JP2001521979A - 表面仕上げ用研磨剤粒子 - Google Patents
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Abstract
Description
磨粒子の製造の方法に関する。
る要求を提起してきた。特に、平滑な表面は、電子工業、工具製造及び他の多く
の工業における各種の適用において必要とされる。仕上げを必要とする基質は、
セラミックス、ガラス及び金属のような硬い物質を含むことができる。小型化が
更になお継続されるので、更になお精密な仕上げが必要となるであろう。現在の
サブミクロン技術は、ナノメートル単位の精度の仕上げを必要とする。精密仕上
げ技術は、表面の機械的平滑化に対する研磨効果と同様に、基質と仕上げ用組成
物との化学的相互作用によって働く、仕上げ用組成物を含む機械化学的仕上げを
使用することができる。
いて記載される。仕上げ用組成物は、仕上げ工程の更なる制御を行うために、非
常に狭い粒子直径の分布を持つ小さい粒子に基づいている。更に、好ましい粒子
の集合物は、有意により大きい直径の粒子を実際的に有しない。更に、好ましい
粒子は、単一結晶相に関して非常に高い水準の純度を有している。レーザー熱分
解は、好ましい粒子の製造を提供する。レーザー熱分解は、研磨剤としての適用
に対する好ましい特性を持つ粒子の製造を提供するだけでなく、また粒子の効率
的なそして制御された製造を提供する。これらの特徴は、改良された研磨剤組成
物の費用に対して効率的な商業化を提供する。
金属化合物を含み、そして約5nmないし約200nmの平均粒子直径、並びに
少なくとも粒子の約95パーセントが平均直径の約60パーセント以上及び平均
直径の約140パーセント以下の直径を有するような直径分布とを有することを
特徴とする。粒子は水性又は非水性の溶液に分散することができる。粒子は好ま
しくはSiO2、SiC、TiO2、Fe3C、Fe7C3、Fe2O3、Fe3O4、 MoS2、MoO2、WC、WO3及びWS2からなる群から選択された組成物を含
む。粒子は好ましくは約100nm以下の平均直径を有する。
子が、約5nmないし約200nmの平均粒子直径と少なくとも約90重量パー
セントの均質性を持つ単一結晶相とを有する金属化合物を含むことを特徴とする
。粒子は水性又は非水性の溶液に分散することができる。粒子は好ましくは少な
くとも約95重量パーセント、更に好ましくは少なくとも約99重量パーセント
、そして更になお好ましくは少なくとも約99.9重量パーセントの単一相の均
質性を有する。
子が金属炭化物又は金属硫化物を含み、そして約5nmないし約200nmの平
均粒子直径を有することを特徴とする。
発明は、表面を平滑化する方法であって、本発明の組成物で表面を仕上げる工程
を含むことを特徴とする。仕上げは、仕上げパッドで行うことができ、そして電
動式ポリッシャーを含むことができる。
分解する工程を含み、ここにおいて熱分解がレーザービームから吸収した熱によ
り行われることを特徴とする。ケイ素化合物前駆物質は、CH3SiCl3からな
る群から選択された化合物を含むことができる。レーザービームは、好ましくは
CO2レーザーによって供給される。分子流は、好ましくは一次元に細長いノズ ルにより発生される。
化合物前駆物質、酸化剤及び放射線吸収ガスを含む分子流を反応室中で熱分解す
る工程を含み、ここにおいて熱分解がレーザービームから吸収した熱により行わ
れることを特徴とする。鉄前駆物質は、Fe(CO)5を含むことができる。
である。
されてきた。これらの粒子は、一般的に単一結晶相及び高い水準の均質性を有し
ている。これら粒子は、研磨剤として、特に平滑性に対して制約的な誤差の要求
値を有する硬い表面の仕上げに有用である。直径分布の狭い広がりと共に小さい
直径は、減少した程度の表面の粗さを持つ表面を作り出すための仕上げを提供す
る。粒子は、粒子単独での研磨特性を補足する他の仕上げ剤を含む、仕上げ用組
成物に使用することができる。仕上げ用組成物は、人力仕上げ又は電動式ポリッ
シャーによる仕上げに使用することができる。
スであり、そしてケイ素化合物と同様に各種の金属酸化物、硫化物及び炭化物を
含むことができる。好ましい粒子は、比較的硬い。粒子は、例えば以下の化合物
の一つを含むことができる:SiO2、SiC、TiO2、Fe2O3、Fe3O4、
Fe3C、Fe7C3、MoS2、MoO2、WC、WO3及びWS2。異なった化学 組成の研磨剤粒子の混合物を、仕上げ用製剤の形成に使用することができる。研
