JP2002034970A - マルチ・スライスｃｔ走査の螺旋再構成の方法及び装置 - Google Patents
マルチ・スライスｃｔ走査の螺旋再構成の方法及び装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 マルチ・スライスＣＴイメージング・システ
ムを用いて螺旋走査された医用ＣＴ画像を取得して再構
成する方法及び装置を提供する。 【解決手段】 マルチ・スライス計算機式断層撮影
（ＣＴ）イメージング・システムによって物体を螺旋走
査して、物体の再構成平面での投影の推定のために２つ
よりも多い共役サンプルを含む物体の減弱測定値を取得
し、これら２つよりも多い共役サンプルを含む物体の減
弱測定値をフィルタ処理及び逆投影して、物体の少なく
とも一つの画像スライスを再構成する。これにより、走
査時に得られる減弱サンプルのサンプリング・パターン
が向上して、減弱サンプルをよりよく利用することが可
能になる。
ムを用いて螺旋走査された医用ＣＴ画像を取得して再構
成する方法及び装置を提供する。 【解決手段】 マルチ・スライス計算機式断層撮影
（ＣＴ）イメージング・システムによって物体を螺旋走
査して、物体の再構成平面での投影の推定のために２つ
よりも多い共役サンプルを含む物体の減弱測定値を取得
し、これら２つよりも多い共役サンプルを含む物体の減
弱測定値をフィルタ処理及び逆投影して、物体の少なく
とも一つの画像スライスを再構成する。これにより、走
査時に得られる減弱サンプルのサンプリング・パターン
が向上して、減弱サンプルをよりよく利用することが可
能になる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は一般的には、計算機
式断層撮影（ＣＴ）撮像のための方法及び装置に関し、
より具体的には、マルチ・スライスＣＴイメージング・
システムを用いて螺旋走査（ヘリカル・スキャン）され
た医用ＣＴ画像を取得して再構成する方法及び装置に関
する。
式断層撮影（ＣＴ）撮像のための方法及び装置に関し、
より具体的には、マルチ・スライスＣＴイメージング・
システムを用いて螺旋走査（ヘリカル・スキャン）され
た医用ＣＴ画像を取得して再構成する方法及び装置に関
する。
【０００２】
【発明の背景】少なくとも１つの公知の計算機式断層撮
影（ＣＴ）イメージング・システム構成においては、Ｘ
線源がファン（扇形）形状のビームを投射し、このビー
ムは、デカルト座標系のＸＹ平面であって、一般に「イ
メージング（撮像）平面」と呼ばれる平面内に位置する
ようにコリメートされる。Ｘ線ビームは、患者等のイメ
ージングされている物体を通過する。ビームは、物体に
よって減弱された後に、放射線検出器の配列（アレイ）
に入射する。検出器アレイの所で受け取られる減弱した
ビーム放射線の強度は、物体によるＸ線ビームの減弱量
に依存している。アレイ内の各々の検出器素子は、検出
器の位置におけるビーム減弱の測定値である別個の電気
信号を発生する。すべての検出器からの減弱測定値が別
個に取得されて、透過プロファイルを形成する。
影（ＣＴ）イメージング・システム構成においては、Ｘ
線源がファン（扇形）形状のビームを投射し、このビー
ムは、デカルト座標系のＸＹ平面であって、一般に「イ
メージング（撮像）平面」と呼ばれる平面内に位置する
ようにコリメートされる。Ｘ線ビームは、患者等のイメ
ージングされている物体を通過する。ビームは、物体に
よって減弱された後に、放射線検出器の配列（アレイ）
に入射する。検出器アレイの所で受け取られる減弱した
ビーム放射線の強度は、物体によるＸ線ビームの減弱量
に依存している。アレイ内の各々の検出器素子は、検出
器の位置におけるビーム減弱の測定値である別個の電気
信号を発生する。すべての検出器からの減弱測定値が別
個に取得されて、透過プロファイルを形成する。
【０００３】公知の第３世代ＣＴシステムでは、Ｘ線源
及び検出器アレイは、Ｘ線ビームが物体と交差する角度
が定常的に変化するように、撮像平面内で撮像されるべ
き物体の周りをガントリと共に回転する。１つのガント
リ角度における検出器アレイからの一群のＸ線減弱測定
値すなわち投影データを「ビュー」と呼ぶ。物体の「走
査（スキャン）」は、Ｘ線源及び検出器が１回転する間
に様々なガントリ角度すなわちビュー角度において形成
される一組のビューで構成される。アキシャル・スキャ
ン（軸方向走査）の場合には、投影データを処理して、
物体を通して得られる２次元スライスに対応する画像を
構成する。ヘリカル・スキャンの場合には、物体を載置
したテーブルが移動して、物体が走査されている間に物
体自体が撮像平面を通過して移動するようにする。マル
チ・スライスＣＴイメージング・システムは、物体の１
つ又はこれよりも多い２次元画像スライスに対応する減
弱測定値を取得するように構成されている複数の平行な
検出器行を有する。画像スライスの数及びこれらのスラ
イスによって表わされる厚みは、平行な検出器からの減
弱測定値がどのように組み合わされているか（及び組み
合わされているか否か）に依存する。
及び検出器アレイは、Ｘ線ビームが物体と交差する角度
が定常的に変化するように、撮像平面内で撮像されるべ
き物体の周りをガントリと共に回転する。１つのガント
リ角度における検出器アレイからの一群のＸ線減弱測定
値すなわち投影データを「ビュー」と呼ぶ。物体の「走
査（スキャン）」は、Ｘ線源及び検出器が１回転する間
に様々なガントリ角度すなわちビュー角度において形成
される一組のビューで構成される。アキシャル・スキャ
ン（軸方向走査）の場合には、投影データを処理して、
物体を通して得られる２次元スライスに対応する画像を
構成する。ヘリカル・スキャンの場合には、物体を載置
したテーブルが移動して、物体が走査されている間に物
体自体が撮像平面を通過して移動するようにする。マル
チ・スライスＣＴイメージング・システムは、物体の１
つ又はこれよりも多い２次元画像スライスに対応する減
弱測定値を取得するように構成されている複数の平行な
検出器行を有する。画像スライスの数及びこれらのスラ
イスによって表わされる厚みは、平行な検出器からの減
弱測定値がどのように組み合わされているか（及び組み
合わされているか否か）に依存する。
【０００４】一組の投影データから画像を再構成する一
