JP2001352242A - パイプライン型a/dコンバータ - Google Patents
パイプライン型a/dコンバータInfo
- Publication number
- JP2001352242A JP2001352242A JP2000169861A JP2000169861A JP2001352242A JP 2001352242 A JP2001352242 A JP 2001352242A JP 2000169861 A JP2000169861 A JP 2000169861A JP 2000169861 A JP2000169861 A JP 2000169861A JP 2001352242 A JP2001352242 A JP 2001352242A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- analog
- output
- period
- converter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
能を16ビットというように大きくしても、高精度のA
/D変換出力が得られるようにした。 【解決手段】 サンプルホールド回路11−1とステー
ジ11−2〜11−kは縦列接続され、上位Nビットを
決定する。ステージ11−2〜11−Nは、前段からの
デジタル信号を所定のアナログ基準信号に変換するとと
もに、第1の期間と第2の期間とに、前段からのアナロ
グ信号と、その変換されるアナログ基準信号との加減算
を時分割で行なって、その各加減算にかかる各アナログ
信号をそれぞれ出力し、かつ、その両アナログ信号のう
ちの一方を上位側Nビットにかかるデジタル信号に変換
してメモリ14に出力する。平均化回路12は、ステー
ジ11−Nからの両アナログ信号を平均化し、A/D変
換器13は、その平均化されたアナログ信号を下位Mビ
ットのデジタル信号に変換する。
Description
に関し、特に、高速で動作するパイプライン型A/Dコ
ンバータに関するものである。
としては、例えば、アイトリプルイー・ジャーナル・オ
ブ・ソリッド・ステート・サーキット第32巻第3号3
月号1997年のP312〜P320に記載のものが知
られている(IEE Journal of Soli
d State Circuits.Vol.32.N
o3.March 1997.P312〜P320)。
パイプライン型A/Dコンバータのブロック図である。
この従来のパイプライン型A/Dコンバータは、図11
に示すように、NビットのA/D変換出力を得るべく、
(N−1)個からなるステージ1が複数段縦列接続され
るとともに、演算回路9を備えている。各ステージ1の
うち、最上位桁(MSB)にかかる最初のステージ1は
サンプルホールド回路として構成されている。その後の
ステージ1は、図11に示すように、基準電圧生成回路
2、コンデンサC1、C2やスイッチSW1〜SW4か
らなるサンプルホールド回路3、演算増幅器4などから
なる加減算回路、コンパレータ5、6やエンコーダ7か
らなる多値化回路8等から構成されている。
ン型A/Dコンバータの動作の概要について説明する。
図11に詳細に示すステージは、前段のステージの演算
増幅器4からの残余の出力Vo(N−1)をサンプルホ
ールド回路3でサンプルし、その後にそのサンプル値と
基準電圧生成回路2の出力との加減算を演算増幅器4で
行い、その算出値Vo(N)を後段のステージ1に出力
する。ここで、基準電圧生成回路2は、前段のステージ
1からのデジタル信号D(N−1)に基づき、正の基準
電圧(+Vref)、零の電圧(0V)、または負の基
準電圧(−Vr)のうちの1つを出力する。多値化回路
8は、その演算増幅器4からの出力Vo(N)に基づい
て「1」、「0」、または「−1」の3値データを生成
し、この3値のデジタル信号D(N)を後段のステージ
1の基準電圧生成回路2と演算回路9にそれぞれ出力す
る。
ル信号D(N)が演算回路9に入力されると、演算回路
9はそれらを所定の規則で加算して目的とするN桁のA
/D変換データを出力する。従って、このような従来の
パイプライン型A/Dコンバータは、最上位桁から順に
A/D変換出力を決定していく逐次変換型A/Dコンバ
ータよりも高速であり、この高速性を活かして50〜1
00MHzでの高品位テレビ信号等のためのA/Dコン
バータとして応用することが考えられている。
すコンデンサC1、C2や演算増幅器4はスイッチトキ
ャパシタを構成し、一般に集積回路化されている。集積
回路化した場合には、コンデンサC1、C2のミスマッ
チが発生する。このため、従来のパイプライン型A/D
コンバータのように、前段のステージの残余の出力を後
段のステージに送る場合には、その容量比の誤差による
影響が大きくなる。この結果、図11に示す従来のパイ
プライン型A/Dコンバータでは、A/D変換の分解能
を16ビットというように大きくすると、A/D変換出
力を高精度化できないという不都合がある。
サンプルホールド期間を第1の期間と第2の期間に分割
し、この両期間においてサンプルホールド動作を時分割
で2回行ってデジタルデータをそれぞれ出力するととも
に、その両期間のホールド動作時には図11に示すコン
デンサC1、C2の位置を入れ替え、このようにして得
られたデジタルデータを最後に平均化する方法が考えら
れる。
する。まず、第1の期間のサンプル時には、前段のステ
ージからの残余の出力Vo(N−1)をコンデンサC
1、C2でサンプルし、そのホールド時には、コンデン
サC2を演算増幅器4の帰還素子として使用し、コンデ
ンサC1のサンプル値と基準電圧生成回路2の出力の加
減算を演算増幅器4で行う。この第1の期間における演