磨剤粒子の適当な組成は、仕上げられる基質の組成に依存する。
適当なセラミック粒子の効率的に製造するための優れた方法である。適当な小さ
いスケールの粒子の製造のための、レーザー熱分解の好結果の得られる適用の基
本的な特徴は、前駆物質化合物、放射線吸収剤及び酸素、硫黄又は炭素源として
働く反応物を含む分子流を作り出すことである。分子流は強力なレーザービーム
によって熱分解される。分子流がレーザービームを去る時に、粒子は急速にクエ
ンチされる。
もしれない、金属化合物の相の形成を提供する。レーザー熱分解によって製造さ
れた粒子は、また粒子の特性を変更及び/又は改良するために任意に更なる加工
に適している。
びに金属酸化物、金属炭化物及び金属硫化物粒子の製造のための価値ある道具で
あることが認められた。更に、レーザー熱分解により製造された粒子は、所望の
金属化合物粒子の製造のための経路を拡大する更なる加工に都合の良い物質であ
る。従って、レーザー熱分解を単独で又は付加的な方法と組み合わせて使用する
ことにより、幅広い種類の二酸化ケイ素、炭化ケイ素並びに金属酸化物、金属炭
化物及び金属硫化物粒子を製造することができる。ある場合には、別の製造経路
で同等の粒子の製造を行うことができる。
ー熱分解の反応条件は、所望の特性を持つ粒子を製造するために比較的正確に制
御することができる。ある型の粒子を製造する適当な反応条件は、一般的に特定
の装置の設計に依存する。それにもかかわらず、反応条件及び得られる粒子間の
関係について、ある一般的な所見は得ることができる。
の上昇となる。急速なクエンチ速度は、高エネルギー相の製造に有利な傾向があ
る。同様に、反応室圧力の上昇もまた高エネルギー構造体の製造に有利な傾向が
ある。また、反応物の流れ中の酸素、炭素又は硫黄源として働く反応物の濃度を
上昇させると、酸素、炭素又は硫黄量の増加した金属酸化物、金属炭化物又は金
属硫化物の製造に有利となる。
、反応物ガスの流量又は流速を増加させると、より小さい粒子サイズが得られる
傾向がある。また、粒子の成長動力学も、得られる粒子のサイズに有意な影響を
有する。言い換えれば、異なった結晶型の生成物化合物は、比較的同様の条件下
で他の結晶型とは異なったサイズの粒子を形成する傾向を有する。レーザー電力
もまた粒子のサイズに影響し、レーザー電力を増加すると低融点の物質に対して
より大きい粒子の形成に、そして高融点物質に対してはより小さい粒子の形成に
有利である。
量の前駆物質蒸気を得るために充分な蒸気圧を持つ金属又はケイ素化合物を含む
。前駆物質化合物を保持する容器は、所望により、金属(ケイ素)化合物前駆物
質の蒸気圧を増加するために加熱することができる。好ましいケイ素前駆物質は
、例えばCH3SiCl3を含む。好ましい鉄前駆物質は、例えばFe(CO)5 を含む。
、反応域に入る前に金属化合物前駆物質と有意に反応してはならない。
レーザーは、電磁スペクトルの赤外線部分で操作される。CO2レーザーは特に 好ましいレーザー光線源である。分子流に含まれる赤外線吸収剤は、例えば、C 2 H4、NH3、SF6、SiH4及びO3を含む。O3は、赤外線吸収剤及び酸素源 の両者として働くことができる。同様に、C2H2は、赤外線吸収剤及び炭素源の
両者として働くことができる。赤外線吸収剤のような放射線吸収剤は、放射線ビ
ームからエネルギーを吸収し、そして熱分解を起こすためにエネルギーを熱とし
て他の反応物に分配する。
の強力な発熱反応により一般的に発生されるエネルギーの何倍もの速度の、驚異
的な速度で温度を増加させる。工程は一般的に非平衡条件を含むので、温度は、
吸収域でのエネルギーに基づいて概略表記することができる。レーザー熱分解法
は、エネルギー源が反応を惹起するが、反応は発熱反応により放出されるエネル
ギーによって継続する燃焼反応器中の方法とは、質的に異なる。
を減少するために使用することができる。適当な遮蔽ガスは、例えば、Ar、H
e及びN2を含む。
れる、Bi等の“CO2レーザー熱分解により製造されたナノ結晶のα−Fe、 Fe3C、及びFe7C3”J.Mater.Res.8:1666−1674( 1993)に記載されている。
でいる。反応物供給系に接続された反応物入り口は、反応室を通して分子流を発
生する。レーザービーム経路は、反応域で分子流と交差する。分子流は反応域後
も出口まで継続し、ここで分子流は反応室を出て収集系に進む。一般的に、レー
ザーは反応室の外部に設置され、そしてレーザービームは適当な窓を通して反応
室に入る。
室104、収集系106及びレーザー108を含んでいる。反応物供給系102
