JP2001343606A - 光走査装置 - Google Patents
光走査装置Info
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- JP2001343606A JP2001343606A JP2000164168A JP2000164168A JP2001343606A JP 2001343606 A JP2001343606 A JP 2001343606A JP 2000164168 A JP2000164168 A JP 2000164168A JP 2000164168 A JP2000164168 A JP 2000164168A JP 2001343606 A JP2001343606 A JP 2001343606A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】Ｆθレンズ系のなかの非球面レンズの加工ばら
つき等により、副走査方向光線の結像位置分布のばらつ
きが大きくなった場合にも、結像位置分布を補正でき、
実用上問題ないようにする。 【課題を解決するための手段】ｆθレンズ系における非
球面を含んだレンズを走査方向に移動調整可能に設け
る。
つき等により、副走査方向光線の結像位置分布のばらつ
きが大きくなった場合にも、結像位置分布を補正でき、
実用上問題ないようにする。 【課題を解決するための手段】ｆθレンズ系における非
球面を含んだレンズを走査方向に移動調整可能に設け
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザプリンタや
コピー装置などに用いられる光走査装置に関するもので
ある。
コピー装置などに用いられる光走査装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】図２に従来の光走査装置の概略図を示
す。光源１から出射された光はコリメータレンズ２を通
り平行光とされる。この後、回転多面鏡４の面倒れ補正
のために入れているシリンドリカルレンズ３を通り、回
転多面鏡４によって偏向走査される。この後、球面レン
ズ５、非球面レンズ６からなるｆθレンズ系を通り、感
光体７へ結像される。従来の光走査装置では、球面レン
ズ５と非球面レンズ６は、ベース９に固定されたピン８
に突き当てて固定、保持されている。また、非球面レン
ズ６は走査方向形状は円弧形状をしており、副走査方向
形状は光を走査する角度によって副走査方向曲率半径が
滑らかに変化する非球面形状をしている。このため、副
走査方向光線の結像位置は走査画角が変化しても、ほと
んど平坦とすることができる。
す。光源１から出射された光はコリメータレンズ２を通
り平行光とされる。この後、回転多面鏡４の面倒れ補正
のために入れているシリンドリカルレンズ３を通り、回
転多面鏡４によって偏向走査される。この後、球面レン
ズ５、非球面レンズ６からなるｆθレンズ系を通り、感
光体７へ結像される。従来の光走査装置では、球面レン
ズ５と非球面レンズ６は、ベース９に固定されたピン８
に突き当てて固定、保持されている。また、非球面レン
ズ６は走査方向形状は円弧形状をしており、副走査方向
形状は光を走査する角度によって副走査方向曲率半径が
滑らかに変化する非球面形状をしている。このため、副
走査方向光線の結像位置は走査画角が変化しても、ほと
んど平坦とすることができる。
【０００３】この場合、走査される光線の結像に影響を
及ぼすレンズは走査方向光線と副走査方向光線では異な
っている。走査方向光線の結像位置は非球面レンズの走
査方向形状等に影響され、副走査方向光線の結像位置
は、非球面レンズの副走査方向形状（非球面形状）に影
響される。副走査方向曲率半径の方が走査方向曲率半径
より小さいので、同じ曲率半径の誤差が出たとしても結
像面変化に与える影響は、副走査方向曲率半径の方が大
きい。よって、特に感度の高い副走査方向曲率半径のば
らつきを所定の値以下にしないと、副走査方向光線の結
