JP2001517120A - Probe tip for radiation thermometer - Google Patents

Probe tip for radiation thermometer

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JP2001517120A JP54109398A JP54109398A JP2001517120A JP 2001517120 A JP2001517120 A JP 2001517120A JP 54109398 A JP54109398 A JP 54109398A JP 54109398 A JP54109398 A JP 54109398A JP 2001517120 A JP2001517120 A JP 2001517120A
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クラウス,ベルンハルト
ベアヴェルト,フランク
ホンネフェラー,カチャ
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ブラウン ゲーエムベーハー
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Abstract

(57)【要約】 本発明は、測定される赤外線が、導波管装置(12)を通して電気の出力信号に入射放射線を変換する放射センサ(14)に向けられ、ターゲット温度が下流の電子測定回路によって決定される放射体温計プローブチップ(10)に向けられる。センサ(14)の温度勾配を低減するために、本発明は、熱結合装置(24、28、30)を通して導波管装置(12)に熱的に連結された、センサハウジング(16)を提供する。その結果、導波管装置は、熱結合装置(24、28、30)を通して、放射線及びその側面に近い、センサハウジング(16)の側面と直接熱接触する。好ましくは、熱を良好に導く材料でできた熱結合装置(24、28、30)は実質的に、全表面で、センサハウジング(16)の対応する側面と隣接して係合している。更に、放射センサ(14)のハウジング(16)の中で温度勾配を低減する好適な方法が、記載されている。本発明のプローブチップ(10)は、温度が、異質な加熱が起こるケースの中でも正確に決定されることを可能にする。更に、プローブチップは、小さく、軽く、小型であり、人の耳管内で温度を測るために従来使用されるように、扱い易く、ユーザーフレンドリな放射体温計の作成を可能にする。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides an electronic measurement system in which the infrared light to be measured is directed through a waveguide device (12) to a radiation sensor (14) that converts the incident radiation into an electrical output signal and the target temperature is downstream. A radiation thermometer probe tip (10) determined by the circuit. To reduce the temperature gradient of the sensor (14), the present invention provides a sensor housing (16) thermally coupled to the waveguide device (12) through a thermal coupling device (24, 28, 30). I do. As a result, the waveguide device is in direct thermal contact with the radiation and the side of the sensor housing (16) close to the radiation and its side through the thermal coupling device (24, 28, 30). Preferably, the thermal coupling device (24, 28, 30), made of a material that conducts heat well, engages on substantially all surfaces adjacent to the corresponding side of the sensor housing (16). Furthermore, a preferred method for reducing the temperature gradient in the housing (16) of the radiation sensor (14) is described. The probe tip (10) of the present invention allows the temperature to be accurately determined even in cases where extraneous heating occurs. In addition, the probe tip is small, light, small, and allows for the creation of an easy to handle and user-friendly radiothermometer, as conventionally used to measure temperature in the human ear canal.

Description

【発明の詳細な説明】 放射体温計用のプローブチップ 本発明は、請求項1の従来技術部分に従った放射体温計用のプローブチップと 、そのようなプローブチップを組み込んだ放射体温計に関する。本出願は、更に 、従来技術のプローブチップの放射センサにおいて、温度勾配を低減する方法に 関する。 放射体温計は、人の体温を迅速且つ正確に決定するためにますます使用されて きている。これは、鼓膜からの赤外線の放射を測るために、耳管に体温計のプロ ーブチップを導入するという単純な手順を含む。この鼓膜からの赤外線の放射は 、体温の正確な指示であり、口、直腸又は脇の下での測定よりも、より温度変化 に反応する。水銀で充填された従来の体温計と比較すると、放射体温計は、かな り急速且つ正確なだけでなく、例えば、口又は直腸測定が水銀充填体温計によっ てなされる場合等に起こりうる粘膜との接触から生じる感染を伝える危険性を排 除することが判明した。更に、直腸に穴を開ける危険性が排除され、これは赤ち ゃん及び子供たちの体温を測る場合に、従来の体温計が有していた常に存在して いた危険性であった。 放射体温計のプローブチップは、通常、赤外線放射を測定することができるよ うに、開口部を含み、当該開口部から延びた赤外線の導波管を通して、例えば熱 電センサ、熱電推又はボロメータ装置といった熱放射センサまで向いている。装 置は、センサに発生する部分的な温度増加を電気の出力電圧に変換し、当該出力 信号よりも下流の電子測定回路によってターゲット温度を決定する。 例えば、プローブチップが、耳管との接触のために加熱されるときに起こりう るような、当該プローブチップで発生する温度勾配が起こった場合、適切な対抗 策がとられなければ、熱放射センサの感度のために測定誤差が頻繁にもたらされ る。 そのような誤った読みを避けるために、様々な異なる方法が、当該技術におい て知られている。 例えば、それは、米国特許第4,602,642号明細書の中で提案されてお り、測定よりも前におよそ37℃の予想ターゲット温度に臨床の放射体温計のプ ローブチップを予熱する。それによって従来耳の穴である測定点と、中に受容さ れた放射センサを有するプローブチップとの間の温度勾配を最小にし、測定精度 へのそのような温度勾配の影響を最小にする。しかし、均等にプローブチップを 予熱することは、かなり精巧な技術を含み、それは、製造工程及び付随する費用 だけでなく、そのようなプローブチップの使い易さにおいても有害な結果を有す る。更に、必要な加熱時間がかなり長く、容易な測定を妨げ、特に電池で動く放 射体温計が使用されるときに付随する高パワー消費量のために、その使用は非実 用的に思える。 他の可能性は、入熱が低い温度上昇及び低い温度勾配のみを生じるように、大 きい熱質量に放射センサを一体化することを含む。例えば、欧州特許第4418 66号明細書では、センサが、ヒートシンクに位置して、耳からの熱はセンサの まわりでヒートシンクに向けられ、従ってセンサから遠ざけられているプローブ チップが記載されている。米国特許第4,895,164号明細書では、センサ 装置と導波管の実質的な部分は、実質的に等温状態を確保するために十分なサイ ズ及び良好な熱伝導性の金属ブロックに囲まれている。しかし、本アプローチの その不利益は、大きい熱質量によって体温計が扱いにくく重くなり、その結果、 小さい先端(pivotal)のプローブチップが不可能なことである。加えて、設計 と構造の制約が高い。 米国特許第5,293,877号明細書の教示内容によると、放射センサは、 プローブチップから熱的に絶縁され、プローブチップへの入熱がセンサにおいて 低い温度上昇及び低い温度勾配だけを生じる。しかし、プローブチップの加熱が 起こると、熱的に絶縁されたセンサは異なる温度を採用し、従って導波管及び入 口ウインドゥの固有の放射も測る。よってこの固有の放射を許容するために、セ ンサ温度に加えて、導波管及び入口ウインドゥの温度も決定することが、必要で ある。 前記の問題を解決するために、米国特許第5,127,74号明細書は、放射 を、実際に測定した直前及び/又は直後に、例えばシャッタを使用して「零平衡 (null balancing)」を実行することが提案されているが、これは機械及び電 気の複雑さを追加する。 米国特許第5,293,877号明細書では、プローブチップ又はセンサにお いて起こる温度勾配が温度センサで決定され、放射温度の計算におけるそのよう な勾配に適切な手当(allowance)がなされている。しかし、一般に全く小さい 温度差のため、これらの温度勾配を測ることは、かなり複雑なプロセスである。 他の不利益は、センサ用の空間が必要なことと、これによって小さいプローブチ ップとなることである。加えて、放射温度の較正及び計算の複雑さも増加する。 米国特許第4,722,612号明細書では、第一放射センサの反対に連続し て接続され、温度勾配に露出されるが放射に露出されないように配置された第二 の放射センサによって、「センサオフセット」が補償されている。しかし、この タイプのダブルセンサは、当然、より高額であり、シングルセンサより大きい。 本請求項1の従来技術部分が説明された日本国特許出願第63−91526号 明細書で、センサハウジングの円筒状の側壁への導波管装置からの熱結合が、温 度勾配を低減する手段として提案されている。本アプローチによって、センサハ ウジングのほぼ中央にある結合位置の最適な選択は、起こり得る全ての温度勾配 のサイン及びサイズに依存するだけではなく、特に、センサハウジングの特殊な 形状にも依存し、個々のハウジング部分の異なる熱容量だけでなく、横の溶接の 継ぎ目(通常そのようなセンサに存在している)も役目を果たし、その熱伝導率 は個々のセンサ間で広く異なる可能性がある。従って、良好な結果を得るために 、実施において、確かに大量生産で若干の製造労力を含む、結合位置を個々に調 整することが必要である。加えて、このタイプの熱結合は、センサのリードを通 してセンサハウジングの底部に結合された熱を考慮せず、厳しい測定誤差の付随 する危険をもたらす。言及される文書の中で、温度勾配の存在は、センサハウジ ングの底の補償部材によって考慮される。 放射体温計のためのプローブチップを提供することが、本発明の目的であり、 それは、最大可能な容易さ及び経済性を提供し、軽く、取り扱いが容易で、小さ く、プローブチップで起こり得るいかなる温度勾配にも関係なく正確且つ容易に 温度を測定することができ、また従来技術の装置の上記の不利益を有していない ものである。更なる目的は、熱放射センサのハウジング内の温度勾配を低減する 方法の提供にある。これによって、温度勾配に起因する誤った読みが主に排除さ れる。 本発明に従うプローブチップで、これらの目的は解決される。本発明の、放射 センサ及び熱結合装置を含む装置は、導波管に熱質量中心において熱的に連結さ れる。熱質量中心は、放射センサの異質な温度変化を生み出すことなく熱が供給 され得る、装置上の点又はライン又は領域であるべきと理解されている。この利 益は、導波管と放射センサとの間の温度勾配存在下で、測定結果を改悪する温度 勾配が、放射センサの範囲内で起こらないことである。