は、前駆物質化合物の供給源120を含む。液体前駆物質に対しては、前駆物質
の移動を促進するために、担体ガス源122からの担体ガスを液体前駆物質を含
む前駆物質源120に導入することができる。供給源122からの担体ガスは、
好ましくは赤外線吸収ガス又は不活性ガスのいずれかであり、そして好ましくは
液体の前駆物質化合物を通して泡状で流す。反応域での前駆物質蒸気の量は、担
体ガスの流量に概略比例する。
126から直接供給することができる。酸素、炭素又は硫黄を提供する反応物は
、ガスボンベ若しくは他の適当な容器であっても良い反応物源128から供給さ
れる。前駆物質源120からのガスは、反応物源128、赤外線吸収剤源124
及び不活性ガス源126からのガスと配管130の単管部分でガスを一緒にする
ことにより混合される。ガスは、反応室104から充分な距離一緒にされ、反応
室104に入る前にガスが充分に混合されるようにする。配管130中の混合ガ
スは、ダクト132を通り、反応物を反応室に導く注入ノズルの一部を形成する
方形のチャネル134に入る。
量流量制御器136によって制御される。質量流量制御器136は、好ましくは
制御された流量を各々対応する制御源から与えられる。適当な質量流量制御器は
、例えば、Edwards High Vacuum Internation
al,Wilmington,MAからのEdwards Mass Flow
Controller,Model 825 seriesを含む。
0に接続されている。質量流量制御器144が、不活性ガスダクト140への不
活性ガスの流れを調節する。不活性ガス源126は、また所望によりダクト14
0の不活性ガス源としても機能できる。
ル202で主室200に接続されている。注入ノズル202の末端は、不活性遮
蔽ガスの通路のための環状開口部204及び反応室中の分子流を形成する反応物
ガスの通路のための方形のスリット206を有する。環状開口部204は、例え
ば約38mm(約1.5インチ)の直径及び直径方向に沿った約1.6mm(約
1/16インチ)の幅を有する。環状開口部204を通る遮蔽ガスの流れは、反
応室104全体での反応物ガス及び生成物粒子の分散の防止を補助する。
部分208、210は、それぞれZnSeの窓212、214を含む。窓212
、214は約25mm(約1インチ)の直径である。窓212、214は、好ま
しくはノズル開口部の中心のちょうど下の点にビームの焦点を合わせるような、
反応室の中心とレンズの表面間の距離と等しい焦点距離を持つ平面焦点レンズで
ある。窓212、214は、好ましくは抗反射被覆を有する。適当なZnSeレ
ンズはJanos Technology,Townshend,Vermon
tから入手可能である。管状部分208、210は、窓212、214が反応物
又は生成物により汚染されることがより少ないように主室200から離れた窓2
12、214の設置を提供する。窓212、214は、例えば主室200の端か
ら約3cm離れて設置されている。
のO−リングによって管状部分208、210と密封されている。管状入り口2
16、218は、窓212、214の汚染を減少するための管状部分208、2
10への遮蔽ガスの流れを提供する。管状入り口216、218は、不活性ガス
源138又は別の不活性ガス源に接続されている。いずれの場合も、好ましくは
入り口216、218への流れは質量流量制御器220によって制御される。
222を発生するように調整される。窓212、214は、主室200を通り反
応域224で反応物の流れと交差するレーザー光線の経路を規定する。窓214
を出た後、レーザービーム222は、ビーム緩衝器としても働く電力計226に
当たる。適当な電力計は、Coherent Inc.,Santa Clar
a,CAから入手可能である。レーザー108は、アーク灯のような強力な慣用
された光源と置き換えることができる。好ましくは、レーザー108は、赤外線
レーザー、特にPRC Corp.,Landing,NJから入手可能な18
00ワット最大出力レーザーのような、CW CO2レーザー、又は375ワッ トの最大出力を持つCoherent(登録商標)model 525(Coh
erent Inc.,Santa Clara,CA)である。
分子流は反応域224を通過し、ここで前駆物質化合物を含めた反応が起こる。
反応域224中でのガスの加熱は、特定の条件にもよるが概略105℃/秒とい うように、非常に急速である。反応は、反応域224を去る時に急速にクエンチ
され、そして分子流中に粒子228が形成される。工程の非平衡的性質は、高度