像位置がスポット径が良好に絞れる範囲の中に入らなく
なる場合が生じる。
及ぼすレンズは走査方向光線と副走査方向光線では異な
っている。走査方向光線の結像位置は非球面レンズの走
査方向形状等に影響され、副走査方向光線の結像位置
は、非球面レンズの副走査方向形状（非球面形状）に影
響される。副走査方向曲率半径の方が走査方向曲率半径
より小さいので、同じ曲率半径の誤差が出たとしても結
像面変化に与える影響は、副走査方向曲率半径の方が大
きい。よって、特に感度の高い副走査方向曲率半径のば
らつきを所定の値以下にしないと、副走査方向光線の結
像位置がスポット径が良好に絞れる範囲の中に入らなく
なる場合が生じる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記の光走査装置にお
いて、非球面レンズ6の加工において、より精度が必要
となる、副走査方向形状（非球面形状）の加工ばらつき
等が原因で、副走査方向光線の結像位置の走査画角によ
るばらつきが発生することがある。
いて、非球面レンズ6の加工において、より精度が必要
となる、副走査方向形状（非球面形状）の加工ばらつき
等が原因で、副走査方向光線の結像位置の走査画角によ
るばらつきが発生することがある。
【０００５】このときの副走査方向の光線の結像位置の
ばらつきの一例を図３のＡ１に示す。横軸が走査画角、
縦軸が走査方向光線の結像位置を示す。また、図３に示
すＷの範囲はスポット径が所定の値にしぼれるための範
囲である。この場合は±１.５ｍｍとした。この範囲か
ら結像位置が出てしまうと、副走査方向スポット径は所
定の値より大きくなってしまい、印刷品質悪化の原因と
なる。例で示した図３のＡ１の場合走査画角−２２度
や、＋１５度のところにおいては副走査方向スポット径
が大きくなってしまうという問題が発生しておりこの非
球面レンズを含むｆθレンズ系は不良となってしまうの
で、問題となっていた。
ばらつきの一例を図３のＡ１に示す。横軸が走査画角、
縦軸が走査方向光線の結像位置を示す。また、図３に示
すＷの範囲はスポット径が所定の値にしぼれるための範
囲である。この場合は±１.５ｍｍとした。この範囲か
ら結像位置が出てしまうと、副走査方向スポット径は所
定の値より大きくなってしまい、印刷品質悪化の原因と
なる。例で示した図３のＡ１の場合走査画角−２２度
や、＋１５度のところにおいては副走査方向スポット径
が大きくなってしまうという問題が発生しておりこの非
球面レンズを含むｆθレンズ系は不良となってしまうの
で、問題となっていた。
【０００６】その他、光源が複数存在する光走査装置の
場合、それぞれの発光点の光軸方向の位置ばらつきがあ
る。図４では光源が２つの場合の、それぞれの光源の副
走査方向光線の結像位置と走査画角の関係を示してい
る。横軸が走査画角、縦軸が走査方向光線の結像位置を
示している。Ｂ１とＣ１の様に２つの光源からの副走査
方向光線の結像位置が異なっている。このような場合、
２つの光源の副走査方向光線の結像位置を、良好に絞れ
る範囲Ｗの内側に入れるための手法がなかった。そのた
め、この非球面レンズを含むＦθレンズ系は、不良とな
り問題となっていた。
場合、それぞれの発光点の光軸方向の位置ばらつきがあ
る。図４では光源が２つの場合の、それぞれの光源の副
走査方向光線の結像位置と走査画角の関係を示してい
る。横軸が走査画角、縦軸が走査方向光線の結像位置を
示している。Ｂ１とＣ１の様に２つの光源からの副走査
方向光線の結像位置が異なっている。このような場合、
２つの光源の副走査方向光線の結像位置を、良好に絞れ
る範囲Ｗの内側に入れるための手法がなかった。そのた
め、この非球面レンズを含むＦθレンズ系は、不良とな
り問題となっていた。
【０００７】また、光源が複数存在する光走査装置の場
合、何らかの原因で光源間の発光波長に差が生じた場合
にも、上記と同様な現象が生じる。すなわち、それぞれ
の光源の結像位置が光の波長差により変化し、図４のＢ