一層更に、低レベルで熱 結合装置の熱容量を保つことによって、導波管及び放射センサの間で起こる可能 性があるいかなる温度差も、迅速に釣り合うであろう。他方、高い熱容量は、例 えば、測定される物体との接触のために、測定中に供給され又は引き出された熱 の一般に低い量が、プローブチップの内で目立つ温度勾配を生産しないという利 点を有する。 本発明のプローブチップの好ましい実施形態の中で、熱結合装置は、熱蓄積装 置及び熱分散装置を含み、それらは、互いに熱接合だけを介して直接熱接触して おり、互いに熱的に絶縁される一方、センサハウジングは、熱分散装置と熱接触 しており、熱接合部(thermal junction)は、放射センサ及び熱分散装置を含 む装置の熱質量中心に位置する。特に有利に、センサハウジングの少なくとも2 つの対面は、熱分散装置と直接熱接触しており、少なくともセンサハウジングの これらの特別な側面の温度においてセンサハウジングの温度変化が一様な変化を 生産するようになっている。その熱蓄積装置は、導波管装置と直接熱接触し、プ ローブチップハウジングから好ましくは熱的に絶縁されている。 熱の移動を最適化するために、熱結合装置は、好ましくは、例えば、銅、アル ミニウム又は亜鉛であって、発生した温度勾配を低減するために熱質量が比較的 大きであろう良好な熱伝導性の性質を有する材料製である。 本発明のプローブチップの更なる好ましい実施形態は、サブクレームに記載し た。請求項13は、プローブチップを有する本発明に従った放射体温計に関する 。熱放射センサのハウジングの温度勾配を低減する方法を、発明の請求項14に 示した。 本発明の更なる特徴及び利点は、添付図面に関連した、好ましい実施形態の後 続の記載から明白になるであろう。図面の中で、同様の部材には同様の符号を付 している。 図1は、本発明のプローブチップの概略図であり、本発明に従った関連する放 射センサのハウジングへの熱結合を示した図である。 図2は、放射体温計用の本発明のプローブチップの実施形態を示した図である 。 図1について述べる。放射体温計用の本発明のプローブチップ10を、概略的 に示す。プローブチップ10は、入口開口部(図示せず)から、放射センサ即ち センサ内の放射によって発生される部分的な温度増加を電子出力信号に変換する 熱電気変換部14に、測定される赤外線を送るための導波管装置12を含み、そ の電子出力信号から、ターゲット温度は、下流の電子測定回路図(図示せず)に よって決定される。 その放射又は温度センサ14は、センサハウジング16を含み、その中で、例 えば、熱電対が、センサ部材18として配置されている。それは、センサハウジ ング16の底部のリード(図示せず)を通して、下流の電子測定回路に連結され る。入射放射線又は導波管装置12に近いセンサハウジング16のその側面には 、センサウインドウ20が設けられており、測定される赤外線を通すことができ る。その導波管装置12及び放射センサ14は、互いかエアギャップ22によっ て熱的に絶縁されている。 放射センサ14は、熱結合装置24、28、30に囲まれている。熱結合装置 は、参照符号26で示した位置で導波管装置12と直接熱接触している熱蓄積装 置24を含む。従来エアギャップが、外側に向かうプローブチップハウジング( 図示せず)から熱蓄積装置24の熱絶縁を提供しており、最小の可能なレベルで 入熱を維持している。熱分散装置28が、放射センサ14及び熱蓄積装置24の 間に配置される。該熱分散装置は、放射センサ14を囲み、導波管装置12か らエアギャップ22によって熱的に絶縁される。その熱蓄積装置24及び熱分散 装置28は、互いに同様にエアギャップ22によって熱的に絶縁される。それら の間の直接熱接触が、横に配置された熱接合部30だけを通して存在する。内部 に向かって、熱分散装置28はセンサハウジング16の側面から、エアギャップ 32によって熱的に絶縁され、入射放射線又は導波管装置12に近いセンサハウ ジング16の側面と直接熱接触している、すなわち、上側又はハウジング16の リッド、及びその反対側、すなわちハウジング16の下側又は底部である。セン サハウジング16の加熱又は冷却の最大可能な均一性のために、熱分散装置28 は、センサウインドウ20を除いて、上記したセンサハウジング16と実質的に その全面領域で隣接係合している。 熱的平衡の急速な調整及び最適な熱移転を確保するために、その熱蓄積装置2 4及び熱分散装置28は、好ましくは、例えば、銅、アルミニウム、亜鉛又はそ の他同種のものといった、熱を良好に導く材料でできている。 外部の影響による導波管装置12又は熱蓄積装置24の加熱又は冷却において 、温度勾配は識別される部材で起こる。熱エネルギの一部は、熱接合部30を通 して熱蓄積装置24から、熱エネルギを底部へと進めてセンサハウジング16の リッドへと伝達する熱分散装置28に最初に送られる。センサハウジング16の 底部及びリッドへの熱伝達が実質的に均等に起こるように熱接合部30の位置及 び熱分散装置28の形は一定に選択され、センサ14の冷接点及び熱接点の異な ったレベルの加熱及びこの状況で反射するセンサ出力信号の結果発生する放射セ ンサ14での可能ないかなる温度勾配をも防ぐようになっている。これはセンサ 14の形状により、高い熱容量を所有する冷接点は、通常直接にセンサハウジン グ16の底部に連結される。一方、熱接点は、非常に低い熱容量を有する熱的に 絶縁された膜に置かれ、センサハウジング16に膜、センサハウジング16にお けるガス、だけを通して、熱放射だけによって連結される。 本発明において開示したセンサハウジング16への熱結合の中で、底部とリッ ドとの熱容量の間の慣習的に比較的大きい差異だけを補うのではなく、センサハ ウジング16の底部への放射センサ14のリードを経た熱結合をも補うように、 熱分散装置28は構成され、熱接合部30は配置されている。これによって正確 な温度測定は、また、異質な加熱が起こるケースの中で確保される。 放射センサ14が、熱結合装置24、28、30を通して、導波管装置12と (及び適用可能な場合、放射を許容するウインドゥ(図示せず)と)熱接触して いるので、導波管12(及びウインドゥを通る放射線)の固有放射のための補償 を提供することは必要でない。そして、シャッタ、追加のセンサ、二倍の放射セ ンサ、その他同種のものを用いた、温度変化によるヌルドリフトを補うものは必 要でない。本発明の熱結合アプローチも、安い熱電推又はホロメータセンサを使 用することが可能であり、従って特に最適化及び高価な特殊なタイプの必要性を 排除する。 図2は、放射体温計用の本発明のプローブチップの特別な実施形態を示す。そ のプローブチップ10は、測定される赤外線の通過のためにその前端部で入口開 口部又はウインドゥ34を有する。そしてそれは、導波管12によって、導波管 12からエアギャップ22によって熱的に絶縁される放射センサ14に向けられ ている。 参照数字26によって識別された断面に沿って、導波管12は、熱蓄積装置2 4と熱接触している。それは、組立を単純にするために、上部24aと当該上部 24aと容易に接続可能な下部24とから構成されている。2つの部分は温度勾 配を低減するために比較的大きい熱質量を有するように設計されている。可能な 限り低レベルで入熱を維持するために、エアギャップ36が、プラスチックでで きているプローブチップハウジング38から、熱蓄積装置24の外側の方へ熱絶 縁を提供している。 その熱蓄積装置24は、互いを簡単に接続するための2つの部分28a及び2 8bを含む熱分散装置に囲まれており、そこから、存在し得るいくつかの接触点 を除いてエアギャップ22によって熱的に絶縁されている。熱蓄積装置の下部2 4bと熱分散装置の下部28bとの間には、あるにしても、熱伝導性に乏しい性 質を有し、公差を補うために役立つ弾性Oリング31が提供されている。熱分散 装置の上部28aは、エアギャップ32によってセンサハウジング16の側面か ら、またエアギャップ22によって導波管装置12から熱的に絶縁されており、 上部側面又はセンサハウジング16のリッドと直接熱接触している。熱分散装置 の下部28bは実際的には下側又はセンサハウジング16の底部と全面で熱接触 している。 熱伝達の更なる最適化のために、熱蓄積装置24及び熱分散装置28は、例え ば、銅、アルミニウム、亜鉛又はその他同種のものといった熱を良好に導く材料 でできている。 センサ14のそのリード40は、熱蓄積装置24内に位置しているが、そこか ら断熱されている。柔軟なプリント回路基板41を通して、センサ14は、放射 センサ14で生産された電気の出力信号の評価用に放射体温計の下流の電子回路 (図示せず)に接続されている。リード40を通して入熱を最小にするために、 本プリント回路基板は、非常に薄い形状である。同じ理由で、それはまた、低熱 導体であるように設計され、熱蓄積装置24にOリング31に近接して熱的に連 結されている。 上記説明より明白になるように、導波管装置12又は周囲へのセンサハウジン グ16の熱結合は、本発明において開示されるように取り扱い容易で及び使い易 い放射体温計のために作られる小さく、軽く、小型のプローブチップを可能にし 、温度勾配に起因している誤った読みが確実に避けられる。単純な構造、及び低 価格の従来の放射センサ、例えば熱電推又はボロメータの使用によって、本発明 のプローブチップは、製造の容易さ及び経済性を提供するという更なる利益を有 する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION                       Probe tip for radiation thermometer   The invention relates to a probe tip for a radiation thermometer according to the prior art part of claim 1. And a radiation thermometer incorporating such a probe tip. The present application further provides To reduce the temperature gradient in prior art probe tip radiation sensors Related.   Radiation thermometers are increasingly used to determine human temperature quickly and accurately coming. This is a thermometer prosthesis attached to the ear canal to measure infrared radiation from the eardrum. Includes the simple procedure of introducing a live tip. The infrared radiation from this eardrum Is an accurate indication of body temperature and changes in temperature more than measurements in the mouth, rectum or armpits Reacts to. Compared to conventional thermometers filled with mercury, radiation thermometers Not only is it faster and more accurate, but for example, oral or rectal measurements can be Elimination of the risk of transmitting infection resulting from contact with mucous membranes Was found to be removed. In addition, the risk of puncturing the rectum is eliminated, When measuring the temperature of pens and children, there is always a conventional thermometer There was danger.   The probe tip of a radiation thermometer can usually measure infrared radiation. Thus, through an infrared waveguide including an opening and extending from the opening, for example, heat It is suitable for thermal radiation sensors such as electric sensors, thermoelectric propulsion or bolometer devices. Dress The device converts the partial temperature increase occurring in the sensor into an electric output voltage, An electronic measurement circuit downstream of the signal determines the target temperature.   