算増幅器4の積分性誤差(INL)は、例えば図12
(A)に示すように誤差a、b、cとなり、その積分性
誤差は基準電圧生成回路2からの出力の差異により異な
る。
のステージからの残余の出力Vo(N−1)をコンデン
サC1、C2でサンプルし、そのホールド時には、コン
デンサC1を演算増幅器4の帰還素子として使用し、コ
ンデンサC2のサンプル値と基準電圧生成回路2の出力
の加減算を演算増幅器4で行う。この第2の期間におけ
る積分性誤差は、例えば図12(B)に示すように誤差
a’、b’、c’となり、同図(A)の積分性誤差と横
軸を中心に対称になる。
誤差が図12(A)に示すようになり、第2の期間のホ
ールド時の積分性誤差が同図(B)に示すようになると
きには、その両者の平均は同図(C)に示すようにな
り、その積分性誤差を減少できる。ところが、第1の期
間と第2の期間の各ホールド時には、上記のようにコン
デンサC1、C2のつなぎ替えを行うので、図12
(A)(B)に示すように、積分性誤差の不連続点にず
れが生じてしまう。このため、図12(C)に示すよう
に積分性誤差が残ってしまうという不都合がある。
ジタルデータを最後に平均化するために量子化誤差が表
れ、この量子化誤差を減らすことができないという不都
合がある。そこで、本発明の目的は、上記の点に鑑み、
積分性誤差や量子化誤差をできるだけ排除するように
し、A/D変換の分解能を16ビットというように大き
くしても、高精度のA/D変換出力が得られるようにし
たパイプライン型A/Dコンバータを提供することにあ
る。
明の目的を達成するために、請求項1から請求項6に記
載の各発明は以下のように構成した。すなわち、請求項
1に記載の発明は、入力アナログ信号を、上位側Nビッ
トと下位側Mビットからなる(N+M)ビットのデジタ
ル信号に変換するパイプライン型A/Dコンバータであ
って、縦列に複数段接続され、前段からのデジタル信号
を所定のアナログ基準信号に変換するとともに、第1の
期間と第2の期間に、前段からのアナログ信号と前記変
換されたアナログ基準信号との加減算を時分割で行なっ
てその各加減算に係る各アナログ信号をそれぞれ出力
し、かつ、その両アナログ信号のうちの一方を前記上位
側Nビットに係るデジタル信号に変換する複数のステー
ジと、前記複数のステージのうちの最終段のステージか
ら前記第1の期間と第2の期間にそれぞれ出力される前
記両アナログ信号を平均化する平均化手段と、前記平均
化手段で平均化されたアナログ信号を前記下位側Mビッ
トのデジタル信号に変換して出力するA/D変換手段
と、前記上位側Nビットのデジタル信号と、前記下位側
Mビットのデジタル信号とに基づいて(N+M)ビット
のデジタル信号を生成する出力手段と、を少なくとも備
えたことを特徴とするものである。
のパイプライン型A/Dコンバータにおいて、前記各ス
テージは、前段からのデジタル信号を所定の前記アナロ
グ基準信号に変換する基準信号生成手段と、演算増幅
器、第1の受動素子、および第2の受動素子を含み、前
記第1の期間と第2の期間には、前段のステージからの
アナログ信号を前記両受動素子でサンプルしたのち、前
記受動素子のいずれか一方を前記演算増幅器の帰還素子
として使用し、残余の受動素子にサンプルされたアナロ
グ信号と前記所定のアナログ基準信号の加減算を前記演
算増幅器で行うとともに、前記第1の期間と第2の期間
では前記第1の受動素子と前記第2の受動素子が前記帰
還素子として交互に使用されるようになっている信号処
理手段と、前記演算増幅器からの第1の期間の出力と第
2の期間の出力とをそれぞれ多値化する多値化手段と、
から構成することを特徴とするものである。
請求項2に記載のパイプライン型A/Dコンバータにお
いて、前記A/D変換手段は、フラッシュ型A/D変換
器であることを特徴とするものである。請求項4に記載
の発明は、請求項2または請求項3に記載のパイプライ
ン型A/Dコンバータにおいて、前記演算増幅器は前記
加減算時においてほぼ2倍の利得を有し、前記多値化手
段は「+1」、「0」、または「−1」の3値のデジタ
ル信号を出力することを特徴とするものである。
のパイプライン型A/Dコンバータにおいて、前記受動
素子はキャパシタからなり、前記基準信号生成手段は、
前記デジタル信号の「+1」、「0」、「−1」に応じ
て、前記アナログ基準信号として正の基準電圧(+Vr
ef)、零の電圧(0V)、負の基準電圧(−Vre
f)を生成するようになっていることを特徴とするもの
である。
請求項5に記載のパイプライン型A/Dコンバータにお
いて、前記多値化手段は、前記演算増幅器の出力を所定
の正負のしきい値で3値化(+1、0、−1)するコン
パレータ手段を含むことを特徴とするものである。この
ように本発明では、縦列に複数段ステージを接続し、各
ステージは、前段のステージからのデジタル信号を所定
のアナログ基準信号に変換するとともに、第1の期間と
第2の期間に、前段のステージからのアナログ信号とそ
の変換されたアナログ基準信号との加減算を、第1の期
間と第2の期間に時分割で行なってその各加減算に係る
各アナログ信号をそれぞれ出力し、かつ、その両アナロ
グ信号のうちの一方を上位側Nビットに係るデジタル信
号に変換するようにした。
ちの最終段のステージから第1の期間と第2の期間にそ
れぞれ出力される両アナログ信号を平均化し、A/D変
換手段は、平均化手段で平均化されたアナログ信号を下
位側Mビットのデジタル信号に変換して出力するように
した。さらに、出力手段は、その上位側Nビットのデジ
タル信号と、その下位側Mビットのデジタル信号とに基
づいて(N+M)ビットのデジタル信号を生成するよう
にした。
いては、各ステージのサンプルホールドにかかる2つの
