2000256099A JP2002076772A JP 2002076772 A JP2002076772 A JP 2002076772A JP 2000256099 A JP2000256099 A JP 2000256099A JP 2000256099 A JP2000256099 A JP 2000256099A JP 2002076772 A JP2002076772 A JP 2002076772A
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crystal oscillator
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circuit
oscillator
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JP2000256099A
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Hiroaki Mizumura
浩明 水村
Hirokatsu Tanaka
啓勝 田中
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Nihon Dempa Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Nihon Dempa Kogyo Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】雑音特性に優れて、表面実装用とした特に平面
外形を小さくした小型な温度補償発振器を提供する。 【解決手段】水晶振動子4とこれを除く発振回路からな
る水晶発振器5と、前記水晶発振器の発振周波数を調整
する周波数調整機構部16と、温度に応答して抵抗値の
変化する感温抵抗素子を含む温度補償素子からなり前記
水晶発振器の周波数温度特性を平坦にする温度補償回路
2とを有する温度補償水晶発振器において、前記水晶発
振器の発振閉ループに電圧可変容量素子3を挿入すると
ともに、少なくとも前記温度補償回路と水晶振動子とを
除く発振回路と周波数調整機構部とをICチップに集積
化し、前記周波数調整機構部を記憶回路20と周波数調
整電圧発生回路19とから形成し、前記記憶回路からの
信号に基づく前記周波数調整電圧発生回路からの周波数
調整電圧を前記電圧可変容量素子に印加して発振周波数
を調整する構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、温度に依存して抵
抗値の変化する感温抵抗素子を温度検出手段とした表面
実装用の温度補償水晶発振器(以下、温度補償発振器と
する)を産業上の技術分野とし、特に雑音特性を良好と
して小型化に適した温度補償発振器に関する。
【0002】
【従来の技術】(発明の背景)温度補償発振器は、温度
によって変化する発振周波数を補償して安定にすること
から、特に移動無線機器等の動的環境下で使用される電
子機器に広く採用されている。そして、近年の携帯電話
に代表されるように電子機器の小型化に基づき、発振回
路及び温度補償回路を集積化した1チップIC(LS
I)と水晶片とを容器に収容して表面実装用とした温度
補償発振器がある。
【0003】(従来技術の一例)第11図は従来例を説
明する温度補償発振器の概略したブロック回路図であ
る。温度補償発振器は電圧制御発振器1と温度補償回路
2からなる。電圧制御発振器1は水晶発振器の発振閉ル
ープ内に電圧可変容量素子3を挿入してなる。水晶発振
器は水晶振動子4及びこれを除く帰還増幅器等(未図
示)を含む発振回路5からなる。そして、周波数温度特
性を水晶振動子(ここではATカット)の切断角度に起
因して、低温側に極大値を、常温に変曲点を、高温側に
極大値を有する三次曲線とする(第12図の曲線イ)。
【0004】温度補償回路は、概ね、三次関数電圧発生
回路6、記憶回路7及び温度センサ8からなる。概略す
ると、三次関数電圧発生回路6は、前述した水晶発振器
の周波数温度特性に応答した補償電圧Vs(T)を発生す
る。補償電圧Vs(T)は例えば下式(1)によって設定さ
