JP2001208757A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JP2001208757A JP2001208757A JP2000021743A JP2000021743A JP2001208757A JP 2001208757 A JP2001208757 A JP 2001208757A JP 2000021743 A JP2000021743 A JP 2000021743A JP 2000021743 A JP2000021743 A JP 2000021743A JP 2001208757 A JP2001208757 A JP 2001208757A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】臨床検査に供される自動分析装置において、標
準液や精度管理試料の交換に際し、オペレータの負担を
軽減した自動分析装置を実現すること。 【解決手段】ラック待機ディスクに待機している試料の
認識時刻から失効時刻を算出し、失効時刻には、当該試
料を回収することにより達成される。 【効果】患者検体測定中の装置を停止させることなく、
新たな標準液や精度管理試料のセットと、失効時刻を経
過した試料の回収が可能になる。
準液や精度管理試料の交換に際し、オペレータの負担を
軽減した自動分析装置を実現すること。 【解決手段】ラック待機ディスクに待機している試料の
認識時刻から失効時刻を算出し、失効時刻には、当該試
料を回収することにより達成される。 【効果】患者検体測定中の装置を停止させることなく、
新たな標準液や精度管理試料のセットと、失効時刻を経
過した試料の回収が可能になる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、臨床検査に供され
る自動分析装置に関する。
る自動分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】血液等の生体試料に含まれる成分を化学
分析する自動分析装置において、従来は、精度管理用試
料や標準液の管理については、製造からの有効期間や試
料調整後の安定期間の記憶または有効な残り時間の表示
や有効期間に留まっていた。さらに、有効時間を超過し
た試料を交換するためには、オペレータは装置を停止さ
せて試料の交換を行なっていた。
分析する自動分析装置において、従来は、精度管理用試
料や標準液の管理については、製造からの有効期間や試
料調整後の安定期間の記憶または有効な残り時間の表示
や有効期間に留まっていた。さらに、有効時間を超過し
た試料を交換するためには、オペレータは装置を停止さ
せて試料の交換を行なっていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記従来技術
では、有効時間を超過した試料を交換するためにオペレ
ータは装置を停止する必要があるため、患者検体の測定
中に時間超過が発生した場合や、有効時間が近づいてき
た場合に、測定を一旦中断することになり、患者検体の
測定結果を迅速に得る事が妨げられていた。
では、有効時間を超過した試料を交換するためにオペレ
ータは装置を停止する必要があるため、患者検体の測定
中に時間超過が発生した場合や、有効時間が近づいてき
た場合に、測定を一旦中断することになり、患者検体の
測定結果を迅速に得る事が妨げられていた。
【０００４】本発明の目的は、装置を停止することな
く、有効時間を超過した精度管理試料や標準液の回収を
行ない、新たな試料への交換を可能な自動分析装置を提
供するものである。
く、有効時間を超過した精度管理試料や標準液の回収を
行ない、新たな試料への交換を可能な自動分析装置を提
供するものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、次の様に構成される。すなわち、分析条
件などを設定する操作部と、標準液や精度管理用試料が
装置にセットされてからの有効時間を記憶する手段と、
標準液や精度管理用試料をセットするラック形試料容器
保持部と、ラック形試料容器保持部にセットされた試料
を認識する試料認識手段と、試料容器から試料を分注す
る試料分注手段と、ラック形試料容器保持部を待機させ
るラック待機ディスクと、試料認識手段が試料を認識し
た時間を基にラック待機ディスク内の試料の経過時間と
有効時間を比較する手段とラック形試料容器保持部を供
給するラック供給部と、ラック形試料容器保持部を回収
するラック回収部を備える。
め、本発明は、次の様に構成される。すなわち、分析条
件などを設定する操作部と、標準液や精度管理用試料が
装置にセットされてからの有効時間を記憶する手段と、
標準液や精度管理用試料をセットするラック形試料容器
保持部と、ラック形試料容器保持部にセットされた試料
を認識する試料認識手段と、試料容器から試料を分注す
る試料分注手段と、ラック形試料容器保持部を待機させ
るラック待機ディスクと、試料認識手段が試料を認識し
た時間を基にラック待機ディスク内の試料の経過時間と
有効時間を比較する手段とラック形試料容器保持部を供
給するラック供給部と、ラック形試料容器保持部を回収
するラック回収部を備える。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を添付図
面を参照して、詳細に説明する。
面を参照して、詳細に説明する。
【０００７】図１は、本発明を適用した自動分析装置の
概略構成図である。
概略構成図である。
【０００８】図１において、分析項目の登録や分析条件
の設定は操作部１で行われる。患者検体、標準液、精度
管理試料はラック形試料容器保持部５にセットさる。当
該ラック形試料容器保持部５は、ラック供給部２にセッ