キャパシタ(例えば図4のコンデンサC11、C12)
にミスマッチがある場合には、各ステージの演算増幅器
から出力されるアナログ信号に積分性誤差が含まれる
が、そのアナログ信号の積分性誤差を平均化手段で打ち
消すことができる。一方、下位Mビット側では、その積
分性誤差が排除されたアナログ信号がデジタル信号に変
換されるので、量子化誤差も排除される。
ついては積分性誤差を含んだA/D変換を行う一方、下
位側Mビットについてはその上位側で生じた積分性誤差
を排除したA/D変化を行うようにした。このため、全
体として各ステージの積分性誤差や量子化誤差が極力排
除できるようになり、例えばA/D変換の分解能を16
ビットというように大きくしても、高精度のA/D変換
出力が得られる。
図面を参照して説明する。本発明のパイプライン型A/
Dコンバータの実施形態の構成について、図面を参照し
て説明する。この実施形態のかかるパイプライン型A/
Dコンバータは、図1に示すように、アナログ入力信号
Ainを上位側Nビットと下位側Mビットからなる(N
+M)ビットのデジタル出力信号DoutにA/D変換
するために、サンプルホールド回路11−1と、複数段
のステージ11−2〜11−Nと、平均化回路12と、
MビットからなるA/D変換器13と、メモリ14と、
加算回路15とを備えている。
11−2〜11−kは縦列接続され、上位Nビットを決
定するとともに、この決定した各ビットのデジタル信号
をメモリ14に出力するようになっている。すなわち、
サンプルホールド回路11−1は、後述のように期間T
の間に実行される1回のサンプル・ホール動作により、
アナログ入力信号Ainに基づいてデジタル値D1を決
定し、この決定したデジタル値D1がメモリ14に格納
されるようになっている。
うに、サンプルホールド回路11−1または前段のステ
ージからのデジタル信号を所定のアナログ基準信号に変
換するとともに、第1の期間と第2の期間とに、サンプ
ルホールド回路11−1または前段のステージからのア
ナログ信号と、その変換されるアナログ基準信号との加
減算を時分割で行なって、その各加減算にかかる各アナ
ログ信号をそれぞれ出力し、かつ、その両アナログ信号
のうちの一方を上位側Nビットにかかるデジタル信号に
変換してメモリ14に出力するようになっている。
1−Nのうち最終段のステージ11−Nから、第1の期
間T1と第2の期間T2にそれぞれ出力されるアナログ
信号を平均化し、その平均化したアナログ信号を後段の
A/D変換器13に出力するようになっている。A/D
変換器13は、フラッシュ型A/D変換器などからな
り、平均化回路12から出力されるアナログ信号をMビ
ットのデジタル信号に変換し、この変換したデジタル信
号をメモリ14に出力するようになっている。
り、サンプルホールド回路11−1、ステージ11−2
〜11−N、A/D変換器13からの各デジタル信号を
記憶するようになっている。加算回路15は、メモリ1
4に格納される上位側Nビットのデジタル値とA/D変
換器13からの下位側Mビットのデジタル値とを加算
し、最終的なデジタル出力信号Doutを求めるように
なっている。
1の具体的な回路の構成について、図2を参照して説明
する。このサンプルホールド回路11−1は、図2に示
すように、スイッチSW1〜SW3、コンデンサC1、
および演算増幅器21からなり、アナログ入力信号Ai
nをサンプルホールドするサンプルホールド部と、この
サンプルホールド部でサンプルホールドされた電圧から
3値データを生成する3値化回路22とから、少なくと
も構成されている。
W1とコンデンサC1を介して演算増幅器(オペアン
プ)21の−入力端子に接続自在になっているととも
に、その−入力端子がスイッチSW2を介して接地自在
になっている。演算増幅器21の+入力端子は接地され
ている。演算増幅器21は、その出力端子と−入力端子
とが、スイッチSW3およびコンデンサC1を介して接
続自在になっている。演算増幅器21のアナログ出力信
号Vo1は、後段のステージ11−2と3値化回路22
にそれぞれ供給されるようになっている。
ない制御回路からのサンプリングパルスφ1によりその
接点の開閉が制御され、スイッチSW3はその制御回路
からのサンプリングパルスφ1を反転した制御信号φ2
によりその接点の開閉が制御されるようになっている
(図6(A)(B)参照)。次に、3値化回路22の具
体的な構成について、図3のブロック図を参照して説明
する。
つのコンパレータ221、222と、デコーダ223と
から構成されている。コンパレータ221は、その+入
力端子に演算増幅器21からのアナログ信号Vo1が入
力されるとともに、その−入力端子に正のしきい値電圧
(1/4×Vref)が入力され、かつその出力がデコ
ーダ223に出力されるようになっている。コンパレー
タ222は、その+入力端子に演算増幅器21からのア
ナログ出力信号Vo1が入力されるとともに、その−入
力端子に負のしきい値電圧(−(1/4)×Vref)
が入力され、かつその出力がデコーダ223に出力され
るようになっている。
コンパレータ222の両出力に基づき、アナログ信号V
o1が(1/4×Vref)を上回る場合には「1」を
出力し、アナログ信号Vo1が(1/4×Vref)と
(−(1/4)×Vref)の間にある場合には「0」
を出力し、アナログ信号Vo1が(−(1/4)×Vr
ef)を下回る場合には「−1」を生成出力するように
なっている。
ついて、図4の回路図を参照して説明する。なお、ステ
ージ11−2〜11−Nは、その各構成がいずれも同一
である。各ステージは、図4に示すように、前段のステ
ージからのデジタル信号D(N−1)に基づき所定のア
