JP2002050271A - 温度ヒューズ - Google Patents

温度ヒューズ

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JP2002050271A
JP2002050271A JP2000238460A JP2000238460A JP2002050271A JP 2002050271 A JP2002050271 A JP 2002050271A JP 2000238460 A JP2000238460 A JP 2000238460A JP 2000238460 A JP2000238460 A JP 2000238460A JP 2002050271 A JP2002050271 A JP 2002050271A
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JP
Japan
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resistor
insulating substrate
thermal fuse
fuse
electrode pattern
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Application number
JP2000238460A
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English (en)
Inventor
Noriyuki Katsumoto
憲幸 勝本
Shinichi Kato
伸一 加藤
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Anzen Dengu KK
Original Assignee
Anzen Dengu KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 抵抗体からの熱伝導のタイムラグを改善し、
応答性に優れた温度ヒューズを提供する。 【解決手段】 抵抗体5とロジン系フラックス7が塗布
された可溶合金からなるヒューズ素体6とを、絶縁基板
2を挟んで対向する位置に配置し、スルーホール8と電
極パターン3A,4Aを介して直列に接続したので、過
電流により抵抗体5から発生する熱は、絶縁基板(板厚
1mm程度)2を介してヒューズ素体6に伝導されるの
で、抵抗体5からヒューズ素体6への熱伝導のタイムラ
グを小さくでき、応答性を向上させることができる温度
ヒューズ1。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は回路や部品に流れ
る過電流によって発生する過熱を保護するための温度ヒ
ューズに係り、特に抵抗体の発熱を感知して動作する温
度ヒューズに関する。
【0002】
【従来の技術】従来の温度ヒューズには、絶縁基板の片
面に複数の電極が形成されるとともに、電極間に抵抗体
およびヒューズ素体である可溶合金を形成し、抵抗体と
可溶合金を直列に接続して構成されたものが知られてい
る。
【0003】このように構成された温度ヒューズは、過
電流が流れると抵抗体が発熱して温度が上昇し、この温
度を感知してヒューズ素体が動作(可溶合金が溶解)
し、温度ヒューズが挿入されている回路ループが遮断さ
れる。
【0004】図4に従来の温度ヒューズの実施例を示
す。従来の温度ヒューズ50は、片面絶縁基板51上
に、電極52〜54が所定の間隔で形成され、電極52
と電極53の間に抵抗体55接合され、電極53と電極
54の間にヒューズ素体である可溶合金56が溶接さ
れ、1回路の温度ヒューズが構成される また、電極52,53および54には、それぞれ導体リ
ード57,58および59の一端が接合され、他端は外
部接続用のリードに用いられる。なお、外部接続用のリ
ードの一部以外は、例えば絶縁性の樹脂でコーティング
されて温度ヒューズ50が構成される。
【0005】このように構成された温度ヒューズ50
は、電気回路のループ内に挿入して使用され、電気回路
の短絡等により過電流が流れて抵抗体55が過熱状態に
なった時、この温度を感知して可溶合金56が融解する
ことによってループが遮断され、電気回路(例えば、電
子装置または電子部品等)が保護される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来の温度ヒューズ5
0は、抵抗体55とヒューズ素体である可溶合金56と
が片面絶縁基板51上に並べて配置されているが、抵抗
体55の一端と可溶金属56の一端とが隣り合わせで配