つの方法は、当業界でフィルタ補正逆投影（filtered b
ack projection）法と呼ばれている。この手法は、走査
からの減弱測定値を「ＣＴ数」又は「ハンスフィールド
(Hounsfield)単位」と呼ばれる整数へ変換し、これらの
整数を用いて、陰極線管表示装置上の対応するピクセル
の輝度を制御するものである。
つの方法は、当業界でフィルタ補正逆投影（filtered b
ack projection）法と呼ばれている。この手法は、走査
からの減弱測定値を「ＣＴ数」又は「ハンスフィールド
(Hounsfield)単位」と呼ばれる整数へ変換し、これらの
整数を用いて、陰極線管表示装置上の対応するピクセル
の輝度を制御するものである。
【０００５】マルチ・スライスＣＴ用の螺旋再構成アル
ゴリズムは、多くの研究の焦点となっている。一つの公
知のＣＴイメージング・システムにおいては、再構成ア
ルゴリズムが３：１及び６：１という２つの特殊な螺旋
ピッチについて具現化されている。このアルゴリズム
は、異なる検出器行からの２つの共役サンプルを利用し
て、線形補間を用いて再構成平面での投影サンプルを推
定する。この方法は多くの場合にうまく作用するが、幾
つかの短所を有している。第一に、再構成平面の両側で
２つのサンプルしか選択されないので、サンプリング・
パターンが最適であるとは限らない。例えば、再構成平
面にさらに近接しているが、平面の同じ側に位置してい
るようなサンプルは利用されない。第二に、３：１の螺
旋ピッチは、最初の検出器行と最後の検出器行とが同一
の射線経路を測定するので投影サンプリングとして最適
ではなく、取得される非冗長的な情報の量が減少する。
実際に、一つの公知の螺旋再構成の具現化形態では、再
構成を行なう前に、これら２つの行によって測定された
投影（較正後）を先ず加算している。第三に、線形補間
はサンプリングされたデータの高周波数情報を抑制する
ので、元の物体の（ｚ軸に沿った）鮮鋭な構造が抑制さ
れて、劣化したスライス感度プロファイルが得られる。
ゴリズムは、多くの研究の焦点となっている。一つの公
知のＣＴイメージング・システムにおいては、再構成ア
ルゴリズムが３：１及び６：１という２つの特殊な螺旋
ピッチについて具現化されている。このアルゴリズム
は、異なる検出器行からの２つの共役サンプルを利用し
て、線形補間を用いて再構成平面での投影サンプルを推
定する。この方法は多くの場合にうまく作用するが、幾
つかの短所を有している。第一に、再構成平面の両側で
２つのサンプルしか選択されないので、サンプリング・
パターンが最適であるとは限らない。例えば、再構成平
面にさらに近接しているが、平面の同じ側に位置してい
るようなサンプルは利用されない。第二に、３：１の螺
旋ピッチは、最初の検出器行と最後の検出器行とが同一
の射線経路を測定するので投影サンプリングとして最適
ではなく、取得される非冗長的な情報の量が減少する。
実際に、一つの公知の螺旋再構成の具現化形態では、再
構成を行なう前に、これら２つの行によって測定された
投影（較正後）を先ず加算している。第三に、線形補間
はサンプリングされたデータの高周波数情報を抑制する
ので、元の物体の（ｚ軸に沿った）鮮鋭な構造が抑制さ
れて、劣化したスライス感度プロファイルが得られる。
【０００６】従って、公知の画像再構成システムの上述
の短所を克服したマルチ・スライスＣＴイメージング・
システムの螺旋再構成の方法及び装置を提供することが
望ましい。
の短所を克服したマルチ・スライスＣＴイメージング・
システムの螺旋再構成の方法及び装置を提供することが
望ましい。
【０００７】
【発明の概要】従って、本発明の一実施形態では、計算
機式断層撮影（ＣＴ）イメージング・システムによって
物体を撮像する方法が提供され、この方法は、マルチ・
スライスＣＴイメージング・システムによって物体を螺
旋走査して、物体の再構成平面での投影の推定のために
２つよりも多い共役サンプルを含む物体の減弱測定値を
取得する工程と、これら２つよりも多い共役サンプルを
含む物体の減弱測定値をフィルタ処理及び逆投影して、
物体の少なくとも一つの画像スライスを再構成する工程
とを含んでいる。
機式断層撮影（ＣＴ）イメージング・システムによって
物体を撮像する方法が提供され、この方法は、マルチ・
スライスＣＴイメージング・システムによって物体を螺
旋走査して、物体の再構成平面での投影の推定のために
２つよりも多い共役サンプルを含む物体の減弱測定値を
取得する工程と、これら２つよりも多い共役サンプルを
含む物体の減弱測定値をフィルタ処理及び逆投影して、
物体の少なくとも一つの画像スライスを再構成する工程
とを含んでいる。
【０００８】この実施形態及びその他の実施形態によっ
て、他の利点の中でも特に、走査時に得られる減弱サン
プルのサンプリング・パターンが向上して、減弱サンプ
ルをよりよく利用することが可能になる。
て、他の利点の中でも特に、走査時に得られる減弱サン
プルのサンプリング・パターンが向上して、減弱サンプ
ルをよりよく利用することが可能になる。
【０００９】
【発明の実施の形態】図１及び図２には、計算機式断層
撮影（ＣＴ）イメージング・システム１０が、「第３世
代」ＣＴスキャナに典型的なガントリ１２を含んでいる
ものとして示されている。ガントリ１２はＸ線源１４を
有しており、Ｘ線源１４は、Ｘ線ビーム１６をガントリ
１２の対向する側に設けられている検出器アレイ１８に
向かって投射する。検出器アレイ１８は検出器素子２０
によって形成されており、検出器素子２０は一括で、物
体２２、例えば患者を通過する投射Ｘ線を感知する。検
出器アレイ１８はシングル・スライス構成で作製されて
いてもよいし、又はマルチ・スライス構成で作製されて
いてもよい。各々の検出器素子２０は、入射Ｘ線ビーム
の強度を表わし、従って患者２２を通過する際のビーム
の減弱を表わす電気信号を発生する。Ｘ線投影データを
取得するための１回の走査の間に、ガントリ１２及びガ
ントリ１２に装着されている構成部品は、回転中心２４
の周りを回転する。
撮影（ＣＴ）イメージング・システム１０が、「第３世
代」ＣＴスキャナに典型的なガントリ１２を含んでいる
ものとして示されている。ガントリ１２はＸ線源１４を
有しており、Ｘ線源１４は、Ｘ線ビーム１６をガントリ
１２の対向する側に設けられている検出器アレイ１８に