For example, what happens when the probe tip is heated due to contact with the ear canal If a temperature gradient occurs at the probe tip, such as If no measures are taken, measurement errors are frequently introduced due to the sensitivity of the thermal radiation sensor. You.   To avoid such false readings, a variety of different methods are known in the art. Known.   For example, it is proposed in U.S. Pat. No. 4,602,642. To the expected target temperature of approximately 37 ° C prior to measurement. Preheat lobe tips. As a result, the measurement points, which are Temperature gradient between the probe tip with Minimize the effect of such temperature gradients on However, evenly use probe tips Preheating involves a rather elaborate technique, which involves the manufacturing process and the associated costs. As well as detrimental results in the ease of use of such probe tips You. In addition, the required heating time is quite long, hindering easy measurements and in particular battery-powered Due to the high power consumption associated with using a thermometer, its use is impractical. Sounds useful.   Other possibilities are large, such that heat input produces only low temperature rises and low temperature gradients. Integrating the radiation sensor into the thermal mass. For example, European Patent No. 4418 No. 66, the sensor is located on a heat sink and heat from the ears is Probe around the heat sink, and therefore away from the sensor Chips are listed. U.S. Pat. No. 4,895,164 discloses a sensor. A substantial portion of the device and the waveguide are sufficiently large to ensure a substantially isothermal condition. Metal block with good thermal conductivity. However, this approach The disadvantage is that the large thermal mass makes the thermometer unwieldy and heavy, This is what makes a small pivotal probe tip impossible. In addition, the design And structural constraints are high.   According to the teachings of US Pat. No. 5,293,877, the radiation sensor Thermally isolated from the probe tip, heat input to the probe tip is Only low temperature rises and low temperature gradients occur. However, the heating of the probe tip When this happens, the thermally isolated sensor will adopt a different temperature and therefore the waveguide and input It also measures the inherent radiation of the mouth window. Therefore, to allow for this inherent radiation, In addition to the sensor temperature, it is necessary to determine the temperature of the waveguide and the entrance window. is there.   To solve the above problem, US Pat. No. 5,127,74 discloses a radiation Immediately before and / or immediately after the actual measurement, e.g. (Null balancing) is proposed, but this is Add damn complexity.   In US Pat. No. 5,293,877, the probe tip or sensor is The temperature gradient that occurs is determined by the temperature sensor and is Appropriate allowances have been made for different slopes. But generally quite small Measuring these temperature gradients is a rather complicated process due to temperature differences. Another disadvantage is the need for space for the sensor, and thus the small probe chip. It is to become a top. In addition, the complexity of the calibration and calculation of the radiation temperature increases.   In U.S. Pat. No. 4,722,612, there is a continuous Connected to and exposed to the temperature gradient but not exposed to radiation The "sensor offset" is compensated for by the radiation sensor. But this Double sensors of the type are, of course, more expensive and larger than single sensors.   Japanese Patent Application No. 63-91526 describing the prior art part of claim 1 In the description, the thermal coupling from the waveguide device to the cylindrical side wall of the sensor housing It has been proposed as a means to reduce the degree gradient. With this approach, sensor The optimal choice of the binding position, which is approximately in the middle of the housing, is determined by all possible temperature gradients Not only depends on the sign and size of the sensor housing, Depending on the shape, not only the different heat capacities of the individual housing parts, but also Seams (usually present in such sensors) also play a role, and their thermal conductivity Can vary widely between individual sensors. Therefore, to get good results In practice, the connection positions are individually adjusted, certainly including some manufacturing effort in mass production. Need to be adjusted. In addition, this type of thermal coupling can pass through the sensor leads. Does not take into account the heat coupled to the bottom of the sensor housing and is subject to severe measurement errors Poses a risk. In the documents mentioned, the presence of a temperature gradient Considered by the compensation member at the bottom of the ring.   It is an object of the present invention to provide a probe tip for a radiation thermometer, It offers maximum possible ease and economy, is light, easy to handle and small Accurate and easy regardless of any temperature gradients that may occur at the probe tip Can measure temperature and does not have the above disadvantages of prior art devices Things. A further object is to reduce temperature gradients in the housing of the thermal radiation sensor. In providing the method. This largely eliminates false readings due to temperature gradients. It is.   