１とＣ１に示すように結像位置が異なる現象である。こ
のような場合、２つの光源の副走査方向光線の結像位置
を、良好に絞れる範囲Ｗの内側に入れるための手法がな
かった。そのため、この非球面レンズを含むｆθレンズ
系も、不良となり問題となっていた。
合、何らかの原因で光源間の発光波長に差が生じた場合
にも、上記と同様な現象が生じる。すなわち、それぞれ
の光源の結像位置が光の波長差により変化し、図４のＢ
１とＣ１に示すように結像位置が異なる現象である。こ
のような場合、２つの光源の副走査方向光線の結像位置
を、良好に絞れる範囲Ｗの内側に入れるための手法がな
かった。そのため、この非球面レンズを含むｆθレンズ
系も、不良となり問題となっていた。
【０００８】従って、本発明の目的は、Ｆθレンズ系に
おける非球面レンズの加工ばらつき等により、副走査方
向光線の結像位置分布のばらつきが大きくなった場合に
も、結像位置分布を補正することが可能な光走査装置を
提供することにある。
おける非球面レンズの加工ばらつき等により、副走査方
向光線の結像位置分布のばらつきが大きくなった場合に
も、結像位置分布を補正することが可能な光走査装置を
提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の目的は、光源と、
光源からの光を回転多面鏡へ導くレンズ系と、導かれた
光を偏向走査する回転多面鏡と、回転多面鏡により偏向
された光を結像させる少なくとも一面の非球面を備えた
ｆθレンズ系とからなる光走査装置において、前記ｆθ
レンズ系における非球面を含んだレンズを、走査方向に
移動調整可能に設けることにより達成される。
光源からの光を回転多面鏡へ導くレンズ系と、導かれた
光を偏向走査する回転多面鏡と、回転多面鏡により偏向
された光を結像させる少なくとも一面の非球面を備えた
ｆθレンズ系とからなる光走査装置において、前記ｆθ
レンズ系における非球面を含んだレンズを、走査方向に
移動調整可能に設けることにより達成される。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の実施例を図１に示す。光
源１から出射された光はコリメータレンズ２で平行光と
され、回転多面鏡４の面倒れ補正のために設けられたシ
リンドリカルレンズ３を通り、回転多面鏡４によって偏
向走査される。その後、球面レンズ５、非球面レンズ６
からなるｆθレンズ系を通り感光体７上へ結像される。
球面レンズ５は、ピン８によってベース９に固定されて
いる。また、非球面レンズ６はピン８によって別のベー
ス９に固定されている。非球面レンズ６を固定している
ベース９を走査方向へ調整するため、ガイド１０があ
り、ベース９はガイド１０からのばね１１で押し付けら
れている。このとき、調整ねじ１３によって走査方向へ
の微調整が可能である。調整後最適位置でベース９を固
定するため、固定ねじ１２が設けられている。
源１から出射された光はコリメータレンズ２で平行光と
され、回転多面鏡４の面倒れ補正のために設けられたシ
リンドリカルレンズ３を通り、回転多面鏡４によって偏
向走査される。その後、球面レンズ５、非球面レンズ６
からなるｆθレンズ系を通り感光体７上へ結像される。
球面レンズ５は、ピン８によってベース９に固定されて
いる。また、非球面レンズ６はピン８によって別のベー
ス９に固定されている。非球面レンズ６を固定している
ベース９を走査方向へ調整するため、ガイド１０があ
り、ベース９はガイド１０からのばね１１で押し付けら
れている。このとき、調整ねじ１３によって走査方向へ
の微調整が可能である。調整後最適位置でベース９を固
定するため、固定ねじ１２が設けられている。
【００１１】図５に、実施例に示したＦθレンズ系の概
略図を示す。球面レンズ５は、この実施例では、貼り合
せレンズを用いている。また、非球面レンズ６は、光の
出射面（Ｒ５）が非球面レンズ形状をしているレンズで
ある。Ｎは屈折率、Ｒは曲率半径（単位ｍｍ）、Ｔは距