向かって投射する。検出器アレイ１８は検出器素子２０
によって形成されており、検出器素子２０は一括で、物
体２２、例えば患者を通過する投射Ｘ線を感知する。検
出器アレイ１８はシングル・スライス構成で作製されて
いてもよいし、又はマルチ・スライス構成で作製されて
いてもよい。各々の検出器素子２０は、入射Ｘ線ビーム
の強度を表わし、従って患者２２を通過する際のビーム
の減弱を表わす電気信号を発生する。Ｘ線投影データを
取得するための１回の走査の間に、ガントリ１２及びガ
ントリ１２に装着されている構成部品は、回転中心２４
の周りを回転する。
【００１０】ガントリ１２の回転及びＸ線源１４の動作
は、ＣＴシステム１０の制御機構２６によって制御され
ている。制御機構２６は、Ｘ線制御器２８とガントリ・
モータ制御器３０とを含んでおり、Ｘ線制御器２８はＸ
線源１４に電力信号及びタイミング信号を供給し、ガン
トリ・モータ制御器３０はガントリ１２の回転速度及び
位置を制御する。制御機構２６内に設けられているデー
タ取得システム（ＤＡＳ）３２が検出器素子２０からの
アナログ・データをサンプリングして、後続の処理のた
めにこのデータをディジタル信号へ変換する。画像再構
成器３４が、サンプリングされてディジタル化されたＸ
線データをＤＡＳ３２から受け取って高速画像再構成を
実行する。再構成された画像はコンピュータ３６への入
力として印加され、コンピュータ３６は大容量記憶装置
３８に画像を記憶させる。
は、ＣＴシステム１０の制御機構２６によって制御され
ている。制御機構２６は、Ｘ線制御器２８とガントリ・
モータ制御器３０とを含んでおり、Ｘ線制御器２８はＸ
線源１４に電力信号及びタイミング信号を供給し、ガン
トリ・モータ制御器３０はガントリ１２の回転速度及び
位置を制御する。制御機構２６内に設けられているデー
タ取得システム（ＤＡＳ）３２が検出器素子２０からの
アナログ・データをサンプリングして、後続の処理のた
めにこのデータをディジタル信号へ変換する。画像再構
成器３４が、サンプリングされてディジタル化されたＸ
線データをＤＡＳ３２から受け取って高速画像再構成を
実行する。再構成された画像はコンピュータ３６への入
力として印加され、コンピュータ３６は大容量記憶装置
３８に画像を記憶させる。
【００１１】コンピュータ３６はまた、キーボードを有
するコンソール４０を介して操作者からコマンド（命
令）及び走査用パラメータを受け取る。付設されている
陰極線管表示器４２によって、操作者は、再構成された
画像及びコンピュータ３６からのその他のデータを観測
することができる。操作者が供給したコマンド及びパラ
メータはコンピュータ３６によって用いられて、ＤＡＳ
３２、Ｘ線制御器２８及びガントリ・モータ制御器３０
に制御信号及び情報を供給する。加えて、コンピュータ
３６は、モータ式テーブル４６を制御するテーブル・モ
ータ制御器４４を動作させて、患者２２をガントリ１２
内で配置する。具体的には、テーブル４６は患者２２の
各部分をガントリ開口４８を通して移動させる。ヘリカ
ル・スキャン時には、この移動は走査が行なわれている
間に生ずる。
するコンソール４０を介して操作者からコマンド（命
令）及び走査用パラメータを受け取る。付設されている
陰極線管表示器４２によって、操作者は、再構成された
画像及びコンピュータ３６からのその他のデータを観測
することができる。操作者が供給したコマンド及びパラ
メータはコンピュータ３６によって用いられて、ＤＡＳ
３２、Ｘ線制御器２８及びガントリ・モータ制御器３０
に制御信号及び情報を供給する。加えて、コンピュータ
３６は、モータ式テーブル４６を制御するテーブル・モ
ータ制御器４４を動作させて、患者２２をガントリ１２
内で配置する。具体的には、テーブル４６は患者２２の
各部分をガントリ開口４８を通して移動させる。ヘリカ
ル・スキャン時には、この移動は走査が行なわれている
間に生ずる。
【００１２】本発明の一実施形態では、再構成平面（Ｐ
ＯＲ；plane of reconstruction ）での投影の推定のた
めに２つよりも多い共役サンプルを用いることにより、
公知のＣＴ画像再構成システムの様々な短所を克服す
る。この実施形態では、サンプリング・パターンが支持
するだけの多数のサンプルを用いる。サンプルはＰＯＲ
から所定の距離の範囲内に位置している。この実施形態
のもう一つの特徴は、検出器の行数よりも数値的に少な
いピッチで非整数ピッチのヘリカル・スキャンを行なう
ことである。換言すると、検出器の行数がＮである場合
にピッチＰ：１を用い、Ｐは非整数であって且つＰ＜Ｎ
とする。例えば、４つの検出器行を有する一実施形態で
は、２．５：１のピッチを用いて、重複したサンプルを
取得しないようにする。この実施形態のさらにもう一つ
の特徴は、非線形補間法を用いて高周波数画像成分を保
存することである。適当な非線形補間の実例としては、
特に、ラグランジュ補間及び加重付き補間−補外があ
る。補間は、フィルタ補正逆投影の前に投影に加重する
ことにより行なわれる。
ＯＲ；plane of reconstruction ）での投影の推定のた
めに２つよりも多い共役サンプルを用いることにより、
公知のＣＴ画像再構成システムの様々な短所を克服す
る。この実施形態では、サンプリング・パターンが支持
するだけの多数のサンプルを用いる。サンプルはＰＯＲ
から所定の距離の範囲内に位置している。この実施形態
のもう一つの特徴は、検出器の行数よりも数値的に少な
いピッチで非整数ピッチのヘリカル・スキャンを行なう
ことである。換言すると、検出器の行数がＮである場合
にピッチＰ：１を用い、Ｐは非整数であって且つＰ＜Ｎ
とする。例えば、４つの検出器行を有する一実施形態で
は、２．５：１のピッチを用いて、重複したサンプルを
取得しないようにする。この実施形態のさらにもう一つ
の特徴は、非線形補間法を用いて高周波数画像成分を保
存することである。適当な非線形補間の実例としては、
特に、ラグランジュ補間及び加重付き補間−補外があ
る。補間は、フィルタ補正逆投影の前に投影に加重する
ことにより行なわれる。
【００１３】図３を参照して一実施形態について述べる
と、４つの検出器行Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ４を有する