ナログ基準電圧に変換する基準電圧生成回路31と、こ
の基準電圧生成回路31からのアナログ基準電圧と前段
のステージからのアナログ信号Vo(N−1)に基づ
き、後述のように期間Tの間にサンプル・ホールド動作
を時分割で2回行い、各サンプル・ホールド動作ごとに
アナログ信号Vo(N)をそれぞれ出力する信号処理回
路32と、この信号処理回路32からのアナログ信号V
o(N)が出力されるたびに、それに基づいて「1」、
「0」、または「−1」のデジタル信号D(N)を生成
出力する3値化回路33とを、少なくとも備えている。
に、スイッチSW11〜SW13を有し、前段のステー
ジからのデジタル信号D(N−1)が「1」のときには
スイッチSW11のみの接点が閉となって正の基準電圧
(+Vref)が選択され、それが「0」のときにはス
イッチSW13のみの接点が閉となり零の電圧(0V)
が選択され、それが「−1」のときにはスイッチSW1
2のみの接点が閉となり負の基準電圧(−Vref)が
選択されるようになっている。
スイッチSW21〜SW27と、コンデンサ(キャパシ
タ)C11、12と、演算増幅器34とから、少なくと
も構成されている。さらに詳述すると、入力端子35
は、スイッチSW21とコンデンサC11を介して演算
増幅器34の−入力端子と接続可能になっているととも
に、スイッチSW22とコンデンサC12を介してその
−入力端子と接続可能になっている。基準電圧生成回路
31の出力端子は、スイッチSW24とコンデンサC1
1を介して演算増幅器34の−入力端子と接続可能にな
っているとともに、スイッチSW25とコンデンサC1
2を介してその−入力端子と接続可能になっている。
がスイッチSW23を介して接地自在になっているとと
もに、その+入力端子が接地されている。演算増幅器3
4は、その出力端子と−入力端子とが、スイッチSW2
6およびコンデンサC12を介して接続自在になってい
る。同様に、演算増幅器34の出力端子と−入力端子と
は、スイッチSW27およびコンデンサC11を介して
接続自在になっている。
図示しない制御回路からのサンプリングパルスφ11に
よりその接点の開閉が制御され、スイッチSW24、S
W26はその制御回路からの制御信号φ21によりその
接点の開閉が制御され、スイッチSW25、SW27は
その制御回路からの制御信号φ22によりその接点の開
閉が制御されるようになっている(図7(B)(C)参
照)。
号Vo(N)は、後段のステージに供給されるととも
に、3値化回路33に供給されるようになっている。3
値化回路33は、図3に示す3値化回路22と同様に構
成されている。従って、この3値化回路33の場合に
は、コンパレータ221の+入力端子に演算増幅器34
からのアナログ出力信号Vo(N)が入力されるととも
に、その−入力端子に正のしきい値電圧(1/4×Vr
ef)が入力される。また、コンパレータ222の+入
力端子に演算増幅器34からのアナログ出力信号Vo
(N)が入力されるとともに、その−入力端子に負のし
きい値電圧(−(1/4)×Vref)が入力される。
いて、図5の回路図を参照して説明する。この平均化回
路12は、図5に示すように、基準電圧生成回路41を
備えている。この基準電圧生成回路41は、スイッチS
W31〜SW33を有し、終段のステージ11−Nから
のデジタル信号Dが「1」のときにはスイッチSW31
のみの接点が閉となって正の基準電圧(+Vref)が
選択され、それが「0」のときにはスイッチSW33の
みの接点が閉となり零の電圧(0V)が選択され、それ
が「−1」のときにはスイッチSW32のみの接点が閉
となり負の基準電圧(−Vref)が選択されるように
なっている。
ように、ステージ11−Nからのアナログ信号を受け取
る入力端子43、44を備えている。その入力端子43
は、スイッチSW41とコンデンサC21を介して演算
増幅器42の−入力端子と接続自在になっている。その
入力端子44は、スイッチSW45とコンデンサC22
を介して演算増幅器42の−入力端子と接続自在になっ
ている。基準電圧生成回路41の出力端子は、スイッチ
SW46とコンデンサC21を介して演算増幅器42の
−入力端子と接続自在になっている。スイッチSW45
とコンデンサC22との共通接続点は、スイッチSW4
2を介して接地自在となっている。
子がスイッチSW44を介して接地自在になっていると
ともに、その+入力端子が接地されている。演算増幅器
42は、その出力端子とその−入力端子とが、スイッチ
SW47およびコンデンサC23を介して接続自在にな
っている。また、スイッチSW47とコンデンサC23
との共通接続点は、スイッチSW43を介して接地自在
となっている。
示しない制御回路からのサンプリングパルスφ1により
その接点の開閉が制御され、スイッチSW45〜SW4
7はその制御回路からの制御信号φ2’によりその接点
の開閉が制御されるようになっている(図9(A)
(B)参照)。次に、このような構成からなる実施形態
の各部の動作について、以下に説明する。
1−1の動作例について、図6を参照して説明する。図
6(A)に示す周期がTからなるサンプリングパルスφ
1が「H」レベルの場合には、図2に示すスイッチSW
1、SW2の各接点が閉じ、アナログ入力信号Vinに
よりコンデンサC1が充電され、サンプル動作が行われ
る。
ベルから「L」レベルに変化すると、図6(B)に示す
制御信号φ2が「L」レベルから「H」レベルに変化す
る。このため、スイッチSW1、SW2の各接点は開
き、スイッチSW3の接点が閉じた状態になるので、コ
ンデンサC1に蓄積された電荷に応じた出力電圧Vo1
が演算増幅器21の出力端子に出力される(図6(C)
参照)。
が3値化回路22に供給されると、3値化回路22は、