れる。各次数の係数α、β及びγは水晶発振器の周波数
温度特性を実測後の温度補償データによって決定され
る。但し、T0は変曲点温度(約27℃)、Tは周囲温度
である。 Vs(T)=α(T−T0)3+β(T−T0)+γ…(1)
【0005】記憶回路7は例えばPROMとして温度補
償データを保持する。温度補償データは制御端子を含む
書込端子a〜nからデジタル的に書き込まれる。温度セ
ンサ8は例えばICチップ内部に設けたPN接合領域に
おける順方向降下電圧の温度特性を利用し、周囲温度に
応答した検出電圧(温度検出信号)を発生する。
【0006】これらのものでは、温度センサ8による温
度検出信号によって周囲温度に依存した補償電圧Vs(T)
を発生し、電圧制御発振器1の電圧可変容量素子3に印
加する。電圧可変容量素子3は補償電圧Vs(T)によって
端子間容量が変化する。したがって、水晶振動子4から
見た回路側の直列等価容量(所謂負荷容量)が変化する
ので、温度に応答して発振周波数も変化し(第12図の
曲線ロ)、結局、温度補償される。
【0007】なお、(1)式の係数(定数項)γは常温
時(厳格には変曲点温度)の発振周波数を制御する。ま
た、図中の符号9は高周波阻止抵抗、Vccは電源、Vo
utは発振出力である。
【0008】このような温度補償発振器では、水晶振動
子4を除く電圧制御発振器1及び温度補償回路2が一点
鎖線で示すICチップ10に集積化される。したがっ
て、温度補償発振器は、基本的に、水晶振動子4とIC
チップ10の2素子になる。これにより、大幅な小型化
を達成できる。
【0009】一般には、積層セラミックからなる表面実
装容器11の一方の凹部底面に導電性接着剤12によっ
て水晶振動子4を形成する水晶片4aの一端部を固着
(保持)し、例えばシーム溶接によりカバー13を接合
して密閉封入する。そして、他方の凹部底面に超音波熱
圧着によってICチップ10をフェースダウンボンディ
ングする(第13図)。あるいは、表面実装容器11の
凹部底面にICチップ10を、段部に水晶片4aを保持
して密閉封入した構成とする(第14図)。
【0010】なお、図中の符号14はシーム溶接用の金
属リング、同15は保護用の充填材である。なお、スペ
ース及び必要に応じて、電源とアース間のバイパスコン
デンサ等のIC化が困難な大容量のコンデンサが収容さ
れる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】(従来技術の問題点)
しかしながら、上記構成の温度補償発振器では、温度補
償回路の温度検出手段として、前述のようにICチップ
内部に設けたPN接合領域における順方向降下電圧の温
度特性を利用する。すなわち、温度に対して電圧変化の
少ない温度特性を利用して、温度検出信号を形成する。
したがって、ICチップの内部に生ずるノイズ成分が検
出信号に対して相対的に大きくなって、雑音特性が劣化
する。また、微弱な検出信号を増幅して制御するので消
費電流が増える等の問題があった。
【0012】(発明の目的)本発明は、雑音特性に優れ
て、表面実装用とした特に平面外形を小さくした小型な
温度補償発振器を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】(着目点)本発明は、既
存の温度補償回路に採用される感温抵抗素子例えば温度
係数を負としたサーミスタを温度検出手段として、しか
も上記構成の一部を採用する点に即ち三次関数電圧発生
回路の定数項γによって発振周波数を調整する点に着目
した。
【0014】(解決手段)本発明は、水晶発振器の発振
閉ループに電圧可変容量素子を挿入するとともに、少な
くとも温度感温素子からなる温度補償回路と水晶振動子
とを除く発振回路と周波数調整機構部とをICチップに
集積化する。そして、周波数調整機構部を記憶回路と周
波数調整電圧発生回路とから形成し、記憶回路からの信
号に基づく周波数調整電圧発生回路からの周波数調整電
圧を電圧可変容量素子に印加して発振周波数を調整した
ことを第1の解決手段とする(請求項1)。
【0015】また、水晶振動子を形成する水晶片と第1
解決手段のICチップを表面実装容器内に収容し、表面