システム１０を２．５：１の螺旋ピッチで用いる。投影
ビュー角度、検出器角度及び検出器行の関数としてのサ
ンプリング・パターンが図示されている。β１、β２、
β３及びβ４は、対応する検出器行Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及
びＲ４がＰＯＲ（図示されていない）と交差するビュー
角度を表わしている。選択された螺旋ピッチが如何なる
ものであっても角度の間の相対的な角度スパンのみが重
要であるので、上述の角度は任意に選択される。この実
施形態の場合には、ＰＯＲに交差する隣接する行の間の
角度距離は０．８πである。図３では、領域ＲＥＧ１、
ＲＥＧ６及びＲＥＧ１１におけるサンプルがπ又は２π
のいずれかだけビュー角度が異なっているので、これら
の領域が共役領域の例となっている。再構成平面での各
々の投影サンプルを、３つの共役領域から選択した共役
サンプルに基づいて推定する。
と、４つの検出器行Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ４を有する
システム１０を２．５：１の螺旋ピッチで用いる。投影
ビュー角度、検出器角度及び検出器行の関数としてのサ
ンプリング・パターンが図示されている。β１、β２、
β３及びβ４は、対応する検出器行Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及
びＲ４がＰＯＲ（図示されていない）と交差するビュー
角度を表わしている。選択された螺旋ピッチが如何なる
ものであっても角度の間の相対的な角度スパンのみが重
要であるので、上述の角度は任意に選択される。この実
施形態の場合には、ＰＯＲに交差する隣接する行の間の
角度距離は０．８πである。図３では、領域ＲＥＧ１、
ＲＥＧ６及びＲＥＧ１１におけるサンプルがπ又は２π
のいずれかだけビュー角度が異なっているので、これら
の領域が共役領域の例となっている。再構成平面での各
々の投影サンプルを、３つの共役領域から選択した共役
サンプルに基づいて推定する。
【００１４】ＲＥＧ１５の上方に位置する「領域１６」
もＰＯＲから所定の距離の範囲内にあるので、この領域
を含めることも可能である。しかしながら、本実施形態
では、時間分解能を向上させるために「領域１６」を除
外する。本実施形態では、共役関係にある領域の各組毎
に３つの領域を含める。「領域１６」を含めるとする
と、共役領域は４つの領域１、６、１１及び１６を含む
ものとなる。最良の時間分解能を与えるために、本実施
形態では、画像再構成のために、ビュー角度スパンに関
して最小のデータ集合を構成するように努める。「領域
１６」を含めると、全角度スパンが増大すると共に、計
算時間が長くなり、一様性が小さくなる。
もＰＯＲから所定の距離の範囲内にあるので、この領域
を含めることも可能である。しかしながら、本実施形態
では、時間分解能を向上させるために「領域１６」を除
外する。本実施形態では、共役関係にある領域の各組毎
に３つの領域を含める。「領域１６」を含めるとする
と、共役領域は４つの領域１、６、１１及び１６を含む
ものとなる。最良の時間分解能を与えるために、本実施
形態では、画像再構成のために、ビュー角度スパンに関
して最小のデータ集合を構成するように努める。「領域
１６」を含めると、全角度スパンが増大すると共に、計
算時間が長くなり、一様性が小さくなる。
【００１５】加重（重み）は領域の分割区画に依存す
る。対称性及びその他の特性を保存するために、一実施
形態では、β1 ′＝２．８π−γ、β2 ′＝２π−γ、
β3 ′＝１．２π−γ及びβ4 ′＝０．４π−γと書か
れる彎曲平面に沿って投影を推定する。ここで、
β1′、β2′、β3′及びβ4′は、それぞれ対応する検
出器行Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ４についての彎曲平面内
でのビュー角度を表わす。各々の彎曲平面は、下記の式
（１）〜式（４）に掲げる領域によって与えられている
境界条件によって画定される。この表記では、γは検出
器角度を表わす。行Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ４のそれぞ
れについての３次ラグランジュ補間の加重は、以下のよ
うに書かれる。
る。対称性及びその他の特性を保存するために、一実施
形態では、β1 ′＝２．８π−γ、β2 ′＝２π−γ、
β3 ′＝１．２π−γ及びβ4 ′＝０．４π−γと書か
れる彎曲平面に沿って投影を推定する。ここで、
β1′、β2′、β3′及びβ4′は、それぞれ対応する検
出器行Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ４についての彎曲平面内
でのビュー角度を表わす。各々の彎曲平面は、下記の式
（１）〜式（４）に掲げる領域によって与えられている
境界条件によって画定される。この表記では、γは検出
器角度を表わす。行Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ４のそれぞ
れについての３次ラグランジュ補間の加重は、以下のよ
うに書かれる。
【００１６】
【数９】
【００１７】
【数１０】
【００１８】本発明の一実施形態では、加重付き補間−
補外（ＷＩＥ）、すなわち加重付き補間測定値と加重付
き補外測定値とを組み合わせたものをフィルタ補正逆投
影の前に用いる。図４は、補間したい点ｘの両側に位置
する３つのサンプリング点を有する例を図示している。
（一つのサンプルが左側に位置しており２つのサンプル
が右側に位置しているような異なる例も同様に取り扱わ
れる。）一つの公知の螺旋再構成アルゴリズムでは、線
５０によって表わされている線形補間のためにｘ２及び
ｘ３のみを用いる。ｘ２及びｘ３にそれぞれ用いられる
加重ｔ２及びｔ３は以下のように書かれる。
補外（ＷＩＥ）、すなわち加重付き補間測定値と加重付
き補外測定値とを組み合わせたものをフィルタ補正逆投
影の前に用いる。図４は、補間したい点ｘの両側に位置
する３つのサンプリング点を有する例を図示している。
（一つのサンプルが左側に位置しており２つのサンプル
が右側に位置しているような異なる例も同様に取り扱わ
れる。）一つの公知の螺旋再構成アルゴリズムでは、線