トされる。また、ラック供給部２にセットされたラック
形試料容器保持部は、順次、ラック移送ライン４を経由
して、ラック待機ディスク６に移送される。ラック移送
ライン４におけるラック形試料容器保持部の移送過程に
おいて、試料認識手段３によって、ラック形試料容器保
持部にセットされている試料の認識が行われる。
の設定は操作部１で行われる。患者検体、標準液、精度
管理試料はラック形試料容器保持部５にセットさる。当
該ラック形試料容器保持部５は、ラック供給部２にセッ
トされる。また、ラック供給部２にセットされたラック
形試料容器保持部は、順次、ラック移送ライン４を経由
して、ラック待機ディスク６に移送される。ラック移送
ライン４におけるラック形試料容器保持部の移送過程に
おいて、試料認識手段３によって、ラック形試料容器保
持部にセットされている試料の認識が行われる。
【０００９】前記、試料認識手段３によって認識された
標準液や精度管理用試料の情報および認識時刻は、前記
操作部１に内蔵されたメモリに記憶される。前記、メモ
リに記憶された、標準液や精度管理用試料の情報および
認識時刻と、予め設定された当該標準液および精度管理
用試料の有効時間を基にして、操作部１に内蔵された制
御部によって、当該標準液および精度管理試料の失効時
刻が算出される。ラック待機ディスク６に移送されたラ
ック形試料容器保持部にセットされている試料は、操作
部１により予め設定された分析条件によって、分析項目
の測定が行なわれる。試料分注手段７によって試料容器
内の試料が反応容器８へ分注される。
標準液や精度管理用試料の情報および認識時刻は、前記
操作部１に内蔵されたメモリに記憶される。前記、メモ
リに記憶された、標準液や精度管理用試料の情報および
認識時刻と、予め設定された当該標準液および精度管理
用試料の有効時間を基にして、操作部１に内蔵された制
御部によって、当該標準液および精度管理試料の失効時
刻が算出される。ラック待機ディスク６に移送されたラ
ック形試料容器保持部にセットされている試料は、操作
部１により予め設定された分析条件によって、分析項目
の測定が行なわれる。試料分注手段７によって試料容器
内の試料が反応容器８へ分注される。
【００１０】試料の分注された当該反応容器は、複数の
反応容器がライン状に配置された反応テーブル９が回転
することにより、試薬分注位置へ移動する。試薬分注手
段１２によって、試薬ディスク１１にセットされた試薬
ボトル１０から試薬の分注が当該反応容器へ行われる。
そして、反応容器内の反応液を用いた当該項目の測定が
行なわれた後、測定の終了した反応容器は、反応容器洗
浄手段１４によって洗浄され、次ぎの測定に供される。
ラック形待機ディスク６内の患者検体を保持するラック
形試料容器保持部は、測定終了後、ラック移送ライン４
を経由して、ラック回収部１３へ回収される。
反応容器がライン状に配置された反応テーブル９が回転
することにより、試薬分注位置へ移動する。試薬分注手
段１２によって、試薬ディスク１１にセットされた試薬
ボトル１０から試薬の分注が当該反応容器へ行われる。
そして、反応容器内の反応液を用いた当該項目の測定が
行なわれた後、測定の終了した反応容器は、反応容器洗
浄手段１４によって洗浄され、次ぎの測定に供される。
ラック形待機ディスク６内の患者検体を保持するラック
形試料容器保持部は、測定終了後、ラック移送ライン４
を経由して、ラック回収部１３へ回収される。
【００１１】ラック待機ディスク６内の標準液や精度管
理用試料を保持するラック形試料容器保持部は、保持す
る試料の有効時間内は、ラック待機ディスク６にて待機
する。ラック待機ディスク６に待機している標準液や精
度管理試料について、有効時間内に測定の命令が操作部
１より発生した場合は、当該試料の測定が実施される。
ラック待機ディスク６に待機している標準液や精度管理
試料の失効時刻になると、当該標準液まはた精度管理試
料を保持するラック形試料容器保持部は、ラック移送ラ
イン４を経由して、ラック回収部１３へ回収される。
理用試料を保持するラック形試料容器保持部は、保持す
る試料の有効時間内は、ラック待機ディスク６にて待機
する。ラック待機ディスク６に待機している標準液や精
度管理試料について、有効時間内に測定の命令が操作部
１より発生した場合は、当該試料の測定が実施される。
ラック待機ディスク６に待機している標準液や精度管理
試料の失効時刻になると、当該標準液まはた精度管理試
料を保持するラック形試料容器保持部は、ラック移送ラ
イン４を経由して、ラック回収部１３へ回収される。
【００１２】ここで、標準液や精度管理用試料の有効時
間または失効時刻の管理は操作部１に内蔵された制御部
により行われる。また、ラック待機ディスク６内の標準
液や精度管理用試料について、当該試料の失効時刻前す
なわち、有効時間内に、新たな同一種類の試料を試料認
識手段３が認識した場合には、新たな同一試料を保持す
るラック形試料容器保持部をラック待機ディスク６へ移
送し、保持し、且つ、新たな同一試料が認識される前に
ラック待機ディスク６内に待機していた、同一種類の標
準液または精度管理試料を保持するラック形試料容器保
持部を、ラック移送ライン４を経由して、ラック回収部
１３へ回収する。ここで、新たな試料についての失効時
刻の算出が行われる。
間または失効時刻の管理は操作部１に内蔵された制御部
により行われる。また、ラック待機ディスク６内の標準
液や精度管理用試料について、当該試料の失効時刻前す
なわち、有効時間内に、新たな同一種類の試料を試料認
識手段３が認識した場合には、新たな同一試料を保持す
るラック形試料容器保持部をラック待機ディスク６へ移
送し、保持し、且つ、新たな同一試料が認識される前に
ラック待機ディスク６内に待機していた、同一種類の標