に均一なサイズ分布及び構造の均質性を持った粒子の製造を可能にする。
ル202から約2cmの間隔を持っている。注入ノズル202及び収集ノズル2
30間の小さい間隔は、反応物及び生成物による反応室104の汚染を減少する
ことを援助する。収集ノズル230は、円形の開口部232を有する。円形開口
部232から収集系106に送られる。
物及び炭化物の製造に於ける好ましい反応室圧力は、一般的に、約80Torr
ないし約500Torrの範囲である。
管状部分の一つは図1の断面図の平面に向かって突き出しており、そして第2の
付加的管状部分は図1の断面図の平面から突き出している。上から見た場合、4
個の管状部分が反応室の中心の周りに概略対称的に分布している。これらの付加
的管状部分は、反応室内部を観察する窓を有している。このような装置の構成に
おいて、2個の付加的管状部分は粒子の製造の促進には使用されていない。
とができる。粒子の小さいサイズのために、生成物粒子は、曲線の周囲のガスの
流れに従う。収集系106は、生成物粒子を収集するフィルター252をガス流
中に含む。材料が不活性でそして粒子を捕獲するために充分な細かさの篩である
限り、テフロン、ガラス繊維等のような各種の材料をフィルターに使用すること
ができる。フィルターのための好ましい材料は、例えばACE Glass I
nc.,Vineland,NJ.からのガラス繊維フィルターを含む。
各種の異なったポンプを使用することができる。ポンプ254として使用する適
当なポンプは、例えば、Busch, Inc.,Virginia Beac
h,VAからの約0.7m3/分(毎分約25立方フィート(cfm))のポン プ容量を持つBusch Model B0024ポンプ、及びLeybold
Vacuum Products,Export,PAからの約5.5m3/ 分(約195cfm)のポンプ容量を持つLeybold Model SV3
00ポンプを含む。ポンプの排気を大気中に放出する前に、残留するいかなる反
応性化学薬品をも除去するためにスクラバー256を通して流すことが望ましい
。換気上の目的及び安全上の考慮から、装置100全体をヒュームフード中に置
くことができる。一般的にレーザーは、その大きなサイズからヒュームフードの
外側に残される。
ーザーを制御し、そして反応室の圧力を監視する。コンピューターを反応物及び
/又は遮蔽ガスの流量の制御に使用することができる。ポンプの流量は、ポンプ
254とフィルター252間に挿入された手動のニードル弁又は自動の絞り弁の
いずれかによって制御される。フィルター252に粒子が集積することによって
反応室圧力が増加した時に、ポンプ流量及び対応する反応室圧力を維持するため
に手動弁又は絞り弁を調節することができる。
の圧力を維持できなくなるほど、フィルター252に充分な粒子が収集されるま
で継続することができる。反応室104の圧力を所望の値に維持できなくなった
時、反応を停止し、そしてフィルター252を取り外す。この態様において、1
回の実行で反応室圧力を維持できなくなる前に、約3−75グラムの粒子を収集
することができる。1回の実行は、製造する粒子の型及び特定のフィルターにも
よるが、一般的に約10分ないし約3時間継続することができる。従って粒子の
顕微鏡的な量、即ち、肉眼で見える量を製造することは簡単である。
ザーは一般的に約0.5パーセントの電力安定性を有する。手動制御又は絞り弁
のいずれでも、反応室圧力は約1パーセント以内に制御することができる。
代案の構成において、反応物は反応室の底部から供給され、そして生成物粒子は
反応室の頂部から収集される。この代案の構成は、周囲のガスに浮揚する粒子に
対して、生成物が僅かに多く収集される。この構成においては、収集フィルター
が反応室の直接上部に設置されないように、収集系に曲線部分を含むことが好ま
しい。
ナジウムナノ粒子の製造に使用されてきた。これらは、本命細書中に参考文献と
して援用される、本発明と同一の譲渡人の出願になる、1997年7月21日に
出願された米国特許出願公開08/897,778に記載されている。
として援用される、“化学反応による粒子の効率的な製造”の表題の本発明と同
一の譲渡人の出願になる、米国特許出願公開08/808,850を参照された
い。この代案の設計は、レーザー熱分解による商業規模の量の粒子の製造を容易
にすることを意図している。反応室に反応物物質を注入するための各種の構成が
記載されている。
そして資源を効率的に使用するために設計された反応室を含んでいる。これらの
目的を達成するために、反応室は分子流の外側の不用な空間を減少するように、