５０によって表わされている線形補間のためにｘ２及び
ｘ３のみを用いる。ｘ２及びｘ３にそれぞれ用いられる
加重ｔ２及びｔ３は以下のように書かれる。
【００１９】 ｔ２＝（ｘ３−ｘ）／（ｘ３−ｘ２） ｔ３＝（ｘ−ｘ２）／（ｘ３−ｘ２） （５）。
【００２０】本発明の一実施形態では、点ｘ１及びｘ２
を用いてｘを推定するために、線５２によって表わされ
ているような補外を用いる。ｘ１及びｘ２についての加
重（ｅ１及びｅ２と表わす）は以下のように書かれる。
を用いてｘを推定するために、線５２によって表わされ
ているような補外を用いる。ｘ１及びｘ２についての加
重（ｅ１及びｅ２と表わす）は以下のように書かれる。
【００２１】 ｅ１＝（ｘ２−ｘ）／（ｘ２−ｘ１） ｅ２＝（ｘ−ｘ１）／（ｘ２−ｘ１） （６）。
【００２２】この表記では、ｘ１、ｘ２及びｘ３は測定
信号の位置のｘ軸座標であり、ｘは推定したい信号の位
置である。線形補間に用いられる加重は、２つの点から
補間位置までの相対的な距離に基づいて算出される。点
ｘ１、ｘ２及びｘ３について組み合わせた加重（それぞ
れｑ１、ｑ２及びｑ３と表わす）は以下のように書かれ
る。
信号の位置のｘ軸座標であり、ｘは推定したい信号の位
置である。線形補間に用いられる加重は、２つの点から
補間位置までの相対的な距離に基づいて算出される。点
ｘ１、ｘ２及びｘ３について組み合わせた加重（それぞ
れｑ１、ｑ２及びｑ３と表わす）は以下のように書かれ
る。
【００２３】 ｑ１＝（１−ｔ2 a−ｔ3 a）ｅ１ ｑ２＝（１−ｔ2 a−ｔ3 a）ｅ２＋（ｔ2 a＋ｔ3 a）ｔ２ ｑ３＝（ｔ2 a＋ｔ3 a）ｔ３ （７）。
【００２４】式（７）において、αは、補間の相対的な
強度及び寄与を調節するパラメータである。項ｑ１、ｑ
２及びｑ３は、ＰＯＲでのサンプルを推定するための３
つの測定サンプルについての加重を表わしている。
強度及び寄与を調節するパラメータである。項ｑ１、ｑ
２及びｑ３は、ＰＯＲでのサンプルを推定するための３
つの測定サンプルについての加重を表わしている。
【００２５】この補間方式によって、線形補間の短所が
克服されて、高周波数情報内容のよりよい保存が可能に
なる。この補間方式についてのＲ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ
４のそれぞれについての加重関数が線５４によって表わ
されており、以下のように書かれる。
克服されて、高周波数情報内容のよりよい保存が可能に
なる。この補間方式についてのＲ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ
４のそれぞれについての加重関数が線５４によって表わ
されており、以下のように書かれる。
【００２６】
【数１１】
【００２７】ここで、θ1＝β−β1′＝β−２．８π＋
γ、
γ、
【００２８】
【数１２】
【００２９】ここで、θ2＝β−β2′＝β−２π＋γ、
【００３０】
【数１３】
【００３１】ここで、θ3＝β−β3′＝β−１．２π＋
γ、及び
γ、及び
【００３２】
【数１４】
【００３３】ここで、θ4＝β−β4′＝β−０．４π＋
γである。
γである。
【００３４】式（８）〜式（１１）では、ｗ１、ｗ２、
ｗ３及びｗ４は、図３に示す共役領域に基づいて式
（７）において４つの行について導出された加重であ
る。ＰＯＲ上で推定されるべき各々のサンプル毎に、図
３に基づいて３つの共役サンプルが選択されて、式
（７）を適用して各サンプルの加重を決定する。３つの
共役サンプルは例えば、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ４のう
ち任意の３つのものに由来していてよい。
ｗ３及びｗ４は、図３に示す共役領域に基づいて式
（７）において４つの行について導出された加重であ
る。ＰＯＲ上で推定されるべき各々のサンプル毎に、図
３に基づいて３つの共役サンプルが選択されて、式
（７）を適用して各サンプルの加重を決定する。３つの
共役サンプルは例えば、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ４のう
ち任意の３つのものに由来していてよい。
【００３５】式（８）〜式（１１）に表わされている上
述の再構成加重を利用する利点を実証するために、ファ
ントム研究を行なった。この研究では、２０ｃｍのポリ
・ファントムの内部にｘｙ平面に平行に載置された薄板
を３：１ピッチ及び２．５：１ピッチの両方で１２０ｋ
Ｖ／２００ｍＡ／１．２５ｍｍ／１秒で走査した。０．
１ｍｍ毎に画像を再構成して、妥当なサンプルがスライ
ス・プロファイルを確実に完全にマッピングするように
した。３：１の螺旋ピッチについては公知の再構成アル
ゴリズムを用いた。２．５：１の螺旋ピッチについては
式（８）〜式（１１）に表わした加重を用いた。両方の
場合について薄板のプロファイル（従ってシステム・ス
ライス感度プロファイル）を算出した。Ｘ線フォトン統
計が有限であるために生ずる統計雑音の影響を回避する
ために、プロファイル曲線上の各々の点を薄板を中心と
した２１×２１ピクセル領域（ｘｙ平面内）にわたる平
均としている。図５は、公知の再構成アルゴリズムを用
いて再構成された３：１螺旋ピッチ画像についてのスラ
イス・プロファイルＡ、及び式（８）〜式（１１）に表
わした加重関数を用いて再構成された２．５：１螺旋ピ
ッチ画像についてのスライス・プロファイルＢを示す。
式（８）〜式（１１）を用いた場合には、遥かに狭いス
ライス・プロファイルが得られており、プロファイルの
ピーク強度が相対的に高い。
述の再構成加重を利用する利点を実証するために、ファ
ントム研究を行なった。この研究では、２０ｃｍのポリ
・ファントムの内部にｘｙ平面に平行に載置された薄板
を３：１ピッチ及び２．５：１ピッチの両方で１２０ｋ
Ｖ／２００ｍＡ／１．２５ｍｍ／１秒で走査した。０．
１ｍｍ毎に画像を再構成して、妥当なサンプルがスライ
ス・プロファイルを確実に完全にマッピングするように
した。３：１の螺旋ピッチについては公知の再構成アル
ゴリズムを用いた。２．５：１の螺旋ピッチについては
式（８）〜式（１１）に表わした加重を用いた。両方の
場合について薄板のプロファイル（従ってシステム・ス
ライス感度プロファイル）を算出した。Ｘ線フォトン統