These objects are solved with a probe tip according to the invention. Radiation of the present invention The device, including the sensor and the thermal coupling device, is thermally coupled to the waveguide at the center of thermal mass. It is. The thermal center of mass is supplied by heat without creating extraneous temperature changes of the radiation sensor It is understood that it should be a point or line or area on the device, which can be done. This advantage The benefit is the temperature that degrades the measurement results in the presence of a temperature gradient between the waveguide and the radiation sensor. The gradient does not occur within the range of the radiation sensor. Even more low-level heat What can happen between the waveguide and the radiation sensor by keeping the heat capacity of the coupling device Any potential temperature differences will quickly balance out. On the other hand, high heat capacity is an example For example, heat supplied or withdrawn during measurement due to contact with the object being measured Generally low volume does not produce a noticeable temperature gradient within the probe tip. Have a point.   In a preferred embodiment of the probe tip of the present invention, the thermal coupling device comprises a heat storage device. And heat dispersing devices, which are in direct thermal contact with each other only through thermal bonding And are thermally insulated from each other, while the sensor housing is in thermal contact with the heat spreader Thermal junctions include radiation sensors and heat spreaders. Located at the center of thermal mass of the device. Particularly advantageously, at least two of the sensor housings The two faces are in direct thermal contact with the heat spreader and at least the sensor housing Temperature changes in the sensor housing at these special side temperatures will produce a uniform change. It is designed to produce. The heat storage device is in direct thermal contact with the waveguide device and It is preferably thermally insulated from the lobe tip housing.   To optimize the transfer of heat, the thermal coupling device is preferably, for example, copper, aluminum, Minium or zinc whose thermal mass is relatively low to reduce the temperature gradient It is made of a material having good thermal conductivity properties which may be large.   Further preferred embodiments of the probe tip according to the invention are described in the subclaims. Was. Claim 13 relates to a radiation thermometer according to the invention having a probe tip. . A method for reducing a temperature gradient in a housing of a thermal radiation sensor is defined in claim 14 of the invention. Indicated.   Additional features and advantages of the invention will be set forth in the description of the preferred embodiments, taken in conjunction with the accompanying drawings, in which: It will be clear from the following description. In the drawings, similar members are denoted by similar reference numerals. are doing.   FIG. 1 is a schematic diagram of a probe tip of the present invention, and a related discharge tip according to the present invention. FIG. 4 is a view showing thermal coupling of a radiation sensor to a housing.   FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of the probe tip of the present invention for a radiation thermometer. .   Referring to FIG. The probe tip 10 of the present invention for a radiation thermometer is schematically illustrated Shown in The probe tip 10 receives a radiation sensor, i.e., from an inlet opening (not shown). Converts the partial temperature increase caused by radiation in the sensor to an electronic output signal The thermoelectric converter 14 includes a waveguide device 12 for transmitting infrared light to be measured, and From the electronic output signal, the target temperature is converted to a downstream electronic measurement circuit diagram (not shown). Is determined.   The radiation or temperature sensor 14 includes a sensor housing 16 in which, for example, For example, a thermocouple is arranged as the sensor member 18. It is a sensor housing Through a lead (not shown) at the bottom of the ring 16 to a downstream electronic measurement circuit. You. On the side of the sensor housing 16 near the incident radiation or waveguide device 12 , A sensor window 20 is provided to allow the infrared light to be measured You. The waveguide device 12 and the radiation sensor 14 are mutually or by an air gap 22. And is thermally insulated.   The radiation sensor 14 is surrounded by thermal coupling devices 24, 28, 30. Thermal coupling device Is a heat storage device in direct thermal contact with the waveguide device 12 at the position indicated by reference numeral 26. 24. Conventionally, the air gap is directed to the probe tip housing ( (Not shown) to provide thermal insulation of the heat storage device 24 with the smallest possible level Maintains heat input. The heat dispersing device 28 is connected to the radiation sensor 14 and the heat storage device 24. Placed between. The heat dispersion device surrounds the radiation sensor 14 and is Are thermally insulated by the air gap 22. Its heat storage device 24 and heat dispersion The devices 28 are also thermally insulated from each other by the air gap 22. Those Direct thermal contact exists only through the laterally arranged thermal joint 30. internal Toward the heat dissipating device 28, the air gap 32 and a sensor housing close to the incident radiation or waveguide device 12 In direct thermal contact with the sides of the housing 16, i.e. The lid and its opposite side, ie, the underside or bottom of the housing 16. Sen For maximum possible uniformity of heating or cooling of the sub-housing 16, the heat dispersing device 28 Is substantially the same as the above-described sensor housing 16 except for the sensor window 20. The entire area is adjacently engaged.   