その出力電圧Vo1に基づいて「1」、「0」、または
「−1」の出力データD1を生成出力する(図6(D)
参照)。次に、図4に示すステージの動作について、図
7および図8を参照して説明する。
す周期がTの通常のサンプリングパルスφ1を基にし
て、図7(A)に示すような周期がT/2の高速のサン
プリングパルスφ11を制御回路(図示せず)で生成
し、そのサンプリングパルスφ11を用いて第1の期間
T1と第2の期間T2に時分割でサンプルホールドを2
回行うようにしている。
(N)は時分割で2回取り出すとともに、3値化回路3
3ではその演算増幅器34からの1回目の出力Vo
(N)により3値化し、この3値化された出力D(N)
を取り出すようにしている(図7(F)(G)参照)。
具体的に説明すると、図7(A)に示すように、サンプ
リングパルスφ11が時刻t1において「H」レベルに
なると、第1の期間T1のサンプル動作が開始され、図
4に示すスイッチSW21〜SW23の各接点が閉状態
になる。このときの信号処理回路32の等価回路は、図
8(A)に示すようになり、図7(D)に示す前段のス
テージからのアナログ信号Vo(N−1)によりコンデ
ンサC11、C12がともに充電される。
リングパルスφ11が「H」レベルから「L」レベルに
変化すると、図7(B)に示すように、制御信号φ21
が「L」レベルから「H」レベルに変化し、第1の期間
T1のホールド動作が開始する。この結果、スイッチS
W21〜SW23の各接点が開状態になるとともに、ス
イッチSW24、SW26の各接点が閉状態になり、こ
のときの信号処理回路32の等価回路は、図8(B)に
示すようになる。
12に保持される電荷Q1は、次式のようになる。 Q1=Vo(N−1)×(C11+C12) また、図8(B)の状態でコンデンサC11、C12に
保持される電荷Q2は次式のようになる。
Vrefとが選択的にC11と乗算されることを意味
し、このような意味は以下同様である。これらの状態で
保持される電荷Q1と電荷Q2は不変であるので、次式
が成立する。
(N)×C12±{0,Vref}×C11 この式を変形すると、次の式となる。 Vo(N)={(C11+C12)/C12}×Vo
(N−1)±{0,Vref}×(C11/C12) ここで、C11=C12であるので、上式は次の式とな
る。
号Vo(N−1)を2倍して基準電圧生成回路31の出
力が加減算された出力が得られる。その後、図7(A)
に示すように、サンプリングパルスφ11が「L」レベ
ルから「H」レベルに変化すると、図7(B)に示すよ
うに、制御信号φ21が「H」レベルから「L」レベル
に変化し、第1の期間T1のホールド動作が終了すると
同時に、第2の期間T2のサンプル動作を開始する。こ
の結果、スイッチSW21〜SW23の各接点が再び閉
状態になる。このときの信号処理回路32の等価回路
は、図8(A)に示すようになり、前段のステージから
のアナログ信号Vo(N−1)によりコンデンサC1
1、C12がともに充電される。
7(F)に示す演算増幅器34の出力Vo(N)に基づ
き、3値化回路33は、「1」、「0」または「−1」
の3値化を行う(図7(G)参照)。この3値化回路3
3からの出力D(N)は、図7(G)に示すように、次
の第2の期間T2まで変化しない。その後、サンプリン
グパルスφ11が「H」レベルから「L」レベルに変化
すると、図7(C)に示す制御信号φ22が「L」レベ
ルから「H」レベルに変化し、第2の期間T2のホール
ド動作が開始する。この結果、スイッチSW21〜SW
23の各接点が開状態になるとともに、スイッチSW2
5、SW27の各接点が閉状態になり、このときの信号
処理回路32の等価回路は、図8(C)に示すようにな
る。このホールド動作時には、演算増幅器34では、コ
ンデンサC12の充電電圧と基準電圧生成回路31の出
力との加減算が行われ、その加減算値がほぼ2倍に増幅
されて出力される。
サC12が演算増幅器34の入力素子になるとともに、
コンデンサC11が演算増幅器34の帰還素子になる。
次に、図5に示す平均化回路12の動作について、図9
および図10を参照して説明する。この平均化回路12
は、図9に示す期間T内に、ステージ11−Nからの1
回目と2回目の各出力電圧Voを加算することで平均電
圧が求められ、この求めた平均電圧をA/D変換器13
に出力する。
示すように、サンプリングパルスφ1が時刻t1におい
て「H」レベルになると、図5に示すスイッチSW41
〜SW44の各接点が閉状態になり、このときの平均化
回路12の等価回路は、図10(A)に示すようにな
る。このときには、図9(C)に示すように、期間T内
においてステージ11−Nからの1回目の出力Voであ
る入力アナログ電圧+VinによりコンデンサC21が
充電されるとともに、コンデンサC22、C23の両端
はいずれも接地されて放電状態になる。
リングパルスφ1が「H」レベルから「L」レベルに変
化すると、スイッチSW41〜SW44の各接点が開状
態になる。そして、図9(B)に示すように、制御信号
φ2’が「L」レベルから「H」レベルに変化すると、
スイッチSW45〜SW47の各接点が閉状態になり、
このときの平均化回路12の等価回路は、図10(B)
に示すようになる。
ように、基準電圧生成回路41の出力電圧がコンデンサ
C21の充電電圧+Vinに加算されるとともに、その
加算電圧と、期間T内においてステージ11−Nからの
2回目の出力Voを反転した入力アナログ電圧−Vin
とが演算増幅器42の−入力端子に印加される。ここ
で、2回目の入力アナログ電圧を−Vin’とすると、
図10(A)と図10(B)の状態の電荷は不変である
ので次の式が成立する。