計が有限であるために生ずる統計雑音の影響を回避する
ために、プロファイル曲線上の各々の点を薄板を中心と
した２１×２１ピクセル領域（ｘｙ平面内）にわたる平
均としている。図５は、公知の再構成アルゴリズムを用
いて再構成された３：１螺旋ピッチ画像についてのスラ
イス・プロファイルＡ、及び式（８）〜式（１１）に表
わした加重関数を用いて再構成された２．５：１螺旋ピ
ッチ画像についてのスライス・プロファイルＢを示す。
式（８）〜式（１１）を用いた場合には、遥かに狭いス
ライス・プロファイルが得られており、プロファイルの
ピーク強度が相対的に高い。
【００３６】本発明のＷＩＥ再構成実施形態をさらに十
分に評価するために、雑音分析を行なった。比較のため
に、ＷＩＥのｚにおける画像をフィルタ・カーネルによ
って平滑化して、平滑化を行なったＷＩＥが、平滑化を
行なわない公知のアルゴリズムと同じスライス・プロフ
ァイルを与えるようにした。この条件を満たすカーネル
は、係数［０．５，１，１，....，１，１，０．５］を
有する１１点カーネルであることが分かった。
分に評価するために、雑音分析を行なった。比較のため
に、ＷＩＥのｚにおける画像をフィルタ・カーネルによ
って平滑化して、平滑化を行なったＷＩＥが、平滑化を
行なわない公知のアルゴリズムと同じスライス・プロフ
ァイルを与えるようにした。この条件を満たすカーネル
は、係数［０．５，１，１，....，１，１，０．５］を
有する１１点カーネルであることが分かった。
【００３７】また、ファントムがｚにおいて一様である
場合について、ＷＩＥ画像の画像平滑化（ｚにおける）
も行なった。平滑化した画像の標準偏差は５．２３ＨＵ
であるものと決定された。公知のアルゴリズムを用いて
観測される標準偏差は６．６３ＨＵであった。この結果
から、同じスライス感度プロファイルについて、雑音を
同じレベルに維持する場合には約３７％のｍＡ低減を達
成し得ることが分かる。薄板が配置されている位置に対
応する画像においては、平滑化を行なったＷＩＥ加重画
像は、公知の再構成アルゴリズムを用いて再構成された
画像よりも少ない画像アーティファクトしか示さない。
場合について、ＷＩＥ画像の画像平滑化（ｚにおける）
も行なった。平滑化した画像の標準偏差は５．２３ＨＵ
であるものと決定された。公知のアルゴリズムを用いて
観測される標準偏差は６．６３ＨＵであった。この結果
から、同じスライス感度プロファイルについて、雑音を
同じレベルに維持する場合には約３７％のｍＡ低減を達
成し得ることが分かる。薄板が配置されている位置に対
応する画像においては、平滑化を行なったＷＩＥ加重画
像は、公知の再構成アルゴリズムを用いて再構成された
画像よりも少ない画像アーティファクトしか示さない。
【００３８】もう一つの実施形態では、一組の投影デー
タに一組の加重を乗算することにより、非線形補間と同
等の結果を達成する。３次ラグランジュ補間についての
加重は式（１）〜式（４）のように書かれ、他方、ＷＩ
Ｅについての加重は式（８）〜式（１１）のように書か
れる。
タに一組の加重を乗算することにより、非線形補間と同
等の結果を達成する。３次ラグランジュ補間についての
加重は式（１）〜式（４）のように書かれ、他方、ＷＩ
Ｅについての加重は式（８）〜式（１１）のように書か
れる。
【００３９】このように、本発明の実施形態は、公知の
螺旋ＣＴ画像再構成方法及びシステムよりも良好なサン
プリング・パターンを与え、冗長性が少ない情報を取得
して、物体の鮮鋭な構造の抑制を少なくし、よりよいス
ライス感度プロファイルを与えることが分かる。
螺旋ＣＴ画像再構成方法及びシステムよりも良好なサン
プリング・パターンを与え、冗長性が少ない情報を取得
して、物体の鮮鋭な構造の抑制を少なくし、よりよいス
ライス感度プロファイルを与えることが分かる。
【００４０】ここに掲げた試験結果を有する所載の例示
的な実施形態は４スライスの実施形態であるが、本発明
のその他の実施形態を異なる数の画像スライスを与える
マルチ・スライスＣＴイメージング・システムに適用す
ることもできる。例えば、他の実施形態では、８スライ
ス、１６スライス、３２スライス等のＣＴイメージング
・システムが用いられる。加えて、本発明は、２．５：
１の螺旋ピッチを与える実施形態に限定されている訳で
はない。このピッチは説明の目的のためにのみ選択され
ている。本発明の他の実施形態を異なる螺旋ピッチを与
えるＣＴイメージング・システムに適用することもでき
る。加えて、ここに記載したＣＴシステムは、Ｘ線源及
び検出器の両方がガントリと共に回転する「第３世代」
システムである。個々の検出器素子を補正して所与のＸ
線ビームに対して実質的に一様の応答を与えるようにす
れば、検出器がフル・リング型の静止式検出器であって
Ｘ線源のみがガントリと共に回転するような「第４世
代」システムを含めたその他の多くのＣＴシステムを用
いることができる。
的な実施形態は４スライスの実施形態であるが、本発明
のその他の実施形態を異なる数の画像スライスを与える
マルチ・スライスＣＴイメージング・システムに適用す
ることもできる。例えば、他の実施形態では、８スライ
ス、１６スライス、３２スライス等のＣＴイメージング
・システムが用いられる。加えて、本発明は、２．５：
１の螺旋ピッチを与える実施形態に限定されている訳で
はない。このピッチは説明の目的のためにのみ選択され
ている。本発明の他の実施形態を異なる螺旋ピッチを与
えるＣＴイメージング・システムに適用することもでき
る。加えて、ここに記載したＣＴシステムは、Ｘ線源及
び検出器の両方がガントリと共に回転する「第３世代」
システムである。個々の検出器素子を補正して所与のＸ
線ビームに対して実質的に一様の応答を与えるようにす
れば、検出器がフル・リング型の静止式検出器であって
Ｘ線源のみがガントリと共に回転するような「第４世
代」システムを含めたその他の多くのＣＴシステムを用
いることができる。
【００４１】様々な特定の実施形態によって本発明を説
明したが、当業者であれば、特許請求の範囲及び要旨の
範囲内で改変して本発明を実施し得ることを理解されよ
う。従って、本発明の要旨及び範囲は、特許請求の範囲
によって制限されるものとする。
明したが、当業者であれば、特許請求の範囲及び要旨の
範囲内で改変して本発明を実施し得ることを理解されよ