置されているため、過電流が流れて抵抗体55が過熱状
態になっても、抵抗体55から可溶合金56への熱伝導
にタイムラグがあるため、可溶合金56の溶解が遅れて
しまい、温度ヒューズとしての応答性が低下する課題が
ある。
【0007】この発明はこのような課題を解決するため
なされたもので、その目的は抵抗体からの熱伝導のタイ
ムラグを改善し、応答性に優れた温度ヒューズを提供す
ることにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
この発明に係る温度ヒューズは、抵抗体とロジン系フラ
ックスが塗布された可溶合金からなるヒューズ素体と
を、絶縁基板を挟んで対向する位置に配置し、スルーホ
ールと電極パターンを介して直列に接続したことを特徴
とする。
【0009】この発明に係る温度ヒューズは、抵抗体と
ロジン系フラックスが塗布された可溶合金からなるヒュ
ーズ素体とを、絶縁基板を挟んで対向する位置に配置
し、スルーホールと電極パターンを介して直列に接続し
たので、過電流により抵抗体から発生する熱は、絶縁基
板(板厚1mm程度)介してヒューズ素体に伝導される
ので、抵抗体からヒューズ素体への熱伝導のタイムラグ
を小さくでき、応答性を向上させることができる。
【0010】なお、抵抗体とヒューズ素体とを、絶縁基
板を挟んで対向する位置に配置したので、抵抗体とヒュ
ーズ素体とが絶縁基板の上下で重なり合う構成となり、
絶縁基板の面積を小さくして温度ヒューズの小型化を図
ることができる。
【0011】また、この発明に係る温度ヒューズの絶縁
基板は、セラミック基板またはガラスエポキシ基板であ
ることを特徴とする。
【0012】絶縁基板に、電気的特性や安定性に優れた
セラミック基板またはガラスエポキシ基板を用いたの
で、温度ヒューズの信頼性を向上させることができる。
【0013】さらに、この発明に係る温度ヒューズの電
極パターンは、印刷配線パターンで形成したことを特徴
とする。
【0014】電極パターンを印刷配線パターンで形成し
たので、温度ヒューズを効率的に生産することができ
る。
【0015】
【実施例】以下、この発明の実施例を添付図面に基づい
て説明する。図1はこの発明に係る温度ヒューズの実施
例内部構成図であり、(a)図に絶縁基板の表面から見
た構成図、(b)図に絶縁基板の裏面から見た構成図を
示す。図2は図1のA―A´の断面図、図3はコーティ
ング実装図である。温度ヒューズ1は、セラミックやガ
ラスエポキシ等の絶縁基板2の表面2Aに、電極パター
ン3Aと電極パターン3Bを一定の間隔で形成し、電極
パターン3Aと電極パターン3Bの間に抵抗体5を橋設
し、電極パターン3Bに導体リード9の一端を接合す
る。
【0016】一方、絶縁基板2の裏面2Bにも、電極パ
ターン4Aと電極パターン4Bを一定の間隔で形成し、
電極パターン4Aと電極パターン4Bの間にロジン系フ
ラックス7が塗布された可溶合金からなるヒューズ素体
6を橋設し、電極パターン4Aに導体リード10Bの一
端、電極パターン4Bに導体リード10Aの一端をそれ
ぞれ接合する。
【0017】電極パターン3A,3B,4A,4Bは、
例えばセラミックやガラスエポキシの絶縁基板の両面に
銅膜を貼り付けた銅貼り積層板に印刷配線技術を用いて
導体パターンを形成する。
【0018】ヒューズ素体6は低融点を有する可溶合金
で形成し、ロジン系フラックス7を塗布することによっ
て可溶合金の融解を促進させる。
【0019】図2に示すように、絶縁基板2の表面2A
に配置される抵抗体5と、絶縁基板2の裏面2Bに配置
されるヒューズ素体6とは、絶縁基板2を挟ん(絶縁基
板2の板厚)で対抗した位置に配置する。
【0020】また、絶縁基板2の表面2Aの電極パター
ン3Aと、絶縁基板2の裏面2Bの電極パターン4Aと
の絶縁基板2を挟んで重なり合う部分に穴を開けてスル
ーホール8を形成し、このスルーホール8を介して電極
パターン3Aと電極パターン4Aを電気的に導通する。
なお、スルーホールの穴径は、例えばφ0. 2〜5. 0
mmとする。
【0021】電極パターン3Aと電極パターン4Aをス
ルーホール8で接続することにより、抵抗体5とヒュー
ズ素体6とが直列に接続される。
【0022】図1および図2に示す内部構成全体に、導
体リード9,10Aおよび10Bの外部接続部を除いて
図3に示すシリコン樹脂等の絶縁被覆11でコーティン
グを施して温度ヒューズ1が構成される。
【0023】次に、温度ヒューズ1の動作について説明
する。温度ヒューズ1を電気回路のループに挿入する
と、電気回路が正常な場合には、導電リード9→電極パ
ターン3B→抵抗体5→電極パターン3A→スルーホー