一般的に細長い反応物入り口の形状に適合させる。ガスは、不用な空間に集積す
ることができ、散乱又は反応に関与しない分子による吸収により無駄な放射の量
を増加させる。更に、不用空間内の減少したガス流量のために、粒子は不用空間
に集積することができて反応室の汚染を引き起こす。
ャネル302は、ブロック304内に設置されている。ブロック304の面30
6は、導通路308の一部を形成する。導通路308のもう一つの部分は、主室
312の内部表面と末端310において合わさる。導通路308は、遮蔽ガス入
り口314で終わる。ブロック304は、反応及び所望の条件によって、細長い
反応物入り口316及び遮蔽ガス入り口314の間の関係を変更するために、位
置の変更又は交換をすることができる。遮蔽ガス入り口314からの遮蔽ガスは
、反応物入り口316で発生する分子流の周りの被覆を形成する。
うに設計される。1800ワットのCO2レーザーと共に使用する場合、関係す る酸化物、硫化物及び炭化物粒子の製造のための反応物入り口の妥当な寸法は、
約5mmないし約1メートルである。
312は、粒子生成物、未反応のいずれものガス及び不活性ガスを除去するため
に、分子流に沿った出口318を含む。管状部分320、322が、主室312
から突き出している。管状部分320、322は、反応室300を通るレーザー
ビーム経路328を規定する窓324、326を保持している。管状部分320
、322は、遮蔽ガスを管状部分320、322に導入するための遮蔽ガス入り
口330、332を含むことができる。
を停止せずに大量の粒子を収集するか、又は好ましくは、収集系内の別の粒子収
集器間で切り替えを行うことにより連続製造運転するように設計することができ
る。収集系は、流れの経路の中に、図1に示した収集系の曲線部分と同様な曲線
構成部品を含むことができる。反応物注入構成部品及び収集系の構成は、装置の
頂部で粒子を収集するように反転することができる。
できる。例えば、酸化物ナノスケール粒子は、金属酸化物の酸素含有量及び/又
は結晶構造を変更するために、酸化雰囲気又は不活性雰囲気のオーブン中で加熱
することができる。オーブン中での金属酸化物ナノスケール粒子の加工について
は、本命細書中に参考文献として援用される“熱による酸化バナジウム粒子の加
工”の表題の本発明と同一の譲渡人の出願になる、1997年7月21日出願の
米国特許出願公開08/897,903に更に開示されている。
ことに多分使用することができる。温和な条件、即ち粒子の融点より充分低い温
度の使用は、粒子をより大きい粒子に有意に焼結することなしに、金属酸化物の
化学量論又は結晶構造の改変をもたらすことができることが見出された。
例を図4に示す。装置400は、その中に粒子が置かれる管402を含む。管4
02は、反応物ガス源404及び不活性ガス源406に接続されている。所望の
雰囲気を作り出す反応物ガス、不活性ガス又はその混合物が管402に入れられ
る。
す適当な反応物ガスは、例えばO2、O3、CO、CO2及びこれらの組み合わせ を含む。反応物ガスは、Ar、He、及びN2のような不活性ガスで希釈できる 。管402中のガスは、不活性環境が所望の場合、全て不活性ガスであることが
できる。反応物ガスは、加熱される粒子の化学量論に対する変化とはならないか
もしれない。
望により加工工程を通して温度を系統的に変化できるが、管の関係する部分を比
較的一定の温度に維持する。オーブン408の温度は、一般的に熱伝対410に
よって測定される。酸化ケイ素、炭化ケイ素、金属酸化物、金属硫化物又は金属
炭化物粒子は、管402中にガラス瓶412に入れて置くことができる。ガラス
瓶412は、ガス流による粒子の損失を防止する。ガラス瓶412は、一般的に
開口端をガス流の源の方向に向けて置かれる。
酸化ガスの濃度、ガスの圧力又は流量、温度及び加工時間を含む正確な条件は、
選択することができる。温度は一般的に温和である、即ち、物質の融点より有意
に低い。温和な条件の使用により、より大きな粒子サイズを得ることとなる粒子
間の焼結を避けられる。僅かに高い温度のオーブン408で、僅かに大きい平均
粒子直径を得るために、粒子のある程度制御された焼結を行うことができる。
1000℃、更に好ましくは約50℃ないし約500℃そして更になお好ましく
は約50℃ないし約200℃の範囲である。粒子は、好ましくは約1時間ないし
約100時間加熱される。所望の物質を得るために適当な条件を得るためには、
ある程度の経験による調節が必要となるかもしれない。