う。従って、本発明の要旨及び範囲は、特許請求の範囲
によって制限されるものとする。
【図１】ＣＴイメージング・システムの見取り図であ
る。
る。
【図２】図１に示すシステムのブロック概略図である。
【図３】２．５：１螺旋ピッチ走査を用いた本発明の実
施形態における画像再構成のサンプリング・パターンの
略図である。
施形態における画像再構成のサンプリング・パターンの
略図である。
【図４】点ｘでの減弱値を推定するための補間法、補外
法、及び加重付き補間−補外法を示す略図である。
法、及び加重付き補間−補外法を示す略図である。
【図５】３：１螺旋ピッチ走査を利用する公知の手法を
用いたスライス・プロファイルと、２．５：１螺旋ピッ
チ走査を利用する本発明の実施形態とを比較した薄いス
ライスのファントムを用いたスライス感度プロファイル
測定値のグラフである。
用いたスライス・プロファイルと、２．５：１螺旋ピッ
チ走査を利用する本発明の実施形態とを比較した薄いス
ライスのファントムを用いたスライス感度プロファイル
測定値のグラフである。
１０ ＣＴシステム １２ ガントリ １４ Ｘ線源 １６ Ｘ線ビーム １８ 検出器アレイ ２０ 検出器素子 ２２ 患者 ２４ 回転中心 ２６ 制御機構 ２８ Ｘ線制御器 ３０ ガントリ・モータ制御器 ３２ データ取得システム（ＤＡＳ） ３４ 画像再構成器 ３６ コンピュータ ３８ 大容量記憶装置 ４０ コンソール ４２ 陰極線管表示器 ４４ テーブル・モータ制御器 ４６ モータ式テーブル ４８ ガントリ開口 ５０ 線形補間法 ５２ 補外法 ５４ 加重付き補間−補外法
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジャン・ヘシエー アメリカ合衆国、ウィスコンシン州、ブル ックフィールド、ウエスト・ケズウィッ ク・コート、19970番 Ｆターム(参考） 4C093 AA22 BA10 CA01 EA02 EB18 FD05 FD07 FD12 FE12 FE13 5B057 AA09 BA03 BA21 CA08 CA11 CA16 CB08 CB12 CB16 CC04 CD06 CE06 DA08 DA16 DB01 DB09 DC19
Claims (28)
- 【請求項１】 計算機式断層撮影（ＣＴ）イメージング
・システムにより物体を撮像する方法であって、 マルチ・スライス計算機式断層撮影イメージング・シス
テムにより前記物体を螺旋走査して、前記物体の再構成
平面での投影の推定のために２つよりも多い共役サンプ
ルを含む前記物体の減弱測定値を取得する工程と、 前記物体の少なくとも１つの画像スライスを再構成する
ために前記２つよりも多い共役サンプルを含む前記物体
の前記減弱測定値をフィルタ処理及び逆投影する工程
と、を含む方法。 - 【請求項２】 前記２つよりも多い共役サンプルは、前
記物体の前記再構成平面から所定の距離の範囲内に位置
している請求項１に記載の方法。 - 【請求項３】 前記計算機式断層撮影イメージング・シ
ステムはＮ個の検出器行を有しており、前記螺旋走査に
ついて螺旋ピッチＰ：１を選択する工程をさらに含んで
おり、ＰはＮよりも小さい非整数である請求項１に記載
の方法。 - 【請求項４】 Ｎ＝４であり、Ｐ＝２．５である請求項
３に記載の方法。 - 【請求項５】 前記フィルタ処理及び逆投影の前に前記
減弱測定値に非線形補間を適用する工程をさらに含んで
いる請求項１に記載の方法。 - 【請求項６】 前記減弱測定値に非線形補間を適用する
前記工程は、前記減弱測定値にラグランジュ補間を適用
する工程を含んでいる請求項５に記載の方法。 - 【請求項７】 前記減弱測定値にラグランジュ補間を適
用する前記工程は、４つの検出器行からの測定値に３次
ラグランジュ補間加重を適用する工程を含んでいる請求
項６に記載の方法。 - 【請求項８】 前記計算機式断層撮影イメージング・シ
ステムは４つの検出器行を有しており、減弱測定値を得
るために前記物体を螺旋走査する前記工程は、２．５：
１のピッチで前記物体を螺旋走査する工程を含んでお
り、当該方法は、β1′＝２．８π−γ、β2′＝２π−
γ、β3′＝１．２π−γ及びβ4′＝０．４π−γと書
かれる彎曲平面に沿って投影を推定する工程をさらに含
んでおり、ここで、β1′、β2′、β3′及びβ4′は、
それぞれ対応する検出器行Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ４に
ついての彎曲平面内でのビュー角度を表わし、γは検出
器角度を表わす請求項５に記載の方法。 - 【請求項９】 前記減弱測定値に非線形補間を適用する
前記工程は、加重付き補間測定値を加重付き補外測定値
と組み合わせる工程を含んでいる請求項５に記載の方
法。 - 【請求項１０】 前記計算機式断層撮影イメージング・
システムは４つの検出器行Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ４を
有しており、減弱測定値を得るために前記物体を螺旋走
査する前記工程は、２．５：１のピッチで前記物体を螺
旋走査する工程を含んでおり、当該方法は、検出器行Ｒ
１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ４についての減弱測定値に加重を
それぞれ適用する工程をさらに含んでおり、ここで、前
記適用される加重は、 【数１】 ここで、θ1＝β−β1′＝β−２．８π＋γ、 【数２】 ここで、θ2＝β−β2′＝β−２π＋γ、 【数３】 ここで、θ3＝β−β3′＝β−１．２π＋γ、及び 【数４】 ここで、θ4＝β−β4′＝β−０．４π＋γ、と書か
れ、β1′＝２．８π−γ、β2′＝２π−γ、β3′＝
１．２π−γ及びβ4′＝０．４π−γであり、β1′、
β2′、β3′及びβ4′は、それぞれ検出器行Ｒ１、Ｒ
２、Ｒ３及びＲ４について前記再構成平面（ＰＯＲ）に
交差するビュー角度を表わし、γは検出器角度を表わ
す、請求項９に記載の方法。 - 【請求項１１】 前記フィルタ処理及び逆投影の前に前
記減弱測定値に一組の加重を適用する工程をさらに含ん
でいる請求項１に記載の方法。 - 【請求項１２】 前記減弱測定値に一組の加重を適用す
る前記工程は、前記減弱測定値にラグランジュ加重を適
用する工程を含んでいる請求項１１に記載の方法。 - 【請求項１３】 前記減弱測定値にラグランジュ加重を