実装容器の裏面に設けた切欠部に温度補償回路(温度補
償素子)を配置したことを第2の解決手段とする(請求
項4)。
【0016】
【作用】本発明では、温度補償回路の温度検出手段とし
て従前同様に感温抵抗素子を使用するので、ICチップ
の内部雑音に対して温度検出信号のレベルを相対的に大
きくする。そして、周波数調整機構をICチップ内に集
積化したので、調整用のコンデンサを不要にする(第1
の解決手段)。
【0017】また、温度補償素子を表面実装容器の裏面
に設けた切欠部に配置したので平面外形を小さくできる
(第2の解決手段)。以下、本発明の実施例を異なる二
つの補償方式(請求項2、請求項3)を例として説明す
る。
【0018】
【第1実施例】第1図は本発明の第1実施例を説明する
温度補償発振器の概略的なブロック回路図である。な
お、前従来例図と同一部分には同番号を付与してその説
明は簡略又は省略する。温度補償発振器は、電圧制御発
振器1と温度補償回路2と周波数調整機構部16からな
る。電圧制御発振器1は前述同様に水晶発振器の発振閉
ループ内に電圧可変容量素子3を挿入してなる。温度補
償回路2は感温抵抗素子からなる感温抵抗回路網からな
る。ここでの感温抵抗素子は、温度上昇とともに抵抗値
の減少する負の温度係数を有するサーミスタとする。
【0019】感温抵抗回路網は、この例では第2図に示
したように水晶発振器の周波数温度特性に応答して極大
値以下の低温部、極大値から極小値間の常温を含む中温
部、及び極大値以上の高温部に応答して抵抗値の変化す
る3つのサーミスタ17(abc)からなる。そして、
周囲温度に応答する前述した補償電圧Vs(T)を発生し、
これを電圧可変容量素子3に印加する。符号18は特に
高温側の補償電圧を調整する高温補償調整抵抗である。
【0020】周波数調整機構部16は、周波数調整電圧
発生回路19と記憶回路20からなる。周波数調整電圧
発生回路16は記憶回路20からの信号によって調整電
圧を電圧可変容量素子3に印加し、発振周波数を調整す
る。記憶回路20は前述した(1)式の定数項γを決定
する周波数調整データを制御端子を含む書込端子a〜n
から書き込まれ、これを記憶して保持する。
【0021】このようなものでは、水晶振動子4に加え
て温度補償回路2をディスクリート部品で構成する。そ
して、一点鎖線で示したように、温度補償回路2及び水
晶振動子4を除く電圧制御発振器1及び周波数調整機構
部16をICチップ10に集積化する。そして、例えば
以下の構造とする。
【0022】すなわち、第3図に示したように、表面実
装容器11の凹部底面にICチップ10を例えば超音波
熱圧着によるフェースダウンボンディングにより、水晶
片4aの一端部を導電性接着剤12によって段部に固着
する。そして、裏面の両端側に設けた切欠部21(a
b)に温度補償回路2を形成するチップ素子からなる3
つのサーミスタ17(abc)及び高温補償調整抵抗1
8を配置する。ここでは、各サーミスタ17(abc)
に対して直列及び並列に接続されて、それぞれの温度抵
抗特性を調整する個々の感度調整抵抗は使用せず、予め
設定された常温抵抗値及びB定数のサーミスタ17(a
bc)を選択する。
【0023】表面実装容器11は、前述のように積層セ
ラミックからなり、この例では上枠11a、両端側に段
部を形成する中枠11b、及び両側に切欠部21(a
b)を有してエ字状とした底壁11cの三層構造とする
(第4図)。なお、切欠部21(ab)は両端側から段
部の下方に延出し、底壁の四隅裏面及び側面に実装電極
(未図示)が形成される。また、第5図は金属リングを
除く、表面実装容器の外観図である
【0024】このような構成であれば、温度補償回路2
の温度検出手段としてサーミスタ17を使用するので、
前述したPN接合の順方向降下電圧を使用する場合に比
較し、温度に対する抵抗変化(検出電圧)を大きくでき
る。したがって、ICチップ10の内部に生ずるノイズ
(内部雑音)を相対的に小さくする。このことから、温
度補償発振器の雑音特性を良好にできる。そして、検出
電圧(温度検出信号)をそのまま使用して増幅する必要
もないので消費電流を抑えることができる。
【0025】また、周波数調整機構16をICチップ1