To ensure rapid adjustment of the thermal equilibrium and optimal heat transfer, the heat storage device 2 4 and the heat dispersing device 28 are preferably copper, aluminum, zinc or And other materials of the same type.   In heating or cooling of the waveguide device 12 or the heat storage device 24 due to external influences , Temperature gradients occur in the identified components. Some of the thermal energy passes through the thermal joint 30 From the heat storage device 24, heat energy is advanced to the bottom to It is first sent to a heat dispersing device 28 which communicates to the lid. Sensor housing 16 Position and position of thermal joint 30 such that heat transfer to the bottom and lid occurs substantially evenly. The shape of the heat dissipating device 28 is fixed, and the shape of the cold and hot Radiation generated as a result of a high level of heating and sensor output signals reflected in this situation. Any possible temperature gradient in the sensor 14 is prevented. This is a sensor Due to the shape of 14, the cold junction, which possesses a high heat capacity, is usually directly Connected to the bottom of the bracket 16. On the other hand, hot junctions have a very low heat capacity Placed on an insulated membrane, membrane on sensor housing 16 and sensor housing 16 Gas, only through thermal radiation.   During the thermal coupling to the sensor housing 16 disclosed in the present invention, the bottom and Rather than compensating for only relatively large differences in heat capacity between To also compensate for the thermal coupling through the leads of the radiation sensor 14 to the bottom of the housing 16, The heat dispersing device 28 is configured, and the heat bonding unit 30 is disposed. This is accurate A proper temperature measurement is also ensured in cases where extraneous heating occurs.   The radiation sensor 14 communicates with the waveguide device 12 through the thermal coupling devices 24, 28, 30. In thermal contact (and with a window (not shown) allowing radiation, if applicable) Compensation for the intrinsic radiation of the waveguide 12 (and radiation passing through the window) It is not necessary to provide And a shutter, an additional sensor, It is necessary to use a sensor or other similar device to compensate for null drift due to temperature changes. It is not necessary. The thermal coupling approach of the present invention also uses a cheap thermoelectric or holometer sensor. And therefore the need for special types which are particularly optimized and expensive Exclude.   FIG. 2 shows a special embodiment of the probe tip of the present invention for a radiation thermometer. So Probe tip 10 has an inlet opening at its front end for the passage of infrared radiation to be measured. It has a mouth or window 34. And it is a waveguide 12 12 to a radiation sensor 14 that is thermally insulated by an air gap 22. ing.   Along the cross-section identified by reference numeral 26, the waveguide 12 4 in thermal contact. It consists of the upper part 24a and the upper part to simplify the assembly. 24a and a lower portion 24 that can be easily connected. The two parts are temperature gradients It is designed to have a relatively large thermal mass to reduce distribution. Possible In order to maintain the heat input at the lowest possible level, the air gap 36 is made of plastic. From the probe tip housing 38 to the outside of the heat storage device 24. Offering rims.   The heat storage device 24 has two parts 28a and 2 for easy connection to each other. 8b, from which there are several possible points of contact Are thermally insulated by the air gap 22 except for. Lower part 2 of heat storage device 4b and the lower part 28b of the heat dispersing device, if any, have poor thermal conductivity. An elastic O-ring 31 is provided that has quality and helps to compensate for tolerances. Heat dispersion The upper part 28a of the device is connected to the side of the sensor housing 16 by the air gap 32. And is thermally insulated from the waveguide device 12 by an air gap 22; It is in direct thermal contact with the upper side or the lid of the sensor housing 16. Heat dispersion device Is in thermal contact with the lower side or the bottom of the sensor housing 16 in practice. are doing.   For further optimization of the heat transfer, the heat storage device 24 and the heat distribution device 28 may be, for example, Materials that conduct heat well, such as copper, aluminum, zinc or the like It is made of   Its lead 40 of the sensor 14 is located in the heat storage device 24, Is insulated. Through the flexible printed circuit board 41, the sensor 14 emits Electronics downstream of the radiation thermometer for evaluation of the output signal of the electricity produced by the sensor 14 (Not shown). To minimize the heat input through the lead 40, The printed circuit board has a very thin shape. For the same reason, it also has low fever It is designed to be a conductor, and is thermally connected to the heat storage device 24 close to the O-ring 31. Is tied.   As will be apparent from the above description, the sensor housing to the waveguide device 12 or surroundings The thermal bonding of the plug 16 is easy to handle and easy to use as disclosed in the present invention. Small, light, small probe tip made for small radiation thermometers False readings due to temperature gradients are reliably avoided. Simple structure and low By using a conventional radiation sensor at a low cost, such as a thermoelectric or bolometer, the invention Probe tips have the additional benefit of providing ease of manufacture and economy. I do.