適用する前記工程は、４つの検出器行からの測定値に３
次ラグランジュ加重を適用する工程を含んでいる請求項
１２に記載の方法。 - 【請求項１４】 前記計算機式断層撮影イメージング・
システムは４つの検出器行を有しており、減弱測定値を
得るために前記物体を螺旋走査する前記工程は、２．
５：１のピッチで前記物体を螺旋走査する工程を含んで
おり、当該方法は、β1′＝２．８π−γ、β2′＝２π
−γ、β3′＝１．２π−γ及びβ4′＝０．４π−γと
書かれる彎曲平面に沿って投影を推定する工程をさらに
含んでおり、ここで、β1′、β2′、β3′及びβ4′
は、それぞれ対応する検出器行Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ
４についての彎曲平面内でのビュー角度を表わし、γは
検出器角度を表わす、請求項１１に記載の方法。 - 【請求項１５】 放射線源とマルチ・スライス検出器と
の間に位置する物体の減弱測定値を取得するように構成
されている放射線源とマルチ・スライス検出器とを備え
た、物体を撮像するための計算機式断層撮影（ＣＴ）イ
メージング・システムであって、 前記物体を螺旋走査して、前記物体の再構成平面での投
影の推定のために２つよりも多い共役サンプルを含む前
記物体の減弱測定値を取得し、 前記物体の少なくとも１つの画像スライスを再構成する
ために前記２つよりも多い共役サンプルを含む前記物体
の前記減弱測定値をフィルタ処理及び逆投影するように
構成されている計算機式断層撮影イメージング・システ
ム。 - 【請求項１６】 前記２つよりも多い共役サンプルが前
記物体の前記再構成平面から所定の距離の範囲内に位置
するようにさらに構成されている請求項１５に記載のシ
ステム。 - 【請求項１７】 Ｎ個の検出器行を有しており、ピッチ
Ｐ：１で前記螺旋走査を行なうようにさらに構成されて
おり、ＰはＮよりも小さい非整数である請求項１６に記
載のシステム。 - 【請求項１８】 Ｎ＝４であり、Ｐ＝２．５である請求
項１７に記載のシステム。 - 【請求項１９】 前記フィルタ処理及び逆投影の前に前
記減弱測定値に非線形補間を適用するようにさらに構成
されている請求項１５に記載のシステム。 - 【請求項２０】 前記減弱測定値に非線形補間を適用す
るように構成されている前記システムは、前記減弱測定
値にラグランジュ補間を適用するように構成されている
請求項１９に記載のシステム。 - 【請求項２１】 前記減弱測定値にラグランジュ補間を
適用するように構成されている前記システムは、４つの
検出器行からの測定値に３次ラグランジュ補間加重を適
用するように構成されている請求項２０に記載のシステ
ム。 - 【請求項２２】 前記システムは４つの検出器行を有し
ており、前記減弱測定値を得るために前記物体を螺旋走
査するように構成されている前記システムは、２．５：
１のピッチで前記物体を螺旋走査するように構成されて
おり、前記システムは、β1′＝２．８π−γ、β2′＝
２π−γ、β3′＝１．２π−γ及びβ4′＝０．４π−
γ と書かれる彎曲平面に沿って投影を推定するように
さらに構成されており、ここで、β1′、β2′、β3′
及びβ4′は、それぞれ対応する検出器行Ｒ１、Ｒ２、
Ｒ３及びＲ４についての彎曲平面内でのビュー角度を表
わし、γは検出器角度を表わす、請求項１９に記載のシ
ステム。 - 【請求項２３】 前記減弱測定値に非線形補間を適用す
るように構成されている前記システムは、加重付き補間
測定値を加重付き補外測定値と組み合わせるように構成
されている請求項１９に記載のシステム。 - 【請求項２４】 ４つの検出器行Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及び
Ｒ４を有しており、減弱測定値を得るために前記物体を
螺旋走査するように構成されている前記システムは、
２．５：１のピッチで前記物体を螺旋走査するように構
成されており、前記システムは、検出器行Ｒ１、Ｒ２、
Ｒ３及びＲ４についての減弱測定値に加重をそれぞれ適
用するようにさらに構成されており、ここで、前記適用
される加重は、 【数５】 ここで、θ1＝β−β1′＝β−２．８π＋γ、 【数６】 ここで、θ2＝β−β2′＝β−２π＋γ、 【数７】 ここで、θ3＝β−β3′＝β−１．２π＋γ、及び 【数８】 ここで、θ4＝β−β4′＝β−０．４π＋γと書かれ、
β1′＝２．８π−γ、β2′＝２π−γ、β3′＝１．
２π−γ及びβ4′＝０．４π−γであり、β1′、
β2′、β3′及びβ4′は、それぞれ検出器行Ｒ１、Ｒ
２、Ｒ３及びＲ４について前記再構成平面（ＰＯＲ）に
交差するビュー角度を表わし、γは検出器角度を表わ
す、請求項２３に記載のシステム。 - 【請求項２５】 前記フィルタ処理及び逆投影の前に前
記減弱測定値に一組の加重を適用するようにさらに構成
されている請求項１５に記載のシステム。 - 【請求項２６】 前記減弱測定値に一組の加重を適用す
るように構成されている前記システムは、前記減弱測定
値にラグランジュ加重を適用するように構成されている
前記システムを含んでいる請求項２５に記載のシステ
ム。 - 【請求項２７】 前記減弱測定値にラグランジュ加重を
適用するように構成されている前記システムは、４つの
検出器行からの測定値に３次ラグランジュ加重を適用す
るように構成されている前記システムを含んでいる請求
項２６に記載のシステム。 - 【請求項２８】 前記システムは４つの検出器行を有し
ており、前記減弱測定値を得るために前記物体を螺旋走
査するように構成されている前記システムは、２．５：
１のピッチで前記物体を螺旋走査するように構成され、
前記システムは、β1′＝２．８π−γ、β2′＝２π−
γ、β3′＝１．２π−γ及びβ4′＝０．４π−γと書
かれる彎曲平面に沿って投影を推定するようにさらに構
成され、ここで、β1′、β2′、β3′及びβ4′は、そ
れぞれ対応する検出器行Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ４につ
いての彎曲平面内でのビュー角度を表わし、γは検出器
角度を表わす、請求項１５に記載のシステム。
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