いし約500nmそして更に好ましくは約5nmないし約100nm、そして更
になお好ましくは約5nmないし約50nmの平均直径を有する。粒子は一般的
に概略球形の全体的外観を有している。詳細な検査では、粒子は一般的に基礎を
なす結晶格子に対応する小面を有する。それにもかかわらず、粒子は物理的3次
元に概略等しい成長を示す傾向があり、全体として球状の外観を与える。非対称
粒子の直径の測定は、粒子の主軸に沿った長さの測定値の平均に基づいている。
主軸に沿った測定のそれぞれが、好ましくは、少なくとも粒子の約95パーセン
ト、そして更に好ましくは少なくとも粒子の約98パーセントにおいて約1ミク
ロン以下である。
他の電磁力により緩い塊を形成する傾向がある。それにもかかわらず、粒子(即
ち一次粒子)のナノメートルスケールは、粒子の透過型電子顕微鏡写真で明確に
認識される。結晶性粒子については、粒子サイズは一般的に結晶サイズに対応す
る。粒子は、一般的に顕微鏡写真で観察されたようなナノメートルスケールの粒
子に対応する表面積を有する。更に、粒子はその小さいサイズ及び物質の重量当
たりの大きな表面積により独特の特性を示す。例えば、TiO2ナノ粒子は、一 般的に、本明細書に参考文献として援用される、“UV線阻止物及び光触媒物質
”の表題の本発明と同一の譲渡人による出願になる、そして同時に出願された米
国特許出願公開に記載されているように、これら小さいサイズに基づいた変更さ
れた吸収特性を示す。
電子顕微鏡写真の検査から決定されたように、粒子は、一般的に少なくとも粒子
の約95パーセントが平均直径の約40パーセント以上、及び平均直径の約16
0パーセント以下の直径を有するようなサイズ分布を有する。好ましくは、粒子
は、少なくとも粒子の約95パーセントが平均直径の約60パーセント以上、及
び平均直径の約140パーセント以下の直径を有するような直径分布を有する。
れば、粒子サイズ分布は実際上裾を持たず、有意に大きいサイズを持つ粒子が少
数であることを示している。これは小さい反応域及びそれに対応した粒子の急速
なクエンチの結果である。好ましくは106中の約1粒子以下が平均直径の約5 倍より大きい直径を有する。狭いサイズ分布及び分布の裾を持たないことは、以
下に記載するような各種の適用において活用することができる。
量論に関して非常に高い均質性を有する。また、上記の方法により製造した酸化
ケイ素、炭化ケイ素、金属酸化物、金属硫化物及び金属炭化物粒子は、結晶形成
過程が格子から不純物を排除する傾向があるために、一般的に反応物ガスより高
い純度を有する。更に、レーザー熱分解によって製造された粒子は、一般的に高
度の結晶化度を有することが見出されている。高度の結晶化度は、ある種の適用
には望ましいかもしれない、より硬い及び/又はより耐磨耗性の粒子を得ること
ができることとなる。特に、小さい粒子サイズ、サイズの均一性、結晶相及び純
度の全ての特徴を考慮して、本明細書に記載された粒子は、研磨剤としての適用
に、特に適している。
ザー熱分解は一般的に高度の均質性を持つ単一相の結晶粒子の製造に効果的であ
る。一次粒子は、一般的に物質の単一結晶からなる。粒子の単一相、単一結晶の
特性は、均質性及び狭いサイズ分布と共に利益を伴なって使用することができる
。ある条件下では、アモルファスな粒子がレーザー熱分解によって形成される。
アモルファス粒子は、ある種の適用に有用であることができ、そしてアモルファ
ス粒子は、結晶性粒子を形成するために、一般的に温和な条件下で加熱すること
ができる。
状態で存在することが知られている。例えば、酸化鉄はFe2O3、Fe3O4及び
FeOの化学量論で知られている。FeOはNaClと同様な立方晶系結晶構造
を持ち、そしてFe3O4は、立方晶系逆スピネル結晶構造を有する。α−Fe2 O3は三方晶系結晶構造を有し、一方γ−Fe2O3は600℃以上でα−Fe2O 3 に変わる立方晶系スピネル結晶構造を有する。同様に、鉄炭化物はFe3C(セ
メンタイト−斜方晶系)、Fe7C3(三斜晶系及び六方晶系、偽六方晶系又は斜
方晶系)、Fe5C2(ハッグカーバイド−単斜晶系)、Fe2C(セメンタイト 、斜方晶系)、Fe20C9、Fe4C及びε−炭化物(FexC、2<x<3、六 方晶系)の化学量論で認められてきた。レーザー熱分解で使用される条件は、一
般的に鉄化合物の所望の形態を選択するために変更することができる。Fe3C 及びFe7C3の選択的に製造する特定の装置の条件は、Bi等の、J.Mate
rial Res.の論文、前出、に記載されている。
アモルファス及びその混合物のような各種の結晶構造を持つことができる。炭化