準液または精度管理試料を保持するラック形試料容器保
持部を、ラック移送ライン４を経由して、ラック回収部
１３へ回収する。ここで、新たな試料についての失効時
刻の算出が行われる。
【００１３】図２は、本発明を適用した自動分析装置に
おいて、標準液と精度管理試料の概略フローチャートを
示した図である。
おいて、標準液と精度管理試料の概略フローチャートを
示した図である。
【００１４】図２において、図１におけるラック供給部
２にセットされた試料はラック移送ライン４を経由し
て、ラック待機ディスク６へ移送されるが、移送過程に
おいて試料認識手段３によって、試料の認識１５が実施
される。
２にセットされた試料はラック移送ライン４を経由し
て、ラック待機ディスク６へ移送されるが、移送過程に
おいて試料認識手段３によって、試料の認識１５が実施
される。
【００１５】そして、認識された試料について、試料情
報、試料認識時刻の記憶１６が行われる。試料認識時刻
に、予め設定された当該試料の有効時間を加えることに
より、失効時刻の算出１７が行われる。ここで、当該有
効時間は、予め操作部１から入力されたものであるが、
試料認識情報の一部として含まれているものでも好適で
ある。次に、認識した当該試料と同一種類試料がラック
待機ディスク６に既に存在するか否かのチェックを行な
うのが、「同一種類試料の待機？１８」である。当該チ
ェックによって、「有」と判定された場合は、既に待機
している待機試料をラック回収部へ移送１９する。当該
チェックによって、「無」と判定された場合は、当該試
料をラック待機ディスク６へ移送２０し、当該試料は、
ラック待機ディスクでの待機２１を行なう。
報、試料認識時刻の記憶１６が行われる。試料認識時刻
に、予め設定された当該試料の有効時間を加えることに
より、失効時刻の算出１７が行われる。ここで、当該有
効時間は、予め操作部１から入力されたものであるが、
試料認識情報の一部として含まれているものでも好適で
ある。次に、認識した当該試料と同一種類試料がラック
待機ディスク６に既に存在するか否かのチェックを行な
うのが、「同一種類試料の待機？１８」である。当該チ
ェックによって、「有」と判定された場合は、既に待機
している待機試料をラック回収部へ移送１９する。当該
チェックによって、「無」と判定された場合は、当該試
料をラック待機ディスク６へ移送２０し、当該試料は、
ラック待機ディスクでの待機２１を行なう。
【００１６】そして、操作部１に内蔵された制御部にお
いて、ラック待機ディスク６内の試料について、「失効
時刻？２２」のチェックを行なう。当該チェックによっ
て、「Ｎｏ」と判定された場合は、上記、ラック待機デ
ィスクでの待機２１を継続する。当該チェックによっ
て、「Ｙｅｓ」と判定された試料を保持するラック形試
料容器保持部は、ラック待機ディスク６から当該試料を
ラック回収部へ移送２３、が実施される。
いて、ラック待機ディスク６内の試料について、「失効
時刻？２２」のチェックを行なう。当該チェックによっ
て、「Ｎｏ」と判定された場合は、上記、ラック待機デ
ィスクでの待機２１を継続する。当該チェックによっ
て、「Ｙｅｓ」と判定された試料を保持するラック形試
料容器保持部は、ラック待機ディスク６から当該試料を
ラック回収部へ移送２３、が実施される。
【００１７】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように、装置を
停止することなく精度管理試料や標準液の交換が可能と
なり、オペレータの負担を軽減するものである。
停止することなく精度管理試料や標準液の交換が可能と
なり、オペレータの負担を軽減するものである。
【図１】本発明を適用した自動分析装置の概略構成図で
ある。
ある。
【図２】本発明を適用した自動分析装置の標準液と精度
管理試料の概略フローチャートを示した図である。
管理試料の概略フローチャートを示した図である。
１…操作部、２…ラック供給部、３…試料認識手段、４
…ラック移送ライン、５…ラック形試料容器保持部、６
…ラック待機ディスク、７…試料分注手段、８…反応容
器、９…反応テーブル、１０…試薬ボトル、１１…試薬
ディスク、１２…試薬分注手段、１３…ラック回収部、
１４…反応容器洗浄手段。
…ラック移送ライン、５…ラック形試料容器保持部、６
…ラック待機ディスク、７…試料分注手段、８…反応容
器、９…反応テーブル、１０…試薬ボトル、１１…試薬
ディスク、１２…試薬分注手段、１３…ラック回収部、
１４…反応容器洗浄手段。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 内田 裕康 茨城県ひたちなか市大字市毛882番地 株 式会社日立製作所計測器グループ内 Ｆターム(参考） 2G058 CB04 CB15 CE08 ED03 GC06 GD01 GE01 GE06
Claims (2)
- 【請求項１】 分析条件などを設定する操作部と、標準
液や精度管理用試料が装置にセットされてからの有効時
間を記憶する手段と、標準液や精度管理用試料をセット
するラック形試料容器保持部と、ラック形試料容器保持
部にセットされた試料を認識する試料認識手段と、試料
容器から試料を分注する試料分注手段と、ラック形試料
容器保持部を待機させるラック待機ディスクと、試料認
識手段が試料を認識した時間を基にラック待機ディスク
内の試料の経過時間と有効時間を比較する手段と、ラッ
ク形試料容器保持部を供給するラック供給部と、ラック
形試料容器保持部を回収するラック回収部を備えた自動
分析装置において、 前記ラック待機ディスク内のラック形試料容器保持部に
セットされている有効時間を超過した標準液まはた精度
管理用試料を前記ラック回収部へ搬出することを特徴と
する自動分析装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の自動分析装置において、
ラック待機ディスク内のラック形試料容器保持部にセッ
トされている標準液まはた精度管理用試料が有効時間を
超過していない時点で、ラック供給部から新たな標準液
まはた精度管理用試料がセットされた場合には、ラック
待機ディスク内のラック形試料容器保持部にセットされ
ている標準液まはた精度管理用試料をラック回収部へ排
出し、さらに新たな標準液まはた精度管理用試料をラッ
ク待機ディスクへ移送する手段を備えることを特徴とす
る自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000021743A JP3489520B2 (ja) | 2000-01-26 | 2000-01-26 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000021743A JP3489520B2 (ja) | 2000-01-26 | 2000-01-26 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001208757A true JP2001208757A (ja) | 2001-08-03 |
| JP3489520B2 JP3489520B2 (ja) | 2004-01-19 |
Family
ID=18548112
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000021743A Expired - Lifetime JP3489520B2 (ja) | 2000-01-26 | 2000-01-26 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3489520B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008209338A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-09-11 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP2009229232A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Arkray Inc | 分析システムおよび分析装置 |
| JP2009294230A (ja) * | 2009-09-24 | 2009-12-17 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| CN112578139A (zh) * | 2019-09-30 | 2021-03-30 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 一种样本测试方法、样本分析仪及存储介质 |
| JP7391771B2 (ja) | 2019-06-14 | 2023-12-05 | エフ． ホフマン－ラ ロシュ アーゲー | 診断検査の有効性を判断するために対照試料を供給する方法および実験室システム |
-
2000
- 2000-01-26 JP JP2000021743A patent/JP3489520B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008209338A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-09-11 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP2009229232A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Arkray Inc | 分析システムおよび分析装置 |
| JP2009294230A (ja) * | 2009-09-24 | 2009-12-17 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP4491505B2 (ja) * | 2009-09-24 | 2010-06-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JP7391771B2 (ja) | 2019-06-14 | 2023-12-05 | エフ． ホフマン－ラ ロシュ アーゲー | 診断検査の有効性を判断するために対照試料を供給する方法および実験室システム |
| CN112578139A (zh) * | 2019-09-30 | 2021-03-30 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 一种样本测试方法、样本分析仪及存储介质 |
| CN112578139B (zh) * | 2019-09-30 | 2024-04-05 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 一种样本测试方法、样本分析仪及存储介质 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3489520B2 (ja) | 2004-01-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 3489520 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
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