JP2001160233A - 光学記録装置 - Google Patents
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/0045—Recording
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- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Head (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 球面収差による書き込み特性の悪化を軽減
し、良好な記録再生特性を持つ光学記録装置を提供す
る。 【解決手段】 球面収差検出・補償系６は、透過基板の
厚み誤差により生じる球面収差を球面収差検出部６１に
よって検出し、絶対量変換手段（全波整流部６２）で検
出された球面収差の相対量を絶対量に変換して球面収差
補償量生成部６３に供給する。球面収差補償量生成部６
３では、得られた球面収差絶対量に基づき、光学記録媒
体に対して書き込むべき記録情報が変換されるパルス形
状に関し、パルス幅、振幅のうちのいずれか一方、また
は両方を可変とし、ライト電流源に供給するイネーブル
信号あるいは電流制御量をコントロールする。
し、良好な記録再生特性を持つ光学記録装置を提供す
る。 【解決手段】 球面収差検出・補償系６は、透過基板の
厚み誤差により生じる球面収差を球面収差検出部６１に
よって検出し、絶対量変換手段（全波整流部６２）で検
出された球面収差の相対量を絶対量に変換して球面収差
補償量生成部６３に供給する。球面収差補償量生成部６
３では、得られた球面収差絶対量に基づき、光学記録媒
体に対して書き込むべき記録情報が変換されるパルス形
状に関し、パルス幅、振幅のうちのいずれか一方、また
は両方を可変とし、ライト電流源に供給するイネーブル
信号あるいは電流制御量をコントロールする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、記録面上を透過基
板に覆われた光学記録媒体に対して情報の書き込み或い
は読み出しを行う、特に高密度化された光ディスクに用
いて好適な光学記録装置に関する。
板に覆われた光学記録媒体に対して情報の書き込み或い
は読み出しを行う、特に高密度化された光ディスクに用
いて好適な光学記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】記録可能な光ディスクに良好なマークを
記録する手法の一つにストラテジ記録がある。ストラテ
ジ記録の具体的な例を図８、図９、図１０に示す。
記録する手法の一つにストラテジ記録がある。ストラテ
ジ記録の具体的な例を図８、図９、図１０に示す。
【０００３】図８は、従来におけるこの種光学記録装置
の概略構成を示すブロック図、図９は、縦軸に図８に示
すレーザデバイス（ＬＤ）８５に供給される光パワー、
横軸に時間軸を目盛ったＬＤパワーの４値制御特性を示
したタイミングチャート、図１０は、具体的なストラテ
ジ記録に関し、データとイネーブル信号との関係を時間
軸上に示した図である。
の概略構成を示すブロック図、図９は、縦軸に図８に示
すレーザデバイス（ＬＤ）８５に供給される光パワー、
横軸に時間軸を目盛ったＬＤパワーの４値制御特性を示
したタイミングチャート、図１０は、具体的なストラテ
ジ記録に関し、データとイネーブル信号との関係を時間
軸上に示した図である。
【０００４】図８〜図１０を参照して明らかなように、
ストラテジ記録とは、ボトム電流源８６、リード電流源
８７、イレーズ電流源８８、ライト電流源８３から成る
４つの電流源を、イネーブル制御部８９を介してＯＮ／
ＯＦＦ制御し、ライトパターン記録時のレーザパワーを
時間軸方向にパルス変調して記録膜状の熱を適切にし、
レーザデバイス８５を介して光ディスク上に整ったマー
クを形成する技術である。
ストラテジ記録とは、ボトム電流源８６、リード電流源
８７、イレーズ電流源８８、ライト電流源８３から成る
４つの電流源を、イネーブル制御部８９を介してＯＮ／
ＯＦＦ制御し、ライトパターン記録時のレーザパワーを
時間軸方向にパルス変調して記録膜状の熱を適切にし、
レーザデバイス８５を介して光ディスク上に整ったマー
クを形成する技術である。
【０００５】尚、図中、８１は記録データを生成するデ
ータ生成部、８２は生成されたデータから光ディスクに
記録するライトパターンを生成するライトパターン生成
部、８４はライト電流源８３に対して電流制御量を決定
し供給する電流制御部である。また、ここで、イネーブ
ル制御とは、電流源のＯＮ／ＯＦＦを制御することであ
り、イネーブル信号とは、上記イネーブル制御を行うた
めにＬＤ８５に供給する信号のことである。
ータ生成部、８２は生成されたデータから光ディスクに
記録するライトパターンを生成するライトパターン生成
部、８４はライト電流源８３に対して電流制御量を決定
し供給する電流制御部である。また、ここで、イネーブ
ル制御とは、電流源のＯＮ／ＯＦＦを制御することであ
り、イネーブル信号とは、上記イネーブル制御を行うた
めにＬＤ８５に供給する信号のことである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、光ディスク
に対して情報のリードライトを行う場合、その記録層を
直接露出すると傷がついたり、あるいはヘッドとの衝突
で損傷が与えられるとリードライトができなくなってし
まうので、所定の厚さの透過基板を介して行なわれる。
このときの基板は、例えば出射成形によって形成される
が、基板の厚さを全面に渡って正確に規定値に設定する
ことは困難であり、通常、数十μmの厚さ誤差が生じて
いる。
に対して情報のリードライトを行う場合、その記録層を
直接露出すると傷がついたり、あるいはヘッドとの衝突
で損傷が与えられるとリードライトができなくなってし
まうので、所定の厚さの透過基板を介して行なわれる。
このときの基板は、例えば出射成形によって形成される
が、基板の厚さを全面に渡って正確に規定値に設定する
ことは困難であり、通常、数十μmの厚さ誤差が生じて
いる。
【０００７】従来、このような厚さ誤差が生じても問題
とならないように対物レンズの開口数を増大させて光デ
ィスク上でのスポット径を縮小して記録することが考え
られている。この場合、透過基板の厚さ誤差によって発
生する球面収差を補正することが行われている。これ
は、例えば、光ディスクからの再生信号の変調度やその
ジッタ、エラーレートを監視し、その監視内容に応じて
レンズを駆動するものである。
とならないように対物レンズの開口数を増大させて光デ
ィスク上でのスポット径を縮小して記録することが考え
られている。この場合、透過基板の厚さ誤差によって発
生する球面収差を補正することが行われている。これ
は、例えば、光ディスクからの再生信号の変調度やその
ジッタ、エラーレートを監視し、その監視内容に応じて
レンズを駆動するものである。
【０００８】しかしながら未記録ディスクに記録を行う
場合には再生信号が得られないため上述した同様の方法
では球面収差を補償することができない。従って、この
球面収差の影響により整った形状のマークが形成できな
くなり、記録再生特性が悪化することは周知のとおりで
ある。光ディスクに対し高密度記録を実現するためには
上記したように高ＮＡ（Numerical Aperture）化する
必要があるが、この場合、基板厚み誤差の影響による球
面収差が問題となり、そのための収差補償が必要とな
る。
場合には再生信号が得られないため上述した同様の方法
では球面収差を補償することができない。従って、この
球面収差の影響により整った形状のマークが形成できな
くなり、記録再生特性が悪化することは周知のとおりで
ある。光ディスクに対し高密度記録を実現するためには
上記したように高ＮＡ（Numerical Aperture）化する
必要があるが、この場合、基板厚み誤差の影響による球
面収差が問題となり、そのための収差補償が必要とな
る。
【０００９】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あり、高開口数の対物レンズを用いた光学系であっても
記録、未記録の記録媒体に拘わることなくその透過基板
の厚さ誤差によって発生する球面収差を検出し、その検
出情報に基づき光記録媒体に対する記録データのパルス
幅、あるいは振幅を制御することによって球面収差を補
償し、このことにより球面収差による書き込み特性の悪
化を軽減し、良好な記録再生特性を実現することのでき
る光記録装置を提供することを目的とする。
あり、高開口数の対物レンズを用いた光学系であっても
記録、未記録の記録媒体に拘わることなくその透過基板
の厚さ誤差によって発生する球面収差を検出し、その検
出情報に基づき光記録媒体に対する記録データのパルス
幅、あるいは振幅を制御することによって球面収差を補
償し、このことにより球面収差による書き込み特性の悪
化を軽減し、良好な記録再生特性を実現することのでき
る光記録装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために請求項１に記載の光学記録装置は、記録面上を透
過基板に覆われた光学記録媒体に対して情報の書き込み
を行う光学記録装置において、前記光学記録媒体に対し
て書き込む記録情報をパルス形状に変換する変換手段
と、前記透過基板の厚み誤差により生じる球面収差を検
出する検出手段と、前記検出された球面収差により前記
パルス形状の制御を行う制御手段とを有することとし
た。
ために請求項１に記載の光学記録装置は、記録面上を透
過基板に覆われた光学記録媒体に対して情報の書き込み
を行う光学記録装置において、前記光学記録媒体に対し
て書き込む記録情報をパルス形状に変換する変換手段
と、前記透過基板の厚み誤差により生じる球面収差を検
出する検出手段と、前記検出された球面収差により前記
パルス形状の制御を行う制御手段とを有することとし
た。
【００１１】上記構成により、検出手段によって検出さ
れる球面収差検出情報に基づき制御手段が光記録媒体に
対するレーザ記録波形の制御を行うことで、再生信号を
得ることなく透過基板の厚さ誤差によって発生する球面
収差を補正でき、良好な記録再生特性を実現できる。特
に、高ＮＡ時に球面収差が大きくなり顕著な効果が得ら
れるため高密度化された光ディスクに有効である。
れる球面収差検出情報に基づき制御手段が光記録媒体に
対するレーザ記録波形の制御を行うことで、再生信号を
得ることなく透過基板の厚さ誤差によって発生する球面
収差を補正でき、良好な記録再生特性を実現できる。特
に、高ＮＡ時に球面収差が大きくなり顕著な効果が得ら
れるため高密度化された光ディスクに有効である。
【００１２】また、請求項２に記載の光学記録装置は、
請求項１に記載の同装置において、前記制御手段は、前
記検出手段を介して得られる球面収差の相対量を絶対量
に変換する絶対量変換手段と、前記絶対量に基づき、前
記パルス形状のパルス幅、振幅のうちのいずれか一方、
または両方を可変とする球面収差補償量を生成する球面
収差補償量生成手段とを有することとした。
請求項１に記載の同装置において、前記制御手段は、前
記検出手段を介して得られる球面収差の相対量を絶対量
に変換する絶対量変換手段と、前記絶対量に基づき、前
記パルス形状のパルス幅、振幅のうちのいずれか一方、
または両方を可変とする球面収差補償量を生成する球面
収差補償量生成手段とを有することとした。
【００１３】上記構成により、球面収差補償量生成手段
で絶対量変換手段を介して出力される球面収差検出情報
の絶対量に基づき、光記録媒体に対する記録データのパ
ルス幅、振幅のうちのいずれか一方、または両方を可変
とすることで、球面収差による書き込み特性の悪化を軽
減でき良好な記録再生特性を実現できる。
で絶対量変換手段を介して出力される球面収差検出情報
の絶対量に基づき、光記録媒体に対する記録データのパ
ルス幅、振幅のうちのいずれか一方、または両方を可変
とすることで、球面収差による書き込み特性の悪化を軽
減でき良好な記録再生特性を実現できる。
【００１４】更に、請求項３に記載の光学記録装置は、
請求項２に記載の同装置において、ライト電流源を制御
することにより記録時におけるレーザパワーを時間軸方
向にパルス変調してライトパターンを記録する光学記録
装置であって、前記球面収差補償量生成手段は、前記ラ
イトパターンを生成するパターン生成部と前記ライト電
流源との間にディレイラインを介挿し、前記球面収差の
絶対量に応じて前記ライトパターンの先頭エッジにゲー
トをかけ、そのエッジシフト量を変更して前記ライトパ
ターンを制御する信号のパルス幅をコントロールするこ
ととした。
請求項２に記載の同装置において、ライト電流源を制御
することにより記録時におけるレーザパワーを時間軸方
向にパルス変調してライトパターンを記録する光学記録
装置であって、前記球面収差補償量生成手段は、前記ラ
イトパターンを生成するパターン生成部と前記ライト電
流源との間にディレイラインを介挿し、前記球面収差の
絶対量に応じて前記ライトパターンの先頭エッジにゲー
トをかけ、そのエッジシフト量を変更して前記ライトパ
ターンを制御する信号のパルス幅をコントロールするこ
ととした。
【００１５】また、請求項４に記載の光学記録装置は、
請求項３に記載の同装置において、前記球面収差補償量
生成手段は、前記検出手段によりゼロレベルの球面収差
が検出されたとき、前記ディレイラインに対するディレ
イ量を、装置が許容するディレイ許容範囲の最大に時間
設定することとした。
請求項３に記載の同装置において、前記球面収差補償量
生成手段は、前記検出手段によりゼロレベルの球面収差
が検出されたとき、前記ディレイラインに対するディレ
イ量を、装置が許容するディレイ許容範囲の最大に時間
設定することとした。
【００１６】上記構成により、球面収差が大きくなると
その収差の影響により記録パワーが小さくなる向きに働
くことを利用し、球面収差エラーに応じてエッジシフト
量を変更し、ライトパワーを印加するためのパルスを長
く設定することにより、透過基板の厚さ誤差によって発
生する球面収差を補正でき、良好な記録再生特性を実現
できる。
その収差の影響により記録パワーが小さくなる向きに働
くことを利用し、球面収差エラーに応じてエッジシフト
量を変更し、ライトパワーを印加するためのパルスを長
く設定することにより、透過基板の厚さ誤差によって発
生する球面収差を補正でき、良好な記録再生特性を実現
できる。
【００１７】更に、請求項５に記載の光学記録装置は、
請求項２に記載の同装置において、ライト電流源を制御
することにより記録時におけるレーザパワーを時間軸方
向にパルス変調してライトパターンを記録する光学記録
装置であって、前記球面収差補償量生成手段は、前記ラ
イト電流源に供給する電流制御量を決定する電流制御部
に、制御電圧によってゲインを決定する可変ゲインアン
プを用い、前記球面収差の絶対量に応じて前記可変ゲイ
ンアンプのゲイン制御電圧を制御し、前記ライト電流源
に供給する電流制御量をコントロールすることとした。
請求項２に記載の同装置において、ライト電流源を制御
することにより記録時におけるレーザパワーを時間軸方
向にパルス変調してライトパターンを記録する光学記録
装置であって、前記球面収差補償量生成手段は、前記ラ
イト電流源に供給する電流制御量を決定する電流制御部
に、制御電圧によってゲインを決定する可変ゲインアン
プを用い、前記球面収差の絶対量に応じて前記可変ゲイ
ンアンプのゲイン制御電圧を制御し、前記ライト電流源
に供給する電流制御量をコントロールすることとした。
【００１８】このことにより、ライト電流源に供給する
電流制御量に関し、球面収差量で可変ゲインアンプの制
御電圧をコントロールすることによって得、このことに
よりライト電流源に供給するパルスの振幅を変えること
で透過基板の厚さ誤差によって発生する球面収差を補正
でき、良好な記録再生特性を実現できる。
電流制御量に関し、球面収差量で可変ゲインアンプの制
御電圧をコントロールすることによって得、このことに
よりライト電流源に供給するパルスの振幅を変えること
で透過基板の厚さ誤差によって発生する球面収差を補正
でき、良好な記録再生特性を実現できる。
【００１９】また、請求項６に記載の光学記録装置は、
請求項２に記載の同装置において、ライト電流源を制御
することにより記録時におけるレーザパワーを時間軸方
向にパルス変調してライトパターンを記録する光学記録
装置であって、前記球面収差補償量生成手段は、前記ラ
イト電流源に供給する電流制御量を決定する電流制御部
に加算回路を用い、前記電流制御量に関し、固定量に前
記球面収差に相当する絶対量を加算して算出することと
した。
請求項２に記載の同装置において、ライト電流源を制御
することにより記録時におけるレーザパワーを時間軸方
向にパルス変調してライトパターンを記録する光学記録
装置であって、前記球面収差補償量生成手段は、前記ラ
イト電流源に供給する電流制御量を決定する電流制御部
に加算回路を用い、前記電流制御量に関し、固定量に前
記球面収差に相当する絶対量を加算して算出することと
した。
【００２０】このことにより、ライト電流源に供給する
電流制御量に関し、固定分に球面収差量に応じた分を加
算することで得、パルス電流源に供給するパルスの振幅
を可変とすることで透過基板の厚さ誤差によって発生す
る球面収差を補正でき、良好な記録再生特性を実現でき
る。
電流制御量に関し、固定分に球面収差量に応じた分を加
算することで得、パルス電流源に供給するパルスの振幅
を可変とすることで透過基板の厚さ誤差によって発生す
る球面収差を補正でき、良好な記録再生特性を実現でき
る。
【００２１】
【発明の実施の形態】図１は、本発明の実施形態を示す
ブロック図である。図において、１は記録データを生成
するデータ生成部であり、ここで生成されたデータは、
ライトパターン生成部２に供給される。３はライト電流
源であり、電流制御部４から供給される電流制御量信号
と、前記ライトパターン生成部２から供給されるイネー
ブル信号により光パワーを制御する電流を生成し、レー
ザデバイス５に供給する。
ブロック図である。図において、１は記録データを生成
するデータ生成部であり、ここで生成されたデータは、
ライトパターン生成部２に供給される。３はライト電流
源であり、電流制御部４から供給される電流制御量信号
と、前記ライトパターン生成部２から供給されるイネー
ブル信号により光パワーを制御する電流を生成し、レー
ザデバイス５に供給する。
【００２２】６は本発明により付加される球面収差検出
・補償系であり、球面収差検出部６１と、全波整流部６
２と、球面収差補償量生成部６３から成る。球面収差検
出部６１は、光ディスクの記録面から対物レンズを介し
て得られた反射光のうち、第１の所定開口数より小さい
第２の所定開口数以下の部分のみを介して照射された第
１照射光による第１の反射光を検出し、また、第２の所
定開口数より大きい所定開口数以下の部分を介して照射
された第２照射光による第２反射光を検出して、それぞ
れ、記録面における第１照射光の焦点ズレを示すエラー
信号、第２照射光の焦点ズレを示すエラー信号を生成
し、少なくとも第１、第２の一方のエラー信号を用いて
透過基板の厚さ誤差によって生じる球面収差に対応する
信号を生成する。この球面収差検出部６１の内部構成等
詳細は同出願人により平成１０年１２月１５に出願され
た特願平１０−３５８３９２号に詳細に開示されてい
る。
・補償系であり、球面収差検出部６１と、全波整流部６
２と、球面収差補償量生成部６３から成る。球面収差検
出部６１は、光ディスクの記録面から対物レンズを介し
て得られた反射光のうち、第１の所定開口数より小さい
第２の所定開口数以下の部分のみを介して照射された第
１照射光による第１の反射光を検出し、また、第２の所
定開口数より大きい所定開口数以下の部分を介して照射
された第２照射光による第２反射光を検出して、それぞ
れ、記録面における第１照射光の焦点ズレを示すエラー
信号、第２照射光の焦点ズレを示すエラー信号を生成
し、少なくとも第１、第２の一方のエラー信号を用いて
透過基板の厚さ誤差によって生じる球面収差に対応する
信号を生成する。この球面収差検出部６１の内部構成等
詳細は同出願人により平成１０年１２月１５に出願され
た特願平１０−３５８３９２号に詳細に開示されてい
る。
【００２３】この球面収差検出部６１により検出された
球面収差に対応して出力される信号は全波整流部６２に
供給される。全波整流部６２は、球面収差検出部６１に
よって出力される正負の値で表現される球面収差検出結
果を、絶対量に変換して球面収差補償量生成部６３に供
給する。球面収差補償量生成部６３は、全波整流部６２
を介して得られる球面収差の絶対量に応じ、後述する方
法に従い球面収差補償量を生成し、ライトパターン生成
部２に供給してイネーブル信号を制御するか、あるいは
電流制御部４に供給して電流制御量を調整する。
球面収差に対応して出力される信号は全波整流部６２に
供給される。全波整流部６２は、球面収差検出部６１に
よって出力される正負の値で表現される球面収差検出結
果を、絶対量に変換して球面収差補償量生成部６３に供
給する。球面収差補償量生成部６３は、全波整流部６２
を介して得られる球面収差の絶対量に応じ、後述する方
法に従い球面収差補償量を生成し、ライトパターン生成
部２に供給してイネーブル信号を制御するか、あるいは
電流制御部４に供給して電流制御量を調整する。
【００２４】図２は、図１に示す球面収差補償量生成部
６３の一実施形態を示すブロック図である。図中、図１
と同一番号の付されたブロックは図１のそれと同じとす
る。本実施形態において、特徴的にはライトパターン生
成部２とライト電流源３の間にディレイライン６３１が
設けられており、そのディレイライン６３１のディレイ
量は、球面収差検出・補償系６によって出力される値に
基づき決定されるようになっている。図２における球面
収差補償量生成部６３は、ディレイライン６３１と、こ
のディレイライン６３１に対して球面収差に応じたディ
レイ量、あるいは固定ディレイ量を与える、それぞれ球
面収差量ディレイ変換部６３２、固定ディレイ制御量生
成部６３３、そして、そのいずれか一方を選択出力する
セレクタ６３４で構成される。前記ディレイライン６３
１に対し、ライトパターン生成部２からライトパターン
が、セレクタ６３４に対してゲート信号が供給される。
６３の一実施形態を示すブロック図である。図中、図１
と同一番号の付されたブロックは図１のそれと同じとす
る。本実施形態において、特徴的にはライトパターン生
成部２とライト電流源３の間にディレイライン６３１が
設けられており、そのディレイライン６３１のディレイ
量は、球面収差検出・補償系６によって出力される値に
基づき決定されるようになっている。図２における球面
収差補償量生成部６３は、ディレイライン６３１と、こ
のディレイライン６３１に対して球面収差に応じたディ
レイ量、あるいは固定ディレイ量を与える、それぞれ球
面収差量ディレイ変換部６３２、固定ディレイ制御量生
成部６３３、そして、そのいずれか一方を選択出力する
セレクタ６３４で構成される。前記ディレイライン６３
１に対し、ライトパターン生成部２からライトパターン
が、セレクタ６３４に対してゲート信号が供給される。
【００２５】図３、図４は、共に図２に示す球面収差補
償量生成部６３の動作を説明するために引用した図であ
り、縦軸に光パワー、横軸に時間軸を目盛ることにより
表現したエッジシフトによる球面収差補償の基本原理
を、ディレイラインを用いたエッジシフトの具体例をそ
れぞれタイミングチャートで示している。
償量生成部６３の動作を説明するために引用した図であ
り、縦軸に光パワー、横軸に時間軸を目盛ることにより
表現したエッジシフトによる球面収差補償の基本原理
を、ディレイラインを用いたエッジシフトの具体例をそ
れぞれタイミングチャートで示している。
【００２６】尚、図４に示す各信号名は図２に示すそれ
と同じとする。
と同じとする。
【００２７】以下、図３、図４を参照しながら図２に示
す球面収差補償量生成部６３の動作について詳細に説明
する。
す球面収差補償量生成部６３の動作について詳細に説明
する。
【００２８】上述したように、ディレイライン６３１の
ディレイ量は球面収差検出部６１によって得られる絶対
値に応じて決定される。球面収差検出部６１により出力
される検出結果は正負の値による相対量で示されるた
め、球面収差検出部６１の出力を全波整流部６２で全波
整流したものを球面収差量とし、その絶対量を球面収差
量ディレイ変換部６３２に供給する。球面収差量ディレ
イ変換部６３２では、その絶対量が大きくなるとライト
パワーでＬＤ５を転倒する時間が長くなるようにしてデ
ィレイ時間を決定し、セレクタ６３４を介してディレイ
ライン６３１に供給する。
ディレイ量は球面収差検出部６１によって得られる絶対
値に応じて決定される。球面収差検出部６１により出力
される検出結果は正負の値による相対量で示されるた
め、球面収差検出部６１の出力を全波整流部６２で全波
整流したものを球面収差量とし、その絶対量を球面収差
量ディレイ変換部６３２に供給する。球面収差量ディレ
イ変換部６３２では、その絶対量が大きくなるとライト
パワーでＬＤ５を転倒する時間が長くなるようにしてデ
ィレイ時間を決定し、セレクタ６３４を介してディレイ
ライン６３１に供給する。
【００２９】球面収差が大きくなるとその収差の影響に
より記録パワーが小さくなる向きに働く。そこで、球面
収差エラーに応じてエッジシフト量を変更し、ライトパ
ターンのイネーブル信号のパルス幅を長く設定して光パ
ワーを供給する。具体的には、図４に示すように、ライ
トパターンの先頭エッジにゲートをかけ、そのゲート区
間ディレイ量を小さくすると、擬似的にそのエッジが前
にシフトする。尚、球面収差によるエラーが検出されな
かったとき、すなわち、ゼロレベルの場合は、そのディ
レイ量をディレイ可能な範囲の時間の最大の時間に設定
するものとする。そのためのディレイ量を与えるのが固
定ディレイ制御量生成部６３３である。
より記録パワーが小さくなる向きに働く。そこで、球面
収差エラーに応じてエッジシフト量を変更し、ライトパ
ターンのイネーブル信号のパルス幅を長く設定して光パ
ワーを供給する。具体的には、図４に示すように、ライ
トパターンの先頭エッジにゲートをかけ、そのゲート区
間ディレイ量を小さくすると、擬似的にそのエッジが前
にシフトする。尚、球面収差によるエラーが検出されな
かったとき、すなわち、ゼロレベルの場合は、そのディ
レイ量をディレイ可能な範囲の時間の最大の時間に設定
するものとする。そのためのディレイ量を与えるのが固
定ディレイ制御量生成部６３３である。
【００３０】図５、図６は、図２に示す球面収差補償量
生成部６３の他の実施形態を示すブロック図であり、い
ずれもレベルシフトによる球面収差補正のための実現手
段である。
生成部６３の他の実施形態を示すブロック図であり、い
ずれもレベルシフトによる球面収差補正のための実現手
段である。
【００３１】図５に示す実施形態では、電流制御部４と
して、ＶＧＡ（Voltage Gain Amp）６３５を用いてい
る。ＶＧＡ６３５は、制御電圧によりゲインを決定でき
る可変ゲインアンプである。ＶＧＡ６３５は、固定電流
制御量生成部６３７によって生成される固定電流値を
得、球面収差量ゲイン変換部６３６によって出力される
ゲインによってＶＧＡ６３５のゲイン制御電圧をコント
ロールする構成になっている。
して、ＶＧＡ（Voltage Gain Amp）６３５を用いてい
る。ＶＧＡ６３５は、制御電圧によりゲインを決定でき
る可変ゲインアンプである。ＶＧＡ６３５は、固定電流
制御量生成部６３７によって生成される固定電流値を
得、球面収差量ゲイン変換部６３６によって出力される
ゲインによってＶＧＡ６３５のゲイン制御電圧をコント
ロールする構成になっている。
【００３２】球面収差量ゲイン変換部６３６は、全波整
流部６２を介して得られる球面収差量に応じてＶＧＡ６
３５のゲイン制御電圧をコントロールし、ライト電流源
３に与える電流制御量をコントロールしている。
流部６２を介して得られる球面収差量に応じてＶＧＡ６
３５のゲイン制御電圧をコントロールし、ライト電流源
３に与える電流制御量をコントロールしている。
【００３３】図７に、縦軸に電流制御量、横軸に時間を
目盛った場合のレベルシフトによる球面収差補正の基本
原理が示されている。ライト電流源３に供給する電流制
御量（ＶＧＡ６３５出力及び後述する加算回路６３９出
力）を図中破線で示す部分までレベルシフトすることに
より球面収差補正が可能である。具体的に図５に示す実
施形態では、球面収差量ゲイン変換部６３６は、その絶
対量が大きくなると球面収差の影響により光パワーが大
きく働くようにＶＧＡ６３５のゲイン制御電圧を高く設
定し、ライト電流源３に供給する電流制御量のレベルを
上げている。
目盛った場合のレベルシフトによる球面収差補正の基本
原理が示されている。ライト電流源３に供給する電流制
御量（ＶＧＡ６３５出力及び後述する加算回路６３９出
力）を図中破線で示す部分までレベルシフトすることに
より球面収差補正が可能である。具体的に図５に示す実
施形態では、球面収差量ゲイン変換部６３６は、その絶
対量が大きくなると球面収差の影響により光パワーが大
きく働くようにＶＧＡ６３５のゲイン制御電圧を高く設
定し、ライト電流源３に供給する電流制御量のレベルを
上げている。
【００３４】図６に示す実施形態では、電流制御部４と
して加算回路６３９を用いている。加算回路６３９に
は、固定電流制御量生成部６３７出力と球面収差加算量
変換部６３８出力が供給されている。加算回路６３９
は、固定電流制御量生成部６３７によって供給される固
定量と球面収差加算量変換部６３８によって供給される
球面収差量に応じた分を加算して電流制御量を調整しラ
イト電流源３に供給する。このことにより、図６に示す
実施形態も図５に示す実施形態同様、図７に示すような
レベルシフトによる球面収差補償が可能となるものであ
る。
して加算回路６３９を用いている。加算回路６３９に
は、固定電流制御量生成部６３７出力と球面収差加算量
変換部６３８出力が供給されている。加算回路６３９
は、固定電流制御量生成部６３７によって供給される固
定量と球面収差加算量変換部６３８によって供給される
球面収差量に応じた分を加算して電流制御量を調整しラ
イト電流源３に供給する。このことにより、図６に示す
実施形態も図５に示す実施形態同様、図７に示すような
レベルシフトによる球面収差補償が可能となるものであ
る。
【００３５】尚、球面収差補償量生成部６３は、上記し
たエッジシフト（パルス幅変化）とレベルシフト（振幅
変化）のいずれか一方による球面収差補償は勿論のこ
と、両者を組み合わせて実現することも可能である。
たエッジシフト（パルス幅変化）とレベルシフト（振幅
変化）のいずれか一方による球面収差補償は勿論のこ
と、両者を組み合わせて実現することも可能である。
【００３６】以上説明のように本発明は、球面収差検出
情報に基づき光記録媒体に対する記録データのパルス
幅、あるいは振幅を制御することによって球面収差を補
償し、このことにより球面収差による書き込み特性の悪
化を軽減し、良好な記録再生特性を実現するものであ
る。
情報に基づき光記録媒体に対する記録データのパルス
幅、あるいは振幅を制御することによって球面収差を補
償し、このことにより球面収差による書き込み特性の悪
化を軽減し、良好な記録再生特性を実現するものであ
る。
【００３７】
【発明の効果】以上説明のように本発明によれば、検出
手段によって検出される球面収差検出情報に基づき制御
手段が光記録媒体に対するレーザ記録波形の制御を行う
ことで、再生信号を得ることなく透過基板の厚さ誤差に
よって発生する球面収差を補正でき、このことにより、
良好な記録再生特性を実現できる。
手段によって検出される球面収差検出情報に基づき制御
手段が光記録媒体に対するレーザ記録波形の制御を行う
ことで、再生信号を得ることなく透過基板の厚さ誤差に
よって発生する球面収差を補正でき、このことにより、
良好な記録再生特性を実現できる。
【００３８】また、球面収差補償量生成手段で絶対量変
換手段を介して出力される球面収差検出情報の絶対量に
基づき、光記録媒体に対する記録データのパルス幅、振
幅のうちのいずれか一方、または両方を可変とすること
で、球面収差による書き込み特性の悪化を軽減でき良好
な記録再生特性を実現できる。更に、球面収差エラーに
応じてエッジシフト量を変更し、ライトパワーを印加す
るためのパルス幅を可変とすることで透過基板の厚さ誤
差によって生じる球面収差を補正できる。また、ライト
電流源に供給する電流制御量に関し、球面収差量で可変
ゲインアンプの制御電圧をコントロールすることで、あ
るいは、固定の電流制御量に球面収差量に応じた分を加
算することで得パルス電流源に供給するパルス振幅を可
変とすることで、透過基板の厚さ誤差によって発生する
球面収差を補正でき、良好な記録再生特性を実現でき
る。
換手段を介して出力される球面収差検出情報の絶対量に
基づき、光記録媒体に対する記録データのパルス幅、振
幅のうちのいずれか一方、または両方を可変とすること
で、球面収差による書き込み特性の悪化を軽減でき良好
な記録再生特性を実現できる。更に、球面収差エラーに
応じてエッジシフト量を変更し、ライトパワーを印加す
るためのパルス幅を可変とすることで透過基板の厚さ誤
差によって生じる球面収差を補正できる。また、ライト
電流源に供給する電流制御量に関し、球面収差量で可変
ゲインアンプの制御電圧をコントロールすることで、あ
るいは、固定の電流制御量に球面収差量に応じた分を加
算することで得パルス電流源に供給するパルス振幅を可
変とすることで、透過基板の厚さ誤差によって発生する
球面収差を補正でき、良好な記録再生特性を実現でき
る。
【００３９】本発明は、高ＮＡ化時に球面収差が大きく
なり顕著な効果が得られるため、特に高密度化された光
ディスクの記録に採用して有効である。
なり顕著な効果が得られるため、特に高密度化された光
ディスクの記録に採用して有効である。
【図１】 本発明の実施形態を示すブロック図である。
【図２】 図１に示す球面収差補償量生成部の実施形態
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図３】 エッジシフトによる球面収差補正の基本原理
を示すために引用したタイミングチャートである。
を示すために引用したタイミングチャートである。
【図４】 図３に示す実施形態の動作を示すタイミング
チャートである。
チャートである。
【図５】 図１に示す球面収差補償量生成部の他の実施
形態を示すブロック図である。
形態を示すブロック図である。
【図６】 図１に示す球面収差補償量生成部の更に他の
実施形態を示すブロック図である。
実施形態を示すブロック図である。
【図７】 レベルシフトによる球面収差補正の基本原理
を示すために引用したタイミングチャートである。
を示すために引用したタイミングチャートである。
【図８】 従来における光学記録装置の構成例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図９】 従来におけるＬＤパワーの４値制御特性をタ
イミングチャート上に示した図である。
イミングチャート上に示した図である。
【図１０】 従来のストラテジ記録におけるデータとイ
ネーブル信号との関係をタイミングチャート上に示した
図である
ネーブル信号との関係をタイミングチャート上に示した
図である
１…データ生成部、２…ライトパターン生成部、３…ラ
イト電流源、４…電流制御部、５…レーザデバイス、６
…球面収差検出・補償系、６１…球面収差検出部、６２
…全波整流部、６３…球面収差補償量生成部、６３１…
ディレイライン、６３２…球面収差量ディレイ変換部、
６３３…固定ディレイ制御量生成部、６３４…セレク
タ、６３５…ＶＧＡ、６３６…球面収差量ゲイン変換
部、６３７…固定電流制御量生成部、６３８…球面収差
加算量変換部、６３９…加算回路
イト電流源、４…電流制御部、５…レーザデバイス、６
…球面収差検出・補償系、６１…球面収差検出部、６２
…全波整流部、６３…球面収差補償量生成部、６３１…
ディレイライン、６３２…球面収差量ディレイ変換部、
６３３…固定ディレイ制御量生成部、６３４…セレク
タ、６３５…ＶＧＡ、６３６…球面収差量ゲイン変換
部、６３７…固定電流制御量生成部、６３８…球面収差
加算量変換部、６３９…加算回路
Claims (6)
- 【請求項１】 記録面上を透過基板に覆われた光学記録
媒体に対して情報の書き込みを行う光学記録装置におい
て、 前記光学記録媒体に対して書き込む記録情報をパルス形
状に変換する変換手段と、 前記透過基板の厚み誤差により生じる球面収差を検出す
る検出手段と、 前記検出された球面収差により前記パルス形状の制御を
行なう制御手段と、を有することを特徴とする光学記録
装置。 - 【請求項２】 前記制御手段は、 前記検出手段を介して得られる球面収差の相対量を絶対
量に変換する絶対量変換手段と、 前記絶対量に基づき、前記パルス形状のパルス幅、振幅
のうちのいずれか一方、または両方を可変とする球面収
差補償量を生成する球面収差補償量生成手段と、を有す
ることを特徴とする請求項１に記載の光学記録装置。 - 【請求項３】 ライト電流源を制御することにより記録
時におけるレーザパワーを時間軸方向にパルス変調して
ライトパターンを記録する光学記録装置において、 前記球面収差補償量生成手段は、前記ライトパターンを
生成するパターン生成部と前記ライト電流源との間にデ
ィレイラインを介挿し、前記球面収差の絶対量に応じて
前記ライトパターンの先頭エッジにゲートをかけ、その
エッジシフト量を変更して前記ライトパターンを制御す
る信号のパルス幅を制御することを特徴とする請求項２
に記載の光学記録装置。 - 【請求項４】 前記球面収差補償量生成手段は、前記検
出手段によりゼロレベルの球面収差が検出されたとき、
前記ディレイラインに対するディレイ量を、装置が許容
するディレイ許容範囲の最大に時間設定することを特徴
とする請求項３に記載の光学記録装置。 - 【請求項５】 ライト電流源を制御することにより記録
時におけるレーザパワーを時間軸方向にパルス変調して
ライトパターンを記録する光学記録装置であって、 前記球面収差補償量生成手段は、前記ライト電流源に供
給する電流制御量を決定する電流制御部に、制御電圧に
よってゲインを決定する可変ゲインアンプを用い、前記
球面収差の絶対量に応じて前記可変ゲインアンプのゲイ
ン制御電圧を制御し、前記ライト電流源に供給する電流
制御量をコントロールすることを特徴とする請求項２に
記載の光学記録装置。 - 【請求項６】 ライト電流源を制御することにより記録
時におけるレーザパワーを時間軸方向にパルス変調して
ライトパターンを記録する光学記録装置であって、 前記球面収差補償量生成手段は、前記ライト電流源に供
給する電流制御量を決定する電流制御部に加算回路を用
い、前記電流制御量に関し、固定量に前記球面収差に相
当する絶対量を加算して算出することを特徴とする請求
項２に記載の光学記録装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34380399A JP2001160233A (ja) | 1999-12-02 | 1999-12-02 | 光学記録装置 |
| US09/728,058 US6473378B2 (en) | 1999-12-02 | 2000-12-04 | Optical recording apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34380399A JP2001160233A (ja) | 1999-12-02 | 1999-12-02 | 光学記録装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001160233A true JP2001160233A (ja) | 2001-06-12 |
Family
ID=18364364
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34380399A Pending JP2001160233A (ja) | 1999-12-02 | 1999-12-02 | 光学記録装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6473378B2 (ja) |
| JP (1) | JP2001160233A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004051635A1 (ja) * | 2002-12-03 | 2004-06-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 光ヘッド装置、光記録装置及び光記録方法 |
| CN100375171C (zh) * | 2002-10-29 | 2008-03-12 | 三洋电机株式会社 | 光学头装置和记录与/或再现装置 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030071454A (ko) * | 2002-02-27 | 2003-09-03 | 삼성전자주식회사 | 마크 기록장치 및 방법 |
| JP4191446B2 (ja) * | 2002-08-29 | 2008-12-03 | パイオニア株式会社 | 情報記録装置および情報記録方法 |
| CN100524477C (zh) * | 2002-10-02 | 2009-08-05 | 松下电器产业株式会社 | 光盘装置和方法 |
| JP4392193B2 (ja) * | 2003-05-15 | 2009-12-24 | パイオニア株式会社 | 光ビームのフォーカシング制御装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5703855A (en) * | 1993-04-06 | 1997-12-30 | Hitachi, Ltd. | Optical disk apparatus and recording and reading method for an optical disk using the same |
| JP3640059B2 (ja) * | 1999-02-12 | 2005-04-20 | パイオニア株式会社 | 収差補正装置及びこれを用いた光学装置 |
-
1999
- 1999-12-02 JP JP34380399A patent/JP2001160233A/ja active Pending
-
2000
- 2000-12-04 US US09/728,058 patent/US6473378B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100375171C (zh) * | 2002-10-29 | 2008-03-12 | 三洋电机株式会社 | 光学头装置和记录与/或再现装置 |
| WO2004051635A1 (ja) * | 2002-12-03 | 2004-06-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 光ヘッド装置、光記録装置及び光記録方法 |
| CN100362580C (zh) * | 2002-12-03 | 2008-01-16 | 松下电器产业株式会社 | 光学头装置、光记录装置及光记录方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20010043531A1 (en) | 2001-11-22 |
| US6473378B2 (en) | 2002-10-29 |
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