【手続補正書】特許法第184条の8第1項 【提出日】平成11年4月6日(1999.4.6) 【補正内容】 特許請求の範囲 1.測定される放射線を通過させる入口開口部(34)を有し、前記入口開口部 (34)から延びた導波管装置(12)を通して、入射放射線を電気的出力信号 に変換する放射センサ(14)に向けられた、熱結合装置(24、28、30) を通して熱的に導波管装置(12)に結合されたセンサハウジング(16)を含 む放射体温計プローブチップ(10)であって、 放射センサ(14)を含み、前記熱結合装置(28)が、前記導波管装置(1 2)に、その熱質量中心(thermal center of gravity)において熱的に結合 され、前記熱結合装置(24、28、30)が、熱蓄積装置(24)及び熱分散 装置(28)を含み、それらは互いに熱接合部(30)だけを通して直接熱接触 しており、一方、それらは互いに他の点では熱的に絶縁されており、前記センサ ハウジング(16)が前記熱分散装置(28)と直接熱接触し、前記熱接合部( 30)が、前記放射センサ(14)及び前記熱分散装置(28)に含まれる装置 の熱質量中心にあるプローブチップ。 2.前記センサハウジング(16)の少なくとも2つの対面する側面が、前記熱 分散装置(28)と直接熱接触しており、前記センサハウジング(16)の温度 変化が該センサハウジング(16)の前記側面の温度に、少なくとも一様な変化 を生産するようになっている請求項1記載のプローブチップ。 3.前記熱蓄積装置(24)が、前記導波管装置(12)と直接熱接触している ことを特徴とする請求項1又は2の何れか1項記載のプローブチップ。 4.前記熱結合装置(24、28、30)が、良好な熱伝導特性を有する材料で できていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記載のプローブチップ 。 5.前記熱蓄積装置(24)及び/又は前記熱分散装置(28)が、2つの相補 的な部分(24a、24b;28a、28b)を含むことを特徴とする請求項1 〜4のいずれか1項記載のプローブチップ。 6.前記熱蓄積装置(24)が、外側に対して、ハウジング(38)から熱的に 絶縁されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項記載のプローブチ ップ。 7.前記熱分散装置(28)及び前記導波管装置(12)が互いに熱的に絶縁さ れていることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項記載のプローブチップ。 8.前記放射センサの前記リード(40)が、薄い形状で低い熱伝導率を有する プリント回路基板に電気的に連結されており、前記プリント回路基板が前記熱蓄 積装置(24)に熱的に結合されていることを特徴とする請求項1〜7のいずれ か1項記載のプローブチップ。 9.請求項1〜8のいずれか1項記載のプローブチップを有する放射体温計。 10.請求項1の従来技術部分に従ったプローブチップの放射センサにおいて、 温度勾配を低減するための方法であって、 前記プローブチップに又はそこからの全熱量の供給又は取り出しが、放射セン サ(14)及び熱分散装置(28)を備える装置の熱質量中心を通して、放射セ ンサに働くことを特徴とする方法。[Procedure of Amendment] Article 184-8, Paragraph 1 of the Patent Act [Submission date] April 6, 1999 (1999.4.6) [Correction contents]                              Claims 1. An inlet opening (34) through which the radiation to be measured is passed, said inlet opening The incident radiation is passed through a waveguide device (12) extending from (34) to an electrical output signal. Coupling device (24, 28, 30) directed to a radiation sensor (14) for converting to A sensor housing (16) thermally coupled to the waveguide device (12) through the A radiation thermometer probe tip (10),   A radiation sensor (14), wherein said thermal coupling device (28) comprises said waveguide device (1). 2) thermally coupled at its thermal center of gravity The heat coupling device (24, 28, 30) comprises a heat storage device (24) and a heat dispersing device. Devices (28), which are in direct thermal contact with each other only through thermal joints (30) While they are otherwise thermally insulated from each other and the sensor The housing (16) is in direct thermal contact with the heat dispersing device (28) and the thermal joint ( 30) a device included in the radiation sensor (14) and the heat dispersion device (28) Probe tip at the center of thermal mass of 2. At least two facing sides of the sensor housing (16) In direct thermal contact with the dispersing device (28) and the temperature of the sensor housing (16) The change is at least a uniform change in the temperature of the side of the sensor housing (16). The probe tip according to claim 1, wherein the probe tip is produced. 3. The heat storage device (24) is in direct thermal contact with the waveguide device (12). The probe tip according to claim 1, wherein: 4. The heat coupling device (24, 28, 30) is made of a material having good heat conduction properties. The probe tip according to any one of claims 1 to 3, wherein the probe tip is made. . 5. The heat storage device (24) and / or the heat distribution device (28) are two complementary 2. The method according to claim 1, further comprising the steps of: (a) and (b); The probe tip according to any one of claims 1 to 4. 6. The heat storage device (24) is thermally directed from the housing (38) to the outside. The probe probe according to any one of claims 1 to 5, wherein the probe probe is insulated. Up. 7. The heat dispersion device (28) and the waveguide device (12) are thermally insulated from each other. The probe tip according to any one of claims 1 to 6, wherein the probe tip is provided. 8. The lead (40) of the radiation sensor has a low profile and low thermal conductivity The printed circuit board is electrically connected to the printed circuit board, and the printed circuit board is 8. A device according to claim 1, wherein the device is thermally coupled to the stacking device. The probe tip according to claim 1. 9. A radiation thermometer having the probe tip according to claim 1. 10. In a probe tip radiation sensor according to the prior art part of claim 1, A method for reducing a temperature gradient, comprising:   The supply or removal of the total heat to or from the probe tip is Through the center of thermal mass of the device comprising the heat sink (14) and the heat dispersing device (28). A method characterized by working on sensors.