0に集積化し、温度補償発振器の組立後に発振周波数を
書込信号によって、温度補償回路2とは別個に独立的に
調整する。したがって、周波数調整用のコンデンサを使
用する場合に比較し、小型化を促進する。なお、コンデ
ンサを使用することなく温度補償回路2からの補償電圧
Vs(T)によってのみ発振周波数をも調整する場合に比較
すると、温度補償回路2の設計(各素子値の選定)を容
易にする。
【0026】そして、この例では、素子値(常温抵抗値
及びB定数)が予め設定されたサーミスタ17(ab
c)を使用するので、個々の感度調整抵抗を不要にす
る。したがって、温度補償回路は低温、中温及び高温部
に応答した3つのサーミスタ17(abc)及び高温補
償調整抵抗18の4素子にでき、温度補償回路の温度補
償素子数を最小限にする。
【0027】これらのことから、表面実装容器11の裏
面側に設けた切欠部21(ab)に温度補償素子を配置
できて、特に平面外形を小さくできる。また、この例で
は、切欠部21(ab)を段部の下方に位置する底壁1
1cの両端部に設けたので、セラミックの積層数を増や
すことなく、高さ寸法を従来例と同程度に小さく維持で
きる。
【0028】
【第2実施例】第6図は本発明の第2実施例を説明する
温度補償発振器の概略的なブロック回路図である。な
お、第1実施例と同一部分の説明は省略する。すなわ
ち、第1実施例では従来例と同様に補償電圧Vs(T)を電
圧制御発振器1(電圧可変容量素子3)に印加して温度
補償する所謂間接法に適用した例を示したが、第2実施
例ではサーミスタとコンデンサの並列回路からなり、並
列回路の端子間容量(等価直列容量)の変化を利用した
所謂直接法に適用した例を示す。
【0029】温度補償発振器は、前述同様に電圧制御発
振器1と温度補償回路2と周波数調整機構部16からな
る。そして、温度補償回路2と水晶振動子4をディスク
リート部品とし、少なくとも温度補償回路2及び水晶振
動子4を除く電圧制御発振器1と周波数調整機構部16
をICチップに集積化する。
【0030】温度補償回路2は水晶振動子4に直列に接
続して、電圧制御発振器1の発振閉ループ内に挿入され
る。ここでは、第7図に示したように、それぞれがサー
ミスタ17H、17Lとコンデンサ22H、22Lの並列回
路からなる高温補償回路23Hと低温補償回路23Lを直
列接続して構成される。そして、水晶振動子4(水晶発
振器)の周波数温度特性は常温付近に変曲点を有する単
調増加の三次曲線に選択される。高温及び低温補償回路
はそれぞれが常温を基準とした高温及び低温領域の周波
数温度特性を独立的に温度補償する。
【0031】すなわち、高温補償回路23Hは温度上昇
とともにサーミスタ17Hの抵抗値が低下して端子間容
量が増加するので、発振周波数を矢印Aで示すように低
下させる。また、低温補償回路23Lは温度低下ととも
にサーミスタ17Lの抵抗値が増加して端子間容量が減
少するので、発振周波数を矢印Bで示すように高める方
向に作用する。したがって、水晶発振器の周波数温度特
性を平坦に補償する。なお、サーミスタ17Hの常温抵
抗値は高く、サーミスタ17Lの同抵抗値は小さくして
それぞれの動作を独立的にする。
【0032】そして、これらのものでは、前述したと同
様に表面実装容器11の凹部底面にICチップ10を固
着し、水晶片4aを段部に保持する。そして、裏面の切
欠部21(ab)に高温及び低温補償回路のサーミスタ
17H、17L及びコンデンサ22H、22Lを一組ずつ配
置する。サーミスタ17H、17Lは前述同様に予め設定
された素子値のものが選択され、感度調整抵抗は使用し
ない。
【0033】このような構成であれば、第1実施例と同
様に温度検出手段としてサーミスタ17を使用するので
温度に対する抵抗変化を大きくして、ICチップ10の
内部に生ずるノイズを相対的に小さくし、温度補償発振
器の雑音特性を良好にして消費電流を抑えられる。
【0034】また、周波数調整機構16をICチップ1
0に集積化して、発振周波数を書込信号によって調整す
る。したがって、例えば温度補償回路に接続した周波数
調整用のコンデンサを不要にして、小型化を促進する。
【0035】そして、この例でも、サーミスタ17H、