離（単位ｍｍ）を示す。Ｆθレンズ系の実施例として、
Ｎ、Ｒ、Ｔの組みあわせを次に示す。Ｎ１＝１.６１９
３３０、Ｎ２＝１.５６２３０４、Ｎ３＝１.５７６０６
２、Ｒ１＝−２０４.８、Ｒ２＝１８７.３、Ｒ３＝−１
７５.８、Ｒ４＝∞、Ｒ５の走査方向＝−２００、副走
査方向＝−５４.８４、Ｔ１＝１０、Ｔ２＝１０、Ｔ３
＝６８、Ｔ４＝２５、Ｔ５＝３４８である。
略図を示す。球面レンズ５は、この実施例では、貼り合
せレンズを用いている。また、非球面レンズ６は、光の
出射面（Ｒ５）が非球面レンズ形状をしているレンズで
ある。Ｎは屈折率、Ｒは曲率半径（単位ｍｍ）、Ｔは距
離（単位ｍｍ）を示す。Ｆθレンズ系の実施例として、
Ｎ、Ｒ、Ｔの組みあわせを次に示す。Ｎ１＝１.６１９
３３０、Ｎ２＝１.５６２３０４、Ｎ３＝１.５７６０６
２、Ｒ１＝−２０４.８、Ｒ２＝１８７.３、Ｒ３＝−１
７５.８、Ｒ４＝∞、Ｒ５の走査方向＝−２００、副走
査方向＝−５４.８４、Ｔ１＝１０、Ｔ２＝１０、Ｔ３
＝６８、Ｔ４＝２５、Ｔ５＝３４８である。
【００１２】このｆθレンズ系を用いたときに、非球面
レンズ６を走査方向へ０ｍｍ、０.１ｍｍ、０.２ｍｍ移
動させたときの副走査方向光線の結像位置の変化量を図
６に示す。縦軸が副走査方向結像位置変化量で横軸が走
査画角である。図６のＤ１が０ｍｍ、Ｄ２が０.１ｍ
ｍ、Ｄ３が０.２ｍｍ非球面レンズ６を変化させた場合
を示している。図６からわかるように図１の調整ねじ１
３を用いることにより、非球面レンズ６を走査方向へ移
動することができ、これにより、副走査方向光線の結像
位置の分布を変化させることができる。
レンズ６を走査方向へ０ｍｍ、０.１ｍｍ、０.２ｍｍ移
動させたときの副走査方向光線の結像位置の変化量を図
６に示す。縦軸が副走査方向結像位置変化量で横軸が走
査画角である。図６のＤ１が０ｍｍ、Ｄ２が０.１ｍ
ｍ、Ｄ３が０.２ｍｍ非球面レンズ６を変化させた場合
を示している。図６からわかるように図１の調整ねじ１
３を用いることにより、非球面レンズ６を走査方向へ移
動することができ、これにより、副走査方向光線の結像
位置の分布を変化させることができる。
【００１３】本発明はこの特性を利用している。非球面
レンズ６の加工ばらつき等による、図３、図４のＡ１、
Ｂ１、Ｃ１、に示すような、不良となっていた副走査方
向光線の結像位置分布を補正することで、従来使えなか
った非球面レンズ６を使えるようになる。
レンズ６の加工ばらつき等による、図３、図４のＡ１、
Ｂ１、Ｃ１、に示すような、不良となっていた副走査方
向光線の結像位置分布を補正することで、従来使えなか
った非球面レンズ６を使えるようになる。
【００１４】具体的には、非球面レンズ６の加工ばらつ
き等により、図３のＡ１に示すような副走査方向光線の
結像位置分布があって良好に絞れる範囲Ｗの中からでて
しまい、一部副走査方向スポット径が大きくなってしま
い不良となっている場合、本発明によりｆθレンズ系の
なかの非球面レンズ６を０.３３ｍｍ移動させること
で、図３のＡ２のような副走査方向光線の結像位置分布
になり、副走査方向光線の結像位置分布の全体を良好に
絞れる範囲Ｗの中に入れることができ、従来不良になっ
ていた非球面レンズ６を使用することができるようにな
りｆθレンズ系の歩留まりの向上に効果がある。
き等により、図３のＡ１に示すような副走査方向光線の
結像位置分布があって良好に絞れる範囲Ｗの中からでて
しまい、一部副走査方向スポット径が大きくなってしま
い不良となっている場合、本発明によりｆθレンズ系の
なかの非球面レンズ６を０.３３ｍｍ移動させること
で、図３のＡ２のような副走査方向光線の結像位置分布
になり、副走査方向光線の結像位置分布の全体を良好に
絞れる範囲Ｗの中に入れることができ、従来不良になっ
ていた非球面レンズ６を使用することができるようにな
りｆθレンズ系の歩留まりの向上に効果がある。
【００１５】その他、図４のＢ１、Ｃ１に示すような複
数ビームの場合の加工ばらつき等による副走査方向光線