o×C23±{0,Vref} 上式を変形すると次の式となる。 Vo={Vin×C21+Vin’×C22±{0,V
ref}×C21}/C23 ここで、C21=C22=C23であるので、Voは次
の式となる。
グ電圧−Vinを加算し、その加算電圧をから基準電圧
生成回路41の出力を減算した電圧を出力する。このよ
うな演算増幅器42による演算処理は、ステージ11−
Nから出力される1回目と2回目の両出力電圧をそれぞ
れ2倍して基準電圧を減算したものを平均した値、 Vo={2Vin±{0,Vref}+2Vin’±
{0,Vref}}/2=Vin+Vin’±{0,V
ref} と同等である。
−Nの出力が平均化されることにより、例えばステージ
11−2〜11−NのコンデンサC11、C12にミス
マッチがあるような場合に、ステージ11−2〜11−
Nで積分性誤差が発生されるが、その平均化によりその
積分性誤差が打ち消される。そして、A/D変換器13
では、その積分性誤差が排除された平均化回路12から
のアナログ信号がMビットに変換され、この変換された
Mビットのデータはメモリ14に格納される。加算回路
15は、メモリ14に格納される上位側Nビットのデジ
タル値とA/D変換器13からの下位側Mビットのデジ
タル値とを加算し、最終的なデジタル出力信号Dout
を求める。
るパイプライン型A/Dコンバータでは、サンプルホー
ルド回路11−1およびステージ11−2〜11−Nが
上位側NビットのA/D変換を行うとともに、ステージ
11−Nのアナログ出力の平均化を平均化回路12で行
ってステージ11−2〜11−Nで発生する積分性誤差
を打ち消すようにし、さらに、その積分性誤差が排除さ
れたアナログ出力をA/D変換器13により下位側Mビ
ットにA/D変換するようにした。
イン型A/Dコンバータでは、全体として各ステージの
積分性誤差や量子化誤差が極力排除できるようになり、
例えばA/D変換の分解能を16ビットというように大
きくしても、高精度のA/D変換出力が得られる。
ジが上位側NビットのA/D変換を行うとともに、最終
段のステージのアナログ出力の平均化を行ってステージ
発生する積分性誤差を打ち消すようにし、さらに、その
積分性誤差が排除されたアナログ出力を下位側Mビット
にA/D変換するようにした。
ステージの積分性誤差や量子化誤差が極力排除できるよ
うになり、例えばA/D変換の分解能を16ビットとい
うように大きくしても、高精度のA/D変換出力が得ら
れる。
バータの構成例を示す全体のブロック図である。
路図である。
ある。
る。
る。
各部の波形図である。
である。
回路である。
図である。
回路である。
例を示すブロック図である。
である。
Claims (6)
- 【請求項1】 入力アナログ信号を、上位側Nビットと
下位側Mビットからなる(N+M)ビットのデジタル信
号に変換するパイプライン型A/Dコンバータであっ
て、 縦列に複数段接続され、前段からのデジタル信号を所定
のアナログ基準信号に変換するとともに、第1の期間と
第2の期間に、前段からのアナログ信号と前記変換され
たアナログ基準信号との加減算を時分割で行なってその
各加減算に係る各アナログ信号をそれぞれ出力し、か
つ、その両アナログ信号のうちの一方を前記上位側Nビ
ットに係るデジタル信号に変換する複数のステージと、 前記複数のステージのうちの最終段のステージから前記
第1の期間と第2の期間にそれぞれ出力される前記両ア
ナログ信号を平均化する平均化手段と、 前記平均化手段で平均化されたアナログ信号を前記下位
側Mビットのデジタル信号に変換して出力するA/D変
換手段と、 前記上位側Nビットのデジタル信号と、前記下位側Mビ
ットのデジタル信号とに基づいて(N+M)ビットのデ
ジタル信号を生成する出力手段と、 を少なくとも備えたことを特徴とするパイプライン型A
/Dコンバータ。 - 【請求項2】 前記各ステージは、 前段からのデジタル信号を所定の前記アナログ基準信号
に変換する基準信号生成手段と、 演算増幅器、第1の受動素子、および第2の受動素子を
含み、前記第1の期間と第2の期間には、前段のステー
ジからのアナログ信号を前記両受動素子でサンプルした
のち、前記受動素子のいずれか一方を前記演算増幅器の
帰還素子として使用し、残余の受動素子にサンプルされ
たアナログ信号と前記所定のアナログ基準信号の加減算
を前記演算増幅器で行うとともに、前記第1の期間と第
2の期間では前記第1の受動素子と前記第2の受動素子
が前記帰還素子として交互に使用されるようになってい
る信号処理手段と、 前記演算増幅器からの第1の期間の出力と第2の期間の
出力とをそれぞれ多値化する多値化手段と、 から構成することを特徴とする請求項1に記載のパイプ
ライン型A/Dコンバータ。 - 【請求項3】 前記A/D変換手段は、フラッシュ型A
/D変換器であることを特徴とする請求項1または請求
項2に記載のパイプライン型A/Dコンバータ。 - 【請求項4】 前記演算増幅器は前記加減算時において
ほぼ2倍の利得を有し、 前記多値化手段は「+1」、「0」、または「−1」の
3値のデジタル信号を出力することを特徴とする請求項
2または請求項3に記載のパイプライン型A/Dコンバ
ータ。 - 【請求項5】 前記受動素子はキャパシタからなり、 前記基準信号生成手段は、前記デジタル信号の「+
1」、「0」、「−1」に応じて、前記アナログ基準信
号として正の基準電圧(+Vref)、零の電圧(0
V)、負の基準電圧(−Vref)を生成するようにな
っていることを特徴とする請求項4に記載のパイプライ
ン型A/Dコンバータ。 - 【請求項6】 前記多値化手段は、前記演算増幅器の出
力を所定の正負のしきい値で3値化(+1、0、−1)
するコンパレータ手段を含むことを特徴とする請求項4