ケイ素は、同様に各種の結晶構造を持つことができる。
ブデンは、例えばMoO2(単斜晶系、ゆがんだルチル型)、MoO3(三斜晶系
)、Mo3O8及びMo8O23の化学量論を持つことができる。同様に、硫化モリ ブデンは、例えばMo2S3、MoS2、MoS3及びMo2S5の化学量論を持つこ
とができる。酸化タングステンは、例えばWO2(正方晶系、ゆがんだルチル型 )、WO3(斜方晶系)、W18O49及びW20O58の化学量論を持つことができる 。炭化タングステンはWC2(六方晶系)及びWC(α−正方晶系及びβ−立方 晶系)の科学量論で知られている。
ことができる。その最も簡単な形態においては、仕上げ用組成物は先に記したよ
うに製造された研磨剤粒子を、単に使うことができる。更に好ましくは、研磨剤
粒子は水性又は非水性溶液に分散される。溶液は一般的に水、アルコール、アセ
トン等のような溶剤を含む。研磨剤粒子は、溶剤中に有意に溶解してはならない
。仕上げ用組成物は、一般的に重量で約0.05パーセントないし約50パーセ
ント、そして好ましくは約0.1パーセントないし約10パーセントの研磨剤粒
子を含む。
水は、脱イオン及び/又は蒸留されていなければならない。いかなる溶剤も約9
9パーセント以上、そして更に好ましくは少なくとも約99.9パーセント以上
純粋でなければならない。仕上げ用組成物は好ましくはいかなる不純物、即ち仕
上げ工程の実施に関与しないいかなる組成も含まない。特に、仕上げ用組成物は
、溶剤中に溶解しない粒子状不純物を含んでいてはならない。
ば仕上げ用組成物は、コロイド状シリカのスラリーを含むことができる。硬い基
質の仕上げのためのコロイド状シリカの使用は、本明細書に参考文献として援用
される、米国特許第5,228,886号に記載されている。コロイド状シリカ
は、ある種の表面と化学的に反応することが示唆されている。レーザー熱分解に
よって製造されたシリカ粒子は、先に記載した特性のすべてから、コロイド状シ
リカの製造に理想的に適する。コロイド状シリカを、先に記載したような付加的
な研磨剤粒子と共に使用する場合、仕上げ用組成物は、好ましくは重量で約0.
05ないし約5パーセント、そして更に好ましくは約0.1ないし約2パーセン
トの研磨剤粒子を含む。
ができる。金属の仕上げには、例えば約3.0ないし約3.5の範囲の酸性のp
Hが一般的に好まれる。氷酢酸のような各種の酸を使用することができる。酸化
物表面の仕上げには、例えば約10.5ないし約11のpHを持つ塩基性の仕上
げ用組成物を使用することができる。
いし約50nmの平均直径を持つ、酸化ケイ素、炭化ケイ素、金属酸化物、金属
硫化物及び金属炭化物を含む。好ましい研磨剤粒子は、SiO2、SiC、Ti O2、Fe2O3、Fe3O4、Fe3C、Fe7C3、MoS2、MoO2、WC、WO 3 及びWS2のような化合物を含む。更に、好ましい研磨剤粒子は比較的狭い直径
分布及び先に記載したように、平均直径より数倍大きい粒子直径の効率的な切れ
を有する。研磨剤粒子の特定な組成は、所望の平滑さを効率的に得るための適当
な直径分布と同様に、仕上げられる表面に対して、粒子が適当な硬度を有するよ
うに選択されなければならない。硬すぎる研磨剤粒子は、表面に所望しない欠き
傷を作ることができる一方、やわらかすぎる粒子は、研磨性が適当でないかもし
れない。
ければならない。仕上げ表面の清浄化の一つの接近方法は、仕上げ表面を傷つけ
ない洗浄溶液により研磨剤粒子を溶解することを含む。
は機械化学的仕上げに使用することができる。いずれの場合も、仕上げ用組成物
は、一般的に仕上げを行う仕上げ用パッド又は布に塗布される。各種の機械的ポ
リッシャーのいずれをも、例えば振動式ポリッシャー及び回転式ポリッシャーを
使用することができる。
ある。単一表面上の集積回路の密度が増加しているので、対応する基板の平滑さ
の誤差が更に厳密になってくる。従って、基板上に回路パターンが描かれる前に
、仕上げ工程が表面の小さい不連続部分を除去できることが重要である。本明細
書で開示された研磨剤粒子の小さいサイズ及び均質性は、これらの適用に対する
仕上げ組成物として特に適している。SiO2粒子は、ケイ素基材半導体基板の 仕上げに適している。同様に、本命細書中に参考文献として援用される、米国特
許第4,956,313号に記載されているように、絶縁層及び導電層のパター
ンを描かれた部分を含む層状構造体を、同時に平面化することができる。
明の更なる態様は特許請求の範囲にある。当業者によって了解されるように、上
記の方法及び装置に対する多くの変更は、特許請求の範囲に規定されたことのみ
に制限される本発明の思想及び範囲からはずれることなく、当業者によって行う
ことができるであろう。
断面図である。上部挿入図は、注入ノズルの底面図であり、そして下部挿入図は
収集ノズルの平面図である。 図2は、レーザー熱分解装置の別の態様の反応室の概略透視図であり、装置の
内部を明示するために、反応室の材料は透明なものとして描写されている。 図3は、図2の線3−3に沿った反応室の断面図である。 図4は、断面が石英管の中心に沿った、酸化バナジウム粒子を加熱するための
オーブンの概略断面図である。
Claims (22)
- 【請求項1】 粒子の分散物を含む仕上げ用組成物であって、前記粒子が金
属化合物を含み、そして約5nmないし約200nmの平均粒子直径と、並びに
少なくとも粒子の約95パーセントが平均直径の約60パーセント以上及び平均
直径の約140パーセント以下の直径を有するような直径分布とを有する、前記
仕上げ用組成物。 - 【請求項2】 前記粒子が水性溶液中に分散されている、請求項1記載の仕
上げ用組成物。 - 【請求項3】 前記粒子が非水性溶液に分散されている、請求項1記載の仕
上げ用組成物。 - 【請求項4】 前記粒子がSiO2、SiC、TiO2、Fe3C、Fe7C3 、Fe2O3、Fe3O4、MoS2、MoO2、WC、WO3及びWS2からなる群か
ら選択された組成物を含む、請求項1記載の仕上げ用組成物。 - 【請求項5】 前記粒子が約5nmないし約100nmの平均直径を有する
、請求項1記載の仕上げ用組成物。 - 【請求項6】 表面を滑らかにする方法であって、前記表面を請求項1記載
の前記仕上げ用組成物で仕上げる工程を含む方法。 - 【請求項7】 前記仕上げが仕上げパッドによって行われる、請求項6記載
の方法。 - 【請求項8】 前記仕上げが電動式ポリッシャーによって行われる、請求項
6記載の方法。 - 【請求項9】 粒子の分散物を含む仕上げ用組成物であって、前記粒子が、
約5nmないし約200nmの平均粒子直径と少なくとも約90重量パーセント
の均質性を持つ単一結晶相とを有する金属化合物を含む、前記仕上げ用組成物。 - 【請求項10】 前記粒子がSiO2、SiC、TiO2、Fe3C、Fe7C 3 、Fe2O3、Fe3O4、MoS2、MoO2、WC、WO3及びWS2からなる群 から選択された組成物を含む、請求項9記載の仕上げ用組成物。
- 【請求項11】 前記粒子が約5nmないし約100nmの平均直径を有す
る、請求項9記載の仕上げ用組成物。 - 【請求項12】 前記粒子が少なくとも約95重量パーセントの均質性を持
つ単一結晶相を有する、請求項9記載の仕上げ用組成物。 - 【請求項13】 前記粒子が少なくとも約99重量パーセントの純度を持つ
単一結晶相を有する、請求項9記載の仕上げ用組成物。 - 【請求項14】 前記粒子が少なくとも約99.9重量パーセントの純度を
持つ単一結晶相を有する、請求項9記載の仕上げ用組成物。 - 【請求項15】 粒子の分散物を含む仕上げ用組成物であって、前記粒子が
、約5nmないし約200nmの平均直径を有していてそして実質的に1ミクロ
ン以上の直径の粒子を含まない金属化合物又はケイ素化合物を含む、前記仕上げ
用組成物。 - 【請求項16】 粒子の分散物を含む仕上げ用組成物であって、前記粒子が
金属炭化物又は金属硫化物を含み、そして約5nmないし約200nmの平均粒
子直径を有する、前記仕上げ用組成物。 - 【請求項17】 SiO2粒子を製造する方法であって、ケイ素化合物先駆 物質と、酸化剤及び放射線吸収ガスとを含む分子流を反応室中で熱分解する工程
を含み、前記熱分解がレーザービームから吸収した熱によって行われる、前記製
造方法。 - 【請求項18】 前記ケイ素化合物前駆物質がCH3SiCl3からなる群か
ら選択された化合物を含む、請求項17記載の方法。 - 【請求項19】 前記レーザービームがCO2レーザーによって供給される 、請求項17記載の方法。
- 【請求項20】 前記分子流が一次元に細長いノズルによって発生される、
請求項17記載の方法。 - 【請求項21】 酸化鉄粒子を製造する方法であって、鉄化合物前駆物質と
、酸化剤及び放射線吸収ガスとを含む分子流を反応室中で熱分解する工程を含み
、前記熱分解がレーザービームから吸収した熱によって行われる、前記製造方法
。 - 【請求項22】 前記鉄前駆物質がFe(CO)5を含む、請求項21記載 の方法。
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