───────────────────────────────────────────────────── 【要約の続き】 測るために従来使用されるように、扱い易く、ユーザー フレンドリな放射体温計の作成を可能にする。────────────────────────────────────────────────── ─── [Continuation of summary] Easy to use and user as conventionally used to measure Enables the creation of a friendly radiation thermometer.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1.測定される放射線を通過させる入口開口部(34)を有し、前記入口開口部 (34)から延びた導波管装置(12)を通して、入射放射線を電気的出力信号 に変換する放射センサ(14)に向けられた、熱結合装置(24、28、30) を通して熱的に導波管装置(12)に結合されたセンサハウジング(16)を含 む放射体温計プローブチップ(10)であって、 放射センサ(14)を含み、前記熱結合装置(28)が、前記導波管装置(1 2)に、その熱質量中心(thermal center of gravity)において熱的に結合 していることを特徴とするプローブチップ。 2.前記熱結合装置(24、28、30)が、熱蓄積装置(24)及び熱分散装 置(28)を含み、それらは互いに熱接合部(30)だけを通して直接熱接触し ており、一方、それらは互いに他の点では熱的に絶縁されており、前記センサハ ウジング(16)が前記熱分散装置(28)と直接熱接触し、前記熱接合部(3 0)が、前記放射センサ(14)及び前記熱分散装置(28)に含まれる装置の 熱質量中心にあることを特徴とする請求項1記載のプローブチップ。 3.前記センサハウジング(16)の少なくとも2つの対面する側面が、前記熱 分散装置(28)と直接熱接触しており、前記センサハウジング(16)の温度 変化が該センサハウジング(16)の前記側面の温度に、少なくとも一様な変化 を生産するようになっている請求項2記載のプローブチップ。 4.前記熱蓄積装置(24)が、前記導波管装置(12)と直接熱接触している ことを特徴とする請求項2又は3の何れか1項記載のプローブチップ。 5.前記熱結合装置(24、28、30)が、良好な熱伝導特性を有している材 料でできていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項記載のプローブチ ップ。 6.前記熱蓄積装置(24)及び/又は前記熱分散装置(28)が、2つの相補 的な部分(24a、24b;28a、28b)を含むことを特徴とする請求項2 〜5のいずれか1項記載のプローブチップ。 7.低熱伝導率を有する弾性的Oリングが、前記熱蓄積装置(24)と前記熱分 散装置(28)との間で公差を補うために配置されていることを特徴とする請求 項2〜6のいずれか1項記載のプローブチップ。 8.前記熱蓄積装置(24)が、温度勾配を低減するためにそれに対応して大き い熱質量を有することを特徴とする請求項2〜7のいずれか1項記載のプローブ チップ。 9.前記熱蓄積装置(24)が、外側に対して、ハウジング(38)から熱的に 絶縁されていることを特徴とする請求項2〜8のいずれか1項記載のプローブチ ップ。 10.前記熱分散装置(28)及び前記導波管装置(12)が互いに熱的に絶縁 されていることを特徴とする請求項2〜9のいずれか1項記載のプローブチップ 。 11.前記センサ(14)のための前記リード(40)が、前記熱蓄積装置(2 4)内に配置され、該装置から熱的に絶縁されていることを特徴とする請求項4 〜10のいずれか1項記載のプローブチップ。 12.前記リード(40)が、薄い形状で低い熱伝導率を有する下流のプリント 回路基板に、電気的に連結されており、前記熱接合部(30)に近接して、前記 リード(40)が前記熱蓄積装置(24)に熱的に結合されていることを特徴と する請求項11記載のプローブチップ。 13.請求項1〜12のいずれか1項記載のプローブチップを有する放射体温計 。 14.請求項1の従来技術部分に従ったプローブチップの放射において、温度勾 配を低減するための方法であって、 前記プローブチップに又はそこからの全熱量の供給又は取り出しが、前記放射 センサ(14)及び熱結合装置(28)を備える装置の熱質量中心を通して、放 射センサに働くことを特徴とする方法。[Claims] 1. An inlet opening (34) through which the radiation to be measured is passed, said inlet opening The incident radiation is passed through a waveguide device (12) extending from (34) to an electrical output signal. Coupling device (24, 28, 30) directed to a radiation sensor (14) for converting to A sensor housing (16) thermally coupled to the waveguide device (12) through the A radiation thermometer probe tip (10),   A radiation sensor (14), wherein said thermal coupling device (28) comprises said waveguide device (1). 2) thermally coupled at its thermal center of gravity A probe tip characterized in that: 2. The heat coupling device (24, 28, 30) includes a heat storage device (24) and a heat dispersing device. (28) which are in direct thermal contact with each other only through the thermal joint (30) While they are otherwise thermally insulated from each other, The housing (16) is in direct thermal contact with the heat dispersing device (28) and the thermal joint (3) 0) is a device included in the radiation sensor (14) and the heat dispersion device (28). The probe tip according to claim 1, wherein the probe tip is located at a thermal mass center. 3. At least two facing sides of the sensor housing (16) In direct thermal contact with the dispersing device (28) and the temperature of the sensor housing (16) The change is at least a uniform change in the temperature of the side of the sensor housing (16). 3. The probe tip according to claim 2, wherein the probe tip is produced. 4. The heat storage device (24) is in direct thermal contact with the waveguide device (12). The probe chip according to claim 2, wherein: 5. A material in which the heat coupling device (24, 28, 30) has good heat conduction properties The probe tip according to any one of claims 1 to 4, wherein the probe tip is made of a material. Up. 6. The heat storage device (24) and / or the heat distribution device (28) are two complementary 3. The method according to claim 2, further comprising the additional parts (24a, 24b; 28a, 28b). The probe chip according to any one of claims 1 to 5, wherein 7. An elastic O-ring having low thermal conductivity is provided between the heat storage device (24) and the heat component. Claims characterized in that they are arranged to compensate for tolerances with the dispersing device (28). Item 7. The probe tip according to any one of Items 2 to 6. 8. The heat storage device (24) is correspondingly large to reduce temperature gradients. The probe according to any one of claims 2 to 7, wherein the probe has a high thermal mass. Chips. 9. The heat storage device (24) is thermally directed from the housing (38) to the outside. The probe probe according to any one of claims 2 to 8, which is insulated. Up. 10. The heat dispersing device (28) and the waveguide device (12) are thermally insulated from each other. The probe tip according to any one of claims 2 to 9, wherein . 11. The lead (40) for the sensor (14) is connected to the heat storage device (2). 4. The device according to claim 4, wherein the device is disposed within and thermally insulated from the device. 11. The probe chip according to any one of items 10 to 10. 