の結像位置分布が、良好に絞れる範囲Ｗの中から一部で
てしまって副走査方向スポット径が大きくなってしま
い、不良となっている場合もｆθレンズ６を走査方向へ
０.１７ｍｍ移動させることで、図４のＢ２、Ｃ２の様
な副走査方向光線の結像位置分布になり良好に絞れる範
囲Ｗに入るので、副走査方向スポット径を良好に絞れる
ようになり、従来不良となっていたｆθレンズを使用す
ることができるようになる。
数ビームの場合の加工ばらつき等による副走査方向光線
の結像位置分布が、良好に絞れる範囲Ｗの中から一部で
てしまって副走査方向スポット径が大きくなってしま
い、不良となっている場合もｆθレンズ６を走査方向へ
０.１７ｍｍ移動させることで、図４のＢ２、Ｃ２の様
な副走査方向光線の結像位置分布になり良好に絞れる範
囲Ｗに入るので、副走査方向スポット径を良好に絞れる
ようになり、従来不良となっていたｆθレンズを使用す
ることができるようになる。
【００１６】ここで、ｆθレンズ系に含まれる非球面レ
ンズ６の走査方向移動に伴うその他のｆθレンズ特性変
化を確認する。その他のｆθレンズ特性として、走査方
向光線の結像位置分布の変化とｆθ性すなわち等速性が
ある。
ンズ６の走査方向移動に伴うその他のｆθレンズ特性変
化を確認する。その他のｆθレンズ特性として、走査方
向光線の結像位置分布の変化とｆθ性すなわち等速性が
ある。
【００１７】まず、走査方向光線の結像位置分布の変化
量を求めた。結果を図７に示す。図７では縦軸に走査方
向結像位置変化量と走査画角の関係を示している。図７
のＥ１はＦθレンズ系に含まれる非球面レンズを走査方
向に０ｍｍ移動させた場合の結像位置分布の変化を示
す。Ｅ２は非球面レンズを走査方向に０.１ｍｍ移動さ
せた場合の結像位置分布の変化を示す。Ｅ３は非球面レ
ンズを走査方向に０.２ｍｍ移動させた場合の結像位置
分布の変化を示す。図７に示すとおり、非球面レンズが
０.２ｍｍ変化したとしても走査方向スポット径の結像
位置の変化は０.１ｍｍ以下とわずかであり印刷品質に
影響が出ない程度であり、影響が小さいことがわかる。
量を求めた。結果を図７に示す。図７では縦軸に走査方
向結像位置変化量と走査画角の関係を示している。図７
のＥ１はＦθレンズ系に含まれる非球面レンズを走査方
向に０ｍｍ移動させた場合の結像位置分布の変化を示
す。Ｅ２は非球面レンズを走査方向に０.１ｍｍ移動さ
せた場合の結像位置分布の変化を示す。Ｅ３は非球面レ
ンズを走査方向に０.２ｍｍ移動させた場合の結像位置
分布の変化を示す。図７に示すとおり、非球面レンズが
０.２ｍｍ変化したとしても走査方向スポット径の結像
位置の変化は０.１ｍｍ以下とわずかであり印刷品質に
影響が出ない程度であり、影響が小さいことがわかる。
【００１８】また、ｆθ性のずれを求めた結果を図８に
示す。ｆθ性とは、完璧なｆθレンズによる走査位置と
走査画角の関係との差を示す特性であり、小さいほど良
好である。図８のＦ１はｆθレンズ系に含まれる非球面
レンズを走査方向に０ｍｍ移動させた場合のｆθ性変化
を示す。この場合、変化がないので０となっている。Ｆ
２はｆθレンズ系に含まれる非球面レンズを走査方向に
０.１ｍｍ移動させた場合のｆθ性変化を示す。Ｆ３は
ｆθレンズ系に含まれる非球面レンズを走査方向に０.
２ｍｍ移動させた場合のｆθ性変化を示す。なお、Ｆ
２、Ｆ３は走査画角０度のｆθ性を０と規格化して求め
た値である。図８に示すとおり０.２ｍｍ変化したとし
てもｆθ性の変化は、０.０２ｍｍ以下とわずかであり
印刷品質に影響が出ない程度である。
示す。ｆθ性とは、完璧なｆθレンズによる走査位置と
走査画角の関係との差を示す特性であり、小さいほど良
好である。図８のＦ１はｆθレンズ系に含まれる非球面
レンズを走査方向に０ｍｍ移動させた場合のｆθ性変化
を示す。この場合、変化がないので０となっている。Ｆ
２はｆθレンズ系に含まれる非球面レンズを走査方向に
０.１ｍｍ移動させた場合のｆθ性変化を示す。Ｆ３は
ｆθレンズ系に含まれる非球面レンズを走査方向に０.