ル8→電極パターン4A→ヒューズ素体6→電極パター
ン4B→導電リード10Aの経路または逆の経路で正常
電流が流れる。
【0024】電気回路に短絡等の事故が発生し、温度ヒ
ューズ1に上記の経路で過電流が流れると、抵抗体5の
抵抗値(r)と過電流(Ia)とにより、抵抗体5に電
力消費(=r×Ia)が生じ、抵抗体5から消費電力
に応じた熱を発生する。
【0025】抵抗体5から発生した熱が絶縁基板2を介
して反対側にあるヒューズ素体6に最短距離(絶縁基板
の厚み)で伝導され、ヒューズ素体6を構成する可溶合
金を溶解して電極パターン4Aと電極パターン4B間を
電気的に遮断する。
【0026】この時、電気回路に過電流が流れると抵抗
体5が過熱され、この熱がヒューズ素体6にタイムラグ
が小さく伝導されるため、温度ヒューズ1の動作の応答
性を向上させることができる。
【0027】このように、この発明に係る温度ヒューズ
1は、抵抗体5とロジン系フラックス7が塗布された可
溶合金からなるヒューズ素体6とを、絶縁基板2を挟ん
で対向する位置に配置し、スルーホール8と電極パター
ン3A,4Aを介して直列に接続したので、過電流によ
り抵抗体5から発生する熱は、絶縁基板(板厚1mm程
度)2を介してヒューズ素体6に伝導されるので、抵抗
体5からヒューズ素体6への熱伝導のタイムラグを小さ
くでき、応答性を向上させることができる。
【0028】また、抵抗体5とヒューズ素体6とを、絶
縁基板2を挟んで対向する位置に配置したので、抵抗体
5とヒューズ素体6とが絶縁基板2の上下で重なり合う
ため、絶縁基板2の面積を小さくして温度ヒューズ1の
小型化を図ることができる。
【0029】さらに、絶縁基板2に、電気的特性や安定
性に優れたセラミック基板またはガラスエポキシ基板を
用いたので、温度ヒューズ1の信頼性を向上させること
ができる。
【0030】また、電極パターン3A,3B,4A,4
Bを印刷配線パターンで形成したので、温度ヒューズ1
を効率的に生産することができる。
【0031】
【発明の効果】この発明によれば、過電流により抵抗体
から発生する熱は、絶縁基板を介してヒューズ素体に速
やかに伝導されるので、抵抗体からヒューズ素体への熱
伝導のタイムラグを小さくでき、応答性を向上させるこ
とができる。
【0032】また、セラミックやガラスエポキシの絶縁
基板を用いたので、温度ヒューズの信頼性を高くすると
ともに、印刷配線技術を用いて効率的な生産ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る温度ヒューズの実施例内部構成
【図2】図1のA―A´の断面図
【図3】コーティング実装図
【図4】従来の温度ヒューズの実施例
【符号の説明】
1 温度ヒューズ 2 絶縁基板 2A 絶縁基板(表面) 2B 絶縁基板(裏面) 3A,3B 電極パターン(表面) 4A,4B 電極パターン(裏面) 5 抵抗体 6 ヒューズ素体(可溶合金) 7 ロジン系フラックス 8 スルーホール 9 導体リード(表面) 10A,10B 導体リード(裏面) 11 絶縁被覆

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回路に流れる過電流により発生する熱を
    感知して動作し、回路を遮断する温度ヒューズにおい
    て、 抵抗体(5)とロジン系フラックス(7)が塗布された
    可溶合金からなるヒューズ素体(6)とを、絶縁基板
    (2)を挟んで対向する位置に配置し、スルーホール
    (8)と電極パターン(3A〜4B)を介して直列に接
    続したことを特徴とする温度ヒューズ。
  2. 【請求項2】 前記絶縁基板(2)は、セラミック基板
    またはガラスエポキシ基板であることを特徴とする請求
    項1記載の温度ヒューズ。
  3. 【請求項3】 前記電極パターン(3A〜4B)は、印
    刷配線パターンで形成したことを特徴とする請求項1記
    載の温度ヒューズ。
JP2000238460A 2000-08-07 2000-08-07 温度ヒューズ Pending JP2002050271A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103203568A (zh) * 2013-03-03 2013-07-17 石盛华 一种快速收缩助熔断剂
KR20160107466A (ko) 2015-03-04 2016-09-19 현대자동차주식회사 열전도형 레지스터 및 이를 적용한 냉각팬

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