17Lは、感度調整抵抗を使用しないので最小限の素子
数とする(参照:特開平11-284436号公報)。これらの
ことから、表面実装容器11の裏面側に設けた切欠部2
1(ab)に温度補償素子を配置できて、特に平面外形
を小さくできる。
【0036】
【他の事項】上記各実施例では、サーミスタ17はチッ
プ素子としたが、例えば薄板上の電極間に印刷によって
サーミスタ母材を形成したものでもよい。この場合、サ
ーミスタ母材を切除して常温抵抗値を調整してもよい
(参照:前特開平11-284436号公報)。なお、切欠部1
6(ab)のスペース及び必要に応じて感度調整抵抗を
接続してもよい。
【0037】また、切欠部21(ab)は底壁11cの
長さ方向の両端側に設けたが、幅方向の両側に中間枠1
1bの枠幅を越えない範囲で設けてもよい(未図示)。
また、例えば平板とした底壁に下枠を設けて凹部を形成
し、感度調整抵抗を含むサーミスタ17(abc)等の
温度補償素子を配置してもよい(第9図)。また、サー
ミスタ母材24(abc)及び感度調整抵抗25(ab
c)が印刷によって形成された薄板26を配置し、サー
ミスタ17の調整範囲を広げてももよい。但し、積層数
が増えて高さが大きくなるので上記実施例の方が有利で
ある。
【0038】また、ICチップ10には温度補償回路2
及び水晶振動子4を除く電圧制御発振器1と周波数調整
機構部16を集積化したが、電圧制御発振器1の電圧可
変容量素子3は別個(ディスクリート)にして表面実装
発振器11の凹部底面に配置してもよい。なお、こうす
ることで、電圧可変容量素子3を容易に変えることがで
き、電圧可変容量素子3の電圧−容量特性の選択の自由
度を上げることができる。
【0039】また、これとは逆に、例えばAFC(周波
数自動制御)機構をICチップ10内に集積化してAF
C電圧を電圧可変容量素子3に印加するようにしてもよ
く、これらのICチップ10への集積化は本発明の趣旨
を逸脱しない範囲で必要に応じて選択できる。
【0040】また、表面実装容器11の底壁11cは、
切欠部21に配置されるチップ素子の高さ寸法等に応じ
て複数層としてもよい。これは、焼成前のセラミックシ
ートの厚みに制約があること等に起因する。また、切欠
部21が段部の内端に接近する場合は接合面の強度が低
下して亀裂等を生じるおそれがある。この場合には、例
えば底壁11cを上下層に分割し、上層は平板として下
層をエ字状とすればよい。但し、上層は下層に対して極
力薄くして(例えば1/3以下)高さ寸法を抑える。
【0041】また、表面実装容器11のカバーはシーム
溶接としたが、樹脂やガラスによる封止としてもよい。
また、感温抵抗素子は負の温度係数を有するサーミスタ
としたが、正の温度係数を有するポジスタであっても構
成できる。また、第1実施例での高温補償調整抵抗18
は水晶発振器の周波数温度特性等に応じて省略できる。
【0042】また、第1実施例では、感温抵抗網は低温
部、中温部及び高温部の3領域に分けてこれらに対応し
た3つのサーミスタから形成したが、これらは水晶振動
子(水晶発振器)の周波数温度特性や仕様規格温度に応
じて例えば低温部及び高温部の2領域に分けてこれに対
応した2つのサーミスタから形成してもよい。
【0043】
【発明の効果】本発明は、水晶発振器の発振閉ループに
電圧可変容量素子を挿入するとともに、少なくとも温度
感温素子からなる温度補償回路と水晶振動子とを除く発
振回路と周波数調整機構部とをICチップに集積化す
る。そして、周波数調整機構部を記憶回路と周波数調整
電圧発生回路とから形成し、記憶回路からの信号に基づ
く周波数調整電圧発生回路からの周波数調整電圧を電圧
可変容量素子に印加して発振周波数を調整する。また、
水晶振動子を形成する水晶片とICチップを表面実装容
器内に収容し、表面実装容器の裏面に設けた切欠部に温
度補償回路(温度補償素子)を配置したので、雑音特性
に優れて、表面実装用とした特に平面外形を小さくした
小型な温度補償発振器を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例を説明する温度補償発振器
(間接法)の概略的なブロック回路図である。
【図2】本発明の一実施例を説明する温度補償回路(補
償電圧発生回路)の図である。
【図3】本発明の一実施例に適用される温度補償発振器
の構造断面図である。
【図4】本発明の一実施例に適用される表面実装容器の
分解図である。
【図5】本発明の一実施例に適用される表面実装容器の
外観図である。
【図6】本発明の第2実施例を説明する温度補償発振器
(直接法)の概略的なブロック回路図である。
【図7】本発明の第2実施例を説明する温度補償回路の
回路図である。
【図8】本発明の第2実施例に適用する水晶発振器の周
波数温度特性図である。
【図9】本発明の各実施例に適用される温度補償発振器
の他の構造断面図である。
【図10】本発明の例えば第1実施例に適用される他の
例を示すサーミスタの図である。
【図11】従来例を説明する温度補償発振器の概略的な
ブロック回路図である。
【図12】従来例を説明する水晶発振器の周波数温度特
性図である。
【図13】従来例を説明する温度補償発振器の構造断面
図である。
【図14】従来例を説明する温度補償発振器の構造断面
図である。
【符号の説明】
1 電圧制御発振器、2 温度補償回路、3 電圧可変
容量素子、4 水晶振動子、9 高周波阻止抵抗、10
ICチップ、11 表面実装容器、12 導電性接着
剤、13 カバー、14 金属リング、15 充填材、
16 周波数調整機構部、17 サーミスタ、18 高
温補償調整抵抗、21 切欠部、22コンデンサ、23
補償回路、24 サーミスタ母材、25 感度調整抵
抗、26 薄板.

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】水晶振動子とこれを除く発振回路からなる
    水晶発振器と、前記水晶発振器の発振周波数を調整する
    周波数調整機構部と、温度に応答して抵抗値の変化する
    感温抵抗素子を含む温度補償素子からなり前記水晶発振
    器の周波数温度特性を平坦にする温度補償回路とを有す
    る温度補償水晶発振器において、前記水晶発振器の発振
    閉ループに電圧可変容量素子を挿入するとともに、少な
    くとも前記温度補償回路と水晶振動子とを除く発振回路
    と周波数調整機構部とをICチップに集積化し、前記周
    波数調整機構部を記憶回路と周波数調整電圧発生回路と
    から形成し、前記記憶回路からの信号に基づく前記周波
    数調整電圧発生回路からの周波数調整電圧を前記電圧可
    変容量素子に印加して発振周波数を調整することを特徴
    とする温度補償水晶発振器。
  2. 【請求項2】前記温度補償回路は前記感温抵抗素子を主
    とした感温抵抗網からなり、前記電圧可変容量素子に印
    加して前記水晶発振器の周波数温度特性を平坦にする補
    償電圧を発生する請求項1の温度補償水晶発振器。
  3. 【請求項3】前記温度補償回路は前記水晶発振器の発振
    閉ループに挿入される前記感温抵抗素子とコンデンサの
    並列回路からなり、温度に応答して前記並列回路の端子
    間容量を変化して前記水晶発振器の周波数温度特性を平
    坦にする請求項1の温度補償水晶発振器。
  4. 【請求項4】請求項1において、前記水晶振動子を形成
    する水晶片と前記ICチップを表面実装容器内に収容
    し、前記表面実装容器の裏面に切欠部を設け、前記切欠
    部に前記温度補償素子を配置したことを特徴とする温度
    補償発振器。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009089437A (ja) * 2009-01-13 2009-04-23 Kyocera Corp 表面実装型圧電発振器
KR100965468B1 (ko) * 2002-06-12 2010-06-24 니혼 뎀파 고교 가부시키가이샤 온도 보상 수정 발진기
JP2013016918A (ja) * 2011-06-30 2013-01-24 Kyocera Crystal Device Corp 圧電デバイス及び圧電デバイス用半導体部品

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