または請求項5に記載のパイプライン型A/Dコンバー
タ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000169861A JP4357709B2 (ja) | 2000-06-07 | 2000-06-07 | パイプライン型a/dコンバータ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000169861A JP4357709B2 (ja) | 2000-06-07 | 2000-06-07 | パイプライン型a/dコンバータ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001352242A true JP2001352242A (ja) | 2001-12-21 |
JP4357709B2 JP4357709B2 (ja) | 2009-11-04 |
Family
ID=18672656
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000169861A Expired - Fee Related JP4357709B2 (ja) | 2000-06-07 | 2000-06-07 | パイプライン型a/dコンバータ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4357709B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006086981A (ja) * | 2004-09-17 | 2006-03-30 | Fujitsu Ltd | スイッチトキャパシタ回路およびパイプラインa/d変換回路 |
KR100755681B1 (ko) | 2006-06-30 | 2007-09-05 | 삼성전자주식회사 | 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 장치 및방법 |
US7348916B2 (en) | 2005-07-04 | 2008-03-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Pipeline A/D converter and method of pipeline A/D conversion |
JP2011229128A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-11-10 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | パイプライン型a/dコンバータ |
JP2013081093A (ja) * | 2011-10-04 | 2013-05-02 | Yamaha Corp | A/d変換器 |
CN112600559A (zh) * | 2020-12-02 | 2021-04-02 | 深圳市国微电子有限公司 | 流水线模数转换器及收发芯片 |
-
2000
- 2000-06-07 JP JP2000169861A patent/JP4357709B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006086981A (ja) * | 2004-09-17 | 2006-03-30 | Fujitsu Ltd | スイッチトキャパシタ回路およびパイプラインa/d変換回路 |
US7348916B2 (en) | 2005-07-04 | 2008-03-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Pipeline A/D converter and method of pipeline A/D conversion |
KR100755681B1 (ko) | 2006-06-30 | 2007-09-05 | 삼성전자주식회사 | 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 장치 및방법 |
WO2008002010A1 (en) * | 2006-06-30 | 2008-01-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for converting analog signal into digital signal |
US7605729B2 (en) | 2006-06-30 | 2009-10-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for converting analog signal into digital signal taking average value of analog signal for sample period |
JP2011229128A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-11-10 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | パイプライン型a/dコンバータ |
JP2013081093A (ja) * | 2011-10-04 | 2013-05-02 | Yamaha Corp | A/d変換器 |
CN112600559A (zh) * | 2020-12-02 | 2021-04-02 | 深圳市国微电子有限公司 | 流水线模数转换器及收发芯片 |