12. A downstream print wherein the leads (40) are thin and have low thermal conductivity And electrically connected to a circuit board and proximate to the thermal junction (30); A lead (40) is thermally coupled to said heat storage device (24). The probe tip according to claim 11, wherein 13. A radiation thermometer having the probe tip according to claim 1. . 14. The radiation of a probe tip according to the prior art part of claim 1, wherein the temperature gradient A method for reducing distribution.   The supply or removal of the total amount of heat to or from the probe tip Through the center of thermal mass of the device comprising the sensor (14) and the thermal coupling device (28) A method characterized by acting on a radiation sensor.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000254103A (en) * 1999-03-11 2000-09-19 Citizen Watch Co Ltd Radiation thermometer
KR101804374B1 (en) 2016-11-30 2017-12-04 주식회사 씨알아이지 Infrared ear thermometer and method for measuring body temperature using the same

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1688724A3 (en) * 1997-07-16 2008-06-04 Terumo Kabushiki Kaisha Ear type clinical-thermometer
EP1055391B1 (en) * 1998-12-15 2006-02-01 Citizen Watch Co. Ltd. Radiation clinical thermometer
DE19929503B4 (en) * 1999-06-28 2008-06-26 Braun Gmbh IR thermometers for different measuring locations
US6425688B1 (en) * 2000-04-21 2002-07-30 Actherm Inc. Infrared temperature wave guide device
JP3690387B2 (en) * 2000-06-13 2005-08-31 オムロンヘルスケア株式会社 Radiation thermometer
US6637931B2 (en) * 2001-07-19 2003-10-28 Oriental System Technology Inc. Probe for use in an infrared thermometer
JP2004045330A (en) * 2002-07-15 2004-02-12 Ricoh Co Ltd Noncontact temperature detector
US6749334B2 (en) 2002-08-09 2004-06-15 Radiant Innovation Inc. Ear thermometer probe structure
US20060006339A1 (en) * 2004-06-30 2006-01-12 Trojan Technologies Inc. Radiation sensor device and fluid treatment system containing same
TW200615520A (en) * 2004-11-09 2006-05-16 Norm Pacific Automat Corp Infrared thermometer
US7897920B2 (en) * 2005-09-21 2011-03-01 Analog Devices, Inc. Radiation sensor device and method
US7275867B2 (en) * 2005-12-01 2007-10-02 Oriental System Technology Inc. Probe assembly of infrared thermometer
DE102006021528B3 (en) 2006-02-15 2007-09-13 Epcos Ag sensor
TW200841859A (en) * 2007-04-27 2008-11-01 Actherm Inc Infrared thermometer
US8186876B2 (en) * 2009-04-20 2012-05-29 Welch Allyn, Inc. Calibrated assembly for IR thermometer apparatus
US8136985B2 (en) * 2009-05-05 2012-03-20 Welch Allyn, Inc. IR thermometer thermal isolation tip assembly
JP6134707B2 (en) * 2011-06-15 2017-05-24 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. Measurement of peripheral body temperature
TWM480991U (en) * 2013-12-05 2014-07-01 Yofa Biotechnology Co Ltd Patch-type temperature measuring apparatus
JP5996139B1 (en) * 2016-03-31 2016-09-21 興和株式会社 Infrared thermometer
CN106710121A (en) * 2017-02-28 2017-05-24 桂林电子科技大学 Forest fire positioning device based on bionic inductor
DE102019107338A1 (en) * 2019-04-03 2020-10-08 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Sensor device, method of manufacturing a sensor device and vehicle
KR102599974B1 (en) * 2021-02-17 2023-11-07 부경대학교 산학협력단 Measurement method of infrared thermometer with improved measurement reliability

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2416775A (en) * 1942-04-20 1947-03-04 O W Wortman Cooled radiation thermocouple
US2811856A (en) * 1946-03-29 1957-11-05 Honeywell Regulator Co Temperature measuring apparatus
JPS6391526A (en) * 1986-10-06 1988-04-22 Nireko:Kk Radiation thermometer
DE3739717C1 (en) * 1987-11-24 1989-03-16 Kober Ag Device for bridging expansion joints
JP2826337B2 (en) * 1988-04-12 1998-11-18 シチズン時計株式会社 Radiation thermometer
US5018872A (en) * 1988-11-01 1991-05-28 Diatek, Inc. Probe assembly for infrared thermometer
US4993419A (en) * 1988-12-06 1991-02-19 Exergen Corporation Radiation detector suitable for tympanic temperature measurement
US5445158A (en) * 1988-12-06 1995-08-29 Exergen Corporation Radiation detector probe
US5653238A (en) * 1988-12-06 1997-08-05 Exergen Corporation Radiation detector probe
KR100205087B1 (en) * 1990-12-12 1999-06-15 가버 스탠리 넬슨 Infrared thermometer utilizing calibration mapping
IT1255461B (en) * 1992-07-28 1995-11-02 Luso Farmaco Inst ETHERS OF IMIDAZOLI ACTIVATED IN II ANTAGONIST
US5368038A (en) * 1993-03-08 1994-11-29 Thermoscan Inc. Optical system for an infrared thermometer
US5857775A (en) * 1995-09-05 1999-01-12 Tyco Group S.A.R.L. Thermometer probe having a watertight seal

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000254103A (en) * 1999-03-11 2000-09-19 Citizen Watch Co Ltd Radiation thermometer
KR101804374B1 (en) 2016-11-30 2017-12-04 주식회사 씨알아이지 Infrared ear thermometer and method for measuring body temperature using the same

Also Published As

Publication number Publication date
HK1024296A1 (en) 2000-10-05
CN1281181C (en) 2006-10-25
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EP0972175A1 (en) 2000-01-19
KR20010005869A (en) 2001-01-15
TW417017B (en) 2001-01-01
WO1998044322A1 (en) 1998-10-08
CN1251168A (en) 2000-04-19
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DE19713608A1 (en) 1998-10-08

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