２ｍｍ移動させた場合のｆθ性変化を示す。なお、Ｆ
２、Ｆ３は走査画角０度のｆθ性を０と規格化して求め
た値である。図８に示すとおり０.２ｍｍ変化したとし
てもｆθ性の変化は、０.０２ｍｍ以下とわずかであり
印刷品質に影響が出ない程度である。
【００１９】以上のように、本発明によりｆθレンズ系
に含まれる非球面レンズを走査方向に移動させた場合に
ともなって他のｆθレンズ特性である、走査方向光線の
結像位置分布やｆθ性などの特性には大きな影響を及ぼ
さないので、本発明は都合がよいことがわかる。
に含まれる非球面レンズを走査方向に移動させた場合に
ともなって他のｆθレンズ特性である、走査方向光線の
結像位置分布やｆθ性などの特性には大きな影響を及ぼ
さないので、本発明は都合がよいことがわかる。
【００２０】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、Ｆθ
レンズ系における非球面レンズの加工ばらつき等によ
り、副走査方向光線の結像位置分布のばらつきが大きく
なった場合にも、結像位置分布を補正することが可能な
光走査装置を提供することができる。
レンズ系における非球面レンズの加工ばらつき等によ
り、副走査方向光線の結像位置分布のばらつきが大きく
なった場合にも、結像位置分布を補正することが可能な
光走査装置を提供することができる。
【図１】本発明の実施例を示す模式図。
【図２】従来例を示す模式図。
【図３】単一ビーム走査の場合の副走査方向光線の結像
位置分布とその変化を示す説明図。
位置分布とその変化を示す説明図。
【図４】複数ビーム走査の場合の副走査方向光線の結像
位置分布とその変化を示す説明図。
位置分布とその変化を示す説明図。
【図５】ｆθレンズの構成図。
【図６】本発明を実施した場合の副走査方向光線の結像
位置分布の変化を示す説明図。
位置分布の変化を示す説明図。
【図７】本発明を実施した場合の走査方向光線の結像位
置変化を示す説明図。
置変化を示す説明図。
【図８】本発明を実施した場合のｆθ性の変化を示す説
明図。
明図。
１…光源、２…コリメータレンズ、３…シリンドリカル
レンズ、４…回転多面鏡、５…球面レンズ、６…非球面
レンズ、７…感光体、８…ピン、９…ベース、１０…ガ
イド、１１…ばね、１２…固定ねじ、１３…調整ねじ。
レンズ、４…回転多面鏡、５…球面レンズ、６…非球面
レンズ、７…感光体、８…ピン、９…ベース、１０…ガ
イド、１１…ばね、１２…固定ねじ、１３…調整ねじ。
Claims (1)
- 【請求項１】光源と、光源からの光を回転多面鏡へ導く
レンズ系と、導かれた光を偏向走査する回転多面鏡と、
回転多面鏡により偏向された光を結像させる少なくとも
一面の非球面を備えたｆθレンズ系とからなる光走査装
置において、前記ｆθレンズ系における非球面を含んだ
レンズを、走査方向に移動調整可能に設けたことを特徴
とする光走査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000164168A JP2001343606A (ja) | 2000-06-01 | 2000-06-01 | 光走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000164168A JP2001343606A (ja) | 2000-06-01 | 2000-06-01 | 光走査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001343606A true JP2001343606A (ja) | 2001-12-14 |
Family
ID=18667827
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000164168A Pending JP2001343606A (ja) | 2000-06-01 | 2000-06-01 | 光走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001343606A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005283606A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | 走査光学系 |
| US7969460B2 (en) | 2008-06-23 | 2011-06-28 | Ricoh Company, Ltd. | Optical scanning device and image forming apparatus |
| JP2014215435A (ja) * | 2013-04-25 | 2014-11-17 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 像面湾曲補正方法、光走査装置、画像形成装置 |
-
2000
- 2000-06-01 JP JP2000164168A patent/JP2001343606A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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