CN112600559B (zh) * | 2020-12-02 | 2024-03-19 | 深圳市国微电子有限公司 | 流水线模数转换器及收发芯片 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4357709B2 (ja) | 2009-11-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5710563A (en) | Pipeline analog to digital converter architecture with reduced mismatch error | |
US6784824B1 (en) | Analog-to-digital converter which is substantially independent of capacitor mismatch | |
US6369744B1 (en) | Digitally self-calibrating circuit and method for pipeline ADC | |
US10135457B2 (en) | Successive approximation register analog-digital converter having a split-capacitor based digital-analog converter | |
WO2017006297A2 (en) | Hybrid charge-sharing charge-redistribution dac for successive approximation analog-to-digital converters | |
EP3090488B1 (en) | Combining a coarse adc and a sar adc | |
US20100085225A1 (en) | Successive approximation adc with binary error tolerance mechanism | |
US7852254B1 (en) | 1-bit cell circuit used in a pipelined analog to digital converter | |
US6229472B1 (en) | A/D converter | |
EP3567720B1 (en) | Mismatch and reference common-mode offset insensitive single-ended switched capacitor gain stage | |
US6600440B1 (en) | Capacitor mismatch independent gain stage for pipeline analog to digital converters | |
JP4397510B2 (ja) | パイプライン型a/dコンバータ | |
JP3765797B2 (ja) | パイプライン型アナログ・ディジタル変換器 | |
CN111200437B (zh) | A/d转换器 | |
JP4684028B2 (ja) | パイプラインa/d変換器 | |
US10547321B2 (en) | Method and apparatus for enabling wide input common-mode range in SAR ADCS with no additional active circuitry | |
US5355135A (en) | Semi-flash A/D converter using switched capacitor comparators | |
JP2003152541A (ja) | 差動入力a/d変換器 | |
KR100294787B1 (ko) | 개방루프차동증폭기를갖는서브레인지아날로그/디지털컨버터 | |
EP1398880A2 (en) | Analog-digital conversion circuit | |
JP3816240B2 (ja) | パイプライン型a/dコンバータ | |
JP4357709B2 (ja) | パイプライン型a/dコンバータ | |
JP4454498B2 (ja) | スイッチトキャパシタシステム、方法、および使用 | |
JP4061033B2 (ja) | A/d変換器および半導体集積回路 | |
JP2005252326A (ja) | パイプライン型a/d変換器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070207 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20070402 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20070402 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090724 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090728 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090805 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120814 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130814 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |