JP2001241941A - 幾何要素測定装置及び方法 - Google Patents
幾何要素測定装置及び方法Info
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Abstract
素測定装置及び方法を提供する。 【解決手段】 三次元測定機で得られた測定点群の広が
り方を調べて、0次から3次までに分類すると共に、測
定点群の広がり方(0次〜3次)と測定点数とに基づい
て、測定対象である幾何要素を判別する。測定点数が3
点以上で広がり方が2次である場合には、測定子の移動
方向も勘案して、それが面であるのか、円であるのかを
判別する。測定点数が6点以上の場合には、測定点で特
定される円錐を計算し、その半頂角の値に基づいて、そ
れが円筒であるのか、円錐であるのかを判別する。
Description
形状測定装置等の測定機で得られた測定データから測定
すべき幾何要素を計算して測定結果として出力する幾何
要素測定装置及び方法に関する。
即ち、点、線、面、円、球、円筒、円錐等の幾何要素を
測定する場合、最初に測定すべき幾何要素を操作部から
指示したのち、その幾何形状の測定に必要な点数分の測
定を行う。例えば、幾何要素が点である場合には、測定
子(プローブ)を測定すべき箇所に接触させて、1点の
測定データを得る。また、測定すべき幾何要素が面であ
る場合には、測定すべき面の少なくとも3点の測定デー
タを得る。そして、これら1又は複数の測定データに基
づいて指定された幾何要素を求めるための演算が実行さ
れる。
ブの直接的な又はジョイスティックを使用した測定操作
の合間に幾何要素の指定操作が必要となるため、操作性
が悪く、測定ミスが生じるという問題がある。そこで、
取り込まれた被測定物の測定データを、予め記憶されて
いる各幾何形状の算出式に当てはめて、その形状誤差を
比較し、形状誤差が最も少ない幾何形状を測定すべき幾
何要素と判別することで、幾何要素の指定を省いて操作
性を向上させた幾何要素測定方法も提案されている(特
開平8−82521号)。
来の幾何要素測定方法のデータ演算量を削減して高速処
理が可能な、操作性の高い幾何要素測定装置及び方法を
提供することを第1の目的とする。本発明は、また、上
述した従来の幾何要素測定方法の操作性を更に向上させ
た幾何要素測定装置及び方法を提供することを第2の目
的とする。
要素測定装置は、被測定物の測定すべき幾何要素の計算
に必要な1又は複数の測定点を測定して測定データを出
力する測定手段と、この測定手段で測定された測定点の
測定データを取り込むと共に取り込まれた測定点の数を
計数する標本化処理手段と、この標本化処理手段で取り
込まれた測定点の測定点数と全ての測定点の広がり方と
に基づいて前記測定すべき幾何要素を判別する要素判別
処理手段とを備えたことを特徴とする。
定物の測定すべき幾何要素の計算に必要な1又は複数の
測定点を測定して測定データを出力する測定手段と、こ
の測定手段で測定された測定点の測定データを取り込む
と共に取り込まれた測定点の数を計数し、且つ最終の測
定データの取り込みから所定の時間経過したことをもっ
て前記幾何要素の計算に必要な全ての測定点の取り込み
が終了したと判定する標本化処理手段と、この標本化処
理手段で取り込まれた測定点の測定データと測定点数と
に基づいて前記測定すべき幾何要素を判別する要素判別
処理手段とを備えたことを特徴とする。
は、被測定物の測定すべき幾何要素の計算に必要な1又
は複数の測定点を取り込むと共に取り込まれた測定点の
数を計数ステップと、このステップで取り込まれた測定
点の広がり方を判定するステップと、このステップで判
定された測定点の広がり方と前記測定点の測定点数とに
基づいて前記測定すべき幾何要素を判別するステップと
を備えたことを特徴とする。
は、被測定物の測定すべき幾何要素の計算に必要な1又
は複数の測定点を取り込むと共に取り込まれた測定点の
数を計数するステップと、このステップでの最終の測定
点の取り込みから所定の時間経過したことをもって前記
幾何要素の計算に必要な全ての測定点の取り込みが終了
したと判定するステップと、このステップで前記測定点
の取り込みが終了したと判定されたのちに前記測定点の
測定データと測定点数とに基づいて前記測定すべき幾何
要素を判別するステップとを備えたことを特徴とする。
によれば、被測定物の測定すべき幾何要素の計算に必要
な1又は複数の測定点の広がり方を判定し、この広がり
方と測定点の測定点数とに基づいて測定すべき幾何要素
を判別するようにしているので、測定データから全ての
幾何形状の当てはめ処理とその誤差計算を行う従来方式
に比べ、遙かに少ない演算量で幾何要素の判別を行うこ
とができる。これにより、データ演算量を大幅に削減し
て高速処理が実現できる。
えば三次元座標値を含む測定データを出力する三次元測
定機である場合、取り込まれた全ての測定点を内包する
最小の直方体を求め、その厚み、幅及び高さから、0次
〜3次のいずれかであるかと判定することができる。
とが出来る。即ち、測定点数が1のときには幾何要素が
点であると判定し、測定点数が2以上であって、測定点
の広がり方が1次のときは幾何要素が線であると判定
し、測定点数が2以上であって、測定点の広がり方が2
次のときは幾何要素が面又は円であると判定し、測定点
数が4又は5であって、測定点の広がり方が3次のとき
は幾何要素が球であると判定し、測定点数が6以上であ
って、測定点の広がり方が3次のときは幾何要素が円筒
又は円錐であると判定する。
広がり方が2次のときは、例えば少なくとも最後に得ら
れた測定点を得る際の測定アプローチ方向(例えばプロ
ーブの測定箇所への移動方向)が測定点で規定される面
に垂直に近いときは幾何要素が面であると判定し、測定
点で規定される面に水平に近いときは円であると判定す
れば良い。更に、測定点が6以上であって、測定点の広
がり方が3次のときは、測定データから円錐の半頂角を
計算し、この半頂角が所定値以下であるときには幾何要
素が円筒であると判定し、半頂角が所定値よりも大きい
ときは円錐であると判定すれば良い。
び方法によれば、被測定物の測定すべき幾何要素の計算
に必要な1又は複数の測定点の取り込みに際し、最終の
測定点の取り込みから所定の時間経過したことをもって
前記幾何要素の計算に必要な全ての測定点の取り込みが
終了したと判定するようにしているので、必要な点数分
の測定が完了したことをオペレータが指示する操作も必
要とせず、測定操作をすべて測定子の測定個所へのアク
セスに集中させることができ、測定の操作性が更に向上
する。
発明の好ましい実施の形態について説明する。図1は、
この発明の一実施例に係る三次元測定システムにおける
幾何要素測定装置のブロック図である。このシステム
は、三次元測定機1と、この三次元測定機1からの測定
データを処理するデータ処理装置2とにより構成されて
いる。
な構成となっている。即ち、三次元測定機1は、被測定
物11の必要箇所を直接的な又は図示しないジョイステ
ィック等を用いて手動操作によって接触させることによ
り、測定点の三次元座標データを取り込むためのタッチ
シグナルプローブ12を備える。このタッチシグナルプ
ローブ12の移動は、エンコーダ13によって検出さ
れ、プローブ先端の位置は、XYZカウンタ14によっ
て計数される。XYZカウンタ14によって求められる
プローブ12の位置情報(三次元座標値)は、標本化部
15においてプローブ12からのタッチ信号の入力タイ
ミングでサンプリングされる。一方、XYZカウンタ1
4からのプローブ12の位置情報は、プローブ方向監視
部16に入力され、ここで一定の時間間隔でサンプリン
グされると共に過去の2,3点の位置情報がサンプリン
グによって新たな位置情報に更新されることにより、常
に最新のプローブ12の移動方向が保持される。測定デ
ータ出力部17は、タッチ信号入力時の測定データとプ
ローブ方向監視部16からのプローブ方向から接触点
(測定点)の座標値を求め、この座標値とその測定点が
得られたときのプローブ移動方向とを測定データとして
データ処理装置2に出力する。また、操作部18は、測
定すべき幾何要素の測定に必要な測定点数の測定が終了
したら、これを知らせるための完了キー操作情報や、測
定の終了判定を中断させるためのキャンセルキー入力情
報等をデータ処理装置2に入力するために設けられてい
る。
うに、標本化処理部21、要素判別処理部22、要素計
算処理部23及び表示部24を備えて構成されている。
標本化処理部21は、三次元測定機1から入力される測
定データを格納する機能と、入力された測定点数をカウ
ントする機能と、完了キーの入力や最終測定データの入
力から予め定めた設定時間だけ経過したときに幾何要素
の判別に必要な全ての測定データが入力されたと判定す
る機能とを有する。要素判別処理部22は、標本化処理
部21から供給される測定データに基づいて測定点の広
がり方を判定する機能と、この広がり方と測定点数とに
基づいて測定しようとしてる幾何要素を判別する機能と
を有する。要素判別処理部22は、また、最終測定デー
タが得られたときのプローブ12の移動方向(以下、
「アプローチ方向」と呼ぶ)に基づいて幾何要素が面か
円かを判別する機能や、円錐計算により求めた半頂角に
基づいて幾何要素が円筒か円錐かを判別する機能を有す
る。要素計算処理部23は、要素判別処理部22で判別
された幾何要素と測定データとに基づいて幾何要素の計
算(例えば、幾何要素が円であれば、円の中心と半径等
の計算)を行う。表示部24は、標本化処理部21での
測定点数、要素判別処理部22での判別結果、要素計算
処理部23での計算結果等を表示する。
装置の動作について説明する。図3は、標本化処理部2
1の動作を示すフローチャートである。まず、測定デー
タの入力点数を示す入力点数カウンタをクリアし(S
1)、測定データの入力待ちとなる(S2)。測定デー
タが入力されたら、その測定データを図示しないメモリ
に格納し(S3)、入力点数カウンタをカウントアップ
し(S4)、入力待ちとなる(S2)。この動作を繰り
返している最中に、完了キーの入力があった場合(S
5)、これまで入力された全ての測定データと入力点数
とを要素判別処理部22に供給する(S7)。また、少
なくとも1点の測定データの入力が有った後に、最終測
定データの入力から予め任意に設定された設定時間だけ
経過した場合にも、測定データの入力は完了したものと
判定し(S6)、これまで入力された全ての測定データ
と入力点数とを要素判別処理部22に供給する(S
7)。なお、これはあくまで一例であって、例えば測定
データの入力後、キャンセルキー等の有効なキーが押さ
れた場合、次に測定データの入力があるまで時間経過に
よる自動完了動作を行わないようにしても良いし、自動
完了動作をオフに設定できるようにしても良い。
フローチャートである。まず、入力点数が1の場合、幾
何要素は“点”であると判定する(S12)。入力点数
が2以上の場合には、測定点の広がり方計算処理が実行
される(S13)。この広がり方計算処理については後
述するが、要するに測定点の分布が1箇所に集中してい
るか(0次)、直線的に分布しているか(1次)、平面
的に分布しているか(2次)、立体的に分布しているか
(3次)を判別する。その判別結果が0次の場合(S1
4)、判断不能とする(S15)。この場合には、従来
と同様の方法で幾何要素が求められる。具体的には、幾
何要素を指定して、その要素にうまく当てはまるか否か
を計算して表示する。また、判別結果が1次の場合(S
16)、幾何要素は“線”であると判定する(S1
7)。2次の場合(S18)には、幾何要素は“面”又
は“円”であると判定する。この場合、後述する面、円
判別処理(S19)が実行される。また、広がり方が3
次の場合(S18)、入力点数が4又は5であるとき
(S20)、幾何要素は“球”であると判定し(S2
1)、入力点数が6以上であるとき(S20)、幾何要
素は“円筒”又は“円錐”であると判定する。この場合
には、後述する円筒、円錐判別処理(S22)が実行さ
れる。以上を表にまとめると、次のようになる。
3)として、ここでは3つの方法について述べる。第1
の方法は簡易方式であり、図5にその処理フローを示
す。また、図6は、この処理を説明するための図であ
る。まず、図6の黒丸で示す全ての測定点を内包する直
方体の内、厚み(H1)がほぼ最小となる直方体を決定
する(S31)。なお、このとき直方体の高さH2及び
幅H3方向はまだ未決定であり、任意でよい。次に、図
6の白丸で示すように、全ての測定点を直方体の厚み
(H1)方向と直交する平面S1に投影する(S3
2)。なお、図6において中央の黒丸は平面S1上に位
置しているため、白丸は黒丸に重なっている。続いて、
S1平面上において全ての投影点を内包する長方形(高
さH2、幅H3)の内、高さH2が最小となる長方形を
決定する(S33)。そして、長方形の最小幅(H3)
を決定する(S34)。最も大きなH3がほぼ0であれ
ば(S35)、測定点は1点に集中しているので0次と
判定する(S36)。H2≪H3であれば(S37)、
測定点は直線上に分布しているので1次と判定する(S
38)。また、上記条件を満たさず、H1≪H3であれ
ば(S39)、測定点は平面上に分布しているので2次
と判定する(S40)。いずれの条件も満たさない場合
には(S39)、3次と判定する(S41)。なお、こ
こで“≪”の条件は、例えば左辺が右辺の1/10〜1
/20よりも大きいか小さいかという条件に置き換えて
も良い。
例えば図7及び図8に示す処理を実行すれば良い。ま
ず、図9に示すように、任意の測定点を選択し、その測
定点から最も離れた測定点を求め、これを点P1とする
(S51)。次に、P1から最も離れた点を求め、これ
をP2とする(S52)。ここで、P1,P2の距離が
ほぼ0であったら(S53)、0次とする(S54)。
そうでなければ、P1,P2を結ぶ直線L方向の単位ベ
クトルをV3とし(S55)、P1,P2を結ぶ直線L
から最も離れた測定点をP3とする(S56)。V3の
向きはどちらでも良い。もし、直線LからP3までの距
離がほぼ0であったなら(S57)、1次とする(S5
8)。そうでなければ、P1,P2,P3を含む面の法
線の単位ベクトルをV1とし、V3とV1の外積V3×
V1をV2とする(S59)。
最大値−最小値をH1とし、V2と各測定点との内積の
最大値−最小値をH2とし、V3と各測定点との内積の
最大値−最小値をH3とする(S60)。即ち、図10
に示すように、ベクトルV1と各測定点ベクトルVnと
の内積は、
は、各測定点ベクトルのV1上への投影点の長さを示し
ており、その最大値と最小値の差をとることで、ベクト
ルV1方向の厚みH1が求められることになる。V2,
V3方向も同様である。これにより、求めたH1,H
2,H3を使用して、例えばH2<0.1×H3であれ
ば(S61)、1次とし(S62)、H1<0.05×
H3であれば(S63)、2次とし(S64)、そうで
ない場合には3次とする(S65)。
密にはH1,H2,H3を最小に出来るとは限らない。
しかし、この方法は、計算内容が簡単なため、計算処理
が速いという特徴を有する。次に、測定点の広がり方を
厳密に求める第2の方法について述べる。
る直方体の最小厚み(H1)を決定する場合に、2面に
よる最小領域法を使用する。即ち、図11に示すよう
に、平行な2つの平面S1,S2を想定し、この2面で
全ての測定点を挟んだときに、その2面間の距離が最小
となる平面を最小領域法によって探し、そのときの2面
間距離をH1とする。次に最小厚み(H1)を形成する
平面S1に垂直に全ての測定点を投影し、この面内にお
いて各投影点を内包する長方形(高さH2、幅H3)を
決定する場合に、まず2線による最小領域法を使用す
る。これは平行な2本の直線を想定し、この2直線で全
ての投影点を挟んだときに、その2直線間の距離が最小
となるものを最小領域法で探し、そのときの2直線間の
距離をH2とする。次にH2を形成する直線に直角で、
且つ全ての投影点を挟んだ時にその距離が最小になる2
直線を決定し、この2直線間の距離をH3とする。以
後、広がり方の決定方法は、第1の方法と同様である。
る最小領域法は、平行2直線の式をそれぞれ、
間の直交距離|C1−C2|が最小となるときのA,B
とC1,C2を求めれば良い。三次元データの平行2面
による最小領域法による解も同様な考え方で求めること
ができる。この第2の方法によれば、計算時間は第1の
方法よりもかかるものの、第1の方法よりも厳密な計算
が可能である。
測定点を内包する直方体の最小厚み(H1)を決定する
場合に、図12に示すように、三次元的に分布した全て
の測定点から最小二乗法によって1つの平面Sを決定す
る。即ち、平面Sの方向を示す単位ベクトルをV1、位
置をs、各測定点のベクトルをPiとすると、平面Sと
各点との偏差は、
求める平面Sとなる。次に、この平面に平行な2つの平
面S1,S2を想定し、この2面で全ての測定点を挟ん
だときに、その2面間の距離が最小となるものを探し、
そのときの2面間の距離をH1とする。次に最小厚み
(H1)を形成する平面に垂直に全ての測定点を投影
し、この面内において各投影点を内包する長方形(高さ
H2、幅H3)を決定する場合に、全ての投影点から最
小二乗法によって1本の直線を決定する。次に、この直
線に平行な2つの直線を想定し、この2直線で全ての投
影点を挟んだときに、2直線間の距離が最小となるもの
を探し、そのときの2直線間の距離をH2とする。次
に、H2を形成する直線に直角で、且つ全ての投影点を
挟んだときに、その距離が最小となる2直線を決定し、
この2直線間の距離をH3とする。以後、広がり方の決
定方法は、第2の方法と同様である。この第3の方法
は、第1の方法と第2の方法の中間的な効果を有する。
面、円判別処理(S19)について説明する。この処理
は、測定点の広がり方の次数が2次のときに幾何要素が
面か円かを最終的に判別するために実行される。具体的
には、プローブ12のアプローチ方向の単位ベクトルと
前述したベクトルV1との内積の絶対値が√(0.5)
≒0.7以上のときに面、それ未満のときに円と判定す
る。即ち、例えば図13に示すように、厚み方向(V1
方向又はH1方向)に対して被測定部へのプローブ12
のアプローチ方向が45度よりも小さい場合(通常は約
0度)には、被測定部の法線方向へのアプローチである
ので、幾何要素は面であると判断する。これに対し、図
14に示すように、厚み方向(V1方向又はH1方向)
に対して被測定部へのプローブ12のアプローチ方向が
45度よりも大きい場合(通常は約90度)には、被測
定部の側面方向からのアプローチであるので、幾何要素
は円であると判断する。なお、判断の基準となる内積の
絶対値は、任意の値を使用することができる。また、ア
プローチ方向は、ここでは測定時の被測定物に接触する
直前のプローブ移動方向として定義しているが、被測定
物に接触した後のプローブ移動方向又はそれと反対の向
きの方向としても良い。
筒、円錐判別処理(S22)は、具体的には、全測定デ
ータを使用して最小二乗法により円錐を計算し、計算結
果の半頂角が規定値、例えば0.01rad以下のとき、
円筒と判断し、規定値を超えるとき円錐と判断する。
次元測定データを例にとり、本発明を説明したが、本発
明は表面性状測定装置等で得られた二次元測定データか
ら幾何要素を判別する処理にも適用可能であることは言
うまでもない。
の測定すべき幾何要素の計算に必要な1又は複数の測定
点を測定して測定データを出力する測定手段を備える構
成について説明したが、この測定手段に代えて、被測定
物の測定すべき幾何要素の計算に必要な1又は複数の測
定点を測定した測定データを入力する入力手段を備える
構成としても良い。
測定物の測定すべき幾何要素の計算に必要な1又は複数
の測定点の広がり方を判定し、この広がり方と測定点の
測定点数とに基づいて測定すべき幾何要素を判別するよ
うにしているので、測定データから全ての幾何形状の当
てはめ処理とその誤差計算を行う従来方式に比べ、遙か
に少ない演算量で幾何要素の判別を行うことができ、デ
ータ演算量を大幅に削減して高速処理が実現でき、操作
性を向上することができるという効果を奏する。
における幾何要素測定装置のブロック図である。
ある。
ローチャートである。
フローチャートである。
算処理の第1の方法を示すフローチャートである。
ローチャートである。
る。
る。
ある。
計算処理の第2の方法を説明するための図である。
計算処理の第3の方法を説明するための図である。
説明するための図である。
理を説明するための図である。
処理部、22…要素判別処理部、23…要素計算処理
部、24…表示部。
Claims (8)
- 【請求項1】 被測定物の測定すべき幾何要素の計算に
必要な1又は複数の測定点を測定して測定データを出力
する測定手段と、 この測定手段で測定された測定点の測定データを取り込
むと共に取り込まれた測定点の数を計数する標本化処理
手段と、 この標本化処理手段で取り込まれた測定点の測定点数と
全ての測定点の広がり方とに基づいて前記測定すべき幾
何要素を判別する要素判別処理手段とを備えたことを特
徴とする幾何要素測定装置。 - 【請求項2】 前記測定手段は、三次元座標値を含む測
定データを出力する三次元測定機であり、 前記要素判別処理手段は、前記標本化処理手段で取り込
まれた全ての測定点を内包する最小の直方体の厚み、幅
及び高さから、前記測定点の広がり方が0次〜3次のい
ずれかを判定する手段であることを特徴とする請求項1
記載の幾何要素測定装置。 - 【請求項3】 前記要素判別処理手段は、 前記測定点数が1のときには前記幾何要素が点であると
判定し、 前記測定点数が2以上であって、前記測定点の広がり方
が1次のときは前記幾何要素が線であると判定し、 前記測定点数が2以上であって、前記測定点の広がり方
が2次のときは前記幾何要素が面又は円であると判定
し、 前記測定点数が4又は5であって、前記測定点の広がり
方が3次のときは前記幾何要素が球であると判定し、 前記測定点数が6以上であって、前記測定点の広がり方
が3次のときは前記幾何要素が円筒又は円錐であると判
定するものであることを特徴とする請求項2記載の幾何
要素測定装置。 - 【請求項4】 前記要素判別処理手段は、前記測定点が
2以上であって、前記測定点の広がり方が2次のとき
は、少なくとも最後に得られた測定点を得る際の測定ア
プローチ方向が前記測定点で規定される面に垂直に近い
ときは前記幾何要素が面であると判定し、前記測定点で
規定される面に水平に近いときは円であると判定するも
のであることを特徴とする請求項3記載の幾何要素測定
装置。 - 【請求項5】 前記要素判別処理手段は、前記測定点が
6以上であって、前記測定点の広がり方が3次のとき
は、前記測定データから円錐の半頂角を計算し、この半
頂角が所定値以下であるときには前記幾何要素が円筒で
あると判定し、前記半頂角が所定値よりも大きいときは
円錐であると判定するものであることを特徴とする請求
項3又は4記載の幾何要素測定装置。 - 【請求項6】 被測定物の測定すべき幾何要素の計算に
必要な1又は複数の測定点を測定して測定データを出力
する測定手段と、 この測定手段で測定された測定点の測定データを取り込
むと共に取り込まれた測定点の数を計数し、且つ最終の
測定データの取り込みから所定の時間経過したことをも
って前記幾何要素の計算に必要な全ての測定点の取り込
みが終了したと判定する標本化処理手段と、 この標本化処理手段で取り込まれた測定点の測定データ
と測定点数とに基づいて前記測定すべき幾何要素を判別
する要素判別処理手段とを備えたことを特徴とする幾何
要素測定装置。 - 【請求項7】 被測定物の測定すべき幾何要素の計算に
必要な1又は複数の測定点を取り込むと共に取り込まれ
た測定点の数を計数ステップと、 このステップで取り込まれた測定点の広がり方を判定す
るステップと、 このステップで判定された測定点の広がり方と前記測定
点の測定点数とに基づいて前記測定すべき幾何要素を判
別するステップとを備えたことを特徴とする幾何要素測
定方法。 - 【請求項8】 被測定物の測定すべき幾何要素の計算に
必要な1又は複数の測定点を取り込むと共に取り込まれ
た測定点の数を計数するステップと、 このステップでの最終の測定点の取り込みから所定の時
間経過したことをもって前記幾何要素の計算に必要な全
ての測定点の取り込みが終了したと判定するステップ
と、 このステップで前記測定点の取り込みが終了したと判定
されたのちに前記測定点の測定データと測定点数とに基
づいて前記測定すべき幾何要素を判別するステップとを
備えたことを特徴とする幾何要素測定方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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